具体实施方式
在下文中,将参考附图详细描述本公开的实施例。要注意的是,该描述是按如下次序作出的。
1.电容型触摸检测的基本原理
2.第一实施例
3.第二实施例
4.第三实施例
5.第四实施例
6.第五实施例
7.应用例子
[1.电容型触摸检测的基本原理]
首先,参考图1到3描述按照本公开的带有触摸检测器的显示面板的触摸检测的基本原理。这种触摸检测过程被具体化成电容型触摸传感器。在电容型触摸传感器中,例如,如图1的(A)所示,布置成隔着介电体D而相互面对的一对电极(驱动电极E1和触摸检测电极E2)用于定义电容元件。将这样的结构表达成如图1的(B)所示的等效电路。驱动电极E1、触摸检测电极E2、和介电体D定义电容元件C1。将电容元件C1的一端与AC信号源(驱动信号源)S连接,而将另一端P通过电阻R接地,并与电压检测器(触摸检测部分)DET连接。在将具有预定频率(例如,近似几千赫兹到几万赫兹)的AC矩形波Sg(图3的(B))从AC信号源S施加于驱动电极E1(电容元件C1的一端)之后,如图3(A)所例示的输出波形(触摸检测信号Vdet)出现在触摸检测电极E2(电容元件C1的另一端P)上。要注意的是,AC矩形波Sg对应于下面描述的驱动信号Vcom。
在手指未接触(或未接近)显示面板的状态下,如图1所示,与电容元件C1的电容值相对应的电流I0响应于对电容元件C1的充电和放电而流动。这里,电容元件C1的另一端P上的电位波形是,例如,电压检测器DET检测的图3的(A)中的波形V0所示。
相反,在手指接触(或接近)显示面板的状态下,如图2所示,手指形成电容元件C2,并与电容元件C1串联地加入。在这种状态下,电流I1和电流I2分别响应于对电容元件C1和C2的充电和放电而流动。这里,电容元件C1的另一端P上的电位波形如,例如,电压检测器DET检测的图3的(A)中的波形V1所示。这里,点P的电位对应于由流过各自电容元件C1和C2的电流I1和I2的值决定的分电位(diveided potential)。结果是,波形V1与未接触状态下的波形V0相比具有小值。电压检测器DET将检测电压与预定阈值电压Vth相比较。如果检测电压等于或高于阈电压,则电压检测器DET确定未发生接触。如果检测电压低于阈值电压,则电压检测器DET确定发生了某种接触。这样,可以进行触摸检测。
[2.第一实施例]
[示范性配置]
[示范性总体配置]
图4例示了按照本公开第一实施例的带有触摸检测器的显示面板的示范性配置。由于按照本公开实施例的触摸面板通过第一实施例具体化,所以一起描述触摸面板。带有触摸检测器的显示面板包括作为显示元件的液晶显示元件,并且是将由液晶显示元件构成的液晶显示设备与电容型触摸检测设备集成在一起的所谓单元内(in-cell)型的。
带有触摸检测器的显示面板1包括控制部分11、栅极驱动器12、源极驱动器13、驱动电极驱动器14、带有触摸检测器的显示设备10、和触摸检测部分40。
控制部分11是根据外部供应的视频信号Vdisp将控制信号供应给栅极驱动器12、源极驱动器13、驱动电极驱动器14、和触摸检测部分40的每一个,并控制这些部件相互同步地工作的电路。
栅极驱动器12具有根据控制部分11供应的控制信号依次选择一条水平线作为带有触摸检测器的显示设备10的显示驱动对象的功能。详细地说,栅极驱动器12通过扫描信号线GCL将扫描信号Vscan施加于以矩阵形式配备在带有触摸检测器的显示设备10的液晶显示设备20中的像素Pix的TFT元件Tr的栅极,以便如下所述,依次选择一行(一条水平线)作为像素Pix的显示驱动对象。
源极驱动器13是根据控制部分11供应的控制信号将像素信号Vpix供应给带有触摸检测器的显示设备10的像素Pix(如下所述)的电路。详细地说,源极驱动器13通过像素信号线SGL将像素信号Vpix供应给如下所述,定义栅极驱动器12依次选择的一条水平线的像素Pix。像素Pix响应于供应的像素信号Vpix进行一条水平线的显示。
驱动电极驱动器14是根据控制部分11供应的控制信号将驱动信号Vcom供应给带有触摸检测器的显示设备10的驱动电极COML(如下所述)的电路。详细地说,驱动电极驱动器14以时分方式依次将驱动信号Vcom施加于驱动电极COML。触摸检测设备30将来自多个触摸检测电极TDL(如下所述)的基于驱动信号Vcom的触摸检测信号Vdet输出到触摸检测部分40。
带有触摸检测器的显示设备10是嵌入触摸检测功能的显示设备。带有触摸检测器的显示设备10包括液晶显示设备20和触摸检测设备30。如下所述,液晶显示设备20是响应栅极驱动器12供应的扫描信号Vscan逐条水平线地进行顺序扫描以便进行显示的设备。触摸检测设备30根据上述电容型触摸检测的基本原理来工作,并输出触摸检测信号Vdet。如下所述,触摸检测设备30响应于驱动电极驱动器14供应的驱动信号Vcom进行顺序描述以便进行触摸检测。
