CH379791A

CH379791A - Photoelektrischer Belichtungsmesser mit Lichtstrahlenbegrenzer

Info

Publication number: CH379791A
Application number: CH814060A
Authority: CH
Inventors: Ploke Martin Ing Dr
Original assignee: Zeiss Ikon Ag
Priority date: 1959-08-01
Filing date: 1960-07-15
Publication date: 1964-07-15
Also published as: DE1166500B

Description

Photo elektrischer Belichtungsmesser mit Lichtstrahlenbegrenzer
Photoelektrische Belichtungsmesser werden bekanntlich mit einem Lichtstrahlenbegrenzer versehen, um unerwünschtes Nebenlicht auszuschalten und der Photozelle nur das von dem aufzunehmenden Objekt bzw. das aus seiner näheren Umgebung ausgehende Licht zuzuführen. Für diesen Zweck benutzt man beispielsweise Linsenraster, Stegraster, aber auch Linsen oder Linsenraster in Verbindung mit Blenden.

Bei der Dimensionierung des Strahlenbegrenzers muss zwischen zwei einander widersprechenden Forderungen ein Kompromiss geschlossen werden. Einerseits ist man bestrebt, der Photozelle möglichst viel Licht zuzuführen, um ein unempfindliches, robustes Anzeigeinstrument verwenden zu können. Dies führt dazu, dass auch Licht von Objekten ausserhalb der Bildszene zur Messung mit herangezogen wird.

Anderseits darf der Neigungswinkel der vom Strahlenbegrenzer durchgelassenen Lichtstrahlen nicht er heblich den Bildwinkel des Objektivs überschreiten, damit keine ins Gewicht fallende Verfälschung durch Gegenlicht oder ausserhalb der Szene befindliche Lichtquellen eintritt. Die Wirkung der bisher zu diesem Zweck getroffenen Massnahmen wird an Hand der Fig. 1 der beiliegenden Zeichnung erläutert, welche die Lichtdurchlässigkeit des Begrenzers in Abhängigkeit vom Neigungswinkel der einfallenden Lichtstrahlen wiedergibt.

Dargestellt sind Kurven für die Winkelverteilung des Durchlassvermögens in horizontaler und vertikaler Richtung, und zwar für eine bestimmte technische Ausführungsform mit den Grenzwinkeln al und ssl (Kurven 1) und für einen vielfach als ideal angesehenen Begrenzer (Kurven 2), dessen Durchlassvermögen innerhalb der Bildwinkel a, ss des Kameraobjektivs 1000/o, für grössere Winkel jedoch Null ist. Der Figur ist auch die relative Lage des Bildfeldes 3 der Kamera zu dem vom Belichtungsmesser erfassten Umfeld 4 zu entnehmen. Die bekannten Belichtungsmesser sind meist so eingerichtet, dass das Bildfeld 3 etwa symmetrisch innerhalb des zur Belichtungsmessung herangezogenen Umfeldes 4 gelegen ist.

Die Praxis hat gezeigt, dass eine Durchlasscharakteristik nach Art der Kurven 2 in Fig. 1 keineswegs in allen Fällen eine den Erwartungen entsprechende Belichtung der Aufnahme gewährleistet. Als Beispiel sei in Fig. 2 eine Landschaftsszene mit und ohne einen dunklen Gegenstand im Vordergrund, z. B. ein Fahrzeug, angeführt. Angenommen, es stehen für die Messung zwei Belichtungsmesser I und II mit Durchlasscharakteristiken entsprechend Kurven 1 und 2 zur Verfügung. Belichtungsmesser I misst die vom Kameraobjektiv erfasste Bildszene 3' einschliesslich dem Umfeld 4', während Belichtungsmesser II auf die Bildszene allein anspricht. Ohne das dunkle Fahrzeug liefern die Belichtungsmesser I und II annähernd die gleiche Anzeige, mit Fahrzeug zeigt jedoch Belichtungsmesser II einen niedrigeren Messwert als I an.

Mit Belichtungsmesser I kann man somit eine tonwertrichtige Aufnahme der Landschaft erreichen, wobei das dunkle Fahrzeug falsch belichtet wird, während die niedrigere Anzeige des Belichtungsmessers II zu einer Falschbelichtung der Landschaft, jedoch zu einer verbesserten Wiedergabe des Fahrzeuges führt. Insbesondere bei der Kinematographie ist man nun häufig daran interessiert, bei wechselndem Vordergrund eine schwankende Tonwiedergabe des Hintergrundes zu vermeiden. Für diese Anwendung ist Belichtungsmesser I dem Belichtungsmesser II vorzuziehen. Es ergibt sich somit, dass bei der Belichtungsmessung auf die Mitwirkung des Umfeldes nicht nur wegen des besseren Lichteinfangvermögens des Belichtungsmessers, sondern auch mit Rücksicht auf konstante Belichtung des Bildhintergrundes nicht verziclltet werden kann.

