WO2018174049A1 - 撥水性反射防止膜付きレンズ及びその製造方法 - Google Patents

撥水性反射防止膜付きレンズ及びその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2018174049A1
WO2018174049A1 PCT/JP2018/010989 JP2018010989W WO2018174049A1 WO 2018174049 A1 WO2018174049 A1 WO 2018174049A1 JP 2018010989 W JP2018010989 W JP 2018010989W WO 2018174049 A1 WO2018174049 A1 WO 2018174049A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
film
water
repellent
lens
base film
Prior art date
Application number
PCT/JP2018/010989
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
秀一朗 川岸
照夫 山下
白石 幸一郎
Original Assignee
Hoya株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hoya株式会社 filed Critical Hoya株式会社
Priority to CN201880020777.0A priority Critical patent/CN110612464B/zh
Publication of WO2018174049A1 publication Critical patent/WO2018174049A1/ja

Links

Images

Definitions

  • the present invention relates to a lens with a water-repellent antireflection film and a method for producing the same.
  • a technique for improving water repellency by applying a water repellent coating to the lens surface is known.
  • the following patent document discloses an invention in which a water repellent film of an organic compound is formed on a lens surface.
  • the present invention has been made on the basis of the above problem awareness, and an object of the present invention is to provide a lens with a water-repellent antireflection film that improves the adhesion and durability of the water-repellent film and a method for producing the same.
  • the lens with a water-repellent antireflective film of the present invention has a water-repellent antireflective film in which at least a base film and a water-repellent film are laminated in this order on the surface of the glass lens, and the base film includes SiO 2 and ZrO 2.
  • the film thickness is 1 nm or more and 200 nm or less
  • the water repellent film is formed of an organic compound containing a perfluoropolyether group on the surface of the base film, and the film thickness is 5 nm or more and 50 nm or less. It is characterized by that.
  • the water-repellent antireflection film is laminated on the surface of the glass lens in the order of the antireflection film, the base film, and the water-repellent film, and the antireflection film comprises SiO 2 , MgF 2 , One or more mixed layers containing a single layer or two or more materials selected from ZrO 2 , Al 2 O 3 , TiO 2 , Ti 3 O 5 , Ta 2 O 5 , and Nb 2 O 5 It is preferable to be formed.
  • the base film is preferably formed of SiO 2 .
  • the surface of the glass lens is preferably an aspherical surface.
  • a method of manufacturing a water repellent anti-reflective film with lens of the present invention, the surface of the glass lens, SiO 2, ZrO 2, Al 2 O 3, TiO 2, Ti 3 O 5, Ta 2 O 5 and,, Nb A step of forming a base film with a single layer selected from 2 O 5 or a mixed layer containing two or more materials, and a water repellent film with an organic compound having a perfluoropolyether group on the surface of the base film Forming the base film and the water-repellent film while maintaining the substrate heating temperature at 250 ° C. or lower while maintaining the reduced pressure. To do.
  • SiO 2 , MgF 2 , ZrO 2 is formed on the surface of the glass lens in the first film formation chamber in which the substrate heating temperature is 200 ° C. or higher and 350 ° C. or lower.
  • a single layer selected from Al 2 O 3 , TiO 2 , Ti 3 O 5 , Ta 2 O 5 , and Nb 2 O 5 or a mixed layer including two or more materials is formed.
  • a first step of forming an antireflection film, and after the first step, the second heating temperature is 250 ° C. or less, which is different from the first film formation chamber used in the first step. It is preferable to include a second step of forming the base film and the water-repellent film while being kept under reduced pressure in the film chamber.
  • the base film is formed by an ion beam assist method or a sputtering method.
  • the base film is formed with a thickness of 1 nm to 200 nm and the water-repellent film is formed with a thickness of 5 nm to 50 nm.
  • the base film is preferably formed by SiO 2.
  • the present invention it is possible to provide a lens with a water-repellent antireflection film excellent in the adhesion and durability of the water-repellent film and a method for producing the same.
  • the present embodiment a mode for carrying out the present invention (hereinafter simply referred to as “the present embodiment”) will be described in detail.
  • the lens with a water-repellent antireflection film of this embodiment includes the following characteristic portions (1) to (3).
  • the base film is a single layer selected from SiO 2 , ZrO 2 , Al 2 O 3 , TiO 2 , Ti 3 O 5 , Ta 2 O 5 , and Nb 2 O 5, or a mixture containing two or more kinds. Formed in layers.
  • the density of the base film is 70% or more and 100% or less.
  • the film thickness of the base film is 1 nm or more and 200 nm or less.
  • the water repellent film is formed of an organic compound containing a perfluoropolyether group. The film thickness of the water repellent film is 5 nm or more and 50 nm or less.
  • FIG. 1 is a schematic diagram of a lens with a water-repellent antireflection film of this embodiment.
  • a lens 1 with a water-repellent antireflection film shown in FIG. 1 includes a glass lens 2 as a substrate and a water-repellent antireflection film 3 formed on the surface of the glass lens 2 on the light incident side. .
  • the glass lens 2 is not particularly limited, but is a glass lens for a surveillance camera or an in-vehicle camera, for example. Further, the surface of the glass lens 2 on which the water repellent antireflection film 3 is formed is, for example, an aspherical surface.
  • the glass lens 2 in FIG. 1 is, for example, a meniscus lens having a negative power, but may be a meniscus lens having a positive power, a biconvex lens, a biconcave lens, or the like.
  • the water-repellent antireflection film 3 includes at least a base film and a water-repellent film.
  • the base film includes the characteristic part (2)
  • the water repellent film includes the characteristic part (3).
  • the entire water-repellent antireflection film 3 exhibits an antireflection effect.
  • water-repellent antireflection film 3 will be described in more detail.
  • the water repellent antireflection film 3 of the first embodiment is laminated in the order of the antireflection film 4, the base film 5, and the water repellent film 6 from the surface of the glass lens 2.
  • the antireflection film 4 is selected from SiO 2 , MgF 2 , ZrO 2 , Al 2 O 3 , TiO 2 , Ti 3 O 5 , Ta 2 O 5 , and Nb 2 O 5 on the surface of the glass lens 2. A single layer or one or more mixed layers containing two or more materials are included. All of these inorganic compounds constituting the antireflection film 4 are transparent oxides.
  • the antireflection film 4 is adjusted so that the reflectance is lower than that of the glass lens 2 alone. Specifically, the refractive index and film thickness of each layer are determined so that the entire lens provided with the antireflection film 4, the base film 5, and the water repellent film 6 has a desired spectral reflectance. Therefore, the antireflection film 4 may be a single layer as long as it is a film having a refractive index lower than that of the glass lens 2. In the case of a multilayer film, a configuration in which low refractive index layers and high refractive index layers are alternately stacked can be employed. At this time, the high refractive index layer may be higher than the refractive index of the glass lens 2.
  • the antireflection film 4 is formed by, for example, laminating about 1 to 15 layers, and preferably laminating 1 to 10 layers.
  • the number, the material, and the film thickness of the antireflection film 4 can be variously selected based on the wavelength region that suppresses the reflectance.
  • the thickness of the antireflection film 4 is not limited, the thickness (total thickness) of the antireflection film 4 is about 50 nm to 500 nm.
  • the base film 5 formed on the surface of the antireflection film 4 functions as a base of the water repellent film 6.
  • the base film 5 is a single layer selected from SiO 2 , ZrO 2 , Al 2 O 3 , TiO 2 , Ti 3 O 5 , Ta 2 O 5 , and Nb 2 O 5, or a mixed layer including two or more kinds. It is formed.
  • the base film 5 cannot use MgF 2 that can be used as the antireflection film 4.
  • MgF 2 is used as the base film 5
  • the adhesion between the base film 5 and the water-repellent film 6 is reduced, and excellent durability cannot be obtained.
  • the base film 5 is preferably formed of SiO 2 among the materials described above.
  • the base film 5 has a density of 70% to 100%. “Density” of 100% is a state in which there is no void in the underlying film 5. If there are voids, the density decreases accordingly. In addition, it is preferable that the density of the base film 5 is 80% or more and 100% or less.
  • the film thickness of the base film 5 is 1 nm or more and 200 nm or less from the viewpoint of the water repellency and antireflection effect of the water repellent film 6, and is preferably formed thinner than the antireflection film 4.
  • the film thickness of the base film 5 is preferably 1 nm or more and 100 m or less, more preferably 1 nm or more and 50 nm or less, and further preferably 1 nm or more and 20 nm or less.
  • the water repellent film 6 formed on the surface of the base film 5 is an organic compound containing a perfluoropolyether group.
  • An organic compound containing a perfluoropolyether group has excellent water repellency and oil repellency.
  • the organic compound containing a perfluoropolyether group is not particularly limited, for example, perfluoropolyether-modified silane can be presented.
  • the film thickness of the water repellent film 6 is 5 nm or more and 50 nm or less from the viewpoint of the water repellent property of the water repellent film 6.
  • the water repellent film 6 is a thin film and is coated on the surface of the base film 5.
  • the film thickness of the water repellent film 6 is preferably 5 nm or more and 20 m or less.
