WO2009145012A1 - 携帯用電子機器の落下試験装置 - Google Patents

携帯用電子機器の落下試験装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2009145012A1
WO2009145012A1 PCT/JP2009/057575 JP2009057575W WO2009145012A1 WO 2009145012 A1 WO2009145012 A1 WO 2009145012A1 JP 2009057575 W JP2009057575 W JP 2009057575W WO 2009145012 A1 WO2009145012 A1 WO 2009145012A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
drop
arm
portable electronic
collision
posture
Prior art date
Application number
PCT/JP2009/057575
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
俊亘 小勝
Original Assignee
日本電気株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日本電気株式会社 filed Critical 日本電気株式会社
Priority to JP2010514414A priority Critical patent/JPWO2009145012A1/ja
Publication of WO2009145012A1 publication Critical patent/WO2009145012A1/ja

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/30Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying a single impulsive force, e.g. by falling weight
    • G01N3/303Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying a single impulsive force, e.g. by falling weight generated only by free-falling weight

Abstract

 本発明の携帯用電子機器の落下試験装置1は、鉛直方向に配置された少なくとも2本のシャフト401を有するガイド部材400と、シャフト401に沿って移動するベース部材501を有する落下アーム500と、落下アーム500に取り付けられ、載置された携帯用電子機器(試験体2)の姿勢を保持する姿勢保持具600と、携帯用電子機器が落下衝突する衝突台700と、を備える。ベース部材501は、一方のシャフト401に通された摺動部材503と、摺動部材503に対してシャフト401との抵抗が小さく、他方のシャフト401に対して水平方向への回転を防止する回転防止機構506とを備える。

