CN101501517A - 具有通用和专门资源的块的测试模块 - Google Patents

具有通用和专门资源的块的测试模块 Download PDF

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Abstract

一种用于对被测器件(201)进行测试的测试设备(200)的测试模块(206)，该测试模块(206)适用于执行专门测试功能并且包括通用部分(213)，该通用部分(213)适合于提供对于测试模块(206)的测试功能来说非专门的测试资源，该通用部分(213)包括适合于连接到所述测试设备(200)的中央控制器件(202)的控制接口(204)，该测试模块(206)并且包括专门部分(214)，该专门部分(214)将被耦合到通用部分(213)并且适合于提供对于测试模块(206)的测试功能来说专门的测试资源，该专门部分(214)包括适合于连接到被测器件(201)的被测器件接口(205)。

Description

具有通用和专门资源的块的测试模块
技术领域
本发明涉及利用测试装置对被测器件进行测试。
背景技术
为了对电子装置进行测试，尤其是对提供电气输入和输出信号(例如，数字输入或输出、模拟输入或输出、RF输入或输出、静态/DC输入或输出)的集成电子电路进行测试，将测试或激励信号馈送到被测器件的输入，并且例如通过与期望数据相比较来利用自动测试设备评估被测器件的响应信号。这种自动测试设备包括了特定的测试功能，也就是说，该测试设备可以执行的测试功能或例程。该测试功能可以以可执行软件代码的形式被结合在测试设备中。
可用的测试装置的示例是Agilent Technologies的93000测试装置。
传统上，测试装置可被连接在工作站和一个或多个被测器件(DUT)之间。测试装置是由若干个测试模块形成的，这些测试模块与彼此并行连接，并且指定要执行的特定测试。每个模块具有允许完成复杂的测试例程的专门局部功能的专门资源。例如，数字波形模块可具有提供测试期间所需的数字波形信号的能力。模拟波形模块可具有提供测试期间所需的模拟波形信号的能力。每个模块必须根据其在测试期间的专门功能而被分别开发。这可能涉及到高昂的开发成本。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种高效的系统，用于对被测器件(DUT)进行测试。独立权利要求实现了该目的。其他实施例由从属权利要求示出。
根据本发明的示例性实施例，提供了一种用于对被测器件进行测试的测试设备的测试模块，该测试模块适用于执行专门测试功能(例如复杂测试的上下文中的局部功能)，并且包括：通用部分(例如独立于该局部功能的硬件和/或软件块)，该通用部分适合于提供对于该测试模块的测试功能来说非专门的测试资源(例如，存储器资源和/或处理资源)，该通用部分包括适合于连接到测试设备的中央控制器件的控制接口；以及专门部分(例如，被选择性地调节以完成该局部功能的硬件和/或软件块)，该专门部分将(例如经由模块内部接口)被耦合到通用部分并且适合于提供对于该测试模块的测试功能来说专门的测试资源，专门部分包括适合于连接到被测器件(即一个或多个被测器件)的被测器件接口。
根据另一个示例性实施例，提供了一种用于对被测器件进行测试的测试设备的测试装置(例如，类似于Agilent Tecdhnologies的9300测试装置)，该测试装置包括：适用于接纳多个测试模块的接纳单元(例如，包括用于插盒状测试模块的多个插槽的支架)；以及将被接纳在(或者接纳在)接纳单元中的多个具有上述特征的测试模块。
根据另一个示例性实施例，提供了一种用于对被测器件进行测试的测试设备，该测试设备包括：中央控制器件(例如像工作站或者膝上型笔记本电脑或者PC那样的计算机)，用于集中控制(和/或监视)为了测试被测器件而要执行的测试；以及具有上述特征的测试装置；其中，将被接纳在测试装置的接纳单元中的多个测试模块的控制接口连接到(或者可连接到)中央控制器件。