  • the water-repellent antireflection film 3 of the second embodiment is laminated on the surface of the glass lens 2 in the order of the base film 5 and the water-repellent film 6.
  • the antireflection film 4 shown in the first embodiment is removed.
  • the base film 5 is preferably formed of a material having a refractive index lower than that of the glass lens 2.
  • the base film 5 is preferably formed of SiO 2 .
  • an arbitrary pretreatment coat (not shown) is provided between the surface of the glass lens 2 and the antireflection film 4 or between the surface of the glass lens 2 and the base film 5 in FIG. May be given.
  • the material, film thickness and density of the base film 5 are defined, and the material and film thickness of the water repellent film 6 are defined.
  • the base film 5 has a high density and a wide bonding surface with the water repellent film 6. That is, the base film 5 in the present embodiment has many binding molecules per unit area and high binding properties. For this reason, a dehydration condensation reaction appropriately occurs between the water repellent film 6 and the hydroxyl group of the base film 5, and a strong covalent bond is formed between the base film 5 and the water repellent film 6. Further, the water repellent film 6 is formed as a thin film, and the degree of bonding of the entire water repellent film 6 can be increased.
  • the adhesion of the water-repellent film 6 can be improved, and as shown in a rubbing test described later, the peeling of the water-repellent film 6 can be suppressed and high durability can be obtained. .
  • the organic compound water-repellent film 6 is not directly formed on the surface of the inorganic compound antireflection film 4, and the material, the density, and the film thickness are defined.
  • a water repellent film 6 is formed through the ground film 5.
  • the manufacturing method of the lens with a water-repellent antireflection film of the first embodiment shown in FIG. 2 will be described.
  • the manufacturing process can be divided into a first process and a second process.
  • the substrate heating temperature in the film formation chamber (hereinafter referred to as the first film formation chamber) is set to 200 ° C. or higher and 350 ° C. or lower and is held under reduced pressure.
  • the substrate heating temperature refers to the heating temperature for the glass lens 2.
  • the heating temperature can be increased to 200 ° C. or higher.
  • the substrate heating temperature is preferably set to 250 ° C. or higher and 350 ° C. or lower.
  • the antireflection film 4 is formed by forming one or more single layers selected from O 5 , Ta 2 O 5 , and Nb 2 O 5 or a mixed layer containing two or more materials.
  • the lens with the antireflection film is taken out from the first film formation chamber.
  • a lens with an antireflection film is placed in a film formation chamber (hereinafter referred to as a second film formation chamber) separate from the first step.
  • the substrate heating temperature in the second film forming chamber is set to 250 ° C. or lower and the pressure is reduced.
  • it is preferable to set the substrate heating temperature in the second step to a temperature lower than the substrate heating temperature in the first step.
  • the substrate heating temperature can be set to room temperature (25 ° C.). A more preferable range of the substrate heating temperature is within a range from room temperature to 100 ° C.
  • a single layer selected from SiO 2 , ZrO 2 , Al 2 O 3 , TiO 2 , Ti 3 O 5 , Ta 2 O 5 , and Nb 2 O 5 is formed on the surface of the antireflection film 4.
  • the base film 5 is formed with a mixed layer containing two or more materials.
  • the base film 5 is preferably formed with a film thickness of 1 nm to 200 nm.
  • the film thickness of the base film 5 is more preferably 1 nm to 100 m, still more preferably 1 nm to 50 nm, and still more preferably 1 nm to 20 nm.
  • the base film 5 is formed by an ion beam assist method (Ion-beam Assisted Deposition: IAD) or a sputtering method.
  • IAD ion-beam Assisted Deposition
  • gas ions are irradiated onto the surface of a glass lens as a substrate with an ion gun during vacuum deposition.
  • the ion beam assist method the adhesion to the surface of the antireflection film 4 can be enhanced, and the density of the base film 5 is 70% to 100% (preferably 80% to 100%). In addition, it can be adjusted easily and appropriately.
  • the ion beam assist method can also be applied when the antireflection film 4 is deposited.
  • perfluoropolyethylene is maintained under reduced pressure in the same second film formation chamber (substrate heating temperature is 250 ° C. or lower, preferably 100 ° C. or lower) as in the formation of the base film 5.
  • substrate heating temperature is 250 ° C. or lower, preferably 100 ° C. or lower
  • a water repellent film 6 made of an organic compound having an ether group is formed.
  • the water-repellent film 6 can be deposited by an electron beam method (Electron Beam: EB) or a resistance heating deposition method.
  • the water repellent film 6 is preferably formed with a film thickness of 5 nm or more and 50 nm or less, and more preferably formed with a film thickness of 5 nm or more and 20 nm or less.
  • the lens 1 with a water-repellent antireflection film is taken out from the second film formation chamber. Then, a dehydration condensation reaction is appropriately generated between the hydroxyl group of the base film 5 and the water-repellent film 6 and stored in the atmosphere for a predetermined time until a strong covalent bond is formed.
  • the base film is kept under reduced pressure in the same film formation chamber (second film formation chamber) in which the substrate heating temperature is set to 250 ° C. or less. 5 and a water repellent film 6 are formed. Thereby, the cleanliness of the surface of the base film 5 can be increased, and when the water repellent film 6 is formed, the surface of the base film 5 can be kept in a state having an uncoupler.
  • uncouplers react with the gas in the atmosphere at the moment when they are released to the atmosphere and lose their bonding properties. That is, the antireflection film 4 formed in the first film formation chamber in the first step is exposed to the atmosphere when transferred to another second film formation chamber in the second step. For this reason, the uncoupler on the surface of the antireflection film 4 is combined with a gas component in the atmosphere, and the connectivity is lost.
  • the water repellent film 6 is formed while being kept under reduced pressure in the same film forming chamber. As described above, in this embodiment, the base film 5 and the water repellent film 6 are continuously formed while being held under reduced pressure. Therefore, when the water repellent film 6 is formed, the surface of the base film 5 is in a highly bonded state having unbonded members.
  • the base film 5 has a high density of 70% or more and 100% or less, and is coupled with the water repellent film 6 in combination with the above-described high bonding state having unbonded elements. A strong covalent bond can be formed.
  • the first process and the second process are divided into separate film forming chambers. It will be necessary to film. This is because it is necessary to change the substrate heating temperature between the first step and the second step. In the first step, the substrate heating temperature needs to be high in order to increase the strength of the antireflection film 4. In the present embodiment, since the glass lens 2 is used for the substrate, durability against the substrate heating temperature is provided, and the strength of the antireflection film 4 can be effectively increased by increasing the substrate heating temperature.
  • the substrate heating temperature needs to be lower than the substrate heating temperature in the first step or set to a room temperature level without heating. is there.
  • the film forming chamber is changed during the transition from the first step to the second step, and the substrate heating temperature of the second film forming chamber in the second step is lowered, thereby providing good water repellency. It becomes possible to obtain characteristics.
  • Example 1 In Example 1, the materials shown in Table 1 below were used, the first step and the second step were performed at the substrate heating temperature shown in Table 1, and the density, film thickness, and refractive index shown in Table 1 were obtained. A lens with a water-repellent antireflection film was obtained.
  • the refractive index nd of the glass lens (refractive index at d line (588 nm)) was 1.85135.
  • the refractive index nd of the glass lens is the same in Examples 2 to 9 and Comparative Examples 1 to 3.
  • the density was determined from the ratio between the known refractive index of the material and the refractive index of the film including the voids formed (the refractive index of the film in vacuum).
  • the refractive index of the film in vacuum was obtained by measuring the reflectance during film formation using an optical film thickness meter in a vacuum-deposited film formation chamber and converting it to a refractive index.
  • a vapor deposition machine SGC-22SA
  • the density may be measured by high resolution Rutherford backscattering analysis (HR-RBS: High Resolution Rutherford Backing Spectrometry).
  • HR-RBS High Resolution Rutherford Backing Spectrometry
  • the reflectivity of the substrate taken out into the atmosphere was measured with a microscope type spectrophotometer (USPM-RU3) manufactured by Olympus Corporation, and converted into a refractive index.
  • the refractive index is at a wavelength of 550 nm.
  • a film thickness can be measured using a cross-sectional TEM photograph, for example. The measurement of the above-mentioned density, refractive index, and film thickness is the same in Examples 2 to 9 and Comparative Examples 1 to 3.
  • Example 1 the substrate heating temperature in the first step was 250 ° C., and antireflection films were alternately laminated up to 7 layers of SiO 2 and Ta 2 O 5 .
  • the substrate heating temperature was 25 ° C. (no heating).
  • a film made of SiO 2 having a density of 100% and a film thickness of 20 nm was formed as the base film.
