WO2021241581A1 - 感光性樹脂組成物 - Google Patents

感光性樹脂組成物 Download PDF

Info

Publication number
WO2021241581A1
WO2021241581A1 PCT/JP2021/019805 JP2021019805W WO2021241581A1 WO 2021241581 A1 WO2021241581 A1 WO 2021241581A1 JP 2021019805 W JP2021019805 W JP 2021019805W WO 2021241581 A1 WO2021241581 A1 WO 2021241581A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
resin composition
photosensitive resin
component
mass
film
Prior art date
Application number
PCT/JP2021/019805
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
太郎 北畑
清治 森
Original Assignee
住友ベークライト株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 住友ベークライト株式会社 filed Critical 住友ベークライト株式会社
Priority to KR1020227044405A priority Critical patent/KR20230013084A/ko
Priority to JP2022526584A priority patent/JP7211560B2/ja
Priority to CN202180038895.6A priority patent/CN115698855A/zh
Publication of WO2021241581A1 publication Critical patent/WO2021241581A1/ja

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/0045Photosensitive materials with organic non-macromolecular light-sensitive compounds not otherwise provided for, e.g. dissolution inhibitors
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/075Silicon-containing compounds
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20Exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/22Exposing sequentially with the same light pattern different positions of the same surface
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/31Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers

Definitions

  • the present invention relates to a photosensitive resin composition.
  • Patent Document 1 describes that a film obtained by applying a resin composition containing a compound having a phenolic hydroxyl group to a polyamide having a specific structure and curing it at 200 ° C. or lower exhibits a high elongation at break. (Paragraph 0008).
  • the present invention provides a resin film having excellent curability at low temperatures.
  • Component (A) A photosensitive resin composition containing an alkali-soluble resin.
  • the component (A) contains a component (a1): a biphenyl aralkyl type phenol resin.
  • a photosensitive resin composition having a tensile elongation of 10% or more and 200% or less of a cured film of the photosensitive resin composition measured under the following condition 1.
  • Condition 1 The photosensitive resin composition is cured at 200 ° C. for 180 minutes to form the cured film, and a sample having a thickness of 6.5 mm ⁇ 20 mm ⁇ 10 ⁇ m is prepared from the cured film.
  • Ii Based on JIS K7161, a tensile test of the sample is carried out under the conditions of 23 ° C. and a test speed of 5 mm / min to obtain the tensile elongation.
  • the present invention for example, it is possible to provide a resin film obtained by curing the photosensitive resin composition in the present invention, and an electronic device provided with the resin film.
  • composition may contain each component alone or in combination of two or more.
  • x to y in the numerical range represents “x or more and y or less”, and includes both a lower limit value x and an upper limit value y.
  • similar components are designated by a common reference numeral, and description thereof will be omitted as appropriate.
  • the figure is a schematic view and does not match the actual dimensional ratio.
  • the photosensitive resin composition contains a component (A): an alkali-soluble resin, and the component (A) contains a component (a1): a biphenyl aralkyl type phenol resin.
  • the tensile elongation of the cured film of the photosensitive resin composition measured under the following condition 1 is 10% or more and 200% or less.
  • (Condition 1) (I) The photosensitive resin composition is cured at 200 ° C. for 180 minutes to form a cured film, and a sample having a thickness of 6.5 mm ⁇ 20 mm ⁇ 10 ⁇ m is prepared from the cured film. (Ii) Based on JIS K7161, a tensile test of a sample is carried out under the conditions of 23 ° C. and a test speed of 5 mm / min to determine the tensile elongation.
  • the present inventor conducted a study to improve the low temperature curability of the photosensitive resin composition.
  • the above-mentioned problems are solved by making the photosensitive resin composition contain a specific component and having the tensile elongation of the cured film of the photosensitive resin composition within a specific range. I found that.
  • the tensile elongation of the cured film is 10% or more, preferably 20% or more, more preferably 30% or more, still more preferably 40% or more, from the viewpoint of suppressing brittle fracture. Further, from the viewpoint of obtaining a cured film more stably, the tensile elongation of the cured film is 200% or less, preferably 150% or less, more preferably 125% or less, still more preferably 100% or less, still more preferably. Is 90% or less.
  • the glass transition temperature (Tg) of the cured product of the photosensitive resin composition is preferably 150 ° C. or higher, more preferably 180 ° C. or higher, still more preferably 200 ° C. or higher from the viewpoint of improving heat resistance. , Even more preferably 210 ° C. or higher. Further, from the viewpoint of suppressing deterioration of brittleness, the glass transition temperature of the cured product of the photosensitive resin composition is preferably 260 ° C. or lower, more preferably 240 ° C. or lower, still more preferably 230 ° C. or lower.
  • the Tg of the cured product of the photosensitive resin composition is obtained by using a thermomechanical analyzer (TMA) for a predetermined test piece (width 3 mm ⁇ length 10 mm ⁇ thickness 0.005 to 0.015 mm). It is calculated from the results of measurement under the conditions of a start temperature of 30 ° C., a measurement temperature range of 30 to 440 ° C., and a temperature rise rate of 10 ° C./min.
  • TMA thermomechanical analyzer
  • the film strength of the cured film measured under the following condition 2 is preferably 70 MPa or more, more preferably 90 Pa or more, still more preferably 100 MPa or more. , Even more preferably 105 MPa or more. From the viewpoint of suppressing brittle fracture, the film strength of the cured film is preferably 150 MPa or less, more preferably 140 MPa or less, still more preferably 130 MPa or less, still more preferably 120 MPa or less.
  • Equipment Tensile / compression tester Temperature: Room temperature (25 ° C)
  • the linear expansion coefficient of the cured film in the temperature range of 50 to 100 ° C. is preferably 25 ppm / ° C. or higher, more preferably 30 ppm / ° C. The above is more preferably 35 ppm / ° C. or higher, and more preferably 40 ppm / ° C. or lower.
  • the linear expansion coefficient of the cured film in the temperature range of 50 to 100 ° C. is specifically a test piece of the cured film obtained under the conditions of 200 ° C. and 180 minutes (width 3 mm ⁇ length 10 mm ⁇ thickness 10 mm).
  • thermomechanical analyzer (TMA) it is calculated from the results of measurement under the conditions of a start temperature of 30 ° C., a measurement temperature range of 30 to 440 ° C., and a temperature rise rate of 10 ° C./min.
  • the component (A) is an alkali-soluble resin, and the component (a1): a biphenyl aralkyl type phenol resin is contained.
  • the component (a1) is preferably represented by the following general formula (2) from the viewpoint of improving the curability at a low temperature.
  • n is preferably 6 or more, more preferably 10 or more, still more preferably 12 or more, still more preferably 14 or more, from the viewpoint of improving the curability at low temperature. Further, from the viewpoint of solvent solubility, n is preferably 72 or less, more preferably 54 or less, still more preferably 36 or less.
  • the weight average molecular weight of the component (a1) may be, for example, 500 or more, preferably 2000 or more, more preferably 3000 or more, and further preferably 4000 or more, from the viewpoint of improving the curability at low temperature.
  • the weight average molecular weight of the component (a1) may be, for example, 50,000 or less, preferably 20,000 or less, more preferably 15,000 or less, still more preferably 10,000 or less, still more preferably, from the viewpoint of solvent solubility. It is 8000 or less.
  • the weight average molecular weight of the component (a1) is specifically measured by gel permeation chromatography (GPC) and calculated based on a calibration curve prepared using a polystyrene standard substance.
  • the content of the component (a1) in the photosensitive resin composition is preferably 5 parts by mass or more from the viewpoint of improving toughness at low temperature curing when the total solid content of the photosensitive resin composition is 100 parts by mass. Yes, more preferably 10 parts by mass or more, still more preferably 15 parts by mass or more. Further, from the viewpoint of deterioration of thermomechanical properties, the content of the component (a1) in the photosensitive resin composition is preferably 70 parts by mass or less when the total solid content of the photosensitive resin composition is 100 parts by mass. Yes, more preferably 60 parts by mass or less, further preferably 50 parts by mass or less, still more preferably 40 parts by mass or less.
  • the component (A) may contain a substance other than the component (a1).
  • resins include one or more selected from the group consisting of phenol resins other than the component (a1), hydroxystyrene resins, polyamide resins, polybenzoxazole resins, polyimide resins, and cyclic olefin resins.
  • the component (A) preferably further contains a phenol resin other than the component (a2): the component (a1) from the viewpoint of improving the curability at a low temperature and the reliability of the cured film.
  • a phenol resin other than the component (a2): the component (a1) from the viewpoint of improving the curability at a low temperature and the reliability of the cured film.
  • the component (a2) include novolak-type phenol resins such as phenol novolac resin, cresol novolak resin, bisphenol novolak resin, phenol-biphenyl novolak resin, allylated novolak-type phenol resin, and xylylene novolak-type phenol resin; novolak.
  • a reaction product of a phenol compound such as a type phenol resin, a resol type phenol resin, and a cresol novolak resin and an aldehyde compound; one or 2 selected from the group consisting of a reaction product of a phenol compound such as a phenol aralkyl resin and a dimethanol compound.
  • the component (a2) is preferably a novolak type phenol resin.
  • the component (a2) preferably has a structural unit represented by the following general formula (4) from the viewpoint of improving the curability at a low temperature and the reliability of the cured film.
  • R 41 and R 42 each independently have a hydroxyl group, a halogen atom, a carboxyl group, a saturated or unsaturated alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, and 1 to 20 carbon atoms.
  • It has an aliphatic group having 1 to 10 carbon atoms, an alicyclic group having 3 to 20 carbon atoms, and an aromatic structure having 6 to 20 carbon atoms, which may have a single bond or an unsaturated bond. is selected from the group consisting of organic radicals, Z 4 is bonded to either one of the two benzene rings.
  • the phenol resin having the structural unit represented by the general formula (4) can be obtained by using the method described in JP-A-2018-155938.
  • the content of the component (a2) in the photosensitive resin composition is preferably 5 parts by mass or more from the viewpoint of improving the curability at low temperature curing when the total solid content of the photosensitive resin composition is 100 parts by mass. It is more preferably 10 parts by mass or more, still more preferably 15 parts by mass or more. Further, from the viewpoint of deterioration of toughness, the content of the component (a2) in the photosensitive resin composition is preferably 70 parts by mass or less when the total solid content of the photosensitive resin composition is 100 parts by mass. It is more preferably 60 parts by mass or less, further preferably 50 parts by mass or less, and even more preferably 40 parts by mass or less.
  • the content of the component (A) in the photosensitive resin composition is from the viewpoint of improving the curability at low temperature and the reliability of the cured film when the total solid content of the photosensitive resin composition is 100 parts by mass. Therefore, it is preferably 30 parts by mass or more, more preferably 45 parts by mass or more, further preferably 50 parts by mass or more, and may be, for example, 55 parts by mass or more. Further, from the viewpoint of improving chemical resistance and photosensitivity, the content of the component (A) in the photosensitive resin composition is preferably 95% by mass when the total solid content of the photosensitive resin composition is 100 parts by mass. The amount is 9 parts or less, more preferably 90 parts by mass or less, further preferably 85 parts by mass or less, and even more preferably 70 parts by mass or less.
  • the photosensitive resin composition preferably further contains a component (B): a cross-linking agent from the viewpoint of improving the reliability and chemical resistance of the cured film.
  • the component (B) is specifically a compound having a group capable of reacting with the component (A) by heat, and is, for example, 1,2-benzenedimethanol, 1,3-benzenedimethanol, 1,4-benzene.
  • Alkoxymethylglycol uryl compounds methylol benzoguanamine compounds, methylol urea compounds such as dimethylol ethyleneurea; alkylated urea resins; cyano compounds such as dicyanoaniline, dicyanophenol, cyanophenylsulfonic acid; 1,4-phenylenediisocyanate, Isocyanate compounds such as 3,3'-dimethyldiphenylmethane-4,4'-diisosianate; ethylene glycol diglycidyl ether, bisphenol A diglycidyl ether, triglycidyl isocyanurate, phenoxy type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, Epoxy group-containing compounds such as bisphenol F type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, phenol novolac resin type epoxy resin; N, N'-1,3-phenylenedi maleimide, N, N'-methylenedimaleimide Examples thereof include maleimide
  • the component (B) preferably contains the component (b1): a bifunctional epoxy resin, and more preferably 2. Includes a functional phenoxy-type epoxy resin. From the same viewpoint, it is also preferable that the component (B) contains the component (b1) and the alkylated urea resin.
  • the phenoxy type epoxy resin include bisphenol A type phenoxy resin, bisphenol F type phenoxy resin, bisphenol S type phenoxy resin, bisphenol acetophenone type phenoxy resin, novolak type phenoxy resin, biphenyl type phenoxy resin, fluorene type phenoxy resin, and dicyclopentadiene type.
  • Phenoxy resin, norbornen type phenoxy resin, naphthalene type phenoxy resin, anthracene type phenoxy resin, adamantan type phenoxy resin, terpene type phenoxy resin, trimethylcyclohexane type phenoxy resin and the like can be used.
  • Specific examples of commercially available phenoxyphenoxy-type epoxy resins include resins JER-1256, YX-7105 (all manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), and LX-01 (manufactured by Osaka Soda Co., Ltd.).
  • the content of the component (b1) in the photosensitive resin composition is preferably 0.1 part by mass from the viewpoint of improving toughness at low temperature curing when the total solid content of the photosensitive resin composition is 100 parts by mass.
  • the above is more preferably 1 part by mass or more, still more preferably 3 parts by mass or more.
  • the content of the component (b1) in the photosensitive resin composition is preferably 100 parts by mass when the total solid content of the photosensitive resin composition is 100 parts by mass. It is 60 parts by mass or less, more preferably 50 parts by mass or less, and further preferably 40 parts by mass or less.
  • the content of the component (B) in the photosensitive resin composition is preferably 100 parts by mass when the total solid content of the photosensitive resin composition is 100 parts by mass, from the viewpoint of improving toughness and chemical resistance during low-temperature curing. It is 0.1 part by mass or more, more preferably 1 part by mass or more, and further preferably 3 parts by mass or more. Further, from the viewpoint of enhancing the chemical resistance of the cured film, the content of the component (B) in the photosensitive resin composition is preferably 60 parts by mass when the total solid content of the photosensitive resin composition is 100 parts by mass. It is more preferably 50 parts by mass or less, still more preferably 40 parts by mass or less.
  • the photosensitive resin composition preferably further contains a component (C): an acid generator from the viewpoint of stably forming a cured film.
  • the component (C) is specifically a compound that generates an acid by absorbing heat energy or light energy.
  • the component (C) preferably contains the component (c1): a sulfonium compound or a salt thereof.
  • the component (c1) is specifically a sulfonium salt having a sulfonium ion as a cation portion.
  • the anion portion of the component (c1) is specifically a sulfonic acid ion such as a borodate ion, an antimony ion, a phosphorus ion or a trifluoromethanesulfonic acid ion, and from the viewpoint of improving the reaction rate at a low temperature, from the viewpoint of improving the reaction rate at a low temperature. It is preferably a borohydride ion or an antimony ion, and more preferably a borohydride ion. These anions may have substituents.
  • the component (c1) preferably contains a sulfonium salt represented by the following general formula (1).
  • R 2 is a monovalent organic group, and is preferably a benzyl group which may have a hydrocarbon group having a chain or a branched chain or a substituent from the viewpoint of improving the reactivity at a low temperature, and more preferably.
  • Is a benzyl group which may be substituted with an alkyl group having 1 or more and 4 or less carbon atoms or an alkyl group having 1 or more and 4 or less carbon atoms, and more preferably a methyl group or a benzyl aromatic ring portion may be substituted with a methyl group. It is a group.
  • R 3 is a monovalent organic group, preferably a hydrocarbon group having a chain or a branched chain from the viewpoint of improving reactivity at a low temperature, and more preferably an alkyl group having 1 or more and 4 or less carbon atoms. Yes, more preferably a methyl group.
  • component (c1) include triphenylsulfonium salts such as triphenylsulfonium trifluoromethanesulfonate. Further, the component (c1) may be a photoacid generator such as di (trifluoromethanesulfon) imide (4,8-di-n-butoxy-1-naphthyl) dibutylsulfonium.
  • the content of the component (c1) in the photosensitive resin composition is preferably 0.005 mass by mass from the viewpoint of improving the curability at a low temperature when the total solid content of the photosensitive resin composition is 100 parts by mass. It is more than a part, more preferably 0.01 part by mass or more, still more preferably 0.02 part by mass or more. Further, from the viewpoint of suppressing a decrease in reliability, the content of the component (C) in the photosensitive resin composition is preferably 5% by mass or less when the total solid content of the photosensitive resin composition is 100 parts by mass. It is more preferably 4% by mass or less, further preferably 3% by mass or less, and for example, 0.5 part by mass or less, for example 0.2 part by mass or less, or 0.1 part by mass or less, for example. Is also preferable.
  • the photosensitive resin composition preferably further contains a component (D): a silane coupling agent from the viewpoint of enhancing the adhesion of the cured film of the photosensitive resin composition to the substrate.
  • a silane coupling agent include epoxysilanes such as 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, and 3-glycidoxypropyltriethoxysilane; p-styryltrimethoxysilane and the like.
  • Styrylsilane 3-methacryloxypropylmethyldimethoxysilane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane; 3-methacryloxypropylmethyldiethoxysilane, 3-methacryloxypropyltriethoxysilane, 3-acryloxypropyltrimethoxysilane, etc.
  • the component (D) is preferably at least one selected from the group consisting of epoxysilane and (meth) acrylicsilane, and more preferably 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane and 3-methacry. It is at least one of the loxypropyltrimethoxysilanes.
  • a silicon compound having one or more groups selected from the group consisting of an amino group, an amide group and a urea group is reacted with an acid dianhydride or an acid anhydride.
  • the silicon compound obtained by the above can also be mentioned.
  • the content of the component (D) in the photosensitive resin composition is preferably 0, with respect to 100 parts by mass of the component (A), from the viewpoint of achieving both adhesion and storage stability of the photosensitive resin composition.
  • the photosensitive resin composition may contain components other than the above-mentioned components.
  • a component for example, additives other than the component (D) such as an adhesion aid, a surfactant, an antioxidant, a dissolution accelerator, a filler, and a sensitizer may be added.
  • an adhesion aid other than the component (D) from the viewpoint of improving the adhesion of the cured film of the photosensitive resin composition to the metal, specifically, 1 or selected from the group consisting of a triazole compound and an imide compound. Two or more compounds can be mentioned. This makes it possible to further increase the number of lone electron pairs derived from the nitrogen atom.
  • triazole compound specifically, mercaptotriazole, 4-amino-1,2,4-triazole, 4H-1,2,4-triazole-3-amine, 4-amino-3,5- Di-2-pyridyl-4H-1,2,4-triazole, 3-amino-5-methyl-4H-1,2,4-triazole, 4-methyl-4H-1,2,4-triazole-3- Amine, 3,4-diamino-4H-1,2,4-triazole, 3,5-diamino-4H-1,2,4-triazole, 1,2,4-triazole-3,4,5-triamine, 3-Pyridyl-4H-1,2,4-Triazole, 4H-1,2,4-Triazole-3-Carboxamide, 3,5-diamino-4-methyl-1,2,4-Triazole, 3-Pyridyl- One or more compounds selected from the group consisting of 1,2,4-triazole, such as 4-methyl-1,2,4-triazole, 4-methyl-1
  • the content of the adhesion aid in the photosensitive resin composition is preferably 0.05 parts by mass or more, more preferably 0 parts by mass, with respect to 100 parts by mass of the component (A), from the viewpoint of further enhancing the adhesion. It is 1 part by mass or more, more preferably 1 part by mass or more, preferably 10 parts by mass or less, and more preferably 5 parts by mass or less.
  • the surfactant include polyoxyethylene alkyl ethers such as polyoxyethylene lauryl ether, polyoxyethylene stearyl ether, and polyoxyethylene oleyl ether; polyoxyethylene octylphenyl ether, polyoxyethylene nonylphenyl ether, and the like.
  • a fluorine-based surfactant having a perfluoroalkyl group examples include Megafuck F171, Megafuck F173, Megafuck F444, Megafuck F470, Megafuck F471, Megafuck F475, Megafuck F482, and Megafuck.
  • F477 manufactured by DIC
  • Surflon S-381, Surflon S-383, Surflon S-393 manufactured by AGC Seimi Chemical
  • Novek FC4430 and Novek FC4432 manufactured by 3M Japan. It is preferable to use.
  • a silicone-based surfactant for example, polyether-modified dimethylsiloxane
  • silicone-based surfactants SH series, SD series and ST series of Toray Dow Corning, BYK series of Big Chemie Japan, KP series of Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., Disform of NOF Corporation ( Examples include the (registered trademark) series and the TSF series of Toshiba Silicone Co., Ltd.
  • the content of the surfactant in the photosensitive resin composition is, for example, 0.001 mass with respect to the entire photosensitive resin composition (including the solvent) from the viewpoint of improving the coatability and the uniformity of the coating film.
  • % (10 ppm) or more preferably 1% by mass (10000 ppm) or less, more preferably 0.5% by mass (5000 ppm) or less, still more preferably 0.1% by mass (1000 ppm) or less.
  • the photosensitive resin composition is prepared by mixing and dissolving each of the above-mentioned components and, if necessary, other components in an organic solvent. Further, in the present embodiment, the photosensitive resin composition is used in the form of a varnish by dissolving, for example, the above-mentioned components and, if necessary, other components in an organic solvent. Further, in the photosensitive resin composition, a component (A) other than the component (a1) and the component (a1) and other components are appropriately reacted in advance to obtain a pre-reaction resin, and then further components are added as appropriate. It can also be used.
  • organic solvent examples include N-methyl-2-pyrrolidone, ⁇ -butyrolactone, N, N-dimethylacetamide, dimethylsulfoxide, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, diethylene glycol dibutyl ether, propylene glycol monomethyl ether, and dipropylene glycol monomethyl ether.
  • a resin film can be obtained by curing the photosensitive resin composition in the present embodiment.
  • the resin film in the present embodiment is a dry film or a cured film of the photosensitive resin composition. That is, the resin film is formed by drying or curing the photosensitive resin composition, and preferably the photosensitive resin composition is effective.
  • This resin film is used for forming a resin film for an electronic device such as a permanent film or a resist. Among these, it is preferable to use it for applications using a permanent film from the viewpoint of obtaining a resin film at a low temperature, having excellent processability, and obtaining a resin film having excellent reliability.
  • a resin film obtained by using a photosensitive resin composition is a film having excellent processability or reliability, which is required to make a resin film useful for manufacturing an electronic device or the like. It is also possible to obtain.
  • the permanent film is composed of a resin film obtained by prebaking, exposing and developing a photosensitive resin composition, patterning it into a desired shape, and then curing it by post-baking.
  • the permanent film can be used as a protective film for electronic devices such as a buffer coat film, an interlayer film such as an insulating film for rewiring, and a dam material.
  • the photosensitive resin composition is preferably used as a buffer coat film or an insulating film for wiring.
  • the photosensitive resin composition is applied to the object to be masked by the resist by a method such as spin coating, roll coating, flow coating, dip coating, spray coating, doctor coating, etc., and the photosensitive resin composition is used. It is composed of a resin film obtained by removing the solvent.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing a configuration example of an electronic device having a resin film in the present embodiment.
  • the electronic device 100 shown in FIG. 1 can be an electronic device provided with the resin film.
  • one or more of the group consisting of the passivation film 32, the insulating layer 42, and the insulating layer 44 can be a resin film.
  • the resin film is preferably the above-mentioned permanent film.
  • the electronic device 100 is, for example, a semiconductor chip. In this case, for example, a semiconductor package can be obtained by mounting the electronic device 100 on the wiring board via the bump 52.
  • the electronic device 100 includes a semiconductor substrate provided with a semiconductor element such as a transistor, and a multilayer wiring layer (not shown) provided on the semiconductor substrate.
  • the uppermost layer of the multilayer wiring layer is provided with an interlayer insulating film 30 and an uppermost layer wiring 34 provided on the interlayer insulating film 30.
  • the top layer wiring 34 is made of, for example, aluminum Al.
  • a passivation film 32 is provided on the interlayer insulating film 30 and on the uppermost layer wiring 34. A part of the passivation film 32 is provided with an opening in which the uppermost layer wiring 34 is exposed.
  • a rewiring layer 40 is provided on the passivation film 32.
  • the rewiring layer 40 includes an insulating layer 42 provided on the passivation film 32, a rewiring 46 provided on the insulating layer 42, and an insulating layer 44 provided on the insulating layer 42 and the rewiring 46.
  • the insulating layer 42 is formed with an opening connected to the uppermost layer wiring 34.
  • the rewiring 46 is formed on the insulating layer 42 and in the openings provided in the insulating layer 42, and is connected to the uppermost layer wiring 34.
  • the insulating layer 44 is provided with an opening for connecting to the rewiring 46.
  • a bump 52 is formed in the opening provided in the insulating layer 44, for example, via a UBM (Under Bump Metallurgy) layer 50.
  • the electronic device 100 is connected to a wiring board or the like via, for example, a bump 52.
  • Examples 1 to 5, Comparative Examples 1 to 5 A photosensitive resin composition was prepared according to the formulation shown in Table 1. Specifically, first, each component blended according to Table 1 was stirred and mixed in a nitrogen atmosphere, and then filtered through a polyethylene filter having a pore size of 0.2 ⁇ m to obtain a varnish-like photosensitive resin composition. .. Details of each component shown in Table 1 are shown below. Further, in Table 1, the content of each component is an active amount.
  • Alkaline-soluble resin (A) Alkaline-soluble resin) (A2) Alkaline-soluble resin 1: Novolak-type phenol resin, phenol resin obtained in Production Example 1 described later (a2) Alkaline-soluble resin 2: Cresol-type phenol resin, PR-56001, manufactured by Sumitomo Bakelite Co., Ltd. (a2) Alkaline-soluble Resin 3: Allyl type phenol resin, MEH-8000H, manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd. (a2) Alkaline-soluble resin 4: Zylock type phenol resin, MEH-7800SS, manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd. (a1) Alkaline-soluble resin 5: Biphenyl aralkyl type phenol resin 1.
  • Alkaline-soluble resin 6 Biphenyl aralkyl type phenol resin 2, Weight average molecular weight 4000, GPH-103, Nippon Kayaku Co., Ltd.
  • Alkaline-soluble resin 7 Prereaction resin obtained in Production Example 2 described later.
  • (B) Crosslinking agent (B1) Crosslinking agent 1: Phenoxy type epoxy resin, YX-7105, manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. (b1) Crosslinking agent 2: Bisphenol A type epoxy resin, LX-01, Crosslinking agent manufactured by Osaka Soda, 3: Alkylated urea resin, Nicarax MX-270 manufactured by Sanwa Chemical Co., Ltd.
  • Adhesion aid 1 Silane coupling agent (3-glycidoxypropyltrimethoxysilane), KBM-403, Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.
  • Adhesion aid 2 Mercaptotriazole adhesion aid 3: Silane coupling agent ( 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane), KBM-503, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.
  • Acid generator 1 Sulfonium salt 1 (4-acetoxyphenyldimethylsulfonium tetrakis (pentafluorophenyl) borate), SI-B5, manufactured by Sanshin Chemical Industry Co., Ltd.
  • Acid generator 2 Sulfonium salt 2 (4) -Acetoxyphenylmethylbenzylsulfonium tetrakis (pentafluorophenyl) borate), SI-B3A, manufactured by Sanshin Chemical Industry Co., Ltd.
  • Acid generator 3 Sulfonium salt 3 (di (trifluoromethanesulfon) imide (4,8-di) -N-butoxy-1-naphthyl) dibutylsulfonium), ZK-1232, manufactured by DSP Gokyo Food & Chemical Co., Ltd.
  • Surfactant 1 Fluorosurfactant, FC4430, manufactured by 3M Japan Ltd.
  • phenol resin alkali-soluble resin 1 which is a novolak-type phenol resin having a weight average molecular weight of 3200.
  • the photosensitive resin composition obtained in each example was cured at 200 ° C. for 180 minutes to form a cured film. From the obtained cured film, a sample having a thickness of 6.5 mm ⁇ 20 mm ⁇ 10 ⁇ m was prepared. The tensile test of the sample was carried out based on JIS K7161 under the conditions of a tensile tester manufactured by Orientec (Tencilon RTA-100), 23 ° C., and a test speed of 5 mm / min. One sample was measured eight times, and the average value (“ave.” In Table 1) was taken as the tensile elongation (%). The results are shown in Table 1.
  • Tg coefficient of linear expansion (CTE)
  • CTE coefficient of linear expansion
  • compositions obtained in each example had excellent processability and curability at low temperature.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)

