CN101211598A - 光盘装置及其记录功率设定方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及光盘装置及其记录功率设定方法，在高密度光盘上记录数据时；高精度设定激光功率的最佳值。对于光盘使擦除功率(Pe)固定使记录功率(Pw)变化，并记录测试信号。再现记录的信号，取得表示各记录功率的再现信号的非对称性的β值。这时，对以蓝光盘为代表的高密度大容量的光盘，特别是利用由称为设在由该光盘固有的规定信息记录单位(RUB)分割为多个区域构成的记录区域的一部分上的APC区域的区域，再通过平均化，设定β值和最佳的记录功率(Pwo)。这里，固定的擦除功率(Pe)从记录别的测试信号，调制度M值的测定结果决定。或者，根据在该光盘上预先决定的策略信息，或者取与光盘无关的Pe≈0。

Description

光盘装置及其记录功率设定方法

技术领域

本发明涉及在作为圆盘状的信息记录介质的光盘上记录数据的光盘装置，特别是涉及最佳地调整激光束记录功率的光盘装置及其记录功率设定方法。

背景技术

以往，当在光盘上记录数据时，通过进行测试记录，求激光束的最佳记录功率，以便得到在每个光盘上很好的记录品质，利用该求出的最佳记录功率进行记录数据。以下，将这种工序称为OPC(最佳功率控制)。这时，根据以往技术，作为评价记录品质的参数，实行和提出了各种方式。例如，在CD或DVD盘中，使用以记录的信号的非对称性(β值)作为评价指标的方法(β方式)。另外，对于高密度大容量的蓝光(BD：Blu-ray)盘，以调制度作为评价指标，推荐通过直线近似评价指标的变化，求出最佳值的高法的所谓κ(卡帕)方式(更详细说，在BD-RE中推荐κ方式，而在BD-R中推荐κ方式或β方式)。将设定这些各方式的记录条件的参数，作为控制数据存放在每个光盘的一部分上。

另外，提出了改良这些方法，高精度地设定最佳条件的方法。例如，在以下的专利文献1中，作为β方式的改良，说明了根据从光盘取得的反射率的值和β值，设定记录功率的方法。另外，在以下的专利文献2中，说明了作为κ方式的改良，进行2次调制度的测定，从以目标功率强度为中心的范围的测定结果，求最佳值的方法。

另外，在光盘的高速记录中，主要使用称为CAV(固定角速度)的从内周向着外周提高记录速度方式。通过在位于光盘的内周和外周之间的区域中，在由试写求出的最佳值上加上计算进行的校正，求出进行光盘记录的激光功率和策略。

例如，在以下的专利文献3中，记载使用CAN记录的内周试写和外周试写的方式。采用这种方式，如图15所示，在光盘内周的OPC区域外周的OPC区域中，分别求出最佳记录功率，利用线形插补求出光盘各半径位置(横轴)的应投入的记录功率(纵轴)。另外，还已知在与CAV记录不同的CLV(固定线速度)记录中，在光盘的内外周上，以相同速度进行OPC，求出最佳记录功率。在该求出的功率中出现差值的情况下，与上述同样，利用线形插补求光盘各半径位置的记录功率。

另一方面，必需掺入各个光盘内的灵敏度不均匀对记录的影响或周围温度变化造成激光特性变化对记录的影响，通常在DVD中，使用确认称为工作OPC的记录中的记录品质的方法。这是如图16所示，在光盘上进行一定程度记录后，一旦中断记录，通过研究该记录中断前的记录品质(例如β等)，以校正记录功率为内容。这种工作OPC的一个例子在以下的专利文献4中说明。

[专利文献1]特开2005-116027号公报

[专利文献2]特开2005-149538号公报

[专利文献3]特开2005-190525号公报

[专利文献4]特开2004-234812号公报

发明内容

然而，在上述的BD盘那样的高密度大容量的盘中，要求设定更细致的最佳记录功率。

然而，对于这种要求，上述以往的β方式为简便地评价记录品质的方法，但在最佳记录功率附近的测定灵敏度差，(对于记录功率值的β值的变化小)，难以进行精度良好的测定。另外，在上述以往技术的κ方式中，由于在直线近似附近成为低功率，因此测定精度降低，因此得到的记录功率的最佳值的偏差大。