  • a film made of fluoroalkyl ether having a film thickness of 15 nm was formed as the water repellent film.
  • Example 2 In Example 2, the materials shown in Table 2 below were used, the first step and the second step were performed at the substrate heating temperature shown in Table 2, and the density, film thickness, and refractive index shown in Table 2 were obtained. A lens with a water-repellent antireflection film was obtained.
  • Example 2 the substrate heating temperature in the first step was set to 200 ° C., and the antireflection film was alternately laminated up to 6 layers of Al 2 O 3 and a composite material of ZrO 2 and TiO 2. Was SiO 2 .
  • the substrate heating temperature was 100 ° C.
  • a film made of fluoroalkyl ether having a thickness of 10 nm was formed as the water repellent film.
  • Example 3 In Example 3, the materials shown in Table 3 below were used, the first step and the second step were performed at the substrate heating temperature shown in Table 3, and the density, film thickness, and refractive index shown in Table 3 were obtained. A lens with a water-repellent antireflection film was obtained.
  • Example 3 the substrate heating temperature in the first step was set to 350 ° C., and antireflection films were alternately laminated up to 9 layers of SiO 2 and TiO 2 .
  • the substrate heating temperature was 25 ° C. (no heating).
  • a film made of SiO 2 having a density of 100% and a film thickness of 100 nm was formed as the base film.
  • a film made of fluoroalkyl ether having a thickness of 20 nm was formed as the water repellent film.
  • Example 4 In Example 4, the materials shown in Table 4 below were used, the first step and the second step were performed at the substrate heating temperature shown in Table 4, and the density, film thickness, and refractive index shown in Table 4 were obtained. A lens with a water-repellent antireflection film was obtained.
  • Example 4 the substrate heating temperature in the first step was 250 ° C., and the antireflection film was laminated up to four layers with the materials shown in Table 4.
  • the substrate heating temperature was 25 ° C. (no heating).
  • a film made of SiO 2 having a density of 100% and a film thickness of 20 nm was formed as the base film.
  • a film made of fluoroalkyl ether having a film thickness of 15 nm was formed as the water repellent film.
  • Example 5 In Example 5, the materials shown in Table 5 below were used, the first step and the second step were performed at the substrate heating temperature shown in Table 5, and the density, film thickness, and refractive index shown in Table 5 were obtained. A lens with a water-repellent antireflection film was obtained.
  • Example 5 the substrate heating temperature in the first step was 250 ° C., and the antireflection film was formed of one layer of SiO 2 .
  • the substrate heating temperature in the second step was 25 ° C. (no heating).
  • a film made of SiO 2 having a density of 100% and a film thickness of 20 nm was formed as the base film.
  • a film made of fluoroalkyl ether having a film thickness of 15 nm was formed as the water repellent film.
  • Example 6 In Example 6, a water repellent antireflective film having the density, film thickness, and refractive index shown in Table 6 using the materials shown in Table 6 below and applying the second step at the substrate heating temperature shown in Table 6 A lens with attached was obtained.
  • Example 6 the first step was not performed.
  • the substrate heating temperature was set to 25 ° C. (no heating).
  • a film made of SiO 2 having a density of 100% and a film thickness of 20 nm was formed as the base film.
  • a film made of fluoroalkyl ether having a film thickness of 15 nm was formed as the water repellent film.
  • Example 7 In Example 7, the materials shown in Table 7 below were used, the first step and the second step were performed at the substrate heating temperature shown in Table 7, and the density, film thickness, and refractive index shown in Table 7 were obtained. A lens with a water-repellent antireflection film was obtained.
  • Example 7 the substrate heating temperature in the first step was 250 ° C., and antireflection films were alternately laminated up to 7 layers of SiO 2 and Nb 2 O 5.
  • the substrate heating temperature was 25 ° C. (no heating).
  • a film made of fluoroalkyl ether having a film thickness of 15 nm was formed as the water repellent film.
  • Example 8 In Example 8, the materials shown in Table 8 below were used, the first step and the second step were performed at the substrate heating temperature shown in Table 8, and the density, film thickness, and refractive index shown in Table 8 were obtained. A lens with a water-repellent antireflection film was obtained.
  • the substrate heating temperature in the first step was 250 ° C., and antireflection films were alternately laminated up to 7 layers of SiO 2 and Ti 3 O 5 .
  • the substrate heating temperature was 25 ° C. (no heating).
  • a film made of Al 2 O 3 having a density of 100% and a film thickness of 10 nm was formed on the base film.
  • a film made of fluoroalkyl ether having a film thickness of 15 nm was formed as the water repellent film.
  • Example 9 In Example 9, a water repellent antireflection film having the density, film thickness, and refractive index shown in Table 9 by using the materials shown in Table 9 below and applying the second step at the substrate heating temperature shown in Table 9 A lens with attached was obtained.
  • Example 9 the substrate heating temperature in the first step was set to 220 ° C., and antireflection films were alternately laminated up to 7 layers of SiO 2 and Ta 2 O 5 .
  • the substrate heating temperature was set to 25 ° C. (no heating).
  • a film made of SiO 2 having a density of 80% and a thickness of 20 nm was formed as the base film.
  • a film made of fluoroalkyl ether having a film thickness of 15 nm was formed as the water repellent film.
  • Comparative Example 1 In Comparative Example 1, the materials shown in Table 10 below were used, the first step and the second step were performed at the substrate heating temperature shown in Table 10, and the density, film thickness, and refractive index shown in Table 10 were obtained. A lens with a water-repellent antireflection film was obtained.
  • the substrate heating temperature in the first step was set to 220 ° C., and antireflection films were alternately laminated up to 7 layers of SiO 2 and Ta 2 O 5 .
  • the substrate heating temperature was 25 ° C. (no heating).
  • the water repellent film a film made of fluoroalkyl ether having a film thickness of 15 nm was formed. A base film was not formed.
  • Comparative Example 2 In Comparative Example 2, a water repellent antireflection film having the density, film thickness, and refractive index shown in Table 11 by using the material shown in Table 11 below and applying the second step at the substrate heating temperature shown in Table 11 A lens with attached was obtained.
  • the substrate heating temperature in the first step was 220 ° C., and antireflection films were alternately laminated up to 7 layers of SiO 2 and Ta 2 O 5 .
  • the substrate heating temperature was set to 25 ° C. (no heating).
  • a film made of MgF 2 having a density of 80% and a thickness of 20 nm was formed on the base film.
  • a film made of fluoroalkyl ether having a film thickness of 15 nm was formed as the water repellent film.
  • Comparative Example 3 In Comparative Example 3, a water repellent antireflection film having the density, film thickness, and refractive index shown in Table 12 by using the material shown in Table 12 below and applying the second step at the substrate heating temperature shown in Table 12 A lens with attached was obtained.
  • the substrate heating temperature in the first step was 220 ° C., and antireflection films were alternately laminated up to 7 layers of SiO 2 and Ta 2 O 5 .
  • the substrate heating temperature was set to 25 ° C. (no heating).
  • a film made of SiO 2 having a density of 65% and a film thickness of 20 nm was formed as the base film.
  • a film made of fluoroalkyl ether having a film thickness of 15 nm was formed as the water repellent film.
  • Example 9 having the base film (SiO 2 )
  • a contact angle of about 110 ° or more could be stably obtained up to about 7000 reciprocations.
  • Comparative Example 1 having no base film (SiO 2 ) when the number of reciprocating repetitions exceeds about 3000 times, the contact angle rapidly decreases, and when the number of reciprocating repetitions reaches about 5000 times, the contact angle becomes It was found to decrease to about 70 °.
  • Example 9 having the base film (SiO 2 ), a contact angle of about 110 ° or more could be stably obtained up to about 7000 reciprocations.
  • Comparative Example 2 having the base film (MgF 2 ) the contact angle is already only about 85 ° before the rubbing test, and when the number of reciprocations is about 100, the contact angle is about 53. The contact angle suddenly decreased to °.
  • the base film a material having a hydroxyl group and causing a dehydration condensation reaction when bonded to the water-repellent film such as SiO 2 is preferable.
  • the base film is made of SiO 2 , ZrO 2 , Al 2.
  • Example 6 having a base film (SiO 2 ) with a density of 100%, a contact angle of about 105 ° or more could be obtained even when the number of reciprocations exceeded 20000. .
  • Comparative Example 3 having a base film (SiO 2 ) with a density of 65%, when the number of reciprocating repetitions exceeds about 7000 times, the contact angle rapidly decreases, and the number of reciprocating repetitions reaches about 10,000 times. The contact angle was found to decrease to about 90 °.
  • the base film as the base layer of the water repellent film needs to have a high density, and the density was set to 70% or more and 100% or less based on this example.
  • the lens with a water-repellent antireflection film of the present invention is excellent in the adhesion and durability of the water-repellent film. Therefore, it can be preferably applied to a glass lens for a surveillance camera or a vehicle-mounted camera, which requires high water repellency on the lens surface.

