JP2001014808A - 光ディスク及び光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク及び光ディスク装置Info
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- G11B20/1883—Methods for assignment of alternate areas for defective areas
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11B20/1217—Formatting, e.g. arrangement of data block or words on the record carriers on discs
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B2220/00—Record carriers by type
- G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Management Or Editing Of Information On Record Carriers (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】書き換え可能な片面２層媒体のような複数の記
録層を有する媒体においても、信頼性の高い欠陥管理を
行うことができる光ディスクを提供する。 【解決手段】基板１０上に書き換え可能な第１及び第２
の記録層１１，１２が積層された光ディスクにおいて、
記録層１１，１２のリードイン領域１３の末尾に欠陥リ
スト記録領域１５が配置され、それぞれの欠陥リスト記
録領域１５に記録層１１，１２の両方の媒体欠陥に関す
る情報を有する欠陥リストが記録される。
録層を有する媒体においても、信頼性の高い欠陥管理を
行うことができる光ディスクを提供する。 【解決手段】基板１０上に書き換え可能な第１及び第２
の記録層１１，１２が積層された光ディスクにおいて、
記録層１１，１２のリードイン領域１３の末尾に欠陥リ
スト記録領域１５が配置され、それぞれの欠陥リスト記
録領域１５に記録層１１，１２の両方の媒体欠陥に関す
る情報を有する欠陥リストが記録される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク及び該
光ディスクを用いて情報の記録及び再生を行う光ディス
ク装置に係り、特に片面二層媒体のような複数の記録層
を有する光ディスクの媒体欠陥に対する欠陥情報管理に
関する。
光ディスクを用いて情報の記録及び再生を行う光ディス
ク装置に係り、特に片面二層媒体のような複数の記録層
を有する光ディスクの媒体欠陥に対する欠陥情報管理に
関する。
【０００２】
【従来の技術】書き換え可能な光ディスクの一つである
ＤＶＤ−ＲＡＭでは、媒体の元々の欠陥やデータの繰り
返し書き換えに起因する劣化による欠陥に対してもデー
タの読み書きが正しく行われるように、これらの媒体欠
陥を管理してデータの読み書きを行う欠陥管理と呼ばれ
るシステムが採用されている。
ＤＶＤ−ＲＡＭでは、媒体の元々の欠陥やデータの繰り
返し書き換えに起因する劣化による欠陥に対してもデー
タの読み書きが正しく行われるように、これらの媒体欠
陥を管理してデータの読み書きを行う欠陥管理と呼ばれ
るシステムが採用されている。
【０００３】媒体欠陥には、媒体を初期化した時点で検
出される１次欠陥と、初期化後の使用中に発生する２次
欠陥があり、それぞれ１次欠陥リスト及び２次欠陥リス
トとして管理される。ＤＶＤ−ＲＡＭでは、これら１次
欠陥リスト及び２次欠陥リストは媒体上のリードイン領
域の末尾とリードアウト領域の先頭にそれぞれ２重化さ
れて記録される。これらの欠陥リストは媒体の起動時に
読み出され、以後のデータアクセスに使用される。合計
４つの欠陥リス卜の内容が一致しない場合には、最新の
欠陥リストが使用される。
出される１次欠陥と、初期化後の使用中に発生する２次
欠陥があり、それぞれ１次欠陥リスト及び２次欠陥リス
トとして管理される。ＤＶＤ−ＲＡＭでは、これら１次
欠陥リスト及び２次欠陥リストは媒体上のリードイン領
域の末尾とリードアウト領域の先頭にそれぞれ２重化さ
れて記録される。これらの欠陥リストは媒体の起動時に
読み出され、以後のデータアクセスに使用される。合計
４つの欠陥リス卜の内容が一致しない場合には、最新の
欠陥リストが使用される。
【０００４】媒体の初期化時に書き込み不良が検出され
ると、不良の検出された欠陥セクタは使用されず、代わ
りに次のセクタが使用される。ＤＶＤ−ＲＡＭの場合、
セクタの物理アドレスは書き換えの出来ないプリピット
の形でヘッダ領域に記録されているので、初期欠陥があ
ると論理的な連続したセクタアドレスが物理的には不連
続なセクタに対応するようになる。こうした論理的なセ
クタ番号と対応する物理的なセクタ番号のずれを補正し
て、正しい位置にアクセスできるようにするための欠陥
リストが１次欠陥リストである。
ると、不良の検出された欠陥セクタは使用されず、代わ
りに次のセクタが使用される。ＤＶＤ−ＲＡＭの場合、
セクタの物理アドレスは書き換えの出来ないプリピット
の形でヘッダ領域に記録されているので、初期欠陥があ
ると論理的な連続したセクタアドレスが物理的には不連
続なセクタに対応するようになる。こうした論理的なセ
クタ番号と対応する物理的なセクタ番号のずれを補正し
て、正しい位置にアクセスできるようにするための欠陥
リストが１次欠陥リストである。
【０００５】一方、媒体の使用時にデータ書き込み後の
ベリファイで誤り訂正ブロック中にある規定値以上の誤
りが検出されると、その規定値以上の誤りが検出された
欠陥ブロックは使用されず、スペア領域にあるブロック
が代替ブロックとして使用される。２次欠陥リストに
は、欠陥ブロックの先頭セクタの物理アドレスと代替ブ
ロックのセクタの物理アドレスが記録される。
ベリファイで誤り訂正ブロック中にある規定値以上の誤
りが検出されると、その規定値以上の誤りが検出された
欠陥ブロックは使用されず、スペア領域にあるブロック
が代替ブロックとして使用される。２次欠陥リストに
は、欠陥ブロックの先頭セクタの物理アドレスと代替ブ
ロックのセクタの物理アドレスが記録される。
【０００６】光ディスク装置は、ディスクがローディン
グされると欠陥リストの情報を読み込んでメモリに格納
する。そして、ホストコンピュータのような上位装置か
ら、ディスク上にデータを書き込んだり、ディスク上か
らデータ読み出す旨のアクセス命令を受取ると、そのア
クセス命令中に含まれる論理的なアドレスを媒体上の物
理アドレスに変換して、ディスクに対しアクセスを行
う。論理アドレスから物理アドレスへの変換には、ディ
スクから読み込んでメモリに格納した欠陥リストの情報
が用いられる。