而且，利用上述专利文献1所述的方法，必需新的反射率值的测定技术，而利用上述专利文献2所述的方法，存在必要二次进行β值测定的问题。

另外，上述专利文献3中所述的方法对于随着激光器特性的变化因温度变化而弱，更由于线性插补，误差比较大，对于BD盘那样的高密度大容量的盘不能进行细致的最佳记录功率的设定。另外，上述专利文献4中所述的方法在上述BD盘，特别是称为BD-R(只可记录1次)的盘的一部分，称为BD-RE(可改写)的盘的全部，因为在最佳记录功率附近的，对记录功率的β灵敏度差，存在不能使用本方法的问题。另外，如以后所述那样，在蓝光盘中，由工作OPC进行β值评价困难，由于这样，必需新的确认记录中的记录品质的方法。

因此，在本发明中目的是提供在以蓝光盘为代表的高密度大容量的光盘中，对由在最佳记录功率附近的测定灵敏度差，以作为规定的信息记录单位的RUB单位分割为多个的记录区域构成，而且设置可在各记录区域的一部分上进行与信息记录无关的自由的记录的区域的光盘，确认记录中的记录品质，设定最佳的记录功率的新的方法。

在本申请前，本发明人等在2005年12月1日提出的日本专利特开2005-347484中，确认通过使用使擦除功率(Pe)为一定的测试信号，使β灵敏度变好，提出了利用它的最佳记录功率的设定方法或此外，合并使用以调制度M作为指标的κ法情况的最佳记录功率的设定方法。

在本发明中，提出了特别是在BD盘那样的高密度大容量的盘中采用这种最佳记录功率设定方法，这时，如上所述，通过利用称为设在由规定的信息记录单位(RUB)分割为多个区域构成的记录区域的一部分中的APC区域的区域，确认记录中的记录品质，设定最佳的记录功率的新的方法。

更具体地，根据本发明，为了达到上述目的，提供了一种光盘装置，是对在记录面上分割有由规定信息记录单位构成的多个记录区域而构成的、且在该记录区域的一部上具有可进行与信息记录无关的记录的区域而构成的光盘，进行记录和再现数据的光盘装置，具有，生成测试信号的信号形成电路；根据从该信号形成电路供给的测试信号，向该光盘照射激光，并记录测试信号，然后从该光盘再现上述测试信号的光拾取器；由该光拾取器所再现的上述测试信号，取得表示非对称性的β值的检测电路；和由该检测电路所取得的β值成为目标β值的记录功率，设定最佳的记录功率Pwo的控制电路，上述信号形成电路，作为上述测试信号，生成擦除功率Pe固定而使记录功率Pw变化的测试信号，同时，对形成于上述光盘的记录区域的一部分上的可进行与该信息记录无关的记录的区域，记录上述测试信号，从而设定对该光盘的最佳的记录功率Pwo。

另外，根据本发明，为了达到上述目的，提供了，一种记录功率设定方法，是对在记录面上分割有由规定信息记录单位构成的多个记录区域而构成的、且在该记录区域的一部上具有可进行与信息记录无关的记录的区域而构成的光盘，设定记录数据时的记录功率的记录功率设定方法，对形成于该光盘的记录区域的一部分上的可进行与信息记录无关的记录的区域，记录擦除功率Pe固定且使记录功率Pw变化的测试信号；再现该已记录的信号，取得相对于该记录功率的表示再现信号的非对称性的β值；由该取得的β值成为目标β值的记录功率，设定所述最佳的记录功率Pwo。

