CN101189532B - 距离测定装置 - Google Patents

Abstract

本发明的距离测定装置设有：将测距光(22)照射到测定对象物的光发射部；处于已知位置的基准反射部(55)，设置成可相对移动以横截所照射的测距光；光检测部(7)，将来自上述测定对象物的反射光作为反射测距光(22′)检测，并将来自上述基准反射部的反射光作为内部参考光(22″)检测；以及控制运算部(15)，根据涉及上述反射测距光的光检测信号和涉及上述内部参考光的光检测信号来计算到测定对象物的距离。

Description

距离测定装置

技术领域

本发明涉及通过激光照射测定对象物并检测来自测定对象物的反射光来进行距离测定的距离测定装置。

背景技术

作为距离测定装置，有用激光束照射测定对象物，利用来自测定对象物的反射光来测定至测定对象物的距离的光学距离测定装置。

传统的光学距离测定装置中，以一定的频率对激光束进行强度调制后作为测距光射出，检测被测定对象物反射的反射测距光，将所检测的反射测距光的强度调制的相位，跟距离测定装置内部形成的在参考光路得到的内部参考光的强度调制的相位进行比较，根据相位差测定至测定对象物的距离。

在上述距离测定装置进行的距离测定中，利用了上述相位差随着测距距离而变化的事实，若以Δφ表示内部参考光与反射测距光之间的相位差，D表示测距距离，f表示调制频率，C表示光速，则相位差Δφ用下式1表示。

Δφ＝4πfD/C  (式1)

从而，测距距离D可通过测定相位差Δφ求出，此外，由于参考光路长已知，可用内部参考光路修正求出的测定距离，从而得到正确的测定距离。

另外，在距离测定中，距离测定装置内部的检测电路等的漂移会造成测定误差，但是通过比较内部参考光和反射测距光的相位，检测电路等漂移的影响便相互抵消，故可算出正确的距离。

接着，参照图7概要说明传统的距离测定装置。

激光二极管等发光元件1发出由发光驱动电路12以预定频率作了强度调制的激光束。该激光用半反射镜2分割为测距光3和内部参考光4，透过上述半反射镜2的上述测距光3通过物镜5照射在测定对象物6(例如，隅角棱镜等的反光镜)上，该测定对象物6所反射的反射测距光3’通过上述物镜5、半反射镜8后由光敏二极管等光检测元件7检测。

上述半反射镜2所反射的上述内部参考光4，被上述反射测距光3’的光路上的上述半反射镜8反射，由上述光检测元件7检测。该光检测元件7的光检测信号被输入光检测电路13，该光检测电路13为进行测距运算而处理从上述光检测元件7输入的信号。

在上述测距光3的光路和上述内部参考光4的光路上跨接光路切换器9，另外，在上述反射测距光3’的光路上，设置光量调整器11。上述光路切换器9对上述测距光3的光路和上述内部参考光4的光路，两者择其一地截断一个，使另一个透过，由上述光检测元件7交替地检测上述反射测距光3′和上述内部参考光4。

如上所述，由于使用光强度调制后的测距光3，求出从该测距光3得到的内部参考光4和反射测距光3′的相位差来进行距离运算，该反射测距光3′和上述内部参考光4的检测光量不同，会影响距离测定的精度。因而，设置了上述光量调整器11。该光量调整器11，具有浓度连续变化的振幅滤光片，通过使该振幅滤光片旋转，将上述反射测距光3′的检测光量调整到一定值。由于上述光量调整器11，即使上述测定对象物6的距离造成的反射光量变化，也可使上述光检测元件7检测的上述内部参考光4的检测光量与上述反射测距光3′的检测光量相等。

上述光路切换器9进行的光路切换和上述光量调整器11进行的光量调整，由驱动电路14控制。

控制运算部15控制发光驱动电路12，使从上述发光元件1射出的激光束受到预定频率的光强度调制，另外，上述驱动电路14控制上述光路切换器9的光路切换的定时。还有，上述控制运算部15根据上述光检测元件7的光检测信号，向上述驱动电路14发出使上述反射测距光3′的光量与上述内部参考光4的光量相等的控制信号。

