JP2000251256A - 記録装置、レーザパワー設定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＯＰＣ動作の効率化及び精度向上 【解決手段】 ＯＰＣ動作において、まず記録パワーと
消去パワーの最適な比又は最適な組み合わせの近似式を
求め、それを利用して記録パワーと消去パワーの一方又
は両方を変化させて試し書きを行うことで最適な記録パ
ワー及び消去パワーを判別する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク等の記
録媒体に対する記録装置、及び記録装置におけるレーザ
パワー設定方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】ディスク等の記録媒体に対してレーザ光
を照射してデータの記録を行う機器が各種実現されてい
る。例えば光学ディスク記録媒体としてＣＤ（コンパク
トディスク）方式のディスクや、マルチメディア用途に
好適なＤＶＤ（Digital Versatile Disc／DigitalVideo
Disc）と呼ばれるディスクなどが開発されており、こ
れらの光ディスクに対応する記録装置では、ディスク上
のトラックに対して記録データによって変調されたレー
ザ光を照射し、例えば相変化記録方式でデータの記録を
行う。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ところで、このように
レーザ光によりデータ記録を行う場合には、レーザ光の
パワー、具体的には、記録パワーや消去パワーが適切な
値に設定されていなければならない。このために、通
常、記録装置では、ＯＰＣ（オプティマムパワーコント
ロール）と呼ばれる最適レーザパワーの判別動作が行わ
れる。

【０００４】このＯＰＣ動作は、ディスク上に用意され
た試し書き領域（テスト領域）に対してレーザパワーを
変化させながらレーザ照射を行って試し書きを行い、そ
の試し書き部分の再生情報の品質（例えばジッタレベル
等）を監視することで、最適なレーザパワーを判別する
動作となる。このようなＯＰＣ動作により、記録時に最
適なレーザパワーによる記録動作が実現できる。このＯ
ＰＣ動作方式としては従来、以下の〜のような動作
例があるが、それぞれ問題がある。

【０００５】 ＯＰＣ動作において、記録パワーのみ
を変化させて試し書きを行い、最適な記録パワーを判別
する。この動作方式の場合、記録パワーの最適値を見つ
けるのみで、最適な消去パワーについては判別していな
い。従って記録パワーと消去パワーがそれぞれ影響を与
える記録データ品質については、十分に保証されないも
のとなる。

【０００６】 記録パワー、消去パワー、冷却パワー
の３値をそれぞれ各種の組み合わせで変化させて試し書
きを行い、最適な組み合わせを判別する。この場合は、
３つのパワーの組み合わせであることと、パワーレベル
のステップ数が多いことにより、組み合わせの数は非常
に多くなる。従って最適な組み合わせを精度良く判別し
ようとすれば、ＯＰＣ動作にかなりの時間がかかってし
まうことになる。また、時間を掛けないようにすれば
（つまり組み合わせ数を絞れば）最適なパワーの判別精
度は落ちてしまうことになる。

【０００７】 まず最適な消去パワーを検出し、その
後にＤＣ消去を行い、その後上記又はの方式で最適
記録パワーを見つける。消去パワー検出後に方式を行
うようにした場合は、方式の倍の時間がかかることに
なる。また消去パワー検出後に方式を行うようにした
場合は、もともと時間的に長くなる方式を利用するこ
とで（消去パワーが固定されるため、その分組み合わせ
数を減らすことはできるが）かなりの時間がかかること
になる。

【０００８】これらのように、精度良くかつ効率的に記
録パワー、消去パワーを判別できないという問題があっ
た。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明はこれらの問題点
に鑑みて、ＯＰＣ動作の精度及び動作効率を向上させる
ことを目的とする。

【００１０】このために本発明の記録装置は、装填され
た記録媒体の試し書き領域に対して、レーザパワーを変
化させながら記録ヘッド手段による記録動作及びその再
生動作を実行させていくことで、ジッター又はエラーレ
ートが最適となる記録パワーと消去パワーの比を求める
とともに、求められた比を利用してレーザパワーを変化
させながら記録ヘッド手段による記録動作及びその再生
動作を実行させて、アシンメトリ値が最適となる記録パ
ワーと消去パワーを求め、これを最適な記録パワーと消
去パワーと判別するレーザパワー判別手段を備えるよう
にする。

【００１１】又は、本発明の記録装置は、装填された記
録媒体の試し書き領域に対して、レーザパワーを変化さ
せながら記録ヘッド手段による記録動作及びその再生動
作を実行させていくことで、ジッター又はエラーレート
が最適となる記録パワーと消去パワーの組み合わせの近
似式を求めるとともに、求められた近似式を利用してレ
ーザパワーを変化させながら記録ヘッド手段による記録
動作及びその再生動作を実行させて、アシンメトリ値が
最適となる記録パワーと消去パワーを求め、これを最適
な記録パワーと消去パワーと判別するレーザパワー判別
手段を備えるようにする。

【００１２】即ち、記録パワーと消去パワーの比又は最
適組み合わせの近似式を求め、これらを利用してパワー
変動範囲を設定して試し書きを行うことで、効率よく、
かつ精度の良いＯＰＣ動作を実現する。

【００１３】また本発明のレーザパワー設定方法として
は、まず記録パワーを所定値に固定し、消去パワーを変
化させながら記録を行った後に再生し、ジッター又はエ
ラーレートが最適となる記録パワーと消去パワーの比を
検出する。次に、検出された比を維持したうえで記録パ
ワーと消去パワーを変化させながら記録を行った後に再
生し、アシンメトリ値が最適となる記録パワー及び消去
パワーを検出する。そして検出された記録パワーと消去
パワーの組み合わせを、記録動作に用いるレーザパワー
として設定する。

【００１４】また本発明のレーザパワー設定方法として
は、同じくジッター又はエラーレートが最適となる記録
パワーと消去パワーの比を検出した後、消去パワーを所
定値に固定し、記録パワーを変化させながら記録を行っ
た後に再生し、アシンメトリ値が最適となる記録パワー
を検出する。次に検出された記録パワーと比から消去パ
ワーの好適範囲を判断し、検出された記録パワーを固定
したうえで消去パワーを好適範囲内で変化させながら記
録を行った後に再生し、アシンメトリ値が最適となる消
去パワーを検出する。そして検出された記録パワーと消
去パワーを、記録動作に用いるレーザパワーとして設定
する。

【００１５】また本発明のレーザパワー設定方法として
は、記録パワーを固定し、消去パワーを変化させながら
記録を行った後に再生し、ジッター又はエラーレートが
最適となる記録パワーと消去パワーの組み合わせを検出
する動作を、記録パワーの固定値を変化させて複数回実
行する。次に、検出された複数個の記録パワーと消去パ
ワーの組み合わせから、記録パワーと消去パワーの組み
合わせの近似式を求める。次に、算出された近似式に基
づく記録パワーと消去パワーの組み合わせを維持したう
えで、記録パワーと消去パワーを変化させながら記録を
行った後に再生し、アシンメトリ値が最適となる記録パ
ワー、消去パワーの組み合わせを検出する。そして検出
された記録パワーと消去パワーの組み合わせを、記録動
作に用いるレーザパワーとして設定する。

【００１６】また本発明のレーザパワー設定方法として
は、同じくジッター又はエラーレートが最適となる記録
パワーと消去パワーの組み合わせの近似式を算出した
後、消去パワーを所定値に固定し、記録パワーを変化さ
せながら記録を行った後に再生し、アシンメトリ値が最
適となる記録パワーを検出する。次に、検出された記録
パワーと近似式から消去パワーの好適範囲を判断し、検
出された記録パワーを固定したうえで消去パワーを好適
範囲内で変化させながら記録を行った後に再生し、アシ
ンメトリ値が最適となる消去パワーを検出する。そして
検出された記録パワーと消去パワーを、記録動作に用い
るレーザパワーとして設定する。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態とし
て、記録可能な光ディスクに対応する記録再生装置及び
その記録再生装置で実行される記録方法、レーザパワー
設定方法について説明していく。この例の記録再生装置
に装填される光ディスクは、例えば、ＣＤ−ＲなどのＣ
Ｄ方式のディスクや、ＤＶＤ（DIGITAL VERSATILE DISC
／DIGITAL VIDEO DISC）と呼ばれるディスクなどが考え
られる。もちろん他の種類の光ディスクに対応する記録
装置でも本発明は適用できるものである。説明は次の順
序で行う。 １．光ディスクのフォーマット ２．記録再生装置の構成 ３．レーザパワー設定手順の概略 ４．動作方式 ４−１ ＤＯＷ特性安定化処理 ４−２ ディスク装填時の処理例（Ａ）〜（Ｃ） ４−３ ＯＰＣ処理例（Ｉ）〜（III） ４−４ ＯＰＣ使用エリア選択処理例（イ）〜（ハ） ４−５ ディフェクトキャンセル方式 ４−６ ＯＰＣ動作例（１）〜（４） ４−７ ＯＰＣ動作時の記録パターン

【００１８】１．光ディスクのフォーマット 本例で記録媒体となる光ディスクは、相変化方式でデー
タの記録を行う光ディスクであり、その物理的なフォー
マットは図１に示されるようになる。

【００１９】ディスクサイズとしては、直径が１２０ｍ
ｍとされる。また、ディスク厚（サブストレート）０．
６ｍｍ板の２枚張り合わせディスクとされ、全体として
ディスク厚は１．２ｍｍとなる。またディスククランピ
ングはメカニカル方式が採用される。即ちこれらの点で
は外形的に見ればＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ−ＲＯ
Ｍ（Digital Versatile Disc-ROM／Digital Video Disc
-ROM）等と同様となる。また記録再生装置に装填される
際などに用いることのできる、当該ディスクを収納保持
するケースがオプションとして用意される。

【００２０】ディスク上には予めグルーブ（溝）による
トラックが形成され、このグルーブがウォブリング（蛇
行）されることにより物理アドレスが表現される。つま
りグルーブがアドレスを変調した信号によってウォブリ
ングされることで、グルーブからの再生情報を復調する
ことで絶対アドレスが抽出できるようにされている。ま
たディスクはＣＡＶ（角速度一定）方式で回転駆動され
るものとされ、これに応じてグルーブに含まれる絶対ア
ドレスはＣＡＶデータとなる。グルーブの深さは記録再
生のためのレーザ波長λ／８、グルーブ幅は０．４８μ
ｍ中心、ウォブリング振幅は１２．５ｎｍ中心とされて
いる。なおレーザ波長λ＝６５０ｎｍ（−５／＋１５ｎ
ｍ）、記録再生装置の光学ヘッドの開口率ＮＡ＝０．６
とされる。

【００２１】この光ディスクでは、グルーブ記録方式が
採用され（ランドは記録に用いられない（但し用いられ
るようにしてもよい））、トラック幅方向にグルーブの
センターから隣接するグルーブのセンターまでがトラッ
クピッチとなる。トラックピッチは０．８０μｍとされ
る。またデータ記録は線密度一定（ＣＬＤ：Constant L
inear Density ）とされて記録される。線密度は０．３
５μｍ／bit とされる。但し線密度範囲として或る幅が
設定され、実際には非常に多数のゾーニング設定が行わ
れることで、ディスク全体として線密度一定に近い状態
とされる。これはゾーンＣＬＤ（Zoned Constant Linea
r Density ）と呼ばれる。そしてこのディスクでは、片
面（一方の記録層）で３．０Ｇバイト／の記録容量を実
現することができる。

【００２２】また記録データの変調方式としてはいわゆ
るＤＶＤと同様に８−１６変調が採用され、相変化記録
媒体へのマークエッジ記録が行われる。

【００２３】図２にディスクの内周側（リードイン）か
ら外周側（リードアウト）までのエリア構造を示す。こ
の構造図の右側には絶対アドレス（セクターアドレス）
の値を１６進表記で付記している。また各エリアの名称
を「＊＊＊ゾーン」としているが、この各エリアに
（ ）内で示した数値は、そのゾーンのセクター数を表
している。

【００２４】内周側（半径位置２２．６ｍｍ〜２４．０
ｍｍ）の斜線を付した部分はエンボスピットが記録され
たエリアとされる。一方、斜線を付していない部分（半
径位置２４．０ｍｍから最外周までの領域）は、グルー
ブによるトラックが形成された記録可能領域（グルーブ
エリア）となる。

【００２５】エンボスエリアとされる最内周側は、絶対
アドレス「０２ＥＦＦＦｈ」までがイニシャルゾーンと
してオール「００ｈ」のデータが記録されている。続い
て絶対アドレス「２Ｆ０００ｈ」の位置からが、リファ
レンスコードが２ＥＣＣブロック（以下、単にブロック
ともいう）分記録された３２セクターのリファレンスコ
ードゾーンとなる。なおブロック（ＥＣＣブロック）と
は、エラー訂正ブロックを構成する単位であり、３２Ｋ
バイトのデータ毎にエラー訂正コードが付加されて形成
される。続いて、４８０セクターのバッファゾーンを介
して絶対アドレス「２Ｆ２００ｈ」の位置から３０７２
セクターのコントロールデータゾーンが形成され、コン
トロールデータが記録される。これらのコントロールデ
ータ及びリファレンスコードは、原盤製造のためのカッ
ティングの際に記録され、読出専用のピットデータとな
る。コントロールデータには、光ディスクの物理的な管
理情報などが記録される。

【００２６】続くバッファゾーンがエンボスエリアの最
外周側となり、コネクションゾーンから外周側がグルー
ブエリアとなる。そしてこのグルーブエリアでは、コネ
クションゾーンに続いて、５１２セクターのガードゾー
ン、１０２４セクターのインナーディスクテストゾー
ン、１６６４セクターのインナードライブテストゾー
ン、５１２セクターのガードゾーン、６４セクターのＤ
ＭＡ１ゾーン（ディフェクトマネジメントエリア）、２
５６セクターのインナーディスクアイデンティフィケー
ションゾーン、６４セクターのＤＭＡ２ゾーンが設けら
れる。

【００２７】このＤＭＡ２ゾーンに続いて、ユーザーが
データ記録に用いることができるレコーダブルエリアと
してのデータゾーンが形成される。データゾーンは絶対
アドレスでいえば３１０００ｈ〜１９８ＦＦＦｈまでと
なる。

【００２８】また、データゾーンの外周側には、６４セ
クターのＤＭＡ３ゾーン、２５６セクターのアウターデ
ィスクアイデンティフィケーションゾーン、６４セクタ
ーのＤＭＡ４ゾーン、１０２４セクターのガードゾー
ン、２０４８セクターのアウターディスクテストゾー
ン、３０７２セクターのアウタードライブテストゾー
ン、３２７６８セクターのガードゾーンが設けられる。

【００２９】各ガードゾーンは、ディスクテストゾーン
やＤＭＡ等に対する書込を行う際にライトクロックの同
期をとるためのエリアとして設けられている。内周側
（インナー）及び外周側（アウター）のディスクテスト
ゾーンは、ディスクコンディションのチェックのために
設けられている。内周側（インナー）及び外周側（アウ
ター）のドライブテストゾーンは記録再生ドライブ状況
のチェックに用いられる。特に後述するＤＯＷ特性安定
化処理や、ＯＰＣ動作は、このドライブテストゾーンを
使用することになる。内周側（インナー）及び外周側
（アウター）のディスクアイデンティフィケーションゾ
ーンは、ディスクの製造者やフォーマットに関しての情
報が記録可能に用意されたエリアである。後述するが、
例えばこのエリアを利用してドライブテストゾーンの管
理テーブルを記録することなどが可能となる。

【００３０】ＤＭＡ（ＤＭＡ１〜ＤＭＡ４）にはレコー
ダブルエリアの欠陥状況の検出結果及びその交代セクタ
ーの情報が記録される。記録再生動作がＤＭＡの内容を
参照して行われることで、欠陥領域（例えば傷の存在す
るセクター）を回避した記録再生を行うことができる。
なおＤＭＡ１〜ＤＭＡ４はそれぞれ同一の内容が記録さ
れる。

【００３１】２．記録再生装置の構成 図３は本例の記録再生装置の要部のブロック図である。
この記録再生装置は、接続されたホストコンピュータ１
００からの要求に応じてデータの記録再生動作を行うも
のとされる。

【００３２】ディスク９０は上述したフォーマットのＤ
ＶＤ方式のディスクや、ＣＤ−Ｒ,ＣＤ−ＲＯＭ等のＣ
Ｄ方式のディスクである。このディスク９０は、ターン
テーブル７に積載され、記録又は再生動作時においてス
ピンドルモータ１によって一定線速度（ＣＬＶ）もしく
は一定角速度（ＣＡＶ）で回転駆動される。そしてピッ
クアップ１によってディスク９０にエンボスピット形態
や相変化ピット（マーク）形態などで記録されているデ
ータの読み出しや、相変化ピット（マーク）としてのデ
ータの記録、或いはデータ消去が行なわれることにな
る。

【００３３】ピックアップ１内には、レーザ光源となる
レーザダイオード４や、反射光を検出するためのフォト
ディテクタ５、レーザ光の出力端となる対物レンズ２、
レーザ光を対物レンズ２を介してディスク記録面に照射
し、またその反射光をフォトディテクタ５に導く光学系
が形成される。対物レンズ２は二軸機構３によってトラ
ッキング方向及びフォーカス方向に移動可能に保持され
ている。またピックアップ１全体はスレッド機構８によ
りディスク半径方向に移動可能とされている。

【００３４】再生時及び記録時にレーザ光の照射を行う
ことで得られるディスク９０からの反射光情報はフォト
ディテクタ５によって検出され、受光光量に応じた電気
信号とされてＲＦアンプ９に供給される。ＲＦアンプ９
には、フォトディテクタ５としての複数の受光素子から
の出力電流に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演
算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要
な信号を生成する。例えば再生データであるＲＦ信号、
サーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッ
キングエラー信号ＴＥなどを生成する。ＲＦアンプ９か
ら出力される再生ＲＦ信号は２値化回路１１へ、フォー
カスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥはサ
ーボプロセッサ１４へ供給される。

【００３５】ディスク９０に対する再生動作時におい
て、ＲＦアンプ９で得られた再生ＲＦ信号は２値化回路
１１で２値化されることでいわゆるＥＦＭ信号（８−１
４変調信号；ＣＤ方式のディスク場合）もしくはＥＦＭ
＋信号（８−１６変調信号；ＤＶＤ方式のディスクの場
合）とされ、エンコーダ／デコーダ１２に供給される。
エンコーダ／デコーダ１２ではＥＦＭ復調，エラー訂正
処理等を行ない、また必要に応じてＣＤ−ＲＯＭデコー
ド、ＭＰＥＧデコードなどを行なってディスク９０から
読み取られた情報の再生を行なう。

【００３６】エンコーダ／デコーダ１２でデコードされ
たデータはキャッシュメモリ２０の読出／書込処理を行
うバッファマネージャ２１の動作によってキャッシュメ
モリ２０に蓄積されていく。いわゆるバッファリング動
作が行われる。再生装置からの再生出力としては、キャ
ッシュメモリ２０にバッファリングされたデータが転送
出力されることになる。なお、キャッシュメモリ２０か
らのデータの転送出力はシステムコントローラ１０の制
御（ファームウエアとしての制御）によって行われる。

【００３７】インターフェース部１３は、外部のホスト
コンピュータと接続され、ホストコンピュータとの間で
再生データやリードコマンドの通信を行う。即ちキャッ
シュメモリ２０に格納された再生データは、インターフ
ェース部１３を介してホストコンピュータ１００に転送
出力される。またホストコンピュータ１００からのリー
ドコマンドその他の信号はインターフェース部１３を介
してシステムコントローラ１０に供給される。

