CN1312673C - 光盘装置的记录功率确定方法以及记录功率控制方法 - Google Patents
光盘装置的记录功率确定方法以及记录功率控制方法 Download PDFInfo
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Abstract
本发明提供在光盘的高速转动中,可以确定光盘的最佳记录功率信息的光盘装置记录功率确定方法。其特征在于,记录之前,取得在光盘的半径方向的至少两处的测定位置上的推挽信号的振幅,根据得到的推挽信号振幅而求算相当于遍及盘整个记录区域的半径位置的最佳记录功率的线性近似计算,将所求的结果确定为对于盘半径位置的最佳记录功率信息。
Description
技术领域
本发明涉及在光盘装置上,在记录时设定记录功率的光盘装置的记录功率确定方法以及记录功率控制方法。
背景技术
在CD-R/RW驱动器和DVD-R/RW驱动器等可以记录的光盘装置中,提供用各种激光功率将试验数据在光盘的PCA区域试写、计算出使β值等播放质量达到目标值内的OPC(Optimum Power Control),和不会由于在光盘面内的记录膜的涂敷不均和光盘的倾斜,以将表示形成了记录字节后的返回光量的B值维持在一定值的方式进行激光功率反馈控制的ROPC(Running Optimum Power Control)来确保记录质量。
该ROPC为了对光盘的各种原因混杂的状态进行修正,所以未必能够实现记录质量的最佳化,而进行了各种的尝试。
为人所知的有,例如,对于光盘的倾斜,为了使β值为一定值,进行使ROPC的返回光量的变动部分和激光功率的变动部分之比(ΔB/ΔP)为一定的激光功率控制(例如,参照专利文献1),或者进行使Bm/Pn=一个定值(m<n)的激光功率控制(例如,参照专利文献2)等。
另外,在CD-RW等的相变化记录型的光盘中,在已经记录的区域上进行覆写的情况下,受先前记录状态的影响,难于以ROPC确保记录质量,所以将激光分割为0次回折光的主光束和+1次回折光以及-1次回折光的两个副光束,将主光束向光道凹槽(groove track)照射而进行记录,另一方面,分别将2个副光束向与前述光道凹槽的两侧相邻的光道凸区(land track)照射,使用没有记录影响的光道凸区的返回光而进行主光束的功率控制,排除覆写的影响的工作OPC的例子(例如,参照专利文献3)是为人所知的。
另外在光盘装置中,通常,使激光聚光向光盘的轨道上照射光点、并在光盘上记录信息的光拾取器上,设置在光点的光道的横断方向以及与光道横断方向相垂直的方向上配置的受光分配部分,通过来自该受光分配部分的检测信号得到聚光信息和光道信息。
然后,在该受光分配部分中,通过来自光点的光道横断方向的受光分配部分的检测信号的减法运算,得到推挽信号(PP信号),另外,通过来自该受光分配部分的检测信号的相位比较,得到微分相位识别信号(DPD信号),通过这两个信号检测光盘的倾斜角(例如,参照专利文献4)。
专利文献1:特开2003-16645号公报(权利要求1,0023)。
专利文献2:特开2003-248929号公报(权利要求1、权利要求3,0024、0026)。
专利文献3:特开2003-173533号公报(摘要、权利要求1、发明的内容、专利文献4)。
专利文献3:特开2001-307359号公报(权利要求1、权利要求2、0023-0028等)。
发明内容
对缩短记录时间的要求逐年提高,伴随着记录的高速化则要求光盘高速旋转,而得到为了确保记录质量而进行的ROPC的返回光量检测的精度则变得困难。
本发明的目的在于提供在光盘的高速转动中,可以确定光盘的最佳记录功率信息的光盘装置的记录功率决定方法。
本发明的其他目的在于,提供在记录时使用预先确定的光盘最佳功率信息,控制激光功率的光盘装置的记录功率的控制方法。
本发明另外的目的在于,提供在光盘的高速转动中,在记录之前确定光盘的最佳记录功率信息,使用该被确定的最佳记录功率信息,在记录时,进行激光功率控制的光盘装置的记录功率的控制方法。