上述光检测电路13对来自上述光检测元件7的信号进行放大、A/D变换等的信号处理，同时进行求出上述内部参考光4的调制频率和上述反射测距光3′的调制频率的相位差等处理，送往上述控制运算部15。该控制运算部15根据从上述光检测电路13送来的相位差，用上式1算出至上述测定对象物6的距离。

在上述传统的距离测定装置中，上述光路切换器9进行的上述内部参考光4和上述反射测距光3′之间的切换是机械切换。

光路切换和光量调整均以机械方式进行，难以进行高速的光路切换和高速的光量调整，因此不能进行高速距离测定。因而，虽然对建筑物等测定对象物进行距离测定时不会有问题，但是在用1个测定装置连续对多个移动体(例如，推土机等建筑机械)进行距离测定等要求高速距离测定的场合，就会遇到困难。另外，在用全站仪等对建筑物等进行三维测定的场合，必须通过自动测量对多个点进行测量，要求测定速度高速化。另外，在对移动体等进行测量的情况下，会产生光路切换速度、光量调整速度跟不上移动体的移动速度、距离测定无法进行等的问题。

再有，作为使测距光旋转而进行多向、多点距离测定的距离测定装置，有日本专利公报第2694647号公报、日本特开平4-31 301 3号公报所揭示的装置。

鉴于这种情况，本发明的目的在于提供一种在距离测定装置中使光路切换、光量调整高速化，实现距离测定高速化的距离测定装置。

发明内容

本发明是一种距离测定装置，具有将测距光照射在测定对象物上的光发射部；可相对移动以横截所照射的测距光的处于已知位置的基准反射部；将来自上述测定对象物的反射光作为反射测距光并将来自上述基准反射部的反射光作为内部参考光而进行光检测的光检测部；以及根据涉及上述反射测距光的光检测信号和涉及上述内部参考光的光检测信号，计算到达测定对象物的距离的控制运算部，

另外，本发明是这样一种距离测定装置，在设置上述基准反射部在光路上设有使上述内部参考光的光量变化的光量调整部件，

另外，本发明是这样一种距离测定装置，其上述光量调整部件是在测距光穿越方向上浓度逐渐变化的滤光片，

另外，本发明是这样一种距离测定装置，其上述光量调整部件与上述基准反射部一体地设置，

另外，本发明是这样一种距离测定装置，它扫描至少包含上述测距光的测定对象物测定区域，上述基准反射部处于扫描范围内，上述测距光至少扫描包含测定对象物的测定区域，上述基准反射部位于扫描范围内，且配置在不干涉来自测定对象物的反射光的位置上，

另外，本发明是这样一种距离测定装置，其上述控制运算部根据检测光量变化的光检测信号生成与多个检测光量强度对应的多个内部参考基准，选择与反射测距光的光量对应的内部参考基准，并根据所选择的上述内部参考基准和反射测距光的光检测信号来计算到达测定对象物的距离，

另外，本发明是这样一种距离测定装置，其检测光量的变化通过测距光穿越滤光片而得到，

另外，本发明是这样一种距离测定装置，其上述基准反射部由使上述基准反射部相对上述测距光移动的移动机构部支持，该移动机构部使上述基准反射部保持在偏离于测定方向的位置上移动，

另外，本发明是这样一种距离测定装置，其上述移动机构部具有检测上述基准反射部的位置的位置检测装置，上述控制运算部具有与上述基准反射部的位置对应的误差数据，上述光检测部根据与检测内部参照光时上述基准反射部的位置对应的误差，修正测定结果，

本发明还是这样一种距离测定装置，上述光发射部设有：使测距光在测定方向上偏转而照射的偏转光学部件；保持该偏转光学部件并可使之旋转的回转部；设置成可与该回转部的旋转中心同心地自由旋转的基准反射棱镜；以及使该基准反射棱镜独立于上述偏转光学部件而旋转的回转驱动部。

附图说明

图1是概略表示本发明实施例的说明图；

图2是表示本发明实施例的距离测定装置的激光束发射部的剖面图；

图3是该距离测定装置测距部的略图；

图4(A)表示光检测元件的光检测状态；

图4(B)是光检测信号的放大图；

图5是表示上述距离测定装置中在基准反射棱镜旋转后误差的说明图；

图6该反射基准棱镜旋转后误差与旋转角的对应表数据；

图7是传统距离测定装置的略图。

具体实施方式

以下，参照附图说明本发明的最佳实施例。首先，用图1概要说明本发明实施例的测定。在图1所示的距离测定装置17中，可形成水平基准面，并测定至测定对象物16的距离。

上述距离测定装置17具有基准面形成部(图中未示出)和测距部19(后述)。上述距离测定装置17使基准面形成用激光束21回转照射，同时回转照射测距光22，使得用测距光测定至多个位置处的上述测定对象物16的距离成为可能。

