WO2019171581A1 - 表示装置 - Google Patents

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WO2019171581A1
WO2019171581A1 PCT/JP2018/009235 JP2018009235W WO2019171581A1 WO 2019171581 A1 WO2019171581 A1 WO 2019171581A1 JP 2018009235 W JP2018009235 W JP 2018009235W WO 2019171581 A1 WO2019171581 A1 WO 2019171581A1
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wiring
display device
film
layer
insulating film
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PCT/JP2018/009235
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French (fr)
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貴翁 斉藤
誠二 金子
庸輔 神崎
昌彦 三輪
雅貴 山中
屹 孫
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シャープ株式会社
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Publication date
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Priority to US16/979,453 priority patent/US11659746B2/en
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    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
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    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
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    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09FDISPLAYING; ADVERTISING; SIGNS; LABELS OR NAME-PLATES; SEALS
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    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
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    • H10K77/111Flexible substrates
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    • H10K2102/301Details of OLEDs
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    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/549Organic PV cells

Definitions

  • the present invention relates to a display device.
  • a self-luminous organic EL display device using an organic EL (electroluminescence) element has attracted attention as a display device that replaces a liquid crystal display device.
  • a flexible organic EL display device in which an organic EL element or the like is formed on a flexible resin substrate has been proposed.
  • the organic EL display device there is a demand for reducing the frame area by providing a rectangular display area for displaying an image and a frame area around the display area.
  • the wiring arranged in the frame area may be broken.
  • Patent Document 1 discloses a flexible display device that prevents a disconnection of wiring by removing a part of each of a buffer film, a gate insulating film, and an interlayer insulating film corresponding to a bending region by forming a bending hole. It is disclosed.
  • an inorganic insulating film such as a base coat film, a gate insulating film, and an interlayer insulating film is provided on a resin substrate, in order to suppress disconnection of wiring arranged in the frame region.
  • the inorganic insulating film in the bent portion of the frame region is removed to prevent the inorganic insulating film from being broken in the bent portion.
  • the first and second bent portions are provided.
  • the inorganic insulating film in the portion can be removed, and the breakage of the inorganic insulating film at the first and second bent portions can be suppressed.
  • the organic EL display device having such a configuration although disconnection of the first and second wirings provided in the first and second bent portions can be suppressed, for example, the first wiring and the second wiring There is room for improvement since the electrical connection with is not considered.
  • the present invention has been made in view of such points, and an object of the present invention is to electrically connect the first wiring provided in the first bent portion and the second wiring provided in the second bent portion. Easy to connect to.
  • a display device includes a resin substrate, a TFT layer provided on the resin substrate, a light emitting element provided on the TFT layer and constituting a display region, A frame region of at least three sides provided around the display region, a terminal unit provided at one end of the frame region of at least three sides, and extending in one direction between the display region and the terminal unit A first bent portion provided as described above, a second bent portion provided to extend in one direction on the other side of the frame region adjacent to one side of the frame region having the first bent portion, and At least one inorganic insulating film that is provided in the frame region of at least three sides and that constitutes the TFT layer laminated on the resin substrate, and a first planarization provided on the at least one inorganic insulating film Membrane and 1 of the frame area
  • a slit that penetrates and exposes the upper surface of the resin substrate is formed, and the first wiring and the second wiring extend to the upper surface of the resin substrate exposed from the slit, 1 flattening film is provided, and the first flattening film is provided in the slit so as to expose the upper surface of the resin substrate between the extended portions of the first wiring and the second wiring.
  • the first wiring and the second wiring are It is provided between the end surface of the first planarizing film and the upper surface of the resin substrate, and is electrically connected via a third wiring formed of the same material in the same layer as the first wiring and the second wiring. It is characterized by being.
  • the first wiring and the second wiring are provided between the end surface of the first planarization film and the upper surface of the resin substrate, and are formed of the same material in the same layer as the first wiring and the second wiring. Since it is electrically connected via the third wiring, the first wiring provided in the first bent portion and the second wiring provided in the second bent portion can be electrically connected easily. Can do.
  • FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of the organic EL display device according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a plan view of the display area of the organic EL display device according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view of the display region of the organic EL display device taken along line III-III in FIG.
  • FIG. 4 is an equivalent circuit diagram showing a TFT layer constituting the organic EL display device according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view showing an organic EL layer constituting the organic EL display device according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a plan view of the organic EL display device in which the region Y in FIG. 1 is enlarged.
  • FIG. 7 is a plan view of the organic EL display device before dividing the substrate, in which the region Y in FIG. 1 is enlarged.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view of the organic EL display device taken along line VIII-VIII in FIG.
  • FIG. 9 is a cross-sectional view of the organic EL display device taken along line IX-IX in FIG.
  • FIG. 10 is a cross-sectional view of the organic EL display device taken along line XX in FIG.
  • FIG. 11 is a cross-sectional view of the organic EL display device taken along line XI-XI in FIG.
  • FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of the organic EL display device 50 of the present embodiment.
  • FIG. 2 is a plan view of the display area D of the organic EL display device 50.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view of the display region D of the organic EL display device 50 taken along line III-III in FIG.
  • FIG. 4 is an equivalent circuit diagram showing the TFT layer 20 constituting the organic EL display device 50.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view showing the organic EL layer 23 constituting the organic EL display device 50.
  • FIG. 6 is a plan view of the organic EL display device 50 in which the region Y in FIG. 1 is enlarged.
  • FIG. 7 is a plan view of the organic EL display device 50 before dividing the substrate, in which the region Y in FIG. 1 is enlarged.
  • 8, 9, 10 and 11 are cross-sectional views of the organic EL display device 50 taken along lines VIII-VIII, IX-IX, XX and XI-XI in FIG. is there.
  • the organic EL display device 50 includes, for example, a display area D that displays an image provided in a rectangular shape, and a frame area F that has four sides provided around the display area D. Yes.
  • the configuration organic EL display device 50 in which the four frame regions F are provided around the rectangular display region D is illustrated.
  • the present invention provides at least the periphery of the polygonal display region. The present invention can be applied to an organic EL display device provided with a frame region F having three sides.
  • a plurality of sub-pixels P are arranged in a matrix.
  • the sub-pixel P having a red light-emitting area Lr for displaying red the sub-pixel P having a green light-emitting area Lg for displaying green
  • the sub-pixels P having the blue light emitting region Lb for performing the display are provided so as to be adjacent to each other.
  • one pixel is constituted by three adjacent sub-pixels P each having the red light emitting area Lr, the green light emitting area Lg, and the blue light emitting area Lb.
  • a terminal portion T is provided on the right side of the frame region F in FIG. Further, in the frame region F, the upper corner portion and the lower corner portion of the right side in FIG. 1 arranged with the terminal portion T interposed therebetween are cut out in an L shape in plan view. Further, on the right side in FIG. 1 of the frame region F, a bent portion B that is bent at 180 ° (in a U shape) between the display region D and the terminal portion T with the vertical direction in FIG. (First bent portion Ba, see FIG. 6) is provided so as to extend in the vertical direction in FIG. Further, the upper side and the lower side in FIG. 1 of the frame region F are bent portions B (second bent portions Bb, FIG. 6) which are bent at 180 ° (in a U shape) with the horizontal direction in FIG. Are provided so as to extend in the horizontal direction in FIG.
  • the organic EL display device 50 includes, in the display region D, a resin substrate layer 10 provided as a resin substrate, a TFT (thin film transistor) layer 20 provided on the resin substrate layer 10, And an organic EL element 30 provided as a light emitting element constituting the display region D on the TFT layer.
  • the resin substrate layer 10 is made of, for example, a polyimide resin.
  • the TFT layer 20 includes a base coat film 11 provided on the resin substrate layer 10, a plurality of first TFTs 9a, a plurality of second TFTs 9b, and a plurality of capacitors 9c provided on the base coat film 11.
  • Each first TFT 9a, each second TFT 9b, and a second planarization film 19 provided on each capacitor 9c are provided.
  • the frame region F is provided with a first planarization film 8 as will be described later.
  • a plurality of gate lines 14 are provided so as to extend in parallel in the horizontal direction in the drawings.
  • FIGS. 2 a plurality of gate lines 14 are provided so as to extend in parallel in the horizontal direction in the drawings.
  • a plurality of source lines 18 f are provided so as to extend in parallel to each other in the vertical direction in the drawing.