Description

携帯用電子機器の落下試験装置
 本発明は、携帯用電子機器の落下試験装置に関する。
 ノート型PC(Personal Computer)、携帯電話及びPDA(Personal Digital Assistant)などの携帯用電子機器は、高機能化と小型・軽量化との相反する課題を恒に抱えており、内蔵する部品の小型高集積化が著しい。さらにこのような携帯用電子機器は高い携帯性から温度及び湿度の変化の激しい屋外での使用や、携帯時の落下、机上からの落下など、耐環境的に厳しい条件にさらされることになる。
 そのため、設計段階での耐信頼性評価が求められている。この中で、温度サイクル試験や耐湿性の試験は部品レベルでの評価が比較的し易いが、落下衝撃に関する評価は最終製品形態での使用状況に則した評価を行い難い面がある。そこで完成した製品での落下試験が行われる場合がある。
 特許文献1の落下試験装置は、衝突台に干渉しない形状とされたホルダを備えている。ホルダは、ベースに立設されたシャフトに勘合されたガイドに保持されている。ホルダは、試験体である電子機器の下面を支えるアームを備えている。当該アームに電子機器を載置した状態で、ホルダをシャフトに沿って落下させ、電子機器を衝突台へ衝突させる。このとき、アームが衝突台に干渉しないように、衝突台には通過孔が形成されている。
 特許文献2の落下試験装置は、筐体ホルダに試験体である電子機器が嵌め込まれる。当該筐体ホルダは、クロスローラガイド方式によりシャフトに沿って直線移動する。
 ちなみに、携帯用電子機器の落下試験装置ではないが、以下の落下試験装置が開示されている。
 特許文献3の落下試験装置は、試験体を自由落下させ、試験体の衝突台への衝突の瞬間の加速度、傾きを算出している。
 特許文献4の落下試験装置も、試験体を把持した状態で落下させ、衝突台への衝突の直前に把持を開放する機構を有している。そのため、試験体の衝突台への衝突の直前まで同一の姿勢を維持することができるとしている。
特開2003-344252号公報 特開2006-10373号公報 特開2007-163222号公報 特開2007-263975号公報
 特許文献1の落下試験装置は、シャフトとガイドとの抵抗が大きく、電子機器を自然落下に近い状態で落下させることができない。
 特許文献2の落下試験装置は、筐体ホルダをクロスローラガイド方式によりシャフトに沿って直線移動させているので、電子機器を自然落下に近い状態で落下させることができる。しかし、クロスローラガイド方式では、シャフトとの抵抗が極めて小さく、電子機器が落下中に浮き上がってしまう可能性がある。そのため、電子機器を筐体ホルダに嵌め込む複雑な構成となる。
 特許文献3の落下試験装置は、試験体を自由落下させることができ、当該試験体の衝突台への衝突時の状態を正確に把握できる。しかし、落下試験の度に試験体の姿勢が変化するため、衝突時の姿勢が試験体へ与える影響を評価することが難しい。特に、携帯用電子機器は内部構造が複雑である場合が多く、衝突時の姿勢が異なると、試験体への加速度入力方向が変化することになるため、衝突によるダメージの発生部位が変化したり、測定値が変化したりする可能性がある。
 特許文献4の落下試験装置は、衝突直前まで把持することができるため、上記の課題についてはある程度解消できる。しかし、把持した状態から開放した瞬間に機械剛性からくる反力で姿勢がずれたり、重心位置のずれから、開放から衝突までの間に試験体の姿勢が変化したりする可能性がある。
 本発明は、繰り返し再現性が高く、試験体を自然落下に近い状態で落下させることができる携帯用電子機器の落下試験装置を提供することを目的とする。
 本発明の携帯用電子機器の落下試験装置は、鉛直方向に配置された少なくとも2本のシャフトを有するガイド部材と、前記シャフトに沿って移動するベース部材を有する落下アームと、前記落下アームに取り付けられ、載置された携帯用電子機器の姿勢を保持する姿勢保持具と、前記携帯用電子機器が落下衝突する衝突台と、を備え、前記ベース部材は、一方のシャフトに通された摺動部材と、前記摺動部材に対してシャフトとの抵抗が小さく、他方のシャフトに対して水平方向への回転を防止する回転防止機構とを備える。
 本発明によれば、繰り返し再現性が高く、試験体を自然落下に近い状態で落下させることができる携帯用電子機器の落下試験装置を提供することができる。
本発明の実施形態1の携帯用電子機器の落下試験装置を示した斜視図である。 本発明の実施形態1の携帯用電子機器の落下試験装置を示した側面図である。 落下位置調整機構を示す正面拡大図である。 落下位置調整機構の高さ調整機構を示す斜視拡大図である。 落下位置調整機構のリリーススイッチを示す概略側面図である。 ガイド部材、落下アーム及び衝突台を示す斜視図である。 姿勢保持具が衝突台の切り欠き部を通り抜ける様子を示す斜視図である。 試験体と衝突台との配置関係を示す斜視図である。 落下アーム及び姿勢保持具を示す斜視図である。 落下アームがガイド部材に沿って移動する様子を示す正面図である。 落下アームがガイド部材に沿って移動する様子を示す正面図である。 落下アームがガイド部材に沿って移動する様子を示す正面図である。 落下する落下アームと衝突台との配置関係を示す斜視図である。 落下アームが落下し、試験体が衝突台に衝突する寸前の様子を示す斜視図である。 試験体が1次衝突から2次衝突へ移行しようとする様子を示す斜視図である。 本発明の実施形態2の携帯用電子機器の落下試験装置から、試験体、落下アームのアーム部材、姿勢保持具及び衝突台のみを抽出して示す斜視図である。 本発明の実施形態2の携帯用電子機器の落下試験装置から、試験体、落下アームのアーム部材、姿勢保持具及び衝突台のみを抽出して示す側面図である。 本発明の実施形態3の携帯用電子機器の落下試験装置から、試験体、落下アームのアーム部材、姿勢保持具及び衝突台のみを抽出して示す斜視図である。 本発明の実施形態3の携帯用電子機器の落下試験装置から、落下アームのアーム部材、姿勢保持具及び衝突台のみを抽出して示す斜視図である。 本発明の実施形態3の携帯用電子機器の落下試験装置から、試験体、落下アームのアーム部材、姿勢保持具及び衝突台のみを抽出して示す側面図である。 本発明の実施形態6の携帯用電子機器の落下防止装置を示す拡大斜視図である。
 以下、本発明を適用した具体的な実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。ただし、本発明が以下の実施形態に限定される訳ではない。また、説明を明確にするため、以下の記載及び図面は、適宜、簡略化されている。
 <実施形態1>
 本発明に係る携帯用電子機器の落下試験装置の実施形態1を、図1~図10に基づいて説明する。この携帯用電子機器の落下試験装置(以下、落下試験装置と省略する場合がある。)1は、ノート型PC、携帯電話及びPDAなどの落下試験を行う際に好適に採用される。ちなみに、本実施形態の落下試験装置1は、試験体(携帯用電子機器)2としてノート型PCに対して好適に落下試験することができる構成とされている。
