Belichtungsmesseinrichtung in photographischen oder kinematographischen Geräten, insbesondere Spiegelreflexkameras Die Erfindung betrifft eine Belichtungsmessein- richtung in photographischen oder kinematographi schen Geräten, insbesondere Spiegelreflexkameras, bei denen die Belichtungsmessung durch integrierende Teilmessung erfolgt, wobei die durch Prismen aus gespiegelten Messstrahlen auf einen lichtempfind lichen Empfänger, z. B. einen Photowiderstand, ge langen.
Es ist sowohl bei kinematographischen als auch bei photographischen Kameras bekannt, einen Pro zentsatz des Aufnahme- bzw. Sucherlichtes durch eine Strahlenteilungsfläche auszuspiegeln. Dazu wird beispielsweise ein teildurchlässiger Spiegel, ein im Randstrahlenbereich angeordnetes Prisma oder ein Strahlenteilungswürfel, der aus zwei verkitteten Pris men besteht, verwendet. Es ist weiter bekannt, den lichtempfindlichen Empfänger hinter einer oder meh reren teilweise lichtdurchlässigen Spiegelflächen oder den nicht reflektierenden Flächen eines Pentadach- kantprismas anzuordnen.
Diese Belichtungsmessan- ordnungen basieren alle auf integraler Messung. Es ist auch ein Lichtbildgerät mit eingebautem Be lichtungsmesser für photographische und kinemato graphische Aufnahmen mit einer Mattscheibe be kannt, bei welchem eine im Lichtstrahlengang un mittelbar vor der Mattscheibe in der Brennebene des Objektivs verschiebbar angeordnete, der Mattscheibe gegenüber sehr kleine lichtelektrische Zelle oder sehr kleine Zwischenoptik für die Abtastung der wesent lichen Bildstellen vorgesehen ist.
Diese und ähnlich geartete bekanntgewordene Einrichtungen beruhen auf einer differentiellen Messung. Um zu einem rich tigen Belichtungswert zu gelangen, muss man hierbei das dunkelste und hellste Bilddetail gesondert messen, um dann mittels Tabellen, Diagrammen oder sonsti gen Rechenschemen die geeignetste Objektivöffnung, die Belichtungszeit usw. auszuwählen. Diese Methode erfordert Zeit und geistige Überlegungen, wozu in vielen Fällen keine Gelegenheit ist; ausserdem wer den diese umständlichen Ermittlungen vom Photo graphierenden als lästig empfunden.
Aufgabe der Erfindung ist, eine neue Mess- methode anzuwenden, mit welcher gute Messergeb- nisse zu erzielen sind, wobei gleichzeitig das in das Suchersystem eindringende Falschlicht weitestgehend unterdrückt werden soll. Die sich hieraus ergebenden Vorteile sind genaueres Messen, bessere Wirksamkeit gegen Falschlichteinfall und geringer Aufwand an optischen und mechanischen Bauteilen.
Gegenstand der Erfindung ist, eine Belichtungs- messeinrichtung in photographischen oder kinemato graphischen Geräten zur Anwendung zu bringen, bei der durch integrierende Teilmessung die Belichtungs messung durch Ausspiegelung von Sucherstrahlen auf lichtempfindliche Empfänger erfolgt. Verwirklichung kann der Erfindungsgedanke beispielsweise dadurch finden, indem eine aus.
mehreren mit teilweise teil durchlässigem Belag versehenen Prismen zusammen gesetzte, planparallele, flache Platte im Sucher strahlengang zwischen Sucherokular und Reflexspie gel einer Spiegelreflexkamera angeordnet wird, so dass die ausgespiegelten Messstrahlen auf mehrere lichtempfindliche Empfänger, z. B. Photowider stände, gelangen, die an den Seitenflächen der plan- parallelen Platte entweder mit oder ohne Luftabstand angeordnet sind.
Die sich hieraus ergebenden Vor teile sind, dass z. B. an Spiegelreflexkameras, die mit einer Belichtungsmesseinrichtung ausgerüstet sind, die Bauhöhe klein gehalten werden kann; weiterhin ist die Verwendung von auswechselbaren Objektiven mit unterschiedlicher Brennweite möglich; ohne dass eine Umstellung der Messeinrichtung erforderlich ist.
