BR112016008186B1 - Método e aparelho para controlar o assentamento de componentes de pneus sobre tambores de formação - Google Patents

Abstract

método e aparelho para controlar o assentamento de componentes de pneus sobre tambores de formação a presente invenção se refere a um método para controlar o assentamento de componentes de pneus sobre tambores de formação, dito método compreendendo: enviar uma primeira radiação eletromagnética (ri1) sobre uma primeira estrutura de assentamento (3a) compreendendo um tambor de formação (2) e um primeiro componente (c1) de um pneu assentado sobre dito tambor de formação (2); detectar pelo menos uma primeira correspondente radiação refletida (rr1), determinar como uma função de dita primeira radiação refletida (rr1) um primeiro parâmetro (p1) representativo de um primeiro comprimento principal (l1) de dito primeiro componente (c1); comparar dito primeiro parâmetro (p1) com um ou mais valores de referência pré-armazenados; gerar um primeiro sinal de correção (s1) como uma função de dita comparação; enviar dito primeiro sinal de correção (s1) para pelo menos uma estação de preparação adaptada para preparar dito primeiro componente (c1) para regular a preparação de outros componentes. um aparelho para controlar o assentamento de componentes de pneus sobre tambores de formação é também descrito.

Description

DESCRIÇÃO

[001] A presente invenção se refere a um método para controlar o assentamento de componentes de pneus sobre tambores de formação.

[002] A presente invenção se refere também a um aparelho para controlar o assentamento de componentes de pneus sobre tambores de formação.

[003] Um pneu para rodas de veículo geralmente compreende uma estrutura de carcaça compreendendo pelo menos uma lona de carcaça tendo respectivamente bordas terminais opostas engatadas em respectivas estruturas anulares de fixação, geralmente chamadas “núcleos de talão”, colocadas nas áreas usualmente identificadas como “talões”, tendo um diâmetro interno substancialmente correspondente a um assim chamado “diâmetro de montagem” do pneu sobre um respectivo aro de montagem. O pneu também compreende uma estrutura de coroa compreendendo pelo menos uma camada de cinta, colocada em uma posição radialmente externa posição em relação à lona de carcaça, e uma banda de rodagem radialmente externa em relação à camada de cinta. Uma assim chamada “subcamada” pode ser interposta entre a banda de rodagem e a/s camada/s de cinta, dita subcamada sendo feita de um material elastomérico tendo propriedades adaptadas para assegurar um acoplamento estável da/s camada/s de cinta com a banda de rodagem propriamente dita. Nas superfícies laterais da estrutura de carcaça, cada uma se estendendo de uma das bordas laterais da banda de rodagem até a respectiva estrutura anular de fixação aos núcleos de talão, respectivos costados feitos de material elastomérico são aplicadas. Nos pneus do tipo “sem câmara de ar”, a lona de carcaça é internamente coberta por uma camada de um material elastomérico preferivelmente à base de butila, usualmente chamada “revestimento” tendo características ótimas de impermeabilidade ao ar e se estendendo desde um núcleo de talão para o outro.

[004] O termo “material elastomérico” pretende indicar uma composição compreendendo pelo menos um polímero elastomérico e pelo menos um enchimento de reforço. Preferivelmente, tal composição compreende também aditivos, tais como um agente de reticulação e/ou um plastificante. Graças à presença do agente de reticulação, tal material pode ser reticulado por aquecimento, de modo a formar o artigo de fabricação final.

[005] O “componente” do pneu deve ser entendido como qualquer componente funcional do pneu montado na forma de uma tira cortada no tamanho (por exemplo: sub-revestimento, revestimento, lona/s de carcaça, camada/s de cinta, subcamada, banda de rodagem, etc.).

[006] A “estrutura de assentamento” deve ser entendida como um conjunto compreendendo um tambor de formação e um componente assentado sobre o mesmo.

[007] O “comprimento principal” de um componente assentado sobre um tambor de formação deve ser entendido como a distância circunferencial entre a primeira extremidade assentada (também chamada “borda dianteira”) e a segunda extremidade assentada (também chamada “borda traseira”) de dito componente.

[008] No caso em que as duas bordas opostas do componente assentado sobrepõem, tal comprimento principal é o comprimento circunferencial da porção de dito componente assentado tendo as acima mencionadas bordas de sobreposição.

[009] No caso em que as duas bordas opostas do componente assentado estão substancialmente contatando e coincidindo uma com a outra, tal comprimento principal é substancialmente nulo.

[0010] No caso em que as duas bordas opostas não estão em contato uma com a outra, tal comprimento principal é o comprimento circunferencial do segmento “vazio” que separa as duas extremidades do componente.

[0011] O “comprimento total” de um componente deve ser entendido como o comprimento do componente, medido de acordo com a direção ao longo da qual o componente propriamente dito se move à frente, enquanto ele está assentado sobre o tambor de formação.

[0012] O WO 2013/011396 descreve um aparelho para montar pneus para rodas de veículo, em que o tambor de formação é carregado sobre uma lançadeira que se move sobre uma guia ao longo de uma linha de assentamento. Em cada estação de fornecimento pelo menos um produto semiacabado é assentado sobre uma superfície radialmente externa do tambor de formação suportado pela lançadeira para formar pelo menos um componente de um pneu.

[0013] A EP 2613122A1 descreve um método e um aparelho para detectar formatos, tais como comprimento e dimensões de junção um elemento em forma de tira, tal como uma lona de carcaça, e um sensor de deslocamento bidimensional, empregado na detecção do formato do elemento em forma de tira.

[0014] Observou-se que as técnicas do tipo mostrado na EP 2613122A1 são limitadas a prover informação representativa da análise realizada na área de junção, sem tornar tal informação capaz de atuar, por alguma extensão, sobre os aparelhos de montagem do pneu.

[0015] Em particular, observou-se que, a fim de deixar que tal informação tenha uma utilidade prática atual, é necessário que um operador humano intervenha e, de acordo com a informação propriamente dita, decida descartar o componente e/ou ajustar os parâmetros de correção apropriados nas estações de preparação do componente assentado.

[0016] Verificou-se que, a despeito do uso de tais sistemas, asoperações de regulação/correção realizadas manualmente não são, todavia, muito confiáveis.

[0017] Na verdade, embora o dado de partida (informação representativa do comprimento principal do componente assentado e/ou da adequabilidade da junção) possa ser considerado correto e confiável, a extensão da correção a ser feita nos componentes subsequentes permanece a critério completo do operador, e em particular é baseada na experiência e na atenção do último.

[0018] Isto torna o controle e o processo de correção nãosuficientemente confiáveis e torna seus resultados não muito replicáveis.

[0019] Observou-se também que existe uma pluralidade deparâmetros, sobre os quais o operador pode atuar para corrigir a preparação do componente; isto implica que o controle que é manualmente realizado pelo operador propriamente dito é ainda mais problemático.

[0020] Observou-se também que o operador tem grande dificuldades em gerenciar manualmente os parâmetros de correção em plantas nas quais diferentes componentes são preparados e assentados em paralelo, e assim existem diferentes máquinas/estações que operam simultaneamente, que devem ser controladas e possivelmente corrigidas, tal como, por exemplo, em plantas do tipo descrito no documento WO 2013/011396 previamente descrito.

[0021] Foi tida, assim, a intuição que, por ajustar automaticamente a preparação dos componentes como uma função do comprimento principal detectado, é possível melhorar progressivamente a precisão do posicionamento das duas extremidades de cada componente e, consequentemente, as características estruturais do pneu.

[0022] Também percebeu-se que, por controle do corte do material como uma função do comprimento principal detectado depois do assentamento, é possível determinar precisamente o comprimento total dos componentes subsequentes, a fim de obter o arranjo desejado das duas extremidades do último.