  • a plurality of power supply lines 18g are provided adjacent to each source line 18f so as to extend parallel to each other in the vertical direction in the drawing.
  • a first TFT 9a, a second TFT 9b, and a capacitor 9c are provided in each sub-pixel P.
  • the base coat film 11 is composed of, for example, a single layer film or a laminated film of an inorganic insulating film such as silicon nitride, silicon oxide, silicon oxynitride or the like.
  • the first TFT 9a is connected to the corresponding gate line 14 and source line 18f in each sub-pixel P.
  • the first TFT 9a includes a semiconductor layer 12a, a gate insulating film 13, a gate electrode 14a, a first interlayer insulating film 15, a second interlayer insulating film 17 and the like provided in order on the base coat film 11.
  • a source electrode 18a and a drain electrode 18b are provided.
  • the semiconductor layer 12a is provided in an island shape on the base coat film 11, and has a channel region, a source region, and a drain region.
  • the gate insulating film 13 is provided so as to cover the semiconductor layer 12a. As shown in FIG.
  • the gate electrode 14a is provided on the gate insulating film 13 so as to overlap the channel region of the semiconductor layer 12a. Further, as shown in FIG. 3, the first interlayer insulating film 15 and the second interlayer insulating film 17 are sequentially provided so as to cover the gate electrode 14a. Further, as shown in FIG. 3, the source electrode 18a and the drain electrode 18b are provided on the second interlayer insulating film 17 so as to be separated from each other. Further, as shown in FIG. 3, the source electrode 18a and the drain electrode 18b are connected to each other through contact holes formed in the laminated film of the gate insulating film 13, the first interlayer insulating film 15, and the second interlayer insulating film 17, respectively. The semiconductor layer 12a is connected to the source region and the drain region, respectively.
  • the gate insulating film 13, the first interlayer insulating film 15, and the second interlayer insulating film 17 are composed of a single layer film or a laminated film of an inorganic insulating film such as silicon nitride, silicon oxide, or silicon oxynitride, for example. .
  • the second TFT 9b is connected to the corresponding first TFT 9a and the power supply line 18g in each sub-pixel P.
  • the first TFT 9b includes a semiconductor layer 12b, a gate insulating film 13, a gate electrode 14b, a first interlayer insulating film 15, a second interlayer insulating film 17 and the like, which are sequentially provided on the base coat film 11.
  • a source electrode 18c and a drain electrode 18d are provided.
  • the semiconductor layer 12b is provided in an island shape on the base coat film 11, and has a channel region, a source region, and a drain region. Further, as shown in FIG.
  • the gate insulating film 13 is provided so as to cover the semiconductor layer 12b.
  • the gate electrode 14b is provided on the gate insulating film 13 so as to overlap the channel region of the semiconductor layer 12b.
  • the first interlayer insulating film 15 and the second interlayer insulating film 17 are sequentially provided so as to cover the gate electrode 14b.
  • the source electrode 18c and the drain electrode 18d are provided on the second interlayer insulating film 17 so as to be separated from each other, as shown in FIG. As shown in FIG.
  • the source electrode 18c and the drain electrode 18d are connected to each other through contact holes formed in the laminated film of the gate insulating film 13, the first interlayer insulating film 15, and the second interlayer insulating film 17, respectively.
  • the semiconductor layer 12b is connected to the source region and the drain region, respectively.
  • top gate type first TFT 9a and the second TFT 9b are illustrated, but the first TFT 9a and the second TFT 9b may be bottom gate type TFTs.
  • the capacitor 9c is connected to the corresponding first TFT 9a and the power supply line 18g in each sub-pixel P.
  • the capacitor 9c includes a lower conductive layer 14c formed in the same layer with the same material as the gate electrodes 14a and 14b, and a first interlayer insulation provided so as to cover the lower conductive layer 14c.
  • a film 15 and an upper conductive layer 16 provided on the first interlayer insulating film 15 so as to overlap the lower conductive layer 14c are provided.
  • the second planarization film 19 is made of, for example, an organic resin material such as polyimide resin.
  • the organic EL element 30 includes a plurality of first electrodes 21, an edge cover 22, a plurality of organic EL layers 23, a second electrode 24, and a sealing layer that are sequentially provided on the second planarization film 19.
  • a membrane 28 is provided.
  • the plurality of first electrodes 21 are provided as pixel electrodes in a matrix on the second planarization film 19 so as to correspond to the plurality of subpixels P. Further, as shown in FIG. 3, the first electrode 21 is connected to the drain electrode 18d of each second TFT 9b through a contact hole formed in the second planarizing film 19.
  • the first electrode 21 has a function of injecting holes into the organic EL layer 23.
  • the first electrode 21 is more preferably formed of a material having a high work function in order to improve the efficiency of hole injection into the organic EL layer 23.
  • examples of the material constituting the first electrode 21 include silver (Ag), aluminum (Al), vanadium (V), cobalt (Co), nickel (Ni), tungsten (W), and gold (Au). , Titanium (Ti), ruthenium (Ru), manganese (Mn), indium (In), ytterbium (Yb), lithium fluoride (LiF), platinum (Pt), palladium (Pd), molybdenum (Mo), iridium ( Examples thereof include metal materials such as Ir) and tin (Sn).
  • the material constituting the first electrode 21 may be, for example, an alloy such as astatine (At) / oxidized astatine (AtO 2 ).
  • the material constituting the first electrode 21 is, for example, a conductive oxide such as tin oxide (SnO), zinc oxide (ZnO), indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), or the like. There may be.
  • the first electrode 21 may be formed by stacking a plurality of layers made of the above materials. Examples of the compound material having a large work function include indium tin oxide (ITO) and indium zinc oxide (IZO).
  • the edge cover 22 is provided in a lattice shape so as to cover the peripheral portion of each first electrode 21.
  • the material constituting the edge cover 22 include organic films such as polyimide resin, acrylic resin, polysiloxane resin, and novolac resin.
  • each organic EL layer 23 includes a hole injection layer 1, a hole transport layer 2, a light emitting layer 3, an electron transport layer 4, and an electron injection provided on the first electrode 21 in order.
  • Layer 5 is provided.
  • the hole injection layer 1 is also called an anode buffer layer, and has a function of improving the efficiency of hole injection from the first electrode 21 to the organic EL layer 23 by bringing the energy levels of the first electrode 21 and the organic EL layer 23 closer to each other.
  • a material constituting the hole injection layer for example, a triazole derivative, an oxadiazole derivative, an imidazole derivative, a polyarylalkane derivative, a pyrazoline derivative, a phenylenediamine derivative, an oxazole derivative, a styrylanthracene derivative, a fluorenone derivative, Examples include hydrazone derivatives and stilbene derivatives.
  • the hole transport layer 2 has a function of improving the hole transport efficiency from the first electrode 21 to the organic EL layer 23.
  • examples of the material constituting the hole transport layer 2 include porphyrin derivatives, aromatic tertiary amine compounds, styrylamine derivatives, polyvinylcarbazole, poly-p-phenylene vinylene, polysilane, triazole derivatives, oxadiazole.
  • Derivatives imidazole derivatives, polyarylalkane derivatives, pyrazoline derivatives, pyrazolone derivatives, phenylenediamine derivatives, arylamine derivatives, amine-substituted chalcone derivatives, oxazole derivatives, styrylanthracene derivatives, fluorenone derivatives, hydrazone derivatives, stilbene derivatives, hydrogenated amorphous silicon, Examples include hydrogenated amorphous silicon carbide, zinc sulfide, and zinc selenide.
  • the light emitting layer 3 when voltage is applied by the first electrode 21 and the second electrode 24, holes and electrons are injected from the first electrode 21 and the second electrode 24, respectively, and the holes and electrons are recombined. It is an area.
  • the light emitting layer 3 is formed of a material having high light emission efficiency. Examples of the material constituting the light emitting layer 3 include metal oxinoid compounds [8-hydroxyquinoline metal complexes], naphthalene derivatives, anthracene derivatives, diphenylethylene derivatives, vinylacetone derivatives, triphenylamine derivatives, butadiene derivatives, and coumarin derivatives.
  • the electron transport layer 4 has a function of efficiently moving electrons to the light emitting layer 3.
  • examples of the material constituting the electron transport layer 4 include organic compounds such as oxadiazole derivatives, triazole derivatives, benzoquinone derivatives, naphthoquinone derivatives, anthraquinone derivatives, tetracyanoanthraquinodimethane derivatives, diphenoquinone derivatives, and fluorenone derivatives. , Silole derivatives, metal oxinoid compounds and the like.
