CN101486035B - 部件分类装置及使用上述装置的电子部件特性检查分类装置 - Google Patents
部件分类装置及使用上述装置的电子部件特性检查分类装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101486035B CN101486035B CN200810082336.1A CN200810082336A CN101486035B CN 101486035 B CN101486035 B CN 101486035B CN 200810082336 A CN200810082336 A CN 200810082336A CN 101486035 B CN101486035 B CN 101486035B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- mentioned
- electronic unit
- test desk
- suction
- storage case
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 85
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 44
- 230000032258 transport Effects 0.000 claims description 31
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 24
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 21
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 15
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 10
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 9
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims description 9
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 1
- 235000009967 Erodium cicutarium Nutrition 0.000 description 6
- 240000003759 Erodium cicutarium Species 0.000 description 6
- 230000009471 action Effects 0.000 description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 5
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 5
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 230000001394 metastastic effect Effects 0.000 description 1
- 206010061289 metastatic neoplasm Diseases 0.000 description 1
- 230000003534 oscillatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 1
Images
Abstract
本发明提供一种吸附运送小且很薄的、质量小的部件等并可以不损伤部件地将其切实地容纳到容纳箱中的部件分类装置和使用上述装置的电子部件特性检查分类装置。本发明的部件分类装置包括:多个容纳箱;临时接收单元,由网眼板和吸排出部构成,且配置在上述各容纳箱的临时接收位置上;吸嘴;以及压力控制单元,对上述吸嘴和吸排出部的压力进行控制,由临时接收单元接收部件并使其下落到容纳箱中。电子部件特性检查分类装置包括供给台部(1)、相机/照明部(2)、从电子部件的运出位置将上述电子部件逐个吸附并运送配置到配送位置的供给P&P部(吸附运送机构部)(3)、测量部(5)、以及部件分类部(6)。
Description
技术领域
本发明涉及一种能够吸附并运送小且很薄的、质量小的部件等,不会损伤部件地将其切实地容纳到容纳箱中的部件分类装置和使用上述装置的电子部件特性检查分类装置。
背景技术
以往,关于运送部件的装置、运送部件并使其容纳到容纳箱中的分类装置等,提出了多种方案。专利文献1公开的“物品的移动排出装置”对电子部件进行运送,仅利用重力进行排出。专利文献2公开的“小型部件供给运送装置”利用负压对部件进行吸附运送并进行分类。专利文献3公开的“石英振子的频率分类装置及真空吸附装置”的发明为了吸附运送小且很薄的、质量小的部件,使其容纳到容纳箱中,提供一种使用所谓P&P装置在排出时进行抽真空和排送空气的切换的装置。
专利文献1:日本专利第3998296号公报
专利文献2:日本专利第3532124号公报
专利文献3:日本特开2001-165978号公报
在上述专利文献3中,在吸附部件的吸嘴带有静电时,部件由于静电而吸附在吸嘴上,仅靠断开吸附无法使其脱离,因此在断开吸附的同时排出空气。部件由于该排出的空气很猛地飞入容纳箱内,与容纳箱的壁面或已容纳在容纳箱内的部件碰撞,因此存在给部件带来损伤的问题点。
发明内容