触摸检测部分40根据控制部分11供应的控制信号、和带有触摸检测器的显示设备10的触摸检测设备30供应的触摸检测信号Vdet检测触摸检测设备30中触摸事件的存在,如果检测到触摸事件,则确定触摸事件在触摸检测区中的坐标,并输出确定结果作为输出信号Out。
(带有触摸检测器的显示设备10)
现在详细描述带有触摸检测器的显示设备10的示范性配置。
图5例示了带有触摸检测器的显示设备10的主要部分的示范性剖面结构。带有触摸检测器的显示设备10包括像素基板2、布置成面对像素基板2的相对基板3、和介于像素基板2与相对基板3之间的液晶层6。
像素基板2包括作为电路基板的TFT基板21、驱动电极COML、和像素电极22。TFT基板21起配备各种类型的电极、布线、和薄膜晶体管(TFT)的电路基板的作用。TFT基板21由,例如,玻璃构成。将驱动电极COML配备在TFT基板21上。驱动电极COML是将公用电压供应给多个像素Pix(如下所述)的电极。驱动电极COML起液晶显示操作的公用驱动电极的作用,并且还起触摸检测操作的驱动电极的作用。虽然驱动电极在这里公用于显示和触摸检测,但也可以为各自操作单独配备驱动电极。将绝缘层23配备在驱动电极COML上,并且将像素电极22配备在绝缘层23上。像素电极22是供给像素信号以便显示的半透明电极。驱动电极COM和像素电极22包括,氧化铟锡(ITO)。
相对基板3包括玻璃基板31、滤色器32、和触摸检测电极TDL。将滤色器32配备在玻璃基板31的一个表面上。滤色器32由,例如,周期性排列的红色(R)、绿色(G)、和蓝色(B)三种颜色的滤色层构成,其中一组三种颜色R,G和B与每个显示像素相联系。滤色器32不局限于RGB三种颜色,并且例如,可以包括另一种颜色的滤色层,或可以包括两种或更少种颜色或四种或更多种颜色的滤色层。将半透明层33配备在玻璃基板31的另一个表面上,并且将多个触摸检测电极TDL作为触摸检测设备30的检测电极并排地配备在半透明层33上。将哑电极(dummy electrode)37配备在触摸检测电极TDL之间,以便如下所述使触摸检测电极TDL更不可见。触摸检测电极TDL和哑电极37是包括,例如,ITO、IZO、或SnO的半透明电极。半透明层33包括像SiN和SiC那样的绝缘材料。半透明层33的折射率在与高发光因素(highluminosity factor)有关的大约550nm的波长上具有在玻璃基板31的折射率(例如,近似1.5)与触摸检测电极TDL的折射率(例如,近似1.8)之间的中间值(例如,对于SiN,近似1.75,和对于SiC,近似1.6)。将半透明层33配备成折射率匹配层以便减少玻璃基板31与触摸检测电极TDL之间的光反射。将偏振片35配备在触摸检测电极TDL上,并且将保护玻璃36配备在偏振片35上。虽然其中配备了半透明层33,但这不是限制性的。例如,可以省略半透明层33。
液晶层6起取决于电场的状态调制通过液晶层6的光的显示功能层的作用。电场是由每个驱动电极COML的电压与每个像素电极22的电压之间的电位差形成的。将像边缘电场切换(FFS)模式和面内切换(IPS)模式那样的液晶横向模式用于液晶层6。
要注意的是,将对准膜配备在液晶层6与像素基板2之间以及液晶层6与相对基板3之间,并且将入射侧偏振片布置在像素基板2的底面上,这里省略了对它们的显示。将圆偏振片或椭圆偏振片用于偏振片35和入射侧偏振片(未示出)。
图6A和6B例示了液晶显示设备20的示范性配置,其中图6A示出电路图,以及图6B示出了像素排列。液晶显示设备20含有以矩阵形式排列的多个像素Pix。每个像素Pix由三个子像素SPix构成。将三个子像素SPix分别布置成与显示在图5中的滤色器32的三种颜色R,G和B相对应。每个子像素SPix包括TFT元件Tr和液晶元件LC。TFT元件Tr由薄膜晶体管-这里是n沟道金属氧化物半导体(MOS)TFT构成。TFT元件Tr的源极与像素信号线SGL连接,它的栅极与扫描信号线GCL连接,以及它的漏极与液晶元件LC的一端连接。液晶元件LC的一端与TFT元件Tr的漏极连接,而它的另一端与驱动电极COML连接。
子像素SPix通过扫描信号线GCL与液晶显示设备20的同一行上的其它子像素SPix相互连接。将扫描信号线GCL与栅极驱动器12连接,以便从栅极驱动器12供给扫描信号Vscan。另外,子像素SPix通过像素信号线SGL与液晶显示设备20的同一列上的其它子像素SPix相互连接。将像素信号线SGL与源极驱动器13连接,以便从源极驱动器13供给像素信号Vpix。
如图6B所示,像素信号线SGL和扫描信号线GCL的每一条都沿着边界布置在像素基板2上的相邻子像素SPix之间。详细地说,像素信号线SGL在水平方向(x方向)沿着边界布置在相邻子像素SPix之间,而扫描信号线GCL在垂直方向(y方向)沿着边界布置在相邻子像素SPix之间。像素信号线SGL和扫描信号线GCL的每一条都由包括,例如,铝、铝合金、钼、和钛的单层膜或多层膜构成。结果是,光线不会通过像素信号线SGL和扫描信号线GCL的区域。