本发明的第一方面的光盘装置的记录功率确定方法,其特征在于,包含以下的工序:记录之前,取得在光盘的半径方向的内周和外周测定位置上的推挽信号的振幅,根据所得到的该推挽信号振幅,计算并求出相对于遍及盘的整个记录区域的半径位置的最佳记录功率,将所求得的结果确定为相对于盘半径位置的最佳记录功率信息。
本发明的第二方面的光盘装置的记录功率控制方法,其特征在于,包含以下的工序:取得记录时光拾取器的盘位置信息,由取得的该盘位置信息和存储的相对于盘半径位置的最佳记录信息,设定在光盘的记录位置上的最佳记录功率,按照能够达到所设定的最佳记录功率的方式控制所述光拾取器的激光功率。
本发明的第三方面的光盘装置的记录功率控制方法,其特征在于,包含以下的工序:在记录之前,取得在光盘的半径方向的内周和外周位置上的推挽信号的振幅,根据所得到的该推挽信号振幅,计算并求出相对于遍及盘整个记录区域的半径位置的最佳记录功率,将所求得的上述最佳记录功率定为相对于盘半径位置的最佳记录功率信息并进行存储,取得记录时光拾取器的盘位置信息,由所取得的该盘位置信息和存储的对于盘半径位置的最佳记录信息,设定在光盘的记录位置上的最佳记录功率,按照能够达到所设定的最佳记录功率的方式控制所述光拾取器的激光功率。
本发明的第四方面的光盘装置的记录功率确定方法或者记录功率的控制方法,如在第一、二或三方面中所述,其特征在于,在相对于所述盘半径位置的最佳记录功率信息中,如果使在相对于内周基准测定位置的外周任意测定位置上的最佳记录功率为PO,则PO是通过下式进行计算求得的:
PO=[1+{(PPI/PPO)-1}×PUP]×PI
或者
PO=[1+{1-(PPO/PPI)}×PUP]×PI
在此,
PPI:在内周基准测定位置或者其附近位置上求得的推挽信号振幅,
PPO:在外周任意测定位置上取得的推挽信号振幅,
PUP:基于盘半径的功率升高的比例系数,
PI:基于内周基准测定位置的试写而得的最佳记录功率。
本发明的第五方面的光盘装置的记录功率确定方法或者记录功率的控制方法,如在第四方面中的所述,其特征在于,在相对于所述盘半径位置的最佳记录功率信息中,如果使在外周任意非测定位置上的最佳记录功率为P,则P是通过下式进行计算而求得的:
P=(PI-PO)/(ri-ro)×r+(PO×ri-PI×ro)/(ri-ro)
在此,
ri:在内周基准测定位置或者其附近位置上的盘半径位置,
ro:取得了PPO的在外周任意测定位置上的盘半径位置。
本发明的第六方面的光盘装置的记录功率确定方法或者记录功率的控制方法,如在第一、二或三方面中的所述,其特征在于,在相对于所述盘半径位置的最佳记录功率信息中,如果使在相对于内周基准测定位置的外周任意测定位置上的最佳记录功率为PO,则PO是通过下式进行计算而求得的:
PO=[1+{(PPI/PPO)-1}×PUP]×Pr
或者
PO=[1+{1-(PPO/PPI)}×PUP]×Pr
在此,
PPI:在内周基准测定位置或者其附近位置上取得的推挽信号振幅,
PPO:在外周任意测定位置上取得的推挽信号振幅,
PUP:基于盘半径的功率升高的比例系数,
Pr:在内周位置外周位置上的推挽振幅的差不存在时的外周任意位置的盘半径r上的最佳功率。
本发明的第七方面的光盘装置的记录功率确定方法或者记录功率的控制方法,如在第六方面的中所述,其特征在于,在相对于所述盘半径位置的最佳记录功率信息中,在非测定位置上的最佳记录功率Prb为相对于所述Pr而进行功率修正的最佳记录功率,则Prb是通过下式进行计算而求得:
Prb=PCR×Pr
在此,
Pr是在内周位置外周位置上的推挽振幅的差不存在时的外周任意位置的盘半径r上的最佳功率,
PCR是光拾取器的外周任意非测定位置的盘半径r上的功率控制系数,
PCR={(PCI-PCO)/(ri-ro)}×r
+{(PCO×ri)-(PCI×ro)}/(ri-ro)
在此,
ri是在内周基准测定位置或者其附近位置上的盘半径,