本发明的第一目的在于解决上述问题点,提供一种吸附运送小且很薄的、质量小的部件,在损伤部件地切实地将其容纳到容纳箱中的部件分类装置。
本发明的第二目的在于提供一种使用上述部件分类装置的电子部件特性检查分类装置。
为了解决上述问题点,本发明的技术方案1所述的一种部件分类装置的特征在于,包括:多个容纳箱;临时接收单元,由网眼板和吸排出部构成,且配置在上述各容纳箱上的临时接收位置上;吸嘴,在运出位置吸附部件,运送到部件与上述临时接收单元的网眼板的一面相对的位置并躲避;以及压力控制单元,对上述吸嘴和吸排出部的压力进行控制,由临时接收单元接收部件并使其下落到容纳箱中。
本发明的技术方案2所述的部件分类装置的特征在于,在技术方案1所述的部件分类装置中,上述吸嘴的基部和上述临时接收单元被支撑在共同的移动支架上,被设置成能够从上述运出位置移动到临时接收位置,上述吸嘴在上述临时接收位置能够向靠近上述网眼板的位置或者向脱离上述网眼板的位置移动。
本发明的技术方案3所述的部件分类装置的特征在于,在技术方案1所述的部件分类装置中,通过选择在上述吸排出部上连接负压和正压,构成为能够从临时接收位置脱离。
本发明的技术方案4所述的一种电子部件特性检查分类装置,对电子部件的特性进行检查而进行分类,其特征在于,包括:供给台部,将从供给料斗供给的电子部件搭载在供给台上并旋转;相机部,用于拍摄散布在上述供给台上的上述电子部件,进行图像处理;吸附运送机构部,根据上述电子部件的图像处理后的信息,从上述供给台的上述电子部件的运出位置逐个吸附上述电子部件并运送配置到配送位置;测量部,在上述配送位置,在测量台部的测量台上接收电子部件,对其特性进行测量,产生分类信号;以及部件分类部,由以下部件构成:一个以上的容纳箱;临时接收单元,由网眼板和吸排出部构成,且配置在上述各容纳箱上的临时接收位置上;吸嘴,从上述测量部的运出位置吸附电子部件,并运送到电子部件与根据上述分类信号选择的容纳箱的上述临时接收单元的网眼板的一面相对的位置并躲避;以及压力控制单元,对上述吸嘴和吸排出部的压力进行控制,由临时接收单元接收电子部件并使其下落到容纳箱中。
本发明的技术方案5所述的电子部件特性检查分类装置的特征在于,在技术方案4所述的电子部件特性检查分类装置中,上述供给台部的供给台具有圆环状浅槽,施加驱动电动机的主旋转方向和反方向的旋转驱动,解除上述浅槽内的电子部件的重叠。
本发明的技术方案6所述的电子部件特性检查分类装置的特征在于,在技术方案4所述的电子部件特性检查分类装置中,为了将上述电子部件定位在接收由上述吸附运送机构部运送的上述电子部件的上述测量台的固定的位置上,在上述测量台部的测量台上,设有具有一对定位爪的定位机构。
本发明的技术方案7所述的电子部件特性检查分类装置的特征在于,在技术方案4所述的电子部件特性检查分类装置中,在上述测量部上,将检测器与上电极架子一体配置而构成,上述检测器为了将上电极与上述测量台上的被测量的上述电子部件的表面之间的间隙保持恒定,对到上述测量台表面的距离进行测量。
本发明的技术方案8所述的电子部件特性检查分类装置的特征在于,在技术方案4所述的电子部件特性检查分类装置中,为了将残留在上述测量台上的检查完毕的上述电子部件强制地排除而设有利用排出斜面的排出爪,该排出爪向上述测量部的测量台的运出位置的上方躲避,在排出时向测量台的运出位置表面下降。
本发明的技术方案9所述的电子部件特性检查分类装置的特征在于,在技术方案4所述的电子部件特性检查分类装置中,在通过上述吸附运送机构部从上述供给台向上述测量台运送电子部件的路径的下方,设置用于对上述电子部件进行图像处理的相机和照明,在上述电子部件在上述路径上移动过程中进行拍摄,根据上述图像处理对上述电子部件的外观进行检查。
根据本发明的技术方案1~3所述的部件分类装置,能够由吸嘴将小且很薄的、质量小的部件从上述部件的运出位置向容纳位置吸附运送并将其容纳到上述容纳位置上设置的容纳箱中。即,根据上述装置,可以得到能够不损伤部件地将其切实地容纳到容纳箱中的效果。进一步具体而言,根据技术方案1所述的结构,由临时接收单元接收部件并使其下落到容纳箱中,因此部件不会因空气而加速,而是静静的下落并分类。根据技术方案2所述的结构,能够确保上述吸嘴与上述临时接收单元的位置关系准确。根据技术方案3所述的结构,能够切实地使部件从临时接收部脱离。另外,请留意脱离的方向不是下方向。
根据具有组装了上述部件分类装置的分类部的技术方案4~9所述的电子部件特性检查分类装置,可以提供能得到能够不损伤部件地将其切实地容纳到容纳箱中的效果的电子部件特性检查分类装置。进一步具体而言,根据技术方案4所述的结构,能够不损伤电子部件地对石英振子片等电子部件连续地进行检查分类。根据技术方案5所述的结构,能够解除上述供给台部的供给台上的电子部件的重叠。根据技术方案6所述的结构,能够将上述电子部件定位在上述测量台的固定的位置上。根据技术方案7所述的结构,能够准确地确保电极间距离。根据技术方案8所述的结构,能够切实地排除残留的检查完毕的部件。根据技术方案9所述的结构,能够检查测量前的电子部件的外观。
附图说明
图1是本发明的组装有分类部的电子部件特性检查分类装置的实施例的正视图。
图2是本发明的电子部件特性检查分类装置的实施例,是表示电子部件散布在供给台的槽中的状况的俯视图。
图3是表示本发明的电子部件特性检查分类装置的实施例的供给台上设置的相机和照明的正视图。
图4是本发明的电子部件特性检查分类装置的实施例的供给P&P部(吸附运送机构部)的正视图。
图5是本发明的电子部件特性检查分类装置的实施例的测量台部的俯视图。
图6是图5所示的测量台部的侧视图。
图7是表示图5所示的测量台旋转到确定的三个位置的状态的俯视图。
图8是图5所示的测量台的e的位置上设置的测量部的俯视图。
图9是从图8中的箭头X-X方向观察的测量部的正视图。