Landscapes

  • Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

撥水膜の密着性及び耐久性を向上させた撥水性反射防止膜付きレンズ及びその製造方法を提供する。ガラスレンズの表面に、少なくとも、下地膜及び撥水膜の順に積層された撥水性反射防止膜を有し、前記下地膜は、SiO2、ZrO2、Al2O3、TiO2、Ti3O5、Ta2O5、及び、Nb2O5から選択される単層又は2種以上を含む混合層で形成され、緻密度が70%以上100%以下で、膜厚が1nm以上200nm以下であり、前記撥水膜は、前記下地膜の表面に、パーフルオロポリエーテル基を含む有機化合物で形成され、膜厚が5nm以上50nm以下である、ことを特徴とする撥水性反射防止膜付きレンズ。

Description

撥水性反射防止膜付きレンズ及びその製造方法
 本発明は、撥水性反射防止膜付きレンズ及びその製造方法に関する。
 レンズの表面に撥水コートして、撥水性を向上させる技術が知られている。例えば、下記特許文献には、有機化合物の撥水膜をレンズ表面に成膜した発明が開示されている。
特開2006-284855号公報 特開2014-6349号公報 国際公開第2008/053712号
 しかしながら、レンズ表面に形成された無機化合物の反射防止膜の表面に、有機化合物の撥水膜を成膜した構成では、撥水膜が容易に剥がれやすく、撥水膜の耐久性が劣る問題があった。上記に挙げた各特許文献では、無機化合物の表面に形成した撥水膜の密着性・耐久性を向上させるうえでの好ましい膜構成について開示がされていない。
 本発明は、以上の問題意識に基づいてなされたものであり、撥水膜の密着性及び耐久性を向上させた撥水性反射防止膜付きレンズ及びその製造方法を提供することを目的とする。
 本発明の撥水性反射防止膜付きレンズは、ガラスレンズの表面に、少なくとも、下地膜及び撥水膜の順に積層された撥水性反射防止膜を有し、前記下地膜は、SiO、ZrO、Al、TiO、Ti、Ta、及び、Nbから選択される単層又は2種以上を含む混合層で形成され、緻密度が70%以上100%以下で、膜厚が1nm以上200nm以下であり、前記撥水膜は、前記下地膜の表面に、パーフルオロポリエーテル基を含む有機化合物で形成され、膜厚が5nm以上50nm以下である、ことを特徴とする。
 本発明では、前記撥水性反射防止膜は、前記ガラスレンズの表面に、反射防止膜、前記下地膜及び前記撥水膜の順に積層されており、前記反射防止膜は、SiO、MgF、ZrO、Al、TiO、Ti、Ta、及び、Nbから選択される単層又は2種以上の材料を含む混合層を、1層以上有して形成されていることが好ましい。
 また、本発明では、前記下地膜は、SiOで形成されることが好ましい。
 また、本発明では、前記ガラスレンズの表面は、非球面であることが好ましい。
 また、本発明の撥水性反射防止膜付きレンズの製造方法は、ガラスレンズの表面に、SiO、ZrO、Al、TiO、Ti、Ta、及び、Nbから選択される単層又は2種以上の材料を含む混合層にて下地膜を形成する工程と、前記下地膜の表面に、パーフルオロポリエーテル基を有する有機化合物にて撥水膜を形成する工程と、を有し、前記下地膜と前記撥水膜とを、基板加熱温度を250℃以下とした同じ成膜チャンバ内で減圧下に保持したまま成膜する、ことを特徴とする。
 本発明では、前記下地膜を形成する工程の前に、基板加熱温度を200℃以上350℃以下とした第1成膜チャンバ内で、前記ガラスレンズの表面に、SiO、MgF、ZrO、Al、TiO、Ti、Ta、及び、Nbから選択される単層又は2種以上の材料を含む混合層を、1層以上成膜して反射防止膜を形成する第1工程を有し、前記第1工程の後に、前記第1工程で使用した前記第1成膜チャンバとは別の前記基板加熱温度を250℃以下とした第2成膜チャンバ内にて減圧下に保持したまま、前記下地膜及び前記撥水膜を形成する第2工程を有する、ことが好ましい。
 また、本発明では、前記下地膜を、イオンビームアシスト法またはスパッタ法により成膜することが好ましい。
 また、本発明では、前記下地膜を、1nm以上200nm以下の膜厚で形成し、前記撥水膜を、5nm以上50nm以下の膜厚で形成することが好ましい。
 また、本発明では、前記下地膜を、SiOにて形成することが好ましい。
 本発明によれば、撥水膜の密着性・耐久性に優れる撥水性反射防止膜付きレンズ及びその製造方法を提供することができる。
本実施形態の撥水性反射防止膜付きレンズの模式図である。 第1実施形態の撥水性反射防止膜付きレンズの部分拡大模式図である。 第2実施形態の撥水性反射防止膜付きレンズの部分拡大模式図である。 実施例9(下地膜(SiO)あり)及び比較例1(下地膜なし)の往復繰り返し回数と接触角との関係を示すグラフである。 実施例9(下地膜SiO)及び比較例2(下地膜MgF)の往復繰り返し回数と接触角との関係を示すグラフである。 実施例6(下地膜(SiO):緻密度100%)及び比較例3(下地膜(SiO):緻密度65%)の往復繰り返し回数と接触角との関係を示すグラフである。
 以下、本発明を実施するための形態(以下、単に「本実施形態」という。)について詳細に説明する。
 本発明者らは、有機化合物の撥水膜に対する下地膜を、鋭意研究し、撥水膜の密着性及び耐久性を向上させるに至った。すなわち、本実施形態の撥水性反射防止膜付きレンズは、以下の特徴的部分(1)~(3)を備えている。
(1)ガラスレンズの表面に、少なくとも、下地膜及び撥水膜の順に積層された撥水性反射防止膜を有する。
(2)下地膜は、SiO、ZrO、Al、TiO、Ti、Ta、及び、Nbから選択される単層又は2種以上を含む混合層で形成される。下地膜の緻密度は、70%以上100%以下である。また、下地膜の膜厚は、1nm以上200nm以下である。
(3)撥水膜は、パーフルオロポリエーテル基を含む有機化合物で形成される。撥水膜の膜厚は、5nm以上50nm以下である。
 図1は、本実施形態の撥水性反射防止膜付きレンズの模式図である。図1に示す撥水性反射防止膜付きレンズ1は、基板としてのガラスレンズ2と、ガラスレンズ2の光入射側の表面に形成された撥水性反射防止膜3と、を有して構成される。
 ガラスレンズ2は、特に限定されるものでないが、例えば、監視カメラや車載カメラ用のガラスレンズである。また、撥水性反射防止膜3が成膜されるガラスレンズ2の表面は、例えば、非球面である。図1のガラスレンズ2は、例えば、負のパワーを有するメニスカスレンズであるが、正のパワーを有するメニスカスレンズであってもよいし、両凸レンズあるいは両凹レンズ等でもよい。
 撥水性反射防止膜3は、上記(1)で示したように、少なくとも、下地膜及び撥水膜を備える。また、下地膜は、上記(2)の特徴的部分を、撥水膜は、上記(3)の特徴的部分を、夫々、備えている。なお、光学的には、撥水性反射防止膜3全体で反射防止効果を発揮する。
 以下、撥水性反射防止膜3について、更に詳しく説明する。
<第1実施形態>
 図2に示すように、第1実施形態の撥水性反射防止膜3は、ガラスレンズ2の表面から、反射防止膜4、下地膜5、及び、撥水膜6の順に積層されている。
 反射防止膜4は、ガラスレンズ2の表面に、SiO、MgF、ZrO、Al、TiO、Ti、Ta、及び、Nbから選択される単層又は2種以上の材料を含む混合層を、1層以上有して構成される。反射防止膜4を構成するこれらの無機化合物は、いずれも透明酸化物である。
 反射防止膜4は、ガラスレンズ2単体の場合よりも反射率が低くなるように調整される。具体的には反射防止膜4、下地膜5、撥水膜6を設けたレンズ全体が、所望の分光反射率を持つように各層の屈折率及び膜厚を決定する。よって、ガラスレンズ2の屈折率よりも低い膜であれば反射防止膜4は、1層でもよい。また、多層膜の場合、低屈折率層と高屈折率層とを交互に積層した構成とすることができる。このとき、高屈折率層は、ガラスレンズ2の屈折率より高くてもよい。反射防止膜4は、例えば、1層から15層程度、積層され、好ましくは、1層から10層積層されて構成される。反射防止膜4の積層数、材質及び膜厚は、反射率を抑制する波長領域に基づいて種々選択できる。