 落下試験装置1は、フレーム100、ベースプレート200、落下位置調整機構300、ガイド部材400、落下アーム500、姿勢保持具600、衝突台700などを備えている。
 フレーム100は、図1及び図2に示すように、試験体の落下試験を良好に行うのに十分な空間を形成している。具体的にいうと、フレーム100は、ガイド部材400の高さと略等しい高さを有する4本の支柱101がベースプレート200から鉛直上方に立設されている。この4本の支柱101は、正面から試験体の配置及び撤去を行う開口部が形成されるように、水平材102によって組み立てられている。組み立てられた支柱101は、後方から斜材103によって支持されている。
 ベースプレート200は、組み立てられたフレーム100などを支持するのに十分な面積を有する板状部材であって、フレーム100などを支持するのに十分な強度を有する。ベースプレート200の衝突台700が配置される周辺領域には、試験体が衝突台700に衝突して、その反動でベースプレート200上に落下して2次衝突、3次衝突した際に、ベースプレート200が損傷しないように、例えば木製板から成る衝突プレート201が配置されていることが好ましい。衝突プレート201が損傷すると、衝突プレート201を簡単に交換することができ、試験体の落下試験のランニングコストを抑制することができる。また、ベースプレート200の下面には、高さレベルを調整するレベル調整機構202を備えていることが好ましい。
 落下位置調整機構300は、図3及び図4に示すように、フレーム100の高さと略等しい高さを有する二本のシャフト301を備えている。この二本のシャフト301は、ベースプレート200から鉛直上方に立設されており、フレーム100の背面側外方における幅寸法の略中央位置に配置されている。二本のシャフト301の上端部は、連結部材302によってフレーム100の水平材102に連結されている。
 二本のシャフト301には、落下アーム500を所定の高さ位置から落下させる落下開始ユニット303が摺動可能に通されている。この落下開始ユニット303は、シャフト301の外径と略等しい内径の貫通穴を有する摺動部材304がシャフト301に通されており、隣接する摺動部材304は連結部材305によって連結されている。摺動部材304の下面には、二本のシャフト301に通されたプレート部材306が連結されている。プレート部材306の下面における二本のシャフト301の相互間には、リリーススイッチ307が設けられている。
 リリーススイッチ307は、鞘部材308に爪部材309が嵌め込まれている。この爪部材309は、図5に示すように、鞘部材308からフレーム100の内方側に突出した状態から、ワイヤー310によって鞘部材308内に収納することができる構成とされている。ちなみに、爪部材309は、ワイヤー310による操作に限らず、エアシリンダを用いた構成でも良く、電磁ソレノイドを用いた構成でも良い。要するに、爪部材309を鞘部材308から出し入れできる構成であれば良い。
 このような落下開始ユニット303は、高さ調整機構311を備えていることが好ましい。高さ調整機構311は、図4に示すように、プレート部材306にフック312を介してロープ313の一端部が連結された構成である。ロープ313は、取り付け片314によって連結部材302に設けられた滑車315、及び取り付け片316によってフレーム100の水平材102に設けられた滑車317を介して、巻き取り又は送り出すことで、落下開始ユニット303の高さを自由に設定することができる。このとき、ロープ313の他端部は、取り付け片318によってフレーム100の支柱101に設けられたストッパ319に固定する。ストッパ319は、ロープ313を固定できる構成であれば良く、例えばクリップのようにロープを挟む込む構成やウインチのようにロープを巻き取る又は送り出す構成で良い。
 ガイド部材400は、フレーム100の高さと略等しい高さを有する二本のシャフト401を備えている。この二本のシャフト401は、図6に示すように、ベースプレート200から鉛直上方に立設されており、落下位置調整機構300のリリーススイッチ307を挟み込むように、フレーム100の背面側内方における幅寸法の略中央位置に配置されている。二本のシャフト401の上端部は、落下位置調整機構300の二本のシャフト301と共通の連結部材302によってフレーム100の水平材102に連結されている。
 落下アーム500は、ベース部材501、アーム部材502を備えている。ベース部材501は、ガイド部材400のシャフト401の外径と略等しい内径の貫通穴を有する摺動部材503が前記ガイド部材400の一方のシャフト401に通されている。この摺動部材503の下面には、二本のシャフト401に通されたプレート部材504が連結されている。プレート部材504には、落下位置調整機構300のリリーススイッチ307の爪部材309を引っ掛けるための引っ掛け片505が設けられている。さらにプレート部材504の上面における他方のシャフト401側の側縁には、摺動部材503に対してシャフト401との抵抗が小さく、他方のシャフト401に対する水平方向の回転を防止する回転防止機構506の支持部材507が立設されている。
 回転防止機構506は、シャフト401を挟み込む一組のボールベアリング508を備えている。このボールベアリング508の内輪には、軸509が嵌め込まれ固定されており、軸509の端部は回転板510に連結されている。各々の回転板510の一方の端部は、支持部材507に回転可能に連結されており、回転板510の他方の端部は、もう一方の回転板510の他方の端部と引っ張りバネ511によって連結されている。すなわち、シャフト401に対して摺動部材503は若干抵抗が大きいので、二本のシャフト401のうち、一方のシャフト401に対しては抵抗の少ないボールベアリング508を用いて落下アーム500の落下を案内する。また、引っ張りバネ511は収縮しようとして、二枚の回転板510相互の上端部の隙間を閉じる方向に、回転板510を回転させるので、この回転板510の回転に伴って一組のボールベアリング508はシャフト401を挟み込む。
 そのため、落下アームの落下時の抵抗を軽減することができ、試験体を自由落下の状態に近づけることができる。このとき、摺動部材503のシャフト401との抵抗によって試験体が浮き上がる程の落下速度とはならない。つまり、試験体が浮き上がらない程度で、当該試験体の加速度を1Gに近付けることができる。
 しかも、摺動部材503を一方のシャフト401に通すと共に、一組のボールベアリング508で他方のシャフト401を挟み込んでいるので、落下アーム500の水平方向の回転を良好に防止することができる。
 ちなみに、試験体を落下させる高さ位置は、摺動部材503や回転防止機構506の抵抗を加味して、当該試験体が所定の速度で衝突台に衝突するように設定される。
 プレート部材504の上面におけるフレーム100の開口部側の側縁には、アーム部材502を支持する支持部材512が立設されている。
