DE723565C

DE723565C - Photoelektrischer Belichtungsmesser

Info

Publication number: DE723565C
Application number: DEZ22268D
Authority: DE
Original assignee: Zeiss Ikon AG
Current assignee: Zeiss Ikon AG
Priority date: 1935-02-12
Filing date: 1935-02-12
Publication date: 1942-07-04

Description

Photoelektrischer Belichtungsmesser Es ist schon vorgeschlagen worden, vor die Photozelle eines photoelektrischen Belichtungsmessers ein optisches System zu schalten, das aus einer Vielzahl nebeneinander angeordneter strahlenbrechender Körper besteht, die alle so ausgebildet sind, daß das außerhalb eines gewissen gewünschten Bildwinkels einfallende Licht beim Eintritt in das optische System gebrochen und dann an den nach dem lichtempfindlichen Element zu gelegenden Flächen dieses Systems durch Totalreflexion gänzlich oder teilweise zurückgeworfen wird. Bei einer solchen Anordnung spielt die Neigung der auf die Zelle fallenden Liohtstrahlen eine große Rolle. Sie hängt nämlich ausschlaggebend ab von dem Winkel, den die dem einfallenden Strahl zugekehrte Prismenfläche mit der auf der Prismengrundflächle errichteten Senkrechten bildet. Bei den älteren Vorschlägen, die gleichschenklige Prismenquerschnitte vorsehen, waren diese Winkel im allgemeinen so groß, daß zuviel unerwünschtes Nebenlicht noch auf diePhotozelle fiel. Dies galt insbesondere für die hellen Lichtstrahlen, die unmittelbar vom Himmel her einfielen. Dadurch kamen gefälschte Meßergebnisse zustande, die zu unrichtigen oder überhaupt Fehlbelichtungen führten.
Der neue Vorschlag ist ebenfalls abgestellt auf einen photoelektrischen Belichtungsmesser mit einem vor die Photozelle geschalteten optischen System aus einer Vielzahl von nebeneinander angeordneten strahlenbrechenden Prismen, durch die das außerhalb eines bestimmten Bildwinkels einfallende Licht nach Brechung beim Eintritt in das optische System durch Totalreflexion an den nach der Zelle zu gelegenen Flächen des Systems zurückgeworfen wird. Die Erfindung besteht darin, daß bei einem solchen Belichtungsmesser die Querschnitte der die Prismenfläche bildenden Prismen ungleichseitig gestaltet sind. Auf diese Weise werden die vorerwähnten Nachteile vermieden. Das liegt daran, daß die auszuschaltenden Lichtstrahlen eine um so stärkere Brechen, erfahren, jle kleiner der Winkel ist, den die von dem Lichtstrahl getroffene Prismenfiäche mit der auf der Prismengrundfläche errichteten Senkrechten bildet. Die diese Prismenflächen durchdringenden Lichtstrahlen werden nämlich so gebrochen, --daß der Einfallswinkel für die der Photozelle zugekehrte Prismenfläche zunimmt, so daß eine Total reflexion bereits bei geringer Neigung der auf die letztgenannte Fläche fallenden Lichtstrahlen eintritt.
Wird ein Belichtungsmesser gemäß der Erfindung in bekannter Weise an derVorderseite einer Kamera angebracht, so weisen gemäß weiterer Ausgestaltung der Erfindung die kleineren Prismenflächen nach der Kameraoberseite.
In derZeichnung ist derErfindungsgedanke näher veranschaulicht.
Abb. 1 zeigt in einem Schaubild den Strahlenverlauf für eine Prismenplatte mit im Querschnitt gleichschenklig ausebildeten Prismen und Abb. 2 in der gleichen Darstellungsart den Strahlenverlauf für eine Prismenplatte mit im Querschnitt ungleichseitig ausgebildeten Prismen; Abb. 3, 4 und 5 stellen eine Vorderansicht sowie eine zum Teil aufgeschnittene Seitenansicht und Draufsicht einer Kamera mit ein gebautem photoelektrischem Belichtungsmesser und mit vorgeschalteter Prismenplatte gemäß der Erfindung dar.
Gemäß Abb. 1 ist die Prismenplatte so gestaltet, daß der Winkel α zwischen einer vom einfallenden Licht getroffenen Prismenfläche 1 und zwischen der über der Prismengrundfläche errichteten Senkrechten etwa 450 beträgt. Dabei tritt nach der Lichtbrechung an der Prismenfläche 1 noch keine Totalreflexion an der der (nicht dargestellten) Photozelle zugekehrten Prismenfläche 2 ein, wobei vorausgesetzt ist, daß die Neigung der von A her einfallenden Lichtstrahlen einen relativ großen Winkel nicht überschreitet. Bei der Anordnung nach Abb. 2, bei der der dem ersterwähnten entsprechende Winkel a wesentlich kleiner ist, wird hingegen ein aus d;er gleichen Richtung wie zuvor von A her einfallendes Strahlenbüschel an der rückwärtigen Prismengrundfläche 2 total reflektiert.
Bei der in Abb. 3 bis 5 wiedergegebenen Ausgestaltung ist an der Vorderseite einer Kamera ein photoelektrischer Belichtungsmesser mit seiner Photozelle 4 und der davorgeschalteten Prismenpiatte 3 angebracht. Vor die Prismenplatte 3 legen sich im Ruhezustand zum Schutz derselben und der Photozelle 4 aufklappbare Deckel 5 und 6, die in der Arbeitsstellung des Belichtungsmessers zugleich zur seitlichen Begrenzung des auf die Photozelle fallenden Lichtes dienen. Die Anordnung der Prismenplatte 3 ist dabei derart, daß die kleineren Prismenflächen nach der Kameraoberseite zu weisen, so daß auf diese Weise die obenerwähnte Ausschaltung der unmittelbar vom Himmel her zum lichtempfindlichen Element 4 gehenden Strahlen erfolgt.

Claims

P A T E N T A N S P R Ü C H E : 1. Photoelektrischer Belichtungsmesser mit einem vor die Photozelle vorgeschalteten optischen System aus einer Vielzahl von nebeneinander angeordneten strahlenbrechenden Prismen, durch die das außerhalb eines bestimmten Bildwinkels einfallende Licht nach Begrenzung beim Eintritt in das optische System durch Totalreflexion an den nach der Photozelle zu gelegenen Flächen dieses Systems zurückgeworfen wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Querschnitte der die Prismenplatte bildenden Prismen ungleichseitig gestaltet sind.
2. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch I, der an der Vorderseite einer Kamera angebracht ist, dadurch gekennzeichnet, daß die kleineren Prismenflächen (1) nach der Kameraoberseite zu weisen.