WO2020153396A1 - コネクタ用端子材及びコネクタ用端子 - Google Patents

コネクタ用端子材及びコネクタ用端子 Download PDF

Info

Publication number
WO2020153396A1
WO2020153396A1 PCT/JP2020/002088 JP2020002088W WO2020153396A1 WO 2020153396 A1 WO2020153396 A1 WO 2020153396A1 JP 2020002088 W JP2020002088 W JP 2020002088W WO 2020153396 A1 WO2020153396 A1 WO 2020153396A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
silver
nickel
layer
nickel alloy
base material
Prior art date
Application number
PCT/JP2020/002088
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
圭栄 樽谷
中矢 清隆
Original Assignee
三菱マテリアル株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 三菱マテリアル株式会社 filed Critical 三菱マテリアル株式会社
Priority to KR1020217011575A priority Critical patent/KR20210116422A/ko
Priority to EP20745808.4A priority patent/EP3916133A4/en
Priority to CN202080006529.8A priority patent/CN113166965A/zh
Priority to JP2020518564A priority patent/JP6743998B1/ja
Priority to US17/422,478 priority patent/US20220069498A1/en
Publication of WO2020153396A1 publication Critical patent/WO2020153396A1/ja

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D5/00Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
    • C25D5/10Electroplating with more than one layer of the same or of different metals
    • C25D5/12Electroplating with more than one layer of the same or of different metals at least one layer being of nickel or chromium
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D3/00Electroplating: Baths therefor
    • C25D3/02Electroplating: Baths therefor from solutions
    • C25D3/56Electroplating: Baths therefor from solutions of alloys
    • C25D3/64Electroplating: Baths therefor from solutions of alloys containing more than 50% by weight of silver
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02Contact members
    • H01R13/03Contact members characterised by the material, e.g. plating, or coating materials
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D5/00Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
    • C25D5/10Electroplating with more than one layer of the same or of different metals
    • C25D5/12Electroplating with more than one layer of the same or of different metals at least one layer being of nickel or chromium
    • C25D5/14Electroplating with more than one layer of the same or of different metals at least one layer being of nickel or chromium two or more layers being of nickel or chromium, e.g. duplex or triplex layers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D7/00Electroplating characterised by the article coated
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R43/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
    • H01R43/16Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors for manufacturing contact members, e.g. by punching and by bending
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D5/00Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
    • C25D5/34Pretreatment of metallic surfaces to be electroplated
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D5/00Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
    • C25D5/34Pretreatment of metallic surfaces to be electroplated
    • C25D5/38Pretreatment of metallic surfaces to be electroplated of refractory metals or nickel
    • C25D5/40Nickel; Chromium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/26Connectors or connections adapted for particular applications for vehicles