 アーム部材502は、例えば試験体の一辺の長さと略等しい長さを有する。このアーム部材502は、図7及び図8に示すように、衝突台700と干渉しないように間隔を開けて配置され、連結部材513によって連結されている。アーム部材502は、連結部材513を介してベース部材501の支持部材512に支持されている。その結果、落下アーム500には衝突台700の通過部514が形成される。
 姿勢保持具600は、試験体が載置される部材であって、図7に示すように、例えば水平姿勢の試験体2の側部を嵌め込むことができるように、薄板の垂直片601に切り欠き部602が形成されている。この姿勢保持具600は、図6~図8に示すように、切り欠き部602が落下アーム500の通過部514の平面領域内に突出するように配置され、垂直片601の下端部に連結された水平片603がアーム部材502に取り付けられている。このとき、姿勢保持具600は、載置される試験体の重心が姿勢保持具600における当該試験体の保持位置を結ぶ平面内に存在するように、配置される。なお、図示例では、姿勢保持具600の形状、配置などを模式的に示しているため、相互に異なって示されている場合がある。
 衝突台700は、図6などに示すように、落下アーム500の通過部514の平面領域内に配置されている。この衝突台700は、ベースプレート200から鉛直上方にフランジ701を介して支柱702が立設されており、支柱702上に落下アーム500の通過部514よりも一回り小さい衝突土台703を備えている。衝突土台703上には、水平姿勢の試験体を衝突させるのに十分な広さを有する衝突プレート704が固定されている。この衝突プレート704には、落下してくる落下アーム500に取り付けられた姿勢保持具600との干渉を防ぐ切り欠き部705が形成されている。そのため、詳細は後述するが、試験体2の衝突台700への衝突時には、落下アーム500及び姿勢保持具600が衝突台700に干渉しないので、衝突するまで姿勢保持具600によって試験体2の姿勢を保持することができる。しかも再度、姿勢保持具600に試験体2を載置すると、前回と同一の姿勢で試験体を落下試験することができる。よって、繰り返し再現性が高い。なお、本実施形態では、衝突プレート704のみに切り欠き部705を形成しているが、衝突土台703や支柱702にも切り欠き部705を形成しても良い。
 衝突プレート704としては、例えば木製板を用いることができ、衝突プレート704を複数枚積層することが好ましい。こうすることで、木材本来の剛性を発現しながらも表面に傷が付けば最上層の衝突プレートのみを交換すれば良いため、落下試験のランニングコストを抑制することができる。このとき、衝突プレート704は衝突土台703にボルトを用いて取り付ける構成とすると、交換が容易で好都合である。
 このような構成の落下試験装置1は、図9Aに示すように、先ず試験体2を落下アーム500の姿勢保持具600における切り欠き部602に嵌め込んで、試験体2の水平姿勢を保持する。試験体2の水平姿勢を保持した状態で、落下アーム500を所定の高さまで引き上げ、落下アーム500の引っ掛け片505に落下位置調整機構300のリリーススイッチ307の爪部材309を引っ掛ける。このとき、図8に示すように、落下アーム500の支持部材512にハンドル800が設けられていると、簡単に落下アーム500を所定の高さまで引き上げることができる。
 次に、落下位置調整機構300のワイヤー310を引っ張ることによって爪部材309を鞘部材308内に収納すると、図9B及び図10Aに示すように、落下アーム500はガイド部材400のシャフト401に沿って落下する。このとき、ガイド部材400のシャフト401と落下アーム500の摺動部材503との摩擦抵抗により、試験体2の落下加速度は自由落下加速度に達せず、すなわち1G未満での落下となる。そのため、姿勢保持具600に載置されている試験体2は、同じ姿勢を保持したまま、落下アーム500に付随しながら落下する。
 さらに落下アーム500が落下を続けると、図9C及び図10Bに示すように、落下アーム500のベース部材501及びアーム部材502は衝突台700の衝突プレート704の外周部分を通り抜ける。言い換えると、落下アーム500の通過部514内に衝突台700の衝突プレート704が挿入される。このとき、落下位置調整機構300のシャフト301における衝突台近傍に、落下アーム500の落下速度を測定する測定器900が設けられていることが好ましい。試験体2は落下アーム500と同一速度で落下するため、落下アーム500の落下速度を測定すると、結果として試験体2が衝突台700に衝突する直前の試験体2の落下速度を求めることができる。また、落下アーム500の落下高さや試験体2の重量は予め解っているので、求めた試験体2の落下速度から加速度を求めることができる。ちなみに、本実施形態では、測定器900としてシャフト301に所定の間隔を開けて二個の落下検出センサを設け、落下検出センサの間隔と、落下検出センサの間を通過する試験体2の時間とから、PCなどの演算装置を用いて試験体2の落下速度を求めている。
 そして、落下アーム500に取り付けた姿勢保持具600は衝突台700の衝突プレート704に形成した切り欠き部705を通り抜け、図10Cに示すように、姿勢保持具600に載置された試験体2が水平姿勢を保持した状態で衝突プレート704に衝突する。さらに試験体2は、衝突台700への衝突の反動で、ベースプレート200上に配置した衝突プレート201に落下して2次衝突、3次衝突する。試験体2の衝突プレート704への衝突時には、落下アーム500及び姿勢保持具600が衝突プレート704に干渉しないので、衝突するまで姿勢保持具600によって試験体2の水平姿勢を保持することができる。しかも再度、姿勢保持具600に試験体2を載置すると、前回と同一の水平姿勢で試験体を落下試験することができる。よって、繰り返し再現性が高く、少ない試験回数でも正確に試験体の評価を行うことができるため、試験回数を抑制でき、試験時間を短縮することができる。勿論、試験回数を抑制することができるので、試験体を削減することができ、落下試験のランニングコストを抑制することができる。さらに、姿勢保持具600に試験体2を載置し、落下アーム500を落下させるだけの構造のため、作業が容易である。
 しかも、試験体2を姿勢保持具600によって一定の姿勢に保持することができるので、従来では重心が異なる等の理由から落下姿勢が変化してしまうため難しかった、異なる形状、製品間で落下試験を行うことができる。
 また、試験体2は衝突台700への落下衝突の瞬間に姿勢保持具600及び落下アーム500から分離され、試験体の衝突後の運動は自由になるため、保持した状態で試験体に加速度を印加する場合と異なり落下試験本来の自由運動を再現することができる。
 なお、試験体2が2次衝突、3次衝突する際に、フレーム100から飛び出さないように、飛び出し防止板1000をフレーム100の外周部分に取り付けておくことが好ましい(図4を参照)。