而且，在本发明中，在上述光盘装置或记录功率设定方法中优选为，为了决定在所述测试信号中使用的擦除功率Pe，所述信号形成电路生成第二测试信号，并将其记录在形成于所述光盘的记录区域的一部分上的可进行与该信息记录无关的记录的区域上；所述检测电路由从该光盘再现的该第二测试信号，取得表示振幅值的调制度M值；所述信号形成电路，根据该检测电路取得的调制度M值的结果，决定在所述测试信号中使用的擦除功率Pe。或者优选为，所述信号形成电路，作为在所述测试信号中使用的擦除功率Pe，根据在所述光盘上预先记录的记录条件或该装置对该光盘设定的记录条件，而决定Pe的值，并将其记录在形成于所述光盘的记录区域的一部分上的可进行与该信息记录无关的记录的区域上，或，所述信号形成电路，作为在所述测试信号中使用的擦除功率Pe，使用大致零值(Pe≈0)生成测试信号，并对形成于所述光盘的记录区域的一部分上的可进行与该信息记录无关的记录的区域进行记录。

或者，在上述光盘装置或记录功率设定方法中优选为，对于已记录在形成于所述光盘的记录区域的一部分上的可进行与该信息记录无关的记录的区域上的所述测试信号的再现信号，将多个其中表示非对称性的β值的测定值进行平均，由此设定对该光盘的最佳记录功率Pwo。

附图说明

图1为表示本发明的光盘装置的一个实施例的方框图；

图2为以模型表示测试记录用的记录波形的图；

图3对于β值测定，比较以往方法和本实施例的方法的图；

图4为说明在本实施例中并用的κ方式的测定法的图；

图5为表示最佳记录功率设定方法(1)的流程图；

图6为表示最佳记录功率设定方法(2)的流程图；

图7为表示最佳记录功率设定方法(3)的流程图；

图8为说明本发明的一个实施例的最佳记录功率决定方法的图；

图9为说明本发明的另一个实施例的最佳记录功率决定方法的图；

图10为说明本发明的另一个实施例的最佳记录功率决定方法的图；

图11为说明本发明的另一个实施例的最佳记录功率决定方法的图；

图12为说明本发明的另一个实施例的最佳记录功率决定方法的图；

图13为说明本发明的另一个实施例的最佳记录功率决定方法的图；

图14为说明本发明的另一个实施例的最佳记录功率决定方法的图；

图15为说明以往技术的最佳记录功率决定方法的图；

图16为说明以往技术的最佳记录功率决定方法(工作OPC)的图；

具体实施方式

以下，参照附图详细说明本发明的实施例。首先，图1为表示本发明的一个实施例的光盘装置的概略结构的方框图。

在图1中，本实施例的光盘装置具有安装以蓝光光盘为代表的高密度大容量的光盘1，以规定的转数驱动旋转的主轴电机3；和将由半导体激光器产生的激光照射在由该主轴电机驱动旋转的光盘1的记录面(图的下面)上，由此对数据或测试信号进行记录，或进行再现的光拾取器2。另外，在光拾取器2上安装有滑动机构4，利用该机构的工作使上述光拾取器2移动至以规定的速度驱动旋转的光盘1上的所希望的轨道位置。

另一方面，图示的记录信号形成电路6生成要记录的数据或测试信号。激光驱动器5根据来自该电路的数据或测试信号，控制半导体激光器的发光功率。结果，将上述数据或测试信号记录在光盘上的所希望的轨道位置上。

另外，光拾取器2从以规定的转数驱动旋转的光盘1再现上述记录的数据或测试信号。对该再现信号(RF信号)在RF信号放大电路7中放大，在数据解调电路8中解调，并作为再现数据(信息)输出。

而且，图中的OPC信息检测电路9从上述测试信号的再现结果取得OPC信息(β值等品质)。在光盘1的控制区域中，作为控制数据预先记录包含该光盘的记录功率设定的记录条件(以下称为策略信息)，通过读出该信息，在最佳记录条件的决定中加以利用。