 なお、反射防止膜4の膜厚を限定するものでないが、反射防止膜4の膜厚(トータル厚)は、50nm~500nm程度である。
 図2に示す反射防止膜4の表面に形成される下地膜5は、反射防止膜4の最外層に位置する。図2に示す第1実施形態では、下地膜5と反射防止膜4と撥水膜6とを合わせた全体で所望の反射率特性を満たすように調節する。
 また、反射防止膜4の表面に形成された下地膜5は、撥水膜6の下地として機能する。下地膜5は、SiO、ZrO、Al、TiO、Ti、Ta、及び、Nbから選択される単層又は2種以上を含む混合層で形成される。反射防止膜4を構成する無機化合物と対比すると、下地膜5では、反射防止膜4として使用可能なMgFを用いることはできない。後述する実験に示すように、下地膜5としてMgFを用いると、下地膜5と撥水膜6との間の密着度が低下し、優れた耐久性が得られないことがわかっている。本実施形態では、下地膜5は、上記した材質のうち、SiOで形成されることが好ましい。
 下地膜5は、70%以上100%以下の緻密度を有している。「緻密度」が100%とは、下地膜5に空隙部分が無い状態である。空隙部分が存在すれば、その分だけ緻密度は低下する。なお、下地膜5の緻密度は、80%以上100%以下であることが好ましい。
 下地膜5の膜厚は、撥水膜6の撥水特性及び反射防止効果の観点から、1nm以上200nm以下であり、反射防止膜4より薄く形成されることが好ましい。下地膜5の膜厚は、1nm以上100m以下であることが好ましく、1nm以上50nm以下であることがより好ましく、1nm以上20nm以下が更に好ましい。
 下地膜5の表面に形成される撥水膜6は、パーフルオロポリエーテル基を含む有機化合物である。パーフルオロポリエーテル基を含む有機化合物は、優れた撥水性及び、撥油性を有する。パーフルオロポリエーテル基を含む有機化合物は、特に限定されるものでないが、例えば、パーフルオロポリエーテル変性シランを提示することができる。
 撥水膜6の膜厚は、撥水膜6の撥水特性の観点から、5nm以上50nm以下で形成される。このように、撥水膜6は、薄膜で、下地膜5の表面にコーティングされる。撥水膜6の膜厚は、5nm以上20m以下であることが好ましい。
<第2実施形態>
 図3に示すように、第2実施形態の撥水性反射防止膜3は、ガラスレンズ2の表面に、下地膜5、及び、撥水膜6の順に積層されている。第2実施形態は、第1実施形態に示した反射防止膜4を除去した構成である。
 下地膜5、及び撥水膜6の膜構成については、上記の第1実施形態の説明を参照されたい。
 図3に示す第2実施形態では、下地膜5は、ガラスレンズ2の屈折率よりも低い屈折率の材質で形成されることが好ましい。下地膜5は、SiOで形成されることが好適である。
 なお、図2において、ガラスレンズ2の表面と反射防止膜4との間、或いは、図3において、ガラスレンズ2の表面と下地膜5との間に、任意の前処理コート(図示せず)が施されていてもよい。
 上記したように、第1実施形態及び第2実施形態では、下地膜5の材質、膜厚及び緻密度を規定し、且つ撥水膜6の材質、及び膜厚を規定する。上記したように、下地膜5は、緻密度が高く、撥水膜6との間で広い結合面を有している。すなわち、本実施形態における下地膜5は、単位面積当たりの結合分子が多く結合性が高い。このため、撥水膜6と、下地膜5のヒドロキシル基との間で適切に脱水縮合反応が生じ、下地膜5と撥水膜6との間で強固な共有結合が形成される。また、撥水膜6は薄膜で形成されており、撥水膜6全体の結合度を高めることができる。
 以上により、本実施形態では、撥水膜6の密着性を高めることができ、後述する擦り試験に示すように、撥水膜6の剥離を抑制でき、高い耐久性を得ることが可能である。
 また、第1実施の形態に示すように、無機化合物の反射防止膜4の表面に、直接、有機化合物の撥水膜6を成膜せず、材質、緻密度、及び膜厚を規定した下地膜5を介して撥水膜6を成膜する。これにより、撥水膜6の密着性・耐久性を向上させることができると共に、優れた反射防止効果を得ることができる。
<撥水性反射防止膜付きレンズの製造方法>
 まず、図2に示す第1実施形態の撥水性反射防止膜付きレンズの製造方法について説明する。図2に示す第1実施形態では、製造工程を、第1工程と、第2工程とに分けることができる。
(第1工程)
 第1工程では、ガラスレンズ2の表面に、反射防止膜4を成膜する。このとき、成膜チャンバ(以下、第1成膜チャンバと称する)内での基板加熱温度を200℃以上350℃以下とし減圧下で保持する。基板加熱温度は、ガラスレンズ2に対する加熱温度を指す。本実施形態では、基板がガラスレンズ2であるため、加熱温度を200℃以上に高めることができる。また、本実施形態では、基板加熱温度を、250℃以上350℃以下に設定することが好ましい。
 第1工程では、上記のように基板加熱温度が設定された第1成膜チャンバ内にて減圧下で保持したまま、SiO、MgF、ZrO、Al、TiO、Ti、Ta、及び、Nbから選択される単層又は2種以上の材料を含む混合層を、1層以上成膜して反射防止膜4を形成する。
 反射防止膜4を形成した後、第1成膜チャンバから反射防止膜付きレンズを取り出す。
(第2工程)
 次に、第1工程とは別の成膜チャンバ(以下、第2成膜チャンバと称する)内に、反射防止膜付きレンズを設置する。第2工程では、第2成膜チャンバ内での基板加熱温度を250℃以下とし、減圧下とする。このとき、第2工程での基板加熱温度を、第1工程での基板加熱温度よりも低い温度に設定することが好適である。本実施形態では、基板加熱温度を、100℃以下に設定することが好ましい。また、基板加熱温度を常温(25℃)に設定することが可能である。基板加熱温度のより好ましい範囲としては、常温から100℃の範囲内である。
 第2工程では、反射防止膜4の表面に、SiO、ZrO、Al、TiO、Ti、Ta、及び、Nbから選択される単層又は2種以上の材料を含む混合層にて下地膜5を成膜する。このとき、下地膜5を、1nm以上200nm以下の膜厚で形成することが好ましい。下地膜5の膜厚を、より好ましくは、1nm以上100m以下、更に好ましくは、1nm以上50nm以下、更により好ましくは、1nm以上20nm以下とする。
 また、下地膜5を、イオンビームアシスト法(Ion-beam Assisted Deposition:IAD)もしくはスパッタ法にて成膜することが好ましい。イオンビームアシスト法では、真空蒸着中に、イオン銃で、ガスイオンを基板であるガラスレンズの表面に照射する。イオンビームアシスト法により、反射防止膜4の表面への密着性を高めることができると共に、下地膜5の緻密度が70%以上100%以下(好ましくは、80%以上100%以下)となるように、簡単且つ適切に、調節することができる。なお、イオンビームアシスト法は、反射防止膜4を蒸着する際にも適用することができる。
 続けて、第2工程では、下地膜5の成膜と同じ第2成膜チャンバ(基板加熱温度を250℃以下、好ましくは、100℃以下)内にて減圧下で保持したまま、パーフルオロポリエーテル基を有する有機化合物からなる撥水膜6を成膜する。このとき、撥水膜6を、電子ビーム法(Electron Beam:EB)或いは、抵抗加熱蒸着法により蒸着することができる。
 また、撥水膜6を、5nm以上50nm以下の膜厚で形成することが好ましく、5nm以上20nm以下の膜厚で形成することがより好ましい。
 第2工程が終了した後、第2成膜チャンバから、撥水性反射防止膜付きレンズ1を取り出す。そして、下地膜5のヒドロキシル基と、撥水膜6との間で適切に脱水縮合反応を生じさせ、強固な共有結合を形成するまで、大気中に所定時間保存する。
 図3に示す第2実施形態の撥水性反射防止膜付きレンズ1の製造方法では、上記した第2工程のみを行なえばよい。
