WO2018052062A1 - 磁気抵抗効果デバイスおよび磁気抵抗効果モジュール - Google Patents
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Definitions
- the present invention relates to a magnetoresistive effect device and a magnetoresistive effect module using magnetoresistive effect elements.
- Non-Patent Document 1 a spin torque resonance phenomenon caused by a magnetoresistive element
- applying a magnetic field by a magnetic field application mechanism can cause spin torque resonance in the magnetoresistive effect element.
- the resistance value of the magnetoresistive element periodically vibrates at a frequency corresponding to the spin torque resonance frequency.
- the spin torque resonance frequency of the magnetoresistive effect element changes depending on the strength of the magnetic field applied to the magnetoresistive effect element, and the resonance frequency is generally in a high frequency band of several to several tens GHz.
- the present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a configuration for causing a magnetoresistive effect device and a magnetoresistive effect module using a spin torque resonance phenomenon to function as a high-frequency filter or an amplifier. .
- a magnetoresistive effect device and a magnetoresistive effect module using a spin orbit torque resonance phenomenon can function as a high-frequency filter or an amplifier. That is, this invention provides the following means in order to solve the said subject.
- a magnetoresistive effect device includes a first magnetoresistive element having a first magnetization free layer, a first magnetization fixed layer, and a first spacer layer, a metal layer, A first electrode; an input terminal; an output terminal; a reference potential terminal; the metal layer; the first magnetization free layer; the first spacer layer; the first magnetization fixed layer; The first electrodes are arranged in this order, the first magnetization fixed layer is in electrical contact with the first electrode, the first electrode is connected to the output terminal that outputs a high-frequency signal, and the metal
- the layer has a first region that overlaps when viewed from the stacking direction of the first magnetization free layer, and a high-frequency signal that flows from the input terminal to the metal layer passes through the first region to the reference potential terminal.
- the metal layer is connected to the input terminal and the reference potential terminal, Further comprising the application terminal for applying a DC current or DC voltage, the first magnetoresistive element and said.
- the spin Hall effect is generated by the signal from the input terminal flowing to the first region of the metal layer, and the spin-polarized spin current is generated in the first magnetization free layer. Injected.
- the spin-polarized spin current acts as a spin orbit torque on the magnetization of the first magnetization free layer, and the magnetization of the first magnetization free layer changes its direction.
- the direction of the spin injected into the first magnetization free layer changes at a high frequency when a high frequency signal flows through the metal layer. If the high-frequency signal has the same frequency as the resonance frequency of the first magnetization free layer, the magnetization of the first magnetization free layer resonates and vibrates strongly.
- the magnetoresistive device acts as a bandpass filter that transmits signals at the resonant frequency and attenuates signals that are far from the resonant frequency.
- the impedance of the first magnetoresistive element may be larger than the impedance of the metal layer.
- the magnetoresistive effect device According to this magnetoresistive effect device, a large amount of high frequency signal flows from the metal layer to the reference potential terminal. Therefore, even if a high frequency signal having a high strength is input to the magnetoresistive effect device, the first magnetoresistive effect element is not easily destroyed.
- the magnetoresistive effect device operates as a bandpass filter corresponding to a case where the input power is large. Further, since the high frequency signal flows more through the reference potential terminal, the out-of-band cutoff characteristic is improved.
- the magnetoresistive effect device may further include a frequency setting mechanism capable of changing a resonance frequency of the first magnetization free layer.
- the magnetoresistive effect device operates as a frequency variable band cutoff filter by changing the resonance frequency of the first magnetization free layer by the frequency setting mechanism.
- the magnetoresistive effect device has a second magnetoresistive effect element, and the second magnetoresistive effect element includes a second magnetization free layer, a second spacer layer, and a second magnetization fixed layer.
- the metal layer, the second magnetization free layer, the second spacer layer, the second magnetization fixed layer, and the first electrode are arranged in this order, and the metal layer is a second layer.
- the metal layer may be connected to the input terminal and the reference potential terminal.
- the magnetization free layers of the plurality of magnetoresistive effect elements resonate with the high frequency signal, so that a larger AC signal is generated and the signal intensity output from the magnetoresistive effect device is improved.
- the resonance frequencies of the first magnetization free layer and the second magnetization free layer may be different.
- the resonance frequency band of the plurality of magnetization free layers is different, so that the resonating frequency band is widened, and the magnetoresistive effect device operates as a broadband bandpass filter.
- the magnetoresistive effect device includes a second electrode and a third magnetoresistive effect element
- the third magnetoresistive effect element includes a third magnetization free layer and a third spacer layer.
- the third magnetization fixed layer, and the third magnetization fixed layer is in electrical contact with the second electrode, and the first magnetization free layer, the metal layer, and the third magnetization free layer.
- the third spacer layer, the third magnetization fixed layer, and the second electrode are arranged in this order, and the metal layer overlaps when viewed from the stacking direction of the third magnetization free layer.
- the metal layer is connected to the input terminal and the reference potential terminal so that a high-frequency signal flowing from the input terminal to the metal layer flows to the reference potential terminal via the third region,
- the second electrode is connected to the output terminal, and the third magnetoresistance effect element DC current, or may comprise means for applying a DC voltage.
- spin-polarized spin current flows on the upper and lower surfaces of the metal layer by the spin Hall effect.
- Spin currents flowing on the upper and lower surfaces are injected into the first magnetization free layer and the third magnetization free layer, respectively, thereby generating a larger AC signal and improving the signal intensity output from the magnetoresistive device.
- the magnetoresistive effect module according to the second aspect of the present invention comprises the magnetoresistive effect device according to the first aspect, wherein a DC current source or a DC voltage source is connected to the application terminal.
- a DC current or a DC voltage is applied to the magnetoresistive effect device, and the magnetoresistive effect module functions as a band pass filter or an amplifier.
- the high frequency filter according to the third aspect of the present invention uses the magnetoresistive effect device according to the first aspect.
- the relative angle between the magnetization direction of the first magnetization free layer and the direction of the high-frequency current flowing in the metal layer is 150 degrees or more and 180 degrees or less, or 0 degrees or more and 30 degrees or less. It may be.
- a relative angle between a magnetization direction of the first magnetization free layer and a magnetization direction of the first magnetization fixed layer may be 90 degrees or more and 150 degrees or less.
- a magnetoresistive effect device includes a first magnetoresistive element having a first ferromagnetic layer, a second ferromagnetic layer, and a first spacer layer, a metal layer, A first electrode, an input terminal, an output terminal, and a reference potential terminal, the first ferromagnetic layer, the first spacer layer, the second ferromagnetic layer, and the first electrode Are arranged in this order, the second ferromagnetic layer is in electrical contact with the first electrode, the first electrode is connected to an output terminal that outputs a high-frequency signal, and the metal layer extends from the input terminal.
- the metal layer is connected to the input terminal and the reference potential terminal, and the first ferromagnetic layer is in electrical contact with the reference potential terminal so that a high-frequency signal flowing through the reference potential terminal flows.
- the direction of the spin is changed at a high frequency generated based on the spin Hall effect by the high frequency current from the input terminal flowing through the metal layer.
- the effect of pure spin current acting on the magnetization of the ferromagnetic layer as spin orbit torque (SOT) (effect of high-frequency SOT), and the high-frequency magnetic field generated by the high-frequency current from the input terminal flowing through the metal layer
- SOT spin orbit torque
- RF magnetic field the effect of acting on magnetization
- the direct current or direct-current voltage for taking out the resistance vibration of the magnetoresistive effect element from the output terminal as a high-frequency signal is used as a spin transfer torque (STT) as a ferromagnetic layer Effect on the magnetization of DC (effect of direct current STT), high-frequency current from the input terminal flows through the magnetoresistive effect element, This is caused by the effect of acting on the magnetization of the ferromagnetic layer as an effective torque (STT
- the impedance between the input terminal and the output terminal may be higher than the impedance between the input terminal and the reference potential terminal.
- the magnetic layer 1 is electrically connected to the metal layer so that a high frequency signal flows from the input terminal to the output terminal via the first magnetoresistive effect element.
- the resistance R MTJ of the first magnetoresistive element, the resistance R lead of the metal layer, and the characteristic impedance Z 0 may satisfy the formula (1).
- the metal layer has a first region that overlaps when viewed from the stacking direction of the magnetic layer 1, and the magnetic layer out of the high-frequency current flowing from the input terminal to the metal layer.
- the current density of the second region other than the first region of one may be larger than the current density of the first region.
- the metal layer may be connected to the reference potential terminal via a capacitor.
- the metal layer has a first region that overlaps when viewed from the stacking direction of the first ferromagnetic layer, and a high-frequency signal that flows from the input terminal to the metal layer is the first layer.
- the metal layer is connected to the input terminal and the reference potential terminal so as to flow to the reference potential terminal through the region of 1, and a high-frequency current input from the input terminal is electrically connected to the capacitor.
- the direction of magnetization of the second ferromagnetic layer may be tilted 90 degrees counterclockwise with respect to the direction of flow to the connection point to be connected.
- the magnetoresistive effect device may further include frequency setting means capable of changing a resonance frequency of the first magnetoresistive effect element.
- the magnetoresistive effect device includes a second magnetoresistive element having a third ferromagnetic layer, a fourth ferromagnetic layer, and a second spacer layer, and the metal layer, the third layer
- the ferromagnetic layer, the second spacer layer, the fourth ferromagnetic layer, and the first electrode are arranged in this order, and the fourth ferromagnetic layer is in electrical contact with the first electrode.
- the third ferromagnetic layer may be in electrical contact with the reference potential terminal.
- the magnetoresistive effect device includes a second electrode and a third magnetoresistive effect element, and the third magnetoresistive effect element includes a fifth ferromagnetic layer and a third spacer layer.
- the third magnetoresistive effect element includes a fifth ferromagnetic layer and a third spacer layer.
- the sixth ferromagnetic layer is in electrical contact with the second electrode, the second electrode is connected to the output terminal, and applies a direct current or a direct voltage to the third magnetoresistive element. You may have the means of.
- the magnetoresistive device includes the first ferromagnetic layer, the second ferromagnetic layer, the third ferromagnetic layer, the fourth ferromagnetic layer, the fifth ferromagnetic layer, At least one of the resonance frequencies of the sixth ferromagnetic layer may be different from the others.
- the high frequency filter according to the fifth aspect of the present invention uses the magnetoresistive effect device according to the fourth aspect.
- a magnetoresistive effect module includes the magnetoresistive effect device according to the fourth aspect and a DC current source or a DC voltage source, and the DC current source or the A DC voltage source is connected.
- a magnetoresistive effect device and a magnetoresistive effect module using a high frequency spin orbit torque (SOT) resonance phenomenon can be used as a high frequency filter and an amplifier.
- SOT spin orbit torque
- STT spin transfer torque
- STT DC current based spin transfer torque
- SOT DC current based spin orbit torque
- a magnetoresistive effect device and a magnetoresistive effect module using torque (SOT) can be used as a high frequency filter or an amplifier.
- FIG. 8 is a schematic diagram illustrating a direction in which a high-frequency current flows and a direction in which a direct current flows in the magnetoresistive effect device of the example illustrated in FIG. 7. It is a simple equivalent circuit of a magnetoresistive effect device. It is a schematic diagram of the other example of the magnetoresistive effect device which concerns on 4th Embodiment.
- FIG. 1 is a schematic diagram showing a circuit configuration of the magnetoresistive effect device according to the first embodiment.
- a magnetoresistance effect device 100 shown in FIG. 1 includes a magnetoresistance effect element (first magnetoresistance effect element) 1, a metal layer 11, an electrode (first electrode) 7, an input terminal 8, and an output terminal 9.
- the magnetoresistive effect element 1 has a magnetization free layer 2, a spacer layer 3, and a magnetization fixed layer 4.
- the magnetization free layer can be changed in its magnetization direction by an externally applied magnetic field or spin-polarized electrons, and is made of a ferromagnetic material.
- the magnetization free layer is a material having an axis of easy magnetization in the in-plane direction
- examples of the material include CoFe, CoFeB, CoFeSi, CoMnGe, CoMnSi, and CoMnAl
- the thickness is preferably about 1 to 10 nm. .
- the magnetization free layer is a material having an easy magnetization axis in the normal direction of the film surface (perpendicular to the film surface)
- the material includes Co, CoCr alloy, Co multilayer film, CoCrPt alloy, FePt alloy, and rare earth. Examples thereof include SmCo-based alloys and TbFeCo alloys.
- the magnetization free layer may be made of a Heusler alloy.
- a high spin polarizability material may be inserted between the magnetization free layer and the spacer layer. This makes it possible to obtain a high magnetoresistance change rate.
- the high spin polarizability material include a CoFe alloy and a CoFeB alloy.
- the film thickness of either the CoFe alloy or the CoFeB alloy is preferably about 0.2 to 1.0 nm.
- the magnetization fixed layer is made of a ferromagnetic material, and its magnetization direction is substantially fixed in one direction.
- the magnetization fixed layer is preferably made of a high spin polarizability material such as Fe, Co, Ni, an alloy of Ni and Fe, an alloy of Fe and Co, or an alloy of Fe, Co and B. Thereby, a high magnetoresistance change rate can be obtained.
- the magnetization fixed layer may be made of a Heusler alloy.
- the film thickness of the magnetization fixed layer is preferably 1 to 10 nm.
- an antiferromagnetic layer may be added so as to be in contact with the magnetization fixed layer in order to fix the magnetization of the magnetization fixed layer.
- a magnetization fixed layer, an intermediate layer, a ferromagnetic layer, and an antiferromagnetic layer are arranged in this order to form a laminate, and the magnetization of the magnetization fixed layer is fixed by the RKKY interaction between the magnetization fixed layer and the ferromagnetic layer. Also good.
- the magnetization of the magnetization fixed layer may be fixed using magnetic anisotropy caused by the crystal structure, shape, or the like.
- FeO, CoO, NiO, CuFeS 2 , IrMn, FeMn, PtMn, Cr, Mn, or the like can be used.
- the spacer layer is disposed between the magnetization free layer and the magnetization fixed layer, and the magnetoresistance effect is obtained by the interaction between the magnetization of the magnetization free layer and the magnetization of the magnetization fixed layer.
- the spacer layer is composed of a layer formed of a conductor, an insulator, and a semiconductor, or a layer including a conduction point formed of a conductor in the insulator.
- the spacer layer In the case of applying a nonmagnetic conductive material as the spacer layer, examples of the material include Cu, Ag, Au, Ru, and the like, and the magnetoresistive element exhibits a giant magnetoresistance (GMR: Giant Magnetoresistance) effect.
- GMR giant magnetoresistance
- the thickness of the spacer layer is preferably about 0.5 to 3.0 nm.
- the spacer layer In the case of applying a nonmagnetic insulating material as the spacer layer, examples of the material include Al 2 O 3 or MgO, and the magnetoresistive element exhibits a tunneling magnetoresistance (TMR) effect.
- TMR tunneling magnetoresistance
- a high magnetoresistance change rate can be obtained by adjusting the film thickness of the spacer layer so that a coherent tunnel effect appears between the magnetization fixed layer and the magnetization free layer.
- the thickness of the spacer layer is preferably about 0.5 to 3.0 nm.
- the spacer layer When a nonmagnetic semiconductor material is applied as the spacer layer, examples of the material include ZnO, In 2 O 3 , SnO 2 , ITO, GaO x, and Ga 2 O x , and the spacer layer has a thickness of 1.0 to 4 About 0.0 nm is preferable.
- a CoFe, CoFeB, CoFeSi, CoMnGe, CoMnSi is incorporated in the nonmagnetic insulator constituted by Al 2 O 3 or MgO. It is preferable to have a structure including a conduction point constituted by a conductor such as CoMnAl, Fe, Co, Au, Cu, Al, or Mg.
- the thickness of the spacer layer is preferably about 0.5 to 2.0 nm.
- a cap layer, a seed layer, or a buffer layer may be disposed between the electrode and the magnetoresistive element, or between the metal layer 11 and the magnetoresistive element.
- the cap layer, seed layer, or buffer layer include Ru, Ta, Cu, Cr, or a laminated film thereof. The thickness of these layers is preferably about 2 to 10 nm.
- the long side is 300 nm or less when the shape in plan view is a rectangle (including a square).
- the planar view shape is not rectangular, the long side of the rectangle circumscribing the planar view shape with the minimum area is defined as the long side of the magnetoresistive element.
- the long side is as small as about 100 nm, the magnetic domain of the magnetization free layer can be made into a single domain, and a highly efficient spin torque resonance phenomenon can be realized.
- the “planar shape” is a shape viewed in a plane perpendicular to the stacking direction of each layer constituting the magnetoresistive effect element.
- the magnetoresistive element has a magnetization free layer, a magnetization fixed layer, and a spacer layer sandwiched between the magnetization free layer and the magnetization fixed layer.
- the magnetization of the magnetization fixed layer is fixed in one direction.
- the magnetization direction of the magnetization free layer changes relative to the magnetization direction of the magnetization fixed layer, thereby functioning as a magnetoresistive element.
- the high-frequency signal input from the input terminal 8 flows to the reference potential terminal 10 through the region (first region) 5 of the metal layer 11.
- the high frequency signal is a signal having a frequency component of 100 MHz or more.
- the power of the high frequency signal is generally in the range of ⁇ 150 dBm to 40 dBm.
- the high-frequency signal is a modulation signal and is modulated by amplitude, frequency, phase, or a combination of amplitude and phase.
- the electrode 7 and the metal layer 11 serve as a pair of electrodes, and are disposed via the magnetoresistive effect element 1 in the stacking direction of the layers constituting the magnetoresistive effect element 1. That is, the electrode 7 and the metal layer 11 are in a direction (lamination direction) perpendicular to the surface of each layer constituting the signal (current) with respect to the magnetoresistive effect element 1, for example, in the direction intersecting the surface of each layer constituting the signal. ) To function as a pair of electrodes.
- the electrode 7 is preferably composed of Ta, Cu, Au, AuCu, Ru, or any two or more films of these materials.
- the magnetoresistive effect element 1 has one end (the magnetization free layer 2 side) electrically connected to the input terminal 8 and the reference potential terminal 10 via the metal layer 11, and the other end (the magnetization fixed layer 4 side) connected to the electrode 7.
- the output terminal 9 and the application terminal 6 are electrically connected to each other.
- the electrical connection is defined as follows. It is defined that the other end and the output terminal 9 are electrically connected to each other when the potential difference occurs between the other end and the output terminal 9. For example, even if an insulator is arranged between the other end and the output terminal 9 or there is a spatial separation, the thickness is very thin, and if the current flows between the other end and the output terminal 9, the other end Assume that the output terminal 9 is electrically connected.
- ⁇ DC current source, voltage source> By connecting a DC current source 12 or a DC voltage source to the application terminal 6, a DC current can be applied to the magnetoresistive effect element 1. Further, an inductor or a resistance element for cutting a high-frequency signal may be connected in series between the DC input terminal 6 and the DC current source 12. Further, a direct current signal is cut between the input terminal 8 and the electrode 7 and between the metal layer 11 and the output terminal 9 so that the direct current from the direct current source 12 is efficiently applied to the magnetoresistive effect element 1. A capacitor may be connected in series.
- the DC current source 12 may be configured by a circuit of a combination of a fixed resistor and a DC voltage source that can generate a constant DC current. Further, instead of the DC current source 12, a DC voltage source may be connected to apply a DC voltage to the magnetoresistive element 1.
- the reference potential terminal 10 functions as a reference potential.
- the reference potential is determined by connecting the reference potential terminal 10 to the ground.
- the reference potential terminal 10 is connected to the metal layer 11.
- the shapes of the electrode 7, the metal layer 11, and the reference potential terminal 10 are preferably defined as a microstrip line (MSL) type or a coplanar waveguide (CPW) type.
- MSL microstrip line
- CPW coplanar waveguide
- the characteristic impedance constituted by the electrode 7, the metal layer 11, and the reference potential terminal 10 is equal to the impedance of the circuit system. It is preferable to design the signal line width and the distance between grounds. By designing in this way, transmission loss can be suppressed.
- the magnetoresistive effect element 1 is arranged on the metal layer 11 in the order of the magnetization free layer 2, the spacer layer 3, and the magnetization fixed layer 4 to form a laminate.
- the metal layer 11 has a region 5 that overlaps when viewed from the stacking direction of the magnetization free layer 2.
- the spin orbit torque resonance will be described.
- a high-frequency signal input from the input terminal 8 flows through the metal layer 11, a spin Hall effect is generated, and a spin current (pure spin current) that is not accompanied by a spin-polarized current flows in a direction in which the high-frequency signal flows. It flows in directions orthogonal to each other, for example, upward and downward from the metal layer 11 in FIG. As this high-frequency signal flows into the region 5 of the metal layer 11, the pure spin current flowing upward is injected into the magnetization free layer 2.
- the direction of spin polarization of the spin current changes with the direction of the current. For example, when a direct current is applied in the direction from the input terminal 8 to the reference potential terminal 10, an upward spin-polarized spin current is injected into the magnetization free layer 2. On the other hand, when a direct current is applied in the direction from the reference potential terminal 10 to the input terminal 8, a spin current that is spin-polarized downward is injected into the magnetization free layer 2.
- the metal layer 11 may be directly connected to the magnetization free layer 2, but as long as a pure spin current flows from the metal layer 11 to the magnetization free layer 2, another layer is disposed between the metal layer 11 and the magnetization free layer 2. May be.
