CN110310675A - 磁盘装置以及读取处理方法 - Google Patents

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Abstract

实施方式提供能够防止读取性能的下降的磁盘装置以及读取处理方法。实施方式所涉及的磁盘装置具备：盘，其具有登记有事先检测出的不能读取的先发不良扇区的第1列表和登记后发不良扇区的第2列表；头，其对所述盘写入数据，从所述盘读取数据；和控制器，其将位于从已登记于所述第1列表的第1不良扇区朝向所述盘中不能读取的第2不良扇区的第1方向上的第1扇区登记于所述第2列表，并将与已登记于所述第2列表的所述第1扇区相对应的第1地址重新分配给第1代替扇区。

Description

磁盘装置以及读取处理方法
相关申请
本申请享受以日本专利申请2018－52915号(申请日：2018年3月20日)为在先申请的优先权。本申请通过参照该在先申请而包含在先申请的全部内容。
技术领域
本发明的实施方式涉及磁盘装置以及读取处理方法。
背景技术
磁盘装置具有：P列表(初始列表)，登记了包含通过出厂前的检查检测出的损伤等缺陷的扇区(以下称为不良扇区)；和G列表(增长列表)，登记在出厂后检测出的不良扇区。通常，在出厂前能够没有问题地写入以及读取的包含较轻的损伤等轻度的缺陷的扇区有可能没有被登记于P列表。这样的包含轻度的缺陷的扇区有可能位于已被登记于P列表的不良扇区等的附近。因此，当在出厂后在已被登记于P列表的不良扇区的附近检测到不良扇区的情况下，位于已被登记于P列表的不良扇区和在出厂后检测出的不良扇区的附近的扇区有可能由于经年劣化(老化)和/或周边的已被登记于P列表和/或G列表的不良扇区的损伤的成长等而变成不良扇区。
发明内容
本发明的实施方式提供能够防止读取性能的下降的磁盘装置以及读取处理方法。
本实施方式涉及的磁盘装置具备：盘，其具有登记有事先检测出的不能读取的先发不良扇区的第1列表和登记后发不良扇区的第2列表；头，其对所述盘写入数据，从所述盘读取数据；和控制器，其将位于从已登记于所述第1列表的第1不良扇区朝向所述盘中不能读取的第2不良扇区的第1方向上的第1扇区登记于所述第2列表，并将与已登记于所述第2列表的所述第1扇区相对应的第1地址重新分配给第1代替扇区。
附图说明
图1是表示实施方式所涉及的磁盘装置的构成的框图。
图2是表示实施方式所涉及的扩展不良扇区的检测方法的一例的图。
图3是表示实施方式所涉及的扩展不良扇区的检测方法的一例的图。
图4是表示实施方式所涉及的扩展不良扇区的检测方法的一例的图。
图5是表示实施方式所涉及的扩展不良扇区的检测方法的一例的图。
图6是表示实施方式所涉及的读取处理方法的一例的流程图。
图7是表示变形例所涉及的读取处理方法的一例的流程图。
具体实施方式
以下一边参照附图一边对实施方式进行说明。另外，附图只是一例，并不限定发明的范围。
(实施方式)
图1是表示实施方式所涉及的磁盘装置1的构成的框图。
磁盘装置1具备：后述的头盘组件(HDA)、驱动器IC20、头放大集成电路(以下称为头放大器IC或前置放大器)30、易失性存储器70、缓冲存储器(缓存)80、非易失性存储器90、和作为1芯片的集成电路的系统控制器130。另外，磁盘装置1被与主机系统(以下简称为主机)100连接。
HDA具有：磁盘(以下称为盘)10、主轴马达(以下称为SPM)12、搭载着头15的臂13、和音圈马达(以下称为VCM)14。盘10被安装于主轴马达12，通过主轴马达12的驱动而旋转。臂13以及VCM14构成致动器。致动器通过VCM14的驱动，控制搭载于臂13的头15而将其移动到盘10上的目标位置为止。盘10以及头15也可以设有2个以上的个数。
