JP2017216670A - 磁気抵抗効果デバイス - Google Patents
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Abstract
【課題】磁気抵抗効果素子を利用した高周波フィルタ等を実現する磁気抵抗効果デバイスを提供する。【解決手段】磁気抵抗効果デバイス100は、磁化固定層2、スペーサ層3及び磁化自由層4を有する磁気抵抗効果素子1a、第1のポート9a、第2のポート9b、信号線路7、インダクタ10、直流電流入力端子11とを有する。第1のポート、磁気抵抗効果素子および第2のポートが信号線路を介してこの順に直列接続される。インダクタは、磁気抵抗効果素子と第1のポート又は第2のポートとの間の信号線路とグラウンド8に接続可能であり、直流電流入力端子は、磁気抵抗効果素子を挟んでインダクタとは反対側の信号線路に接続され、磁気抵抗効果素子、信号線路、インダクタ、グラウンドおよび直流電流入力端子を含む閉回路が形成可能で、磁気抵抗効果素子は、直流電流入力端子からの直流電流が、磁化固定層から磁化自由層の方向に流れるように配置される。【選択図】図1
Description
本発明は、磁気抵抗効果素子を利用した磁気抵抗効果デバイスに関するものである。
近年、携帯電話等の移動通信端末の高機能化に伴い、無線通信の高速化が進められている。通信速度は使用する周波数の帯域幅に比例するため、通信に必要な周波数バンドは増加し、それに伴って、移動通信端末に必要な高周波フィルタの搭載数も増加している。また、近年新しい高周波用部品に応用できる可能性のある分野として研究されているのがスピントロニクスであり、その中で注目されている現象の一つが、磁気抵抗効果素子によるスピントルク共鳴現象である(非特許文献1参照)。磁気抵抗効果素子に交流電流を流すことで、磁気抵抗効果素子にスピントルク共鳴を起こすことが出来、スピントルク共鳴周波数に対応した周波数で周期的に磁気抵抗効果素子の抵抗値が振動する。磁気抵抗効果素子に印加される磁場の強さによって、磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数は変化し、一般的にその共鳴周波数は数〜数十GHzの高周波帯域である。
Nature、Vol.438、No.7066、pp.339−342、17 November 2005
磁気抵抗効果素子は、スピントルク共鳴現象を利用して高周波デバイスに応用することが考えられるが、高周波フィルタ等の高周波デバイスに応用するための具体的な構成は従来示されていない。本発明は、磁気抵抗効果素子を利用した高周波フィルタ等の高周波デバイスを実現できる磁気抵抗効果デバイスを提供することを目的とする。
上記目的を達成するための本発明に係る磁気抵抗効果デバイスは、磁化固定層、磁化自由層およびこれらの間に配置されたスペーサ層を有する磁気抵抗効果素子と、高周波信号が入力される第1のポートと、高周波信号が出力される第2のポートと、信号線路と、インダクタまたは抵抗素子と、直流電流入力端子とを有し、前記第1のポート、前記磁気抵抗効果素子および前記第2のポートが前記信号線路を介してこの順に直列接続され、前記インダクタまたは前記抵抗素子は、前記磁気抵抗効果素子と前記第1のポートとの間の前記信号線路または前記磁気抵抗効果素子と前記第2のポートとの間の前記信号線路の一方に接続され、さらにグラウンドに接続可能であり、前記直流電流入力端子は、前記磁気抵抗効果素子と前記第1のポートとの間の前記信号線路または前記磁気抵抗効果素子と前記第2のポートとの間の前記信号線路の他方に接続され、前記磁気抵抗効果素子、前記信号線路、前記インダクタ、前記グラウンドおよび前記直流電流入力端子を含む閉回路、または、前記磁気抵抗効果素子、前記信号線路、前記抵抗素子、前記グラウンドおよび前記直流電流入力端子を含む閉回路が形成可能であり、前記磁気抵抗効果素子は、前記直流電流入力端子から入力される直流電流が、前記磁気抵抗効果素子の中を前記磁化固定層から前記磁化自由層の方向に流れるように配置されていることを第1の特徴とする。
上記特徴の磁気抵抗効果デバイスによれば、磁気抵抗効果素子に第1のポートから信号線路を介して高周波信号が入力されることにより、磁気抵抗効果素子にスピントルク共鳴を誘起させることが出来る。このスピントルク共鳴と同時に、磁気抵抗効果素子の中を磁化固定層から磁化自由層の方向に直流電流が流れることにより、磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数と同じ周波数に対する素子インピーダンスが増加する。第1のポート、磁気抵抗効果素子および高周波信号が出力される第2のポートがこの順に直列接続されることにより、高周波信号を、磁気抵抗効果素子が低インピーダンス状態である非共鳴周波数では通過させ、磁気抵抗効果素子が高インピーダンス状態である共鳴周波数では遮断することが出来る。つまり、上記特徴の磁気抵抗効果デバイスは、高周波フィルタとしての周波数特性をもつことが可能となる。
また、直流電流入力端子から入力された直流電流は、磁気抵抗効果素子、信号線路、インダクタ、グラウンドおよび直流電流入力端子を含んで形成される閉回路、または、磁気抵抗効果素子、信号線路、抵抗素子、グラウンドおよび直流電流入力端子を含んで形成される閉回路を流れる。この閉回路により、磁気抵抗効果素子に効率的に直流電流を印加することが出来る。磁気抵抗効果素子は、この直流電流が印加されることにより、磁気抵抗効果素子の素子インピーダンスの変化量が増加するため、上記特徴の磁気抵抗効果デバイスは、遮断特性と通過特性のレンジが大きな高周波フィルタとして機能することが可能となる。
さらに、本発明に係る磁気抵抗効果デバイスは、前記磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数を設定可能な周波数設定機構を有することを第2の特徴とする。
上記特徴の磁気抵抗効果デバイスは、磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数を任意の周波数にすることができるため、上記特徴の磁気抵抗効果デバイスは、任意の周波数帯のフィルタとして機能することが可能となる。
さらに、本発明に係る磁気抵抗効果デバイスは、前記周波数設定機構は、前記磁化自由層における有効磁場を設定可能な有効磁場設定機構であり、前記有効磁場を変化させて前記磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数を変化可能であることを第3の特徴とする。
上記特徴の磁気抵抗効果デバイスによれば、磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数を可変制御することができるため、上記特徴の磁気抵抗効果デバイスは、周波数可変フィルタとして機能することが可能となる。
さらに、本発明に係る磁気抵抗効果デバイスは、スピントルク共鳴周波数が互いに異なる複数の前記磁気抵抗効果素子同士が並列接続されていることを第4の特徴とする。
上記特徴の磁気抵抗効果デバイスによれば、スピントルク共鳴周波数が互いに異なる複数の磁気抵抗効果素子同士が並列接続されているので、ある幅を持った遮断周波数帯域を設けることができる。
さらに、本発明に係る磁気抵抗効果デバイスは、複数の前記磁気抵抗効果素子同士が並列接続され、前記複数の磁気抵抗効果素子の各々のスピントルク共鳴周波数を個別に設定可能な様に前記周波数設定機構を複数有することを第5の特徴とする。
上記特徴の磁気抵抗効果デバイスによれば、複数の磁気抵抗効果素子の各々のスピントルク共鳴周波数を個別に設定可能な様に周波数設定機構を複数有しているため、各磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数を個別に制御することが可能となる。さらに、複数の磁気抵抗効果素子同士が並列接続されているので、ある幅を持った遮断周波数帯域を設けることができる。
さらに、本発明に係る磁気抵抗効果デバイスは、スピントルク共鳴周波数が互いに異なる複数の前記磁気抵抗効果素子同士が直列接続されていることを第6の特徴とする。
上記特徴の磁気抵抗効果デバイスによれば、スピントルク共鳴周波数が互いに異なる複数の磁気抵抗効果素子同士が直列接続されているので、ある幅を持った遮断周波数帯域を設けることができる。
さらに、本発明に係る磁気抵抗効果デバイスは、複数の前記磁気抵抗効果素子同士が直列接続され、前記複数の磁気抵抗効果素子の各々のスピントルク共鳴周波数を個別に設定可能な様に前記周波数設定機構を複数有することを第7の特徴とする。