【００３８】サーボプロセッサ１４は、ＲＦアンプ９か
らのフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信
号ＴＥや、デコーダ１２もしくはシステムコントローラ
１０からのスピンドルエラー信号ＳＰＥ等から、フォー
カス、トラッキング、スレッド、スピンドルの各種サー
ボドライブ信号を生成しサーボ動作を実行させる。即ち
フォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号Ｔ
Ｅに応じてフォーカスドライブ信号、トラッキングドラ
イブ信号を生成し、二軸ドライバ１６に供給する。二軸
ドライバ１６はピックアップ１における二軸機構３のフ
ォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することに
なる。これによってピックアップ１、ＲＦアンプ９、サ
ーボプロセッサ１４、二軸ドライバ１６、二軸機構３に
よるトラッキングサーボループ及びフォーカスサーボル
ープが形成される。

【００３９】なお、理想的にはフォーカスエラー信号Ｆ
Ｅがゼロとなるポイントと、ディスク９０から最も効率
よく情報再生を行うことができるポイント（つまり再生
ＲＦ信号の振幅が最大となるポイント）は同一であるは
ずであるが、実際には、これらのポイントはずれたもの
となる。このずれ分をフォーカスバイアスとよび、その
フォーカスバイアス分に相当するバイアス電圧をフォー
カスエラー信号ＦＥに加算するようにサーボ系を構成す
ることで、フォーカス状態が、再生ＲＦ信号の振幅が最
大となるポイントに収束されるように制御している。ト
ラッキングエラー信号ＴＥについても同様に、トラッキ
ングバイアスが存在する。

【００４０】またサーボプロセッサ１４はスピンドルモ
ータドライバ１７に対して、スピンドルエラー信号ＳＰ
Ｅに応じて生成したスピンドルドライブ信号を供給す
る。スピンドルモータドライバ１７はスピンドルドライ
ブ信号に応じて例えば３相駆動信号をスピンドルモータ
６に印加し、スピンドルモータ６のＣＬＶ回転を実行さ
せる。またサーボプロセッサ１４はシステムコントロー
ラ１０からのスピンドルキック／ブレーキ制御信号に応
じてスピンドルドライブ信号を発生させ、スピンドルモ
ータドライバ１７によるスピンドルモータ６の起動また
は停止などの動作も実行させる。

【００４１】サーボプロセッサ１４は、例えばトラッキ
ングエラー信号ＴＥの低域成分として得られるスレッド
エラー信号や、システムコントローラ１０からのアクセ
ス実行制御などに基づいてスレッドドライブ信号を生成
し、スレッドドライバ１５に供給する。スレッドドライ
バ１５はスレッドドライブ信号に応じてスレッド機構８
を駆動する。スレッド機構８には図示しないが、ピック
アップ１を保持するメインシャフト、スレッドモータ、
伝達ギア等による機構を有し、スレッドドライバ１５が
スレッドドライブ信号に応じてスレッドモータ８を駆動
することで、ピックアップ１の所要のスライド移動が行
なわれる。

【００４２】ピックアップ１におけるレーザダイオード
４はレーザドライバ１８によってレーザ発光駆動され
る。システムコントローラ１０はディスク９０に対する
記録動作、再生動作を実行させる際に、レーザパワーの
制御値をオートパワーコントロール回路１９にセット
し、オートパワーコントロール回路１９はセットされた
レーザパワーの値に応じてレーザ出力が行われるように
レーザドライバ１８を制御する。

【００４３】ディスク９０に対する記録動作時には、記
録データに応じて変調された信号がレーザドライバ１８
に印加される。例えば記録可能タイプのディスク９０に
対して記録を行う際には、ホストコンピュータからイン
ターフェース部１３に供給された記録データは、エンコ
ーダ／デコーダ１２によってエラー訂正コードの付加、
ＥＦＭ＋変調、ＮＲＺＩ変調などの処理が行われた後、
レーザドライバ１８に供給される。そしてレーザドライ
バ１８が記録データに応じてレーザ発光動作をレーザダ
イオード４に実行させることで、ディスク９０に対する
データ記録が実行される。

【００４４】以上のようなサーボ及びデコード、エンコ
ードなどの各種動作はマイクロコンピュータによって形
成されたシステムコントローラ１０により制御される。
例えば一連の再生動作制御としては、システムコントロ
ーラ１０はホストコンピュータ１００からのリードコマ
ンドに応じて、要求されたデータ区間の読出を行うため
の動作として、サーボプロセッサ１４に指令を出し、リ
ードコマンドにより転送要求されたデータ区間の開始位
置をターゲットとするピックアップ１のアクセス動作を
実行させる。そしてアクセス終了後、データ読出を実行
させ、エンコーダ／デコーダ１２、キャッシュメモリ２
０に必要な処理を実行させ、その再生データ（要求され
たデータ）をインターフェース部１３からホストコンピ
ュータ１００に転送させる制御を行う。また記録動作制
御としては、システムコントローラ１０はホストコンピ
ュータ１００からのライトコマンドに応じて、供給され
たデータの書込を行うための動作として、サーボプロセ
ッサ１４に指令を出し、書込開始位置へのピックアップ
１のアクセス動作を実行させる。そしてアクセス終了
後、キャッシュメモリ２０、エンコーダ／デコーダ１
２、レーザドライバ１８等に必要な処理を実行させ、そ
の記録データ（供給されたデータ）をディスク９０に記
録させる制御を行う。

【００４５】ところで、記録動作に関してレーザダイオ
ード４から出力させるレーザパワー、即ち記録パワー、
消去パワーについては、それを最適なパワーとするため
に、記録動作に先立ってＯＰＣ動作が行われる。

【００４６】記録時には、ディスク９０の結晶状態にし
たトラック上に大きなパワー（記録パワー）を持つレー
ザ光を照射し、記録面の記録膜を溶融した後に急冷し、
アモルファス化させることによって記録マークを形成す
る。消去するときは、記録時よりも小さいパワー（消去
パワー）のレーザ光を記録マークに照射させて、アモル
ファス化した部分を再び結晶化させるものとなる。この
ため、最適な記録パワー、消去パワーが設定されていな
いと、適切なオーバーライトが実行できないものとな
る。このため、記録動作に先立って最適な記録パワー、
消去パワーを設定するＯＰＣ動作が必要となる。

【００４７】システムコントローラ１０はＯＰＣ動作の
ために、レーザドライバ１８及びオートパワーコントロ
ール回路１９を制御して、レーザパワーを各種値に変化
させながら上述したディスク９０のドライブテストゾー
ンに対して試し書きを実行させ、さらにその試し書き部
分を再生させて信号品質を監視する。特に再生信号のジ
ッタ又はエラーレートと、アシンメトリ値を監視する。
このために、ＲＦアンプ９からのＲＦ信号は検出部２３
に供給され、検出部２３からはジッタ又はエラーレート
の検出値ＤＪ、及びアシンメトリの検出値ＤＡＳが出力
されるように構成されている。システムコントローラ１
０はこれらの検出値ＤＪ、ＤＡＳを取り込むことで、各
種レーザパワー状態での信号品質を判断することがで
き、それによって最適な記録パワー、消去パワーを判別
できる。そして最適な記録パワー、消去パワーを判別し
たら、それを記録動作時に用いる記録パワー、消去パワ
ーとしてオートパワーコントロール回路１９にセットす
ることで、以降、記録動作時には最適な記録パワー、消
去パワーによるレーザ出力が実現されることになる。

【００４８】このようなＯＰＣ動作、及びＯＰＣ動作の
前後の一連の動作（記録のためのレーザパワー設定に関
する一連の動作）については後に詳述するが、それらの
後述する各種動作は、システムコントローラ１０の制御
に基づいて、レーザドライバ１８、オートパワーコント
ロール回路１９、サーボプロセッサ１４、検出部２３等
がそれぞれ必要な動作を行うことで実現されるものであ
る。

【００４９】なお、ＯＰＣ動作時には、ジッターとアシ
ンメトリ値を監視するか、もしくはエラーレートとアシ
ンメトリ値を監視することになる。検出部２３の構成例
は後述するが、従って検出部２３には、ジッタ検出回路
とアシンメトリ検出回路が設けられるか、もしくはエラ
ーレート検出回路とアシンメトリ検出回路が設けられれ
ばよい。さらには、検出対象をジッタとエラーレートと
で切り換えられるジッタ／エラーレート検出回路と、ア
シンメトリ検出回路が設けられるようにしてもよい。こ
の場合、例えば図３に示した制御信号Ｊ／Ｅにより、検
出対象としてジッタかエラーレートかを選択できるよう
にする。このジッタ監視／エラーレート監視の選択は、
システムコントローラ１０がモード設定などに応じて実
行しても良いし、或いはホストコンピュータ１００又は
図示していない操作部からのユーザーの操作により選択
されるようにしても良い。実際に記録再生動作において
必要なのはエラーレートが低いことであるから、エラー
レートを検出した方が精度的には良いものとなる。但
し、ジッター検出の方が短時間で済むため、ＯＰＣ動作
の迅速性を求めるならジッター検出の方が良い。選択可
能とする場合は、このどちらをとるかの判断はユーザー
操作にゆだねることが好適である。

【００５０】ところで後述するが、ＯＰＣ動作は一定の
時間経過や、装置内の温度変化に応じても実行される。
このためシステムコントローラ１０は内部タイマ１０ａ
（例えばソフトウエアによるタイムカウント）として、
或るＯＰＣ動作後の経過時間をカウントできるようにさ
れている。また温度センサ２４が設けられ、システムコ
ントローラ１０が装置内の温度状況を監視できるように
されている。

【００５１】なお、この図３のような記録再生装置の構
成は一例であり、本発明の記録装置としては、これ以外
に各種の構成例が考えられることはいうまでもない。

【００５２】ここで記録動作時にレーザダイオード４か
らのレーザ出力を実行させるためのドライブパルスにつ
いて図４、図５で説明しておく。レーザのドライブパル
スは記録データ（ＮＲＺＩデータ）により変調されたパ
ルスとなるが、例えば図４上段に示す或るＮＲＺＩデー
タの期間において、図４下段に示すようなドライブパル
スが生成されることになる。なお「Ｐｗ」は記録パワー
としてのレベル、「Ｐｅ」は消去パワーとしてのレベ
ル、「Ｐｃ」は冷却パワーとしてのレベルである。また
「Ｔｗ」はチャンネルクロック期間、「Ｔｐｗ」は記録
パワーのパルス期間である。図からわかるように、ＮＲ
ＺＩデータの「Ｌ」期間には、消去パワーＰｅとしての
ドライブパルスが発生され、一方、ＮＲＺＩデータの
「Ｈ」期間には、記録パワーＰｗ及び冷却パワーＰｃが
交互にあらわれるパルス波形となる。このようにＮＲＺ
Ｉデータの「Ｈ」期間、つまり、ディスク９０上にマー
ク（ピット）を形成する区間では、記録パワーＰｗによ
るレーザ発光が断続的に実行されることになる。

【００５３】また図５は、ＮＲＺＩデータとしての最短
マーク長である３Ｔマークと３Ｔスペース、最長マーク
長である１４Ｔマークを形成する場合のドライブパルス
を示している。図からわかるように、スペース形成期間
においては消去パワーＰｅとしてのドライブパルスが連
続して発生されてスペース形成動作（つまり消去動作）
が行われる。また、マーク形成期間においては、そのマ
ーク長に応じた回数だけ、記録パワーＰｗによるレーザ
発光が断続的に実行されることになる。

【００５４】次に、後述するＯＰＣ動作において監視さ
れるアシンメトリについて説明しておく。図６は再生さ
れるＲＦ信号パターンを示しているが、「Ｉ14」は最長
パターン（１４Ｔマーク／１４Ｔスペース）の再生ＲＦ
信号の振幅（Ｉ14Ｈ−Ｉ14L）であり、「Ｉ3」は最短パ
ターン（３Ｔマーク／３スペース）の再生ＲＦ信号の振
幅（Ｉ3Ｈ−Ｉ3L）である。そしてアシンメトリ値ＤＡ
Ｓは波形対称性を示す値として、

【数１】 で算出される値である。

【００５５】このアシンメトリ値ＤＡＳは、エンボスエ
リアでは、 −０．０５≦ＤＡＳ≦０．１５ リライタブルエリア（グルーブエリア）では、 −０．１５≦ＤＡＳ≦０．１０ であることが要求される。そして実験によれば、アシン
メトリ値ＤＡＳは、ＤＡＳ＝０．０４となることが最適
とされた。

【００５６】つまり後述するＯＰＣ動作では、アシンメ
トリ値ＤＡＳに関しては、再生ＲＦ信号波形においてア
シンメトリ値ＤＡＳ＝０．０４となる記録パワーが最適
であると判断するものとなる。なお、ＤＡＳ＝０．０４
を最適と判断することは一例であることはいうまでもな
く、記録装置の信号処理特性や記録媒体の特性、システ
ム使用状況などの各種の事情により、最適なアシンメト
リ値は変更されることもあり得る。

【００５７】３．レーザパワー設定手順の概略 続いて、本例におけるレーザパワー設定のための基本的
な手順について説明していく。なお、ここでは概略的な
手順及びその意味を説明することとし、具体的な処理手
順については各種の例を後述する。

【００５８】図７（ａ）（ｂ）に、レーザパワー設定の
ための大まかな手順の２例を示した。図７（ａ）は、ま
ずＤＯＷ特性（ダイレクトオーバーライト特性）の安定
化を行い、続いてフォーカスバイアス調整を行い、その
後にＯＰＣ処理を行うようにしたものである。一方図７
（ｂ）はＤＯＷ特性の安定化を行い、続いてＯＰＣ処理
を行い、その後にフォーカスバイアス調整を行うように
したものである。

【００５９】即ち本例では、少なくともＤＯＷ特性安定
化を実行した後にＯＰＣ処理を行うこととしている。そ
してＯＰＣ処理とフォーカスバイアス調整については、
どちらが先に実行されるかにより、それぞれ異なる利点
が得られるため、実際の装置ではそれを勘案して選択す
ればよいものとなる。なお、ＤＯＷ特性の安定化は、Ｏ
ＰＣ処理又はフォーカスバイアス調整の直前であっても
良いし、或る程度時間が離れた前の時点であっても良
い。一方、フォーカスバイアス調整は、通常は、ＯＰＣ
処理の直前又は直後に行われることになる（但し離れた
時点で実行されることもあり得る）。

【００６０】まずＤＯＷ特性安定化処理について説明す
る。ＤＯＷ特性とは、オーバーライト回数によりジッタ
ー、エラーレート、アシンメトリが変化することをい
う。例えば同様の記録動作を繰り返していくと、１回目
の記録時よりも２回目の記録時はジッターがかなり悪く
なるが、３回目以降は徐々にジッターの変動は小さくな
り、１０回目以降は安定していくことが実験により確認
されている。

【００６１】図８は縦軸にジッター、横軸にオーバーラ
イト回数をとって、ジッターのＤＯＷ特性を示したもの
である。なお、ジッター値は記録パワーＰｗ及び記録パ
ワーＰｗと消去パワーＰｅの比によって異なるものとな
り、図８では各種パワーで計測されたジッター値の範囲
を示している。この図から、初期記録に対してオーバー
ライト回数を重ねる毎にジッターは変動するが１０回以
上のオーバーライトではほぼ安定することがわかる。

【００６２】また図９は、縦軸にアシンメトリ値、横軸
にオーバーライト回数をとって、アシンメトリのＤＯＷ
特性を示したものである。この場合も、図８と同様に各
種パワーで計測されたアシンメトリ値の範囲を示してい
る。この図から、アシンメトリ値に関しても、初期記録
に対してオーバーライト回数を重ねる毎にばらつきが大
きいが、１０回以上のオーバーライトではほぼ安定する
ことがわかる。

【００６３】このようなＤＯＷ特性を考えると、例えば
ＯＰＣ処理に用いるディスク９０上のドライブテストゾ
ーン（試し書き領域）に、未記録部分と少なくとも１回
以上記録を行った部分が混在すると、観測されるジッタ
ー（又はエラーレート）や、アシンメトリ値がばらつ
き、判別されるレーザパワーの精度が悪くなる。

【００６４】そこで本例では、ＯＰＣ処理に利用するド
ライブテストゾーンの全域、もしくは実際に試し書きを
行う一部のエリアについて、ＯＰＣ処理に先だって無条
件に、少なくとも２回以上、好ましくは１０回以上のオ
ーバーライトを実行する。これが本例でいうＤＯＷ安定
化処理である。このようなＤＯＷ安定化処理を行ない、
試し書きを行うエリアの特性を安定化させることで、そ
の後、ＯＰＣ処理の際にジッター／エラーレートやアシ
ンメトリ値が、エリアによってばらつくということはな
くなり、最適レーザパワーを精度良く判別できることに
なる。

【００６５】なお、ＤＯＷ特性安定化処理については、
少なくともＯＰＣ処理が実行される前の時点で、また少
なくともＯＰＣ処理で試し書きを行う領域において実行
されればよい。このため、ＤＯＷ特性安定化の実行のタ
イミングや、ＤＯＷ特性安定化処理の対象エリアは各種
考えられる。

【００６６】ＤＯＷ特性安定化の実行タイミングとして
は、例えばディスク９０がメーカーから出荷される前に
製造工程（例えば最終の調整工程）において、インナー
及びアウターのドライブテストゾーンに対して実行され
るようにしても良いし、或いはユーザーサイドで記録再
生装置において実行されるようにしても良い。ユーザー
サイドの記録再生装置で実行されるとした場合でも、デ
ィスク装填時に行っても良いし、ＯＰＣ処理の直前に行
われるようにしても良い。また、ディスクを初めて使用
する際のフォーマット時に実行されるようにしても良
い。

【００６７】またＤＯＷ特性安定化処理の対象エリアと
しては、インナー及びアウターのドライブテストゾーン
領域の全域を対象としても良いし、インナー又はアウタ
ーのドライブテストゾーンの一方を対象としても良い。
工場出荷前に実行する場合については、インナー及びア
ウターのドライブテストゾーン全域を対象とすることが
好適である。さらには、ユーザーサイドの記録再生装置
で実行する場合は、同じくインナー、アウターのドライ
ブテストゾーンの一方又は両方の全域を対象としても良
いし、或いはその後に行われるＯＰＣ処理で実際に試し
書きが行われるエリア、つまりドライブテストゾーン内
の一部のエリアを対象としても良い。これら、ＤＯＷ特
性安定化処理の実行タイミングや実行対象エリアの各種
の例については、後述する具体的な処理例で述べる。

【００６８】本例ではこのようなＤＯＷ特性安定化処理
が行われた後に、ＯＰＣ処理が実行される。ＯＰＣ処理
の概要は、前述したようにディスク９０のドライブテス
トゾーンに対してレーザパワー（記録パワーＰｗ及び消
去パワーＰｅ）を変化させながら試し書き記録を行い、
それを再生してジッター／エラーレート、及びアシンメ
トリ値を監視して、最適な記録パワーＰｗ、消去パワー
Ｐｅを判別する処理である。

【００６９】ところが、このための具体的な処理として
は、記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅとしてのそれぞれ
の変更可能なステップ数や、記録パワーＰｗと消去パワ
ーＰｅの組み合わせ（さらには冷却パワーＰｃの組み合
わせ）により、試し書きを行うレーザパワーとしては、
かなりの数のバリエーションが存在する。そして、最も
高精度に記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅを判別したい
のであれば、全ての組み合わせで試し書きを行って、そ
れぞれの組み合わせでのジッター等を監視し、ジッター
等が最適となる組み合わせを判別しなければならない。
ところがそれはＯＰＣ処理に非常に時間がかかることを
意味する。一方、試し書きを行う際の組み合わせの数を
減らしたり、或いは最適な記録パワーＰｗだけを判別す
るようにすれば、ＯＰＣ処理時間は短縮できるが、最適
レーザパワーとしての判別精度が低下することはいうま
でもない。

【００７０】ここで本例では短時間でかつ精度の良いＯ
ＰＣ処理を実現することを１つの目的としているが、こ
のために、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの最適比、
もしくは最適な組み合わせの近似式を利用して処理を行
うものとしている。