グされると欠陥リストの情報を読み込んでメモリに格納
する。そして、ホストコンピュータのような上位装置か
ら、ディスク上にデータを書き込んだり、ディスク上か
らデータ読み出す旨のアクセス命令を受取ると、そのア
クセス命令中に含まれる論理的なアドレスを媒体上の物
理アドレスに変換して、ディスクに対しアクセスを行
う。論理アドレスから物理アドレスへの変換には、ディ
スクから読み込んでメモリに格納した欠陥リストの情報
が用いられる。
【０００７】ところで、光ディスク装置ではゾーンＣＬ
Ｖという記録方式が用いられることが多い。この記録方
式によると、同一ゾーン内ではディスクの回転数が一定
に保たれるが、異なるゾーン間では平均的な記録密度を
一定に保つためにディスクの回転数が変わる。このた
め、ゾーンをまたがったアクセスを行うと、回転系のイ
ナーシャの為に回転数が安定するまでに時間がかかる。
Ｖという記録方式が用いられることが多い。この記録方
式によると、同一ゾーン内ではディスクの回転数が一定
に保たれるが、異なるゾーン間では平均的な記録密度を
一定に保つためにディスクの回転数が変わる。このた
め、ゾーンをまたがったアクセスを行うと、回転系のイ
ナーシャの為に回転数が安定するまでに時間がかかる。
【０００８】一方、基板上に二つの記録層を積層し、デ
ィスクの片面から二つの記録層にアクセス可能な片面二
層媒体と呼ばれる光ディスクの開発が進められている。
片面二層媒体では、アクセス先を一方の記録層から他方
の記録層に切り替えようとすると、光ピックアップのフ
ォーカスサーボをかけ直してトラッキングを行わなけれ
ばならないため、やはりアクセスに時間がかかる。
ィスクの片面から二つの記録層にアクセス可能な片面二
層媒体と呼ばれる光ディスクの開発が進められている。
片面二層媒体では、アクセス先を一方の記録層から他方
の記録層に切り替えようとすると、光ピックアップのフ
ォーカスサーボをかけ直してトラッキングを行わなけれ
ばならないため、やはりアクセスに時間がかかる。
【０００９】このような書き換え可能な片面二層媒体に
おいても、媒体欠陥の管理を行わなければならないが、
データフォーマットを単層媒体のそれと同じにした場
合、各記録層の欠陥リスト記録領域には、その記録層自
身の媒体欠陥に関する情報を含む欠陥リストのみが記録
されることになる。片面二層媒体においては、どのよう
なアクセス命令に対してもアクセスを可能とするため
に、二層の記録層分の全ての欠陥リストを読み出す必要
がある。このためには、上述のように各記録層の欠陥リ
スト記録領域にその記録層自身の媒体欠陥に関する情報
のみからなる欠陥リストを記憶するようにした場合、必
ず二つの記録層の欠陥リスト記録領域から欠陥リストを
読み出さなければならない。
おいても、媒体欠陥の管理を行わなければならないが、
データフォーマットを単層媒体のそれと同じにした場
合、各記録層の欠陥リスト記録領域には、その記録層自
身の媒体欠陥に関する情報を含む欠陥リストのみが記録
されることになる。片面二層媒体においては、どのよう
なアクセス命令に対してもアクセスを可能とするため
に、二層の記録層分の全ての欠陥リストを読み出す必要
がある。このためには、上述のように各記録層の欠陥リ
スト記録領域にその記録層自身の媒体欠陥に関する情報
のみからなる欠陥リストを記憶するようにした場合、必
ず二つの記録層の欠陥リスト記録領域から欠陥リストを
読み出さなければならない。
【００１０】ここで何らかの原因により、いずれか一方
の記録層の欠陥リスト記録領域から欠陥リストを読み出
すことができなくなると、その記録層全体を使用できな
くなり、欠陥管理の信頼性が著しく低下する。
の記録層の欠陥リスト記録領域から欠陥リストを読み出
すことができなくなると、その記録層全体を使用できな
くなり、欠陥管理の信頼性が著しく低下する。
【００１１】また、単層媒体の場合と同様に欠陥リスト
を各層のリードイン領域の末尾とリードアウト領域の先
頭に２重化して記録すると、同じ記録層のリードイン領
域の末尾とリードアウト領域の先頭に配置された欠陥リ
スト記録領域からの欠陥リストの読み出しが共にできな
くなる可能性が小さいために、欠陥管理の信頼性は向上
するが、欠陥リストの読み出し時にはゾーンＣＬＶでの
内周側と外周側のゾーン切り替え時間に加えて、記録層
の切り替え時間も必要となるため、ディスクが使用可能
になるまでの待ち時間が増大するという問題がある。
を各層のリードイン領域の末尾とリードアウト領域の先
頭に２重化して記録すると、同じ記録層のリードイン領
域の末尾とリードアウト領域の先頭に配置された欠陥リ
スト記録領域からの欠陥リストの読み出しが共にできな
くなる可能性が小さいために、欠陥管理の信頼性は向上
するが、欠陥リストの読み出し時にはゾーンＣＬＶでの
内周側と外周側のゾーン切り替え時間に加えて、記録層
の切り替え時間も必要となるため、ディスクが使用可能
になるまでの待ち時間が増大するという問題がある。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、片面
二層媒体のような複数の記録層を有する光ディスクにお
いて、従来の書き換え可能な単層媒体で行われている欠
陥管理と同様に、各記録層毎に欠陥管理のための欠陥リ
ストを記録するようにすると、欠陥管理の信頼性が低下
し、また実際の使用時に必要な全ての記録層についての
欠陥リストを全ての記録層から読み出さなければならな
いため、光ディスクを光ディスク装置にセットしてから
データの書き込み／読み出しが可能になるまでの待ち時
間が長くなるという問題点があった。
二層媒体のような複数の記録層を有する光ディスクにお
いて、従来の書き換え可能な単層媒体で行われている欠
陥管理と同様に、各記録層毎に欠陥管理のための欠陥リ
ストを記録するようにすると、欠陥管理の信頼性が低下
し、また実際の使用時に必要な全ての記録層についての
欠陥リストを全ての記録層から読み出さなければならな
いため、光ディスクを光ディスク装置にセットしてから
データの書き込み／読み出しが可能になるまでの待ち時
間が長くなるという問題点があった。
【００１３】本発明の主たる目的は、書き換え可能な片
面２層媒体のような複数の記録層を有する媒体において
も、信頼性の高い欠陥管理を行うことができる光ディス
ク及び光ディスク装置を提供することにある。
面２層媒体のような複数の記録層を有する媒体において
も、信頼性の高い欠陥管理を行うことができる光ディス
ク及び光ディスク装置を提供することにある。
【００１４】本発明の他の目的は、このような複数の記
録層を有する場合において、信頼性の高い欠陥管理を可
能とするとともに、欠陥リストの読み出しに必要な時間
を短縮し、高速動作を可能とする光ディスク及び光ディ
スク装置を提供することである。
録層を有する場合において、信頼性の高い欠陥管理を可
能とするとともに、欠陥リストの読み出しに必要な時間
を短縮し、高速動作を可能とする光ディスク及び光ディ
