JP2005135533A - 光ディスク装置の記録パワー決定方法および記録パワー制御方法 - Google Patents

光ディスク装置の記録パワー決定方法および記録パワー制御方法 Download PDF

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    • A62C37/11Releasing means, e.g. electrically released heat-sensitive

Abstract

【課題】 光ディスクの高速回転において、光ディスクの最適記録パワー情報を決めることができる光ディスク装置の記録パワー決定方法を提供する。
【解決手段】 記録に先立って光ディスクの半径方向における2箇所の位置でのプッシュプル信号振幅を取得し、取得したプッシュプル信号振幅を基に、ディスク全記録領域にわたる半径位置に対する最適記録パワーの線形近似計算を求め、求めた結果を、ディスク半径位置に対する最適記録パワー情報に決めることを特徴とする(201、202)。
【選択図】 図2

Description

本発明は、光ディスク装置において、記録の際の記録パワーを最適に設定する光ディスク装置の記録パワー決定方法および記録パワー制御方法に関する。
CD−R/RWドライブやDVD−R/RWドライブ等の記録可能な光ディスク装置においては、光ディスクのPCAエリアにテストデータを種々のレーザーパワーで試し書きし、β値等の再生品質が目標値となるレーザーパワーを算出するOPC(Optimum Power Control)と、光ディスク面内における記録膜の塗布むらや光ディスクの傾きに依らず、記録ビット形成後の戻り光量を示すB値を一定に維持するようにレーザーパワーをフィードバック制御するROPC(Running Optimum Power Control)により、記録品質の確保を行っている。
このROPCは、光ディスクの様々な要因が混じった状態に対して補正を行う為、必ずしも記録品質の最適化を実現するものではなく、種々の改良が試みられている。
例えば、光ディスクの傾きに対してβ値を一定にする為、ROPCにおける戻り光量の変動分とレーザーパワーの変動分の比(ΔB/ΔP)を一定とするレーザーパワー制御を行うこと(例えば、特許文献1参照)、あるいは、 Bm/Pn=一定(但し、m<n)とするレーザーパワー制御を行うこと(例えば、特許文献2参照)等が知られている。
また、CD−RW等の相変化記録型の光ディスクにおいては、記録済領域にオーバーライトした場合、先の記録状態の影響を受け、ROPCにて記録品質を確保することが難しくなることから、レーザー光を0次回折光のメインビームと+1次回折光および−1次回折光の2つのサブビームに分割し、メインビームをグルーブトラックに照射して記録を行う一方で、2つのサブビームを前記グルーブトラックの両側に隣接するランドトラックに各々照射して、記録の影響のないランドトラックの戻り光を用いてメインビームのパワー制御を行うことにより、オーバーライトの影響を排除したランニングOPCの例(例えば、特許文献3参照)が知られている。
また、光ディスク装置では、通常、レーザー光を集光させて光ディスクのトラックに光スポットを照射して光ディスクに情報を記録する光ピックアップに、光スポットのトラック横断方向及びトラック横断方向と直交する方向に配置した分割受光部を設け、該分割受光部からの検出信号よりフォーカス情報とトラッキング情報を得るようにしている。
そして、この分割受光部のうちの、光スポットのトラック横断方向の分割受光部からの検出信号の減算演算によりプッシュプル信号(PP信号)を得、また該分割受光部からの検出信号の位相比較よりディファレンシャル・フェーズ・ディテクション信号(DPD信号)を得、この両信号より光ディスクの傾き角を検出すること(例えば、特許文献4参照)が知られている。
特開2003−16645号公報(請求項1、0023)
特開2003−248929号公報(請求項1,請求項3、0024,0026) 特開2003−173533号公報(要約、請求項1、発明の開示、特許文献4) 特開2001−307359号公報(請求項1、請求項2、0023〜0028等)
