CN101826362A - 光信息记录再现装置、光信息再现装置和光信息记录介质 - Google Patents

光信息记录再现装置、光信息再现装置和光信息记录介质 Download PDF

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Abstract

本发明的目的是提供即使在具有多个层的光信息记录介质中存在偏心的情况下，也能够抑制记录速度的降低的光信息记录再现装置等。光信息记录再现装置，将与第一层的检测出缺陷的位置相对应的第二层中的规定区域作为缺陷区域而记录信息。光信息记录再现将与第一层的登记有缺陷的位置相对应的第二层中的规定区域作为缺陷区域而再现信息，优选缺陷区域的半径方向的距离比层间的接合误差大。此外，光信息记录介质将与第一层的缺陷位置相对应的第二层中的规定区域登记为缺陷区域。而且，缺陷区域的半径方向的距离比层间的接合误差大。

Description

光信息记录再现装置、光信息再现装置和光信息记录介质
技术领域
本发明涉及光信息记录再现装置、光信息再现装置和光信息记录介质。
背景技术
在专利文献1中记载有：“在单面两层介质那样的具有多个记录层的光盘中，在至少一个记录层中记录具有与介质缺陷相关的信息的缺陷列表，在该缺陷列表中，与记录缺陷列表的记录层的数量和位置无关地，具有与所有记录层的介质缺陷相关的信息，从而能够实现缺陷管理的可靠性的提高、高速访问。”
此外，在专利文献2中，在课题栏目中记载有：“如果在从多层光盘的各记录层的盘表面观察时物理上相同的位置存在缺陷，或者在盘表面存在伤痕、污物等的缺陷，则某层中的写入由于缺陷的影响而失败，尽管将此时的地址登记到缺陷列表中，但是在其它的机会下，在向其它层的从盘表面观察时物理上相同的位置进行写入时，由于与以前检测出的相同的缺陷，在写入中发生失败，存在再次向缺陷列表进行登记的二次登记的可能性，因此产生写入时的向缺陷列表的登记处理的浪费”，此外，在效果栏目中记载有：“假设在从各记录层的盘表面观看时物理上相同的位置存在缺陷、或者在盘表面存在伤痕、污物等缺陷，由于将访问中的记录层的缺陷区域的地址、和其它记录层的从盘表面观察时物理上相同位置的地址登记到缺陷列表中，因此能够提高向缺陷列表进行登记的效率，提高写入时的处理速度”。
【专利文献1】日本特开2001-14808号公报([发明效果])
【专利文献2】日本特开2007-334940号公报([权利要求范围]、
[发明效果])
发明内容
然而，为了实现在专利文献2中记载的技术，需要在角度方向、半径方向均高精度地对各记录层的粘接进行控制，从而制作光信息记录介质。
例如，在Blu-Ray(蓝光)规格的盘的情况下，粘接位置仅偏移0.23μm，应该进行缺陷登记的地址就会发生变化。
然而，一般在具有多个层的光信息记录介质中，各层的偏心最大会是约50μm。此外，在使某个层与其它层接合的情况下，各层的角相位一般并不一致。从而，在接合某个层与其它层时，存在各层的偏心的方向正相反的情况。即，在一般的光信息记录介质中，在进行粘接时，层与层的相对偏心的差(以下，称为接合误差)最大为约100μm左右。
从而，使表示相同物理位置的各层的地址相对应是困难的。于是，即使取得在某个层的记录再现中检测出缺陷的位置的地址，并取得与该地址相对应的其它层的地址，但在与由该其它层的地址表示的位置不同的位置检测出缺陷的可能性也很高。而且，在该不同的位置，尽管再次检测出缺陷，但是仍然与没有缺陷的位置同样地进行信息的记录或者再现。例如，尽管存在缺陷，但是仍然进行与以往相同次数的重试，导致处理时间的增加。因此，例如难以提高记录速度。
然而，在专利文献2中，没有记载这样的问题。
本发明的目的是提供即使在具有多个层的光信息记录介质中存在偏心的情况下，也能够抑制记录速度的降低的光信息记录再现装置。
此外，本发明的目的是提供即使在具有多个层的光信息记录介质中存在偏心的情况下，也能够抑制再现速度的降低的光信息记录再现装置。
此外，本发明的目的是提供即使在存在偏心的情况下，也能够抑制装置的记录速度或者再现速度的降低的光信息记录介质。
上述课题例如通过权利要求范围中记载的发明能够解决。此外，如下简单地说明要点。
光信息记录再现装置，将与第一层的检测出缺陷的位置相对应的第二层中的规定区域作为缺陷区域，而进行信息的记录。光信息记录再现，将与第一层的登记有缺陷的位置相对应的第二层中的规定区域作为缺陷区域，而进行信息的再现。优选的是，缺陷区域的半径方向的距离比层间的接合误差大。
此外，光信息记录介质，将与第一层的缺陷位置相对应的第二层中的规定区域登记为缺陷区域。而且，缺陷区域的半径方向的距离比层间的接合误差大。
根据本发明，能够提供即使在具有多个层的光信息记录介质中存在偏心的情况下，也能够抑制记录速度的降低的光信息记录再现装置。
此外，根据本发明，能够提供即使在具有多个层的光信息记录介质中存在偏心的情况下，也能够抑制再现速度的降低的光信息记录再现装置。
