WO2019097569A1 - 衝撃試験装置 - Google Patents

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WO2019097569A1
WO2019097569A1 PCT/JP2017/040917 JP2017040917W WO2019097569A1 WO 2019097569 A1 WO2019097569 A1 WO 2019097569A1 JP 2017040917 W JP2017040917 W JP 2017040917W WO 2019097569 A1 WO2019097569 A1 WO 2019097569A1
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WO
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guide
falling
drop
guide post
impact
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PCT/JP2017/040917
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English (en)
French (fr)
Inventor
浩 谷口
Original Assignee
神栄テストマシナリー株式会社
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M7/00—Vibration-testing of structures; Shock-testing of structures
    • G01M7/08—Shock-testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/30—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying a single impulsive force, e.g. by falling weight
    • G01N3/303—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying a single impulsive force, e.g. by falling weight generated only by free-falling weight

Definitions

  • the present invention relates to an impact test apparatus for testing an impact when a test object such as an electronic device is dropped.
  • test objects electronic devices such as mobile phones and notebook computers and household appliances
  • test objects As an apparatus for performing such a drop test, there is an apparatus for causing a hand holding a test object to drop from a predetermined height and causing it to collide with a metal part, a concrete part or the like. In this test, the damage state due to the drop of the test object is confirmed.
  • the impact test there is also a test for detecting an impact pulse when the test object is dropped. JIS C-60068-2-27 defines this test method. In this specification, the magnitude of the impact pulse, the action time, the number of tests, the direction, etc. are specified.
  • test object such as an extremely thin and lightweight electronic device is held by a hand portion, and this test object is allowed to freely fall from a predetermined height together with the hand portion.
  • a test object is caused to collide with a collision block, and the impact at that time is measured (see, for example, Patent Document 1).
  • an object of this invention is to provide the impact test apparatus which can reduce the resistance between a fall part and a guide pillar, and can perform an impact test with high drop accuracy.
  • the present invention is a drop test apparatus for testing an impact when an object to be tested is dropped from a predetermined height, and a guide post erected on a base portion, and the test object And a control unit for causing the falling unit to drop from a predetermined height, and a guide unit guided by the guide pillars of the falling unit.
  • a noncontact support portion is provided between the guide post and the control portion, and the control portion is configured to keep the noncontact support portion in a noncontact state with the guide post when the falling portion falls.
  • the “non-contact support” in the specification and claims is a support that actively maintains a non-contact state when the falling part falls, and is temporary due to the weight balance of the test object, etc. Includes support with contacts.
  • the falling portion in which the guide portion is guided and dropped by the guide post is dropped in a non-contact state with the guide post by the non-contact support portion between the guide portion and the guide post.
  • the resistance between the guide portion of the drop portion and the guide post can be reduced, and an impact test with high drop accuracy can be performed.
  • the repeatability of the impact test can be enhanced.
  • the said guide pillar may be comprised by one which guides the center position of the said fall part.
  • the said guide pillar may be comprised by multiple pieces which guide the left-right position of the said fall part.
  • the non-contact support portion is constituted by an air bearing provided in the guide portion, and the control portion supplies air to the air bearing when the drop portion falls, and the air is interposed between the control portion and the guide post. It may be configured to form a space. According to this structure, the air supplied to the air bearing can reduce the frictional resistance in the air space formed between the guide post and the drop portion, and the drop portion can be dropped with high accuracy.
  • the drop portion includes a pair of arm members extending forward from the left and right positions of the guide portion, and a hand portion extending in the left and right direction toward a central portion of the pair of arm members.
  • the air removal part may be provided in the opposite direction to the hand part of the guide part.
  • the noncontact support portion may be configured by a magnetic levitation mechanism provided between the guide portion and the guide post. According to this structure, it is possible to reduce the frictional resistance by the magnetic floating mechanism between the guide portion and the guide post of the drop portion, and to drop the drop portion with high drop accuracy.
  • the frictional resistance between the falling portion and the guide column is reduced, and the impact test with high drop accuracy is performed. It becomes possible.
  • FIG. 1 is a side view of a first impact test apparatus according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II-II in FIG.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line III-III shown in FIG.
  • FIG. 4 is a side view showing the state of the drop impact test by the first impact tester shown in FIG.
  • FIG. 5 is a side view of a second impact test apparatus according to a second embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a side view showing the state of the drop impact test by the second impact tester shown in FIG.
  • FIG. 7 is a perspective view of a third impact test apparatus according to a third embodiment of the present invention.
  • first impact test device 1 according to the first embodiment shown in FIG. 1 will be mainly described, and the second impact test device 2 according to the second embodiment shown in FIG. 5 and the second impact test device shown in FIG.
  • third impact test device 3 In the description of the third impact test device 3 according to the third embodiment, only portions different from the first impact test device 1 will be described.
  • the left-right direction concept in the specification and claims is consistent with the left-right direction concept of the first impact test device 1 of FIG. 1 as viewed from the right.
  • FIG. 1 is a side view of the first impact test device 1 according to the first embodiment.
  • 2 is a cross-sectional view taken along line II-II shown in FIG. 1
  • FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line III-III shown in FIG.
  • one main pillar 11 is erected on the base portion 10, and a guide pillar 12 is erected on the front of the main pillar 11.
  • the base portion 10 can use a metal plate having a rectangular shape in plan view.
  • the main column 11 is a rectangular column, and in this embodiment, a section steel having a predetermined strength is used.
  • the guide post 12 is a post having a circular cross section in this embodiment, the lower end is fixed to the base portion 10 and the upper end is fixed to the main post 11 by a fixing member 13.
  • the guide post 12 of this embodiment is configured by one guiding a central position in the left-right direction of the falling portion 20 described below.
  • the guide post 12 is provided with a drop portion 20 which holds the test object 100 and moves in the vertical direction along the guide post 12.
  • a guide roller 23 which moves in the vertical direction along the traveling plate 11 a provided on the main column 11 is provided.
  • the guide rollers 23 guide the left and right positions of the falling portion 20 as described later.
  • the drop section 20 is guided at three locations and moved in the vertical direction by the guide column 12 at the center position and the guide rollers 23 at the left and right positions.
  • a height scale 14 indicating a test height (predetermined height) for dropping the falling portion 20 is provided.
  • the height scale 14 can use an SI unit measure or the like.
  • the guide post 12 is provided with a drop holder 16 held at a predetermined height.