Anderseits lassen sich Beispiele für Aufnahmeobjekte angeben, bei denen das Umfeld eine Fehlbelichtung verursachen kann, so dass der Grad der Mitwirkung des Umfeldes keinesfalls zu hoch werden darf. Das ist z. B. dann der Fall, wenn sich im Umfeld starke Lichtquellen oder die Sonne befinden.

Insbesondere bei Gegenlicht sind deshalb Fehlbelichtungen zu erwarten, wenn Belichtungsmesser mit Durchlasskurven entsprechend Kurven 1 und 2 nach Fig. 1 benutzt werden. Die bekannten Belichtungsmesser liefern bei Gegenlicht häufig einen zu grossen Messwert, der zu einer Unterbelichtung des Vordergrundes bzw. der interessierenden Bildteile führt.

Man hilft sich in der Praxis vielfach in der Weise, dass man bei Gegenlicht die Blende des Kameraobjektivs um eine Stufe weiter öffnet als der Anzeige des Belichtungsmessers entspricht. Dem Benutzer der Belichtungsmesser wird auch vielfach empfohlen, den Belichtungsmesser bei hellem Himmel nach unten zu neigen, um bildwichtige Teile des Vordergrundes einwandfrei zu messen. Es leuchtet ein, dass diese Methoden z. B. bei Filmkameras oder Kameras mit automatischer Blendenverstellung durch den Belichtungsmesser nicht mehr anwendbar sind.

Hier setzt nun die Erfindung ein, gemäss welcher der Lichtstrahlenbegrenzer für einen Belichtungsmesser derart gestaltet ist, dass der Winkel des auf die Photozelle auffallenden Strahlenbüschels, bezogen auf die horizontale Mittellinie des aufzunehmenden Objektausschnittes, unsymmetrisch begrenzt ist, ohne innerhalb dieses Winkels auch nur gebietsweise lichtsperrend zu wirken.

Bekanntlich gelangt das Gegenlicht von schräg oben in das Objektiv und ist höchstens bis zur Bildmitte meist nur im oberen Teil des Bildumfeldes wirksam. Infolgedessen wird der Strahlenbegrenzer zweckmässig derart ausgebildet, dass seine obere Begrenzung einer Linie entspricht, die zwischen der horizontalen Mittellinie des aufzunehmenden Objektausschnittes und der dazu parallelen oberen Begrenzung liegt. Die obere Begrenzung kann auch in den oberen Teil des Umfeldes des aufzunehmenden Ausschnittes gelegt werden. Ein Belichtungsmesser mit einem Strahlenbegrenzer der angegebenen Art besitzt somit die Eigenschaft, auch bei Gegenlichtaufnahmen noch eine einwandfreie Belichtung bildwichtiger Teile des Aufnahmeobjektes zu gewährleisten, ohne dabei die vorteilhaften Eigenschaften eines Belichtungsmessers, der zusätzlich Licht aus dem Umfeld verwertet, zu verlieren.

Derartige Strahlenbegrenzer besitzen zweckmässig eine Durchlasscharakteristik gemäss Fig. 3.

Fig. 3a zeigt die Winkelverteilung des Durchlassvermögens in horizontaler Richtung, Fig. 3b in vertikaler Richtung, während Fig. 3c die relative Lage des Bildfeldes 3 des Kameraobjektivs zum Durchlassbereich 4 des Lichtbegrenzers wiedergibt. Vorzugsweise soll die Bedingung ss2 < ss innegehalten werden, das heisst die obere Kante des Durchlassbereiches des Lichtbegrenzers soll zwischen der Bildmitte und der oberen Bildkante liegen (Kurven 1 in Fig. 3b).

Zweckmässig soll der Hauptabfall der Durchlasscharakteristik im Bereich zwischen Bildmitte und oberen Bildkante oder in der Nähe der oberen Bildkante erfolgen (Kurve 2 in Fig. 3b). Dies kann dadurch erreicht werden, dass das Strahlenbüschel innerhalb des Begrenzungswinkels derart geschwächt wird, dass der Hauptabfall der Durchlasscharakteristik in den Bereichen zwischen Bildmitte und oberer Bildbegrenzungskante liegt.