此外，根据本发明，能够提供即使在存在偏心的情况下，也能够抑制装置的记录速度或者再现速度的降低的光信息记录介质。
附图说明
图1是具有两层记录层的光信息记录介质的说明图(实施例1)
图2是说明记录层的构造的图。(实施例1)
图3是表示在记录层进行记录的数据区域的图(实施例1)
图4是表示缺陷检测区域的图。(实施例1)
图5是光信息记录再现装置的结构图。
图6是记录时的缺陷检测处理的流程图的例子。(实施例2)
图7是在记录时的缺陷检测中，利用缺陷检测区域301的处理的流程图的例子。(实施例2)
图8是利用缺陷检测区域的记录的流程图的例子。(实施例3)
图9是再现时利用缺陷检测的重试的流程图的例子。(实施例4)
图10是表示在没有记录缺陷检测区域的缺陷信息的情况下的缺陷推定的方法的例子。(实施例5)
图11是表示在表面存在伤痕的情况下的各记录层的再现信号电平的图。
图12是表示区域定义信息的图。
图13是表示缺陷管理信息的例子的图。
符号说明
100：光信息记录介质
101：基盘层
102：第一记录层
103：第一中间层
104：第二记录层
105：覆盖层
201：记录轨道
301：缺陷检测区域
400：光信息记录再现装置
401：电机
402：拾取器
403：信号处理装置
404：主装置
501：记录处理
502：记录错误
503：确认记录是否结束
504：是否重试了规定次数的判定处理
505：缺陷检测
506：是否检测出缺陷的判定处理
507：缺陷登记
508：重试前处理
601：在邻接的缺陷检测区域中是否存在缺陷的信息登记的检测处理
602：重试规定次数变更处理
701：记录处理
702：记录错误
703：错误处理
704：继续记录
705：下一个记录区域或者邻接区域完成缺陷检测
706：记录方式变更
801：再现处理
802：伺服偏离
803：再现结束
804：伺服偏离区域完成缺陷检测
805：重试处理
806：重试定位变更
901：伤痕
902：记录层的缺陷
具体实施方式
以下，说明本发明的实施例。另外，所谓的光信息记录介质100，例如是BD等光盘，但并不限定于此，能够适用各种介质。优选光信息记录介质100是2层以上的多层构造的记录介质，是接合某层与其它层时产生的误差为一个层内的轨道(track)、坑(pit)间的距离以上的介质。此外，作为光信息记录再现装置400的例子，表示的是光盘驱动装置的情况，但是只要能够对光信息记录介质100进行信息的记录或再现即可。此外，光信息记录再现装置400也可以是内置光盘驱动装置的装置，例如PC、存储器装置。
[实施例1]
在实施例1中，说明光信息记录介质100。本实施例的光信息记录介质100采用大致遵从Blu-Ray Disc Recordable(蓝光刻录盘)规格的结构，但如后所述，包括缺陷管理区域301等的与标准不同的结构。
图1说明光信息记录介质100的层构造。
如图所示，光信息记录介质100具有第一记录层102、第二记录层104这2个记录层。
具体的讲，如图1所示，光信息记录介质100为基盘层101、第一记录层102、第一中间层103、第二记录层104、覆盖层105这样的叠层构造。
另外，图1中说明的光信息记录介质100具有2层的记录层，但在具有更多的记录层的光信息记录介质100中，通过分别增加中间层和记录层，能够增加记录层数。
接着，使用图2说明第二记录层104的构造的例子。
图2中，第二记录层104具有螺旋状的记录轨道201，为光信息沿着该记录轨道201记录信号的构造。此时螺旋状的记录轨道201的旋转为右旋，但轨道201可以是左旋、右旋中的任一种，第一记录层102与第二记录层104的轨道201即使成为反方向的螺旋也没有问题。此外，记录轨道201也可以不是螺旋状的构造，而是同心圆状的构造。
接着，使用图3说明记录在记录层中的数据的例子。
如图3所示，记录在记录层中的数据根据地址大致分为Lead in区域(导入区域)、Data one区域(数据区域)。
导入区域中的最内周侧的BCA(Burst Cutting Area，烧录截断区域)和预录信息区域PR为再现专用区域(PB区域)，从导入区域的管理/控制信息区域到导出区域，为能够进行一次记录的一次写入区域(WO区域)。
导入区域的最内周的BCA(Burst Cutting Area，烧录截断区域)，例如由高功率的激光器，通过烧断记录层的记录方式，沿着半径方向记录条形码状的信号。由此，对于一片一片的光信息记录介质100记录独特的ID。根据该独特的ID，能够对内容向光信息记录介质100的复制进行管理。
在除去BCA的再现专用区域即预录信息区域PR、和WO区域的整个区域中，波纹槽(wobbling groove，蛇形的槽)的记录轨道201螺旋状地形成。槽是激光点进行描绘时的跟踪的导引，而且该槽作为记录轨道201进行数据的记录再现。
另外，在本例中，假定在槽中进行数据记录的光信息记录介质100，但本发明并不限于这种槽记录的光信息记录介质100，也可以应用于在槽与槽之间的岸(land)上记录数据的岸记录方式的光信息记录介质100，此外，还能够应用于在槽和岸上记录数据的岸槽(land-groove)记录方式的光信息记录介质100。