  • a height indication member 15 indicating a test height by the height scale 14 of the main column 11 is installed.
  • the fall part holding part 16 can use what hold
  • the falling portion holding portion 16 is provided with a fastener 17 for fixing the guide post 12 at a test height position.
  • the fastener 17 may be any one as long as it can fix the falling portion holding portion 16 to the guide post 12, and, for example, one that grips the periphery of the guide post 12 can be used.
  • the main column 11 is provided with a sensor 18 that detects that the falling portion 20 has fallen to a predetermined distance.
  • the sensor 18 is for releasing the grip of the test object 100 by the hand unit 22 by detecting the detection unit 27 of the falling unit 20.
  • the base portion 10 is provided with a damper 19 that reduces the impact when the falling portion 20 falls.
  • the damper 19 can be configured by an air damper or the like.
  • the main column 11 is provided with a control unit 30 for dropping the falling portion 20 held at the test height of the guide column 12.
  • the control unit 30 includes a processor, a volatile memory, a non-volatile memory, an I / O interface, and the like.
  • the control unit 30 includes an operation unit, a storage unit, an output unit, an input unit, and the like.
  • the output unit and the input unit are realized by an I / O interface.
  • the storage unit is realized by volatile memory and non-volatile memory. By the operation of the operation unit, the processor performs arithmetic processing using the volatile memory based on the program stored in the non-volatile memory to control each unit.
  • the control unit 30 controls the drop unit 20 held by the drop unit holding unit 16 to drop at the test height, as will be described later, and detects that the drop unit 20 has passed the position of the sensor 18 and thereby the hand unit 22 Control to release the
  • the fixing portion 12 a is provided on the main pillar 11 side of the one guide pillar 12, and the fixing portion 12 a is fixed to the main pillar 11 by the fixing bolt 12 b. It is done.
  • the drop unit 20 of the first impact test device 1 that drops the guide post 12 has a hand 22 that holds the test object 100 (FIG. 1) in the left-right direction.
  • the hand portion 22 is provided at the tip of a pair of arm members 21 extending forward from the falling portion 20.
  • the hand portion 22 is extended from the left and right direction toward the central portion by an air cylinder 22a provided at the left and right positions, and holds the test object 100.
  • the drop portion 20 is provided with one guide portion 24 guided by the guide post 12.
  • the guide portion 24 is provided with an air bearing 25 which is a noncontact support portion for supporting the guide post 12 in a noncontact state.
  • Air is supplied to the air bearing 25 from an air hose 28 connected to an air supply port 25 a provided on the side of the falling portion 20.
  • the air supplied from the air supply port 25a is supplied to the air bearing 25 from the air supply hole 25b, and the air bearing 25 forms an air space S between the guide portion 24 and the guide pillar 12 when falling, thereby causing non-contact. It is supposed to keep the condition of
  • the air bearing 25 has an air vent 26 in the direction opposite to the hand 22 in the guide 24.
  • an air vent 26 is provided on the side of the fixed portion 12 a on the main column 11 side.
  • the air supplied between the guide portion 24 and the guide post 12 to form the air space S is extracted in the opposite direction to the hand portion 22 of the guide portion 24.
  • the air space S formed between the guide portion 24 in the direction of the hand portion 22 and the guide post 12 is stably maintained. Therefore, even if the downward load is increased by gripping the test object 100 with the hand portion 22, the falling portion 20 is maintained with the air space S between the guide portion 24 and the guide post 12 on the hand portion 22 side kept. Can be dropped.
  • the control unit 30 controls the injection of air from the air bearing 25 when the falling portion 20 falls, and forms an air space S between the guide portion 24 and the guide post 12 so as to maintain a non-contact state. Control air supply.
  • FIG. 1 shows the state before the start of the impact test by the first impact test device 1.
  • the test object 100 is gripped by the hand unit 22 of the drop unit 20.
  • the test object 100 is held in a posture to be dropped.
  • the falling portion holding portion 16 is lifted so that the height indication member 15 installed in the falling holding portion 16 becomes the test height, and the guide post 12 is fixed by the fastener 17. Hold on.
  • the falling portion 20 is lifted to the test height of the falling portion holding portion 16 by the operator, and the falling portion holding portion 16 Held by As a result, the falling portion 20 is held at the test height.
  • the drop portion holding portion 16 is configured to be capable of remote control such as an electromagnet, and the drop portion holding portion 16 holds the drop portion holding portion 16 in a state of being held at the test height.
  • the drop unit 20 may be held by the drop unit holding unit 16 and integrally lifted to a test height.
  • FIG. 4 is a side view showing the state of the drop impact test by the first impact test device 1 shown in FIG.
  • the impact test by the first impact test apparatus 1 is performed as follows.
  • the operation to start the test is performed by the control unit 30, air is supplied to the air bearing 25 provided in the guide portion 24 of the falling portion 20, and an air space S is formed between the air bearing 25 and the guide post 12.
  • the holding of the falling portion 20 by the falling portion holding portion 16 is released.
  • the falling portion holding portion 16 is configured to include an electromagnet, the holding of the falling portion 20 by the electromagnet is released.
  • the falling portion 20 freely falls along the guide post 12.
  • the falling portion 20 falls with the guide post 12 because the air bearing 25 provided in the guide portion 24 keeps the air space S between the guide post 12 and the air space S being formed. It can be dropped without contact. As a result, the drop unit 20 can be dropped smoothly and freely.
  • the detection unit 27 of the drop unit 20 is detected by the sensor 18, the gripping of the test object 100 by the hand unit 22 is released, and the test object 100 is gripped by the hand unit 22. Drop into section 10. The falling portion 20 is received by the damper 19 to be shock absorbed. In the state of FIG. 4, the test object 100 is dropped in a state of being separated from the hand portion 22, and the falling portion 20 is supported by the damper 19.
  • the falling unit 20 is moved to the height of the sensor 18 near the base unit 10. And the guide post 12 are dropped smoothly in a non-contact state. Then, by opening the hand portion 22 at the height of the sensor 18 and letting only the test object 100 fall freely, it is possible to perform a test in which the test object 100 is dropped in an oblique state or the like with high reproducibility. Therefore, it is possible to perform an impact test (drop test) with high drop accuracy on the test object 100.
  • FIG. 5 is a side view of the second impact test device 2 according to the second embodiment.
  • FIG. 6 is a side view showing the state of the drop impact test by the second impact tester 2 shown in FIG.