【００７１】上述のＤＯＷ特性についてみてみると、ジ
ッターやアシンメトリ値に関しては、記録時の記録パワ
ーＰｗと消去パワーＰｅの比（Ｐｅ／Ｐｗ）に大きく依
存することが実験から確認されている。つまりＤＯＷ特
性においてジッターが最小となるときの比（Ｐｅ／Ｐ
ｗ）はほとんど変化していない。これを言い換えれば、
記録パワーが変わっても、ジッターが最小となる（或い
はアシンメトリ値が最適となる）記録パワーと消去パワ
ーの比は常にほぼ一定と考えられ、従って、例えば或る
記録パワー（必ずしも最適記録パワーでなくとも）に対
する最適な消去パワーが見つけられれば、そのときの比
（Ｐｅ／Ｐｗ）を保ちながら、記録パワーと消去パワー
の組み合わせを選択し、その中で最適な記録パワー（又
は記録パワーと消去パワーの組み合わせ）を見つけるこ
とで、高精度かつ短時間でＯＰＣ処理が実行できること
になる。

【００７２】また、単に１つの記録パワーに対して最適
消去パワーを見つけて、比を設定するのみでなく、この
１つの記録パワーに対する最適消去パワーを見つける動
作を複数回実行すれば、記録パワーと消去パワーの最適
組み合わせの近似式が算出できる。従って、その近似式
に沿って記録パワーと消去パワーの組み合わせを選択
し、その中で最適な記録パワー（又は記録パワーと消去
パワーの組み合わせ）を見つけることで、短時間で、さ
らに高精度なＯＰＣ処理が実行できる。

【００７３】上述したように本例においては、フォーカ
スバイアス調整については、ＯＰＣ処理の直前もしくは
直後で実行される。記録時のフォーカスバイアスについ
ては、上述したように最適な再生ＲＦ信号が得られるポ
イント（ジッター最小ポイント）に調整されなければな
らないが、記録パワーが高すぎた場合は、ジッターが最
小点となるポイントが２点になる。図１０（ａ）〜
（ｄ）は、それそれ異なるレーザパワー（記録パワーＰ
ｗ、消去パワーＰｅ、冷却パワーＰｃ）において、ジッ
ターとデフォーカスの関係を示している。この図１０
（ａ）〜（ｄ）を比較してわかるように、レーザパワー
が大きい図１０（ｄ）の場合は、ジッター最小点となる
ボトムが２つ観測され、このため最適なフォーカスバイ
アスが検出できない。一方、比較的レーザパワーの小さ
い図１０（ａ）〜（ｃ）ではジッター最小点が正しく観
測でき、最適なフォーカスバイアスを判別できる。

【００７４】このような事情を考慮したうえで、フォー
カスバイアス調整をＯＰＣ処理の前又は後で行うことに
よるそれぞれの利点は次のようになる。

【００７５】まず、図７（ａ）のようにＯＰＣ処理に先
だってフォーカスバイアス調整を行う場合については、
そのフォーカスバイアス調整実行時点では最適なレーザ
パワーは見つけられていない。このため、適当なレーザ
パワーでフォーカスバイアス調整を行うと、もしそのパ
ワーが高すぎた場合は適切にフォーカスバイアス値を見
つけられないおそれがある。そこで、記録時のフォーカ
スバイアス調整を行う際には、レーザパワーを、レーザ
パワーの初期値（例えば平均的な値）より多少パワーの
小さい値にセットして実行する。これにより、フォーカ
スバイアスが適切に調整できる。そしてこの場合は、フ
ォーカスバイアス調整後にＯＰＣ処理が行われることに
なるため、ＯＰＣ処理においては最適なフォーカスバイ
アス調整での最適レーザパワーの設定が可能となるた
め、よりＯＰＣ処理の精度が向上される。またフォーカ
スバイアスが最適化された後のＯＰＣ処理であることに
より、ＯＰＣ処理時に、ディスク９０にダメージを与え
るほどの記録パワーで記録が行われることはなくなる。

【００７６】次に、図７（ｂ）のようにＯＰＣ処理の後
にフォーカスバイアス調整を行う場合は、ＯＰＣ処理に
よりレーザパワー最適値が既にわかっていることになる
ため、レーザパワーを最適値にセットしてフォーカスバ
イアス調整を実行できることになる。従って、レーザパ
ワーが高すぎてフォーカスバイアス調整がうまくいかな
いということもなく、さらに実際に記録に使用するレー
ザパワーにより調整を行うものであるため、記録動作に
即した最も適切なフォーカスバイアス調整が可能とな
る。

【００７７】４．動作方式 ４−１ ＤＯＷ特性安定化処理 以下、図７に示した手順に関しての具体的な動作方式に
ついて各種の例を説明していく。まずＤＯＷ特性安定化
処理のフローチャートを図１１に示す。上述したように
ＤＯＷ特性安定化処理はディスク９０の製造工程におい
て実行されても良いし、ユーザーサイドの記録再生装置
で実行されても良い。このため図１１のフローチャート
は製造工場において調整で用いる記録装置のコントロー
ラや、ユーザーサイドにおける図３の記録再生装置のシ
ステムコントローラ１０による制御を示すものとなる
（以下の説明では、システムコントローラ１０の処理と
する）。なお、この図１１ではディスクのインナー及び
アウタードライブテストゾーンの全域を対象としてＤＯ
Ｗ特性安定化処理を行う処理例としている。

【００７８】ＤＯＷ特性安定化処理を行う際には、まず
システムコントローラ１０はステップＦ１０１として安
定化のためのオーバーライト回数ＯＷＣをセットする。
例えば２回オーバーライトを行うのであればＯＷＣ＝
２、１０回オーバライトを行うのであればＯＷＣ＝１０
とする。またステップＦ１０２で変数ｎをｎ＝０とす
る。

【００７９】以上の設定が済んだら、ステップＦ１０３
で実際に内周側のドライブテストゾーンのオーバーライ
トを実行する。即ち１６６４セクターのインナードライ
ブテストゾーンの全域に対して、所定のデータによりオ
ーバーライトを実行する。書込の際のデータとしては、
所定パターンのデータを用意しても良いし、ランダムな
データでもよい。またはＤＣライト／ＤＣイレーズを実
行するようにしても良い。さらにこのステップＦ１０３
のオーバーライトは複数回行われることになるが、各回
毎に記録データを変更させても良い。

【００８０】インナードライブテストゾーンの全域に対
して一通りのオーバーライトが完了されたら、ステップ
Ｆ１０４で変数ｎをインクリメントし、ステップＦ１０
５で変数ｎがオーバーライト回数ＯＷＣに達したかを確
認する。そして達していなければステップＦ１０３に戻
り、再びインナードライブテストゾーンの全域に対して
のオーバーライトを実行する。つまりステップＦ１０３
〜Ｆ１０５によりインナードライブテストゾーンに対し
て設定したオーバーライト回数ＯＷＣだけオーバーライ
トが実行される。

【００８１】設定回数のオーバライトが完了したら、ス
テップＦ１０６に進んで変数ｎをゼロにリセットすると
ともに、ステップＦ１０７で外周側のドライブテストゾ
ーンのオーバーライトを実行する。即ち３０７２セクタ
ーのアウタードライブテストゾーンの全域に対して、所
定のデータによりオーバーライトを実行する。上記同
様、書込の際のデータは各種考えられる。そしてアウタ
ードライブテストゾーンの全域に対して一通りのオーバ
ーライトが完了されたら、ステップＦ１０８で変数ｎを
インクリメントし、ステップＦ１０９で変数ｎがオーバ
ーライト回数ＯＷＣに達したかを確認する。そして達し
ていなければステップＦ１０７に戻り、再びアウタード
ライブテストゾーンの全域に対してのオーバーライトを
実行する。このステップＦ１０７〜Ｆ１０９によりアウ
タードライブテストゾーンに対して設定したオーバーラ
イト回数ＯＷＣだけオーバーライトが実行される。そし
てアウタードライブテストゾーンに対するＯＷＣ回のオ
ーバーライトが完了したら、ＤＯＷ特性安定化処理が終
了される。

【００８２】このような処理により、インナー及びアウ
タードライブテストゾーンの全域が、ＤＯＷ特性が安定
化された状態となる。

【００８３】なおＤＯＷ特性安定化処理の例は他にも多
様に考えられる。まず、インナー又はアウターのドライ
ブテストゾーンの一方のみに対してＤＯＷ特性安定化処
理が実行されるようにしても良い。例えば記録再生装置
におけるＯＰＣ処理が、インナー又はアウターのドライ
ブテストゾーンの一方のみで実行される場合は、その一
方のみに対してＤＯＷ特性安定化処理を実行しておけば
足り、また処理効率は向上する。また、ＤＯＷ特性安定
化処理がＯＰＣ処理の直前に行われる場合などは、イン
ナー又はアウターのドライブテストゾーン内でＯＰＣ処
理で用いられるエリア（試し書き実行エリア）がわかる
ため、その試し書き実行エリアのみに対してＤＯＷ特性
安定化処理が行われればよい。もちろんこれによってＤ
ＯＷ特性安定化処理に要する時間を短縮できる。これら
各種の処理例は、次のディスク装填時の処理例において
述べる各種のＤＯＷ特性安定化処理タイミングの事情に
応じて選択されればよい。

【００８４】４−２ ディスク装填時の処理例（Ａ）〜
（Ｃ） ディスク９０が記録再生装置に装填された後における、
レーザパワー設定に関する各種処理例（Ａ）（Ｂ）
（Ｃ）を、図１２、図１３、図１４でそれぞれ説明す
る。

【００８５】［処理例（Ａ）］図１２は処理例（Ａ）と
して、ディスク９０が装填された後のシステムコントロ
ーラ１０の処理を示している。

【００８６】ディスク９０が装填されると、システムコ
ントローラ１０はまずステップＦ２０１として、そのデ
ィスク９０の種別やライトプロテクト状況を判別し、記
録可能なディスクであるか否かを確認する。例えばＣＤ
−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭなどの再生専用ディスクであ
った場合や、オーバーライト可能なディスクであって
も、ライトプロテクトがかけられているディスクであっ
た場合は、そのディスクに対して記録動作が行われるこ
とはなく、従ってＯＰＣ処理も必要ないため、再生のみ
を対象とした通常処理に移る。

【００８７】記録可能なディスクであった場合は、ステ
ップＦ２０２でＤＯＷ特性安定化処理の必要性を判断
し、必要であればステップＦ２０３で例えば上述したよ
うなＤＯＷ特性安定化処理を行う。必要でない場合と
は、工場出荷前にすでにＤＯＷ特性安定化処理が施され
ている場合や、そのディスクに対する最初のフォーマッ
ト時にＤＯＷ特性安定化処理を施した場合である。さら
には、後述するようにＯＰＣ処理の直前にＤＯＷ特性安
定化処理を実行する場合も、ここではＤＯＷ特性安定化
処理を実行する必要はない。なお従って、ディスク装填
の際にまずＤＯＷ特性安定化処理を実行するという動作
方式が採用されていなければ、このステップＦ２０２，
Ｆ２０３の処理自体が不要となる。このため図１２の処
理として括弧を付したステップＦ２０２，Ｆ２０３が存
在しない処理例も考えられる（これは後述する図１３、
図１４でも同様）。

【００８８】また、装填されたディスクが過去において
記録再生装置に装填されたときにＤＯＷ特性安定化処理
が実行された場合も、改めてＤＯＷ特性安定化処理を行
う必要はない。

【００８９】この図１２以降で説明していく各種処理例
において、予めこの点を整理しておくと次のようにな
る。ディスク９０が工場出荷前、もしくは記録再生装置
で最初にフォーマットされる時点でＤＯＷ特性安定化が
ドライブテストゾーンの全域に対して必ず実行されるこ
ととした場合は、図１２、図１３、図１４、及び図１
６、図１７に示されるＤＯＷ特性安定化処理は全て不要
である。

【００９０】出荷前やフォーマット時にＤＯＷ特性安定
化が実行されないのであれば、例えば図１２〜図１４の
ように装填直後に必要に応じて（つまり過去に１度も実
行されていなければ）実行することが考えられるが、上
記のようにＯＰＣ処理の直前にＤＯＷ特性安定化処理を
実行する場合は、装填直後のＤＯＷ特性安定化は不要で
ある。逆に、ＯＰＣ処理の直前にＤＯＷ特性安定化処理
を実行しない場合には、図１２〜図１４のように装填直
後に必要に応じて実行することとなる。

【００９１】ところで、例えば図１２のステップＦ２０
２などで、ＤＯＷ特性安定化の必要性を判断する方法と
しては次のような方法が考えられる。まず、ドライブテ
ストゾーンに過去にまったく記録が行われていない未記
録領域の存在を確認する方法がある。或いは、ＤＯＷ特
性安定化を実行したら、その実行済のフラグ情報をディ
スクの所定のエリアに記録しておき、ステップＦ２０２
等ではそのフラグを確認するという手法も考えられる。
さらに、後述するようにテストゾーン管理テーブルを記
録するようにすれば、より詳細に（例えばドライブテス
トゾーン内のエリア毎に）ＤＯＷ特性安定化の実行済の
有無を確認できる。これら各種の手法が考えられるが、
具体的には、ＤＯＷ特性安定化の実行タイミングや実行
対象エリアなどの設定の事情に応じて決定されることに
なる。

【００９２】図１２の処理では、ディスク装填後ステッ
プＦ２０４に進んだら、通常処理となる。このステップ
Ｆ２０４でいう通常処理とは、記録動作以外の、例えば
ホストコンピュータ１００との通信や、再生動作などを
いう。ステップＦ２０４での通常処理中に、記録動作要
求、つまり装填後第１回目の記録動作がホストコンピュ
ータ１００から要求された場合は、システムコントロー
ラ１０はステップＦ２０５からＦ２０６に進み、まず記
録時のためのフォーカスバイアス調整を実行させる。こ
れは、図７（ａ）で述べたＯＰＣ処理前のフォーカスバ
イアス調整となる。

【００９３】続いてステップＦ２０７でＯＰＣ処理を実
行し、最適な記録パワー、消去パワーを設定する。具体
的なＯＰＣ処理例については各種の例があるため、それ
ぞれ後述する。そして、フォーカスバイアス調整及びＯ
ＰＣ処理により最適なバイアス及びレーザパワーを設定
したら、ステップＦ２０８としての通常処理に進む。こ
こでの通常処理とは、記録動作を含んで、ホストコンピ
ュータ１００からの指示に応じて実行される各種動作で
ある。そしてステップＦ２０６，Ｆ２０７の処理が行わ
れたのは、ホストコンピュータ１００からのライトコマ
ンドに応じたものであるため、ステップＦ２０８ではま
ず要求された記録動作を実行する。その記録動作が完了
した後は、このステップＦ２０８において、ホストコン
ピュータ１００の指示に応じて記録動作や再生動作を実
行することになる。

【００９４】ところで、ステップＦ２０８の通常処理の
段階で、ステップＦ２０９において所定時間の経過、又
は所定値以上の温度変化が検出された場合は、再度ステ
ップＦ２０４、Ｆ２０５のループに進み、記録動作要求
が発生した時点でステップＦ２０６、Ｆ２０７のフォー
カスバイアス調整及びＯＰＣ処理を行うことになる。

【００９５】後述するがＯＰＣ処理が実行された時点で
システムコントローラ１０の内部タイマ１０ａがリセッ
ト／スタートされることで、システムコントローラ１０
は或るＯＰＣ処理後の経過時間を知ることができる。そ
して、そのカウントされている経過時間が所定時間以上
となったら、その後記録が実行される場合は、フォーカ
スバイアス及びレーザパワーの再設定を行うようにして
いるものである。また、システムコントローラ１０は、
温度センサ２４からの装置内の温度値を監視しており、
ＯＰＣ処理が実行された時点で装置内温度を記憶するよ
うにしており（後述）、その後のステップＦ２０８の通
常処理中も温度の監視を続けることで、装置内温度がＯ
ＰＣ処理時と比べて所定値以上変化したか否かを判断で
きるようにしている。そして所定値以上の温度変化があ
った場合は、再度ステップＦ２０４、Ｆ２０５のループ
に進み、記録動作要求が発生した時点でＦ２０６、Ｆ２
０７のフォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処理を行なっ
てフォーカスバイアス及びレーザパワーの再設定を行う
ようにしている。

【００９６】以上のような処理例（Ａ）によれば、次の
ような効果が得られる。 ・ＤＯＷ特性安定化後にＯＰＣ処理が行われることで、
レーザパワー設定精度が向上される。 ・フォーカスバイアス調整後にＯＰＣ処理が行われるこ
とで、レーザパワー設定精度が向上される。 ・記録時のフォーカスバイアスも最適化されるため記録
特性が向上する。 ・装填後の初回の記録動作時の直前、もしくは所定時間
経過後の記録動作時の直前、もしくは温度変化後の記録
動作時の直前にＯＰＣ処理が行われることになるが、こ
れは最低限必要な時のみにＯＰＣ処理が行われることを
意味し、無駄なＯＰＣ処理が実行されない。つまりＯＰ
Ｃ処理が効率的に実行される。フォーカスバイアス調整
も同様である。 ・ＯＰＣ処理後、所定時間を経過した後において再度記
録動作が行われる場合には、再度フォーカスバイアス調
整及びＯＰＣ処理が行われることで、経時変化に対応し
て常に最適なレーザパワー及びフォーカスバイアス状態
で記録が実行でき、記録動作性能が安定する。 ・ＯＰＣ処理後、所定値以上の温度変化が確認され、そ
の後において再度記録動作が行われる場合には、再度フ
ォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処理が行われること
で、温度変化があってもそれに対応して常に最適なレー
ザパワー及びフォーカスバイアス状態で記録が実行で
き、記録動作性能が安定する。

【００９７】［処理例（Ｂ）］続いて図１３で処理例
（Ｂ）を説明する。この処理例（Ｂ）では、ステップＦ
３０１〜Ｆ３０５、及びステップＦ３０８，Ｆ３０９
は、上記処理例（Ａ）におけるステップＦ２０１〜Ｆ２
０５、及びステップＦ２０８，Ｆ２０９と同様であるた
め重複説明を避ける。処理例（Ａ）と異なる点は、ステ
ップＦ３０６のＯＰＣ処理及びステップＦ３０７のフォ
ーカスバイアス調整に手順であり、即ちこの処理例
（Ｂ）の場合は、ディスク装填後の最初の記録動作が実
行される直前に（又は所定時間経過後もしくは所定値以
上の温度変化が確認された後において記録動作が実行さ
れる直前に）、まずＯＰＣ処理を行って、その後にフォ
ーカスバイアス調整を行うものとなる。つまり図７
（ｂ）の手順に沿った方式である。

【００９８】従って記録動作の開始直前には、まずステ
ップＦ３０６でＯＰＣ処理を実行し、最適な記録パワ
ー、消去パワーを設定する（具体的なＯＰＣ処理例につ
いては後述）。そして、最適な記録パワー、消去パワー
が判別された後で、ステップＦ３０７では、その最適な
記録パワー、消去パワーを用いてフォーマットバイアス
調整を行うことになる。