根据本发明的另一个示例性实施例，提供了一种对用于对被测器件进行测试的测试设备的测试装置进行配置(例如进行编程或安装)的方法，该方法包括：将多个具有上述特征的测试模块插入到测试装置的接纳单元中；以及根据用于对被测器件进行测试的专门测试(例如用于对DUT“ABC”进行测试的测试“XYZ”)来同时地(即在同一时间，例如通过向通用部分中的至少两个中的每一个提供相同的编程信号或配置指令)至少部分地配置(即，根据将要执行的专门测试例程来配置各个测试模块)多个测试模块的通用部分中的至少两个。
本发明的实施例可以部分或全部由一个或多个合适的软件程序来实现或支持，这些软件程序可以存储在任何种类的数据载体上或者通过任何种类的数据载体以其他方式提供，并且可在任何合适的数据处理单元中执行或者由任何合适的数据处理单元来执行。软件程序或例程可以优选地被应用来提供将由测试装置执行的用于测试被测器件的测试功能(例如，生成用于激励被测器件的激励信号，以及/或者对被测器件响应于激励信号的施加而产生的响应信号进行评估)。根据本发明实施例的测试例程的执行可通过计算机程序来执行，即通过软件来执行，或者利用一个或多个特殊的电子优化电路来执行，即用硬件来执行，或者以混合形式来执行，即利用软件组件和硬件组件来执行。
根据示例性实施例，可以提供一种测试模块或测试插盒，其包括没有针对该测试模块要执行的专门测试功能而进行限制或者特殊化的通用部分，以及针对在更复杂的整个测试过程的上下文中该测试模块的特定测试功能而特别调节或特殊化的专门部分。与根据专门测试功能来完全指定测试模块的传统系统不同，根据所描述的示例性实施例的测试模块包括很大一部分的标准电子设备，该标准电子设备完全没有被针对该专门测试功能而特殊化。例如，在该一般性或多功能部分中可以容纳处理资源和存储资源，而在附加的专门部分中可以提供被特殊化以适应于专门测试功能的专门特性以及专门硬件和软件模块。因此，在创建或规划新的测试模块时只需要单独设计或开发该专门部分，而对于所有不同种类的测试模块可以提供相同的通用部分。通用部分和专门部分可经由模块内部接口相耦合，该模块内部接口可连接两个部分并在两个部分之间进行电子转化。
通过在测试系统的所有通道中提供这种公共的“通用通道”组件，可以提供一个确定的接口，用于将工作站或任何其他中央控制实例耦合到通道专门驱动器/接收器，该通道专门驱动器/接收器进而又可耦合到被测器件(DUT)。可以针对机械、电气、体积(volume)和/或软件耦合来提供这种接口。因此，示例性实施例可以减少开发新测试模块的工作，可以缩短开发时间，可以降低开发成本，由于组件数目更大因而可以降低每模块的成本(尤其是通用部分的成本)，并且由于变体数目更小因而可以降低生产成本。
在这种测试设备的上下文中，作为中央控制实体的工作站向实际测试装置提供多个控制信号。测试装置可以是包括多个插槽的支架，其中不同的测试模块可以被用户以模块化的形式插入在插槽内，以为测试项目限定一个专门的测试体系结构。这些测试模块随后可被耦合到一个或多个应当被测试的被测器件(DUT)。根据专门测试例程，激励信号被从测试装置提供给所连接的DUT。特别地，这种激励信号可被引导到DUT的特定管脚，例如要测试的存储器产品的特定管脚。根据DUT的功能，激励信号在DUT内被处理，并且响应信号被生成。这些响应信号是在相同或其他管脚处提供的，并且可被提供回给测试装置。在不同测试模块内，这些响应信号可被与期望信号相比较，并且该比较的结果可以给出关于相应DUT是否可接受或者必须被丢弃的结果。该分析的结果可以以结果信号的形式被从测试装置发送回到工作站。人类操作者可以利用中央控制实例来监视测试过程和/或可以评估测试结果。
在测试装置中，各个测试模块被预期为提供不同的功能。测试模块可以被预期为插入式模块或者滑入式卡片，从而这种卡片在板上是可以更换的，以便根据要执行的专门测试来配置测试设备。