上述基准面形成部回转照射上述基准面形成用激光束21，形成水平基准面23。上述基准面形成用激光束21由至少1个倾斜的多个扇状激光束组成。另外，作为回转照射一个倾斜的3个以上的扇状激光束的激光装置，有日本特开2004-212058号公报提出的旋转激光装置。

回转照射上述基准面形成用激光束21，测定对象物具有光检测器(图中未示出)，通过求出该光检测器检测2个以上扇状激光束的时间差，根据该时间差和上述扇状激光束的倾斜角，求出相对于以上述距离测定装置17为中心的上述水平基准面23的仰角。另外，可根据仰角设定倾斜基准面。

图2、图3概略表示本发明实施例的距离测定装置，图2表示上述距离测定装置17的激光束发射部24，图3表示上述距离测定装置17的上述测距部19的简略结构。上述激光束发射部24由基准面形成用光发射部25和测距用光发射部26构成，上述基准面形成用光发射部25和上述测距用光发射部26可以分别独立地照射上述基准面形成用激光束21和上述测距光22。另外，在本实施例中，上述基准面形成用激光束21和上述测距光22的照射方向是相同的，但也可以不同，例如相差180°。

图2中，27表示距离测定装置17机架的顶板部，在机架的内部装入基准面形成用激光光源部(图中未示出)。在上述顶板部27的上侧，配置圆筒状的投射窗28，该投射窗28用透明玻璃等材料与上述基准面形成用光发射部25的光轴同心地设置。在上述投射窗28的上端设置上基板29，在上述投射窗28的内部设置中间基板31。

与上述基准面形成用光发射部25的光轴同心地配置园筒状棱镜支架32，该棱镜支架32由轴承33、34支承在上述顶板部27的上述中间基板31上自由旋转。

在上述棱镜支架32的内部，作为偏转光学部件设置五棱镜42，在与上述棱镜支架32的上述五棱镜相对的部分穿孔而设置第1投射孔43，从上述基准面形成用激光光源部射出的基准面形成用激光束21在上述五棱镜42上在水平方向上发生偏转，通过上述第1投射孔43照射出去。

在上述棱镜支架32的上端设置第1旋转齿轮35，上述中间基板31上装有第1回转电动机36，该第1回转电动机36的输出轴上安装的第1驱动齿轮37与上述第1旋转齿轮35啮合。通过驱动上述第1回转电动机36，上述第1驱动齿轮37经过上述第1旋转齿轮35使上述五棱镜42旋转，上述基准面形成用激光束21便在水平面内旋转。

另外，上述中间基板31上装有第1编码器38，该第1编码器38的输入轴上安装的第1从动齿轮39与上述第1旋转齿轮35啮合，该第1旋转齿轮35的旋转角经上述第1从动齿轮39由上述第1编码器38检测，检测出上述基准面形成用激光束21的照射方向。

反射镜支架44与上述棱镜支架32同心地设置在该棱镜支架32的上侧，该反射镜支架44保持作为偏转光学部件的反光镜45，在面向该反光镜45的反射面的部分设置第2投射孔46。上述反射镜支架44可与上述棱镜支架32一体化，使上述五棱镜42与上述反光镜45的同光轴地一起旋转。还有，以同一光轴转动时，不一体化也行。

在上述上基板29上设置镜筒47，该镜筒47的中心和上述反射镜支架44的中心一致，另外，在上述镜筒47中保持聚焦透镜48。在上述镜筒47中，经轴承49设置可自由旋转的旋转环套50，该旋转环套50上装有第2旋转齿轮51。