【００９９】このような処理例（Ｂ）によれば、次のよ
うな効果が得られる。 ・処理例（Ａ）と同様に、ＤＯＷ特性安定化後にＯＰＣ
処理が行われることで、レーザパワー設定精度が向上さ
れる。 ・処理例（Ａ）と同様に、記録時のフォーカスバイアス
も最適化されるため記録特性が向上する。 ・ＯＰＣ処理後に最適レーザパワーでフォーカスバイア
ス調整が行われることで、フォーカスバイアスが、実際
の記録動作時の状況に即した状態で調整され、記録時の
フォーカスバイアスはより最適化されるため記録特性が
向上する。 ・処理例（Ａ）と同様に、装填後の初回の記録動作時の
直前、もしくは所定時間経過後の記録動作時の直前、も
しくは温度変化後の記録動作時の直前にＯＰＣ処理が行
われることになるが、これは最低限必要な時のみにＯＰ
Ｃ処理が行われることを意味し、無駄なＯＰＣ処理が実
行されない。つまりＯＰＣ処理が効率的に実行される。
フォーカスバイアス調整も同様である。 ・処理例（Ａ）と同様に、ＯＰＣ処理後、所定時間を経
過した後において再度記録動作が行われる場合には、再
度フォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処理が行われるこ
とで、経時変化に対応して常に最適なレーザパワー及び
フォーカスバイアス状態で記録が実行でき、記録動作性
能が安定する。 ・処理例（Ａ）と同様に、ＯＰＣ処理後、所定値以上の
温度変化が確認され、その後において再度記録動作が行
われる場合には、再度フォーカスバイアス調整及びＯＰ
Ｃ処理が行われることで、温度変化があってもそれに対
応して常に最適なレーザパワー及びフォーカスバイアス
状態で記録が実行でき、記録動作性能が安定する。

【０１００】［処理例（Ｃ）］続いて図１４で処理例
（Ｃ）を説明する。この処理例（Ｃ）が上記処理例
（Ａ）（Ｂ）と大きく異なる点は、ＯＰＣ処理やフォー
カスバイアス調整が記録動作の直前でなく、基本的には
ディスク装填時に実行されることである。

【０１０１】ディスク９０が装填されると、システムコ
ントローラ１０はまずステップＦ４０１として、そのデ
ィスク９０の種別やライトプロテクト状況を判別し、記
録可能なディスクであるか否かを確認する。また記録可
能なディスクであれば、ステップＦ４０２、Ｆ４０３で
必要に応じてＤＯＷ特性安定化処理を行う。ここまでは
上記処理例（Ａ）（Ｂ）と同様である。

【０１０２】続いてステップＦ４０４に進むわけである
が、このステップＦ４０４に進むのはディスク装填直後
の時点となる。そしてステップＦ４０４でシステムコン
トローラ１０は、記録時のためのフォーカスバイアス調
整を実行させる。

【０１０３】続いてステップＦ４０５でＯＰＣ処理を実
行し、最適な記録パワー、消去パワーを設定する（具体
的なＯＰＣ処理例は後述）。そして、フォーカスバイア
ス調整及びＯＰＣ処理により最適なバイアス及びレーザ
パワーを設定したら、ステップＦ４０６としての通常処
理に進む。ここでの通常処理とは、ホストコンピュータ
１００からの指示に応じて実行される各種動作、つまり
記録、再生、消去、通信等の通常の全ての処理を意味し
ている。従ってステップＦ４０６，Ｆ４０７のループ期
間においてホストコンピュータ１００から記録要求が発
せられた場合は、ステップＦ４０６で要求された記録動
作を実行する。このとき、レーザパワー及びフォーカス
バイアスは当然ながらそれより前の時点でステップＦ４
０４，Ｆ４０５で設定された値とされる。またもちろ
ん、ステップＦ４０６，Ｆ４０７のループ期間において
ホストコンピュータ１００から再生動作要求があった場
合は、ステップＦ４０６で再生動作が実行される。

【０１０４】ところで、ステップＦ４０６の通常処理の
段階で、ステップＦ４０７において所定時間の経過、又
は所定値以上の温度変化が検出された場合は、再度ステ
ップＦ４０４に進み、ステップＦ４０４，Ｆ４０５のフ
ォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処理を行うことにな
る。時間経過及び温度変化の監視方式は処理例（Ａ）で
説明した方式と同様である。この点で上記処理例（Ａ）
（Ｂ）と異なるのは、上記処理例（Ａ）（Ｂ）では、時
間経過又は温度変化の検出後において、記録動作要求が
発生された時点でフォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処
理を行うことに対し、この処理例（Ｃ）では、時間経過
又は温度変化の検出があったら、その時点でフォーカス
バイアス調整及びＯＰＣ処理を行うことにある。

【０１０５】このような処理例（Ｃ）によれば、次のよ
うな効果が得られる。 ・処理例（Ａ）（Ｂ）と同様に、ＤＯＷ特性安定化後に
ＯＰＣ処理が行われることで、レーザパワー設定精度が
向上される。 ・処理例（Ａ）（Ｂ）と同様に、記録時のフォーカスバ
イアスも最適化されるため記録特性が向上する。 ・処理例（Ａ）と同様に、フォーカスバイアス調整後に
ＯＰＣ処理が行われることで、レーザパワー設定精度が
向上される。 ・装填直後、もしくは所定時間経過直後、もしくは温度
変化検出直後にＯＰＣ処理が行われることになるため、
記録動作が要求される時点では、既に最適なレーザパワ
ー及びフォーカスバイアスが設定されていることにな
る。従って、記録動作要求に対して直ちに記録動作を開
始することができ、レスポンスの良い記録動作を実現で
きる。 ・ＯＰＣ処理後、所定時間を経過した後において、再度
フォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処理が行われること
で、経時変化に対応して常に最適なレーザパワー及びフ
ォーカスバイアス状態で記録が実行でき、記録動作性能
が安定する。 ・ＯＰＣ処理後、所定値以上の温度変化が確認された場
合に、再度フォーカスバイアス調整及びＯＰＣ処理が行
われることで、温度変化があってもそれに対応して常に
最適なレーザパワー及びフォーカスバイアス状態で記録
が実行でき、記録動作性能が安定する。

【０１０６】なお、この処理例（Ｃ）はフォーカスバイ
アス調整後にＯＰＣ処理を行うという、図７（ａ）の手
順に沿ったものであるが、図７（ｂ）の手順に沿った処
理例も考えられる。つまり、図１４のステップＦ４０４
とＦ４０５が逆になる処理例である。その場合は、上記
処理例（Ｂ）と同様に、ＯＰＣ処理後に最適レーザパワ
ーでフォーカスバイアス調整が行われることで、フォー
カスバイアスが、実際の記録動作時の状況に即した状態
で調整され、記録時のフォーカスバイアスはより最適化
されるため記録特性が向上するという効果が得られる。

【０１０７】４−３ ＯＰＣ処理例（Ｉ）〜（III） 次に、各種ＯＰＣ処理例として３つの処理例（Ｉ）（I
I）（III）をそれぞれ図１５、図１６、図１７で説明す
る。このＯＰＣ処理例（Ｉ）〜（III）は、上記図１
２、図１３、図１４の各ディスク装填後の処理例におい
て、ステップＦ２０７，Ｆ３０６，Ｆ４０５で実行され
るＯＰＣ処理のバリエーションとなる。

【０１０８】［処理例（Ｉ）］図１５はＯＰＣ処理例
（Ｉ）としてのシステムコントローラ１０の処理を示し
ている。この場合は、システムコントローラ１０はまず
ステップＦ５０１としてＯＰＣ動作を行う。ＯＰＣ動作
とは、前述してきているように、ディスク９０のドライ
ブテストゾーンに対してレーザパワーを変化させながら
試し書きを行い、その再生情報からジッター等を監視し
て最適な記録パワー、消去パワーを設定する動作である
が、この具体的な動作手順も各種の例が考えられるた
め、ＯＰＣ動作例（１）〜（４）としてまとめて後述す
る。

【０１０９】ＯＰＣ動作により最適な記録パワー、消去
パワーが設定されたら、ステップＦ５０２で、内部タイ
マ１０ａのリセット／スタートを行なう。つまりＯＰＣ
動作からの経過時間のカウントを開始する。また、その
時点で温度センサ２４から得られる装置内温度を記憶す
る。以上の処理を完了したら、ＯＰＣ処理、つまり上記
図１２のステップＦ２０７、又は図１３のステップＦ３
０６、又は図１４のステップＦ４０５の処理を終える。

【０１１０】ステップＦ５０２でのタイマリセット／ス
タート及び装置内温度の記憶は、上述した図１２のステ
ップＦ２０９、又は図１３のステップＦ３０９、又は図
１４のステップＦ４０７の判別のための処理となる。つ
まり上述したように、ＯＰＣ処理後において所定時間が
経過した場合、又は所定値以上の温度変化が検出された
場合に、再度ＯＰＣ処理及びフォーカスバイアス調整を
実行できるようにするための処理となる。

【０１１１】このようなＯＰＣ処理例（Ｉ）により、上
記ディスク装填後の処理例（Ａ）〜（Ｃ）の効果として
説明したように、常に最適なレーザパワーで記録が実行
できるという効果が実現される。

【０１１２】［処理例（II）］図１６はＯＰＣ処理例
（II）としてのシステムコントローラ１０の処理を示し
ている。この場合は、システムコントローラ１０はまず
ステップＦ５１１として、ドライブテストゾーンに関し
てＤＯＷ特性安定化処理の必要があるか否かを判別す
る。上述したように、ＤＯＷ特性安定化処理の実行タイ
ミングは各種考えられるが、このＤＯＷ特性安定化処理
の実行タイミングを、ＯＰＣ動作の直前に行うものと設
定される場合は、この図１６のようにＯＰＣ処理に進ん
だ時点で、ＤＯＷ特性安定化処理の必要性を判断し、必
要であればステップＦ５１２で上述したようなＤＯＷ特
性安定化処理を行う。ＯＰＣ動作直前にこのような必要
に応じたＤＯＷ特性安定化処理を行う処理手順を付加す
ることの必要性、及びステップＦ５１１でのＤＯＷ特性
安定化処理の必要性の判断方式は、上述したとおりであ
る。

【０１１３】必要に応じてＤＯＷ特性安定化処理が行わ
れた後は、ステップＦ５１３としてＯＰＣ動作を行う
（ＯＰＣ動作例は後述）。そしてＯＰＣ動作により最適
な記録パワー、消去パワーが設定されたら、上記ＯＰＣ
処理例（Ｉ）と同様に、ステップＦ５１４で、内部タイ
マ１０ａのリセット／スタート、及び温度センサ２４か
ら得られる装置内温度の記憶を行なう。以上の処理を完
了したら、ＯＰＣ処理、つまり上記図１２のステップＦ
２０７、又は図１３のステップＦ３０６、又は図１４の
ステップＦ４０５の処理を終える。

【０１１４】このようなＯＰＣ処理例（II）により、上
記ディスク装填後の処理例（Ａ）〜（Ｃ）の効果として
説明したように、常に最適なレーザパワーで記録が実行
できるという効果が実現される。また、このＯＰＣ処理
においてＯＰＣ動作直前にＤＯＷ特性安定化処理が行わ
れることは、製造工程やディスクフォーマット時、或い
は、図１２、図１３、図１４に示した時点でＤＯＷ特性
安定化処理を行うことが不要となることを意味する。換
言すれば、最低限必要なときのみＤＯＷ特性安定化処理
が実行されるということになる。

【０１１５】［処理例（III）］図１７はＯＰＣ処理例
（III）としてのシステムコントローラ１０の処理を示
している。この処理例（III）は、上記処理例（II）と
同様に、このＯＰＣ処理過程でＤＯＷ特性安定化を行う
とともに、そのＤＯＷ特性安定化処理は、ドライブテス
トゾーンの一部、つまり実際に試し書きを行う使用エリ
アのみ（もしくは少なくともその使用エリアを含む一部
の領域）に対して実行されるようにしたものである。

【０１１６】まずステップＦ５２１では、システムコン
トローラ１０は装填されているディスク９０のドライブ
テストゾーンのうちで、実際にＯＰＣ動作において試し
書きを行うエリア（以下「ＯＰＣ使用エリア」という）
を選択する。なおこの選択処理については、処理例
（イ）（ロ）（ハ）として後述する。

【０１１７】そしてＯＰＣ使用エリアを選択したら、ス
テップＦ５２２で、その選択されたＯＰＣ使用エリアに
ついてＤＯＷ特性安定化処理の必要があるか否かを判別
する。つまりここでは、ドライブテストゾーン内の一部
であるＯＰＣ使用エリアのみを対象として、既にＤＯＷ
特性が安定化されているか否かを確認することとなる。
そして必要であればステップＦ５２３で、その選択され
たＯＰＣ使用エリアのみについて（もしくは少なくとも
選択されたＯＰＣ使用エリアを含むテストゾーン内の一
部の領域について）、ＤＯＷ特性安定化処理を行う。Ｏ
ＰＣ動作直前にこのような必要に応じたＤＯＷ特性安定
化処理を行う処理手順を付加することの必要性、及びス
テップＦ５２２でのＯＰＣ使用エリアのＤＯＷ特性安定
化処理の必要性の判断方式は、上述したとおりである。

【０１１８】必要に応じて少なくともＯＰＣ使用エリア
についてＤＯＷ特性安定化処理が行われた後は、ステッ
プＦ５２４としてＯＰＣ動作を行う（ＯＰＣ動作例は後
述）。そしてＯＰＣ動作により最適な記録パワー、消去
パワーが設定されたら、上記ＯＰＣ処理例（Ｉ）（II）
と同様に、ステップＦ５２５で、内部タイマ１０ａのリ
セット／スタート、及び温度センサ２４から得られる装
置内温度の記憶を行なう。以上の処理を完了したら、Ｏ
ＰＣ処理、つまり上記図１２のステップＦ２０７、又は
図１３のステップＦ３０６、又は図１４のステップＦ４
０５の処理を終える。

【０１１９】このようなＯＰＣ処理例（III）により、
上記ディスク装填後の処理例（Ａ）〜（Ｃ）の効果とし
て説明したように、常に最適なレーザパワーで記録が実
行できるという効果が実現される。またＯＰＣ処理例
（II）と同様に、このＯＰＣ処理においてＯＰＣ動作直
前にＤＯＷ特性安定化処理が行われることは、製造工程
やディスクフォーマット時、或いは、図１２、図１３、
図１４に示した時点でＤＯＷ特性安定化処理を行うこと
が不要となることを意味する。つまり最低限必要な時の
みＤＯＷ特性安定化処理が行われる。さらにこの場合
は、ＤＯＷ特性安定化処理は、最低限必要なエリア、つ
まりＯＰＣ使用エリアに対して行われるものとなるた
め、ＤＯＷ特性安定化処理における複数回のオーバーラ
イト動作の時間がかなり短縮できることになり、最も効
率的な動作となる。

【０１２０】４−４ ＯＰＣ使用エリア選択処理例
（イ）〜（ハ） 上記図１７のＯＰＣ処理例（III）が採用される場合
は、そのステップＦ５２１としてＯＰＣ使用エリアの選
択処理が必要になる。このステップＦ５２１でのＯＰＣ
使用エリア選択処理として処理例（イ）（ロ）（ハ）を
図１８、図２０、図２１に示し、また図１９、図２１、
図２２を利用して説明する。

【０１２１】［処理例（イ）］図１８はＯＰＣ使用エリ
ア選択処理例（イ）としてのシステムコントローラ１０
の処理を示している。ＯＰＣ使用エリアを選択する際に
は、まずシステムコントローラ１０はステップＦ６０１
として、試し書きを実行するセクター数を変数ＳＮとし
てセットする。試し書きに用いるセクター数は、実行す
るＯＰＣ動作方式（後述）により予めわかるものであ
る。

【０１２２】続いてステップＦ６０２で、ドライブテス
トゾーンの開始セクターのアドレスを変数ＳＡにセット
し、またドライブテストゾーンの終了セクターの次のア
ドレスより変数ＳＮだけ前のアドレスを変数ＳＥにセッ
トする。

【０１２３】そしてステップＦ６０３で、セクターアド
レスＳＡ〜セクターアドレスＳＥの間のアドレスとし
て、ランダムに或るセクターアドレスを選択し、選択し
たアドレスを変数ＵＳとする。そしてステップＦ６０４
で、セクターアドレスＵＳからセクターアドレス（ＵＳ
＋ＳＮ）までの範囲を、ＯＰＣ使用エリアと設定する。

【０１２４】このＯＰＣ使用エリア選択処理例（イ）を
模式的に示すと図１９のようになる。例えばインナード
ライブテストゾーンの一部をＯＰＣ使用エリアとする場
合、図示するように変数ＳＡ＝「３０６００ｈ」、変数
ＳＥ＝「３０Ｃ８０ｈ−ＳＮ」となる（図２参照）。な
おインナードライブテストゾーン内を区切っている破線
はセクター単位の区切りであるとする。

【０１２５】そしてアドレスＳＡ〜ＳＥの範囲でランダ
ムに或るアドレスを選択してアドレスＵＳとする際に、
選択されたアドレスが図示するアドレスＵＳ（１）であ
ったとすると、このアドレスＵＳ（１）〜アドレス（Ｕ
Ｓ（１）＋ＳＮ）がＯＰＣ使用エリアとなる。また、例
えば選択されたアドレスが図示するアドレスＵＳ（２）
であったとすると、アドレスＵＳ（２）〜アドレス（Ｕ
Ｓ（２）＋ＳＮ）がＯＰＣ使用エリアとなる。

【０１２６】このように、ＯＰＣ使用エリア選択処理例
（イ）では、選択処理が行われる毎に、ＯＰＣ使用エリ
アがドライブテストゾーンの範囲内でランダムに設定さ
れることになる。そして上述した図１７のＯＰＣ処理例
（III）では、このようにして選択されたＯＰＣ使用エ
リアに対して、必要に応じてＤＯＷ特性安定化処理を行
った後、ＯＰＣ動作を実行する。

【０１２７】このＯＰＣ使用エリア選択処理例（イ）に
より、ＯＰＣ動作において試し書きが行われるエリア
が、ＯＰＣ動作毎に変更されることになるため、ＯＰＣ
動作の毎に同じエリアばかりが試し書きされ、その部分
が集中的に劣化が進行してしまうということを避けるこ
とができる。

【０１２８】［処理例（ロ）］図２０はＯＰＣ使用エリ
ア選択処理例（ロ）としてのシステムコントローラ１０
の処理を示している。この例も、ＯＰＣ処理が行われる
度に、ＯＰＣ使用エリアがランダムに選択されるもので
あるが、あらかじめドライブテストゾーン内でエリアを
分割設定している方式となる。

【０１２９】例えば図２３（ａ）のように、インナード
ライブテストゾーンを複数のエリアＡＲ１〜ＡＲ（ｎ）
に分割設定しておく。各エリアは、例えば、１回のＯＰ
Ｃ動作で試し書きが行われるセクター数以上のエリア長
とする。またディスク９０上には、例えば図２３（ｂ）
に示すようなテストゾーン管理テーブルを記録し、シス
テムコントローラ１０はこれを読み出してテーブル内容
を確認できるようにする。

【０１３０】テストゾーン管理テーブルは、各エリアＡ
Ｒ１〜ＡＲ（ｎ）についての情報を記録するものとし、
例えば図示するように過去の試し書き回数（ＯＰＣ動作
に利用された総回数）を記録するようにする。さらに、
図２３（ａ）のようにドライブテストゾーンの一部に傷
や汚れなどのディフェクト部分ＤＦＡが存在した場合
は、図２３（ｂ）のようにそのディフェクトが存在する
エリアの情報を、「Ｄｅｆｅｃｔ」として欠陥部分を含
む領域である（つまりＯＰＣ使用エリアとして不適切な
エリアである）ことが判別できるようにしても良い。

【０１３１】このようなテストゾーン管理テーブルは、
一例としては、図２２に示すディスクコントロールＥＣ
Ｃブロックとしてのエリアを利用してディスク９０に書
き込む。このディスクコントロールＥＣＣブロックは、
図２に示したインナー及びアウターのディスクアイデン
ティフィケーションゾーン内に記録されるブロックであ
り、図２２に示すように１６セクター（セクター０〜セ
クター１５）のブロックとして記録内容が定義されてい
る。詳しい記録内容については本発明と直接関係しない
ため説明を省略するが、図２２からわかるように、ディ
スクコントロールＥＣＣブロックのセクター０のバイト
ポジションＤ40〜Ｄ2048、及びセクター１〜１５の全バ
イトポジションはリザーブ（予備）とされている。そこ
で、この領域を利用すれば、ディスク９０にテストゾー
ン管理テーブルを書き込むことができる。

