KR20050120169A - 복수의 반도체 컴포넌트를 동시에 테스트하는 반도체컴포넌트 테스트 장치 - Google Patents
복수의 반도체 컴포넌트를 동시에 테스트하는 반도체컴포넌트 테스트 장치 Download PDFInfo
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Abstract
Description
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- 복수의 반도체 컴포넌트를 동시에 테스트하는 반도체 컴포넌트 테스트 장치로서,외부의 서버로부터 테스트 프로그램을 수신받아 테스트 패턴 신호를 생성하여 상기 반도체 컴포넌트로 송신하고 상기 반도체 컴포넌트로부터 출력되는 테스트 결과 신호를 수신받아 비교하는 복수의 패턴 생성 보드와,복수의 전압을 가지는 전원을 공급하는 복수의 전원 드라이브(power drive) 보드와,반도체 컴포넌트를 장착할 수 있는 복수의 소켓을 구비하고 상기 반도체 컴포넌트에 상기 테스트 패턴 신호 및 복수의 전압을 가지는 전원을 공급하고 상기 테스트 결과 신호를 수신받는 인터페이스를 제공하는 고정유닛(high fix unit)과,상기 복수의 패턴 생성 보드 및 상기 전원 드라이브 보드와의 접속을 위한 커넥터를 구비하고 상기 고정유닛과 유선을 통하여 연결되어 상기 복수의 패턴 생성 보드로부터 생성된 상기 테스트 패턴 신호와 상기 전원 드라이브 보드에서 공급되는 전원을 상기 고정 유닛에 제공하며 상기 테스트 결과 신호를 수신받는 인터페이스를 제공하는 드라이브(drive) 보드와,상기 복수의 패턴 생성 보드 및 상기 복수의 전원 드라이브 보드와의 접속을 위한 복수의 커넥터를 포함하고 상기 복수의 패턴 생성 보드 및 상기 복수의 전원 드라이브 보드를 기구적으로 지지(support)하며 상기 외부의 서버와의 접속을 위한 통신 인터페이스부를 포함하는 백플레인(back plane) 보드와,상기 백플레인 보드를 기구적으로 지지하며 상기 백플레인 보드에 전원을 공급하는 전원 공급부를 포함하는 복수의 반도체 컴포넌트를 동시에 테스트하는 반도체 컴포넌트 테스트 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 패턴 생성 보드는,상기 테스트 프로그램을 수신받아 상기 테스트 패턴 신호 및 기대치 신호를 생성하고 상기 반도체 컴포넌트에 상기 테스트 패턴 신호를 전송하며 상기 반도체 컴포넌트로부터 전송된 상기 테스트 결과 신호와 상기 기대치 신호를 비교하여 상기 반도체 컴포넌트의 동작을 테스트하는 필드 프로그래머블 게이트 어레이(FPGA)와,신호 왜곡을 최소화하며 상기 테스트 패턴 신호를 상기 반도체 컴포넌트로 전달하고 상기 테스트 결과 신호를 수신하는 드라이브 보드 인터페이스부와,클럭을 생성하여 FPGA에 제공하는 클럭 생성기와,동일한 위상을 가지는 클럭 신호를 상기 드라이브 보드 인터페이스부에 전달하는 위상고정루프(PLL)와,상기 백플레인 보드와의 인터페이스를 제공하여 상기 외부의 서버와의 통신을 가능하게 하고 상기 전원 공급부로부터 전원을 공급받는 백플레인 인터페이스부를 포함하는 것인 복수의 반도체 컴포넌트를 동시에 테스트하는 반도체 컴포넌트 테스트 장치.
- 제2항에 있어서, 상기 드라이브 보드 인터페이스부는, 임피던스 매칭 등의 종단을 위한 저항을 포함하는 것인 복수의 반도체 컴포넌트를 동시에 테스트하는 반도체 컴포넌트 테스트 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 통신 인터페이스부는 PCI 통신 규격을 만족하는 인터페이스인 것인 복수의 반도체 컴포넌트를 동시에 테스트하는 반도체 컴포넌트 테스트 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 전원 공급부는,복수의 전압을 가지는 전원을 공급하는 복수의 가변 전원 공급부(programmable power supply)와,상기 가변 전원 공급부의 전원 공급을 제어하는 전원(power) 보드와,상기 전원 보드에 DC 전원을 공급하는 DC 전원을 포함하는 것인 복수의 반도체 컴포넌트를 동시에 테스트하는 반도체 컴포넌트 테스트 장치.
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2004
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