しかし、年々、記録時間の短縮要求の高まり、記録の高速化とともに光ディスクを高速回転する必要に迫られ、記録品質を確保する為に行っているROPCの戻り光量検出精度を得ることが厳しくなっている。
本発明の目的は、光ディスクの高速回転において、光ディスクの最適記録パワー情報を決めることができる光ディスク装置の記録パワー決定方法を提供することにある。
本発明の他の目的は、記録のとき、予め決めた、光ディスクの最適記録パワー情報を使って、レーザーパワーを制御する光ディスク装置の記録パワー制御方法を提供することにある。
本発明の更に他の目的は、光ディスクの高速回転において、記録に先立って光ディスクの最適記録パワー情報を決め、この決めた最適記録パワー情報を使って、記録のときにレーザーパワーを制御する光ディスク装置の記録パワー制御方法を提供することにある。
本発明による請求項1記載の光ディスク装置の記録パワー決定方法は、記録に先立って光ディスクの半径方向における少なくとも2箇所の測定位置でのプッシュプル信号振幅を取得し、取得した該プッシュプル信号振幅を基に、ディスク全記録領域にわたる半径位置に対する最適記録パワーを計算して求め、求めた結果を、ディスク半径位置に対する最適記録パワー情報に決めることを特徴とする。
本発明による請求項2記載の光ディスク装置の記録パワー制御方法は、記録のとき光ピックアップのディスク位置情報を取得し、取得した該ディスク位置情報と、記憶しているディスク半径位置に対する最適記録パワー情報とから、光ディスクの記録位置での最適記録パワーを設定し、設定した最適記録パワーとなるように前記光ピックアップのレーザーパワーを制御することを特徴とする。
本発明による請求項3記載の光ディスク装置の記録パワー制御方法は、記録に先立って光ディスクの半径方向における少なくとも2箇所の位置でのプッシュプル信号振幅を取得し、取得した該プッシュプル信号振幅を基に、ディスク全記録領域にわたる半径位置に対する最適記録パワーを計算して求め、求めた結果を、ディスク半径位置に対する最適記録パワー情報に決めて記憶し、記録のとき光ピックアップのディスク位置情報を取得し、取得した該ディスク位置情報と、記憶しているディスク半径位置に対する最適記録パワー情報とから、光ディスクの記録位置での最適記録パワーを設定し、設定した該最適記録パワーとなるように前記光ピックアップのレーザーパワーを制御することを特徴とする。
本発明による請求項4記載の光ディスク装置の記録パワー決定方法または記録パワー制御方法は、請求項1、2または3記載において、前記ディスク半径位置に対する最適記録パワー情報において、内周基準測定位置に対する外周任意測定位置での最適記録パワーをPOとすると、POは、次の式より計算して求めるまたは求めたものであることを特徴とする。
PO=[ 1+{(PPI/PPO)−1}×PUP ]×PI
または
PO=[ 1+{1−(PPO/PPI)}×PUP ]×PI
ここで、
PPI : 内周基準測定位置またはその近傍位置で取得したプッシュプル信号振幅、
PPO : 外周任意測定位置で取得したプッシュプル信号振幅、
PUP : ディスク半径によるパワーアップの比率係数、
PI : 内周基準測定位置の試し書きによる最適記録パワー。
本発明による請求項5記載の光ディスク装置の記録パワー決定方法または記録パワー制御方法は、請求項4記載において、前記ディスク半径位置に対する最適記録パワー情報において、外周任意非測定位置での最適記録パワーをPとすると、Pは、次の式より計算して求めるまたは求めたものであることを特徴とする。
P=(PI−PO)/(ri−ro)×r
+(PO×ri−PI×ro)/(ri−ro)
ここで、
ri : 内周基準測定位置またはその近傍位置のディスク半径位置、
ro : 請求項4記載のPPOを取得した外周任意測定位置のディスク半径位置。
本発明による請求項6記載の光ディスク装置の記録パワー決定方法または記録パワー制御方法は、請求項1、2または3記載において、前記ディスク半径位置に対する最適記録パワー情報において、内周基準測定位置に対する外周任意測定位置での最適記録パワーをPOとすると、POは、次の式より計算して求めるまたは求めたものであることを特徴とする。