  • the electron injection layer 5 has a function of bringing the energy level of the second electrode 24 and the organic EL layer 23 closer to each other and improving the efficiency of injecting electrons from the second electrode 24 to the organic EL layer 23. With this function, The drive voltage of the organic EL element 30 can be lowered.
  • the electron injection layer 5 is also called a cathode buffer layer.
  • a material constituting the electron injection layer 5 for example, lithium fluoride (LiF), magnesium fluoride (MgF 2 ), calcium fluoride (CaF 2 ), strontium fluoride (SrF 2 ), barium fluoride.
  • Inorganic alkali compounds such as (BaF 2 ), aluminum oxide (Al 2 O 3 ), strontium oxide (SrO), and the like can be given.
  • the second electrode 24 is provided as a common electrode so as to cover each organic EL layer 23 and the edge cover 22.
  • the second electrode 24 has a function of injecting electrons into the organic EL layer 23.
  • the second electrode 24 is more preferably composed of a material having a small work function in order to improve the efficiency of electron injection into the organic EL layer 23.
  • examples of the material forming the second electrode 24 include silver (Ag), aluminum (Al), vanadium (V), cobalt (Co), nickel (Ni), tungsten (W), and gold (Au).
  • the second electrode 24 is formed of, for example, magnesium (Mg) / copper (Cu), magnesium (Mg) / silver (Ag), sodium (Na) / potassium (K), astatine (At) / oxidized astatine (AtO 2).
  • the second electrode 24 may be formed of a conductive oxide such as tin oxide (SnO), zinc oxide (ZnO), indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), or the like. .
  • the second electrode 24 may be formed by laminating a plurality of layers made of the above materials.
  • Examples of materials having a small work function include magnesium (Mg), lithium (Li), lithium fluoride (LiF), magnesium (Mg) / copper (Cu), magnesium (Mg) / silver (Ag), and sodium.
  • (Na) / potassium (K) lithium (Li) / aluminum (Al), lithium (Li) / calcium (Ca) / aluminum (Al), lithium fluoride (LiF) / calcium (Ca) / aluminum (Al) Etc.
  • the sealing film 28 includes a first inorganic film 25 provided so as to cover the second electrode 24, an organic film 26 provided on the first inorganic film 25, and the organic film 26. And a second inorganic film 27 provided so as to cover it, and has a function of protecting the organic EL layer 23 from moisture, oxygen, and the like.
  • the first inorganic film 25 and the second inorganic film 27 are, for example, silicon nitride (SiO 2 ), aluminum oxide (Al 2 O 3 ), silicon nitride (Si 3 N 4 ) such as silicon nitride (Si 3 N 4 ).
  • the organic film 26 is made of an organic material such as acrylate, polyurea, parylene, polyimide, or polyamide.
  • the organic EL display device 50 includes a resin substrate layer 10, an inorganic insulating laminated film L provided on the resin substrate layer 10, and a first layer in the frame region F.
  • a flattening film 8, a second flattening film 19, a first wiring 18h, a second wiring 18i, a third wiring 18j, a fourth wiring 21a, and a fifth wiring 18k are provided.
  • the inorganic insulating laminated film L is at least one inorganic insulating film constituting the TFT layer 20, and as shown in FIGS. 8 to 10, the base coat film 11 and the gate insulating film 13 are sequentially laminated on the resin substrate layer 10.
  • the first interlayer insulating film 15 and the second interlayer insulating film 17 are provided.
  • the inorganic insulating laminated film L has an inorganic insulating laminated film L as shown in FIGS. 6, 8, 9 and 11.
  • a slit S is formed through which the upper surface of the resin substrate layer 10 is exposed.
  • the slit S is provided in the groove
  • the first wiring 18 h is provided on the first planarizing film 8 on one side of the frame region F (the right side in FIG. 1). Further, as shown in FIGS. 6 and 10, the first wiring 18 h is exposed from the slit S of the inorganic insulating laminated film L and is exposed from the opening A of the first planarization film 8 described later. The extending portion E is extended to the upper surface.
  • the first wiring 18h and the second wiring 18i are formed of the same material in the same layer as the source electrodes 18a and 18c.
  • the second wiring 18i is provided on the first planarization film 8 on one side of the frame region F (upper side and lower side in FIG. 1). Further, as shown in FIGS. 6 and 10, the second wiring 18 h is exposed from the slit S of the inorganic insulating laminated film L and is exposed from the opening A of the first planarization film 8 described later. The extending portion E is extended to the upper surface.
  • the first planarizing film 8 is provided inside the slit S formed on the inorganic insulating laminated film L and on the edge of the slit S, as shown in FIGS.
  • the first planarization film 8 is formed in the resin substrate layer 10 between the extended portions E where the first wiring 18 h and the second wiring 18 i are extended inside the slit S of the inorganic insulating laminated film L. It is provided so that the upper surface is exposed. That is, as shown in FIG. 7, the first planarizing film 8 includes a resin substrate between the extended portion E of the first wiring 18h and the extended portion E of the second wiring 18i in a state before the substrate is divided. An opening A that exposes the upper surface of the layer 10 is provided.
  • the dashed-dotted line C in FIG. 7 is a dividing line of a board
  • the first planarizing film 8 is formed with a slit S of the inorganic insulating laminated film L on the side opposite to the display area D of the first bent portion Ba and the second bent portion Bb. It is provided to expose the upper surface of the end portion.
  • the third wiring 18j is provided between the end face of the first flat film 8 and the upper surface of the resin substrate layer 10, and is formed in the same layer as the first wiring 18h and the second wiring 18i. It is made of the same material.
  • the first wiring 18h and the second wiring 18i are electrically connected to each other by the third wiring 18j as shown in FIGS.
  • the peripheral end surface of the opening A of the first planarizing film 8 (for example, about 2 ⁇ m in thickness) is inclined at a relatively high angle (for example, about 50 °) with respect to the upper surface of the resin substrate layer 10.
  • a conductive film to be the source electrodes 18 a and 18 c is formed so as to cover the first planarization film 8, and a resist coating film applied on the conductive film is formed around the opening A of the first planarization film 8. Thick at the edges.
  • the resist pattern obtained by exposing and developing the resist coating film remains at the peripheral end portion of the opening A of the first planarizing film 8, so that the conductive film under the remaining resist pattern is Three wirings 18j are formed.
  • the peripheral end surface of the opening A of the first planarizing film 8 is similarly inclined at a relatively high angle with respect to the upper surface of the inorganic insulating laminated film L on the resin substrate layer 10, the first planar film As shown in FIGS. 6 and 9, a conductive film 18m is formed between the end face 8 and the upper surface of the inorganic insulating laminated film L.
  • one end of the fourth wiring 21a is electrically connected to the first wiring 18h through a contact hole Ha formed in the second planarizing film 19.
  • the other end of the fourth wiring 21a is electrically connected to the second wiring 18i through a contact hole Hb formed in the second planarizing film 19, as shown in FIG.
  • the fourth wiring 21 a is formed of the same material in the same layer as the first electrode 21.
  • the first wiring 18 and the second wiring 18i are also electrically connected to each other by the fourth wiring 21a.
  • the first wiring 18h, the second wiring 18i, the third wiring 18j, and the fourth wiring 21a are electrically connected to the high level power supply line 18g (ELDVV).
  • the fifth wiring 18 k is on the first planarizing film 8 and the inorganic insulating laminated film L exposed from the first planarizing film 8 on one side of the frame region F (the right side in FIG. 1). Are provided in parallel to each other in a direction intersecting with the direction in which the first bent portion Ba extends. Further, as shown in FIG. 11, both end portions of the fifth wiring 18k are connected to the first gate conductive layer 14c through contact holes formed in the laminated film of the first interlayer insulating film 15 and the second interlayer insulating film 17, respectively. And the second gate conductive layer 14d.
  • the fifth wiring 18k is formed of the same material in the same layer as the source electrodes 18a and 18c. As shown in FIG.
  • the first gate conductive layer 14c is provided between the gate insulating film 13 and the first interlayer insulating film 15, and the signal wiring (gate line 14, source) of the TFT layer 20 in the display region D is provided. Line 18f, power supply line 18g, etc.).
  • the second gate conductive layer 14 d is provided between the gate insulating film 13 and the first interlayer insulating film 15 and extends to the terminal portion T.
  • the first gate conductive layer 14c and the second gate conductive layer 14d are formed of the same material in the same layer as the gate electrodes 14a and 14b.
  • the first planarizing film 19 is provided so as to cover the first wiring 18h, the second wiring 18i, the third wiring 18j, and the fifth wirings 18k.
  • a gate signal is input to the first TFT 9a via the gate line 14, thereby turning on the first TFT 9a, and the gate electrode of the second TFT 9b via the source line 18f.
  • a predetermined voltage corresponding to the source signal is written to 14b and the capacitor 9c, and a current from the power supply line 18g defined based on the gate voltage of the second TFT 9b is supplied to the organic EL layer 23.
  • the light emitting layer 3 emits light and is configured to display an image. In the organic EL display device 50a, even when the first TFT 9a is turned off, the gate voltage of the second TFT 9b is held by the capacitor 9c. Therefore, the light emitting layer 3 emits light until the gate signal of the next frame is input. Maintained.
  • the organic EL display device 50 forms a TFT layer 20 and an organic EL element 30 on a resin substrate layer (10) formed on a glass substrate using a well-known method, and then irradiates laser light. Can be manufactured by peeling the glass substrate and cutting out two corners of the resin substrate layer (10).
  • the third wiring 18j provided between the peripheral end surface of the opening A of the first planarization film 8 and the upper surface of the resin substrate layer 10.
  • the first wiring 18h and the second wiring 18i are electrically connected to each other via the.
  • the third wiring 18j is formed of the same material in the same layer as the first wiring 18h and the second wiring 18i, but utilizes the inclined shape of the peripheral end surface of the opening A of the first planarization film 8. Therefore, it is not necessary to reflect the planar shape of the third wiring 18j in the photomask used when forming the first wiring 18h and the second wiring 18i.
  • the third wiring 18j can be easily formed, so that the first wiring 18h provided in the first bent portion Ba and the second wiring 18i provided in the second bent portion Bb are electrically connected. Can be connected easily.
  • the first wiring 18 h and the second wiring 18 i are electrically connected via the fourth wiring 21 a provided on the second planarization film 19. Therefore, even if the third wiring 18j is disconnected, the electrical connection between the first wiring 18h and the second wiring 18i can be ensured by the fourth wiring 21a.
  • an organic EL display device having a bent portion that can be bent at three sides of the frame region is illustrated.
  • the present invention is a bent portion that can be bent at two adjacent sides or four sides of the frame region.
  • the present invention can also be applied to an organic EL display device having the above.
  • an organic EL layer is a hole, for example A three-layer structure of an injection layer / hole transport layer, a light emitting layer, and an electron transport layer / electron injection layer may be employed.
  • the organic EL display device using the first electrode as the anode and the second electrode as the cathode is illustrated.
  • the present invention reverses the stacked structure of the organic EL layers and uses the first electrode as the cathode.
  • the present invention can also be applied to an organic EL display device using the second electrode as an anode.
  • the organic electroluminescence display provided with the element substrate which used the electrode of TFT connected to the 1st electrode as a drain electrode was illustrated, this invention is the electrode of TFT connected to the 1st electrode.
  • the organic EL display device is described as an example of the display device.
  • the present invention can be applied to a display device including a plurality of light emitting elements driven by current.
  • the present invention can be applied to a display device including a QLED (Quantum-dot light emitting diode) that is a light-emitting element using a quantum dot-containing layer.
  • QLED Quantum-dot light emitting diode
  • the present invention is useful for flexible display devices.

Landscapes

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Abstract

第1配線(18h)及び第2配線(18i)は、少なくとも1層の無機絶縁膜に形成されたスリット(S)から露出する樹脂基板の上面まで延設され、第1平坦化膜(8)は、スリット(S)内において、第1配線(18h)及び第2配線(18i)が延設された部分の間で樹脂基板の上面を露出させるように設けられ、第1配線(18h)及び第2配線(18i)は、第1平坦化膜(8)の端面と樹脂基板の上面との間に設けられた第3配線(18j)を介して電気的に接続されている。

Description

表示装置
 本発明は、表示装置に関するものである。
 近年、液晶表示装置に代わる表示装置として、有機EL(electroluminescence)素子を用いた自発光型の有機EL表示装置が注目されている。この有機EL表示装置では、可撓性を有する樹脂基板上に有機EL素子等を形成したフレキシブルな有機EL表示装置が提案されている。ここで、有機EL表示装置では、画像表示を行う矩形状の表示領域と、その表示領域の周囲に額縁領域とが設けられ、額縁領域を縮小させることが要望されている。そして、フレキシブルな有機EL表示装置では、額縁領域を折り曲げることにより、額縁領域を縮小させると、その額縁領域に配置された配線が破断するおそれがある。
 例えば、特許文献1には、ベンディングホールを形成することにより、ベンディング領域に対応するバッファー膜、ゲート絶縁膜及び層間絶縁膜のそれぞれ一部を除去して、配線の断線を防止するフレキシブル表示装置が開示されている。
特開2014-232300号公報
 ところで、フレキシブルな有機EL表示装置では、樹脂基板上にベースコート膜、ゲート絶縁膜及び層間絶縁膜等の無機絶縁膜が設けられているので、額縁領域に配置された配線の断線を抑制するために、額縁領域の折り曲げ部における無機絶縁膜を除去して、折り曲げ部での無機絶縁膜の破断を抑制することがある。ここで、例えば、矩形状の表示領域を有し、表示領域の隣り合う2辺に沿う額縁領域に第1及び第2折り曲げ部がそれぞれ設けられた有機EL表示装置では、第1及び第2折り曲げ部の無機絶縁膜を除去して、第1及び第2折り曲げ部での無機絶縁膜の破断を抑制することができる。しかし、このような構成の有機EL表示装置では、第1及び第2折り曲げ部にそれぞれ設けられた第1及び第2配線の断線を抑制することができるものの、例えば、第1配線と第2配線との電気的な接続については、考慮されていないので、改善の余地がある。
 本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、第1折り曲げ部に設けられた第1配線と、第2折り曲げ部に設けられた第2配線とを電気的に容易に接続することにある。
 上記目的を達成するために、本発明に係る表示装置は、樹脂基板と、上記樹脂基板上に設けられたTFT層と、上記TFT層上に設けられ、表示領域を構成する発光素子と、上記表示領域の周囲に設けられた少なくとも3辺の額縁領域と、上記少なくとも3辺の額縁領域の1辺の端部に設けられた端子部と、上記表示領域及び端子部の間に1方向に延びるように設けられた第1折り曲げ部と、上記第1折り曲げ部を有する額縁領域の1辺に隣り合う額縁領域の他の1辺に1方向に延びるように設けられた第2折り曲げ部と、上記少なくとも3辺の額縁領域に設けられ、上記樹脂基板上に積層された上記TFT層を構成する少なくとも1層の無機絶縁膜と、上記少なくとも1層の無機絶縁膜上に設けられた第1平坦化膜と、上記額縁領域の1辺において、上記第1平坦化膜上に設けられた第1配線と、上記額縁領域の他の1辺において、上記第1平坦化膜上に設けられた第2配線と、上記第1配線及び第2配線を覆うように設けられた第2平坦化膜とを備えた表示装置であって、上記第1折り曲げ部及び第2折り曲げ部では、上記少なくとも1層の無機絶縁膜に該無機絶縁膜を貫通して上記樹脂基板の上面を露出させるスリットが形成され、上記第1配線及び第2配線は、上記スリットから露出する上記樹脂基板の上面まで延設され、上記スリットの内部には、上記第1平坦化膜が設けられ、上記第1平坦化膜は、上記スリットの内部において、上記第1配線及び第2配線が延設された部分の間で上記樹脂基板の上面を露出させるように設けられ、上記第1配線及び第2配線は、上記第1平坦化膜の端面と上記樹脂基板の上面との間に設けられて該第1配線及び第2配線と同一層に同一材料により形成された第3配線を介して電気的に接続されていることを特徴とする。
 本発明によれば、第1配線及び第2配線は、第1平坦化膜の端面と樹脂基板の上面との間に設けられて第1配線及び第2配線と同一層に同一材料により形成された第3配線を介して電気的に接続されているので、第1折り曲げ部に設けられた第1配線と、第2折り曲げ部に設けられた第2配線とを電気的に容易に接続することができる。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る有機EL表示装置の概略構成を示す平面図である。 図2は、本発明の第1の実施形態に係る有機EL表示装置の表示領域の平面図である。 図3は、図1中のIII-III線に沿った有機EL表示装置の表示領域の断面図である。 図4は、本発明の第1の実施形態に係る有機EL表示装置を構成するTFT層を示す等価回路図である。 図5は、本発明の第1の実施形態に係る有機EL表示装置を構成する有機EL層を示す断面図である。 図6は、図1中の領域Yを拡大した有機EL表示装置の平面図である。 図7は、図1中の領域Yを拡大した基板分断前の有機EL表示装置の平面図である。 図8は、図6中のVIII-VIII線に沿った有機EL表示装置の断面図である。 図9は、図6中のIX-IX線に沿った有機EL表示装置の断面図である。 図10は、図6中のX-X線に沿った有機EL表示装置の断面図である。 図11は、図6中のXI-XI線に沿った有機EL表示装置の断面図である。
 以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、本発明は、以下の各実施形態に限定されるものではない。
 《第1の実施形態》
 図1~図11は、本発明に係る表示装置の第1の実施形態を示している。なお、以下の各実施形態では、発光素子を備えた表示装置として、有機EL素子を備えた有機EL表示装置を例示する。ここで、図1は、本実施形態の有機EL表示装置50の概略構成を示す平面図である。また、図2は、有機EL表示装置50の表示領域Dの平面図である。また、図3は、図1中のIII-III線に沿った有機EL表示装置50の表示領域Dの断面図である。また、図4は、有機EL表示装置50を構成するTFT層20を示す等価回路図である。また、図5は、有機EL表示装置50を構成する有機EL層23を示す断面図である。また、図6は、図1中の領域Yを拡大した有機EL表示装置50の平面図である。また、図7は、図1中の領域Yを拡大した基板分断前の有機EL表示装置50の平面図である。また、図8、図9、図10及び図11は、図6中のVIII-VIII線、IX-IX線、X-X線及びXI-XI線に沿った有機EL表示装置50の断面図である。
 有機EL表示装置50は、図1に示すように、例えば、矩形状に設けられた画像表示を行う表示領域Dと、表示領域Dの周囲に設けられた4辺の額縁領域Fとを備えている。なお、本実施形態では、矩形状の表示領域Dの周囲に4辺の額縁領域Fが設けられた構成有機EL表示装置50を例示したが、本発明は、多角形状の表示領域の周囲に少なくとも3辺の額縁領域Fが設けられた有機EL表示装置に適用することができる。
 表示領域Dには、図2に示すように、複数のサブ画素Pがマトリクス状に配置されている。また、表示領域Dでは、図2に示すように、赤色の表示を行うための赤色発光領域Lrを有するサブ画素P、緑色の表示を行うための緑色発光領域Lgを有するサブ画素P、及び青色の表示を行うための青色発光領域Lbを有するサブ画素Pが互いに隣り合うように設けられている。ここで、表示領域Dでは、赤色発光領域Lr、緑色発光領域Lg及び青色発光領域Lbを有する隣り合う3つのサブ画素Pにより、1つの画素が構成されている。
 額縁領域Fの図1中の右辺には、図1に示すように、端子部Tが設けられている。また、額縁領域Fにおいて、端子部Tを挟んで配置された図1中の右辺の上角部及び下角部は、平面視でL字状に切り欠かれている。また、額縁領域Fの図1中の右辺において、表示領域D及び端子部Tの間には、図1中の縦方向を折り曲げの軸として180°に(U字状に)折り曲げられる折り曲げ部B(第1折り曲げ部Ba、図6参照)が図1中の縦方向に延びるように設けられている。また、額縁領域Fの図1中の上辺及び下辺には、図1中の横方向を折り曲げの軸として180°に(U字状に)折り曲げられる折り曲げ部B(第2折り曲げ部Bb、図6参照)が図1中の横方向に延びるようにそれぞれ設けられている。
 有機EL表示装置50は、図3に示すように、表示領域Dにおいて、樹脂基板として設けられた樹脂基板層10と、樹脂基板層10上に設けられたTFT(thin film transistor)層20と、TFT層上に表示領域Dを構成する発光素子として設けられた有機EL素子30とを備えている。
 樹脂基板層10は、例えば、ポリイミド樹脂等により構成されている。
 TFT層20は、図3に示すように、樹脂基板層10上に設けられたベースコート膜11と、ベースコート膜11上に設けられた複数の第1TFT9a、複数の第2TFT9b及び複数のキャパシタ9cと、各第1TFT9a、各第2TFT9b及び各キャパシタ9c上に設けられた第2平坦化膜19とを備えている。なお、額縁領域Fには、後述するように、第1平坦化膜8が設けられている。ここで、TFT層20では、図2及び図4に示すように、図中横方向に互いに平行に延びるように複数のゲート線14が設けられている。また、TFT層20では、図2及び図4に示すように、図中縦方向に互いに平行に延びるように複数のソース線18fが設けられている。また、TFT層20では、図2及び図4に示すように、各ソース線18fと隣り合って、図中縦方向に互いに平行に延びるように複数の電源線18gが設けられている。また、TFT層20では、図4に示すように、各サブ画素Pにおいて、第1TFT9a、第2TFT9b及びキャパシタ9cがそれぞれ設けられている。
 ベースコート膜11は、例えば、窒化シリコン、酸化シリコン、酸窒化シリコン等の無機絶縁膜の単層膜又は積層膜により構成されている。
 第1TFT9aは、図4に示すように、各サブ画素Pにおいて、対応するゲート線14及びソース線18fに接続されている。また、第1TFT9aは、図3に示すように、ベースコート膜11上に順に設けられた半導体層12a、ゲート絶縁膜13、ゲート電極14a、第1層間絶縁膜15、第2層間絶縁膜17、並びにソース電極18a及びドレイン電極18bを備えている。ここで、半導体層12aは、図3に示すように、ベースコート膜11上に島状に設けられ、チャネル領域、ソース領域及びドレイン領域を有している。また、ゲート絶縁膜13は、図3に示すように、半導体層12aを覆うように設けられている。また、ゲート電極14aは、図3に示すように、ゲート絶縁膜13上に半導体層12aのチャネル領域と重なるように設けられている。また、第1層間絶縁膜15及び第2層間絶縁膜17は、図3に示すように、ゲート電極14aを覆うように順に設けられている。また、ソース電極18a及びドレイン電極18bは、図3に示すように、第2層間絶縁膜17上に互いに離間するように設けられている。また、ソース電極18a及びドレイン電極18bは、図3に示すように、ゲート絶縁膜13、第1層間絶縁膜15及び第2層間絶縁膜17の積層膜に形成された各コンタクトホールを介して、半導体層12aのソース領域及びドレイン領域にそれぞれ接続されている。なお、ゲート絶縁膜13、第1層間絶縁膜15及び第2層間絶縁膜17は、例えば、窒化シリコン、酸化シリコン、酸窒化シリコン等の無機絶縁膜の単層膜又は積層膜により構成されている。
 第2TFT9bは、図4に示すように、各サブ画素Pにおいて、対応する第1TFT9a及び電源線18gに接続されている。また、第1TFT9bは、図3に示すように、ベースコート膜11上に順に設けられた半導体層12b、ゲート絶縁膜13、ゲート電極14b、第1層間絶縁膜15、第2層間絶縁膜17、並びにソース電極18c及びドレイン電極18dを備えている。ここで、半導体層12bは、図3に示すように、ベースコート膜11上に島状に設けられ、チャネル領域、ソース領域及びドレイン領域を有している。また、ゲート絶縁膜13は、図3に示すように、半導体層12bを覆うように設けられている。また、ゲート電極14bは、図3に示すように、ゲート絶縁膜13上に半導体層12bのチャネル領域と重なるように設けられている。また、第1層間絶縁膜15及び第2層間絶縁膜17は、図3に示すように、ゲート電極14bを覆うように順に設けられている。また、ソース電極18c及びドレイン電極18dは、図3に示すように、第2層間絶縁膜17上に互いに離間するように設けられている。また、ソース電極18c及びドレイン電極18dは、図3に示すように、ゲート絶縁膜13、第1層間絶縁膜15及び第2層間絶縁膜17の積層膜に形成された各コンタクトホールを介して、半導体層12bのソース領域及びドレイン領域にそれぞれ接続されている。
 なお、本実施形態では、トップゲート型の第1TFT9a及び第2TFT9bを例示したが、第1TFT9a及び第2TFT9bは、ボトムゲート型のTFTであってもよい。
 キャパシタ9cは、図4に示すように、各サブ画素Pにおいて、対応する第1TFT9a及び電源線18gに接続されている。ここで、キャパシタ9cは、図3に示すように、ゲート電極14a及び14bと同一材料により同一層に形成された下部導電層14cと、下部導電層14cを覆うように設けられた第1層間絶縁膜15と、第1層間絶縁膜15上に下部導電層14cと重なるように設けられた上部導電層16とを備えている。
 第2平坦化膜19は、例えば、ポリイミド樹脂等の有機樹脂材料により構成されている。
 有機EL素子30は、図3に示すように、第2平坦化膜19上に順に設けられた複数の第1電極21、エッジカバー22、複数の有機EL層23、第2電極24及び封止膜28を備えている。
 複数の第1電極21は、図3に示すように、複数のサブ画素Pに対応するように、第2平坦化膜19上にマトリクス状に画素電極として設けられている。また、第1電極21は、図3に示すように、第2平坦化膜19に形成されたコンタクトホールを介して、各第2TFT9bのドレイン電極18dに接続されている。また、第1電極21は、有機EL層23にホール(正孔)を注入する機能を有している。また、第1電極21は、有機EL層23への正孔注入効率を向上させるために、仕事関数の大きな材料で形成するのがより好ましい。ここで、第1電極21を構成する材料としては、例えば、銀(Ag)、アルミニウム(Al)、バナジウム(V)、コバルト(Co)、ニッケル(Ni)、タングステン(W)、金(Au)、チタン(Ti)、ルテニウム(Ru)、マンガン(Mn)、インジウム(In)、イッテルビウム(Yb)、フッ化リチウム(LiF)、白金(Pt)、パラジウム(Pd)、モリブデン(Mo)、イリジウム(Ir)、スズ(Sn)等の金属材料が挙げられる。また、第1電極21を構成する材料は、例えば、アスタチン(At)/酸化アスタチン(AtO)等の合金であっても構わない。さらに、第1電極21を構成する材料は、例えば、酸化スズ(SnO)、酸化亜鉛(ZnO)、インジウムスズ酸化物(ITO)、インジウム亜鉛酸化物(IZO)のような導電性酸化物等であってもよい。また、第1電極21は、上記材料からなる層を複数積層して形成されていてもよい。なお、仕事関数の大きな化合物材料としては、例えば、インジウムスズ酸化物(ITO)やインジウム亜鉛酸化物(IZO)等が挙げられる。
 エッジカバー22は、図3に示すように、各第1電極21の周縁部を覆うように格子状に設けられている。ここで、エッジカバー22を構成する材料としては、例えば、ポリイミド樹脂、アクリル樹脂、ポリシロキサン樹脂、ノボラック樹脂等の有機膜が挙げられる。
 複数の有機EL層23は、図3に示すように、各第1電極21上に配置され、複数のサブ画素に対応するように、マトリクス状に設けられている。ここで、各有機EL層23は、図5に示すように、第1電極21上に順に設けられた正孔注入層1、正孔輸送層2、発光層3、電子輸送層4及び電子注入層5を備えている。
 正孔注入層1は、陽極バッファ層とも呼ばれ、第1電極21と有機EL層23とのエネルギーレベルを近づけ、第1電極21から有機EL層23への正孔注入効率を改善する機能を有している。ここで、正孔注入層1を構成する材料としては、例えば、トリアゾール誘導体、オキサジアゾール誘導体、イミダゾール誘導体、ポリアリールアルカン誘導体、ピラゾリン誘導体、フェニレンジアミン誘導体、オキサゾール誘導体、スチリルアントラセン誘導体、フルオレノン誘導体、ヒドラゾン誘導体、スチルベン誘導体等が挙げられる。
 正孔輸送層2は、第1電極21から有機EL層23への正孔の輸送効率を向上させる機能を有している。ここで、正孔輸送層2を構成する材料としては、例えば、ポルフィリン誘導体、芳香族第三級アミン化合物、スチリルアミン誘導体、ポリビニルカルバゾール、ポリ-p-フェニレンビニレン、ポリシラン、トリアゾール誘導体、オキサジアゾール誘導体、イミダゾール誘導体、ポリアリールアルカン誘導体、ピラゾリン誘導体、ピラゾロン誘導体、フェニレンジアミン誘導体、アリールアミン誘導体、アミン置換カルコン誘導体、オキサゾール誘導体、スチリルアントラセン誘導体、フルオレノン誘導体、ヒドラゾン誘導体、スチルベン誘導体、水素化アモルファスシリコン、水素化アモルファス炭化シリコン、硫化亜鉛、セレン化亜鉛等が挙げられる。
 発光層3は、第1電極21及び第2電極24による電圧印加の際に、第1電極21及び第2電極24から正孔及び電子がそれぞれ注入されると共に、正孔及び電子が再結合する領域である。ここで、発光層3は、発光効率が高い材料により形成されている。そして、発光層3を構成する材料としては、例えば、金属オキシノイド化合物[8-ヒドロキシキノリン金属錯体]、ナフタレン誘導体、アントラセン誘導体、ジフェニルエチレン誘導体、ビニルアセトン誘導体、トリフェニルアミン誘導体、ブタジエン誘導体、クマリン誘導体、ベンズオキサゾール誘導体、オキサジアゾール誘導体、オキサゾール誘導体、ベンズイミダゾール誘導体、チアジアゾール誘導体、ベンズチアゾール誘導体、スチリル誘導体、スチリルアミン誘導体、ビススチリルベンゼン誘導体、トリススチリルベンゼン誘導体、ペリレン誘導体、ペリノン誘導体、アミノピレン誘導体、ピリジン誘導体、ローダミン誘導体、アクイジン誘導体、フェノキサゾン、キナクリドン誘導体、ルブレン、ポリ-p-フェニレンビニレン、ポリシラン等が挙げられる。