盘10在其的能够写入数据的区域，分配有：用户能够利用的用户数据区域10a；和写入系统管理所需要的信息的系统区域10b。以下，将与盘10的半径方向正交的方向称为圆周方向。另外，所谓“访问”，设为包含“向盘10写入数据”和“从盘10读取数据”这双方的含义而使用。用户数据区域10a包含代替区域CA。另外，代替区域CA也可以被设置于系统区域10b。系统区域10b包含P列表(初始列表)PL、G列表(增长(Grown)列表)GL和磁道滑移(TrackSlip)信息TSI。P列表PL、G列表GL和磁道滑移信息TSI也可以被保存于后述的易失性存储器70、非易失性存储器90等。另外，在一例中，在系统区域10b，保存P列表PL的记录区域的容量比保存G列表GL的记录区域的容量大。
P列表PL包含对通过磁盘装置1的出厂前的盘10的损伤等缺陷(或Defect)的检查事先检测出的具有缺陷的扇区(以下称为不良扇区或先发不良扇区)进行管理的信息。P列表PL基于例如盘10的数据结构的地址映射而生成。扇区为例如向盘10写入数据时的最小单位的记录区域。在一例中，1扇区为512byte或4Kbyte的量的盘10的记录区域。以下，也有将“读取被写入到扇区的数据”简单地表达为“读取扇区”的情况。
G列表GL包含用于对在磁盘装置1的出厂后的扇区访问中检测出的不良扇区(以下有时也称为后发不良扇区)进行管理的信息。G列表GL对于通过出厂后的扇区访问中检测出的全部不良扇区，表示这些不良扇区的LBA(Logical Block Address，逻辑块地址)或物理地址等地址与代替这些不良扇区而使用的代替扇区的对应。代替扇区被设置于代替区域CA。以下，为了说明的方便，有时候将“扇区的地址(LBA、物理地址等)”简称为“扇区”。G列表GL在出厂前完全没有登记与后发不良扇区有关的信息(后发不良扇区的地址等)，在出厂后每次检测到后发不良扇区都登记与后发不良扇区有关的信息。
磁道滑移(Track Slip)信息TSI包含对通过磁盘装置1的出厂前的盘10的缺陷的检查检测出的具有整体摆动等缺陷的磁道(以下称为不良磁道)进行管理的信息。
头15将滑块作为主体，具备被安装于该滑块的写入头15W和读取头15R。写入头15W向盘10上写入数据。读取头15R读取被记录于盘10上的数据磁道的数据。
驱动器IC20按照系统控制器130(详细地说为后述的MPU60)的控制，控制SPM12以及VCM14的驱动。
头放大器IC(前置放大器)30具备读取放大器以及写入驱动器。读取放大器对从盘10读取出的读取信号进行放大，向系统控制器130(详细地说为后述的读取/写入(R/W)通道40)输出。写入驱动器将与从R/W通道40输出的信号相应的写入电流向头15输出。
易失性存储器70是在电力供给被切断时所保存的数据丢失的半导体存储器。易失性存储器70保存磁盘装置1的各部分的处理所需要的数据等。易失性存储器70为例如SRAM(Static Random Access Memory,静态随机存取存储器)、DRAM(Dynamic Random AccessMemory,动态随机存取存储器)、或SDRAM(Synchronous Dynamic Random Access Memory,同步动态随机存取存储器)。
缓冲存储器80为暂时记录在磁盘装置1与主机100之间发送接收的数据等的半导体存储器。另外，缓冲存储器80也可以与易失性存储器70构成为一体。缓冲存储器80为例如DRAM、SRAM、SDRAM、FeRAM(Ferroelectric Random Access memory,铁电随机存取存储器)、或MRAM(Magnetoresistive Random Access Memory,磁阻式随机存取存储器)等。
非易失性存储器90为即使电力供给被切断也记录所保存的数据的半导体存储器。非易失性存储器90为例如NOR型或NAND型的闪速ROM(Flash Read Only Memory:FROM,闪速只读存储器)。
系统控制器(控制器)130使用例如将多个元件集成于一块芯片的被称为System-on-a-Chip(SoC)的大规模集成电路(LSI)而实现。系统控制器130包含读取/写入(R/W)通道40、硬盘控制器(HDC)50、和微型处理器(MPU)60。系统控制器130被电连接于例如驱动器IC20、头放大器IC30、易失性存储器70、缓冲存储器80、非易失性存储器90、以及主机系统100等。