图10是图9所示的测量部的侧视图。
图11是本发明的电子部件特性检查分类装置的实施例的测量台和分类部的俯视图。
图12是图11所示的测量台和分类部的正视图。
图13是用于说明本发明的分类装置的实施例的容纳步骤的正视图。
图14是从图13所示的装置的图中的箭头Y-Y方向观察的容纳箱的剖视图。
图15是表示本发明的电子部件特性检查分类装置的实施例的测量台部上设置的定位保持机构的、表示其他定位保持机构的实施例的俯视图。
图16是从图15中所示的箭头Z1-Z1方向观察的图。
图17是从图15中所示的箭头Z2-Z2方向观察的图。
图18是表示电子部件的排出机构的俯视图。
图19是表示图18的排出机构的侧视图。
图20是表示在本发明的电子部件特性检查分类装置中用于进行图像处理的其他相机和照明的正视图。
具体实施方式
参照以下附图等对本发明的部件分类装置和使用该分类装置的电子部件特性检查分类装置的实施方式进行说明。
图1是本发明的组装有分类部的电子部件特性检查分类装置的实施例的正视图,图2是本发明的电子部件特性检查分类装置的实施例,是表示电子部件散布在供给台的槽中的状况的俯视图,图3是表示本发明的电子部件特性检查分类装置的实施例的供给台上设置的相机和照明的正视图。
上述实施例是对电子部件的特性进行检查并分类的装置,从供给料斗102供给电子部件101(参照图2)。可旋转地设置的供给台部1搭载从供给料斗102供给的电子部件101并进行旋转。相机/照明部2被配置在供给台部1的供给台103上方,拍摄搭载在供给台103上的电子部件101并进行图像处理。供给P&P部(吸附运送机构部)3根据电子部件101的图像处理后的信息,从供给台103的电子部件101的取出位置将电子部件101逐个吸附并运送配置到预定的位置。另外,P&P是PICKUP AND PLACE的缩写,在本领域技术人员常用该缩写方式。测量部5在上述预定的位置将电子部件接收到旋转台(测量台部4)上,并测量其特性,产生分类信号。
部件分类装置(分类部6、图1)由以下部件构成:一个以上的容纳箱;临时接收单元,由网眼板和吸排出部构成,配置在上述各容纳箱上的临时接收位置上;吸嘴601,从测量部5吸附电子部件101,并运送到部件与根据分类信号选择的容纳箱的上述临时接收单元的网眼板的一面相对的位置并躲避(参照图12);以及压力控制单元,对吸嘴601和吸排出部605(参照图12)的压力进行控制,由临时接收单元接收部件并使其下落到容纳箱中。
(部件分类装置的详细说明)
以下参照图11~14对上述部件分类装置(分类部6、图1)进行说明。图11是用于说明本发明的电子部件特性检查分类装置的实施例的测量台与分类部的位置关系的俯视图,图12是图11所示的测量台和分类部的正视图。如图11所示,多个容纳箱614被配置在基底(subbase)617的上列上,根据分类信号选择其中之一。图13是用于将说明本发明的部件分类装置利用在本发明的电子部件特性检查分类装置上时的电子部件容纳步骤的正视图。图14是从图13所示的装置的图中箭头Y-Y方向观察的容纳箱的剖视图。图11和图13所示的吸嘴601被固定在旋转气缸602的输出轴上。吸嘴601在用图13的虚线表示的位置将电子部件吸附后,移动到图11的图中下方的根据分类信号选择的容纳箱614上,通过旋转气缸602的旋转驱动使电子部件与容纳箱614的右壁上配置的网眼板615的网眼部相对。
在该部件分类装置中,图13的吸嘴601、网眼板615、吸排出部605构成任意容纳箱614上的临时接收位置上配置的临时接收单元。网眼板615在每个容纳箱614中分别设置,吸嘴601和吸排出部605被设置成可一体地移动。分类对象的部件在被吸嘴601吸附的状态下被移动到靠近作为容纳箱614的里侧的壁面的网眼板615的表面的位置。优选部件靠近到距离网眼板615的表面0.5mm左右的位置。网眼板615的小径孔为小于部件的大小的多个小径孔,网眼板615的板厚优选薄到0.5mm左右。在位于与吸嘴601相对的直线上、并且靠近网眼板615的背面的位置上,设有具有吸排出孔606的吸排出部605,上述吸排出孔606同时具有吸附功能和排出功能。优选吸排出孔606的开口靠近到距离网眼板615的内表面0.5mm左右的位置。吸排出部605在这里与图11所示的真空(吸入空气607)及压缩空气(排出空气608)的控制装置连接。
在上述关系位置中,若断开吸嘴601的吸附,则同时吸排出部605的吸排出孔606的吸附功能接通,使部件从吸嘴601脱离,吸附到网眼板615的表面。若吸嘴601从图示位置(参照图13)离开,则同时吸排出部605的吸排出孔606的排出功能接通,使部件从网眼板615的表面脱离,下落并容纳到容纳箱614内。
此外,吸嘴601和吸排出部605被设置在同一支架609(参照图11)上,从部件的运出位置向容纳位置一体移动。根据该临时接收方式,即使吸附小且很薄的、质量小的部件(例如石英振子片)的吸嘴带上静电,也可以不损伤部件地将部件吸附运送并切实地容纳到容纳箱。
(使用上述分类装置的电子部件特性检查分类装置的详细说明)
首先,对简单说明的电子部件特性检查分类装置的结构进一步详细说明。在图1中,供给料斗102向用于将电子部件供给到测量台部4的测量台401(参照图4)上的供给台部1的供给台103(参照图2)供给电子部件。供给台部1具有用于对从供给料斗102供给而搭载在供给台103上的电子部件进行图像处理的相机/照明部2。供给P&P部(吸附运送机构部)3根据搭载在供给台部1上的电子部件的图像处理后的信息,从供给测量部1的电子部件的取出位置将电子部件逐个吸附并向测量台部4的预定位置运送。电子部件通过供给P&P部(吸附运送机构部)3被运送到测量部5的测量台部4,如后文所述,在测量台部4的预定位置上具有用于对电子部件的特性进行检查的下电极,并且具有与测量台部4的下电极成对而用于对电子部件的特性进行检查的上电极。上述分类装置作为本发明的装置的分类部6而使用。分类部6如上所述具有:用于容纳电子部件的多个容纳箱;和用于根据在测量部5进行特性检查的结果将测量台上的检查完毕的电子部件运送容纳到指定的容纳箱中的结构。