  • the second impact test apparatus 2 is a test apparatus used when the weight of the test object 100 is larger than that of the first impact test apparatus 1 described above.
  • the falling portion 20 is dropped along the one guide pillar 12, but in the second impact test device 2, the falling portions 40 are along the two (plural) guide posts 12. I am letting it fall.
  • the drive machine 41 (motor) which raises the fall part 40 to test height is provided.
  • the same components as those of the first impact test device 1 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.
  • two guide pillars 12 are provided upright at the left and right positions (the direction orthogonal to the sheet of the drawing) of the base portion 10.
  • the falling portion 40 is provided with a guide portion 24 which moves in the vertical direction along the two guide columns 12.
  • Each of the guides 24 is provided with an air bearing 25.
  • the air bearings 25 are provided at symmetrical positions with respect to the center of the falling portion 40.
  • the configurations of the guide portion 24 and the air bearing 25 are the same as those of the first embodiment, and thus the description thereof is omitted.
  • the configuration of the hand unit 22 provided in the falling unit 40 is also the same as that shown in FIGS.
  • the number of the guide pillars 12 is not limited to this embodiment.
  • a drive base 42 is provided across the upper end of the main column 11 and the upper end of the guide post 12, and the drive base 41 is provided with the drive 41.
  • the guide post 12 is provided with a falling portion holding portion 46 for holding the falling portion 40.
  • this falling part holding part 46 for example, one that holds the falling part 40 in the lower part using an electromagnet can be used.
  • a rope-like body 43 (for example, a chain, a wire rope, etc.) suspended from the drive unit 41 is connected to the falling portion holding unit 46. The falling portion holding portion 46 is wound up by driving the drive unit 41.
  • the main pillar 11 is provided with a height indication member 45 which holds the test scale (predetermined height) of the height scale 14.
  • the height indication member 45 of the second impact test device 2 is provided on the top of the height holding portion 45 a fixed to the main pillar 11 with the fasteners 47. In the case of the second impact test device 2, the height holding portion 45 a is fixed by the fastener 47 in a state where the height indication member 45 is at the test height position of the height scale 14.
  • the drop holder 46 of this embodiment is held by the cord 43 at any height of the guide post 12. Further, the falling portion holding portion 46 of this embodiment has a proximity sensor 46a, and the height sensor 45a is detected by the proximity sensor 46a.
  • the control unit 31 raises the falling part holding part 46 holding the falling part 40 by winding up the cord-like body 43 by the driving device 41, and the proximity sensor 46a of the falling part holding part 46 detects the height holding part 45a. By doing this, it is detected that the falling part 40 has reached the test height. Thereby, the drive machine 41 is stopped.
  • FIG. 5 shows the state before the start of the impact test by the second impact test device 2.
  • the test object 100 is gripped by the hand portion 22 of the falling portion 40.
  • the height indication member 45 positioned at the test height based on the height scale 14 of the main column 11, the height holding portion 45 a is fixed by the fastener 47.
  • the falling part holding part 46 holding the falling part 40 is raised by the driving device 41. Then, when the proximity sensor 46 a of the falling portion holding portion 46 detects the height indication member 45, the driving device 41 is stopped, and the falling portion holding portion 46 is held at a predetermined height of the guide post 12. As a result, the falling portion 40 is held at the test height and is in a state before the start of the test.
  • the falling portion holding portion 46 holds the falling portion 40 with a configuration that allows remote control such as an electromagnet.
  • FIG. 6 is a side view showing the state of the drop impact test by the second impact tester 2 shown in FIG.
  • the impact test by the second impact test apparatus 2 is performed by the operation of the test start in the control unit 31.
  • air is supplied to the air bearing 25 (FIG. 2) provided in the guide portion 24 of the drop portion 40, and an air space S is formed between the air bearing 25 and the guide post 12. Ru.
  • the holding of the falling portion 40 by the falling portion holding portion 46 is released.
  • the holding of the falling portion 40 by the electromagnet (not shown) of the falling portion holding portion 46 is released.
  • the falling portion 40 freely falls along the guide pillar 12.
  • the falling portion 40 falls in a state in which the air space S with the guide post 12 is maintained by the air bearing 25 provided in the guide portion 24, so the guide portion 24 falls in a non-contact state with the guide post 12 It can be done. Thereby, the falling part 40 can be freely dropped freely.
  • the detection unit 27 (FIG. 2) of the falling unit 40 is detected by the sensor 18, the gripping of the test object 100 by the hand unit 22 is released, and the test object 100 is gripped by the hand unit 22 Falls to the base portion 10 in the posture of The falling portion 40 is received by the damper 19 to be shock absorbed.
  • the test object 100 is dropped in a state of being separated from the hand portion 22, and the falling portion 40 is supported by the damper 19.
  • the falling portion 40 and the guide post 12 are as high as the sensor 18 near the base portion 10. make it fall smoothly in a non-contact state. Then, by opening the hand portion 22 at the height of the sensor 18 and letting only the test object 100 fall freely, it is possible to perform a test in which the test object 100 is dropped in an oblique state or the like with high reproducibility. Therefore, it is possible to perform an impact test (drop test) with high drop accuracy on the test object 100.
  • the falling portion 40 is guided and moved vertically by the two guide columns 12. Then, while maintaining the posture of the test object 100 gripped by the hand portion 22 of the falling portion 40, the falling portion 40 can be smoothly dropped from the test height, and an impact test with high drop accuracy can be performed. . Therefore, even with the test object 100 (for example, less than 10 kg, etc.) that is heavier than the test object 100 in the first impact test device 1, it is possible to perform an impact test with high reproducibility.
  • FIG. 7 is a front view of the third impact test device 3 according to the third embodiment.
  • the third impact tester 3 is used when testing a relatively large test object 100.
  • the third impact test device 3 is to drop the test object 100 with the test object 100 placed on the drop portion 50, and detect an impact pulse at the time of drop by an impact detection sensor 51 provided on the drop portion 50.
  • the same components as those of the first impact test device 1 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.
  • a collision member 53 is provided at the center of the collision part 52.
  • two (plural) guide pillars 12 are erected upward from the base part 10, and a falling part 50 moving in the vertical direction along the guide pillars 12 is provided .
  • the drop unit 50 is moved upward by, for example, an air cylinder (not shown).
  • a holder (not shown) for holding the guide pillar 12 at the test height is provided inside the falling portion 50.
  • the holding portion may use, for example, a brake that holds the guide post 12 using a solenoid valve or the like.