上記特徴の磁気抵抗効果デバイスによれば、複数の磁気抵抗効果素子の各々のスピントルク共鳴周波数を個別に設定可能な様に周波数設定機構を複数有しているため、各磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数を個別に制御することが可能となる。さらに、複数の磁気抵抗効果素子同士が直列接続されているので、ある幅を持った遮断周波数帯域を設けることができる。
さらに、本発明に係る磁気抵抗効果デバイスは、スピントルク共鳴周波数が互いに異なる前記複数の磁気抵抗効果素子は、平面視形状のアスペクト比が互いに異なることを第8の特徴とする。ここで、「平面視形状」とは、磁気抵抗効果素子を構成する各層の積層方向に垂直な平面で見た形状のことである。また、「平面視形状のアスペクト比」とは、磁気抵抗効果素子の平面視形状に最小の面積で外接する長方形の、短辺の長さに対する長辺の長さの比率のことである。
上記特徴の磁気抵抗効果デバイスによれば、スピントルク共鳴周波数が互いに異なる複数の磁気抵抗効果素子は、平面視形状のアスペクト比が互いに異なるため、同一プロセスでスピントルク共鳴周波数が互いに異なる複数の磁気抵抗効果素子を作製することが可能となる。即ち、複数の磁気抵抗効果素子の膜構成を同じにすることができるため、複数の磁気抵抗効果素子を構成する層を一括で成膜形成することができる。
本発明によれば、磁気抵抗効果素子を利用した高周波フィルタ等の高周波デバイスを実現できる磁気抵抗効果デバイスを提供することができる。
本発明を実施するための好適な形態につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のもの、均等の範囲のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成要素は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成要素の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態に係る磁気抵抗効果デバイス100の断面模式図である。磁気抵抗効果デバイス100は、磁化固定層2、スペーサ層3および磁化自由層4を有する磁気抵抗効果素子1a、上部電極5、下部電極6、第1のポート9a、第2のポート9b、信号線路7、インダクタ10、直流電流入力端子11および周波数設定機構としての磁場印加機構12を有している。第1のポート9a、磁気抵抗効果素子1aおよび第2のポート9bが信号線路7を介してこの順に直列接続されている。インダクタ10は、磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7(磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7または磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7の一方)に接続され、さらに基準電位端子20を介してグラウンド8に接続可能になっている。直流電流入力端子11は、磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7(磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7または磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7の他方)に接続されている。つまり、直流電流入力端子11は、磁気抵抗効果素子1aを挟んでインダクタ10とは反対側の信号線路7に接続されている。磁気抵抗効果デバイス100は、グラウンド8に接続された時に、磁気抵抗効果素子1a、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路を形成可能になっている。より具体的には、磁気抵抗効果デバイス100は、インダクタ10が基準電位端子20を介してグラウンド8に接続され、直流電流入力端子11に、グラウンド8に接続された直流電流源13が接続されることにより、磁気抵抗効果素子1a、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路が形成可能になっている。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る磁気抵抗効果デバイス100の断面模式図である。磁気抵抗効果デバイス100は、磁化固定層2、スペーサ層3および磁化自由層4を有する磁気抵抗効果素子1a、上部電極5、下部電極6、第1のポート9a、第2のポート9b、信号線路7、インダクタ10、直流電流入力端子11および周波数設定機構としての磁場印加機構12を有している。第1のポート9a、磁気抵抗効果素子1aおよび第2のポート9bが信号線路7を介してこの順に直列接続されている。インダクタ10は、磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7(磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7または磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7の一方)に接続され、さらに基準電位端子20を介してグラウンド8に接続可能になっている。直流電流入力端子11は、磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7(磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7または磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7の他方)に接続されている。つまり、直流電流入力端子11は、磁気抵抗効果素子1aを挟んでインダクタ10とは反対側の信号線路7に接続されている。磁気抵抗効果デバイス100は、グラウンド8に接続された時に、磁気抵抗効果素子1a、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路を形成可能になっている。より具体的には、磁気抵抗効果デバイス100は、インダクタ10が基準電位端子20を介してグラウンド8に接続され、直流電流入力端子11に、グラウンド8に接続された直流電流源13が接続されることにより、磁気抵抗効果素子1a、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路が形成可能になっている。
第1のポート9aは交流信号である高周波信号が入力される入力ポートであり、第2のポート9bは高周波信号が出力される出力ポートである。第1のポート9aに入力される高周波信号及び第2のポート9bから出力される高周波信号は、例えば、100MHz以上の周波数を有する信号である。信号線路7は、磁気抵抗効果素子1aを挟むように、上部電極5および下部電極6を介して磁気抵抗効果素子1aに電気的に接続され、第1のポート9aから入力された高周波信号は磁気抵抗効果素子1aに流され、第2のポート9bに出力される。また、高周波信号が第1のポート9aから第2のポート9bに通過する際の電力比(出力電力/入力電力)のdB値である減衰量(S21)は、ネットワークアナライザなどの高周波測定器により測定することが出来る。
上部電極5および下部電極6は、一対の電極としての役目を有し、磁気抵抗効果素子1aを構成する各層の積層方向に磁気抵抗効果素子1aを介して配設されている。つまり、上部電極5および下部電極6は、信号(電流)を磁気抵抗効果素子1aに対して、磁気抵抗効果素子1aを構成する各層の面と交差する方向、例えば、磁気抵抗効果素子1aを構成する各層の面に対して垂直な方向(積層方向)に流すための一対の電極としての機能を有している。上部電極5および下部電極6は、Ta、Cu、Au、AuCu、Ru、もしくはこれらの材料のいずれか2つ以上の膜で構成されることが好ましい。磁気抵抗効果素子1aは、一端(磁化固定層2側)が上部電極5を介して信号線路7に電気的に接続され、他端(磁化自由層4側)が下部電極6を介して信号線路7に電気的に接続されている。