- the metal layer 11 is made of a material that generates a pure spin current by the spin Hall effect when a current flows. Any material that can generate a spin current in the metal layer 11 is sufficient. Therefore, the material is not limited to a material composed of a single element, and may be a material composed of a portion made of a material that generates a pure spin current and a portion made of a material that does not generate a pure spin current.
- the metal layer 11 may contain a nonmagnetic heavy metal.
- the heavy metal is composed of a heavy metal having a large spin orbit interaction, for example, Hf, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, Pb, or an alloy thereof.
- a heavy metal a conductive material doped with these heavy metals or alloys may be used.
- a material such as B, C, N, O, Al, Si, P, Ga, or Ge may be appropriately added to the heavy metal.
- the metal layer 11 may be made of only a nonmagnetic metal having an atomic number of 39 or more having d electrons or f electrons in the outermost shell.
- the metal layer 11 may contain a magnetic metal.
- the magnetic metal refers to a ferromagnetic metal or an antiferromagnetic metal. This is because if a non-magnetic metal contains a small amount of magnetic metal, the spin-orbit interaction is enhanced, and the spin current generation efficiency with respect to the current flowing through the metal layer 11 can be increased.
- the metal layer 11 may consist only of an antiferromagnetic metal.
- the spin-polarized spin current acts on the magnetization of the magnetization free layer 2 as a spin orbit torque (Spin) Orbit Torque: SOT), and the magnetization of the magnetization free layer 2 can change its direction.
- spin spin orbit torque
- SOT spin orbit torque
- the direction of spin injected into the magnetization free layer 2 changes at a high frequency
- the magnetization direction of the magnetization free layer 2 changes at a high frequency.
- the relative angle between the magnetization of the magnetization free layer 2 and the magnetization of the magnetization fixed layer 4 vibrates, and the resistance value of the magnetoresistive effect element 1 vibrates at the same frequency as the high frequency signal. .
- the oscillating resistance becomes an AC signal by a DC current or a DC voltage applied to the magnetoresistive effect element 1.
- a direct current is applied to the magnetoresistive effect element 1
- the strength of the alternating current signal is represented by the product of the oscillating resistance value and the value of the applied direct current.
- the AC signal is output to the output terminal 9.
- the magnetization of the magnetization free layer 2 resonates with the high-frequency signal, and spin orbit torque resonance that vibrates strongly is generated.
- a large AC signal is output to the output terminal 9 due to the strong vibration of the magnetization of the magnetization free layer 2.
- the magnetoresistive effect device 100 operates as a band pass filter that transmits a signal in the vicinity of the resonance frequency and attenuates a signal away from the resonance frequency.
- the insertion loss of the band-pass filter depends on the intensity of the AC signal output by the magnetoresistive effect element 1, and the insertion loss becomes smaller as the intensity of the AC signal increases.
- the magnetoresistive effect device 100 When the intensity of the AC signal output from the magnetoresistive effect element 1 is greater than the intensity of the high frequency signal input from the input terminal 8, the magnetoresistive effect device 100 operates as an amplifier that amplifies the input signal.
- the DC current or DC voltage applied to the magnetoresistive effect element 1 acts on the magnetization of the magnetization free layer 2 as a spin transfer torque.
- the relative angle between the magnetization of the magnetization free layer 2 and the magnetization of the magnetization fixed layer 4 is approximately 90 degrees or more, it is preferable to apply a current in the direction from the magnetization free layer 2 to the magnetization fixed layer 4.
- the spin transfer torque acts to reduce the magnetization damping of the magnetization free layer 2 and the magnetization oscillation of the magnetization free layer 2 increases.
- the spin transfer torque acts to reduce the magnetization damping of the magnetization free layer 2 and the magnetization oscillation of the magnetization free layer 2 increases.
- the relative angle between the magnetization of the magnetization free layer 2 and the magnetization of the magnetization fixed layer 4 is approximately 90 degrees, the magnitude of the oscillation of the resistance per unit magnetization amplitude is maximized.
- Magnetic field supply mechanism (means)> During operation of the magnetoresistive effect device 100, an external magnetic field may be applied to the magnetoresistive effect element 1. That is, a magnetic field supply mechanism 13 that applies an external magnetic field to the magnetoresistive effect element 1 may be further provided. The magnetic field supply mechanism 13 applies an external magnetic field to the magnetoresistive effect element 1 and induces a spin orbit torque resonance phenomenon in the magnetoresistive effect element 1.
- the magnetic field supply mechanism 13 is preferably arranged in the vicinity of the magnetoresistive effect element 1.
- the magnetic field supply mechanism 13 is configured, for example, as an electromagnet type or a stripline type that can variably control the applied magnetic field intensity by either voltage or current.
- the impedance of the magnetoresistive effect element 1 may be larger than the impedance of the metal layer 11.
- the impedance of the magnetoresistive effect element 1 In order to make the impedance of the magnetoresistive effect element 1 larger than the impedance of the metal layer 11, the area resistance of the magnetoresistive effect element 1 is increased, the element size is reduced, or a nonmagnetic insulating material is used for the spacer layer 3. The impedance of the magnetoresistive effect element 1 may be increased.
- the impedance of the metal layer 11 may be reduced by increasing the thickness of the metal layer 11 or increasing the area.
- the magnetoresistive device 100 has the following two effects.
- the magnetoresistive effect element 1 is not easily destroyed.
- the high frequency signal from the input terminal 8 flows more in the reference potential terminal 10 than in the magnetoresistive effect element 1, and the magnetoresistive effect element 1 has a high strength. Since the signal hardly flows, the magnetoresistive effect element 1 is not easily destroyed.
- the high-frequency signal flows more in the reference potential terminal 10 than in the magnetoresistive effect element 1, it is possible to improve the cutoff characteristic outside the band of the band-pass filter.
- the frequency of the high frequency signal is far from the resonance frequency of the magnetization free layer 2, the input high frequency signal is difficult to flow to the magnetoresistive effect element 1, so that the signal output to the output terminal 9 can be reduced and out of band The interruption characteristic can be improved.
- the magnetoresistive effect device 100 includes a frequency setting mechanism that changes the resonance frequency of the magnetization free layer 2. ⁇ Frequency setting mechanism (means)>
- the magnetic field supply mechanism 13 may be used as the frequency setting mechanism.
- the resonance frequency of the magnetization free layer 2 can be freely set by changing the frequency of the external magnetic field supplied from the magnetic field supply mechanism 13. That is, the magnetic field supply mechanism 13 functions as a frequency setting mechanism.
- the resonance frequency can be changed by methods other than the external magnetic field.
- the following method can be used.
- an electric field may be applied to the magnetoresistive effect element 1 to change the electric field.
- the anisotropic magnetic field Hk in the magnetization free layer 2 changes.
- the effective magnetic field in the magnetization free layer 2 changes and the resonance frequency of the magnetization free layer 2 can be changed.
- a mechanism for applying an electric field to the magnetoresistive effect element 1 is a frequency setting mechanism (effective magnetic field setting mechanism).
- a piezoelectric body may be provided in the vicinity of the magnetization free layer 2.
- An electric field is applied to the piezoelectric body, the piezoelectric body is deformed, and the magnetization free layer 2 is distorted.
- the anisotropic magnetic field Hk in the magnetization free layer 2 changes, the effective magnetic field in the magnetization free layer 2 changes, and the resonance frequency of the magnetization free layer 2 can be changed.
- the mechanism for applying an electric field to the piezoelectric body and the piezoelectric body serve as a frequency setting mechanism (effective magnetic field setting mechanism).
- a control film made of an antiferromagnetic material or ferrimagnetic material having an electromagnetic effect may be provided so as to be magnetically coupled to the magnetization free layer 2.
- the exchange coupling magnetic field HEX in the magnetization free layer 2 is changed by applying a magnetic field and an electric field to the control film and changing at least one of the magnetic field and the electric field applied to the control film.
- the effective magnetic field in the magnetization free layer 2 changes and the resonance frequency of the magnetization free layer 2 can be changed.
- the mechanism for applying a magnetic field to the control film, the mechanism for applying an electric field to the control film, and the control film serve as a frequency setting mechanism (effective magnetic field setting mechanism).
- the magnetoresistance effect device 100 includes the magnetoresistance effect element 1 having the magnetization free layer 2, the magnetization fixed layer 4, and the spacer layer 3, the metal layer 11, the electrode 7, the input terminal 8, and the output terminal 9.
- the reference potential terminal 10 the metal layer 11, the magnetization free layer 2, the spacer layer 3, the magnetization fixed layer 4, and the electrode 7 are arranged in this order, and the magnetization fixed layer 4 is in electrical contact with the electrode 7.
- the electrode 7 is connected to an output terminal 9 that outputs a high-frequency signal
- the metal layer 11 has a region (first region) 5 that overlaps when viewed from the stacking direction of the magnetization free layer 2, and the input terminal 8 extends to the metal layer 11.
- the metal layer 11 is connected to the input terminal 8 and the reference potential terminal 10 so that a flowing high frequency signal flows to the reference potential terminal 10 through the region 5, and a direct current or a direct voltage is applied to the magnetoresistive effect element 1.
- Application terminal 6 is provided.
- a signal from the input terminal 8 flows into the region 5 of the metal layer 11 to generate a spin Hall effect, and a spin-polarized spin current is injected into the magnetization free layer 2.
- the spin-polarized spin current acts on the magnetization of the magnetization free layer 2 as a spin orbit torque, and the magnetization of the magnetization free layer 2 changes its direction.
- the direction of spin injected into the magnetization free layer 2 changes at high frequency. If the high-frequency signal has the same frequency as the resonance frequency of the magnetization free layer 2, the magnetization of the magnetization free layer 2 resonates and vibrates strongly.
- the magnetoresistive effect device 100 operates as a band pass filter that transmits a signal at the resonance frequency and attenuates a signal away from the resonance frequency.
- the impedance of the magnetoresistive effect element 1 may be larger than the impedance of the metal layer 11.
- the magnetoresistive effect element 1 is not easily destroyed, and the magnetoresistive effect The device 100 operates as a band pass filter corresponding to a case where the input power is large. Further, since the high frequency signal flows more through the reference potential terminal 10, the out-of-band cutoff characteristic is improved.
- the magnetoresistive effect device 100 may further include a frequency setting mechanism that changes the resonance frequency of the magnetization free layer 2.
- the resonance frequency of the magnetization free layer 2 can be changed, and the magnetoresistive effect device 100 operates as a frequency variable band cutoff filter.
- FIG. 2 is a schematic view of a magnetoresistive effect device 200 according to the second embodiment of the present invention.
- the magnetoresistive effect device 200 further includes a second magnetoresistive effect element 21 with respect to the magnetoresistive effect device 100 of the first embodiment.
- the second magnetoresistive element 21 has a second magnetization free layer 22, a second spacer layer 23, and a second magnetization fixed layer 24.
- Other configurations of the magnetoresistive effect device 200 are the same as those of the magnetoresistive effect device 100 of the first embodiment.
- the metal layer 11 includes a second magnetization free layer 22, a second spacer layer 23, a second magnetization fixed layer 24, and an electrode 7 arranged in this order to form a stacked body.
- the metal layer 11 has a second region 25 that overlaps when viewed from the stacking direction of the second magnetization free layer 22.
- the electrode 7 and the metal layer 11 have a role as a pair of electrodes, and are disposed via the second magnetoresistive element 21 in the stacking direction of each layer constituting the second magnetoresistive element 21. . That is, the electrode 7 and the metal layer 11 have a signal (current) crossing the surface of each layer constituting the signal (current) with respect to the second magnetoresistive element 21, for example, a direction perpendicular to the surface of each layer constituting It functions as a pair of electrodes for flowing in the (stacking direction).
- One end (second magnetization free layer 22 side) of the second magnetoresistive element 21 is electrically connected to the input terminal 8 and the reference potential terminal 10 via the metal layer 11, and the other end (second magnetization).
- the fixed layer 24 side) is electrically connected to the output terminal 9 and the application terminal 6 through the electrode 7.
- the metal layer 11 is connected to the input terminal 8 and the reference potential terminal 10 so that a high frequency signal input from the input terminal 8 flows to the reference potential terminal 10 through the second region 25.
- a high-frequency signal flows into the second region 25 in the second magnetoresistive effect element 21, so that a spin-polarized spin current is injected into the second magnetization free layer 22, Spin orbit torque resonance occurs, the resistance of the second magnetoresistive element 21 vibrates, and an AC signal is generated by a DC current or a DC voltage applied to the magnetoresistive element 21. Since an AC signal from the magnetoresistive effect element 1 and the second magnetoresistive effect element 21 is output to the output terminal 9, the signal intensity output from the magnetoresistive effect device 200 is improved.
- the magnetoresistive effect device 200 may have different resonance frequencies of the magnetization free layer 2 and the second magnetization free layer 22.
- the resonance frequency varies with the effective magnetic field of each magnetization free layer.
- a frequency setting mechanism can be used.
- One or both of the magnetoresistive effect element (first magnetoresistive effect element) 1 and the second magnetoresistive effect element 21 is provided with a frequency setting mechanism, and the frequency is set such that the resonance frequency is different by shifting the effective magnetic field of each. Set.
- a resonance frequency with the element size of a magnetoresistive effect element may change a resonance frequency with the element size of a magnetoresistive effect element.
- the shape magnetic anisotropy of the magnetization free layer changes and the effective magnetic field changes.
- the respective resonance frequencies can be set differently.
- the magnetoresistive effect device 200 operates as a broadband bandpass filter.
- the magnetoresistive effect device 200 includes the second magnetoresistive effect element 21, and the second magnetoresistive effect element 21 includes the second magnetization free layer 22, the second spacer layer 23, and the second magnetization.
- the metal layer 11, the second magnetization free layer 22, the second spacer layer 23, the second magnetization fixed layer 24, and the electrode 7 are arranged in this order, and the metal layer 11 is the second layer.
- the high-frequency signal flowing from the input terminal 8 to the metal layer 11 flows to the reference potential terminal 10 via the second region 25.
- the metal layer 11 is connected to the input terminal 8 and the reference potential terminal 10.
- the magnetization free layers of the plurality of magnetoresistive effect elements resonate with the high frequency signal, and a larger alternating current signal is generated, so that the signal strength of the magnetoresistive effect device 200 is improved.
- the magnetoresistive effect device 200 may have different resonance frequencies of the magnetization free layer 2 and the second magnetization free layer 22.
- the resonating frequency band can be expanded, and the magnetoresistive effect device 200 operates as a broadband bandpass filter.
- FIG. 3 is a schematic diagram of a magnetoresistive effect device 300 according to the third embodiment of the present invention.
- the magnetoresistive effect device 300 will be described mainly with respect to differences from the magnetoresistive effect device 100 of the first embodiment, and description of common matters will be omitted as appropriate. Elements common to the magnetoresistive effect device 100 of the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description of the common elements is omitted.
- the magnetoresistive effect device 300 further includes a third magnetoresistive effect element 31 and a second electrode 37 in addition to the magnetoresistive effect device 100 of the first embodiment.
- the third magnetoresistive effect element 31 includes a third magnetization free layer 32, a third spacer layer 33, and a third magnetization fixed layer 34.
- Other configurations of the magnetoresistive effect device 300 are the same as those of the magnetoresistive effect device 100 of the first embodiment.
- the magnetization free layer 2, the metal layer 11, the third magnetization free layer 32, the third spacer layer 33, the third magnetization fixed layer 34, and the second electrode 37 are arranged in this order to form a stacked body.
- the metal layer 11 has a third region 35 that overlaps when viewed from the stacking direction of the third magnetization free layer 32.
- One end (third magnetization free layer 32 side) of the third magnetoresistive element 31 is electrically connected to the input terminal 8 and the reference potential terminal 10 via the metal layer 11, and the other end (third magnetization resistance element 31).
- the fixed layer 34 side is electrically connected to the output terminal 9 and the application terminal 6 through the second electrode 37.
- the metal layer 11 is connected to the input terminal 8 and the reference potential terminal 10 so that the high frequency signal input from the input terminal 8 flows to the reference potential terminal 10 through the third region 35.
- the second electrode 37 is connected to the application terminal 6 in order to apply a direct current or a direct voltage to the third magnetoresistance effect element 31.
- a direct current source 12 is connected to the application terminal 6, and a direct current is applied to the magnetoresistive effect element 1 and the third magnetoresistive effect element 31.
- the magnetoresistive effect device 300 further includes a second application terminal 36 as shown in FIG.
- the second electrode 37 may be connected to the second application terminal 36.
- the direct current source 12 is connected to the application terminal 6, the second direct current source 38 is connected to the second application terminal 36, and the direct current applied to each magnetoresistive effect element is controlled by controlling each direct current source. Can be adjusted individually.
- the direct current source 12 may be connected to the second application terminal 36, and a variable resistor may be connected between the second application terminal 36 and the direct current source 12, or the resistance value of the variable resistor may be adjusted.
- the direct current applied to each magnetoresistive element can be individually adjusted.
- a DC voltage source may be connected instead of the DC current source, and a DC voltage may be applied to each magnetoresistive element.
- the high frequency signal flows through the metal layer 11, and a spin Hall effect is generated in the region 5 and the third region 35.
- the spin-polarized spin current flowing upward in FIG. 3 in the region 5 is injected into the magnetization free layer 2, and the spin-polarized spin current flowing downward in the third region 35 is injected into the third magnetization free layer.
- the spin orbit torque acts on each magnetization free layer.
- the magnetoresistive effect element 1 and the third magnetoresistive effect element 31 each generate an AC signal and output it to the output terminal 9, thereby improving the signal strength of the magnetoresistive effect device 300.
- the area 5 and the third area 35 may overlap each other. Since the high-frequency signal input from the input terminal 8 generates a spin Hall effect in the metal layer 11 and spin-polarized spin currents flow in the upward and downward directions of the metal layer 11 in FIG. Even if the regions 35 overlap, spin orbit torque can be effectively applied to the magnetizations of the magnetization free layer 2 and the third magnetization free layer 32.
- the magnetoresistive effect device 300 includes the third magnetoresistive effect element 31 and the second electrode 37, and the third magnetoresistive effect element 31 includes the third magnetization free layer 32 and the third magnetization free layer 32. It has a spacer layer 33 and a third magnetization fixed layer 34, and includes a magnetization free layer 2, a metal layer 11, a third magnetization free layer 32, a third spacer layer 33, a third magnetization fixed layer 34, and a second magnetization fixed layer 34.
- the electrodes 37 are arranged in this order, the metal layer 11 has a third region 35 that overlaps when viewed from the stacking direction of the third magnetization free layer 32, and the high-frequency signal flowing from the input terminal 8 to the metal layer 11 is the first.
- the metal layer 11 is connected to the input terminal 8 and the reference potential terminal 10 so as to flow to the reference potential terminal 10, and the third magnetization fixed layer 34 is in electrical contact with the second electrode 37.
- the second electrode 37 is connected to the output terminal 9, and the third magnetoresistive element 31 is connected. And means for applying a direct current or DC voltage.
- spin-polarized spin currents flow on the upper and lower surfaces of the metal layer 11 due to the spin Hall effect, and a larger alternating current signal is generated by injecting the spin currents flowing on the upper and lower surfaces into the magnetization free layer of the magnetoresistive effect element.
- the signal strength of the magnetoresistive effect device 300 is improved.
- This magnetoresistive effect module has at least one magnetoresistive effect device of the magnetoresistive effect devices of the first to third embodiments and a direct current source.
- the direct current source is connected to a direct current application terminal and applies a direct current to the magnetoresistive element.
- a DC voltage source may be connected instead of the DC current source, and a DC voltage may be applied to the magnetoresistive effect element.
- the magnetoresistive effect module may have a plurality of direct current sources.
- the magnetoresistive effect module includes the magnetoresistive effect device 300 according to the third embodiment, the DC current source 12, and the second DC current source 38.
- the DC current source 12 includes the application terminal 6 and the second DC current source.
- the current source 38 may be connected to the second application terminal 36.
- the magnetoresistive effect module further includes a second DC current source 38, the DC current source 12 is connected to the DC current application terminal 6, and the second DC current source 38 is connected to the second DC current application terminal 36. It may be connected.
- the magnetoresistive effect module functions as a magnetoresistive effect module having a function of a band pass filter or an amplifier by applying a direct current or a direct voltage to the magnetoresistive effect device.
- FIG. 5 shows the magnitude of oscillation of the resistance value of the magnetoresistive effect element (the magnitude of the spin torque resonance) when the magnetization fixed layer and the magnetization free layer have an easy magnetization axis in the in-plane direction using LLG simulation. ),
- SOT spin The relative angle between the direction of the spin of electrons in the pure spin current generated by the current flowing through the metal layer (hereinafter also referred to as “SOT spin”) and the magnetization direction of the magnetization free layer, and The result of having investigated the dependence with respect to the relative angle of the magnetization direction of a magnetization fixed layer and the magnetization direction of a magnetization free layer is shown.
- SOT spin pure spin current generated by the current flowing through the metal layer
- the horizontal axis represents the relative angle between the SOT spin direction and the magnetization direction of the magnetization free layer
- the vertical axis represents the relative angle between the magnetization direction of the magnetization fixed layer and the magnetization direction of the magnetization free layer. Indicates the magnitude of vibration of the resistance value of the magnetoresistive element.
- FIG. 6 shows the result of investigating the same dependence as in FIG. 5 using LLG simulation even when the magnetization fixed layer and the magnetization free layer have the easy axis of magnetization in the direction perpendicular to the film surface.
- the relative angle between the SOT spin direction and the magnetization direction of the magnetization free layer is 60 °. It was found that the angle is preferably 120 ° or less.