Abstract

成分(A):アルカリ可溶性樹脂を含む感光性樹脂組成物であって、成分(A)が、成分(a1):ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂を含み、以下の条件1にて測定される、感光性樹脂組成物の硬化膜の引張伸び率が、10%以上200%以下である、感光性樹脂組成物が提供される:(条件1)(i)感光性樹脂組成物を200℃、180分の条件で硬化して硬化膜を形成し、硬化膜から、6.5mm×20mm×10μm厚の試料を作製する。(ii)JIS K7161に基づき、23℃、試験速度5mm/minの条件で試料の引張試験を実施して引張伸び率を求める。

Description

感光性樹脂組成物
 本発明は、感光性樹脂組成物に関する。
 これまで、感光性樹脂組成物の分野では、低温で硬化した場合でも、脆くなく、耐熱性に富んだ硬化膜を形成できる感光性樹脂組成物を得ようとして、様々な技術が開発されている。この種の技術としては、特許文献1に記載の技術が挙げられる。
 特許文献1には、特定の構造を有するポリアミドに対して、フェノール性水酸基を有する化合物を含む樹脂組成物を塗布し、200℃以下で硬化した膜は、高い破断伸び率を示す、と記載されている(段落0008)。
特開2007-213032号公報
 本発明者が特許文献1に記載の技術について検討したところ、低温での硬化性に優れる膜を得るという点で依然として改善の余地があることが明らかになった。
 本発明は、低温での硬化性に優れる樹脂膜を提供するものである。
 本発明によれば、
 成分(A):アルカリ可溶性樹脂を含む感光性樹脂組成物であって、
 前記成分(A)が、成分(a1):ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂を含み、
 以下の条件1にて測定される、当該感光性樹脂組成物の硬化膜の引張伸び率が、10%以上200%以下である、感光性樹脂組成物が提供される。
(条件1)
(i)当該感光性樹脂組成物を200℃、180分の条件で硬化して前記硬化膜を形成し、前記硬化膜から、6.5mm×20mm×10μm厚の試料を作製する。
(ii)JIS K7161に基づき、23℃、試験速度5mm/minの条件で前記試料の引張試験を実施して前記引張伸び率を求める。
 また、本発明によれば、たとえば前記本発明における感光性樹脂組成物を硬化させてなる樹脂膜、および、前記樹脂膜を備える電子装置を提供することもできる。
 本発明によれば、低温での硬化性に優れる樹脂膜を提供することができる。
実施形態における電子装置の構成例を示す断面図である。
 以下、本発明の実施の形態について、各成分の具体例を挙げて説明する。以下の実施形態において、組成物は、各成分を単独でまたは2種以上を組み合わせ含むことができる。
 本明細書において、数値範囲の「x~y」は「x以上y以下」を表し、下限値xおよび上限値yをいずれも含む。また、以下の図面において、同様な構成要素には共通の符号を付し、適宜説明を省略する。また、図は概略図であり、実際の寸法比率とは一致していない。
 (感光性樹脂組成物)
 本実施形態において、感光性樹脂組成物は、成分(A):アルカリ可溶性樹脂を含み、成分(A)は、成分(a1):ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂を含む。そして、以下の条件1にて測定される、感光性樹脂組成物の硬化膜の引張伸び率が、10%以上200%以下である。
(条件1)
(i)当該感光性樹脂組成物を200℃、180分の条件で硬化して硬化膜を形成し、硬化膜から、6.5mm×20mm×10μm厚の試料を作製する。
(ii)JIS K7161に基づき、23℃、試験速度5mm/minの条件で試料の引張試験を実施して引張伸び率を求める。
 本発明者は、感光性樹脂組成物の低温硬化性を向上すべく検討をおこなった。その結果、感光性樹脂組成物が特定の成分を含む構成とするとともに、感光性樹脂組成物の硬化膜の引張伸び率が特定の範囲にある構成とすることにより、上述の課題が解決されることを見出した。
 硬化膜の引張伸び率は、脆性破壊を抑制する観点から、10%以上であり、好ましくは20%以上、より好ましくは30%以上、さらに好ましくは40%以上である。
 また、硬化膜をより安定的に得る観点から、硬化膜の引張伸び率は、200%以下であり、好ましくは150%以下、より好ましくは125%以下、さらに好ましくは100%以下、さらにより好ましくは90%以下である。
 本実施形態において、感光性樹脂組成物の硬化物のガラス転移温度(Tg)は、耐熱性向上の観点から、好ましくは150℃以上であり、より好ましくは180℃以上、さらに好ましくは200℃以上、さらにより好ましくは210℃以上である。
 また、脆性悪化を抑制する観点から、感光性樹脂組成物の硬化物のガラス転移温度は、好ましくは260℃以下であり、より好ましくは240℃以下、さらに好ましくは230℃以下である。
 ここで、感光性樹脂組成物の硬化物のTgは、所定の試験片(幅3mm×長さ10mm×厚み0.005~0.015mm)に対して、熱機械分析装置(TMA)を用いて、開始温度30℃、測定温度範囲30~440℃、昇温速度10℃/minの条件下で測定をおこなった結果から算出される。
 感光性樹脂組成物の硬化物の信頼性を向上する観点から、以下の条件2で測定される硬化膜の膜強度は、好ましくは70MPa以上であり、より好ましくは90Pa以上、さらに好ましくは100MPa以上、さらにより好ましくは105MPa以上である。
 また、脆性破壊を抑制する観点から、硬化膜の上記膜強度は、好ましくは150MPa以下であり、より好ましくは140MPa以下、さらに好ましくは130MPa以下、さらにより好ましくは120MPa以下である。
(条件2)
装置:引張・圧縮試験機
温度:常温(25℃)
引張速度:5mm/min
試験片サイズ:6.5mm×20mm×10μm厚
 また、感光性樹脂組成物の硬化物の信頼性を向上する観点から、50~100℃の温度領域における硬化膜の線膨張係数は、好ましくは25ppm/℃以上であり、より好ましくは30ppm/℃以上、さらに好ましくは35ppm/℃以上であり、また、好ましくは40ppm/℃以下である。
 ここで、50~100℃の温度領域における硬化膜の線膨張係数は、具体的には、200℃、180分の条件で得られた硬化膜の試験片(幅3mm×長さ10mm×厚み10mm)に対して、熱機械分析装置(TMA)を用いて、開始温度30℃、測定温度範囲30~440℃、昇温速度10℃/minの条件下で測定を行った結果から算出される。
 次に、各成分についてさらに具体的に説明する。
(成分(A))
 成分(A)は、アルカリ可溶性樹脂であり、成分(a1):ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂を含む。
 成分(a1)は、低温での硬化性を向上する観点から、好ましくは下記一般式(2)で表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000001
 上記一般式(2)中、nは、低温での硬化性を向上する観点から、好ましくは6以上であり、より好ましくは10以上、さらに好ましくは12以上、さらにより好ましくは14以上である。
 また、溶剤溶解性の観点から、nは、好ましくは72以下であり、より好ましくは54以下、さらに好ましくは36以下である。
 成分(a1)の重量平均分子量は、低温での硬化性を向上する観点から、たとえば500以上であってよく、好ましくは2000以上であり、より好ましくは3000以上、さらに好ましくは4000以上である。
 また、成分(a1)の重量平均分子量は、たとえば50000以下であってよく、溶剤溶解性の観点から、好ましくは20000以下であり、より好ましくは15000以下、さらに好ましくは10000以下、さらにより好ましくは8000以下である。
 ここで、成分(a1)の重量平均分子量は、具体的には、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)により測定し、ポリスチレン標準物質を用いて作成した検量線をもとに計算される。
 感光性樹脂組成物中の成分(a1)の含有量は、感光性樹脂組成物の全固形分を100質量部としたとき、低温硬化時の靭性向上の観点から、好ましくは5質量部以上であり、より好ましくは10質量部以上、さらに好ましくは15質量部以上である。
 また、熱機械特性悪化の観点から、感光性樹脂組成物中の成分(a1)の含有量は、感光性樹脂組成物の全固形分を100質量部としたとき、好ましくは70質量部以下であり、より好ましくは60質量部以下、さらに好ましくは50質量部以下、さらにより好ましくは40質量部以下である。
 また、成分(A)は、成分(a1)以外のものを含んでもよい。かかる樹脂の具体例として、成分(a1)以外のフェノール樹脂、ヒドロキシスチレン樹脂、ポリアミド樹脂、ポリベンゾオキサゾール樹脂、ポリイミド樹脂、環状オレフィン樹脂からなる群から選択される1種または2種以上を含む。
 成分(A)は、低温での硬化性および硬化膜の信頼性を向上する観点から、好ましくは成分(a2):成分(a1)以外のフェノール樹脂をさらに含む。
 成分(a2)として、具体的には、フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂、ビスフェノールノボラック樹脂、フェノール-ビフェニルノボラック樹脂、アリル化ノボラック型フェノール樹脂、キシリレンノボラック型フェノール樹脂等のノボラック型フェノール樹脂;ノボラック型フェノール樹脂、レゾール型フェノール樹脂、クレゾールノボラック樹脂などのフェノール化合物とアルデヒド化合物との反応物;フェノールアラルキル樹脂などのフェノール化合物とジメタノール化合物との反応物からなる群から選択される1種または2種以上を含む。成分(a2)は好ましくはノボラック型フェノール樹脂である。
 また、成分(a2)は、低温での硬化性および硬化膜の信頼性を向上する観点から、好ましくは、下記一般式(4)で表される構造単位を有する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000002
