CN102034938A - 供体基板和显示器制造方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了在形成发光层时使用的供体基板以及使用该供体基板制造显示器的方法。所述供体基板包括:基体;布置在所述基体上的光热转换层,所述光热转换层与所述被转印基板上要形成所述发光层的区域相对应;形成在所述光热转换层和所述基体上的隔热层;凸起结构,所述凸起结构被布置在所述隔热层上且位于各个所述光热转换层之间的区域中;以及防污染层,所述防污染层包括形成在所述凸起结构的顶面上的第一部分和形成在所述隔热层的顶面上的第二部分,所述第一部分和第二部分彼此分开。本发明降低了所述转印层中不需要的范围被转印的风险,并以高精度转印所需要的范围。
Description
相关申请的交叉参考
本申请是申请日为2009年6月25日,发明名称为“供体基板和显示器制造方法”的第200910148635.5号专利申请的分案申请。
本申请是在国家知识产权局认为上述母案不符合单一性要求的情况下提出的,具体涉及母案的第一次审查意见通知书,其发文日为2010年5月27日、发文序号为2010052400039610。
本申请包含与2008年6月25日和2008年12月9日向日本专利局提交的日本在先专利申请JP 2008-165971和JP 2008-313105的公开内容相关的主题,在此将这些在先申请的全部内容以引用的方式并入本文。
技术领域
本发明涉及在通过转印方法来形成有机发光器件中的发光层时所使用的供体基板,以及使用该供体基板来制造显示器的方法。
背景技术
近年来,人们在积极地研究下一代显示器,且使用有机发光器件(有机电致发光(EL,electroluminescence)器件)的有机发光显示器引起了人们的注意,在上述有机发光器件中,第一电极、包括发光层的多个有机层和第二电极依次层叠在驱动基板上。由于有机发光显示器是自发光型,因此具有宽视角。在有机发光显示器中,因为背光不是必需的,因此可以节省电能。此外,响应度高,并且可以实现显示器的极薄型(low-profile)。因此,非常期待将有机发光显示器应用于诸如电视等大屏幕显示器。
为了增大这种有机发光显示器的尺寸并提高生产率,人们已经考虑了使用一种尺寸更大的样品玻璃(mother glass)。此时,在使用普通金属掩模形成发光层的方法中,隔着金属掩模通过蒸镀或者涂敷发光材料来使R、G和B发光层图形化。在该金属掩模中,金属板上设置有开口图形。因此,随着基板尺寸的增大,必须增大金属掩模的尺寸。
然而,随着金属掩模尺寸的增大,由掩模自身重量引起的弯曲和输送的复杂性变得明显,并且对准变得困难。因此,难以充分提高开口率,结果,使器件特性劣化。
作为不使用金属掩模的图形化技术,曾提供了一种使用诸如激光等辐射线的转印方法。在该转印方法中,形成了设置有转印层的供体元件,该转印层包含作为支持材料的发光材料,并且该供体元件面对着用于形成有机发光器件的被转印基板。然后,通过在减压环境下照射辐射线来将转印层转印至被转印基板上。除了用激光作为辐射线之外,还有一种情况是,使用并通过透镜来会聚从氙闪光灯发出的光(例如,参照日本专利申请公开公报No.1997-167684(第0017段和第0028段))。
在现有技术的供体基板中,例如仅在由玻璃或膜构成的基体的所需区域(需要被转印的区域)处对由铬(Cr)等构成的光热转换层进行图形化。在转印步骤中,有机材料的转印层被形成在供体基板上,并且激光对应于光热转换层进行局部地照射。因此,只将转印层中的所需范围转印至被转印基板上。
然而,在使用激光进行热转印的情况下,当增大基板尺寸时,存在着会使处理时间延长并使显示器等的成本增加的问题。因此,曾考虑了氙闪光灯和卤素红外灯等有希望用作代替激光的辐射源,因为可以在较大面积内进行聚中的或一次性转印的处理。然而,在现有技术中还没有开发出能够有效吸收诸如闪光灯和卤素红外灯等具有宽波长的辐射线的供体基板,并且在使用现有技术的供体基板的情况下会出现大幅度的能量损耗。
此外,在现有技术的供体基板中,基体和光热转换层的表面被由SiO2等构成的隔热层覆盖着,并在该隔热层上形成有由钼(Mo)等构成的防污染层。因此,光吸收层中的热量呈放射状地被扩散到防污染层的平面内,并且使转印层的有机材料熔化且轮廓发生松弛。因此,不仅转印层中的所需范围,而且不需要的范围(不需要被转印的区域)也被转印。因此,降低了转印精度并且会出现与紧邻像素的混色,这些会带来生产率的显著降低。
发明内容
鉴于上述情况,本发明期望提供一种能够有效吸收具有宽波长的辐射线的供体基板和使用该供体基板来制造显示器的方法。
本发明还期望提供一种能够将转印层的所需范围以高精度进行转印的供体基板以及使用该供体基板来制造显示器的方法。
本发明的实施方式提供了在形成发光层时使用的第一种供体基板,所述发光层是通过如下步骤形成的:形成含有发光材料的转印层;当所述转印层和被转印基板相互面对时,将辐射线照射至所述转印层;并且使所述转印层升华或气化,从而将所述转印层转印至所述被转印基板上。所述供体基板包括如下构件(A)~(C):(A)基体;(B)布置在所述基体上的光热转换层;以及(C)布置在所述基体与所述光热转换层之间的热干涉层,所述热干涉层包括两个以上的彼此具有不同折射系数的层。
本发明的实施方式提供了在形成发光层时使用的第二种供体基板,所述发光层是通过如下步骤形成的:形成含有发光材料的转印层;当所述转印层和被转印基板相互面对时,照射辐射线;并且使所述转印层升华或气化,从而将所述转印层转印至所述被转印基板上。所述供体基板包括如下构件(A)~(E):(A)基体;(B)布置在所述基体上的光热转换层,所述光热转换层对应于所述被转印基板上的要形成所述发光层的区域;(C)形成在所述光热转换层和所述基体上的隔热层;(D)布置在所述隔热层上且位于各个光热转换层之间的区域中的凸起结构;以及(E)防污染层,所述防污染层包括形成在所述凸起结构的顶面上的第一部分和形成在所述隔热层的顶面上的第二部分,并且所述第一部分和所述第二部分彼此分开。
本发明提供了本发明实施方式显示器的第一种制造方法或者第二种制造方法,在所述显示器中,在驱动基板上形成有有机发光器件,所述有机发光器件包括依次布置的第一电极、具有与所述第一电极的发光区域相对应的开口部的绝缘层、包含发光层的多层有机层以及第二电极。所述显示器的第一制造方法或者第二制造方法包括如下步骤:在所述驱动基板上形成所述第一电极、所述绝缘层和所述多层有机层的一部分有机层,由此形成被转印基板;在供体基板中形成含有发光材料的转印层,当所述转印层和所述被转印基板相互面对时照射辐射线,并且使所述转印层升华或气化从而将所述转印层转印至所述被转印基板上,由此形成发光层;以及形成所述多层有机层的剩余部分和所述第二电极。作为上述供体基板,使用了本发明实施方式的第一种或第二种供体基板。
在本发明实施方式的第一种供体基板中,在所述基体与所述光热转换层之间布置有热干涉层,该热干涉层包括两个以上的彼此具有不同折射系数的层。因此,能根据所述辐射线的发光带对所述热干涉层的反射率进行调整,并且提高了当照射至所述供体基板的辐射线被所述光热转换层吸收并被转换成热量时的吸收率。
在本发明实施方式的第二种供体基板中,所述防污染层包括形成在所述凸起结构的顶面上的第一部分和形成在所述隔热层的顶面上的第二部分,并且所述第一部分和所述第二部分彼此分开。于是,大幅度降低了通过所述防污染层的热扩散。因此,降低了所述转印层中的不需要的范围被转印的风险,并能够以高精度转印所需要的范围。
在本发明实施方式的第一种供体基板中,在所述基体与所述光热转换层之间布置有热干涉层,该热干涉层包括两个以上的彼此具有不同折射系数的层。因此,通过调整所述热干涉层的折射系数(材料)和厚度,使宽波长范围内的吸收率提高。
在本发明实施方式的第二种供体基板中,所述防污染层包括形成在所述凸起结构的顶面上的第一部分和形成在所述隔热层的顶面上的第二部分,并且所述第一部分和所述第二部分彼此分开。于是,大幅度降低了通过所述防污染层的热扩散,并能以高精度转印所述转印层的所需范围。因此,当使用该供体基板来制造有机发光显示器时,不使用掩模就能高精度地形成发光层。