另外，聚焦和跟踪误差信号检测器11检测例如再现信号(RF信号)的电平，生成聚焦误差和跟踪误差信号，聚焦·跟踪控制电路12根据该误差信号，进行光拾取器2的聚焦控制和跟踪控制。另外，系统控制器(控制电路)10包含记录功率设定工序(OPC)的全体装置的控制，将其所使用的程序或数据存放在存储器13中。

在上述结构中，特别是当说到最佳记录功率设定时，参考策略信息，由记录信号形成电路6形成记录功率等阶段地变化的测试信号，并在光盘1的OPC区域上进行测试记录。其次，利用光拾取器2再现测试信号，在OPC信息检测电路9中测定再现波形的品质(调制度或非对称性)。系统控制器(控制电路)10，根据有关再现波形品质的测定结果来决定记录功率的最佳值。

接着，说明本实施例的最佳记录功率设定方法。即：图2为以模型表示测试记录用的记录波的图。纵轴表示发光功率电平，记号Pw表示记录功率wp，Pe表示擦除功率。记录功率Pw在规定的范围内阶段地变化。这时，使擦除功率Pe为固定(在一部分工序中，使Pe与记录功率Pw一起变化，以使Pw/Pe比为一定)。

另外，在本实施例中，当再现波形品质评价时，使用以下的指标。一是表示再现波形的正负振幅的非对称性的β值(β方式)。另一个是，用其与最大(饱和)振幅的比率表示再现波形的振幅大小的调制度M。以往，是设定β值或M值的目标值(Target)，以得到目标值的功率Pw为基础，决定最佳的记录功率Pwo。但在本实施例中，将这种方法改良了。

(β方式)

即首先，为了决定最佳记录功率，采用利用β值评价品质的β方式。在以调制度M作为指标的κ方式中，由于以RF振幅的峰值电平(绝对值)为基准，测定调制度M，特别是从2层介质中的其它层(记录完)混入的信号作为偏移对调制度造成影响，并且该影响难以避免。与此相对，在该β方式中，因为由峰值电平和DC电平的差(相对值)与RF振幅的比求β值，不受从其它层来的偏移的影响。另外，在本实施例中，其特征在于，为了提高其精度，使测试信号的擦除功率Pe固定。

图3为，对于β值测定，特别对以往方法与本实施例的方法进行比较的图。首先，图3(a)表示以往的方法，使擦除功率Pe与记录功率Pw一起变化，以使Pw/Pe的比为一定，由此来测定β值。然而，在这种方法中，在低功率区域中，特性曲线的斜度很大，另一方面，在得到目标值Target_β的高功率区域中，特性曲线的斜度平缓。特别是如上述的BD盘那样，在要求细致的调整的情况下，特性曲线上必需有适当的斜度。在图3(a)所示的记录功率的特性中，难以高精度地求得最佳值Pwo。

与此相对，图3(b)为使擦除功率Pe固定，并且只使Pw变化，由此测定β值。而且，在此表示将Pe设定为比通常的擦除功率Pe低的值a，b，c(a＞b＞c)的情况下得到的特性曲线。即，根据这种方式，在高功率区域上的曲线具有适当的斜度(即测定灵敏度高)，可以高精度地求出Target_β的最佳功率Pwo。但是，通过赋予上述Pe值，β曲线偏移，求出的最佳值Pwo的值偏移。因此，必需预先正确地求出Pe值。图3(c)为将Pe值固定为“0”的情况。在这种情况下，β曲线具有适当的斜度，但这时，必要将Pe值校正为“0”(例如Target_β的校正)。

当设定最佳值Pwo值时，不仅是使得到目标值Target_β的记录功率值直接作为最佳值Pwo，此外，也可以将规定的系数与得到目标值Target_β的记录功率值相乘，求最佳值Pwo的值。

以下，如上所述，利用图5的流程图说明固定擦除功率Pe的具体的最佳记录功率的设定方法的顺序。

(设定方法1)