R/W通道40根据来自后述的MPU60的指示，执行从盘10向主机100传送的读取数据以及从主机100传送的写入数据的信号处理。R/W通道40具有测定读取数据的信号品质的电路、或功能。R/W通道40被电连接于例如头放大器IC30、HDC50、以及MPU60等。
HDC50根据来自后述的MPU60的指示，控制主机100与R/W通道40之间的数据传送。HDC50被电连接于例如R/W通道40、MPU60、易失性存储器70、缓冲存储器80、以及非易失性存储器90等。
MPU60为控制磁盘装置1的各部分的主控制器。MPU60经由驱动器IC20控制VCM14，执行进行头15的定位的伺服控制。MPU60控制向盘10写入数据的写入动作，并且选择写入数据的保存目的地。另外，MPU60控制从盘10读取数据的读取动作，并且控制读取数据的处理。MPU60被连接于磁盘装置1的各部分。MPU60被电连接于例如驱动器IC20、R/W通道40、以及HDC50等。
MPU60具备读取/写入控制部61、校验(verify)处理部62、数据修复部63、和检测部64。MPU60在固件上执行这些各部分例如读取/写入控制部61、校验处理部62、数据修复部63、以及检测部64等的处理。另外，MPU60也可以将这些各部分作为电路而具备。
读取/写入控制部61按照来自主机100的命令，控制数据的读取处理以及写入处理。读取/写入控制部61经由驱动器IC20控制VCM14，将头15定位于盘10上的目标位置，读取或写入数据。例如，在通过来自主机100的命令而接受了对被登记于G列表GL的不良扇区(以下有时也称为G扇区)读取的指示、或向该G扇区写入的指示的情况下，读取/写入控制部61基于G列表GL，读取与所指示的G扇区相对应的代替扇区，或向该代替扇区写入。当在预定的扇区产生了读取错误的情况下，读取/写入控制部61执行再次读取产生了读取错误的扇区的处理(以下称为重试处理)。在执行预定的次数(以下称为重试阈值)例如几次～几百次以上的次数的重试处理仍在预定的扇区产生了读取错误的情况下，读取/写入控制部61向主机100输出表示该扇区进行重试阈值以上的次数的重试处理仍是读取错误的信号、例如表示是未修复错误的信号。
校验处理部62执行下述处理(以下称为校验处理)：读取被写入到盘10的预定的扇区的数据，核对(或验证)是能够正常读取还是不能正常读取被写入到该扇区的数据。例如，在产生了读取错误但通过比重试阈值小的次数能够读取了预定的扇区的情况下，校验处理部62对该预定的扇区执行校验处理。在不能正常读取预定的扇区的数据的情况下，校验处理部62向例如后述的数据修复部63输出下述信号：指示修复该扇区的数据，执行对包含该扇区的磁道进行改写的处理(以下称为重写入处理)。
数据修复部63对不能正常读取数据的预定的扇区进行修复，对包含该扇区的磁道执行重写入处理。
检测部64检测不良扇区和位于该不良扇区可能扩展的方向(以下有时也称为扩展方向)上的具有变为不良扇区的可能性的扇区(以下称为扩展不良扇区)。例如，检测部64将通过重试阈值以上的次数的重试处理也不能读取且执行重写入处理也不能读取的扇区检测为不良扇区(以下称为对象不良扇区)。另外，检测部64也可以将通过重试阈值以上的次数的重试处理也不能读取的扇区或执行重试处理也不能读取的扇区检测为对象不良扇区。在检测到了对象不良扇区的情况下，检测部64读取P列表PL以及磁道滑移信息TSI等，基于P列表PL、磁道滑移信息、以及对象不良扇区等，检测具有变为不良扇区的可能性的扇区(以下称为扩展不良扇区)。例如，检测部64基于P列表PL、磁道滑移信息TSI、以及对象不良扇区，检测位于被登记于P列表PL的不良扇区(以下称为P扇区)或被登记于磁道滑移信息的不良磁道(以下称为滑移磁道)与对象不良扇区之间的扩展不良扇区。另外，在对象不良扇区在P扇区或滑移磁道上连续排列的情况下，检测部64基于P列表PL、磁道滑移信息TSI、以及对象不良扇区,检测在从P扇区朝向对象不良扇区的扩展方向上与对象不良扇区连续排列的扩展不良扇区。以下，有时候也包含“连续排列”和/或“位于直接与扇区接触的位置”等而表达为“相邻”。
检测部64将不良扇区以及扩展不良扇区分别登记于G列表GL以及P列表PL。另外，在将检测出的不良扇区分别登记于G列表GL以及P列表PL的情况下，检测部64也可以以在G列表GL以及P列表PL中变为相同形式的方式登记不良扇区。例如，在扩展不良扇区位于P扇区与对象不良扇区之间的情况下，检测部64判定检测出的扩展不良扇区的数目为阈值(以下称为登记阈值)以下还是比登记阈值大。在这里，登记阈值为例如1～2。另外，登记阈值也可以为例如比2大的数。在判定为扩展不良扇区的数目为登记阈值以下的情况下，检测部64将对象不良扇区与扩展不良扇区分别登记于P列表PL以及G列表GL。这样，检测部64通过将扩展不良扇区以及对象不良扇区分别登记于P列表PL以及G列表GL，当在对象不良扇区(以下称为当前的对象不良扇区)的附近检测到下一对象不良扇区的情况下，能够进一步判定是将位于下一对象不良扇区与当前的对象不良扇区(P扇区)的附近的扩展不良扇区登记于P列表以及G列表还是不登记。在判定为扩展不良扇区的数目比登记阈值大的情况下，检测部64不将扩展不良扇区登记于P列表PL以及G列表GL，将对象不良扇区分别登记于P列表PL以及G列表。另外，在对象不良扇区与P扇区相邻的情况下，检测部64将对象不良扇区和与该对象不良扇区在扩展方向上相邻的登记阈值以下的数目的扩展不良扇区分别登记于P列表PL以及G列表GL。
检测部64执行使G扇区(所对应的地址)和/或P扇区(所对应的地址)与代替扇区相对应的处理(以下有时也称为替换处理)。以下，将“使预定的扇区(所对应的地址)与预定的代替扇区相对应(或重新分配)”称为“替换”。例如，在已将对象不良扇区以及扩展不良扇区分别登记于P列表PL以及G列表GL的情况下，检测部64将已分别登记于P列表PL以及G列表GL的对象不良扇区以及扩展不良扇区分别替换为代替扇区。另外，在已将对象不良扇区分别登记于P列表PL以及G列表GL的情况下，检测部64将已分别登记于P列表PL以及G列表GL的对象不良扇区分别替换为代替扇区。
图2是表示本实施方式所涉及的扩展不良扇区的检测方法的一例的图。在图2中，示出用户数据区域10a的Track n-3、Track n-2、Track n-1、Track n、Track n+1、Track n+2、以及Track n+3。在图2中，对在圆周方向上排列的各扇区，赋予扇区编号k-5、k-4、k-3、k-2、k-1、k、k+1、k+2、k+3、k+4、以及k+5。扇区编号k-5至k+5的扇区按照该扇区编号的顺序在圆周方向上连续排列。相同扇区编号的扇区在半径方向上连续排列。在图2所示的示例中，Track n-3包含扇区S1k－4以及1k，Track n-2包含扇区S2k－4以及扇区2k，Track n-3包含扇区S3k－4以及扇区3k。另外，Track n包含扇区S4k－4以及扇区4k，Track n+1包含扇区S5k－4以及扇区5k，Track n+2包含扇区S6k－4以及扇区6k，Track n+3包含扇区S7k－4以及扇区7k。扇区S1k、S2k、S3k、S4k、S5k、S6k、以及S7k按照该顺序在半径方向上连续排列。另外，扇区S1k－4、S2k－4、S3k－4、S4k－4、S5k－4、S6k－4、以及S7k－4按照该顺序在半径方向上连续排列。另外，在图2中，为了图示的方便，记载为各磁道在直线上延伸，但实际上按照图1所示的盘10的形状弯曲。在图2所示的示例中，P扇区PS包含扇区S4k至S7k、和扇区S4k－4至S7k－4。在图2中，登记阈值为1。
在检测到了对象不良扇区S2k的情况下，检测部64基于P列表PL以及对象不良扇区S2k，检测位于作为P扇区PS的扇区S4k至S7k与对象不良扇区S2k之间的扩展不良扇区S3k。检测部64判定检测出的扩展不良扇区的数目(1)为登记阈值(1)以下还是为比登记阈值(1)大的数目。检测部64判定为扩展不良扇区的数目(1)为登记阈值(1)以下，将对象不良扇区S2k以及扩展不良扇区S3k分别登记于P列表PL以及G列表GL，将已分别登记于P列表PL以及G列表GL的不良扇区S2k以及扩展不良扇区S3k分别替换为代替扇区。