ro是在外周任意位置上的盘半径,
PCI:在内周基准测定位置或者其附近的功率控制系数,
PCO:在外周任意测定位置的功率控制系数,
另外,PCI=1
PCO=[1+{(PPI/PPO)-1}×PUP]
或者
PCO=[1+{1-(PPO/PPI)}×PUP]。
根据本发明,能够得到在光盘的高速转动中,可以确定光盘的最佳记录功率信息的光盘装置记录功率的确定方法。 根据本发明,能够在记录时使用预先决定的光盘的最佳功率信息,控制激光功率的光盘装置的记录功率控制方法。根据本发明,能够在光盘的高速转动中,在记录之前确定光盘的最佳记录功率信息,使用该被确定最佳记录功率信息,在记录时控制激光功率的光盘装置的记录功率控制方法。
附图说明
图1是涉及本发明的具有记录功率设定方法的光盘装置的实施方式的构成图。
图2表示在图1中的有关记录的全体动作的流程图。
图3是表示在图2中的步骤201的详细内容的流程的例子的图。
图4是表示在图2中的步骤204的详细内容的流程的例子的图。
图5是表示在图2中的步骤202中,CLV时的记录功率和盘半径之间的关系的图。
图6是表示在图2中的步骤202中,CAV时的功率控制系数PCR和盘半径之间的关系的图。
具体实施方式
根据附图对于本发明的实施方式进行说明。
图1是涉及本发明的具有记录功率设定方法的光盘装置的实施方式的构成图。
在图1中,盘电动机转动控制装置1以达到以微计算机2所指定的转速的方式控制盘电动机3。盘电动机3使光盘4转动。
激光功率控制装置5以将光拾取器6的激光功率控制到微计算机2设定的功率的方式进行控制。
光拾取器6使激光向光盘4聚光,进行信息记录动作。另外,将被光盘4所记录信息作为光信息而检测出来,转换成电信号。
在此,光拾取器6具有被配置在使激光聚光而向光盘的光道照射的光点的光道的横断方向以及与光道的横断方向相垂直的方向上的受光分配部分,输出来自该受光分配部分的检测信号。
伺服控制装置7在从微计算机6接受到指令时,从光拾取器6的受光分配部分的检测信号,抽出为了进行根据光拾取器6而进行的盘信息槽追随动作所必需的必要聚光信息和光道信息,进行将前述信息恢复的光拾取器6的聚光/光道追随动作。
信号处理装置8,例如,利用光拾取器6从光盘4读出被记录在光盘4上作为位置信息的ATIP地址信息,取得光拾取器6的位置信息。另外,取得被加在CD-R光盘等上的各光盘的介质ID信息。
推挽信号振幅检测装置9,从来自光拾取器6的受光分配部分中的、光点的光道横断方向的受光分配部分的检测信号,通过减法运算而检测推挽信号振幅。
存储器10根据来自推挽信号振幅检测装置9的推挽信号振幅,存储微计算机2计算的、相对于盘半径位置的最佳记录信息。
记录时用微计算机2从通过信号处理装置8取得的光拾取器6的位置信息和通过存储器10存储的相对于盘半径位置的最佳记录功率信息,设定在光拾取器6的记录半径位置上的最佳记录功率,以达到所设定的最佳功率的方式指示激光功率控制装置5,激光功率控制装置5按照微计算机2的指示,控制光拾取器6的激光功率使其达到所设定的最佳记录功率。
图2是表示在图1的光盘装置所进行的有关记录的全体动作的流程图。
在图2中,步骤201和步骤202是在记录之前进行的步骤。
在步骤201中,微计算机2使光拾取器6移动到光盘4半径方向上的两个位置,即内周位置(例如从内侧起半径23mm处)和外周位置(例如从外侧起半径50mm处)上,从推挽信号取得装置9取得在那些位置上的推挽信号振幅。
在步骤202中,微计算机2根据在步骤201的内周测定位置和外周测定位置上取得的推挽信号振幅信息,计算而取得相对于遍及盘的整个记录区域的半径位置的最佳记录功率,将取得的结果确定为相对于盘的半径位置的最佳记录功率信息,存储在存储器10。
在步骤203中,在记录时,微计算机2使光拾取器6移动到光盘4半径方向上的记录开始位置上。然后使用相对于存储在存储器10上的盘的半径位置的最佳记录功率信息,将在该记录开始位置上的记录功率在微计算机2上设定,与记录开始同时,通过激光功率控制装置5在设定的记录功率中使光拾取器6的激光发光。