PO=[ 1+{(PPI/PPO)−1}×PUP ]×Pr
または
PO=[ 1+{1−(PPO/PPI)}×PUP ]×Pr
ここで、
PPI : 内周基準測定位置またはその近傍位置で取得したプッシュプル信号振幅、
PPO : 外周任意測定位置で取得したプッシュプル信号振幅、
PUP : ディスク半径によるパワーアップの比率係数、
Pr : 内周位置外周位置でのプッシュプル振幅の差が無いときの外周任意位置のディスク半径rでの最適パワー。
本発明による請求項7記載の光ディスク装置の記録パワー決定方法または記録パワー制御方法は、請求項6記載において、前記ディスク半径位置に対する最適記録パワー情報は、内周基準位置に対する外周任意位置での最適記録パワーをPrbとすると、Prbは次の式より計算して求めるまたは求めたものであることを特徴とする。
Prb=PCR×Pr
ここで、
Prは内周位置外周位置でのプッシュプル振幅の差が無いときの外周任意位置のディスク半径rでの最適パワー、
PCRは、光ピックアップの外周任意非測定位置のディスク半径rでのパワーコントロール係数で、
PCR= {(PCI−PCO)/(ri−ro)} ×r
+ {(PCO×ri)−(PCI×ro)} /(ri−ro)
ここで、
riは内周基準測定位置またはその近傍でのディスク半径、
roは外周任意位置のディスク半径、
PCI:内周基準測定位置またはその近傍でのパワーコントロール係数、
PCO:外周任意測定位置でのパワーコントロール係数、
さらに、
PCI=1
PCO=[ 1+{(PPI/PPO)−1}×PUP ]
または、
PCO=[ 1+{1−(PPO/PPI)}×PUP ]。
本発明によれば、光ディスクの高速回転において、光ディスクの最適記録パワー情報を決めることができる光ディスク装置の記録パワー決定方法を得ることができる。また本発明によれば、記録のとき、予め決めた、光ディスクの最適記録パワー情報を使って、レーザーパワーを制御する光ディスク装置の記録パワー制御方法を得ることができる。また本発明によれば、光ディスクの高速回転において、記録に先立って光ディスクの最適記録パワー情報を決め、この決めた最適記録パワー情報を使って、記録のときにレーザーパワーを制御する光ディスク装置の記録パワー制御方法を得ることができる。
以下、図面に基づき本発明による実施の形態について説明する。
図1は、本発明に係る記録パワー設定方法を有する光ディスク装置の実施の形態の構成図である。
図1において、ディスクモータ回転制御手段1は、マイコン2により指定された回転数になるよう、ディスクモータ3を制御する。ディスクモータ3は、光ディスク4を回転させる。
レーザーパワー制御手段5は、光ピックアップ6のレーザーパワーをマイコン2が設定したレーザーパワーになるように制御する。
光ピックアップ6は、光ディスク4に対しレーザー光を集光させ、情報記録動作を行う。また、光ディスク4に記録された情報を光情報として検出し、電気信号に変換する。
ここで、光ピックアップ6は、レーザー光を集光させて光ディスクのトラックに照射する光スポットのトラック横断方向及びトラック横断方向と直交する方向に配置した分割受光部を有し、該分割受光部からの検出信号を出力する。
サーボ制御手段7は、マイコン6から指令を受けたとき、光ピックアップ6の分割受光部からの検出信号から、光ピックアップ6によるディスク情報溝追従動作に必要なフォーカス情報とトラッキング情報を抽出し、前記情報を元に光ピックアップ6のフォーカス/トラッキング追従動作を行う。
信号処理手段8は、光ピックアップ6で、たとえば光ディスク4に記録された位置情報であるATIPアドレス情報を光ディスク4から読み出し、光ピックアップ6の位置情報を取得する。また、CD−R光ディスク等につけられた光ディスク毎のメディアID情報の取得を行う。
プッシュプル信号振幅検出手段9は、光ピックアップ6の分割受光部のうちの、光スポットのトラック横断方向の分割受光部からの検出信号から減算演算によりプッシュプル信号振幅を検出する。