- the case where the relative angle between the direction of the SOT spin and the magnetization direction of the magnetization free layer is 60 ° or more and 120 ° or less is This corresponds to the case where the relative angle between the direction of the high-frequency signal (current) flowing in the metal layer and the magnetization direction of the magnetization free layer is 150 ° or more and 180 ° or less, or 0 ° or more and 30 ° or less.
- the relative angle between the magnetization direction of the magnetization fixed layer and the magnetization direction of the magnetization free layer is 90 ° or more and 150. It has been found that it is preferable that the temperature is not more than °.
- FIG. 7 is a schematic diagram showing an example of a circuit configuration of the magnetoresistive effect device according to the fourth embodiment.
- the magnetoresistive effect device 1000 shown in FIG. 7 includes a first magnetoresistive effect element 101, a metal layer 111, a first electrode 107, an input terminal 108, an output terminal 109, a reference potential terminal 110, and an application. And a terminal 106.
- the first magnetoresistive effect element 101 includes a first ferromagnetic layer 102, a first spacer layer 103, and a second ferromagnetic layer 104.
- the first ferromagnetic layer and the second ferromagnetic layer may be configured such that one is a magnetization free layer, the other is a magnetization fixed layer, or both are magnetization free layers.
- a case where the ferromagnetic layer is a magnetization free layer and the second ferromagnetic layer is a magnetization fixed layer will be described as an example.
- the metal layer 111, the first ferromagnetic layer 102, the first spacer layer 103, the second ferromagnetic layer 104, and the first electrode 107 are arranged in this order. Yes.
- the second ferromagnetic layer 104 is in electrical contact with the first electrode 107, and the first electrode 107 is connected to an output terminal 109 that outputs a high-frequency signal.
- the metal layer 111 is connected to the input terminal 108 and the reference potential terminal 110 so that a high frequency signal flowing from the input terminal 108 connected to the high frequency current applying means (not shown) to the metal layer 111 flows to the reference potential terminal 110. It is connected.
- the first ferromagnetic layer 102 is in electrical contact with the reference potential terminal 110. Further, an application terminal 106 for applying a direct current or a direct voltage to the first magnetoresistive element 101 is provided.
- Reference numeral 112 denotes a direct current source.
- Reference numeral 113 denotes a magnetic field application mechanism (frequency setting mechanism).
- a high-frequency signal input from the input terminal 108 flows through the metal layer 111 to generate a spin Hall effect and spin-polarized spin current that is spin current without current.
- (Pure spin current) flows in a direction orthogonal to the direction in which the high-frequency signal flows, for example, upward and downward from the metal layer 111 in FIG.
- the pure spin current also has the same frequency as the high-frequency signal input from the input terminal 108.
- the pure spin current flowing upward is injected into the first ferromagnetic layer 102 which is a magnetization free layer.
- the first ferromagnetic The magnetization of layer 102 (and / or second ferromagnetic layer 104) resonates and vibrates strongly. Since the resistance value of the first magnetoresistive element changes with the relative angle between the first ferromagnetic layer 102 and the second ferromagnetic layer 104, the first first magnetoresistive effect is generated by strong vibration of the magnetization. The element 101 vibrates while greatly changing the resistance value.
- the resistance value of the first first magnetoresistance effect element 101 vibrates at the same frequency as the high frequency signal.
- the oscillating resistance value is output to the output terminal 109 as an AC signal by a DC current or voltage applied to the first magnetoresistive element.
- the magnetization does not vibrate strongly and does not generate a large alternating signal.
- the magnetoresistive device acts as a bandpass filter that transmits signals at the resonant frequency and attenuates signals that are far from the resonant frequency.
- the magnetoresistive effect device 1000 shown in FIG. 7 includes a capacitor C1 between the input terminal 108 and the metal layer 111, and an inductor L1 between the capacitor C1 and the metal layer 111 and between the reference potential terminal 110.
- the capacitor C2 is provided between the first electrode 107 and the output terminal 109
- the inductor L2 is provided between the capacitor C2 and the first electrode 107 and between the application terminal 106. Show.
- the inductors L1 and L2 cut the high frequency component of the current and pass only the direct current component of the current. Capacitors C1 and C2 pass only the AC component, not the DC component of the current.
- the high-frequency current input from the input terminal 108 flows as shown by the one-dot chain line, and the direct current source
- the direct current applied from 112 through the application terminal 106 flows as shown by a two-dot chain line.
- the impedance between the input terminal 108 and the output terminal 109 is preferably higher than the impedance between the input terminal 108 and the reference potential terminal 110. In this configuration, the high-frequency signal from the input terminal easily flows to the reference potential terminal, and the cutoff characteristic of the filter is improved.
- the first ferromagnetic layer 102 is electrically connected to the metal layer 111 so that a high-frequency signal flows from the input terminal 108 to the output terminal 109 via the first magnetoresistive element 101, and the first magnetic layer It is preferable that the resistance R MTJ of the resistance effect element 101, the resistance R lead of the metal layer 111, and the characteristic impedance Z 0 satisfy the formula (1).
- Equation (1) is obtained as follows.
- a simple equivalent circuit of the magnetoresistive effect device is expressed as shown in FIG.
- a resistor R MTJ of the first magnetoresistive element 101 is connected in series between the input terminal and the output terminal. Further, one end of the resistor R lead of the metal layer 111 is connected between the input terminal and the resistor R MTJ of the first magnetoresistance effect element 101, and the other end of the resistor R lead of the metal layer 111 is grounded.
- the input terminal is connected to the resistance Z 0 corresponding to the high-frequency signal source Vs and the characteristic impedance, resistance Z 0 is connected corresponding to the characteristic impedance to the output terminal.
- Transmission characteristic S 21 is calculated by Equation (2). From equation (2), the value of equation (3) only needs to be 18 or more in order to obtain a good breaking characteristic with S 21 of ⁇ 20 dB or more.
- the first magnetoresistive element 101 When a pure spin current flows through the first magnetoresistive element 101, the first ferromagnetic layer 102 (and / or the second ferromagnetic layer 104) undergoes a ferromagnetic resonance phenomenon due to the spin transfer torque, and the input terminal
- the high-frequency signal input from 108 matches the resonance frequency of the first ferromagnetic layer 102 (and / or the second ferromagnetic layer 104)
- a large alternating current is output to the output terminal 109, and the passing characteristics are improved.
- the resistance of the metal layer 111 can be adjusted by changing the thickness, width and length of the metal layer or by the material of the metal layer.
- the metal layer may be thinned, or Au, Cu or the like having a low resistivity may be used as a material, whereas when adjusting to increase the resistance, the metal layer Or a material having high resistivity such as W or Ta may be used.
- a high-frequency current input to the magnetoresistive effect device from the input terminal flows more into the first magnetoresistive effect element 101.
- a larger spin transfer torque acts on the magnetization of the first ferromagnetic layer 102, the magnetization resonates more strongly, and the resistance component that the first magnetoresistance effect element 101 oscillates increases to improve the output.
- the value of the expression (3) is small, and if it is 38 or less, a current more than 0.5 times the maximum value flows, and an improvement in pass characteristics can be expected.
- the metal layer 111 has a first region (see FIG. 1) that overlaps when viewed from the stacking direction of the first ferromagnetic layer 102, and the first high-frequency current that flows from the input terminal 108 to the metal layer 111 is the first region.
- the current density of the second region other than the first region of the ferromagnetic layer 102 is larger than the current density of the first region, that is, the second region has a lower electrical resistance than the first region. preferable. Since the current density of the high-frequency current flowing in the metal layer 111 is smaller in the first region than in the second region, heat generation in the first region is suppressed, and the magnetoresistive effect element immediately above becomes high temperature. It can suppress that a characteristic deteriorates.
- the metal layer 111 is preferably connected to the reference potential terminal 110 via the capacitor C3 (see FIG. 10). By sandwiching the capacitor C3 between the metal layer 111 and the reference potential terminal 110, the direct current is not shunted to the reference potential terminal 110 and the input terminal 108, but the direct current flows only to the input terminal 108 side.
- the generated SOT spins act on the magnetization of the first ferromagnetic layer 102 to increase the intensity of resonance and improve the signal intensity.
- the metal layer 111 When the metal layer 111 is connected to the reference potential terminal 110 via the capacitor C3 (see FIG. 10), the metal layer 111 overlaps when viewed from the stacking direction of the first ferromagnetic layer 102.
- the metal layer 111 is connected to the input terminal 108 and the reference potential terminal 110 so that a high frequency signal flowing from the input terminal 108 to the metal layer 111 flows to the reference potential terminal 110 through the first region.
- the direction of magnetization of the second ferromagnetic layer 104 is inclined 90 degrees counterclockwise with respect to the direction in which the high-frequency current input from the terminal 108 flows to the connection point where the metal layer 111 is electrically connected to the capacitor C3. It is preferable. This is because the STT effect and the SOT effect are strengthened by this configuration.
- FIG. 11A shows a case where a direct current is applied from the first ferromagnetic layer 102 to the second ferromagnetic layer 104.
- FIG. 11 (a) the left figure is a cross-sectional view, and the right figure is a plan view. Electrons flow through the second ferromagnetic layer 104 to the first ferromagnetic layer 102.
- the condition that the two torques are strengthened is that the polarization direction is the same, and the magnetization direction of the second ferromagnetic layer 104 is tilted 90 degrees counterclockwise with respect to the direction of the direct current flowing in the metal layer 111. When you are.
- FIG. 11B shows the case where a direct current is applied from the second ferromagnetic layer 104 to the first ferromagnetic layer 102.
- FIG.11 (b) the left figure is sectional drawing, and the right figure is a top view.
- the electrons flow through the first ferromagnetic layer 102 and flow into the second ferromagnetic layer 104.
- the spin polarized in the magnetization direction of the second ferromagnetic layer 104 flows out to the electrode, but the spin opposite to the magnetization direction of the second ferromagnetic layer 104 is applied to the first ferromagnetic layer 102.
- STT works on the magnetization of the first ferromagnetic layer 102 (effect of DC STT).
- a direct current flows through the metal layer
- spins polarized by the spin Hall effect are injected into the first ferromagnetic layer 102
- torque due to spin-orbit interaction acts on the magnetization of the first ferromagnetic layer 102 ( DC SOT effect).
- the condition that these two torques strengthen each other is that the polarization direction is the same, and the magnetization direction of the second ferromagnetic layer 104 is inclined 90 degrees clockwise with respect to the direction of the direct current flowing in the metal layer.
- FIG. 12A shows a case where electrons instantaneously flow from the right to the left in the metal layer 111 with respect to the high-frequency current input to the magnetoresistive effect device from the input terminal 108.
- the left side is a cross-sectional view
- the right side is a plan view.
- electrons flow from the second ferromagnetic layer 104 toward the first ferromagnetic layer 102, and at this time, spins polarized in the magnetization direction of the second ferromagnetic layer 104 become the first strong.
- STT injected into the magnetic layer 102 works on the magnetization of the first ferromagnetic layer 102 (effect of high frequency STT).
- spins polarized by the spin Hall effect due to electrons flowing into the metal layer are injected into the first ferromagnetic layer 102, and torque due to spin-orbit interaction acts on the magnetization of the first ferromagnetic layer 102 (high frequency Effect of SOT).
- the condition that these two torques strengthen each other is that the polarization direction is the same, and the magnetization direction of the second ferromagnetic layer 104 is inclined 90 ° clockwise with respect to the direction of electrons flowing in the metal layer 111. Is when
- FIG. 12B shows a case where electrons instantaneously flow from the left to the right in the metal layer 111 with respect to the high-frequency current input to the magnetoresistive effect device from the input terminal 108.
- the left figure is sectional drawing
- the right figure is a top view.
- electrons flow through the first ferromagnetic layer 102 and flow into the second ferromagnetic layer 104.
- the spin polarized in the magnetization direction of the second ferromagnetic layer 104 flows out to the electrode, but the spin opposite to the magnetization direction of the second ferromagnetic layer 104 is applied to the first ferromagnetic layer 102.
- STT works on the magnetization of the first ferromagnetic layer 102 (effect of high-frequency STT).
- spins polarized by the spin Hall effect are injected into the first ferromagnetic layer 102, and torque due to spin-orbit interaction acts on the magnetization of the first ferromagnetic layer 102 ( Effect of high frequency SOT).
- the condition that these two torques strengthen each other is that the polarization direction is the same, and the magnetization direction of the second ferromagnetic layer 104 is inclined by 90 ° counterclockwise with respect to the direction of electrons flowing in the metal layer. Is when
- a frequency setting means (mechanism) 113 capable of changing the resonance frequency of the first magnetoresistance effect element can be further provided.
- the magnetoresistive effect device operates as a frequency variable band cutoff filter.
- FIG. 13 is a schematic diagram of a magnetoresistive effect device 2000 according to the fifth embodiment of the present invention.
- the magnetoresistive effect device 2000 differences from the magnetoresistive effect device 1000 of the fourth embodiment will be mainly described, and description of common matters will be omitted as appropriate.
- Elements common to the magnetoresistive effect device 1000 of the fourth embodiment are denoted by the same reference numerals, and description of the common elements is omitted.
- the magnetoresistive effect device 2000 further includes a second magnetoresistive effect element 121 with respect to the magnetoresistive effect device 1000 of the fourth embodiment.
- the second magnetoresistive element 121 has a third ferromagnetic layer 122, a second spacer layer 123, and a fourth ferromagnetic layer 124.
- Other configurations of the magnetoresistive effect device 2000 are the same as those of the magnetoresistive effect device 1000 of the first embodiment.
- the third ferromagnetic layer and the fourth ferromagnetic layer may be configured such that one is a magnetization free layer, the other is a magnetization fixed layer, or both are magnetization free layers.
- the case where the ferromagnetic layer is a magnetization free layer (second magnetization free layer) and the fourth ferromagnetic layer is a magnetization fixed layer (second magnetization fixed layer) will be described as an example.
- the metal layer 111 includes a second magnetization free layer 122, a second spacer layer 123, a second magnetization fixed layer 124, and a first electrode 107 arranged in this order to form a stacked body.
- the first electrode 107 and the metal layer 111 serve as a pair of electrodes, and are disposed via the second magnetoresistive element 121 in the stacking direction of each layer constituting the second magnetoresistive element 121.
- the first electrode 107 and the metal layer 111 have a signal (current) with respect to the second magnetoresistive effect element 121 in a direction intersecting with the surface of each layer constituting, for example, the surface of each layer constituting It functions as a pair of electrodes for flowing in a vertical direction (stacking direction).
- One end (second magnetization free layer 122 side) of the second magnetoresistance effect element 121 is electrically connected to the input terminal 108 and the reference potential terminal 110 via the metal layer 111, and the other end (second magnetization).
- the fixed layer 124 side) is electrically connected to the output terminal 9 and the application terminal 6 through the first electrode 107.
- the metal layer 111 is connected to the input terminal 108 and the reference potential terminal 110 so that a high-frequency signal input from the input terminal 108 flows to the reference potential terminal 110.
- a high-frequency signal flows through the second magnetoresistive effect element 121 as in the magnetoresistive effect element 1, so that a spin-polarized spin current is injected into the second magnetization free layer 122, and spin orbit torque resonance occurs. Then, the resistance of the second magnetoresistance effect element 121 vibrates, and an AC signal is generated by a DC current or a DC voltage applied to the second magnetoresistance effect element 121. Since the AC signal from the first magnetoresistive effect element 101 and the second magnetoresistive effect element 121 is output to the output terminal 109, the signal intensity output from the magnetoresistive effect device 2000 is improved.
- the resonance frequencies of the first magnetization free layer 102 and the second magnetization free layer 122 may be different.
- the resonance frequency varies with the effective magnetic field of each magnetization free layer.
- a frequency setting mechanism can be used.
- a frequency setting mechanism is provided in one or both of the magnetoresistive effect element 1 and the second magnetoresistive effect element 121, and the frequencies are set so that the resonance frequencies are different by shifting the effective magnetic fields.
- a resonance frequency with the element size of a magnetoresistive effect element may change a resonance frequency with the element size of a magnetoresistive effect element.
- the shape magnetic anisotropy of the magnetization free layer changes and the effective magnetic field changes.
- the respective resonance frequencies can be set differently.
- the magnetoresistive effect device 2000 operates as a broadband bandpass filter.
- the magnetoresistive effect device 2000 includes the second magnetoresistive effect element 121, and the second magnetoresistive effect element 121 includes the second magnetization free layer 122, the second spacer layer 123, and the second magnetization.
- the metal layer 111, the second magnetization free layer 122, the second spacer layer 123, the second magnetization fixed layer 124, and the first electrode 107 are arranged in this order, and the second layer
- the magnetization fixed layer 124 is in electrical contact with the first electrode 107, and the second magnetization free layer 122 is electrically connected to the reference potential terminal 110.
- the magnetization free layers of the plurality of magnetoresistive effect elements resonate with the high frequency signal, and a larger alternating current signal is generated, so that the signal strength of the magnetoresistive effect device 2000 is improved.
- the resonance frequencies of the first magnetization free layer 102 and the second magnetization free layer 122 may be different.
- the resonating frequency band can be expanded, and the magnetoresistive effect device 2000 operates as a wide band pass filter.
- FIG. 14 is a schematic diagram of a magnetoresistive effect device 3000 according to the sixth embodiment of the present invention.
- the differences from the magnetoresistive effect device 1000 of the fourth embodiment will be mainly described, and description of common matters will be omitted as appropriate.
- Elements common to the magnetoresistive effect device 1000 of the fourth embodiment are denoted by the same reference numerals, and description of the common elements is omitted.
- the magnetoresistive effect device 3000 further includes a third magnetoresistive effect element 131 and a second electrode 137 with respect to the magnetoresistive effect device 1000 of the fourth embodiment.
- the third magnetoresistive element 131 has a fifth ferromagnetic layer 32, a third spacer layer 33, and a sixth ferromagnetic layer 34.
- the other configuration of the magnetoresistive effect device 3000 is the same as that of the magnetoresistive effect device 1000 of the fourth embodiment.
- the fifth ferromagnetic layer and the sixth ferromagnetic layer may be configured such that one is a magnetization free layer, the other is a magnetization fixed layer, or both are magnetization free layers.
- An example will be described in which the ferromagnetic layer is a magnetization free layer (third magnetization free layer) and the sixth ferromagnetic layer is a magnetization fixed layer (third magnetization fixed layer).
- the magnetization free layer 102, the metal layer 111, the third magnetization free layer 132, the third spacer layer 133, the third magnetization fixed layer 134, and the second electrode 137 are arranged in this order to form a stacked body.
- One end (third magnetization free layer 132 side) of the third magnetoresistance effect element 131 is electrically connected to the input terminal 108 and the reference potential terminal 110 via the metal layer 111, and the other end (third magnetization resistance element 131).
- the fixed layer 134 side is electrically connected to the output terminal 109 and the application terminal 6 through the second electrode 137.
- the metal layer 111 is connected to the input terminal 108 and the reference potential terminal 110 so that the high-frequency signal input from the input terminal 108 flows to the reference potential terminal 110 through the third region 35.
- the second electrode 137 is connected to the application terminal 136.
- the magnetoresistive effect device 3000 further includes a second application terminal 136, and the second electrode 137 includes A second application terminal 136 is connected.
- the direct current source 112 is connected to the application terminal 106, the second direct current source 138 is connected to the second application terminal 136, and the direct current applied to each magnetoresistive effect element is controlled by controlling each direct current source. Can be adjusted individually.
- the direct current source 112 may be connected to the second application terminal 136, and a variable resistor may be connected between the second application terminal 136 and the direct current source 112, or the resistance value of the variable resistor may be adjusted.
- the direct current applied to each magnetoresistive element can be individually adjusted.
- a DC voltage source may be connected instead of the DC current source, and a DC voltage may be applied to each magnetoresistive element.
- the magnetoresistive effect element 101 and the third magnetoresistive effect element 131 are arranged at the overlapping position in the stacking direction, they may be arranged at shifted positions.
- the high-frequency signal input from the input terminal 108 generates a spin Hall effect in the metal layer 111, and spin-polarized spin current flows through the metal layer 111 upward and downward in FIG.
- a spin orbit torque can act on the magnetization of the layer 102 and the third magnetization free layer 132.
- the magnetoresistive effect device 3000 includes the third magnetoresistive effect element 131 and the second electrode 137, and the third magnetoresistive effect element 131 includes the third magnetization free layer 132 and the third magnetization free layer 132. It has a spacer layer 133 and a third magnetization fixed layer 134, and includes a magnetization free layer 102, a metal layer 111, a third magnetization free layer 132, a third spacer layer 133, a third magnetization fixed layer 134, a second magnetization fixed layer 134, and a second magnetization fixed layer 134.
- the third magnetization fixed layer 134 is in electrical contact with the second electrode 137, the second electrode 137 is connected to the output terminal 109, and the third magnetoresistive element 131 is arranged in this order.
- spin-polarized spin currents flow on the upper and lower surfaces of the metal layer 111 due to the spin Hall effect, and a larger alternating current signal is generated by injecting the spin currents flowing on the upper and lower surfaces into the magnetization free layers of the magnetoresistive effect element. And the signal strength of the magnetoresistive device 3000 is improved.
- At least one of the resonance frequencies of the plurality of ferromagnetic layers included may be different from the others.
- the resonant frequency of the ferromagnetic layer is different, the resonant frequency band can be expanded, and the pass band of the band pass filter is expanded.
- the magnetoresistive effect device and magnetoresistive effect module according to the first to sixth embodiments can be used as a high frequency filter or an amplifier.
- This magnetoresistive effect module has at least one magnetoresistive effect device of the magnetoresistive effect devices of the fourth to sixth embodiments and a direct current source.
- the direct current source is connected to a direct current application terminal and applies a direct current to the magnetoresistive element.
- a DC voltage source may be connected instead of the DC current source, and a DC voltage may be applied to the magnetoresistive effect element.
- the magnetoresistive effect module may have a plurality of direct current sources.
- the magnetoresistive effect module includes the magnetoresistive effect device 3000 according to the sixth embodiment, a direct current source 112, and a second direct current source 138.
- the direct current source 112 includes the application terminal 106 and the second direct current source.
- the current source 138 may be connected to the second application terminal 136.
- the magnetoresistive effect module further includes a second DC current source 138, the DC current source 112 is connected to the DC current application terminal 106, and the second DC current source 138 is connected to the second DC current application terminal 136. It may be connected.
- the magnetoresistive effect module functions as a magnetoresistive effect module having a function of a band pass filter or an amplifier by applying a direct current or a direct voltage to the magnetoresistive effect device.
- DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Magnetoresistance effect device, 1 ... Magnetoresistance effect element, 2 ... Magnetization free layer, 3 ... Spacer layer, 4 ... Magnetization fixed layer, 5 ... Area
- third magnetoresistance effect element 32 ... third magnetization Free layer 33 ... third spacer layer 34 ... third magnetization pinned layer 35 ... third region 36 ... second application terminal 37 ... second electrode 38 ... second direct current source , 1000: Magnetoresistive device, 101: Magnetoresistive element, 102: Magnetism Free layer, 103 ... spacer layer, 104 ... magnetization fixed layer, 106 ... application terminal, 107 ... electrode, 108 ... input terminal, 109 ... output terminal, 110 ... reference potential terminal, 111 ... metal layer, 112 ... direct current source, DESCRIPTION OF SYMBOLS 113 ... Magnetic field application mechanism, 2000 ... Magnetoresistive effect device, 121 ...
- 2nd magnetoresistive effect element 122 ... 2nd magnetization free layer, 123 ... 2nd spacer layer, 124 ... 2nd magnetization fixed layer, 3000 DESCRIPTION OF SYMBOLS ... Magnetoresistive effect device 131 ... 3rd magnetoresistive effect element 132 ... 3rd magnetization free layer, 133 ... 3rd spacer layer, 134 ... 3rd magnetization fixed layer, 136 ... 2nd application terminal, 137 ... second electrode, 138 ... second direct current source
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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Abstract
第1の強磁性層(102)と第2の強磁性層(104)と第1のスペーサ層(103)とを有する第1の磁気抵抗効果素子(101)と,金属層(111)と,第1の電極(107)と,入力端子(108)と,出力端子(109)と,基準電位端子(110)とを有し,前記第1の強磁性層,前記第1のスペーサ層,前記第2の強磁性層および前記第1の電極はこの順で配置され,前記第2の強磁性層は前記第1の電極と電気的に接し,前記第1の電極は高周波信号を出力する出力端子に接続され,前記入力端子から前記金属層に流れる高周波信号が前記基準電位端子に流れるように,前記金属層は前記入力端子と前記基準電位端子に接続され,前記第1の強磁性層は前記基準電位端子と電気的に接し,前記第1の磁気抵抗効果素子に直流電流,もしくは直流電圧を印加するための印加端子(106)を備える磁気抵抗効果デバイス(1000)を提供する。
Description
本発明は、磁気抵抗効果素子を利用した磁気抵抗効果デバイスおよび磁気抵抗効果モジュールに関する。
本願は、2016年9月14日に、日本に出願された特願2016-179124号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
本願は、2016年9月14日に、日本に出願された特願2016-179124号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
近年、携帯電話等の移動通信端末の高機能化に伴い、無線通信の高速化が進められている。通信速度は使用する周波数の帯域幅に比例するため、通信に必要な周波数バンドは増加している。それに伴い、移動通信端末に必要な高周波フィルタの搭載数も増加している。
また、近年新しい高周波用部品に応用できる可能性のある分野として研究されているのがスピントロニクスである。その中で注目されている現象の一つとして、磁気抵抗効果素子によるスピントルク共鳴現象がある(非特許文献1参照)。
磁気抵抗効果素子に交流電流を流すのと同時に、磁場印加機構によって磁場を印加することで、磁気抵抗効果素子にスピントルク共鳴を起こすことができる。この際、スピントルク共鳴周波数に対応した周波数で周期的に磁気抵抗効果素子の抵抗値が振動する。磁気抵抗効果素子に印加される磁場の強さによって、磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数は変化し、一般的にその共鳴周波数は数~数十GHzの高周波帯域である。
Nature、Vol.438、No.7066、pp.339-342、17 November 2005
上述のように、スピントルク共鳴現象を利用した高周波発振素子の検討は進められている。しかしながら、スピントルク共鳴現象のその他の応用用途についての具体的な構成については、検討がまだ十分に進んでいない。
本発明は上記問題に鑑みてなされたものであり、スピントルク共鳴現象を利用した磁気抵抗効果デバイスおよび磁気抵抗効果モジュールを、高周波フィルタや増幅器として機能させるための構成を提供することを目的とする。
本発明は、上記課題を解決するため、スピン軌道トルク共鳴現象を利用した磁気抵抗効果デバイスおよび磁気抵抗効果モジュールを、高周波フィルタや増幅器として機能させられることを見出した。
すなわち、本発明は、上記課題を解決するため、以下の手段を提供する。
すなわち、本発明は、上記課題を解決するため、以下の手段を提供する。
本発明の第1の態様にかかる磁気抵抗効果デバイスは、第1の磁化自由層と第1の磁化固定層と第1のスペーサ層とを有する第1の磁気抵抗効果素子と、金属層と、第1の電極と、入力端子と、出力端子と、基準電位端子とを有し、前記金属層、前記第1の磁化自由層、前記第1のスペーサ層、前記第1の磁化固定層、前記第1の電極はこの順で配置され、前記第1の磁化固定層は前記第1の電極と電気的に接し、前記第1の電極は高周波信号を出力する前記出力端子に接続され、前記金属層は前記第1の磁化自由層の積層方向から見て重なる第1の領域を有し、前記入力端子から前記金属層に流れる高周波信号が前記第1の領域を介して、前記基準電位端子に流れるように、前記金属層は前記入力端子と前記基準電位端子に接続され、前記第1の磁気抵抗効果素子に直流電流、もしくは直流電圧を印加するための印加端子を備えることを特徴とする。
上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイスによれば、入力端子からの信号が金属層の第1の領域に流れることでスピンホール効果が発生し、スピン偏極したスピン流が第1の磁化自由層に注入される。スピン偏極したスピン流は第1の磁化自由層の磁化にスピン軌道トルクとして作用し、第1の磁化自由層の磁化は向きを変える。この時、高周波信号が金属層に流れることで第1の磁化自由層に注入されるスピンの向きが高周波で変化する。高周波信号が第1の磁化自由層の共鳴周波数と同じ周波数であれば、第1の磁化自由層の磁化は共鳴し、強く振動する。第1の磁化自由層の磁化が強く振動することで第1の磁化自由層の磁化と第1の磁化固定層の磁化との相対角度が振動し、第1の磁気抵抗効果素子の抵抗値が高周波信号と同じ周波数で振動する。振動する抵抗は第1の磁気抵抗効果素子に印加する直流電流もしくは直流電圧によって、交流信号となって出力端子に出力される。高周波信号が第1の磁化自由層の共鳴周波数から離れた周波数の場合、スピン偏極したスピン流によって第1の磁化自由層の磁化は強く振動せず、第1の磁気抵抗効果素子は上記のような交流信号を発生させない。従って、磁気抵抗効果デバイスは共鳴周波数における信号を伝送し、共鳴周波数から離れた信号を減衰する帯域通過フィルタとして動作する。
さらに、上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイスは前記第1の磁気抵抗効果素子のインピーダンスが前記金属層のインピーダンスよりも大きくてもよい。
この磁気抵抗効果デバイスによれば、高周波信号が金属層から基準電位端子により多く流れるので、磁気抵抗効果デバイスに強度の大きな高周波信号を入力しても第1の磁気抵抗効果素子が破壊されにくくなり、磁気抵抗効果デバイスは、入力電力が大きい場合に対応した帯域通過フィルタとして動作する。さらに、高周波信号は基準電位端子により多く流れるので、帯域外の遮断特性が向上する。
さらに、上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイスは前記第1の磁化自由層の共鳴周波数を変えることができる周波数設定機構をさらに備えてもよい。
この磁気抵抗効果デバイスによれば、周波数設定機構によって第1の磁化自由層の共鳴周波数を変えることで、磁気抵抗効果デバイスは周波数可変帯域遮断フィルタとして動作する。
さらに、上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイスは第2の磁気抵抗効果素子を有し、前記第2の磁気抵抗効果素子は第2の磁化自由層と第2のスペーサ層と第2の磁化固定層とを有し、前記金属層、前記第2の磁化自由層、前記第2のスペーサ層、前記第2の磁化固定層、前記第1の電極はこの順で配置され、前記金属層は第2の磁化自由層の積層方向から見て重なる第2の領域を有し、前記入力端子から前記金属層に流れる高周波信号は前記第2の領域を介して、前記基準電位端子に流れるように、前記金属層は前記入力端子と前記基準電位端子に接続されていてもよい。
この磁気抵抗効果デバイスによれば、複数の磁気抵抗効果素子の磁化自由層が高周波信号によって共鳴することで、より大きな交流信号が発生し、磁気抵抗効果デバイスが出力する信号強度が向上する。
さらに上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイスは前記第1の磁化自由層と前記第2の磁化自由層の共鳴周波数が異なってもよい。
この磁気抵抗効果デバイスによれば、複数の磁化自由層の共鳴周波数が異なることで、共鳴する周波数帯域が広がり、磁気抵抗効果デバイスは広帯域の帯域通過フィルタとして動作する。
さらに、上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイスは第2の電極と、第3の磁気抵抗効果素子とを有し、前記第3の磁気抵抗効果素子は第3の磁化自由層と第3のスペーサ層と第3の磁化固定層とを有し、前記第3の磁化固定層は前記第2の電極と電気的に接し、前記第1の磁化自由層、前記金属層、前記第3の磁化自由層、前記第3のスペーサ層、前記第3の磁化固定層、前記第2の電極はこの順で配置され、前記金属層は前記第3の磁化自由層の積層方向から見て重なる第3の領域を有し、前記入力端子から前記金属層に流れる高周波信号は前記第3の領域を介して、前記基準電位端子に流れるように、前記金属層は前記入力端子と前記基準電位端子に接続され、前記第2の電極は前記出力端子に接続され、前記第3の磁気抵抗効果素子に直流電流、もしくは直流電圧を印加するための手段を有してもよい。
この磁気抵抗効果デバイスによれば、スピンホール効果によって金属層の上下面にはスピン偏極したスピン流が流れる。上下面に流れるスピン流が第1の磁化自由層と第3の磁化自由層にそれぞれ注入されることで、より大きな交流信号を発生させ、磁気抵抗効果デバイスの出力する信号強度が向上する。
本発明の第2の様態にかかる磁気抵抗効果モジュールは第1の様態にかかる磁気抵抗効果デバイスを具備し、前記印加端子に直流電流源、もしくは直流電圧源を接続したことを特徴とする。
上記態様にかかる磁気抵抗効果モジュールによれば、磁気抵抗効果デバイスに直流電流、もしくは直流電圧を印加し、磁気抵抗効果モジュールは、帯域通過フィルタ、もしくは増幅器として機能する。
本発明の第3の様態にかかる高周波フィルタは、第1の様態にかかる磁気抵抗効果デバイスを使用したものである。
上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイスは、前記第1の磁化自由層の磁化の方向と前記金属層に流れる高周波電流の方向との相対角が150度以上180度以下、もしくは0度以上30度以下であってもよい。
上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイスは、前記第1の磁化自由層の磁化の方向と前記第1の磁化固定層の磁化の方向との相対角が90度以上150度以下であってもよい。
本発明の第4の態様にかかる磁気抵抗効果デバイスは、第1の強磁性層と第2の強磁性層と第1のスペーサ層とを有する第1の磁気抵抗効果素子と、金属層と、第1の電極と、入力端子と、出力端子と、基準電位端子とを有し、前記第1の強磁性層、前記第1のスペーサ層、前記第2の強磁性層および前記第1の電極はこの順で配置され、前記第2の強磁性層は前記第1の電極と電気的に接し、前記第1の電極は高周波信号を出力する出力端子に接続され、前記入力端子から前記金属層に流れる高周波信号が前記基準電位端子に流れるように、前記金属層は前記入力端子と前記基準電位端子に接続され、前記第1の強磁性層は前記基準電位端子と電気的に接し、前記第1の磁気抵抗効果素子に直流電流、もしくは直流電圧を印加するための印加端子を備えることを特徴とする。
この磁気抵抗効果デバイスによれば、磁気抵抗効果素子にスピントルク共鳴を起こすために、入力端子からの高周波電流が金属層を流れることでスピンホール効果に基づき生成した、高周波でスピンの向きが変わる純スピン流がスピン軌道トルク(SOT)として強磁性層の磁化に作用する効果(高周波SOTの効果)、入力端子からの高周波電流が金属層を流れることで生成する高周波の磁場が強磁性層の磁化に作用する効果(高周波磁場(RF磁場)の効果)、磁気抵抗効果素子の抵抗の振動を高周波信号として出力端子から取り出すための直流電流又は直流電圧がスピントランスファトルク(STT)として強磁性層の磁化に作用する効果(直流STTの効果)、入力端子からの高周波電流が磁気抵抗効果素子に流れることでスピントランスファトルク(STT)として強磁性層の磁化に作用する効果(高周波STTの効果)、磁気抵抗効果素子の抵抗の振動を高周波信号として出力端子から取り出すための直流電流が金属層に流れることで発生するスピン軌道トルク(SOT)として強磁性層の磁化に作用する効果(直流SOTの効果)を利用することができる。
上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイスは、前記入力端子と前記出力端子間のインピーダンスが前記入力端子と前記基準電位端子間のインピーダンスよりも高くてもよい。
上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイスは、前記入力端子から前記第1の磁気抵抗効果素子を介して、前記出力端子に高周波信号が流れるように前記磁性層1が前記金属層と電気的に接続され、第1の磁気抵抗効果素子の抵抗RMTJ、前記金属層の抵抗Rlead、特性インピーダンスZ0が式(1)を満たしてもよい。
上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイスは、前記金属層は前記磁性層1の積層方向から見て重なる第1の領域を有し、前記入力端子から前記金属層に流れる高周波電流のうち、前記磁性層1の前記第1の領域以外の第2の領域の電流密度が前記第1の領域の電流密度よりも大きくてもよい。
上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイスは、前記金属層がコンデンサを介して前記基準電位端子と接続されていてもよい。
上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイスは、前記金属層は前記第1の強磁性層の積層方向から見て重なる第1の領域を有し、前記入力端子から前記金属層に流れる高周波信号が前記第1の領域を介して、前記基準電位端子に流れるように、前記金属層は前記入力端子と前記基準電位端子に接続され、前記入力端子から入力される高周波電流が前記金属層が前記コンデンサと電気的に接続される接続点へ流れる方向に対して、第2の強磁性層の磁化の方向が反時計回りに90度傾いていてもよい。
上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイスは、前記第1の磁気抵抗効果素子の共鳴周波数を変えることができる周波数設定手段をさらに備えてもよい。
上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイスは、第3の強磁性層と第4の強磁性層と第2のスペーサ層とを有する第2の磁気抵抗効果素子を有し、前記金属層、前記第3の強磁性層、前記第2のスペーサ層、前記第4の強磁性層および前記第1の電極はこの順で配置され、前記第4の強磁性層は前記第1の電極と電気的に接し、前記第3の強磁性層は前記基準電位端子と電気的に接していてもよい。
上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイスは、第2の電極と、第3の磁気抵抗効果素子とを有し、前記第3の磁気抵抗効果素子は第5の強磁性層層、第3のスペーサ層、第6の強磁性層を有し、前記金属層、前記第5の強磁性層、前記第2のスペーサ層、前記第6の強磁性層、前記第2の電極はこの順に配置され、前記第6の強磁性層は前記第2の電極と電気的に接し、前記第2の電極は前記出力端子に接続され、前記第3の磁気抵抗効果素子に直流電流、もしくは直流電圧を印加するための手段を有してもよい。
上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイスは、前記第1の強磁性層、前記第2の強磁性層、前記第3の強磁性層、前記第4の強磁性層、前記第5の強磁性層、前記第6の強磁性層の共鳴周波数のうち、少なくとも1つが他のものと異なってもよい。
本発明の第5の様態にかかる高周波フィルタは、第4の様態にかかる磁気抵抗効果デバイスを使用したものである。
本発明の第6の様態にかかる磁気抵抗効果モジュールは、第4の様態にかかる磁気抵抗効果デバイスと、直流電流源、もしくは直流電圧源を有し、前記印加端子に前記直流電流源、もしくは前記直流電圧源を接続したものである。
本発明によれば、高周波のスピン軌道トルク(SOT)共鳴現象を利用した磁気抵抗効果デバイスおよび、磁気抵抗効果モジュールを、高周波フィルタや増幅器として用いることができる。
本発明によれば、高周波のスピン軌道トルク(SOT)共鳴現象、高周波磁場共鳴現象、高周波のスピントランスファトルク(STT)共鳴現象、直流電流に基づくスピントランスファトルク(STT)、直流電流に基づくスピン軌道トルク(SOT)を利用した磁気抵抗効果デバイスおよび、磁気抵抗効果モジュールを、高周波フィルタや増幅器として用いることができる。
本発明によれば、高周波のスピン軌道トルク(SOT)共鳴現象、高周波磁場共鳴現象、高周波のスピントランスファトルク(STT)共鳴現象、直流電流に基づくスピントランスファトルク(STT)、直流電流に基づくスピン軌道トルク(SOT)を利用した磁気抵抗効果デバイスおよび、磁気抵抗効果モジュールを、高周波フィルタや増幅器として用いることができる。
以下、磁気抵抗効果デバイスについて、図を適宜参照しながら詳細に説明する。以下の説明で用いる図面は、特徴をわかりやすくするために便宜上特徴となる部分を拡大して示している場合があり、各構成要素の寸法比率などは実際とは異なっていることがある。以下の説明において例示される材料、寸法等は一例であって、本発明はそれらに限定されるものではなく、本発明の効果を奏する範囲で適宜変更して実施することが可能である。
(第1実施形態)
図1は、第1実施形態にかかる磁気抵抗効果デバイスの回路構成を示した模式図である。図1に示す磁気抵抗効果デバイス100は、磁気抵抗効果素子(第1の磁気抵抗効果素子)1と、金属層11と、電極(第1の電極)7と、入力端子8と、出力端子9と、基準電位端子10と、印加端子6とを備える。磁気抵抗効果素子1は磁化自由層2、スペーサ層3、磁化固定層4を有する。
図1は、第1実施形態にかかる磁気抵抗効果デバイスの回路構成を示した模式図である。図1に示す磁気抵抗効果デバイス100は、磁気抵抗効果素子(第1の磁気抵抗効果素子)1と、金属層11と、電極(第1の電極)7と、入力端子8と、出力端子9と、基準電位端子10と、印加端子6とを備える。磁気抵抗効果素子1は磁化自由層2、スペーサ層3、磁化固定層4を有する。
<磁化自由層>
磁化自由層は、外部印加磁場もしくはスピン偏極電子によってその磁化の方向が変化可能であり、強磁性材料で構成されている。磁化自由層は、膜面内方向に磁化容易軸を有する材料の場合、材料としてはCoFe、CoFeB、CoFeSi、CoMnGe、CoMnSiまたはCoMnAlなどが挙げられ、厚さは1~10nm程度とすることが好ましい。磁化自由層は、膜面法線方向(膜面直方向)に磁化容易軸を有する材料の場合、材料としてはCo、CoCr系合金、Co多層膜、CoCrPt系合金、FePt系合金、希土類を含むSmCo系合金またはTbFeCo合金などが挙げられる。また、磁化自由層は、ホイスラー合金で構成されても良い。また、磁化自由層とスペーサ層との間に、高スピン分極率材料を挿入しても良い。これによって、高い磁気抵抗変化率を得ることが可能となる。高スピン分極率材料としては、CoFe合金またはCoFeB合金などが挙げられる。CoFe合金またはCoFeB合金いずれの膜厚も0.2~1.0nm程度とすることが好ましい。
磁化自由層は、外部印加磁場もしくはスピン偏極電子によってその磁化の方向が変化可能であり、強磁性材料で構成されている。磁化自由層は、膜面内方向に磁化容易軸を有する材料の場合、材料としてはCoFe、CoFeB、CoFeSi、CoMnGe、CoMnSiまたはCoMnAlなどが挙げられ、厚さは1~10nm程度とすることが好ましい。磁化自由層は、膜面法線方向(膜面直方向)に磁化容易軸を有する材料の場合、材料としてはCo、CoCr系合金、Co多層膜、CoCrPt系合金、FePt系合金、希土類を含むSmCo系合金またはTbFeCo合金などが挙げられる。また、磁化自由層は、ホイスラー合金で構成されても良い。また、磁化自由層とスペーサ層との間に、高スピン分極率材料を挿入しても良い。これによって、高い磁気抵抗変化率を得ることが可能となる。高スピン分極率材料としては、CoFe合金またはCoFeB合金などが挙げられる。CoFe合金またはCoFeB合金いずれの膜厚も0.2~1.0nm程度とすることが好ましい。
<磁化固定層>
磁化固定層は、強磁性体材料で構成されており、その磁化方向が実質的に一方向に固定されている。磁化固定層は、Fe、Co、Ni、NiとFeの合金、FeとCoの合金、またはFeとCoとBの合金などの高スピン分極率材料から構成されることが好ましい。これにより、高い磁気抵抗変化率を得ることが出来る。また、磁化固定層は、ホイスラー合金で構成されても良い。また、磁化固定層の膜厚は、1~10nmとすることが好ましい。また、磁化固定層の磁化を固定するために磁化固定層に接するように反強磁性層を付加してもよい。或いは、磁化固定層、中間層、強磁性層、反強磁性層をこの順に配置して積層体を成し、磁化固定層と強磁性層のRKKY相互作用によって磁化固定層の磁化を固定してもよい。或いは結晶構造、形状などに起因する磁気異方性を利用して磁化固定層の磁化を固定してもよい。反強磁性層には、FeO、CoO、NiO、CuFeS2、IrMn、FeMn、PtMn、CrまたはMnなどを用いることが出来る。
磁化固定層は、強磁性体材料で構成されており、その磁化方向が実質的に一方向に固定されている。磁化固定層は、Fe、Co、Ni、NiとFeの合金、FeとCoの合金、またはFeとCoとBの合金などの高スピン分極率材料から構成されることが好ましい。これにより、高い磁気抵抗変化率を得ることが出来る。また、磁化固定層は、ホイスラー合金で構成されても良い。また、磁化固定層の膜厚は、1~10nmとすることが好ましい。また、磁化固定層の磁化を固定するために磁化固定層に接するように反強磁性層を付加してもよい。或いは、磁化固定層、中間層、強磁性層、反強磁性層をこの順に配置して積層体を成し、磁化固定層と強磁性層のRKKY相互作用によって磁化固定層の磁化を固定してもよい。或いは結晶構造、形状などに起因する磁気異方性を利用して磁化固定層の磁化を固定してもよい。反強磁性層には、FeO、CoO、NiO、CuFeS2、IrMn、FeMn、PtMn、CrまたはMnなどを用いることが出来る。
<スペーサ層>
スペーサ層は、磁化自由層と磁化固定層の間に配置され、磁化自由層の磁化と磁化固定層の磁化が相互作用して磁気抵抗効果が得られる。スペーサ層としては、導電体、絶縁体、半導体によって構成される層、もしくは、絶縁体中に導体によって構成される通電点を含む層で構成される。
スペーサ層は、磁化自由層と磁化固定層の間に配置され、磁化自由層の磁化と磁化固定層の磁化が相互作用して磁気抵抗効果が得られる。スペーサ層としては、導電体、絶縁体、半導体によって構成される層、もしくは、絶縁体中に導体によって構成される通電点を含む層で構成される。
スペーサ層として非磁性導電材料を適用する場合、材料としてはCu、Ag、AuまたはRuなどが挙げられ、磁気抵抗効果素子には巨大磁気抵抗(GMR:Giant Magnetoresistance)効果が発現する。GMR効果を利用する場合、スペーサ層の膜厚は、0.5~3.0nm程度とすることが好ましい。
スペーサ層として非磁性絶縁材料を適用する場合、材料としてはAl2O3またはMgOなどが挙げられ、磁気抵抗効果素子にはトンネル磁気抵抗(TMR:Tunneling Magnetoresistance)効果が発現する。磁化固定層と磁化自由層との間にコヒーレントトンネル効果が発現するように、スペーサ層の膜厚を調整することで高い磁気抵抗変化率が得られる。TMR効果を利用する場合、スペーサ層の膜厚は、0.5~3.0nm程度とすることが好ましい。
スペーサ層として非磁性半導体材料を適用する場合、材料としてはZnO、In2O3、SnO2、ITO、GaOxまたはGa2Oxなどが挙げられ、スペーサ層の膜厚は1.0~4.0nm程度とすることが好ましい。
スペーサ層として非磁性絶縁体中の導体によって構成される通電点を含む層を適用する場合、Al2O3またはMgOによって構成される非磁性絶縁体中に、CoFe、CoFeB、CoFeSi、CoMnGe、CoMnSi、CoMnAl、Fe、Co、Au、Cu、AlまたはMgなどの導体によって構成される通電点を含む構造とすることが好ましい。この場合、スペーサ層の膜厚は、0.5~2.0nm程度とすることが好ましい。
また、電極と磁気抵抗効果素子との間、もしくは金属層11と磁気抵抗効果素子との間にキャップ層、シード層またはバッファー層を配設しても良い。キャップ層、シード層またはバッファー層としては、Ru、Ta、Cu、Crまたはこれらの積層膜などが挙げられ、これらの層の膜厚は2~10nm程度とすることが好ましい。
<磁気抵抗効果素子>
磁気抵抗効果素子の大きさは、平面視形状が長方形(正方形を含む)の場合、長辺を300nm以下にすることが望ましい。また、平面視形状が長方形ではない場合は、平面視形状に最小の面積で外接する長方形の長辺を、磁気抵抗効果素子の長辺と定義する。長辺が100nm程度と小さい場合、磁化自由層の磁区の単磁区化が可能となり、高効率なスピントルク共鳴現象の実現が可能となる。ここで、「平面視形状」とは、磁気抵抗効果素子を構成する各層の積層方向に垂直な平面で見た形状のことである。
磁気抵抗効果素子の大きさは、平面視形状が長方形(正方形を含む)の場合、長辺を300nm以下にすることが望ましい。また、平面視形状が長方形ではない場合は、平面視形状に最小の面積で外接する長方形の長辺を、磁気抵抗効果素子の長辺と定義する。長辺が100nm程度と小さい場合、磁化自由層の磁区の単磁区化が可能となり、高効率なスピントルク共鳴現象の実現が可能となる。ここで、「平面視形状」とは、磁気抵抗効果素子を構成する各層の積層方向に垂直な平面で見た形状のことである。
磁気抵抗効果素子は、磁化自由層と、磁化固定層と、磁化自由層と磁化固定層との間に挟持されたスペーサ層とを有する。
磁化固定層の磁化は一方向に固定されている。磁化固定層の磁化の向きに対して、磁化自由層の磁化の向きが相対的に変化することで、磁気抵抗効果素子として機能する。
磁化固定層の磁化は一方向に固定されている。磁化固定層の磁化の向きに対して、磁化自由層の磁化の向きが相対的に変化することで、磁気抵抗効果素子として機能する。
入力端子8から入力される高周波信号は金属層11の領域(第1の領域)5を介して、基準電位端子10に流れる。
<高周波信号>
高周波信号は、100MHz以上の周波数成分を持つ信号である。高周波信号の電力は概ね-150dBmから40dBmの範囲である。高周波信号は変調信号であり、振幅や周波数、位相、もしくは振幅と位相の組み合わせ等によって変調される。
高周波信号は、100MHz以上の周波数成分を持つ信号である。高周波信号の電力は概ね-150dBmから40dBmの範囲である。高周波信号は変調信号であり、振幅や周波数、位相、もしくは振幅と位相の組み合わせ等によって変調される。
<電極>
電極7および金属層11は、一対の電極としての役目を有し、磁気抵抗効果素子1を構成する各層の積層方向に磁気抵抗効果素子1を介して配設されている。つまり、電極7および金属層11は、信号(電流)を磁気抵抗効果素子1に対して、構成する各層の面と交差する方向、例えば、構成する各層の面に対して垂直な方向(積層方向)に流すための一対の電極としての機能を有している。電極7は、Ta、Cu、Au、AuCu、Ru、もしくはこれらの材料のいずれか2つ以上の膜で構成されることが好ましい。
電極7および金属層11は、一対の電極としての役目を有し、磁気抵抗効果素子1を構成する各層の積層方向に磁気抵抗効果素子1を介して配設されている。つまり、電極7および金属層11は、信号(電流)を磁気抵抗効果素子1に対して、構成する各層の面と交差する方向、例えば、構成する各層の面に対して垂直な方向(積層方向)に流すための一対の電極としての機能を有している。電極7は、Ta、Cu、Au、AuCu、Ru、もしくはこれらの材料のいずれか2つ以上の膜で構成されることが好ましい。
<端子>
磁気抵抗効果素子1は、一端(磁化自由層2側)が金属層11を介して入力端子8、基準電位端子10に電気的に接続され、他端(磁化固定層4側)が電極7を介して出力端子9と印加端子6に電気的に接続されている。
磁気抵抗効果素子1は、一端(磁化自由層2側)が金属層11を介して入力端子8、基準電位端子10に電気的に接続され、他端(磁化固定層4側)が電極7を介して出力端子9と印加端子6に電気的に接続されている。
電気的な接続を次のように定義する。他端と出力端子9間に電位差が生じた際に、他端と出力端子9に電流が流れることを他端と出力端子9が電気的に接続されていると定義する。例えば他端と出力端子9間に絶縁物が配置されていたり、空間的な隔たりがあったとしても、その厚みが非常に薄く、他端と出力端子9間に電流が流れる場合は他端と出力端子9が電気的に接続されているとする。
<直流電流源、電圧源>
印加端子6に直流電流源12もしくは直流電圧源が接続されることで、磁気抵抗効果素子1に直流電流を印加することが可能になる。また、直流入力端子6と直流電流源12との間に、高周波信号をカットするための、インダクタまたは抵抗素子が直列に接続されてもよい。また、直流電流源12からの直流電流が磁気抵抗効果素子1に効率的に印加されるように入力端子8と電極7の間と、金属層11と出力端子9の間に直流信号をカットするコンデンサを直列に接続してもよい。直流電流源12は、一定の直流電流を発生可能な、固定抵抗と直流電圧源との組み合わせの回路により構成されてもよい。また直流電流源12に変えて、直流電圧源を接続し、磁気抗効果素子1に直流電圧を印加してもよい。
印加端子6に直流電流源12もしくは直流電圧源が接続されることで、磁気抵抗効果素子1に直流電流を印加することが可能になる。また、直流入力端子6と直流電流源12との間に、高周波信号をカットするための、インダクタまたは抵抗素子が直列に接続されてもよい。また、直流電流源12からの直流電流が磁気抵抗効果素子1に効率的に印加されるように入力端子8と電極7の間と、金属層11と出力端子9の間に直流信号をカットするコンデンサを直列に接続してもよい。直流電流源12は、一定の直流電流を発生可能な、固定抵抗と直流電圧源との組み合わせの回路により構成されてもよい。また直流電流源12に変えて、直流電圧源を接続し、磁気抗効果素子1に直流電圧を印加してもよい。
<基準電位端子>
基準電位端子10は、基準電位として機能する。例えば、基準電位端子10をグラウンドと接続することで、基準電位が決定する。基準電位端子10は金属層11に接続される。
基準電位端子10は、基準電位として機能する。例えば、基準電位端子10をグラウンドと接続することで、基準電位が決定する。基準電位端子10は金属層11に接続される。
電極7、金属層11及び基準電位端子10の形状は、マイクロストリップライン(MSL)型やコプレーナウェーブガイド(CPW)型に規定することが好ましい。マイクロストリップライン(MSL)型やコプレーナウェーブガイド(CPW)型に設計する場合、電極7、金属層11、基準電位端子10で構成される特性インピーダンスと、回路系のインピーダンスとが等しくなるように、信号線路幅やグラウンド間距離を設計することが好ましい。このように設計することによって伝送損失を抑えることができる。
<金属層>
金属層11には磁気抵抗効果素子1が磁化自由層2、スペーサ層3、磁化固定層4の順で配置され、積層体を成す。金属層11は磁化自由層2の積層方向から見て重なる領域5を有する。
金属層11には磁気抵抗効果素子1が磁化自由層2、スペーサ層3、磁化固定層4の順で配置され、積層体を成す。金属層11は磁化自由層2の積層方向から見て重なる領域5を有する。
ここで、スピン軌道トルク共鳴について説明する。入力端子8から入力される高周波信号が金属層11に流れることでスピンホール効果が発生し、スピン偏極した電流を伴わないスピン流であるスピン流(純スピン流)が高周波信号の流れる向きと直交する方向、例えば、図1中の金属層11から上方向と、下方向にそれぞれ流れる。この高周波信号が金属層11の領域5に流れることで、上方向に流れる純スピン流は磁化自由層2に注入される。
スピン流のスピン偏極の向きは電流の向きで変化する。例えば、入力端子8から基準電位端子10の向きに直流電流を印加した場合、上向きにスピン偏極されたスピン流が磁化自由層2に注入される。一方、基準電位端子10から入力端子8の向きに直流電流を印加した場合、下向きにスピン偏極されたスピン流が磁化自由層2に注入される。
金属層11は磁化自由層2に直接接続していてもよいが、金属層11から磁化自由層2に純スピン流が流れ込む限り、金属層11と磁化自由層2の間に他の層が配置されていてもよい。
金属層11は電流が流れるとスピンホール効果によって純スピン流が生成される材料からなる。かかる材料としては、金属層11中にスピン流が生成される構成のものであれば足りる。従って、単体の元素からなる材料に限らないし、純スピン流が生成される材料で構成される部分と純スピン流が生成されない材料で構成される部分とからなるもの等であってもよい。
また、金属層11は非磁性の重金属を含んでもよい。重金属は、スピン軌道相互作用の大きい重金属、例えば、Hf、Ta、W、Re、Os、Ir、Pt、Pb、あるいは、これらの合金から構成される。また、重金属として、導電性の材料に、これらの重金属又は合金をドープしたものを使用してもよい。また、所望の電気特性や構造を得るため、適宜、B、C、N、O、Al、Si、P、Ga、Ge等の材料を重金属に添加してもよい。金属層11は、最外殻にd電子又はf電子を有する原子番号39以上の原子番号が大きい非磁性金属だけからなってもよい。
また、金属層11は磁性金属を含んでもよい。磁性金属とは、強磁性金属、あるいは、反強磁性金属を指す。非磁性金属に微量な磁性金属が含まれるとスピン軌道相互作用が増強され、金属層11に流す電流に対するスピン流生成効率を高くできるからである。金属層11は反強磁性金属だけからなってもよい。
スピン偏極したスピン流は磁化自由層2の磁化にスピン軌道トルク(Spin Orbit Torque:SOT)として作用し、磁化自由層2の磁化は向きを変えることができる。高周波信号を金属層11に流すことで磁化自由層2に注入されるスピンの向きが高周波で変化し、磁化自由層2の磁化の向きが高周波で変化する。磁化自由層2の磁化が強く振動することで磁化自由層2の磁化と磁化固定層4の磁化との相対角度が振動し、磁気抵抗効果素子1の抵抗値が高周波信号と同じ周波数で振動する。振動する抵抗は磁気抵抗効果素子1に印加する直流電流、もしくは直流電圧によって交流信号となる。例えば磁気抵抗効果素子1に直流電流を印加した場合、交流信号の強度は振動する抵抗値と印加した直流電流の値との積で表される。交流信号は出力端子9に出力される。
この時、高周波信号の周波数が磁化自由層2の共鳴周波数に近ければ、磁化自由層2の磁化は高周波信号に共鳴し、強く振動するスピン軌道トルク共鳴が発生する。磁化自由層2の磁化が強く振動することで、大きな交流信号が出力端子9に出力される。
一方、高周波信号の周波数が磁気抵抗効果素子1の共鳴周波数から離れている場合、スピン軌道トルクによって磁化自由層2の磁化は強く振動せず、上記のような大きな交流信号を発生させない。
従って、磁気抵抗効果デバイス100は共鳴周波数付近における信号を伝送し、共鳴周波数から離れた信号を減衰する帯域通過フィルタとして動作する。
帯域通過フィルタの挿入損は磁気抵抗効果素子1によって出力される交流信号の強度に依存し、交流信号の強度が大きいほど、挿入損は小さくなる。
また、磁気抵抗効果素子1によって出力される交流信号の強度が入力端子8から入力した高周波信号の強度よりも大きい場合、磁気抵抗効果デバイス100は入力した信号を増幅する増幅器として動作する。
磁気抵抗効果素子1に印加する直流電流、もしくは直流電圧は磁化自由層2の磁化にスピントランスファトルクとしても作用する。
磁化自由層2の磁化と磁化固定層4の磁化との相対角度が概ね90度以上の場合、磁化自由層2から磁化固定層4の向きに電流を印加するほうが好ましい。この場合、スピントランスファトルクは磁化自由層2の磁化のダンピングを小さくするように作用し、磁化自由層2の磁化の振動が大きくなる。
また、磁化自由層2の磁化と磁化固定層4の磁化との相対角度が概ね90度未満の場合、磁化固定層4から磁化自由層2の向きに電流を印加するほうが好ましい。この場合、スピントランスファトルクは磁化自由層2の磁化のダンピングを小さくするように作用し、磁化自由層2の磁化の振動が大きくなる。
また、磁化自由層2の磁化と磁化固定層4の磁化との相対角度が概ね90度の時、単位磁化振幅あたりの抵抗の振動の大きさは最大となる。
<磁場供給機構(手段)>
磁気抵抗効果デバイス100の動作時には、磁気抵抗効果素子1に外部磁場を印加してもよい。つまり、磁気抵抗効果素子1に外部磁場を印加する磁場供給機構13をさらに設けてもよい。磁場供給機構13は、磁気抵抗効果素子1に外部磁場を印加し、磁気抵抗効果素子1にスピン軌道トルク共鳴現象を誘起する。
磁気抵抗効果デバイス100の動作時には、磁気抵抗効果素子1に外部磁場を印加してもよい。つまり、磁気抵抗効果素子1に外部磁場を印加する磁場供給機構13をさらに設けてもよい。磁場供給機構13は、磁気抵抗効果素子1に外部磁場を印加し、磁気抵抗効果素子1にスピン軌道トルク共鳴現象を誘起する。
磁場供給機構13は、磁気抵抗効果素子1の近傍に配設されることが好ましい。磁場供給機構13は、例えば、電圧又は電流のいずれかにより印加磁場強度を可変制御できる電磁石型又はストリップライン型で構成される。また、印加磁場強度を可変制御できる電磁石型又はストリップライン型と、一定磁場のみを供給する永久磁石と、の組み合わせにより構成されてもよい。
さらに、上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイス100は磁気抵抗効果素子1のインピーダンスが金属層11のインピーダンスよりも大きくてもよい。
磁気抵抗効果素子1のインピーダンスを金属層11のインピーダンスよりも大きくするには、磁気抵抗効果素子1の面積抵抗を大きくする、素子サイズを小さくする、もしくはスペーサ層3に非磁性絶縁材料を用いて磁気抵抗効果素子1のインピーダンスを大きくしてもよい。