[0023] Verificou-se assim que, por enviar um sinal gerado como uma função do comprimento principal detectado para a estação de preparação, adaptada para preparar dito componente, e por regular dita estação de preparação com base na informação contida em dito sinal, a precisão do posicionamento das extremidades dos componentes subsequentemente assentados pode ser extraordinariamente melhorada.

[0024] De acordo com um primeiro aspecto, a invenção se refere a um método para controlar o assentamento de componentes de pneus sobre tambores de formação.

[0025] Preferivelmente, dito método compreende enviar uma primeira radiação eletromagnética incidente sobre uma primeira estrutura de assentamento compreendendo um tambor de formação e um primeiro componente de um pneu assentado sobre dito tambor de formação.

[0026] Preferivelmente, dito método compreende detectar pelo menos uma correspondente primeira radiação refletida.

[0027] Preferivelmente, dito método compreende determinar, como uma função de dita primeira radiação refletida um primeiro parâmetro representativo de um primeiro comprimento principal de dito primeiro componente.

[0028] Preferivelmente, dito método compreende comparar dito primeiro parâmetro com um ou mais parâmetros de referência pré- armazenados.

[0029] Preferivelmente, dito método compreende gerar um primeiro sinal de correção como uma função de dita comparação.

[0030] Preferivelmente, dito método compreende enviar dito primeiro sinal de correção para pelo menos uma estação de preparação de dito primeiro componente para regular a preparação de outros componentes.

[0031] De acordo com outro aspecto, a invenção se refere a um aparelho para controlar o assentamento de componentes de pneus sobre tambores de formação.

[0032] Preferivelmente, dito aparelho compreende um dispositivo de emissão para enviar uma primeira radiação eletromagnética incidente sobre uma superfície radialmente externa de uma primeira estrutura de assentamento compreendendo um tambor de formação e um primeiro componente de um pneu assentado sobre dito tambor de formação.

[0033] Preferivelmente, dito aparelho compreende um dispositivo de detecção para detectar pelo menos uma correspondente primeira radiação refletida.

[0034] Preferivelmente, dito aparelho compreende uma unidade de processamento.

[0035] Preferivelmente, dita unidade de processamento é configurada para determinar, como uma função de dita primeira radiação refletida, um primeiro parâmetro representativo de um primeiro comprimento principal de dito primeiro componente.

[0036] Preferivelmente, dita unidade de processamento é configurada para comparar dito primeiro parâmetro com um ou mais parâmetros de referência pré-armazenados.

[0037] Preferivelmente, dita unidade de processamento é configurada para gerar um primeiro sinal de correção como uma função de dita comparação.

[0038] Preferivelmente, dita unidade de processamento é configurada para enviar dito primeiro sinal de correção para pelo menos uma estação de preparação adaptada para preparar dito primeiro componente para regular a preparação de outros componentes.

[0039] Acredita-se que, desta maneira, a técnica de correção aplicada à estação de preparação adaptada para preparar os componentes a serem assentados é mais precisa e confiável, pois é substancialmente independente de fatores altamente variáveis e imprevisíveis, tais como a capacidade, a atenção e a experiência do operador responsável pelo controle da planta.

[0040] Em particular, o comprimento total dos componentes, que deverão ser assentados, pode ser corrigido como uma função das imprecisões detectadas nas extremidades do componente já assentado.

[0041] De acordo com um ou mais dos aspectos acima mencionados, a invenção compreende uma ou mais das seguintes características preferidas.

[0042] Preferivelmente, uma fila é arranjada, compreendendo um ou mais componentes auxiliares prontos para serem assentados sobre dito tambor de formação, ditos componentes auxiliares sendo preparados por dita estação de preparação antes de receber dito primeiro sinal de correção.

[0043] Preferivelmente, cada um de ditos componentes auxiliares é esperado que seja assentado sobre, e em seguida removido de, dito tambor de formação.

[0044] Preferivelmente, um segundo componente é identificado e assentado sobre dito tambor de formação depois de ditos componentes auxiliares, dito segundo componente sendo preparado por dita estação de preparação depois da recepção de dito primeiro sinal de correção.

[0045] Preferivelmente, quando dito segundo componente é assentado sobre dito tambor de formação, uma segunda radiação eletromagnética é enviada, sendo incidente sobre uma segunda estrutura de assentamento compreendendo dito tambor de formação e dito segundo componente assentado sobre dito tambor de formação.

[0046] Preferivelmente, pelo menos uma correspondente segunda radiação refletida é detectada.

[0047] Preferivelmente, um segundo parâmetro representativo de um segundo comprimento principal de dito segundo componente é determinado como uma função de dita segunda radiação refletida.

[0048] Preferivelmente, um segundo sinal de correção é gerado como uma função de dito primeiro parâmetro e de dito segundo parâmetro.

[0049] Preferivelmente, dito segundo sinal de correção é enviado para dita estação de preparação.

[0050] Preferivelmente, quando dito segundo componente está assentado sobre dito tambor de formação, dito dispositivo de emissão é ativado para enviar uma segunda radiação eletromagnética incidente sobre uma segunda estrutura de assentamento compreendendo dito tambor de formação e dito segundo componente assentado sobre dito tambor de formação.

[0051] Preferivelmente, um segundo parâmetro representativo de um segundo comprimento principal de dito segundo componente é detectado como uma função de uma segunda radiação refletida, detectada por dito dispositivo de detecção.

[0052] Assim, é possível melhorar ainda mais a precisão do posicionamento das extremidades do componente assentado, e em particular o comprimento principal do componente propriamente dito.

[0053] Observou-se, na verdade, que uma série de fatores tais como, por exemplo, as condições nas quais a planta opera, a temperatura do local de trabalho, que nem sempre é constante, o fato de que os carretéis de material, a partir dos quais os componentes são obtidos, não podem ser idênticos uns aos outros, o desgaste e o alongamento das cintas que transportam os produtos semiacabados, etc., podem provocar uma deriva da estação de preparação adaptada para preparar os componentes, mais especificamente uma condição na qual o comportamento dos dispositivos que fazem parte de dita estação de preparação progressivamente se desvia daquele esperado.

[0054] Além disso, com a meta de minimizar o tempo ocioso entre a etapa de deposição do componente e a operação subsequente, uma fila de componentes é criada antes de os últimos serem assentados sobre os tambores de formação.

[0055] Isto implica que, uma vez quando uma determinada correção é ajustada para a estação de preparação, ainda um certo número de componentes (igual ao número de componentes que formam a fila) será assentado antes de os efeitos de tal correção serem visíveis.

[0056] Observou-se a este respeito que, por várias razões, o número exato dos componentes que formam uma fila nem sempre é conhecido para o operador.

[0057] Primeiramente, o operador não sabe o instante no tempo quando os componentes são cortados antes de serem colocados na fila; em outras palavras, o operador pode não saber se a correção inserida em um certo instante é aplicada também aos componentes que, neste instante, não fazem parte da fila, ainda, mas que estão prestes a serem cortados, ou se tais componentes já foram cortados e assim o número de componentes na fila irá aumentar em um tempo muito pequeno.

[0058] Além disso, tipos diferentes de componentes e tipos diferentes de materiais implicam em filas compreendendo diferentes quantidades de componentes, de modo que o operador dificilmente pode conhecer e/ou lembrar do número exato de componentes que formam cada fila.

[0059] Em adição a isso, em plantas que são pelo menos parcialmente automatizadas, tal como aquela do tipo descrito no WO 2013/011396, tipos diferentes de componentes podem ser feitos em paralelo na mesma planta, de modo que o mesmo operador é o responsável pelo controle de diferentes linhas simultaneamente, sendo que as filas compreendem diferentes quantidades de componentes.

[0060] Assim observou-se que o operador, depois de ter ajustado uma determinada correção, não pode identificar com confiabilidade razoável quais são os componentes nos quais tal correção teve um efeito, e ele/ela não pode compreender se a inexatidão previamente detectada foi substancialmente corrigida ou se, pelo contrário, é necessário refinar ainda mais o ajuste.