【０１３２】このようなテストゾーン管理テーブルをデ
ィスク９０に記録するようにし、システムコントローラ
１０がそれを参照することで、図２０のようなＯＰＣ使
用エリア選択処理が可能となる。まずシステムコントロ
ーラ１０は、ステップＦ６１１として、テストゾーン管
理テーブルに管理されている各エリアＡＲ１〜ＡＲ
（ｎ）の中で、或る１つのエリアをランダムに選択す
る。続いてステップＦ６１２では、選択したエリアのテ
ーブルデータを確認し、そのエリアがディフェクトを含
むエリアであるか否かを確認する。もしディフェクトを
含むエリアであれば、ステップＦ６１１に戻って再度エ
リアをランダムに選択する。

【０１３３】ランダムに選択したエリアがディフェクト
を含むエリアでなければ、ステップＦ６１３に進んで、
その選択したエリアをＯＰＣ使用エリアとして設定す
る。

【０１３４】このように、ＯＰＣ使用エリア選択処理例
（ロ）では、選択処理が行われる毎に、ＯＰＣ使用エリ
アがドライブテストゾーンの範囲内でランダムに設定さ
れ、上述した図１７のＯＰＣ処理例（III）では、この
ようにして選択されたＯＰＣ使用エリアに対して、必要
に応じてＤＯＷ特性安定化処理を行った後、ＯＰＣ動作
を実行する。

【０１３５】このＯＰＣ使用エリア選択処理例（ロ）に
より、ＯＰＣ動作において試し書きが行われるエリア
が、ＯＰＣ動作毎に変更されることになるため、ＯＰＣ
動作の毎に同じエリアばかりが試し書きされ、その部分
が集中的に劣化が進行してしまうということを避けるこ
とができる。さらにこの場合は、ディフェクトを含むエ
リアがＯＰＣ使用領域となることが回避されるため、Ｏ
ＰＣ動作の精度を向上させることができる。（なおディ
フェクトのＯＰＣ動作への影響、及びこれ以外のディフ
ェクトキャンセル方式については後述する）

【０１３６】なお、上述した図１７のＯＰＣ処理例（II
I）では述べなかったが、このＯＰＣ使用エリア選択処
理例（ロ）、及び次に説明するＯＰＣ使用エリア選択処
理例（ハ）が採用される場合は、ＯＰＣ動作やディフェ
クトの発見などに応じてディスク９０上のテストゾーン
管理テーブルが更新されていく必要がある。このため例
えば図１７でステップＦ５２４のＯＰＣ動作が行われた
後の或る時点で、使用されたエリアに対応する試し書き
回数が更新されるように、テストゾーン管理テーブルが
書き換えられる。また、ＤＯＷ特性安定化処理時や、Ｏ
ＰＣ動作時において或るエリアでディフェクトが発見さ
れる場合もあるが、その様な場合も、そのエリアがディ
フェクトエリアとされるように、テストゾーン管理テー
ブルが書き換えられることになる。なお、各エリアＡＲ
１〜ＡＲ（ｎ）がディフェクトエリアであるか否かの情
報は、例えばディスク上のＤＭＡ（ディフェクトマネー
ジメントエリア：図２参照）から得、それに応じてテス
トゾーン管理テーブルを作成又は更新するようにしても
良い。

【０１３７】ところで、図２０の処理例（ロ）において
は、ＯＰＣ使用エリアとされるのは必ずしも１つのエリ
アとは限らない。１つのエリアのエリア長の設定及びＯ
ＰＣ動作で試し書きを行うのに必要なエリア長に設定に
よるものとなるが、ＯＰＣ使用エリアとして、エリアＡ
Ｒ１〜ＡＲ（ｎ）のうちの複数が必要になる場合もあり
得る。その場合は、ランダムに選択した１つのエリアを
起点として、物理的に連続する必要数のエリアをＯＰＣ
使用エリアとしても良いし、特に物理的な連続性を考慮
しない場合は、必要数のエリアをそれぞれランダムに選
択して、それらをＯＰＣ使用エリアとしても良い。

【０１３８】［処理例（ハ）］図２１はＯＰＣ使用エリ
ア選択処理例（ハ）としてのシステムコントローラ１０
の処理を示している。この例も、ＯＰＣ処理が行われる
度に、異なるＯＰＣ使用エリアが選択されるものである
が、その選択はランダムなものとはせずに、上記テスト
ゾーン管理テーブルを参照して好適なエリアを選択する
ものである。

【０１３９】まずシステムコントローラ１０は、ステッ
プＦ６２１として、テストゾーン管理テーブルに管理さ
れている各エリアＡＲ１〜ＡＲ（ｎ）について、ディフ
ェクトが存在すると記されているエリアを除いて、過去
の試し書き回数が最小のエリアを抽出する。ここで、Ｏ
ＰＣ使用エリアとして必要なエリアがエリアＡＲ１〜Ａ
Ｒ（ｎ）の内の１つであるとした場合は、ステップＦ６
２２で試し書き回数が最小となるエリア（抽出エリア）
が複数個存在したら、ステップＦ６２３で、その中の１
つをランダムに選択する。そしてステップＦ６２４で、
抽出エリア（もしくはステップＦ６２３で選択されたエ
リア）を、ＯＰＣ使用エリアとして設定する。

【０１４０】このように、ＯＰＣ使用エリア選択処理例
（ハ）では、選択処理が行われる毎に、過去の試し書き
回数が最小回数のエリアがＯＰＣ使用エリアとして設定
されるため、ＯＰＣ動作の毎に同じエリアばかりが試し
書きされ、或るエリアが集中的に使用されて劣化が進行
してしまうということを避けることができる。また、ラ
ンダムな選択に比べて効率よく、満遍なく各エリアが使
用されるという利点もある。もちろんこの場合も、ディ
フェクトを含むエリアがＯＰＣ使用領域となることが回
避されるため、ＯＰＣ動作の精度を向上させることがで
きる。

【０１４１】なお、複数のエリアをＯＰＣ使用エリアと
する場合は、ステップＦ６２１で試し書き回数が少ない
方から必要数のエリアが抽出されることになる。そし
て、過去の試し書き回数が同数となるエリアの存在など
により、その抽出の結果として必要数より多いエリアが
抽出された場合は、ステップＦ６２３の処理が行われる
ようにすればよい。

【０１４２】以上、ＯＰＣ使用エリア判別処理例（イ）
（ロ）（ハ）について述べたが、これらのＯＰＣ使用エ
リア判別処理は、必ずしも上述した図１７のＯＰＣ処理
例（III）が採用される場合のみに実行されるものでは
ない。例えば図１７の変形例として、ステップＦ５２
２、Ｆ５２３が存在しない処理例も考えられるが、その
ような場合にも、ＯＰＣ使用エリア判別処理例（イ）
（ロ）（ハ）のいずれかが実行されることもあり得る。

【０１４３】また上述したテストゾーン管理テーブル
は、ＯＰＣ使用エリアの判別だけでなく、図１７のステ
ップＦ５２２や、図１２〜図１４にあげた、ＤＯＷ特性
安定化処理の必要性の判断に用いることもできる。即ち
試し書き回数が記述されていることから、各エリア（或
いはテストゾーン全体として）のＤＯＷ安定化状況を判
断できるためである。

【０１４４】４−５ ディフェクトキャンセル方式 具体的なＯＰＣ動作例については後述することになる
が、ＯＰＣ動作の実行時には、試し書きを行った部分の
再生情報からジッター／エラーレート、及びアシンメト
リ値の検出を行って、最適なレーザパワーを判断するこ
とになる。このとき、試し書きを行った部分にディフェ
クトが存在すると、ジッター／エラーレート、及びアシ
ンメトリ値が正確に検出できないものとなり、ひいては
最適なレーザーパワーの判別に悪影響を与えてしまう。

【０１４５】図２４はＲＦ信号へのディフェクトの影響
を示している。例えばディフェクトがない部分の再生Ｒ
Ｆ信号が図２４（ａ）のように観測されることに比べ
て、ディフェクトが存在する部分では、図２４（ｂ）の
ようにＲＦ信号波形のエンベロープが大きく変動する。
これによってジッターやアシンメトリ値が不正確に検出
されてしまう。このため、ＯＰＣ動作時には、ディフェ
クト部分において試し書きを行うことを避けるか、もし
くはディフェクト部分で試し書きを行ったとしても、ジ
ッターやアシンメトリ値の算出の際に、そのディフェク
ト部分からの再生情報を排除する必要がある。なお本例
ではこれらの動作をまとめてディフェクトキャンセルと
呼ぶこととする。

【０１４６】ディフェクトキャンセル方式の１つとし
て、ディフェクト部分において試し書きを行うことを避
けるようにする方式は、上記図２０、図２１のＯＰＣ使
用エリア選択処理例（ロ）（ハ）で述べた方式である。
つまり予めディフェクト部分を避けてＯＰＣ動作を行う
ようにすることで、ディフェクトキャンセルが達成され
る。

【０１４７】一方、ＯＰＣ動作中でのディフェクトキャ
ンセル方式としては、試し書き下部分を再生する際に、
ディフェクト部分の再生情報を、ジッタやアシンメトリ
の算出のためのサンプルから排除する方式が考えられ
る。以下、このような方式としての各種の例を説明して
いく。

【０１４８】図２５に、図３に示した検出部２３の構成
例（構成例（α））を示す。この構成例（α）では、検
出部２３は、ディフェクト検出回路３１、スイッチ３
２、ジッタ検出回路（又はエラーレート検出回路：以下
同様）３３、アシンメトリ検出回路３４が設けられてい
る。そしてＲＦアンプ９から出力されるＲＦ信号はディ
フェクト検出回路３１及びスイッチ３２の各端子に供給
される。またスイッチ３２の各端子はそれぞれジッタ検
出回路３３及びアシンメトリ検出回路３４に接続され
る。

【０１４９】ジッタ検出回路３３は、スイッチ３２を介
して供給されたＲＦ信号について、所要期間のサンプル
を取り込み、ＲＦ信号のジッター（又はエラーレート）
を計測してその結果をジッター（又はエラーレート）の
検出値ＤＪとしてシステムコントローラ１０に供給す
る。またアシンメトリ検出回路３４は、スイッチ３２を
介して供給されたＲＦ信号について、所要期間のサンプ
ルを取り込み、ＲＦ信号のアシンメトリ値を計測してそ
の結果を検出値ＤＡＳとしてシステムコントローラ１０
に供給する。

【０１５０】システムコントローラ１０は、後にＯＰＣ
動作の説明で述べるように、このようにして供給される
検出値ＤＪ，ＤＡＳから、各レーザパワーにおける信号
品質をチェックし、最適なレーザパワーを判別すること
になる。

【０１５１】ここで、ディフェクト検出回路３１は、Ｒ
Ｆ信号上でのディフェクトの影響があらわれている期間
を検出し、ディフェクト検出信号ＤＦをスイッチ３２に
対して出力する。即ちディフェクト検出回路３１には、
図２４（ｂ）のようにＲＦ信号振幅に対する所定のスレ
ッショルド値Ｒｅｆが設定されており、入力されてくる
ＲＦ信号とスレッショルド値Ｒｅｆを比較することで、
図２４（ｃ）のようなディフェクト検出信号ＤＦを発生
させる。そしてスイッチ３２は、ディフェクト検出信号
ＤＦがオンとなった期間は、各接点を開き、その期間は
ＲＦ信号がジッタ検出回路３３及びアシンメトリ検出回
路３４に供給されないようにする。

【０１５２】即ち検出部２３がこのように構成されるこ
とで、ジッタ検出回路３３及びアシンメトリ検出回路３
４にはディフェクトの影響があらわれた期間のＲＦ信号
は供給されず、従って検出値ＤＪ、ＤＡＳには、ディフ
ェクトの影響はあらわれないことになる。これによって
システムコントローラ１０は検出値ＤＪ、ＤＡＳにより
正しく信号品質をチェックできることになり、ハードウ
エア的なディフェクトキャンセルが実現される。

【０１５３】同じく、ディフェクトキャンセルを実現す
るための検出部２３の構成例（構成例（β））を図２６
に示す。この構成例（β）では、検出部２３は、ディフ
ェクト検出回路３１、ジッタ検出回路（又はエラーレー
ト検出回路：以下同様）３３、アシンメトリ検出回路３
４が設けられている。そしてＲＦアンプ９から出力され
るＲＦ信号はディフェクト検出回路３１、ジッタ検出回
路３３、アシンメトリ検出回路３４のそれぞれに供給さ
れる。ディフェクト検出回路３１、ジッタ検出回路３
３、アシンメトリ検出回路３４の動作は上記構成例αの
場合と同様であり、所要の信号処理により、それぞれデ
ィフェクト検出信号ＤＦ、検出値ＤＪ、検出値ＤＡＳを
出力する。そしてこの例の場合は、ディフェクト検出信
号ＤＦ、検出値ＤＪ、検出値ＤＡＳが、システムコント
ローラ１０に供給される。

【０１５４】この構成例（β）の場合は、検出部２３に
おいてハードウエア的にディフェクトキャンセルを実現
するのではなく、システムコントローラ１０側でソフト
ウエア的にディフェクトキャンセルを行うものである。
このため、検出部２３からディフェクト検出信号ＤＦ、
検出値ＤＪ、検出値ＤＡＳが供給され、これを取り込む
際の処理として、システムコントローラ１０は図２７の
ような処理（処理（β−１））を行う。

【０１５５】つまり、検出値ＤＪ又はＤＡＳが供給さ
れ、１つのサンプルとして取り込まれるタイミングとな
る毎に、処理をステップＦ７０１からＦ７０２に進め、
そのときディフェクト検出信号ＤＦがオンとなっている
か否かを確認する。そしてディフェクト検出信号ＤＦが
オフであれば、ステップＦ７０３に進んで、供給された
検出値ＤＪ又はＤＡＳを信号品質のチェックのための計
算用サンプルとして記憶する。ところがディフェクト検
出信号ＤＦがオンであった場合は、ステップＦ７０３に
は進まず、つまりその時点で供給された検出値ＤＪ又は
ＤＡＳは計算用サンプルとはしないようにする。

【０１５６】このような処理（β−１）により、システ
ムコントローラ１０は、供給される検出値ＤＪ，ＤＡＳ
のうちで、ディフェクトの影響があらわれた期間の検出
値ＤＪ，ＤＡＳを計算対象から排除することになり、ソ
フトウエア的なディフェクトキャンセルが実現される。
なお、実際には、ジッタ検出回路３３やアシンメトリ検
出回路３４の処理方式などの影響で、ディフェクト検出
信号ＤＦがオンになるタイミングと、ディフェクトの影
響があらわれた検出値ＤＪ又はＤＡＳが供給されるタイ
ミングがずれることがあり得るため、システムコントロ
ーラ１０はステップＦ７０２の判断で、そのタイミング
のずれを考慮する必要がある。

【０１５７】ところで、図２６の構成例βのように、デ
ィフェクト検出信号ＤＦがシステムコントローラ１０に
供給されるようにした場合、システムコントローラ１０
が予めドライブテストゾーン内のディフェクト部分を検
査し、それを記憶しておくことができる。つまり、例え
ばＯＰＣ動作に先立って、ある時点でドライブテストゾ
ーンの再生を行ないながらディフェクト検出信号ＤＦを
監視し、ディフェクトが存在したら、そのアドレスを内
部ＲＡＭなどに記憶しておくことができる。

【０１５８】その様な動作方式を採用する場合は、図２
８の処理例（β−２）によっても、ソフトウエア的なデ
ィフェクトキャンセルが可能となる。つまり、検出値Ｄ
Ｊ又はＤＡＳが供給され、１つのサンプルとして取り込
まれるタイミングとなる毎に、処理をステップＦ７１１
からＦ７１２に進め、そのときの検出値ＤＪ又はＤＡＳ
の計算対象となったＲＦ信号の再生エリアのアドレスを
確認する。そして、その再生エリアのアドレスが、記憶
しておいたディフェクト部分のアドレスであるか否かを
判別する。

【０１５９】そしてディフェクト部分のアドレスでなけ
れば、ステップＦ７１３に進んで、供給された検出値Ｄ
Ｊ又はＤＡＳを信号品質のチェックのための計算用サン
プルとして記憶する。一方、ディフェクト部分のアドレ
スであった場合は、ステップＦ７１３には進まず、つま
りその時点で供給された検出値ＤＪ又はＤＡＳは計算用
サンプルとはしないようにする。

【０１６０】このような処理例（β−２）により、シス
テムコントローラ１０は、供給される検出値ＤＪ，ＤＡ
Ｓのうちで、ディフェクトの影響があらわれた期間の検
出値ＤＪ，ＤＡＳを計算対象から排除することになり、
ソフトウエア的なディフェクトキャンセルが実現され
る。

【０１６１】ところで、この処理例（β−２）によるデ
ィフェクトキャンセルのためには、予めディフェクト部
分のアドレスが確認されていることが必要になる。この
ため１つの方法として、上記のようにあらかじめディフ
ェクト検出を行うわけであるが、このディフェクト検出
処理は、例えばＤＯＷ特性安定化処理の際に実行してし
まうことで、一連の動作を効率化できる。なお、例えば
１回オーバーライトを行ってからその部分を再生してデ
ィフェクト検出を行う場合は、ＤＣデータによる記録又
は消去（つまり継続マークの記録、又は継続スペースの
記録）を行うとディフェクトの影響がＲＦ信号にはっき
りあらわれ、ディフェクト検出精度が向上するため好適
である。

【０１６２】但し、このように予めディフェクト検出を
行うことは不要とすることもできる。例えば図２に示し
たＤＭＡゾーンには、ディスク上のディフェクトセクタ
ーの情報が記述されているため、このＤＭＡゾーンのデ
ータを確認すれば、システムコントローラ１０はディフ
ェクト部分のアドレスを知ることができ、図２８の処理
が可能となる。また上述したようにテストゾーン管理テ
ーブルが存在する場合は、そのテーブル情報からディフ
ェクトエリアが確認でき、これによっても図２８の処理
が可能となる。

【０１６３】なお図２５、図２６の構成例（α）（β）
において、ジッタ検出回路３３に対してシステムコント
ローラ１０から供給される制御信号Ｊ／Ｅを示した。上
述したように、ＯＰＣ動作時には、ジッターとアシンメ
トリ値を監視するか、もしくはエラーレートとアシンメ
トリ値を監視するかを選択できるようにすることもでき
るが、その場合は、ジッタ検出回路３３に対してシステ
ムコントローラ１０が制御信号Ｊ／Ｅにより、検出値Ｄ
Ｊをジッターの検出値とするか、エラーレートの検出値
とするかを指示することになる。制御信号Ｊ／Ｅは、動
作モード状態やホストコンピュータの指示、或いはユー
ザーの指示などに応じてシステムコントローラ１０が発
生させる。

【０１６４】４−６ ＯＰＣ動作例（１）〜（４） 続いて本例のＯＰＣ動作例としてＯＰＣ動作例（１）〜
（４）をそれぞれ説明していく。以下に述べる各種のＯ
ＰＣ動作例はそれぞれ、図１５、図１６、図１７で説明
したＯＰＣ処理例（Ｉ）（II）（III）におけるステッ
プＦ５０１、又はＦ５１３、又はＦ５２４のＯＰＣ動作
の具体的な処理として採用できる例である。つまり、デ
ィスク９０のドライブテストゾーンに対してレーザパワ
ー（記録パワーＰｗ及び消去パワーＰｅ）を変化させな
がら試し書き記録を行い、それを再生してジッター／エ
ラーレート、及びアシンメトリ値を監視して、最適な記
録パワーＰｗ、消去パワーＰｅを判別するための具体的
処理例である。