接着，说明在具有2个记录层的光信息记录介质100中存在缺陷时的影响。
光信息记录介质100的记录信息的读出是，光信息记录再现装置400以在目标记录层聚焦的方式从表面射入激光、读出信号。
此外，在向目标记录层的聚焦、记录轨道201的跟踪中，光信息记录再现装置使用从记录层反射来的激光的信号进行控制。
此外，记录数据的读出控制也同样使用从记录层反射来的激光的信号。
这里，图11表示在光信息记录介质100的表面存在伤痕901的情况下的各层的读出信号电平。
当在光信息记录介质100的表面存在伤痕901时，仅在伤痕901的部分，激光由于伤痕901而扩散，从记录面反射来的信号电平在位于伤痕901深处的记录层部分变差。因此，在位于伤痕901深处的记录层部分，产生用于聚焦、跟踪控制的信号变差、伺服偏离的问题。
接着，使用图4说明缺陷检测区域301。
光信息记录介质100具有沿半径方向被分割而定义的缺陷检测区域301。在本图中，作为缺陷检测区域301，定义了区域1～区域n。
此外，在本实施例中，缺陷检测区域301仅依据半径进行定义。因此，如果在第一记录层102、第二记录层104中分别为同一半径，则成为同一缺陷检测区域301。另外，仅依据半径的理由是，在光信息记录介质100的制造时，在接合第一记录层102与第二记录层104时，不能够使各个层的角相位一致。当然，根据介质的制造方法，也可以依据圆周方向来定义缺陷检测区域301。
这里，使用图12，说明表示以什么范围对区域进行定义的区域定义信息1200。图中，1201表示第一记录层的地址，1202表示第二记录层的地址，此外，1203表示与这些地址相对应的缺陷检测区域301的编号。通过利用该区域定义信息1200，第一记录层的特定的地址能够与第二记录层中的缺陷检测区域建立对应。此外，通过利用该区域定义信息1200，第二记录层的特定的地址能够与第一记录层中的缺陷检测区域建立对应。此外，该缺陷检测区域301并非依据实际的光信息记录介质100上的物理半径，而是基于例如与假定光信息记录介质100没有偏心和接合误差地被制造时的物理半径相对应的地址进行区域划分。这样进行区域划分，则不需要计量光信息记录介质100的偏心、各记录层的接合误差。
此外，该区域的半径方向的大小例如取为与光信息记录介质100的接合误差相同的值，或者接合误差以上的值。由此，在某层中检测出缺陷的情况下，在另一层中推定会出现源于同一缺陷的缺陷检出的范围与接合误差的大小无关，包含于同一个缺陷检测区域301或者邻接的缺陷检测区域301中。从而，能够将同一个或者邻接的缺陷检测区域301作为包含缺陷的区域或者其可能性很高的区域进行处理。
另外，所谓接合误差，如上所述，定义为层与层的相对偏心的差。一般为各层的偏心的2倍左右的值。
此外，作为伴随粘接的接合误差的具体值，例如，取为光信息记录介质100所依照的规格所决定的偏心的2倍的值。例如，作为伴随粘接的接合误差的值，取为上述的100μm。但是，当然不限于该值。
此外，允许的偏心的范围视规格而定，但也依赖于光信息记录介质100的制造商和各个模型。因此，也可以采用下述结构：预先计量各制造商、每个模型的光信息记录介质100的标准的接合误差，后述的光信息记录再现装置400根据从BCA、管理区域读出的独特的ID取得接合误差。或者，也可以在光信息记录介质100上设置记录接合误差的区域。当然，也可以代替接合误差，以各层的偏心的2倍的值作为缺陷检测区域的宽度。
此外，关于接合误差的值，也可以采用下述结构：在某层和另一层中检测出缺陷的情况下，光信息记录再现装置400根据某层的缺陷地址与另一缺陷地址的物理位置的差异，取得接合误差的值。
这里，例如，在第一记录层102的某个缺陷检测区域301中检测出光信息记录介质100的表面的伤痕等缺陷的情况下，推定在第二记录层104的同一缺陷检测区域301中会发现起因于相同缺陷的缺陷。
因此，通过预先登记检测出缺陷的缺陷检测区域301的信息，能够容易地应对推定为由同一缺陷引起的错误。而且，例如，缺陷检测区域301的登记，对于光信息记录介质100的规定区域例如缺陷管理区域进行。此外，例如将BD中的DMA等区域扩展成能够进行缺陷检测区域301的登记，从而安装缺陷管理区域。
这里，使用图13，说明登记在光信息记录介质100中的缺陷管理信息1300。图中，1301是缺陷地址。缺陷地址1301是表示在根据反射光量的变化、错误信号的变形等检测出缺陷时，进行数据记录的位置的地址。此外，缺陷地址1301可以由单一的地址表示，也可以由表示规定的记录单位例如一个扇区的范围的地址表示。1302的缺陷区域信息是表示与缺陷地址1301相对应的缺陷检测区域301的信息。缺陷区域信息1302例如根据缺陷地址1301包含在图12中的哪个缺陷检测区域301中而求出。
这样，如果例如在管理区域中，不仅是检测出缺陷的地址，表示是哪个缺陷检测区域301的缺陷管理区域信息1302也记录在信息记录介质100中，则不需要根据地址计算包含缺陷位置的缺陷检测区域301。