スク装置を提供することである。
【００１５】
【課題を解決するための手段】上記した課題を解決する
ため、本発明は複数の記録層を有する光ディスクにおい
て、少なくとも一つの記録層に媒体欠陥に関する情報を
有する欠陥リストが記録され、かつ該欠陥リストはこれ
が記録される記録層及び全ての記録層の媒体欠陥に関す
る情報を有することを特徴とする。
ため、本発明は複数の記録層を有する光ディスクにおい
て、少なくとも一つの記録層に媒体欠陥に関する情報を
有する欠陥リストが記録され、かつ該欠陥リストはこれ
が記録される記録層及び全ての記録層の媒体欠陥に関す
る情報を有することを特徴とする。
【００１６】また、特に基板上に書き換え可能な第１及
び第２の記録層が積層された光ディスク、いわゆる片面
二層媒体においては、第１及び第２の記録層の少なくと
も一方に媒体欠陥に関する情報を有する欠陥リストが記
録され、かつ該欠陥リストは第１及び第２の記録層の両
方の媒体欠陥に関する情報を有することを特徴とする。
び第２の記録層が積層された光ディスク、いわゆる片面
二層媒体においては、第１及び第２の記録層の少なくと
も一方に媒体欠陥に関する情報を有する欠陥リストが記
録され、かつ該欠陥リストは第１及び第２の記録層の両
方の媒体欠陥に関する情報を有することを特徴とする。
【００１７】より具体的には、片面二層媒体において
は、第１及び第２の記録層のリードイン領域の末尾及び
リードアウト領域の先頭の少なくとも一つに欠陥リスト
記録領域が配置され、この欠陥リスト記録領域に第１及
び第２の記録層の媒体欠陥に関する情報を有する欠陥リ
ストが記録される。
は、第１及び第２の記録層のリードイン領域の末尾及び
リードアウト領域の先頭の少なくとも一つに欠陥リスト
記録領域が配置され、この欠陥リスト記録領域に第１及
び第２の記録層の媒体欠陥に関する情報を有する欠陥リ
ストが記録される。
【００１８】第１及び第２の記録層の両方に欠陥リスト
記録領域を配置する場合、第１及び第２の記録層のディ
スク半径方向の同一側、つまりリードイン領域の末尾、
またはリードアウト領域の先頭に欠陥リスト記録領域を
配置することが望ましい。
記録領域を配置する場合、第１及び第２の記録層のディ
スク半径方向の同一側、つまりリードイン領域の末尾、
またはリードアウト領域の先頭に欠陥リスト記録領域を
配置することが望ましい。
【００１９】一つの記録層のみに欠陥リスト記録領域を
配置する場合、リードイン領域の末尾及びリードアウト
領域の先頭の両方に欠陥リスト記録領域を配置すること
が望ましい。
配置する場合、リードイン領域の末尾及びリードアウト
領域の先頭の両方に欠陥リスト記録領域を配置すること
が望ましい。
【００２０】欠陥リストは、それぞれが二重化されてい
ることが望ましい。また、欠陥リストは具体的には媒体
の初期欠陥に関する情報を表す１次欠陥リストと使用中
に発生する媒体欠陥に関する情報を表す２次欠陥リスト
から構成される。
ることが望ましい。また、欠陥リストは具体的には媒体
の初期欠陥に関する情報を表す１次欠陥リストと使用中
に発生する媒体欠陥に関する情報を表す２次欠陥リスト
から構成される。
【００２１】さらに、本発明に係る光ディスク装置は、
上述した光ディスクから欠陥リストを読み出す欠陥リス
ト読み出し手段と、読み出された欠陥リストを記憶する
記憶手段と、光ディスク上のアクセス対象データの論理
アドレスを記憶手段に記憶された欠陥リストを用いて光
ディスク上の物理アドレスに変換するアドレス変換手段
と、このアドレス変換手段により得られた物理アドレス
を用いて光ディスクに対しデータの書き込み／読み出し
を行うデータ書き込み／読み出し手段とを有することを
特徴とする。
上述した光ディスクから欠陥リストを読み出す欠陥リス
ト読み出し手段と、読み出された欠陥リストを記憶する
記憶手段と、光ディスク上のアクセス対象データの論理
アドレスを記憶手段に記憶された欠陥リストを用いて光
ディスク上の物理アドレスに変換するアドレス変換手段
と、このアドレス変換手段により得られた物理アドレス
を用いて光ディスクに対しデータの書き込み／読み出し
を行うデータ書き込み／読み出し手段とを有することを
特徴とする。
【００２２】本発明の光ディスクにおいては、少なくと
も一つの記録層の欠陥リスト記録領域に記録された欠陥
リストが他の記録層の媒体欠陥を含めて全ての記録層の
媒体欠陥の情報を有するため、例えば全ての記録層にこ
のような欠陥リストを記録するようにすれば、仮に一部
の記録層から欠陥リストを読み出すことができなくなっ
たような場合でも、他の記録層から欠陥リストを読み出
すことによって、全ての記録層の媒体欠陥の情報を得る
ことができ、欠陥管理の信頼性が向上する。
も一つの記録層の欠陥リスト記録領域に記録された欠陥
リストが他の記録層の媒体欠陥を含めて全ての記録層の
媒体欠陥の情報を有するため、例えば全ての記録層にこ
のような欠陥リストを記録するようにすれば、仮に一部
の記録層から欠陥リストを読み出すことができなくなっ
たような場合でも、他の記録層から欠陥リストを読み出
すことによって、全ての記録層の媒体欠陥の情報を得る
ことができ、欠陥管理の信頼性が向上する。
【００２３】また、限られた記録層のみに欠陥リストを
記録する場合でも、これを例えば光ディスクのリードイ
ン領域の末尾とリードアウト領域の先頭のように離れた
複数の位置に欠陥リスト記録領域を設定し、これらの欠
陥リスト記録領域に全ての記録層の媒体欠陥に関する情
報を有する欠陥リストを記録するようにすれば、同じ記
録層上の位置が離れた異なる欠陥リスト記録領域からの
欠陥リストの読み出しが共にできなくなる可能性が小さ
いために、欠陥管理の信頼性を確保することができる。
記録する場合でも、これを例えば光ディスクのリードイ
ン領域の末尾とリードアウト領域の先頭のように離れた
複数の位置に欠陥リスト記録領域を設定し、これらの欠
陥リスト記録領域に全ての記録層の媒体欠陥に関する情
報を有する欠陥リストを記録するようにすれば、同じ記
録層上の位置が離れた異なる欠陥リスト記録領域からの
欠陥リストの読み出しが共にできなくなる可能性が小さ
いために、欠陥管理の信頼性を確保することができる。
【００２４】さらに、本発明では同じ記録層上に全ての
記録層の媒体欠陥に関する情報を有する欠陥リストが記
録されるため、光ディスクを光ディスク装置にセットし
た際には、最低限一つの記録層の欠陥リスト領域から欠
陥リストを読み出すことで欠陥管理が可能であるので、
光ディスクを光ディスク装置にセットしてからデータの
書き込み／読み出しが可能になるまでの待ち時間が短縮
される。
記録層の媒体欠陥に関する情報を有する欠陥リストが記
録されるため、光ディスクを光ディスク装置にセットし
た際には、最低限一つの記録層の欠陥リスト領域から欠
陥リストを読み出すことで欠陥管理が可能であるので、
光ディスクを光ディスク装置にセットしてからデータの