从下面的说明中会更充分地体现出本发明的其它和进一步的目的、特征及优点。
附图说明
图1是图示了本发明第一实施方式显示器的结构的图;
图2是图示了图1中像素驱动电路的实施例的图;
图3是图示了图1中显示区域的结构的截面图;
图4A~图4C是图示了图3中第一电极和绝缘层的结构的平面图;
图5是图示了在制造图1所示显示器的方法中使用的供体基板的结构的截面图;
图6A和图6B是图示了按工艺顺序来制造供体基板的方法的截面图;
图7A和图7B是图示了按工艺顺序来制造图1所示显示器的方法的截面图;
图8是用于说明图4A~图4C中凸柱(rib)的作用的截面图;
图9A和图9B是用于说明现有技术供体基板的示例和问题的截面图;
图10是图示了图7B中步骤的变形例的截面图;
图11是图示了图5中供体基板的变形例的截面图;
图12是图示了使用图11中供体基板来制造显示器的方法的截面图;
图13是图示了图12中步骤的变形例的截面图;
图14是图示了本发明第二实施方式供体基板的结构的截面图;
图15是图示了本发明第三实施方式供体基板的截面图;
图16是图示了热干涉层中的吸收光谱的图;
图17是图示了热干涉层中的吸收光谱的图;
图18是图示了热干涉层中的吸收光谱的图;
图19是图示了通过使用图15中供体基板而进行的转印步骤的截面图;
图20是图示了辐射线照射方法的实施例的平面图;
图21是图示了辐射线照射方法的另一实施例的平面图;
图22是图示了图15中供体基板的变形例的截面图;
图23A和图23B是用于说明比较例1中供体基板的结构和问题的截面图;
图24是图示了包括第一~第三实施方式的显示器的模块的示意性结构平面图;
图25是图示了第一~第三实施方式的显示器的应用例1的外观立体图;
图26A是图示了从应用例2的正面观察到的外观立体图,并且图26B是图示了从应用例2的背面观察到的外观立体图;
图27是图示了应用例3的外观立体图;
图28图示了应用例4的外观立体图;
图29A是应用例5的打开状态的正视图,图29B是打开状态的侧视图,图29C是关闭状态的正视图,图29D是关闭状态的左视图,图29E是关闭状态的右视图,图29F是关闭状态的顶视图,以及图29G是关闭状态的底视图;
图30图示了图3所示的显示区域的其他结构的截面图。
具体实施方式
下面参照附图详细说明本发明的优选实施方式。将按如下顺序说明。
1.第一实施方式(使用激光作为辐射线并在供体基板上设置有凸起结构的示例)。
2.变形例1(在被凸起结构分开的各个区域中设置有不同颜色的转印层的示例)。
3.第二实施方式(在基体与光热转换层之间设置有单层结构的热干涉层的示例)。
4.第三实施方式(使用具有宽波长的辐射源并且热干涉层具有层叠结构的示例)。
第一实施方式
显示器
图1图示了本发明第一实施方式显示器的结构。该显示器被用作极薄型有机发光彩色显示器等。在该显示器中,例如,在玻璃材质的驱动基板11上形成有显示区域110,该显示区域110中布置有后面说明的呈矩阵形式布置的多个发光器件10R、10G和10B,并且在该显示区域110周边形成有作为图像显示用驱动器的信号线驱动电路120和扫描线驱动电路130。
在显示区域110中,形成有像素驱动电路140。图2图示了像素驱动电路140的实施例。像素驱动电路140被形成在后面说明的第一电极13下方的层中。像素驱动电路140是有源驱动电路,其包括:驱动晶体管Tr1和写晶体管Tr2、布置在驱动晶体管Tr1与写晶体管Tr2之间的电容Cs(保持电容)以及在第一电源线(Vcc)与第二电源线(GND)之间与驱动晶体管Tr1串联连接的有机发光器件10R(或者10G或者10B)。驱动晶体管Tr1和写晶体管Tr2由普通薄膜晶体管(TFT)构成。例如,TFT的结构不受具体限制,并且可以是逆错列结构(inverted staggered structure)(所谓的底栅型)或者是错列结构(顶栅型)。
在像素驱动电路140中,在列方向上布置有多条信号线120A,并且在行方向上布置有多条扫描线130A。各条信号线120A与各条扫描线130A之间的交叉部对应于有机发光器件10R、10G和10B中的任一个有机发光器件(亚像素)。各条信号线120A与信号线驱动电路120连接,并通过信号线120A将图像信号从信号线驱动电路120提供至写晶体管Tr2的源极电极。各条扫描线130A与扫描线驱动电路130连接,并通过扫描线130A将扫描信号从扫描线驱动电路130依次提供至写晶体管Tr2的栅极电极。
图3图示了显示区域110的截面结构的实施例。在显示区域110中,整体上以矩阵形式依次形成有产生红光的有机发光器件10R、产生绿光的有机发光器件10G和产生蓝光的有机发光器件10B。有机发光器件10R、10G和10B具有矩形平面形状,并按照每种颜色而被布置在纵向方向(列方向)上。彼此紧邻的有机发光器件10R、10G和10B的组合构成了一个像素。像素间距例如是300μm。
在有机发光器件10R、10G和10B中,从驱动基板11侧且隔着上述像素驱动电路140中的驱动晶体管(图中未示出)和平坦化绝缘膜(图中未示出),依次层叠有作为阳极的第一电极13、绝缘层14、有机层15和作为阴极的第二电极16,该有机层15包括后面说明的红光发光层15CR、绿光发光层15CG或者蓝光发光层15CB。
在这种有机发光器件10R、10G和10B上覆盖有有氮化硅(SiNx)等构成的保护膜17。此外,在保护膜17的整个表面上方隔着接合层20而粘接有由玻璃等构成的密封基板30,由此对有机发光器件10R、10G和10B进行密封。
第一电极13例如由ITO(铟锡复合氧化物)或者IZO(铟锌复合氧化物)制成。第一电极13也可由反射电极构成。在这样的情况下,第一电极13例如具有100nm以上且1000nm以下的厚度,且优选的是,第一电极13具有尽可能高的反射率以便提高发光效率。作为用于第一电极13的材料,例如有诸如铬(Cr)、金(Au)、铂(Pt)、镍(Ni)、铜(Cu)、钨(W)、或银(Ag)等金属元素的单质或者这些金属元素的合金。
绝缘层14确保第一电极13与第二电极16之间的绝缘性,并完全能将发光区域制成为所需形状。绝缘层14例如具有约1μm厚度,并由诸如氧化硅或聚酰亚胺等感光树脂制成。在绝缘层14中,设置有与第一电极13中的发光区域13A对应的开口部。绝缘层14还兼作在驱动基板11侧的凸起结构,该凸起结构对应于后面说明的供体基板40中的凸起结构44。不仅在发光区域13A上而且在绝缘层14上都可以连续地布置有有机层15和第二电极16。然而,仅在绝缘层14的开口部处产生发光。
图4A~图4C图示了第一电极13和绝缘层14的平面结构的实施例。例如将绝缘层14设置为格子图形。在绝缘层14上,在离开第一电极13中的发光区域13A(例如,绝缘层14的格子交叉点)的位置处布置有凸柱14A。凸柱14A避免了在后面说明的转印步骤中供体基板40中的凸起结构44与绝缘层14相互接触。因此,凸柱14A的高度H优选高于凸起结构44的高度,并且可以例如是约5μm。凸柱14A例如由与绝缘层14的材料相同的材料制成。在驱动基板11上,设置有用于在后面说明的转印步骤中与供体基板40进行位置对准的对准标记M。
图3中所图示的有机层15具有如下结构,在该结构中,从第一电极13侧依次层叠有:空穴注入层和空穴输送层15AB;红光发光层15CR、绿光发光层15CG或蓝光发光层15CB;以及电子输送层和电子注入层15DE。对于这些层,如果有必要的话,可以设置除了红光发光层15CR、绿光发光层15CG和蓝光发光层15CB以外的层。有机层15的结构可以依赖于从有机发光器件10R、10G和10B发出的光的颜色而有所不同。空穴注入层提高了空穴注入效率,并且也是用于防止泄露的缓冲层。空穴输送层提高了向红光发光层15CR、绿光发光层15CG或蓝光发光层15CB的空穴输送效率。通过施加电场而发生了电子和空穴的复合,且红光发光层15CR、绿光发光层15CG或蓝光发光层15CB产生光。电子输送层提高了向红光发光层15CR、绿光发光层15CG或蓝光发光层15CB的电子输送效率。电子注入层具有例如约0.3nm的厚度,并由LiF或Li2O等制成。在图3中,空穴注入层和空穴输送层被图示为一层(空穴注入层和空穴输送层15AB),并且电子输送层和电子注入层被图示为一层(电子输送层和电子注入层15DE)。