另外，在本实施例中，使缺陷管理区域301的半径方向的距离为层间的接合误差以上的值。由此，能够将与在某层中检测出缺陷的区域相同或者邻接的缺陷检测区域301作为包含缺陷的区域，而进行信息的记录再现。但是，缺陷检测区域301的半径方向的距离也可以并不一定比接合误差大。例如，即使使缺陷检测区域301的半径方向的距离为接合误差的一半的值，与在某层中检测出缺陷的区域相同或者邻接的缺陷检测区域301包含另一层中的缺陷的可能性也很高。于是，能够将这些区域作为包含缺陷的可能性高的区域进行处理。在假定某层与另一层的偏心的值相同、使缺陷检测区域301的半径方向的距离为接合误差的一半的值的情况下，只要某层与另一层的偏心的方向的角相位差在0°≤θ≤+90°的范围，则在同一或者邻接的缺陷检测区域301中包含同一缺陷。
此外，在使缺陷检测区域301的半径方向的距离例如为接合误差的6成的值的情况下，只要偏心的方向的角相位差在0°≤θ≤约±101°的范围，则在同一或者邻接的缺陷检测区域301中包含同一缺陷。此外，例如，在使缺陷检测区域301的半径方向的距离为接合误差的7成的值的情况下，只要偏心的方向的角相位差在0°≤θ≤约±113°的范围，则在同一或者邻接的缺陷检测区域301中包含同一缺陷。此外，例如，在使缺陷检测区域301的半径方向的距离为接合误差的8成的值的情况下，只要偏心的方向的角相位差在0°≤θ≤约±126°的范围，则在同一或者邻接的缺陷检测区域301中包含同一缺陷。此外，例如，在使缺陷检测区域301的半径方向的距离为接合误差的9成的值的情况下，只要偏心的方向的角相位差在0°≤θ≤约±143°的范围，则在同一或者邻接的缺陷检测区域301中包含同一缺陷。
此外，缺陷检测区域301的半径方向的距离越宽，在邻接的缺陷区域301以内包含其它层中的缺陷位置的可能性越高。
此外，也可以使光信息记录介质100为下述结构：将相比于某层中的缺陷的位置在半径方向上更宽的区域作为包含缺陷的可能性高的缺陷区域进行登记。
[实施例2]
在实施例2中，表示在上述光信息记录介质100中进行记录时的光信息记录再现装置400的动作的例子。
首先，在图5中表示上述光信息记录再现装置400的结构例。
光信息记录再现装置400包括照射激光、将反射光的光量变换成电信号的拾取器402。此外，光信息记录再现装置400具有主轴电机、步进电机等能够使拾取器402与光信息记录介质100的相对位置变化的电机401。此外，光信息记录再现装置400包括信号处理装置403，该信号处理装置403根据从拾取器402输出的信号控制拾取器402和电机401，进一步与进行记录再现的主装置404进行通信，进行已再现的数据的传输、记录的数据的接收。信号处理装置403可以由具有全部功能的一个LSI构成，也可以例如按照处理来自拾取器402的信号的部分、控制拾取器402和电机401的部分等功能，组合个别的处理装置而实现。此外，虽然没有图示，但光信息记录再现装置400具有存储器等存储单元。
此外，采用光信息记录介质100能够安装在通过电机旋转而到达的位置的结构。此外，所谓主装置404例如是PC、摄像机、TV、记录器等用于进行光信息记录介质100的再现、记录的设备，只要是能够与信号处理装置403进行通信的设备即可。
作为从光信息记录介质100读出数据方法，利用拾取器402向光信息记录介质100照射激光，将反射来的激光的光量的变化信号传送到信号处理装置403。
信号处理装置403根据接收到的信号将控制拾取器402的位置、电机401的速度的信号分别传送到拾取器402和电机401。进而根据接收到的信号进行记载在光信息记录介质100中的信息的再现。另外，该信号处理装置403作为根据从拾取器402取得的信号、检测在记录信息的位置或者再现信息的位置是否存在缺陷的缺陷检测单元进行动作。此外，信号处理装置403作为光信息记录再现装置400中的控制单元进行动作。
电机401以与从信号处理装置403接收到的指令相对应的速度使光信息记录介质100旋转。
接着，使用图6，表示不使用本光信息记录介质100的现有技术的记录时的缺陷识别处理的流程图的例子。
光信息记录再现机在数据的记录时，首先进行记录处理(S501)。然后，光信息记录再现机在每一定量或者每一定时间确认是否发生了记录错误(S502)。而且，在S502中为没有记录错误的情况下，光信息记录再现机确认是否结束记录(S503)，进行记录处理501直到记录结束。
此外，在S502中为发生了记录错误的情况下，光信息记录再现机判定是否进行了规定次数的重试(S504)。在S504中，在没有进行规定次数的重试的情况下，光信息记录再现机进行光拾取器的定位处理等的重试前处理(S508)，再次进行记录处理(S501)。其中，所谓的重试前处理是指，例如在再次进行记录处理之前，利用光拾取器402和电机401使激光的照射位置返回错误位置的处理。在S504中，在由光信息记录再现装置400进行了规定次数的重试的情况下，光信息记录再现机进行在光信息记录介质100上是否有缺陷的缺陷检测(S505)。该S505中的处理，通过光信息记录再现机检测来自光信息记录介质100的反射光量的变化、错误信号的变形等而进行。