書き込み／読み出しが可能になるまでの待ち時間が短縮
される。
【００２５】
【発明の実施の形態】（第１の実施形態）図１は、本発
明の第１の実施形態に係る光ディスクの概略的構成を示
す断面図である。この光ディスクは片面２層構造の書き
換え可能な媒体であり、透明基板１０上に第１の記録層
１１及び第２の記録層１２が積層されている。記録層１
１，１２は例えば相変化膜により構成される。情報の記
録／再生に際しては、基板１０側から記録層１１，１２
に光ビームが照射される。
明の第１の実施形態に係る光ディスクの概略的構成を示
す断面図である。この光ディスクは片面２層構造の書き
換え可能な媒体であり、透明基板１０上に第１の記録層
１１及び第２の記録層１２が積層されている。記録層１
１，１２は例えば相変化膜により構成される。情報の記
録／再生に際しては、基板１０側から記録層１１，１２
に光ビームが照射される。
【００２６】記録層１１，１２には、情報記録領域の最
内周側にリードイン領域１３、最外周側にリードアウト
領域１４がそれぞれ配置されている。なお、以後の説明
ではリードイン領域１３は両記録層１１，１２の内周
側、リードアウト領域１４は両記録層１１，１２の外周
側にあるものとして説明するが、媒体の使用方法によっ
ては一方の記録層ではリードイン領域が外周側に、リー
ドアウト領域が内周側にそれぞれ配置される場合もあ
る。媒体欠陥に関する情報を有する欠陥リストは、本実
施形態では図１において斜線で示す領域１５、すなわち
記録層１１，１２のリードイン領域１３の末尾に記録さ
れる。
内周側にリードイン領域１３、最外周側にリードアウト
領域１４がそれぞれ配置されている。なお、以後の説明
ではリードイン領域１３は両記録層１１，１２の内周
側、リードアウト領域１４は両記録層１１，１２の外周
側にあるものとして説明するが、媒体の使用方法によっ
ては一方の記録層ではリードイン領域が外周側に、リー
ドアウト領域が内周側にそれぞれ配置される場合もあ
る。媒体欠陥に関する情報を有する欠陥リストは、本実
施形態では図１において斜線で示す領域１５、すなわち
記録層１１，１２のリードイン領域１３の末尾に記録さ
れる。
【００２７】ここで、本発明によると記録層１１，１２
の欠陥リスト記録領域１５には、記録層１１，１２の両
方の媒体欠陥に対応する欠陥リストがそれぞれ記録され
る。すなわち、記録層１１の欠陥リスト記録領域１５に
記録された欠陥リストは、記録層１１の媒体欠陥に関す
る情報を有するのみでなく、記録層１２の媒体欠陥に関
する情報をも有し、同様に記録層１２の欠陥リスト記録
領域１５に記録された欠陥リストは、記録層１２の媒体
欠陥に関する情報を有するのみでなく、記録層１１の媒
体欠陥に関する情報をも有する。
の欠陥リスト記録領域１５には、記録層１１，１２の両
方の媒体欠陥に対応する欠陥リストがそれぞれ記録され
る。すなわち、記録層１１の欠陥リスト記録領域１５に
記録された欠陥リストは、記録層１１の媒体欠陥に関す
る情報を有するのみでなく、記録層１２の媒体欠陥に関
する情報をも有し、同様に記録層１２の欠陥リスト記録
領域１５に記録された欠陥リストは、記録層１２の媒体
欠陥に関する情報を有するのみでなく、記録層１１の媒
体欠陥に関する情報をも有する。
【００２８】欠陥リストとしては、従来のＤＶＤ−ＲＡ
Ｍと同様に１次欠陥リストと二次欠陥リストがある。図
２及び図３に、本実施形態において欠陥リスト記録領域
１５に記録される１次欠陥リスト及び二次欠陥リストの
例を示す。
Ｍと同様に１次欠陥リストと二次欠陥リストがある。図
２及び図３に、本実施形態において欠陥リスト記録領域
１５に記録される１次欠陥リスト及び二次欠陥リストの
例を示す。
【００２９】図２に示した１次欠陥リスト（ＰＤＬ）
は、１次欠陥リストであることを示す識別マーク２０が
付されており、登録番号２１に対応して欠陥セクタの物
理アドレス２２が記述される。欠陥セクタの物理アドレ
ス２２としては、第１の記録層１１の媒体欠陥による欠
陥セクタの物理アドレスと、第２の記録層１２の媒体欠
陥による欠陥セクタの物理アドレスの両方が含まれてい
る。
は、１次欠陥リストであることを示す識別マーク２０が
付されており、登録番号２１に対応して欠陥セクタの物
理アドレス２２が記述される。欠陥セクタの物理アドレ
ス２２としては、第１の記録層１１の媒体欠陥による欠
陥セクタの物理アドレスと、第２の記録層１２の媒体欠
陥による欠陥セクタの物理アドレスの両方が含まれてい
る。
【００３０】図３に示した２次欠陥リスト（ＳＤＬ）
は、２次欠陥リストであることを示す識別マーク３０が
付され、登録番号３１に対応して、欠陥を含む誤り訂正
ブロック（以下、欠陥ブロックという）の先頭セクタの
物理アドレス３２と、欠陥ブロックに代えて使用される
スペア領域上の誤り訂正ブロック（以下、代替ブロック
という）の先頭セクタの物理アドレス３３が記述され
る。なお、誤り訂正ブロックは例えば１６セクタで構成
される。
は、２次欠陥リストであることを示す識別マーク３０が
付され、登録番号３１に対応して、欠陥を含む誤り訂正
ブロック（以下、欠陥ブロックという）の先頭セクタの
物理アドレス３２と、欠陥ブロックに代えて使用される
スペア領域上の誤り訂正ブロック（以下、代替ブロック
という）の先頭セクタの物理アドレス３３が記述され
る。なお、誤り訂正ブロックは例えば１６セクタで構成
される。
【００３１】欠陥ブロックの先頭セクタの物理アドレス
３２としては、第１の記録層１１の媒体欠陥により生じ
た欠陥ブロックの先頭セクタの物理アドレスと、第２の
記録層１２の媒体欠陥により生じた欠陥ブロックの先頭
セクタの物理アドレスの両方が含まれている。また、代
替ブロックの先頭セクタの物理アドレス３３としては、
第１の記録層１１の媒体欠陥により生じた欠陥ブロック
の代替ブロックの先頭セクタの物理アドレスと、第２の
記録層１２の媒体欠陥により生じた欠陥ブロックの先頭
セクタの物理アドレスの両方が含まれている。
３２としては、第１の記録層１１の媒体欠陥により生じ
た欠陥ブロックの先頭セクタの物理アドレスと、第２の
記録層１２の媒体欠陥により生じた欠陥ブロックの先頭
セクタの物理アドレスの両方が含まれている。また、代
替ブロックの先頭セクタの物理アドレス３３としては、
第１の記録層１１の媒体欠陥により生じた欠陥ブロック
の代替ブロックの先頭セクタの物理アドレスと、第２の
記録層１２の媒体欠陥により生じた欠陥ブロックの先頭
セクタの物理アドレスの両方が含まれている。
【００３２】光ディスクの初期化時に、誤り検出／訂正
回路によって例えば１６セクタで構成される誤り訂正ブ
ロック中に欠陥セクタが検出されると、その欠陥セクタ
は使用されず、代わりに次のセクタが使用される。これ
をスリップ交替と呼ぶ。この場合、欠陥セクタには物理
アドレスが付与されず、代わりに使用される正常なセク
タにその欠陥セクタに付与される筈であった物理アドレ
スが付与される。