[0061] Assim acredita-se que, por gerar o segundo sinal de correção como uma função de dito primeiro parâmetro e de dito segundo parâmetro, é possível melhorar ainda mais a precisão e a confiabilidade das correções feitas na estação de preparação.

[0062] Preferivelmente, b. gerar dito segundo sinal de correção como uma função de dito primeiro parâmetro compreende b. gerar dito segundo sinal de correção como uma função de dito primeiro sinal de correção.

[0063] Assim, é possível corrigir progressivamente o funcionamento da estação de preparação, levando em consideração a correção feita previamente.

[0064] Preferivelmente, quando cada um de um ou mais componentes auxiliares está assentado sobre dito tambor de formação, uma radiação eletromagnética auxiliar é enviada, sendo incidente sobre uma estrutura de assentamento auxiliar compreendendo dito tambor de formação e dito componente auxiliar assentado sobre dito tambor de formação.

[0065] Preferivelmente, pelo menos uma correspondente radiação auxiliar refletida é detectada.

[0066] Preferivelmente, um respectivo parâmetro auxiliar, representativo do comprimento principal de dito componente auxiliar assentado sobre dito tambor de construção, é determinado como uma função de dita radiação auxiliar refletida.

[0067] Preferivelmente, dito segundo sinal de correção é gerado também como uma função de dito parâmetro auxiliar.

[0068] Assim, é possível fazer correções na estação de preparação também como uma função do posicionamento das extremidades dos componentes assentados antes que o primeiro sinal de correção pudesse produzir seus efeitos.

[0069] Preferivelmente, um parâmetro de identificação é recebido, sendo representativo de um tipo e/ou de um material pelo menos de dito primeiro componente.

[0070] Preferivelmente, um primeiro algoritmo associado a ditoparâmetro de identificação é selecionado.

[0071] Preferivelmente, pelo menos dito primeiro parâmetro édeterminado com base em dito primeiro algoritmo.

[0072] Assim, é possível determinar o primeiro parâmetro usando um algoritmo apropriado para o tipo de componente assentado e/ou para o material a partir do qual o último é feito.

[0073] Preferivelmente, dito segundo parâmetro é determinado com base em dito primeiro algoritmo.

[0074] Preferivelmente, dito um ou mais parâmetros auxiliares são determinados com base em dito primeiro algoritmo.

[0075] Preferivelmente, um segundo algoritmo associado a dito parâmetro de identificação é selecionado.

[0076] Preferivelmente, pelo menos dito primeiro sinal de correção é gerado com base em dito segundo algoritmo.

[0077] Assim a correção feita na estação de preparação pode ser determinada apropriadamente de acordo com um algoritmo selecionado como uma função do tipo de componente que foi assentado.

[0078] Preferivelmente, dito segundo sinal de correção é gerado com base em dito segundo algoritmo.

[0079] Preferivelmente, esperar que cada um de ditos componentes auxiliares esteja assentado sobre, e em seguida removido de, dito tambor de formação compreende determinar um número N representativo de quantos componentes auxiliares estão incluídos em dita fila.

[0080] Preferivelmente, esperar que cada um de ditos componentes auxiliares esteja assentado sobre, e em seguida removido de, dito tambor de formação compreende verificar que N componentes auxiliares estão assentado sobre, e subsequentemente removidos de, dito tambor de formação.

[0081] Preferivelmente, a fim de esperar que cada um de ditos componentes auxiliares esteja assentado sobre, e em seguida removido de, dito tambor de formação, dita unidade de processamento é configurada para determinar um número N representativo de quantos componentes auxiliares estão incluídos em dita fila.

[0082] Preferivelmente, a fim de esperar que cada um de ditos componentes auxiliares esteja assentado sobre, e em seguida removido de, dito tambor de formação, dita unidade de processamento é configurada para verificar que N componentes auxiliares estão assentados sobre, e subsequentemente removidos de, dito tambor de formação.

[0083] Preferivelmente, dito número N de componentes auxiliares em dita fila é determinado como uma função de dito parâmetro de identificação.

[0084] Preferivelmente, um parâmetro de deslocamento é determinado como uma função de dito parâmetro de identificação.

[0085] Preferivelmente, como uma função de dito parâmetro de deslocamento, pelo menos um dispositivo de emissão e um dispositivo de detecção são deslocados, adaptados para emitir pelo menos dita primeira radiação eletromagnética incidente e para receber dita primeira radiação eletromagnética refletida, respectivamente.

[0086] Assim, a detecção das radiações refletidas pode ser otimizada, uma vez que a posição do dispositivo de emissão e do dispositivo de detecção é determinada como uma função do tipo de componente que foi assentado e/ou do material a partir do qual o último é feito.

[0087] Preferivelmente, dito deslocamento ocorre ao longo de uma direção substancialmente paralela a um eixo de rotação de dito tambor de formação.

[0088] Preferivelmente, um parâmetro de tempo é determinado, representativo de um tempo de espera de dito segundo componente depois de ser preparado por dita estação de preparação e antes de ser assentado sobre dito tambor de formação.

[0089] Preferivelmente, dito segundo sinal de correção é gerado como uma função de dito parâmetro de tempo.

[0090] Assim, é possível fazer correções de extensão controlada no caso em que o componente teve que esperar por um longo tempo entre a montagem e o assentamento.

[0091] Notou-se no fato de que as características físicas/geométricas do componente de espera podem variar sobre o tempo. Em particular, a Notou-se que, no curso do tempo, as dimensões do componente tendem a se reduzir até uma certa extensão, como uma função, por exemplo, das características ambientais e das características específicas do material a partir do qual o componente é feito. Tais variações, embora substancialmente imperceptíveis de um ponto de vista macroscópico, podem, todavia, afetar extraordinariamente o comprimento principal do componente, uma vez quando o último é assentado sobre o tambor de formação. Verificou-se que as correções com base na detecção de tal comprimento principal não levam a qualquer melhoria do funcionamento da estação de preparação, e, pelo contrário, elas contribuem para gerar ruído no dado de controle, retardando assim a convergência do sistema na direção para um funcionamento ótimo. Verificou-se assim que, por diminuição da extensão (ou da intensidade) da correção ajustada como uma função do tempo de espera do componente, do qual o comprimento principal é detectado, é possível melhorar a qualidade das correções feitas e acelerar a convergência na direção para a condição de operação satisfatória.

[0092] Preferivelmente, dito segundo sinal de correção é configurado de modo a provocar na dita estação de preparação uma modificação cuja magnitude é substancialmente monotonamente decrescente em relação ao aumento de dito tempo de espera.

[0093] Preferivelmente, dito dispositivo de emissão e dito dispositivo de detecção são montados em uma estrutura de suporte e são móveis ao longo de uma ou mais respectivas guias substancialmente paralelas a um eixo de rotação de dito tambor de formação.

[0094] Preferivelmente, pelo menos um atuador ativo no ditodispositivo de emissão e/ou no dito dispositivo de detecção é provido para mover o último ao longo de dita uma ou mais guias.

[0095] Preferivelmente, dita unidade de processamento é configurada para receber um parâmetro de identificação representativo de um tipo e/ou de um material de pelo menos dito primeiro componente.

[0096] Preferivelmente, dita unidade de processamento é configurada para comandar dito pelo menos um atuador como uma função de dito parâmetro de identificação.

[0097] Por conseguinte, o aparelho de acordo com a invenção pode se adaptar de uma maneira ótima aos componentes que têm diferentes características, melhorando assim a qualidade da detecção realizada e, consequentemente, a qualidade das correções feitas.