有机发光器件10R中的空穴注入层例如具有5nm以上且300nm以下的厚度,并且由4,4’,4”-三(3-甲基苯基苯基氨基)三苯基胺(4,4,4-tris(3-methyl phenyl phenylamino)triphenylamine,m-MTDATA)或者4,4’,4”-三(2-萘基苯基氨基)三苯基胺(4,4’,4”-tris(2-naphthyl phenyl amino)triphenylamine,2-TNATA)制成。有机发光器件10R中的空穴输送层例如具有5nm以上且300nm以下的厚度,并且由二[(N-萘基)-N-苯基]联苯胺(bis[(N-naphthyl)-N-phenyl]benzidine,α-NPD)制成。有机发光器件10R中的红光发光层15CR例如具有10nm以上且100nm以下的厚度,并且通过将30重量%的2,6-二[(4’-甲氧基二苯基氨基)苯乙烯基]-1,5-二氰基萘(2,6-bis[(4’-methoxydiphenylamino)styryl]-1,5-dicyanonaphthalene,BSN)混合到9,10-二(2-萘基)蒽(9,10-di-(2-naphthyl)anthracene,ADN)中而构成。有机发光器件10R中的电子输送层例如具有5nm以上且300nm以下的厚度,并且由8-羟基喹啉铝(8-hydroxyquinoline aluminum,Alq3)制成。
有机发光器件10G中的空穴注入层例如具有5nm以上且300nm以下的厚度,并且由m-MTDATA或者2-TNATA制成。有机发光器件10G中的空穴输送层例如具有5nm以上且300nm以下的厚度,并且由α-NPD制成。有机发光器件10G中的绿光发光层15CG例如具有10nm以上且100nm以下的厚度,并且通过将5体积%的香豆素6(Coumarin 6)混合到ADN中而构成。有机发光器件10G中的电子输送层例如具有5nm以上且300nm以下的厚度,并且由Alq3制成。
有机发光器件10B中的空穴注入层例如具有5nm以上且300nm以下的厚度,并且由m-MTDATA或者2-TNATA制成。有机发光器件10B中的空穴输送层例如具有5nm以上且300nm以下的厚度,并且由α-NPD制成。有机发光器件10B中的蓝光发光层15CB例如具有10nm以上且100nm以下的厚度,并且通过将2.5重量%的4,4’-二[2-{4-(N,N-二苯基氨基)苯基}乙烯基]联苯(4,4’-bis[2-{4-(N,N-diphenylamino)phenyl}vinyl]biphenyl,DPAVBi)混合到ADN中而构成。有机发光器件10B中的电子输送层例如具有5nm以上且300nm以下的厚度,并且由Alq3制成。
图3所示的第二电极16例如具有5nm以上且50nm以下的厚度,并且由诸如铝(Al)、镁(Mg)、钙(Ca)、或钠(Na)等金属元素的单质或者这些金属元素的合金制成。在这些单质及合金中,优选镁和银的合金(MgAg合金)或者铝(Al)和锂(Li)的合金(AlLi合金)。
图3所示的保护膜17防止水分等渗入到有机层15中。保护膜17由具有低渗水性和低吸水性的材料制成,并具有足够厚度。此外,保护膜17对于由发光层15C产生的光具有高透射率,并由例如具有80%以上透射率的材料制成。这种保护膜17例如具有约2μm~3μm的厚度,并由无机非晶绝缘材料制成。具体地,优选非晶硅(a-Si)、非晶碳化硅(a-SiC)、非晶氮化硅(a-Si1-xNx)和无定形碳(a-C)。由于无机非晶绝缘材料不含晶粒且具有低渗水性,因此使用这种材料形成保护膜17是有利的。保护膜17可由诸如ITO等透明导电材料制成。
图3所示的接合层20例如由热固化树脂或者紫外线固化树脂制成。
图3所示的密封基板30被安置在有机发光器件10R、10G和10B的第二电极16侧。密封基板30与接合层20一起密封有机发光器件10R、10G和10B,并且密封基板30由对于在有机发光器件10R、10G和10B中产生的光具有高透射率的诸如透明玻璃等材料制成。在密封基板30中,例如设置有彩色滤光器(图中未示出)。该彩色滤光器把在有机发光器件10R、10G和10B中产生的光引出,并且吸收被有机发光器件10R、10G和10B以及有机发光器件10R、10G和10B之间的布线反射的自然光,从而改善对比度。
供体基板
接着,说明在显示器制造方法中使用的供体基板。
图5图示了供体基板的结构。供体基板40被用在通过转印方法来形成红光发光层15CR、绿光发光层15CG或蓝光发光层15CB的步骤中。在供体基板40中,在基体41上依次层叠有光热转换层42、隔热层43、凸起结构44和防污染层45。
如后面说明的那样,使用基体41来形成转印层,该转印层含有构成红光发光层15CR、绿光发光层15CG或蓝光发光层15CB的发光材料。基体41由具有坚固度并对激光具有高透射率的材料制成,利用该坚固度能够与后面说明的被转印基板进行位置对准。例如,基体41由玻璃或者膜制成。
光热转换层42吸收激光并将激光转换成热,并且该光热转换层42由诸如钼(Mo)、铬(Cr)、钛(Ti)或锡(Sn)等具有高吸收性的金属材料或者含有这些金属材料的合金制成。光热转换层42例如被形成为宽度为100μm的条形形状,并对应于想要形成驱动基板11上的红光发光层15CR、绿光发光层15CG或蓝光发光层15CB的区域(发光区域13A)。
隔热层43抑制从光热转换层42的热扩散,并被形成在光热转换层42和基体41的整个表面上。隔热层43例如具有约300nm的厚度,并由SiO2、SiN、SiON或Al2O3等制成。
凸起结构44以条形形状被形成在隔热层43上的位于各光热转换层42之间的区域中,并且由例如聚酰亚胺或丙烯酸树脂制成。
防污染层45反射照射到转印层的所需范围之外的区域上的激光,由此保护已经形成在被转印基板上的有机层15和像素驱动电路140。优选的是,防污染层45例如在450nm~1500nm的波长区域具有85%以上的反射率。这是因为当防污染层45的反射率低时,存在着防污染层45会吸收光并摄取热的风险。作为用于防污染层45的材料,例如有钼(Mo)、铬(Cr)、钛(Ti)或锡(Sn)等金属或者含有这些金属的合金。
防污染层45包括形成在凸起结构44顶面上的第一部分45A和形成在隔热层43顶面上的第二部分45B。第一部分45A和第二部分45B彼此分开。因此,在供体基板40中,能够以高精度对转印层的所需范围进行转印。
也就是说,通过将防污染层45中的第一部分45A和第二部分45B分开,凸起结构44能作为热扩散防止部件以降低通过防污染层45进行的热扩散。因此,凸起结构44优选具有底部宽度W2小于顶部宽度W1的倒锥形截面。这是由于在沉积防污染层45时,不用光刻步骤也能完全地分开第一部分45A和第二部分45B。此外,在通过喷墨方法来形成转印层的情况下,能够抑制液滴泄漏到凸起结构44的外侧。具体地,凸起结构44的侧面与基体41的平面之间的倾斜角α优选为75度以上且140度以下。
凸起结构44优选具有0.3μm以上且10μm以下的高度。当将光热转换层42与防污染层45的第一部分45A之间的距离设为较长时,降低了通过隔热层43和凸起结构44本身的热扩散。
此外,防污染层45优选具有25nm以上且500nm以下的厚度。当厚度小于25nm时,激光透过防污染层45,并且不能得到足够的效率。当厚度大于500nm时,在沉积防污染层45时,难以完全将第一部分45A和第二部分45B分开。
供体基板40可以按如下方式制造而成。