另外，在检测到了与作为P扇区PS的扇区S4k－4至S7k－4相邻的对象不良扇区S3k－4的情况下，检测部64基于P列表PL以及对象不良扇区S3k－4，将对象不良扇区S3k－4和与对象不良扇区S3k－4在扩展方向上相邻的扩展不良扇区S2k－4分别登记于P列表PL以及G列表GL，将已分别登记于P列表PL以及G列表GL的对象不良扇区S3k－4与扩展不良扇区S2k－4分别替换为代替扇区。
图3是表示本实施方式所涉及的扩展不良扇区的检测方法的一例的图。在图3所示的示例中，Track n包含扇区S4k－5、扇区S4k－4、扇区S4k－3、扇区S4k－2、扇区S4k－1、扇区S4k、扇区S4k+1、扇区S4k+2、扇区S4k+3、扇区S4k+4、以及S4k+5。扇区S4k－5至S4k+5在圆周方向上连续排列。在图3所示的示例中，P扇区PS包含扇区S5k至S7k。滑移磁道ST包含Track n。在图3中，登记阈值为1。
在检测到了对象不良扇区S2k的情况下，检测部64基于磁道滑移信息TSI以及对象不良扇区S2k，检测位于作为滑移磁道ST的Track n与对象不良扇区S2k之间的扩展不良扇区S3k。检测部64判定检测出的扩展不良扇区的数目(1)为登记阈值(1)以下还是为比登记阈值(1)大的数目。检测部64判定为扩展不良扇区的数目(1)为登记阈值(1)以下，将对象不良扇区S2k以及扩展不良扇区S3k分别登记于P列表PL以及G列表GL，将已分别登记于P列表PL以及G列表GL的不良扇区S2k以及扩展不良扇区S3k分别替换为代替扇区。
图4是表示本实施方式所涉及的扩展不良扇区的检测方法的一例的图。在图3所示的示例中，P扇区PS包含扇区S4k－4至S4k+1。在图3中，登记阈值为1。
在检测到了对象不良扇区S4k+3的情况下，检测部64基于P列表PL以及对象不良扇区S4k+3，检测位于作为P扇区PS的扇区S4k－4至S4k+1与对象不良扇区S4k+3之间的扩展不良扇区S4k+2。检测部64判定检测出的扩展不良扇区的数目(1)为登记阈值(1)以下还是为比登记阈值(1)大的数目。检测部64判定为扩展不良扇区的数目(1)为登记阈值(1)以下，将对象不良扇区S4k+3以及扩展不良扇区S4k+2分别登记于P列表PL以及G列表GL，将已分别登记于P列表PL以及G列表GL的对象不良扇区S4k+3以及扩展不良扇区S4k+2分别替换为代替扇区。另外，当检测到在半径方向上与作为P扇区PS的扇区S4k－4至S4k+1相邻的对象不良扇区的情况下，检测部64基于P列表PL以及对象不良扇区，将对象不良扇区和与该对象不良扇区在扩展方向上相邻的登记阈值(1)以下的数目的扩展不良扇区分别登记于P列表PL以及G列表GL，将已分别登记于P列表PL以及G列表的对象不良扇区和登记阈值(1)以下的数目的扩展不良扇区分别替换为代替扇区。
图5是表示本实施方式所涉及的扩展不良扇区的检测方法的一例的图。在图4所示的示例中，Track n-3包含扇区S1k+3，Track n-2包含扇区S2k+2，Track n-1包含扇区S3k+1。另外，Track n包含扇区S4k，Track n+1包含扇区S5k－1，Track n+2包含扇区S6k－2，Track n+3包含扇区S7k－3。扇区S1k+3、扇区S2k+2、扇区S3k+1、扇区S4k、扇区S5k－1、扇区S6k－2、以及扇区S7k－3以该顺序在与半径方向以及圆周方向交叉的方向(以下称为倾斜方向)上连续排列。在图5所示的示例中，P扇区PS包含扇区S4k、扇区S5k－1、扇区S6k－2、以及扇区S7k－3。在图4中，登记阈值为1。