グラウンド8は、基準電位として機能する。信号線路7とグラウンド8との形状は、マイクロストリップライン(MSL)型やコプレーナウェーブガイド(CPW)型に規定することが好ましい。マイクロストリップライン形状やコプレーナウェーブガイド形状を設計する際、信号線路7の特性インピーダンスと回路系のインピーダンスが等しくなるように信号線路7の信号線幅やグラウンド間距離を設計することにより、信号線路7を伝送損失の少ない伝送線路とすることが可能となる。
インダクタ10は、信号線路7とグラウンド8との間に接続され、インダクタ成分により電流の高周波成分をカットすると同時に電流の直流成分を通す機能を有する。インダクタ10は、チップインダクタまたはパターン線路によるインダクタのどちらでもよい。また、インダクタ成分を有する抵抗素子でもよい。インダクタ10のインダクタンス値は10nH以上であることが好ましい。このインダクタ10により、磁気抵抗効果素子1aを通過する高周波信号の特性を劣化させることなく、磁気抵抗効果素子1a、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路に、直流電流入力端子11から印加された直流電流を流すことができる。
直流電流入力端子11は、磁気抵抗効果素子1aに対してインダクタ10の信号線路7への接続箇所とは反対側の箇所の信号線路7に接続されている。より具体的には、直流電流入力端子11は、磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7に接続されている。直流電流入力端子11に直流電流源13が接続されることで、磁気抵抗効果素子1aに直流電流を印加することが可能になる。磁気抵抗効果素子1aは、直流電流入力端子11から入力される直流電流が、磁気抵抗効果素子1aの中を磁化固定層2から磁化自由層4の方向に流れるように配置されている。また、直流電流入力端子11と直流電流源13との間に、高周波信号をカットするための、インダクタまたは抵抗素子が直列に接続されてもよい。
直流電流源13は、グラウンド8及び直流電流入力端子11に接続され、直流電流入力端子11から、磁気抵抗効果素子1a、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路に、直流電流を印加する。直流電流源13は、例えば、可変抵抗と直流電圧源との組み合わせの回路により構成され、直流電流の電流値を変化可能に構成されている。直流電流源13は、一定の直流電流を発生可能な、固定抵抗と直流電圧源との組み合わせの回路により構成されてもよい。
磁場印加機構12は、磁気抵抗効果素子1aの近傍に配設され、磁気抵抗効果素子1aに磁場を印加して、磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数を設定可能となっている。例えば、磁場印加機構12は、電圧もしくは電流のいずれかにより、印加磁場強度を可変制御できる電磁石型あるいはストリップライン型で構成される。また、磁場印加機構12は、電磁石型あるいはストリップライン型と一定の磁場のみを供給する永久磁石との組み合わせにより構成されていてもよい。また、磁場印加機構12は、磁気抵抗効果素子1aに印加する磁場を変化させることで、磁化自由層4における有効磁場を変化させて磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数を変化可能となっている。
磁化固定層2は、強磁性体材料で構成されており、その磁化方向が実質的に一方向に固定されている。磁化固定層2は、Fe、Co、Ni、NiとFeの合金、FeとCoの合金、またはFeとCoとBの合金などの高スピン分極率材料から構成されることが好ましい。これにより、高い磁気抵抗変化率を得ることができる。また、磁化固定層2は、ホイスラー合金で構成されても良い。また、磁化固定層2の膜厚は、1〜10nmとすることが好ましい。また、磁化固定層2の磁化を固定するために磁化固定層2に接するように反強磁性層を付加してもよい。或いは、結晶構造、形状などに起因する磁気異方性を利用して磁化固定層2の磁化を固定してもよい。反強磁性層には、FeO、CoO、NiO、CuFeS2、IrMn、FeMn、PtMn、CrまたはMnなどを用いることが出来る。
スペーサ層3は、磁化固定層2と磁化自由層4の間に配置され、磁化固定層2の磁化と磁化自由層4の磁化が相互作用して磁気抵抗効果が得られる。スペーサ層3としては、導電体、絶縁体、半導体によって構成される層、もしくは、絶縁体中に導体によって構成される通電点を含む層で構成される。
スペーサ層3として非磁性導電材料を適用する場合、材料としてはCu、Ag、AuまたはRuなどが挙げられ、磁気抵抗効果素子1aには巨大磁気抵抗(GMR)効果が発現する。GMR効果を利用する場合、スペーサ層3の膜厚は、0.5〜3.0nm程度とすることが好ましい。
スペーサ層3として非磁性絶縁材料を適用する場合、材料としてはAl2O3またはMgOなどが挙げられ、磁気抵抗効果素子1aにはトンネル磁気抵抗(TMR)効果が発現する。磁化固定層2と磁化自由層4との間にコヒーレントトンネル効果が発現するように、スペーサ層3の膜厚を調整することで高い磁気抵抗変化率が得られる。TMR効果を利用する場合、スペーサ層3の膜厚は、0.5〜3.0nm程度とすることが好ましい。
スペーサ層3として非磁性半導体材料を適用する場合、材料としてはZnO、In2O3、SnO2、ITO、GaOxまたはGa2Oxなどが挙げられ、スペーサ層3の膜厚は1.0〜4.0nm程度とすることが好ましい。
スペーサ層3として非磁性絶縁体中の導体によって構成される通電点を含む層を適用する場合、Al2O3またはMgOによって構成される非磁性絶縁体中に、CoFe、CoFeB、CoFeSi、CoMnGe、CoMnSi、CoMnAl、Fe、Co、Au、Cu、AlまたはMgなどの導体によって構成される通電点を含む構造とすることが好ましい。この場合、スペーサ層3の膜厚は、0.5〜2.0nm程度とすることが好ましい。
磁化自由層4は、その磁化の方向が変化可能であり、強磁性材料で構成されている。磁化自由層4の磁化の方向は、例えば、外部印加磁場もしくはスピン偏極電子によって変化可能である。磁化自由層4は、膜面内方向に磁化容易軸を有する材料の場合、材料としてはCoFe、CoFeB、CoFeSi、CoMnGe、CoMnSiまたはCoMnAlなどが挙げられ、厚さは1〜30nm程度とすることが好ましい。磁化自由層4は、膜面法線方向に磁化容易軸を有する材料の場合、材料としてはCo、CoCr系合金、Co多層膜、CoCrPt系合金、FePt系合金、希土類を含むSmCo系合金またはTbFeCo合金などが挙げられる。また、磁化自由層4は、ホイスラー合金で構成されても良い。また、磁化自由層4とスペーサ層3との間に、高スピン分極率材料を挿入しても良い。これによって、高い磁気抵抗変化率を得ることが可能となる。高スピン分極率材料としては、CoFe合金またはCoFeB合金などが挙げられる。CoFe合金またはCoFeB合金いずれの膜厚も0.2〜1.0nm程度とすることが好ましい。
また、上部電極5と磁気抵抗効果素子1aとの間、および下部電極6と磁気抵抗効果素子1aとの間にキャップ層、シード層またはバッファー層を配設しても良い。キャップ層、シード層またはバッファー層としては、Ru、Ta、Cu、Crまたはこれらの積層膜などが挙げられ、これらの層の膜厚は2〜10nm程度とすることが好ましい。
尚、磁気抵抗効果素子1aの大きさは、磁気抵抗効果素子1aの平面視形状が長方形(正方形を含む)の場合、長辺を100nm程度、或いは100nm以下にすることが望ましい。また、磁気抵抗効果素子1aの平面視形状が長方形ではない場合は、磁気抵抗効果素子1aの平面視形状に最小の面積で外接する長方形の長辺を、磁気抵抗効果素子1aの長辺と定義する。長辺が100nm程度と小さい場合、磁化自由層4の磁区の単磁区化が可能となり、高効率なスピントルク共鳴現象の実現が可能となる。ここで、「平面視形状」とは、磁気抵抗効果素子を構成する各層の積層方向に垂直な平面で見た形状のことである。
ここで、スピントルク共鳴現象について説明する。
磁気抵抗効果素子1aに、磁気抵抗効果素子1aの固有のスピントルク共鳴周波数と同じ周波数の高周波信号を入力すると、磁化自由層4の磁化がスピントルク共鳴周波数で振動する。この現象をスピントルク共鳴現象と呼ぶ。磁気抵抗効果素子1aの素子抵抗値は、磁化固定層2と磁化自由層4との磁化の相対角で決まる。そのため、スピントルク共鳴時の磁気抵抗効果素子1aの抵抗値は、磁化自由層4の磁化の振動に伴い、周期的に変化する。つまり、磁気抵抗効果素子1aは、スピントルク共鳴周波数で抵抗値が周期的に変化する抵抗振動素子として取り扱うことが出来る。さらに、磁気抵抗効果素子1aの中を磁化固定層2から磁化自由層4の方向に流れる直流電流を磁気抵抗効果素子1aに印加しながら、磁気抵抗効果素子1aにスピントルク共鳴周波数と同じ周波数の高周波信号を入力すると、磁気抵抗効果素子1aは、入力された高周波信号とは位相が180°異なる状態で、スピントルク共鳴周波数で抵抗値が周期的に変化し、この高周波信号に対するインピーダンスは増加する。つまり、磁気抵抗効果素子1aは、スピントルク共鳴現象により、スピントルク共鳴周波数で高周波信号のインピーダンスが増加する抵抗素子として取り扱うことが出来る。
スピントルク共鳴周波数は、磁化自由層4における有効磁場によって変化する。磁化自由層4における有効磁場Heffは、磁化自由層に印加される外部磁場HE、磁化自由層4における異方性磁場Hk、磁化自由層4における反磁場HD、磁化自由層4における交換結合磁場HEXを用いて、
Heff=HE+Hk+HD+HEX
で表される。磁場印加機構12は、磁気抵抗効果素子1aに磁場を印加して磁化自由層4に外部磁場HEを印加することにより、磁化自由層4における有効磁場Heffを設定可能な有効磁場設定機構である。有効磁場設定機構である磁場印加機構12は、磁気抵抗効果素子1aに印加する磁場を変化させることで、磁化自由層4における有効磁場を変化させて磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数を変化させることができる。このように、磁気抵抗効果素子1aに印加される磁場を変化させると、スピントルク共鳴周波数は変化する。
Heff=HE+Hk+HD+HEX
で表される。磁場印加機構12は、磁気抵抗効果素子1aに磁場を印加して磁化自由層4に外部磁場HEを印加することにより、磁化自由層4における有効磁場Heffを設定可能な有効磁場設定機構である。有効磁場設定機構である磁場印加機構12は、磁気抵抗効果素子1aに印加する磁場を変化させることで、磁化自由層4における有効磁場を変化させて磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数を変化させることができる。このように、磁気抵抗効果素子1aに印加される磁場を変化させると、スピントルク共鳴周波数は変化する。
また、スピントルク共鳴時に磁気抵抗効果素子1aに直流電流が印加されることにより、スピントルクが増加して、振動する抵抗値の振幅が増加する。振動する抵抗値の振幅が増加することにより、磁気抵抗効果素子1aの素子インピーダンスの変化量が増加する。また、印加される直流電流の電流密度を変化させると、スピントルク共鳴周波数は変化する。したがって、磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数は、磁場印加機構12からの磁場を変化させるか、直流電流入力端子11からの印加直流電流を変化させることにより変化させることができる。磁気抵抗効果素子1aに印加される直流電流の電流密度は、磁気抵抗効果素子1aの発振閾値電流密度よりも小さいことが好ましい。磁気抵抗効果素子の発振閾値電流密度とは、この値以上の電流密度の直流電流の印加により、磁気抵抗効果素子の磁化自由層の磁化が一定周波数及び一定の振幅で歳差運動を開始し、磁気抵抗効果素子が発振する(磁気抵抗効果素子の出力(抵抗値)が一定周波数及び一定の振幅で変動する)閾値の電流密度のことである。
スピントルク共鳴現象により、第1のポート9aから入力された高周波信号の高周波成分の中で磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数と一致する、もしくはスピントルク共鳴周波数の近傍の周波数成分は、高インピーダンス状態の磁気抵抗効果素子1aに遮断され、第2のポート9bに出力されにくくなる。このように、磁気抵抗効果デバイス100は、スピントルク共鳴周波数の近傍の周波数が遮断帯域の高周波フィルタの機能を有することが出来る。つまり、磁気抵抗効果デバイス100は、帯域遮断型のフィルタ(バンドエリミネーションフィルタ)となる。
図2および図3に、磁気抵抗効果デバイス100に入力される高周波信号の周波数と減衰量との関係を示したグラフを示す。図2および図3の縦軸は減衰量、横軸は周波数を表している。図2は、磁気抵抗効果素子1aに印加された磁場が一定の時のグラフである。図2のプロット線100a1は、直流電流入力端子11から磁気抵抗効果素子1aに印加される直流電流値がIa1の時のものであり、プロット線100a2は直流電流入力端子11から磁気抵抗効果素子1aに印加される直流電流値がIa2の時のものである。この時の印直流電流値の関係は、Ia1<Ia2である。また、図3は、磁気抵抗効果素子1aに印加された直流電流が一定の時のグラフである。図3のプロット線100b1は、磁場印加機構12から磁気抵抗効果素子1aに印加される磁場強度がHb1の時のものであり、プロット線100b2は磁場印加機構12から磁気抵抗効果素子1aに印加される磁場強度がHb2の時のものである。この時の磁場強度の関係は、Hb1<Hb2である。
例えば、図2に示されるように、直流電流入力端子11から磁気抵抗効果素子1aに印加される直流電流値をIa1からIa2に大きくした場合、電流値の変化に伴い磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数の近傍の周波数(遮断帯域の周波数)での素子インピーダンスの増加量が増加することで、第2のポート9bから出力される高周波信号がさらに小さくなり、減衰量(減衰量の絶対値)が大きくなる。したがって、磁気抵抗効果デバイス100は、遮断特性と通過特性のレンジが大きな高周波フィルタを実現することが可能となる。また、直流電流値をIa1からIa2に大きくすると磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数はfa1からfa2にシフトする。すなわち遮断周波数帯域は低周波数側へシフトする。つまり、磁気抵抗効果デバイス100は、遮断周波数帯域の周波数を変化可能な高周波フィルタとして機能することも出来る。
さらに、例えば、図3に示されるように、磁場印加機構12から印加される磁場強度をHb1からHb2に強くした場合、磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数はfb1からfb2にシフトする。すなわち、遮断周波数帯域は高周波数側へシフトする。また、磁場強度(磁化自由層4における有効磁場Heff)を変化させる方が、直流電流値を変化させるよりも大きく遮断周波数帯域をシフトさせることができる。つまり、磁気抵抗効果デバイス100は、遮断周波数帯域の周波数を変化可能な高周波フィルタとして機能することが出来る。
なお、磁気抵抗効果素子1aに印加される外部磁場HE(磁化自由層4における有効磁場Heff)が大きくなるに従って、磁気抵抗効果素子1aの振動する抵抗値の振幅が小さくなるので、磁気抵抗効果素子1aに印加される外部磁場HE(磁化自由層4における有効磁場Heff)を大きくするのに伴い、磁気抵抗効果素子1aに印加される直流電流の電流密度を大きくすることが好ましい。
このように、磁気抵抗効果デバイス100は、磁化固定層2、磁化自由層4およびこれらの間に配置されたスペーサ層3を有する磁気抵抗効果素子1aと、第1のポート9aと、第2のポート9bと、信号線路7と、インダクタ10と、直流電流入力端子11とを有し、第1のポート9a、磁気抵抗効果素子1aおよび第2のポート9bが信号線路7を介してこの順に直列接続され、インダクタ10は、磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7(磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7または磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7の一方)に接続され、さらにグラウンド8に接続可能であり、直流電流入力端子11は、磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7(磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7または磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7の他方)に接続され、磁気抵抗効果素子1a、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路が形成可能であり、磁気抵抗効果素子1aは、直流電流入力端子11から入力される直流電流が、磁気抵抗効果素子1aの中を磁化固定層2から磁化自由層4の方向に流れるように配置されている。