(向供给台部供给电子部件和获取部件信息)
如图2、图3所示,振动式的供给料斗102在供给台103的a的位置以将电子部件101散布在供给台103的环状的槽104上的方式进行供给。
去除供给台上的电子部件的重叠:
如上所述,通过供给料斗102散布在供给台103的槽104上的电子部件101会产生重叠。若这种重叠的产生通过后述相机201进行图像处理,则判断为异常的状态,会回避向测量部运送,会残留重叠的电子部件101,因此需要消除该重叠。因此,使通常驱动该供给台103向逆时针方向(参照图2及图3)旋转的脉冲电动机105进行小刻度的左右旋转,使供给台103振动。通过该振动可以解除产生了重叠的电子部件101的重叠。上述供给台103的槽104为如下深度的浅槽:切实地接收电子部件101通过供给料斗102的供给,电子部件101不会因为上述振动而从供给台103振落(相当于电子部件的厚度的2~3倍)。通过上述槽和上述供给台的振动消除重叠。
获取电子部件的位置姿势等信息:
在供给台103上方设有相机201和照明202(参照图3)。相机201被配置在供给台103的b的位置(参照图2)的正上方,拍摄电子部件101进行图像处理。脉冲电动机105(参照图3)驱动供给台103向逆时针方向(参照图2)旋转。在供给台103的c的位置(参照图2),为了吸附运送电子部件101,配置有作为供给P&P部(吸附运送机构部)3的一部分的吸嘴301。
如图3所示,由相机201对相机201的拍摄范围内的电子部件101进行拍摄,进行图像处理,从而获取每个电子部件101在供给台103上的位置、姿势、重叠的信息。这样,获取从供给料斗102通过供给台103的旋转依次运送来的所有电子部件101的信息。上述信息被发送到图1所示的供给P&P部(吸附运送机构部)3的控制部7,如后文所述,电子部件101从供给台103的c的位置(参照图2)通过供给P&P部(吸附运送机构部)3的吸嘴301,根据上述信息被吸附运送,转移放置到图1所示的测量台部4上。
(供给P&P部(吸附运送机构部)的动作、向测量部转移电子部件)
供给P&P部(吸附运送机构部)3对吸嘴301进行操作,由此从供给台103向测量台401供给电子部件。图4表示上述位置关系。
对吸嘴301供给负压:
吸嘴301被设置在旋转轴302的下端。供给P&P部(吸附运送机构部)3的基础结构(支撑板A、B、C被一体设置)的支撑板A上设置的引导用的箱体(case)303被旋转轴302可旋转及升降地支撑。旋转轴302为管状,在其上端设有旋转连接器308,与旋转连接器308接合的空气导管309与真空产生装置(未图示)连接,向吸嘴301供给负压。
吸嘴301的旋转控制:
在旋转轴302上,在支撑板A的上部的位置,固定有同步轮304B。在支撑板A上还设有脉冲电动机306,在脉冲电动机306的输出轴上设有同步轮304A。脉冲电动机306的旋转经由同步带305被传递到同步轮304B上。
吸嘴301的升降控制:
在供给P&P部(吸附运送机构部)3的基础结构的支撑板C上设有直进导轨310,引导与上下用钩(hook)307一体设置的托板311,引导与该托板311一体的上下用钩307的上下方向的直进。上下用钩307与旋转轴302连接。在供给P&P部(吸附运送机构部)3的基础结构的支撑板B上设置的脉冲电动机313的输出轴上固定有摆动杆312。根据脉冲电动机313的左右旋转,摆动杆312进行上下摆动运动。该摆动运动经由托板311、上下用钩307被传递到旋转轴302,其结果进行吸嘴301的升降控制。
供给P&P部(吸附运送机构部)3的基础结构的水平移动:
如上所述,图4所示的脉冲电动机306和313一体设置在基础结构的基板上,可由未图示的驱动源向图1、4中的左右驱动。
供给P&P部(吸附运送机构部)3的综合动作:
基于位于图2所示的供给台103的c的位置上的电子部件101的信息的指令被输入到上述结构的供给P&P部(吸附运送机构部)3的各驱动源的控制装置,吸嘴301移动下降到待吸附的电子部件101上进行吸附并上升,向测量台401的预定的位置进行吸附运送。进而,从该供给台103到测量台401的吸附移动中,根据吸附的电子部件101的姿势信息向预定的姿势旋转,进行补正。另外,在电子部件101重叠的情况下,该电子部件101被遗漏而残留在供给台103上。
(测量部中的电子部件的测量)
图5、6及7表示测量台部4。图5是测量台部4的俯视图,图6是其侧视图。测量台401与脉冲电动机403的输出轴连接,可旋转。此外,在测量台401上埋设有绝缘材料405,在此设置有用于检查电子部件的电特性的带吸附孔的下电极404。在下电极404位于图中d所示的位置的状态下,电子部件101通过图4所示的吸嘴301被吸附运送,并吸附保持在位于测量台401的预定的位置上的下电极404的上方。
电子部件的定位保持机构之一:
在测量台401上设有用于将电子部件定位在接收由供给P&P部(吸附运送机构部)3运送的电子部件的测量台401的固定的位置上的定位机构。电子部件如图4所示由吸嘴301吸附运送,放置在位于测量台401的预定的位置上的下电极404的上方并被吸附保持时,产生微妙的位置偏移。因此,在测量台401上,具有用于将电子部件定位在下电极404的固定的位置上的定位机构。高精度地测量而对电子部件进行检查时,该定位机构是必不可缺的要素。