在检测到了对象不良扇区S2k+2的情况下，检测部64基于P列表PL以及对象不良扇区S2k+2，检测位于作为P扇区PS的扇区S4k、扇区S5k－1、扇区S6k－2、以及扇区S7k－3与对象不良扇区S2k+2之间的扩展不良扇区S3k+1。检测部64判定检测出的扩展不良扇区的数目(1)为登记阈值(1)以下还是为比登记阈值(1)大的数目。检测部64判定为扩展不良扇区的数目(1)为登记阈值(1)以下，将对象不良扇区S2k+2以及扩展不良扇区S3k+1分别登记于P列表PL以及G列表GL，将已分别登记于P列表PL以及G列表GL的对象不良扇区S2k+2以及扩展不良扇区S3k+1分别替换为代替扇区。另外，当在Track n为滑移磁道ST的情况下检测出对象不良扇区S2k+2时，检测部64基于磁道滑移信息TSI、以及对象不良扇区S2k，检测位于Track n与对象不良扇区S2k+2之间的扩展不良扇区S3k+1。另外，在检测出在倾斜方向上与作为P扇区PS的扇区S4k、扇区S5k－1、扇区S6k－2、以及扇区S7k－3相邻的对象不良扇区的情况下，检测部64基于P列表PL以及对象不良扇区，将对象不良扇区和与该对象不良扇区在扩展方向、例如在倾斜方向上相邻的登记阈值(1)以下的数目的扩展不良扇区分别登记于P列表PL以及G列表GL，将已分别登记于P列表PL以及G列表GL的对象不良扇区与登记阈值(1)以下的数目的扩展不良扇区分别替换为代替扇区。
图6是表示本实施方式所涉及的读取处理方法的一例的流程图。
MPU60基于G列表GL，读取预定的扇区(B601)，判定在预定的扇区产生了读取错误还是没有产生读取错误(B602)。在判定为没有产生读取错误的情况下(B602的否)，MPU60将处理结束。在判定为产生有读取错误的情况下(B602的是)，MPU60判定是能够通过比重试阈值小的次数的重试处理读取预定的扇区还是即使通过重试阈值以上的次数的重试处理也不能读取(B603)。在判定为即使通过重试阈值以上的次数的重试处理也不能读取的情况下(B603的否)，MPU60向主机100输出表示即使通过重试阈值以上的次数的重试处理仍变为读取错误的信号(B604)，将处理结束。在判定为通过比重试阈值小的次数的重试处理能够读取的情况下，MPU60判定是否对预定的扇区执行重写入处理(B605)。例如，在判定为通过比重试阈值小的次数的重试处理能够读取的情况下，MPU60对预定的扇区执行校验处理，判定是能够正常读取已写入于预定的扇区的数据还是不能读取。在判定为不执行重写入处理的情况下(B605的否)，MPU60将处理结束。例如，在通过校验处理判定为能够正常读取预定的扇区的数据的情况下，MPU60将处理结束。在判定为执行重写入处理的情况下(B605的是)，MPU60再度判定在执行了重写入处理的预定的扇区是产生了读取错误还是没有产生读取错误(B606)。例如，在判定为不能正常读取预定的扇区的数据的情况下，MPU60将该扇区的数据修复，对包含修复了数据的扇区的磁道执行重写入处理，在执行了重写入处理后再度判定在该扇区是产生了还是没产生读取错误。
在判定为没有产生读取错误的情况下(B606的否)，MPU60将处理结束。在判定为产生了读取错误的情况下(B606的是)，MPU60读取P列表PL以及磁道滑移信息TSI等(B607)，判定扩展不良扇区的数目是比登记阈值大还是为登记阈值以下(B608)。例如，MPU60检测位于产生有读取错误的扇区(对象不良扇区)与P扇区或滑移磁道之间的扩展不良扇区，判定检测出的扩展不良扇区的数目为登记阈值以下还是比登记阈值大。另外，MPU60在检测到与对象不良扇区在扩展方向上相邻的对象不良扇区的情况下，登记与对象不良扇区在扩展方向上相邻的阈值以下的数目的扩展不良扇区，进入B611的处理。在判定为扩展不良扇区的数目比登记阈值大的情况下(B608的否)，MPU60将对象不良扇区分别登记于P列表PL以及G列表GL(B609)，将已分别登记于P列表PL以及G列表GL的对象不良扇区分别替换为代替扇区(B610)，将处理结束。在判定为扩展不良扇区的数目为登记阈值以下的情况下(B608的是)，MPU60将对象不良扇区以及扩展不良扇区分别登记于P列表PL以及G列表GL(B611)，将已分别登记于P列表PL以及G列表GL的对象不良扇区以及扩展不良扇区分别替换为代替扇区(B612)，将处理结束。