【０１６５】［ＯＰＣ動作例（１）］図２９はＯＰＣ動
作例（１）としてのシステムコントローラ１０の処理を
示している。ＯＰＣ動作に際しては、システムコントロ
ーラ１０はまずステップＦ８０１で、ＯＰＣ使用エリア
（ＯＰＣ使用エリアとしては前述してきたようにドライ
ブテストゾーンの一部の領域の場合もあるし、ドライブ
テストゾーンの全域とする場合もある）に対して、記録
パワーＰｗを或る初期設定値に固定したうえで、消去パ
ワーＰｅを複数段階に順次切り換えながら試し書きを実
行させる。なお、このステップＦ８０１や、後述するス
テップＦ８０３、或いはＯＰＣ動作例（２）〜（４）で
実行する試し書きの際の記録データやレーザパワー切換
態様については、具体例を後述する。

【０１６６】即ちステップＦ８０１の処理により、或る
１つの記録パワーＰｗに対して、複数の消去パワーＰｅ
による試し書きが実行される。例えば記録パワーＰｗ＝
Ｐｗ１と固定し、消去パワーＰｅをＰｅ１，Ｐｅ２・・
・と変更するとすると、記録パワーと消去パワーの組み
合わせとして、（Ｐｗ１、Ｐｅ１）（Ｐｗ１、Ｐｅ２）
（Ｐｗ１、Ｐｅ３）・・・の各状態で、それぞれ図４、
図５で説明したようなレーザドライブパルスが生成さ
れ、試し書きが行われることになる。

【０１６７】この試し書きが完了したら、ステップＦ８
０２で、システムコントローラ１０は、その試し書き部
分の再生を指示するとともに、その再生時に検出部２３
からのジッター（又はエラーレート；以下同様）の検出
値ＤＪを取り込んでいく。つまり、例えば（Ｐｗ１、Ｐ
ｅ１）で記録した部分での検出値ＤＪ、（Ｐｗ１、Ｐｅ
２）で記録した部分での検出値ＤＪ、（Ｐｗ１、Ｐｅ
３）で記録した部分での検出値ＤＪ・・・・をそれぞれ
確認する。これにより、試し書きを行った各種の記録パ
ワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせにおいて、ジッ
ターが最小となる組み合わせが判別できる。そしてジッ
ター最小の組み合わせにおける、記録パワーＰｗと消去
パワーＰｅの比（Ｐｅ／Ｐｗ）を算出する。つまり試し
書きを行った組み合わせの中で、ジッターが最小となる
組み合わせが（Ｐｗ１、Ｐｅ（ｍ））であったとする
と、最適比（Ｐｅ／Ｐｗ）＝（Ｐｅ（ｍ）／Ｐｗ１）と
して計算される。

【０１６８】次にステップＦ８０３では、記録パワーＰ
ｗと消去パワーＰｅの組み合わせとして、上記最適比
（Ｐｅ／Ｐｗ）が保たれる組み合わせを数種類設定し、
ＯＰＣ使用エリアに対して各組み合わせのレーザパワー
での試し書きを実行させる。そしてその試し書きが完了
したら、ステップＦ８０４で、その試し書き部分の再生
を指示するとともに、その再生時に検出部２３からのア
シンメトリの検出値ＤＡＳを取り込んでいく。これによ
りステップＦ８０３で試し書きを行った各種の記録パワ
ーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせにおいて、アシン
メトリ値が最も適切となる組み合わせが判別できる。な
お図６の説明で述べたようにアシンメトリ値は例えば
０．０４を最適とし、ここでは検出値ＤＡＳ＝０．０４
となっている組み合わせ、もしくは検出値ＤＡＳが０．
０４に最も近い値となる組み合わせを選ぶことになる。

【０１６９】この時点でアシンメトリ値が最も適切とな
る組み合わせが判別できたら、その組み合わせはジッタ
ーが最小かつアシンメトリ値が最適な記録パワーＰｗと
消去パワーＰｅとして判別できたことになる。これによ
りステップＦ８０５で、その組み合わせにおける記録パ
ワーＰｗと消去パワーＰｅを、実際に記録動作に用いる
記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅとして設定する。つま
りその記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅの値を、オート
パワーコントロール回路１９にセットする。これによ
り、ＯＰＣ動作が完了される。

【０１７０】つまりこのようなＯＰＣ動作例（１）によ
れば、記録パワーＰｗを固定して消去パワーＰｅを変化
させながら試し書きを行って最適比を見つけ、その後、
最適比が保たれる組み合わせとして記録パワーＰｗと消
去パワーＰｅの組み合わせを数種類設定して試し書きを
行ってアシンメトリ値が最適となる組み合わせを見つけ
ることで、最適な記録パワーＰｗと消去パワーＰｅを判
別し、設定することになる。このため、試し書きを行う
記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせの数はさ
ほど多数にはならず、従って短時間でＯＰＣ動作が完了
できるとともに、その最適パワーとして非常に高精度に
記録パワーＰｗと消去パワーＰｅを設定できることにな
る。

【０１７１】［ＯＰＣ動作例（２）］次に図３０でＯＰ
Ｃ動作例（２）としてのシステムコントローラ１０の処
理を述べる。なお、このＯＰＣ動作例（２）におけるス
テップＦ８１１、Ｆ８１２は、上記ＯＰＣ動作例（１）
のステップＦ８０１、Ｆ８０２と同様であるため説明を
省略する。即ちこの場合も、まず記録パワーＰｗと消去
パワーＰｅの最適な比を求めることは同様である。

【０１７２】この例の場合は、最適比が検出されたら、
次にステップＦ８１３として、消去パワーＰｅを或る値
に固定したうえで、記録パワーＰｗを変化させながら試
し書きを行う。例えば消去パワーＰｅ＝ＰｅＺと固定
し、記録パワーＰｗをＰｗ１，Ｐｗ２・・・と変更する
とすると、記録パワーと消去パワーの組み合わせとし
て、（Ｐｗ１、ＰｅＺ）（Ｐｗ２、ＰｅＺ）（Ｐｗ３、
ＰｅＺ）・・・の各状態で、それぞれ図４、図５で説明
したようなレーザドライブパルスが生成され、試し書き
が行われることになる。

【０１７３】そしてその試し書きが完了したら、ステッ
プＦ８１４で、その試し書き部分の再生を指示するとと
もに、その再生時に検出部２３からのアシンメトリの検
出値ＤＡＳを取り込んでいく。これによりステップＦ８
１３での試し書きにおいて変化させた各種の記録パワー
Ｐｗの中で、アシンメトリ値が最も適切となる記録パワ
ーＰｗ、つまり最適な記録パワーＰｗが判別できる。

【０１７４】次にステップＦ８１５で、最適な記録パワ
ーＰｗに対して、上記ステップＦ８０２で検出した比
（Ｐｅ／Ｐｗ）から、最適な消去パワーＰｅの候補とな
る範囲（好適範囲）を算出する。つまり、最適な記録パ
ワーＰｗに対して比（Ｐｅ／Ｐｗ）を乗算することで、
或る消去パワーＰｅが求められるが、例えばこの算出さ
れた消去パワーを中心として或る程度狭いパワー可変範
囲を、消去パワーＰｅの好適範囲とする。

【０１７５】そしてステップＦ８１６で、記録パワーＰ
ｗを最適値（ＰｗＳとする）に固定したうえで、消去パ
ワーＰｅを好適範囲内で変化させながら試し書きを行
う。例えば好適範囲内の消去パワーＰｅをＰｅＳ１，Ｐ
ｅＳ２・・・とすると、記録パワーと消去パワーの組み
合わせとして、（ＰｗＳ、ＰｅＳ１）（ＰｗＳ、ＰｅＳ
２）（ＰｗＳ、ＰｅＳ３）・・・の各状態で、それぞれ
図４、図５で説明したようなレーザドライブパルスが生
成され、試し書きが行われることになる。

【０１７６】そしてその試し書きが完了したら、ステッ
プＦ８１７で、その試し書き部分の再生を指示するとと
もに、その再生時に検出部２３からのアシンメトリの検
出値ＤＡＳを取り込んでいく。これによりステップＦ８
１６での試し書きにおいて変化させた各種の消去パワー
Ｐｅの中で、アシンメトリ値が最も適切となる消去パワ
ーＰｅ、つまり最適な消去パワーＰｅが判別できる。

【０１７７】この時点でジッターが最小かつアシンメト
リ値が最適な記録パワーＰｗと消去パワーＰｅが判別で
きたことになり、ステップＦ８１８で、その記録パワー
Ｐｗと消去パワーＰｅを、実際に記録動作に用いる記録
パワーＰｗ、消去パワーＰｅとしてオートパワーコント
ロール回路１９にセットする。これにより、ＯＰＣ動作
が完了される。

【０１７８】つまりこのＯＰＣ動作例（２）によれば、
記録パワーＰｗを固定して消去パワーＰｅを変化させな
がら試し書きを行って最適比を見つけ、その後、最適な
記録パワーを見つける。さらに最適な記録パワーと比か
ら消去パワーの好適範囲を算出して、その好適範囲内で
消去パワーを変化させながら試し書きを行って、最適な
消去パワーを見つけることで、最適な記録パワーＰｗと
消去パワーＰｅを判別し、設定することになる。このた
め、試し書きを行う記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの
組み合わせの数はさほど多数にはならず、従って短時間
でＯＰＣ動作が完了できるとともに、その最適パワーと
して非常に高精度に記録パワーＰｗと消去パワーＰｅを
設定できることになる。なお、最適比検出後に最適記録
パワーの検出のための試し書きと、最適消去パワーのた
めの試し書きを別々に行うため、試し書き回数が増える
ことが考えられるが、最適消去パワーのための試し書き
はレーザパワー可変範囲が好適範囲内に絞られるため、
さほど大幅に試し書き回数が増えるものではない。

【０１７９】［ＯＰＣ動作例（３）］図３１はＯＰＣ動
作例（３）としてのシステムコントローラ１０の処理を
示している。この場合、ＯＰＣ動作に際しては、システ
ムコントローラ１０はまずステップＦ８２１で、ＯＰＣ
使用エリアに対して、記録パワーＰｗを或る初期設定値
Ｐｗ１に固定したうえで、消去パワーＰｅを複数段階に
順次切り換えながら試し書きを実行させる。例えば記録
パワーと消去パワーの組み合わせとして、（Ｐｗ１、Ｐ
ｅ１）（Ｐｗ１、Ｐｅ２）（Ｐｗ１、Ｐｅ３）・・・の
各状態で、それぞれ試し書きが行われる。

【０１８０】そしてステップＦ８２２で、その試し書き
部分の再生を指示し、その再生時に検出部２３からのジ
ッターの検出値ＤＪを取り込んでいく。これにより、消
去パワーを変化させた各種の記録パワーＰｗと消去パワ
ーＰｅの組み合わせにおいて、ジッターが最小となる組
み合わせが判別できる。ジッターが最小となった時の消
去パワーＰｅ＝ＰｅＳ１とすると、（Ｐｗ１、ＰｅＳ
１）という組み合わせを検出することになる。

【０１８１】次にステップＦ８２３で、今度は記録パワ
ーＰｗを異なる或る設定値Ｐｗ２に固定したうえで、消
去パワーＰｅを複数段階に順次切り換えながら試し書き
を実行させる。例えば記録パワーと消去パワーの組み合
わせとして、（Ｐｗ２、Ｐｅ１）（Ｐｗ２、Ｐｅ２）
（Ｐｗ２、Ｐｅ３）・・・の各状態で、それぞれ試し書
きが行われる。

【０１８２】そしてステップＦ８２４で、その試し書き
部分の再生を指示し、その再生時に検出部２３からのジ
ッターの検出値ＤＪを取り込んでいく。これにより、消
去パワーを変化させた各種の記録パワーＰｗと消去パワ
ーＰｅの組み合わせにおいて、ジッターが最小となる組
み合わせが判別できる。ジッターが最小となった時の消
去パワーＰｅ＝ＰｅＳ２とすると、（Ｐｗ２、ＰｅＳ
２）という組み合わせを検出することになる。

【０１８３】以上の処理で、ジッター最小となる２組の
レーザパワー（Ｐｗ１、ＰｅＳ１）（Ｐｗ２、ＰｅＳ
２）が見つけられたことになるが、ステップＦ８２５で
は、この２組の値からジッター最小となる組み合わせの
近似式Ｐｗ＝ａ・Ｐｅ＋ｂを算出する。つまり、（Ｐｗ
１）＝ａ（ＰｅＳ１）＋ｂ、及び（Ｐｗ２）＝ａ（Ｐｅ
Ｓ２）＋ｂの式から「ａ」「ｂ」の値を求め、近似式Ｐ
ｗ＝ａ・Ｐｅ＋ｂを得る。

【０１８４】この近似式は、記録パワーＰｗと消去パワ
ーＰｅの組み合わせとして、ジッターが最小となる各種
の組み合わせを示すものとなる。そこで次にステップＦ
８２６では、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合
わせとして、上記近似式が保たれる組み合わせを数種類
設定し、ＯＰＣ使用エリアに対して各組み合わせのレー
ザパワーでの試し書きを実行させる。そしてその試し書
きが完了したら、ステップＦ８２７で、その試し書き部
分の再生を指示するとともに、その再生時に検出部２３
からのアシンメトリの検出値ＤＡＳを取り込んでいく。
これによりステップＦ８２６で試し書きを行った各種の
記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせにおい
て、アシンメトリ値が最も適切となる組み合わせが判別
できる。

【０１８５】この時点でアシンメトリ値が最も適切とな
る組み合わせが判別できたら、その組み合わせはジッタ
ーが最小かつアシンメトリ値が最適な記録パワーＰｗと
消去パワーＰｅとして判別できたことになる。これによ
りステップＦ８２８で、その組み合わせにおける記録パ
ワーＰｗと消去パワーＰｅを、実際に記録動作に用いる
記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅとしてオートパワーコ
ントロール回路１９にセットする。これにより、ＯＰＣ
動作が完了される。

【０１８６】このＯＰＣ動作例（３）によれば、記録パ
ワーＰｗを固定して消去パワーＰｅを変化させながら試
し書きを行なう動作を複数回行うことで、最適組み合わ
せの近似式を求め、その後、近似式に基づいて記録パワ
ーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わせを数種類設定して
試し書きを行ってアシンメトリ値が最適となる組み合わ
せを見つけることで、最適な記録パワーＰｗと消去パワ
ーＰｅを判別し、設定することになる。このため、試し
書きを行う記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの組み合わ
せの数はさほど多数にはならず、従って短時間でＯＰＣ
動作が完了できるとともに、その最適パワーとして非常
に高精度に記録パワーＰｗと消去パワーＰｅを設定でき
ることになる。特に上述したＯＰＣ動作例（１）（２）
のように或る１つの記録パワーと消去パワーの最適比に
基づくものではなく、複数の記録パワーと消去パワーの
最適組み合わせから近似していくため、レーザパワー設
定精度はより向上されることになる。

【０１８７】なお、図３１の処理では、ステップＦ８２
１，Ｆ８２２、及びステップＦ８２３，Ｆ８２４とし
て、ジッター最適な２つの組み合わせを求め、そこから
近似式を求めるようにしたが、例えばジッター最適な３
つの組み合わせを求め、そこから近似式を求めるなど、
最適組み合わせの検出をより多数回実行するようにすれ
ば、それだけ精度の高い近似式が求められる。これによ
ってよりレーザーパワー設定精度を向上させることも可
能となる。

【０１８８】［ＯＰＣ動作例（４）］図３２によりＯＰ
Ｃ動作例（４）としてのシステムコントローラ１０の処
理を説明する。なお、このＯＰＣ動作例（４）における
ステップＦ８４１〜Ｆ８４５は、上記ＯＰＣ動作例
（３）のステップＦ８２１〜Ｆ８２５と同様であるため
説明を省略する。即ちこの場合も、まず記録パワーＰｗ
と消去パワーＰｅの最適な組み合わせを２回（もしくは
３回以上）求め、そこから最適組み合わせの近似式を求
めるものである。

【０１８９】この例の場合は、近似式が算出されたら、
次にステップＦ８４６として、消去パワーＰｅを或る値
に固定したうえで、記録パワーＰｗを変化させながら試
し書きを行う。例えば消去パワーＰｅ＝ＰｅＺと固定
し、記録パワーＰｗをＰｗ１，Ｐｗ２・・・と変更する
とすると、記録パワーと消去パワーの組み合わせとし
て、（Ｐｗ１、ＰｅＺ）（Ｐｗ２、ＰｅＺ）（Ｐｗ３、
ＰｅＺ）・・・の各状態で、それぞれ試し書きが行われ
ることになる。

【０１９０】そしてその試し書きが完了したら、ステッ
プＦ８４７で、その試し書き部分の再生を指示するとと
もに、その再生時に検出部２３からのアシンメトリの検
出値ＤＡＳを取り込んでいく。これによりステップＦ８
４６での試し書きにおいて変化させた各種の記録パワー
Ｐｗの中で、アシンメトリ値が最も適切となる記録パワ
ーＰｗ、つまり最適な記録パワーＰｗが判別できる。

【０１９１】次にステップＦ８４８で、最適な記録パワ
ーＰｗに対して、上記ステップＦ８４５で算出した近似
式から、最適な消去パワーＰｅの候補となる範囲（好適
範囲）を算出する。つまり、検出された最適な記録パワ
ーＰｗの値を近似式Ｐｗ＝ａ・Ｐｅ＋ｂに代入すること
で、或る消去パワーＰｅが求められるが、例えばこの算
出された消去パワーを中心として或る程度狭いパワー可
変範囲を、消去パワーＰｅの好適範囲とする。

【０１９２】そしてステップＦ８４９で、記録パワーＰ
ｗを最適値（ＰｗＳとする）に固定したうえで、消去パ
ワーＰｅを好適範囲内で変化させながら試し書きを行
う。例えば好適範囲内の消去パワーＰｅをＰｅＳ１，Ｐ
ｅＳ２・・・とすると、記録パワーと消去パワーの組み
合わせとして、（ＰｗＳ、ＰｅＳ１）（ＰｗＳ、ＰｅＳ
２）（ＰｗＳ、ＰｅＳ３）・・・の各状態で、それぞれ
試し書きが行われる。

【０１９３】そしてその試し書きが完了したら、ステッ
プＦ８５０で、その試し書き部分の再生を指示するとと
もに、その再生時に検出部２３からのアシンメトリの検
出値ＤＡＳを取り込んでいく。これによりステップＦ８
４９での試し書きにおいて変化させた各種の消去パワー
Ｐｅの中で、アシンメトリ値が最も適切となる消去パワ
ーＰｅ、つまり最適な消去パワーＰｅが判別できる。

【０１９４】この時点でジッターが最小かつアシンメト
リ値が最適な記録パワーＰｗと消去パワーＰｅが判別で
きたことになり、ステップＦ８５１で、その記録パワー
Ｐｗと消去パワーＰｅを、実際に記録動作に用いる記録
パワーＰｗ、消去パワーＰｅとしてオートパワーコント
ロール回路１９にセットする。これにより、ＯＰＣ動作
が完了される。

【０１９５】つまりこのＯＰＣ動作例（４）によれば、
記録パワーＰｗを固定して消去パワーＰｅを変化させな
がら試し書きを行なう動作を複数回行うことで、最適組
み合わせの近似式を求める。その後最適な記録パワーを
見つけ、さらに最適な記録パワーと近似式から消去パワ
ーの好適範囲を算出して、その好適範囲内で消去パワー
を変化させながら試し書きを行って、最適な消去パワー
を見つけることで、最適な記録パワーＰｗと消去パワー
Ｐｅを判別し、設定することになる。このため、この動
作例の場合も、試し書きを行う記録パワーＰｗと消去パ
ワーＰｅの組み合わせの数はさほど多数にはならず、従
って短時間でＯＰＣ動作が完了できるとともに、その最
適パワーとして非常に高精度に記録パワーＰｗと消去パ
ワーＰｅを設定できることになる。また上述したＯＰＣ
動作例（１）（２）のように或る１つの記録パワーと消
去パワーの最適比に基づくものではなく、複数の記録パ
ワーと消去パワーの最適組み合わせから近似していくた
め、レーザパワー設定精度はより向上されることにな
る。なお、近似式算出後に最適記録パワーの検出のため
の試し書きと、最適消去パワーのための試し書きを別々
に行うため、試し書き回数が増えることが考えられる
が、最適消去パワーのための試し書きはレーザパワー可
変範囲が好適範囲内に絞られるため、さほど大幅に試し
書き回数が増えるものではない。