  • the falling portion 50 falls freely from the test height and is made to collide with the collision member 53.
  • an air bearing 25 is provided in the guide portion 24 of the falling portion 50, and an air space S (see FIG. 2) is formed between the guide portion 24 and the guide post 12 by the air bearing 25. And the falling portion 50 in a non-contact state with the guide post 12.
  • the impact test is performed by a test start operation in the control unit 32.
  • a test start operation is performed in the control unit 32
  • the holding unit is opened, and the falling unit 50 freely falls along the guide post 12.
  • the guide portion 24 of the drop portion 50 and the guide post 12 can be dropped by the air bearing 25 in a non-contact state.
  • the falling part 50 can be freely dropped freely.
  • the falling portion 50 is caused to collide with the collision member 53.
  • the impact pulse at this time is detected by the impact detection sensor 51.
  • the measured acceleration can be quantified by analyzing it using an acceleration measurement analysis system (not shown). Thereby, a shock pulse can be obtained.
  • the test object 100 is smoothly dropped from the test height in order to drop the falling portion 50 without contacting the guide column 12, and the impact test with high drop accuracy is performed. It is possible to do Therefore, even with the test object 100 (for example, several tens of kg) which is heavier than the test object 100 in the second impact test device 2, it is possible to perform an impact test with high reproducibility.
  • the air bearing 25 is taken as an example of the non-contact support between the falling parts 20, 40, 50 and the guide post 12, but as the non-contact support, the guide 24 and the guide post 12 are used. And a magnetic levitation mechanism provided between them.
  • the magnetic levitation mechanism may be configured to magnetically levitate under the control of the control units 30 to 32.
  • the configuration of the air bearing 25 (non-contact support portion) in the above-described embodiment is an example, and the non-contact support portion includes the guide post 12 and the falling portions 20, 40, 50 moving vertically along the guide post 12.
  • the configuration is not limited to the above-described embodiment as long as it is configured to keep the contact between them in a non-contact state.
  • the above-described embodiment shows an example, and the present invention can be implemented as long as the falling portions 20, 40, 50 are configured to be dropped along the guide post 12, and the biasing means Various configurations may be changed as long as the gist of the present invention is not impaired, such as a configuration in which the ink is forcibly dropped, and the present invention is not limited to the above-described embodiment.

Abstract

ベース部に立設したガイド柱と、試験対象物を保持してガイド柱に沿って上下方向に移動する落下部と、落下部を所定高さから落下させる制御部と、を備え、落下部のガイド柱にガイドされるガイド部とガイド柱との間に非接触支持部を有し、制御部は、落下部の落下時に非接触支持部でガイド柱との間を非接触の状態に保つように構成されている。これにより、試験対象物を所定高さから落下させたときの衝撃を試験する衝撃試験装置において、落下部とガイド柱との接触による摩擦抵抗を低減させて落下精度を高くする。

Description