回路によって例えば１６セクタで構成される誤り訂正ブ
ロック中に欠陥セクタが検出されると、その欠陥セクタ
は使用されず、代わりに次のセクタが使用される。これ
をスリップ交替と呼ぶ。この場合、欠陥セクタには物理
アドレスが付与されず、代わりに使用される正常なセク
タにその欠陥セクタに付与される筈であった物理アドレ
スが付与される。
【００３３】光ディスクの初期化が終了すると、図２に
示した１次欠陥リストには、初期化時に検出された欠陥
セクタの物理アドレス２２が記録される。１次欠陥リス
トは記録層１１，１２のリードイン領域１３の末尾に、
それぞれ２重化されて記録される。初期化終了直後の段
階では、図２に示した２次欠陥リストには何も登録され
ていない。
示した１次欠陥リストには、初期化時に検出された欠陥
セクタの物理アドレス２２が記録される。１次欠陥リス
トは記録層１１，１２のリードイン領域１３の末尾に、
それぞれ２重化されて記録される。初期化終了直後の段
階では、図２に示した２次欠陥リストには何も登録され
ていない。
【００３４】光ディスクを使用中に、ある誤り訂正ブロ
ックからの読み出し時、または、ある誤り訂正ブロック
についてのベリファイ時に、誤り検出／訂正回路で誤り
訂正ブロックに規定数を超える誤りが検出された場合に
は、その誤り訂正ブロックは欠陥ブロックと見なされて
以後使用されず、代わりに光ディスク上に設定されてい
るスペア領域の誤り訂正ブロックが代替ブロックとして
使用される。これをリニア交替と呼ぶ。
ックからの読み出し時、または、ある誤り訂正ブロック
についてのベリファイ時に、誤り検出／訂正回路で誤り
訂正ブロックに規定数を超える誤りが検出された場合に
は、その誤り訂正ブロックは欠陥ブロックと見なされて
以後使用されず、代わりに光ディスク上に設定されてい
るスペア領域の誤り訂正ブロックが代替ブロックとして
使用される。これをリニア交替と呼ぶ。
【００３５】このとき、図３に示した２次欠陥リストに
は、使用されない欠陥ブロックと代替ブロックのそれぞ
れの先頭セクタの物理アドレス３２が記録される。２次
欠陥リストは記録層１１，１２のリードイン領域１３の
末尾に、それぞれ２重化されて記録される。１次欠陥リ
スト及び２次欠陥リスト全体として考えると、記録層１
１，１２のリードイン領域１３の末尾にそれぞれ２重化
されて記録されている欠陥リストの情報が更新されるこ
とになる。
は、使用されない欠陥ブロックと代替ブロックのそれぞ
れの先頭セクタの物理アドレス３２が記録される。２次
欠陥リストは記録層１１，１２のリードイン領域１３の
末尾に、それぞれ２重化されて記録される。１次欠陥リ
スト及び２次欠陥リスト全体として考えると、記録層１
１，１２のリードイン領域１３の末尾にそれぞれ２重化
されて記録されている欠陥リストの情報が更新されるこ
とになる。
【００３６】上述した１次欠陥リストと２次欠陥リスト
においては、第１の記録層１１の媒体欠陥に対応する欠
陥リストの記録領域と第２の記録層１２の媒体欠陥に対
応する欠陥リストの記録領域を等分としてもよい。ま
た、１次欠陥リストとして記録できる欠陥セクタの数
は、従来の単層媒体の場合に記録可能な欠陥セクタ数
（＝７６７９個）の２倍である１５３５８個、また２次
欠陥リストとして記録できる欠陥ブロックの数は従来の
単層媒体の場合に記録可能な欠陥ブロック数（＝３８３
７個）の２倍である７６７４個としてもよい。さらに、
第１の記録層１１と第２の記録層１２の記録密度が異な
る場合には、その割合に応じて欠陥リスト記録領域１５
に記録される記録層１１，１２の各々の媒体欠陥に対応
する欠陥リストの割合を分けたり、記録する欠陥セクタ
の個数や欠陥ブロックの個数を単層の場合の例えば１．
９倍というようにしてもよい。
においては、第１の記録層１１の媒体欠陥に対応する欠
陥リストの記録領域と第２の記録層１２の媒体欠陥に対
応する欠陥リストの記録領域を等分としてもよい。ま
た、１次欠陥リストとして記録できる欠陥セクタの数
は、従来の単層媒体の場合に記録可能な欠陥セクタ数
（＝７６７９個）の２倍である１５３５８個、また２次
欠陥リストとして記録できる欠陥ブロックの数は従来の
単層媒体の場合に記録可能な欠陥ブロック数（＝３８３
７個）の２倍である７６７４個としてもよい。さらに、
第１の記録層１１と第２の記録層１２の記録密度が異な
る場合には、その割合に応じて欠陥リスト記録領域１５
に記録される記録層１１，１２の各々の媒体欠陥に対応
する欠陥リストの割合を分けたり、記録する欠陥セクタ
の個数や欠陥ブロックの個数を単層の場合の例えば１．
９倍というようにしてもよい。
【００３７】次に、図４を参照して上記のようにして１
次欠陥リスト及び２次欠陥リストが欠陥リスト記録領域
１５に記録される光ディスクを用いて情報の記録及び再
生を行う光ディスク装置について説明する。
次欠陥リスト及び２次欠陥リストが欠陥リスト記録領域
１５に記録される光ディスクを用いて情報の記録及び再
生を行う光ディスク装置について説明する。
【００３８】図４において、光ディスク１は図１で説明
したものであり、光ディスク装置は光ディスク１がセッ
トされると、まずリード／ライトチャネル２を介して光
ディスク１の第１及び第２の記録層１１，１２のリード
イン領域１３の末尾の欠陥リスト記録領域１５に記録さ
れている１次欠陥リスト及び２次欠陥リストを読み取
る。全ての欠陥リスト記録領域１５に記録されている欠
陥リストの情報が一致している場合には、読み出された
欠陥リストの情報はそのまま使用されるが、一致してい
ない場合は最新の情報が使用される。リード／ライトチ
ャネル２を介して読み出され、使用されるものとされた
欠陥リストの情報は、欠陥リストメモリ３にコピーされ
る。
したものであり、光ディスク装置は光ディスク１がセッ
トされると、まずリード／ライトチャネル２を介して光
ディスク１の第１及び第２の記録層１１，１２のリード
イン領域１３の末尾の欠陥リスト記録領域１５に記録さ
れている１次欠陥リスト及び２次欠陥リストを読み取
る。全ての欠陥リスト記録領域１５に記録されている欠
陥リストの情報が一致している場合には、読み出された
欠陥リストの情報はそのまま使用されるが、一致してい
ない場合は最新の情報が使用される。リード／ライトチ
ャネル２を介して読み出され、使用されるものとされた
欠陥リストの情報は、欠陥リストメモリ３にコピーされ
る。
【００３９】この状態で光ディスク装置が上位装置、例
えばホストコンピュータＰＣからデータのアクセス命令
を受け取った場合、光ディスク装置は欠陥リストメモリ
３に記憶されている欠陥リストの情報を参照して、ホス
トコンピュータＰＣからのアクセス命令に含まれる、ア
クセス対象データの論理アドレスをアドレス変換テーブ
ル４により光ディスク１上の物理アドレスに変換する。
変換後の物理アドレスは、アドレス修正部５により適宜
修正される。
えばホストコンピュータＰＣからデータのアクセス命令
を受け取った場合、光ディスク装置は欠陥リストメモリ