而且,子像素SPix通过驱动电极COML与液晶显示设备20的同一行上的其它子像素SPix相互连接。将驱动电极COML与驱动电极驱动器14连接,以便从驱动电极驱动器14供给驱动信号Vcom。
按照这样的配置,在液晶显示设备20中,栅极驱动器12驱动扫描信号线GCL以时分方式逐行扫描,从而依次选择一条水平线,并且源极驱动器13将像素信号Vpix供应给一条水平线上的像素Vpix,以便逐条水平线进行显示。
图7透视性地例示了触摸检测设备30的示范性配置。触摸检测设备30由配备在像素基板2上的驱动电极COML和配备在相对基板3上的触摸检测电极TDL构成。驱动电极COML被构造成在图中沿着水平方向延伸的多个条状电极图案。在触摸检测操作期间,驱动电极驱动器14依次将驱动信号Vcom供应给电极图案以便以时分方式依次扫描驱动电极图案。触摸检测电极TDL由沿着与驱动电极COML的电极图案的延伸方向正交的方向延伸的电极图案构成。将触摸检测电极TDL的电极图案与触摸检测部分40连接。驱动电极COML的电极图案与触摸检测电极TDL的电极图案相交,从而导致在各个交点上形成电容。
按照这样的配置,在触摸检测设备30中,驱动电极驱动器14将驱动信号Vcom施加于驱动电极COML,以便触摸检测电极TDL输出用于触摸检测的触摸检测信号Vdet。具体地说,驱动电极COML对应于图1到3例示的触摸检测的基本原理中的驱动电极E1,而触摸检测电极TDL对应于触摸检测电极E2。触摸检测设备30依照该基本原理检测触摸事件。如图7所示,电容型触摸传感器由彼此相交的电极图案以矩阵形式形成。于是,通过扫描触摸检测设备30的整个触摸检测表面检测外部接近对象的接触或接近位置。
图8例示了触摸检测电极TDL的示范性配置。在图8中,每个触摸检测电极TDL(触摸检测电极区RT)沿着与显示区Sd相交的y方向垂直延伸,并且通过,例如,布线经由显示区Sd的外围中的框架(frame)区Sf与触摸检测部分40连接。触摸检测电极TDL具有如图8所示的矩形开口。将哑电极区RD配备在开口的区域中和相邻触摸检测电极TDL之间的区域中,并且将哑电极37(如下所述)配备在每个哑电极区RD中。如下所述,每个像素Pix的有效像素区中的电极布局在触摸检测电极区RT与哑电极区RD之间相同。
图9例示了示出详细在图8中示出的局部P的触摸检测电极区RT和哑电极区RD中的各自电极布局的示范性配置,
在触摸检测电极区RT中,由在图9中沿着垂直方向(y方向)延伸的狭缝SL定义多个电子图案。多个电极图案在显示在图8中的框架区中被汇总成一个触摸检测电极TDL。如触摸检测电极区RT也将狭缝SL配备在哑电极区RD中。每条狭缝SL是在图9中沿着水平方向(x方向)对每预定个(这里,三个)子像素SPix布置的。狭缝SL的间距期望足够小以使肉眼看不出来,例如,500μtm或更小。哑电极区RD也存在在图9中沿着水平方向延伸以便将相邻狭缝SL相互连接的狭缝SLD。将狭缝SLD配备在像素基板2上含有扫描信号线GCL的区域中。具体地说,将狭缝SLD布置在非透光部分中。狭缝SLD是在图9中沿着垂直方向(y方向)对每预定个(这里,八个)像素Pix(子像素SPix)布置的。如狭缝SL,狭缝SLD的间距期望足够小以使肉眼看不出来,例如,500μm或更小。结果是,在哑电极区RD中形成由狭缝SL和狭缝SLD限定的多个哑电极37。哑电极37不与任何其它部分电连接,即,是浮置的。
狭缝SL在这里被配备在与像素Pix的蓝色(B)的子像素SPix相对应的位置上。这与触摸检测电极TDL和哑电极37的每一个在红色(R)、绿色(G)、和蓝色(B)之间在蓝色(B)上具有最低透光率的事实相联系。具体地说,将狭缝SL配备在与蓝色(B)的子像素SPix相对应的位置上,这样就抑制了由电极引起的蓝光强度的减弱,导致白色色度变黄的抑制。
子像素SPix对应于本公开的“显示元件”的具体例子。液晶层6对应于本公开的“显示层”的具体例子。触摸检测电极区RT对应于本公开的“第一区域”的具体例子。哑电极区RD对应于本公开的“第二区域”的具体例子。狭缝SL对应于本公开的“第一狭缝”的具体例子。狭缝SLD对应于本公开的“第二狭缝”的具体例子。扫描信号线GCL对应于本公开的“信号线”的具体例子。
[功能和效果]
现在描述按照实施例的带有触摸检测器的显示面板1的功能和效果。
(一般操作总结)
控制部分11根据外部供应的视频信号Vdisp将控制信号供应给栅极驱动器12、源极驱动器13、驱动电极驱动器14、和触摸检测部分40的每一个,因此控制那些部件相互同步地工作。栅极驱动器12将扫描信号Vscan供应给液晶显示设备20,以便依次选择一条水平线作为显示驱动对象。源极驱动器13将像素信号Vpix供应给定义栅极驱动器12选择的一条水平线的像素Pix。驱动电极驱动器14依次将驱动信号Vcom施加于驱动电极COML。带有触摸检测器的显示设备10进行显示操作,并根据驱动信号Vcom进行触摸检测操作,以便从触摸检测电极TDL输出触摸检测信号Vdet。触摸检测部分40检测触摸检测设备30中触摸事件的存在并且确定触摸事件的坐标,并输出确定结果作为输出信号Out。
