WO2020209039A1 - 誘電性無機組成物 - Google Patents

誘電性無機組成物 Download PDF

Info

Publication number
WO2020209039A1
WO2020209039A1 PCT/JP2020/012652 JP2020012652W WO2020209039A1 WO 2020209039 A1 WO2020209039 A1 WO 2020209039A1 JP 2020012652 W JP2020012652 W JP 2020012652W WO 2020209039 A1 WO2020209039 A1 WO 2020209039A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
dielectric
dielectric constant
temperature
genb
inorganic composition
Prior art date
Application number
PCT/JP2020/012652
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
杰 傅
Original Assignee
株式会社 オハラ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社 オハラ filed Critical 株式会社 オハラ
Priority to US17/601,929 priority Critical patent/US20220144640A1/en
Priority to CN202080024098.8A priority patent/CN113631509A/zh
Priority to JP2020517227A priority patent/JPWO2020209039A1/ja
Publication of WO2020209039A1 publication Critical patent/WO2020209039A1/ja

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B25/00Phosphorus; Compounds thereof
    • C01B25/16Oxyacids of phosphorus; Salts thereof
    • C01B25/26Phosphates
    • C01B25/37Phosphates of heavy metals
    • C01B25/372Phosphates of heavy metals of titanium, vanadium, zirconium, niobium, hafnium or tantalum
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B25/00Phosphorus; Compounds thereof
    • C01B25/16Oxyacids of phosphorus; Salts thereof
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B25/00Phosphorus; Compounds thereof
    • C01B25/16Oxyacids of phosphorus; Salts thereof
    • C01B25/26Phosphates
    • C01B25/37Phosphates of heavy metals
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B35/00Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
    • C04B35/01Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics
    • C04B35/447Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on phosphates, e.g. hydroxyapatite
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B35/00Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
    • C04B35/01Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics
    • C04B35/495Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on vanadium, niobium, tantalum, molybdenum or tungsten oxides or solid solutions thereof with other oxides, e.g. vanadates, niobates, tantalates, molybdates or tungstates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B3/00Insulators or insulating bodies characterised by the insulating materials; Selection of materials for their insulating or dielectric properties
    • H01B3/02Insulators or insulating bodies characterised by the insulating materials; Selection of materials for their insulating or dielectric properties mainly consisting of inorganic substances
    • H01B3/12Insulators or insulating bodies characterised by the insulating materials; Selection of materials for their insulating or dielectric properties mainly consisting of inorganic substances ceramics
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/018Dielectrics
    • H01G4/06Solid dielectrics
    • H01G4/08Inorganic dielectrics
    • H01G4/12Ceramic dielectrics
    • H01G4/1209Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material
    • H01G4/1254Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material based on niobium or tungsteen, tantalum oxides or niobates, tantalates
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2002/00Crystal-structural characteristics
    • C01P2002/70Crystal-structural characteristics defined by measured X-ray, neutron or electron diffraction data
    • C01P2002/72Crystal-structural characteristics defined by measured X-ray, neutron or electron diffraction data by d-values or two theta-values, e.g. as X-ray diagram
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2006/00Physical properties of inorganic compounds
    • C01P2006/40Electric properties
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/30Stacked capacitors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/33Thin- or thick-film capacitors 
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G7/00Capacitors in which the capacitance is varied by non-mechanical means; Processes of their manufacture
    • H01G7/06Capacitors in which the capacitance is varied by non-mechanical means; Processes of their manufacture having a dielectric selected for the variation of its permittivity with applied voltage, i.e. ferroelectric capacitors

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Structural Engineering (AREA)
  • Inorganic Insulating Materials (AREA)

Abstract

-50℃~350℃の温度範囲で誘電率が高く、しかもその変化率が30%以下である誘電体の提供。 AとMとを含む酸化物結晶(AはP、Ge及びVの一種または二種以上、MはNbとTaの一種または二種以上)を含有し、誘電率が500以上であることを特徴とする無機物質。前記酸化物結晶はPNb925、P2.5Nb1850及びGeNb925、GeNb1847、GeNb19.14450、VNb925、VNb24.9、PTa925、GeTa925、VTa925及びこれらの固溶体のうちの一種または二種以上であることを特徴とする前記無機物質。

Description

誘電性無機組成物
 本発明は、誘電体として使用しうる性質を有する無機組成物に係り、さらに詳しくは、誘電率が高く、しかも-50℃~350℃の領域において誘電率の変化率が小さい無機組成物、及び当該組成物を使用する誘電体に関する。
 スマートフォンやタブレットなどの電子機器の普及に伴い、これらに使用される電子部品の小型高性能化が求められており、積層コンデンサとして使用される積層セラミックコンデンサ(MLCC、Multi Layer Ceramic Capacitor)も当然のように、小型大容量化が求められている。
 近年、電気自動車の普及に伴い、モーターの性能向上やコンパクト化を目的として、高温となるモーター周辺部に電装基板を直接実装することが求められているが、車載電装部品の使用環境の高温化に伴い、MLCCについても、より高温下(200℃~350℃)でも、静電容量が高く、容量温度特性が良好であることが要求される。即ち、コンデンサを構成する誘電体に対して200℃を超える高温領域でも誘電率が高く、かつ温度に対する誘電率の変動の少ないことが求められる。
また、半導体加工や視力矯正手術で利用されるエキシマレーザー、医療用X線、蓄電装置、送電設備などに使われる高エネルギー貯蔵密度を有するコンデンサへの需要が近年に高まっている。このようなコンデンサに使われる誘電体に対して高いエネルギー貯蔵密度を得るために高い誘電率と高い絶縁破壊強度を併せ持つことが求められると同時に高温下においても容量の温度変化の少ないことも求められる。
 しかしながら、誘電体として多く用いられているBaTiOは、キュリー温度が130℃付近にあるため、150℃以上の温度領域では誘電率が大きく低下してしまい、上記の要求を満足させることができないという問題があった。
文献1には、BaTiOの複合化物においてキュリー温度を高くすることができ、200℃まで容量の良好な温度特性が得られることが記載されているが、この材料では誘電率が500以下で、大きな容量が得られないという欠点がある。
 また、良好な容量温度特性を有する誘電体材料としてKNbO、K0.5Na0.5NbO等が研究されている。しかしながら、これらの誘電体材料は、焼成過程において、カリウム(K)が飛散(昇華)してしまい、得られる誘電体材料において格子欠陥が生じ、これにより絶縁性が低下するという問題がある。ここで、絶縁性が低いと、半導体化が進行して絶縁破壊が起こりやすくなるため、上記誘電体材料をコンデンサ等のセラミック電子部品に適用した場合、当該セラミック電子部品の信頼性が低下してしまうという問題がある。加えて、カリウム(K)の飛散は、生産工程の管理を困難にし、生産性が低下するという不都合もある。
特開2017-119607号公報
 本発明は、上記のような課題を解決することを目的とする。すなわち、本発明は誘電率が高く、しかも高温領域まで安定な温度依存性を有する誘電体を提供することを目的とする。
 本発明者は、上記の問題を解決すべく、鋭意研究を行った結果、AとMとを含む酸化物結晶(AはP、Ge及びVの一種または二種以上、MはNbとTaの一種または二種以上)においてAとMの比を0.01~1.00の範囲にすることにより、誘電率が500以上であることを見出し、本発明を完成させるに至った。
 本発明は以下の(1)~(6)である。
(1)AとMとを含む酸化物結晶(AはP、Ge及びVの一種または二種以上、MはNbとTaの一種または二種以上)を含有し、前記AとMの比が0.01~1.00の範囲であり、誘電率が500以上であることを特徴とする無機物質。
(2)-50℃~350℃の範囲における誘電率の温度変化率は30%以下であることを特徴とする上記(1)に記載の無機物質。
(3)前記酸化物結晶はPNb925、P2.5Nb1850及びGeNb925、GeNb1847、GeNb19.14450、VNb925、VNb24.9、PTa925、GeTa925、VTa925及びこれらの固溶体のうちの一種または二種以上であることを特徴とする(1)または(2)に記載の無機物質。
(4)(1)~(3)のいずれかに記載の無機物質を含む誘電体。
(5)強誘電体であることを特徴とする(4)の誘電体。
(6)上記の(4)または(5)に記載の誘電体を含むコンデンサ。
 本発明によれば、誘電率が高く、しかも-50~350℃の温度範囲においてその温度特性が良好である誘電体及びその誘電体を含むセラミックコンデンサを提供することができる。
実施例1と2のXRDパターンを示す図である。 実施例1と2の誘電率と周波数との関係を示す図である。 実施例4の誘電率と温度との関係を示す図である。 実施例4のヒステリシス曲線を示す図である。 実施例5の誘電率と周波数との関係を示す図である。 実施例5の誘電率と温度の関係を示す図である。 実施例6の誘電率と周波数との関係を示す図である。 実施例6の誘電率と温度との関係を示す図である。
<本発明の誘電体>
本発明の無機組成物について説明する。
 本発明の無機組成物は、誘電体として有用であり、AとMとを含む酸化物結晶(AはP、Ge及びVの一種または二種以上、MはNbとTaの一種または二種以上)を含むセラミックスである。AとMとの比を調整することにより、誘電率が500以上で、しかも-50~350℃の広い温度範囲にわたり誘電率の変化が少ない特性を実現できる。優れる誘電特性を得るには、AとMとの比が0.01~1.00の範囲であることは好ましく、0.03~0.50の範囲であることがより好ましく、0.04~0.20の範囲であることは最も好ましい。前記AとMとを含む酸化物結晶の中で特にPNb925、P2.5Nb1850及びGeNb925、GeNb1847、GeNb19.14450、VNb925、VNb24.9、PTa925、GeTa925、VTa925及びこれらの固溶体はより優れる特性を有するので、含ませるのが好ましい。
本発明の無機組成物に上述以外の成分として、例えばSiO、GeO、B、Al、ZnO、Bi3、TiO、ZrO、V、Ta、WO、アルカリ金属酸化物、アルカリ土類金属酸化物、希土類酸化物、遷移金属酸化物などを含んでもよい。これらの成分は焼結助剤としての役割を果たし、単独で存在してもよいし、上述の結晶に固溶していてもよいし、上述の結晶を構成する元素と新たな結晶を形成してもよい。これらの焼結助剤を導入することにより、焼成温度が下がったり、固溶体が形成したりすることにより誘電特性が向上することができる。
本発明の無機組成物にガラスが添加されてもよい。ガラスは焼結助剤の役割を果たし、焼成温度を下げる効果がある。
本発明の無機組成物は他の誘電体結晶、例えばタングステンブロンズ型結晶、ペロブスカイト型結晶、CaZrO結晶、SrZrO結晶、BaTi結晶、CaTi結晶等との複合化が可能である。これらの誘電体との複合化により、設計した通りの誘電特性に近づくことが可能である。なお、上述のタングステンブロンズ型結晶としてはMNb(M:Ca、Sr、Ba)、MRNb15(M:Ca、Sr、Ba;R:Na、K)、KLnNb15(Ln:Y、Ce、Sm、Eu、La、Gd、Tb、Dy、Ho、Bi)結晶及びこれらの固溶体からなる群から選ばれる一種または二種以上を含むことが特に好ましい。上述のペロブスカイト型結晶としてはRNbO、RTaO、(Bi0.5、R0.5)TiO(R:Na、K)、MTiO(M:Ca、Sr、Ba)結晶及びこれらの固溶体からなる群から選ばれる一種または二種以上を含むことが特に好ましい。
 本発明の無機組成物は、1kHz~100kHzの周波数における誘電率が500以上であることが好ましく、650以上であることがより好ましく、800以上であることがさらに好ましく、900以上であることが最も好ましい。
本発明の無機組成物は1kHzまたは/及び100kHzにおける誘電率の温度変化率が-50℃~350℃の温度範囲で30%以下であることが好ましく、-50℃~350℃の温度範囲で20%以下であることがより好ましく、15%以下であることがさらに好ましく、10%以下が最も好ましい。
 なお、本発明では、LRCメーター(キーサイト・テクノロジー、4274Aまたはインピーダンスアナライザー(例えばソーラトロン社製 SI1260)を用いて100Hzから1MHzまでの周波数にわたって誘電率及び誘電損失を測定し、1kHzまたは100kHzにおける値を本発明の誘電率及び誘電損失とした。
 本発明の無機組成物が誘電体セラミックスである場合は、高い比誘電率を有し、-50℃~350℃の広い温度範囲で誘電率の温度特性が良好である。したがって、高温対応コンデンサとして好適に用いることができる。具体的には、高温環境下で使用される電子部品である車載向けデバイスとして期待されるSiCやGaNをベースにしたパワーデバイスの作動、あるいは自動車のエンジンルーム内のノイズ除去などに用いられる電子部品が挙げられる。
また、本発明の無機組成物を使用した誘電体は、強誘電体であり、良好な圧電特性(たとえば、圧電定数:d、電気機械結合係数:k)も期待されるため、圧電体素子にも好適に使用できる。
<製造方法>