Photoelektrische Belichtungsmesser mit einem Lichtstrahlenbegrenzer mit den vorgeschlagenen Eigenschaften lassen sich auf verschiedene Weise realisieren. Eine besonders einfache beispielsweise Ausführungsform für den Lichtstrahlenbegrenzer stellt das Stegraster dar, das Fig. 4a im Vertikalschnitt, Fig. 4b in Ansicht zeigt. Dieses Stegraster weist schräg gestellte Stege 5 auf. Eine Photozelle 6 erhält durch das Stegraster hindurch Licht, das z. B. in den zwei Einfallsrichtungen gemäss den Pfeilen 7 und 8 eintritt.

Lichtstrahlen in Richtung des Pfeils 7 ist der Weg zur Photozelle 6 durch die schrägen Stege 5 gesperrt, während Strahlen in Richtung des Pfeils 8 bis zu einem Grenzneigungswinkel, der ebenfalls durch die gewählte Gestaltung des Stegrasters festgelegt wird, die Photozelle erreichen können, so dass das Gesamtverhalten dieses Stegrasters eine Charakteristik besitzt, wie sie in Fig. 12 wiedergegeben ist.

Anstelle eines Stegrasters kann auch ein Raster mit zylindrischen Bohrungen benutzt werden, deren Achsen im Sinne der angestrebten Durchlasscharakteristik geneigt sind. Das Raster besteht in beiden Fällen zweckmässig aus einem durchsichtigen Werkstoff, vorzugsweise Kunststoff, mit gegebenenenfalls durchsichtigen Stegen, während die durch das Raster gebildeten, einzelnen Kanäle lichtabsorbierende Flächen besitzen.

Derartige Stegraster besitzen neben den erwähnten Vorteilen den aus Fig. 12 ersichtlichen Nachteil, dass das Durchlassvermögen für die schräg von oben kommenden Lichtstrahlen mit zunehmendem Neigungswinkel nur allmählich abnimmt. In vielen Fällen wird ein Durchlassvermögen des Strahlenbegrenzers angestrebt, das in Abhängigkeit des Einfallwinkels etwa den aus Fig. 11 ersichtlichen Verlauf nimmt. Dies wird z. B. bei einem auf einer durchsichtigen Platte aufgebrachten Parallel-Prismen Raster dadurch erreicht, dass das Prismenraster auf der dem einfallenden Licht abgewandten Seite des der Photozelle vorgeschalteten Strahlenbegrenzers angeordnet wird.

Es ist zwar bekannt, zur Strahlenbegrenzung Prismenraster zu benutzen (DRP. Nr. 723565). Diese Prismenrasterscheiben sperren zwar in einzelnen Winkelbereichen das einfallende Strahlenbüschel.

Diese Bereiche werden jedoch von solchen überschnitten, in denen keine Totalreflexion auftritt, so dass die angestrebte scharfe Trennung damit nicht erzielt werden kann. Der Grund für diese Erschei nung liegt in der Tatsache, dass das Prismenraster sich auf der dem Lichteinfall zugewandten Seite der Rasterplatte befindet.

Ein Ausführungsbeispiel eines Strahlenbegrenzers, bei dem sich das Prismenraster auf der dem Lichteinfall abgewandten Seite befindet, ist in Fig. 5 dargestellt. Er besteht aus einer durchsichtigen Kunststoffplatte 9 mit auf ihrer Rückseite aufgeprägten Prismenflächen 10 und 11. Die Neigung der Fläche 10 ist so gewählt, dass ein in der Pfeilrichtung 12 einfallender Lichtstrahl von ihr total reflektiert und an der zweckmässig mit einem lichtabsorbierenden Material belegten Fläche 11 absorbiert wird. Weniger geneigte Strahlen erfahren an der Fläche 10 keine Totalreflexion und treffen daher auf die nachgeschaltete Photozelle auf. Die von schräg unten in Richtung des Pfeils 13 einfallenden Strahlen können das Raster ebenfalls ungehindert durchsetzen und auf die Photozelle gelangen.

So erhält man die Durchlasscharakteristik a in Fig. 11, die je nach der Neigung der Fläche 11 in Fig. 5 eine Abänderung etwa im Sinne des Linienzuges b in Fig. 11 erfährt.