换言之，这种测试设备的每个测试模块可以根据该测试模块的个体功能来对在这种测试模块中处理的数据进行格式化。例如，数字通道可以被提供以数字输入信号并且可以将它们转换成数字输出信号。模拟通道可以接收数字输入信号并且可以从其生成模拟波形。电源通道可以生成一个或多个电源信号，例如将被施加到被测器件的具有特定幅度(例如3V)的电源电压VDD。射频测试模块(RF)可适合于生成将被施加到被测器件(DUT)的高频信号(例如几百MHz)。DC模块可以生成将被提供给被测器件的直流或恒定电压。其他类型的模块也是可能的。
根据示例性实施例，不是提供一组完全特殊化的测试模块，而是将每个模块设计为具有标准部分和特殊化部分。有可能这两个部分在功能上是分离的但却被容纳在同一个物理壳体中，或者是作为一个公共的板上的两个分离的组件来提供的。还可能这两个部分在物理上是分离的并且被容纳在不同的物理壳体中。
通过在所有类型的测试模块中提供标准部分，即使是非常简单的模块(比如电源模块或者DC模块)于是也可以具有附加的组件，比如用于测试过程的序列控制向导(sequence control steering)，其中由该通用部分的标准化配置引起的附加成本非常小。这样就有可能改善这种低功能测试模块(比如电源或DC)的功能。
在测试测量期间，可以区分三个测试步骤：
1.测试设置：这可包括对测量设备进行编程，即对包括通用部分和专门部分的通道进行编程。
2.测试执行：这可包括将激励信号施加到DUT并且感测或者检测来自DUT的响应信号。
3.对结果的评估：这可包括将结果信号与期望信号进行比较。
示例性实施例的另一个优点可在于，由于标准化组件与特殊化组件之间的分离，因而可以将至少一部分信息同时编程到多个测试模块的标准化部分中(这与传统方法不同，在传统方法中，必须一个接一个地、完全顺序且单独地对每个块或测试模块对测试设置进行编程)。因此，对于每个测试模块只需要单独编程很小的附加特殊化部分，而可以集中执行主要的一般性编程部分。这可以减少编程时间，因此可以减少测试时间，从而节约成本。
特别地，将被编程在通用部分中的一部分信息可被并行加载(例如，指令或者序列控制)。但是，将被编程到每个测试模块的通用部分中的另一部分信息可以被顺序地执行，即，对于不同测试模块的不同通用部分单独地执行(例如，对于不同的通用部分单独地指定诸如电压值之类的参数值)。
还可以使不同模块或板的测试执行与彼此同步。这使得各个测试模块可以同步执行动作，从而简化了系统。例如，可以利用中央编程来同步各个测试序列的执行时序。因此，根据示例性实施例，可以执行测试模块的标准部分的并行编程，从而可以改善对测试例程作出贡献的模块的交互。
另外，可以提供转换单元，用于对在标准化部分和个体部分之间传播的数据进行转换，以便使不同的数据格式与彼此一致。
本发明的实施例可具有能实现更迅速的测试的优点。另外，可以实现测量的同步执行。用于开发新测试模块的开发工作可得以减少，因为所有非专门一般性资源和能力都可以被捆绑在对于多个不同测试模块可以只开发一次的通用部分。
接下来，将说明其他示例性实施例。在下文中，将说明测试模块的其他示例性实施例。但是，这些实施例也适用于测试装置、测试设备和方法。
通用部分可包括第一存储器单元，该第一存储器单元适用于存储用于对被测器件进行测试的至少一个测试模式。因此，这种存储器单元可包括关于要执行的测试或者测试的类型的信息。这可包括关于是否执行数字逻辑测试(只涉及逻辑值“0”或“1”的施加和读取)，或者是否应当执行DC测试(即对恒定模拟电流值的测量)的信息。除此之外，这可包括关于应当测试哪类DUT的定义，例如是否应当执行存储器测试，该测试可包括例如利用模拟波形的测试装置中的读和/或写周期。另外，可以考虑到测试序列，例如表明通过读/写周期来测试存储单元阵列的各个存储单元、存储单元行、存储单元列、存储单元对角线等等。
通用部分可包括第二存储器单元，该第二存储器单元适用于存储一组预期值，该组预期值将被与被测器件响应于施加到被测器件的激励信号而生成的响应信号相比较。这种第二存储器单元可存储必须与结果信号相比较的一组值，以便得出关于测得值相对于所需值或预期值的偏差是否足够小以使得DUT可被接受或者太大以至于DUT必须被丢弃的结果。