衝撃試験装置
　本発明は、電子機器などの試験対象物を落下させたときの衝撃を試験するための衝撃試験装置に関する。
　従来、携帯電話やノートパソコンなどの電子機器及び家電品など（以下、「試験対象物」ともいう）は、搬送及び使用時における落下の衝撃で破損するかどうかの試験が行われている。このような落下試験を行う装置として、試験対象物を把持したハンド部を所定高さから落下させて金属部やコンクリート部などに衝突させる装置がある。この試験では、試験対象物の落下による損傷状態などを確認している。一方、衝撃試験には、試験対象物を落下させたときの衝撃パルスを検出する試験もある。この試験方法として、ＪＩＳ　Ｃ－６００６８－２－２７に規定がある。この規定では、衝撃パルスの大きさ、作用時間、試験回数、方向などについて指定されている。
　この種の衝撃試験装置に関する先行技術として、例えば、極薄で軽量化された電子機器などの試験対象物をハンド部で把持し、この試験対象物をハンド部とともに所定高さから自由落下させて試験対象物を衝突ブロックに衝突させ、その時の衝撃を測定するものがある（例えば、特許文献１参照）。
日本国　特開２００３－３４４２５２号公報
　ところで、上記した特許文献１のような衝撃試験装置では、試験対象物を把持したハンド部をガイド柱に沿って落下させるため、ハンド部のガイド部とガイド柱との間には僅かな隙間が設けられ、樹脂製の滑りベアリングなどが設けられている。
　しかし、試験対象物を把持したハンド部がガイド柱に沿って落下するときには、ガイド部がガイド柱に接触しながら落下するため、この接触によって生じる摩擦抵抗によってハンド部にふらつきなどを生じて落下精度が悪くなる場合がある。このような場合、衝撃試験の再現性が悪化する。
　そこで、本発明は、落下部とガイド柱との間の抵抗を低減させて落下精度の高い衝撃試験が行える衝撃試験装置を提供することを目的とする。
　この目的を達成するために、本発明は、試験対象物を所定高さから落下させたときの衝撃を試験する落下試験装置であって、ベース部に立設したガイド柱と、前記試験対象物を保持して前記ガイド柱に沿って上下方向に移動する落下部と、前記落下部を所定高さから落下させる制御部と、を備え、前記落下部の前記ガイド柱にガイドされるガイド部と前記ガイド柱との間に非接触支持部を有し、前記制御部は、前記落下部の落下時に前記非接触支持部で前記ガイド柱との間を非接触の状態に保つように構成されている。この明細書及び特許請求の範囲の書類中における「非接触支持部」は、落下部の落下時に積極的に非接触の状態を保つ支持部であり、試験対象物の重量バランスなどによって一時的な接触がある支持部を含む。
　この構成により、ガイド柱にガイド部がガイドされて落下する落下部を、ガイド部とガイド柱との間の非接触支持部によってガイド柱と非接触の状態で落下させる。これにより、落下部のガイド部とガイド柱との間の抵抗を低減して、落下精度の高い衝撃試験を行うことができる。よって、衝撃試験の再現性を高めることができる。
　また、前記ガイド柱は、前記落下部の中央位置をガイドする１本で構成されていてもよい。このように構成すれば、落下部を１本のガイド柱に沿って落下させて試験を行う軽量用の衝撃試験装置において、落下させる落下部とガイド柱との間の抵抗を低減して落下精度の高い衝撃試験を行うことができる。
　また、前記ガイド柱は、前記落下部の左右位置をガイドする複数本で構成されていてもよい。このように構成すれば、落下部を複数本のガイド柱に沿って落下させて試験を行う重量用の衝撃試験装置において、落下させる落下部とガイド柱との間の抵抗を低減して落下精度の高い衝撃試験を行うことができる。
　また、前記非接触支持部は、前記ガイド部に備えられたエアベアリングで構成され、前記制御部は、前記落下部の落下時に前記エアベアリングにエアを供給して前記ガイド柱との間にエア空間を形成するよう構成されていてもよい。このように構成すれば、エアベアリングに供給されたエアによってガイド柱と落下部との間に形成されるエア空間で摩擦抵抗を低減し、落下部を落下精度良く落下させることができる。
　また、前記落下部は、前記ガイド部の左右位置から前方に延びる一対のアーム部材と、一対の前記アーム部材の中央部分に向けて左右方向から延びるハンド部と、を有し、前記エアベアリングは、前記ガイド部の前記ハンド部と反対方向にエア抜き部を有していてもよい。このように構成すれば、エアベアリングによって形成されるエア空間のエアがハンド部と反対方向に抜けるため、ハンド部で試験対象物を把持することで下向き荷重が増すハンド部方向においてガイド柱との間のエア空間を保った状態で落下部を落下させることができる。
　また、前記非接触支持部は、前記ガイド部と前記ガイド柱との間に備えられた磁気浮上機構で構成されていてもよい。このように構成すれば、落下部のガイド部とガイド柱との間の磁気浮上機構によって摩擦抵抗を低減し、落下部を落下精度良く落下させることができる。
　本発明によれば、落下部を非接触支持部によってガイド柱と非接触の状態で落下させるので、落下部とガイド柱との間の摩擦抵抗を低減して、落下精度の高い衝撃試験を行うことが可能となる。
図１は、本発明の第１実施形態に係る第１衝撃試験装置の側面図である。 図２は、図１に示すII－II矢視の断面図である。 図３は、図２に示すIII－III矢視の断面図である。 図４は、図１に示す第１衝撃試験装置による落下衝撃試験の状態を示す側面図である。 図５は、本発明の第２実施形態に係る第２衝撃試験装置の側面図である。 図６は、図５に示す第２衝撃試験装置による落下衝撃試験の状態を示す側面図である。 図７は、本発明の第３実施形態に係る第３衝撃試験装置の斜視図である。
　以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。以下の実施形態では、図１に示す第１実施形態に係る第１衝撃試験装置１を主に説明し、図５に示す第２実施形態に係る第２衝撃試験装置２と図７に示す第３実施形態に係る第３衝撃試験装置３の説明は、第１衝撃試験装置１と異なる部分のみを説明する。この明細書及び特許請求の範囲の書類中における左右方向の概念は、図１の第１衝撃試験装置１を右方向から見た状態における左右方向の概念と一致するものとする。
　（第１実施形態に係る第１衝撃試験装置）
　図１は、第１実施形態に係る第１衝撃試験装置１の側面図である。図２は、図１に示すII－II矢視の断面図、図３は、図２に示すIII－III矢視の断面図である。
　図１に示すように、ベース部１０には、１本の主柱１１が立設され、主柱１１の前方にガイド柱１２が立設されている。ベース部１０は、平面視が矩形状の金属板を用いることができる。主柱１１は、矩形状の柱であり、この実施形態では所定の強度を有する形鋼が用いられている。ガイド柱１２は、この実施形態では円形断面の柱材であり、下端はベース部１０に固定され、上端は固定部材１３で主柱１１に固定されている。この実施形態のガイド柱１２は、以下に説明する落下部２０の左右方向の中央位置をガイドする１本で構成されている。