Definitions

  • the present invention relates to a terminal material for a connector and a terminal for a connector provided with a useful film, which is used for connecting electric wiring in automobiles, consumer appliances, etc. where slight sliding occurs.
  • the present application claims priority based on Japanese Patent Application No. 2019-010102 filed on January 24, 2019, and the content thereof is incorporated herein.
  • in-vehicle connectors used to connect electric wiring of automobiles and the like are known.
  • the terminal pair used for this vehicle-mounted connector (vehicle-mounted terminal) has a contact piece provided on the female terminal, which is brought into contact with the male terminal inserted in the female terminal with a predetermined contact pressure, so that electrical contact is achieved.
  • a contact piece provided on the female terminal, which is brought into contact with the male terminal inserted in the female terminal with a predetermined contact pressure, so that electrical contact is achieved.
  • a tin-plated terminal obtained by performing a tin plating treatment on a copper or copper alloy plate and performing a reflow treatment was often used.
  • the use of terminals plated with a precious metal which can flow more current and is excellent in heat resistance and wear resistance, is increasing.
  • a silver-plated terminal for a connector described in Patent Document 1 As a vehicle-mounted terminal that is required to have such heat resistance and wear resistance, for example, a silver-plated terminal for a connector described in Patent Document 1 is known.
  • this silver-plated terminal for a connector the surface of a base material made of copper or a copper alloy is covered with a silver-plated layer.
  • This silver plating layer has a first silver plating layer located on the lower layer side (base material side) and a second silver plating layer located on the upper layer side of the first silver plating layer. The crystal grain size of the plating layer is larger than that of the second silver plating layer.
  • Patent Document 1 by forming the crystal grain size of the first silver plating layer larger than the crystal grain size of the second silver plating layer, the Cu component from the base material becomes the second silver plating layer. It suppresses the spread to.
  • an intermediate layer made of silver or a silver alloy having an antimony concentration of 0.1% by mass or less is formed on at least a part of the surface of a base material of copper or a copper alloy, and Vickers is formed on the intermediate layer.
  • a member having a silver alloy layer (outermost layer) having a hardness of HV140 or higher is disclosed.
  • An underlayer of nickel or nickel alloy is formed between the base material and the intermediate layer.
  • the silver plating layer that coats the surface of the base material has a large crystal grain size of silver due to heating and the hardness thereof decreases, so that the wear resistance in a high temperature environment decreases. It is conceivable to increase the thickness of the silver plating layer in order to compensate for this decrease in wear resistance, but there is a problem in terms of cost.
  • the present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a connector terminal material and a connector terminal that can improve wear resistance and heat resistance.
  • the connector terminal material of the present invention includes a base material having at least a surface layer made of copper or a copper alloy, a film thickness of 0.5 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less covering at least a part of the surface of the base material, and a nickel content of 0.05 at% And a silver nickel alloy layer of 2.0 at% or less.
  • the silver-nickel alloy layer formed on the outermost surface of the base material contains nickel, the hardness of the outermost surface of the base material can be increased and the wear resistance can be improved. Since no intermetallic compound is generated between silver and nickel, it is possible to prevent the hardness of the silver-nickel alloy layer from becoming too high. Further, since nickel has a higher melting point than antimony, it is possible to improve heat resistance and suppress the decrease in hardness due to heating.
  • the nickel content in the silver-nickel alloy layer is set to 0.05 at% or more and 2.0 at% or less, and silver and nickel are The hardness can be surely increased by simply eutecting the.
  • the nickel content of the silver-nickel alloy layer is less than 0.05 at %, heat resistance and wear resistance are deteriorated, and when it exceeds 2.0 at %, the silver-nickel alloy layer becomes too hard and may be pressed. Cracks occur. Further, the contact resistance also becomes high.
  • the surface of the contact portion of the terminal is a silver-nickel alloy layer, so that the occurrence of adhesive wear can be suppressed and the wear resistance can be improved.
  • the thickness of the silver-nickel alloy layer is less than 0.5 ⁇ m, heat resistance and wear resistance cannot be improved, and if it exceeds 50 ⁇ m, the silver-nickel alloy layer is too thick and cracks occur due to press working.
  • a nickel layer made of nickel or a nickel alloy is provided between the base material and the silver-nickel alloy layer, and the nickel layer has a thickness of 0.5 ⁇ m. It is preferably 5 ⁇ m or less.
  • the silver-nickel alloy layer is formed on the nickel layer, peeling of the silver-nickel alloy layer from the base material can be suppressed.
  • the thickness of the nickel layer is less than 0.5 ⁇ m, the Cu component diffuses from the base material made of copper or copper alloy into the silver-nickel alloy layer in a high temperature environment, and the resistance value of the silver-nickel alloy layer becomes large. Therefore, the heat resistance may decrease.
  • the thickness of the nickel layer exceeds 5 ⁇ m, cracks may occur during press working or the like.
  • the connector terminal of the present invention is a connector terminal made of the above-mentioned connector terminal material, and the silver-nickel alloy layer is located on the surface of the contact portion.
  • the wear resistance and heat resistance of the connector terminal material and the connector terminal can be improved.
  • the connector terminal material 1 of the present embodiment covers at least the plate-shaped base material 2 whose surface layer is made of copper or a copper alloy and the entire upper surface of the base material 2, as schematically shown in the cross section in FIG.
  • a nickel layer 3 made of nickel or a nickel alloy, and a silver-nickel alloy layer 4 covering the entire upper surface of the nickel layer 3 are provided.
  • the composition of the base material 2 is not particularly limited as long as the surface layer is made of copper or a copper alloy.
  • the base material 2 is made of a plate material made of copper or a copper alloy, but is made of a plated material on the surface of the base material of which is subjected to copper plating treatment or copper alloy plating treatment. It may be configured.
  • a metal such as oxygen-free copper (C10200) or Cu—Mg-based copper alloy (C18665) can be applied.
  • the nickel layer 3 is formed by plating the base material 2 with nickel or a nickel alloy.
  • the nickel layer 3 has a function of suppressing the Cu component of the base material 2 from diffusing into the silver-nickel alloy layer 4 covering the nickel layer 3.
  • the thickness (film thickness) of the nickel layer 3 is preferably 0.5 ⁇ m or more and 5 ⁇ m or less, and more preferably 0.5 ⁇ m or more and 2 ⁇ m or less.
  • the Cu component diffuses into the silver-nickel alloy layer 4 from the base material 2 made of copper or copper alloy in a high temperature environment, and the silver-nickel alloy layer 4 comes into contact with the silver component.
  • the resistance value may increase and the heat resistance may decrease.
  • the thickness of the nickel layer 3 exceeds 5 ⁇ m, cracks may occur during bending.
  • the composition of the nickel layer 3 is not particularly limited as long as it is made of nickel or a nickel alloy.
  • the silver-nickel alloy layer 4 is formed by performing a silver strike plating treatment on the nickel layer 3 and then performing a silver-nickel alloy plating treatment on the upper surface thereof.