在上述上基板29中设置第2回转电动机52，该第2回转电动机52的输出轴上安装第2驱动齿轮53，该第2驱动齿轮53与上述第2旋转齿轮51啮合。

另外，在上述旋转环套50上固定反射棱镜保持构件54，在该反射棱镜保持构件54上固定作为基准反射部的内部光路用的基准反射棱镜55。在内部光路上，例如，在基准反射棱镜55的反射面上设置振幅滤光片56。该振幅滤光片56在水平方向上连续地改变浓度，以连续地减小或连续地增加激光的透射光量。另外，上述振幅滤光片56也可分阶段地改变浓度，实际上也可在旋转扫描方向上逐渐改变浓度。

具体地说，将上述基准反射棱镜55设为隅角棱镜，将滤光片贴在隅角棱镜上，使中心附近的透射率高，越向周边透射率越低。

在上述上基板29上安装第2编码器58，该第2编码器58的输入轴上装有第2从动齿轮57，该第2从动齿轮57与上述第2旋转齿轮51啮合。

通过驱动上述第2回转电动机52，上述基准反射棱镜55经由上述第2驱动齿轮53、上述第2旋转齿轮51、上述旋转环套50与上述振幅滤光片56一起旋转，另外，上述旋转环套50的旋转角，经由上述第2旋转齿轮5 1、上述第2从动齿轮57由上述第2编码器58检测。

在上述聚焦透镜48的光轴上配置偏转反射镜62，并确定射出用光纤61的射出端位置，使之对着该偏转反射镜62的反射面。另外，在上述聚焦透镜48的光轴上，将检测光用光纤63的入射端位置确定在聚焦位置上。

上述射出用光纤61将发光元件1射出的上述测距光22引向上述偏转反射镜，上述检测光用光纤63将反射测距光22′、内部参考光22″引向光检测元件7。

现参照图3就测距部19进行说明。

在图3中，与图7中所示相同者，标以相同的标记。

在上述发光元件1的射出光轴上配置聚焦透镜59，在该聚焦透镜59的聚焦位置上配置上述射出用光纤61的入射端。该射出用光纤61，如上所述，将上述测距光22引向上述偏转反射镜62。

在上述聚焦透镜48的聚焦位置上，配置上述光检测用光纤63的入射端，该光检测用光纤63的射出端配置在聚焦透镜64的光轴上，从上述光检测用光纤63射出上述反射测距光22′，上述内部参考光22″通过上述聚焦透镜64聚焦在上述光检测元件7上。

发光驱动电路12根据来自控制运算部15的控制信号控制上述发光元件1的驱动发光，并且光检测电路13对来自上述光检测元件7的光检测信号进行放大、A/D变换等所需的处理，处理后的信号送往上述控制运算部15。

该控制运算部15设有存储部65，在该存储部65中存入进行伴随距离测定的运算的测距运算程序和用以进行测定的顺序控制程序等程序，另外，上述存储部65还存储来自上述光检测元件7的光检测信号的随时间光量变化和测定中数据等。

上述控制运算部15根据上述顺序控制程序，向上述第1回转电动机36用的第1电动机控制部66、上述第2回转电动机52用的第2电动机控制部67发出控制信号，上述第1电动机控制部66控制上述第1回转电动机36的旋转与停止，上述第2电动机控制部67控制上述第2回转电动机52的旋转与停止。

上述第1编码器38检测上述反射镜支架44的旋转角，送往上述控制运算部15，另外，上述第2编码器58检测上述基准反射棱镜55的旋转角，送往上述控制运算部15。

以下就测定动作进行说明。

上述发光元件1通过上述发光驱动电路12以一定的频率进行强度调制并发光，射出测距用的激光束。来自上述发光元件1的激光束由上述聚焦透镜59聚焦在上述射出用光纤61的入射端。引向该射出用光纤61的激光束，从射出端作为上述测距光22射出，该测距光22由上述偏转反射镜62反射到上述聚焦透镜48的光轴上，进而在该聚焦透镜48上聚焦，入射到上述反光镜45，由该反光镜45偏转，以上述投射窗28所要求的发散角在水平方向照射。

在上述测距光22射出且上述基准面形成用激光束21射出的状态下，上述第1回转电动机36被驱动，经过上述第1驱动齿轮37、上述第1旋转齿轮35使上述五棱镜42、上述反光镜45旋转，透过上述投射窗28回转照射上述基准面形成用激光束21、上述测距光22，或者至少用上述基准面形成用激光束21和上述测距光22旋转扫描测定对象物存在的测定区域。