したがって、磁気抵抗効果素子1aに第1のポート9aから信号線路7を介して高周波信号が入力されることにより、磁気抵抗効果素子1aにスピントルク共鳴を誘起させることが出来る。このスピントルク共鳴と同時に、磁気抵抗効果素子1aの中を磁化固定層2から磁化自由層4の方向に直流電流が流れることにより、磁気抵抗効果素子1aは、第1のポートから入力された高周波信号とは位相が180°異なる状態で、スピントルク共鳴周波数に対応した周波数で周期的に抵抗値が振動する素子として扱うことが出来る。この効果により、磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数と同じ周波数に対する素子インピーダンスが増加する。第1のポート9a、磁気抵抗効果素子1aおよび第2のポート9bがこの順に直列接続されることにより、高周波信号を、磁気抵抗効果素子1aが低インピーダンス状態である非共鳴周波数では通過させ、磁気抵抗効果素子1aが高インピーダンス状態である共鳴周波数では遮断することが出来る。つまり、磁気抵抗効果デバイス100は、高周波フィルタとしての周波数特性をもつことが可能となる。
また、信号線路7とグラウンド8とに接続されるインダクタ10は、高周波信号は通さずに直流信号を選択的にグラウンドに流すことが出来る。このことにより、直流電流入力端子11から入力された直流電流は、磁気抵抗効果素子1a、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含んで形成される閉回路を流れる。この閉回路により、磁気抵抗効果素子1aに効率的に直流電流を印加することが出来る。磁気抵抗効果素子1aは、この直流電流が印加されることにより、スピントルクが増加して、振動する抵抗値の振幅が増加する。振動する抵抗値の振幅が増加することにより、磁気抵抗効果素子1aの素子インピーダンスの変化量が増加するため、磁気抵抗効果デバイス100は、遮断特性と通過特性のレンジが大きな高周波フィルタとして機能することが可能となる。
遮断特性と通過特性のレンジを大きくするためには、磁化自由層4が膜面法線方向に磁化容易軸を有し、磁化固定層2が膜面方向に磁化容易軸を有する構成とすることが好ましい。
また、直流電流入力端子11から印加される直流電流を変化させることにより、磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数を可変制御することができるため、磁気抵抗効果デバイス100は、周波数可変フィルタとして機能することも可能となる。
さらに、磁気抵抗効果デバイス100は、磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数を設定可能な周波数設定機構としての磁場印加機構12を有するので、磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数を任意の周波数にすることができる。したがって、磁気抵抗効果デバイス100は、任意の周波数帯のフィルタとして機能することが可能となる。
さらに、磁気抵抗効果デバイス100は、磁場印加機構12が、磁化自由層4における有効磁場を設定可能な有効磁場設定機構であり、磁化自由層4における有効磁場を変化させて磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数を変化可能であるので、周波数可変フィルタとして機能することが可能となる。
以上説明した第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100に対しては、様々な構成要素を追加することができる。例えば、第1のポート9aに接続された高周波回路に直流信号が流れるのを防ぐために、直流電流入力端子11の信号線路7への接続部と第1のポート9aとの間の信号線路7に、直流信号をカットするためのコンデンサを直列に接続してもよい。また、第2のポート9bに接続された高周波回路に直流信号が流れるのを防ぐために、インダクタ10の信号線路7への接続部と第2のポート9bとの間の信号線路7に、直流信号をカットするためのコンデンサを直列に接続してもよい。
(第2の実施形態)
図4は、本発明の第2の実施形態に係る磁気抵抗効果デバイス101の断面模式図である。磁気抵抗効果デバイス101において、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と異なる点について主に説明し、共通する事項は適宜説明を省略する。第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と共通している要素は同じ符号を用いており、共通している要素の説明は省略する。磁気抵抗効果デバイス101は、磁化固定層2、スペーサ層3および磁化自由層4を有する2つの磁気抵抗効果素子1a、1b、上部電極5、下部電極6、第1のポート9a、第2のポート9b、信号線路7、インダクタ10、直流電流入力端子11および周波数設定機構としての磁場印加機構12を有している。また、磁気抵抗効果素子1aと磁気抵抗効果素子1b同士は、上部電極5と下部電極6との間に並列接続されており、第1のポート9a、磁気抵抗効果素子1aまたは磁気抵抗効果素子1b、および第2のポート9bが信号線路7を介してこの順に直列接続されている。磁気抵抗効果素子1a、1bは、同一の磁場および同一の電流密度の直流電流が印加された状態でのスピントルク共鳴周波数が互いに異なる。より具体的には、磁気抵抗効果素子1a、1bは、膜構成が互いに同じで、平面視形状はともに長方形であるが、平面視形状のアスペクト比が互いに異なっている。ここで「膜構成が同じ」とは、磁気抵抗効果素子を構成する各層の材料および膜厚が同じであり、さらに各層の積層順が同じであることを意味する。また、「平面視形状」とは、磁気抵抗効果素子を構成する各層の積層方向に垂直な平面で見た形状のことである。また、「平面視形状のアスペクト比」とは、磁気抵抗効果素子の平面視形状に最小の面積で外接する長方形の、短辺の長さに対する長辺の長さの比率のことである。
図4は、本発明の第2の実施形態に係る磁気抵抗効果デバイス101の断面模式図である。磁気抵抗効果デバイス101において、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と異なる点について主に説明し、共通する事項は適宜説明を省略する。第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と共通している要素は同じ符号を用いており、共通している要素の説明は省略する。磁気抵抗効果デバイス101は、磁化固定層2、スペーサ層3および磁化自由層4を有する2つの磁気抵抗効果素子1a、1b、上部電極5、下部電極6、第1のポート9a、第2のポート9b、信号線路7、インダクタ10、直流電流入力端子11および周波数設定機構としての磁場印加機構12を有している。また、磁気抵抗効果素子1aと磁気抵抗効果素子1b同士は、上部電極5と下部電極6との間に並列接続されており、第1のポート9a、磁気抵抗効果素子1aまたは磁気抵抗効果素子1b、および第2のポート9bが信号線路7を介してこの順に直列接続されている。磁気抵抗効果素子1a、1bは、同一の磁場および同一の電流密度の直流電流が印加された状態でのスピントルク共鳴周波数が互いに異なる。より具体的には、磁気抵抗効果素子1a、1bは、膜構成が互いに同じで、平面視形状はともに長方形であるが、平面視形状のアスペクト比が互いに異なっている。ここで「膜構成が同じ」とは、磁気抵抗効果素子を構成する各層の材料および膜厚が同じであり、さらに各層の積層順が同じであることを意味する。また、「平面視形状」とは、磁気抵抗効果素子を構成する各層の積層方向に垂直な平面で見た形状のことである。また、「平面視形状のアスペクト比」とは、磁気抵抗効果素子の平面視形状に最小の面積で外接する長方形の、短辺の長さに対する長辺の長さの比率のことである。