 電子輸送層4は、電子を発光層3まで効率良く移動させる機能を有している。ここで、電子輸送層4を構成する材料としては、例えば、有機化合物として、オキサジアゾール誘導体、トリアゾール誘導体、ベンゾキノン誘導体、ナフトキノン誘導体、アントラキノン誘導体、テトラシアノアントラキノジメタン誘導体、ジフェノキノン誘導体、フルオレノン誘導体、シロール誘導体、金属オキシノイド化合物等が挙げられる。
 電子注入層5は、第2電極24と有機EL層23とのエネルギーレベルを近づけ、第2電極24から有機EL層23へ電子が注入される効率を向上させる機能を有し、この機能により、有機EL素子30の駆動電圧を下げることができる。なお、電子注入層5は、陰極バッファ層とも呼ばれる。ここで、電子注入層5を構成する材料としては、例えば、フッ化リチウム(LiF)、フッ化マグネシウム(MgF)、フッ化カルシウム(CaF)、フッ化ストロンチウム(SrF)、フッ化バリウム(BaF)のような無機アルカリ化合物、酸化アルミニウム(Al)、酸化ストロンチウム(SrO)等が挙げられる。
 第2電極24は、図3に示すように、各有機EL層23及びエッジカバー22を覆うように共通電極として設けられている。また、第2電極24は、有機EL層23に電子を注入する機能を有している。また、第2電極24は、有機EL層23への電子注入効率を向上させるために、仕事関数の小さな材料で構成するのがより好ましい。ここで、第2電極24を構成する材料としては、例えば、銀(Ag)、アルミニウム(Al)、バナジウム(V)、コバルト(Co)、ニッケル(Ni)、タングステン(W)、金(Au)、カルシウム(Ca)、チタン(Ti)、イットリウム(Y)、ナトリウム(Na)、ルテニウム(Ru)、マンガン(Mn)、インジウム(In)、マグネシウム(Mg)、リチウム(Li)、イッテルビウム(Yb)、フッ化リチウム(LiF)等が挙げられる。また、第2電極24は、例えば、マグネシウム(Mg)/銅(Cu)、マグネシウム(Mg)/銀(Ag)、ナトリウム(Na)/カリウム(K)、アスタチン(At)/酸化アスタチン(AtO)、リチウム(Li)/アルミニウム(Al)、リチウム(Li)/カルシウム(Ca)/アルミニウム(Al)、フッ化リチウム(LiF)/カルシウム(Ca)/アルミニウム(Al)等の合金により形成されていてもよい。また、第2電極24は、例えば、酸化スズ(SnO)、酸化亜鉛(ZnO)、インジウムスズ酸化物(ITO)、インジウム亜鉛酸化物(IZO)等の導電性酸化物により形成されていてもよい。また、第2電極24は、上記材料からなる層を複数積層して形成されていてもよい。なお、仕事関数が小さい材料としては、例えば、マグネシウム(Mg)、リチウム(Li)、フッ化リチウム(LiF)、マグネシウム(Mg)/銅(Cu)、マグネシウム(Mg)/銀(Ag)、ナトリウム(Na)/カリウム(K)、リチウム(Li)/アルミニウム(Al)、リチウム(Li)/カルシウム(Ca)/アルミニウム(Al)、フッ化リチウム(LiF)/カルシウム(Ca)/アルミニウム(Al)等が挙げられる。
 封止膜28は、図3に示すように、第2電極24を覆うように設けられた第1無機膜25と、第1無機膜25上に設けられた有機膜26と、有機膜26を覆うように設けられた第2無機膜27とを備え、有機EL層23を水分や酸素等から保護する機能を有している。ここで、第1無機膜25及び第2無機膜27は、例えば、酸化シリコン(SiO)や酸化アルミニウム(Al)、四窒化三ケイ素(Si)のような窒化シリコン(SiNx(xは正数))、炭窒化ケイ素(SiCN)等の無機材料により構成されている。また、有機膜26は、例えば、アクリレート、ポリ尿素、パリレン、ポリイミド、ポリアミド等の有機材料により構成されている。
 また、有機EL表示装置50は、図6、図8~図11に示すように、額縁領域Fにおいて、樹脂基板層10と、樹脂基板層10上に設けられた無機絶縁積層膜L、第1平坦化膜8、第2平坦化膜19、第1配線18h、第2配線18i、第3配線18j、第4配線21a及び第5配線18kとを備えている。
 無機絶縁積層膜Lは、TFT層20を構成する少なくとも1層の無機絶縁膜であり、図8~10に示すように、樹脂基板層10上に順に積層されたベースコート膜11、ゲート絶縁膜13、第1層間絶縁膜15及び第2層間絶縁膜17を備えている。ここで、折り曲げ部B(第1折り曲げ部Ba及び第2折り曲げ部Bb)において、無機絶縁積層膜Lには、図6、図8、図9及び図11に示すように、無機絶縁積層膜Lを貫通して樹脂基板層10の上面を露出させるスリットSが形成されている。なお、スリットSは、第1折り曲げ部Ba及び第2折り曲げ部Bbの延びる方向に沿って突き抜ける溝状に設けられている。
 第1配線18hは、図8及び図10に示すように、額縁領域Fの1辺(図1中の右辺)において、第1平坦化膜8上に設けられている。また、第1配線18hは、図6及び図10に示すように、無機絶縁積層膜LのスリットSから露出する共に後述する第1平坦化膜8の開口部Aから露出する樹脂基板層10の上面まで延設された延設部Eを有している。ここで、第1配線18h及び第2配線18iは、ソース電極18a及び18cと同一層に同一材料により形成されている。
 第2配線18iは、図10に示すように、額縁領域Fの1辺(図1中の上辺及び下辺)において、第1平坦化膜8上に設けられている。また、第2配線18hは、図6及び図10に示すように、無機絶縁積層膜LのスリットSから露出する共に後述する第1平坦化膜8の開口部Aから露出する樹脂基板層10の上面まで延設された延設部Eを有している。
 第1平坦化膜8は、図6及び図11に示すように、無機絶縁積層膜Lに形成されたスリットSの内部、及びスリットSの縁部上に設けられている。ここで、第1平坦化膜8は、無機絶縁積層膜LのスリットSの内部において、第1配線18h及び第2配線18iが延設された各延設部Eの間で樹脂基板層10の上面を露出させるように設けられている。すなわち、第1平坦化膜8には、図7に示すように、基板分断前の状態において、第1配線18hの延設部Eと第2配線18iの延設部Eとの間で樹脂基板層10の上面を露出させる開口部Aが設けられている。なお、図7中の1点鎖線Cは、基板の分断ラインである。また、第1平坦化膜8は、図6及び図9に示すように、第1折り曲げ部Ba及び第2折り曲げ部Bbの表示領域Dと反対側において、無機絶縁積層膜LのスリットSが形成された端部の上面を露出するように設けられている。
 第3配線18jは、図6及び図9に示すように、第1平坦膜8の端面と樹脂基板層10の上面との間に設けられ、第1配線18h及び第2配線18iと同一層に同一材料により形成されている。なお、第1配線18h及び第2配線18iは、図6及び図10に示すように、第3配線18jによって、互いに電気的に接続されている。ここで、第1平坦化膜8(例えば、厚さ2μm程度)の開口部Aの周端面は、樹脂基板層10の上面に対して比較的高角度(例えば、50°程度)に傾斜しているので、第1平坦化膜8を覆うようにソース電極18a及び18cとなる導電膜を成膜し、その導電膜上に塗布するレジスト塗布膜が第1平坦化膜8の開口部Aの周端部で厚くなる。その結果、上記レジスト塗布膜を露光及び現像して得られるレジストパターンは、第1平坦化膜8の開口部Aの周端部に残存するので、その残存したレジストパターン下の導電膜により、第3配線18jが形成される。さらに、第1平坦化膜8の開口部Aの周端面は、樹脂基板層10上の無機絶縁積層膜Lの上面に対して同様に比較的高角度に傾斜しているので、第1平坦膜8の端面と無機絶縁積層膜Lの上面との間には、図6及び図9に示すように、導電膜18mが形成される。
 第4配線21aの一方の端部は、図6及び図8に示すように、第2平坦化膜19に形成されたコンタクトホールHaを介して第1配線18hに電気的に接続されている。また、第4配線21aの他方の端部は、図6に示すように、第2平坦化膜19に形成されたコンタクトホールHbを介して第2配線18iに電気的に接続されている。ここで、第4配線21aは、第1電極21と同一層に同一材料により形成されている。なお、第1配線18及び第2配線18iは、第4配線21aによっても、互いに電気的に接続されている。また、第1配線18h、第2配線18i、第3配線18j及び第4配線21aは、ハイレベル電源線18g(ELDVV)に電気的に接続されている。
 第5配線18kは、図6に示すように、額縁領域Fの1辺(図1中の右辺)において、第1平坦化膜8及び第1平坦化膜8から露出する無機絶縁積層膜L上に第1折り曲げ部Baの延びる方向と交差する方向に互いに平行に延びるように複数設けられている。また、第5配線18kの両端部は、図11に示すように、第1層間絶縁膜15及び第2層間絶縁膜17の積層膜に形成された各コンタクトホールを介して第1ゲート導電層14c及び第2ゲート導電層14dにそれぞれ電気的に接続されている。ここで、第5配線18kは、ソース電極18a及び18cと同一層に同一材料により形成されている。また、第1ゲート導電層14cは、図11に示すように、ゲート絶縁膜13及び第1層間絶縁膜15の間に設けられ、表示領域DのTFT層20の信号配線(ゲート線14、ソース線18f、電源線18g等)に電気的に接続されている。また、第2ゲート導電層14dは、図6に示すように、ゲート絶縁膜13及び第1層間絶縁膜15の間に設けられ、端子部Tに延びている。なお、第1ゲート導電層14c及び第2ゲート導電層14dは、ゲート電極14a及び14bと同一層に同一材料により形成されている。
 第1平坦化膜19は、図8~図11に示すように、第1配線18h、第2配線18i、第3配線18j及び各第5配線18kを覆うように設けられている。