また、金属層11の膜厚を厚くしたり、面積を大きくして金属層11のインピーダンスを小さくしてもよい。
これによって入力端子8からの高周波信号が金属層11から基準電位端子10により多く流れるので、磁気抵抗効果デバイス100は以下の2つの効果を有する。
強度の大きな高周波信号を磁気抵抗効効果デバイス100に入力しても磁気抵抗効果素子1が破壊されにくい。高周波信号を磁気抵抗効果デバイス100に入力した際に、入力端子8からの高周波信号は磁気抵抗効果素子1に流れるよりも基準電位端子10の方により多く流れ、磁気抵抗効果素子1に大きな強度の信号が流れにくいため、磁気抵抗効果素子1が破壊されにくい。
さらに、高周波信号は磁気抵抗効果素子1に流れるよりも基準電位端子10により多く流れるので、帯域通過フィルタの帯域外の遮断特性を向上させることができる。高周波信号の周波数が磁化自由層2の共鳴周波数から離れている時、入力した高周波信号は磁気抵抗効果素子1に流れにくいため、出力端子9に出力される信号を小さくすることができ、帯域外の遮断特性を向上させることができる。
さらに、上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイス100は磁化自由層2の共鳴周波数を変化させる周波数設定機構を備える。
<周波数設定機構(手段)>
<周波数設定機構(手段)>
周波数設定機構として、磁場供給機構13を利用してもよい。磁化自由層2の共鳴周波数は、磁場供給機構13から供給される外部磁場の周波数等を変更することで、自由に設定することができる。すなわち、磁場供給機構13は、周波数設定機構として機能する。
共鳴周波数は、外部磁場以外の方法によっても変えることができる。例えば、以下のような方法を用いることができる。
一つの例として、磁気抵抗効果素子1に電場を印加し、その電場を変化させてもよい。印加する電場を変化させることにより、磁化自由層2における異方性磁場Hkが変化する。その結果、磁化自由層2における有効磁場が変化し、磁化自由層2の共鳴周波数を変化させることができる。この場合、磁気抵抗効果素子1に電場を印加する機構が、周波数設定機構(有効磁場設定機構)となる。
また別の例として、磁化自由層2の近傍に圧電体を設けてもよい。圧電体に電場を印加し、圧電体を変形させ、磁化自由層2を歪ませる。その結果、磁化自由層2における異方性磁場Hkが変化し,磁化自由層2における有効磁場が変化し、磁化自由層2の共鳴周波数を変化させることができる。この場合、圧電体に電場を印加する機構および圧電体が、周波数設定機構(有効磁場設定機構)となる。
また別の例として、電気磁気効果を有する反強磁性体またはフェリ磁性体である制御膜を磁化自由層2に磁気的に結合するように設けてもよい。制御膜に磁場と電場を印加し、制御膜に印加する磁場と電場の少なくとも一方を変化させることにより、磁化自由層2における交換結合磁場HEXを変化させる。その結果、磁化自由層2における有効磁場が変化し、磁化自由層2の共鳴周波数を変化させることができる。この場合、制御膜に磁場を印加する機構、制御膜に電場を印加する機構および制御膜が、周波数設定機構(有効磁場設定機構)となる。
このように磁気抵抗効果デバイス100は、磁化自由層2と磁化固定層4とスペーサ層3とを有する磁気抵抗効果素子1と、金属層11と、電極7と、入力端子8と、出力端子9と、基準電位端子10とを有し、金属層11、磁化自由層2、スペーサ層3、磁化固定層4、電極7はこの順で配置され、磁化固定層4は電極7と電気的に接し、電極7は高周波信号を出力する出力端子9に接続され、金属層11は磁化自由層2の積層方向からみて重なる領域(第1の領域)5を有し、入力端子8から金属層11に流れる高周波信号が領域5を介して、基準電位端子10に流れるように、金属層11は入力端子8と基準電位端子10に接続され、磁気抵抗効果素子1に直流電流、もしくは直流電圧を印加するための印加端子6を備える。
したがって、入力端子8からの信号が金属層11の領域5に流れることでスピンホール効果が発生し、スピン偏極したスピン流が磁化自由層2に注入される。スピン偏極したスピン流は磁化自由層2の磁化にスピン軌道トルクとして作用し、磁化自由層2の磁化は向きを変える。高周波信号を金属層11に流すことで磁化自由層2に注入されるスピンの向きが高周波で変化する。高周波信号が磁化自由層2の共鳴周波数と同じ周波数であれば、磁化自由層2の磁化は共鳴し、強く振動する。磁化自由層2の磁化が強く振動することで磁化自由層2の磁化と磁化固定層4の磁化との相対角度が振動し、磁気抵抗効果素子1の抵抗値が高周波信号と同じ周波数で振動する。振動する抵抗は磁気抵抗効果素子1に印加する直流電流、もしくは直流電圧によって交流信号となって出力端子9に出力される。高周波信号が磁気抵抗効果素子1の共鳴周波数から離れた周波数の場合、スピン偏極したスピン流によって磁化自由層2の磁化は強く振動せず、上記のような交流信号を発生させない。つまり、磁気抵抗効果デバイス100は共鳴周波数における信号を伝送し、共鳴周波数から離れた信号を減衰する帯域通過フィルタとして動作する。
さらに、磁気抵抗効果デバイス100は磁気抵抗効果素子1のインピーダンスが金属層11のインピーダンスよりも大きくてもよい。
この場合、高周波信号は金属層11から基準電位端子10により多く流れるので、強度の大きな高周波信号を磁気抵抗効果デバイス100に入力しても、磁気抵抗効果素子1が破壊されにくくなり、磁気抵抗効果デバイス100は入力電力が大きい場合に対応した帯域通過フィルタとして動作する。さらに、高周波信号は基準電位端子10により多く流れるので、帯域外の遮断特性が向上する。
さらに、磁気抵抗効果デバイス100は磁化自由層2の共鳴周波数を変化させる周波数設定機構をさらに備えてもよい。
この場合、磁化自由層2の共鳴周波数を変えることができ、磁気抵抗効果デバイス100は周波数可変帯域遮断フィルタとして動作する。
(第2実施形態)
図2は、本発明の第2の実施形態に係る磁気抵抗効果デバイス200の模式図である。磁気抵抗効果デバイス200において、第1実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と異なる点について主に説明し、共通する事項は適宜説明を省略する。第1実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と共通している要素は同じ符号を用いており、共通している要素の説明は省略する。磁気抵抗効果デバイス200は、第1実施形態の磁気抵抗効果デバイス100に対し、さらに、第2の磁気抵抗効果素子21を有する。第2の磁気抵抗効果素子21は第2の磁化自由層22と、第2のスペーサ層23と、第2の磁化固定層24を有する。磁気抵抗効果デバイス200のその他の構成は、第1実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と同じである。
図2は、本発明の第2の実施形態に係る磁気抵抗効果デバイス200の模式図である。磁気抵抗効果デバイス200において、第1実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と異なる点について主に説明し、共通する事項は適宜説明を省略する。第1実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と共通している要素は同じ符号を用いており、共通している要素の説明は省略する。磁気抵抗効果デバイス200は、第1実施形態の磁気抵抗効果デバイス100に対し、さらに、第2の磁気抵抗効果素子21を有する。第2の磁気抵抗効果素子21は第2の磁化自由層22と、第2のスペーサ層23と、第2の磁化固定層24を有する。磁気抵抗効果デバイス200のその他の構成は、第1実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と同じである。
金属層11は第2の磁化自由層22、第2のスペーサ層23、第2の磁化固定層24、電極7がこの順で配置され、積層体を成す。金属層11は第2の磁化自由層22の積層方向から見て重なる第2の領域25を有する。
<電極>
電極7および金属層11は、一対の電極としての役目を有し、第2の磁気抵抗効果素子21を構成する各層の積層方向に第2の磁気抵抗効果素子21を介して配設されている。つまり、電極7および金属層11は、信号(電流)を第2の磁気抵抗効果素子21に対して、構成する各層の面と交差する方向、例えば、構成する各層の面に対して垂直な方向(積層方向)に流すための一対の電極としての機能を有している。
電極7および金属層11は、一対の電極としての役目を有し、第2の磁気抵抗効果素子21を構成する各層の積層方向に第2の磁気抵抗効果素子21を介して配設されている。つまり、電極7および金属層11は、信号(電流)を第2の磁気抵抗効果素子21に対して、構成する各層の面と交差する方向、例えば、構成する各層の面に対して垂直な方向(積層方向)に流すための一対の電極としての機能を有している。
<端子>
第2の磁気抵抗効果素子21は、一端(第2の磁化自由層22側)が金属層11を介して入力端子8、基準電位端子10に電気的に接続され、他端(第2の磁化固定層24側)が電極7を介して出力端子9と印加端子6に電気的に接続されている。入力端子8から入力される高周波信号は第2の領域25を介して基準電位端子10に流れるように金属層11は入力端子8と基準電位端子10に接続される。
第2の磁気抵抗効果素子21は、一端(第2の磁化自由層22側)が金属層11を介して入力端子8、基準電位端子10に電気的に接続され、他端(第2の磁化固定層24側)が電極7を介して出力端子9と印加端子6に電気的に接続されている。入力端子8から入力される高周波信号は第2の領域25を介して基準電位端子10に流れるように金属層11は入力端子8と基準電位端子10に接続される。
第2の磁気抵抗効果素子21には磁気抵抗効果素子1と同様に高周波信号が第2の領域25に流れることで、スピン偏極したスピン流が第2の磁化自由層22に注入されて、スピン軌道トルク共鳴が発生し、第2の磁気抵抗効果素子21の抵抗が振動し、磁気抵抗効果素子21に印加する直流電流もしくは直流電圧によって交流信号を発生させる。磁気抵抗効果素子1と第2の磁気抵抗効果素子21による交流信号が出力端子9に出力されるので、磁気抵抗効果デバイス200の出力する信号強度が向上する。
さらに、上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイス200は磁化自由層2と第2の磁化自由層22の共鳴周波数が異なってもよい。
共鳴周波数は各磁化自由層の有効磁場によって変化する。磁化自由層2と第2の磁化自由層22の共鳴周波数を異なるようにするには、例えば周波数設定機構が活用できる。磁気抵抗効果素子(第1の磁気抵抗効果素子)1と第2の磁気抵抗効果素子21の一方、または両方に周波数設定機構を設け、それぞれの有効磁場をずらすことで共鳴周波数が異なるように周波数を設定する。
または、磁気抵抗効果素子の素子サイズで共鳴周波数を変化させてもよい。磁気抵抗効果素子の素子サイズを変化させると、磁化自由層の形状磁気異方性が変化し、有効磁場が変化する。例えば第2の磁気抵抗効果素子21の素子サイズを磁気抵抗効果素子1よりも小さくすることでそれぞれの共鳴周波数が異なるように設定することができる。
磁化自由層2と第2の磁化自由層22の共鳴周波数が異なることによって、磁化自由層2と第2の磁化自由層22は入力した高周波信号のうち、異なる周波数で強く共鳴し、交流信号を出力端子9に出力するため、磁気抵抗効果デバイス200は広帯域の帯域通過フィルタとして動作する。
このように、磁気抵抗効果デバイス200は第2の磁気抵抗効果素子21を有し、第2の磁気抵抗効果素子21は第2の磁化自由層22と第2のスペーサ層23と第2の磁化固定層24とを有し、金属層11、第2の磁化自由層22、第2のスペーサ層23、第2の磁化固定層24、電極7はこの順で配置され、金属層11は第2の磁化自由層22の積層方向から見て重なる第2の領域25を有し、入力端子8から金属層11に流れる高周波信号は第2の領域25を介して、基準電位端子10に流れるように金属層11は入力端子8と基準電位端子10に接続されていることを特徴とする。
したがって、複数の磁気抵抗効果素子の磁化自由層が高周波信号によって共鳴し、より大きな交流信号を発生させることで磁気抵抗効果デバイス200の信号強度が向上する。
さらに、磁気抵抗効果デバイス200は磁化自由層2と第2の磁化自由層22の共鳴周波数が異なってもよい。
この場合、共鳴する周波数帯域を広げることができ、磁気抵抗効果デバイス200は広帯域の帯域通過フィルタとして動作する。
(第3実施形態)
図3は、本発明の第3実施形態に係る磁気抵抗効果デバイス300の模式図である。磁気抵抗効果デバイス300において、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と異なる点について主に説明し、共通する事項は適宜説明を省略する。第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と共通している要素は同じ符号を用いており、共通している要素の説明は省略する。磁気抵抗効果デバイス300は、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100に対し、さらに、第3の磁気抵抗効果素子31と、第2の電極37とを有する。第3の磁気抵抗効果素子31は第3の磁化自由層32と、第3のスペーサ層33と、第3の磁化固定層34を有する。磁気抵抗効果デバイス300のその他の構成は、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と同じである。
図3は、本発明の第3実施形態に係る磁気抵抗効果デバイス300の模式図である。磁気抵抗効果デバイス300において、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と異なる点について主に説明し、共通する事項は適宜説明を省略する。第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と共通している要素は同じ符号を用いており、共通している要素の説明は省略する。磁気抵抗効果デバイス300は、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100に対し、さらに、第3の磁気抵抗効果素子31と、第2の電極37とを有する。第3の磁気抵抗効果素子31は第3の磁化自由層32と、第3のスペーサ層33と、第3の磁化固定層34を有する。磁気抵抗効果デバイス300のその他の構成は、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と同じである。
磁化自由層2、金属層11、第3の磁化自由層32、第3のスペーサ層33、第3の磁化固定層34、第2の電極37がこの順で配置され、積層体を成す。金属層11は第3の磁化自由層32の積層方向から見て重なる第3の領域35を有する。
第3の磁気抵抗効果素子31は、一端(第3の磁化自由層32側)が金属層11を介して入力端子8、基準電位端子10に電気的に接続され、他端(第3の磁化固定層34側)が第2の電極37を介して出力端子9と印加端子6に電気的に接続されている。入力端子8から入力される高周波信号は第3の領域35を介して基準電位端子10に流れるように金属層11は入力端子8と基準電位端子10に接続される。
第3の磁気抵抗効果素子31に直流電流もしくは直流電圧を印加するために、第2の電極37は印加端子6に接続される。印加端子6に直流電流源12を接続し、磁気抵抗効果素子1と第3の磁気抵抗効果素子31に直流電流を印加する。
一方、磁気抵抗効果素子1と第3の磁気抵抗効果素子31に印加する電流値を個別に調整するために図4のように磁気抵抗効果デバイス300は第2の印加端子36をさらに有し、第2の電極37は第2の印加端子36に接続されていてもよい。印加端子6に直流電流源12を接続し、第2の印加端子36に第2の直流電流源38を接続し、各直流電流源を制御することで各磁気抵抗効果素子に印加する直流電流を個別に調整することができる。また、第2の印加端子36に直流電流源12を接続し、第2の印加端子36と直流電流源12の間に可変抵抗を接続してもよく、可変抵抗の抵抗値を調整することでも各磁気抵抗効果素子に印加する直流電流を個別に調整することができる。
また、直流電流源の代わりに直流電圧源を接続し、各磁気抵抗効果素子に直流電圧を印加してもよい。
磁気抵抗効果デバイス300の入力端子8に高周波信号を入力すると、高周波信号は金属層11を流れ、領域5と第3の領域35にはスピンホール効果が発生する。領域5において図3中の上方向に流れるスピン偏極したスピン流は磁化自由層2に注入され、さらに第3の領域35において下方向に流れるスピン偏極したスピン流は第3の磁化自由層32に注入されることで、各磁化自由層にはスピン軌道トルクが作用する。これによって磁気抵抗効果素子1と第3の磁気抵抗効果素子31はそれぞれ交流信号を発生させ、出力端子9に出力されるので、磁気抵抗効果デバイス300の信号強度が向上する。
領域5と第3の領域35は重なっていてもよい。入力端子8から入力される高周波信号は金属層11でスピンホール効果が発生し、金属層11の図3中の上方向と下方向にスピン偏極したスピン流が流れるため、領域5と第3の領域35が重なっていても、効果的に磁化自由層2と第3の磁化自由層32の磁化にスピン軌道トルクを作用させることができる。
このように、磁気抵抗効果デバイス300は第3の磁気抵抗効果素子31と、第2の電極37とを有し、第3の磁気抵抗効果素子31は第3の磁化自由層32と第3のスペーサ層33と第3の磁化固定層34とを有し、磁化自由層2、金属層11、第3の磁化自由層32、第3のスペーサ層33、第3の磁化固定層34、第2の電極37はこの順で配置され、金属層11は第3の磁化自由層32の積層方向から見て重なる第3の領域35を有し、入力端子8から金属層11に流れる高周波信号は第3の領域35を介して、基準電位端子10に流れるように金属層11は入力端子8と基準電位端子10に接続され、第3の磁化固定層34は第2の電極37と電気的に接し、第2の電極37は出力端子9に接続され、第3の磁気抵抗効果素子31に直流電流、もしくは直流電圧を印加する手段を有する。
したがって、スピンホール効果によって金属層11の上下面にはスピン偏極したスピン流が流れ、上下面に流れるスピン流をそれぞれ磁気抵抗効果素子の磁化自由層に注入することで、より大きな交流信号を発生させ、磁気抵抗効果デバイス300の信号強度が向上する。
(磁気抵抗効果モジュール)
本発明の磁気抵抗効果モジュールについて説明する。この磁気抵抗効果モジュールは第1実施形態から第3実施形態の磁気抵抗効果デバイスの少なくとも一つの磁気抵抗効果デバイスと、直流電流源を有する。直流電流源は直流電流印加端子に接続され、磁気抵抗効果素子に直流電流を印加する。
本発明の磁気抵抗効果モジュールについて説明する。この磁気抵抗効果モジュールは第1実施形態から第3実施形態の磁気抵抗効果デバイスの少なくとも一つの磁気抵抗効果デバイスと、直流電流源を有する。直流電流源は直流電流印加端子に接続され、磁気抵抗効果素子に直流電流を印加する。
直流電流源の代わりに直流電圧源を接続し、磁気抵抗効果素子に直流電圧を印加してもよい。
また、磁気抵抗効果モジュールは複数の直流電流源を有してもよい。例えば、磁気抵抗効果モジュールは第3実施形態の磁気抵抗効果デバイス300と、直流電流源12と、第2の直流電流源38を有し、直流電流源12は印加端子6と、第2の直流電流源38は第2の印加端子36と接続されてもよい。もしくは、磁気抵抗効果モジュールはさらに第2の直流電流源38を有し、直流電流源12は直流電流印加端子6に接続され、第2の直流電流源38は第2の直流電流印加端子36に接続されてもよい。
したがって、磁気抵抗効果モジュールでは、磁気抵抗効果デバイスに直流電流、もしくは直流電圧を印加し、帯域通過フィルタ、もしくは増幅器の機能を有する磁気抵抗効果モジュールとして機能する。
図5に、LLGシミュレーションを用いて、磁化固定層及び磁化自由層が膜面内方向に磁化容易軸を有する場合に、磁気抵抗効果素子の抵抗値の振動の大きさ(スピントルク共鳴の大きさ)について、金属層に電流が流れることで生成された純スピン流の電子のスピン(以下、「SOTスピン」ということがある)の方向と磁化自由層の磁化の向きとの相対角、及び、磁化固定層の磁化の向きと磁化自由層の磁化の向きとの相対角、に対する依存性を調べた結果を示す。
図5において、横軸はSOTスピンの方向と磁化自由層の磁化の向きとの相対角、縦軸は磁化固定層の磁化の向きと磁化自由層の磁化の向きとの相対角を示し、濃淡が磁気抵抗効果素子の抵抗値の振動の大きさを示す。
図5において、横軸はSOTスピンの方向と磁化自由層の磁化の向きとの相対角、縦軸は磁化固定層の磁化の向きと磁化自由層の磁化の向きとの相対角を示し、濃淡が磁気抵抗効果素子の抵抗値の振動の大きさを示す。
シミュレーションは、以下の条件で行った。
磁気抵抗効果素子の形状:120nmφ、円柱形状
磁化自由層の厚さ:2nm
ダンピング定数α:0.02
磁化自由層の飽和磁化Ms:1.31×106A/m
磁化自由層の垂直磁気異方性磁場Hu:1.19×106A/m
磁化自由層に印加される静磁場の外部磁場:870Oe
磁化固定層のスピン分極率P:0.51
磁気抵抗効果素子に印加する直流電流:10-4A
純スピン電流:10-6A
磁気抵抗効果素子の形状:120nmφ、円柱形状
磁化自由層の厚さ:2nm
ダンピング定数α:0.02
磁化自由層の飽和磁化Ms:1.31×106A/m
磁化自由層の垂直磁気異方性磁場Hu:1.19×106A/m
磁化自由層に印加される静磁場の外部磁場:870Oe
磁化固定層のスピン分極率P:0.51
磁気抵抗効果素子に印加する直流電流:10-4A
純スピン電流:10-6A
図5に示す結果から、SOTスピンの方向と磁化自由層の磁化の向きとの相対角が90°のときに最もスピントルク共鳴が大きいことがわかった。また、磁化固定層の磁化の向きと磁化自由層の磁化の向きとの相対角が120°のときに最もスピントルク共鳴が大きいことがわかった。
図6に、磁化固定層及び磁化自由層が膜面直方向に磁化容易軸を有する場合についても、LLGシミュレーションを用いて、図5と同様の依存性を調べた結果を示す。
図5の場合と異なるシミュレーションの条件は、以下の通りである。
磁化自由層の垂直磁気異方性磁場Hu:1.31×106A/m
磁化自由層に印加される静磁場の外部磁場:1000Oe
磁化自由層の垂直磁気異方性磁場Hu:1.31×106A/m
磁化自由層に印加される静磁場の外部磁場:1000Oe