  • the silver-nickel alloy layer 4 is formed on the nickel layer 3 on the outermost surface of the connector terminal material 1.
  • the silver-nickel alloy layer 4 is composed of an alloy of silver and nickel. Since no intermetallic compound is generated between silver and nickel, the hardness of the outermost surface of the connector terminal material 1 is prevented from becoming too high.
  • the nickel content of the silver-nickel alloy layer 4 is 0.05 at% or more and 2.0 at% or less, and more preferably 0.1 at% or more and 1.0 at% or less.
  • the nickel content of the silver-nickel alloy layer 4 is less than 0.05 at %, the hardness of the silver-nickel alloy layer 4 decreases, so that the wear resistance decreases, and when the nickel content exceeds 2.0 at %.
  • the silver-nickel alloy layer 4 becomes too hard and cracks occur due to press working or the like.
  • the silver-nickel alloy layer 4 Since nickel has a lower electrical conductivity than silver, the silver-nickel alloy layer 4 has a high contact resistance when the nickel content exceeds 2.0 at %. By including nickel in the above range, the hardness of the silver-nickel alloy layer 4 is increased and the wear resistance is improved. Specifically, the Vickers hardness of the silver-nickel alloy layer 4 is in the range of 150 HV to 250 HV.
  • the thickness of the silver-nickel alloy layer 4 is set to 0.5 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less, and more preferably 1 ⁇ m or more and 10 ⁇ m or less. If the film thickness of the silver-nickel alloy layer 4 is less than 0.5 ⁇ m, heat resistance and wear resistance cannot be improved, and if the film thickness exceeds 50 ⁇ m, the silver-nickel alloy layer 4 is too thick and is cracked by pressing or the like. Occurs.
  • the manufacturing method of the connector terminal material 1 includes a pretreatment step of washing a plate material at least a surface layer of which is a base material 2 and made of copper or a copper alloy, a nickel layer forming step of forming the nickel layer 3 on the base material 2, and a nickel layer.
  • a plate material having at least a surface layer made of copper or a copper alloy is prepared as the base material 2, and a pretreatment for cleaning the surface is performed by degreasing, pickling, etc. the plate material.
  • Nickel layer forming process At least a part of the surface of the base material 2 is subjected to nickel plating treatment or nickel alloy plating treatment to form the nickel layer 3 on the base material 2.
  • the nickel layer 3 is, for example, a nickel plating bath composed of 300 g/L of nickel sulfamate, 30 g/L of nickel chloride, and 30 g/L of boric acid, and is nickel plated under the conditions of a bath temperature of 45° C. and a current density of 3 A/dm 2. It is formed by processing.
  • the nickel plating treatment for forming the nickel layer 3 is not particularly limited as long as a dense nickel-based film can be obtained, and may be formed by electroplating using a known Watts bath.
  • the silver-nickel alloy layer 4 is directly formed on the surface of the base material 2, the nickel layer forming step is not executed.
  • Silver strike plating process The nickel layer 3 is subjected to activation treatment using a 5 to 10 mass% potassium hydroxide aqueous solution, and then silver strike plating treatment is applied to the nickel layer 3 to form a silver strike plating layer. This silver strike plating treatment is performed in order to enhance the adhesion between the silver-nickel alloy layer 4 formed on the nickel layer 3 and the nickel layer 3.
  • the composition of the plating bath for performing the silver strike plating treatment is not particularly limited, but is, for example, 1 g/L to 5 g/L of silver cyanide (AgCN) and 80 g/L to 120 g/L of potassium cyanide (KCN).
  • a silver strike plating layer is formed by subjecting this silver plating bath to silver plating treatment for about 30 seconds under the conditions of a bath temperature of 25° C. and a current density of 1 A/dm 2 using stainless steel (SUS316) as an anode. It
  • a silver-nickel alloy plating process is performed on the silver strike-plated layer to form a silver-nickel alloy layer 4.
  • the composition of the plating bath for forming the silver-nickel alloy layer 4 is, for example, 30 g/L to 50 g/L of silver cyanide (AgCN), 100 g/L to 150 g/L of potassium cyanide (KCN), potassium carbonate (K 2 CO 3 ) 15 g/L to 40 g/L, potassium tetracyanonickel(II) monohydrate (K 2 [Ni(CN) 4 ].H 2 O) 80 g/L to 150 g/L, smooth silver plating layer It consists of an additive for precipitating. This additive may be a general additive as long as it does not contain antimony.
  • the silver-nickel alloy layer 4 having a film thickness of 0.5 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less is formed.
  • the plating bath for forming the silver-nickel alloy layer 4 is a cyan bath, and it is sufficient that the additive does not contain antimony, and its composition is not particularly limited.
  • the connector terminal material 1 in which the nickel layer 3 and the silver-nickel alloy layer 4 are formed on the surface of the base material 2 is formed. Then, the connector terminal material 1 is subjected to press working or the like to form a connector terminal in which the silver-nickel alloy layer 4 is located at the contact portion.
  • the silver-nickel alloy layer 4 formed on the outermost surface of the base material 2 contains nickel, so that the hardness of the outermost surface of the base material 2 is increased and the wear resistance is improved. it can. Since no intermetallic compound is generated between silver and nickel, the hardness of the outermost surface of the base material 2 can be suppressed from becoming too high. Since nickel has a higher melting point than antimony, it is possible to improve heat resistance and suppress deterioration of hardness.
  • the nickel content in the silver-nickel alloy layer 4 is slightly different from 0.05 at% to 2.0 at%. Hardness can be reliably increased only by causing precipitation. Since the silver-nickel alloy layer 4 is formed on the nickel layer 3, it is possible to prevent the silver-nickel alloy layer 4 from peeling from the base material.
  • the detailed configuration is not limited to the configuration of the embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
  • the nickel layer 3 is provided between the base material 2 and the silver-nickel alloy layer 4 in the above embodiment, the present invention is not limited to this, and the nickel layer 3 may not be included. That is, the silver-nickel alloy layer 4 may be directly formed on the base material 2, and in this case, the nickel layer forming step may not be performed.
  • the nickel layer 3 and the silver-nickel alloy layer 4 are formed on the entire upper surface of the base material 2 in the above-described embodiment, the present invention is not limited to this.
  • the nickel alloy layer 4 may be formed, or the silver nickel alloy layer 4 may be formed on a part of the upper surface of the nickel layer 3.
  • Example 1 Each sample of Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 5 was manufactured by the following method.
  • a base material made of a copper alloy plate and having a thickness of 0.3 mm was prepared, and the surface was cleaned by degreasing, pickling, and the like (pretreatment step).
  • pretreatment step After that, a part of the surface of the base material was subjected to nickel plating treatment (nickel layer forming step) to form a nickel layer having a thickness shown in Table 1 on the base material.
  • nickel plating treatment nickel layer forming step
  • an activation treatment for cleaning the surface of the nickel layer was performed using a 5 mass% potassium hydroxide aqueous solution.
  • the base material coated with the nickel layer was subjected to a silver strike plating treatment (silver strike plating step) to form a silver strike plating layer.
  • the plating time is adjusted so that a silver-nickel alloy plating layer having a film thickness shown in Table 1 is obtained, and a silver-nickel alloy plating treatment is performed on the silver strike plating layer to form a silver-nickel alloy layer (silver-nickel alloy layer). Alloy layer forming step), each sample of Examples 1 to 5 was obtained.
  • the conditions for each plating are as follows.