用于对放置在下电极404的上方并被吸附保持的电子部件进行位置校正以使其到固定的位置上的定位爪1即406和定位爪2即411被组装到正交的位置上。上述定位爪由各自独立的爪架407、搭载有爪架407的直进导轨408、用于驱动直进导轨408的气缸410、及用于气缸410的驱动恢复的拉伸弹簧409构成,被固定在同一支架412上,被搭载在测量台401上。对产生上述位置偏移的情况进行预测,将由供给P&P部(吸附运送机构部)3将电子部件吸附保持在下电极404的上方的位置设为靠近定位爪1及2的位置。通过使该两个定位爪406和411动作,放置并吸附保持在下电极404的上方的电子部件始终被位置校正在固定的位置。位置校正的动作完成后,各定位爪返回原来的位置。
图7是表示测量台401旋转到确定的三个位置的状态的俯视图。图中表示的d的位置为接收上述电子部件的位置,e的位置为设有搭载有与用于检查电子部件的电特性的下电极404成对的上电极的、图1所示的测量部5的位置,f的位置为用于取出到用于容纳电特性的检查完毕的电子部件的图1所示的分类部6中的运出位置。图7的(a)是测量台401的下电极404位于d的位置时的图,在该状态下接收电子部件。图7的(b)是测量台401的下电极404位于e的位置时的图,在该状态下检查电子部件的电特性。图7的(c)是测量台401的下电极404位于f的位置时的图,取出到用于容纳电特性的检查完毕的电极部件的图1所示的分类部6。测量台401通过图6所示的脉冲电动机403从d向e、进而从e向f进行右旋转,从f向d进行左旋转而返回,接收下一个电子部件。重复进行该循环。
图8是在上述图7的(b)中说明的设置在测量台401的e的位置的测量部5的俯视图,图9是从图8的图中的箭头X-X方向观察的测量部5的正视图,图10是图9的侧视图。上电极501被固定在架子503上,架子503被搭载在直进导轨506上,进而直进导轨506被搭载在通过滚珠螺杆509上下移动的滑动台508上。滚珠螺杆509经由联接器510与脉冲电动机511的输出轴连接。通过上述机构,上电极501可以根据脉冲电动机511的旋转进行上下移动。使上电极501下降,上电极501与电子部件接触之后也使其下降时,可以进行从搭载在滑动台508上的直进导轨506脱离的动作,因此不会损伤电子部件。
用于与电子部件的表面保持恒定的间隙的检测器的配置:
可以将上电极501与测量台401上的被检测的电子部件的表面的间隙保持恒定而检查电子部件的特性。通过在搭载有上电极501的架子503上搭载可测量距离的检测器502(参照图9)来实施。
电子部件的定位保持机构之二:
在测量台401上设有用于将电子部件定位在接收由供给P&P部(吸附运送机构部)3运送的电子部件的测量台401的固定的位置上的定位机构的情况如上所述,但是该结构也可以由图15、16及17所示的结构实现。图15是表示定位机构的俯视图,图16是从图15中所示的箭头Z1-Z1方向观察的侧视图,图17是从图15中所示的箭头Z2-Z2方向观察的侧视图。
与上述图5的说明同样地,对产生上述位置偏移的情况进行预测,将由供给P&P部(吸附运送机构部)3将电子部件吸附保持在下电极404的上方的位置设为靠近定位爪1即406及定位爪2即411的位置。在测量台401的d-f线上搭载有保持411即定位爪2的机构。该机构与在上述定位保持机构之一中说明的机构相同。在与定位爪2即411正交的位置,从测量台401的外侧配置有保持定位爪1即406的机构。定位爪1即406由爪架407、搭载爪架407的直动单元413构成,在测量台401的外侧由支架412固定。吸附保持在下电极404的上方的电子部件通过定位爪2即411的前进和使测量台401左旋转而将电子部件按压到定位爪1即406上的方法而被进行位置校正在固定的位置上。在此,使测量台401左旋转的角度是预先计算出的位置校正所需要的值。
用于强制性排除检查完毕的电子部件的排出机构:
需要将测量台上残留的检查完毕的电子部件强制地排除。图18是在上述定位机构上配置有用于将测量台上残留的检查完毕的电子部件强制地排除的排出机构的俯视图,图19是图18的排出机构的侧视图。在测量台401位于图18中的f的位置上的状态下,检查完毕的电子部件由分类部6的吸嘴601(参照图11)吸附而被运送到分类部6。此时若产生吸附失败,则电子部件残留在测量台401上。在下一个循环中其他电子部件重叠放置在该残留的电子部件上。为了避免该状况,需要将残留的电子部件强制地排除。
排出机构的排出爪701保持在爪架702上,爪架702被固定在空气驱动的直动单元703上,经由支架704固定在未图示的底板上。并且,排出机构被配置在如下位置上:在图中所示的e和f之间靠近f的位置、且在测量台上的电子部件旋转的轨迹上,在不干扰位于测量台401上的定位机构的位置。在检查完毕的电子部件从图中所示的e向f旋转时,排出爪701通过直动单元703向上方躲避,当电子部件到达图中所示的f的位置时,排出爪701通过直动单元703下降到与测量台401的表面接触的位置。另外,排出爪701具有通过未图示的弹簧按压测量台401的表面的结构。排出爪701的前端如图所示被倾斜地切断。在该状态下测量台401从图中所示的f向d的位置旋转时,若电子部件由于上述理由残留在测量台401上,则电子部件与排出爪701的倾斜的切断面相碰,并且沿着该切断面向测量台401的外侧排出。排出的电子部件被容纳到放置在测量台401的外侧的接收箱705中。
(其他获取图像处理数据的相机的配置)
在上述电子部件特性检查分类装置中,在通过供给P&P部(吸附运送机构部)3将电子部件从供给台103向测量台401运送的路径的下方设置有对电子部件进行图像处理的相机和照明。电子部件在上述路径上移动过程中,可以通过图像处理对电子部件的外观不良进行检查。