メモリ10は、プッシュプル信号振幅検出手段9からのプッシュプル信号振幅を基に、マイコン2が計算した、ディスク半径位置に対する最適記録パワー情報を記憶する。
記録のときは、マイコン2で、信号処理手段8で取得した光ピックアップ6の位置情報と、メモリ10で記憶しているディスク半径位置に対する最適記録パワー情報とから、光ピックアップ6の記録半径位置での最適記録パワーを設定し、設定した最適記録パワーになるようにレーザーパワー制御手段5に指示し、レーザーパワー制御手段5はマイコン2の指示にしたがって光ピックアップ6のレーザーパワーを設定した最適記録パワーになるように制御する。
図2は、図1の光ディスク装置が行う記録に関する全体動作のフローを示す図である。
図2において、ステップ201とステップ202は記録に先立って行うステップである。
ステップ201では、マイコン2は、光ピックアップ6を光ディスク4の半径方向における2箇所の位置すなわち内周位置(例えば内側より半径23mm)と外周位置(例えば内側より半径50mm)に移動させ、その位置でのプッシュプル信号振幅をプッシュプル信号取得手段9から取得する。
ステップ202では、マイコン2は、ステップ201の内周測定位置と外周測定位置で取得したプッシュプル信号振幅情報を基に、ディスク全記録領域にわたる半径位置に対する最適記録パワーを計算して求め、求めた結果を、ディスク半径位置に対する最適記録パワー情報に決めて、メモリ10に記憶する。
ステップ203では、記録のときに、マイコン2は、光ピックアップ6を光ディスク4の半径方向における記録開始位置に移動させる。そしてその記録開始位置における記録パワーを、メモリ10に記憶しているディスク半径位置に対する最適記録パワー情報を使ってマイコン2で設定し、記録開始と同時に、レーザーパワー制御手段5を介して光ピックアップ6のレーザー光を、設定した記録パワーで発光させる。
ステップ204では、光ピックアップ6により、実際の記録動作を行う。
図3は、図2におけるステップ201の詳細な内容のフローの例を示す図である。
ステップ301では、マイコン2は、光ピックアップ6を光ディスク4の半径方向における2箇所の測定位置すなわち内周測定位置と外周測定位置のうちの外周測定位置に移動させる。
ステップ302では、マイコン2は、外周測定位置でのプッシュプル信号振幅をプッシュプル信号取得手段9から取得する。
ステップ303では、マイコン2は、光ピックアップ6を光ディスク4の半径方向における2箇所の測定位置すなわち内周測定位置と外周測定位置のうちの内周測定位置に移動させる。
ステップ304では、マイコン2は、内周測定位置でのプッシュプル信号振幅をプッシュプル信号取得手段9から取得する。
以上が、図2におけるステップ201の詳細な内容のフローである。
本実施の形態は、外周測定位置のあとに内周測定位置の振幅取得を行っているが、内周測定位置から先に行っても良い。その際のフローはステップ303、次にステップ304、次にステップ301、次にステップ302の順となる。
ここで、ステップ302とステップ304のプッシュプル信号振幅の取得に際しては、まず、トラッキング・オフ動作により、光ディスクのトラックよぎり方向(横断方向)の信号変化がプッシュプル振幅として測定できる状態にする。
次に実際のプッシュプル振幅を測定して取得する。そして、最後にトラッキングを再度オンする。
必要に応じて、測定位置でのディスク回転数が記録時のディスク回転数と実質同じになるまで測定を待つ処理を、実際に測定して取得する前の任意のプロセスに設けても良い。
なお、光ディスクの回転数によりディスクのそり量が変化するため、回転数が記録速度と同速になったときのプッシュプル振幅を用いることが望ましい。
図4は、図2におけるステップ204の詳細な内容のフローの例を示す図である。
ステップ401では、光ディスク4の半径方向における記録開始位置で記録を開始する。
ステップ402では、マイコン2は、信号処理手段8からのATIPアドレス情報を得て、光ピックアップ6のディスク位置情報の取得を行う。