在带有触摸检测器的显示面板1中,每个像素Pix的可透光区(有效像素区)中的电极布局在触摸检测电极区RT与哑电极区RD之间是相同的。结果是,触摸检测电极区RT中的透射光量等于哑电极区RD中的透射光量,因此使触摸检测电极TDL更不可见。下面将对此作进一步详细描述。
图10A到10C例示了有效像素区中的电极布局,其中图10A例示了触摸检测电极区RT中的电极布局,而图10B和10C例示了哑电极区RD中的电极布局。图10B例示了在图9中所示的像素PixD的有效像素区中的电极布局。图10C例示了像素PixD2的有效像素区中的电极布局。
如图10A和10B所示,触摸检测电极区RT中的像素PixT的电极布局与哑电极区RD中的像素PixD的电极布局相同。结果是,像素PixT的每个有效像素区(没有扫描信号线GCL和像素信号线SGL的区域)中的电极布局与像素PixD的有效像素区中的电极布局相同。详细地说,在像素PixT的有效像素区当中,红色(R)和绿色(G)的子像素SPix的区域配有覆盖整个区域的电极(触摸检测电极TDL),而蓝色(B)的子像素SPix的区域配有覆盖一部分区域的电极(触摸检测电极TDL),这些区域在图10A中被画上阴影线。类似地,在像素PixD的有效像素区当中,红色(R)和绿色(G)的子像素SPix的区域配有覆盖整个区域的电极(哑电极37),而蓝色(B)的子像素SPix的区域配有覆盖一部分区域的电极(哑电极37),这些区域在图10B中被画上阴影线。
相比之下,如图10A到10C所示,哑电极区RD中的像素PixD2的电极布局(图10C)稍不同于像素PixT的电极布局(图10A)和像素PixD的电极布局(图10B)。但是,像素PixD2的每个有效像素区中的电极布局与像素PixT的电极布局和像素PixD的电极布局相同。具体地,在像素PixD2的有效像素区当中,红色(R)和绿色(G)的子像素SPix的区域配有覆盖整个区域的电极(哑电极37),而蓝色(B)的子像素SPix的区域配有覆盖一部分区域的电极(哑电极37),这些区域在图10C中被画上阴影线。
这样,在带有触摸检测器的显示面板1中,触摸检测电极区RT和哑电极区RD在有效像素区中具有相同电极布局图案。结果是,在带有触摸检测器的显示设备10的液晶显示设备20中,例如,即使像素Pix在整个屏幕上显示均匀显示的相同颜色,触摸检测电极区RT中的透射光量也等于哑电极区RD中的透射光量,因此使触摸检测电极TDL更不可见。
要注意的是,由于如图5所示,触摸检测电极TDL配备在与滤色器32的层不同的层中,所以尽管狭缝SL如从显示屏的前面观看在与蓝色(B)的子像素SPix相对应的位置上,但如果观众从倾斜方向观看显示屏,则例如可能将狭缝SL看成处在与绿色(G)的子像素SPix相对应的位置上,从而导致色度偏离的可能性。在这种情况下,在带有触摸检测器的显示面板1中,由于有效像素区中的电极布局图案在像素PixT,像素PixD和像素PixD2之间也相同,所以触摸检测电极区RT中的色度偏离与哑电极区RD中的色度偏离相同,因此使触摸检测电极TDL更不可见。
另外,在带有触摸检测器的显示面板1中,狭缝SLD是在图9中沿着垂直方向(y方向)对每八个像素Pix(子像素SPix)布置在哑电极区RD中的。结果是,与狭缝SLD对每一个像素Pix配备在哑电极区RD中的情况相比,哑电极区RD中的电极布局图案与没有沿着水平方向(x方向)延伸的狭缝的触摸检测电极区RT中的电极布局图案相似。因此,由于哑电极区RD中的电极布局图案与触摸检测电极区RT中的电极布局图案相似,所以即使,例如,外部入射光被电极反射,触摸检测电极区RT中的触摸检测电极TDL也更不可见。
[效果]
如上所述,在该实施例中,由于电极在每个像素的有效像素区中的占据在触摸检测电极区与哑电极区之间是相同的,所以透射光量在两个电极区之间是相同的,因此使触摸检测电极TDL更不可见。
另外,在该实施例中,由于触摸检测电极区中的有效像素区中的电极布局图案与哑电极区中的相同,所以透射光量在两个各自电极区中具有相同颜色的子像素之间是相同的,因此使触摸检测电极TDL更不可见。
另外,在该实施例中,由于狭缝SLD是对每几个像素配备的,所以触摸检测电极区中的电极布局图案与哑电极区中的电极布局图案相似,因此即使外部入射光被电极反射,也使触摸检测电极TDL更不可见。
[变型1-1]