如图6A所示,通过例如溅射方法在上述材料的基体41上形成上述材料的光热转换层42,并且通过光刻和蚀刻方法将该光热转换层42成形为预定形状。接着,如图6B所示,通过例如化学气相沉积(chemical vapor deposition,CVD)方法形成上述材料的隔热层43。
接着,如图6B所示,在基体41的整个表面上涂敷感光树脂,通过例如光刻方法将该感光树脂成形为预定形状,并且进行烧制。因此,形成了凸起结构44。此时,凸起结构44例如具有3μm的高度和倒锥形的截面。
此后,通过溅射方法,以例如150nm的厚度形成上述材料的防污染层45。这时,防污染层45在凸起结构44的侧面处中断,并被分开成形成于凸起结构44顶面上的第一部分45A和形成于隔热层43顶面上的第二部分45B。因此,诸如光刻等图形化步骤是不必要的。以此方式,形成了图5所示的供体基板40。
显示器制造方法
例如可以按下面说明的方式来制造显示器。
在驱动基板11上形成第一电极13、绝缘层14以及空穴注入层和空穴输送层15AB,从而形成被转印基板11A。
也就是说,准备上述材料的驱动基板11,并在驱动基板11上形成像素驱动电路140。此后,通过在驱动基板11的整个表面上涂敷感光树脂从而形成平坦化绝缘膜(图中未示出)。通过曝光和显影将该平坦化绝缘膜图形化为预定形状,并且形成且烧制驱动晶体管Tr1与第一电极13之间的连接孔(图中未示出)。
接着,通过例如溅射方法形成上述材料的第一电极13,并且通过例如干式蚀刻将第一电极13成形为预定形状。在驱动基板11上的预定位置处,可以形成用于在后面说明的转印步骤中与供体基板进行位置对准的对准标记。
接着,在驱动基板11的整个表面上形成绝缘层14,并且通过例如光刻方法设置与第一电极13中的发光区域13A对应的开口部。
此后,在绝缘层14的上面,在离开第一电极13中的发光区域13A的位置(例如,绝缘层14的格子交叉点)处,设置具有上述高度且由上述材料构成的凸柱14A。
此后,通过例如使用区域掩模进行的蒸镀方法,依次沉积具有上述厚度且由上述材料构成的空穴注入层和空穴输送层15AB。由此,形成了被转印基板11A。
在形成被转印基板11A之后,准备多个上述供体基板40,并且如图7A所示,通过例如真空蒸镀方法在各个供体基板40上形成红色、绿色或蓝色转印层50中的任意一个颜色的转印层。
接着,使用供体基板40通过转印方法形成红光发光层15CR、绿光发光层15CG或蓝光发光层15CB。也就是说,如图7B所示,例如当形成红光发光层15CR时,供体基板40中的转印层50面对着被转印基板11A。此时,由于凸柱14A(参照图4A~图4C)被设置在被转印基板11A的绝缘层14上,因此在供体基板40的凸起结构44与绝缘层14之间形成空间G。因此,如图8所示,凸起结构44和绝缘层14没有相互接触。所以,抑制了由于凸起结构44与绝缘层14之间的接触而在所沉积的有机层15上产生台阶,同时避免了由于发光线等引起的图像质量劣化。
接着,如图7B所示,从供体基板40的背面侧照射激光LB,使转印层50升华或者气化从而将转印层50转印至被转印基板11A上。因此,形成了红光发光层15CR。在此,防污染层45包括形成在凸起结构44顶面上的第一部分45A和形成在隔热层43顶面上的第二部分45B,并且第一部分45A和第二部分45B是彼此分开的。因而,大幅度降低了通过防污染层45的热扩散。因此,减小了转印层50中不需要的范围被转印的风险,并以高精度对所需范围进行转印。
另一方面,如图9A所示,在现有技术的供体基板中,由于在隔热层843的整个表面上连续地形成防污染层845,因而如图9B中箭头A1所示,来自光热转换层842的热量在防污染层845的平面内呈放射状地扩散。因而,用于转印层850的有机材料被熔化并且轮廓发生松弛。因此,不仅转印层850中的所需要的范围852而且不需要的范围(不需要被转印的范围)851都被转印。所以,降低了转印精度并且出现了与紧邻像素的混色,这些会显著降低生产率。在图9A和图9B中,以8作为开头的各个附图标记表示与图5、图7A和图7B中那些元件基本相同的元件。
如图10所示,可以在供体基板40的整个背面侧照射激光LB。在此情况下,在未形成有光热转换层42的区域中,如箭头A4所示激光LB被防污染层45反射,并且转印层50中的不需要的范围51未被转印。另一方面,在形成有光热转换层42的区域中,光热转换层42吸收激光LB,并且只有转印层50中的所需要的范围52被转印给被转印基板11A。
此后,与红光发光层15CR类似地,形成绿光发光层15CG或蓝光发光层15CB。
在形成红光发光层15CR、绿光发光层15CG或蓝光发光层15CB之后,使供体基板40与被转印基板11A分开。在被转印基板11A上,通过例如蒸镀方法形成电子输送层和电子注入层15DE以及第二电极16。以此方式,形成了有机发光器件10R、10G和10B。在清洗并除去转印层50的残余、且通过干式处理或湿式处理来剥离防污染层45之后,可重复使用已经用过的供体基板40。
在形成有机发光器件10R、10G和10B之后,在有机发光器件10R、10G和10B上形成上述材料的保护膜17。作为保护膜17的形成方法,例如优选诸如蒸镀方法或CVD方法等沉积方法,在该沉积方法中沉积粒子的能量小到不会影响基体的程度。优选在形成第二电极16之后连续地形成保护膜17而不使第二电极16暴露在空气中。因此,抑制了有机层15由于受到空气中的水分或氧气的影响而被劣化。此外,为了避免由于有机层15的劣化而引起的辉度降低,优选将保护膜17的沉积温度设成常温,并在为了避免保护膜17的剥落而使该膜的应力为最小值的条件下进行沉积。
此后,在保护膜17上形成接合层20,并且隔着接合层20将保护膜17与设置有彩色滤光器的密封基板30粘合在一起。此时,优选将密封基板30的形成有彩色滤光器的那个面安置在有机发光器件10R、10G和10B侧。因此,完成了图1的显示器。
在以此方式得到的显示器中,通过写晶体管Tr2的栅极电极将扫描信号从扫描线驱动电路130提供给各个像素,并通过写晶体管Tr2把来自信号线驱动电路120的图像信号保持在保持电容Cs中。也就是说,根据在保持电容Cs中保持的信号对驱动晶体管Tr1进行开关控制。因此,驱动电流Id被注入至各个有机发光器件10R、10G和10B中,并且通过空穴和电子的复合而产生发光。该光透过第二电极16、彩色滤光器和密封基板30,然后被引出。
以此方式,在第一实施方式中,防污染层45包括形成在凸起结构44顶面上的第一部分45A和形成在隔热层43顶面上的第二部分45B,并且第一部分45A和第二部分45B是彼此分开的。因此,大幅度降低通过防污染层45的热扩散,并以高精度对转印层50的所需范围进行转印。所以,当使用供体基板40来制造有机发光显示器时,没有使用掩模就能以高精度形成红光发光层15CR、绿光发光层15CG或蓝光发光层15CB。
变形例1
图11图示了本发明变形例1的供体基板40A的结构。在变形例1的供体基板40A中,在被凸起结构44分开的每个区域上,设置有光热转换层42。因此,可以形成对于各个区域而言含有不同颜色发光材料的转印层,从而减少了转印的次数。除了上述说明之外,结构与第一实施方式的结构相同。
除了在被凸起结构44分开的每个区域上设置有光热转换层42之外,可以按照与第一实施方式相同的方式来制造变形例1的供体基板40A。
接着,说明使用变形例1的供体基板40A来制造显示器的方法。
与第一实施方式相类似,在驱动基板11上形成第一电极13、绝缘层14以及空穴注入层和空穴输送层15AB,从而形成被转印基板11A。
接着,如图12所示,通过例如喷墨方法形成对于被凸起结构44分开的每个区域而言含有不同颜色光发光材料的红色转印层50R、绿色转印层50G和蓝色转印层50B。
接着,如图12所示,通过照射激光LB并利用一次转印,在被转印基板11A上形成全部的红光发光层15CR、绿光发光层15CG和蓝光发光层15CB。因此,提高了发光材料的使用效率,并降低了操作成本。此外,减少了转印的次数,并且降低了制造器件的成本还提高了生产能力。
如图13所示,可以将激光LB照射至供体基板40A的整个背面。