　ガイド柱１２には、試験対象物１００を保持してガイド柱１２に沿って上下方向に移動する落下部２０が設けられている。落下部２０は、１本のガイド柱１２に沿って上下方向に移動するため、主柱１１に設けられた走行板１１ａに沿って上下方向に移動するガイドローラ２３が設けられている。ガイドローラ２３は、後述するように落下部２０の左右位置をガイドしている。落下部２０は、中央位置のガイド柱１２と左右位置のガイドローラ２３とによって、３箇所でガイドされて上下方向に移動するようになっている。
　また、主柱１１の側面には、落下部２０を落下させる試験高さ（所定高さ）を示す高さスケール１４が設けられている。高さスケール１４は、ＳＩ単位のメジャーなどを用いることができる。
　ガイド柱１２には、所定高さに保持される落下部保持部１６が設けられている。落下部保持部１６には、主柱１１の高さスケール１４によって試験高さを示す高さ指示部材１５が設置されている。落下部保持部１６は、例えば、電磁石を用いて落下部２０を保持するものを用いることができる。電磁石の他、フックなどで落下部２０を保持する構成としてもよい。落下部保持部１６には、ガイド柱１２の試験高さ位置に固定するための留め具１７が設けられている。留め具１７は、落下部保持部１６をガイド柱１２に固定できればよく、例えば、ガイド柱１２の周囲を把持するものを用いることができる。
　主柱１１には、落下部２０が所定距離まで落下したことを検知するセンサ１８が備えられている。このセンサ１８は、落下部２０の検知部２７を検知することでハンド部２２による試験対象物１００の把持を開放するためのものである。
　ベース部１０には、落下部２０が落下したときの衝撃を緩和するダンパ１９が設けられている。ダンパ１９は、エアダンパなどで構成することができる。
　さらに、主柱１１には、ガイド柱１２の試験高さで保持された落下部２０を落下させる制御部３０が設けられている。制御部３０は、プロセッサ、揮発性メモリ、不揮発性メモリ及びＩ／Ｏインターフェース等を有する。制御部３０は、操作部、記憶部、出力部、入力部などを有する。出力部及び入力部は、Ｉ／Ｏインターフェースにより実現される。記憶部は、揮発性メモリ及び不揮発性メモリにより実現される。操作部での操作により、不揮発性メモリに保存されたプログラムに基づいてプロセッサが揮発性メモリを用いて演算処理して各部が制御される。
　この制御部３０により、後述するように、試験高さで落下部保持部１６によって保持した落下部２０を落下させる制御、落下部２０がセンサ１８の位置を通過したことを検知してハンド部２２を開放する制御、などが行われる。
　図２、３に示すように、この実施形態では、上記１本のガイド柱１２の主柱１１側に固定部１２ａが設けられており、この固定部１２ａが主柱１１に固定ボルト１２ｂで固定されている。このガイド柱１２に沿って落下させる第１衝撃試験装置１の落下部２０は、試験対象物１００（図１）を左右方向から把持するハンド部２２を有している。ハンド部２２は、落下部２０から前方に延びる一対のアーム部材２１の先端部に設けられている。ハンド部２２は、左右位置に設けられたエアシリンダ２２ａによって中央部分に向けて左右方向から伸長され、試験対象物１００を把持するようになっている。
　上記落下部２０には、このガイド柱１２にガイドされる１つのガイド部２４が備えられている。そして、このガイド部２４に、ガイド柱１２との間を非接触の状態で支持する非接触支持部たるエアベアリング２５が備えられている。エアベアリング２５には、落下部２０の側部に設けられたエア供給口２５ａに接続されたエアホース２８からエアが供給される。エア供給口２５ａから供給されたエアは、エア供給穴２５ｂからエアベアリング２５に供給され、このエアベアリング２５によって落下時にガイド部２４とガイド柱１２との間にエア空間Ｓを形成して非接触の状態を保つようになっている。
　エアベアリング２５は、ガイド部２４におけるハンド部２２と反対方向にエア抜き部２６を有している。この実施形態では、主柱１１側の固定部１２ａの側部にエア抜き部２６が設けられている。これにより、ガイド部２４とガイド柱１２との間に供給されてエア空間Ｓを形成したエアは、ガイド部２４のハンド部２２と反対方向に抜かれる。これにより、ハンド部２２の方向のガイド部２４とガイド柱１２との間に形成されるエア空間Ｓを安定して保っている。従って、ハンド部２２で試験対象物１００を把持することで下向き荷重が増したとしても、ハンド部２２側におけるガイド部２４とガイド柱１２との間のエア空間Ｓを保った状態で落下部２０を落下させることができる。
　上記制御部３０は、落下部２０の落下時におけるエアベアリング２５からのエア噴射を制御し、ガイド部２４とガイド柱１２との間にエア空間Ｓを形成して非接触の状態を保つようにエア供給量を制御する。
　（第１衝撃試験装置による落下衝撃試験）
　上記図１は、第１衝撃試験装置１による衝撃試験開始前の状態を示している。第１衝撃試験装置１によれば、まず、落下部２０のハンド部２２によって試験対象物１００を把持する。この時、試験対象物１００を落下させたい姿勢で把持する。また、主柱１１の高さスケール１４に基づいて、落下保持部１６に設置された高さ指示部材１５が試験高さになるように落下部保持部１６を持ち上げて留め具１７によってガイド柱１２に保持する。
　そして、第１衝撃試験装置１の場合、比較的小型の試験対象物１００を対象としているため、作業者によって落下部２０が落下部保持部１６の試験高さまで持ち上げられて、落下部保持部１６によって保持される。これにより、落下部２０が試験高さに保持された状態となる。落下部保持部１６は、電磁石などの遠隔操作が可能な構成が用いられており、落下部２０はこの落下部保持部１６によって試験高さで保持された状態が保たれる。なお、落下部保持部１６で落下部２０を保持し、これらを一体的に試験高さまで持ち上げるようにしてもよい。
　図４は、図１に示す第１衝撃試験装置１による落下衝撃試験の状態を示す側面図である。第１衝撃試験装置１による衝撃試験は、以下のように行われる。制御部３０によって、試験開始の操作が行われると、落下部２０のガイド部２４に備えられたエアベアリング２５にエアが供給されてガイド柱１２との間にエア空間Ｓが形成される。その後、落下部保持部１６による落下部２０の保持が開放される。落下部保持部１６が電磁石を備えた構成の場合、電磁石による落下部２０の保持が解除される。
　これにより、落下部２０がガイド柱１２に沿って自由落下する。この時、落下部２０は、ガイド部２４に備えられたエアベアリング２５によってガイド柱１２との間のエア空間Ｓが形成された状態が保たれて落下するため、ガイド部２４をガイド柱１２と非接触の状態で落下させることができる。これにより、落下部２０をスムーズに自由落下させることができる。
　そして、落下部２０の検知部２７がセンサ１８で検知されると、ハンド部２２による試験対象物１００の把持が開放され、試験対象物１００はハンド部２２で把持していた状態の姿勢でベース部１０に落下する。落下部２０は、ダンパ１９によって受けられて衝撃吸収される。図４の状態では、試験対象物１００はハンド部２２から離れた状態で落下しており、落下部２０はダンパ１９で支持された状態である。