虽然在第一实施例中狭缝SL是对每三个子像素SPix布置的,以及狭缝SLD是对每八个像素Pix(子像素SPix)布置的,但这不是限制性的。狭缝SL可以对每两个或更少个或对每四个或更多个子像素SPix布置。可替代的是,狭缝SLD可以对每七个或更少个或对每九个或更多个像素Pix(子像素SPix)布置。图11例示了对每一个子像素SPix布置狭缝SL,和对每四个像素Pix(子像素SPix)布置狭缝SLD的电极布局。与第一实施例一样,这也使触摸检测电极TDL更不可见。
[变型1-2]
虽然在第一实施例中每个子像素SPix具有矩阵形状,但这不是限制性的。取而代之,例如,如图12所示,子像素SPix可以具有平行四边形的形状。在这种情况下,如图13A到13C所示,在图13A中画阴影线的像素PixT的有效像素区中的电极布局也与在图13B和13C中画阴影线的像素PixD和像素PixD2的每个有效像素区中的电极布局相同。结果是,与第一实施例一样,使触摸检测电极TDL更不可见。
[3.第二实施例]
现在描述按照第二实施例的带有触摸检测器的显示面板120。在第二实施例中,触摸检测电极区RT也具有沿着与狭缝SL相交的方向延伸的狭缝。要注意的是,与按照第一实施例的带有触摸检测器的显示面板1的那些基本相同的部件用相同标号表示,并且适当地省略对它们的描述。
图14例示了带有触摸检测器的显示面板120的触摸检测电极区RT和哑电极区RD中的电极布局的示范性配置。要注意的是,为了便于描述,在图14中用粗线例示了扫描信号线GCL。
触摸检测电极区RT具有在图14中沿着水平方向(x方向)延伸的狭缝SLT。与配备在哑电极区RD中的狭缝SLD一样,狭缝SLT配备在与扫描信号线GCL相对应的位置上。狭缝SLT和狭缝SLD在这里是在图14中沿着垂直方向(y方向)对每一个像素Pix(子像素SPix)布置的。狭缝SLT从作为中心的狭缝SL开始向左右延伸。狭缝SLT的长度等于像素Pix在图14中沿着水平方向的宽度。狭缝SLT的宽度与狭缝SLD的宽度相同。在图14中沿着垂直方向以交错配置安排相邻狭缝SL上的狭缝SLT。
狭缝SLT对应于本公开的“第三狭缝”的具体例子。
按照这样的配置,在带有触摸检测器的显示面板120中,与第一实施例的带有触摸检测器的显示面板1一样,由于每个像素的有效像素区中的电极布局在触摸检测电极区RT与哑电极区RD之间是相同的,所以透射光量在两个电极区之间是相同的,因此使触摸检测电极TDL2更不可见。
另外,在带有触摸检测器的显示面板120中,狭缝SLT是配备在触摸检测电极区RT中的,使得触摸检测电极区RT和哑电极区RD具有相同的单位面积电极占据,此外,具有彼此相似的电极布局图案。具体地,在带有触摸检测器的显示面板120中,哑电极区RD具有在图14中沿着垂直方向(y方向)并排排列的对每一个像素Pix(子像素SPix)的狭缝SLD。在这种情况下,触摸检测电极区RT也具有在图14中沿着垂直方向(y方向)并排排列的对每一个像素Pix(子像素SPix)的狭缝SLT,使得触摸检测电极区RT和哑电极区RD与像第一实施例那样触摸检测电极区RT没有狭缝SLT的情况相比,具有彼此相似的电极布局图案。结果是,在带有触摸检测器的显示面板120中,即使,例如,外部入射光被电极反射,触摸检测电极TDL2也更不可见。
换句话说,按照第一实施例的带有触摸检测器的显示面板1被配置成在哑电极区RD中狭缝SLD的数量少,使得即使在触摸检测电极区RT中未配备狭缝SLT,触摸检测电极区RT和哑电极区RD具有彼此相似的电极布局图案。
相反,按照第二实施例的带有触摸检测器的显示面板120被配置成在触摸检测电极区RT中也以与哑电极区RD中的狭缝SLD相同的方式配备了狭缝SLT,使得触摸检测电极区RT和哑电极区RD具有相同的单位面积电极占据,并且具有彼此相似的电极布局图案。结果是,即使在哑电极区RD中安排了大量的狭缝SLD,在触摸检测电极区RT中也配备了类似数量的狭缝SLT,从而允许触摸检测电极TDL2更不可见。
如上所述,在第二实施例中,由于触摸检测电极区含有狭缝SLT,所以,例如,即使在哑电极区RD中安排了大量的狭缝SLD,触摸检测电极区RT和哑电极区RD也具有相同的单位面积电极占据,并且具有彼此相似的电极布局图案,因此,使触摸检测电极TDL2更不可见。其它效果与第一实施例中的那些类似。
[变型2-1]
虽然在第二实施例中狭缝SL是对每三个子像素SPix布置的,但这不是限制性的。取而代之,例如,狭缝SL可以对每两个或更少个或对每四个或更多个子像素SPix布置。图15例示了对每一个子像素SPix布置狭缝SL的例子。在这种情况下,与第二实施例一样,也使触摸检测电极TDL2A更不可见。
[变型2-2]
虽然在第二实施例中狭缝SLD和狭缝SLT是对每一个像素Pix(子像素SPix)布置的,但这不是限制性的。取而代之,例如,狭缝SLD和狭缝SLT可以对每两个或更多个像素Pix(子像素SPix)布置。图16例示了对每二个像素Pix(子像素SPix)布置狭缝SLD和狭缝SLT的例子。在这种情况下,与第二实施例一样,也使触摸检测电极TDL2B更不可见。