図6に示す結果から、磁化固定層及び磁化自由層が膜面直方向に磁化容易軸を有する場合についても、SOTスピンの方向と磁化自由層の磁化の向きとの相対角が90°のときに最もスピントルク共鳴が大きいこと、また、磁化固定層の磁化の向きと磁化自由層の磁化の向きとの相対角が120°のときに最もスピントルク共鳴が大きいことがわかった。
図5及び図6の結果から、より強いトルクが働き、磁化が大きく振動し、通過特性が改善されるためには、SOTスピンの方向と磁化自由層の磁化の向きとの相対角が60°以上120°以下であることが好ましいことがわかった。
金属層に流れる高周波電流の方向はSOTスピンの方向から90°回転しているので、SOTスピンの方向と磁化自由層の磁化の向きとの相対角が60°以上120°以下の場合とは、金属層に流れる高周波信号(電流)の方向と磁化自由層の磁化の方向との相対角が150°以上180°以下、又は、0°以上30°以下の場合に相当する。
金属層に流れる高周波電流の方向はSOTスピンの方向から90°回転しているので、SOTスピンの方向と磁化自由層の磁化の向きとの相対角が60°以上120°以下の場合とは、金属層に流れる高周波信号(電流)の方向と磁化自由層の磁化の方向との相対角が150°以上180°以下、又は、0°以上30°以下の場合に相当する。
図5及び図6の結果から、より共鳴の強度が強まり、通過特性が改善されるためには、磁化固定層の磁化の向きと磁化自由層の磁化の向きとの相対角が90°以上150°以下であることが好ましいことがわかった。
(第4実施形態)
図7は、第4実施形態にかかる磁気抵抗効果デバイスの回路構成の一例を示した模式図である。
図7に示す磁気抵抗効果デバイス1000は、第1の磁気抵抗効果素子101と、金属層111と、第1の電極107と、入力端子108と、出力端子109と、基準電位端子110と、印加端子106とを備える。第1の磁気抵抗効果素子101は第1の強磁性層102、第1のスペーサ層103、第2の強磁性層104を有する。
第1の強磁性層及び第2の強磁性層は一方が磁化自由層、他方が磁化固定層である構成や両方が磁化自由層である構成であってもよいが、以下では、第1の強磁性層が磁化自由層、第2の強磁性層が磁化固定層の場合を例に説明する。
図7は、第4実施形態にかかる磁気抵抗効果デバイスの回路構成の一例を示した模式図である。
図7に示す磁気抵抗効果デバイス1000は、第1の磁気抵抗効果素子101と、金属層111と、第1の電極107と、入力端子108と、出力端子109と、基準電位端子110と、印加端子106とを備える。第1の磁気抵抗効果素子101は第1の強磁性層102、第1のスペーサ層103、第2の強磁性層104を有する。
第1の強磁性層及び第2の強磁性層は一方が磁化自由層、他方が磁化固定層である構成や両方が磁化自由層である構成であってもよいが、以下では、第1の強磁性層が磁化自由層、第2の強磁性層が磁化固定層の場合を例に説明する。
図7に示す磁気抵抗効果デバイス1000は、金属層111、第1の強磁性層102、第1のスペーサ層103、第2の強磁性層104および第1の電極107はこの順で配置されている。また、第2の強磁性層104は第1の電極107と電気的に接し、第1の電極107は高周波信号を出力する出力端子109に接続されている。また、高周波電流印加手段(図示せず)に接続された入力端子108から金属層111に流れる高周波信号が基準電位端子110に流れるように、金属層111は入力端子108と基準電位端子110とに接続されている。また、第1の強磁性層102は基準電位端子110と電気的に接している。また、第1の磁気抵抗効果素子101に直流電流又は直流電圧を印加するための印加端子106を備える。符号112は、直流電流源である。また、符号113は、磁場印加機構(周波数設定機構)である。
図7に示す磁気抵抗効果デバイス1000では、入力端子108から入力される高周波信号が金属層111に流れることでスピンホール効果が発生し、スピン偏極した、電流を伴わないスピン流であるスピン流(純スピン流)が高周波信号の流れる向きと直交する方向、例えば、図7中の金属層111から上方向と、下方向にそれぞれ流れる。純スピン流も入力端子108から入力される高周波信号と同じ周波数を有する。上方向に流れた純スピン流は磁化自由層である第1の強磁性層102に注入される。
入力端子108から金属層111に流れる高周波電流が第1の強磁性層102(および/または第2の強磁性層104)の磁化自由層の共鳴周波数と同じ周波数であれば、第1の強磁性層102(および/または第2の強磁性層104)の磁化は共鳴し、強く振動する。第1の磁気抵抗効果素子の抵抗値は第1の強磁性層102と第2の強磁性層104との相対角度で変化するので、磁化が強く振動することで第1の第1磁気抵抗効果素子101の抵抗値が大きく変化しながら振動する。この時、第1の第1磁気抵抗効果素子101の抵抗値は高周波信号と同じ周波数で振動する。振動する抵抗値は第1の磁気抵抗効果素子に印加する直流電流もしくは電圧によって、交流信号となって出力端子109に出力される。高周波信号が前記共鳴周波数から離れた周波数の場合、磁化は強く振動せず、大きな交流信号を発生させない。さらに入力端子から磁気抵抗効果デバイスに入力した高周波信号は基準電位端子に流れるため、出力端子に流れる信号の強度は減衰する。従って磁気抵抗効果デバイスは共鳴周波数における信号を伝送し、共鳴周波数から離れた信号を減衰する帯域通過フィルタとして動作する。
高周波信号が金属層に流れる際に電流による磁場が第1の強磁性層102の磁化に印加されることで第1の強磁性層102の磁化の有効磁場が高周波で変化し、第1の強磁性層102の磁化が振動する強磁性共鳴が起こり、入力端子から入力した高周波信号が磁性層1の共鳴周波数と一致した時、大きな交流が出力端子に出力され、フィルタの通過特性が改善される。
入力端子108から金属層111に流れる高周波電流が第1の強磁性層102(および/または第2の強磁性層104)の磁化自由層の共鳴周波数と同じ周波数であれば、第1の強磁性層102(および/または第2の強磁性層104)の磁化は共鳴し、強く振動する。第1の磁気抵抗効果素子の抵抗値は第1の強磁性層102と第2の強磁性層104との相対角度で変化するので、磁化が強く振動することで第1の第1磁気抵抗効果素子101の抵抗値が大きく変化しながら振動する。この時、第1の第1磁気抵抗効果素子101の抵抗値は高周波信号と同じ周波数で振動する。振動する抵抗値は第1の磁気抵抗効果素子に印加する直流電流もしくは電圧によって、交流信号となって出力端子109に出力される。高周波信号が前記共鳴周波数から離れた周波数の場合、磁化は強く振動せず、大きな交流信号を発生させない。さらに入力端子から磁気抵抗効果デバイスに入力した高周波信号は基準電位端子に流れるため、出力端子に流れる信号の強度は減衰する。従って磁気抵抗効果デバイスは共鳴周波数における信号を伝送し、共鳴周波数から離れた信号を減衰する帯域通過フィルタとして動作する。
高周波信号が金属層に流れる際に電流による磁場が第1の強磁性層102の磁化に印加されることで第1の強磁性層102の磁化の有効磁場が高周波で変化し、第1の強磁性層102の磁化が振動する強磁性共鳴が起こり、入力端子から入力した高周波信号が磁性層1の共鳴周波数と一致した時、大きな交流が出力端子に出力され、フィルタの通過特性が改善される。
図7に示す磁気抵抗効果デバイス1000では、入力端子108と金属層111との間にコンデンサC1と、このコンデンサC1と金属層111との間と基準電位端子110との間にインダクタL1とを備えており、また、第1の電極107と出力端子109との間にコンデンサC2と、このコンデンサC2と第1の電極107との間と印加端子106との間にインダクタL2とを備えた例を示している。インダクタL1、L2は、電流の高周波成分をカットし、電流の直流成分のみを通す。コンデンサC1、C2は、電流の直流成分を通さず、交流成分のみを通す。
コンデンサC1及びインダクタL1と、コンデンサC2及びインダクタL2とを備える構成によって、図8に示すように、入力端子108から入力された高周波電流は1点鎖線で示したように流れ、また、直流電流源112から印加端子106を介して印加された直流電流は2点鎖線で示したように流れる。
また、入力端子108と出力端子109間のインピーダンスが入力端子108と基準電位端子110間のインピーダンスよりも高いことが好ましい。
この構成では、入力端子からの高周波信号は基準電位端子に流れやすくなり、フィルタの遮断特性が改善される。
この構成では、入力端子からの高周波信号は基準電位端子に流れやすくなり、フィルタの遮断特性が改善される。
また、入力端子108から第1の磁気抵抗効果素子101を介して、出力端子109に高周波信号が流れるように第1の強磁性層102が金属層111と電気的に接続され、第1の磁気抵抗効果素子101の抵抗RMTJ、金属層111の抵抗Rlead、特性インピーダンスZ0が式(1)を満たすことが好ましい。
式(1)は以下のようにして得られる。
磁気抵抗効果デバイスの簡易的な等価回路は図9のように表される。第1の磁気抵抗効果素子101の抵抗RMTJが入力端子、出力端子間に直列に接続される。さらに入力端子と第1の磁気抵抗効果素子101の抵抗RMTJ間には金属層111の抵抗Rleadの一端が結線され、金属層111の抵抗Rleadの他端は接地している。入力端子には高周波信号源Vsと特性インピーダンスに対応した抵抗Z0が接続され、出力端子には特性インピーダンスに対応した抵抗Z0が接続されている。伝送特性S21は式(2)で計算される。式(2)より、S21が-20dB以上の良好な遮断特性を得るためには式(3)の値が18以上であればよい。
磁気抵抗効果デバイスの簡易的な等価回路は図9のように表される。第1の磁気抵抗効果素子101の抵抗RMTJが入力端子、出力端子間に直列に接続される。さらに入力端子と第1の磁気抵抗効果素子101の抵抗RMTJ間には金属層111の抵抗Rleadの一端が結線され、金属層111の抵抗Rleadの他端は接地している。入力端子には高周波信号源Vsと特性インピーダンスに対応した抵抗Z0が接続され、出力端子には特性インピーダンスに対応した抵抗Z0が接続されている。伝送特性S21は式(2)で計算される。式(2)より、S21が-20dB以上の良好な遮断特性を得るためには式(3)の値が18以上であればよい。
第1の磁気抵抗効果素子101に純スピン流が流れることで第1の強磁性層102(および/または第2の強磁性層104)はスピントランスファトルクによる強磁性共鳴現象が発生し、入力端子108から入力した高周波信号が第1の強磁性層102(および/または第2の強磁性層104)の共鳴周波数と一致したとき、大きな交流電流が出力端子109に出力され、通過特性が改善される。
金属層111の抵抗は金属層の厚みや幅、長さを変化させたり、金属層の材料によって調整することができる。例えば金属層の抵抗が下がるように調整する場合は、金属層を薄くしたり、材料として抵抗率の低いAu、Cu等を用いてもよく、一方、抵抗が上がるように調整する場合は金属層を厚くしたり、材料として抵抗率の高いW、Ta等を用いてもよい。
さらにフィルタの通過特性を向上させるには入力端子より磁気抵抗効果デバイスに入力される高周波電流が第1の磁気抵抗効果素子101により多く流れ込めばよい。このとき、より大きなスピントランスファトルクが第1の強磁性層102の磁化に働き、磁化はより強く共鳴し、第1の磁気抵抗効果素子101の振動する抵抗成分が大きくなって、出力が向上する。
式(3)の値が小さければ良く、38以下であれば最大値の0.5倍以上の電流が流れ、通過特性の向上が見込める。
式(3)の値が小さければ良く、38以下であれば最大値の0.5倍以上の電流が流れ、通過特性の向上が見込める。
また、金属層111は第1の強磁性層102の積層方向から見て重なる第1の領域(図1参照)を有し、入力端子108から金属層111に流れる高周波電流のうち、第1の強磁性層102の第1の領域以外の第2の領域の電流密度が第1の領域の電流密度よりも大きいこと、すなわち、第2の領域が第1の領域よりも電気抵抗が小さいことが好ましい。
金属層111に流れる高周波電流の電流密度は第1の領域の方が第2の領域よりも小さいので、第1の領域における発熱が抑えられ、直上の磁気抵抗効果素子が高温になることで素子特性が劣化することを抑制できる。
金属層111に流れる高周波電流の電流密度は第1の領域の方が第2の領域よりも小さいので、第1の領域における発熱が抑えられ、直上の磁気抵抗効果素子が高温になることで素子特性が劣化することを抑制できる。
また、金属層111がコンデンサC3(図10参照)を介して基準電位端子110と接続されていることが好ましい。
金属層111と基準電位端子110間にコンデンサC3を挟むことで、直流電流が基準電位端子110と入力端子108に分流せず、入力端子108側にだけ直流電流が流れることで、その直流電流によって生成したSOTスピンが第1の強磁性層102の磁化に働き、共鳴の強度を高められ、信号強度が向上する。
金属層111と基準電位端子110間にコンデンサC3を挟むことで、直流電流が基準電位端子110と入力端子108に分流せず、入力端子108側にだけ直流電流が流れることで、その直流電流によって生成したSOTスピンが第1の強磁性層102の磁化に働き、共鳴の強度を高められ、信号強度が向上する。
また、金属層111がコンデンサC3(図10参照)を介して基準電位端子110と接続されている場合において、金属層111は第1の強磁性層102の積層方向から見て重なる第1の領域を有し、入力端子108から金属層111に流れる高周波信号が第1の領域を介して基準電位端子110に流れるように、金属層111は入力端子108と基準電位端子110とに接続され、入力端子108から入力される高周波電流が金属層111がコンデンサC3と電気的に接続される接続点へ流れる方向に対して、第2の強磁性層104の磁化の方向が反時計回りに90度傾いていることが好ましい。
この構成によって、STTの効果とSOTの効果とが強め合うからである。
この構成によって、STTの効果とSOTの効果とが強め合うからである。
この理由を、まず直流電流(DC成分)について図11を用いて説明する。次いで、RF成分について図12を用いて説明する。なお、図11及び図12において、図10と同じ部材については符号を省略している。
図11(a)は、第1の強磁性層102から第2の強磁性層104に直流電流を印加した場合である。図11(a)において、左側の図は断面図であり、右側の図は平面図である。
電子は第2の強磁性層104を通り、第1の強磁性層102に流れる。その際に、第2の強磁性層104の磁化方向に偏極されたスピンが第1の強磁性層102に注入されSTTが第1の強磁性層102の磁化に働く(直流STTの効果)。
また、直流電流が金属層111に流れることでスピンホール効果によって偏極したスピンが第1の強磁性層102に注入され、スピン軌道相互作用によるトルクが第1の強磁性層102の磁化に働く(直流SOTの効果)。
この2つのトルクが強め合う条件は偏極方向が同じことであり、第2の強磁性層104の磁化の方向が金属層111に流れる直流電流の方向に対して、反時計周りに90度傾いているときである。
図11(a)は、第1の強磁性層102から第2の強磁性層104に直流電流を印加した場合である。図11(a)において、左側の図は断面図であり、右側の図は平面図である。
電子は第2の強磁性層104を通り、第1の強磁性層102に流れる。その際に、第2の強磁性層104の磁化方向に偏極されたスピンが第1の強磁性層102に注入されSTTが第1の強磁性層102の磁化に働く(直流STTの効果)。
また、直流電流が金属層111に流れることでスピンホール効果によって偏極したスピンが第1の強磁性層102に注入され、スピン軌道相互作用によるトルクが第1の強磁性層102の磁化に働く(直流SOTの効果)。
この2つのトルクが強め合う条件は偏極方向が同じことであり、第2の強磁性層104の磁化の方向が金属層111に流れる直流電流の方向に対して、反時計周りに90度傾いているときである。
図11(b)は、第2の強磁性層104から第1の強磁性層102に直流電流を印加した場合である。図11(b)において、左側の図は断面図であり、右側の図は平面図である。
電子は第1の強磁性層102を通り、第2の強磁性層104に流れる。その際に、第2の強磁性層104の磁化方向に偏極されたスピンは電極に流れ出るが、第2の強磁性層104の磁化方向と逆向きのスピンは第1の強磁性層102の方向に反射し、第1の強磁性層102に注入されSTTが第1の強磁性層102の磁化に働く(直流STTの効果)。
また、直流電流が金属層に流れることでスピンホール効果によって偏極したスピンが第1の強磁性層102に注入され、スピン軌道相互作用によるトルクが第1の強磁性層102の磁化に働く(直流SOTの効果)。
この2つのトルクが強め合う条件は、偏極方向が同じことであり、第2の強磁性層104の磁化の方向が金属層に流れる直流電流の方向に対して、時計周りに90度傾いているときである。
電子は第1の強磁性層102を通り、第2の強磁性層104に流れる。その際に、第2の強磁性層104の磁化方向に偏極されたスピンは電極に流れ出るが、第2の強磁性層104の磁化方向と逆向きのスピンは第1の強磁性層102の方向に反射し、第1の強磁性層102に注入されSTTが第1の強磁性層102の磁化に働く(直流STTの効果)。
また、直流電流が金属層に流れることでスピンホール効果によって偏極したスピンが第1の強磁性層102に注入され、スピン軌道相互作用によるトルクが第1の強磁性層102の磁化に働く(直流SOTの効果)。
この2つのトルクが強め合う条件は、偏極方向が同じことであり、第2の強磁性層104の磁化の方向が金属層に流れる直流電流の方向に対して、時計周りに90度傾いているときである。
図12(a)は、入力端子108より磁気抵抗効果デバイスに入力される高周波電流について、瞬間的に金属層111において電子が右から左へ流れている場合である。図12(a)において、左側の図は断面図であり、右側の図は平面図である。
このとき、第2の強磁性層104から第1の強磁性層102に向かって電子が流れ、その際に、第2の強磁性層104の磁化方向に偏極されたスピンが第1の強磁性層102に注入されSTTが第1の強磁性層102の磁化に働く(高周波STTの効果)。
また、電子が金属層に流れることでスピンホール効果によって偏極したスピンが第1の強磁性層102に注入され、スピン軌道相互作用によるトルクが第1の強磁性層102の磁化に働く(高周波SOTの効果)。
この2つのトルクが強め合う条件は、偏極方向が同じことであり、第2の強磁性層104の磁化の方向が金属層111に流れる電子の方向に対して、時計周りに90°傾いている時である。
このとき、第2の強磁性層104から第1の強磁性層102に向かって電子が流れ、その際に、第2の強磁性層104の磁化方向に偏極されたスピンが第1の強磁性層102に注入されSTTが第1の強磁性層102の磁化に働く(高周波STTの効果)。
また、電子が金属層に流れることでスピンホール効果によって偏極したスピンが第1の強磁性層102に注入され、スピン軌道相互作用によるトルクが第1の強磁性層102の磁化に働く(高周波SOTの効果)。
この2つのトルクが強め合う条件は、偏極方向が同じことであり、第2の強磁性層104の磁化の方向が金属層111に流れる電子の方向に対して、時計周りに90°傾いている時である。
図12(b)は、入力端子108より磁気抵抗効果デバイスに入力される高周波電流について、瞬間的に金属層111において電子が左から右へ流れている場合である。図12(b)において、左側の図は断面図であり、右側の図は平面図である。
このとき、電子は第1の強磁性層102を通り、第2の強磁性層104に流れる。その際に、第2の強磁性層104の磁化方向に偏極されたスピンは電極に流れ出るが、第2の強磁性層104の磁化方向と逆向きのスピンは第1の強磁性層102の方向に反射し、第1の強磁性層102に注入されSTTが第1の強磁性層102の磁化に働く(高周波STTの効果)。
また、電子が金属層111に流れることでスピンホール効果によって偏極したスピンが第1の強磁性層102に注入され、スピン軌道相互作用によるトルクが第1の強磁性層102の磁化に働く(高周波SOTの効果)。
この2つのトルクが強め合う条件は、偏極方向が同じことであり、第2の強磁性層104の磁化の方向が金属層に流れる電子の方向に対して、反時計周りに90°傾いている時である。
このとき、電子は第1の強磁性層102を通り、第2の強磁性層104に流れる。その際に、第2の強磁性層104の磁化方向に偏極されたスピンは電極に流れ出るが、第2の強磁性層104の磁化方向と逆向きのスピンは第1の強磁性層102の方向に反射し、第1の強磁性層102に注入されSTTが第1の強磁性層102の磁化に働く(高周波STTの効果)。
また、電子が金属層111に流れることでスピンホール効果によって偏極したスピンが第1の強磁性層102に注入され、スピン軌道相互作用によるトルクが第1の強磁性層102の磁化に働く(高周波SOTの効果)。
この2つのトルクが強め合う条件は、偏極方向が同じことであり、第2の強磁性層104の磁化の方向が金属層に流れる電子の方向に対して、反時計周りに90°傾いている時である。
第1の磁気抵抗効果素子の共鳴周波数を変えることができる周波数設定手段(機構)113をさらに備えることができる。
周波数設定手段によって磁化自由層の共鳴周波数を変えることで、磁気抵抗効果デバイスは周波数可変帯域遮断フィルタとして動作する。
周波数設定手段によって磁化自由層の共鳴周波数を変えることで、磁気抵抗効果デバイスは周波数可変帯域遮断フィルタとして動作する。
(第5実施形態)
図13は、本発明の第5実施形態に係る磁気抵抗効果デバイス2000の模式図である。磁気抵抗効果デバイス2000において、第4実施形態の磁気抵抗効果デバイス1000と異なる点について主に説明し、共通する事項は適宜説明を省略する。第4実施形態の磁気抵抗効果デバイス1000と共通している要素は同じ符号を用いており、共通している要素の説明は省略する。磁気抵抗効果デバイス2000は、第4実施形態の磁気抵抗効果デバイス1000に対し、さらに、第2の磁気抵抗効果素子121を有する。第2の磁気抵抗効果素子121は第3の強磁性層122と、第2のスペーサ層123と、第4の強磁性層124を有する。磁気抵抗効果デバイス2000のその他の構成は、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス1000と同じである。
第3の強磁性層及び第4の強磁性層は一方が磁化自由層、他方が磁化固定層である構成や両方が磁化自由層である構成であってもよいが、以下では、第3の強磁性層が磁化自由層(第2の磁化自由層)、第4の強磁性層が磁化固定層(第2の磁化固定層)の場合を例に説明する。