[0098] Outras características e vantagens ficarão mais claras a partir da descrição detalhada de uma modalidade preferida, mas não limitativa, da invenção. Tal descrição é provida a seguir com referência às figuras anexas, dadas a título de exemplo e, assim, não limitativas, nas quais:- as figuras 1 a 3 mostram esquematicamente um aparelho de acordo com um aspecto da presente invenção, enquanto opera em diferentes etapas de operação;- a figura 4 mostra esquematicamente o aparelho das figuras 1 a 3 de acordo com um ângulo diferente;- a figura 5 mostra um diagrama de blocos de uma unidade de processamento incluída no aparelho mostrado nas figuras 1 a 4;- as figuras 6a, 6b e 6c mostram exemplos de três tipos diferentes de junções que se relacionam ao mesmo componente;- a figura 7 mostra um diagrama representativo das magnitudes usadas no aparelho e no método de acordo com a presente invenção.

[0099] Com referência às figuras anexas, 1 indica globalmente um aparelho para controlar o assentamento de componentes de pneu sobre tambores de formação de acordo com um aspecto da presente invenção.

[00100] O aparelho 1 pode ser vantajosamente usado em uma planta para produzir pneus para rodas de veículo, em que a fabricação de cada pneu é feita por assentar sequencialmente um ou mais componentes sobre respectivos tambores de formação.

[00101] Cada tambor de formação pode receber componentes a partir de diferentes estações de fornecimento ou de preparação. Nas plantas que são pelo menos parcialmente automatizadas, por exemplo, do tipo mostrado no documento WO 2013/011396, os tambores de formação podem ser movidos por meio de dispositivos apropriados entre diferentes posições de operação, nas quais eles recebem respectivos componentes para montar o pneu.

[00102] Nas figuras 1 a 3, o bloco 40 representa, a título de exemplo, uma estação de preparação, que provê componentes a serem assentados sobre um tambor de formação 2.

[00103] Em uma modalidade, o componente que deve ser assentado é inicialmente provido como um festonê [em italiano: FESTONE] e é cortado no tamanho na estação de preparação 40 por meio de um dispositivo de corte apropriado (não mostrado), de acordo com parâmetros de comprimento pré- ajustados.

[00104] O tambor de formação 2 tem preferivelmente um formato substancialmente cilíndrico, e é configurado de modo a girar em torno de seu eixo de simetria longitudinal X.

[00105] A figura 1 mostra um primeiro componente C1 assentado sobre o tambor de formação 2, de modo a formar uma primeira estrutura de assentamento 3a.

[00106] O primeiro componente C1 pode compreender, por exemplo, um sub-revestimento, um revestimento, uma ou mais lonas de carcaça, uma ou mais camadas de cinta, uma subcamada, uma banda de rodagem, etc.; em geral, o primeiro componente C1 pode ser qualquer componente funcional do pneu montado na forma de uma tira cortada no tamanho.

[00107] A figura 2 mostra um componente auxiliar Cx genérico, assentado sobre o tambor de formação 2, de modo a formar uma estrutura de assentamento auxiliar 3x.

[00108] A figura 3 mostra um segundo componente C2 assentado sobre o tambor de formação 2, de modo a formar uma segunda estrutura de assentamento 3b.

[00109] O primeiro componente C1, o componente auxiliar Cx e o segundo componente C2 são representados separadamente, uma vez que eles são assentados sobre o mesmo tambor de formação 2 em diferentes instantes.

[00110] Deve ser notado que, nas figuras 1 a 3, a espessura do componente assentado e a magnitude da parte sobreposta entre as duas extremidades são intencionalmente aumentadas com relação às dimensões dos outros elementos mostrados a fim de destacar de melhor maneira algumas características da invenção.

[00111] Preferivelmente, o tempo no qual os componentes são assentados sobre o tambor de formação 2 é compreendido entre cerca de 0,8 s e cerca de 1,2 s.

[00112] O aparelho 1 compreende um dispositivo de emissão 10 para enviar uma primeira radiação eletromagnética Ri1 incidente sobre uma superfície radialmente externa da primeira estrutura de assentamento 3a.

[00113] A primeira radiação incidente Ri1 é preferivelmente uma radiação laser, tendo um comprimento de onda compreendido entre cerca de 630 nm e 650 nm.

[00114] Em uma modalidade preferida, o dispositivo de emissão 10 compreende um primeiro e um segundo emissores11, 12, apropriadamente espaçados um do outro, de forma a direcionar as radiações sobre porções predeterminadas da estrutura de assentamento 3a.

[00115] O aparelho 1 compreende ainda um dispositivo de detecção 20 associado ao dispositivo de emissão 10.

[00116] O dispositivo de detecção 20 é adaptado para detectar pelo menos uma primeira radiação refletida Rr1, gerada pela reflexão, sobre a superfície radialmente externa da primeira estrutura de assentamento 3a, da primeira radiação incidente Ri1.

[00117] Em uma modalidade preferida, o dispositivo de emissão 20 compreende um primeiro e um segundo detectores 21, 22, respectivamente associados ao dito primeiro e segundo emissores 11, 12, de modo a detectar as radiações refletidas que provêm da primeira estrutura de assentamento 3a.

[00118] Preferivelmente, o primeiro emissor 11 e o primeiro detector 21 são integrais um com o outro; preferivelmente o segundo emissor 12 e o segundo detector 22 são integrais um com o outro.

[00119] Vantajosamente, o dispositivo de emissão 10 e o dispositivo de detecção 20 são montados em uma guia G.

[00120] A figura 4 mostra esquematicamente os emissores 11, 12 e os detectores 21, 22 montados na guia G.

[00121] Preferivelmente, a guia G é substancialmente paralela ao eixo geométrico longitudinal de simetria X do tambor de formação 2.

[00122] Preferivelmente, pelo menos durante o funcionamento do aparelho 1, o dispositivo de emissão 10 e o dispositivo de detecção 20 são integrais à estrutura de suporte do tambor de formação 2. Além da rotação do tambor de formação 2 em torno de seu eixo de rotação X, o dispositivo de emissão 10 e o dispositivo de detecção 20 são integrais com o tambor de formação 2 propriamente dito.

[00123] Preferivelmente, a guia G é substancialmente integral com a estrutura de suporte do tambor de formação 2.

[00124] Preferivelmente, o primeiro emissor 11 e o primeiro detector 21 são móveis ao longo de dita guia G.

[00125] Preferivelmente, o segundo emissor 12 e o segundo detector 22 são móveis ao longo de dita guia G.

[00126] Preferivelmente, o primeiro emissor 11 e o primeiro detector 21 são móveis em relação ao segundo emissor 12 e o segundo detector 22.

[00127] Como se tornará mais claro a seguir, o deslocamento do primeiro emissor 11, do primeiro detector 21, do segundo emissor 12 e do segundo detector 22 pode ser controlado de uma maneira automática.

[00128] Preferivelmente, a distância entre o dispositivo de emissão 10 e o tambor de formação 2 e a distância entre o dispositivo de detecção 20 e o tambor de formação 2 são ajustadas manualmente, por exemplo em cada “alteração de aro” [in italiano: AD OGNI CAMBIO DI “CALETTAMENTO”], Mais especificamente, em cada alteração do diâmetro de dito tambor.

[00129] Vantajosamente o aparelho 1 compreende ainda uma unidade de processamento 30.

[00130] A unidade de processamento 30 é operativamente associada pelo menos ao dispositivo de detecção 20, a fim de determinar, como uma função de dita primeira radiação refletida Rr1, um primeiro parâmetro P1 representativo do primeiro comprimento principal L1 do primeiro componente C1.

[00131] Na figura 1 é possível observar que o primeiro comprimento principal L1 representa a distância entre a borda dianteira H1 do primeiro componente C1, mais especificamente a extremidade que é assentada em primeiro lugar, e a borda traseira T1, mais especificamente a extremidade que é assentada em segundo lugar.

