JP2008159195A - 光ディスク装置及びその記録パワー設定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 光ディスクに、消去パワーPeを固定し記録パワーPwを変化させたテスト信号を記録する。記録した信号を再生して各記録パワーに対する再生信号の非対称性(アシンメトリ)を示すβ値を取得する。この時、ブルーレイディスクに代表される高密度大容量の光ディスクに対し、特に、当該ディスクに固有な、所定の情報記録単位(RUB)によって多数の領域に分割されて構成された記録領域の一部に設けられたAPC領域と呼ばれる領域を利用し、更には、その平均化によりβ値を、最適の記録パワーPwoを設定する。ここで、固定する消去パワーPeは、別のテスト信号を記録し、変調度M値の測定結果から決める。またはその光ディスクに対し予め定められたストラテジ情報に従う。又は、光ディスクに関係なくPe≒0とする。
【選択図】 図9
Description
<β方式>
図5は、固定とするPeを求めるために、変調度Mを指標とするκ法を併用する場合の最適記録パワー設定方法のフローチャートである。なお、図4は、併用するκ方式の測定法を説明する図である。
<κ方式>
図6は、固定とするPeを求めるために当該ディスクのストラテジ情報などを参照する場合における、最適記録パワー設定方法のフローチャートである。
図7は、図3(c)のようにPe=0に固定した場合における最適記録パワー設定方法のフローを示す図である。
Claims (10)
- 記録面上において、所定の情報記録単位からなる複数の記録領域が分割されて構成されており、かつ、当該記録領域の一部に、情報記録に関係しない記録が可能な領域を備えてなる光ディスクに対し、データを記録及び再生する光ディスク装置において、
テスト信号を生成する信号形成回路と、
該信号形成回路から供給されるテスト信号に基づいて該光ディスクにレーザ光を照射してテスト信号を記録し、そして、該光ディスクから前記テスト信号を再生する光ピックアップと、
該光ピックアップの再生した前記テスト信号から非対称性を示すβ値を取得する検出回路と、
該検出回路の取得したβ値が目標β値となる記録パワーから最適の記録パワーPwoを設定する制御回路とを備え、
上記信号形成回路は、上記テスト信号として、消去パワーPeを固定し記録パワーPwを変化させたテスト信号を生成すると共に、
上記テスト信号を、前記光ディスクの記録領域の一部に形成した当該情報記録に関係しない記録が可能な領域に対して記録することにより、当該光ディスクに対する最適の記録パワーPwoを設定することを特徴とする光ディスク装置。 - 前記請求項1記載の光ディスク装置において、
前記信号形成回路は、前記テスト信号に用いる消去パワーPeを決定するために、第2のテスト信号を生成して前記光ディスクの記録領域の一部に形成した当該情報記録に関係しない記録が可能な領域に記録させ、
前記検出回路は、該光ディスクより再生される該第2のテスト信号から振幅値を示す変調度M値を取得し、
前記信号形成回路は、該検出回路の取得した変調度M値の結果に基づき、前記テスト信号に用いる消去パワーPeを決定することを特徴とする光ディスク装置。 - 前記請求項1記載の光ディスク装置において、
前記信号形成回路は、前記テスト信号に用いる消去パワーPeとして、前記光ディスクに予め記録されている記録条件、又は、当該装置が該光ディスクに対して定めている記録条件に従い、Peの値を決定して前記光ディスクの記録領域の一部に形成した当該情報記録に関係しない記録が可能な領域に記録させることを特徴とする光ディスク装置。 - 前記請求項1記載の光ディスク装置において、
前記信号形成回路は、前記テスト信号に用いる消去パワーPeとして、略ゼロ値(Pe≒0)を用いテスト信号を生成し、前記光ディスクの記録領域の一部に形成した当該情報記録に関係しない記録が可能な領域に対して記録することを特徴とする光ディスク装置。 - 前記請求項1〜4の何れか1に記載の光ディスク装置において、前記光ディスクの記録領域の一部に形成した当該情報記録に関係しない記録が可能な領域に対して記録された上記テスト信号の再生信号における非対称性を示すβ値の測定値を複数平均化することにより、当該光ディスクに対する最適の記録パワーPwoを設定することを特徴とする光ディスク装置。
- 記録面上において、所定の情報記録単位からなる複数の記録領域が分割されて構成されており、かつ、当該記録領域の一部に、情報記録に関係しない記録が可能な領域を備えてなる光ディスクに対し、データを記録する際の記録パワーを設定する記録パワー設定方法において、
当該光ディスクの記録領域の一部に形成された情報記録に関係しない記録が可能な領域に対して、消去パワーPeを固定し、かつ、記録パワーPwを変化させたテスト信号を記録し、
当該記録した信号を再生して、当該記録パワーに対する再生信号の非対称性を示すβ値を取得し、
当該取得したβ値が目標β値となる記録パワーから、前記最適の記録パワーPwoを設定することを特徴とする記録パワー設定方法。 - 前記請求項6に記載の記録パワー設定方法において、
前記テスト信号に用いる消去パワーPeを決定するために、第2のテスト信号を生成して前記光ディスクの記録領域の一部に形成した当該情報記録に関係しない記録が可能な領域に記録させ、
該光ディスクより再生される該第2のテスト信号から振幅値を示す変調度M値を取得し、
該検出回路の取得した変調度M値の結果に基づき、前記テスト信号に用いる消去パワーPeを決定することを特徴とする記録パワー設定方法。 - 前記請求項6に記載の記録パワー設定方法において、
前記テスト信号に用いる消去パワーPeとして、前記光ディスクに予め記録されている記録条件、又は、当該装置が該光ディスクに対して定めている記録条件に従い、Peの値を決定して前記光ディスクの記録領域の一部に形成した当該情報記録に関係しない記録が可能な領域に記録させることを特徴とする記録パワー設定方法。 - 前記請求項6に記載の記録パワー設定方法において、
前記テスト信号に用いる消去パワーPeとして、略ゼロ値(Pe≒0)を用いテスト信号を生成し、前記光ディスクの記録領域の一部に形成した当該情報記録に関係しない記録が可能な領域に対して記録することを特徴とする記録パワー設定方法。 - 前記請求項6〜9の何れか1に記載の記録パワー設定方法において、前記光ディスクの記録領域の一部に形成した当該情報記録に関係しない記録が可能な領域に対して記録された上記テスト信号の再生信号における非対称性を示すβ値の測定値を複数平均化することにより、当該光ディスクに対する最適の記録パワーPwoを設定することを特徴とする記録パワー設定方法。
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