３に記憶されている欠陥リストの情報を参照して、ホス
トコンピュータＰＣからのアクセス命令に含まれる、ア
クセス対象データの論理アドレスをアドレス変換テーブ
ル４により光ディスク１上の物理アドレスに変換する。
変換後の物理アドレスは、アドレス修正部５により適宜
修正される。
【００４０】アドレス変換に際しては、まず図２に示し
た１次欠陥リストが使用される。ここで、変換された物
理アドレスが仮に１次欠陥リストの先頭に記録されてい
る登録番号１の欠陥セクタ（第１の欠陥セクタ）の物理
アドレスよりは大きいが、登録番号２の欠陥セクタ（第
２の欠陥セクタ）の物理アドレスよりは小さいとする
と、第１の欠陥セクタの存在により、以後の諭理セクタ
と物理セクタの対応は１セクタ分ずれる。この場合、ア
ドレス変換テーブル４による変換後の物理アドレスに対
し、アドレス修正部５により１が加えられる。同様に、
変換後の物理アドレスが登録番号ｎの欠陥セクタよりは
大きいが、登録番号ｎ＋１の欠陥セクタより小さいか、
あるいは欠陥セクタの数がｎ個しかない場合には、変換
後の物理アドレスはそこまでの欠陥セクタの総数ｎ個分
ずらすために、アドレス修正部５によりｎを加えた値に
修正される。
た１次欠陥リストが使用される。ここで、変換された物
理アドレスが仮に１次欠陥リストの先頭に記録されてい
る登録番号１の欠陥セクタ（第１の欠陥セクタ）の物理
アドレスよりは大きいが、登録番号２の欠陥セクタ（第
２の欠陥セクタ）の物理アドレスよりは小さいとする
と、第１の欠陥セクタの存在により、以後の諭理セクタ
と物理セクタの対応は１セクタ分ずれる。この場合、ア
ドレス変換テーブル４による変換後の物理アドレスに対
し、アドレス修正部５により１が加えられる。同様に、
変換後の物理アドレスが登録番号ｎの欠陥セクタよりは
大きいが、登録番号ｎ＋１の欠陥セクタより小さいか、
あるいは欠陥セクタの数がｎ個しかない場合には、変換
後の物理アドレスはそこまでの欠陥セクタの総数ｎ個分
ずらすために、アドレス修正部５によりｎを加えた値に
修正される。
【００４１】次に、修正後の物理アドレスが図３に示し
た２次欠陥リストに登録されている欠陥ブロックの先頭
セクタの物理アドレスのいずれかと一致するかどうかを
検索する。ここで、もし修正後の物理アドレスと２次欠
陥リストに登録されている欠陥ブロックの先頭セクタの
物理アドレスのいずれかと一致したならば、つまり修正
後の物理アドレスが２次欠陥リストに登録されていたな
らば、その物理アドレスはアドレス修正部５により２次
欠陥リスト内の代替ブロックの対応する物理アドレスに
変更される。
た２次欠陥リストに登録されている欠陥ブロックの先頭
セクタの物理アドレスのいずれかと一致するかどうかを
検索する。ここで、もし修正後の物理アドレスと２次欠
陥リストに登録されている欠陥ブロックの先頭セクタの
物理アドレスのいずれかと一致したならば、つまり修正
後の物理アドレスが２次欠陥リストに登録されていたな
らば、その物理アドレスはアドレス修正部５により２次
欠陥リスト内の代替ブロックの対応する物理アドレスに
変更される。
【００４２】こうして光ディスク１に記録されている１
次欠陥リスト及び２次欠陥リストを使用して、アドレス
変換テーブル４により論理アドレスから物理アドレスへ
と変換され、さらにアドレス修正部５により適宜修正さ
れた物理アドレスは、リード／ライトチャネル２に渡さ
れ、光ディスク１上の実際のデータに対してアクセスが
行われる。
次欠陥リスト及び２次欠陥リストを使用して、アドレス
変換テーブル４により論理アドレスから物理アドレスへ
と変換され、さらにアドレス修正部５により適宜修正さ
れた物理アドレスは、リード／ライトチャネル２に渡さ
れ、光ディスク１上の実際のデータに対してアクセスが
行われる。
【００４３】このように本実施形態の光ディスクでは、
記録層１１，１２の各欠陥リスト記録領域１５に記録層
１１，１２の両方の媒体欠陥に関する情報を有する欠陥
リストを記録することにより、欠陥管理の信頼性が向上
する。
記録層１１，１２の各欠陥リスト記録領域１５に記録層
１１，１２の両方の媒体欠陥に関する情報を有する欠陥
リストを記録することにより、欠陥管理の信頼性が向上
する。
【００４４】すなわち、従来の単層媒体の場合の欠陥管
理を片面２層媒体にそのまま適用して、各記録層にそれ
自身の媒体欠陥に関する情報のみを有する欠陥リストを
記録する方式では、いずれか一方の記録層の欠陥リスト
記録領域からの欠陥リストを読み出すことができなくな
ると、その記録層全体を使用できなくなるという問題が
あるが、本実施形態では欠陥リストを読み出すことがで
きなくなった記録層とは別の記録層に記録された欠陥リ
ストを読み出すことで欠陥管理を行うことができ、この
ような問題点が解消される。
理を片面２層媒体にそのまま適用して、各記録層にそれ
自身の媒体欠陥に関する情報のみを有する欠陥リストを
記録する方式では、いずれか一方の記録層の欠陥リスト
記録領域からの欠陥リストを読み出すことができなくな
ると、その記録層全体を使用できなくなるという問題が
あるが、本実施形態では欠陥リストを読み出すことがで
きなくなった記録層とは別の記録層に記録された欠陥リ
ストを読み出すことで欠陥管理を行うことができ、この
ような問題点が解消される。
【００４５】また、本実施形態では記録層１１，１２の
合計した欠陥の数（欠陥セクタ数、欠陥ブロック数）で
欠陥管理を行う方法をとると、欠陥リストの使用効率が
向上する可能性がある。
合計した欠陥の数（欠陥セクタ数、欠陥ブロック数）で
欠陥管理を行う方法をとると、欠陥リストの使用効率が
向上する可能性がある。
【００４６】さらに、本実施形態では欠陥リスト記録領
域１５を記録層１１，１２のリードイン領域１３の末尾
に限定することによって、欠陥管理の信頼性を損なうこ
となく、ゾーンＣＬＶ方式でのゾーン切り替によるディ
スク回転数の変更に伴うアクセス時間の増大を回避する
こともできる。
域１５を記録層１１，１２のリードイン領域１３の末尾
に限定することによって、欠陥管理の信頼性を損なうこ
となく、ゾーンＣＬＶ方式でのゾーン切り替によるディ
スク回転数の変更に伴うアクセス時間の増大を回避する
こともできる。
【００４７】次に、図５〜図９を参照して本発明の他の
実施形態に係る光ディスクについて説明する。以下の実
施形態では、基本的に欠陥リスト記録領域１５の配置が
第１の実施形態と異なっている。
実施形態に係る光ディスクについて説明する。以下の実
施形態では、基本的に欠陥リスト記録領域１５の配置が
第１の実施形態と異なっている。
【００４８】（第２の実施形態）図５は、本発明の第２
の実施形態に係る光ディスクの断面図であり、欠陥リス
ト記録領域１５は第１の記録層１１及び第２の記録層１
２のリードアウ卜領域１４の先頭に配置されている。こ
の場合も、記録層１１，１２のリードアウ卜領域１４の
欠陥リスト記録領域１５には、記録層１１，１２の両方