图5是为了求固定的Pe，在并用以调制度M为指标的κ法的情况下的最佳记录功率设定方法的流程图。而且图4为说明所并用的κ方式的测定法的图。

(κ方式)

在步骤S51～S54中，利用κ方式决定临时的Pw(Pw’)和临时的Pe(Pe’)。在步骤S51中，在Pw/Pe＝s(已知的系数，一定)下，使Pw、Pe变化，而进行测试记录，测定调制度M(图4(a))。这时的系数“s”，参照在该光盘的控制数据中所包含的策略信息或装置厂商对该光盘所决定的存放在存储器13中的策略信息。在步骤S52中，在调制度M成为目标值Target_M的Pw(Ptarget)附近，直线近似和M的积(Pw×M)与Pw的关系(图4(b))。在步骤S53中，将与横轴(Pw×M＝0)的交点的Pw值作为截距Pthr。在步骤S54中，将规定的系数κ，ρ(都为已知)与Pthr相乘而决定临时的Pw’，还乘以1/s而决定临时的Pe’。

接着，在步骤S55～S58中，利用β方式决定最佳值Pwo和Peo。首先，在步骤S55中，使Pw以临时的Pw’为中心，在规定范围n％～m％内变化，对于Pe，则固定为临时的Pe’，并记录测试信号。在步骤S56中，再现已记录的测试信号，取得OPC信息，这里是取得β值(非对称性)。在步骤S57中，由β值成为Target_β的Pw，决定最佳值Pwo。在步骤S58中，将1/s与Pwo相乘，决定最佳值Peo。

根据上述方法，作为β测定时的Pe值，使用利用κ法求出的值Pe’值，因此精度极高，可以设定正确的记录功率。最佳的Pe值因盘的种类而不同，或者因驱动器的偏差或温度条件也会产生变动，但采用这种方法可得到对这些变动经常进行稳定的设定的效果。

(设定方法2)

图6是为了求固定的Pe，参照该盘的策略信息等情况下的最佳记录功率设定方法的流程图。

在步骤S61中，从光盘的控制数据或装置的存储器13读出策略信息，由记述的值设定临时的Pw’和临时的Pe’，成为比Pw’/Pe’＝s。在步骤S62中，使Pw以临时Pw’为中心在规定范围n％～m％内变化，将Pe固定为临时的Pe’，并记录测试信号。在步骤S63中，再现已记录的测试信号，取得β值。在步骤S64中，由β值成为Target_β的Pw决定最佳值Pwo。在步骤S65中，将1/s与Pwo相乘，决定最佳值Peo。

根据该方法，可缩短功率设定工序。即：由上述(设定方法1)进行的κ方式(S51～S54)的工序可省略，可以缩短设定时间。

(设定方法3)

图7为表示如图3(c)所示，当固定为Pe＝0时的最佳记录功率设定方法的流程图。

在步骤S71中，从光盘的控制数据或装置的存储器13读出策略信息，由记述的值设定临时的Pw’和临时的Pe’，成为比Pw/Pe’＝s。在步骤S72中，使Pw以临时Pw’为中心在规定范围n％～m％内变化，将Pe固定为0，并记录测试信号。这里所述的Pe＝0，不是意味严格地为“零”，而是表示与其他值(Pw)比较，成为大致接近于零的值。在步骤S73中，再现测试信号，取得β值。在步骤S74中，由β值成为Target_β的Pw决定最佳值Pwo。在这种情况下，为了补偿假定Pe＝0的β曲线的偏移，在Target_β值中使用校正值。在步骤S75中，将1/s与Pwo相乘，决定最佳值Peo。

采用这种方法，测定的β曲线只一条，从它求出的最佳值不受光盘的种类和装置的偏差或温度条件左右，可得到稳定的结果。另外，必要的测定为β方式的一次的工序，由于这样，可以大大缩短时间。