 また、図6に示すように、ガイド部材400のシャフト401の下端部にゴムや樹脂などから成る緩衝部材1100が配置されていることが好ましい。これにより、落下アーム500がベースプレート200に衝突することがなく、落下アーム500の損傷を防ぐことができる。
 <実施形態2>
 本発明に係る落下試験装置の実施形態2を、図11及び図12に基づいて説明する。本実施形態の落下試験装置は、上記実施形態1の落下試験装置と略同様の構成とされているため、重複する説明は省略し、相違部分のみを詳細に説明する。なお、図11及び図12は、試験体2、落下アームのアーム部材502、姿勢保持具610、衝突台710などを抽出して示している。
 本実施形態の落下試験装置は、上記実施形態1の落下試験装置と略同様の構成とされているが、図11及び図12に示すように、試験体2を倒立した状態で前記試験体2の側辺部を衝突台710に衝突させることができる構成とされている。すなわち、姿勢保持具610として、フレーム100の内方側に突出するL字部材611を落下アーム500の連結部材513における幅寸法の略中央位置に取り付けている。このL字部材611の垂直片612は、フレーム100の内方側に配置され、上方に立ち上がっている。L字部材611の水平片613の上面には、さらに姿勢保持具610として、L字部材614を取り付けている。すなわち、図12に示すように、L字部材611の垂直片とL字部材614の垂直片とで、倒立させた状態の試験体2を挟み込んで、この姿勢を保持できる構成とされている。
 なお、試験体2の左右方向の動きを拘束することができるように、落下アーム500のアーム部材502にも姿勢保持具610を取り付けておくことが好ましい。本実施形態では、上記実施形態1と同様に切り欠き部615が形成された姿勢保持具610を、落下アーム500のアーム部材502に取り付け、倒立させた状態の試験体2の角部を嵌め込むことができる構成とされている。
 衝突台710の支柱712、衝突土台713及び衝突プレート714には、姿勢保持具610が干渉しないように切り欠き部715が形成されている。そのため、本実施形態の落下試験装置も、上記実施形態1の落下試験装置と同様に、試験体2の衝突台710への衝突時には、落下アーム500及び姿勢保持具610が衝突台710に干渉しないので、衝突するまで姿勢保持具610によって試験体2の姿勢を倒立した状態に保持することができる。しかも再度、姿勢保持具610に試験体2を載置すると、前回と同一の倒立させた姿勢で試験体を落下試験することができる。よって、繰り返し再現性が高い。
 <実施形態3>
 本発明に係る落下試験装置の実施形態3を、図13~図15に基づいて説明する。本実施形態の落下試験装置は、上記実施形態1の落下試験装置と略同様の構成とされているため、重複する説明は省略し、相違部分のみを詳細に説明する。なお、図13~図15は、試験体2、落下アームのアーム部材502、姿勢保持具620、衝突台700などを抽出して示している。
 本実施形態の落下試験装置は、上記実施形態1の落下試験装置と略同様の構成とされているが、図13及び図15に示すように、試験体2を倒立した状態で前記試験体2の角部を衝突台700に衝突させることができる構成とされている。すなわち、姿勢保持具620は、図14に示すように、試験体2の側辺の載置角度に対応するように、斜面部621が形成されており、斜面部621の両側から試験体2を挟み込む立ち上がり部622が形成されている。この姿勢保持具620は、落下アーム500のアーム部材502の厚さと略等しい厚さを有し、フランジ623を介してアーム部材502に取り付けられている。
 そのため、本実施形態の落下試験装置も、上記実施形態1の落下試験装置と同様に、試験体2の衝突台700への衝突時には、落下アーム500及び姿勢保持具620が衝突台700に干渉しないので、衝突するまで姿勢保持具620によって試験体2の姿勢を倒立した状態に保持することができる。しかも再度、姿勢保持具620に試験体2を載置すると、前回と同一の倒立させた姿勢で試験体を落下試験することができる。よって、繰り返し再現性が高い。なお、本実施形態の姿勢保持具620は、落下アームのアーム部材502の厚さと略等しい厚さとされているので、衝突台700に切り欠き部705を形成しなくても、相互が干渉することはない。そのため、衝突台700の切り欠き部705を省略しても良い。
 <実施形態4>
 なお、上記実施形態の姿勢保持具は、落下アームに取り替え可能な構成とされていることが好ましい。このとき、姿勢保持具を容易に取り替えることができるように、姿勢保持具を落下アームにボルトで取り付ける構成とされる。また、取り替える全ての姿勢保持具に対応するように、衝突台に切り欠き部が形成される。そのため、あらゆる姿勢の試験体を繰り返し落下試験することができる。
 ちなみに、上記実施形態の姿勢保持具は、試験体を水平姿勢で保持することができる形状、試験体の側辺部が衝突台に衝突する姿勢で前記試験体を保持することができる形状、試験体の角部が衝突台に衝突する姿勢で前記試験体を保持することができる形状とされているが、この限りでない。要するに、姿勢保持具は、試験体を所望の姿勢で保持することができるように、適宜形成される。
 <実施形態5>
 また、上記実施形態の衝突台は、衝突土台に木製板から成る衝突プレートを固定した構成とされているが、この限りでない。すなわち、金属の鋳物や切削品、プラスチック成型品、コンクリートブロックなどの様々な衝突プレートを用いることができ、試験体の衝突台への衝撃を容易に変更しながら落下試験を行うことができる。
 <実施形態6>
 本発明に係る携帯用電子機器の落下試験装置の最小限構成としては、図16に示すように、ガイド部材400、落下アーム500、姿勢保持具600、衝突台700を備えていれば良い。図示例の最小限構成の落下試験装置でも、試験体の衝突台700への衝突時には、落下アーム500及び姿勢保持具600が衝突台700に干渉しないので、衝突するまで姿勢保持具600によって試験体の姿勢を保持することができる。しかも再度、姿勢保持具600に試験体を載置すると、前回と同一の姿勢で試験体を落下試験することができる。よって、繰り返し再現性が高い。
 以上、実施の形態を参照して本願発明を説明したが、本願発明は上記によって限定されるものではない。本願発明の構成や詳細には、発明のスコープ内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。
 この出願は、2008年5月26日に出願された日本出願特願2008-136251を基礎とする優先権を主張し、その開示の全てをここに取り込む。
 本発明は、ノート型PC、携帯電話及びPDAなどの携帯用電子機器の落下試験装置に適用可能である。
1 落下試験装置
2 試験体(携帯用電子機器)
400 ガイド部材
401 シャフト
500 落下アーム
501 ベース部材
502 アーム部材
506 回転防止機構
508 ボールベアリング
510 回転板
511 引っ張りバネ
514 通過部
600 姿勢保持具
610 姿勢保持具
620 姿勢保持具
700 衝突台
710 衝突台
900 測定器
1100 緩衝部材