通用部分的第三存储器单元可适用于存储一组结果值，该组结果值是由于将预期值与被测器件响应于施加到被测器件的激励信号而生成的响应信号相比较而产生的。这种响应信号可以指示测试结果，即DUT是否可接受。
第一至第三存储器单元可以各自是物理上分离的存储器单元，或者可以是一个物理存储器的不同分区。
除了存储器部分之外，通用部分还可包括处理器单元，该处理器单元可访问存储器部分，并且可适用于控制专门测试功能的执行。处理器单元可以是CPU(中央处理单元)或者可以是任何其他使得能够控制测试的执行并执行计算任务的处理资源。
根据示例性实施例，通用部分由处理器单元以及所述的一个或多个存储器单元和接口构成。换言之，根据这种实施例，除了处理器单元、存储器和用于连接设备的接口之外，没有提供其他的组件。
测试模块可适合于作为将要被可移除地插入到测试装置的接纳单元的插槽中的插盒。术语“插盒”(cartridge)可表示为任何被保持在其自己的容器内的或者形成在公共的基板上的可拆卸的子单元。
通用部分和专门部分可以是由以下各项构成的群组中的一个：容纳在两个分离的外壳内的两个物理上分离的组件、容纳在公共的外壳内的一个物理上公共的组件、以及两个分离的软件组件。根据一个配置，通用部分和专门部分是两个不同的硬件模块，例如，可通过将这些组件的相应接口彼此电连接(例如利用线缆连接来机械地连接，或者以无线方式连接)来连接这两个不同的硬件模块。还可能通用部分和专门部分都被容纳在一个且同一个物理装置中，例如被安装在一个板上。通用部分和专门部分可以部分或全部用软件来实现，于是通用部分可以是对于所有测试模块都相同的一部分代码，而专门部分的代码对于不同的测试模块则是不同的。
专门部分可包括转换单元，该转换单元适用于对在专门部分和通用部分之间传播的信号进行转换以使之与彼此相适应。为了使得来自通用部分的信号更测试专门化，或者使得来自专门部分的信号更测试通用化，对两个组件之间的信号进行转换，以作为两个部分的语言之间的某种转化，将是有利的。这种转换单元可适用于在通用信号和专门信号之间进行转换。它可包括可编程逻辑单元，比如现场可编程门阵列(FPGA)。FPGA可被表示为特别制作的数字半导体，其常用来作为原型。转换单元还可包括可编程逻辑器件(PLD)，可编程逻辑器件可被表示为可被用户编程以执行多种逻辑操作的数字IC。转换单元还可包括专用集成电路(ASIC)，专用集成电路可被表示为一种集成电路，其经常被称为“门阵列”或者“标准单元”产品，被开发和设计来满足一个客户的专用需求。更一般而言，转换单元可以是适合于在通用部分和专门部分中的不同信号格式之间进行转换的任何逻辑单元或处理单元。
测试模块可适用于对由以下各项构成的群组中的被测器件进行测试：存储器器件、DRAM器件、逻辑电路、电气电路、集成电路、处理器、片上系统、智能卡、应答器、以及混合电路。测试设备可以以经修改的测试装置的形式提供，比如Agilent Technologies的93000 SOC装置。利用这种测试装置，可以检查任何被测器件(DUT)的正确功能，以便获得关于特定DUT是否通过或者未通过测试的结果。这种DUT例如可以是集成电路(IC)中的片上系统、中央处理装置(CPU)、存储装置(例如DRAM存储器产品、或者任何其他产品)。
测试模块可以在复杂测试的上下文中完成专门的子功能。例如，测试模块可以是适用于生成将被施加到DUT的数字波形的数字波形生成模块。测试模块可以是适合于生成模拟波形来作为将被提供给DUT的测试序列的模拟波形生成模块。测试模块还可以是电源模块，用于提供DUT的电源信号，例如向DUT提供电源电势VDD和地电势VSS。测试模块可以是适用于生成射频域中的测试信号的射频(RF)测试信号生成模块。测试模块还可能是直流(DC)测试信号生成模块，用于生成直流电流或直流电压的特定值，以便对系统进行测试。
在下文中，将说明测试装置的其他示例性实施例。但是，这些实施例也适用于测试模块、测试设备和方法。
这种测试装置的不同测试模块的通用部分对于多个测试模块中的每一个可以是相同的。换言之，通用单元可以是完全非专门的，并且可以提供不同模块中可能需要的公共的电子功能基础。