 本実施形態における撥水性反射防止膜付きレンズ1の製造方法では、基板加熱温度を250℃以下に設定した同じ成膜チャンバ(第2成膜チャンバ)内にて減圧下で保持したまま、下地膜5及び撥水膜6を成膜する。これにより、下地膜5の表面の清浄度を高め、且つ、撥水膜6を成膜する際、下地膜5の表面に、未結合子を有する状態に保つことができる。
 ここで、未結合子は、大気解放した瞬間に、大気中のガスと反応して結合性が失われる。すなわち、第1工程にて、第1成膜チャンバ内で形成した反射防止膜4は、第2工程で別の第2成膜チャンバに移される際、大気に曝される。このため、反射防止膜4表面の未結合子は、大気中のガス成分と結合し、結合性が失われている。これに対し、本実施形態では、下地膜5を形成した後、そのまま同じ成膜チャンバ内にて減圧下で保持したまま撥水膜6を形成する。このように、本実施形態では、減圧下で、保持したまま、下地膜5及び撥水膜6を連続して形成する。よって、撥水膜6を形成する際、下地膜5の表面は未結合子を有する結合性の高い状態にある。
 また、本実施形態では、下地膜5は、70%以上100%以下の高い緻密度を備えており、上記した未結合子を有する結合性の高い状態と相まって、撥水膜6との間で強固な共有結合を形成することができる。
 また、反射防止膜4、下地膜5及び、撥水膜6を成膜する図2に示す構成では、上記したように、第1工程と第2工程とに分けて別の成膜チャンバで成膜することが必要になる。それは、基板加熱温度を第1工程と第2工程とで変える必要があるためである。第1工程では、反射防止膜4の強度を高めるために、基板加熱温度が高いことが必要である。本実施の形態では、基板にガラスレンズ2を用いるため、基板加熱温度に対する耐久性を備えており、基板加熱温度を高めて、反射防止膜4の強度を効果的に高めることができる。一方、第2工程では、撥水膜6の良好な撥水特性を得るために、基板加熱温度を、第1工程の基板加熱温度よりも下げるか、或いは加熱せずに常温レベルとする必要がある。このとき、第1工程と同じ第1成膜チャンバを使用するのでは、基板加熱温度を下げるのに非常に時間がかかり製造効率が低下する。このため、本実施形態では、第1工程から第2工程の移行の際に成膜チャンバを変え、第2工程での第2成膜チャンバの基板加熱温度を低くすることで、良好な撥水特性を得ることが可能になる。以上により、撥水膜6の優れた密着性・耐久性と共に、反射防止効果及び撥水効果に優れた撥水性反射防止膜付きレンズ1を製造することができる。
 以下、本実施形態を実施例及び比較例を用いてより具体的に説明する。実験では、以下に示す実施例1から実施例9及び比較例1から比較例3を製造した。
[実施例1]
 実施例1では、以下の表1に示す材料を用い、表1に示す基板加熱温度にて、第1工程、及び第2工程を施し、表1に示す緻密度、膜厚及び屈折率を有する撥水性反射防止膜付きレンズを得た。なお、ガラスレンズの屈折率nd(d線(588nm)での屈折率)は、1.85135であった。ガラスレンズの屈折率ndは、実施例2から実施例9及び比較例1から比較例3においても同様である。ここで、緻密度は、材料の既知の屈折率と成膜した空隙を含む膜の屈折率(真空中での膜の屈折率)の比から求めた。真空中膜の屈折率は、真空保持された成膜チャンバ内にて光学膜厚計を使用して、成膜中の反射率を測定し、屈折率に換算して求めた。なお、実験では、(株)昭和真空製の蒸着機(SGC-22SA)を使用した。また、緻密度は、高分解能ラザフォード後方散乱分析(HR―RBS:High Resolution Rutherford Backscattering Spectrometry)によって測定してもよい。また、各層の屈折率は、膜の反射率から換算して求めた(大気中の膜の屈折率に該当)。具体的には、大気中に取り出した基板を、オリンパス(株)製の顕微鏡型分光測定機(USPM―RU3)にて反射率を測定し、屈折率に換算して求めた。なお、屈折率は、波長550nmにおけるものである。また、膜厚は、例えば、断面TEM写真を用いて測定することができる。上記の緻密度、屈折率、及び膜厚の測定は、実施例2から実施例9及び比較例1から比較例3においても同様である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 実施例1では、第1工程での基板加熱温度を250℃とし、反射防止膜を、SiOとTaとを交互に7層まで積層した。また、第2工程では、基板加熱温度を25℃(無加熱)とした。下地膜には、緻密度が100%で膜厚が20nmのSiOからなる膜を形成した。また、撥水膜には、膜厚が15nmのフルオロアルキルエーテルから成る膜を形成した。
[実施例2]
 実施例2では、以下の表2に示す材料を用い、表2に示す基板加熱温度にて、第1工程、及び第2工程を施し、表2に示す緻密度、膜厚及び屈折率を有する撥水性反射防止膜付きレンズを得た。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
 実施例2では、第1工程での基板加熱温度を200℃とし、反射防止膜を、Alと、ZrO及びTiOの複合材とを交互に6層まで積層し、7層目をSiOとした。また、第2工程では、基板加熱温度を100℃とした。下地膜には、緻密度が80%で膜厚が10nmのSiOからなる膜を形成した。また、撥水膜には、膜厚が10nmのフルオロアルキルエーテルからなる膜を形成した。
[実施例3]
 実施例3では、以下の表3に示す材料を用い、表3に示す基板加熱温度にて、第1工程、及び第2工程を施し、表3に示す緻密度、膜厚及び屈折率を有する撥水性反射防止膜付きレンズを得た。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000003
 実施例3では、第1工程での基板加熱温度を350℃とし、反射防止膜を、SiOと、TiOとを交互に9層まで積層した。また、第2工程では、基板加熱温度を25℃(無加熱)とした。下地膜には、緻密度が100%で膜厚が100nmのSiOからなる膜を形成した。また、撥水膜には、膜厚が20nmのフルオロアルキルエーテルからなる膜を形成した。
[実施例4]
 実施例4では、以下の表4に示す材料を用い、表4に示す基板加熱温度にて、第1工程、及び第2工程を施し、表4に示す緻密度、膜厚及び屈折率を有する撥水性反射防止膜付きレンズを得た。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000004
 実施例4では、第1工程での基板加熱温度を250℃とし、反射防止膜を、表4に示す材質で4層まで積層した。また、第2工程では、基板加熱温度を25℃(無加熱)とした。下地膜には、緻密度が100%で膜厚が20nmのSiOからなる膜を形成した。また、撥水膜には、膜厚が15nmのフルオロアルキルエーテルからなる膜を形成した。
[実施例5]
 実施例5では、以下の表5に示す材料を用い、表5に示す基板加熱温度にて、第1工程、及び第2工程を施し、表5に示す緻密度、膜厚及び屈折率を有する撥水性反射防止膜付きレンズを得た。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000005
 実施例5では、第1工程での基板加熱温度を250℃とし、反射防止膜を、SiOの1層で形成した。また、第2工程では、基板加熱温度を25℃(無加熱)とした。下地膜には、緻密度が100%で膜厚が20nmのSiOからなる膜を形成した。また、撥水膜には、膜厚が15nmのフルオロアルキルエーテルからなる膜を形成した。
[実施例6]
 実施例6では、以下の表6に示す材料を用い、表6に示す基板加熱温度にて、第2工程を施し、表6に示す緻密度、膜厚及び屈折率を有する撥水性反射防止膜付きレンズを得た。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000006
 実施例6では、第1工程を施さなかった。第2工程では、基板加熱温度を25℃(無加熱)とした。下地膜には、緻密度が100%で膜厚が20nmのSiOからなる膜を形成した。また、撥水膜には、膜厚が15nmのフルオロアルキルエーテルからなる膜を形成した。