在形成红光发光层15CR、绿光发光层15CG和蓝光发光层15CB之后,将供体基板40A与被转印基板11A分开。与第一实施方式相类似,通过例如蒸镀方法在被转印基板11A上形成电子输送层和电子注入层15DE以及第二电极16。以此方式,形成了有机发光器件10R、10G和10B。
与第一实施方式相类似,在形成有机发光器件10R、10G和10B之后,在有机发光器件10R、10G和10B上形成上述材料的保护膜17。此后,在保护膜17上形成接合层20,并且隔着接合层20将形成有彩色滤光器的密封基板30与保护膜17粘合在一起。因此,完成了图1所示的显示器。
第二实施方式
图14图示了本发明第二实施方式的供体基板40B的结构。除了在基体41与光热转换层42之间设置有热干涉层46之外,供体基板40B具有与第一实施方式中供体基板40的结构相同的结构。因此,相同的附图标记用于表示基本相同的元件,并省略了说明。
按照与第一实施方式相同的方式制造基体41、光热转换层42、隔热层43、凸起结构44和防污染层45。
隔热层46提高了光热转换层42中对激光LB的吸收率。隔热层46例如具有15nm以上且80nm以下的厚度,并由a-Si制成。与被转印基板11A上的要形成红光发光层15CR、绿光发光层15CG和蓝光发光层15CB的区域(发光区域13A)相对应,布置光热转换层42和热干涉层46。
当制造供体基板40B时,在基体41上连续地形成具有上述厚度并由上述材料制成的热干涉层46和光热转换层42,然后将热干涉层46和光热转换层42成形为所需形状,除了这些之外,可以按照与第一实施方式相同的方式来制造供体基板40B。
与第一实施方式相类似,该供体基板40B可以用于显示器的制造方法中。此时,由于供体基板40B在基体41与光热转换层42之间设置有热干涉层46,因此在如图7B所示的转印步骤中提高了光热转换层42中对激光LB的吸收并抑制了损失。此外,可以使用低能量的激光LB。
以此方式,在第二实施方式中,由于在基体41与光热转换层42之间设置有热干涉层46,因此提高了光热转换层42中对激光LB的吸收并抑制了损失,并且可使用低能量的激光LB。
第三实施方式
图15图示了本发明第三实施方式的供体基板40C的结构。供体基板40C具有层叠结构,该层叠结构中的热干涉层46包括折射系数彼此不同的两个以上的层,并且供体基板40C没有设置凸起结构44,除了这些之外,供体基板40C具有与第一实施方式和第二实施方式的结构相同的结构。因此,相同的附图标记用于表示基本相同的元件。
按照与第一实施方式和第二实施方式相同的方式来制造基体41、光热转换层42和隔热层43。
如上所述,热干涉层46包括两个以上的彼此具有不同折射系数的层。具体地,热干涉层46例如包括从基体41侧依次布置的如下各层:厚度为50nm以上且200nm以下并由SiO2、SiN、SiON或Al2O3制成的第一干涉层46A;以及厚度为15nm以上且80nm以下并由a-Si制成的第二干涉层46B。因此,在供体基板40C中,有效地吸收了具有宽波长的诸如氙或氪闪光灯、柱状卤素灯(beam halogen lamp)等的辐射线。
对热干涉层46的两个以上层(例如,第一干涉层46A和第二干涉层46B)的折射系数和厚度进行调整,使得在辐射线的发光带的100nm以上连续波长区域内的反射率为0.1以下。图16图示了两种情况下的吸收光谱之间的比较,在第一种情况下,热干涉层46包括厚度为100nm且由SiO2制成的第一干涉层46A和厚度为15nm且由a-Si制成的第二干涉层46B;在第二种情况下,热干涉层46不包括第一干涉层46A(具有第二干涉层46B单层结构的情况)。在典型的光学多层薄膜中通过反射率计算方法来计算反射率(例如,参考“Principles of Optics,Max Born and Emil Wolf,1974(Pergamon press)”等)。从图16中可理解到,与热干涉层46中未设有第一干涉层46A的情况相比,在热干涉层46中具有第一干涉层46A和第二干涉层46B层叠结构的情况下在较宽范围波长区域内有高的吸收率。
图17图示了在第二干涉层46B的厚度为15nm或者35nm情况下的吸收光谱。图18图示了在第一干涉层46A的厚度为200nm或者100nm情况下的吸收光谱。从图16~图18中可理解到,当使第一干涉层46A或者第二干涉层46B的厚度变化时,吸收光谱就发生变化。
以此方式,根据要使用的辐射线的发光光谱,可以优化热干涉层46的结构从而得到最大吸收率。例如,氙灯或氙闪光灯等的辐射线主要包括从约400nm到1000nm的发光带。因此,从图17中可理解到,当热干涉层46具有厚度为100nm且由SiO2制成的第一干涉层46A和厚度为15nm且由a-Si制成的第二干涉层46B的层叠结构时,在上述发光带的100nm以上连续波长区域中的透射率为0.1以下。在此情况下,当第一干涉层46A具有50nm以上且100nm以下的厚度以及第二干涉层46B具有15nm以上且22nm以下的厚度时,得到了与图17的效果相似的效果。
例如,卤素灯等的红外辐射热根据色温主要具有从约900nm到1600nm的发光峰。因此,从图18中可理解到,当热干涉层46包括厚度为200nm且由SiO2制成的第一干涉层46A和厚度为35nm且由a-Si制成的第二干涉层46B的层叠结构时,在上述发光带的100nm以上连续波长区域中的透射率为0.1以下。在此情况下,当第一干涉层46A具有150nm以上且250nm以下的厚度以及第二干涉层46B具有35nm以上且80nm以下的厚度时,得到了与图18的效果相似的效果。
利用热干涉层46的层叠结构,没有必要在供体基板40C中设置凸起结构44,并且防污染层45在隔热层43的表面上连续地形成。因此,简化了供体基板40C的结构和制造方法。
当制造供体基板40C时,在基体41上连续地形成具有上述厚度且由上述材料制成的第一干涉层46A、第二干涉层46B和光热转换层42之后,将第一干涉层46A、第二干涉层46B和光热转换层42成形为预定形状,除了这些之外,按照与第一实施方式相同的方式来制造供体基板40C。
供体基板40C例如可被用在下面说明的显示器制造方法中。
与第一实施方式相类似,在驱动基板11上形成第一电极13、绝缘层14以及空穴注入层和空穴输送层15AB,从而形成被转印基板11A。
接着,准备多个供体基板40C,并且通过例如真空蒸镀方法在各个供体基板40C上形成红色、绿色或蓝色转印层50中的任意一个颜色的转印层。
接着,使用供体基板40C通过转印方法形成红光发光层15CR、绿光发光层15CG或蓝光发光层15CB。也就是说,如图19所示,例如当形成红光发光层15CR时,在供体基板40C上的转印层50面对着被转印基板11A。此时,与第一实施方式相类似,由于在被转印基板11A的绝缘层14上设置有凸柱14A(参照图4A~图4C),因此在供体基板40C与绝缘层14之间形成了空间G。如图8所示,供体基板40C与绝缘层14没有相互接触。因此,抑制了由于供体基板40C与绝缘层14之间的接触而在所沉积的有机层15中产生台阶,同时避免了由于发光线等引起的图像质量劣化。
接着,如图19所示,从供体基板40C的背面侧照射辐射线R,使转印层50升华或者气化从而将转印层50转印至被转印基板11A上。因此,形成了红光发光层15CR。此时,如图20所示,可以使用氙闪光灯作为辐射线R来实施平面图。可选择地,如图21所示,可以使用线束RB并在箭头A5的方向上移动该线束RB来实施线性图,在该线束RB中,由光学系统会聚作为辐射线R的卤素灯。
这里,热干涉层46包括彼此具有不同折射系数的第一干涉层46A和第二干涉层46B。因此,当依据辐射线R的发光带对热干涉层46的反射率进行调整时,改善了照射至供体基板40C上的辐射线R被光热转换层42吸收并转换成热量时的吸收率。因此,有效地吸收了具有宽波长的辐射线R,并抑制了损失。此外,大幅度降低了用于转印的能量。
此时,由于在热干涉层46中有效地吸收辐射线R,因此减少了防污染层45内的热扩散,并且尽管防污染层45不与凸起结构44分开也可以以高精度进行转印。