特别地，专门部分对于多个测试模块中的一部分或者全部可以是不同的。因此，专门部分的硬件和/或软件组件被完全地特殊化，以提供除了通用部分的基本技能之外所需要的测试功能。
在下文中，将说明方法的其他示例性实施例。但是，这些实施例也适用于测试模块、测试装置和测试设备。
该方法可以包括根据用于对被测器件进行测试的专门测试来顺序地配置多个测试模块的专门部分中的至少两个。因此，与通用部分不同，通常必须分别或者分组配置专门部分以便根据测试的专门子功能来特殊化各个测试模块。但是，如果可能，专门部分也可以被分组，以便至少部分地被并行编程(例如，所有DC模块的专门部分可以在公共的编程过程中被编程)。
以同时的方式配置通用部分中的至少两个可包括指定专门的测试例程。例如，当必须执行测试时，可以利用关于电源电压电平应当为5V的信息来对每个通用部分进行编程。
同时地至少部分地配置多个测试模块的通用部分中的至少两个可包括使多个测试模块中的至少两个的执行同步。当同时配置通用部分的例如定时或其他操作参数时，就可以使测试的整个工作流同步。通过同步各个单元，可以提高系统的故障安全性。
附图说明
通过联系附图参考以下对实施例的更详细描述，将很容易明白并更好地理解本发明实施例的其他目的和许多随之而来的优点。实质上或功能上相同或相似的特征将用相同的附图标记来指代。
图1示出了测试设备。
图2示出了根据本发明示例性实施例的测试设备。
图3示出了根据示例性实施例的测试设备的测试模块的通用部分。
图4示出了根据示例性实施例的测试设备的测试模块。
具体实施方式
在下文中，参考图1，将说明测试设备100。
测试设备100包括作为系统100的中央控制器件的工作站101。另外，在测试设备100中提供了被测器件102，例如待测试的存储产品。实际测试装置103被连接在工作站101和被测器件102之间。它包括多个测试模块104至110。测试模块104至108是适合于生成要被施加到被测器件102的管脚的数字测试信号的数字通道测试模块。测试模块109是适合于向DUT 102的管脚施加模拟波形的模拟通信模块。测试模块110是适合于生成用于在测试期间为DUT 102供电的电源信号的电源通道。
测量头103包括作为工作站101和测试装置103之间的接口的第一接口111。另一个接口112将测试装置103耦合到DUT 102。
由于所有的测试模块104至110(其也可被称为通道)都必须被分别开发，开发的花费很高，开发时间很长，开发的成本很高，并且由于一个测试所需的各种测试模块104至110的数目很大，因而生产成本很高。
在下文中，参考图2，将说明根据本发明示例性实施例的测试设备200。
测试设备200可以基于Agilent Technologies的93000测试设备。测试设备200适用于对被测器件201进行测试，该被测器件例如是存储器产品或者移动电话的电子芯片。
测试设备200包括作为中央控制器件的工作站202，该中央控制器件用于集中控制为了测试DUT 201而要执行的测试。
工作站202包括用户界面，该用户界面使得用户可以控制和监视测试的执行并且评估结果。用户界面可以是或者可以包括图形用户界面(GUI)。这种图形用户界面可以包括显示装置(比如阴极射线管、液晶显示器、等离子显示装置，等等)，用于向人类操作者显示信息，比如与DUT、测试装置或者要执行的测试有关的数据。另外，图形用户界面可包括输入装置，该输入装置使得用户可以输入数据(比如，指定DUT或测试的数据)或者向系统提供控制命令。这种输入装置可包括键盘、操纵杆、跟踪球，或者甚至可以是语音识别系统的麦克风。GUI可以允许人类用户以双向方式与系统通信。
另外，可以提供测试装置203(其也可被称为测试头)。测试装置经由第一接口204耦合到工作站202，并且经由第二接口205耦合到DUT201。
从图2可以进一步理解，测试装置203包括适用于接纳多个测试模块206至212的接纳单元(未示出)。这种接纳单元可以是一个支架，其中可以插入作为测试模块206至212的多个插盒。
测试模块206至212中的每一个包括通用部分213以及专门部分214至220。