Claims (7)

  1.  鉛直方向に配置された少なくとも2本のシャフトを有するガイド部材と、
     前記シャフトに沿って移動するベース部材を有する落下アームと、
     前記落下アームに取り付けられ、載置された携帯用電子機器の姿勢を保持する姿勢保持具と、
     前記携帯用電子機器が落下衝突する衝突台と、を備え、
     前記ベース部材は、一方のシャフトに通された摺動部材と、前記摺動部材に対してシャフトとの抵抗が小さく、他方のシャフトに対して水平方向への回転を防止する回転防止機構とを備える携帯用電子機器の落下試験装置。
  2.  前記回転防止機構は、一組のボールベアリングを備え、
     前記一組のボールベアリングは、それぞれ落下アームに一方の端部が回転可能に設けられた回転板に支持されており、前記回転板の他方の端部同士を連結する引っ張りバネの圧縮力によって前記シャフトを挟み込むことを特徴とする請求項1に記載の携帯用電子機器の落下試験装置。
  3.  前記姿勢保持具は、取り替え可能な構成とされていることを特徴とする請求項1に記載の携帯用電子機器の落下試験装置。
  4.  前記落下アームは、前記衝突台と干渉しないように間隔を開けて前記ベース部材から突出する二本のアーム部材を備えることを特徴とする請求項1に記載の携帯用電子機器の落下試験装置。
  5.  前記落下アームには、前記衝突台の通過部が形成されており、前記通過部の平面領域内に突出するように前記姿勢保持具が取り付けられ、
     前記姿勢保持具の突出部分には、前記携帯用電子機器が載置され、
     前記衝突台には、落下する前記落下アームに取り付けられた姿勢保持具との干渉を防ぐ切り欠き部が形成されていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の携帯用電子機器の落下試験装置。
  6.  前記衝突台近傍に落下アームの落下速度を測定する測定器を備えることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の携帯用電子機器の落下試験装置。
  7.  前記シャフトの下端部に緩衝部材が配置されていることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の携帯用電子機器の落下試験装置。
PCT/JP2009/057575 2008-05-26 2009-04-15 携帯用電子機器の落下試験装置 WO2009145012A1 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010514414A JPWO2009145012A1 (ja) 2008-05-26 2009-04-15 携帯用電子機器の落下試験装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008-136251 2008-05-26
JP2008136251 2008-05-26