以此方式,在第三实施方式中,由于热干涉层46具有折射系数彼此不同的第一干涉层46A和第二干涉层46B的层叠结构,因此改善了宽波长的辐射线R的吸收率并抑制了损失,并且大幅度降低了用于转印的能量。
在第三实施方式中,说明了在未设置凸起结构44的隔热层43表面上连续地形成有防污染层45的情况。然而,如图22所示,还可以在隔热层43上形成有凸起结构44,并且防污染层45的第一部分45A和第二部分45B被凸起结构44分开。
实施例
下面说明本发明的具体实施例。
实施例1
按照与第一实施方式相同的方式来制造显示器。首先,在玻璃驱动基板11上形成ITO第一电极13、1μm厚的聚酰亚胺绝缘层14、5μm高的聚酰亚胺凸柱14A以及空穴注入层和空穴输送层15AB,从而形成被转印基板11A。通过蒸镀方法形成该空穴注入层和空穴输送层15AB。m-MTDATA空穴注入层具有25nm的厚度,并且α-NPD空穴输送层具有30nm的厚度。
接着,制造供体基板40(参照图5)。通过溅射方法在玻璃基体41上形成200nm厚的铬(Cr)光热转换层42。例如通过光刻方法将该光热转换层42成形为100μm宽且具有条形形状。接着,通过CVD方法形成300μm厚的SiO2隔热层43。形成3μm厚的由上述材料构成的凸起结构44。该凸起结构44被成形为条形形状,并具有倒锥形截面。
此后,形成150nm厚的钼(Mo)防污染层45。
通过蒸镀方法在供体基板40上形成25nm厚的转印层50(参照图7A)。
接着,在被转印基板11A上安置供体基板40(参照图7B)。在供体基板40与被转印基板11A之间,维持约2μm高度的空间G。这个2μm高度对应5μm高的凸柱14A与3μm高的凸起结构44之间的高度差。此时,从供体基板40的背面侧照射波长为800nm的激光LB,并将转印层50转印至被转印基板11A上(参照图7B)。激光LB的束斑尺寸被固定为100μm×20μm。激光LB在与束斑尺寸的长边方向(幅宽100μm)正交的方向上扫描。
通过重复上述步骤,形成红光发光层15C、绿光发光层15G和蓝光发光层15B,然后通过蒸镀方法形成电子输送层和电子注入层15DE以及第二电极16。电子输送层由Alq3制成并具有20nm的厚度。电子注入层由LiF(蒸镀速度为0.01nm/sec)制成并具有0.3nm的厚度。第二电极16由MgAg制成并具有10nm的厚度。此后,形成保护膜17和接合层20,并且粘附密封基板30。因此,完成了显示器。
作为比较例1,如图23A所示,形成了供体基板840,在该供体基板840中,在光热转换层842与隔热层843之间全面设置有铝(Al)反射层846。通过使用供体基板840,按照与实施例1相同的方式制造显示器。此时,反射层846由铝(Al)制成并具有100nm的厚度。
通过目视观察来确认实施例1和比较例1中显示器的发光状态。在实施例1中没有确认出与紧邻像素的混色。然而,在比较例1中确认了与紧邻像素的混色。在实施例1和比较例1中,研究了所转印的发光层的宽度。其结果在表1中示出。
表1
从表1可理解到,当通过将束斑尺寸的长边(幅宽)设为100μm来照射激光时,实施例1中的所转印发光层的宽度为105μm,并且比较例1中的所转印发光层的宽度为122μm。与比较例1相比,实施例1的转印精度大幅度提高。
其理由可作如下考虑。在图23A所示比较例1的供体基板840中,当用激光LB照射整个表面时,如图23B的箭头A2所示,在未形成有光热转换层842的区域中激光LB被反射层846反射。另一方面,在形成有光热转换层842的区域中,激光LB被光热转换层842吸收,并且只将转印层850中的所需要的范围850B转印至被转印基板上。然而,在比较例1的供体基板840中,如箭头A3所示在反射层846中产生了热传导。因此,用于转印层850的有机材料被熔化并且轮廓发生松弛。于是,不仅转印层850中的所需要的范围850B,而且不需要的范围(不需要被转印的区域)850A也被转印。因此,降低了转印精度并且出现了与紧邻像素的混色。
也就是说,当防污染层45包括形成在凸起结构44顶面上的第一部分45A和形成在隔热层43顶面上的第二部分45B,并且第一部分45A与第二部分45B彼此分开时,大幅度降低了通过防污染层45的热扩散,并且以高精度对转印层50中的所需范围进行转印。
实施例2和实施例3
按照与第三实施方式相同的方式来制造显示器。此时,在实施例2中,使用氙闪光灯作为辐射线R,并通过图20所示的面描写来实施转印步骤。供体基板40C的结构如下。
基体41:玻璃
热干涉层46:由厚度为100nm的SiO2第一干涉层46A和厚度
为15nm的a-Si第二干涉层46B层叠起来的层叠结构
光热转换层42:厚度为200nm的钛(Ti)
隔热层43:厚度为300nm的SiO2
防污染层45:厚度为50nm的铝(Al)
在实施例3中,利用光学系统对卤素灯进行会聚的线束RB被用作辐射线R,并通过图21所示的线描写来实施转印步骤。供体基板40C的结构如下。
基体41:玻璃
热干涉层46:由厚度为200nm的SiO2第一干涉层46A和厚度
为35nm的a-Si第二干涉层46B层叠起来的层叠结构
光热转换层42:厚度为200nm的钛(Ti)
隔热层43:厚度为300nm的SiO2
防污染层45:厚度为50nm的铝(Al)
作为比较例2和比较例3,除了在供体基板中未设置第一干涉层(仅有第二干涉层的单层结构)之外,按照与实施例2和实施例3相同的方式来制造显示器。
研究了在实施例2和实施例3以及比较例2和比较例3中使用的辐射线R的照射能量。其结果在表2和表3中示出。
表2使用闪光灯的情况
存在或者不存在第一干涉层 | 必需的能量密度(J/cm2) | |
实施例2 | 存在 | 40 |
比较例2 | 不存在 | 320 |
表3使用卤素灯的情况(2800K)
存在或者不存在第一干涉层 | 必需的能量密度(w/cm2) | |
实施例3 | 存在 | 400 |
比较例3 | 不存在 | 70 |
从表2和表3可理解到,在热干涉层46具有由折射系数彼此不同的第一干涉层46A和第二干涉层46B层叠起来的层叠结构的实施例2和实施例3中,与未设置第一干涉层的比较例2和比较例3相比大幅度降低了照射能量。也就是说,当热干涉层46具有由折射系数彼此不同的第一干涉层46A和第二干涉层46B层叠起来的层叠结构时,大幅度降低了用于转印的必要能量。
模块和应用例
下面,说明在第一~第三实施方式中说明的显示器的应用例。各实施方式的显示器适用于诸如电视机、数码照相机、笔记本电脑、手机等便携式终端或者摄像机等各个领域的电子装置中的显示器,这些显示器把从装置外部输入的图像信号或者在装置内部产生的图像信号作为图片或图像进行显示。
模块
例如,如图24所示的模块,各实施方式的显示器被安装在稍后说明的应用例1~应用例5的各种电子装置等中。该模块例如设置有区域210,该区域210从密封基板30和接合层20露出来直至驱动基板11的一侧。在露出来的区域210中,将信号线驱动电路120的布线和扫描线驱动电路130的布线延长从而形成外部连接端子(图中未示出)。在该外部连接端子中,可以设置有用于输入/输出信号的柔性印刷电路(flexible printed circuit,FPC)220。
应用例1
图25图示了应用了各实施方式显示器的电视机的外观。该电视机装置例如包括含有前面板310和滤光玻璃320的图像显示屏300。图像显示屏300由各实施方式的显示器构造而成。
应用例2
图26A和图26B图示了应用了各实施方式显示器的数码照相机的外观。该数码照相机例如包括闪光用发光部件410、显示器420、菜单开关430和快门按钮440。显示器420由各实施方式的显示器构造而成。
应用例3
图27图示了应用了各实施方式显示器的笔记本电脑的外观。该笔记本电脑例如包括主体510、用于文字等的输入操作的键盘520和用于显示图像的显示器530。显示器530由各实施方式的显示器构造而成。
应用例4
图28图示了应用了各实施方式显示器的摄像机的外观。该摄像机例如包括主体610、用于拍摄物体的透镜620、用于拍摄的开始/停止开关630和显示器640。显示器640由各实施方式的显示器构造而成。