【０１９６】ところで以上の各例のようなＯＰＣ動作
は、例えばインナードライブテストゾーンを用いてディ
スク内周側で行うことが考えられるが、アウタードライ
ブテストゾーンを用いてディスク外周側で行うようにし
てもよい。またその両方で実行することも考えられる。
特にインナー及びアウターのドライブテストゾーンの両
方で実行すれば、ディスク内外周でのレーザパワーの補
正も可能となり、レーザパワーをより高精度に設定でき
る。

【０１９７】４−７ ＯＰＣ動作時の記録パターン 以上ＯＰＣ動作の具体的な手順を説明してきたが、これ
らのＯＰＣ動作において実行される試し書きの際の記録
パターンについて説明していく。なお本例として適切な
記録パターンの例は非常に多様に考えられるが、ここで
は上記各ＯＰＣ動作例（１）〜（４）に沿って、それぞ
れ好適とされる記録パターン例を述べていくこととす
る。

【０１９８】また本例では、記録パターンとして、ジッ
ター（又はエラーレート）の測定を目的とする試し書き
は、ＥＦＭランダムデータを用い、一方、アシンメトリ
の測定を目的とする試し書きは、単一データパターンを
用いることとする。この単一データパターンは、最短マ
ーク長（最短スペース長）である３Ｔパターンと、最長
マーク長（最長スペース長）である１４Ｔパターンとす
る。

【０１９９】［ＯＰＣ動作例（１）における記録パター
ン］上記図２９のＯＰＣ動作例（１）では、まずステッ
プＦ８０１で試し書きが行われることになる。この場合
の記録パターンを図３３に示す。

【０２００】ステップＦ８０１では、記録パワーＰｗが
Ｐｗ１に固定され、消去パワーＰｅが変化されることに
なる。上述したようにこの試し書きは、最適比を求める
ためであり、最適比の精度をあげるためには消去パワー
Ｐｅの変化ステップ数は多いほど良い。但し多ければ時
間がかかる。これらを勘案して、例えば消去パワーＰｅ
はＰｅ１〜Ｐｅ８まで８段階に切り換えるようにする。
又、最適比は、記録再生装置個体毎やディスク別、動作
時の温度、経時変化などにより変動するものの、最適比
を含む大まかな範囲としては予めわかる。例えば実験に
よれば、比（Ｐｅ／Ｐｗ）が、０．２５〜０．４５の範
囲内に、ジッター最小となる比の値が存在することがわ
かっている。そこで、例えば８段階の消去パワーＰｅ１
〜Ｐｅ８は、それぞれ記録パワーＰｗ１に対して、比
（Ｐｅ／Ｐｗ）が０．２５〜０．４５となる値であっ
て、かつマーク形成パワーよりも小さい値に絞るものと
する。８段階の消去パワーＰｅ１〜Ｐｅ８の値をこのよ
うな範囲内に制限することで、８段階（もしくはより少
ない段階数）の消去パワーを試すのみで、比較的精度良
く最適比を求めることができる。

【０２０１】そして実際の試し書きは、記録パワーと消
去パワーの１つの組み合わせにつき３トラック（もしく
はそれ以上）実行する。記録データはランダムデータと
する。これにより、記録パターンは図３３のようにな
る。図では、各トラックＴＫに対して実線で示すように
ランダムデータが記録されていることが示されている。
そしてまずレーザパワー（Ｐｗ１、Ｐｅ１）の状態で３
トラック、次にレーザパワー（Ｐｗ１、Ｐｅ２）の状態
で３トラック、さらにレーザパワー（Ｐｗ１、Ｐｅ３）
の状態で３トラック・・・・・レーザパワー（Ｐｗ１、
Ｐｅ８）の状態で３トラック、というように記録が行わ
れる。

【０２０２】図２９のステップＦ８０２では、このよう
に試し書きを行ったエリアに対して再生を行い、各レー
ザパワーの組み合わせでのジッター又はエラーレートを
検出するわけであるが、その再生動作は、図３３にＴＫ
ｐとして示したトラックに対して行う。つまり、１つの
レーザパワーの組み合わせで実行した３トラックのうち
の中央のトラック（少なくとも両隣のトラックが同条件
となっているトラック）とする。なお従って、もし１つ
のレーザパワーの組み合わせで４トラック以上の記録を
実行する場合は、両隅のトラックを除いた中央の複数の
トラックの全部又は一部が再生されるトラックＴＫｐと
なる。

【０２０３】そして検出部２３では、レーザパワー（Ｐ
ｗ１、Ｐｅ１）の３トラックのうちの中央のトラックの
再生時に、できるだけジッター測定ポイントを多くとっ
て実体測定を行い、それを平均化し、それをジッターの
検出値ＤＪとする。この動作が、８段階の各組み合わせ
において行われる。

【０２０４】図２９のＯＰＣ動作例（１）では、この
後、ステップＦ８０３で、比（Ｐｅ／Ｐｗ）を保った組
み合わせでレーザパワーを変化させながら、アシンメト
リ検出のための試し書きを行うことになる。このとき
は、図３４に示すような記録を行う。まず、記録パワー
Ｐｗを、Ｐｗ１、Ｐｗ２、Ｐｗ３・・・と変化させると
すると、各記録パワー（Ｐｗ１、Ｐｗ２、Ｐｗ３・・
・）に対して、求められた最適比で算出される消去パワ
ーＰｅを組み合わせる。例えば記録パワーＰｗ１に対し
て算出された消去パワーをＰｅ１１、記録パワーＰｗ２
に対して算出された消去パワーをＰｅ１２・・・とす
る。

【０２０５】すると、まずレーザパワー（Ｐｗ１、Ｐｅ
１１）の組み合わせで、図示するように４トラックの記
録が行われる。即ち一点鎖線で示す１４Ｔパターンのト
ラックと、破線で示す３Ｔパターンのトラックが、点線
で示す無データパターンのトラックを挟んで記録される
ようにする。無データパターンのトラックとは、記録デ
ータがオールゼロデータとされて記録が行われること
で、そのトラック全部がスペースとされた（つまりマー
クが記録されない）トラックである。

【０２０６】この、無記録トラック、１４Ｔ記録トラッ
ク、無記録トラック、３Ｔ記録トラックという４トラッ
クが、最適比を保った各種レーザパワーの組み合わせに
おいて、図３４に示すように行われていく。なお、１つ
の組み合わせにおける４トラックの種別の順序（無記録
トラック→１４Ｔ記録トラック→無記録トラック→３Ｔ
記録トラック）は、これに限定されるものではなく、あ
くまで試し書きをする領域において、１４Ｔ記録トラッ
クと３Ｔ記録トラックが、それぞれの両隣のトラックが
無記録トラックとされる順序であればよい。従って４ト
ラックの種別の順序は、（無記録トラック→３Ｔ記録ト
ラック→無記録トラック→１４Ｔ記録トラック）とされ
ても良いし、（３Ｔ記記録トラック→無記録トラック→
１４Ｔ記録トラック→無記録トラック）とされても良
い。さらに（１４Ｔ記記録トラック→無記録トラック→
３Ｔ記録トラック→無記録トラック）とされてもよい。

【０２０７】この図３４のようなパターンで試し書きが
行われたら、図２９のステップＦ８０４で、試し書きを
行ったエリアに対して再生を行い、各レーザパワーの組
み合わせでのアシンメトリ値を検出するわけであるが、
その再生動作は３Ｔ記録トラック及び１４Ｔ記録トラッ
クに対して行う。そして検出部２３では、各レーザパワ
ーの組み合わせについて、１４ＴトラックのＲＦ信号振
幅と、３ＴトラックのＲＦ信号振幅とからアシンメトリ
値を算出し、それらを各組み合わせについてのアシンメ
トリの検出値ＤＡＳとする。なお、このようなアシンメ
トリ検出のための試し書きを行うレーザパワーの組み合
わせは、例えば多くても１０通り程度で十分である。
又、或る程度最適記録パワーの範囲を予め絞ることがで
きるため、それによって組み合わせ数を少なくし、試し
書き時間及び再生時間を短縮することも可能である。

【０２０８】［ＯＰＣ動作例（２）における記録パター
ン］次に上記図３０のＯＰＣ動作例（２）における試し
書き記録パターンを説明する。図３０の場合、まずステ
ップＦ８１１で試し書きが行われるが、これは図２９の
ステップＦ８０１と同様の動作であるため、記録パター
ンは上記図３３で説明した通りとなる。

【０２０９】図３０の場合では、次にステップＦ８１３
で、消去パワーを固定したうえで、記録パワーを変化さ
せる試し書きが行われる。このときの記録パターンは図
３５（ａ）のようになる。この場合はアシンメトリ計測
が目的であるため、上記図３４で説明したように、１つ
の組み合わせにつき４トラック（例えば、無記録トラッ
ク→１４Ｔ記録トラック→無記録トラック→３Ｔ記録ト
ラック）が記録される。

【０２１０】また実際の組み合わせとしては、消去パワ
ーＰｅが或る設定値ＰｅＺに固定され、記録パワーＰｗ
を、Ｐｗ１、Ｐｗ２、Ｐｗ３・・・と変化させるとする
と、図示するように、（Ｐｗ１、ＰｅＺ）（Ｐｗ２、Ｐ
ｅＺ）（Ｐｗ３、ＰｅＺ）・・・・という組み合わせ
で、それぞれ４トラックづつの記録が行われることにな
る。

【０２１１】この図３５（ａ）のようなパターンで試し
書きが行われたら、図３０のステップＦ８１４で、試し
書きを行ったエリアに対して再生を行い、各レーザパワ
ーの組み合わせでのアシンメトリ値を検出する。その再
生動作は３Ｔ記録トラック及び１４Ｔ記録トラックに対
して行う。そして検出部２３では、各レーザパワーの組
み合わせについて、１４ＴトラックのＲＦ信号振幅と、
３ＴトラックのＲＦ信号振幅とからアシンメトリ値を算
出し、それらを各組み合わせについてのアシンメトリの
検出値ＤＡＳとする。この場合、各組み合わせのアシン
メトリの検出値ＤＡＳから最適な記録パワー（ＰｗＳ）
が判別される。

【０２１２】次にステップＦ８１６では、記録パワーを
最適記録パワーＰｗＳに固定したうえで、消去パワーを
変化させる試し書きが行われる。このときの記録パター
ンは図３５（ｂ）のようになる。この場合もアシンメト
リ計測が目的であるため、上記図３５（ａ）と同様に、
１つの組み合わせにつき４トラック（例えば、無記録ト
ラック→１４Ｔ記録トラック→無記録トラック→３Ｔ記
録トラック）が記録される。

【０２１３】また実際の組み合わせとしては、上述した
ように消去パワーＰｅが好適範囲内の値としてＰｅＳ
１、ＰｅＳ２・・・と切換えられるため、図示するよう
に、（ＰｗＳ、ＰｅＳ１）（ＰｗＳ、ＰｅＳ２）（Ｐｗ
Ｓ、ＰｅＳ３）・・・・という組み合わせで、それぞれ
４トラックづつの記録が行われることになる。この図３
５（ｂ）のようなパターンで試し書きが行われたら、図
３０のステップＦ８１７で、試し書きを行ったエリアに
対して再生を行い、各レーザパワーの組み合わせでのア
シンメトリ値を検出する。その再生動作は３Ｔ記録トラ
ック及び１４Ｔ記録トラックに対して行う。そして検出
部２３では、各レーザパワーの組み合わせについて、１
４ＴトラックのＲＦ信号振幅と、３ＴトラックのＲＦ信
号振幅とからアシンメトリ値を算出し、それらを各組み
合わせについてのアシンメトリの検出値ＤＡＳとする。
この場合、各組み合わせのアシンメトリの検出値ＤＡＳ
から最適な消去パワーが判別されることになる。

【０２１４】［ＯＰＣ動作例（３）における記録パター
ン］上記図３１のＯＰＣ動作例（３）では、近似式を求
めるためにステップＦ８２１、Ｆ８２３で、それぞれ記
録パワーＰｗを固定し、消去パワーＰｅを変化させる試
し書きが行われることになる。従って基本的には、ステ
ップＦ８２１、Ｆ８２３のそれぞれで上記図３３に示し
た記録パターンで記録が行われればよい。

【０２１５】また、ステップＦ８２５では、近似式から
求められる各種組み合わせにおいて、アシンメトリ計測
を目的とする試し書きが行われる。この場合の記録パタ
ーンを図３６に示すが、この場合も、上記図３４、図３
５（ａ）（ｂ）と同様に、１つの組み合わせにつき４ト
ラック（例えば、無記録トラック→１４Ｔ記録トラック
→無記録トラック→３Ｔ記録トラック）が記録されれば
よい。

【０２１６】ただし実際の組み合わせとしては、上述し
たように近似式から求められる組み合わせが設定される
ため、例えば記録パワーＰｗがＰｗＡ、ＰｗＢ・・・と
切換えられていくとすると、消去パワーはそれぞれの記
録パワーについて近似式から求められる値であるＰｅ
Ａ、ＰｅＢ・・・とされる。従って図３６に示すように
（ＰｗＡ、ＰｅＡ）（ＰｗＢ、ＰｅＢ）（ＰｗＣ、Ｐｅ
Ｃ）・・・・という組み合わせで、それぞれ４トラック
づつの記録が行われることになる。その後、この図３６
の記録部分についての再生が行われて、各組み合わせの
アシンメトリの検出値ＤＡＳから最適な組み合わせ（記
録パワー及び消去パワー）が判別されることになる。

【０２１７】ところで、このＯＰＣ動作例（３）の場合
は、近似式を求めるため、ステップＦ８２１、Ｆ８２３
での２回の試し書き（もしくは３回以上の場合も考えら
れる）が行われるが、例えば図３７のような記録パター
ンとすることで、ステップＦ８２１〜Ｆ８２４の処理を
効率化できる。つまり、例えばそれぞれ或る記録パワー
につき消去パワーを８段階に変化させるとし、かつ１つ
の組合わせに３トラック用いるとすると、最初の２４ト
ラックは（Ｐｗ１、Ｐｅ１）（Ｐｗ１、Ｐｅ２）・・・
（Ｐｗ１、Ｐｅ８）として３トラックずつ試し書きを行
う。そしてさらに続けて、２４トラックに（Ｐｗ２、Ｐ
ｅ１）（Ｐｗ２、Ｐｅ２）・・・（Ｐｗ２、Ｐｅ８）と
して３トラックずつ試し書きを行う。

【０２１８】つまりこの４８トラックの試し書きで、ス
テップＦ８２１及びＦ８２３で必要な試し書きを一度に
実行するものである。その後、この４８トラック（１６
個の組み合わせ）につき、各組み合わせでの中央トラッ
クのみを再生していくことで、ステップＦ８２２、Ｆ８
２４の検出を一度に行うことができる。従って、試し書
き記録及び試し書き部分の再生動作が非常に効率化さ
れ、ＯＰＣ処理時間の短縮に大きく寄与できることにな
る。

【０２１９】さらには、例えば近似式を求めるための試
し書き及び再生を３回実行するようにした場合は、図３
８に示すように、最初の２４トラックは（Ｐｗ１、Ｐｅ
１）（Ｐｗ１、Ｐｅ２）・・・（Ｐｗ１、Ｐｅ８）とし
て３トラックずつ試し書きを行ない、続けて２４トラッ
クに（Ｐｗ２、Ｐｅ１）（Ｐｗ２、Ｐｅ２）・・・（Ｐ
ｗ２、Ｐｅ８）として３トラックずつ試し書きを行な
い、さらに続けて２４トラックに（Ｐｗ３、Ｐｅ１）
（Ｐｗ３、Ｐｅ２）・・・（Ｐｗ３、Ｐｅ８）として３
トラックずつ試し書きを行なうことで、同様に近似式算
出のための処理を効率化できる。特に、最適組み合わせ
を数多く見つけることで、近似式はより正確なものとす
ることができるが、このように試し書きを行うことで、
近似式をより正確なものとする一方、処理時間はさほど
長くならないようにすることができるものとなる。

【０２２０】［ＯＰＣ動作例（４）における記録パター
ン］上記図３２のＯＰＣ動作例（４）では、ＯＰＣ動作
例（３）と同様に近似式を求めるための試し書きが行わ
れる。従ってこのときの記録パターンとしては、上記図
３３に示した記録パターンでの試し書きが複数回実行さ
れるようにするか、もしくは上記図３７、図３８で説明
したような記録が行われればよい。

【０２２１】また図３２の場合、ステップＦ８４６で、
消去パワーを固定したうえで、記録パワーを変化させる
試し書きが行われる。このときの記録パターンは上記図
３５（ａ）のようにすればよい。さらにステップＦ８４
９では、記録パワーを最適記録パワーＰｗＳに固定した
うえで、消去パワーを変化させる試し書きが行われる。
このときの記録パターンは上記図３５（ｂ）のようにす
ればよい。

【０２２２】ところで、このＯＰＣ動作例（４）におけ
る記録パターンとしては、図３９に示すような記録パタ
ーンにより、図３２のステップＦ８４１〜Ｆ８４７まで
の処理が非常に効率化できる。

【０２２３】この図３２の例では、まず或る固定の記録
パワーＰｗ（Ｐｗ１、Ｐｗ２・・・）に対してたとえば
それぞれ６段階の消去パワーＰｅ（Ｐｅ１、Ｐｅ２・・
・Ｐｅ６）を切り換えて試し書きを行うとする。例えば
図示するＰ１部分は、記録パワーＰｗ１に対して消去パ
ワーＰｅをＰｅ１〜Ｐｅ６まで切り換えた各組み合わせ
の部分である。同様にＰ２部分は、記録パワーＰｗ２に
対して消去パワーＰｅをＰｅ１〜Ｐｅ６まで切り換えた
各組み合わせの部分である。

【０２２４】そして例えばＰ１部分では、最初の組み合
わせ（Ｐｗ１、Ｐｅ１）については９トラックを用い
て、最初の３トラックを、それぞれ無記録トラック、３
Ｔトラック、無記録トラックとし、中間の３トラックを
それぞれランダムデータトラックとし、最後の３トラッ
クを、それぞれ無記録トラック、１４Ｔトラック、無記
録トラックとしている。一方、２番目〜６番目までの組
み合わせ（Ｐｗ１、Ｐｅ２）〜（Ｐｗ１、Ｐｅ６）につ
いては、それぞれ３トラックを用いてランダムデータト
ラックとしている。Ｐ２部分、Ｐ３部分、及び図示して
いないＰ４部分以降も同様である。

【０２２５】このように試し書きを行ない、またその再
生を行うことで、図３２のステップＦ８４１〜Ｆ８４７
までの処理が実行できる。即ち、まず近似式を求めるた
めに、或る記録パワーとそれに対する最適な消去パワー
の組み合わせ（ジッター最良の組み合わせ）を、複数組
求める必要があるが、Ｐ１部分、Ｐ２部分・・・のそれ
ぞれにおいて、１つの記録パワーに対するジッターが最
適な消去パワーを検出することができ、従って少なくと
もＰ１部分とＰ２部分のみの再生情報から（もちろんＰ
３部分以降も用いても良い）、近似式を求めることがで
きる。

