AT249498B - Belichtungsmeßvorrichtung in Spiegelreflexkameras - Google Patents

Description

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  Belichtungsmessvorrichtung in Spiegelreflexkameras 
 EMI1.1 
 

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   Die Wirkungsweise der Einrichtung gemäss Fig. 1 ist folgende : Ein Teil der in die planparallele Platte 11 eintretenden Sucherstrahlen wird an den teilverspiegelten Hypotenusenflächen der Spiegelprismen 8 und 10 reflektiert. Infolge des geringen Keilwinkels   Ci   werden die Strahlen innerhalb der Platte 11 an der Grundfläche 14 totalreflektiert und somit zu den Seitenflächen 15 und 16 gelenkt. Auf Grund der prismatischen Struktur dieser Seitenflächen 15 und 16 findet dort keine Totalreflexion statt, wodurch alle auftreffenden Strahlen den Photowiderständen 12 und 13 zur Lichtmessung zugeleitet werden. 



   Im Ausführungsbeispiel nach Fig. 2 ist zwischen der Bildfeldlinse 4 und Pentadachkantprisma 5 eine keilförmige Platte 18 angeordnet, die aus zwei keilförmigen Prismen 19 und 20 besteht, deren halbdurchlässig verspiegelte Hypotenusenflächen 21 und 22 miteinander verkittet sind. Die keilförmige Platte 18, deren Seitenflächen mit 23 und 24 und deren Grundfläche mit 25 bezeichnet ist, ist an der dem Okular 6 zugewendeten Seitenfläche 24 als Rasterfläche mit prismatischen Erhebungen 17 ausgebildet. Dieser Fläche 24 ist mit Luftabstand ein Photowiderstand 12 zugeordnet. 



   Bei diesem Ausführungsbeispiel wird ein Teil der in das Prisma 19 eintretenden Sucherstrahlen an 
 EMI2.1 
 
HypotenusenflächenspiegeltenSucherstrahlenanderGrundfläche 25   totalreflektiert werden. Die an der Spitze des Prismas   19   eintretendenSucherstrahlen   gelangen je zweimal an die halbverspiegeltenHypotenusenflächen 21   und 22   und die Grundfläche 25, während die im mittleren Teil des Prismas 19   eintretendenStrahlen teil-   weise auf die Grundfläche   25 zurückgespiegelt   werden, um von da nach Totalreflexion direkt auf die Seitenfläche 24 mit prismatischer Struktur und auf den Photowiderstand 12 zu treffen. 



   Da der Photowiderstand 12 nur an der dem Okular 6 zugewendeten Seite der Platte 18 angeordnet ist, kann Falschlicht, das durch das Okular 6 eindringt, nicht zum Photowiderstand 12 gelangen, da es bereits an der Seitenfläche 23 der keilförmigen Platte 18, die mattschwarz lackiert ist, absorbiert wird. Paraxiale Strahlen, die durch das Okular 6 eindringen, werden an der Grundfläche 25, die noch besonders verspiegelt sein kann, auf natürliche Weise reflektiert.

Claims (1)

1. PATENTANSPRUCH : Belichtungsmessvorrichtung in Spiegelreflexkameras mit Pentadachkantprismen, mit einem im Su- EMI2.2 an oder nahe dessen Seitenflächen mindestens ein photoelektrisches Element angeordnet ist, nach Patent Nr. 243 068, bei dem der Strahlenteilungskörper als Platte oder flacher Keil ausgebildet und nahe der Basisfläche des Pentadachkantprismas und zu dieser angenähert parallel liegend angeordnet ist, dadurch gekennz ei chnet, dass die Seitenfläche (n) (15, 16, 23, 24) der Platte (11, 18), die einem photoelektrischen Element (12, 13) mit Luftabstand zugeordnet ist (sind), als Rasterfläche (n) mit prismatischen Erhebungen (17) ausgebildet ist (sind).