图20是表示在电子部件101通过供给P&P部(吸附运送机构部)3从供给台部1向测量台部4运送的路径的下方设置有用于对电子部件进行图像处理的相机801和照明802的变形例的正视图。由供给P&P部(吸附运送机构部)3吸附的电子部件被相机801拍摄而进行图像处理,上述相机801被设置在向图中的测量台部4的i的位置运送的路径的移动过程中的j的位置。通过图像处理可以检查出电子部件的外观不良,从而进行不良筛选。
(变形例)
对于以上详细说明的实施例,可以在本发明的范围内实施各种变形。作为电子部件的例子示例了石英振子,但是也可以用于其他电子部件、例如陶瓷振子的粗加工板的分类。
Claims (9)
1.一种部件分类装置,其特征在于,包括:
具有网眼板的多个容纳箱;
临时接收单元,由根据分类信号选择的容纳箱的网眼板和吸排出部构成,所述吸排出部具有吸排出孔,且移动设置于靠近上述容纳箱的网眼板的背面的位置;
吸嘴,在运出位置吸附部件,与上述吸排出部一体地移动,运送到部件与构成上述临时接收单元的容纳箱的网眼板的一面相对的位置并躲避;以及
压力控制单元,在断开上述吸嘴的吸附的同时,上述吸排出部的吸排出孔的吸附功能接通,由临时接收单元接收部件,使上述吸嘴躲避后,上述吸排出部的吸排出孔的排出功能接通,而使部件下落到容纳箱中。
2.根据权利要求1所述的部件分类装置,其特征在于,
上述吸嘴的基部和上述临时接收单元被支撑在共同的移动支架上,被设置成能够从上述运出位置移动到临时接收位置,上述吸嘴在上述临时接收位置能够向靠近上述网眼板的位置或者向脱离上述网眼板的位置移动。
3.根据权利要求1所述的部件分类装置,其特征在于,
通过选择在上述吸排出部上连接负压和正压,构成为能够从临时接收位置脱离。
4.一种电子部件特性检查分类装置,对电子部件的特性进行检查而进行分类,其特征在于,包括:
供给台部,将从供给料斗供给的电子部件搭载在供给台上并旋转;
相机部,用于拍摄散布在上述供给台上的上述电子部件,进行图像处理;
吸附运送机构部,根据上述电子部件的图像处理后的信息,从上述供给台的上述电子部件的运出位置逐个吸附上述电子部件并运送配置到配送位置;
测量部,在上述配送位置,在测量台部的测量台上接收电子部件,对其特性进行测量,产生分类信号;以及
部件分类部,由以下部件构成:具有网眼板的一个以上的容纳箱;临时接收单元,由根据上述分类信号选择的容纳箱的网眼板和吸排出部构成,所述吸排出部具有吸排出孔,且移动设置于靠近上述容纳箱的网眼板的背面的位置;吸嘴,从上述测量部的运出位置吸附电子部件,与上述吸排出部一体地移动,并运送到电子部件与构成上述临时接收单元的容纳箱的网眼板的一面相对的位置并躲避;以及压力控制单元,在断开上述吸嘴的吸附的同时,上述吸排出部的吸排出孔的吸附功能接通,由临时接收单元接收电子部件,使上述吸嘴躲避后,上述吸排出部的吸排出孔的排出功能接通,而使电子部件下落到容纳箱中。
5.根据权利要求4所述的电子部件特性检查分类装置,其特征在于,
上述供给台部的供给台具有圆环状浅槽,通过使驱动上述供给台旋转的驱动电动机进行小刻度的左右旋转,而使上述供给台振动,从而解除上述浅槽内的电子部件的重叠。
6.根据权利要求4所述的电子部件特性检查分类装置,其特征在于,
为了将上述电子部件定位在接收由上述吸附运送机构部运送的上述电子部件的上述测量台的固定的位置上,在上述测量台部的测量台上,设有具有一对定位爪的定位机构。
7.根据权利要求4所述的电子部件特性检查分类装置,其特征在于,
在上述测量部上,将检测器与上电极架子一体配置而构成,上述检测器为了将上电极与上述测量台上的被测量的上述电子部件的表面之间的间隙保持恒定,对到上述测量台表面的距离进行测量。
8.根据权利要求4所述的电子部件特性检查分类装置,其特征在于,
为了将残留在上述测量台上的检查完毕的上述电子部件强制地排除而设有具有倾斜切断面的排出爪,该排出爪向上述测量部的测量台的运出位置的上方躲避,在排出时向测量台的运出位置表面下降,通过测量台向设置上述排出爪的方向旋转,残留在上述排出位置的上述电子部件与上述排出爪的倾斜切断面相碰,而沿着该倾斜切断面向测量台的外侧排出。
9.根据权利要求4所述的电子部件特性检查分类装置,其特征在于,
在通过上述吸附运送机构部从上述供给台向上述测量台运送电子部件的路径的下方,设置用于对上述电子部件进行图像处理的相机和照明,
在上述电子部件在上述路径上移动过程中进行拍摄,根据上述图像处理对上述电子部件的外观进行检查。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008009606A JP5183220B2 (ja) | 2008-01-18 | 2008-01-18 | 部品分類装置および前記装置を用いた電子部品特性検査分類装置 |
JP2008009606 | 2008-01-18 | ||
JP2008-009606 | 2008-01-18 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN101486035A CN101486035A (zh) | 2009-07-22 |
CN101486035B true CN101486035B (zh) | 2014-05-07 |
Family
ID=40889184
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN200810082336.1A Active CN101486035B (zh) | 2008-01-18 | 2008-02-29 | 部件分类装置及使用上述装置的电子部件特性检查分类装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5183220B2 (zh) |