在步骤204中,通过光拾取器6,进行实际的记录动作。
图3是表示在图2中的步骤201的详细内容流程的例子的图。
在步骤301中,微计算机2使光拾取器6移动到光盘4半径方向上的两个测定位置即内周测定位置和外周测定位置中的外周测定位置上。
在步骤302中,微计算机2从推挽信号取得装置9取得在外周测定位置上的推挽信号振幅。
在步骤303中,微计算机2使光拾取器6移动到光盘4的半径方向上的两个测定位置即内周测定位置和外周测定位置中的内周测定位置上。
在步骤304中,微计算机2从推挽信号取得装置9取得在内周测定位置上的推挽信号振幅。
以上是在图2中的步骤201的详细内容的流程。
本实施方式,虽然是在外周测定位置之后取得内周测定位置的振幅的,但也可在内周测定位置之前进行。在该情况下的流程为步骤303、然后是304,接下来是步骤301,然后是302的顺序。
在此,在取得步骤302和步骤304的推挽信号振幅时,首先通过停止跟踪(tracking off)动作,使光盘的横切方向(横断方向)的信号变化可以作为推挽振幅而测定的状态。
接下来,测定并取得实际的推挽信号。然后,最后使成为跟踪进行(tracking on)的状态。
根据需要,也可将在测定位置上的盘的转速与记录时的盘转速实质上相同为止等待测定的处理设定在实际测定并取得之前的任意过程中。
另外,由于盘的翘曲随着盘的转速而变化,所以希望使用转速与记录速度同速时的推挽振幅。
图4是表示在图2中步骤204的详细内容的流程的例子的图。
在步骤401中,在光盘4的半径方向的开始位置上开始记录。
在步骤402中,微计算机2取得来自信号处理装置8的ATIP地址信息,取得光拾取器6的盘位置信息。
在步骤403中,微计算机2由来自在步骤402中检测的光拾取器6的盘位置信息和在存储器10上存储的相对盘半径位置的最佳记录功率,设定在光盘4的记录位置上的最佳记录功率,向激光功率控制装置5发出指示使能达到最佳记录功率,激光功率控制装置5根据微计算机2的指示,控制光拾取器6的激光功率使其成为所设定的最佳记录功率。
在步骤404中,微计算机2利用信号处理装置8取得的光拾取器6的位置信息判定是否为记录结束,在不是记录结束位置的情况下,为了继续记录,回到步骤402。在是记录结束位置的情况下,进行记录结束动作405。
接下来,说明在图2中的步骤202的详细内容。
首先在以同一速度记录(CLV记录)光盘的整体时,相对于前述盘半径位置的最佳记录功率信息,如果使在相对于内周基准测定位置的外周任意测定位置上的最佳记录功率作为PO的话,PO通过下式表示。
PO=[1+{(PPI/PPO)-1}×PUP]×PI (式1)
或者
PO=[1+{1-(PPO/PPI)}×PUP]×PI (式2)
在此,
PPI:在内周基准测定位置或者其附近位置上求得的推挽信号振幅,
PPO:在外周任意测定位置上取得的推挽信号振幅,
PUP:基于盘半径的功率升高的比例系数,
PI:基于内周基准测定位置的试写而得的最佳记录功率。
在此,(式1)是以相对于在外周任意测定位置上PPO的内周基准测定位置或者其附近位置上的PPI的增加率作为基准的最佳记录功率PO的计算式。
另外,(式2)是以相对于在内周基准测定位置或者其附近位置上的PPI的外周任意测定位置上的PPO的减少率作为基准的最佳记录功率PO的计算式。
另外,上述的PUP的根据盘半径的功率升高的比例系数,优先为预先地逐个介质地调查最佳值。
另外,也可以为将对于各个介质的上述PUP进行调查的结果保存在存储器10中,在实际计算之前从存储器10中读出的构造。
在此,如果定义为使在外周任意非测定位置上的最佳记录功率为P,使外周任意非测定位置的盘半径位置为r,使内周基准测定位置上的盘半径为ri,使在外周任意测定位置上的盘半径位置为ro,则如图5所示的那样,假定外周任意非测定位置的盘半径r与在外周任意非测定位置上的最佳记录功率P可以近似为一次式,可以如下表示。