如上那样，根据上述的最佳记录功率决定方法，为了决定最佳记录功率，采用固定擦除功率Pe使记录功率Pw变化而取得β值的β方式，或采用以调制度M为指标的κ方式。另外，在本发明中，利用这些方式，特别对于以蓝光盘为代表的高密度大容量的光盘，可以确认记录中的记录品质，设定最佳的记录功率。更具体地是，该方法可使用在以蓝光盘为代表的高密度大容量光盘中，这时可提供特别是利用在该光盘上由固有的规定的信息记录单位(RUB)分割为多个区域构成的记录区域的一部分上设置的、称为APC区域的区域，确认记录中的记录品质，设定最佳的记录功率的新的方法。

在图8(a)中表示在上述蓝光盘(BD)的记录面上形成多个信息记录单位(RUB)，在其先头部分上，如图8(b)所示，以5wbs(摆动)为单位，设置上述APC区域。在本发明中，通过着眼于该APC区域，提供确认记录中的记录品质，设定最佳的记录功率的新方法。然而，如上所述，该APC区域的数据长为5wbs(摆动)之短，由于这样，利用下述的方法，可使用上述的最佳记录功率决定方法。即：该APC区域为5wbs非常短，由于这样，只在1个APC区域上取得的测定数据少，其值有偏差。因而，通过利用多个APC区域，可利用上述的最佳记录功率决定方法取得充分的测定数据，而且为取得偏差少的最佳记录功率的方法。

首先，在图9～图11中，表示本发明的一个实施例的最佳记录功率决定方法。在该例子中，在多个上述APC区域中实行上述β方式或κ方式的最佳记录率决定方法，取得测定数据，通过求其平均值。通过利用上述设定方法中任何一个，决定最佳的记录功率。在这些图中，纵轴表示激光功率，横轴表示上述蓝光盘(BD)为记录面上的RUB半径位置，即各RUB的ID号码。

即：利用图9所示的最佳记录功率决定方法，跨越多个RUB，利用位于其一部分上的多个APC区域依次改变其记录功率(例如...P_k-1、P_k、P_k+1...)并进行记录，然后，利用上述最佳记录功率决定方法，对它们一起进行处理取得测定数据。这时，在该例中，分别对上述变化的记录功率的各个取得多个数据，通过求平均值(数据平均化)，可以进行偏差少的测定，从而可取得可靠的最佳记录功率(最佳功率)。在取得最佳记录功率(最佳功率)后，光盘装置根据所取得的最佳功率，校正最佳记录功率(功率校正)。

另外，在图10所示的最佳记录功率决定方法中，在相邻组的APC区域上依次改变记录功率(例如...P_k-1、P_k、P_k+1...)，并在多个组的APC区域上进行记录，然后，利用上述最佳记录功率决定方法，对它们进行处理而取得测定数据。这时，在这个例子中，取得互相离开的APC区域的数据，通过求平均值(数据平均化)，与上述同样，可进行偏差少的测定，同时，可以适合地决定，在记录面上为不均匀特性的光盘的最佳记录功率的决定。在图11中还表示这时求在各组APC区域中进行所求出的最佳记录功率(最佳功率)的平均的方法。这样可得到与上述同样的效果。

图12表示另一种方法，它是最佳记录功率决定方法。一旦在多个APC区域中，依次改变记录功率(例如...P_k-1、P_k、P_k+1...)求最佳记录功率(最佳功率)并进行功率(Power)校正，然后，依次改变记录功率(例如...P_k-1、P_k、P_k+1…)并进行功率校正。这时，每当进行下一个APC区域的记录(在这种情况下，为功率P_k-1的记录)时，通过从之前的测定数据除去一个数据(在这种情况下，为最初的功率Pk-1的记录)，求平均值(数据平均值)，由此对接着的RUB依次进行最佳记录功率决定方法。根据这种方法，从图中可看出，因为可以对连续的RUB依次进行功率校正，特别是逐次确认记录中的记录品质，适于设定最佳的记录功率。