CN (1) | CN101486035B (zh) |
TW (1) | TWI429485B (zh) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101074532B1 (ko) * | 2009-08-02 | 2011-10-17 | 유병소 | 엘이디 칩 분류장치 및 그 제거유닛 |
CN102001018A (zh) * | 2010-10-29 | 2011-04-06 | 苏州工业园区高登威科技有限公司 | 一种自动送料设备 |
CN102698966B (zh) * | 2012-06-06 | 2013-09-25 | 显亮(昆山)汽车配件有限公司 | 钥匙自动分号机 |
CN103785618A (zh) * | 2012-11-01 | 2014-05-14 | 凯吉凯精密电子技术开发(苏州)有限公司 | 电路板用自动抓取检测设备及检测方法 |
CN104841640B (zh) * | 2015-04-30 | 2017-04-19 | 清华大学 | 一种辐照后颗粒自动分选装置 |
KR20160137865A (ko) * | 2015-05-22 | 2016-12-01 | 주식회사 탑 엔지니어링 | 카메라 모듈의 메모리 검사 장치 |
JP5800378B1 (ja) * | 2015-05-27 | 2015-10-28 | 上野精機株式会社 | 電子部品搬送装置 |
JP6164624B1 (ja) * | 2016-10-18 | 2017-07-19 | 上野精機株式会社 | 電子部品移動装置及び電子部品搬送装置 |
CN107685033A (zh) * | 2017-09-14 | 2018-02-13 | 成都容瓷电子科技有限公司 | 电容分选出料装置 |
CN107521976B (zh) * | 2017-09-26 | 2019-07-26 | 东莞华贝电子科技有限公司 | 一种自动上料装置 |
CN108325877B (zh) * | 2018-01-18 | 2019-05-17 | 温州职业技术学院 | 半导体制冷片检测设备 |
CN108357922B (zh) * | 2018-02-05 | 2019-12-03 | 浙江金康铜业有限公司 | 一种铜板材的上料移材设备及其上料移材方法 |
CN109048908A (zh) * | 2018-08-29 | 2018-12-21 | 重庆两江微链智能科技有限公司 | 机器人感知装置及系统 |
CN109107910A (zh) * | 2018-09-04 | 2019-01-01 | 上海雷迪埃电子有限公司 | 弹簧针连接器弹力检测机 |
JP7282359B2 (ja) * | 2019-04-04 | 2023-05-29 | アキム株式会社 | 部品搬送処理装置 |
EP3982704A4 (en) * | 2019-06-05 | 2022-07-13 | Fuji Corporation | PARTS FEED DEVICE |
CN110257794A (zh) * | 2019-07-05 | 2019-09-20 | 佛山王氏航空光学科技有限公司 | 用于镀膜机的炉内晶振片自动切换装置 |
CN110756462B (zh) * | 2019-09-24 | 2022-04-08 | 鲁班嫡系机器人(深圳)有限公司 | 电源适配器测试方法、装置、系统、控制装置及存储介质 |
CN111824726B (zh) * | 2020-07-31 | 2023-05-23 | 江苏华锟智能科技有限公司 | 一种X-ray检测机 |
CN114713510A (zh) * | 2022-06-10 | 2022-07-08 | 成都泰美克晶体技术有限公司 | 晶圆自动分类设备 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4908126A (en) * | 1986-11-11 | 1990-03-13 | Multitest, Elektronische Systeme Gmbh | Apparatus for testing and sorting electronic components, in particular IC's |
CN2781361Y (zh) * | 2004-01-16 | 2006-05-17 | 达方电子股份有限公司 | 元件测试分选机 |
CN2860631Y (zh) * | 2005-09-08 | 2007-01-24 | 慧萌高新科技有限公司 | 一种电子元件的分选装置 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0265928A (ja) * | 1988-08-31 | 1990-03-06 | Daikin Ind Ltd | 部品供給装置 |
JP2585133B2 (ja) * | 1990-08-24 | 1997-02-26 | ティーディーケイ株式会社 | 部品外観選別装置 |
JPH06115733A (ja) * | 1992-10-05 | 1994-04-26 | Nec Toyama Ltd | 基板移載装置 |
JPH07172565A (ja) * | 1993-12-22 | 1995-07-11 | Mazda Motor Corp | 搬送量調整用ターンテーブル |