(上記一般式(4)中、R41、およびR42は、それぞれ独立して、水酸基、ハロゲン原子、カルボキシル基、炭素数1~20の飽和または不飽和のアルキル基、炭素数1~20のアルキルエーテル基、炭素数3~20の飽和または不飽和の脂環式基、または炭素数6~20の芳香族構造を有する有機基からなる群から選ばれる1価の置換基であり、これらはエステル結合、エーテル結合、アミド結合、カルボニル結合を介して結合していてもよく、r、およびsは、それぞれ独立して、0~3の整数であり、Y、およびZは、それぞれ独立して、単結合、または不飽和結合を有していてもよい炭素数1~10の脂肪族基、炭素数3~20の脂環式基、および炭素数6~20の芳香族構造を有する有機基からなる群から選択され、Zは、2つのベンゼン環のうちいずれか一方に結合する。)
 一般式(4)で表される構造単位を有するフェノール樹脂は、具体的には、特開2018-155938号公報の記載の方法を用いて得ることができる。
 感光性樹脂組成物中の成分(a2)の含有量は、感光性樹脂組成物の全固形分を100質量部としたとき、低温硬化時の硬化性向上の観点から、好ましくは5質量部以上であり、より好ましくは10質量部以上、さらに好ましくは15質量部以上である。
 また、靭性悪化の観点から、感光性樹脂組成物中の成分(a2)の含有量は、感光性樹脂組成物の全固形分を100質量部としたとき、好ましくは70質量部以下であり、より好ましくは60質量部以下、さらに好ましくは50質量部以下、さらにより好ましくは40質量部以下である。
 また、感光性樹脂組成物中の成分(A)の含有量は、感光性樹脂組成物の全固形分を100質量部としたとき、低温での硬化性および硬化膜の信頼性を向上する観点から、好ましくは30質量部以上であり、より好ましくは45質量部以上、さらに好ましくは50質量部以上であり、また、たとえば55質量部以上であってもよい。
 また、耐薬性や感光性を向上させる観点から、感光性樹脂組成物中の成分(A)の含有量は、感光性樹脂組成物の全固形分を100質量部としたとき、好ましくは95質量部以下であり、より好ましくは90質量部以下、さらに好ましくは85質量部以下、さらにより好ましくは70質量部以下である。
(成分(B))
 感光性樹脂組成物は、硬化膜の信頼性および耐薬性を向上する観点から、好ましくは成分(B):架橋剤をさらに含む。
 成分(B)は、具体的には成分(A)と熱により反応可能な基を有する化合物であり、たとえば、1,2-ベンゼンジメタノール、1,3-ベンゼンジメタノール、1,4-ベンゼンジメタノール(パラキシレングリコール)、1,3,5-ベンゼントリメタノール、4,4-ビフェニルジメタノール、2,6-ピリジンジメタノール、2,6-ビス(ヒドロキシメチル)-p-クレゾール、4,4'-メチレンビス(2,6-ジアルコキシメチルフェノール)などのメチロール基を有する化合物;フロログルシドなどのフェノール類;1,4-ビス(メトキシメチル)ベンゼン、1,3-ビス(メトキシメチル)ベンゼン、4,4'-ビス(メトキシメチル)ビフェニル、3,4'-ビス(メトキシメチル)ビフェニル、3,3'-ビス(メトキシメチル)ビフェニル、2,6-ナフタレンジカルボン酸メチル、4,4'-メチレンビス(2,6-ジメトキシメチルフェノール)などのアルコキシメチル基を有する化合物;ヘキサメチロールメラミン、ヘキサブタノールメラミン等から代表されるメチロールメラミン化合物;ヘキサメトキシメラミンなどのアルコキシメラミン化合物;テトラメトキシメチルグリコールウリルなどのアルコキシメチルグリコールウリル化合物;メチロールベンゾグアナミン化合物、ジメチロールエチレンウレアなどのメチロールウレア化合物;アルキル化尿素樹脂;ジシアノアニリン、ジシアノフェノール、シアノフェニルスルホン酸などのシアノ化合物;1,4-フェニレンジイソシアナート、3,3'-ジメチルジフェニルメタン-4,4'-ジイソシアナートなどのイソシアナート化合物;エチレングリコールジグリシジルエーテル、ビスフェノールAジグリシジルエーテル、イソシアヌル酸トリグリシジル、フェノキシ型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ナフタレン系エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、フェノールノボラック樹脂型エポキシ樹脂などのエポキシ基含有化合物;N,N'-1,3-フェニレンジマレイミド、N,N'-メチレンジマレイミドなどのマレイミド化合物等が挙げられる。
 感光性樹脂組成物を硬化させて得られる樹脂膜の耐薬品性を向上させる観点から、成分(B)は、好ましくは、成分(b1):2官能性のエポキシ樹脂を含み、より好ましくは2官能のフェノキシ型エポキシ樹脂を含む。同様の観点から、成分(B)が成分(b1)およびアルキル化尿素樹脂を含むことも好ましい。フェノキシ型エポキシ樹脂としては、ビスフェノールA型フェノキシ樹脂、ビスフェノールF型フェノキシ樹脂、ビスフェノールS型フェノキシ樹脂、ビスフェノールアセトフェノン型フェノキシ樹脂、ノボラック型フェノキシ樹脂、ビフェニル型フェノキシ樹脂、フルオレン型フェノキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型フェノキシ樹脂、ノルボルネン型フェノキシ樹脂、ナフタレン型フェノキシ樹脂、アントラセン型フェノキシ樹脂、アダマンタン型フェノキシ樹脂、テルペン型フェノキシ樹脂、およびトリメチルシクロヘキサン型フェノキシ樹脂等を用いることができる。また、フェノキシフェノキシ型エポキシ樹脂の市販品の具体例として、樹脂JER-1256、YX-7105(以上、三菱ケミカル社製)、LX-01(大阪ソーダ社製)が挙げられる。
 感光性樹脂組成物中の成分(b1)の含有量は、感光性樹脂組成物の全固形分を100質量部としたとき、低温硬化時の靭性向上の観点から、好ましくは0.1質量部以上であり、より好ましくは1質量部以上、さらに好ましくは3質量部以上である。
 また、低温硬化時の熱機械特性を保持する観点から、感光性樹脂組成物中の成分(b1)の含有量は、感光性樹脂組成物の全固形分を100質量部としたとき、好ましくは60質量部以下であり、より好ましくは50質量部以下、さらに好ましくは40質量部以下である。
 また、感光性樹脂組成物中の成分(B)の含有量は、感光性樹脂組成物の全固形分を100質量部としたとき、低温硬化時の靭性及び耐薬性向上の観点から、好ましくは0.1質量部以上であり、より好ましくは1質量部以上、さらに好ましくは3質量部以上である。
 また、硬化膜の耐薬性を高める観点から、感光性樹脂組成物中の成分(B)の含有量は、感光性樹脂組成物の全固形分を100質量部としたとき、好ましくは60質量部以下であり、より好ましくは50質量部以下、さらに好ましくは40質量部以下である。
(成分(C))
 感光性樹脂組成物は、硬化膜を安定的に形成する観点から、好ましくは成分(C):酸発生剤をさらに含む。成分(C)は、具体的には、熱エネルギーまたは光エネルギーを吸収することにより酸を発生する化合物である。
 低温での硬化性および耐薬性を向上する観点から、成分(C)は、好ましくは成分(c1):スルホニウム化合物またはその塩を含む。
 成分(c1)は、具体的には、カチオン部としてスルホニウムイオンを有するスルホニウム塩である。このとき、成分(c1)のアニオン部は、具体的には、ホウ化物イオン、アンチモンイオン、リンイオンまたはトリフルオロメタンスルホン酸イオン等のスルホン酸イオンであり、低温での反応速度を向上する観点から、好ましくはホウ化物イオンまたはアンチモンイオンであり、より好ましくはホウ化物イオンである。これらのアニオンは置換基を有してもよい。
 成分(c1)は、好ましくは下記一般式(1)で示されるスルホニウム塩を含む。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000003
 上記一般式(1)中、R1は水素原子または一価の有機基であり、低温での反応性を向上する観点から、好ましくは水素原子またはアシル基であり、より好ましくはアシル基であり、さらに好ましくはCH3C(=O)-基である。
 R2は一価の有機基であり、低温での反応性を向上する観点から、好ましくは鎖状もしくは分岐鎖を有する炭化水素基または置換基を有してもよいベンジル基であり、より好ましくは炭素数1以上4以下のアルキル基で置換されてもよいベンジル基または炭素数1以上4以下のアルキル基であり、さらに好ましくはメチル基または芳香環部がメチル基で置換されてもよいベンジル基である。
 R3は一価の有機基であり、低温での反応性を向上する観点から、好ましくは鎖状もしくは分岐鎖を有する炭化水素基であり、より好ましくは炭素数1以上4以下のアルキル基であり、より好ましくはメチル基である。
 成分(c1)の他の好ましい例として、トリフェニルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート等のトリフェニルスルホニウム塩が挙げられる。
 また、成分(c1)は、ジ(トリフルオロメタンスルホン)イミド (4,8-ジ-n-ブトキシ-1-ナフチル)ジブチルスルホニウム等の光酸発生剤であってもよい。
 感光性樹脂組成物中の成分(c1)の含有量は、感光性樹脂組成物の全固形分を100質量部としたとき、低温での硬化性を向上する観点から、好ましくは0.005質量部以上であり、より好ましくは0.01質量部以上、さらに好ましくは0.02質量部以上である。
 また、信頼性低下を抑制する観点から、感光性樹脂組成物中の成分(C)の含有量は、感光性樹脂組成物の全固形分を100質量部としたとき、好ましくは5質量%以下であり、より好ましくは4質量%以下、さらに好ましくは3質量%以下であり、また、たとえば0.5質量部以下、たとえば0.2質量部以下、またはたとえば0.1質量部以下であることも好ましい。
(成分(D))