[00132] O primeiro parâmetro P1 pode ser expresso em graus ou radianos, de forma a indicar a distância angular entre as duas bordas de extremidade do primeiro componente C1.

[00133] Em adição ou como uma alternativa, o primeiro parâmetro P1 pode ser expresso em milímetros, de forma a indicar o comprimento do trajeto que separa as duas extremidades.

[00134] Na modalidade preferida, a unidade de processamento 30 é configurada para determinar inicialmente a distância angular entre a cabeça H1 e a cauda T1, que é então multiplicada pelo raio da primeira estrutura de assentamento 3a para obter o valor em termos de comprimento.

[00135] Deve ser notado que, como o raio da primeira estrutura de assentamento 3a, o raio do tambor de formação 2, ou um raio médio da estrutura de assentamento 3a propriamente dita, pode ser usado.

[00136] Preferivelmente, a fim de determinar o primeiro parâmetro P1, a unidade de processamento 30 usa também um sinal de codificador ES, que provém de um codificador E configurado para detectar a posição angular no tempo do tambor de formação 2.

[00137] Na prática, a unidade de processamento 30 pode compreender a estrutura de hardware/software, que é necessária para condicionar os sinais recebidos pelo dispositivo de detecção 20, para a subsequente medição, para exibir os resultados (por exemplo para o operador responsável pela supervisão do funcionamento do sistema) e para o registro de dados relacionado às várias funções/atividades realizadas.

[00138] Em particular, os sinais providos pelo dispositivo de detecção 20 são inicialmente processados por um amplificador, o qual realiza um primeiro condicionamento dos mesmos, estabelecendo seu tempo de escala e amostragem. O estabelecimento de sua escala e o tempo de amostragem. Dito amplificador gera um par de sinais analógicos, que é provido na entrada para um módulo de medição. O último opera preferivelmente em tempo real.

[00139] Por meio de uma interface de usuário apropriada, realizada, por exemplo, como um PC convencional, vários dados e funções podem ser tornados disponíveis para o operador, tais como, por exemplo:- exibição das medições realizadas com a indicação da respectiva avaliação de adequabilidade;- exibição de uma representação gráfica da área de junção do componente assentado e dos dados detalhados relacionados, úteis para uma sintonização fina do sistema;- possibilidade de ajustar limites de avaliação com relação aos arranjos definidos pelas especificações de projeto ou “receita”;- possibilidade de parametrização e calibração do sistema;- exibição do registro de dado de toda a medição realizada e possível transmissão em tempo real para uma base de dados remota.

[00140] Em suma, como uma função da primeira radiação refletida Rr1, a unidade de processamento 30 determina a que distância a partir do dispositivo de detecção 20 a posição radialmente externa da primeira estrutura de assentamento 3a está situada.

[00141] Na modalidade preferida, tal distância permite seguir o perfil definido pela superfície radialmente externa da borda dianteira H1 do primeiro componente C1, subsequentemente definida pela borda traseira T1 do primeiro componente C1 propriamente dito.

[00142] Assim, a posição da borda dianteira H1 e a posição da borda traseira T1 são detectadas, de forma a determinar o primeiro parâmetro P1 representativo do primeiro comprimento principal L1.

[00143] No caso em que o primeiro e o segundo detectores 21, 22 são provido, o cálculo do parâmetro P1 pode ser realizado como uma média de correspondentes parâmetros parciais determinados como uma função das medições realizadas pelos detectores simples 21, 22.

[00144] Preferivelmente, a frequência de amostragem usada para detectar as radiações refletidas é compreendida entre cerca de 15 KHz e cerca de 25 KHz.

[00145] Preferivelmente, a resolução angular obtida é compreendida entre cerca de 0,01° e cerca de 0,1°.

[00146] Preferivelmente, uma resolução vertical é usada, mais especificamente de acordo com a direção na qual as radiações incidentes e refletidas se propagam, compreendida entre cerca de 5 μm e cerca de 15 μm. Em geral, algoritmos diferentes podem ser usados para determinar o primeiro parâmetro P1.

[00147] Em uma modalidade preferida, o algoritmo a ser aplicado pode ser selecionado entre uma pluralidade de algoritmos pré-armazenados.

[00148] Em particular, a unidade de processamento 30 pode ser configurada para receber um parâmetro de identificação ID na entrada, representativo do tipo de componente que deve ser assentado sobre o tambor de formação 2 e/ou do material a partir do qual tal componente é feito; o parâmetro de identificação ID é preferivelmente representativo do tipo e/ou do material do primeiro componente C1.

[00149] Como uma função do parâmetro de identificação ID recebido, a unidade de processamento 30 seleciona um primeiro algoritmo A1 que permite determinar o primeiro comprimento principal L1 do primeiro componente C1 com base na primeira radiação refletida detectada Rr1.

[00150] O parâmetro de identificação ID é preferivelmente enviado para a unidade de processamento 30 do aparelho de controle (por exemplo, um PLC), que supervisiona o funcionamento de toda a máquina. Tal aparelho de controle é equipado com uma memória, na qual o programa operacional da máquina propriamente dita é carregado, assim, ele sabe antecipadamente quais componentes serão feitos e preparados para um assentamento sobre o tambor de formação 2.

[00151] A título de exemplo, o parâmetro de identificação ID pode ser representativo da largura dos componentes que está prestes a ser provida para o tambor de formação 2, mais especificamente, a dimensão do componente, medida paralela ao eixo de rotação X.

[00152] O primeiro parâmetro P1 pode assim ser calculado como uma função da primeira radiação refletida Rr1 por meio do primeiro algoritmo A1.

[00153] Uma vez quando o primeiro parâmetro P1 foi determinado, a unidade de processamento 30 é configurada para comparar o primeiro parâmetro P1 propriamente dito com um ou mais valores de referência pré- armazenados Ref.

[00154] Os valores de referência Ref podem ser representativos, por exemplo, da distância desejada entre a cabeça H1 e a cauda T1 do primeiro componente C1 depois que o último foi assentado.

[00155] Tal distância desejada pode ser indicativa do fato de que a cabeça e a cauda não devem se sobrepor, e que é necessário deixar um espaço que tem um comprimento predeterminado, precisamente igual à distância desejada, entre a cabeça e a cauda.

[00156] O exemplo mostrado na figura 6a se refere a um revestimento tendo uma assim chamada junção “curta” (intervalo de 2°).

[00157] Em outro exemplo, a distância desejada pode ser substancialmente igual a zero, e indicar que a cabeça e cauda têm que se contatar e substancialmente unindo uma à outra.

[00158] O exemplo mostrado na figura 6b se refere a um revestimento tendo uma assim chamada “cabeça com cabeça”.

[00159] Em outro exemplo, a distância desejada pode ser indicativa do fato de que a cabeça e cauda devem ser sobrepostas (em particular a cauda deve ser colocada acima da cabeça) e a parte sobreposta deve ter um predeterminado comprimento, igual à distância desejada. Neste caso, a distância desejada pode ser de sinal oposto com relação ao primeiro exemplo, em que cabeça de cauda não estão em contato uma com a outra.

[00160] O exemplo mostrado na figura 6c se refere a um revestimento tendo uma assim chamada junção “longa” (parte sobreposta de 2°).

[00161] Preferivelmente, os valores de referência Ref definem um intervalo de aceitabilidade para o primeiro parâmetro P1.

[00162] A comparação entre o primeiro parâmetro P1 e dito um ou mais valores de referência Ref pode assim prover indicações relacionadas à precisão do comprimento total do primeiro componente C1. De fato, sendo garantido que o primeiro componente C1 está assentado apropriadamente, uma variável que é capaz de afetar substancialmente o primeiro comprimento principal L1 é o comprimento total do primeiro componente C1.

[00163] Se a comparação entre o primeiro parâmetro P1 e o valor de referência Ref mostrar que o primeiro comprimento principal L1 não é o desejado, a unidade de processamento 30 gera um primeiro sinal de correção S1 endereçado à estação de preparação 40.