  • each sample having a nickel layer and a silver nickel alloy layer having the film thickness shown in Table 1 was formed by the same method as in Examples 1 to 5 above.
  • Comparative Example 4 As in Examples 1 to 5, after the surface of the base material was subjected to the nickel plating treatment and the silver strike plating treatment, the silver-nickel alloy plating treatment was not performed, and the bright silver plating treatment was performed.
  • the bright silver plating treatment is performed by using an antimony-containing plating bath (AgCN: 55 g/L, NaCN: 120 g/L, Na 2 CO 3 : 15 g/L, Nisshinbright N (manufactured by Nikkei Co., Ltd.): 40 ml/L). With a bath temperature of 25° C. and a current density of 1 A/dm 2 using a pure silver plate as an anode to form a silver alloy layer (AgSb layer) to obtain a sample.
  • AgSb layer silver alloy layer
  • Comparative Example 5 the samples were obtained by performing the silver plating treatment without performing the silver-nickel alloy plating treatment after performing the nickel plating treatment and the silver strike plating treatment on the surface of the base material in the same manner as in Examples 1 to 5. ..
  • the silver plating treatment was carried out using a plating bath containing 40 g/L of silver cyanide, 120 g/L of potassium cyanide, 15 g/L of potassium carbonate and 4 ml/L of an additive AgO-56 (manufactured by Atotech Japan) at a bath temperature of 25° C. and an electric current.
  • a pure silver plate was used as an anode to form a silver layer having a film thickness of 3 ⁇ m. That is, in the sample of Comparative Example 5, the outermost surface was formed by the silver layer.
  • the nickel content of the silver-nickel alloy layer was set to an accelerating voltage of 10 kV and a beam diameter of 30 ⁇ m by using an electron beam microanalyzer made by JEOL Ltd.: EPMA (model number JXA-8530F), and three arbitrary points on the surface of each sample. was measured and the average was calculated.
  • Hardness reduction amount The amount of decrease in hardness was calculated by subtracting the value of Vickers hardness after heating at 150° C. from the value of Vickers hardness before heating obtained by the measurement of Vickers hardness.
  • the thickness of the silver-nickel alloy layer formed on the outermost surface of the substrate was 0.5 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less, and the silver-nickel alloy layer contained nickel.
  • the amount was 0.05 at% or more and 2 at% or less. Therefore, the Vickers hardness before heating was 215 HV or more, the decrease amount after heating was as small as 16 HV or less, and the Vickers hardness after heating was 208 HV or more. Therefore, the wear resistance is high in Examples 1 to 5. Was shown.
  • Example 1 to 5 it was shown that the contact resistance value was as small as 1.9 m ⁇ or less at the maximum both before and after heating, and the heat resistance was high. Furthermore, in Examples 1 to 5, the result of the heat-resistant peeling test was "A", and the silver-nickel alloy layer was not peeled from the nickel layer.
  • FIG. 2 is a SIM image of the sample of Example 3 before heating, and it can be seen that the silver-nickel alloy layer is formed on the nickel layer on the base material (copper alloy layer).
  • Comparative Example 1 since the film thickness of the silver-nickel alloy layer was as small as 0.2 ⁇ m, the contact resistance value after heating was 2.5 m ⁇ , indicating low heat resistance. In Comparative Example 2, since the nickel content of the silver-nickel alloy layer was as high as 2.5 at %, the contact resistance value after heating was 3.4 m ⁇ , indicating that the heat resistance was low.
  • Example 6 to 8 Each sample of Examples 6 to 8 and Comparative Examples 6 to 8 was manufactured by the following method.
  • a base material made of a copper alloy plate and having a thickness of 0.3 mm was prepared, and the base material was cleaned (pretreatment step) by degreasing, pickling, etc.
  • a part of the surface of the material was subjected to silver strike plating treatment (silver strike plating step) to form a silver strike plating layer.
  • the plating time is adjusted so that the film thickness of the silver-nickel alloy layer in Table 3 is obtained, and the silver-nickel alloy plating process is performed (silver-nickel alloy layer forming step).
  • the silver-nickel alloy layer was formed directly on the base material.
  • the compositions of the silver strike plating bath and the silver nickel alloy plating bath were the same as those used in the first experiment.
  • Comparative Example 6 the surface of the base material was subjected to a silver strike plating treatment (Silver strike plating step) in the same manner as in Examples 6 to 8 described above, and then plated so as to have the film thickness of the silver-nickel alloy layer in Table 3. By adjusting the time, silver-nickel alloy plating treatment was performed (silver-nickel alloy layer forming step) to form a silver-nickel alloy layer.
  • the silver strike plating treatment was performed on the surface of the base material in the same manner as in Examples 6 to 8 and Comparative Example 6, and then the silver-nickel alloy plating treatment was not performed, and the bright silver plating treatment was performed.
  • An alloy layer (AgSb layer) was formed to obtain a sample of Comparative Example 6.
  • a plating bath containing antimony (AgCN: 55 g/L, NaCN: 120 g/L, Na 2 CO 3 : 15 g/L, Nisshinbright N (manufactured by Nikoseikai Co., Ltd.): 40 ml/L ), the bath temperature was 25° C., the current density was 1 A/dm 2, and a pure silver plate was used as the anode.
  • Comparative Example 8 the surface of the substrate was subjected to a silver strike plating treatment as in Examples 6 to 8 and Comparative Examples 6 and 7, and then the silver-nickel alloy plating treatment was not applied, but the silver plating treatment was applied to obtain a film thickness. A 3 ⁇ m silver layer was formed.
  • the silver plating treatment was carried out using a plating bath containing 40 g/L of silver cyanide, 120 g/L of potassium cyanide, 15 g/L of potassium carbonate and 4 ml/L of an additive AgO-56 (manufactured by Atotech Japan) at a bath temperature of 25° C. and an electric current.
  • the thickness of the silver-nickel alloy layer formed on the outermost surface of the substrate was 3 to 5 ⁇ m, and the nickel content of the silver-nickel alloy layer was 0. Since it was 0.5 to 1.6 at %, the Vickers hardness before heating was 222 HV or more, and the decrease in hardness after heating was 16 HV or less, and the Vickers hardness after heating was 218 HV or more. It was shown that the property is high.
  • the contact resistance value was larger than that in the case where the nickel layer was provided between the base material and the silver-nickel alloy layer in both cases before and after heating, but the maximum was 1.8 m ⁇ . It was shown to be small as follows and high in heat resistance. Further, in Examples 6 to 8, since the silver-nickel alloy layer was formed directly on the base material, peeling did not occur, and the result of the heat-resistant peeling test was "A".
  • Comparative Example 6 since the thickness of the silver-nickel alloy layer was as small as 0.3 ⁇ m, the contact resistance value after heating was 4.5 m ⁇ , indicating that the heat resistance was low.
  • Comparative Example 7 since the outermost layer is composed of the silver alloy layer (AgSb) containing antimony, the Vickers hardness before heating is as high as 193 HV, but the hardness decrease amount after heating is as large as 54 HV, and The subsequent contact resistance also exceeded 20 m ⁇ , indicating that the wear resistance and heat resistance were low.
  • Comparative Example 8 since the outermost layer was composed of the silver layer, the Vickers hardness before and after heating was 110 HV or less, and the hardness reduction amount was as large as 36 HV, indicating that the wear resistance was low. In each of Comparative Examples 6 to 8, each of the silver alloy layer and the silver layer was directly formed on the substrate, so that the results of the heat-resistant peeling test were all “A”.
  • Example 9 and 10 in which the nickel layer had a small film thickness, the contact resistance value after heating was higher than that in Example 3 having the same silver-nickel alloy layer film thickness and nickel content. However, sufficient hardness was obtained before and after heating.