ステップ403では、マイコン2は、ステップ402で検出した光ピックアップ6のディスク位置情報と、メモリ10で記憶しているディスク半径位置に対する最適記録パワー情報とから、光ディスク4の記録位置での最適記録パワーを設定し、設定した最適記録パワーとなるようにレーザーパワー制御手段5に指示し、レーザーパワー制御手段5はマイコン2の指示にしたがって、光ピックアップ6のレーザーパワーを、設定した最適記録パワーになるように制御する。
ステップ404では、マイコン2は、信号処理手段8で取得した光ピックアップ6の位置情報から記録終了位置かの判定を行い、記録終了位置でない場合は、記録を継続するため、スッテップ402に戻る。記録終了位置である場合には、記録終了動作405を行う。
次に、図2におけるステップ202の詳細な内容について説明する。
まず、光ディスクの全面を同一速度で記録(CLV記録)する場合には、ディスク半径位置に対する最適記録パワー情報は、内周基準測定位置に対する外周任意測定位置での最適記録パワーをPOとすると、POは、
PO=[ 1+{(PPI/PPO)−1}×PUP ]×PI・・(式1)
または
PO=[ 1+{1−(PPO/PPI)}×PUP ]×PI・・(式2)
とあらわせる。
ここで、
PPI : 内周基準測定位置またはその近傍位置で取得したプッシュプル信号振幅、
PPO : 外周任意測定位置で取得したプッシュプル信号振幅、
PUP : ディスク半径によるパワーアップの比率係数、
PI : 内周基準測定位置の試し書きによる最適記録パワー
である。
ここで、(式1)は、外周任意測定位置でのPPOに対する内周基準測定位置またはその近傍位置でのPPIの増加率を基準とした最適記録パワーPOの計算式である。
また、(式2)は、内周基準測定位置またはその近傍位置でのPPIに対する外周任意測定位置でのPPOの減少率を基準とした最適記録パワーPOの計算式である。
なお、上記PUPの、ディスク半径によるパワーアップの比率係数は、あらかじめ最適値をメディアごとに調査しておくことが好ましい。
また、各メディア毎の上記PUPについて、調査した結果を、メモリ10に保存しておき、実際の計算の前に、メモリ10より読み出す仕組みとしても良い。
ここで、外周任意非測定位置での最適記録パワーをP、外周任意非測定位置のディスク半径をr、内周基準測定位置のディスク半径をri、外周任意測定位置のディスク半径位置をroと定義したとき、図5のように、外周任意非測定位置のディスク半径rと外周任意非測定位置での最適記録パワーPとは一次式に近似できると仮定することで、下記のようにあらわすことが出来る。
P=(PI−PO)/(ri−ro)×r
+(PO×ri−PI×ro)/(ri−ro) ・・・(式3)
ここで、POは、上記(式1)または(式2)である。
次に,光ディスクの全面をCAV記録の場合について説明する。CAVの場合は、半径位置により倍速が変化する。また、倍速に応じて記録最適パワーが変化する。よって、各倍速毎(各半径位置毎)の最適パワーに対して、さらにプッシュプル振幅差情報により補正することになる。
内周基準測定位置に対する外周任意測定位置での最適記録パワーをPOとすると、POは、次の式より計算して求める。
PO=[ 1+{(PPI/PPO)−1}×PUP ]×Pr
または
PO=[ 1+{1−(PPO/PPI)}×PUP ]×Pr
ここで、
PPI : 内周基準測定位置またはその近傍位置で取得したプッシュプル信号振幅、
PPO : 外周任意測定位置で取得したプッシュプル信号振幅、
PUP : ディスク半径によるパワーアップの比率係数、
Pr : 内周位置外周位置でのプッシュプル振幅の差が無いときの外周任意位置のディスク半径rでの最適記録パワー。
非測定位置での最適記録パワーPrbは、上記Prに対して、本特許によるパワー補正を行った最適記録パワーである。Prbと、Prの関係には、次の関係が成り立つ。
Prb=PCR×Pr ・・・(式4)
ここで、PCRは、光ピックアップの外周任意非測定位置のディスク半径rでのパワーコントロール係数である。
光ピックアップの外周任意非測定位置のディスク半径rでのPCRは、内周基準測定位置でのパワーコントロール係数をPCIと、外周任意測定位置でのパワーコントロール係数PCOを用いて表わせる。
ここで、
PCI=1 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(式5)
PCO=[ 1+{(PPI/PPO)−1}×PUP ] ・・・(式6)
または、
PCO=[ 1+{1−(PPO/PPI)}×PUP ] ・・・(式7)
であり、
(式6)(式7)は、それぞれ(式1)(式2)の係数項そのものである。
図6のような線形近似によれば、
PCR= {(PCI−PCO)/(ri−ro)} ×r
+ {(PCO×ri)−(PCI×ro)} /(ri−ro) ・(式8)
とあらわせる。
ここで、
riは内周基準測定位置またはその近傍でのディスク半径、
roは外周任意位置のディスク半径、
尚、外周任意非測定位置のディスク半径rでの最適記録パワーPrは、本発明以外の既知のOPC、ROPCを使用して求めた各再生位置(各再生速)での最適記録パワーを用いても良い。
なお、(式4)は、CAVに限らず、前述のCLVや、ZCLV等にも適用可能である。また、(式4)を使うことで、本発明以外のROPC等によるパワーコントロールにより求めた最適パワーに対しても、更に補正を加えることが出来る。
以上説明したように、本発明の実施の形態によれば、光ディスクの高速回転において、光ディスクの最適記録パワー情報を決めることができる光ディスク装置の記録パワー決定方法を得ることができる。
また本発明の実施の形態によれば、記録のとき、予め決めた、光ディスクの最適記録パワー情報を使って、レーザーパワーを制御する光ディスク装置の記録パワー制御方法を得ることができる。
また本発明の実施の形態によれば、光ディスクの高速回転において、記録に先立って光ディスクの最適記録パワー情報を決め、この決めた最適記録パワー情報を使って、記録のときにレーザーパワーを制御する光ディスク装置の記録パワー制御方法を得ることができる。
本発明に係る記録パワー設定方法を有する光ディスク装置の実施の形態の構成図である。 図1における記録に関する全体動作のフローを示す図である。 図2におけるステップ201の詳細な内容のフローの例を示す図である。 図2におけるステップ204の詳細な内容のフローの例を示す図である。 図2におけるステップ202において、CLVのときの記録パワーとディスク半径との関係を示す図である。 図2におけるステップ202において、CAVのときのパワーコントロール係数PCRとディスク半径との関係を示す図である。
符号の説明
1…ディスクモータ回転制御手段、2…マイコン、3…ディスクモータ、4…光ディスク、5…レーザーパワー制御手段、6…光ピックアップ、7…サーボ制御手段、8…信号処理手段、9…プッシュプル信号振幅検出手段、10…メモリ。

Claims (7)

  1. 記録に先立って光ディスクの半径方向における少なくとも2箇所の測定位置でのプッシュプル信号振幅を取得し、取得した該プッシュプル信号振幅を基に、ディスク全記録領域にわたる半径位置に対する最適記録パワーを計算して求め、求めた結果を、ディスク半径位置に対する最適記録パワー情報に決めることを特徴とする光ディスク装置の記録パワー決定方法。
  2. 記録のとき光ピックアップのディスク位置情報を取得し、取得した該ディスク位置情報と、記憶しているディスク半径位置に対する最適記録パワー情報とから、光ディスクの記録位置での最適記録パワーを設定し、設定した最適記録パワーとなるように前記光ピックアップのレーザーパワーを制御することを特徴とする光ディスク装置の記録パワー制御方法。
  3. 記録に先立って光ディスクの半径方向における少なくとも2箇所の位置でのプッシュプル信号振幅を取得し、取得した該プッシュプル信号振幅を基に、ディスク全記録領域にわたる半径位置に対する最適記録パワーを計算して求め、求めた結果を、ディスク半径位置に対する最適記録パワー情報に決めて記憶し、記録のとき光ピックアップのディスク位置情報を取得し、取得した該ディスク位置情報と、記憶しているディスク半径位置に対する最適記録パワー情報とから、光ディスクの記録位置での最適記録パワーを設定し、設定した該最適記録パワーとなるように前記光ピックアップのレーザーパワーを制御することを特徴とする光ディスク装置の記録パワー制御方法。
  4. 請求項1、2または3記載において、前記ディスク半径位置に対する最適記録パワー情報において、内周基準測定位置に対する外周任意測定位置での最適記録パワーをPOとすると、POは、次の式より計算して求めるまたは求めたものであることを特徴とする光ディスク装置の記録パワー決定方法または記録パワー制御方法。
    PO=[ 1+{(PPI/PPO)−1}×PUP ]×PI
    または
    PO=[ 1+{1−(PPO/PPI)}×PUP ]×PI
    ここで、
    PPI : 内周基準測定位置またはその近傍位置で取得したプッシュプル信号振幅、
    PPO : 外周任意測定位置で取得したプッシュプル信号振幅、
    PUP : ディスク半径によるパワーアップの比率係数、
    PI : 内周基準測定位置の試し書きによる最適記録パワー。
  5. 請求項4記載において、前記ディスク半径位置に対する最適記録パワー情報において、外周任意非測定位置での最適記録パワーをPとすると、Pは、次の式より計算して求めるまたは求めたものであることを特徴とする光ディスク装置の記録パワー決定方法または記録パワー制御方法。
    P=(PI−PO)/(ri−ro)×r
    +(PO×ri−PI×ro)/(ri−ro)
    ここで、
    ri : 内周基準測定位置またはその近傍位置のディスク半径位置、
    ro : 請求項4記載のPPOを取得した外周任意測定位置のディスク半径位置。
  6. 請求項1、2または3記載において、前記ディスク半径位置に対する最適記録パワー情報において、内周基準測定位置に対する外周任意測定位置での最適記録パワーをPOとすると、POは、次の式より計算して求めるまたは求めたものであることを特徴とする光ディスク装置の記録パワー決定方法または記録パワー制御方法。
    PO=[ 1+{(PPI/PPO)−1}×PUP ]×Pr
    または
    PO=[ 1+{1−(PPO/PPI)}×PUP ]×Pr
    ここで、
    PPI : 内周基準測定位置またはその近傍位置で取得したプッシュプル信号振幅、
    PPO : 外周任意測定位置で取得したプッシュプル信号振幅、
    PUP : ディスク半径によるパワーアップの比率係数、
    Pr : 内周位置外周位置でのプッシュプル振幅の差が無いときの外周任意位置のディスク半径rでの最適パワー。
  7. 請求項6記載において、前記ディスク半径位置に対する最適記録パワー情報は、内周基準位置に対する外周任意位置での最適記録パワーをPrbとすると、Prbは次の式より計算して求めるまたは求めたものであることを特徴とする光ディスク装置の記録パワー決定方法または記録パワー制御方法。
    Prb=PCR×Pr
    ここで、
    Prは内周位置外周位置でのプッシュプル振幅の差が無いときの外周任意位置のディスク半径rでの最適パワー、
    PCRは、光ピックアップの外周任意非測定位置のディスク半径rでのパワーコントロール係数で、
    PCR= {(PCI−PCO)/(ri−ro)} ×r
    + {(PCO×ri)−(PCI×ro)} /(ri−ro)
    ここで、
    riは内周基準測定位置またはその近傍でのディスク半径、
    roは外周任意位置のディスク半径、
    PCI:内周基準測定位置またはその近傍でのパワーコントロール係数、
    PCO:外周任意測定位置でのパワーコントロール係数、
    さらに、
    PCI=1
    PCO=[ 1+{(PPI/PPO)−1}×PUP ]
    または、
    PCO=[ 1+{1−(PPO/PPI)}×PUP ]。
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