インダクタ10は、並列接続された磁気抵抗効果素子1a、1bと第2のポート9bとの間の信号線路7(磁気抵抗効果素子1a、1bと第1のポート9aとの間の信号線路7または磁気抵抗効果素子1a、1bと第2のポート9bとの間の信号線路7の一方)に接続され、さらに基準電位端子20を介してグラウンド8に接続可能になっている。直流電流入力端子11は、並列接続された磁気抵抗効果素子1a、1bと第1のポート9aとの間の信号線路7(磁気抵抗効果素子1a、1bと第1のポート9aとの間の信号線路7または磁気抵抗効果素子1a、1bと第2のポート9bとの間の信号線路7の他方)に接続されている。つまり、直流電流入力端子11は、磁気抵抗効果素子1aおよび磁気抵抗効果素子1bを挟んでインダクタ10とは反対側の信号線路7に接続されている。磁気抵抗効果デバイス101は、グラウンド8に接続された時に、磁気抵抗効果素子1a、磁気抵抗効果素子1b、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路を形成可能になっている。より具体的には、磁気抵抗効果デバイス101は、インダクタ10が基準電位端子20を介してグラウンド8に接続され、直流電流入力端子11に、グラウンド8に接続された直流電流源13が接続されることにより、磁気抵抗効果素子1a、磁気抵抗効果素子1b、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路が形成可能になっており、直流電流入力端子11から入力された直流電流はこの閉回路を流れ、磁気抵抗効果素子1aおよび磁気抵抗効果素子1bに直流電流が印加される。磁気抵抗効果素子1aおよび磁気抵抗効果素子1bは、直流電流入力端子11から入力される直流電流が、磁気抵抗効果素子1aおよび磁気抵抗効果素子1bの中を磁化固定層2から磁化自由層4の方向に流れるように配置されている。
磁気抵抗効果素子1aと磁気抵抗効果素子1bの磁化固定層2は同一の上部電極5に接続されおり、また磁化自由層4は同一の下部電極6に接続されている。
磁場印加機構12は、磁気抵抗効果素子1a、1bの近傍に配設され、磁気抵抗効果素子1a、1bに同時に同一の磁場を印加する。また、磁場印加機構12は、磁気抵抗効果素子1a、1bに印加する磁場を変化させることで、磁気抵抗効果素子1a、1bの磁化自由層4における有効磁場を変化させて磁気抵抗効果素子1a、1bのスピントルク共鳴周波数を変化可能となっている。
磁気抵抗効果素子1a、1bの膜構成は第1の実施形態の磁気抵抗効果素子1aと同じである。図5は、磁気抵抗効果デバイス101の上面図である。図5に示すように、磁気抵抗効果素子1a、1bの平面視形状の短辺方向であるY方向の寸法Y0は同じであるが、磁気抵抗効果素子1aの平面視形状の長辺方向であるX方向の寸法Xaと磁気抵抗効果素子1bの平面視形状の長辺方向であるX方向の寸法Xbは異なっており、Xa<Xbであることから、磁気抵抗効果素子1aの平面視形状のアスペクト比(Xa/Y0)より、磁気抵抗効果素子1bの平面視形状のアスペクト比(Xb/Y0)は大きい。同一の磁場および同一の電流密度の直流電流が磁気抵抗効果素子に印加された状態で考えると、磁気抵抗効果素子の平面視形状のアスペクト比が大きくなるに従って磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数は高くなるため、磁気抵抗効果素子1bのスピントルク共鳴周波数fbは磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数faよりも高くなる。このように、複数の磁気抵抗効果素子の平面視形状のアスペクト比を互いに異ならせることで、膜構成が互いに同じであってもスピントルク共鳴周波数を互いに異ならせることができるため、同一の成膜プロセスでスピントルク共鳴周波数が互いに異なる複数の磁気抵抗効果素子を作製することが可能となる。即ち、複数の磁気抵抗効果素子の膜構成を同じにすることができるため、複数の磁気抵抗効果素子を構成する層を一括で成膜形成することができる。
スピントルク共鳴現象により、第1のポート9aから入力された高周波信号の高周波成分の中で磁気抵抗効果素子1aまたは磁気抵抗効果素子1bのスピントルク共鳴周波数と一致する、もしくは磁気抵抗効果素子1aまたは磁気抵抗効果素子1bのスピントルク共鳴周波数の近傍の周波数成分は、合成インピーダンスが高インピーダンス状態の、並列接続された磁気抵抗効果素子1aと磁気抵抗効果素子1bに遮断され、第2のポート9bに出力されにくくなる。つまり、磁気抵抗効果デバイス101は、磁気抵抗効果素子1aまたは磁気抵抗効果素子1bのスピントルク共鳴周波数の近傍の周波数が遮断帯域の高周波フィルタの機能を有することが出来る。
図6に、磁気抵抗効果デバイス101に入力される高周波信号の周波数と減衰量との関係を示したグラフを示す。図6の縦軸は減衰量、横軸は周波数を表している。図6に示されるように、磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数faの近傍の周波数(図6に示す遮断周波数帯域200a)の一部と、磁気抵抗効果素子1bのスピントルク共鳴周波数fbの近傍の周波数(図6に示す遮断周波数帯域200b)の一部が重なるように磁気抵抗効果素子1a、1bの平面視形状のアスペクト比を異ならせると、磁気抵抗効果デバイス101は、図6に示されるように、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100よりも広帯域の遮断周波数帯域(図6に示す遮断周波数帯域200)を持つことができる。
さらに、磁気抵抗効果素子1a、1bに印加される直流電流、あるいは磁場印加機構12から磁気抵抗効果素子1a、1bに印加される磁場強度を変化させることでその帯域を任意に変更することが可能となる。このことにより、磁気抵抗効果デバイス101は、遮断周波数の帯域を任意に変更することが出来る周波数可変フィルタとして機能することが可能となる。
このように、磁気抵抗効果デバイス101は、スピントルク共鳴周波数が互いに異なる複数の磁気抵抗効果素子1a、1b同士が並列接続されているので、各磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数と同じ複数の周波数の近傍におけるインピーダンスを増加させることが出来るため、ある幅を持った遮断周波数帯域200を設けることができる。さらに、磁気抵抗効果素子に印加される直流電流、あるいは磁場を変化させることで、その遮断周波数帯域の位置を変更することが可能となる。つまり、磁気抵抗効果デバイス101は、遮断周波数帯域の位置を変更することが出来る周波数可変フィルタとして機能することが可能となる。
さらに、磁気抵抗効果デバイス101は、複数の磁気抵抗効果素子1aおよび1bの平面視形状のアスペクト比が互いに異なるため、同一プロセスでスピントルク共鳴周波数が互いに異なる複数の磁気抵抗効果素子1a、1bを作製することが可能となる。つまり、磁気抵抗効果デバイス101は、複数の磁気抵抗効果素子1a、1bの膜構成を同じにすることができるため、複数の磁気抵抗効果素子1a、1bを構成する層を一括で成膜形成することができ、製造コストを抑えることが可能となる。
また、第2の実施形態の磁気抵抗効果デバイス101では、スピントルク共鳴周波数が互いに異なる2つの磁気抵抗効果素子1a、1bが並列に接続されているが、スピントルク共鳴周波数が互いに異なる3つ以上の磁気抵抗効果素子が並列に接続されていてもよい。この場合、遮断周波数帯域の幅をさらに広げることが可能となる。
また、第2の実施形態の磁気抵抗効果デバイス101では、2つの磁気抵抗効果素子1a、1bの膜構成は互いに同じであるが、複数の磁気抵抗効果素子は、膜構成が互いに異なっていてもよい。この場合、複数の磁気抵抗効果素子の平面視形状のアスペクト比を互いに同じにしつつ膜構成を互いに異ならせて、複数の磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数を互いに異ならせるようにしても良い。
また、第2の実施形態の磁気抵抗効果デバイス101では、磁場印加機構12が磁気抵抗効果素子1a、1bに同時に同一の磁場を印加しているが、各磁気抵抗効果素子に個別に磁場を印加するための磁場印加機構が備えられていても良い。
(第3の実施形態)
