AT241969B - Belichtungsmeßeinrichtung in photographischen oder kinematographischen Geräten - Google Patents

Belichtungsmeßeinrichtung in photographischen oder kinematographischen Geräten

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AT241969B
AT241969B AT886363A AT886363A AT241969B AT 241969 B AT241969 B AT 241969B AT 886363 A AT886363 A AT 886363A AT 886363 A AT886363 A AT 886363A AT 241969 B AT241969 B AT 241969B
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prism
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measuring prism
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Kamera & Kinowerke Dresden Veb
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  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description


   <Desc/Clms Page number 1> 
 



  Belichtungsmesseinrichtung in photographischen oder kinematographischen Geräten 
Die Erfindung betrifft eine Belichtungsmesseinrichtung in photographischen oder kinematographischen Geräten, insbesondere Spiegelreflexkameras, mit einem im Sucherstrahlengang angeordneten Porroprismensystem und einem Messprisma, das einen Teil der Sucherstrahlen auf einen lichtempfindlichen Empfänger ausspiegelt. 



   Es ist sowohl bei kinematographischen als auch bei photographischen Kameras bekannt, einen Prozentsatz des Aufnahme- bzw. Sucherlichtes durch eine Strahlenteilungsfläche, wie ein im Randstrahlenbereich angeordnetes Prisma oder einen Strahlenteilungswürfel, der aus zwei verkitteten Prismen besteht, auszuspiegeln. Es ist auch bekannt, den lichtempfindlichen Empfänger hinter einer oder mehreren, teilweise lichtdurchlässigen Spiegelflächen oder den nicht reflektierenden Flächen eines Pentaprismas anzuordnen. Darüber hinaus wurde vorgeschlagen, dem Reflexionsprisma des Suchers ein Messprisma zuzuordnen oder innerhalb eines abgewandelten Pecan-Prismas an einem Luftspalt Sucherstrahlen zur Belichtungsmessung auszuspiegeln. 



   Diese   bekanntenAusspiegelungsarten   haben den Nachteil, dass sie entweder das okularseitige Falschlicht mitmessen oder aber die geometrischen Abmessungen der Suchereinrichtung erheblich vergrössern. 



   Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Belichtungsmesseinrichtung mit einem im Sucherstrahlengang angeordneten Porroprismensystem zu schaffen, die auch in photographische oder kinematographische Geräte geringer Abmessungen, insbesondere Spiegelreflexkameras kleinen Formats, eingebaut werden kann. Dabei soll durch die Einrichtung gleichzeitig vermieden werden, dass das okularseitige Falschlicht mitgemessen wird. 



   Erfindungsgemäss ist diese Aufgabe dadurch gelöst, dass dasMessprisma zwischen den Prismen des Porroprismensystems,   u. zw.   zwischen dessen erster und dessen zweiter bildumlenkender Fläche angeordnet ist und dass der lichtempfindliche Empfänger nahe oder an einer den Strahlengang begrenzenden Seitenfläche des Messprismas angeordnet ist. 



   Vorzugsweise weist das Messprisma eine rechtwinkelige Basisfläche auf und liegt dessen   der grösseren   Kathete zugeordnete Seitenfläche durch einen Luftspalt getrennt einer Kathetenfläche des ersten Prismas des Systems gegenüberliegt, die der Hypotenuse zugeordnete Seitenfläche des Messprismas, die teilverspiegelt ist, an eine Seitenfläche des zweiten Prismas des'Systems an und liegt der der kleineren Kathete zugeordneten Seitenfläche des Messprismas ein Photowiderstand gegenüber. Weiters ist vorzugsweise die kleine Kathetenfläche des Messprismas als Rasterfläche mit prismatischen Erhebungen ausgebildet und 
 EMI1.1 
 paraxialen Strahlengang einen spitzen Winkel ein. 



   Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist an Hand einer Zeichnung näher dargestellt. Die Zeichnung zeigt ein im Gehäuse einer Spiegelreflexkamera angeordnetes Porroprismensystem mit Belichtungsmesseinrichtung. 



   Im Gehäuse 1 einer Spiegelreflexkamera mit den Bedienungselementen 2,3 und 4 befindet sich ein Aufnahmeobjektiv 5 und ein um 450 zum Aufnahmestrahlengang geneigter Reflexspiegel 6, der die auftreffenden Lichtstrahlen zu einer Bildfeldlinse 7 lenkt. Über der Bildfeldlinse 7 ist ein Porroprismensystem angeordnet, das aus einem rechtwinkeligen Prisma 8 mit einer bildumlenkenden 

 <Desc/Clms Page number 2> 

 Fläche 9 und einer Kathetenfläche 10, einem an der Kathetenfläche 10 mit seiner Kathetenflä-   che   11 durch Luftspalt getrennt, anliegenden Messprisma 12 mit einer weiteren Kathetenfläche 13 und einer teilverspiegelten Hypotenusenfläche 14,

   einem an der Hypotenusenfläche 14 angekitteten Prisma 15 mit einer bildumlenkenden Fläche 16 und einer Strahlenaustrittsfläche 17 und einem an   dessen Strahlenaustrittsfläche   17 mit seiner Kathetenfläche 18 angesetzten rechtwinkeligen Prisma 19 besteht. Hinter der bildumlenkenden Fläche des Prismas 19 befindet sich ein Okular 20.   Die Hypotenusenfläche   14 des Messprismas 12 schliesst mit der grösseren Kathetenfläche 11 einen Winkel oc ein.   Die andereKathetenfläche   13   weistprismatischeStrukturaufihristeinPhotowider-     stand zugeordnet. Paraxiale Strahlen durchdringen die Kathetenfläche   11 unter einem kleinen Winkel   zur Flächennormalen. Dieser ist in der Zeichnung mit 90 -ss gegeben.