[其它变型]
虽然在第二实施例中每个子像素SPix具有矩阵形状,但这不是限制性的。取而代之,与第一实施例的变型1-2一样,子像素SPix可以具有平行四边形的形状。
[4.第三实施例]
现在描述按照第三实施例的带有触摸检测器的显示面板130。第三实施例对应于这样修改的按照第二实施例的带有触摸检测器的显示面板120,即以与触摸检测电极区RT中的狭缝SLT相同的方式以交错配置排列哑电极区RD中的狭缝SLD。要注意的是,与按照第二实施例的带有触摸检测器的显示面板120的那些基本相同的部件用相同标号表示,并且适当地省略对它们的描述。
图17例示了带有触摸检测器的显示面板130的触摸检测电极区RT和哑电极区RD中的电极布局的示范性配置。要注意的是,在图17中为了便于描述用粗线例示了扫描信号线GCL。
在带有触摸检测器的显示面板130中,以与触摸检测电极区RT中的狭缝SLT相同的方式以交错配置在哑电极区RD中排列在图17中沿着水平方向(x方向)彼此相邻的狭缝SLD。结果是,在带有触摸检测器的显示面板130中,触摸检测电极区RT和哑电极区RD与按照第二实施例的带有触摸检测器的显示面板120相比,具有进一步彼此相似的电极布局图案。因此,例如,即使外部入射光被电极反射,也使触摸检测电极TDL2更进一步不可见。
如上所述,在第三实施例中,由于以与触摸检测电极区RT中的狭缝SLT相同的方式以交错配置排列哑电极区RD中的狭缝SLD,所以使触摸检测电极更进一步不可见。其它效果与第二实施例中的那些类似。
[变型3-1]
在第三实施例中,虽然在含有扫描信号线GCL的区域中以交错配置排列狭缝SLT和狭缝SLD两者,但这不是限制性的。取而代之,可以跨过含有扫描信号线GCL的各个区域地以交错配置排列狭缝SLT和狭缝SLD。在这样的情况下,例如,如图18A和18B所示,尽管在图18A中画阴影线的像素PixT的有效像素区中的电极布局图案稍不同于在图18B中画阴影线的像素PixD的有效像素区中的电极布局图案,但电极的占据在两个有效像素区之间是相同的,因此与第三实施例一样,使触摸检测电极TDL2更不可见。
[变型3-2]
虽然在第三实施例中狭缝SL是对每三个子像素SPix布置的,但这不是限制性的。取而代之,例如,狭缝SL可以对每两个或更少个或对每四个或更多个子像素SPix布置。图19例示了对每一个子像素SPix布置狭缝SL的例子。在这种情况下,与第三实施例一样,也使触摸检测电极TDL2A更不可见。
[其它变型]
虽然在第三实施例中每个子像素SPix具有矩阵形状,但这不是限制性的。取而代之,与第一实施例的变型1-2一样,子像素SPix可以具有平行四边形的形状。
[5.第四实施例]
现在描述按照第四实施例的带有触摸检测器的显示面板140。第四实施例对应于这样修改的按照第二实施例的带有触摸检测器的显示面板120,即将触摸检测电极区RT中的狭缝SLT和哑电极区RD中的狭缝SLD安排成倾斜延伸。要注意的是,与按照第二实施例的带有触摸检测器的显示面板120的那些基本相同的部件用相同标号表示,并且适当地省略对它们的描述。
图20例示了带有触摸检测器的显示面板140的触摸检测电极区RT和哑电极区RD中的电极布局的示范性配置。在带有触摸检测器的显示面板140中,每个子像素SPix具有平行四边形的形状,以及触摸检测电极区RT中的狭缝SLT和哑电极区RD中的狭缝SLD在含有扫描信号线GCL的各种区域中相应倾斜地延伸。在触摸检测电极区RT中,与第三实施例(图17)不同,在图20中沿着垂直方向将相邻狭缝SL上的狭缝SLT安排在相同位置中。
结果是,在带有触摸检测器的显示面板140中,触摸检测电极区RT和哑电极区RD具有彼此相似的电极布局图案,因此,例如,即使外部入射光被电极反射,也使触摸检测电极TDL4更不可见。
如上所述,在第四实施例中,狭缝SLT和狭缝SLD倾斜地延伸,因此使触摸检测电极在没有与第二实施例一样以交错配置形成狭缝的情况下更不可见。其它效果与第二实施例中的那些类似。
[变型4-1]
虽然狭缝SLT和狭缝SLD两者配备在含有扫描信号线GCL的区域中,但这不是限制性的。取而代之,狭缝SLT和狭缝SLD可以从含有扫描信号线GCL的各自区域中突出。在这样的情况下,如图21A和21B所示,尽管在图21A中画阴影线的像素PixT的有效像素区中的电极布局图案稍不同于在图21B中画阴影线的像素PixD的有效像素区中的电极布局图案,但电极的占据在两个有效像素区之间是基本相同的,从而与第四实施例一样,使触摸检测电极TDL4更不可见。
[其它变型]
虽然在第四实施例中狭缝SL是对每三个子像素SPix布置的,但这不是限制性的。取而代之,例如,狭缝SL可以对每两个或更少个或对每四个或更多个子像素SPix布置。