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2009145012A1 true WO2009145012A1 (ja) 2009-12-03

Family

ID=41376898

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2009/057575 WO2009145012A1 (ja) 2008-05-26 2009-04-15 携帯用電子機器の落下試験装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JPWO2009145012A1 (ja)
WO (1) WO2009145012A1 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102393289A (zh) * 2011-12-05 2012-03-28 北京神州腾耀通信技术有限公司 一种钢球跌落试验机
CN106092484A (zh) * 2016-06-01 2016-11-09 广东欧珀移动通信有限公司 移动终端的运行数据上报方法及装置
WO2019097569A1 (ja) * 2017-11-14 2019-05-23 神栄テストマシナリー株式会社 衝撃試験装置
WO2021132043A1 (ja) * 2019-12-27 2021-07-01 国際計測器株式会社 衝撃試験装置
WO2021212182A1 (en) * 2020-04-23 2021-10-28 Dywidag-Systems International Pty Limited Dynamic drop testing apparatus
AU2021212150A1 (en) * 2020-04-23 2021-12-02 DSI Underground Australia Pty Limited Dynamic drop testing apparatus
RU2814966C1 (ru) * 2019-12-27 2024-03-07 Кокусай Кейсокуки Кабусики Кайся Устройство для испытания динамической нагрузки