应用例5
图29A~图29G图示了应用了各实施方式显示器的手机的外观。在该手机中,例如上部壳体710通过连接部件(铰链)730与下部壳体720连接。该手机包括显示器740、副显示器750、图片灯760和照相机770。显示器740和副显示器750由各实施方式的显示器构造而成。
以上,通过实施方式和实施例说明了本发明。然而,本发明不限于上述实施方式和实施例,并可做出各种变形。例如,在实施方式和实施例中,说明了在转印步骤中照射诸如激光或闪光灯等辐射线的情况。然而,也可使用诸如热棒和热头(thermal head)等其它光源的辐射线进行照射。
在上述各实施方式中,说明了通过转印方法形成全部的R、G和B发光层15C的情况。然而,如图30所示,在通过转印方法仅形成红光发光层15CR和绿光发光层15CG之后,可通过蒸镀方法在整个表面上沉积蓝光发光层15CB。此时,在有机发光器件10R中,尽管形成有红光发光层15CR和蓝光发光层15CB,但能量转移发生在具有最低能级的红光处,且红光发光占支配地位。在有机发光器件10G中,尽管形成有绿光发光层15CG和蓝光发光层15CB,但能量转移发生在具有最低能级的绿光处,且绿光发光占支配地位。在有机发光器件10B中,由于仅形成有蓝光发光层15CB,因此产生蓝光发光。
例如,各层的材料和厚度、沉积方法、沉积条件和激光的照射条件不限于上述实施方式和实施例中说明的那些。其它材料和厚度也是可以的。其它沉积方法、沉积条件和照射条件也是可以的。例如,第一电极13可包括电介质多层膜。
例如,尽管在各实施方式中说明了在驱动基板11上从驱动基板11侧依次层叠第一电极13、有机层15和第二电极16并从密封基板30侧引出光的情况,但层叠顺序也可以是相反顺序。在此情况下,可以是在驱动基板11上从驱动基板11侧依次层叠第二电极16、有机层15和第一电极13,并从该驱动基板11侧引出光。
例如,尽管在各实施方式中说明了将第一电极13作为阳极并将第二电极16作为阴极的情况,但也可将阳极和阴极互换。在此情况下,可将第一电极13作为阴极并将第二电极16作为阳极。此外,可将第一电极13作为阴极并将第二电极16作为阳极,并且在驱动基板11上从驱动基板11侧依次层叠第二电极16、有机层15和第一电极13。于是,从该驱动基板11侧引出光。
在各实施方式中,尽管如上所述具体说明了有机发光器件10R、10G和10B的层结构,但并非总是必须包括全部层,并且可进一步包括其它层。例如,在第一电极层13与有机层15之间,可设置由铬氧化物(III)(Cr2O3)、ITO(铟锡氧化物:铟(In)和锡(Sn)的氧化物混合膜)或其他类似材料构成的空穴注入薄膜层。
尽管在各实施方式中说明了将第二电极16构造成半透射电极且将发光层15C所产生的光从第二电极16侧引出的情况,但也可将所产生的光从第一电极13侧引出。在此情况下,第二电极16优选具有足够高的反射率以提高发光效率。
此外,尽管在各实施方式中说明了有源矩阵显示器的情况,但本发明也适用于无源矩阵显示器。用于驱动有源矩阵的像素驱动电路的结构不限于上述各实施方式说明的那些方面,如果必要可以添加电容或晶体管。在这种情况下,除了具有上述说明的信号线驱动电路120和扫描线驱动电路130之外,还可根据像素驱动电路中的变化来添加必要的驱动电路。
尽管参照实施方式和变形例已经对本发明进行了说明,但本发明不限于那些,并可做出各种修改。
本领域技术人员应当理解,依据设计要求和其它因素,可以在本发明所附的权利要求或其等同物的范围内进行各种修改、组合、次组合及改变。
Claims (11)
1.一种在形成发光层时使用的供体基板,所述发光层是通过如下步骤形成的:形成含有发光材料的转印层,使所述转印层和被转印基板相互面对且照射辐射线,并且使所述转印层升华或气化从而将所述转印层转印至所述被转印基板上,
所述供体基板包括:
基体;
布置在所述基体上的光热转换层,所述光热转换层与所述被转印基板上要形成所述发光层的区域相对应;
形成在所述光热转换层和所述基体上的隔热层;
凸起结构,所述凸起结构被布置在所述隔热层上且位于各个所述光热转换层之间的区域中;以及
防污染层,所述防污染层包括形成在所述凸起结构的顶面上的第一部分和形成在所述隔热层的顶面上的第二部分,并且所述第一部分和所述第二部分彼此分开。
2.如权利要求1所述的供体基板,其中,所述凸起结构具有底部宽度小于顶部宽度的倒锥形截面。
3.如权利要求1所述的供体基板,其中,所述凸起结构的高度为0.3μm以上且10μm以下。
4.如权利要求1所述的供体基板,其中,所述防污染层的厚度为25nm以上且500nm以下。
5.如权利要求1所述的供体基板,其中,在所述基体与所述光热转换层之间设置有热干涉层。
6.一种显示器制造方法,在所述显示器中,在驱动基板上形成有有机发光器件,所述有机发光器件包括依次布置的第一电极、具有与所述第一电极的发光区域相对应的开口部的绝缘层、包含发光层的多层有机层以及第二电极,
所述显示器制造方法包括如下步骤:
在所述驱动基板上形成所述第一电极、所述绝缘层和所述多层有机层的一部分有机层,由此形成被转印基板;
在供体基板中形成含有发光材料的转印层,使所述转印层和所述被转印基板相互面对且照射辐射线,并且使所述转印层升华或气化从而将所述转印层转印至所述被转印基板上,由此形成发光层;以及
形成所述多层有机层的剩余部分和所述第二电极,
其中所述供体基板包括:基体;布置在所述基体上的光热转换层,所述光热转换层与所述被转印基板上要形成所述发光层的区域相对应;形成在所述光热转换层和所述基体上的隔热层;布置在所述隔热层上且位于各个所述光热转换层之间的区域中的凸起结构;以及防污染层,所述防污染层包括形成在所述凸起结构的顶面上的第一部分和形成在所述隔热层的顶面上的第二部分,并且所述第一部分和所述第二部分彼此分开。
7.如权利要求6所述的显示器制造方法,其中,所述凸起结构具有底部宽度小于顶部宽度的倒锥形截面。
8.如权利要求6所述的显示器制造方法,其中,所述凸起结构的高度为0.3μm以上且10μm以下。
9.如权利要求6所述的显示器制造方法,其中,所述防污染层的厚度为25nm以上且500nm以下。
10.如权利要求6所述的显示器制造方法,其中,在所述基体与所述光热转换层之间设置热干涉层。
11.如权利要求6所述的显示器制造方法,其中,在被各个所述凸起结构分开的各个区域中形成含有不同颜色发光材料的转印层,并且通过一次转印在所述被转印基板上形成二种以上颜色的发光层。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104078620A (zh) * | 2013-03-29 | 2014-10-01 | 三星显示有限公司 | 供体基底 |
CN104752632A (zh) * | 2013-12-31 | 2015-07-01 | 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 | 一种有机发光显示器的像素的制造方法 |
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Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8574709B2 (en) * | 2008-07-21 | 2013-11-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Deposition donor substrate and method for manufacturing light-emitting device |
JP5258666B2 (ja) | 2009-04-22 | 2013-08-07 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置の作製方法および成膜用基板 |