还有，在进行距离测定的状态、即照射上述测距光22的状态下，用上述第2回转电动机52使上述基准反射棱镜55旋转，使该基准反射棱镜55成为处于偏离测定对象物的方向即测距方向的状态，另外，使上述第2回转电动机52停止，并使上述基准反射棱镜55保持在不影响测定的预定位置上。

还有，在有多个测定对象物，上述基准反射棱镜55保持在预定位置就会妨碍测定时，也可配合上述反光镜45的旋转而使上述基准反射棱镜55旋转，以避免测定方向与该基准反射棱镜55的位置处于重叠的状态。就是说，由于上述测定对象物所在的方向可通过上述第1编码器38检测，预先进行旋转扫描而求出测定对象物的位置，可根据来自上述第2编码器58的检测结果，使上述基准反射棱镜55移动到偏离于测定方向的位置上。

回转照射上述测距光22，该测距光22通过测定对象物，从而上述测距光22被测定对象物反射。测定对象物所反射的反射测距光22’入射到上述反光镜45，由该反光镜45反射，并由上述聚焦透镜48聚焦，从入射端面入射到上述光检测用光纤63。从该光检测用光纤63射出的上述反射测距光22’经上述聚焦透镜64聚焦后，由上述光检测元件7检测。来自该光检测元件7的光检测信号经放大、A/D变换等之后，被送往上述控制运算部15，经过该控制运算部15之后存入上述存储部65。

另外，通过回转照射上述测距光22，该测距光22也通过上述基准反射棱镜55，在通过的过程中被基准反射棱镜55反射，被反射的激光束再被上述反光镜45反射，经过上述聚焦透镜48、上述光检测用光纤63，作为内部参考光22″被上述光检测元件7检测。

此时，经由上述射出用光纤61、上述反光镜45、上述基准反射棱镜55、上述反光镜45、上述光检测用光纤63而到达上述光检测元件7的光路形成内部参考光路。另外，该内部参考光路的长度为设计值或通过实测而知的值。

来自上述光检测元件7的光检测信号被输入上述光检测电路13，该光检测电路13对关于上述反射测距光22’、上述内部参考光22″的光检测信号进行放大、A/D变换等所要的处理，处理后的信号被送到上述控制运算部15，经过该控制运算部15的处理后存入上述存储部65。上述控制运算部15，用存入上述存储部65的测距运算程序，根据该存储部65存储的光检测信号，计算出上述反射测距光22’和上述内部参考光22″的相位差，并根据算出的相位差和光速计算到达测定对象物的距离。

接着，参照图4(A)、4(B)说明上述反射测距光22’和上述内部参考光22”。

如上所述，在本发明中回转照射上述测距光22，或往复扫描预定范围来进行距离测定。例如，在回转照射上述测距光22的场合，在只有一个测定对象物时，通过将上述反光镜45旋转一圈，也就是将上述测距光22旋转一圈，上述光检测元件7检测一个来自测定对象物的上述反射测距光22’和一个上述内部参考光22″。

如上所述，在上述基准反射棱镜55的反射面上设置上述振幅滤光片56，上述测距光22在水平方向穿越上述基准反射棱镜55的过程中，上述测距光22同样穿越上述振幅滤光片56。该振幅滤光片56在水平方向上浓度逐渐变化，透过该振幅滤光片56的上述内部参考光22″的光量逐渐变化。另外，设定该内部参考光22″的光量变化量，使得它与来自处于近距离的测定对象物的反射测距光22’的光量和来自处于远距离的测定对象物的反射测距光22’之间的光量变化相等，或具有该量以上的大小。具体地说，可将上述内部参考光22″的光量变化量设为光检测部的动态范围内的最大，或者也可设定为处于动态范围内。

图4(A)，图4(B)表示上述光检测元件7的光检测信号，图中，71表示检测上述内部参考光22″而得到的参考信号，72表示检测上述反射测距光22′而得到的测距信号(外部信号)。

上述参考信号71分割为所要强度级。例如，如图4(B)所示，该参考信号71被分成5个强度级L1、L2、L3、L4和L5，另外，分割为与强度级L1、L2、L3、L4和L5对应的Z1、Z2、Z3、Z4和Z5等5个区。