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11153532A (ja) * 1997-11-19 1999-06-08 Toshiba Corp 衝撃試験装置及び衝撃試験方法
JP2006184133A (ja) * 2004-12-27 2006-07-13 Kyocera Corp 落下試験機および落下試験方法
JP2007187595A (ja) * 2006-01-16 2007-07-26 T Tekku:Kk 落下試験装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11153532A (ja) * 1997-11-19 1999-06-08 Toshiba Corp 衝撃試験装置及び衝撃試験方法
JP2006184133A (ja) * 2004-12-27 2006-07-13 Kyocera Corp 落下試験機および落下試験方法
JP2007187595A (ja) * 2006-01-16 2007-07-26 T Tekku:Kk 落下試験装置

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102393289A (zh) * 2011-12-05 2012-03-28 北京神州腾耀通信技术有限公司 一种钢球跌落试验机
CN106092484A (zh) * 2016-06-01 2016-11-09 广东欧珀移动通信有限公司 移动终端的运行数据上报方法及装置
WO2019097569A1 (ja) * 2017-11-14 2019-05-23 神栄テストマシナリー株式会社 衝撃試験装置
WO2021132043A1 (ja) * 2019-12-27 2021-07-01 国際計測器株式会社 衝撃試験装置
JP7368838B2 (ja) 2019-12-27 2023-10-25 国際計測器株式会社 衝撃試験装置
EP4083457A4 (en) * 2019-12-27 2024-01-03 Kokusai Keisokuki Kk IMPACT TEST DEVICE
RU2814966C1 (ru) * 2019-12-27 2024-03-07 Кокусай Кейсокуки Кабусики Кайся Устройство для испытания динамической нагрузки
WO2021212182A1 (en) * 2020-04-23 2021-10-28 Dywidag-Systems International Pty Limited Dynamic drop testing apparatus
AU2021212150A1 (en) * 2020-04-23 2021-12-02 DSI Underground Australia Pty Limited Dynamic drop testing apparatus
AU2021212150B2 (en) * 2020-04-23 2022-09-15 DSI Underground Australia Pty Limited Dynamic drop testing apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2009145012A1 (ja) 2011-10-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2009145012A1 (ja) 携帯用電子機器の落下試験装置
JP4411284B2 (ja) 落下試験装置
Lim et al. Investigating the drop impact of portable electronic products
JP5424082B2 (ja) 衝撃検知装置、梱包装置
US20080141783A1 (en) Micro-Impact Testing Apparatus
JP3871039B2 (ja) 落下衝撃試験機および落下衝撃試験方法
JP2006047277A (ja) 衝撃試験装置及び衝撃試験方法
US8453490B2 (en) Drop test device
JP5135236B2 (ja) 引張試験較正デバイス及び方法
JP2005030938A (ja) 落下試験装置
WO2007069336A1 (ja) 衝撃試験装置
JP2014044186A (ja) 落下衝撃試験機
KR101904197B1 (ko) 낙하 시험 장치 및 이를 이용한 낙하 시험 방법
TWI473992B (zh) 跌落測試系統
US20120024039A1 (en) Drop test device
Li et al. Reliability assessment of a MEMS microphone under mixed flowing gas environment and shock impact loading
CN201083661Y (zh) 跌落测试装置
JP3685126B2 (ja) 落下衝撃試験装置
JP2008020445A (ja) 板型パッケージ用キャリアモジュール及びこれを含むテストトレイ
JP4558811B2 (ja) 落下試験方法及び落下試験装置
JP4386183B2 (ja) 落下試験装置および落下試験方法
JP2006184133A (ja) 落下試験機および落下試験方法
KR100539786B1 (ko) 낙하추를 이용한 휴대단말기용 낙하시험장치 및낙하시험용 낙하추
JP2015222216A (ja) 力センサ試験装置
TW201135223A (en) Shock tester and shock testing method

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 09754520

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2010514414

Country of ref document: JP

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 09754520

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1