Statt einer aus mehreren Prismen zusammen gesetzten planparallelen Patte kann die Grundfäche eines Pentadachkantprismas mit zwei halbdurchläs sigen Prismenflächen versehen sein, so dass die Hypo- tenusenflächen zweier Spiegelprismen an diesen Flä chen anliegen,
wobei je eine der Kathetenflächen der Prismen mit der Grundfläche des Pentad'ach- kantprismas in einer Ebene liegen. Die hierbei aus gespiegelten Messstrahlen gelangen dann ebenfalls auf an den Seitenflächen der Prismen angeordnete Photowiderstände. Durch letztere Anordnung der strahlenablenkenden Prismenflächen kann die Bau höhe der Kamera noch weiter verringert werden.
Zwecks einer besseren Mittenmessung und zu gleich einer weitestgehenden Unterdrückung seitens des vom Sucherokular einfallenden Lichtes kann gemäss einer weiteren Variante die teildurchlässig verspiegelte Hypothenusenfläche eines durch Luft spalt vom Pentadachkantprisma getrennten Prismen satzes über das gesamte Bildfeld gehen, wobei nur an der okularseitigen Kathetenfläche ein lichtemp findlicher Empfänger angeordnet ist.
Mehrere Ausführungsbeispiele des Erfindungs gegenstandes werden nachstehend an Hand der Zeich nung näher beschrieben. Es zeigen: Fig. 1 die Anordnung der mit Spiegelprismen versehenen planparallelen Platte innerhalb des Su- cherstrahlenganges, Fig. 2 und 3 die planparallele Platte mit Photo widerstand, Fig. 4 ein Pentadachkantprisma und Fig. 5 eine weitere Anordnungsweise.
Im Strahlengang einer an sich bekannten Bild suchereinrichtung befindet sich das Aufnahmeobjek tiv 1, von dem aus die Lichtstrahlen über den Reflexspiegel 2 durch die Bildfeldlinsen 3 und 4, durch das Pentadachkantprisma 5 und durch das Okular 6 in den Augenpunkt 7 gelangen. Um einen Teil der vom Objekt kommenden Lichtstrahlen für Messzwecke auszuspiegeln, befindet sich im Strahlen gang, und zwar vorzugsweise zwischen Bildfeldünse 4 und dem Sucherokular 6, eine aus Spiegelprismen 8, 9 und 10 zusammengesetzte flache, planparallele Platte 11.
An den Seiten der planparallelen Platte 11 sind Photowiderstände 12 und 13 entweder mit oder gemäss Fig.3 ohne Luftabstand angeordnet. Wieviel Sucherstrahlen ausgespielt werden, hängt von der Dicke und dem Winkel a (Fig. 2) ab, wo durch zwangläufig die Bauhöhe der Reflexkamera beeinflusst wirrt. Die Dicke und mithin den Winkel a der planparallelen Platte 11 wird man so wählen, dass möglichst viele Sucherstrahlen am Messvorgang teilnehmen;
dabei wird die Totalreflexion innerhalb der Glasteile ausgenutzt. Damit an den Kittstellen der Prismen 8, 9, 10 eine gute Reflexion erfolgt, sind diese mit einem teildurchlässigen Belag; z. B. Interferenz-Spiegelbelag, versehen, der in der Durch- Sicht neutral grau erscheint.
Um eine gleichmässige Helligkeit der zu betrachtenden Bildteile zu gewähr- leisten, kann man ausser den Kittflächen auch weitere Teile der Prismenflächen, wie aus den strichlierten Linien der Zeichnungen ersichtlich, mit einem teil durchlässigen Belag versehen.
Gemäss Fig.4 kann anstelle der planparallelen Platte 11 eine andere Spiegelprismenanordnung ge wählt werden, wodurch die Bauhöhe der Kamera noch weiter gemindert wird. Die Grundfläche des Pentaprismas 5 ist mit zwei halbdurchlässigen Prismenflächen 5', 5" versehen, an denen die Hy- pothenusenflächen zweier Spiegelprismen 14 und 15 anliegen bzw. mit diesen verkittet sind. Die Katheten flächen 14' und 15' liegen mit der Grundfläche 5"' des Pentadachkantprismas 5 in einer Ebene. An den Seitenflächen der beiden Spiegelprismen 14, 15 ist je ein Photowiderstand 12, 13 angeordnet.
Die Wirkungsweise der Spiegelprismenanordnung ist folgende: Das vom Objekt kommende Lichtstrahlenbün del tritt durch das Objektiv 1 über den Reflexspie gel 2 durch die B.ildfeldlinsen 3 und 4 hindurch gehend in die Grundfläche der planparallelen Platte 11 ein. An den Hypothenusenflächen der Spiegel prismen 8, 10 bzw. 9 gelangt ein bestimmter Prozent satz des Lichtes infolge Reflexion auf die beiden Photowiderstände 12 und 13.