在上述参考信号71中，提取并生成为具有与强度级1一致的光量的那部分光检测信号作为内部参考光Ref1、具有与强度级2一致的光量的那部分光检测信号作为内部参考光Ref2、具有与强度级3一致的光量的那部分光检测信号作为内部参考光Ref3、具有与强度级4一致的光量的那部分光检测信号作为内部参考光Ref4、具有与强度级1一致的光量的那部分光检测信号作为内部参考光Ref5，并存入上述存储部65。

上述控制运算部15根据上述光检测元件7送来的光检测信号计算上述反射测距光22′的检测光量，并从存入上述存储部65的多个(在图4中为5个)内部参考光Ref中选择与上述反射测距光22′所具有的光量对应的内部参考光Ref。

例如，在上述反射测距光22′的检测光量在比强度级L1大，比强度级L2小的区域Z2时，作为内部参考光Ref，选择内部参考光Ref2的光检测信号，根据该内部参考光Ref2的光检测信号和上述测距信号72，计算相位差，进而根据相位差和光速算出距离。

由于内部参考光Ref2的光检测信号与上述测距信号72的检测光量一致或大致一致，不会由于参考光和测距光的检测光量不同而产生测定误差。

此外，具有与上述反射测距光22′对应的光量的内部参考光Ref的选择，通过对记录于上述存储部65的数据的信号处理进行。因而，由于没有伴随内部参考光和测距光的光路切换、浓度滤光片的光量调整等的机械动作，距离测定能极高速地进行。

因而，能满足用回转照射的测距光进行的距离测定等高速测定的要求。另外，根据来自上述第1编码器38的角度信号，在测定对象物侧求出距离数据和角度数据，再用基准面形成用激光束求出仰角，便可检测出位置。

如上所述，在本发明中，上述内部参考光22″通过旋转的上述基准反射棱镜55反射求出。因此，在支持上述基准反射棱镜55的旋转机构上，有时会包含零件精度、装配精度等原因造成的误差。

图5示意表示因上述基准反射棱镜55的旋转位置变化造成的误差。

图中，73表示在假定旋转机构没有造成误差的情况下，上述基准反射棱镜55旋转时该基准反射棱镜55反射面的基准轨迹，基准轨迹假定为真圆。另外，图中，74表示旋转机构有误差的情况下上述基准反射棱镜55的反射面的轨迹。上述基准轨迹73和上述轨迹74之间的差便是误差R。另外，为方便起见上述轨迹7 4表示为椭圆。

上述误差R表现为内部参考光路长度的误差，成为测定误差，因此，在实施高精度测定的场合，根据误差R修正测定结果。

另外，上述轨迹74的轨迹是所需要的手段，例如，通过实测求出取得与上述基准反射棱镜55的旋转位置9和该基准反射棱镜55的反射面的误差R对应的数据。上述旋转位置θ通过上述第2编码器58测定，例如测定每步15°的误差，制作图6所示的数据表，并将该数据表存储在上述存储部65中。

因而，根据上述第2编码器58的角度信号检测取得上述参考信号71(参见图4)时的上述基准反射棱镜55的旋转位置，由上述数据表取得与所检测的角度对应的误差R，根据上述误差R修正算出的测定距离。另外，所取得的误差R，例如，假设在0°～15°为R1、15°～30°为R2等，也可以按区域判断旋转位置来求出误差R。另外，例如，对于0°～15°之间的旋转位置误差R，也可以按比例分配R1和R2来求出误差R。

另外，在上述实施例中，可以固定上述测距光22的照射方向，驱动上述第2回转电动机52，转动上述基准反射棱镜55，使之横截上述测距光22。

另外，在只有1个测定对象物时，也可省去回转照射上述测距光22的功能，只让上述基准反射棱镜55旋转，或者也可以使该反射棱镜55滑动而横截上述测距光22。另外，距离测定方式，既可为相位差方式，也可为时间差方式。

产业上利用的可能性

依据本发明，由于设有：光发射部，使测距光照射测定对象物；基准反射部，设置得可以相对移动以横截所照射的测距光并处于已知位置；光检测部，将来自上述测定对象物的反射光作为反射测距光，将来自上述基准反射部的反射光作为内部参考光进行检测；以及控制运算部，根据涉及上述反射测距光的光检测信号和涉及上述内部参考光的光检测信号算出到测定对象物的距离，所以没有测距光和上述内部参考光的机械光路切换，因此，可进行高速测距。

另外，依据本发明，由于在设置上述基准反射部的光路上，设置使上述内部参考光的光量发生变化的光量调整部件，可以得到与反射测距光的光量相应的上述内部参考光，因此，可提高测定可靠性。

另外，依据本发明，由于上述测距光扫描至少包含测定对象物的测定区域，上述基准反射部位于扫描范围内，且配置在不干涉来自测定对象物的反射光的位置上，因此，能够在扫描测距光的过程中进行测距，可望测定的高速化。

另外，依据本发明，上述控制运算部可以根据检测光量变化的光检测信号，生成与多个检测光量强度对应的多个内部参考基准，选择对应于反射测距光光量的内部参考基准，根据所选择的内部参考基准和上述反射测距光的光检测信号计算到达测定对象物的距离，故可望测定的高速化，使在测距光扫描过程中实时地测量到测定对象物的距离成为可能。

另外，若采用本发明，由于上述基准反射部由可以相对于上述测距光移动的上述基准反射部的移动机构部支持，该移动机构部使上述基准反射部保持在偏离于测定方向的位置上移动，故上述基准反射部的存在不会妨碍测定作业。

另外，若采用本发明，由于上述移动机构部具有检测上述基准反射部位置的位置检测装置，上述控制运算部具有对应于上述基准反射部的位置的误差数据，上述光检测部能够根据与检测内部参考光时上述基准反射部的位置对应的误差修正测定结果，故高精度的测定成为可能。

Claims (10)

1.一种距离测定装置，设有：光发射部，在整个圆周旋转照射测距光或往复扫描预定范围；基准反射部，处于已知位置，同时设置成能够与所旋转照射的测距光的旋转中心同心旋转且设置成由该测距光横截；光检测部，将来自测定对象物的反射光作为反射测距光并将来自所述基准反射部的反射光作为内部参考光检测进行检测；以及控制运算部，根据涉及所述反射测距光的光检测信号和涉及所述内部参考光的光检测信号计算到测定对象物的距离，

在所述测距光旋转照射进行距离测量的状态，所述基准反射部旋转到从测距方向偏离的位置。

2.权利要求1所述的距离测定装置，其特征在于，在设有所述基准反射部的光路上，设置使所述内部参考光的光量改变的光量调整部件。

3.权利要求2所述的距离测定装置，其特征在于，所述光量调整部件是在测距光穿越的方向上浓度逐渐变化的滤光片。

4.权利要求2或3所述的距离测定装置，其特征在于，所述光量调整部件与所述基准反射部一体地设置。

5.权利要求1所述的距离测定装置，其特征在于，所述测距光至少扫描包含测定对象物的测定区域，所述基准反射部配置在位于扫描范围内又不干涉来自测定对象物的反射光的位置上。

6.权利要求2所述的距离测定装置，其特征在于，所述控制运算部根据检测光量变化的光检测信号，生成与多个检测光量等级对应的多个内部参考基准，并选择与反射测距光的光量对应的内部参考基准，根据所选择的内部参考基准和所述反射测距光的光检测信号计算至测定对象物的距离。

7.权利要求3所述的距离测定装置，其特征在于，检测光量的变化通过测距光穿越滤光片而得到。

8.权利要求1所述的距离测定装置，其特征在于，所述基准反射部由使所述基准反射部对所述测距光相对移动的移动机构部支持，该移动机构部保持所述基准反射部在偏离于测定方向的位置上移动。

9.权利要求8所述的距离测定装置，其特征在于，所述移动机构部设有检测所述基准反射部位置的位置检测装置，所述控制运算部具有与所述基准反射部的位置对应的误差数据，根据所述光检测部检测到内部参考光时的与所述基准反射部的位置对应的误差来修正测定结果。

10.权利要求1所述的距离测定装置，其特征在于，所述光发射部设有：偏转光学部件，使测距光偏转而照射到测定方向；回转部，保持并转动该偏转光学部件；基准反射棱镜，设置成可与该回转部的旋转中心同心地自由旋转；以及回转驱动部，独立于所述偏转光学部件地转动该基准反射棱镜。

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