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)

Abstract

耐摩耗性及び耐熱性を向上できるコネクタ用端子材及びコネクタ用端子の製造方法を提供すること。 本発明のコネクタ用端子材は、少なくとも表層が銅又は銅合金からなる基材と、該基材の表面の少なくとも一部を被覆する膜厚0.5μm以上50μm以下の銀ニッケル合金層と、を備え、銀ニッケル合金層のニッケル含有量が0.05at%以上2.0at%以下である。また、基材と銀ニッケル合金層との間には、ニッケル又はニッケル合金からなるニッケル層が設けられ、該ニッケル層の膜厚は0.5μm以上5μm以下であるとよい。

Description

コネクタ用端子材及びコネクタ用端子
 本発明は、微摺動が発生する自動車や民生機器等において電気配線の接続に使用される、有用な皮膜が設けられたコネクタ用端子材及びコネクタ用端子に関する。本願は、2019年1月24日に出願された特願2019-010102号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
 従来、自動車等の電気配線の接続に用いられる車載用コネクタが知られている。この車載用コネクタ(車載用端子)に用いられる端子対は、メス端子に設けられた接触片が、メス端子内に挿入されたオス端子に所定の接触圧を有して接触することで、電気的に接続されるように設計されている。
 このようなコネクタ(端子)として、一般的に銅または銅合金板上に錫めっき処理を施し、リフロー処理を行った錫めっき付き端子が多く用いられていた。しかし、近年、自動車の高電流・高電圧化に伴い、より電流を多く流すことができる耐熱・耐摩耗性に優れた貴金属めっきを施した端子の用途が増加している。
 このような耐熱性及び耐摩耗性が求められる車載用端子として、例えば、特許文献1に記載のコネクタ用銀めっき端子が知られている。このコネクタ用銀めっき端子においては、銅又は銅合金からなる母材の表面が銀めっき層により被覆されている。この銀めっき層は、下層側(母材側)に位置する第1の銀めっき層と、第1の銀めっき層の上層側に位置する第2の銀めっき層を有し、第1の銀めっき層の結晶粒径が第2の銀めっき層の結晶粒径よりも大きく形成されている。
 すなわち、特許文献1の構成では、第1の銀めっき層の結晶粒径を第2の銀めっき層の結晶粒径よりも大きく形成することで、母材からCu成分が第2の銀めっき層に拡散するのを抑制している。
 特許文献2には、銅又は銅合金の母材の表面の少なくとも一部に、アンチモン濃度が0.1質量%以下の銀又は銀合金からなる中間層が形成され、この中間層の上にビッカース硬度HV140以上の銀合金層(最表層)が形成された部材が開示されている。母材と中間層との間にはニッケル又はニッケル合金の下地層が形成されている。
 すなわち、特許文献2の構成では、アンチモンを銀又は銀合金の中間層に添加することで硬度を上昇させて、銅又は銅合金の母材の耐摩耗性を向上させている。
特開2008-169408号公報 特開2009-79250号公報
 しかしながら、特許文献1の構成では、母材の表面を被覆する銀めっき層は、加熱によって銀の結晶径が大きくなって硬度が低下するので、高温環境下での耐摩耗性が低下する。この耐摩耗性の低下を補うため、銀めっき層の膜厚を厚くすることが考えられるが、コスト面での問題がある。
 一方、特許文献2の構成では、中間層に含まれるアンチモンが加熱によって最表層の表面に濃化した後、酸化して接触抵抗が増大する。また、ニッケルまたはニッケル合金からなる下地層を用いていた場合、加熱によって下地層(ニッケルまたはニッケル合金)と中間層(銀または銀合金)との間にニッケル酸化物が生成され、このニッケル酸化物が原因となり中間層が剥離する問題がある。
 本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、耐摩耗性及び耐熱性を向上できるコネクタ用端子材及びコネクタ用端子を提供することを目的とする。
 本発明のコネクタ用端子材は、少なくとも表層が銅又は銅合金からなる基材と、該基材の表面の少なくとも一部を被覆する膜厚0.5μm以上50μm以下、ニッケル含有量0.05at%以上2.0at%以下の銀ニッケル合金層と、を備える。
 本発明では、基材の最表面に形成された銀ニッケル合金層がニッケルを含んでいるので、基材の最表面の硬度を高め、耐摩耗性を向上できる。銀とニッケルとの間には金属間化合物が生成されないので、銀ニッケル合金層の硬度が高くなりすぎることを抑制できる。また、ニッケルはアンチモンに比べて融点が高いので、耐熱性を向上でき、加熱によって硬度が低下することを抑制できる。
 銀とニッケルとの原子半径差は、銀とアンチモンとの原子半径差に比べて大きいため、銀ニッケル合金層内におけるニッケル含有量を0.05at%以上2.0at%以下として、銀とニッケルとを僅かに共析させるだけで硬度を確実に上昇させることができる。
 銀ニッケル合金層のニッケル含有量が、0.05at%未満であると、耐熱性及び耐摩耗性が低下し、2.0at%を超えると銀ニッケル合金層が硬くなりすぎて、プレス加工等により割れが生じる。また、接触抵抗も高くなる。
 このコネクタ用端子材をコネクタ用端子として用いる場合、該端子の接点部分の表面が銀ニッケル合金層であることにより、凝着摩耗の発生を抑制でき、耐摩耗性を向上できる。
 銀ニッケル合金層の膜厚が0.5μm未満であると、耐熱性及び耐摩耗性を向上できず、50μmを超えると、銀ニッケル合金層が厚すぎてプレス加工等により割れが生じる。
 本発明のコネクタ用端子材の好ましい態様としては、前記基材と前記銀ニッケル合金層との間には、ニッケル又はニッケル合金からなるニッケル層が設けられ、該ニッケル層の膜厚は0.5μm以上5μm以下であるとよい。
 上記態様では、銀ニッケル合金層がニッケル層上に形成されているので、銀ニッケル合金層が基材から剥離することを抑制できる。なお、ニッケル層の膜厚が0.5μm未満であると、高温環境下では銅又は銅合金からなる基材からCu成分が銀ニッケル合金層内に拡散して銀ニッケル合金層の抵抗値が大きくなり、耐熱性が低下する可能性がある。一方、ニッケル層の膜厚が5μmを超えると、プレス加工時等に割れが発生する可能性がある。
 本発明のコネクタ用端子は、上記コネクタ用端子材からなるコネクタ用端子であって、接点部分の表面に前記銀ニッケル合金層が位置している。
 本発明によれば、コネクタ用端子材及びコネクタ用端子の耐摩耗性及び耐熱性を向上できる。
本発明の実施形態に係るコネクタ用端子材を模式的に示す断面図である。 実施例における加熱前のコネクタ用端子材の断面のSIM(Scanning Ion Microscope)像である。
 以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。
[コネクタ用端子材の構成]
 本実施形態のコネクタ用端子材1は、図1に断面を模式的に示したように、少なくとも表層が銅又は銅合金からなる板状の基材2と、基材2の上面全域を被覆するニッケル又はニッケル合金からなるニッケル層3と、ニッケル層3の上面全域を被覆する銀ニッケル合金層4と、を備えている。基材2は、表層が銅または銅合金からなるものであれば、特に、その組成が限定されるものではない。
 本実施形態では、図1に示すように、基材2は銅又は銅合金からなる板材により構成されているが、母材の表面に銅めっき処理又は銅合金めっき処理が施されためっき材により構成されてもよい。この場合、母材としては、無酸素銅(C10200)やCu-Mg系銅合金(C18665)等の金属を適用できる。
 ニッケル層3は、基材2上にニッケル又はニッケル合金めっきを施すことにより形成される。ニッケル層3は、基材2のCu成分がニッケル層3上を被覆する銀ニッケル合金層4へ拡散するのを抑制する機能を有する。ニッケル層3の厚さ(膜厚)は、0.5μm以上5μm以下であることが好ましく、より好ましくは0.5μm以上2μm以下であるとよい。
 ニッケル層3の厚さが0.5μm未満であると、高温環境下では銅又は銅合金からなる基材2からCu成分が銀ニッケル合金層4内に拡散して、銀ニッケル合金層4の接触抵抗値が大きくなり、耐熱性が低下する可能性がある。一方、ニッケル層3の厚さが5μmを超えると、曲げ加工時に割れが発生する可能性がある。ニッケル層3は、ニッケル又はニッケル合金からなるものであれば、特に、その組成が限定されるものではない。
 銀ニッケル合金層4は、ニッケル層3上に銀ストライクめっき処理が施された後、その上面に銀ニッケル合金めっき処理を施すことにより形成される。銀ニッケル合金層4は、ニッケル層3上でコネクタ用端子材1の最表面に形成される。銀ニッケル合金層4は、銀とニッケルとの合金により構成されている。銀とニッケルとの間には金属間化合物が生成されないので、コネクタ用端子材1の最表面の硬度が高くなりすぎることを抑制している。
 銀ニッケル合金層4のニッケル含有量は、0.05at%以上2.0at%以下であり、より好ましくは0.1at%以上1.0at%以下であるとよい。銀ニッケル合金層4は、ニッケル含有量が0.05at%未満であると銀ニッケル合金層4の硬さが低下するため、耐摩耗性が低下し、ニッケル含有量が2.0at%を超えると銀ニッケル合金層4が硬くなりすぎて、プレス加工等により割れが生じる。