JPH0824801A (ja) * | 1994-07-12 | 1996-01-30 | Sony Corp | 磁気ヘッドのチップ整列装置と部品整列装置 |
JP3409491B2 (ja) * | 1995-02-10 | 2003-05-26 | 株式会社村田製作所 | 被処理物の排出装置 |
JP3716141B2 (ja) * | 1999-10-26 | 2005-11-16 | 株式会社マキ製作所 | 農産物選別用の計測装置 |
JP3506074B2 (ja) * | 1999-11-16 | 2004-03-15 | 株式会社村田製作所 | 特性分類装置 |
JP2001170942A (ja) * | 1999-12-20 | 2001-06-26 | Harmo:Kk | 成形品取出装置 |
JP2002120937A (ja) * | 2000-10-16 | 2002-04-23 | Nippon Dempa Kogyo Co Ltd | 水晶振動子の移載収容方法 |
-
2008
- 2008-01-18 JP JP2008009606A patent/JP5183220B2/ja active Active
- 2008-02-29 CN CN200810082336.1A patent/CN101486035B/zh active Active
- 2008-03-12 TW TW97108735A patent/TWI429485B/zh active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4908126A (en) * | 1986-11-11 | 1990-03-13 | Multitest, Elektronische Systeme Gmbh | Apparatus for testing and sorting electronic components, in particular IC's |
CN2781361Y (zh) * | 2004-01-16 | 2006-05-17 | 达方电子股份有限公司 | 元件测试分选机 |
CN2860631Y (zh) * | 2005-09-08 | 2007-01-24 | 慧萌高新科技有限公司 | 一种电子元件的分选装置 |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
JP特开2001-26318A 2001.01.30 |
JP特开2003-40433A 2003.02.13 |
JP特开2006-68635A 2006.03.16 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW200932649A (en) | 2009-08-01 |
JP5183220B2 (ja) | 2013-04-17 |
JP2009166003A (ja) | 2009-07-30 |
TWI429485B (zh) | 2014-03-11 |
CN101486035A (zh) | 2009-07-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101486035B (zh) | 部件分类装置及使用上述装置的电子部件特性检查分类装置 | |
JP3687503B2 (ja) | 電子部品の搬送装置およびこの搬送装置を用いた検査装置 | |
JP4906058B2 (ja) | ワーク搬送システム | |
JP2001033392A (ja) | 錠剤の側面検査装置、及び表裏面検査装置、並びにこれらを用いた錠剤の外観検査装置 | |
JP2008105811A (ja) | ワークの外観検査装置 | |
CN108910128A (zh) | 一种sim卡座的自动包装设备 | |
KR20110013904A (ko) | 전자 부품 실장 장치 및 방법 | |
TWI806504B (zh) | 零件收容裝置及生產管理系統 | |
JP2007007608A (ja) | 微小物体検査装置 | |
TW202239316A (zh) | 零件收容裝置 | |
CN103298326A (zh) | 电子部件供给装置及电子部件安装装置 | |
CN106144069B (zh) | 电子元件包装载带检测方法及装置 | |
KR101360111B1 (ko) | 부품분류장치 및 이 장치를 이용한 전자부품 특성검사분류장치 | |
JP3553832B2 (ja) | 搬送装置、検査装置および整列供給装置 | |
JPH10139133A (ja) | 錠剤の整列供給装置 | |
CN211653091U (zh) | 软包锂离子电池自动测ocv设备 | |
JPH10170446A (ja) | 錠剤の姿勢変換機構及び錠剤の外観検査装置 | |
JP4181827B2 (ja) | 直方体素子検査装置 | |
TWI638170B (zh) | Electronic component working machine | |
JP3161829U (ja) | 水晶片検査分類装置 | |
JPH11227933A (ja) | 端子部品供給装置 | |
CN217141263U (zh) | 一种摆盘机转运分拣装置 | |
CN113636138B (zh) | 分光编带一体机 | |
TWI809759B (zh) | 零件收容裝置 | |
JP3471133B2 (ja) | カット面検査方法及び装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant |