CH421530A - Mehrzweckkontrollehre für Innenmikrometer mit drei Messpunkten - Google Patents

Mehrzweckkontrollehre für Innenmikrometer mit drei Messpunkten

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CH421530A
CH421530A CH656265A CH656265A CH421530A CH 421530 A CH421530 A CH 421530A CH 656265 A CH656265 A CH 656265A CH 656265 A CH656265 A CH 656265A CH 421530 A CH421530 A CH 421530A
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CH
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CH656265A
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Cho Antonio
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Cho Antonio
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/18Micrometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/08Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring diameters
    • G01B5/12Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring diameters internal diameters

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  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)

Description


  
 



  Mehrzweckkontrollehre für Innenmikrometer mit drei Messpunkten
Die bisherigen Kontrollehren für Innenmikrometer mit drei Messpunkten waren durchgehende Kontrollringe. Dabei waren folgende Nachteile in Kauf zu nehmen:
Damit sich der Kontrollring nicht verzieht, muss er sehr dickwandig hergestellt werden; so wird er aber auch sehr schwer.



   Für je zwei Mikrometer mit angrenzenden Messbereichen benötigt man zur zuverlässigen Kontrolle mindestens einen   Kontrollring ;    das bedingt also für einen ganzen Satz Messgeräte eine grosse Anzahl Kontrollringe, die insgesamt nicht nur sehr schwer sind, sondern auch viel Platz beanspruchen. Da die genaue Bearbeitung solcher Messringe relativ schwierig ist, verteuert sich ihre Herstellung. Zusammen mit der grossen Anzahl der nötigen Lehren ergibt sich hier ein beträchtlicher Kostenpunkt.

   Dieser Aufwand wäre aber insofern überflüssig, als zur Kontrolle eines Dreipunktmessgerätes eigentlich kein durchgehender Ring nötig ist, sondern eben nur drei Punkte; abgesehen vom Ungenauigkeitsfaktor, der in einem durchgehenden Ring insofern auftritt, als er an jeder Stelle seines Umfanges gleich genau bearbeitet sein müsste, da die drei Messpunkte des Mikrometers beliebig angesetzt werden können. Schliesslich kann mit einem Ring auch nicht festgestellt werden, ob die Messlinien der Messtaster auf der Messfläche plan aufliegen oder verkantet und ob dieselben rechtwinklig zum Messboden stehen.



   Um diese Nachteile zu beseitigen, wurde der neue Erfindungsgegenstand entwickelt, der nun kein Kon  trollring    mehr ist, sondern ein der Dreipunktmessung adäquates Messpunktsystem, das folgende besondere Merkmale aufweist: die Mehrzweckkontrollehre besteht aus einer einzigen ebenen Messplatte mit mehreren Gruppen von je drei aufeinander bezogenen Messsäulen, die alle in der Richtung der jeweiligen Tasterspitzen des Innenmikrometers je eine plan geschliffene und zu der Messplatte senkrecht stehende Messfläche aufweisen. Die Messsäulen liegen dabei so, dass sie gruppenweise verschiedene Messdreiecke bilden, die ineinander so versetzt angeordnet sind, dass die in deren Ecken befindlichen Messsäulen den Messarmen der verschieden grossen Innenmikrometer, die damit geprüft werden können, nicht im Wege stehen.



   Mit diesem Prinzip wurden sämtliche Mängel der bisherigen Kontrollringe ausgemerzt. Gewicht, Raum und Anzahl der vielen teuren Lehren aller Stufen wurden auf eine einzige Lehre reduziert, mit der die Geräte aller Messbereiche kontrolliert werden können. Die genaue Bearbeitung beschränkt sich nun allein auf je drei Messpunkte jedes Messbereiches.



  Diese Genauigkeit ist relativ einfach zu erreichen. Die beiliegende Zeichnung veranschaulicht eine Beispielausführung des Erfindungsgegenstandes. Es zeigt:
Fig. 1 eine komplette Mehrzweckkontrollehre ohne Anschlagstift,
Fig. 2 Stellung der Messsäule in grösserem Massstab,
Fig. 3 Schaubild der Messsäule in grösserem Massstab,
Fig. 4 Schaubild eines Verstellschlüssels in grösserem Massstab,
Fig. 5 Innenmikrometer mit höchstem Messbereich in Prüfstellung,
Fig. 6 Innenmikrometer mit mittlerem und kleinerem Messbereich in Prüfstellung.



   Die Mehrzweckkontrollehre besteht aus einer in Dreieckform ausgebildeten Messplatte 1, die eine Anzahl Messsäulen 2 fest verbindet. In der Zeichnung sind deren acht vorgesehen für drei Gruppen  von je zwei Innenmikrometern. Ein Kontrollmass ist immer für zwei Innenmikrometer mit angrenzendem Messbereich verwendbar; es können z. B. die beiden Innenmikrometer mit den Messbereichen   °    150 bis    250 und ° 250 bis 350 mm mit demselben Kontrollmass °) 250 geprüft werden.   