然后，在S506中，光信息记录再现机判定检测的结果是否存在缺陷(S506)。在S506中为存在缺陷的情况下，光信息记录再现机进行缺陷信息登记(S507)。
另一方面，在S506中为没有缺陷的情况下，光信息记录再现机直接以错误来结束记录处理。
这样，在现有的缺陷识别方法中，不管进行记录的层或者其它的层中是否存在伤痕等缺陷，均进行规定次数的重试。因此，特别是在其它层的对应位置存在缺陷的情况下，虽然即使进行重试记录处理也不会成功的可能性很高，但仍然进行规定次数的重试，导致处理时间的增加。
接着，与上述使用图6的说明同样，使用图7的流程图，说明使用本信息记录再现装置100的记录时的缺陷检测处理。该图所示的处理与现有的处理相比较，其特征之处在于，例如根据当前正在进行数据记录的区域及其邻接区域是否是包含缺陷的区域而变更处理。另外，以下的处理通过信号处理单元403的控制而执行。
光信息记录再现装置400在数据的记录时，首先进行记录处理(S501)。接着，每记录一定量的数据或者每一定时间判定是否发生了记录错误502(S502)。在S502中为没有记录错误的情况下，确认是否结束记录(S503)，持续进行记录处理501直到记录结束。
此外，在S502中判定发生了记录错误的情况下，判定在包含于缺陷管理信息1300的缺陷区域信息1302中，是否登记有与包含记录数据中的地址的缺陷检测区域301相同的缺陷检测区域301或者邻接的缺陷检测区域301(S601)。另外，在S601中，例如，通过在光信息记录介质100的识别时，预先将缺陷管理信息1300读出到光信息记录再现装置400的存储器(未图示)中，使得在信息的记录中不需要进行缺陷管理信息1300的读出，则能够缩短数据的读出时间。此外，所谓的邻接的缺陷检测区域301是指，相对于发生了记录错误的缺陷检测区域301，在内周侧以及外周侧邻接的缺陷检测区域301。
在S601中，在缺陷管理信息1300中登记有与包含记录数据中的地址的缺陷检测区域301相同的缺陷检测区域301或者邻接的缺陷检测区域301的缺陷信息的情况下，进行重试的规定次数变更(S602)。在S602中，重试的次数是，例如在进行需要实时记录的视频数据的记录的情况下，使规定的重试次数为0次，通过不进行重试能够提高实时记录性。
此外，即使不进行需要实时记录的数据的记录，在与包含记录数据中的地址的缺陷检测区域301相同的缺陷检测区域301或者邻接的缺陷检测区域301中发现缺陷的情况下，能够推测出记录错误的原因是缺陷的可能性很高。因此，光信息记录再现装置400也可以采用下述结构：进行控制，使得在发现缺陷的情况下，与没有发现缺陷的情况相比较，减少重试次数。由此，光信息记录再现装置400能够抑制由重试处理的时间引起的记录速度的降低。
接着，光信息记录再现装置400判定是否重试了规定次数以上(S504)。在规定次数以下的情况下，光信息记录再现装置400进行光拾取器的定位处理等的重试前处理(S508)，再次进行记录处理(S501)。在S504中重试了规定次数以上的情况下，光信息记录再现装置400检测在光信息记录介质100上是否存在缺陷(S505)。然后，在S506中，判定在光信息记录介质100上是否检测出缺陷。在S506中为检测出缺陷的情况下，将该缺陷检测区域301登记到缺陷管理信息1300中(S507)，以错误来结束记录。
此外，光信息记录再现装置400，在S506中在光信息记录介质100上没能检测出缺陷的情况下，也同样以错误结束记录。
在这个例子以外，也可以采用下述结构：在S602中，不仅变更重试规定次数，还进行记录速度的变更、将记录方式变更为READ AFTERWRITE(写后读)，使得能够进行稳定的记录。由此，增加在重试时能够正常进行记录的可能性。
这样，光信息记录再现装置400，将与包含缺陷的缺陷检测区域301相同以及邻接的缺陷检测区域301作为缺陷区域检测出来，并变更处理，其中，该缺陷区域是包含缺陷或者其可能性高的区域。
依据以上叙述的光信息记录再现装置400，存在以下的优点。即，在检测出某层存在缺陷的情况下，在其它层中可能受到该缺陷的影响的范围由于接合误差而扩大。与此相对，光信息记录再现装置400通过对包含正在记录数据的位置的缺陷检测区域301、和在内周侧以及外周侧邻接的缺陷检测区域301，变更重试次数、记录方式，能够对再次检测出缺陷的可能性高的区域进行适当的处理。此外，反过来讲，本光信息记录再现装置400能够使进行上述的重试次数的变更、记录方式的变更的半径方向的范围，抑制在缺陷检测区域301的3倍的宽度内。从而，能够抑制由于将半径方向的范围取得过大，导致对于原本检测出缺陷的可能性不高的位置也进行重试次数的变更、记录方式的变更。
另外，在上述的实施例中，在S601中，在直至邻接的缺陷检测区域301的范围内，判定是否作为缺陷区域被登记，但是也可以在相同的缺陷检测区域301的范围内进行判定。这是因为，即使仅是相同的缺陷检测区域301，在该区域中包含其它层的缺陷的可能性也很高。