   Die zur Kathetenfläche   13 par-   allel laufende Fläche   22 ist mattschwarz lackiert. 



   Die Wirkungsweise der Einrichtung ist folgende :
Die auf den Reflexspiegel 6 treffenden Lichtstrahlen werden in Richtung der Bildfeldlinse 6 abgelenkt, treten in das Prisma 8 des Porroprismensystems ein und werden an der Fläche 9 umgelenkt. 



    Daraufhin verläuft der Strahlengang über die Kathetenflächen 10 und 11 zum Messprisma   12, an dessen teilverspiegelterHypotenusenfläche 14   ein bestimmter Anteil der Strahlen reflektiert wird, während   die in das Prisma 15 eintretenden Strahlen an der Fläche 16 umgelenkt, über die Strahlenaustrittsfläche 17 und die Kathetenfläche 18 in das Prisma 19   und über dessen bildumlenkende Fläche   zum Okular 20 geleitet werden. 



   Die an der Hypotenusenfläche 14 des Messprismas 12 reflektierten Strahlen treffen dagegen auf die Kathetenfläche 11,   an der sie auf Grund ihres Einfallwinkels und des Luftabstandes zum Prisma   8   totalreflektiert werden. Dabei gelangen die an der Spitze des Messprismas   12 eintretenden Strahlen je zweimal an die teilverspiegelte Hypotenusenfläche 14   und die totalreflektierenden Kathetenfläche   11. 
 EMI2.1 
 von der bildumlenkenden Fläche 9 zur bildumlenkenden Fläche 16 laufenden Strahlen liegt und nicht nochmals von den an der bildumlenkenden Fläche 16 reflektierten Strahlen getroffen wird, um nicht partielle Stellen des Sucherbildes abzudunkeln.

   Der Keilwinkel oc muss aber mindestens so gross   sein, dass für alle von der Hypotenusenfläche   14   auf die Kathetenfläche   11 treffenden Strahlen Totalreflexion eintritt. 



   Nach Reflexion innerhalb   des Messprismas   12 werden   alle Messstrahlen   über   die Kathetenfläche   13 dem Photowiderstand 21 zugeleitet. Da die Kathetenfläche 13 prismatische Struktur aufweist, kann an dieser Fläche keine Totalreflexion für die auftreffenden Messstrahlen erfolgen. 



   Okularseitig schräg eintretendes Falschlicht kann nicht zum Photowiderstand 21 gelangen, da es an der Fläche 22, die mattschwarz lackiert ist, absorbiert wird. Gleiches gilt auch für paraxial durch das Okular 20 einfallende Strahlen. Diese werden von der Kathetenfläche 11 bzw. von dieser und   de-Hypotenusenfläche   14 auf die Fläche 22 reflektiert, von welcher sie absorbiert werden. 



   Die durch Luftspalt voneinander getrennten Flächen von Prisma 8 und   Messprisma 12   können besonders entspiegelt sein, um Lichtverluste durch natürliche Reflexion an diesen Flächen zu vermeiden. 



    PATENTANSPRÜCHE :    
1. Belichtungsmesseinrichtung in photographischen oder kinematographischen   Geräten,   insbesondere 
 EMI2.2 
 Messprisma, das einen Teil der Sucherstrahlen auf einen lichtempfindlichen Empfänger ausspiegelt, dadurch gekennzeichnet, dass das   Messprisma (12) zwischen den Prismen (8,   15,   19) des Porropris-   mensystems,   u. zw.   zwischen dessen erster und dessen zweiter bildumlenkender Fläche (9, 16) angeordnet ist und dass der lichtempfindliche Empfänger (21) nahe oder an einer den Strahlengang begrenzenden Seitenfläche des Messprismas (12) angeordnet ist.

Claims (1)

  1. 2. Belichtungsmesseinrichtung nach Anspruch l, dadurch gekennzeichnet, dass das Messprisma (12) eine rechtwinkelige Basisfläche aufweist und dessen der grösseren Kathete zugeordnete Seitenfläche (11) durch einen Luftspalt getrennt einer Kathetenfläche (10) des ersten Prismas (8) des Systems gegenüberliegt, die der Hypotenuse zugeordnete Seitenfläche (14) des Messprismas (12), die teilverspiegelt ist, an eine Seitenfläche des zweiten Prismas (15) des Systems anliegt und der der kleineren Kathete zugeordneten Seitenfläche des Messprismas (12) ein Photowiderstand (21) gegenüberliegt.
    3. Belichtungsmesseinrichtung nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass die kleineKathetenfläche (13) des Messprismas (12) als Rasterfläche mit prismatischen Erhebungen ausgebildet ist. <Desc/Clms Page number 3> EMI3.1 die Flächennormale der der grösseren Kathete des Messprismas (12) zugeordneten Seitenfläche (11) mit dem paraxialen Strahlengang einen spitzen Winkel einschliesst.
AT886363A 1963-08-03 1963-11-06 Belichtungsmeßeinrichtung in photographischen oder kinematographischen Geräten AT241969B (de)

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