 本発明の無機組成物の製造方法について説明する。
 まず、本発明の無機組成物を構成する各成分の原料を準備する。各成分の原料としては、特に限定されず、上記した各成分の酸化物や複合酸化物、または焼成によりこれら酸化物や複合酸化物となる各種化合物、たとえば炭酸塩、硝酸塩、水酸化物、フッ化物、有機金属化合物などから適宜選択して用いることができる。
 次に、準備した原料を、所定の組成比となるように秤量して混合し、原料混合物を得る。混合する方法としては、例えば、ボールミルを用いて行う湿式混合や、乾式ミキサーを用いて行う乾式混合が挙げられる。
 得られた原料混合物は、バインダ樹脂を添加し造粒して、造粒物としてもよいし、バインダ樹脂や溶剤とともにペースト化して、スラリーとしてもよい。また、造粒物やスラリーとする前に、原料混合物を仮焼してもよい。
 造粒物やスラリーを成形する方法としては特に制限されず、シート法、印刷法、乾式成形、湿式成形、押出成形などが挙げられる。例えば乾式成形を採用した場合、造粒物を金型に充填して圧縮加圧(プレス)することにより成形する。成形体の形状は、特に限定されず、用途に応じて適宜決定すればよい。
 得られた成形体について必要に応じて、常圧焼結やホットプレス焼結や熱間静水圧加圧焼結や放電プラズマ焼結やマイクロ波焼結などのいずれかの方法で焼成することにより、セラミック誘電体を得ることができる。焼成条件は、焼成方法及び組成等に応じて適宜決定すればよいが、焼成温度は、好ましくは800℃~1400℃、保持時間は、好ましくは数分から24時間である。
 焼成後のセラミック誘電体について、必要に応じて大気中、酸素または還元雰囲気で熱処理を行う場合がある。このような熱処理により、欠陥が低減し、誘電体の誘電特性が改善される。熱処理温度は700℃~1200℃の範囲で、処理時間は1~24時間の範囲であることが好ましい。
 このようにして製造された本発明の無機組成物からなるセラミック誘電体は、コンデンサなどの電子部品に好適に使用される。
 上記では、円盤状の本発明の無機組成物からなるセラミック誘電体の作製方法を示したが、グリーンシート法などにより、積層型の電子部品の誘電体層を構成するセラミックコンデンサも作製できる。すなわち、本発明の誘電体粉末をペースト状にし、キャリアフィルム上にドクターブレード法などにより誘電体グリーンシート層を形成し、この上に内部電極層用ペーストを所定パターンで印刷した後、これらを1層ずつ剥離、積層してから圧力を加えて一体成形し、約800℃~1200℃の温度で焼き上げることにより、セラミックコンデンサが作製できる。
また、本発明の無機組成物は、通常の薄膜形成法を用いることにより、薄膜誘電体に作製することが可能である。例えば、真空蒸着法、高周波スパッタリング法、パルスレーザー蒸着法(PLD)、MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)法、MOD(Metal Organic Decomposition)法、ゾルゲル法、水熱法などを用いて薄膜誘電体に形成することができる。
 したがって、本発明の無機組成物は、単板型のコンデンサ等の電子部品に用いてもよいし、積層型のコンデンサ等の電子部品に用いてもよい、薄膜状の電子部品に用いてもよい。あるいは、圧電体素子に用いてもよい。
 以下、実施例によって本発明を更に具体的に説明するが、本発明はこれらによりなんら制限されるものではない。
<実施例1-4の作製>
 PとNbとを含む酸化物結晶を含む無機組成物は下記の手順で放電プラズマ焼結により作製した。まず、原料としてNHPOとNbの粉末を所定の比率(P/Nb=0.11)で調合し、直径2mmのジルコニアボールとエタノールと共にポリポットに充填し、24時間混合した後、24時間乾燥させた。乾燥した混合末を1000℃で2時間仮焼した。得られた仮焼物を上述と同様な条件で混合、粉砕、乾燥を行い、無機組成物からなる誘電体粉末を得た。この誘電体粉末から4gを取り、内径20mmのグラファイトダイに充填し、放電プラズマ焼結装置(住友石炭鉱業(株) SPS625)により真空雰囲気中で上下方向に35MPaの圧力をかけながら1050℃~1200℃で5~12分間保温することで円板状の誘電体を得た。得られた円板状の誘電体について両面を研磨してから、1L/分で酸素を流しながら1000℃で4時間熱処理を行ってから物性評価用サンプルとした。表1に実施例の作製条件及び諸物性を示す。