P=(PI-PO)/(ri-ro)×r+(PO×ri-PI×ro)/(ri-ro) (式3)
在此,PO是上述(式1)和(式2)。
接下来,在CAV记录的情况下对光盘的整体进行说明。在CAV的情况下,根据半径的位置而倍数变化。另外,最佳功率与倍速相对应而变化。所以,对于各个倍速(各个半径位置)的最佳功率,还进行基于推挽振幅差的信息进行修正。
如果使在相对于内周基准测定位置的外周任意测定位置上的最佳记录功率作为PO的话,PO是通过下式计算而求得。
PO=[1+{(PPI/PPO)-1}×PUP]×Pr
或者
PO=[1+{1-(PPO/PPI)}×PUP]×Pr
在此,
PPI:在内周基准测定位置或者其附近位置上求得的推挽信号振幅,
PPO:在外周任意测定位置上取得的推挽信号振幅,
PUP:基于盘半径的功率升高的比例系数,
Pr:在内周位置外周位置上的推挽振幅差不存在时的外周任意位置的盘半径r上的最佳记录功率。
在非测定位置上的最佳记录功率Prb为相对于上述Pr而基于本专利进行功率修正的最佳记录功率。Prb与Pr的关系为下式所示。
Prb=PCR×Pr (式4)
在此,PCR是在光拾取器的外周任意非测定位置的盘半径r上的功率控制系数。
光拾取器的外周任意非测定位置的盘半径r上的PCR是用PCI和在外周任意测定位置上的功率控制系数PCO表示在内周基准测定位置上的功率控制系数。
在此,PCI=1 (式5)
PCO=[1+{(PPI/PPO)-1}×PUP] (式6)
或者
PCO=[1+{1-(PPO/PPI)}×PUP] (式7)
(式6)、(式7)分别为(式1)、(式2)的系数项。
如果通过图6那样的线性近似,可以由下式表示,
PCR={(PCI-PCO)/(ri-ro)}×r+{(PCO×ri)-(PCI×ro)}/(ri-ro)
(式8)
在此,
ri是在内周基准测定位置或者其附近位置上的盘半径,
ro是在外周任意测定位置上的盘半径,
另外,外周任意非测定位置的盘半径r上的最佳功率Pr也可使用本发明以外的使用已知的OPC。ROPC而求得的各个播放位置(各播放速度)上的最佳记录功率。
另外,(式4)不仅限于CAV,也可以用于前述的CLV和ZCLV等上。另外,通过使用(式4),即使对于由本发明以外的ROPC等进行的功率控制而求得的最佳功率,还可以增加修正。
如上说明所示,根据本发明实施方式,能够得到在光盘的高速转动中,可以确定光盘的最佳记录功率信息的光盘装置记录功率确定方法。
根据本发明的实施方式,能够得到在记录时使用预先决定的光盘的最佳记录功率信息,控制激光功率的光盘装置的记录功率的控制方法。
根据本发明的实施方式,能够得到在光盘的高速转动中,在记录之前确定光盘的最佳记录功率信息,使用该被确定的最佳记录功率信息,在记录时进行激光功率控制的光盘装置的记录功率的控制方法。
Claims (8)
1.一种光盘装置的记录功率确定方法,其特征在于,包含以下的工序:
记录之前,取得在光盘的半径方向的内周和外周测定位置上的推挽信号的振幅,
根据所得到的该推挽信号振幅,计算并求出相对于遍及盘的整个记录区域的半径位置的最佳记录功率,
将所求得的结果确定为相对于盘半径位置的最佳记录功率信息。
2.如权利要求1所述的光盘装置的记录功率确定方法,其特征在于,
在以同一速度CLV记录光盘的整体时,在相对于所述盘半径位置的最佳记录功率信息中,
如果使在相对于内周基准测定位置的外周任意测定位置上的最佳记录功率为PO,
则PO是通过下式进行计算求得的:
PO=[1+{(PPI/PPO)-1}×PUP]×PI
或者
PO=[1+{1-(PPO/PPI)}×PUP]×PI
在此,
PPI:在内周基准测定位置或者其附近位置上求得的推挽信号振幅,
PPO:在外周任意测定位置上取得的推挽信号振幅,
PUP:基于盘半径的功率升高的比例系数,
PI:基于内周基准测定位置的试写的最佳记录功率。
3.如权利要求2所述的光盘装置的记录功率确定方法,其特征在于,