に対応する欠陥リストがそれぞれ記録される。その他の
点は、第１の実施形態と同様である。
の実施形態に係る光ディスクの断面図であり、欠陥リス
ト記録領域１５は第１の記録層１１及び第２の記録層１
２のリードアウ卜領域１４の先頭に配置されている。こ
の場合も、記録層１１，１２のリードアウ卜領域１４の
欠陥リスト記録領域１５には、記録層１１，１２の両方
に対応する欠陥リストがそれぞれ記録される。その他の
点は、第１の実施形態と同様である。
【００４９】本実施形態によると、欠陥リスト記録領域
１５の位置が第１の実施形態におけけるリードイン領域
１３からリードアウト領域１４に変わっただけであり、
基本的に第１の実施形態と同様の効果が得られる。
１５の位置が第１の実施形態におけけるリードイン領域
１３からリードアウト領域１４に変わっただけであり、
基本的に第１の実施形態と同様の効果が得られる。
【００５０】（第３の実施形態）図６は、本発明の第３
の実施形態に係る光ディスクの記録層１１，１２の断面
図であり、欠陥リスト記録領域１５は第１の記録層１１
のリードイン領域１３の末尾とリードアウ卜領域１４の
先頭に配置されている。
の実施形態に係る光ディスクの記録層１１，１２の断面
図であり、欠陥リスト記録領域１５は第１の記録層１１
のリードイン領域１３の末尾とリードアウ卜領域１４の
先頭に配置されている。
【００５１】本実施形態によると、記録層１１，１２の
両方の媒体欠陥に関する１次及び２次欠陥リストが記録
層１１のみに配置された欠陥リスト記録領域１５に記録
されるため、光ディスク１を光ディスク装置にセットし
た際には、この欠陥リスト記録領域１５に記録された欠
陥リストのみを読み出すことで欠陥管理が可能となり、
光ディスク１を光ディスク装置にセットしてからデータ
の書き込み／読み出しが可能になるまでの待ち時間を短
縮することができる。
両方の媒体欠陥に関する１次及び２次欠陥リストが記録
層１１のみに配置された欠陥リスト記録領域１５に記録
されるため、光ディスク１を光ディスク装置にセットし
た際には、この欠陥リスト記録領域１５に記録された欠
陥リストのみを読み出すことで欠陥管理が可能となり、
光ディスク１を光ディスク装置にセットしてからデータ
の書き込み／読み出しが可能になるまでの待ち時間を短
縮することができる。
【００５２】すなわち、欠陥リスト記録領域１５から欠
陥リストを読み出すのにゾーンの切り替え時間は必要と
なるが、記録層１１から記録層１２への切り替え時間は
不要となるため、この分だけ各記録層毎にその記録層の
みの媒体欠陥に関する欠陥リストをそれぞれ記憶する片
面２層媒体に比べて欠陥管理の高速化が可能となる。
陥リストを読み出すのにゾーンの切り替え時間は必要と
なるが、記録層１１から記録層１２への切り替え時間は
不要となるため、この分だけ各記録層毎にその記録層の
みの媒体欠陥に関する欠陥リストをそれぞれ記憶する片
面２層媒体に比べて欠陥管理の高速化が可能となる。
【００５３】また、同じ第１の記録層１１のリードイン
領域の末尾とリードアウト領域の先頭に配置された欠陥
リスト記録領域１５からの欠陥リストの読み出しが共に
できなくなる可能性が小さいために、本実施形態におい
ても欠陥管理の信頼性は確保される。
領域の末尾とリードアウト領域の先頭に配置された欠陥
リスト記録領域１５からの欠陥リストの読み出しが共に
できなくなる可能性が小さいために、本実施形態におい
ても欠陥管理の信頼性は確保される。
【００５４】なお、本実施形態においては記録層１１の
みに欠陥リスト記録領域１５が設定されているため、記
録層１１のデータ記録容量は記録層１２より低下する。
例えば、第１の実施形態で説明した数値例で計算する
と、欠陥リストの情報量は記録層１１のリードイン領域
１３側及びリードアウト領域１４側の欠陥リスト記録領
域１５では、それぞれ１次欠陥リスト及び２次欠陥リス
トが２重書きされるとして、１５，３５８個＋（７，６
７４個＊２）＊２＊４バイト＝２４５，６４８バイト、
リードイン領域１３側とリードアウト領域１４側の合計
で２４５，６４８＊２＝４９１，２９６バイトになる。
みに欠陥リスト記録領域１５が設定されているため、記
録層１１のデータ記録容量は記録層１２より低下する。
例えば、第１の実施形態で説明した数値例で計算する
と、欠陥リストの情報量は記録層１１のリードイン領域
１３側及びリードアウト領域１４側の欠陥リスト記録領
域１５では、それぞれ１次欠陥リスト及び２次欠陥リス
トが２重書きされるとして、１５，３５８個＋（７，６
７４個＊２）＊２＊４バイト＝２４５，６４８バイト、
リードイン領域１３側とリードアウト領域１４側の合計
で２４５，６４８＊２＝４９１，２９６バイトになる。
【００５５】このように記録層１１，１２のデータ記録
容量にアンバランスがあると不都合な場合には、例えば
代替ブロックの個数を欠陥リスト領域１５のない記録層
１２の方でより多くすることで調整することができる。
容量にアンバランスがあると不都合な場合には、例えば
代替ブロックの個数を欠陥リスト領域１５のない記録層
１２の方でより多くすることで調整することができる。
【００５６】（第４の実施形態）図７は、本発明の第４
の実施形態に係る光ディスクの記録層１１，１２の断面
図である。本実施形態は、欠陥リスト記録領域１５が第
２の記録層１２のリードイン領域１３の末尾とリードア
ウ卜領域１４の先頭に配置されている点が第３の実施形
態と異なり、その効果は第３の実施形態と同様であるの
で、詳細な説明は省略する。
の実施形態に係る光ディスクの記録層１１，１２の断面
図である。本実施形態は、欠陥リスト記録領域１５が第
２の記録層１２のリードイン領域１３の末尾とリードア
ウ卜領域１４の先頭に配置されている点が第３の実施形
態と異なり、その効果は第３の実施形態と同様であるの
で、詳細な説明は省略する。
【００５７】（第５の実施形態）図８は、本発明の第５
の実施形態に係る光ディスクの記録層１１，１２の断面
図である。本実施形態では、欠陥リスト記録領域１５は
第１の記録層１１のリードアウ卜領域１３の末尾とリー
ドアウト領域１４の先頭及び第２の記録層１２のリード
アウ卜領域１３の末尾とリードアウト領域１４の先頭に
配置されている。この場合も、各欠陥リスト記録領域１
５には、記録層１１，１２の両方に対応する欠陥リスト
がそれぞれ記録される。
の実施形態に係る光ディスクの記録層１１，１２の断面
図である。本実施形態では、欠陥リスト記録領域１５は
第１の記録層１１のリードアウ卜領域１３の末尾とリー
ドアウト領域１４の先頭及び第２の記録層１２のリード
アウ卜領域１３の末尾とリードアウト領域１４の先頭に
配置されている。この場合も、各欠陥リスト記録領域１
５には、記録層１１，１２の両方に対応する欠陥リスト
がそれぞれ記録される。
【００５８】本実施形態によると、各記録層にその記録
層自身の媒体欠陥に関する欠陥リストをそれぞれ記憶す
る片面２層媒体に比べて高速性は特に向上しないが、欠