 上述した有機EL表示装置50は、各サブ画素Pにおいて、ゲート線14を介して第1TFT9aにゲート信号を入力することにより、第1TFT9aをオン状態にし、ソース線18fを介して第2TFT9bのゲート電極14b及びキャパシタ9cにソース信号に対応する所定の電圧を書き込み、第2TFT9bのゲート電圧に基づいて規定された電源線18gからの電流が有機EL層23に供給されることにより、有機EL層23の発光層3が発光して、画像表示を行うように構成されている。なお、有機EL表示装置50aでは、第1TFT9aがオフ状態になっても、第2TFT9bのゲート電圧がキャパシタ9cによって保持されるので、次のフレームのゲート信号が入力されるまで発光層3による発光が維持される。
 本実施形態の有機EL表示装置50は、例えば、ガラス基板上に形成した樹脂基板層(10)上に周知の方法を用いてTFT層20及び有機EL素子30を形成した後に、レーザー光の照射によりガラス基板を剥離させ、樹脂基板層(10)の2つの角部を切り欠くことにより、製造することができる。
 以上説明したように、本実施形態の有機EL表示装置50によれば、第1平坦化膜8の開口部Aの周端面と樹脂基板層10の上面との間に設けられた第3配線18jを介して、第1配線18h及び第2配線18iが互いに電気的に接続されている。ここで、第3配線18jは、第1配線18h及び第2配線18iと同一層に同一材料により形成されるが、第1平坦化膜8の開口部Aの周端面の傾斜した形状を利用して自動的に形成されるので、第1配線18h及び第2配線18iを形成する際に用いるフォトマスクに第3配線18jの平面形状を反映させる必要がない。これにより、第3配線18jを容易に形成することができるので、第1折り曲げ部Baに設けられた第1配線18hと、第2折り曲げ部Bbに設けられた第2配線18iとを電気的に容易に接続することができる。
 また、本実施形態の有機EL表示装置50によれば、第1配線18h及び第2配線18iが第2平坦化膜19上に設けられた第4配線21aを介して電気的に接続されているので、仮に、第3配線18jが断線しても、第1配線18h及び第2配線18iの間の電気的な接続を第4配線21aにより確保することができる。
 《その他の実施形態》
 なお、上記実施形態では、額縁領域の3辺で折り曲げ可能な折り曲げ部を有する有機EL表示装置を例示したが、本発明は、額縁領域の隣り合う2辺、又は4辺で折り曲げ可能な折り曲げ部を有する有機EL表示装置にも適用することができる。
 また、上記実施形態では、正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子輸送層及び電子注入層の5層積層構造の有機EL層を例示したが、有機EL層は、例えば、正孔注入層兼正孔輸送層、発光層、及び電子輸送層兼電子注入層の3層積層構造であってもよい。
 また、上記実施形態では、第1電極を陽極とし、第2電極を陰極とした有機EL表示装置を例示したが、本発明は、有機EL層の積層構造を反転させ、第1電極を陰極とし、第2電極を陽極とした有機EL表示装置にも適用することができる。
 また、上記実施形態では、第1電極に接続されたTFTの電極をドレイン電極とした素子基板を備えた有機EL表示装置を例示したが、本発明は、第1電極に接続されたTFTの電極をソース電極と呼ぶ素子基板を備えた有機EL表示装置にも適用することができる。
 また、上記実施形態では、表示装置として有機EL表示装置を例に挙げて説明したが、本発明は、電流によって駆動される複数の発光素子を備えた表示装置に適用することができる。例えば、量子ドット含有層を用いた発光素子であるQLED(Quantum-dot light emitting diode)を備えた表示装置に適用することができる。
 以上説明したように、本発明は、フレキシブルな表示装置について有用である。
B    折り曲げ部
Ba   第1折り曲げ部
Bb   第2折り曲げ部
C    分断ライン
D    表示領域
F    額縁領域
Ha,Hb    コンタクトホール
L    無機絶縁積層膜(少なくとも1層の無機絶縁膜)
S    スリット
T    端子部
8    額縁平坦化膜(第1平坦化膜)
10   樹脂基板
18a,18c  ソース電極
18g  電源線
18h  第1配線
18i  第2配線
18j  第3配線
18k  第5配線
18m  導電膜
19   第2平坦化膜
20   TFT層
21   第1電極(画素電極)
21a  第4配線
30   有機EL素子(発光素子)
50   有機EL表示装置

Claims (13)

  1.  樹脂基板と、
     上記樹脂基板上に設けられたTFT層と、
     上記TFT層上に設けられ、表示領域を構成する発光素子と、
     上記表示領域の周囲に設けられた少なくとも3辺の額縁領域と、
     上記少なくとも3辺の額縁領域の1辺の端部に設けられた端子部と、
     上記表示領域及び端子部の間に1方向に延びるように設けられた第1折り曲げ部と、
     上記第1折り曲げ部を有する額縁領域の1辺に隣り合う額縁領域の他の1辺に1方向に延びるように設けられた第2折り曲げ部と、
     上記少なくとも3辺の額縁領域に設けられ、上記樹脂基板上に積層された上記TFT層を構成する少なくとも1層の無機絶縁膜と、
     上記少なくとも1層の無機絶縁膜上に設けられた第1平坦化膜と、
     上記額縁領域の1辺において、上記第1平坦化膜上に設けられた第1配線と、
     上記額縁領域の他の1辺において、上記第1平坦化膜上に設けられた第2配線と、
     上記第1配線及び第2配線を覆うように設けられた第2平坦化膜とを備えた表示装置であって、
     上記第1折り曲げ部及び第2折り曲げ部では、上記少なくとも1層の無機絶縁膜に該無機絶縁膜を貫通して上記樹脂基板の上面を露出させるスリットが形成され、
     上記第1配線及び第2配線は、上記スリットから露出する上記樹脂基板の上面まで延設され、
     上記スリットの内部には、上記第1平坦化膜が設けられ、
     上記第1平坦化膜は、上記スリットの内部において、上記第1配線及び第2配線が延設された部分の間で上記樹脂基板の上面を露出させるように設けられ、
     上記第1配線及び第2配線は、上記第1平坦化膜の端面と上記樹脂基板の上面との間に設けられて該第1配線及び第2配線と同一層に同一材料により形成された第3配線を介して電気的に接続されていることを特徴とする表示装置。
  2.  請求項1に記載された表示装置において、
     上記第1配線及び第2配線は、上記第2平坦化膜上に設けられた第4配線を介して電気的に接続されていることを特徴とする表示装置。
  3.  請求項2に記載された表示装置において、
     上記発光素子は、画素電極を有し、
     上記第4配線は、上記画素電極と同一層に同一材料により形成されていることを特徴とする表示装置。
  4.  請求項1~3の何れか1つに記載された表示装置において、
     上記TFT層は、ソース電極を有し、
     上記第1配線、第2配線及び第3配線は、上記ソース電極と同一層に同一材料により形成されていることを特徴とする表示装置。
  5.  請求項1~4の何れか1つに記載された表示装置において、
     上記第1平坦化膜及び第2平坦化膜は、有機絶縁膜であることを特徴とする表示装置。
  6.  請求項2又は3に記載された表示装置において、
     上記第1配線及び第2配線は、上記第2平坦化膜に形成されたコンタクトホールを介して上記第4配線に電気的に接続されていることを特徴とする表示装置。
  7.  請求項1~6の何れか1つに記載された表示装置において、
     上記第1平坦化膜は、上記第1折り曲げ部及び第2折り曲げ部の上記表示領域と反対側において、上記少なくとも1層の無機絶縁膜の端部の上面を露出するように設けられ、
     上記第1平坦化膜の端面と上記少なくとも1層の無機絶縁膜の上面との間には、上記第1配線及び第2配線と同一層に同一材料により形成された導電膜が残存していることを特徴とする表示装置。
  8.  請求項1~7の何れか1つに記載された表示装置において、
     上記第3配線は、上記少なくとも1層の無機絶縁膜と重ならないように設けられていることを特徴とする表示装置。
  9.  請求項1~8の何れか1つに記載された表示装置において、
     上記額縁領域の1辺において、上記第1平坦化膜及び該第1平坦化膜から露出する上記少なくとも1層の無機絶縁膜上に上記第1折り曲げ部の延びる方向と交差する方向に互いに平行に延びるように複数の第5配線が設けられ、
     上記各第5配線は、第1配線及び第2配線と同一層に同一材料により形成されていることを特徴とする表示装置。
  10.  請求項1~9の何れか1つに記載された表示装置において、
     上記スリットは、上記第1折り曲げ部及び第2折り曲げ部の延びる方向に沿って突き抜ける溝状に設けられていることを特徴とする表示装置。
  11.  請求項1~10の何れか1つに記載された表示装置において、
     上記額縁領域の1辺と上記額縁領域の他の1辺とが交差する部分では、上記樹脂基板の一部が切り欠かれていることを特徴とする表示装置。
  12.  請求項1~11の何れか1つに記載された表示装置において、
     上記第1配線、第2配線及び第3配線は、ハイレベル電源線に電気的に接続されていることを特徴とする表示装置。
  13.  請求項1~12の何れか1つに記載された表示装置において、
     上記発光素子は、有機EL素子であることを特徴とする表示装置。
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