测试模块206至212中的每一个适用于与测试设备200相联系地工作以便测试DUT 201，其中，测试模块214至220中的每一个适用于执行对于不同的测试模块206至212来说不同的一个专门的个体测试功能。测试模块206至212适合于作为数字驱动器/接收器测试模块，适用于生成将要被施加到DUT 201的数字激励信号并且适合于对DUT 201的数字响应信号进行评估。另外，测试模块211是模拟驱动器/接收器测试模块，适用于生成模拟波形并且对DUT 201所生成的相应响应信号进行评估。测试模块212是电源驱动器/接收器模块，其适合于生成电源信号以为DUT 201供电。
通用部分213对于所有测试模块206至212都是相同的，并且适合于提供对于各个测试模块206至212的测试功能来说非专门的测试资源。通用部分213包括控制接口204，该控制接口204适合于连接到测试设备200的中央控制器件202。与之不同，专门部分214至220中的每一个经由内部接口221耦合到各个模块206至212的相应通用部分213，并且适合于提供对于测试模块206至212的测试功能来说专门的测试资源。每个专门部分214至220针对测试模块206至212中的每一个而被特殊化，并且包括用于连接到DUT 201的被测器件接口205。
这样，通用通道213可以包括相同的资源(虽然它们可以被分别编程)。与之不同，专门部分214至220中的每一个的硬件和软件结构被特殊化，以提供用于执行相应功能的专门功能或物理块。
测试模块206至212适合于作为可以被可移除地插入到测试装置203的接纳单元的相应插槽中的插盒。为了对用于测试DUT 201的测试设备200的测试装置203进行配置，多个测试模块206至212可被插入到测试装置203的接纳单元中。然后，通用部分213可以都在同时发生的编程步骤中被配置(局部或者完全地)，以便根据用于对DUT 201进行测试的专门测试来对所有通用部分213进行编程。与之不同，专门部分214至220各自被单独地编程(例如被一个接一个地编程)，因为就其在测试内的功能而言它们包括个体的功能。
通过执行这种对通用部分213的同时编程，各个测试模块206至212的执行可被同步，以例如获得公共的定时，从而允许精确地定义测试的时序。
在下文中，参考图3，将更详细说明通用部分213。
通用部分213包括第一存储器单元300，该第一存储器单元适用于存储用于测试DUT 201的一个或多个测试模式。第一存储器300可包括程序部分301和数据部分302。在程序部分301中，可以存储针对专门测试例程的指令(例如，“从数字信号中取得8比特，并且将它们向前移位5次”)。数据部分302可包括测试参数信息(例如，关于电压的幅度可以是“5V”的信息)。
除此之外，通用部分213包括第二存储器单元303，该第二存储器单元适用于存储一组预期值，该组预期值将被与DUT 201响应于施加到其上的激励信号而生成的响应信号相比较。从DUT 201和向DUT 201传送数据可以经由接口221和205来执行。
另外，通用部分213包括第三存储器部分304，该第三存储器部分适用于存储一组结果值，该组结果值是由于将预期值与DUT 201响应于施加到其上的激励信号而生成的响应信号相比较而产生的。
另外，通用部分213包括处理器单元305，该处理器单元提供适用于控制该专门测试功能的执行的计算力。处理器单元305控制整个系统213。处理器单元305可以实现为ASIC。
在下文中，参考图4，将更详细说明测试模块206的通用部分213和专门部分214之间的合作。
测试模块206是数字通道测试模块。
为了发起对DUT 201的测试，通用部分213的处理单元305生成指定要执行的测试的信号400。
这些信号被提供到专门部分214的转换单元401。或者，转换单元401可以位于通用部分213之内，或者通用部分213和专门部分214之间。转换单元401适用于转换由通用部分213提供的通用信号400和由专门部分214提供的专门信号，以例如使得信号格式与彼此相一致。转换单元401可以是可编程逻辑单元，例如FPGA。