図7は、本発明の第3の実施形態に係る磁気抵抗効果デバイス102の断面模式図である。磁気抵抗効果デバイス102において、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と異なる点について主に説明し、共通する事項は適宜説明を省略する。第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と共通している要素は同じ符号を用いており、共通している要素の説明は省略する。磁気抵抗効果デバイス102は、磁化固定層2、スペーサ層3および磁化自由層4を有する2つの磁気抵抗効果素子1a、上部電極5、下部電極6、第1のポート9a、第2のポート9b、信号線路7、インダクタ10、直流電流入力端子11および2つの周波数設定機構としての磁場印加機構12を有している。2つの磁気抵抗効果素子1aはその構成が互いに同じであり、2つの磁気抵抗効果素子1a同士は、上部電極5と下部電極6との間に並列接続されている。第1のポート9a、並列に接続された2つの磁気抵抗効果素子1aおよび第2のポート9bは信号線路7を介してこの順に直列接続されている。各々の磁場印加機構12は、2つの磁気抵抗効果素子1aの各々に個別の磁場を印加する。このように、磁気抵抗効果デバイス102は、2つの磁気抵抗効果素子1aの各々のスピントルク共鳴周波数を個別に設定可能な様に2つの磁場印加機構12を備えている。インダクタ10は、並列に接続された2つの磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7(2つの磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7または2つの磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7の一方)に接続され、さらに基準電位端子20を介してグラウンド8とに接続可能になっている。直流電流入力端子11は、並列接続された2つの磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7(2つの磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7または2つの磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7の他方)に接続されている。つまり、直流電流入力端子11は、並列に接続された2つの磁気抵抗効果素子1aを挟んでインダクタ10とは反対側の信号線路7に接続されている。磁気抵抗効果デバイス102は、グラウンド8に接続された時に、2つの磁気抵抗効果素子1a、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路を形成可能になっている。より具体的には、磁気抵抗効果デバイス102は、インダクタ10が基準電位端子20を介してグラウンド8に接続され、直流電流入力端子11に、グラウンド8に接続された直流電流源13が接続されることにより、磁気抵抗効果素子1a、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路が形成可能になっており、直流電流入力端子11から入力された直流電流はこの閉回路を流れ、2つの磁気抵抗効果素子1aに直流電流が印加される。
図7は、本発明の第3の実施形態に係る磁気抵抗効果デバイス102の断面模式図である。磁気抵抗効果デバイス102において、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と異なる点について主に説明し、共通する事項は適宜説明を省略する。第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と共通している要素は同じ符号を用いており、共通している要素の説明は省略する。磁気抵抗効果デバイス102は、磁化固定層2、スペーサ層3および磁化自由層4を有する2つの磁気抵抗効果素子1a、上部電極5、下部電極6、第1のポート9a、第2のポート9b、信号線路7、インダクタ10、直流電流入力端子11および2つの周波数設定機構としての磁場印加機構12を有している。2つの磁気抵抗効果素子1aはその構成が互いに同じであり、2つの磁気抵抗効果素子1a同士は、上部電極5と下部電極6との間に並列接続されている。第1のポート9a、並列に接続された2つの磁気抵抗効果素子1aおよび第2のポート9bは信号線路7を介してこの順に直列接続されている。各々の磁場印加機構12は、2つの磁気抵抗効果素子1aの各々に個別の磁場を印加する。このように、磁気抵抗効果デバイス102は、2つの磁気抵抗効果素子1aの各々のスピントルク共鳴周波数を個別に設定可能な様に2つの磁場印加機構12を備えている。インダクタ10は、並列に接続された2つの磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7(2つの磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7または2つの磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7の一方)に接続され、さらに基準電位端子20を介してグラウンド8とに接続可能になっている。直流電流入力端子11は、並列接続された2つの磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7(2つの磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7または2つの磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7の他方)に接続されている。つまり、直流電流入力端子11は、並列に接続された2つの磁気抵抗効果素子1aを挟んでインダクタ10とは反対側の信号線路7に接続されている。磁気抵抗効果デバイス102は、グラウンド8に接続された時に、2つの磁気抵抗効果素子1a、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路を形成可能になっている。より具体的には、磁気抵抗効果デバイス102は、インダクタ10が基準電位端子20を介してグラウンド8に接続され、直流電流入力端子11に、グラウンド8に接続された直流電流源13が接続されることにより、磁気抵抗効果素子1a、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路が形成可能になっており、直流電流入力端子11から入力された直流電流はこの閉回路を流れ、2つの磁気抵抗効果素子1aに直流電流が印加される。
2つの磁気抵抗効果素子1aの磁化固定層2は同一の上部電極5に接続されおり、また磁化自由層4は同一の下部電極6に接続されている。
磁気抵抗効果デバイス102では、各々の磁場印加機構12から各々の磁気抵抗効果素子1aに個別に磁場が印加された状態で、2つの磁気抵抗効果素子1aに信号線路7を介して高周波信号が入力される。例えば、一方の磁気抵抗効果素子1aに印加する磁場強度を他方の磁気抵抗効果素子1aに印加する磁場強度よりも小さくする。この場合、2つの磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数は互いに異なる状態になる。
スピントルク共鳴現象により、第1のポート9aから入力された高周波信号の高周波成分の中で2つの磁気抵抗効果素子1aのいずれかのスピントルク共鳴周波数と一致する、もしくは2つの磁気抵抗効果素子1aのいずれかのスピントルク共鳴周波数の近傍の周波数成分は、合成インピーダンスが高インピーダンス状態の、並列接続された2つの磁気抵抗効果素子1aに遮断され、第2のポート9bに出力されにくくなる。つまり、磁気抵抗効果デバイス102は、2つの磁気抵抗効果素子1aのいずれかのスピントルク共鳴周波数の近傍の周波数が遮断帯域の高周波フィルタの機能を有することが出来る。
図8に、磁気抵抗効果デバイス102に入力される高周波信号の周波数と減衰量との関係を示したグラフを示す。この図の縦軸は減衰量、横軸は周波数を表している。例えば図8に示すように、一方の磁気抵抗効果素子1aに印加する磁場を他方の磁気抵抗効果素子1aに印加する磁場強度よりも小さくした場合の、一方の磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数をf1、他方の磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数をf2とすると、f1<f2となる。したがって、図8に示されるように、一方の磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数f1の近傍の周波数(図8に示す遮断周波数帯域300a)の一部と、他方の磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数f2の近傍の周波数(図8に示す遮断周波数帯域300b)の一部が重なるように各々の磁場印加機構12が各々の磁気抵抗効果素子1aに印加する磁場強度を調整することによって、磁気抵抗効果デバイス102は、図8に示されるように、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100よりも広帯域の遮断周波数帯域(図8に示す遮断周波数帯域300)を持つことができる。