　従って、第１衝撃試験装置１によれば、例えば、数ｋｇの試験対象物１００を落下部２０のハンド部２２で斜めに把持した状態で、ベース部１０に近いセンサ１８の高さまで落下部２０とガイド柱１２とが非接触の状態でスムーズに落下させる。そして、センサ１８の高さでハンド部２２を開放して試験対象物１００のみを自由落下させることで、試験対象物１００を斜めの状態などで落下させる試験を再現性高く行うことができる。よって、試験対象物１００に対して落下精度の高い衝撃試験（落下試験）を行うことが可能となる。
　（第２実施形態に係る第２衝撃試験装置）
　図５は、第２実施形態に係る第２衝撃試験装置２の側面図である。図６は、図５に示す第２衝撃試験装置２による落下衝撃試験の状態を示す側面図である。第２衝撃試験装置２は、上記第１衝撃試験装置１よりも試験対象物１００の重量が大きい場合に用いられる試験装置である。第１衝撃試験装置１では落下部２０を１本のガイド柱１２に沿って落下させているが、第２衝撃試験装置２では落下部４０を２本（複数本）のガイド柱１２に沿って落下させている。また、落下部４０を試験高さまで持ち上げる駆動機４１（モータ）が設けられている。上記第１衝撃試験装置１と同一の構成には同一符号を付し、その説明は省略する。
　第２衝撃試験装置２は、ベース部１０の左右位置（図の紙面直交方向）に２本のガイド柱１２が立設されている。そして、落下部４０には、２本のガイド柱１２に沿って上下方向に移動するガイド部２４が設けられている。これらのガイド部２４には、それぞれエアベアリング２５が設けられている。エアベアリング２５は、落下部４０の中心に対して左右対称位置に設けられている。ガイド部２４及びエアベアリング２５の構成は、上記第１実施形態と同一であるため、その説明は省略する。落下部４０に備えられたハンド部２２に関する構成も、上記図２，３と同一であるため、同一符号を付して説明は省略する。なお、ガイド柱１２の本数は、この実施形態に限定されるものではない。
　また、第２衝撃試験装置２には、主柱１１の上端とガイド柱１２の上端とにわたって駆動機ベース４２が設けられ、この駆動機ベース４２に駆動機４１が設けられている。一方、ガイド柱１２には、落下部４０を保持する落下部保持部４６が設けられている。この落下部保持部４６は、例えば、電磁石を用いて落下部４０を下部に保持するものを用いることができる。落下部保持部４６には、駆動機４１から垂下された索状体４３（例えば、チェーン、ワイヤロープなど）が接続されている。落下部保持部４６は、この駆動機４１を駆動することによって巻き上げられる。
　また、主柱１１には、高さスケール１４の試験高さ（所定高さ）に保持する高さ指示部材４５が設けられている。第２衝撃試験装置２の高さ指示部材４５は、主柱１１に留め具４７で固定する高さ保持部４５ａの上部に設けられている。第２衝撃試験装置２の場合、高さ指示部材４５を高さスケール１４の試験高さの位置とした状態で、高さ保持部４５ａを留め具４７で固定する。
　この実施形態の上記落下部保持部４６は、索状体４３によりガイド柱１２の任意の高さで保持される。また、この実施形態の落下部保持部４６は、近接センサ４６ａを有しており、この近接センサ４６ａで上記高さ保持部４５ａを検知するようになっている。
　制御部３１は、上記駆動機４１によって索状体４３を巻き上げることで落下部４０を保持した落下部保持部４６を上昇させ、落下部保持部４６の近接センサ４６ａが高さ保持部４５ａを検知することで落下部４０が試験高さに達したことを検知する。これにより、駆動機４１が停止させられる。
　（第２衝撃試験装置による落下衝撃試験）
　上記図５は、第２衝撃試験装置２による衝撃試験開始前の状態を示している。第２衝撃試験装置２によれば、まず、落下部４０のハンド部２２によって試験対象物１００が把持される。また、主柱１１の高さスケール１４に基づいて高さ指示部材４５を試験高さに位置させて、高さ保持部４５ａが留め具４７で固定される。
　その後、落下部４０を保持した落下部保持部４６が駆動機４１によって上昇させられる。そして、落下部保持部４６の近接センサ４６ａが高さ指示部材４５を検知すると駆動機４１が停止させられて、落下部保持部４６がガイド柱１２の所定高さで保持される。これにより、落下部４０が試験高さに保持された試験開始前の状態となる。落下部保持部４６は、電磁石などの遠隔操作が可能な構成で落下部４０を保持した状態となっている。
　図６は、図５に示す第２衝撃試験装置２による落下衝撃試験の状態を示す側面図である。第２衝撃試験装置２による衝撃試験は、制御部３１における試験開始の操作によって行われる。制御部３１において試験開始の操作が行われると、落下部４０のガイド部２４に備えられたエアベアリング２５（図２）にエアが供給されてガイド柱１２との間にエア空間Ｓが形成される。その後、落下部保持部４６による落下部４０の保持が開放される。この実施形態の場合、落下部保持部４６の電磁石（図示略）による落下部４０の保持が解除される。
　これにより、落下部４０がガイド柱１２に沿って自由落下する。落下部４０は、ガイド部２４に設けられたエアベアリング２５によってガイド柱１２との間のエア空間Ｓが保たれた状態で落下するため、ガイド部２４をガイド柱１２と非接触の状態で落下させることができる。これにより、落下部４０をスムーズに自由落下させることができる。
　そして、落下部４０の検知部２７（図２）がセンサ１８で検知されると、ハンド部２２による試験対象物１００の把持が開放され、試験対象物１００はハンド部２２で把持していた状態の姿勢でベース部１０に落下する。落下部４０は、ダンパ１９によって受けられて衝撃吸収される。図６の状態では、試験対象物１００はハンド部２２から離れた状態で落下しており、落下部４０はダンパ１９で支持された状態である。
　従って、第２衝撃試験装置２によっても、例えば、落下部４０のハンド部２２で試験対象物１００を斜めに把持した状態で、ベース部１０に近いセンサ１８の高さまで落下部４０とガイド柱１２とが非接触の状態でスムーズに落下させる。そして、センサ１８の高さでハンド部２２を開放して試験対象物１００のみを自由落下させることで、試験対象物１００を斜めの状態などで落下させる試験を再現性高く行うことができる。よって、試験対象物１００に対して落下精度の高い衝撃試験（落下試験）を行うことが可能となる。
　また、第２衝撃試験装置２によれば、２本のガイド柱１２によって落下部４０をガイドして上下方向に移動させる。そして、落下部４０のハンド部２２で把持した試験対象物１００の姿勢を保った状態で落下部４０を試験高さからスムーズに落下させて、落下精度の高い衝撃試験を行うことが可能となる。よって、第１衝撃試験装置１における試験対象物１００よりも重い試験対象物１００（例えば、１０ｋｇ未満等）であっても、再現性の高い衝撃試験を行うことが可能となる。
　（第３実施形態に係る第３衝撃試験装置）
　図７は、第３実施形態に係る第３衝撃試験装置３の正面図である。第３衝撃試験装置３は、比較的大型の試験対象物１００を試験する場合に用いられる。第３衝撃試験装置３は、落下部５０に試験対象物１００の載せた状態で落下させ、落下部５０に設けた衝撃検知センサ５１で落下時の衝撃パルスを検知するものである。上記第１衝撃試験装置１と同一の構成には同一符号を付し、その説明は省略する。