虽然在第四实施例中狭缝SLD和狭缝SLT每个是对每一个像素Pix(子像素SPix)布置的,但这不是限制性的。取而代之,例如,狭缝SLD和SLT每个可以对每两个或更多个像素Pix(子像素SPix)布置。
虽然在第四实施例中每个子像素SPix具有平行四边形的形状,但这不是限制性的。取而代之,与第三实施例等一样,子像素SPix可以具有矩形形状。
[6.第五实施例]
现在描述按照第五实施例的带有触摸检测器的显示面板150。第五实施例对应于这样修改的按照第二实施例的带有触摸检测器的显示面板120,即取代以交错配置布置狭缝SLT,较厚地形成触摸检测电极区RT中的狭缝SLT。要注意的是,与按照第二实施例的带有触摸检测器的显示面板120的那些基本相同的部件用相同标号表示,并且适当地省略对它们的描述。
图22例示了带有触摸检测器的显示面板150的触摸检测电极区RT和哑电极区RD中的电极布局的示范性配置。触摸检测电极区RT中的每个狭缝SLT在图22中沿着水平方向(x方向)具有比像素Pix的宽度短的长度,并且具有比哑电极区RD中的每个狭缝SD的宽度宽的宽度。结果是,触摸检测电极区RT和哑电极区RD具有相同的单位面积电极占据。在图22中沿着垂直方向(y方向)将相邻狭缝SL上的狭缝SLT安排在相同位置中。
结果是,在带有触摸检测器的显示面板150中,触摸检测电极区RT和哑电极区RD具有彼此相似的电极布局图案,因此,例如,即使外部入射光被电极反射,也使触摸检测电极TDL5更不可见。
如上所述,在第五实施例中,较厚地形成狭缝SLT,从而使触摸检测电极在没有与第二实施例一样以交错配置形成狭缝的情况下更不可见。其它效果与第二实施例中的那些类似。
[变型5-1]
虽然在第五实施例中每个狭缝SLT从狭缝SL向左右延伸,但这不是限制性的。例如,如图23所示,狭缝SLT可以与狭缝SL分开。在这种情况下,触摸检测电极区RT和哑电极区RD也具有彼此相似的电极布局图案,因此,与第五实施例一样,使触摸检测电极TDL5A更不可见。
[7.应用例子]
现在参考图24到28G描述上述实施例和变型中的每种带有触摸检测器的显示面板的应用例子。在实施例等中所述的带有触摸检测器的显示面板可应用于各种领域中的电子装置,包括电视装置、数字照相机、笔记本个人电脑、像移动电话那样的移动终端设备、和摄像机。换句话说,实施例等中的带有触摸检测器的显示面板可应用于各种领域中的电子装置以便外部输入或内部生成视频信号显示成静止或视频图像。
(应用例子1)
图24示出了应用了按照这些实施例等的带有触摸检测器的显示面板的电视装置的外观。该电视装置含有,例如,包括前面板511和过滤玻璃512的图像显示屏部分510。图像显示屏部分510由按照这些实施例等的带有触摸检测器的显示面板构成。
(应用例子2)
图25A和25B示出了应用了按照这些实施例等的带有触摸检测器的显示面板的数字照相机的外观。该数字照相机含有,例如,用于闪光的发光部分521、显示部分522、菜单开关523、和快门按钮524。显示部分522由按照这些实施例等的带有触摸检测器的显示面板构成。
(应用例子3)
图26示出了应用了按照这些实施例等的带有触摸检测器的显示面板的笔记本个人电脑的外观。该笔记本个人电脑含有,例如,主体531、用于字母等的输入操作的键盘532、用于显示图像的显示部分533。显示部分533由按照这些实施例等的带有触摸检测器的显示面板构成。
(应用例子4)
图27示出了应用了按照这些实施例等的带有触摸检测器的显示面板的摄像机的外观。该摄像机含有,例如,主体部分541、配备在主体部分541的前侧面上的对象拍摄透镜542、用于拍摄的开始/停止开关543、和显示部分544。显示部分544由按照这些实施例等的带有触摸检测器的显示面板构成。
(应用例子5)
图28A到28G示出了应用了按照这些实施例等的带有触摸检测器的显示面板的移动电话的外观。例如,该移动电话由通过铰链部分730相互连接的上外壳710和下外壳720构成,并且含有显示器740、子显示器750、画面灯760和照相机770。显示器740或子显示器750由按照这些实施例等的带有触摸检测器的显示面板构成。
虽然上文利用几个实施例、变型、和对电子装置的应用例子对本发明的技术作了描述,但该技术不局限于这些实施例等,可以作出各种各样的修改或变更。
例如,虽然在这些实施例等中隔着绝缘膜23将驱动电极COML配备在TFT基板21上和将像素电极22配备在驱动电极COML上,但这不是限制性的。取而代之,例如,可以隔着绝缘膜23将像素电极22配备在TFT基板21上,和将驱动电极COML配备在像素电极22上。
例如,尽管在这些实施例等中将包括像FFS模式和IPS模式那样液晶的横电模式的液晶显示设备与触摸检测设备集成在一起,但取而代之,也可以将包括像扭曲向列(TN)模式、垂直对准(VA)模式、和电控双折射(ECB)模式那样液晶的各种其它形式的液晶显示设备与触摸检测设备集成在一起。在使用这样类型液晶的情况下,带有触摸检测器的显示设备像图29所示那样配置。图29例示了按照一种变型的带有触摸检测器的显示设备10B的主要部分的示范性剖面结构,并且例示了液晶层6B夹在像素基板2B与相对基板3B之间的配置。由于其它部分的名称、功能等与图5中的那些相似,所以省略对它们的描述。这种示范性设备与图5的设备的不同之处在于将用于显示和触摸检测两者的驱动电极COML配备在相对基板3B上。