 ニッケルは銀よりも電気伝導率が悪いので、銀ニッケル合金層4はニッケル含有量が2.0at%を超えると接触抵抗が高くなる。上記範囲のニッケルを含むことにより、銀ニッケル合金層4の硬度を高め、耐摩耗性を向上させる。具体的には、銀ニッケル合金層4のビッカース硬さは150HV~250HVの範囲内となる。
 銀ニッケル合金層4の膜厚は、0.5μm以上50μm以下に設定され、より好ましくは、1μm以上10μm以下であるとよい。銀ニッケル合金層4は、膜厚が0.5μm未満であると耐熱性及び耐摩耗性を向上できず、膜厚が50μmを超えると銀ニッケル合金層4が厚すぎて、プレス加工等により割れが生じる。
 次に、このコネクタ用端子材1の製造方法について説明する。コネクタ用端子材1の製造方法は、基材2となる少なくとも表層が銅又は銅合金からなる板材を洗浄する前処理工程と、ニッケル層3を基材2に形成するニッケル層形成工程と、ニッケル層3上に銀ストライクめっき処理を施して銀ストライクめっき層を形成する銀ストライクめっき工程と、銀ストライクめっき層の上に銀ニッケル合金めっき処理を施して銀ニッケル合金層を形成する銀ニッケル合金層形成工程と、を備える。
[前処理工程]
 まず、基材2として少なくとも表層が銅又は銅合金からなる板材を用意し、この板材に脱脂、酸洗等をすることによって表面を清浄する前処理を行う。
[ニッケル層形成工程]
 基材2の表面の少なくとも一部に対して、ニッケルめっき処理又はニッケル合金めっき処理を施して、ニッケル層3を基材2上に形成する。ニッケル層3は例えば、スルファミン酸ニッケル300g/L、塩化ニッケル30g/L、ホウ酸30g/Lからなるニッケルめっき浴を用いて、浴温45℃、電流密度3A/dmの条件下でニッケルめっき処理を施して形成される。
 ニッケル層3を形成するニッケルめっき処理は、緻密なニッケル主体の膜が得られるものであれば特に限定されず、公知のワット浴を用いて電気めっきにより形成してもよい。基材2の表面に直接銀ニッケル合金層4を形成する場合には、ニッケル層形成工程は実行しない。
[銀ストライクめっき工程]
 ニッケル層3に対して5~10質量%の水酸化カリウム水溶液を用いて活性化処理を行った後、ニッケル層3上に銀ストライクめっき処理を施し、銀ストライクめっき層を形成する。この銀ストライクめっき処理は、ニッケル層3上に形成される銀ニッケル合金層4とニッケル層3との密着性を高めるために実行される。
 銀ストライクめっき処理を施すためのめっき浴の組成は、特に限定されないが、例えば、シアン化銀(AgCN)1g/L~5g/L、シアン化カリウム(KCN)80g/L~120g/Lからなる。この銀めっき浴に対してアノードとしてステンレス鋼(SUS316)を用いて、浴温25℃、電流密度1A/dmの条件下で銀めっき処理を30秒程度施すことにより銀ストライクめっき層が形成される。
[銀ニッケル合金層形成工程]
 銀ストライクめっき層上に銀ニッケル合金めっき処理を施して、銀ニッケル合金層4を形成する。銀ニッケル合金層4を形成するためのめっき浴の組成は、例えば、シアン化銀(AgCN)30g/L~50g/L、シアン化カリウム(KCN)100g/L~150g/L、炭酸カリウム(KCO)15g/L~40g/L、テトラシアノニッケル(II)酸カリウム一水和物(K[Ni(CN)]・HO)80g/L~150g/L、銀めっき層を平滑に析出させるための添加剤からなる。この添加剤は、アンチモンを含まないものであればよく、一般的な添加剤で構わない。
 この銀めっき浴に対してアノードとして純銀板を用いて、浴温25℃、電流密度4A/dm~10A/dmの条件下で銀ニッケル合金めっき処理を0.1分~23分程度施すことにより、膜厚0.5μm以上50μm以下の銀ニッケル合金層4が形成される。
 電流密度が4A/dm未満であるとニッケルの共析が妨げられ、電流密度が15A/dmを超えると銀ニッケル合金層4の外観が損なわれる。銀ニッケル合金層4を形成するためのめっき浴は、シアン浴であり、かつ添加剤にアンチモンが含まれていなければよく、その組成は特に限定されない。
 このようにして基材2の表面にニッケル層3及び銀ニッケル合金層4が形成されたコネクタ用端子材1が形成される。そして、コネクタ用端子材1に対してプレス加工等を施すことにより、接点部分に銀ニッケル合金層4が位置するコネクタ用端子が形成される。
 本実施形態のコネクタ用端子材1は、基材2の最表面に形成された銀ニッケル合金層4がニッケルを含んでいるので、基材2の最表面の硬度を高め、耐摩耗性を向上できる。銀とニッケルとの間には金属間化合物が生成されないので、基材2の最表面の硬度が高くなりすぎることを抑制できる。ニッケルはアンチモンに比べて融点が高いので、耐熱性を向上でき、硬度が低下することを抑制できる。
 銀とニッケルとの原子半径差は、銀とアンチモンとの原子半径差に比べて大きいため、銀ニッケル合金層4内におけるニッケル含有量を0.05at%以上2.0at%以下と、僅かに共析させるだけで硬度を確実に上昇させることができる。銀ニッケル合金層4がニッケル層3上に形成されているので、銀ニッケル合金層4が基材から剥離することを抑制できる。
 その他、細部構成は実施形態の構成のものに限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。例えば、上記実施形態では基材2と銀ニッケル合金層4との間にニッケル層3が設けられているが、これに限らず、ニッケル層3は含まれていなくてもよい。すなわち、基材2上に直接銀ニッケル合金層4が形成されてもよく、この場合、ニッケル層形成工程を行わなくてもよい。
 また、上記実施形態では基材2の上面全域にニッケル層3及び銀ニッケル合金層4が形成されているが、これに限らず、例えば、基材2の上面の一部にニッケル層3及び銀ニッケル合金層4が形成されていてもよいし、ニッケル層3の上面の一部に銀ニッケル合金層4が形成されていてもよい。
[第1実験例]
 実施例1~5及び比較例1~5の各試料を以下の方法により製造した。実施例1~5については、銅合金板からなる厚さ0.3mmの基材を用意し、この基材に脱脂、酸洗等をすることによって表面を清浄した(前処理工程)。その後、基材の表面の一部に対してニッケルめっき処理を施して(ニッケル層形成工程)、表1に示す厚さのニッケル層を基材に形成した。
 そして、5質量%の水酸化カリウム水溶液を用いてニッケル層の表面を清浄化する活性化処理を行った。この活性化処理後に、ニッケル層に被覆された基材に対して、銀ストライクめっき処理を施し(銀ストライクめっき工程)、銀ストライクめっき層を形成した。
 そして、表1に示す膜厚の銀ニッケル合金めっき層が得られるようにめっき時間を調整して、銀ストライクめっき層上に銀ニッケル合金めっき処理を施して銀ニッケル合金層を形成し(銀ニッケル合金層形成工程)、実施例1~5の各試料を得た。
 各めっきの条件は以下のとおりとした。
<ニッケルめっき処理条件>
・めっき浴組成
スルファミン酸ニッケル300g/L
塩化ニッケル30g/L
ホウ酸30g/L
・浴温45℃
・電流密度3A/dm
<銀ストライクめっき処理条件>
・めっき浴組成
シアン化銀2g/L
シアン化カリウム100g/L
・アノード
SUS316
・浴温25℃
・電流密度1A/dm
<銀ニッケル合金めっき処理条件>
・めっき浴組成
シアン化銀35g/L
シアン化カリウム120g/L
炭酸カリウム35g/L
テトラシアノニッケル(II)酸カリウム一水和物130g/L
添加剤5ml/L
・アノード
純銀板
・浴温25℃
 比較例1~3については、上記実施例1~5と同様の方法により、表1に示す膜厚のニッケル層及び銀ニッケル合金層を有する各試料を形成した。
 比較例4については、実施例1~5と同様に基材の表面にニッケルめっき処理及び銀ストライクめっき処理を実施後、銀ニッケル合金めっき処理は行わず、光沢銀めっき処理を実行した。光沢銀めっき処理は、アンチモンを含有するめっき浴(AgCN:55g/L,NaCN:120g/L,NaCO:15g/L,ニッシンブライトN(日進化成株式会社製):40ml/L)を用いて、浴温25℃、電流密度1A/dmとし、アノードとして純銀板を用いて行い、銀合金層(AgSb層)を形成して試料を得た。
 比較例5については、実施例1~5と同様に基材の表面にニッケルめっき処理及び銀ストライクめっき処理を実施後、銀ニッケル合金めっき処理は行わず、銀めっき処理を行って試料を得た。銀めっき処理は、シアン化銀40g/L、シアン化カリウム120g/L、炭酸カリウム15g/L、添加剤AgO-56(アトテックジャパン社製)4ml/Lのめっき浴を用いて、浴温25℃、電流密度1A/dmの条件下で、アノードとして純銀板を用いて行い、膜厚3μmの銀層を形成した。すなわち、比較例5の試料は、最表面が銀層により形成された。
 そして、これらの実施例1~5及び比較例1~5の各試料について、各種評価を行った。
[ニッケル層及び銀ニッケル合金層の膜厚(μm)の測定]