根据本实施方式，磁盘装置1检测对象不良扇区和位于对象不良扇区的扩展方向的扩展不良扇区，将对象不良扇区与扩展不良扇区分别登记于G列表GL以及P列表PL，将已登记于G列表GL以及P列表PL的对象不良扇区以及扩展不良扇区分别替换为代替扇区。例如，在扩展不良扇区位于P扇区与对象不良扇区之间的情况下，磁盘装置1判定检测出的扩展不良扇区的数目为登记阈值以下还是比登记阈值大。在判定为扩展不良扇区的数目为登记阈值以下的情况下，检测部64将对象不良扇区与扩展不良扇区分别登记于P列表PL以及G列表GL，将已登记于P列表PL以及G列表GL的对象不良扇区与扩展不良扇区分别替换为代替扇区。另外，在对象不良扇区与P扇区相邻的情况下，检测部64将对象不良扇区和与该对象不良扇区在扩展方向上相邻的登记阈值以下的数目的扩展不良扇区分别登记于P列表PL以及G列表GL，将已登记于P列表PL以及G列表GL的对象不良扇区与扩展不良扇区分别替换为代替扇区。如前述那样，磁盘装置事先检测具有成为后发不良扇区的可能性的扇区，将检测出的扇区分别登记于G列表GL以及P列表PL，将已分别登记于G列表GL以及P列表PL的扇区分别替换为代替扇区。因此，磁盘装置1通过将可能成为不良扇区的扇区预先登记于P列表PL以及G列表，能够防止重试处理频发。即，磁盘装置1能够防止读取性能的下降。
接下来，对变形例所涉及的磁盘装置进行说明。在变形例中，对与前述的实施方式相同的部分赋予同一参照符号而将其详细的说明省略。
(变形例)
变形例的磁盘装置1的将不良扇区登记于G列表的处理与前述的实施方式不同。
在检测到了对象不良扇区的情况下，检测部64将对象不良扇区登记于G列表，将已登记于G列表的对象不良扇区(以下称为对象G扇区)替换为代替扇区。检测部64读取P列表PL、磁道滑移信息TSI、以及G列表GL等，基于P列表PL、磁道滑移信息TSI、以及对象G扇区，检测扩展不良扇区。例如，检测部64基于P列表PL、磁道滑移信息TSI、以及G列表GL，检测位于P扇区或滑移磁道与对象G扇区之间的扩展不良扇区。另外，在对象G扇区与P扇区或滑移磁道相邻的情况下，检测部64基于P列表PL、磁道滑移信息TSI、以及对象G扇区，检测与对象G扇区在扩展方向上相邻的扩展不良扇区。
例如，在扩展不良扇区位于P扇区与对象G扇区之间的情况下，检测部64判定检测出的扩展不良扇区的数目为登记阈值以下还是比登记阈值大。在判定为扩展不良扇区的数目为登记阈值以下的情况下，检测部64将扩展不良扇区分别登记于P列表PL以及G列表GL，将对象G扇区登记于P列表PL。在该情况下，检测部64将已登记于P列表PL的扩展不良扇区以及对象G扇区分别替换为代替扇区，将已登记于G列表GL的扩展不良扇区替换为代替扇区。在判定为扩展不良扇区的数目比登记阈值大的情况下，检测部64不将扩展不良扇区登记于P列表PL以及G列表GL，而将对象G扇区登记于P列表PL。在该情况下，检测部64将已登记于P列表PL的对象G扇区替换为代替扇区。另外，在对象G扇区与P扇区相邻的情况下，检测部64将对象G扇区登记于P列表PL，将与该对象G扇区在扩展方向上相邻的登记阈值以下的数目的扩展不良扇区分别登记于P列表PL以及G列表GL。在该情况下，检测部64将已登记于P列表PL的对象G扇区与登记阈值以下的扩展不良扇区分别替换为代替扇区，将已登记于G列表GL的登记阈值以下的扩展不良扇区替换为预定的代替扇区。
图7是表示变形例所涉及的读取处理方法的一例的流程图。
MPU60执行B601至B606的处理，将在重写入处理后产生有读取错误的扇区(对象不良扇区)登记于G列表GL(B701)，将已登记于G列表GL的对象不良扇区(对象G扇区)替换为代替扇区(B702)。MPU60读取P列表PL、G列表GL、以及磁道滑移信息TSI等(B703)，判定扩展不良扇区的数目比登记阈值大还是为登记阈值以下(B608)。在判定为扩展不良扇区的数目比登记阈值大的情况下(B608的否)，MPU60将对象G扇区登记于P列表PL(B705)，将已登记于P列表PL的对象G扇区替换为代替扇区(B706)，将处理结束。