转换后的信号被提供到驱动器402，该驱动器生成将要经由接口205被施加到DUT 201的特定管脚的激励信号403。在信号经过DUT 201之后，响应信号404被提供给逻辑单元405，并随后被提供回到转换单元401。转换单元401将在逻辑单元405的输出处提供的信号重新转换成通用响应信号406，该通用响应信号又可以被处理单元305处理。现在，可以执行期望信号的比较，并且可以将结果经由接口204传达回工作站202。在工作站202处，该结果可被显示，并且工作站202还可以提供图形用户界面，以供用户与系统200交互。
转换单元401可以对将要在通用部分213和专门部分214之间交换的信号进行协调/特殊化。这样，在装置401内可以提供转换逻辑，其将标准信号转换成专门信号，反之亦然。换言之，转换单元401可以执行使信号与专门应用相符的转换。
应当注意，术语“包括”并不排除其他要素或者特征，并且“一个”并不排除多个。并且，联系不同实施例描述的要素可以被组合。还应当注意，权利要求中的附图标记不应当被解释为限制权利要求的范围。

Claims (25)

1.一种用于对被测器件(201)进行测试的测试设备(200)的测试模块(206)，该测试模块(206)适用于执行专门测试功能，并且包括
通用部分(213)，该通用部分(213)适合于提供对于所述测试模块(206)的测试功能来说非专门的测试资源，该通用部分(213)包括适合于连接到所述测试设备(200)的中央控制器件(202)的控制接口(204)；
专门部分(214)，该专门部分(214)将被耦合到所述通用部分(213)并且适合于提供对于所述测试模块(206)的测试功能来说专门的测试资源，该专门部分(214)包括适合于连接到所述被测器件(201)的被测器件接口(205)。
2.如权利要求1所述的测试模块(206)，
其中，所述通用部分(213)包括第一存储器单元(300)，该第一存储器单元(300)适用于存储用于对所述被测器件(201)进行测试的至少一个测试模式。
3.如权利要求1或上述权利要求中的任何一个所述的测试模块(206)，
其中，所述通用部分(213)包括第二存储器单元(303)，该第二存储器单元(303)适用于存储一组预期值，该组预期值将被与所述被测器件(201)响应于对所述被测器件(201)施加激励信号而生成的响应信号相比较。
4.如权利要求1或上述权利要求中的任何一个所述的测试模块(206)，
其中，所述通用部分(213)包括第三存储器部分(304)，该第三存储器部分(304)适用于存储一组结果值，该组结果值是由于将一组预期值与所述被测器件(201)响应于对所述被测器件(201)施加激励信号而生成的响应信号相比较而产生的。
5.如权利要求2至4所述的测试模块(206)，
其中，所述第一存储器单元(300)、所述第二存储器单元(303)和所述第三存储器单元(304)是在物理上实现为单个共享存储器器件的逻辑上相分离的存储器部分。
6.如权利要求1或上述权利要求中的任何一个所述的测试模块(206)，
其中，所述通用部分(213)包括处理器单元(305)，该处理器单元(305)适用于控制所述专门测试功能的执行。
7.如权利要求1或上述权利要求中的任何一个所述的测试模块(206)，
适合于作为将要被可移除地插入到所述测试装置(203)的接纳单元的插槽中的插盒。
8.如权利要求1或上述权利要求中的任何一个所述的测试模块(206)，
其中，所述通用部分(213)和所述专门部分(214)是由以下各项构成的群组中的一项：容纳在两个分离的外壳内的两个物理上分离的组件、容纳在公共的外壳内的一个物理上公共的组件、以及两个分离的软件组件。
9.如权利要求1或上述权利要求中的任何一个所述的测试模块(206)，
其中，所述专门部分(214)包括转换单元(401)，该转换单元(401)适用于对在所述专门部分(214)和所述通用部分(213)之间传播的信号进行转换。
10.如权利要求9所述的测试模块(206)，