Da die Totalreflexion bekanntlich bei einem scharf definierten Grenzwinkel eintritt, der allein durch den Brechzahlsprung an der Lichtaustrittsseite des Materials bestimmt ist, erhält das Prismenraster die Eigenschaft, die Lichtstrahlen mit unerwünschten Neigungswinkeln vor Auftreffen auf die Photozelle abzusondern, wobei der Grenzneigungswinkel nach den dargelegten Gesichtspunkten frei gewählt werden kann. Um auch den Neigungswinkel der von der Seite und von unten her einfallenden Lichtstrahlen in ähnlicher Weise zu begrenzen, können mehrere Parallel-Prismen-Raster mit unterschiedlicher Orientierung hintereinandergeschaltet sein.

Eine für die Praxis oft ausreichende Lösung ergibt sich z. B. jedoch schon, wenn die Winkel der seitlich und von unten her einfallenden Strahlen durch die bisher üblichen Raster begrenzt werden.

Fig. 6 zeigt ein Ausführungsbeispiel dieser Art. Danach besteht der der Photozelle 6 vorgeschaltete Strahlenbegrenzer aus einer Deckplatte 14, einer durchsichtigen Platte 15 mit den Parallelbohrungen 16, deren Innenwände zweckmässig geschwärzt sind, und einer Prismen-Raster-Platte 9 mit den im Zusammenhang mit Fig. 5 erläuterten Merkmalen.

Eine bauliche Vereinfachung kann dadurch erzielt werden, dass die Platte 15 mit den Parallelbohrungen mit der Prismen-Raster-Platte zu einer einzigen vereinigt wird. Anstelle der Parallelbohrungen kann auch ein Parallelraster bekannter Art benutzt und mit der Prismen-Raster-Platte zu einer Einheit vereinigt werden, wie im Beispiel nach Fig. 7 dargestellt. Die Platte 9' ist auf der Lichteinfallseite mit den Einschnitten 17 und 18 versehen, während auf der Lichtausfallseite das Prismenraster mit den unterschiedlich geneigten Flächen 10 und 11 angebracht ist.

Das in Fig. 8 dargestellte Ausführungsbeispiel weist den Linsenraster 19, die Begrenzungsscheibe 20 mit parallelen Bohrungen 21 und die Platine 22 mit korrespondierenden Rechteckausbrüchen 23 auf, hinter der sich die Photozelle 6 befindet. Die einzelnen Linsen des Linsenrasters entwerfen in der Ebene der Platine reelle Bilder der aufzunehmenden Bildszene. Die Rechteckausbrüche 23 sind so angeordnet, dass sie aus den reellen Bildern jeweils Bild ausschnitte entsprechend dem Umfeld 4 in Fig. 3 ausblenden. Die Rechteckausbrüche liegen dann exzentrisch zu der optischen Achse der Rasterlinsen.

Auch diese Einrichtung liefert eine Durchlasscharakteristik gemäss Fig. 3.

Selbst kompliziert ausgeführte Begrenzer mit mehreren Linsenrastern können verbessert werden.

Dies gilt insbesondere für eine photoelektrische Belichtungsmessereinrichtung, die aus einer der lichtempfindlichen Schicht vorgeschalteten Optik besteht, in deren Brennweite eine das Bildfeld des Objektivs begrenzende Blende angeordnet ist, und gemäss unserer deutschen Patentschrift Nr. 1157404 eine zusätzliche veränderbare, in einer Abbildungsebene der vorgeschalteten Objektivpupille angeordnete Blende als Aperturblende vorgesehen ist, wobei die das Bildfeld des Objektivs begrenzende Blende exzentrisch zur optischen Achse der vorgeschalteten Optik liegt.

Ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel dieser Art ist in Fig. 9 im Schnitt dargestellt. Die Sammellinse 24 in der Fassung 25 erzeugt in der Ebene der Rechteckblende 26 ein reelles Bild. Eine veränderliche Irisblende 27 gestattet eine kontinuierliche Steuerung des Lichtstromes und kann auch als Steuereorgan für eine von der Photozelle 6 selbsttätig verstellbare Blendenregelung benutzt werden.

Ferner sind eine Mattscheibe 28 und ein innen verspiegelter Schacht 30, der alles von der Mattscheibe durchgelassene Licht der Photozelle 6 zuführt, vorgesehen. Wesentlich ist auch bei dieser Anordnung die exzentrische Lagerung der Rechteckblende, die die erwähnte Durchlasscharakteristik erzeugt. Die Anordnung hat überdies den Vorteil, dass auch bei kleiner Fläche der Photozelle 6 gute Proportionalität zwischen der Fläche der Durchlass öffnung der Blende 27 und dem von der Photozelle aufgenommenen Lichtstrom besteht.