 ニッケル層及び銀ニッケル合金層の各膜厚は、セイコーインスツル株式会社製の集束イオンビーム装置:FIB(型番:SMI3050TB)を用いて断面加工を行い、傾斜角60°の断面SIM(Scanning Ion Microscopy)像における任意の3箇所の膜厚を測長し、その平均を求めた後、実際の長さに変換した。
[ニッケル含有量(at%)の測定]
 銀ニッケル合金層のニッケル含有量は、日本電子株式会社製の電子線マイクロアナライザー:EPMA(型番JXA-8530F)を用いて、加速電圧10kV、ビーム径φ30μmとし、各試料の表面の任意の3箇所を測定し、その平均を求めた。
[ビッカース硬さ(加熱前後)]
 各試料ついて150℃で240時間の加熱前後に、マイクロビッカース硬さ試験機HMマイナス200(株式会社ミツトヨ製)を用いて、荷重0.005Nの条件下で10回ずつビッカース硬さを測定し、その平均を求めた。
[硬さ低下量]
 硬さ低下量は、上記ビッカース硬さの測定によって得られた加熱前のビッカース硬さの値から150℃で加熱後のビッカース硬さの値を引くことにより算出した。
[接触抵抗(mΩ)]
 上記加熱前後の各試料から60mm×10mmの平板を切り出してオス端子の代用試験片を形成し、同じ平板に曲率半径1.0mmの凸加工を行ってメス端子の代用試験片を形成した。ブルカー・エイエックスエス株式会社の摩擦摩耗試験機(UMT-Tribolab)を用い、水平に設置したオス端子試験片にメス端子試験片の凸面を接触させ、オス端子試験片を荷重負荷速度1/15N/secで、0Nから2Nまで荷重をかけた時の接触抵抗値を測定した。
[耐熱剥離]
 耐熱剥離試験は、大気加熱炉にて175℃で1000時間加熱後、JIS(日本工業規格)K5600-5-6に記載のクロスカット法にて試験を行い、皮膜が剥がれなかったものを「A」、1マスでも剥がれたものを「B」とした。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
 表1及び表2に示すように、実施例1~5では、基材の最表面に形成された銀ニッケル合金層の膜厚が0.5μm以上50μm以下であり、銀ニッケル合金層のニッケル含有量が0.05at%以上2at%以下であった。このため、加熱前のビッカース硬さが215HV以上であり、加熱後の低下量も16HV以下と小さく、加熱後のビッカース硬さが208HV以上であったため、実施例1~5では耐摩耗性が高いことが示された。
 実施例1~5では、接触抵抗値が加熱前後のいずれの場合においても最大で1.9mΩ以下と小さく、耐熱性が高いことが示された。さらに、実施例1~5では、耐熱剥離試験の結果が「A」であり、ニッケル層から銀ニッケル合金層が剥離することがなかった。
 図2は、加熱前の実施例3の試料のSIM像であって、基材(銅合金層)上のニッケル層上に銀ニッケル合金層が形成されていることがわかる。
 比較例1では、銀ニッケル合金層の膜厚が0.2μmと小さいため、加熱後の接触抵抗値が2.5mΩとなり、耐熱性が低いことが示された。比較例2では、銀ニッケル合金層のニッケル含有量が2.5at%と高かったため、加熱後の接触抵抗値が3.4mΩとなり、耐熱性が低いことが示された。
 比較例3では、銀ニッケル合金層のニッケル含有量が0.01at%と低かったため、加熱前のビッカース硬さが112HVと低く、加熱後の硬さ低下量も22HVと大きくなり、かつ、耐熱剥離試験の評価も「B」であり、耐摩耗性及び耐剥離性が低いことが示された。
 比較例4では、アンチモンが添加されためっき浴を用いた光沢銀めっき処理を行ったことにより、最表層がアンチモンを含有する銀合金層(AgSb)により構成されているため、加熱前のビッカース硬さが195HVと高いものの、加熱後の硬さ低下量が54HVと大きく、加熱後の接触抵抗も20mΩを超えており、耐熱剥離試験の結果も「B」となり、耐摩耗性、耐熱性及び耐剥離性が低いことが示された。
 最後に銀めっき処理を施した比較例5では、最表層が銀層により構成されているため、加熱前後のビッカース硬さがいずれも109HV以下であり、硬さ低下量も34HVと大きく、耐熱剥離試験の結果も「B」であり、耐摩耗性及び耐剥離性が低いことが示された。
[第2実験例]
 実施例6~8及び比較例6~8の各試料を以下の方法により製造した。実施例6~8については、銅合金板からなる厚さ0.3mmの基材を用意し、この基材に脱脂、酸洗等をすることによって表面を清浄(前処理工程)した後、基材の表面の一部に対して、銀ストライクめっき処理を施し(銀ストライクめっき工程)、銀ストライクめっき層を形成した。
 そして、銀ストライクめっき層上に、表3の銀ニッケル合金層の膜厚となるようにめっき時間を調整して、銀ニッケル合金めっき処理を施し(銀ニッケル合金層形成工程)、銀ニッケル合金層を形成して、実施例6~8の試料とした。すなわち、実施例6~8の試料では、基材上に直接銀ニッケル合金層を形成した。なお、銀ストライクめっき浴及び銀ニッケル合金めっき浴の組成等については、上記第1実験と同様のものを用いた。
 比較例6については、上記実施例6~8と同様に基材の表面に銀ストライクめっき処理を実施した後(銀ストライクめっき工程)、表3の銀ニッケル合金層の膜厚となるようにめっき時間を調整して、銀ニッケル合金めっき処理を施し(銀ニッケル合金層形成工程)、銀ニッケル合金層を形成した。
 比較例7については、実施例6~8および比較例6と同様に基材の表面に銀ストライクめっき処理を実施した後、銀ニッケル合金めっき処理は施さず、光沢銀めっき処理を実行し、銀合金層(AgSb層)を形成して、比較例6の試料を得た。光沢銀めっき処理には、アンチモンを含有するめっき浴(AgCN:55g/L,NaCN:120g/L,NaCO:15g/L,ニッシンブライトN(日進化成株式会社製):40ml/L)を用いて、浴温25℃、電流密度1A/dmとし、アノードとして純銀板を用いた。
 比較例8については、実施例6~8および比較例6,7と同様に基材の表面に銀ストライクめっき処理を実施後、銀ニッケル合金めっき処理は施さず、銀めっき処理を施し、膜厚3μmの銀層を形成した。銀めっき処理は、シアン化銀40g/L、シアン化カリウム120g/L、炭酸カリウム15g/L、添加剤AgO-56(アトテックジャパン社製)4ml/Lのめっき浴を用いて、浴温25℃、電流密度1A/dmの条件下で、アノードとして純銀板を用いて行、った。すなわち、比較例8の試料は、最表面が銀層により形成されたものとした。そして、これらの実施例6~8及び比較例6~8について、各種評価を行った。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000003
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000004
 表3及び表4に示すように、実施例6~8では、基材の最表面に形成された銀ニッケル合金層の膜厚が3~5μmであり、銀ニッケル合金層のニッケル含有量が0.5~1.6at%であったため、加熱前のビッカース硬さが222HV以上であり、加熱後の硬さ低下量も16HV以下と小さく加熱後のビッカース硬さが218HV以上であったため、耐摩耗性が高いことが示された。
 実施例6~8では、加熱前後のいずれの場合においても、基材と銀ニッケル合金層との間にニッケル層が設けられている場合に比べて接触抵抗値が大きいものの、最大で1.8mΩ以下と小さく、耐熱性が高いことが示された。さらに、実施例6~8では、銀ニッケル合金層が基材に直接形成されているため剥離することがなく、耐熱剥離試験の結果も「A」であった。
 一方、比較例6では、銀ニッケル合金層の膜厚が0.3μmと小さいため、加熱後の接触抵抗値が4.5mΩとなり、耐熱性が低いことが示された。比較例7では、最表層がアンチモンを含有する銀合金層(AgSb)により構成されているため、加熱前のビッカース硬さが193HVと高いものの、加熱後の硬さ低下量が54HVと大きく、加熱後の接触抵抗も20mΩを超えており、耐摩耗性及び耐熱性が低いことが示された。
 比較例8では、最表層が銀層により構成されているため、加熱前後のビッカース硬さがいずれも110HV以下であり、硬さ低下量も36HVと大きく耐摩耗性が低いことが示された。なお、比較例6~8においても、銀合金層及び銀層のそれぞれが基材に直接形成されているので、耐熱剥離試験の結果はいずれも「A」であった。
[第3実験例]
 実施例9,10の各試料は、実施例1~5と同様の方法により作成したが、実施例1~5よりもニッケル層の膜厚を小さくした。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000005
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000006
 表5及び表6に示すように、ニッケル層の膜厚が小さい実施例9,10では、同じ銀ニッケル合金層の膜厚及びニッケル含有量を有する実施例3と比較すると加熱後の接触抵抗値が大きいものの、加熱前後において十分な硬度が得られた。
 コネクタ用端子材及びコネクタ用端子の耐摩耗性及び耐熱性を向上できる。
1 コネクタ用端子材
2 基材
3 ニッケル層
4 銀ニッケル合金層