陥管理の信頼性はこれまでの実施形態よりさらに向上す
る。
層自身の媒体欠陥に関する欠陥リストをそれぞれ記憶す
る片面２層媒体に比べて高速性は特に向上しないが、欠
陥管理の信頼性はこれまでの実施形態よりさらに向上す
る。
【００５９】（第６の実施形態）図９は、本発明の第６
の実施形態に係る光ディスクの記録層１１，１２の断面
図である。本実施形態では、欠陥リスト記録領域１５は
第１の記録層１１のリードアウ卜領域１３の末尾及び第
２の記録層１２のリードアウ卜領域１３の末尾とリード
アウト領域１４の先頭に配置されている。この場合も、
各欠陥リスト記録領域１５には、記録層１１，１２の両
方に対応する欠陥リストがそれぞれ記録される。
の実施形態に係る光ディスクの記録層１１，１２の断面
図である。本実施形態では、欠陥リスト記録領域１５は
第１の記録層１１のリードアウ卜領域１３の末尾及び第
２の記録層１２のリードアウ卜領域１３の末尾とリード
アウト領域１４の先頭に配置されている。この場合も、
各欠陥リスト記録領域１５には、記録層１１，１２の両
方に対応する欠陥リストがそれぞれ記録される。
【００６０】このように第１及び第２の記録層１１，１
２のそれぞれのリードイン領域１３の末尾及びリードア
ウト領域１４の先頭のうち、いずれか一つ複数の領域に
欠陥リスト記録領域１５を配置しない構成としても、こ
れまでの実施形態と同様の効果を得ることができる。
２のそれぞれのリードイン領域１３の末尾及びリードア
ウト領域１４の先頭のうち、いずれか一つ複数の領域に
欠陥リスト記録領域１５を配置しない構成としても、こ
れまでの実施形態と同様の効果を得ることができる。
【００６１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば片
面２層媒体のような複数の記録層を有する光ディスクに
おいて、少なくとも一つの記録層に媒体欠陥に関する情
報を有する欠陥リストを記録し、その欠陥リストに欠陥
リストが記録される記録層の数及び位置によらず全ての
記録層の媒体欠陥に関する情報を持たせることにより、
欠陥管理の信頼性向上、高速アクセスの実現を図ること
ができる。
面２層媒体のような複数の記録層を有する光ディスクに
おいて、少なくとも一つの記録層に媒体欠陥に関する情
報を有する欠陥リストを記録し、その欠陥リストに欠陥
リストが記録される記録層の数及び位置によらず全ての
記録層の媒体欠陥に関する情報を持たせることにより、
欠陥管理の信頼性向上、高速アクセスの実現を図ること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る光ディスクにお
ける欠陥リスト記録領域を説明する図
ける欠陥リスト記録領域を説明する図
【図２】本発明における１次欠陥リストの構造の例を説
明する図
明する図
【図３】本発明における２次欠陥リストの構造の例を説
明する図
明する図
【図４】本発明に係る光ディスク装置の一実施形態の構
成を示すブロック図
成を示すブロック図
【図５】本発明の第２の実施形態に係る光ディスクにお
ける欠陥リスト記録領域を説明する図
ける欠陥リスト記録領域を説明する図
【図６】本発明の第３の実施形態に係る光ディスクにお
ける欠陥リスト記録領域を説明する図
ける欠陥リスト記録領域を説明する図
【図７】本発明の第４の実施形態に係る光ディスクにお
ける欠陥リスト記録領域を説明する図
ける欠陥リスト記録領域を説明する図
【図８】本発明の第５の実施形態に係る光ディスクにお
ける欠陥リスト記録領域を説明する図
ける欠陥リスト記録領域を説明する図
【図９】本発明の第６の実施形態に係る光ディスクにお
ける欠陥リスト記録領域を説明する図
ける欠陥リスト記録領域を説明する図
１…光ディスク ２…リード／ライトチャネル（書き込み／読み出し手
段） ３…欠陥リストメモリ ４…アドレス変換テーブル ５…アドレス修正部 ６…ホストコンピュータ １０…基板 １１…第１の記録層 １２…第２の記録層 １３…リードイン領域 １４…リードアウト領域 １５…欠陥リスト情報記録領域
段） ３…欠陥リストメモリ ４…アドレス変換テーブル ５…アドレス修正部 ６…ホストコンピュータ １０…基板 １１…第１の記録層 １２…第２の記録層 １３…リードイン領域 １４…リードアウト領域 １５…欠陥リスト情報記録領域
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ１１Ｂ 27/00 Ｄ (72)発明者 竹原 慎太郎 神奈川県川崎市幸区小向東芝町１番地 株 式会社東芝研究開発センター内 (72)発明者 長谷川 裕 神奈川県川崎市幸区小向東芝町１番地 株 式会社東芝研究開発センター内 Ｆターム(参考） 5D029 JB05 5D044 BC06 CC04 DE02 DE38 DE52 DE62 DE64 FG18 GK12 5D090 AA01 BB04 CC01 CC04 FF27 FF36 5D110 AA17 DA07 DB02
Claims (3)
- 【請求項１】複数の記録層を有する光ディスクにおい
て、 少なくとも一つの記録層に媒体欠陥に関する情報を有す
る欠陥リストが記録され、かつ該欠陥リストはこれが記
録される記録層及び他の全ての記録層の媒体欠陥に関す
る情報を有することを特徴とする光ディスク。 - 【請求項２】基板上に書き換え可能な第１及び第２の記
録層が積層された光ディスクにおいて、 前記第１及び第２の記録層の少なくとも一方に媒体欠陥
に関する情報を有する欠陥リストが記録され、かつ該欠
陥リストは前記第１及び第２の記録層の両方の媒体欠陥
に関する情報を有することを特徴とする光ディスク。 - 【請求項３】請求項１または２記載の光ディスクから前
記欠陥リストを読み出す欠陥リスト読み出し手段と、 読み出された欠陥リストを記憶する記憶手段と、 前記光ディスク上のアクセス対象データの論理アドレス
を前記記憶手段に記憶された欠陥リストを用いて前記光
ディスク上の物理アドレスに変換するアドレス変換手段
と、 前記アドレス変換手段により得られた物理アドレスを用
いて前記光ディスクに対しデータの書き込み／読み出し
を行うデータ書き込み／読み出し手段とを有することを
特徴とする光ディスク装置。
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| JP11186994A JP2001014808A (ja) | 1999-06-30 | 1999-06-30 | 光ディスク及び光ディスク装置 |
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| JP11186994A JP2001014808A (ja) | 1999-06-30 | 1999-06-30 | 光ディスク及び光ディスク装置 |
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