 感光性樹脂組成物は、感光性樹脂組成物の硬化膜の基板への密着性を高める観点から、好ましくは成分(D):シランカップリング剤をさらに含む。シランカップリング剤としては、たとえば3-グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3-グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、3-グリシドキシプロピルトリエトキシシラン等のエポキシシラン;p-スチリルトリメトキシシラン等のスチリルシラン;3-メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、3-メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン;3-メタクリロキシプロピルメチルジエトキシシラン、3-メタクリロキシプロピルトリエトキシシラン、3-アクリロキシプロピルトリメトキシシラン等の(メタ)アクリルシラン;N-2-(アミノエチル)-3-アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N-2-(アミノエチル)-3-アミノプロピルトリメトキシシラン、N-2-(アミノエチル)-3-アミノプロピルトリエトキシシラン、3-アミノプロピルトリメトキシシラン、3-アミノプロピルトリエトキシシラン、N-フェニル-3-アミノプロピルトリメトキシシラン等のアミノシラン;3-メルカプトプロピルメチルジメトキシシラン、3-メルカプトプロピルトリメトキシシラン等のメルカプトシラン;ビス(トリエトキシプロピル)テトラスルフィド等のスルフィド系シラン;3-イソシアネートプロピルトリエトキシシラン等のイソシアネートシランが挙げられる。同様の観点から、成分(D)は、好ましくはエポキシシランおよび(メタ)アクリルシランからなる群から選択される少なくとも1種であり、より好ましくは3-グリシドキシプロピルトリメトキシシランおよび3-メタクリロキシプロピルトリメトキシシランの少なくとも1つである。また、成分(D)の具体例として、アミノ基、アミド基およびウレア基からなる群から選択される1または2以上の基を有するケイ素化合物と酸二無水物または酸無水物とを反応することにより得られるケイ素化合物も挙げられる。
 感光性樹脂組成物中の成分(D)の含有量は、密着性と、感光性樹脂組成物の保存性とを両立する観点から、成分(A)100質量部に対して、好ましくは0.1質量部以上であり、より好ましくは1質量部以上であり、また、好ましくは30質量部以下であり、より好ましくは20質量部以下、さらに好ましくは10質量部以下、さらにより好ましくは5質量部以下である。
 感光性樹脂組成物は、上述した成分以外の成分を含んでもよい。このような成分として、たとえば成分(D)以外の密着助剤、界面活性剤、酸化防止剤、溶解促進剤、フィラー、増感剤等の添加剤を添加してもよい。
 成分(D)以外の密着助剤として、感光性樹脂組成物の硬化膜の金属への密着性を向上する観点から、具体的には、トリアゾール化合物およびイミド化合物からなる群から選択される1または2以上の化合物が挙げられる。これにより、さらに窒素原子に由来する孤立電子対の数を増やすことができる。
 このうち、トリアゾール化合物としては、具体的には、メルカプトトリアゾール、4-アミノ-1,2,4-トリアゾール、4H-1,2,4-トリアゾール-3-アミン、4-アミノ-3,5-ジ-2-ピリジル-4H-1,2,4-トリアゾール、3-アミノ-5-メチル-4H-1,2,4-トリアゾール、4-メチル-4H-1,2,4-トリアゾール-3-アミン、3,4-ジアミノ-4H-1,2,4-トリアゾール、3,5-ジアミノ-4H-1,2,4-トリアゾール、1,2,4-トリアゾール-3,4,5-トリアミン、3-ピリジル-4H-1,2,4-トリアゾール、4H-1,2,4-トリアゾール-3-カルボキサミド、3,5-ジアミノ-4-メチル―1,2,4-トリアゾール、3-ピリジル-4-メチル-1,2,4-トリアゾール、4-メチル-1,2,4-トリアゾール-3-カルボキサミドなどの1,2,4-トリアゾールからなる群から選択される1または2以上の化合物が挙げられる。
 感光性樹脂組成物中の密着助剤の含有量は、密着性をさらに高める観点から、成分(A)100質量部に対して、好ましくは0.05質量部以上であり、より好ましくは0.1質量部以上、さらに好ましくは1質量部以上であり、また、好ましくは10質量部以下であり、より好ましくは5質量部以下である。
 界面活性剤として、具体的には、ポリオキシエチレンラウリルエーテル、ポリオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキシエチレンオレイルエーテルなどのポリオキシエチレンアルキルエーテル類;ポリオキシエチレンオクチルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテルなどのポリオキシエチレンアリールエーテル類;ポリオキシエチレンジラウレート、ポリオキシエチレンジステアレートなどのポリオキシエチレンジアルキルエステル類などのノニオン系界面活性剤;エフトップEF301、エフトップEF303、エフトップEF352(新秋田化成社製)、メガファックF171、メガファックF172、メガファックF173、メガファックF177、メガファックF444、メガファックF470、メガファックF471、メガファックF475、メガファックF482、メガファックF477(DIC社製)、フロラードFC-430、フロラードFC-431、ノベックFC4430、ノベックFC4432(スリーエムジャパン社製)、サーフロンS-381、サーフロンS-382、サーフロンS-383、サーフロンS-393、サーフロンSC-101、サーフロンSC-102、サーフロンSC-103、サーフロンSC-104、サーフロンSC-105、サーフロンSC-106、(AGCセイミケミカル社製)などの名称で市販されているフッ素系界面活性剤;オルガノシロキサン共重合体KP341(信越化学工業社製);(メタ)アクリル酸系共重合体ポリフローNo.57、95(共栄社化学社製)が挙げられる。
 これらのなかでも、パーフルオロアルキル基を有するフッ素系界面活性剤を用いることが好ましい。パーフルオロアルキル基を有するフッ素系界面活性剤としては、上記具体例のうち、メガファックF171、メガファックF173、メガファックF444、メガファックF470、メガファックF471、メガファックF475、メガファックF482、メガファックF477(DIC社製)、サーフロンS-381、サーフロンS-383、サーフロンS-393(AGCセイミケミカル社製)、ノベックFC4430及びノベックFC4432(スリーエムジャパン社製)から選択される1種または2種以上を用いることが好ましい。
 また、界面活性剤としては、シリコーン系界面活性剤(たとえばポリエーテル変性ジメチルシロキサンなど)も好ましく用いることができる。シリコーン系界面活性剤として具体的には、東レダウコーニング社のSHシリーズ、SDシリーズおよびSTシリーズ、ビックケミー・ジャパン社のBYKシリーズ、信越化学工業株式会社のKPシリーズ、日油株式会社のディスフォーム(登録商標)シリーズ、東芝シリコーン社のTSFシリーズなどを挙げることができる。
 感光性樹脂組成物中の界面活性剤の含有量は、塗布性や塗膜の均一性などを向上させる観点から、感光性樹脂組成物の全体(溶媒を含む)に対してたとえば0.001質量%(10ppm)以上であり、また、好ましくは1質量%(10000ppm)以下であり、より好ましくは0.5質量%(5000ppm)以下、さらに好ましくは0.1質量%(1000ppm)以下である。
 (感光性樹脂組成物の調製)
 感光性樹脂組成物は、上述した各成分と、必要に応じてその他の成分と、を有機溶剤に混合して溶解することにより調製される。
 また、本実施形態において、感光性樹脂組成物は、たとえば上述の成分および必要に応じその他の成分を有機溶剤に溶解し、ワニス状にして使用される。
 また、感光性樹脂組成物は、成分(a1)および成分(a1)以外の成分(A)ならびに適宜その他の成分を事前に反応させて事前反応樹脂とした後、適宜さらに他の成分を加え、用いることもできる。
 有機溶剤としては、たとえば、N-メチル-2-ピロリドン、γ-ブチロラクトン、N,N-ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールジブチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸ブチル、メチル-1,3-ブチレングリコールアセテート、1,3-ブチレングリコール-3-モノメチルエーテル、ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチルおよびメチル-3-メトキシプロピオネートからなる群から選択される1または2以上の溶剤が挙げられる。
 (樹脂膜)
 本実施形態における感光性樹脂組成物を硬化することにより樹脂膜が得られる。また、本実施形態における樹脂膜は、感光性樹脂組成物の乾燥膜または硬化膜である。すなわち、樹脂膜は、感光性樹脂組成物を乾燥または硬化させてなり、好ましくは感光性樹脂組成物を効果させてなる。
 この樹脂膜は、たとえば永久膜、レジストなどの電子装置用の樹脂膜を形成するために用いられる。これらの中でも、低温で樹脂膜が得られる観点、優れた加工性を有する観点、および、信頼性に優れる樹脂膜が得られる観点から、永久膜を用いる用途に用いられることが好ましい。
 本実施形態によれば、たとえば、感光性樹脂組成物を用いて得られる樹脂膜について、電子装置等を作製するために有用な樹脂膜とする上で求められる、加工性または信頼性に優れる膜を得ることも可能となる。
 上記永久膜は、感光性樹脂組成物に対してプリベーク、露光および現像をおこない、所望の形状にパターニングした後、ポストベークすることによって硬化させることにより得られた樹脂膜で構成される。永久膜は、バッファーコート膜等の電子装置の保護膜、再配線用絶縁膜等の層間膜、ダム材などに用いることができる。
 また、感光性樹脂組成物は、好ましくはバッファーコート膜または配線用絶縁膜に用いられる。
 レジストは、たとえば、感光性樹脂組成物をスピンコート、ロールコート、フローコート、ディップコート、スプレーコート、ドクターコート等の方法で、レジストにとってマスクされる対象に塗工し、感光性樹脂組成物から溶媒を除去することにより得られた樹脂膜で構成される。