在相对于所述盘半径位置的最佳记录功率信息中,
如果使在外周任意非测定位置上的最佳记录功率为P,
则P是通过下式进行计算而求得的:
P=(PI-PO)/(ri-ro)×r+(PO×ri-PI×ro)/(ri-ro)
在此,
ri:在内周基准测定位置或者其附近位置上的盘半径位置,
ro:取得了PPO的在外周任意测定位置上的盘半径位置。
4.如权利要求1所述的光盘装置的记录功率确定方法,其特征在于,
在CAV记录光盘的整体时,在相对于所述盘半径位置的最佳记录功率信息中,
如果使在相对于内周基准测定位置的外周任意测定位置上的最佳记录功率为PO,
则PO是通过下式进行计算而求得的:
PO=[1+{(PPI/PPO)-1}×PUP]×Pr
或者
PO=[1+{1-(PPO/PPI)}×PUP]×Pr
在此,
PPI:在内周基准测定位置或者其附近位置上取得的推挽信号振幅,
PPO:在外周任意测定位置上取得的推挽信号振幅,
PUP:基于盘半径的功率升高的比例系数,
Pr:在内周位置外周位置上的推挽振幅的差不存在时的外周任意位置的盘半径r上的最佳功率。
5.如权利要求4所述的光盘装置的记录功率确定方法,其特征在于,
在相对于所述盘半径位置的最佳记录功率信息中,在非测定位置上的最佳记录功率Prb为相对于所述Pr而进行功率修正的最佳记录功率,
则Prb是通过下式进行计算而求得:
Prb=PCR×Pr
在此,
Pr是在内周位置外周位置上的推挽振幅的差不存在时的外周任意位置的盘半径r上的最佳功率,
PCR是光拾取器的外周任意非测定位置的盘半径r上的功率控制系数,
PCR={(PCI-PCO)/(ri-ro)}×r
+{(PCO×ri)-(PCI×ro)}/(ri-ro)
在此,
ri是在内周基准测定位置或者其附近位置上的盘半径,
ro是在外周任意位置上的盘半径,
PCI:在内周基准测定位置或者其附近的功率控制系数,
PCO:在外周任意测定位置的功率控制系数,
另外,PCI=1
PCO=[1+{(PPI/PPO)-1}×PUP]
或者
PCO=[1+{1-(PPO/PPI)}×PUP]。
6.一种光盘装置的记录功率控制方法,其特征在于,包含以下的工序:
在记录之前,取得在光盘的半径方向的内周位置和外周位置上的推挽信号的振幅,
根据所得到的该推挽信号振幅,计算并求出相对于遍及盘整个记录区域的半径位置的最佳记录功率,
将所求得的所述最佳记录功率定为相对于盘半径位置的最佳记录功率信息并进行存储,
取得记录时光拾取器的盘位置信息,
由所取得的该盘位置信息和存储的对于盘半径位置的最佳记录信息,设定在光盘的记录位置上的最佳记录功率,
按照能够达到所设定的最佳记录功率的方式控制所述光拾取器的激光功率。
7.如权利要求6所述的光盘装置的记录功率的控制方法,其特征在于,
在以同一速度CLV记录光盘的整体时,在相对于所述盘半径位置的最佳记录功率信息中,
如果使在相对于内周基准测定位置的外周任意测定位置上的最佳记录功率为PO,
则PO是通过下式进行计算求得的:
PO=[1+{(PPI/PPO)-1}×PUP]×PI
或者
PO=[1+{1-(PPO/PPI)}×PUP]×PI
在此,
PPI:在内周基准测定位置或者其附近位置上求得的推挽信号振幅,
PPO:在外周任意测定位置上取得的推挽信号振幅,
PUP:基于盘半径的功率升高的比例系数,
PI:基于内周基准测定位置的试写而得的最佳记录功率。
8.如权利要求7所述的光盘装置的记录功率的控制方法,其特征在于,
在相对于所述盘半径位置的最佳记录功率信息中,
如果使在外周任意非测定位置上的最佳记录功率为P,
则P是通过下式进行计算而求得的:
P=(PI-PO)/(ri-ro)×r+(PO×ri-PI×ro)/(ri-ro)
在此,
ri:在内周基准测定位置或者其附近位置上的盘半径位置,
ro:取得了PPO的在外周任意测定位置上的盘半径位置。
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