[実施例7]
 実施例7では、以下の表7に示す材料を用い、表7に示す基板加熱温度にて、第1工程及び、第2工程を施し、表7に示す緻密度、膜厚及び屈折率を有する撥水性反射防止膜付きレンズを得た。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000007
 実施例7では、第1工程での基板加熱温度を250℃とし、反射防止膜を、SiOとNbO5とを交互に7層まで積層した。また、第2工程では、基板加熱温度を25℃(無加熱)とした。下地膜には、緻密度が80%で膜厚が5nmのZrOからなる膜を形成した。また、撥水膜には、膜厚が15nmのフルオロアルキルエーテルからなる膜を形成した。
[実施例8]
 実施例8では、以下の表8に示す材料を用い、表8に示す基板加熱温度にて、第1工程及び、第2工程を施し、表8に示す緻密度、膜厚及び屈折率を有する撥水性反射防止膜付きレンズを得た。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000008
 実施例8では、第1工程での基板加熱温度を250℃とし、反射防止膜を、SiOとTiとを交互に7層まで積層した。また、第2工程では、基板加熱温度を25℃(無加熱)とした。下地膜には、緻密度が100%で膜厚が10nmのAlからなる膜を形成した。また、撥水膜には、膜厚が15nmのフルオロアルキルエーテルからなる膜を形成した。
[実施例9]
 実施例9では、以下の表9に示す材料を用い、表9に示す基板加熱温度にて、第2工程を施し、表9に示す緻密度、膜厚及び屈折率を有する撥水性反射防止膜付きレンズを得た。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000009
 実施例9では、第1工程での基板加熱温度を220℃とし、反射防止膜を、SiOとTaとを交互に7層まで積層した。第2工程では、基板加熱温度を25℃(無加熱)とした。下地膜には、緻密度が80%で膜厚が20nmのSiOからなる膜を形成した。また、撥水膜には、膜厚が15nmのフルオロアルキルエーテルからなる膜を形成した。
[比較例1]
 比較例1では、以下の表10に示す材料を用い、表10に示す基板加熱温度にて、第1工程及び、第2工程を施し、表10に示す緻密度、膜厚及び屈折率を有する撥水性反射防止膜付きレンズを得た。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000010
 比較例1では、第1工程での基板加熱温度を220℃とし、反射防止膜を、SiOとTaとを交互に7層まで積層した。また、第2工程では、基板加熱温度を25℃(無加熱)とした。撥水膜には、膜厚が15nmのフルオロアルキルエーテルからなる膜を形成した。下地膜は形成しなかった。
[比較例2]
 比較例2では、以下の表11に示す材料を用い、表11に示す基板加熱温度にて、第2工程を施し、表11に示す緻密度、膜厚及び屈折率を有する撥水性反射防止膜付きレンズを得た。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000011
 比較例2では、第1工程での基板加熱温度を220℃とし、反射防止膜を、SiOとTaとを交互に7層まで積層した。第2工程では、基板加熱温度を25℃(無加熱)とした。下地膜には、緻密度が80%で膜厚が20nmのMgFからなる膜を形成した。また、撥水膜には、膜厚が15nmのフルオロアルキルエーテルからなる膜を形成した。
[比較例3]
 比較例3では、以下の表12に示す材料を用い、表12に示す基板加熱温度にて、第2工程を施し、表12に示す緻密度、膜厚及び屈折率を有する撥水性反射防止膜付きレンズを得た。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000012
 比較例3では、第1工程での基板加熱温度を220℃とし、反射防止膜を、SiOとTaとを交互に7層まで積層した。第2工程では、基板加熱温度を25℃(無加熱)とした。下地膜には、緻密度が65%で膜厚が20nmのSiOからなる膜を形成した。また、撥水膜には、膜厚が15nmのフルオロアルキルエーテルからなる膜を形成した。
[擦り試験機]
 擦り試験には、以下の摩擦試験機を用いた。
 製造元:(株)シンクロン
 製品名:3連摩擦試験機
[擦り試験の条件]
 擦り試験の条件を以下のように規定した。
 ヘッド:レンズ拭き紙(ダスパー)
 擦り荷重:1.0kg
 擦り面積:1.0cm2
 摺動距離:4cm
[接触角の測定]
 実験では、上記の摩擦試験機を用いて、上記の条件により各サンプルの表面を繰り返し擦った。そして、擦り試験後に各サンプルの接触角を測定した。接触角の測定は、サンプル表面に純水を0.8μl液下し、その接触角θを求めた。なお、実験では、各擦り試験を、3回ずつ行って接触角θの平均値を求めた。図4から図6に示す接触角は、いずれも平均値である。
[下地膜(SiO)の有無による擦り試験結果]
 実験では、実施例9及び比較例1を用い、上記の擦り試験を行い、往復繰り返し回数と接触角との関係を求めた。その実験結果が図4に示されている。
 図4に示すように、下地膜(SiO)を有する実施例9では、往復繰り返し回数が7000回程度まで約110°以上の接触角を安定して得ることができた。一方、下地膜(SiO)を有さない比較例1では、往復繰り返し回数が約3000回を超えると、急激に接触角が低下し、往復繰り返し回数が約5000回に達すると、接触角は約70°まで低下することがわかった。
 この実験結果から、反射防止膜上に直接、撥水膜を形成せず、下地膜/撥水膜の積層構造とすることで、撥水膜の密着性を向上させることができ、擦り試験に対して高い耐久性が得られることがわかった。
[下地膜(SiO)と、下地膜(MgF)による擦り試験結果]
 次に、実施例9と比較例2を用いて、上記の擦り試験を行い、往復繰り返し回数と接触角との関係を求めた。その実験結果が図5に示されている。
 下地膜(SiO)を有する実施例9では、往復繰り返し回数が7000回程度まで約110°以上の接触角を安定して得ることができた。一方、下地膜(MgF)を有する比較例2では、擦り試験を行う前の段階で、接触角は、既に85°程度しかなく、往復繰り返し回数が約100回になると、接触角は約53°まで急激に接触角が低下した。
 この実験結果から、撥水膜の下地層としてMgFの下地膜は使用できないことがわかった。下地膜としては、ヒドロキシル基を持ち、SiO等の、撥水膜との結合の際に脱水縮合反応が生じる材質が好ましく、具体的には、下地膜を、SiO、ZrO、Al、TiO、Ti、Ta、及び、Nbから選択される単層又は2種以上を含む混合層とした。
[下地膜(SiO)の緻密度の違いによる擦り試験結果]
 実験では、実施例6及び比較例3を用い、上記の擦り試験を行い、往復繰り返し回数と接触角との関係を求めた。その実験結果が図6に示されている。
 図6に示すように、緻密度が100%の下地膜(SiO)を有する実施例6では、往復繰り返し回数が20000回を超えても、約105°以上の接触角を得ることができた。一方、緻密度が65%の下地膜(SiO)を有する比較例3では、往復繰り返し回数が約7000回を超えると、急激に接触角が低下し、往復繰り返し回数が約10000回に達すると、接触角は約90°まで低下することがわかった。
 この実験結果から、撥水膜の下地層としての下地膜は高い緻密度が必要であり、本実施例に基づいて、緻密度を70%以上100%以下に設定した。
 本発明の撥水性反射防止膜付きレンズは、撥水膜の密着性・耐久性に優れる。したがって、レンズ表面に対し高い撥水性が要求される、監視カメラや車載カメラ用のガラスレンズに好ましく適用することができる。
 本出願は、2017年3月24日出願の特願2017-058433に基づく。この内容は全てここに含めておく。