JP5137917B2 (ja) * | 2009-08-07 | 2013-02-06 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 成膜用基板、成膜方法及び発光素子の作製方法 |
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KR101732523B1 (ko) * | 2010-10-22 | 2017-05-08 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 소자 제조 방법 및 유기 발광 표시 장치 제조 방법 |
KR20130010628A (ko) * | 2011-07-19 | 2013-01-29 | 삼성디스플레이 주식회사 | 도너 기판, 도너 기판의 제조 방법 및 도너 기판을 이용한 유기 발광 표시 장치의 제조 방법 |
CN102662549B (zh) * | 2012-04-13 | 2016-03-23 | 广东欧珀移动通信有限公司 | 盖板玻璃及盖板玻璃表面转印方法 |
US20150214509A1 (en) * | 2012-09-25 | 2015-07-30 | Joled Inc. | Method for producing el display device and transfer substrate used in producing el display device |
JPWO2014049902A1 (ja) * | 2012-09-25 | 2016-08-22 | 株式会社Joled | El表示装置の製造方法、el表示装置の製造に用いられる転写基板、el表示装置の製造に用いられる転写基板の製造方法 |
JP2014110143A (ja) * | 2012-11-30 | 2014-06-12 | Samsung Display Co Ltd | 有機el素子 |
KR102129266B1 (ko) * | 2014-04-30 | 2020-07-03 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 |
KR102191997B1 (ko) * | 2014-06-19 | 2020-12-17 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치의 열처리 장치 및 이를 이용한 열처리 방법 |
KR102162798B1 (ko) * | 2014-08-12 | 2020-10-08 | 삼성디스플레이 주식회사 | 증착장치 및 이를 이용한 유기발광 디스플레이 장치 제조방법 |
KR20160034529A (ko) | 2014-09-19 | 2016-03-30 | 삼성디스플레이 주식회사 | 광학적 패턴 전사 마스크 및 그의 제조 방법 |
US10777103B2 (en) * | 2016-09-28 | 2020-09-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display apparatus and method for manufacturing same |
KR102180071B1 (ko) * | 2017-10-31 | 2020-11-17 | 엘지디스플레이 주식회사 | 초미세 패턴 증착장치, 이를 이용한 초미세 패턴 증착방법 그리고 초미세 패턴 증착방법에 의해 제작된 전계발광표시장치 |
KR102180070B1 (ko) * | 2017-10-31 | 2020-11-17 | 엘지디스플레이 주식회사 | 초미세 패턴 증착장치, 이를 이용한 초미세 패턴 증착방법 그리고 초미세 패턴 증착방법에 의해 제작된 전계발광표시장치 |
KR102212422B1 (ko) * | 2019-03-11 | 2021-02-04 | 한국기계연구원 | 희생층을 이용한 광 유도 전사 방법 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5688551A (en) | 1995-11-13 | 1997-11-18 | Eastman Kodak Company | Method of forming an organic electroluminescent display panel |
JP3670193B2 (ja) * | 1999-12-21 | 2005-07-13 | スタンレー電気株式会社 | 多層膜フィルタ及び多層膜フィルタ付ハロゲンランプ |
JP4614712B2 (ja) * | 2003-08-27 | 2011-01-19 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
US20050123850A1 (en) | 2003-12-09 | 2005-06-09 | 3M Innovative Properties Company | Thermal transfer of light-emitting dendrimers |
JP4449890B2 (ja) * | 2005-11-21 | 2010-04-14 | ソニー株式会社 | 転写用基板および転写方法ならびに表示装置の製造方法 |
JP2007173145A (ja) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Sony Corp | 転写用基板、転写方法、および有機電界発光素子の製造方法 |
JP2008066147A (ja) * | 2006-09-07 | 2008-03-21 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | 蒸着によるパターン形成方法、該方法を含む色変換フィルタ基板およびカラー有機el素子の製造方法 |
-
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2009
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-
2013
- 2013-02-04 US US13/758,759 patent/US20130202812A1/en not_active Abandoned
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104078620A (zh) * | 2013-03-29 | 2014-10-01 | 三星显示有限公司 | 供体基底 |
CN104752632A (zh) * | 2013-12-31 | 2015-07-01 | 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 | 一种有机发光显示器的像素的制造方法 |
CN104752632B (zh) * | 2013-12-31 | 2017-03-08 | 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 | 一种有机发光显示器的像素的制造方法 |
CN106926559A (zh) * | 2017-03-24 | 2017-07-07 | 京东方科技集团股份有限公司 | 转印基板及其制作方法、oled器件制作方法 |
CN110703464A (zh) * | 2019-10-30 | 2020-01-17 | 张富山 | 彩色局部擦黑板 |
Also Published As
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