根据变形例，磁盘装置1检测对象G扇区与位于对象G扇区的扩展方向的扩展不良扇区，将对象G扇区与扩展不良扇区分别登记于G列表GL以及P列表PL，将已登记于G列表GL以及P列表PL的对象G扇区以及扩展不良扇区分别替换为代替扇区。因此，磁盘装置1能够防止读取性能的下降。
前述的实施方式以及变形例的构成不仅能够适用于通常的记录配置方法的磁盘装置1，也能够适用于将当前的磁道的一部分重叠地写入到前1个已写入的相邻的磁道的瓦记录(Shingled write Magnetic Recording：SMR)配置方法。
虽然说明了几个实施方式，但这些实施方式只是作为示例而提出的，并非旨在限定发明的范围。这些新的实施方式能够以其他各种方式进行实施，能够在不脱离发明的宗旨的范围内进行各种省略、替换、变更。这些实施方式和/或其变形包括在发明的范围和/或宗旨中，并且包括在技术方案记载的发明及与其均等的范围内。

Claims (12)

1.一种磁盘装置，
具备：
盘，其具有登记有事先检测出的不能读取的先发不良扇区的第1列表和登记后发不良扇区的第2列表；
头，其对所述盘写入数据，从所述盘读取数据；和
控制器，其将位于从已登记于所述第1列表的第1不良扇区朝向所述盘中不能读取的第2不良扇区的第1方向上的第1扇区登记于所述第2列表，并将与已登记于所述第2列表的所述第1扇区相对应的第1地址重新分配给第1代替扇区。
2.根据权利要求1所述的磁盘装置，
所述第1扇区位于所述第1不良扇区与所述第2不良扇区之间。
3.根据权利要求2所述的磁盘装置，
所述控制器在位于所述第1不良扇区与所述第2不良扇区之间的扇区的数目为阈值以下的情况下，将所述第1扇区登记于所述第2列表。
4.根据权利要求1至3中的任意一项所述的磁盘装置，
所述控制器将所述第2不良扇区登记于所述第1列表以及所述第2列表。
5.根据权利要求4所述的磁盘装置，
所述控制器将与已登记于所述第2列表的所述第2不良扇区相对应的第2地址重新分配给第2代替扇区。
6.根据权利要求5所述的磁盘装置，
所述控制器将与已登记于所述第1列表的所述第2不良扇区相对应的所述第2地址重新分配给第3代替扇区。
7.根据权利要求1至3中的任意一项所述的磁盘装置，
所述控制器将所述第1扇区登记于所述第1列表。
8.根据权利要求7所述的磁盘装置，
所述控制器将与已登记于所述第1列表的所述第1扇区相对应的所述第1地址重新分配给第4代替扇区。
9.根据权利要求1所述的磁盘装置，
所述盘还具备登记有事先检测出的不能读取的不良磁道的第3列表，
所述控制器将位于从已登记于所述第3列表的第1不良磁道朝向所述盘中不能读取的第3不良扇区的第2方向上的第2扇区登记于所述第2列表，并将与已登记于所述第2列表的所述第2扇区相对应的第2地址重新分配给第2代替扇区。
10.根据权利要求1所述的磁盘装置，
所述第2不良扇区与所述第1不良扇区在所述第1方向上相邻，
所述第1扇区与所述第2不良扇区在所述第1方向上相邻。
11.一种磁盘装置，
具备：
盘，其具有登记有事先检测出的不能读取的不良扇区的第1列表和登记所述不良扇区的第2列表；
头，其对所述盘写入数据，从所述盘读取数据；和
控制器，其将位于从已登记于所述第1列表的第1不良扇区朝向所述盘中不能读取的第2不良扇区的第1方向上的第1扇区登记于所述第2列表，并将已登记于所述第2列表的所述第1扇区替换为第1代替扇区。
12.一种读取处理方法，适用于具备盘和头的磁盘装置，所述盘具有登记有事先检测出的不能读取的不良扇区的第1列表和登记所述不良扇区的第2列表，所述头对所述盘写入数据，从所述盘读取数据，
所述读取处理方法中，
将位于从已登记于所述第1列表的第1不良扇区朝向所述盘中不能读取的第2不良扇区的第1方向上的第1扇区登记于所述第2列表；
将与已登记于所述第2列表的所述第1扇区相对应的第1地址重新分配给第1代替扇区。
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