Ein weiteres Ausführungsbeispiel, das sich auf einen Belichtungsmesser mit vorgeschalteter telezentrischer Optik bezieht, ist in Fig. 10 wiedergegeben.

Die Einrichtung besteht aus der Sammellinse 31 in der als Sonnenblende wirkenden Fassung 32, der Irisblende 33 und einer mit Prismenraster versehenen Zerstreuungslinse 34, hinter der sich die Photozelle 6 befindet. Die plankonvexe Sammellinse 31 und die, abgesehen vom Prismenraster, plankonkave Zerstreuungslinse 34 wirken wie ein verkleinerndes, telezentrisches System zusammen, das in der Weise sphärisch korrigiert wird, dass die Fläche 36 der Zerstreuungslinse als asphärische Fläche ausgestaltet ist. Auf diese Weise wird erreicht, dass das Lichtbündel innerhalb der Zerstreuungslinse 34 genau telezentrisch verläuft, so dass das der Linse 34 aufgeprägte Prismenraster mit durchsichtigen Flächen 37 und geschwärzten Flächen 38, wie früher beschrieben, wirkt und den Neigungswinkel der einfallenden Lichtstrahlen 39 begrenzt.

Durch den gewählten telezentrischen Strahlengang erhält die Photozelle 6 mehr Licht als ohne das Linsensystem. Mit Hilfe der Blende ist der Lichtstrom, der die Photozelle erreicht, kontinuierlich regelbar, und der Grenzwinkel für die vertikal einfallenden Strahlen ist von der Grösse der Blendenöffnung unabhängig. Die Lichtbegrenzung in horizontaler Richtung ergibt sich aus den jeweils gewählten Dimensionen des Linsensystems. Mit der Anordnung gemäss Fig. 10 ist der Vorteil verbunden, dass eine scharf definierte Vertikalbegrenzung mit einem lichtstarken optischen System und einer kontinuierlichen Blendenregelung durchgeführt werden kann. Ein solches System ist für photographische und kinematographische Apparate mit automatischer, lichtabhängiger Blendenregelung besonders geeignet.

Die beschriebenen Anordnungen beziehen sich sämtlich auf den Regelfall, dass das Gegenlicht von schräg oben in den Belichtungsmesser gelangt. Aber auch dann, wenn das Gegenlicht von der Seite oder sogar von unten her eindringt, behalten die Anordnungen ihre Wirksamkeit, wenn dafür gesorgt wird, dass entweder der ganze Belichtungsmesser oder wenigstens der Lichtbegrenzer drehbar im Belichtungsmessergehäuse bzw. in der Kamera befestigt ist.

Der Benutzer hat dann die Möglichkeit, durch Drehung des Lichtbegrenzers den Lichteinfall in der Richtung winkelmässig zu begrenzen, aus der das Gegenlicht einfällt.

Claims

PATENTANSPRÜCHE I. Photoelektrischer Belichtungsmesser mit Lichtstrahlenbegrenzer, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahlenbegrenzer so ausgebildet ist, dass der Winkel des auf die Photozelle auffallenden Strahlenbüschels, bezogen auf die horizontale Mittellinie des aufzunehmenden Objektausschnittes, unsymmetrisch begrenzt ist, ohne innerhalb dieses Winkels auch nur gebietsweise lichtsperrend zu wirken.

II. Verwendung des photoelektrischen Belichtungsmessers mit Strahlenbegrenzer nach Patentanspruch I, als Einbauteil für photographische oder kinematographische Kameras mit halb- bzw. vollautomatischer, durch den Belichtungsmesser gesteuerter Blendenverstellung.

UNTERANSPRÜCHE 1. Belichtungsmesser nach Patentanspruch I, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahlenbegrenzer so ausgebildet ist, dass die obere Winkelbegrenzung einer Linie entspricht, die zwischen der horizontalen Mittellinie des aufzunehmenden Objektausschnittes und der dazu parallelen oberen Begrenzung des Ausschnittes liegt.

2. Belichtungsmesser nach Patentanspruch I, dadurch gekennzeichnet, dass die obere Begrenzung im oberen Teil des Umfeldes des aufzunehmenden Ausschnittes liegt.