　ベース部１０には２本の主柱１１と、衝突部５２が配置されている。衝突部５２の中央部には衝突部材５３が設けられている。衝突部５２の左右位置には、ベース部１０から上方に２本（複数本）のガイド柱１２が立設され、このガイド柱１２に沿って上下方向に移動する落下部５０が設けられている。落下部５０は、例えば、エアシリンダ等（図示略）で上方に移動させられる。落下部５０の内部には、ガイド柱１２の試験高さで保持する保持部（図示略）が備えられている。保持部は、例えば、電磁弁等を用いてガイド柱１２を把持するブレーキなどを用いることができる。落下部５０は、試験高さから自由落下して衝突部材５３に衝突させられる。
　この第３衝撃試験装置３においても、落下部５０のガイド部２４にエアベアリング２５が設けられており、このエアベアリング２５により、ガイド部２４とガイド柱１２との間にエア空間Ｓ（図２）を形成して、落下部５０をガイド柱１２と非接触の状態で落下させるように構成されている。
　（第３衝撃試験装置による落下衝撃試験）
　第３衝撃試験装置３による衝撃試験は、まず、落下部５０の上部に試験対象物１００が載せられる。そして、落下部５０が、例えば、エアシリンダ等でガイド柱１２に沿って試験高さまで上昇させられる。第３衝撃試験装置３の場合、落下部５０を試験高さまで上昇させると、制御部３２からの信号によって落下部５０の内部に備えられた保持部（図示略）で保持される。これにより、落下部５０は、衝撃試験開始前の状態になる。
　衝撃試験は、制御部３２における試験開始の操作によって行われる。制御部３２において試験開始の操作が行われると、保持部が開放されて落下部５０がガイド柱１２に沿って自由落下する。この時、落下部５０のガイド部２４とガイド柱１２とを、エアベアリング２５によって非接触の状態で落下させることができる。これにより、落下部５０をスムーズに自由落下させることができる。そして、落下部５０が衝突部材５３に衝突させられる。この時の衝撃パルスが衝撃検知センサ５１で検知される。例えば、衝撃検知センサ５１として加速度センサを用いた場合、計測された加速度を加速度計測解析システム（図示略）によって解析することで数値化できる。これにより、衝撃パルスを得ることができる。
　従って、この第３衝撃試験装置３によっても、落下部５０をガイド柱１２と非接触の状態で落下させるため、試験対象物１００を試験高さからスムーズに落下させて、落下精度の高い衝撃試験を行うことが可能となる。よって、第２衝撃試験装置２における試験対象物１００よりも更に重い試験対象物１００（例えば、数十ｋｇ程度）であっても、再現性の高い衝撃試験を行うことが可能となる。
　（その他の実施形態）
　上記した実施形態では、落下部２０、４０、５０とガイド柱１２との間の非接触支持部としてエアベアリング２５を例にしているが、非接触支持部としては、ガイド部２４とガイド柱１２との間に備えられた磁気浮上機構で構成することができる。この場合、落下部２０、４０、５０の落下時に、ガイド部２４とガイド柱１２との間を磁気で非接触の状態に保って落下させる。磁気浮上機構は、制御部３０～３２の制御によって磁気浮上させるように構成すればよい。
　（総括）
　以上のような衝撃試験装置１、２、３によれば、ガイド柱１２に沿って落下する落下部２０、４０、５０は非接触支持部（エアベアリング２５）によってガイド柱１２と非接触の状態で落下するため、これらの間の摩擦抵抗を低減させて落下部２０、４０、５０の落下精度を高めることができる。よって、再現性の高い落下衝撃試験を行うことが可能となる。
　（変形例）
　上記した実施形態におけるエアベアリング２５（非接触支持部）の構成は一例であり、非接触支持部は、ガイド柱１２とこのガイド柱１２に沿って上下方向に移動する落下部２０、４０、５０との間を非接触の状態に保つ構成であればよく、上記実施形態に限定されるものではない。
　また、上記した実施形態は一例を示しており、落下部２０、４０、５０をガイド柱１２に沿って落下させる構成であれば本発明は実施可能であり、自由落下の他に付勢手段を用いて強制的に落下させる構成など、本発明の要旨を損なわない範囲での種々の構成を変更してもよく、本発明は上記した実施形態に限定されるものではない。
　　　　　１　第１衝撃試験装置
　　　　　２　第２衝撃試験装置
　　　　　３　第３衝撃試験装置
　　　　１０　ベース部
　　　　１１　主柱
　　　　１２　ガイド柱
　　　　１３　固定部材
　　　　１４　スケール
　　　　１５　指示部材
　　　　１６　落下部保持部
　　　　１７　留め具
　　　　１８　センサ
　　　　１９　ダンパ
　　　　２０　落下部
　　　　２１　アーム部材
　　　　２２　ハンド部
　　　２２ａ　エアシリンダ
　　　　２３　ガイドローラ
　　　　２４　ガイド部
　　　　２５　エアベアリング
　　　　２６　エア抜き部
　　　　２７　検知部
　　　　３０　制御部
　　　　３１　制御部
　　　　３２　制御部
　　　　４０　落下部
　　　　４１　駆動機
　　　　４２　駆動機ベース
　　　　４３　索状体
　　　　４５　指示部材
　　　　４６　落下部保持部
　　　４６ａ　近接センサ
　　　　５０　落下部
　　　　５１　衝撃検知センサ
　　　　５２　衝突部
　　　　５３　衝突部材
　　　１００　試験対象物

Claims (6)

  1. 　試験対象物を所定高さから落下させたときの衝撃を試験する衝撃試験装置であって、
    　ベース部に立設したガイド柱と、
    　前記試験対象物を保持して前記ガイド柱に沿って上下方向に移動する落下部と、
    　前記落下部を所定高さから落下させる制御部と、
    を備え、
    　前記落下部の前記ガイド柱にガイドされるガイド部と前記ガイド柱との間に非接触支持部を備え、
    　前記制御部は、前記落下部の落下時に前記非接触支持部で前記ガイド柱との間を非接触の状態に保つように構成されている、
    ことを特徴とする衝撃試験装置。
  2. 　前記ガイド柱は、前記落下部の中央位置をガイドする１本で構成されている、
    請求項１に記載の衝撃試験装置。
  3. 　前記ガイド柱は、前記落下部の左右位置をガイドする複数本で構成されている、
    請求項１に記載の衝撃試験装置。
  4. 　前記非接触支持部は、前記ガイド部に備えられたエアベアリングで構成され、
    　前記制御部は、前記落下部の落下時に前記エアベアリングにエアを供給して前記ガイド柱との間にエア空間を形成するよう構成されている、
    請求項１～３のいずれか１項に記載の衝撃試験装置。
  5. 　前記落下部は、前記ガイド部の左右位置から前方に延びる一対のアーム部材と、
    　一対の前記アーム部材の中央部分に向けて左右方向から延びるハンド部と、
    を有し、
    　前記エアベアリングは、前記ガイド部の前記ハンド部と反対方向にエア抜き部を有している、
    請求項４に記載の衝撃試験装置。
  6. 　前記非接触支持部は、前記ガイド部と前記ガイド柱との間に備えられた磁気浮上機構で構成されている、
    請求項１～３のいずれか１項に記載の衝撃試験装置。
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