Claims (9)

  1.  ガラスレンズの表面に、少なくとも、下地膜及び撥水膜の順に積層された撥水性反射防止膜を有し、
     前記下地膜は、SiO、ZrO、Al、TiO、Ti、Ta、及び、Nbから選択される単層又は2種以上を含む混合層で形成され、緻密度が70%以上100%以下で、膜厚が1nm以上200nm以下であり、
     前記撥水膜は、前記下地膜の表面に、パーフルオロポリエーテル基を含む有機化合物で形成され、膜厚が5nm以上50nm以下である、ことを特徴とする撥水性反射防止膜付きレンズ。
  2.  前記撥水性反射防止膜は、前記ガラスレンズの表面に、反射防止膜、前記下地膜及び前記撥水膜の順に積層されており、
     前記反射防止膜は、SiO、MgF、ZrO、Al、TiO、Ti、Ta、及び、Nbから選択される単層又は2種以上の材料を含む混合層を、1層以上有して形成されていることを特徴とする請求項1に記載の撥水性反射防止膜付きレンズ。
  3.  前記下地膜は、SiOで形成されることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の撥水性反射防止膜付きレンズ。
  4.  前記ガラスレンズの表面は、非球面であることを特徴とする請求項1に記載の撥水性反射防止膜付きレンズ。
  5.  ガラスレンズの表面に、SiO、ZrO、Al、TiO、Ti、Ta、及び、Nbから選択される単層又は2種以上の材料を含む混合層にて下地膜を形成する工程と、
     前記下地膜の表面に、パーフルオロポリエーテル基を有する有機化合物にて撥水膜を形成する工程と、を有し、
     前記下地膜と前記撥水膜とを、基板加熱温度を250℃以下とした同じ成膜チャンバ内で減圧下に保持したまま成膜する、ことを特徴とする撥水性反射防止膜付きレンズの製造方法。
  6.  前記下地膜を形成する工程の前に、基板加熱温度を200℃以上350℃以下とした第1成膜チャンバ内で、前記ガラスレンズの表面に、SiO、MgF、ZrO、Al、TiO、Ti、Ta、及び、Nbから選択される単層又は2種以上の材料を含む混合層を、1層以上成膜して反射防止膜を形成する第1工程を有し、
     前記第1工程の後に、前記第1工程で使用した前記第1成膜チャンバとは別の前記基板加熱温度を250℃以下とした第2成膜チャンバ内にて減圧下に保持したまま、前記下地膜及び前記撥水膜を形成する第2工程を有する、ことを特徴とする請求項5に記載の撥水性反射防止膜付きレンズの製造方法。
  7.  前記下地膜を、イオンビームアシスト法またはスパッタ法により成膜することを特徴とする請求項6に記載の撥水性反射防止膜付きレンズの製造方法。
  8.  前記下地膜を、1nm以上200nm以下の膜厚で形成し、前記撥水膜を、5nm以上50nm以下の膜厚で形成することを特徴とする請求項5から請求項7のいずれかに記載の撥水性反射防止膜付きレンズの製造方法。
  9.  前記下地膜を、SiOにて形成することを特徴とする請求項5に記載の撥水性反射防止膜付きレンズの製造方法。
PCT/JP2018/010989 2017-03-24 2018-03-20 撥水性反射防止膜付きレンズ及びその製造方法 WO2018174049A1 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201880020777.0A CN110612464B (zh) 2017-03-24 2018-03-20 具有防水防反射膜的镜片及其制造方法

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017058433A JP6954754B2 (ja) 2017-03-24 2017-03-24 撥水性反射防止膜付きレンズ及びその製造方法
JP2017-058433 2017-03-24

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2018174049A1 true WO2018174049A1 (ja) 2018-09-27

Family

ID=63585425

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2018/010989 WO2018174049A1 (ja) 2017-03-24 2018-03-20 撥水性反射防止膜付きレンズ及びその製造方法

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP6954754B2 (ja)
CN (1) CN110612464B (ja)
WO (1) WO2018174049A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113031126A (zh) * 2021-03-24 2021-06-25 浙江舜宇光学有限公司 防水减反膜、透镜和成像装置
CN113336450A (zh) * 2021-06-30 2021-09-03 蓝思科技(长沙)有限公司 增透膜及其制备方法和光学元件

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20220155492A1 (en) * 2019-03-13 2022-05-19 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Optical element and method for manufacturing the same
JPWO2023013476A1 (ja) * 2021-08-05 2023-02-09

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63121801A (ja) * 1986-11-11 1988-05-25 Olympus Optical Co Ltd 合成樹脂製光学部品の反射防止膜
JP2000171607A (ja) * 1998-12-02 2000-06-23 Canon Inc 高緻密な多層薄膜およびその成膜方法
JP2003238577A (ja) * 2001-10-05 2003-08-27 Shin Etsu Chem Co Ltd パーフルオロポリエーテル変性シラン及び表面処理剤、並びに反射防止フィルター
JP2004145283A (ja) * 2002-08-29 2004-05-20 Shin Etsu Chem Co Ltd 防汚性表面層を有するレンズ
JP2004170962A (ja) * 2002-11-06 2004-06-17 Pentax Corp 反射防止眼鏡レンズ及びその製造方法
JP2009139530A (ja) * 2007-12-05 2009-06-25 Seiko Epson Corp 光学物品の製造方法
JP2010222596A (ja) * 2009-03-19 2010-10-07 Konica Minolta Opto Inc 光学薄膜の成膜方法および成膜装置
JP2013155398A (ja) * 2012-01-27 2013-08-15 Asahi Glass Co Ltd 防汚膜付き基体及びその製造方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07104102A (ja) * 1993-09-30 1995-04-21 Olympus Optical Co Ltd ガラス製光学部品の撥水製反射防止膜およびその製造 方法
JP2006039006A (ja) * 2004-07-23 2006-02-09 Toppan Printing Co Ltd 積層体およびプラズマディスプレイ用前面フィルター並びに表示装置
US8945684B2 (en) * 2005-11-04 2015-02-03 Essilor International (Compagnie Generale D'optique) Process for coating an article with an anti-fouling surface coating by vacuum evaporation
JP6503789B2 (ja) * 2015-02-27 2019-04-24 大日本印刷株式会社 部材、該部材を備えたタッチパネル、及び該タッチパネルを備えた画像表示装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63121801A (ja) * 1986-11-11 1988-05-25 Olympus Optical Co Ltd 合成樹脂製光学部品の反射防止膜
JP2000171607A (ja) * 1998-12-02 2000-06-23 Canon Inc 高緻密な多層薄膜およびその成膜方法
JP2003238577A (ja) * 2001-10-05 2003-08-27 Shin Etsu Chem Co Ltd パーフルオロポリエーテル変性シラン及び表面処理剤、並びに反射防止フィルター
JP2004145283A (ja) * 2002-08-29 2004-05-20 Shin Etsu Chem Co Ltd 防汚性表面層を有するレンズ
JP2004170962A (ja) * 2002-11-06 2004-06-17 Pentax Corp 反射防止眼鏡レンズ及びその製造方法
JP2009139530A (ja) * 2007-12-05 2009-06-25 Seiko Epson Corp 光学物品の製造方法
JP2010222596A (ja) * 2009-03-19 2010-10-07 Konica Minolta Opto Inc 光学薄膜の成膜方法および成膜装置
JP2013155398A (ja) * 2012-01-27 2013-08-15 Asahi Glass Co Ltd 防汚膜付き基体及びその製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113031126A (zh) * 2021-03-24 2021-06-25 浙江舜宇光学有限公司 防水减反膜、透镜和成像装置
CN113336450A (zh) * 2021-06-30 2021-09-03 蓝思科技(长沙)有限公司 增透膜及其制备方法和光学元件

Also Published As

Publication number Publication date
CN110612464A (zh) 2019-12-24
JP6954754B2 (ja) 2021-10-27
CN110612464B (zh) 2022-04-29
JP2018159892A (ja) 2018-10-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2018174049A1 (ja) 撥水性反射防止膜付きレンズ及びその製造方法
TWI459022B (zh) MgF with amorphous silicon oxide binder 2 An optical film and an optical element provided with the thin film, and the MgF 2 Manufacturing method of optical film
JP3628692B2 (ja) 高屈折率を有する複合材料、該複合材料の製造方法及び該複合材料を含む光学活性材料
JP5340252B2 (ja) 反射防止膜及びその製造方法
JP2012128135A (ja) 光学物品およびその製造方法
JP2009047876A (ja) 反射防止フィルム及びそれを用いた偏光板
JP6381687B2 (ja) 赤外光反射防止膜用耐久MgO−MgF2複合膜を形成する方法
EP3540478A2 (en) Optical device including stack of optical layers with functional treatment
JP2011107359A (ja) 光学物品
CN114609702B (zh) 一种短波近红外宽带增透膜及其制备方法
JP2010271479A (ja) 光学製品及び眼鏡プラスチックレンズ
JP2023182732A (ja) 耐久性向上のためナノラミネートを備えた光学コーティング
JP7493918B2 (ja) 反射防止膜付き光学部材及びその製造方法
JP7216471B2 (ja) 車載レンズ用のプラスチックレンズ及びその製造方法
JPH07104102A (ja) ガラス製光学部品の撥水製反射防止膜およびその製造 方法
JP3739478B2 (ja) 反射防止多層膜とその成膜方法並びにその成膜装置
CN113703078B (zh) 一种可见光区宽带增透膜及其制备方法
JP2014002270A (ja) カメラ用ndフィルタ及びその製造方法
WO2018216540A1 (ja) 親水性反射防止膜付きレンズ及びその製造方法
JP5992185B2 (ja) 反射防止シート
JP7349687B2 (ja) 光学素子
KR102615696B1 (ko) 다층막을 갖는 투명 기체
JP2011257597A (ja) 反射防止膜、反射防止積層体及び光学機器、並びに、反射防止膜の製造方法
JP4051015B2 (ja) 反射防止フィルム
JP2020190710A (ja) 反射防止膜及びこれを有する光学素子

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 18770910

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 18770910

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1