在上述的S601的检测处理中，为了抑制处理的复杂化，对于在检测出存在缺陷时进行数据记录的层和当前正在进行数据记录的层的关系，不予考虑地进行处理。
然而，也可以考虑在检测出存在缺陷时进行数据记录的层和当前正在进行数据记录的层的关系地进行处理。以下说明详情。
即，在检测出存在缺陷时进行数据记录的层与当前正在进行数据记录的层不同的情况下，不仅是在相同的缺陷检测区域301，在邻接的缺陷检测区域301中检测出存在缺陷的可能性也很高。在检测出存在缺陷时进行数据记录的层与当前正在进行数据记录的层相同的情况下，不需要考虑接合误差。
从而，本信息记录再现装置400也可以利用信号处理装置403，进行判定在检测出存在缺陷时进行数据记录的层与当前正在进行数据记录的层是否相同的处理。进一步，也可以在检测出存在缺陷时进行数据记录的层与当前正在进行数据记录的层相同的情况下，进行判定是否仅是相同的缺陷区域301登记有缺陷的处理。此外，也可以在检测出存在缺陷时进行数据记录的层与当前正在进行数据记录的层不同的情况下，进行判定是否仅是相同的缺陷区域301登记有缺陷的处理。
通过具有这样的结构，在与检测出存在缺陷时进行数据记录的层相同的层中记录数据时，能够抑制尽管在邻接的缺陷检测区域301中没有缺陷也进行减少重试次数等的处理的可能性。
[实施例3]
接着，在实施例3中，表示在已经记录有缺陷信息的上述光信息记录介质100中进行记录时的光信息记录再现装置400的另一动作例。另外，实施例3的动作例中，作为特征性的动作例如是，在对已作为缺陷检测区域301被登记的位置进行记录的情况下，在变更其记录方式的基础上进行记录。
图8表示，在记录时，在对已经检测出缺陷的缺陷检测区域301或者其邻接的缺陷检测区域301进行记录时的动作的流程图。另外，以下的处理通过信号处理单元403的控制而进行。
光信息记录再现装置400的数据的记录动作是，反复进行一定区间的记录处理(S701)、判定有无错误(S702)和监视是否继续记录(S704)。这里，所谓一定的区间，例如，如果是Blu-Ray Disc(蓝光光盘)，则可以是一个簇(cluster)、每一个标记、每一定时间等。
在S702中为存在记录错误的情况下，转移到S703，光信息记录再现装置400进行错误处理，结束记录处理。其中，这里所说的错误处理，例如相当于图7中的S601、S602等的处理。
另一方面，在S702中为没有记录错误的情况下转移到S704。在S704中，光信息记录再现装置400判定是否继续记录(S704)。在继续记录处理中，光信息记录再现装置400判定与包含记录数据中的地址的缺陷检测区域301相同的缺陷检测区域301或者邻接的缺陷检测区域301是否记录在缺陷区域信息1302中(S705)。
另外，光信息记录再现装置400也可以进行例如在光信息记录介质100的识别时，将缺陷检测区域301有无缺陷的信息预先读出到存储器(未图示)中的处理。由此，光信息记录再现装置400预先进行处理，使得不会对该区域进行再次读出，则可以缩短数据的读出时间。
在S704中，在继续记录的情况下，光信息记录再现装置400判定在接着进行记录的缺陷检测区域301或者与接着进行记录的缺陷检测区域301邻接的缺陷检测区域301中是否已检测出缺陷(S705)。在S705中为已检测出缺陷的情况下，光信息记录再现装置400进行变更记录方式的处理(S706)。
在该S706的记录方式的变更中，存在下述处理：例如将记录倍速变更成数据传输速度更慢的记录速度、将记录品质稳定的旋转速度一定的记录变更为线速度一定的记录。如果这样变更记录方式，则能够强化对缺陷的耐性。而且，光信息记录再现装置400能够提高在即使存在缺陷的情况下也能够继续记录的可能性。
进一步，作为记录方式，如果以Read After Write(写后读)进行记录，则能够确保缺陷部的记录品质，该写后读方式是对已记录的数据进行读出，确认已记录后再进行记录。
此外，在S704中，在不继续记录的情况下，光信息记录再现装置400结束记录处理。另外，所谓不继续该记录的情况是指，例如接收到来自主装置404的记录中止指令的情况等。
另外，在上述的实施例中，在S705中，在直至邻接的缺陷检测区域301的范围内，判定是否作为缺陷区域被登记，但也可以在相同缺陷检测区域301的范围内进行判定。
[实施例4]
在实施例4中，表示再现已经记录有缺陷信息的上述光信息记录介质100的信息时的光信息再现装置400’的动作例。另外，本实施例中的光信息再现装置400’的结构图与图1的相对应。此外，以下的处理当然也能够由光信息记录再现装置400进行。
首先，使用图9的流程图，表示再现时由于缺陷而发生再现错误时的动作的流程图。另外，以下的处理通过信号处理单元403的控制而进行。
当传送来再现命令时，上述光信息再现装置400’进行数据的再现(S801)。