另外，在图13所示的最佳记录功率决定方法中，与上述方法不同，以相邻的多个RUB为单位，对其一部分的APC区域(在图的例子中，先头的RUB的APC区域)，换句话说，在APC区域间空出几个RUB区域，与上述同样，依次改变记录功率(例如...P_k-1、P_k、P_k+1...)并进行功率校正，然后对这些区域一起处理而取得测定数据。结果，通过由得到的测定数据求平均值(数据平均化)，与上述同样，可进行偏差少的测定，同时，用这种方法，可以对规定的区域进行更迅速的最佳记录功率的决定。

另外，在图14(a)和(b)中表示另一种方法。利用该最佳记录功率决定方法，与所谓的工作OPC同样，可对多个APC区域依次改变记录功率(例如...P_k-1、P_k、P_k+1...)，然后回到该多个APC区域，一起处理而取得测定数据。根据这样得到的测定数据进行功率校正，然后，再开始记录，但中断用于决定最佳记录功率的记录，即在此期间空出几个RUB区域，再次重复上述动作。利用这种方法，与工作OPC同样，可对规定的区域进行可靠而更迅速的最佳记录功率的决定。

即，在上述各种所述的最佳记录功率决定方法中，作为β测定的记录功率设定方法，通过利用上述各种方法，特别是在以蓝光盘为代表的高密度大容量光盘使用，可以确认记录中的记录品质，设定最佳的记录功率。这里特别详细说明了使Pe一定，求β的方式，但本发明不是仅限于此，此外，通过利用β方式，γ方式，κ方式等，也可以实现。

如上所述，采用本发明可发挥提供对以蓝光盘为代表的高密度大容量光盘确认记录中的记录品质，设定最佳的记录功率的光盘装置及其记录功率设定方法的优良的效果。

Claims (16)

1.一种光盘装置，是对在记录面上分割有由规定信息记录单位构成的多个记录区域而构成的、且在该记录区域的一部上具有可进行与信息记录无关的记录的区域而构成的光盘，进行记录和再现数据的光盘装置，其特征在于，

具有，

生成测试信号的信号形成电路；

根据从该信号形成电路供给的测试信号，向该光盘照射激光，并记录测试信号，然后从该光盘再现所述测试信号的光拾取器；

由该光拾取器所再现的所述测试信号，取得表示非对称性的β值的检测电路；和

由该检测电路所取得的β值成为目标β值的记录功率，设定最佳的记录功率Pwo的控制电路，

所述信号形成电路，作为所述测试信号，生成擦除功率Pe固定而使记录功率Pw变化的测试信号，同时，

对形成于所述光盘的记录区域的一部分上的可进行与该信息记录无关的记录的区域，记录所述测试信号，从而设定对该光盘的最佳的记录功率Pwo。

2.如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，

为了决定在所述测试信号中使用的擦除功率Pe，所述信号形成电路生成第二测试信号，并将其记录在形成于所述光盘的记录区域的一部分上的可进行与该信息记录无关的记录的区域上；

所述检测电路由从该光盘再现的该第二测试信号，取得表示振幅值的调制度M值；

所述信号形成电路，根据该检测电路取得的调制度M值的结果，决定在所述测试信号中使用的擦除功率Pe。

3.如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，

所述信号形成电路，作为在所述测试信号中使用的擦除功率Pe，根据在所述光盘上预先记录的记录条件或该装置对该光盘设定的记录条件，而决定Pe的值，并将其记录在形成于所述光盘的记录区域的一部分上的可进行与该信息记录无关的记录的区域上。

4.如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，

所述信号形成电路，作为在所述测试信号中使用的擦除功率Pe，使用大致零值(Pe≈0)生成测试信号，并对形成于所述光盘的记录区域的一部分上的可进行与该信息记录无关的记录的区域进行记录。

5.如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，

对于已记录在形成于所述光盘的记录区域的一部分上的可进行与该信息记录无关的记录的区域上的所述测试信号的再现信号，将多个其中表示非对称性的β值的测定值进行平均，由此设定对该光盘的最佳记录功率Pwo。