   Das abgebildete Gerät reicht für die Kontrolle von sechs Mikrometern, also für zwei grosse, zwei mittlere und zwei kleine. Alle Messsäulen weisen in Richtung der jeweiligen Tasterspitzen des zu messenden Innenmikrometers je eine plan geschliffene und zu der Messplatte 1 senkrecht stehende Messfläche 9 auf. Die Messsäulen 2 sind je mit zwei Gewindebohrungen 8 auf der Messplatte in zwei Senklöchern festgeschraubt. Eine von je drei zusammengehörenden Messsäulen 2 ist gegen den Mittelpunkt des Messdreieckes verstellbar angeordnet. In der Mitte der Messsäule 2 befindet sich eine Bohrung 7. Zwischen den zwei ovalen Senklöchern 11 in der Messplatte 1 befindet sich ein Langloch 10.



   Die Kontrollehre wird folgendermassen montiert: Für jede Gruppe werden vorerst je zwei Messsäulen an der ihnen zugeordneten Stelle verschraubt, alsdann wird das entsprechende Endmass auf die Messplatte gelegt, und darnach die dritte verstellbare Messsäule dem Endmass angepasst festgemacht. So kommt die Herstellung der Kontrollehre nicht nur bilIig zu stehen, sondern leicht ist auch höchste Genauigkeit zu erreichen, weil die Lehre mit Sicherheit auf das   Nennmass    + 0 fein einstellbar ist. Zum Feinverstellen der Messsäule 2 dient ein Schlüssel 6 mit einem darauf exzentrisch angebrachten Zapfen 5.



  Der Schlüssel wird in das Loch 7 in der Messsäule 2 eingeführt, wobei der Zapfen 5 in das Langloch 10 der Messplatte eingreift. Durch Drehen des Schlüssels kann, infolge der exzentrischen Lage des Schlüsselzapfens, eine ganz feine Verschiebung der Messsäule zur Anpassung an das Endmass bis zum Nennmass  + 0 erreicht werden.



   Die einzelnen Messdreiecke, die je verschiedene Messbereiche umfassen, sind ineinander so versetzt angeordnet, dass die in deren Ecken befindlichen Messsäulen 2 den Messarmen 17 der verschieden grossen   Innenmikrometer,    die damit geprüft werden können, wie in Fig. 5 und 6, nicht im Wege stehen.



  Die Messflächen 9 der Messsäulen 2 können statt plan auch nach innen gekrümmt sein, wobei ihr Krümmungsradius dem Radius des zu messenden Kreises entspricht.



   Um Messfehler zu vermeiden, muss bei der Prü  fung    des Innenmikrometers stets die Scheitellinie der gekrümmten Messfläche der einzelnen Taster auf die plane Messfläche 9 der Messsäule 2 treffen; dazu ist für jedes Innenmikrometer neben dessen Messarmen
17 bzw. Messtaster 12 je eine Anschlagvorrichtung  (3, 4) in Form eines Stiftes oder dgl. auf der Mess platte 1 angebracht.   

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH Mehrzweckkontrollehre für Innenmikrometer mit drei Messpunkten, dadurch gekennzeichnet, dass sie aus einer einzigen ebenen Messplatte (1) mit mehre ren Gruppen von je drei aufeinander bezogenen Messsäulen (2) besteht, die alle in der Richtung der jeweiligen Tasterspitzen des Innenmikrometers je eine plan geschliffene und zu der Messplatte senkrecht stehende Messfläche (9) aufweisen, wobei die Mess säulen (2) so liegen, dass sie gruppenweise verschie dene Messdreiecke bilden, die ineinander so versetzt angeordnet sind, dass die in deren Ecken befindlichen Messsäulen (2) den Messarmen (17) der verschieden grossen Innenmikrometer, die damit geprüft werden können, nicht im Wege stehen.
    UNTERANSPROCHE 1. Mehrzweckkontrollehre für Innenmikrometer nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass jeweils eine von je drei zusammengehörenden Mess säulen (2) gegen den Mittelpunkt des Messdreieckes verstellbar angeordnet ist.
    2. Mehrzweckkontrollehre für Innenmikrometer nach Patentanspruch und Unteranspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zum Verstellen der Messsäule (2) ein mit exzentrischen Zapfen (5) versehener Schlüssel (6) mit der Bohrung (7) der Säule (2) und dem Langloch (10) der Messplatte (1) in Wirkungs verbindung steht.
    3. Mehrzweckkontrollehre für Innenmikrometer nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die Messfläche (9) der Säule (2), statt plan, nach in nen gekrümmt sein kann, wobei ihr Krümmungsra dius dem Radius des zu messenden Kreises entspricht.
    4. Mehrzweckkontrollehre für Innenmikrometer nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass für jedes Innenmikrometer neben dessen Messarm (17) oder Messtaster (12) je eine Anschlagvorrich tung (3, 4) auf der Messplatte (1) angebracht ist, da mit stets die Scheitellinie der Messtasterbolzen (12) auf die plane Messfläche (9) der Messsäule (2) trifft.
CH656265A 1965-05-10 1965-05-10 Mehrzweckkontrollehre für Innenmikrometer mit drei Messpunkten CH421530A (de)

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CH421530A true CH421530A (de) 1966-09-30

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108871153A (zh) * 2017-05-12 2018-11-23 帅钢模架(苏州)有限公司 一种内径千分尺校正块

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DE1548293A1 (de) 1969-08-21

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