[00164] Por meio do primeiro sinal de correção S1 é assim possível corrigir a preparação de outros componentes, por exemplo, por modificar progressivamente o comprimento total de tais componentes.

[00165] Se o parâmetro P1 for então demasiadamente longe do valor desejado e/ou demasiadamente fora do intervalo de aceitabilidade, um sinal de comando é também gerado de modo que o componente em questão seja automaticamente movido para uma zona de controle, na qual um operador pode avaliar se o componente propriamente dito deve ser descartado ou pode ser recuperado de alguma maneira.

[00166] O primeiro sinal de correção S1 é gerado como uma função de um algoritmo determinado, de modo a obter os efeitos desejados sobre a preparação dos componentes subsequentes. Tal algoritmo pode ser vantajosamente selecionado entre uma pluralidade de algoritmos pré- armazenados.

[00167] Por exemplo, como uma função do parâmetro de identificação ID, acima mencionado, a unidade de processamento 30 pode selecionar um segundo algoritmo A2, por meio do qual, como uma função do primeiro parâmetro P1 e dos respectivos valores de referência Ref, o primeiro sinal de correção S1 é gerado.

[00168] A fim de evitar qualquer tempo de inatividade e tornar a produção tão eficiente quanto possível, a estação de preparação 40 preferivelmente arranja uma fila Q de componentes prontos para serem assentados sobre o tambor de formação 2 depois do primeiro componente C1. Tal fila Q é arranjada antes de o primeiro componente C1 ser analisado, como descrito acima.

[00169] Assim, o dito número N de componentes que fazem parte da fila Q (a seguir referidos como os componentes auxiliares Cx), os efeitos do primeiro sinal de correção S1 serão sentidos a partir do (N+1)ésimo componente, mais especificamente, o primeiro componente preparado pela estação de preparação 40 depois de ter recebido o primeiro sinal de correção S1.

[00170] A unidade de processamento assim espera que todos os componentes auxiliares Cx sejam assentado sobre o tambor de formação 2 e sejam removidos do último (mais especificamente para o tambor de formação 2 passar por uma subsequente usinagem depois de ter liberado o pneu que estava sendo feito).

[00171] Assim, a unidade de processamento 30 espera que todos um segundo componente C2, assentado sobre o tambor de formação 2, depois de que todos dos componentes auxiliares Cx estão assentados e removidos de dito tambor de formação 2.

[00172] O segundo componente C2 é preparado pela estação de preparação 40 depois de que a última recebeu o primeiro sinal de correção S1.

[00173] Em uma modalidade preferida, o segundo componente C2 é o (N+1)ésimo componente assentado sobre o tambor de formação 2, depois do primeiro componente C1, mais especificamente, ele é o componente assentado sobre o tambor de formação 2 imediatamente depois de que a fila Q terminou.

[00174] O segundo componente C2 é tratado pelo aparelho 1 exatamente como o primeiro componente C1: uma segunda radiação incidente Ri2 é enviada sobre a superfície radialmente externa da segunda estrutura de assentamento 3b (formada pelo tambor de formação 2 e pelo segundo componente C2) e, como uma função da correspondente segunda radiação refletida Rr2, um segundo parâmetro P2 é determinado, representativo do segundo comprimento principal L2, mais especificamente da distância entre a borda dianteira e a borda traseira do segundo componente C2.

[00175] Preferivelmente, o segundo parâmetro P2 é determinado pelo uso do primeiro algoritmo A1, selecionado com base no parâmetro de identificação ID.

[00176] Preferivelmente, a fim de identificar o segundo componente C2, a unidade de processamento 30 determina um número N representativo de quantos componentes auxiliares Cx fazem parte da fila Q.

[00177] Em particular, o número N pode ser determinado como uma função do parâmetro de identificação ID: para cada tipo de componente, de fato, uma fila compreendendo um número diferente de elementos pode ser arranjada. A unidade de processamento 30, em um de seus próprios registros de memória, tem esse tipo de informação disponível e, como uma função do parâmetro de identificação ID, pode determinar o número correto N para o tipo de componente em questão.

[00178] A unidade de processamento 30 terá então simplesmente que contar quantos componentes estão assentados depois do primeiro componente C1 e será então capaz de identificar o segundo componente C2 depois de todos os outros N componentes auxiliares Cx da fila Q terminarem.

[00179] Como uma função do segundo parâmetro P2, a unidade de processamento 30 gera o segundo sinal de correção S2 e envia o último para a estação de preparação 40, de forma a corrigir ainda a preparação dos componentes subsequentes.

[00180] Preferivelmente, o segundo sinal de correção S2 é gerado não somente com base no segundo parâmetro P2, mas também como uma função do primeiro parâmetro P1.

[00181] Mais em particular, o segundo sinal de correção S2 é gerado como uma função do segundo parâmetro P2 e do primeiro sinal de correção S1: assim a nova correção leva em conta a correção feita previamente (primeiro sinal de correção S1) e os efeitos do último produzido (segundo parâmetro P2).

[00182] Pela operação desta maneira, é possível, sobre o tempo, fazer com que o funcionamento da estação de preparação 40 convirja para uma condição de operação ótima, evitando assim que quantidades extraordinárias de componentes devam ser descartadas ou pelo menos modificadas antes de serem usadas.

[00183] Preferivelmente, o segundo sinal de correção S2 é gerado como uma função do segundo parâmetro P2, com base no segundo algoritmo A2 selecionado como uma função do parâmetro de identificação ID.

[00184] Preferivelmente, o segundo sinal de correção S2 é gerado também como uma função de uma comparação entre o segundo parâmetro P2 e os valores de referência Ref acima mencionados, mais especificamente os valores representativos do comprimento principal desejado.

[00185] Preferivelmente, os valores de referência Ref são selecionados dentro de uma tabela pré-armazenada como uma função do parâmetro de identificação ID, acima mencionado.

[00186] Em uma modalidade, também o comprimento principal de um ou mais componentes auxiliares Cx pode ser detectado. Para esta finalidade, quando um componente auxiliar Cx, cujo comprimento principal deve ser determinado, é assentado sobre o tambor de formação 2, uma radiação incidente auxiliar Rix é enviada sobre a estrutura de assentamento auxiliar 3x assim obtida. A correspondente radiação auxiliar refletida Rrx é então detectada e, como uma função da última, a unidade de processamento 30 determina um parâmetro auxiliar Px representativo do comprimento principal Lx de dito componente auxiliar Cx.

[00187] Os parâmetros principais Px podem ser determinados com base no primeiro algoritmo A1, da mesma maneira que o primeiro parâmetro P1 e o segundo parâmetro P2 são preferivelmente determinados.

[00188] Os parâmetros auxiliares Px podem vantajosamente contribuir para o conteúdo do segundo sinal de correção S2: os parâmetros auxiliares Px, de fato, podem permitir a identificação do funcionamento da estação de preparação 40 na ausência do primeiro sinal de correção S1 e eles podem assim ser significantes no ajuste da segunda correção.

[00189] Em uma modalidade, o comprimento principal de todos dos componentes auxiliares Cx é determinado; em uma modalidade alternativa, somente alguns dos componentes auxiliares são considerados para este objetivo.

[00190] Deve ser notado que a segunda radiação incidente Ri2 e/ou as radiações incidentes auxiliares Rix são preferivelmente geradas pelo dispositivo de emissão 10, e têm assim as mesmas características físicas que a primeira radiação incidente Ri1.

[00191] Preferivelmente, a segunda radiação refletida Ri2 e/ou as radiações auxiliares refletidas Rrx são detectadas pelo dispositivo de detecção 20.