3. Belichtungsmesser nach Patentanspruch I, dadurch gekennzeichnet, dass Mittel vorgesehen sind, die den Strahlendurchgang innerhalb des Begrenzungswinkels derart schwächen, dass der Hauptabfall der Durchlasscharakteristik in den Bereich zwischen der Bildmitte und der oberen Begrenzungskante liegt (Kurve 2, Fig. 3b).

4. Belichtungsmesser nach Patentanspruch I, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahlenbegrenzer aus einem Raster mit zur Normalen der Photozellenfläche geneigten Stegen besteht.

5. Belichtungsmesser nach Patentanspruch I, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahlenbegrenzer als Raster mit zylindrischen Bohrungen ausgebildet ist, deren Achsen zur Normalen der Photozellenfläche geneigt sind.

6. Belichtungsmesser nach Unteranspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass das Raster aus durchsichtigem Werkstoff mit ebenfalls durchsichtigen Stegen besteht.

7. Belichtungsmesser nach Unteranspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die durch das Raster gebildeten, einzelnen Kanäle lichtabsorbierende Flächen besitzen.

8. Belichtungsmesser nach Patentanspruch I, mit auf einer durchsichtigen Platte aufgebrachtem Parallel-Prismen-Raster, dadurch gekennzeichnet, dass das Prismenraster auf der dem einfallenden Licht abgewandten Seite des der Photozelle vorgeschalteten Strahlenbegrenzers angeordnet ist.

9. Belichtungsmesser nach Unteranspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die zur Strahleneinfallrichtung mindestens annähernd parallel verlaufenden Flächen des Rasters mit einem lichtabsorbierenden Material belegt sind.

10. Belichtungsmesser nach Unteranspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass mehrere, durchsichtige Platten mit aufgebrachtem Parallel-Prismen-Raster unterschiedlicher Orientierung der Prismenflächen hintereinandergeschaltet sind, um die Durchlasscharakteristik des Rasters in verschiedenen Richtungen zusätzlich beeinflussen zu können.

11. Belichtungsmesser nach Patentanspruch I, dadurch gekennzeichnet, dass mit dem Strahlenbegrenzer asymmetrischer Durchlasscharakteristik Begrenzungsmittel mit symmetrischer Durchlasscharakteristik kombiniert sind.

12. Belichtungsmesser nach Patentanspruch I, in Verbindung mit einem Linsenraster, das in der Ebene einer der Photozelle vorgeschalteten, mit Ausbrüchen versehenen Platine reelle Bilder erzeugt, dadurch gekennzeichnet, dass die jeder Rasterlinse zugeordneten Rechteckausbrüche der Platine derart exzentrisch zu den optischen Achsen der Rasterlinsen angeordnet sind, dass sich die angestrebte Durchlasscharakteristik ergibt.

13. Belichtungsmesser nach Patentanspruch I, welcher aus einer der lichtempfindlichen Schicht vorgeschalteten Optik besteht, in deren Brennweite eine das Bildfeld des Objektivs begrenzende Blende angeordnet ist, und eine zusätzliche veränderbare, in einere Abbildungsebene der vorgeschalteten Objektivpupille angeordnete Blende als Aperturblende vorgesehen ist, wobei die das Bildfeld des Objektivs begrenzende Blende exzentrisch zur optischen Achse der vorgeschalteten Optik liegt.

14. Belichtungsmesser nach Patentanspruch I, mit einer dem Strahlenbegrenzer vorgeschalteten, aus einem positiven und negativen Glied bestehenden, telezentrischen Optik, wobei die konkave Fläche der Zerstreuungslinse asphärisch ausgebildet ist, dadurch gekennzeichnet, dass das Linsen-Prismen-Raster mit dem zerstreuenden Glied derart vereinigt ist, dass es die Planfläche der plankonkaven Linse bedeckt.

15. Belichtungsmesser nach Unteranspruch 14, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen dem positiven und dem negativen Glied der Vorsatzoptik eine verstellbare Blende angeordnet ist, die den auf die Photozelle fallenden Lichtstrom kontinuierlich beeinflusst, ohne den durch das Prismenraster festgelegten Grenzwinkel zu ändern.

16. Belichtungsmesser nach Patentanspruch I, dadurch gekennzeichnet, dass als Strahlenbegrenzer ein Parallel-Prismen-Raster vorgesehen ist, das gemeinsam mit dem Belichtungsmesser in seinem Gehäuse drehbar angeordnet ist, um Gegenlicht ausschalten zu können, das von anderen Seiten als von oben auf die Photozelle auffällt.