6.如权利要求2所述的光盘装置，其特征在于，

对于已记录在形成于所述光盘的记录区域的一部分上的可进行与该信息记录无关的记录的区域上的所述测试信号的再现信号，将多个其中表示非对称性的β值的测定值进行平均，由此设定对该光盘的最佳记录功率Pwo。

7.如权利要求3所述的光盘装置，其特征在于，

对于已记录在形成于所述光盘的记录区域的一部分上的可进行与该信息记录无关的记录的区域上的所述测试信号的再现信号，将多个其中表示非对称性的β值的测定值进行平均，由此设定对该光盘的最佳记录功率Pwo。

8.如权利要求4所述的光盘装置，其特征在于，

对于已记录在形成于所述光盘的记录区域的一部分上的可进行与该信息记录无关的记录的区域上的所述测试信号的再现信号，将多个其中表示非对称性的β值的测定值进行平均，由此设定对该光盘的最佳记录功率Pwo。

9.一种记录功率设定方法，是对在记录面上分割有由规定信息记录单位构成的多个记录区域而构成的、且在该记录区域的一部上具有可进行与信息记录无关的记录的区域而构成的光盘，设定记录数据时的记录功率的记录功率设定方法，其特征在于，

对形成于该光盘的记录区域的一部分上的可进行与信息记录无关的记录的区域，记录擦除功率Pe固定且使记录功率Pw变化的测试信号；

再现该已记录的信号，取得相对于该记录功率的表示再现信号的非对称性的β值；

由该取得的β值成为目标β值的记录功率，设定所述最佳的记录功率Pwo。

10.如权利要求9所述的记录功率设定方法，其特征在于，

为了决定在所述测试信号中使用的擦除功率Pe，生成第二测试信号，并将其记录在形成于所述光盘的记录区域的一部分上的可进行与该信息记录无关的记录的区域上；

由从该光盘再现的该第二测试信号，取得表示振幅值的调制度M值；

根据该检测电路所取得的调制度M值的结果，决定在所述测试信号中使用的擦除功率Pe。

11.如权利要求9所述的记录功率设定方法，其特征在于，

作为在所述测试信号中使用的擦除功率Pe，根据在所述光盘上预先记录的记录条件或该装置对该光盘设定的记录条件，而决定Pe的值，并将其记录在形成于所述光盘的记录区域的一部分上的可进行与该信息记录无关的记录的区域上。

12.如权利要求9所述的记录功率设定方法，其特征在于，

作为在所述测试信号中使用的擦除功率Pe，使用大致零值(Pe≈0)生成测试信号，并对形成于所述光盘的记录区域的一部分上可进行与该信息记录无关的记录的区域进行记录。

13.如权利要求9所述的记录功率设定方法，其特征在于，

对于已记录在形成于所述光盘的记录区域的一部分上的可进行与该信息记录无关的记录的区域上的所述测试信号的再现信号，将多个其中表示非对称性的β值的测定值进行平均，由此设定对该光盘的最佳记录功率Pwo。

14.如权利要求10所述的记录功率设定方法，其特征在于，

对于已记录在形成于所述光盘的记录区域的一部分上的可进行与该信息记录无关的记录的区域上的所述测试信号的再现信号，将多个其中表示非对称性的β值的测定值进行平均，由此设定对该光盘的最佳记录功率Pwo。

15.如权利要求11所述的记录功率设定方法，其特征在于，

对于已记录在形成于所述光盘的记录区域的一部分上的可进行与该信息记录无关的记录的区域上的所述测试信号的再现信号，将多个其中表示非对称性的β值的测定值进行平均，由此设定对该光盘的最佳记录功率Pwo。

16.如权利要求12所述的记录功率设定方法，其特征在于，

对于已记录在形成于所述光盘的记录区域的一部分上的可进行与该信息记录无关的记录的区域上的所述测试信号的再现信号，将多个其中表示非对称性的β值的测定值进行平均，由此设定对该光盘的最佳记录功率Pwo。

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