[00192] Preferivelmente, como uma função do parâmetro de identificação ID, a unidade de processamento 30 pode determinar um parâmetro de deslocamento DP. Como uma função de tal parâmetro de deslocamento DP, a unidade de processamento 30 comanda um atuador M para o movimento do dispositivo de emissão 10 e/ou do dispositivo de detecção 20.

[00193] Em mais detalhe, o atuador M pode se mover, ao longo da mencionada guia G, do primeiro emissor 11 e do primeiro detector 21 e/ou do segundo emissor 12 e do segundo detector 22, de forma a posicioná-los da maneira a mais apropriada como uma função do componente que deve ser examinado.

[00194] Em uma modalidade, a unidade de processamento 30 é configurada para determinar um parâmetro de tempo T representativo de um tempo de espera do segundo componente C2 depois de ser preparado por dita estação de preparação 40 e antes de ser assentado sobre dito tambor de construção 2.

[00195] Vantajosamente, o segundo sinal de correção S2 é gerado como uma função de dito parâmetro de tempo T.

[00196] Assim, é possível levar em conta as modificações que o segundo componente C2 pode ter sido submetido durante o tempo de espera e modular a respectiva correção a ser consequentemente ajustada. Mais em particular, quanto mais longo for o tempo de espera, tanto menor será a extensão da correção a ser feita. A título de exemplo, o segundo sinal S2 pode determinar a correção do comprimento total dos componentes preparados subsequentemente; no caso em que o tempo de espera do segundo componente C2 é demasiadamente longo, a respectiva correção feita ao comprimento total dos componentes subsequentes seria de uma extensão reduzida. A figura 7 mostra, somente a título de exemplo, uma relação que pode existir entre o parâmetro de tempo T e a característica da variação ajustada por meio do segundo sinal de correção S2. O tempo de espera, depois do qual a suposta correção pode ser considerada não significante, pode ser compreendida, por exemplo, entre cerca de 5 minutos e cerca de 10 minutos.

[00197] Deve ser notado que a técnica para modular a intensidade da correção descrita acima com referência ao segundo componente C2 e ao respectivo segundo sinal de correção S2 pode ser aplicada também a outros componentes examinados, tais como, por exemplo, ao primeiro componente C1, ao/s componente/s auxiliar/es Cx examinados, possíveis componentes subsequentes preparados para a estação de preparação 40 e assentados sobre o tambor de formação 2.

[00198] Deve ser notado que a invenção foi descrita e reivindicada aqui com referência ao primeiro componente C1, ao segundo componente C2 e aos componentes auxiliares Cx. Na prática, a invenção pode ser atuada com sequências de componentes muito mais longas. Cada sequência compreende uma repetição substancial dos padrões formados pelo primeiro componente C1, pelos componentes auxiliares Cx e pelo segundo componente C2. Em particular, o primeiro componente de cada padrão preferivelmente coincide com o segundo componente do padrão prévio. Preferivelmente, os sinais de correção gerados depois da análise dos componentes de um padrão determinado são uma função não somente dos parâmetros (primeiro parâmetro, segundo parâmetro, possíveis parâmetros auxiliares) calculados com referência a este padrão, mas também como uma função dos parâmetros determinados durante a análise dos padrões prévios. Assim, a unidade de processamento 30 pode identificar e corrigir de uma maneira apropriada e precisa um possível mau funcionamento da estação de preparação 40.

[00199] Deve ser notado que a unidade de processamento 30 pode ser feita um único dispositivo de hardware ou pela associação de vários dispositivos conectados entre si; dito/s dispositivo/s é/são apropriadamente programado/s por meio de aplicativos e/ou rotinas de software a fim de executarem as operações descritas e reivindicadas aqui.

[00200] O uso do método e do aparelho de acordo com a invenção mostraram resultados vantajosos, graças à alta precisão obtida no posicionamento das extremidades de cada componente.

[00201] A título de exemplo, pode ser ilustrado que em um lote de 180 pneus montados pelo uso do método e do aparelho acima mencionados, o valor médio do comprimento principal relacionado ao revestimento divergiu pelo valor médio esperado de cerca de 1%, enquanto em um lote subsequente de 540 pneus que não usou o método acima mencionado, tal valor médio divergiu até 10%, requerendo assim a intervenção humana do operador.

Claims (21)

1. Método para controlar o assentamento de componentes de pneus sobre tambores de formação, dito método caracterizado pelo fato de que compreende:a. enviar uma primeira radiação eletromagnética (Ri1) incidente sobre uma primeira estrutura de assentamento (3a) compreendendo um tambor de formação (2) e um primeiro componente (C1) de um pneu assentado sobre dito tambor de formação (2);b. detectar pelo menos uma correspondente primeira radiação refletida (Rr1);c. determinar, como uma função de dita primeira radiação refletida (Rr1), um primeiro parâmetro (P1) representativo de um primeiro comprimento principal (L1) de dito primeiro componente (C1);d. comparar dito primeiro parâmetro (P1) com um ou mais parâmetros de referência (Ref) pré-armazenados;e. gerar um primeiro sinal de correção (S1) como uma função de dita comparação;f. enviar dito primeiro sinal de correção (S1) para pelo menos uma estação de preparação (40) adaptada para preparar dito primeiro componente (C1) para regular a preparação de outros componentes,em que uma fila (Q) é arranjada, compreendendo um ou mais componentes auxiliares (Cx) prontos para serem assentados sobre dito tambor de formação (2), ditos componentes auxiliares (Cx) sendo preparados por dita estação de preparação (40) antes de receber dito primeiro sinal de correção (S1), em que o método adicionalmente compreende:a. esperar que cada um de ditos componentes auxiliares (Cx) seja assentado sobre, e em seguida removido de, dito tambor de formação (2);b. identificar um segundo componente (C2) assentado sobre dito tambor de formação (2) depois de ditos componentes auxiliares (Cx), dito segundo componente sendo preparado por dita estação de preparação (40) depois da recepção de dito primeiro sinal de correção (S1);c. quando dito segundo componente (C2) está assentado sobre dito tambor de formação (2), enviar uma segunda radiação eletromagnética (Ri2) incidente sobre uma segunda estrutura de assentamento (3b) compreendendo dito tambor de formação (2) e dito segundo componente (C2) assentado sobre dito tambor de formação (2);d. detectar pelo menos uma correspondente segunda radiação refletida (Rr2);e. determinar, como uma função de dita segunda radiação refletida (Rr2), um segundo parâmetro (P2) representativo de um segundo comprimento principal (L2) de dito segundo componente (C2);f. gerar um segundo sinal de correção (S2) como uma função de dito primeiro parâmetro (P1) e de dito segundo parâmetro (P2);g. enviar dito segundo sinal de correção (S2) para dita estação de preparação (40).

2. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que b. gerar dito segundo sinal de correção (S2) como uma função de dito primeiro parâmetro (P1) compreende b. gerar dito segundo sinal de correção (S2) como uma função de dito primeiro sinal de correção (S1).

3. Método de acordo com a reivindicação 1 ou 2, caracterizado pelo fato de que esperar que cada um de ditos componentes auxiliares (Cx) , e em seguida removido de dito tambor de formação (2) compreende:a. determinar um número N representativo de quantos componentes auxiliares (Cx) estão incluídos em dita fila (Q);b. verificar que N componentes auxiliares (Cx) estejam assentados sobre, e em seguida removidos de, dito tambor de formação (2).

4. Método de acordo com qualquer uma das reivindicações de 1 a 3, caracterizado pelo fato de que compreende: a. quando cada um de um ou mais dos componentes auxiliares (Cx) é assentado sobre dito tambor de formação (2), enviar uma radiação eletromagnética auxiliar (Rix) incidente sobre uma estrutura de assentamento auxiliar (3x) compreendendo dito tambor de formação (2) e dito componente auxiliar (Cx) assentado sobre dito tambor de formação (2);b. detectar pelo menos uma correspondente radiação refletida auxiliar (Rrx);c. determinar, como uma função de dita radiação refletida auxiliar (Rrx), um respectivo parâmetro auxiliar (Px) representativo do comprimento principal (Lx) de dito componente auxiliar (Cx) assentado sobre dito tambor de formação (2);d. gerar dito segundo sinal de correção (S2) como uma função também de dito parâmetro auxiliar (Px).