之后，光信息再现装置400’反复进行一定区间的再现处理(S801)、伺服偏离检测(S802)、再现结束检查(S803)。这里，所谓的一定区间，例如，如果是Blu-Ray Disc(蓝光光盘)，则可以是一个簇、每一个标记、每一定时间等。
在S802中，光信息再现装置400’检测伺服控制是否偏离。在S802中为没有伺服偏离的情况下，转移到S803，光信息再现装置400’判定是否结束再现。而且，在S803中结束再现的情况下，光信息再现装置400’结束处理。另外，所谓在S803中结束再现的情况是指，例如从主装置404接收到结束再现的指令的情况。此外，所谓伺服控制偏离表示的是，例如伺服从最佳值的偏移量为规定值以上的情况。
另一方面，在S803中不使再现结束的情况下，光信息再现装置400’转移到S801，进行下一次的一定区间的数据的再现处理。
此外，在S802中检测出伺服偏离的情况下，转移到S804，光信息再现装置400’判定包含发生了伺服偏离的位置的缺陷检测区域301是否已登记在缺陷检测区域301中。
在S804中，推定包含检测出伺服偏离的地址的缺陷检测区域301或者与其邻接的缺陷检测区域301记录在缺陷区域信息中、由缺陷引起伺服偏离的可能性高。因此，推定如果在与发生错误的缺陷检测区域301相同的缺陷检测区域301重新施加伺服，则再次发生伺服偏离的可能性高。
于是，在S804中，光信息再现装置400’，在检测出伺服偏离802的缺陷检测区域301或者与其邻接的缺陷检测区域301中登记有缺陷的情况下，进行重试定位变更806。具体地讲，光信息再现装置400’，使在重试处理805中进行伺服引入的位置变化到在相同或者邻接的缺陷检测区域301中没有进行缺陷登记的位置。由此，光信息再现装置400’能够在没有缺陷的位置进行重试处理的概率提高。
另一方面，在包含检测出伺服偏离的位置的区域以及邻接区域没有登记在缺陷区域信息1302中的情况下，光信息再现装置400’进行重试处理(S805)。而且，在重试处理后，再次转移到S801进行再现处理。
另外，在上述的实施例中，在S804中，在直至邻接的缺陷检测区域301的范围内，判定是否作为缺陷区域被登记，但是也可以在相同的缺陷检测区域301的范围内进行判定。
此外，在本实施例的S805中，进行伺服引入的区域，如果在缺陷检测区域301和与其邻接的缺陷检测区域301以外，还位于接近进行再现的地址的位置，则能够抑制伺服引入的稳定性、再现重试的速度的降低。
这样，光信息再现装置400’将与包含缺陷的缺陷检测区域301相同以及邻接的缺陷区域301作为缺陷区域检测出来，并变更处理，其中，该缺陷区域是包含缺陷或者其可能性高的区域。
[实施例5]
在实施例5中，表示在光信息记录介质100没有记录缺陷区域信息1302的区域的情况下的光信息记录再现装置400的动作例。
首先，使用图10，说明在没有记录缺陷检测区域301的信息的区域的情况下的缺陷位置的预测方法。
例如，在光信息记录介质100的第二记录层104进行数据的读出或者记录时，光信息记录介质100的表面所带的伤痕901由于记录或者再现错误，在第二记录层104中作为记录层的缺陷902被检测出来。
这里，光信息记录再现装置400，例如根据检测出的缺陷的地址和区域定义信息1200取得包含发现缺陷的位置的缺陷检测区域301。然后，光信息记录再现装置400，当该缺陷检测区域301中存在缺陷时，在光信息记录再现装置400所具有的存储器(未图示)中进行保存。
其后，利用实施例2至4所示的记录、再现的方法，即使在光信息记录介质100中没有记录缺陷区域信息1302的区域的情况下，也能够推定其它层的缺陷位置。在光信息记录介质100的缺陷管理区域中已经登记有缺陷的情况下，根据登记的缺陷的地址，计算相当于哪个缺陷检测区域301，当在该缺陷检测区域301中存在缺陷时，在光信息记录再现装置或者光信息记录再现装置的存储器中进行保存，从而能够与上述的发现缺陷的情况同样地推定多层的缺陷。由此，能够实施在实施例2、实施例3和实施例4中记载的记录再现方法。
该方法不需要将缺陷检测区域301有无缺陷的信息记录到光信息记录介质100中，因此能够减少光信息记录介质100的使用容量。此外，在使用本实施例的光信息记录再现装置400的情况下，对于不具备记录缺陷区域信息1302的区域的介质，也能够进行对存在缺陷的可能性高的区域的重试次数的变更等。
此外，光信息记录再现装置400例如还可以采用下述结构：利用信号处理装置403，从BCA、管理区域，对记录介质是否具有登记缺陷检测区域301的区域进行检测。
如上所述，依据各实施例的光信息记录再现装置400、光信息再现装置400和光信息记录介质100，目的在于在具有多个记录层的光信息记录介质中，根据当前没有进行记录的层的缺陷信息推定当前的层的缺陷位置，通过使重试次数、记录速度变化，提高记录速度、提高数据记录安全性。
另外，本发明并不限于上述的实施例，包括各种变形例。此外，上述的实施例中，为了易于了解地说明本发明而进行了详细说明，但是并不限于具有所说明的全部结构。此外，还能够将某个实施例的结构的一部分置换成其它实施例的结构，此外，还能够在某个实施例的结构中添加其它实施例的结构。此外，对于各实施例的结构的一部分，能够进行其它结构的添加、削减、置换。