Der Hauptteil der Strahlen verlässt die planparallele Platte 11 und tritt in das Pentadachkantprisma 5 ein, wo die Strah len in bekannter Weise in den Augenort 7 gelangen.
Gemäss einem anderen Beispiel nach Fig. 5 ge langen die vom Objektiv 1 kommenden Lichtstrahlen über den Reflexspiegel 2 durch die Bildfeldlinse 3, von da aus weiterhin durch zwei durchsichtige keil förmige Prismen 16 und 17, durch das Pentadach- kantprisma 5 sowie durch die optischen Glieder 60 und 61 eines Okulars in den Augenort 7. Das Keil prismenpaar 16 und 17 kann sowohl an der Grund fläche des Pentaprismas 5 als auch durch einen Luftraum vom Pentadachkantprisma 5 getrennt an geordnet sein.
Letztere Anordnungsweise erhöht die Falschlichtunterdrückung, da das beispielsweise unter einem sehr schrägen Winkel vom Okular kommende Falschlicht an der Grundfläche des Pentadachkant- prismas 5 total reflektiert und damit unwirksam wird.
Der Keilwinkel ä ist so bemessen, dass die gespiegelten Sucherlichtstrahlen innerhalb des Keiles an der Eintrittsfläche 16' total reflektiert werden. Ein Teil der in der Nähe der Spitze des Keilprismas 16 eintretenden Lichtstrahlen gelangen je zweimal an die halbverspiegelte Fläche 16' und Eintrittsfläche 16', um von hier aus an die der Spitze gegenüber liegende kleinere Kathetenfläche des Keilprismas 17, wo sich der lichtempfindliche Empfänger 12' befin det, zu gelangen.
Die im mittleren Teil des Keil- prismas 16 eintretenden Sucherlichtstrahlen werden teilweise von der Fläche 18 auf die Eintrittsfläche 16' zurückgespiegelt, um von da nach der Totalrefle xion direkt auf die lichtempfindliche Empfängerfläche 12'- gespiegelt. zu werden. Die Hypothenusenfläche 18 ist in bekannter Weise halbdurchlässig verspiegelt, wobei es vorteil haft ist, nur einen Teil der Hypothenusenfläche zu verspiegeln.
Hierdurch wird erreicht, dass bei Be nutzung von Auswechselobjektiven mit sehr langer Brennweite dem Objektivverhältnis - öffnung und Schnittweite - im Hinblick auf die bei der Kamera konstruktion einmalig festgelegte Spiegelgrösse wei testgehend Rechnung getragen wird. Die sich hieraus ergebende partielle Lichtmessung des Sucherlichtes deckt sich mit den im Hauptpatent herausgestellten Vorteilen. Bei Kameras mit festem Objektiv ist die Hypothenusenfläche vollständig halbdurchlässig ver- spiegelt.
Aus der ganzen Anordnungsweise der Prismen 16 und 17 gemäss Fig. 5, welche im zusammengesetz ten Zustand sowohl eine planparallele wie auch eine nicht planparallele Platte sein können, geht hervor, dass Falschlicht, welches durch das Sucherokular schräg von unten in das Pentadachkantprisma ein dringt, infolge Totalreflexion nicht zu den Keilen 16 und 17 gelangt.
Ebenso gelangt Falschlicht, wel ches durch das Sucherokular schräg von oben in das Prismensystem eindringt, nicht auf die lichtempfind liche Fläche, da dieses Falschlicht bereits an der schmalen Kathetenfläche des Prismas 17, welche mattschwarz lackiert ist, vollkommen absorbiert wird.
Paraxiale Strahlen, die durch das Sucherokular 60/61 in das Suchersystem eindringen, werden an -der Eintrittsfläche 16', die noch besonders entspiegelt sein kann, auf natürliche Weise reflektiert. Sofern dennoch ein sehr kleiner Teil des Falschlichtes in sehr geschwächter Weise auf die lichtempfindliche Empfängerfläche 12' gelangt, übt es auf die Mess- einrichtung keinen erheblichen störenden Einfluss aus.
Die sich aus vorstehend beschriebenen Spiegel prismenanordnungen ergebenden Vorteile sind ganz offensichtlich. Ausser einer geringen Bauhöhe erhält man bei Auswechseloptiken immer den richtigen Bildwinkel, es brauchen keine Filterfaktoren beson ders berücksichtigt zu werden, und ausserdem fallen zusätzliche Öffnungen an der Kamera, die zur Be- leuchtung von Selenelementen oder Photowiderstän den dienen, fort.