5. Método de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 4, caracterizado pelo fato de que compreende receber um parâmetro de identificação (ID) representativo de um tipo e/ou de um material pelo menos de dito primeiro componente (C1).

6. Método de acordo com a reivindicação 5, caracterizado pelo fato de que compreende:a. selecionar um primeiro algoritmo (A1) associado a dito parâmetro de identificação (ID);b. determinar pelo menos dito primeiro parâmetro (P1) com base em dito primeiro algoritmo.

7. Método de acordo com a reivindicação 6, quando depende de qualquer uma das reivindicações de 1 a 4, caracterizado pelo fato de que compreende determinar dito segundo parâmetro (P2) com base em dito primeiro algoritmo (A1).

8. Método de acordo com a reivindicação 6 ou 7, quando depende da reivindicação 4, caracterizado pelo fato de que compreende determinar dito um ou mais parâmetros auxiliares (Px) com base em dito primeiro algoritmo (A1).

9. Método de acordo com qualquer uma das reivindicações de 5 a 8, caracterizado pelo fato de que compreende:a. selecionar um segundo algoritmo (A2) associado a dito parâmetro de identificação (ID);b. gerar pelo menos dito primeiro sinal de correção (S1) com base em dito segundo algoritmo (A2).

10. Método de acordo com a reivindicação 9, quando depende da reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que compreende b. gerar dito segundo sinal de correção (S2) com base em dito segundo algoritmo (A2).

11. Método de acordo com qualquer uma das reivindicações de 6 a 10, quando depende das reivindicações 3 e 5, caracterizado pelo fato de que dito número N de componentes auxiliares (Cx) em dita fila (Q) é determinado como uma função de dito parâmetro de identificação (ID).

12. Método de acordo com qualquer uma das reivindicações de 5 a 11, caracterizado pelo fato de que compreende:a. determinar um parâmetro de deslocamento (DP) como uma função de dito parâmetro de identificação (ID);b. deslocar, como uma função de dito parâmetro de deslocamento (DP), pelo menos um dispositivo de emissão (10) e um dispositivo de detecção (20), apropriados, respectivamente, para emitir pelo menos dita primeira radiação eletromagnética incidente (R1), e para receber pelo menos dita primeira radiação eletromagnética refletida (R2).

13. Método de acordo com a reivindicação 12, caracterizado pelo fato de que dito deslocamento ocorre ao longo de uma direção substancialmente paralela a um eixo de rotação (X) de dito tambor de formação (2).

14. Método de acordo com qualquer uma das reivindicações de 1 a 13, caracterizado pelo fato de que compreende:a. determinar um parâmetro de tempo (T) representativo de um tempo de espera de dito segundo componente (C2) depois de ser preparado por dita estação de preparação (40) e antes de ser assentado sobre dito tambor de formação (2);b. gerar dito segundo sinal de correção (S2) como uma função de dito parâmetro de tempo (T).

15. Método de acordo com a reivindicação 14, caracterizado pelo fato de que dito segundo sinal de correção (S2) é configurado de modo a provocar na dita estação de preparação (40) uma modificação cuja magnitude é substancialmente monotonamente decrescente com relação ao aumento de dito tempo de espera.

16. Aparelho para controlar o assentamento de componentes de pneus sobre tambores de formação em um método como definido na reivindicação 1, dito aparelho caracterizado pelo fato de que compreende:a. um dispositivo de emissão (10) para enviar uma primeira radiação eletromagnética (Ri1) incidente sobre uma superfície radialmente externa de uma primeira estrutura de assentamento (3a) compreendendo um tambor de formação (2) e um primeiro componente (C1) de um pneu assentado sobre dito tambor de formação (2);b. um dispositivo de detecção (20) para detectar pelo menos uma correspondente primeira radiação refletida (Rr1);c. uma unidade de processamento (30) configurada para:i. determinar, como uma função de dita primeira radiação refletida (Rr1), um primeiro parâmetro (P1) representativo de um primeiro comprimento principal (L1) de dito primeiro componente (C1);ii. comparar dito primeiro parâmetro (P1) com um ou mais parâmetros de referência (Ref) pré-armazenados;iii. gerar um primeiro sinal de correção (S1) como uma função de dita comparação;iv. enviar dito primeiro sinal de correção (S1) para pelo menos uma estação de preparação (40) adaptada para preparar dito primeiro componente (C1) para regular a preparação de outros componentes,em que uma fila (Q) é arranjada compreendendo um ou mais componentes auxiliares (Cx) prontos para serem assentados sobre dito tambor de formação (2), ditos componentes auxiliares (Cx) sendo preparados por dita estação de preparação (40) antes de receber dito primeiro sinal de correção (S1), dita unidade de processamento (30) sendo configurada para:a. esperar que cada um de ditos componentes auxiliares (Cx) seja assentado sobre, e em seguida removido de, dito tambor de formação (2);b. identificar um segundo componente (C2) assentado sobre dito tambor de formação (2) depois de ditos componentes auxiliares (Cx), dito segundo componente (C2) sendo preparado por dita estação de preparação (40) depois da recepção de dito primeiro sinal de correção (S1);c. quando dito segundo componente (C2) está assentado sobre dito tambor de formação (2), ativar dito dispositivo de emissão (10) para enviar uma segunda radiação eletromagnética (Ri2) incidente sobre uma segunda estrutura de assentamento compreendendo dito tambor de formação (2) e dito segundo componente (C2) assentado sobre dito tambor de formação (2);d. determinar, como uma função de dita segunda radiação refletida (Rr2) detectada por dito dispositivo de detecção (20), um segundo parâmetro (P2) representativo de um comprimento principal (L2) de dito segundo componente (C2);e. gerar um segundo sinal de correção (S2) como uma função de dito primeiro parâmetro (P1) e de dito segundo parâmetro (P2);f. enviar dito segundo sinal de correção (S2) para dita estação de preparação (40).

17. Aparelho de acordo com a reivindicação 16, caracterizado pelo fato de que dita unidade de processamento (30), a fim de esperar que cada um de ditos componentes auxiliares (Cx) seja assentado sobre, e em seguida removido de, dito tambor de formação (2), é configurada para:a. determinar um número N representativo de quantos componentes auxiliares (Cx) estão incluídos em dita fila (Q);b. verificar que N componentes auxiliares (Cx) estejam assentados sobre, e em seguida removidos de, dito tambor de formação (2).

18. Aparelho de acordo com qualquer uma das reivindicações de 16 a 17, caracterizado pelo fato de que dito dispositivo de emissão (10) e dito dispositivo de detecção (20) são montados em uma estrutura de suporte (50) e são móveis ao longo de uma ou mais respectivas guias (G) substancialmente paralelas a um eixo de rotação (X) de dito tambor de formação (2).

19. Aparelho de acordo com a reivindicação 18, caracterizado pelo fato de que compreende ainda pelo menos um atuador (M) ativo em dito dispositivo de emissão (10) e em dito dispositivo de detecção (20) para mover o último ao longo de dita uma ou mais guias (G).

20. Aparelho de acordo com a reivindicação 19, caracterizado pelo fato de que dita unidade de processamento (30) é configurada para receber um parâmetro de identificação (ID) representativo de um tipo e/ou de um material de pelo menos dito primeiro componente (C1).

21. Aparelho de acordo com a reivindicação 20, caracterizado pelo fato de que dita unidade de processamento (30) é configurada para acionar dito pelo menos um atuador (M) como uma função de dito parâmetro de identificação (ID).

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