 図1は、本実施形態における樹脂膜を有する電子装置の構成例を示す断面図である。
 図1に示した電子装置100は、上記樹脂膜を備える電子装置とすることができる。具体的には、電子装置100のうち、パッシベーション膜32、絶縁層42および絶縁層44からなる群の1つ以上を、樹脂膜とすることができる。ここで、樹脂膜は、上述した永久膜であることが好ましい。
 電子装置100は、たとえば半導体チップである。この場合、たとえば電子装置100を、バンプ52を介して配線基板上に搭載することにより半導体パッケージが得られる。電子装置100は、トランジスタ等の半導体素子が設けられた半導体基板と、半導体基板上に設けられた多層配線層(図示せず。)と、を備えている。多層配線層のうち最上層には、層間絶縁膜30と、層間絶縁膜30上に設けられた最上層配線34が設けられている。最上層配線34は、たとえば、アルミニウムAlにより構成される。また、層間絶縁膜30上および最上層配線34上には、パッシベーション膜32が設けられている。パッシベーション膜32の一部には、最上層配線34が露出する開口が設けられている。
 パッシベーション膜32上には、再配線層40が設けられている。再配線層40は、パッシベーション膜32上に設けられた絶縁層42と、絶縁層42上に設けられた再配線46と、絶縁層42上および再配線46上に設けられた絶縁層44と、を有する。絶縁層42には、最上層配線34に接続する開口が形成されている。再配線46は、絶縁層42上および絶縁層42に設けられた開口内に形成され、最上層配線34に接続されている。絶縁層44には、再配線46に接続する開口が設けられている。
 絶縁層44に設けられた開口内には、たとえばUBM(Under Bump Metallurgy)層50を介してバンプ52が形成される。電子装置100は、たとえばバンプ52を介して配線基板等に接続される。
 以上、本発明の実施形態について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することもできる。
 以下、実施例を参照して実施形態を詳細に説明するが、本発明は、これらの実施例の記載に何ら限定されるものではない。
 (実施例1~5、比較例1~5)
 表1に記載の配合にて感光性樹脂組成物を調製した。具体的には、まず、表1に従い配合された各成分を、窒素雰囲気下で撹拌混合後、孔径0.2μmのポリエチレン製フィルターで濾過することにより、ワニス状の感光性樹脂組成物を得た。
 表1に記載の各成分の詳細を以下に示す。また、表1において、各成分の含有量はアクティブ量である。
((A)アルカリ可溶性樹脂)
(a2)アルカリ可溶性樹脂1:ノボラック型フェノール樹脂、後述の製造例1で得られたフェノール樹脂
(a2)アルカリ可溶性樹脂2:クレゾール型フェノール樹脂、PR-56001、住友ベークライト社製
(a2)アルカリ可溶性樹脂3:アリル型フェノール樹脂、MEH-8000H、明和化成社製
(a2)アルカリ可溶性樹脂4:ザイロック型フェノール樹脂、MEH-7800SS、明和化成社製
(a1)アルカリ可溶性樹脂5:ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂1、重量平均分子量600、MEH-7851SS、明和化成社製
(a1)アルカリ可溶性樹脂6:ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂2、重量平均分子量4000、GPH-103、日本化薬社製
(a1)アルカリ可溶性樹脂7:後述の製造例2で得られた事前反応樹脂
((B)架橋剤)
(b1)架橋剤1:フェノキシ型エポキシ樹脂、YX-7105、三菱ケミカル社製
(b1)架橋剤2:ビスフェノールA型エポキシ樹脂、LX-01、大阪ソーダ社製
架橋剤3:アルキル化尿素樹脂、ニカラックMX-270 三和ケミカル社製
(感光剤)
感光剤1:DS-427、ダイトーケミックス社製
(溶媒)
溶媒1(樹脂中に含まれるもの):γ-ブチロラクトン
(密着助剤)
(D)密着助剤1:シランカップリング剤(3-グリシドキシプロピルトリメトキシシラン)、KBM-403、信越化学工業社製
密着助剤2:メルカプトトリアゾール
密着助剤3:シランカップリング剤(3-メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン)、KBM-503、信越化学工業社製
((C)酸発生剤)
(c1)酸発生剤1:スルホニウム塩1(4-アセトキシフェニルジメチルスルホニウム テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレート)、SI-B5、三新化学工業社製
(c1)酸発生剤2:スルホニウム塩2(4-アセトキシフェニルメチルベンジルスルホニウム テトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレート)、SI-B3A、三新化学工業社製
(c1)酸発生剤3:スルホニウム塩3(ジ(トリフルオロメタンスルホン)イミド (4,8-ジ-n-ブトキシ-1-ナフチル)ジブチルスルホニウム)、ZK-1232、DSP五協フード&ケミカル社製
(界面活性剤)
界面活性剤1:フッ素系界面活性剤、FC4430、スリーエムジャパン社製
(製造例1)アルカリ可溶性樹脂1の製造
 温度計、攪拌機、原料投入口および乾燥窒素ガス導入管を備えた4つ口のガラス製丸底フラスコに、乾燥窒素気流下、m-クレゾール64.9g(0.60モル)、p-クレゾール43.3g(0.40モル)、30質量%ホルムアルデヒド水溶液65.1g(ホルムアルデヒド0.65モル)、及び蓚酸二水和物0.63g(0.005モル)を仕込んだ後、油浴中に浸し、反応液を還流させながら100℃で4時間重縮合反応を行った。次いで、油浴の温度を200℃まで3時間かけて昇温した後に、フラスコ内の圧力を50mmHg以下まで減圧し、水分及び揮発分を除去した。その後、樹脂を室温まで冷却して、重量平均分子量3200のノボラック型フェノール樹脂であるフェノール樹脂(アルカリ可溶性樹脂1)を得た。
(製造例2)アルカリ可溶性樹脂7の製造
 アルカリ可溶性樹脂1 50質量部、アルカリ可溶性樹脂6 50質量部、架橋剤1 30質量部、触媒としてテトラフェニルホスフィン 0.4質量部、溶媒1 45質量部仕込み、150℃になるまで加熱して2時間フラスコで攪拌した。常温迄冷却後にフラスコから生成物を取り出し、事前反応樹脂(アルカリ可溶性樹脂7)を得た。
 以下、感光性樹脂組成物の特性測定方法を示す。
(伸び率)
 各例で得られた感光性樹脂組成物を200℃、180分の条件で硬化して硬化膜を形成した。得られた硬化膜から、6.5mm×20mm×10μm厚の試料を作製した。
 試料の引張試験を、JIS K7161に基づき、オリエンテック社製引張試験機(テンシロンRTA-100)、23℃、試験速度5mm/minの条件で実施した。1つの試料について8回測定をおこない、その平均値(表1中「ave.」)を引張伸び率(%)とした。結果を表1に示す。
(Tg、線膨張係数(CTE)))
 各例で得られた感光性樹脂組成物の硬化膜を200℃、180分の条件で作製し、得られた硬化膜から幅3mm×長さ10mm×厚み10mmの試験片を得た。
 各例の試験片に対し、熱機械分析装置(TMA、Seiko Instruments Inc社製、SS6000)を用いて、開始温度30℃、測定温度範囲30~440℃、昇温速度10℃/minの条件下で測定をおこない、測定結果より、Tg(℃)および50~100℃の温度領域の線膨張係数(ppm/℃)を求めた。結果を表1に示す。
(引張強度)
 各例で得られた感光性樹脂組成物を200℃、180分の条件で硬化して硬化膜を形成し、得られた硬化膜から、6.5mm×20mm×10μm厚の試験片を作製した。得られた試験片の引張強度(MPa)を以下の条件で測定した。結果を表1に示す。
装置:オリエンテック社製引張試験機(テンシロンRTC-1210A)
温度:常温(25℃)
引張速度:5mm/min
(加工性評価)
 実施例1~4および比較例1~5のそれぞれについて、得られたワニス状感光性樹脂組成物をシリコンウェハへ塗布し、100℃/4分の条件下で熱処理を施すことにより、膜厚約7.0μmの樹脂膜を得た。この樹脂膜にi線ステッパー(ニコン社製・NSR-4425i)を用いて最適量で露光を行い、現像液として2.38%のテトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液を用いて、プリベーク後の膜厚と現像後の膜厚の差が0.3μmになるように現像時間を調節して2回パドル現像を行うことによって露光部を溶解除去した後、純水で10秒間リンスした。樹脂膜に形成されたパターンの開口部について、光学顕微鏡の倍率200倍で観察し、100μm□の開口部にて残渣発生の有無を確認した。
〇:残渣の大きさが5μm未満
×:残渣の大きさが5μm以上
 評価結果を表1に示す。
(低温硬化性)
 低温硬化性の尺度として、各例で得られた組成物を用いて得られた硬化膜のフィルム破断性を評価した。
 各例で得られた感光性樹脂組成物を、6インチシリコンウェハに硬化後の厚さが10μmとなるように塗布し、100℃/4分でプリベークをおこなった。次に、クリーンオーブンで酸素濃度を2000ppm以下に制御して、200℃、180分で硬化をおこなった。
 得られた硬化膜から幅3mm×長さ10mm×厚み10mmの試験片を得た。試験片を半分に折り、その外観を観察し、以下の基準で評価した。
○:破断無し
×:一部破断あり又は完全破断
 評価結果を表1に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000004
 表1より、各実施例で得られた組成物は、優れた加工性を有するとともに、低温での硬化性に優れていた。
 この出願は、2020年5月29日に出願された日本出願特願2020-094819号を基礎とする優先権を主張し、その開示のすべてをここに取り込む。
30 層間絶縁膜
32 パッシベーション膜
34 最上層配線
40 再配線層
42、44 絶縁層
46 再配線
50 UBM層
52 バンプ
100 電子装置