另外,例如,尽管在上述实施例等中使用了将液晶显示设备与电容型触摸检测设备集成在一起的所谓单元内(in-cell)型,但这不是限制性的。取而代之,例如,可以使用将电容型触摸检测设备配备在液晶显示设备上的所谓单元上(on-cell)型。可替代的是,可以将电容型触摸检测设备与显示部分分开。
另外,例如,尽管在上述实施例等中将液晶元件用于显示元件,但这不是限制性的。取而代之,例如,可以使用电致发光(EL)元件。
从本公开的上述示范性实施例和变型中至少可以实现如下配置。
(1)一种带有触摸检测器的显示面板,其包括:
包括并排排列的多个显示元件的显示层;以及
沿着第一方向交替分段成第一区域和第二区域的电极层,该电极层包括并排排列以在第二方向延伸的多个第一狭缝、和每一个使第二区域中的多个第一狭缝的相邻一对相互连通的多个第二狭缝。
(2)按照(1)所述的显示面板,进一步包括含有多条信号线的布线层,该多条信号线在沿着第二方向排列的相邻显示元件之间沿着第一方向延伸,其中
在与任一条信号线相对应的区域中配备第二狭缝之一。
(3)按照(2)所述的显示面板,其中每预定条信号线配备第二狭缝之一。
(4)按照(2)或(3)所述的显示面板,其中该电极层进一步包括每一个被布置成不允许第一区域中的第一狭缝的相邻一对相互连通的多个第三狭缝。
(5)按照(4)所述的显示面板,其中在与任一条信号线相对应的区域中配备第二狭缝之一和第三狭缝之一。
(6)按照(4)或(5)所述的显示面板,其中在沿着第二方向的不同位置中配备沿着第一方向彼此相邻的第三狭缝。
(7)按照(6)所述的显示面板,其中在沿着第二方向的不同位置中配备沿着第一方向彼此相邻的第二狭缝。
(8)按照(6)所述的显示面板,其中在沿着第二方向的相同位置中配备沿着第一方向彼此相邻的第二狭缝。
(9)按照(6)到(8)的任何一项所述的显示面板,其中
第二狭缝和第三狭缝沿着第一方向延伸,以及
每个第二狭缝的宽度等于每个第三狭缝的宽度。
(10)按照(4)或(5)所述的显示面板,其中
在沿着第二方向的相同位置中配备沿着第一方向彼此相邻的第三狭缝,以及
在沿着第二方向的相同位置中配备沿着第一方向彼此相邻的第二狭缝。
(11)按照(10)所述的显示面板,其中第二狭缝和第三狭缝沿着与第一方向不同的第三方向延伸。
(12)按照(10)所述的显示面板,其中
第二狭缝和第三狭缝沿着第一方向延伸,以及
每个第三狭缝的宽度大于每个第二狭缝的宽度。
(13)按照(1)到(12)的任何一项所述的显示面板,其中沿着第一方向对每预定个显示元件配备第一狭缝之一。
(14)按照(13)所述的显示面板,其中
每个显示元件定义包括红色显示元件、绿色显示元件、和蓝色显示元件的显示像素,以及
在与蓝色显示元件相对应的位置中配备第一狭缝。
(15)按照(1)到(14)的任何一项所述的显示面板,其中
电极层包括由第一和第二狭缝限定的多个哑电极,以及
该哑电极是电浮置的。
(16)按照(1)到(15)的任何一项所述的显示面板,进一步包括沿着与第二方向交叉(crossing)的方向延伸的驱动电极,其中
电极层包括检测电极,该检测电极包括由第一区域中的第一狭缝定义的多个电极图案,以及
检测电极与驱动电极之间的每个交点含有电容。
(17)按照(16)所述的显示面板,其中每个显示元件包括:
液晶层;以及
配备在所述液晶层与所述驱动电极之间,或布置成隔着驱动电极面对液晶层的像素电极。
(18)按照(16)所述的显示面板,其中每个显示元件包括:
液晶层;以及
布置成隔着液晶层面对驱动电极的像素电极。
(19)一种触摸面板,其包括:
沿着第一方向交替分段成第一区域和第二区域的电极层,该电极层包括并排排列以在第二方向延伸的多个第一狭缝、和使第二区域中的相邻第一狭缝相互连通的多个第二狭缝。
(20)一种包括带有触摸检测器的显示面板、和使用带有触摸检测器的显示面板进行操作控制的控制部分的电子装置,该显示面板包括:
包括并排排列的多个显示元件的显示层;以及
沿着第一方向交替分段成第一区域和第二区域的电极层,该电极层包括并排排列以在第二方向延伸的多个第一狭缝、和每一个使第二区域中的多个第一狭缝的相邻一对相互连通的多个第二狭缝。
本公开包含与公开在2011年4月22日向日本专利局提交的日本优先权专利申请JP2011-96021中的主题有关的主题,在此通过引用并入其全部内容。
本领域的技术人员应该明白,只要在所附权利要求书或其等效物的范围之内,取决于设计要求和其它因素,可以作出各种各样的变型、组合、子组合和变更。