【０２２６】さらに近似式を求めた後は、消去パワーを
固定して記録パワーを変化させていくことで、アシンメ
トリが最適値となる記録パワーを求めることになるが、
例えば消去パワーＰｅ１を固定値とすれば、Ｐ１部分に
おける（Ｐｗ１、Ｐｅ１）、Ｐ２部分における（Ｐｗ
２、Ｐｅ１）、Ｐ３部分における（Ｐｗ３、Ｐｅ１）・
・・のそれぞれは、消去パワーを固定して記録パワーを
変化させた各組み合わせに相当する。そしてこれらの各
組み合わせについては３Ｔパターンと８Ｔパターンが記
録されているため、これらの再生情報から、最適な記録
パワーを検出することができる。以上のことから、この
図３９に示す記録パターンにより、図３２のステップＦ
８４１〜Ｆ８４７までの処理が非常に効率的に実行でき
ることが理解される。

【０２２７】なお、このような効率的な試し書きは、こ
の図３９のままで、もしくは図３９を多少変形したパタ
ーンとして例えばＯＰＣ動作例（２）にも適用可能であ
る。変形する場合とは、Ｐ１部分は図３９のままとする
が、Ｐ２部分以降は、それぞれ最初の組み合わせのみと
する。つまりＰ２部分は組み合わせ（Ｐｗ２、Ｐｅ１）
による９トラックのみとし、Ｐ３部分は組み合わせ（Ｐ
ｗ３、Ｐｅ１）による９トラックのみとする。即ち、Ｐ
１部分からは記録パワーと消去パワーのジッター最適な
組み合わせを見つけることができるため、最適比が算出
できる。そして最適比を求めた後は、消去パワーを固定
して記録パワーを変化させていくことで、アシンメトリ
が最適値となる記録パワーを求めることになるが、これ
は上記同様に、Ｐ１部分における（Ｐｗ１、Ｐｅ１）、
Ｐ２部分における（Ｐｗ２、Ｐｅ１）、Ｐ３部分におけ
る（Ｐｗ３、Ｐｅ１）・・・のそれぞれから検出するこ
とができる。

【０２２８】以上のことから、この図３９に示す記録パ
ターン、もしくは図３９のＰ２部分以降を、それぞれ最
初の組み合わせのみとするパターンにより、図３０のス
テップＦ８１１〜Ｆ８１４の処理が効率化できる。

【０２２９】以上、ＯＰＣ動作例（１）〜（４）のそれ
ぞれに合わせて記録パターンの各種の例を説明してきた
が、各処理ステップで採用できる記録パターンや、処理
ステップを効率化できる記録パターンは、他にも多様に
考えられる。そして、以上の例のような各記録パターン
によれば、次のような効果を得ることができる。

【０２３０】まずジッター又はアシンメトリ検出のため
に、記録パターンとして記録媒体上の１トラック期間単
位で、単一データパターン、ランダムデータパターン、
無データパターンのうちで必要なパターンを選択的に発
生させ、記録させるようにしている。このように試し書
き記録の際の記録データとしては、単一データパター
ン、ランダムデータパターンを発生可能とすることで、
これを監視する目的（ジッタやアシンメトリなど）によ
って記録データを使い分けることができる。これにより
状況に応じて最適な記録データを用い、もって最適レー
ザパワーの判別精度を向上させることができる。また無
データパターンを利用してデータ記録が行われないトラ
ックを形成することで、クロストークの影響などを排除
できる。特に上記のように、３Ｔトラック、１４Ｔトラ
ックの両側が無記録トラックとすることで、クロストー
クの影響がでやすい単一パターンのトラックについて、
クロストークを排除し、アシンメトリ計測を良好に実現
できる。

【０２３１】また、上記例においては単一データパター
ンを記録したトラックの再生情報から、アシンメトリ値
が最適となる記録パワー及び／又は消去パワーを検出し
ていることで、アシンメトリ値の検出精度を向上させ、
これによって最適レーザパワーの判別を高精度とするこ
とができる。特にアシンメトリ値は図６で説明したよう
に算出されるものであるため、単一パターンによりＲＦ
信号の最小振幅と最大振幅が常に得られるようにするこ
とが、アシンメトリ値算出精度を向上させるものであ
る。

【０２３２】なお、上記例は３Ｔパターンと１４Ｔパタ
ーンとしたが、１４Ｔパターンに換えて８Ｔパターンや
６Ｔパターンなどを用いるようにしても良い。即ち、少
なくとも最大振幅がわかる単一パターン長であれば、ア
シンメトリ計測に好適となる。また、８Ｔパターンや６
Ｔパターンなどを用いることは、１４Ｔパターンに比べ
て高いレーザパワーである記録パワーＰｗが長時間継続
することを避けることができる。このため、ディスクの
劣化への影響を考えれば１４Ｔパターンより８Ｔパター
ンや６Ｔパターンを用いる方が好適である。なお、アシ
ンメトリ計測をランダムデータの再生情報から実行する
ことも可能であり、そのような試し書きパターンも考え
られる。

【０２３３】また上記例においては、ランダムデータパ
ターンを記録したトラックの再生情報から、ジッター又
はエラーレートが最適となる記録パワー及び／又は消去
パワーが検出している。ランダムデータは実際の記録動
作に即したデータパターンとなるため、これは、ジッタ
ー又はエラーレートを実際の記録動作に即して検出でき
ることになり、これによって最適レーザパワーの判別を
高精度とすることができる。

【０２３４】なお、ジッター又はエラーレート計測を単
一パターンデータの再生情報から実行することも可能で
あり、そのような試し書きパターンも考えられる。例え
ば３Ｔパターン（最短データパターン）は、熱伝導性の
影響が最もジッターとしてあらわれるパターンであり、
この点ではジッター検出に適しているといえる。但し、
再生クロックを生成するＰＬＬはランダムデータの方が
ロックしやすいため、その点ではランダムパターンが適
しているともいえる。

【０２３５】また上記例のように、ランダムデータパタ
ーンを３トラック以上連続して記録させ、その中央のト
ラックの再生情報から、ジッター又はエラーレートが最
適となる記録パワー及び／又は消去パワーを検出するこ
とで、これも実際の記録再生動作状況と同一の記録状態
（つまり隣接トラックの影響が存在する状態）を作り出
してジッター又はエラーレートを検出することができ
る。従ってこれによっても実際の使用状況に即した最適
レーザパワーを高精度に判別できることになる。

【０２３６】また、上記図３９で説明したように、１つ
のレーザパワー設定状態（組み合わせ）において、記録
データの単一データパターン（３Ｔパターン及び１４Ｔ
パターン）と、ランダムデータパターンと、無データパ
ターンとをトラック毎に所定順序で選択して記録動作を
実行させ、当該記録動作にかかる領域からの再生情報に
より、そのレーザパワー状態におけるジッター又はエラ
ーレート、及びアシンメトリ値を検出することで、或る
レーザパワーの組み合わせ状態において１回の試し書き
記録と再生により、ジッター又はエラーレート、及びア
シンメトリ値を検出できる。これによってＯＰＣ動作効
率を向上させることができる。

【０２３７】ところで、試し書きを行った各トラックに
対して、試し書き直後に再生を行っていくという手法も
考えられる。例えばジッター測定のためにランダムデー
タを３トラック記録した直後に中央トラックの再生を行
い、これを繰り返していくような手順である。この場合
は、図３３〜図３９で説明しきた各試し書き記録を、そ
れぞれ完了する前に、目的の値（最適値）を検出できる
場合がある。このようなときは、各試し書きパターンを
完了する前に、次のステップに進むことも可能となり、
処理時間の短縮化を促進できる。

【０２３８】また、試し書き時に記録パワーＰｗ、消去
パワーＰｅを各種の値にする場合に、ドライブパルス電
圧としての或る上限値、下限値を設定できるようにして
おくと、レーザダイオードの劣化やディスクの劣化の防
止に役立つ。通常レーザパワーはオートパワーコントロ
ール回路１９によりドライブ電流がモニターされ、設定
値に保たれるわけであるが、もしこのモニタ系に異常が
あると、記録パワーが高すぎたり低すぎたり変動して、
ディスク寿命やレーザの劣化を進めることがあり得る。
ここで、上限／下限を設定するようにすることで、レー
ザパワー範囲が２重に保護される状態とすることができ
る。また上限／下限の設定は、試し書きを行う組み合わ
せ数の制限にもなり、ＯＰＣ動作の効率化も促すことが
できる。

【０２３９】以上、実施の形態としての各種構成、処理
例を説明してきたが、本発明は実施の形態として例示し
たものに限定されず、発明の要旨の範囲内で各種変形例
が考えられることはいうまでもない。

【０２４０】

【発明の効果】以上の説明からわかるように本発明によ
れば次のような効果を得ることができる。即ち、記録パ
ワーと消去パワーの最適な比又は最適な組み合わせの近
似式を求め、それを利用して記録パワーと消去パワーの
一方又は両方を変化させて試し書きを行うことで、ＯＰ
Ｃ動作が効率の良く短時間で実行できる。またもちろ
ん、記録パワーと消去パワーの両方の最適パワーが高精
度に求めることができる。さらにそれによって、記録動
作も安定かつ高精度なものとなる。なお、上記比又は近
似式を求めるためには、記録パワーを固定して消去パワ
ーを数ステップ変化させながら試し書きを行えばよいも
のであるため、時間的には短時間で済むことになり、Ｏ
ＰＣ動作の長時間化を発生させるものではない。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態で用いられるディスクのフ
ォーマットの説明図である。

【図２】実施の形態で用いられるディスクのエリア構造
の説明図である。

【図３】実施の形態の記録再生装置のブロック図であ
る。

【図４】実施の形態の記録再生装置のレーザドライブパ
ルスの説明図である。

【図５】実施の形態の記録再生装置のレーザドライブパ
ルスの説明図である。

【図６】実施の形態のアシンメトリ計測方式の説明図で
ある。

【図７】実施の形態の概略的な処理手順の説明図であ
る。

【図８】実施の形態で安定化させるジッターのＤＯＷ特
性の説明図である。

【図９】実施の形態で安定化させるアシンメトリのＤＯ
Ｗ特性の説明図である。

【図１０】実施の形態で調整するフォーカスバイアスの
説明図である。

【図１１】実施の形態のＤＯＷ特性安定化処理のフロー
チャートである。

【図１２】実施の形態のディスク装填時の処理例（Ａ）
のフローチャートである。

【図１３】実施の形態のディスク装填時の処理例（Ｂ）
のフローチャートである。

【図１４】実施の形態のディスク装填時の処理例（Ｃ）
のフローチャートである。

【図１５】実施の形態のＯＰＣ処理例（Ｉ）のフローチ
ャートである。

【図１６】実施の形態のＯＰＣ処理例（II）のフローチ
ャートである。

【図１７】実施の形態のＯＰＣ処理例（III）のフロー
チャートである。

【図１８】実施の形態のＯＰＣ使用エリア選択処理例
（イ）のフローチャートである。

【図１９】実施の形態のＯＰＣ使用エリア選択処理例
（イ）の説明図である。

【図２０】実施の形態のＯＰＣ使用エリア選択処理例
（ロ）のフローチャートである。

【図２１】実施の形態のＯＰＣ使用エリア選択処理例
（ハ）のフローチャートである。

【図２２】実施の形態で用いるディスクのディスクコン
トロールＥＣＣブロックの説明図である。

【図２３】実施の形態のＯＰＣ使用エリア選択処理例
（ロ）（ハ）で用いるテストゾーン管理テーブルの説明
図である。

【図２４】実施の形態のＲＦ信号のディフェクトの影響
の説明図である。

【図２５】実施の形態の検出部の構成例（α）のブロッ
ク図である。

【図２６】実施の形態の検出部の構成例（β）のブロッ
ク図である。

【図２７】実施の形態のデータ取込時の処理例（β−
１）のフローチャートである。

【図２８】実施の形態のデータ取込時の処理例（β−
２）のフローチャートである。

【図２９】実施の形態のＯＰＣ動作例（１）のフローチ
ャートである。

【図３０】実施の形態のＯＰＣ動作例（２）のフローチ
ャートである。

【図３１】実施の形態のＯＰＣ動作例（３）のフローチ
ャートである。

【図３２】実施の形態のＯＰＣ動作例（４）のフローチ
ャートである。

【図３３】実施の形態のＯＰＣ動作例（１）〜（４）で
採用できる試し書きパターンの説明図である。

【図３４】実施の形態のＯＰＣ動作例（１）（２）で採
用できる試し書きパターンの説明図である。

【図３５】実施の形態のＯＰＣ動作例（２）（４）で採
用できる試し書きパターンの説明図である。

【図３６】実施の形態のＯＰＣ動作例（３）（４）で採
用できる試し書きパターンの説明図である。

【図３７】実施の形態のＯＰＣ動作例（３）（４）で採
用できる試し書きパターンの説明図である。

【図３８】実施の形態のＯＰＣ動作例（３）（４）で採
用できる試し書きパターンの説明図である。

【図３９】実施の形態のＯＰＣ動作例（２）（４）で採
用できる試し書きパターンの説明図である。

【符号の説明】

１ ピックアップ、２ 対物レンズ、３ 二軸機構、４
レーザダイオード、５ フォトディテクタ、６ スピ
ンドルモータ、８ スレッド機構、９ ＲＦアンプ、１
０ システムコントローラ、１２ エンコーダ／デコー
ダ、１３ インターフェース部、１４ サーボプロセッ
サ、２０ キャッシュメモリ、２１ バッファマネージ
ャ、２３ 検出部、２４ 温度センサ、３１ ディフェ
クト検出回路、３２ スイッチ、３３ ジッタ検出回
路、３４ アシンメトリ検出回路、９０ ディスク、１
００ ホストコンピュータ

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 装填された記録媒体に対してレーザ光の
   照射を行なってデータの記録／再生を行うことのできる
   ヘッド手段と、 装填された記録媒体の試し書き領域に対して、レーザパ
   ワーを変化させながら前記記録ヘッド手段による記録動
   作及びその再生動作を実行させていくことで、ジッター
   又はエラーレートが最適となる記録パワーと消去パワー
   の比を求めるとともに、求められた比を利用してレーザ
   パワーを変化させながら前記記録ヘッド手段による記録
   動作及びその再生動作を実行させて、アシンメトリ値が
   最適となる記録パワーと消去パワーを求め、これを最適
   な記録パワーと消去パワーと判別するレーザパワー判別
   手段と、 前記レーザパワー判別手段で判別された最適なレーザパ
   ワーにより前記ヘッド手段のレーザパワーを設定し、記
   録媒体に対するデータ記録を実行させる記録制御手段
   と、 を備えたことを特徴とする記録装置。
2. 【請求項２】 装填された記録媒体に対してレーザ光の
   照射を行なってデータの記録／再生を行うことのできる
   ヘッド手段と、 装填された記録媒体の試し書き領域に対して、レーザパ
   ワーを変化させながら前記記録ヘッド手段による記録動
   作及びその再生動作を実行させていくことで、ジッター
   又はエラーレートが最適となる記録パワーと消去パワー
   の組み合わせの近似式を求めるとともに、求められた近
   似式を利用してレーザパワーを変化させながら前記記録
   ヘッド手段による記録動作及びその再生動作を実行させ
   て、アシンメトリ値が最適となる記録パワーと消去パワ
   ーを求め、これを最適な記録パワーと消去パワーと判別
   するレーザパワー判別手段と、 前記レーザパワー判別手段で判別された最適なレーザパ
   ワーにより前記ヘッド手段のレーザパワーを設定し、記
   録媒体に対するデータ記録を実行させる記録制御手段
   と、 を備えたことを特徴とする記録装置。
3. 【請求項３】 以下の（Ａ）〜（Ｃ）の手順が実行され
   ることで、記録媒体に対する最適な記録パワー及び消去
   パワーが設定されることを特徴とするレーザパワー設定
   方法。 （Ａ） 記録パワーを所定値に固定し、消去パワーを変
   化させながら記録を行った後に再生し、ジッター又はエ
   ラーレートが最適となる記録パワーと消去パワーの比を
   検出する手順。 （Ｂ） 前記手順（Ａ）で検出された比を維持したうえ
   で記録パワーと消去パワーを変化させながら記録を行っ
   た後に再生し、アシンメトリ値が最適となる記録パワー
   及び消去パワーを検出する手順。 （Ｃ） 前記手順（Ｂ）で検出された記録パワーと消去
   パワーの組み合わせを、記録動作に用いるレーザパワー
   として設定する手順。
4. 【請求項４】 以下の（Ａ）〜（Ｄ）の手順が実行され
   ることで、記録媒体に対する最適な記録パワー及び消去
   パワーが設定されることを特徴とするレーザパワー設定
   方法。 （Ａ） 記録パワーを所定値に固定し、消去パワーを変
   化させながら記録を行った後に再生し、ジッター又はエ
   ラーレートが最適となる記録パワーと消去パワーの比を
   検出する手順。 （Ｂ） 消去パワーを所定値に固定し、記録パワーを変
   化させながら記録を行った後に再生し、アシンメトリ値
   が最適となる記録パワーを検出する手順。 （Ｃ） 前記手順（Ｂ）で検出された記録パワーと前記
   手順（Ａ）で検出された比から消去パワーの好適範囲を
   判断し、前記手順（Ｂ）で検出された記録パワーを固定
   したうえで消去パワーを前記好適範囲内で変化させなが
   ら記録を行った後に再生し、アシンメトリ値が最適とな
   る消去パワーを検出する手順。 （Ｄ） 前記手順（Ｂ）で検出された記録パワーと前記
   手順（Ｃ）で検出された消去パワーを、記録動作に用い
   るレーザパワーとして設定する手順。
5. 【請求項５】 以下の（Ａ）〜（Ｄ）の手順が実行され
   ることで、記録媒体に対する最適な記録パワー及び消去
   パワーが設定されることを特徴とするレーザパワー設定
   方法。 （Ａ） 記録パワーを固定し、消去パワーを変化させな
   がら記録を行った後に再生し、ジッター又はエラーレー
   トが最適となる記録パワーと消去パワーの組み合わせを
   検出する動作を、前記記録パワーの固定値を変化させて
   複数回実行する手順。 （Ｂ） 前記手順（Ａ）で検出された複数個の記録パワ
   ーと消去パワーの組み合わせから、記録パワーと消去パ
   ワーの組み合わせの近似式を求める手順。 （Ｃ） 前記手順（Ｂ）で算出された近似式に基づく記
   録パワーと消去パワーの組み合わせを維持したうえで、
   記録パワーと消去パワーを変化させながら記録を行った
   後に再生し、アシンメトリ値が最適となる記録パワー、
   消去パワーの組み合わせを検出する手順。 （Ｄ） 前記手順（Ｃ）で検出された記録パワーと消去
   パワーの組み合わせを、記録動作に用いるレーザパワー
   として設定する手順。
6. 【請求項６】 以下の（Ａ）〜（Ｅ）の手順が実行され
   ることで、記録媒体に対する最適な記録パワー及び消去
   パワーが設定されることを特徴とするレーザパワー設定
   方法。 （Ａ） 記録パワーを固定し、消去パワーを変化させな
   がら記録を行った後に再生し、ジッター又はエラーレー
   トが最適となる記録パワーと消去パワーの組み合わせを
   検出する動作を、前記記録パワーの固定値を変化させて
   複数回実行する手順。 （Ｂ） 前記手順（Ａ）で検出された複数個の記録パワ
   ーと消去パワーの組み合わせから、記録パワーと消去パ
   ワーの組み合わせの近似式を求める手順。 （Ｃ） 消去パワーを所定値に固定し、記録パワーを変
   化させながら記録を行った後に再生し、アシンメトリ値
   が最適となる記録パワーを検出する手順。 （Ｄ） 前記手順（Ｃ）で検出された記録パワーと前記
   手順（Ｂ）で算出された近似式から消去パワーの好適範
   囲を判断し、前記手順（Ｃ）で検出された記録パワーを
   固定したうえで消去パワーを前記好適範囲内で変化させ
   ながら記録を行った後に再生し、アシンメトリ値が最適
   となる消去パワーを検出する手順。 （Ｅ） 前記手順（Ｃ）で検出された記録パワーと前記
   手順（Ｄ）で検出された消去パワーを、記録動作に用い
   るレーザパワーとして設定する手順。