Claims (3)

  1.  少なくとも表層が銅又は銅合金からなる基材と、
     前記基材の表面の少なくとも一部を被覆する、膜厚0.5μm以上50μm以下、ニッケル含有量が0.05at%以上2.0at%以下の銀ニッケル合金層と、を備えることを特徴とするコネクタ用端子材。
  2.  前記基材と前記銀ニッケル合金層との間に設けられ、ニッケル又はニッケル合金からなり、膜厚が0.5μm以上5.0μm以下であるニッケル層をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載のコネクタ用端子材。
  3.  請求項1又は2に記載のコネクタ用端子材からなるコネクタ用端子であって、接点部分の表面に前記銀ニッケル合金層が位置していることを特徴とするコネクタ用端子。
PCT/JP2020/002088 2019-01-24 2020-01-22 コネクタ用端子材及びコネクタ用端子 WO2020153396A1 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020217011575A KR20210116422A (ko) 2019-01-24 2020-01-22 커넥터용 단자재 및 커넥터용 단자
EP20745808.4A EP3916133A4 (en) 2019-01-24 2020-01-22 CONNECTOR TERMINAL AND CONNECTOR TERMINAL MATERIAL
CN202080006529.8A CN113166965A (zh) 2019-01-24 2020-01-22 连接器用端子材及连接器用端子
JP2020518564A JP6743998B1 (ja) 2019-01-24 2020-01-22 コネクタ用端子材及びコネクタ用端子
US17/422,478 US20220069498A1 (en) 2019-01-24 2020-01-24 Connector terminal material and terminal for connector

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019010102 2019-01-24
JP2019-010102 2019-01-24

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2020153396A1 true WO2020153396A1 (ja) 2020-07-30

Family

ID=71736161

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2020/002088 WO2020153396A1 (ja) 2019-01-24 2020-01-22 コネクタ用端子材及びコネクタ用端子

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20220069498A1 (ja)
EP (1) EP3916133A4 (ja)
JP (1) JP6743998B1 (ja)
KR (1) KR20210116422A (ja)
CN (1) CN113166965A (ja)
WO (1) WO2020153396A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP4012075A4 (en) * 2019-08-09 2023-08-16 Mitsubishi Materials Corporation TERMINAL MATERIAL FOR CONNECTORS

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001003194A (ja) * 1999-06-21 2001-01-09 Nippon Mining & Metals Co Ltd 耐熱,耐食性銀めっき材
JP2008169408A (ja) 2007-01-09 2008-07-24 Auto Network Gijutsu Kenkyusho:Kk コネクタ用銀めっき端子
JP2009079250A (ja) * 2007-09-26 2009-04-16 Dowa Metaltech Kk 最表層として銀合金層が形成された銅または銅合金部材およびその製造方法
JP2013189680A (ja) * 2012-03-14 2013-09-26 Dowa Metaltech Kk 銀めっき材
WO2016157713A1 (ja) * 2015-03-27 2016-10-06 オリエンタル鍍金株式会社 銀めっき材及びその製造方法
JP2018199839A (ja) * 2017-05-25 2018-12-20 トヨタ自動車株式会社 銀めっき液、銀めっき材料及び電気・電子部品、並びに銀めっき材料の製造方法。
JP2019010102A (ja) 2016-04-14 2019-01-24 株式会社新菱 ガス含有基材

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1993006993A1 (en) * 1991-09-30 1993-04-15 Olin Corporation Silver alloys for electrical connector coatings
DE10138204B4 (de) * 2001-08-03 2004-04-22 Ami Doduco Gmbh Elektrischer Kontakt
JP4834022B2 (ja) * 2007-03-27 2011-12-07 古河電気工業株式会社 可動接点部品用銀被覆材およびその製造方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001003194A (ja) * 1999-06-21 2001-01-09 Nippon Mining & Metals Co Ltd 耐熱,耐食性銀めっき材
JP2008169408A (ja) 2007-01-09 2008-07-24 Auto Network Gijutsu Kenkyusho:Kk コネクタ用銀めっき端子
JP2009079250A (ja) * 2007-09-26 2009-04-16 Dowa Metaltech Kk 最表層として銀合金層が形成された銅または銅合金部材およびその製造方法
JP2013189680A (ja) * 2012-03-14 2013-09-26 Dowa Metaltech Kk 銀めっき材
WO2016157713A1 (ja) * 2015-03-27 2016-10-06 オリエンタル鍍金株式会社 銀めっき材及びその製造方法
JP2019010102A (ja) 2016-04-14 2019-01-24 株式会社新菱 ガス含有基材
JP2018199839A (ja) * 2017-05-25 2018-12-20 トヨタ自動車株式会社 銀めっき液、銀めっき材料及び電気・電子部品、並びに銀めっき材料の製造方法。

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP3916133A4

Also Published As

Publication number Publication date
KR20210116422A (ko) 2021-09-27
CN113166965A (zh) 2021-07-23
US20220069498A1 (en) 2022-03-03
EP3916133A1 (en) 2021-12-01
JP6743998B1 (ja) 2020-08-19
EP3916133A4 (en) 2022-10-05
JPWO2020153396A1 (ja) 2021-02-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4834022B2 (ja) 可動接点部品用銀被覆材およびその製造方法
JP4834023B2 (ja) 可動接点部品用銀被覆材およびその製造方法
JP4402132B2 (ja) リフローSnめっき材及びそれを用いた電子部品
JP2003293187A (ja) めっきを施した銅または銅合金およびその製造方法
JP2008223143A (ja) めっき材料とその製造方法、それを用いた電気・電子部品
JP2003171790A (ja) めっき材料とその製造方法、それを用いた電気・電子部品
WO2007126010A1 (ja) ウィスカーが抑制されたCu-Zn合金耐熱Snめっき条
WO2020153396A1 (ja) コネクタ用端子材及びコネクタ用端子
CN113166964A (zh) 防腐蚀端子材及端子和电线末端部结构
WO2021166581A1 (ja) コネクタ用端子材
JP7313600B2 (ja) コネクタ用端子材及びコネクタ用端子
JP7302364B2 (ja) コネクタ用端子材及びコネクタ用端子
JP7302248B2 (ja) コネクタ用端子材及びコネクタ用端子
JP7059877B2 (ja) コネクタ用端子材及びコネクタ用端子
JP2020117770A (ja) コネクタ用端子材及びコネクタ用端子
US11901659B2 (en) Terminal material for connectors
JP5442385B2 (ja) 導電部材及びその製造方法
WO2022018896A1 (ja) コネクタ用端子材
JP2005105419A (ja) めっき材料とその製造方法、それを用いた電気・電子部品
JP4570948B2 (ja) ウィスカー発生を抑制したCu−Zn系合金のSnめっき条及びその製造方法
WO2021029254A1 (ja) コネクタ用端子材
JP2020128575A (ja) コネクタ用端子材、コネクタ用端子及びコネクタ用端子材の製造方法
JP2020117769A (ja) コネクタ用端子材及びコネクタ用端子
JP2021063250A (ja) コネクタ用端子材及びその製造方法
JP2022022071A (ja) コネクタ用端子材

Legal Events

Date Code Title Description
ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2020518564

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 20745808

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2020745808

Country of ref document: EP

Effective date: 20210824