図13は、本発明の第5実施形態に係る磁気抵抗効果デバイス2000の模式図である。磁気抵抗効果デバイス2000において、第4実施形態の磁気抵抗効果デバイス1000と異なる点について主に説明し、共通する事項は適宜説明を省略する。第4実施形態の磁気抵抗効果デバイス1000と共通している要素は同じ符号を用いており、共通している要素の説明は省略する。磁気抵抗効果デバイス2000は、第4実施形態の磁気抵抗効果デバイス1000に対し、さらに、第2の磁気抵抗効果素子121を有する。第2の磁気抵抗効果素子121は第3の強磁性層122と、第2のスペーサ層123と、第4の強磁性層124を有する。磁気抵抗効果デバイス2000のその他の構成は、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス1000と同じである。
第3の強磁性層及び第4の強磁性層は一方が磁化自由層、他方が磁化固定層である構成や両方が磁化自由層である構成であってもよいが、以下では、第3の強磁性層が磁化自由層(第2の磁化自由層)、第4の強磁性層が磁化固定層(第2の磁化固定層)の場合を例に説明する。
金属層111は第2の磁化自由層122、第2のスペーサ層123、第2の磁化固定層124、第1の電極107がこの順で配置され、積層体を成す。
<電極>
第1の電極107および金属層111は、一対の電極としての役目を有し、第2の磁気抵抗効果素子121を構成する各層の積層方向に第2の磁気抵抗効果素子121を介して配設されている。つまり、第1の電極107および金属層111は、信号(電流)を第2の磁気抵抗効果素子121に対して、構成する各層の面と交差する方向、例えば、構成する各層の面に対して垂直な方向(積層方向)に流すための一対の電極としての機能を有している。
第1の電極107および金属層111は、一対の電極としての役目を有し、第2の磁気抵抗効果素子121を構成する各層の積層方向に第2の磁気抵抗効果素子121を介して配設されている。つまり、第1の電極107および金属層111は、信号(電流)を第2の磁気抵抗効果素子121に対して、構成する各層の面と交差する方向、例えば、構成する各層の面に対して垂直な方向(積層方向)に流すための一対の電極としての機能を有している。
<端子>
第2の磁気抵抗効果素子121は、一端(第2の磁化自由層122側)が金属層111を介して入力端子108、基準電位端子110に電気的に接続され、他端(第2の磁化固定層124側)が第1の電極107を介して出力端子9と印加端子6に電気的に接続されている。入力端子108から入力される高周波信号は基準電位端子110に流れるように金属層111は入力端子108と基準電位端子110に接続される。
第2の磁気抵抗効果素子121は、一端(第2の磁化自由層122側)が金属層111を介して入力端子108、基準電位端子110に電気的に接続され、他端(第2の磁化固定層124側)が第1の電極107を介して出力端子9と印加端子6に電気的に接続されている。入力端子108から入力される高周波信号は基準電位端子110に流れるように金属層111は入力端子108と基準電位端子110に接続される。
第2の磁気抵抗効果素子121には磁気抵抗効果素子1と同様に高周波信号が流れることで、スピン偏極したスピン流が第2の磁化自由層122に注入されて、スピン軌道トルク共鳴が発生し、第2の磁気抵抗効果素子121の抵抗が振動し、第2の磁気抵抗効果素子121に印加する直流電流もしくは直流電圧によって交流信号を発生させる。第1の磁気抵抗効果素子101と第2の磁気抵抗効果素子121による交流信号が出力端子109に出力されるので、磁気抵抗効果デバイス2000の出力する信号強度が向上する。
さらに、上記態様にかかる磁気抵抗効果デバイス200は第1の磁化自由層102と第2の磁化自由層122の共鳴周波数が異なってもよい。
共鳴周波数は各磁化自由層の有効磁場によって変化する。第1の磁化自由層102と第2の磁化自由層122の共鳴周波数を異なるようにするには、例えば周波数設定機構が活用できる。磁気抵抗効果素子1と第2の磁気抵抗効果素子121の一方、または両方に周波数設定機構を設け、それぞれの有効磁場をずらすことで共鳴周波数が異なるように周波数を設定する。
または、磁気抵抗効果素子の素子サイズで共鳴周波数を変化させてもよい。磁気抵抗効果素子の素子サイズを変化させると、磁化自由層の形状磁気異方性が変化し、有効磁場が変化する。例えば第2の磁気抵抗効果素子121の素子サイズを磁気抵抗効果素子1よりも小さくすることでそれぞれの共鳴周波数が異なるように設定することができる。
第1の磁化自由層102と第2の磁化自由層122の共鳴周波数が異なることによって、第1の磁化自由層102と第2の磁化自由層122は入力した高周波信号のうち、異なる周波数で強く共鳴し、交流信号を出力端子109に出力するため、磁気抵抗効果デバイス2000は広帯域の帯域通過フィルタとして動作する。
このように、磁気抵抗効果デバイス2000は第2の磁気抵抗効果素子121を有し、第2の磁気抵抗効果素子121は第2の磁化自由層122と第2のスペーサ層123と第2の磁化固定層124とを有し、金属層111、第2の磁化自由層122、第2のスペーサ層123、第2の磁化固定層124、第1の電極107はこの順で配置され、第2の磁化固定層124は第1の電極107と電気的に接し、第2の磁化自由層122は基準電位端子110と電気的に接続されている。
したがって、複数の磁気抵抗効果素子の磁化自由層が高周波信号によって共鳴し、より大きな交流信号を発生させることで磁気抵抗効果デバイス2000の信号強度が向上する。
さらに、磁気抵抗効果デバイス2000は第1の磁化自由層102と第2の磁化自由層122の共鳴周波数が異なってもよい。
この場合、共鳴する周波数帯域を広げることができ、磁気抵抗効果デバイス2000は広帯域の帯域通過フィルタとして動作する。
(第6実施形態)
図14は、本発明の第6実施形態に係る磁気抵抗効果デバイス3000の模式図である。磁気抵抗効果デバイス3000において、第4実施形態の磁気抵抗効果デバイス1000と異なる点について主に説明し、共通する事項は適宜説明を省略する。第4実施形態の磁気抵抗効果デバイス1000と共通している要素は同じ符号を用いており、共通している要素の説明は省略する。磁気抵抗効果デバイス3000は、第4実施形態の磁気抵抗効果デバイス1000に対し、さらに、第3の磁気抵抗効果素子131と、第2の電極137とを有する。第3の磁気抵抗効果素子131は第5の強磁性層32と、第3のスペーサ層33と、第6の強磁性層34を有する。磁気抵抗効果デバイス3000のその他の構成は、第4実施形態の磁気抵抗効果デバイス1000と同じである。
第5の強磁性層及び第6の強磁性層は一方が磁化自由層、他方が磁化固定層である構成や両方が磁化自由層である構成であってもよいが、以下では、第5の強磁性層が磁化自由層(第3の磁化自由層)、第6の強磁性層が磁化固定層(第3の磁化固定層)の場合を例に説明する。
図14は、本発明の第6実施形態に係る磁気抵抗効果デバイス3000の模式図である。磁気抵抗効果デバイス3000において、第4実施形態の磁気抵抗効果デバイス1000と異なる点について主に説明し、共通する事項は適宜説明を省略する。第4実施形態の磁気抵抗効果デバイス1000と共通している要素は同じ符号を用いており、共通している要素の説明は省略する。磁気抵抗効果デバイス3000は、第4実施形態の磁気抵抗効果デバイス1000に対し、さらに、第3の磁気抵抗効果素子131と、第2の電極137とを有する。第3の磁気抵抗効果素子131は第5の強磁性層32と、第3のスペーサ層33と、第6の強磁性層34を有する。磁気抵抗効果デバイス3000のその他の構成は、第4実施形態の磁気抵抗効果デバイス1000と同じである。
第5の強磁性層及び第6の強磁性層は一方が磁化自由層、他方が磁化固定層である構成や両方が磁化自由層である構成であってもよいが、以下では、第5の強磁性層が磁化自由層(第3の磁化自由層)、第6の強磁性層が磁化固定層(第3の磁化固定層)の場合を例に説明する。
磁化自由層102、金属層111、第3の磁化自由層132、第3のスペーサ層133、第3の磁化固定層134、第2の電極137がこの順で配置され、積層体を成す。
第3の磁気抵抗効果素子131は、一端(第3の磁化自由層132側)が金属層111を介して入力端子108、基準電位端子110に電気的に接続され、他端(第3の磁化固定層134側)が第2の電極137を介して出力端子109と印加端子6に電気的に接続されている。入力端子108から入力される高周波信号は第3の領域35を介して基準電位端子110に流れるように金属層111は入力端子108と基準電位端子110に接続される。
第3の磁気抵抗効果素子131に直流電流もしくは直流電圧を印加するために、第2の電極137は印加端子136に接続される。
磁気抵抗効果素子101と第3の磁気抵抗効果素子131に印加する電流値を個別に調整するために、磁気抵抗効果デバイス3000は第2の印加端子136をさらに有し、第2の電極137は第2の印加端子136に接続されている。印加端子106に直流電流源112を接続し、第2の印加端子136に第2の直流電流源138を接続し、各直流電流源を制御することで各磁気抵抗効果素子に印加する直流電流を個別に調整することができる。また、第2の印加端子136に直流電流源112を接続し、第2の印加端子136と直流電流源112の間に可変抵抗を接続してもよく、可変抵抗の抵抗値を調整することでも各磁気抵抗効果素子に印加する直流電流を個別に調整することができる。
また、直流電流源の代わりに直流電圧源を接続し、各磁気抵抗効果素子に直流電圧を印加してもよい。
磁気抵抗効果デバイス3000の入力端子108に高周波信号を入力すると、高周波信号は金属層111を流れ、スピンホール効果が発生する。図14中の上方向に流れるスピン偏極したスピン流は磁化自由層102に注入され、さらに下方向に流れるスピン偏極したスピン流は第3の磁化自由層132に注入されることで、各磁化自由層にはスピン軌道トルクが作用する。これによって磁気抵抗効果素子101と第3の磁気抵抗効果素子131はそれぞれ交流信号を発生させ、出力端子109に出力されるので、磁気抵抗効果デバイス3000の信号強度が向上する。
磁気抵抗効果素子101と第3の磁気抵抗効果素子131とは積層方向で重なった位置で配しているが、ずれた位置に配置してもよい。入力端子108から入力される高周波信号は金属層111でスピンホール効果が発生し、金属層111の図14中の上方向と下方向にスピン偏極したスピン流が流れるため、効果的に磁化自由層102と第3の磁化自由層132の磁化にスピン軌道トルクを作用させることができる。
このように、磁気抵抗効果デバイス3000は第3の磁気抵抗効果素子131と、第2の電極137とを有し、第3の磁気抵抗効果素子131は第3の磁化自由層132と第3のスペーサ層133と第3の磁化固定層134とを有し、磁化自由層102、金属層111、第3の磁化自由層132、第3のスペーサ層133、第3の磁化固定層134、第2の電極137はこの順で配置され、第3の磁化固定層134は第2の電極137と電気的に接し、第2の電極137は出力端子109に接続され、第3の磁気抵抗効果素子131に直流電流、もしくは直流電圧を印加する手段を有する。
したがって、スピンホール効果によって金属層111の上下面にはスピン偏極したスピン流が流れ、上下面に流れるスピン流をそれぞれ磁気抵抗効果素子の磁化自由層に注入することで、より大きな交流信号を発生させ、磁気抵抗効果デバイス3000の信号強度が向上する。
第4実施形態から第6実施形態の磁気抵抗効果デバイスにおいて、含まれる複数の強磁性層の共鳴周波数のうち、少なくとも1つが他のものと異なっていてもよい。
この場合、強磁性層の共鳴周波数が異なることで、共鳴する周波数帯域を広げることができ、帯域通過フィルタの通過帯域が広がる。
この場合、強磁性層の共鳴周波数が異なることで、共鳴する周波数帯域を広げることができ、帯域通過フィルタの通過帯域が広がる。
第1実施形態から第6実施形態の磁気抵抗効果デバイスおよび、磁気抵抗効果モジュールを、高周波フィルタや増幅器として用いることができる。
(磁気抵抗効果モジュール)
本発明の磁気抵抗効果モジュールについて説明する。この磁気抵抗効果モジュールは第4実施形態から第6実施形態の磁気抵抗効果デバイスの少なくとも一つの磁気抵抗効果デバイスと、直流電流源を有する。直流電流源は直流電流印加端子に接続され、磁気抵抗効果素子に直流電流を印加する。
本発明の磁気抵抗効果モジュールについて説明する。この磁気抵抗効果モジュールは第4実施形態から第6実施形態の磁気抵抗効果デバイスの少なくとも一つの磁気抵抗効果デバイスと、直流電流源を有する。直流電流源は直流電流印加端子に接続され、磁気抵抗効果素子に直流電流を印加する。
直流電流源の代わりに直流電圧源を接続し、磁気抵抗効果素子に直流電圧を印加してもよい。
また、磁気抵抗効果モジュールは複数の直流電流源を有してもよい。例えば、磁気抵抗効果モジュールは第6実施形態の磁気抵抗効果デバイス3000と、直流電流源112と、第2の直流電流源138を有し、直流電流源112は印加端子106と、第2の直流電流源138は第2の印加端子136と接続されてもよい。もしくは、磁気抵抗効果モジュールはさらに第2の直流電流源138を有し、直流電流源112は直流電流印加端子106に接続され、第2の直流電流源138は第2の直流電流印加端子136に接続されてもよい。
したがって、磁気抵抗効果モジュールでは、磁気抵抗効果デバイスに直流電流、もしくは直流電圧を印加し、帯域通過フィルタ、もしくは増幅器の機能を有する磁気抵抗効果モジュールとして機能する。
100…磁気抵抗効果デバイス、1…磁気抵抗効果素子、2…磁化自由層、3…スペーサ層、4…磁化固定層、5…領域、6…印加端子、7…電極、8…入力端子、9…出力端子、10…基準電位端子、11…金属層、12…直流電流源、13…磁場印加機構、200…磁気抵抗効果デバイス、21…第2の磁気抵抗効果素子、22…第2の磁化自由層、23…第2のスペーサ層、24…第2の磁化固定層、25…第2の領域、300…磁気抵抗効果デバイス、31…第3の磁気抵抗効果素子、32…第3の磁化自由層、33…第3のスペーサ層、34…第3の磁化固定層、35…第3の領域、36…第2の印加端子、37…第2の電極、38…第2の直流電流源、1000…磁気抵抗効果デバイス、101…磁気抵抗効果素子、102…磁化自由層、103…スペーサ層、104…磁化固定層、106…印加端子、107…電極、108…入力端子、109…出力端子、110…基準電位端子、111…金属層、112…直流電流源、113…磁場印加機構、2000…磁気抵抗効果デバイス、121…第2の磁気抵抗効果素子、122…第2の磁化自由層、123…第2のスペーサ層、124…第2の磁化固定層、3000…磁気抵抗効果デバイス、131…第3の磁気抵抗効果素子、132…第3の磁化自由層、133…第3のスペーサ層、134…第3の磁化固定層、136…第2の印加端子、137…第2の電極、138…第2の直流電流源
Claims (22)
- 第1の磁化自由層と第1の磁化固定層と第1のスペーサ層とを有する第1の磁気抵抗効果素子と、金属層と、第1の電極と、入力端子と、出力端子と、基準電位端子とを有し、
前記金属層、前記第1の磁化自由層、前記第1のスペーサ層、前記第1の磁化固定層および前記第1の電極はこの順で配置され、
前記第1の磁化固定層は前記第1の電極と電気的に接し、
前記第1の電極は高周波信号を出力する出力端子に接続され、
前記金属層は前記第1の磁化自由層の積層方向から見て重なる第1の領域を有し、
前記入力端子から前記金属層に流れる高周波信号が前記第1の領域を介して、前記基準電位端子に流れるように、前記金属層は前記入力端子と前記基準電位端子に接続され、
前記第1の磁気抵抗効果素子に直流電流、もしくは直流電圧を印加するための印加端子を備えることを特徴とする磁気抵抗効果デバイス。 - 前記第1の磁気抵抗効果素子のインピーダンスが前記金属層のインピーダンスよりも大きいことを特徴とする請求項1に記載の磁気抵抗効果デバイス。
- 前記第1の磁気抵抗効果素子の共鳴周波数を変えることができる周波数設定機構をさらに備えることを特徴とする請求項1または2に記載の磁気抵抗効果デバイス。
- 第2の磁気抵抗効果素子を有し、
前記第2の磁気抵抗効果素子は第2の磁化自由層と第2のスペーサ層と第2の磁化固定層とを有し、
前記金属層、前記第2の磁化自由層、前記第2のスペーサ層、前記第2の磁化固定層、前記第1の電極はこの順で配置され、
前記金属層は第2の磁化自由層の積層方向から見て重なる第2の領域を有し、
前記入力端子から前記金属層に流れる高周波信号は前記第2の領域を介して、前記基準電位端子に流れるように、前記金属層は前記入力端子と前記基準電位端子に接続されていることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の磁気抵抗効果デバイス。 - 前記第1の磁化自由層と前記第2の磁化自由層の共鳴周波数が異なることを特徴とする請求項4に記載の磁気抵抗効果デバイス。
- 第2の電極と、第3の磁気抵抗効果素子とを有し、
前記第3の磁気抵抗効果素子は第3の磁化自由層と第3のスペーサ層と第3の磁化固定層とを有し、
前記第3の磁化固定層は前記第2の電極と電気的に接し、
前記第1の磁化自由層、前記金属層、前記第3の磁化自由層、前記第3のスペーサ層、前記第3の磁化固定層、前記第2の電極はこの順で配置され、
前記金属層は前記第3の磁化自由層の積層方向から見て重なる第3の領域を有し、
前記入力端子から前記金属層に流れる高周波信号は前記第3の領域を介して、前記基準電位端子に流れるように、前記金属層は前記入力端子と前記基準電位端子に接続され、
前記第2の電極は前記出力端子に接続され、
前記第3の磁気抵抗効果素子に直流電流、もしくは直流電圧を印加するための手段を有することを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載の磁気抵抗効果デバイス。 - 請求項1から6のいずれか一項に記載の磁気抵抗効果デバイスと、
直流電流源、もしくは直流電圧源を有し、
前記印加端子に前記直流電流源、もしくは前記直流電圧源を接続した磁気抵抗効果モジュール。 - 請求項1から6のいずれか1項に記載の磁気抵抗効果デバイスを使用した高周波フィルタ。
- 前記第1の磁化自由層の磁化の方向と前記金属層に流れる高周波電流の方向との相対角が150度以上180度以下、もしくは0度以上30度以下であることを特徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載の磁気抵抗効果デバイス。
- 前記第1の磁化自由層の磁化の方向と前記第1の磁化固定層の磁化の方向との相対角が90度以上150度以下であることを特徴とする請求項9に記載の磁気抵抗効果デバイス。
- 第1の強磁性層と第2の強磁性層と第1のスペーサ層とを有する第1の磁気抵抗効果素子と、金属層と、第1の電極と、入力端子と、出力端子と、基準電位端子とを有し、
前記第1の強磁性層、前記第1のスペーサ層、前記第2の強磁性層および前記第1の電極はこの順で配置され、
前記第2の強磁性層は前記第1の電極と電気的に接し、前記第1の電極は高周波信号を出力する出力端子に接続され、
前記入力端子から前記金属層に流れる高周波信号が前記基準電位端子に流れるように、前記金属層は前記入力端子と前記基準電位端子に接続され、前記第1の強磁性層は前記基準電位端子と電気的に接し、
前記第1の磁気抵抗効果素子に直流電流、もしくは直流電圧を印加するための印加端子を備えることを特徴とする磁気抵抗効果デバイス。 - 前記入力端子と前記出力端子間のインピーダンスが前記入力端子と前記基準電位端子間のインピーダンスよりも高いことを特徴とする請求項11に記載の磁気抵抗効果デバイス。
- 前記金属層は前記磁性層1の積層方向から見て重なる第1の領域を有し、
前記入力端子から前記金属層に流れる高周波電流のうち、前記磁性層1の前記第1の領域以外の第2の領域の電流密度が前記第1の領域の電流密度よりも大きいことを特徴とする請求項11又は12のいずれかに記載の磁気抵抗効果デバイス。 - 前記金属層がコンデンサを介して前記基準電位端子と接続されていることを特徴とする請求項11又は12のいずれかに記載の磁気抵抗効果デバイス。
- 前記金属層は前記第1の強磁性層の積層方向から見て重なる第1の領域を有し、
前記入力端子から前記金属層に流れる高周波信号が前記第1の領域を介して、前記基準電位端子に流れるように、前記金属層は前記入力端子と前記基準電位端子に接続され、前記入力端子から入力される高周波電流が前記金属層が前記コンデンサと電気的に接続される接続点へ流れる方向に対して、前記第2の強磁性層の磁化の方向が反時計回りに90度傾いていることを特徴とする請求項15に記載の磁気抵抗効果デバイス。 - 前記第1の磁気抵抗効果素子の共鳴周波数を変えることができる周波数設定手段をさらに備えることを特徴とする請求項11から16のいずれか1項に記載の磁気抵抗効果デバイス。
- 第3の強磁性層と第4の強磁性層と第2のスペーサ層とを有する第2の磁気抵抗効果素子を有し、
前記金属層、前記第3の強磁性層、前記第2のスペーサ層、前記第4の強磁性層および前記第1の電極はこの順で配置され、
前記第4の強磁性層は前記第1の電極と電気的に接し、前記第3の強磁性層は前記基準電位端子と電気的に接することを特徴とする請求項11から17のいずれか1項に記載の磁気抵抗効果デバイス。 - 第2の電極と、第3の磁気抵抗効果素子とを有し、
前記第3の磁気抵抗効果素子は第5の強磁性層層、第3のスペーサ層、第6の強磁性層を有し、
前記金属層、前記第5の強磁性層、前記第2のスペーサ層、前記第6の強磁性層、前記第2の電極はこの順に配置され、
前記第6の強磁性層は前記第2の電極と電気的に接し、
前記第2の電極は前記出力端子に接続され、
前記第3の磁気抵抗効果素子に直流電流、もしくは直流電圧を印加するための手段を有することを特徴とする請求項11から18のいずれか1項に記載の磁気抵抗効果デバイス。 - 前記第1の強磁性層、前記第2の強磁性層、前記第3の強磁性層、前記第4の強磁性層、前記第5の強磁性層、前記第6の強磁性層の共鳴周波数のうち、少なくとも1つが他のものと異なることを特徴とする請求項18又は19のいずれかに記載の磁気抵抗効果デバイス。
- 請求項11から20のいずれか1項に記載の磁気抵抗効果デバイスを使用した高周波フィルタ。
- 請求項11から20のいずれか1項に記載の磁気抵抗効果デバイスと、直流電流源、もしくは直流電圧源を有し、前記印加端子に前記直流電流源、もしくは前記直流電圧源を接続した磁気抵抗効果モジュール。
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