図1に実施例1と2のXRDパターンを示す。すべての回折ピークはPNb25に帰属できるので、本セラミック誘電体はPNb25結晶より構成されることが明らかになった。なお、XRDパターンはX線回折装置(フィリップス社製、商品名:X’Pert-MPD)を用いて測定した。
 図2に実施例1と2の誘電率の周波数依存性を示す。なお、誘電率及び誘電損失の測定はサンプルの両面に金電極を蒸着してからインピーダンスアナライザー(ソーラトロン社製 SI1260)を用い、室温(25℃)にて行った。本図より、測定した周波数範囲(100Hz~10Hz)において誘電率は900以上で、しかも周波数により大きく変化しないことが分かる。また、誘電損失を確認したところ、上記の周波数範囲で5%以下と小さい誘電損失を有することが判明した。
 誘電特性の温度依存性はLCRメーターを用いて100Hzから100kHzまでの周波数にわたって-30℃~350℃までの温度範囲で測定した。図3に代表例として実施例4についての測定結果を示す。それは100kHzの周波数における誘電率を温度に対してプロットしたものである。この図より、本発明の誘電体の誘電率は高い値を示しながら、-30℃~350℃の温度範囲で大きく変化しないことが分かる。
 温度に対する誘電率の変化率(ε)は、25℃における誘電率を基準としたとき、各温度における誘電率がどれだけ変化するかを求め、下記の式で算出した。
ε(%)=[(目的の温度における誘電率-25℃における誘電率)/25℃における誘電率]×100%
上記の式より求めた実施例4の誘電率の変化率(ε)を図3に示す。これにより、誘電率の変化率は-30℃~350℃の温度範囲で25%以下であり、-30℃~250℃の温度範囲で10%以下であったことが分かる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
図4に実施例4の電場―分極曲線を示す。この図より、本誘電体は強誘電体であることが明らかになった。
<実施例5の作製>
GeとNbを含む酸化物結晶を含む無機組成物は下記の手順で放電プラズマ焼結法により作製した。まず、原料としてGeOとNbの粉末を所定の比率(Ge/Nb=0.11で調合し、直径2mmのジルコニアボールとエタノールと共にポリポットに充填し、24時間混合した後、24時間乾燥させた。乾燥した混合末を950℃で2時間仮焼した。得られた仮焼物を上述と同様な条件で混合、粉砕、乾燥を行い、無機組成物からなる誘電体粉末を得た。この誘電体粉末から2.5gを取り、内径15mmのグラファイトダイに充填し、放電プラズマ焼結装置により真空雰囲気中で上下方向に50MPaの圧力をかけながら900℃で5分間保温することで円板状の誘電体を得た。得られた円板状の誘電体について両面を研磨してから、2L/分で酸素を流しながら850℃で4時間熱処理を行ってから物性評価用サンプルとした。
XRDパターンの解析によりGeNb19.14450結晶相またはGeNb25結晶相が生成していることが推定される。GeNb19.14450とGeNb25の回折ピークがオーバーラップするため、二つの結晶が同時に共存している可能性もある。
図5に実施例5の誘電率の周波数依存性を示す。測定した周波数範囲において4000~5000と高い誘電率を有することが分かる。図6の誘電特性と温度特性との関係から、250℃以上の高温にわたり、誘電率の変化が少なく、その変化率が15%以下であることが確認できる。
<実施例6の作製>
GeとNbとを含む酸化物結晶を含む無機組成物は下記の手順で通常の焼結法により作製した。まず、原料としてGeOとNbの粉末を所定の比率(Ge/Nb=0.11で調合し、直径2mmのジルコニアボールとエタノールと共にポリポットに充填し、24時間混合した後、24時間乾燥させた。乾燥した混合末を950℃で2時間仮焼した。得られた仮焼物を上述と同様な条件で混合、粉砕、乾燥を行い、無機組成物からなる誘電体粉末を得た。この誘電体粉末から2.0gを取り、内径20mmの金型に充填し、二軸プレスによりペレット状に成型してから、電気炉で大気中で1170℃で4時間焼結した。得られた円板状の誘電体についてXRDを測定してから誘電率の測定を行った。
XRDパターンは実施例5と同じであることから、同様な結晶相を有することが判明した。
図7に実施例6の誘電率の周波数依存性を示す。誘電率は測定した周波数範囲において700前後とほぼ一定であることが分かる。図8の誘電特性と温度特性との関係から、200℃以上の高温にわたり、誘電率の変化率が15%以下と低く、誘電損失が0.5以下であることが確認できた。
 