其中，所述转换单元(401)适用于在通用信号和专门信号之间进行转换。
11.如权利要求9或上述权利要求中的任何一个所述的测试模块(206)，
其中，所述转换单元(401)包括可编程逻辑单元。
12.如权利要求9或上述权利要求中的任何一个所述的测试模块(206)，
其中，所述转换单元(401)包括由以下各项构成的群组中的至少一项：现场可编程门阵列、可编程逻辑器件、以及专用集成电路。
13.如权利要求1或上述权利要求中的任何一个所述的测试模块(206)，
适用于对由以下各项构成的群组中的被测器件(201)进行测试：存储器器件、DRAM存储器器件、逻辑电路、电气电路、集成电路、处理器、片上系统、智能卡、应答器、以及混合电路。
14.如权利要求1或上述权利要求中的任何一个所述的测试模块(206)，
适合于作为由以下各项构成的群组中的一项：数字波形生成模块(206至210)、模拟波形生成模块(211)、电源模块(212)、射频测试信号生成模块、以及直流测试信号生成模块。
15.一种用于对被测器件(201)进行测试的测试设备(200)的测试装置(203)，该测试装置(203)包括
适用于接纳多个测试模块(206至212)的接纳单元；
将被接纳在所述接纳单元中的多个如权利要求1或上述权利要求中的任何一个所述的测试模块(206至212)。
16.如权利要求15所述的测试装置(203)，
其中，所述通用部分(213)对于所述多个测试模块(206至212)中的每一个是相同的。
17.如权利要求15或上述权利要求中的任何一个所述的测试装置(203)，
其中，所述通用部分(213)对于所述多个测试模块(206至212)中的每一个是被相同地编程或者能够被相同地编程的。
18.如权利要求15或上述权利要求中的任何一个所述的测试装置(203)，
其中，所述专门部分(214至220)对于所述多个测试模块(206至212)中的至少一部分是不同的。
19.如权利要求15或上述权利要求中的任何一个所述的测试装置(203)，
其中，所述专门部分(214至220)对于所述多个测试模块(206至212)中的每一个是被不同地编程或者能够被不同地编程的。
20.一种用于对被测器件(201)进行测试的测试设备(200)，该测试设备(200)包括
中央控制器件(202)，用于集中控制为了测试所述被测器件(201)而要执行的测试；
如权利要求15或上述权利要求中的任何一个所述的测试装置(203)；
其中，将被接纳在所述测试装置(203)的接纳单元中的多个测试模块(206至212)的控制接口(204)连接到所述中央控制器件(202)。
21.一种对用于对被测器件(201)进行测试的测试设备(200)的测试装置(203)进行配置的方法，该方法包括
将多个如权利要求1或上述权利要求中的任何一个所述的测试模块(206至212)插入到所述测试装置(203)的接纳单元中；
根据用于对所述被测器件(201)进行测试的专门测试来同时地至少部分地配置所述多个测试模块(206至212)的通用部分(213)中的至少两个。
22.如权利要求21所述的方法，
还包括根据用于对所述被测器件(201)进行测试的专门测试来顺序地配置所述多个测试模块(206至212)的专门部分(214至220)中的至少两个。
23.如权利要求21或上述权利要求中的任何一个所述的方法，
其中，同时地至少部分地配置所述通用部分(213)中的至少两个包括指定专门的测试例程。
24.如权利要求21或上述权利要求中的任何一个所述的方法，
其中，配置所述通用部分(213)中的至少两个包括为所述通用部分(213)中的至少两个顺序地指定用于专门的测试例程的参数值。
25.如权利要求21或上述权利要求中的任何一个所述的方法，
其中，同时地至少部分地配置所述多个测试模块(206至212)的通用部分(213)中的至少两个包括使所述多个测试模块(206至212)中的至少两个的执行同步。
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