Claims (9)

  1.  成分(A):アルカリ可溶性樹脂を含む感光性樹脂組成物であって、
     前記成分(A)が、成分(a1):ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂を含み、
     以下の条件1にて測定される、当該感光性樹脂組成物の硬化膜の引張伸び率が、10%以上200%以下である、感光性樹脂組成物。
    (条件1)
    (i)当該感光性樹脂組成物を200℃、180分の条件で硬化して前記硬化膜を形成し、前記硬化膜から、6.5mm×20mm×10μm厚の試料を作製する。
    (ii)JIS K7161に基づき、23℃、試験速度5mm/minの条件で前記試料の引張試験を実施して前記引張伸び率を求める。
  2.  前記成分(a1)の重量平均分子量が、2000以上50000以下である、請求項1に記載の感光性樹脂組成物。
  3.  成分(B):架橋剤
     をさらに含み、
     前記成分(B)が、成分(b1):2官能性のエポキシ樹脂を含む、請求項1または2に記載の感光性樹脂組成物。
  4.  成分(C):酸発生剤
     をさらに含み、
     前記成分(C)が、成分(c1):スルホニウム化合物またはその塩を含む、請求項1乃至3いずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
  5.  前記成分(A)が、成分(a2):前記成分(a1)以外のフェノール樹脂をさらに含む、請求項1乃至4いずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
  6.  成分(D):シランカップリング剤をさらに含む、請求項1乃至5いずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
  7.  当該感光性樹脂組成物の硬化物のガラス転移温度が150℃以上260℃以下である、請求項1乃至6いずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
  8.  以下の条件2で測定される前記硬化膜の膜強度が70MPa以上150MPa以下である、請求項1乃至7いずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
    (条件2)
    装置:引張・圧縮試験機
    温度:常温
    引張速度:5mm/min
    試験片サイズ:6.5mm×20mm×10μm厚
  9.  バッファーコート膜または配線用絶縁膜に用いられる、請求項1乃至8いずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
PCT/JP2021/019805 2020-05-29 2021-05-25 感光性樹脂組成物 WO2021241581A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020227044405A KR20230013084A (ko) 2020-05-29 2021-05-25 감광성 수지 조성물
JP2022526584A JP7211560B2 (ja) 2020-05-29 2021-05-25 感光性樹脂組成物
CN202180038895.6A CN115698855A (zh) 2020-05-29 2021-05-25 感光性树脂组合物

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020094819 2020-05-29
JP2020-094819 2020-05-29

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2021241581A1 true WO2021241581A1 (ja) 2021-12-02

Family

ID=78744092

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2021/019805 WO2021241581A1 (ja) 2020-05-29 2021-05-25 感光性樹脂組成物

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP7211560B2 (ja)
KR (1) KR20230013084A (ja)
CN (1) CN115698855A (ja)
TW (1) TW202208474A (ja)
WO (1) WO2021241581A1 (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012123378A (ja) * 2010-11-17 2012-06-28 Asahi Kasei E-Materials Corp 半導体素子表面保護膜又は層間絶縁膜用の感光性樹脂組成物
JP2019101052A (ja) * 2017-11-28 2019-06-24 日立化成株式会社 感光性樹脂組成物及び回路基板の製造方法
JP2019109425A (ja) * 2017-12-20 2019-07-04 住友ベークライト株式会社 永久膜形成用ネガ型感光性樹脂組成物、当該組成物の硬化膜および当該硬化膜を備える電気・電子機器

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007213032A (ja) 2006-01-10 2007-08-23 Hitachi Chemical Dupont Microsystems Ltd ポジ型感光性樹脂組成物、パターン形成方法及び電子部品
CN115718406A (zh) * 2016-11-11 2023-02-28 住友电木株式会社 抗蚀剂形成用感光性树脂组合物、树脂膜、固化膜和半导体装置
JP7062899B2 (ja) * 2017-09-15 2022-05-09 住友ベークライト株式会社 感光性樹脂組成物、半導体装置および電子機器

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012123378A (ja) * 2010-11-17 2012-06-28 Asahi Kasei E-Materials Corp 半導体素子表面保護膜又は層間絶縁膜用の感光性樹脂組成物
JP2019101052A (ja) * 2017-11-28 2019-06-24 日立化成株式会社 感光性樹脂組成物及び回路基板の製造方法
JP2019109425A (ja) * 2017-12-20 2019-07-04 住友ベークライト株式会社 永久膜形成用ネガ型感光性樹脂組成物、当該組成物の硬化膜および当該硬化膜を備える電気・電子機器

Also Published As

Publication number Publication date
JP7211560B2 (ja) 2023-01-24
TW202208474A (zh) 2022-03-01
JPWO2021241581A1 (ja) 2021-12-02
CN115698855A (zh) 2023-02-03
KR20230013084A (ko) 2023-01-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5061703B2 (ja) 感光性樹脂組成物
US11262655B2 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive dry film, and pattern forming process
KR101910220B1 (ko) 감광성 수지 조성물, 그 수지 조성물을 사용한 패턴 경화막의 제조 방법 및 전자 부품
JP4959778B2 (ja) 光硬化性樹脂組成物、該組成物を用いたフィルム状接着剤及び接着シート
JP7111129B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP7111031B2 (ja) 感光性樹脂組成物、感光性樹脂積層体、及びパターン形成方法
CN111045292A (zh) 感光性树脂组合物、感光性干膜和图案形成方法
KR20100022512A (ko) 포지티브형 감광성 수지 조성물 및 폴리히드록시아미드 수지
WO2021241581A1 (ja) 感光性樹脂組成物
WO2020080266A1 (ja) 感光性樹脂組成物、硬化膜、及び、硬化膜を備える電子装置及びその製造方法
JP6566150B2 (ja) 感光性樹脂組成物、樹脂膜及び電子装置
WO2020246565A1 (ja) 感光性ポリイミド樹脂組成物
WO2023182136A1 (ja) ポジ型感光性樹脂組成物、硬化膜、および半導体装置
JP2018173473A (ja) 感光性樹脂組成物、感光性樹脂組成物の硬化膜を備えた電気・電子機器およびその製造方法
JP2020024247A (ja) 感光性樹脂組成物、樹脂膜及び電子装置
JP7435110B2 (ja) ポリヒドロキシイミド、ポリマー溶液、感光性樹脂組成物およびその用途
JP7000696B2 (ja) 感光性樹脂組成物、感光性樹脂組成物の硬化膜、当該硬化膜を備えた電気・電子機器および電気・電子機器の製造方法
JP7247867B2 (ja) 感光性ポリイミド樹脂組成物、パターン形成方法及び半導体装置の製造方法
JP2023050691A (ja) ネガ型感光性樹脂組成物、硬化膜、および半導体装置
KR102171667B1 (ko) 감광성 수지 조성물, 수지막 및 전자 장치
JP6988112B2 (ja) 感光性樹脂組成物、半導体装置の製造方法、樹脂膜、硬化樹脂膜、および半導体装置
TW202134305A (zh) 感光性樹脂組成物、感光性樹脂被膜、感光性乾膜及圖型形成方法
KR20220045106A (ko) 수지 조성물, 경화물의 제조 방법, 경화물, 패턴 경화물, 층간 절연막, 커버 코트층, 표면 보호막 및 전자 부품

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 21812157

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2022526584

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20227044405

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 21812157

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1