 

Claims (6)

  1. AとMとを含む酸化物結晶(AはP、Ge及びVの一種または二種以上、MはNbとTaの一種または二種以上)を含有し、前記AとMの比が0.01~1.00の範囲であり、誘電率が500以上であることを特徴とする無機物質。
  2. -50℃~350℃の範囲における誘電率の温度変化率は30%以下であることを特徴とする請求項1に記載の無機物質。
  3. 前記酸化物結晶はPNb925、P2.5Nb1850及びGeNb925、GeNb1847、GeNb19.14450、VNb925、VNb24.9、PTa925、GeTa925、VTa925及びこれらの固溶体のうちの一種または二種以上であることを特徴とする請求項1または2に記載の無機物質。
  4. 請求項1~3のいずれかに記載の無機物質を含む誘電体。
  5. 強誘電体であることを特徴とする請求項4の誘電体。
  6. 請求項4または5に記載の誘電体を含むコンデンサ。
PCT/JP2020/012652 2019-04-08 2020-03-23 誘電性無機組成物 WO2020209039A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US17/601,929 US20220144640A1 (en) 2019-04-08 2020-03-23 Dielectric inorganic composition
CN202080024098.8A CN113631509A (zh) 2019-04-08 2020-03-23 电介性无机组合物
JP2020517227A JPWO2020209039A1 (ja) 2019-04-08 2020-03-23

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019-073336 2019-04-08
JP2019073336 2019-04-08

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2020209039A1 true WO2020209039A1 (ja) 2020-10-15

Family

ID=72751537

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2020/012652 WO2020209039A1 (ja) 2019-04-08 2020-03-23 誘電性無機組成物

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20220144640A1 (ja)
JP (1) JPWO2020209039A1 (ja)
CN (1) CN113631509A (ja)
TW (1) TW202043173A (ja)
WO (1) WO2020209039A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022244479A1 (ja) * 2021-05-18 2022-11-24 株式会社 オハラ セラミックス材料及びコンデンサ
WO2022264991A1 (ja) * 2021-06-15 2022-12-22 株式会社 オハラ ガラスセラミックス誘電体