此外，上述的各结构中的一部分或者全部，可以由硬件构成，也可以构成为由处理器执行程序而实现。此外，表示的是认为在说明上必需的控制线、信息线，并不一定表示产品上所有的控制线、信息线。实际上也可以认为几乎所有的结构均相互连接。
产业上的可利用性
例如能够适用于在使DVD、Blu-Ray Disc那样的光信息记录介质多层化的情况下，维持记录速度和处理的可靠性的数据记录。

Claims (16)

1.一种光信息记录再现装置，其对具有第一层和第二层的光信息记录介质进行信息的记录或者再现，该光信息记录再现装置的特征在于，包括：
对所述光信息记录介质照射激光的拾取器；
使所述光信息记录介质旋转的电机；
根据从所述拾取器读出的信号进行缺陷检测的缺陷检测单元；和
控制单元，其进行控制，使得在所述第一层中的信息记录时检测出所述缺陷的情况下，将与所述缺陷的检测位置对应的第二层中的规定区域作为缺陷区域，进行所述信息的记录。
2.根据权利要求1所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
所述控制单元进行控制，使得从所述光信息记录介质读出表示所述缺陷区域的列表的信息。
3.根据权利要求1或2所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
所述规定区域的半径方向的距离为所述第一层与所述第二层的接合误差以上。
4.根据权利要求1所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
所述控制单元进行控制，使得变更对所述缺陷区域的信息记录失败的情况下的重试动作。
5.根据权利要求1所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
所述控制单元进行控制，使得变更对所述缺陷区域和与该缺陷区域邻接的区域的信息记录失败的情况下的重试动作。
6.根据权利要求4所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
所述重试动作的变更是指减少重试次数或者不进行重试。
7.根据权利要求4所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
所述重试动作的变更是指记录速度和记录方式的变更。
8.根据权利要求1所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
所述控制单元进行控制，使得在所述缺陷区域进行记录的情况下，变更记录动作。
9.根据权利要求1所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
所述控制单元进行控制，使得在所述缺陷区域或者与该缺陷区域邻接的区域进行信息记录的情况下，变更记录动作。
10.根据权利要求8所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
所述控制单元通过降低记录速度或者以写后读方式进行记录，进行所述记录动作的变更。
11.一种光信息再现装置，其从具有第一层和第二层的光信息记录介质进行信息的再现，该光信息再现装置的特征在于，包括：
对所述光信息记录介质照射激光的拾取器；
使所述光信息记录介质旋转的电机；和
控制单元，其进行控制，使得在登记有在所述第一层中在规定的地址中存在缺陷的情况下，将与所述缺陷的登记位置对应的第二层中的规定区域作为缺陷区域，进行所述信息的再现。
12.根据权利要求11所述的光信息再现装置，其特征在于：
所述控制单元进行控制，使得从所述光信息记录介质读出表示所述缺陷区域的列表的信息。
13.根据权利要求11或12所述的光信息再现装置，其特征在于：
所述规定区域的半径方向的距离为所述第一层与所述第二层的接合误差以上。
14.根据权利要求11所述的光信息再现装置，其特征在于：
所述控制单元在所述缺陷区域和与该缺陷区域邻接的区域中，不进行聚焦伺服引入。
15.一种光信息记录介质，其具有第一记录层和第二记录层，该光信息记录介质的特征在于：
对所述第一记录层的记录区域分配有地址，
对所述第二记录层的记录区域分配有地址，
所述第二记录层的记录区域具有按照规定范围的地址分割出的多个区域，
所述第一记录层中的地址与所述第二记录层中的区域相对应，
在所述第一记录层中检测出缺陷的情况下，将与在所述第一记录层中检测出缺陷的地址相对应的区域登记为缺陷区域，
所述缺陷区域的半径方向的距离为所述第一记录层与所述第二记录层的接合误差的值以上。
16.根据权利要求15所述的光信息记录介质，其特征在于：
在所述多个区域中，具有记录表示哪个区域是缺陷区域的缺陷区域信息的区域。
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