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013028478A (ja) * 2011-07-27 2013-02-07 Tdk Corp 誘電体磁器組成物、および電子部品
WO2018092637A1 (ja) * 2016-11-18 2018-05-24 株式会社オハラ 誘電体
JP2019073398A (ja) * 2017-10-12 2019-05-16 株式会社オハラ 誘電体組成物および誘電体セラミックス

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4541692B2 (ja) * 2003-12-24 2010-09-08 日本特殊陶業株式会社 誘電体磁器組成物
JP2007261913A (ja) * 2006-03-29 2007-10-11 Tdk Corp 誘電体磁器組成物、電子部品および積層セラミックコンデンサ
JP2017178744A (ja) * 2016-03-31 2017-10-05 旭化成株式会社 強誘電体セラミックス及びその製造方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013028478A (ja) * 2011-07-27 2013-02-07 Tdk Corp 誘電体磁器組成物、および電子部品
WO2018092637A1 (ja) * 2016-11-18 2018-05-24 株式会社オハラ 誘電体
JP2019073398A (ja) * 2017-10-12 2019-05-16 株式会社オハラ 誘電体組成物および誘電体セラミックス

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
PATOUX S ET AL.: "A Reversible Lithium Intercalation Process in an Re03-Type Structure PNb905", JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY, vol. 149, no. 4, 2002, pages A 391 - A400 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022244479A1 (ja) * 2021-05-18 2022-11-24 株式会社 オハラ セラミックス材料及びコンデンサ
WO2022264991A1 (ja) * 2021-06-15 2022-12-22 株式会社 オハラ ガラスセラミックス誘電体

Also Published As

Publication number Publication date
US20220144640A1 (en) 2022-05-12
TW202043173A (zh) 2020-12-01
JPWO2020209039A1 (ja) 2020-10-15
CN113631509A (zh) 2021-11-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100946016B1 (ko) 저온 소성 및 고온 절연저항 강화용 유전체 조성물 및 이를이용한 적층 세라믹 커패시터
JP4965435B2 (ja) 積層セラミックコンデンサおよびその製法
TWI402872B (zh) 電介質瓷器及疊層陶瓷電容器以及它們的製造方法
JP3746763B2 (ja) 耐還元性低温焼成誘電体磁器組成物、これを用いた積層セラミックキャパシター及びその製造方法
EP1767507B1 (en) Dielectric ceramic composition and laminated ceramic capacitor
KR20100133905A (ko) 유전물질용 소결체 및 이의 제조 방법
JP2010180124A (ja) 誘電体セラミック及び積層セラミックコンデンサ
JP4522025B2 (ja) 誘電体磁器及び積層型電子部品並びに積層型電子部品の製法
WO2020209039A1 (ja) 誘電性無機組成物
KR101732422B1 (ko) 유전체 제조용 소결 전구체 분말 및 이의 제조 방법
JP2023114296A (ja) 誘電体組成物および電子部品
CN110317056B (zh) 电介质组合物及电子部件
JP2004182582A (ja) 低温焼成誘電体磁器組成物とこれを用いた積層セラミックキャパシター
JP3828073B2 (ja) 積層セラミックコンデンサ用誘電体組成物及びこれを用いた積層セラミックコンデンサ
JP7021897B2 (ja) 誘電体組成物および誘電体セラミックス
JP4511323B2 (ja) 積層セラミックコンデンサおよびその製法
CN115910604A (zh) 电介质组成物和电子部件
JP4828692B2 (ja) 誘電体粉末の製造方法
JP4594049B2 (ja) 積層セラミックコンデンサ
WO2022244479A1 (ja) セラミックス材料及びコンデンサ
KR100355933B1 (ko) X7r 특성 적층 칩캐퍼시터용 티탄산바륨 파우더 제조방법
JP5566183B2 (ja) 誘電体粉末及び焼結体並びにそれを用いたコンデンサ
KR20200110946A (ko) 낮은 유전손실을 갖는 유전체의 제조방법 및 이에 따라 제조되는 유전체
JP2023046256A (ja) 誘電体組成物および電子部品
KR100355932B1 (ko) 적층 칩캐퍼시터용 티탄산바륨 파우더 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2020517227

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 20787307

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 20787307

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1