さらに、各々の磁気抵抗効果素子1aに印加される直流電流、あるいは各々の磁場印加機構12から各々の磁気抵抗効果素子1aに印加される磁場強度を変化させることでその帯域を任意に変更することが可能となる。このことにより、磁気抵抗効果デバイス102は、遮断周波数の帯域を任意に変更することが出来る周波数可変フィルタとして機能することが可能となる。
このように、磁気抵抗効果デバイス102は、複数の磁気抵抗効果素子1aの各々のスピントルク共鳴周波数を個別に設定可能な様に周波数設定機構としての磁場印加機構12を複数有しているため、各磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数を個別に制御することが可能となる。さらに、複数の磁気抵抗効果素子1aが並列接続されているので、各磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数と同じ複数の周波数の近傍におけるインピーダンスを増加させることが出来るため、ある幅を持った遮断周波数帯域300を設けることができる。さらに、各磁気抵抗効果素子1aに印加される直流電流、あるいは磁場を変化させることで、その帯域を任意に変更することが可能となる。このことにより、磁気抵抗効果デバイス102は、遮断周波数の帯域を任意に変更することが出来る、周波数可変フィルタとして機能することが可能となる。
また、第3の実施形態の磁気抵抗効果デバイス102では、2つの磁気抵抗効果素子1aが並列に接続されており、各磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数を個別に設定可能な様に2つの周波数設定機構(磁場印加機構12)が備えられているが、3つ以上の磁気抵抗効果素子1aが並列に接続されており、各磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数を個別に設定可能な様に3つ以上の周波数設定機構(磁場印加機構12)が備えられていてもよい。この場合、遮断周波数帯域の幅をさらに広げることが可能となる。
また、第3の実施形態の磁気抵抗効果デバイス102では、2つの磁気抵抗効果素子1aの構成が互いに同じであるが、複数の磁気抵抗効果素子は、構成が互いに異なっていてもよい。
(第4の実施形態)
図9は、本発明の第4の実施形態に係る磁気抵抗効果デバイス103の断面模式図である。磁気抵抗効果デバイス103において、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と異なる点について主に説明し、共通する事項は適宜説明を省略する。第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と共通している要素は同じ符号を用いており、共通している要素の説明は省略する。磁気抵抗効果デバイス103は、磁化固定層2、スペーサ層3および磁化自由層4を有する2つの磁気抵抗効果素子1a、1b、上部電極5a、5b、下部電極6a、6b、第1のポート9a、第2のポート9b、信号線路7、インダクタ10、直流電流入力端子11および周波数設定機構としての磁場印加機構12を有している。また、上部電極5aおよび下部電極6aは磁気抵抗効果素子1aを挟むように配置され、上部電極5bおよび下部電極6bは磁気抵抗効果素子1bを挟むように配置されている。磁気抵抗効果素子1a、1b同士は直列接続されており、第1のポート9a、磁気抵抗効果素子1a、磁気抵抗効果素子1b、および第2のポート9bが信号線路7を介してこの順に直列接続されている。磁気抵抗効果素子1a、1bは、同一の磁場および同一の電流密度の直流電流が印加された状態でのスピントルク共鳴周波数が互いに異なる。より具体的には、磁気抵抗効果素子1a、1bは、膜構成が互いに同じで、平面視形状はともに長方形であるが、平面視形状のアスペクト比が互いに異なっている。ここで「膜構成が同じ」とは、磁気抵抗効果素子を構成する各層の材料および膜厚が同じであり、さらに各層の積層順が同じであることを意味する。また、「平面視形状」とは、磁気抵抗効果素子を構成する各層の積層方向に垂直な平面で見た形状のことである。また、「平面視形状のアスペクト比」とは、磁気抵抗効果素子の平面視形状に最小の面積で外接する長方形の、短辺の長さに対する長辺の長さの比率のことである。
図9は、本発明の第4の実施形態に係る磁気抵抗効果デバイス103の断面模式図である。磁気抵抗効果デバイス103において、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と異なる点について主に説明し、共通する事項は適宜説明を省略する。第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と共通している要素は同じ符号を用いており、共通している要素の説明は省略する。磁気抵抗効果デバイス103は、磁化固定層2、スペーサ層3および磁化自由層4を有する2つの磁気抵抗効果素子1a、1b、上部電極5a、5b、下部電極6a、6b、第1のポート9a、第2のポート9b、信号線路7、インダクタ10、直流電流入力端子11および周波数設定機構としての磁場印加機構12を有している。また、上部電極5aおよび下部電極6aは磁気抵抗効果素子1aを挟むように配置され、上部電極5bおよび下部電極6bは磁気抵抗効果素子1bを挟むように配置されている。磁気抵抗効果素子1a、1b同士は直列接続されており、第1のポート9a、磁気抵抗効果素子1a、磁気抵抗効果素子1b、および第2のポート9bが信号線路7を介してこの順に直列接続されている。磁気抵抗効果素子1a、1bは、同一の磁場および同一の電流密度の直流電流が印加された状態でのスピントルク共鳴周波数が互いに異なる。より具体的には、磁気抵抗効果素子1a、1bは、膜構成が互いに同じで、平面視形状はともに長方形であるが、平面視形状のアスペクト比が互いに異なっている。ここで「膜構成が同じ」とは、磁気抵抗効果素子を構成する各層の材料および膜厚が同じであり、さらに各層の積層順が同じであることを意味する。また、「平面視形状」とは、磁気抵抗効果素子を構成する各層の積層方向に垂直な平面で見た形状のことである。また、「平面視形状のアスペクト比」とは、磁気抵抗効果素子の平面視形状に最小の面積で外接する長方形の、短辺の長さに対する長辺の長さの比率のことである。
インダクタ10は、磁気抵抗効果素子1bと第2のポート9bとの間の信号線路7(磁気抵抗効果素子1a、1bと第1のポート9aとの間の信号線路7または磁気抵抗効果素子1a、1bと第2のポート9bとの間の信号線路7の一方)に接続され、さらに基準電位端子20を介してグラウンド8に接続可能になっている。直流電流入力端子11は、直列接続された磁気抵抗効果素子1a、1bと第1のポート9aとの間の信号線路7(磁気抵抗効果素子1a、1bと第1のポート9aとの間の信号線路7または磁気抵抗効果素子1a、1bと第2のポート9bとの間の信号線路7の他方)に接続されている。つまり、直流電流入力端子11は、磁気抵抗効果素子1aおよび磁気抵抗効果素子1bを挟んでインダクタ10とは反対側の信号線路7に接続されている。磁気抵抗効果デバイス103は、グラウンド8に接続された時に、磁気抵抗効果素子1a、磁気抵抗効果素子1b、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路を形成可能になっている。より具体的には、磁気抵抗効果デバイス103は、インダクタ10が基準電位端子20を介してグラウンド8に接続され、直流電流入力端子11に、グラウンド8に接続された直流電流源13が接続されることにより、磁気抵抗効果素子1a、磁気抵抗効果素子1b、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路が形成可能になっており、直流電流入力端子11から入力された直流電流はこの閉回路を流れ、磁気抵抗効果素子1aおよび磁気抵抗効果素子1bに直流電流が印加される。磁気抵抗効果素子1aおよび磁気抵抗効果素子1bは、直流電流入力端子11から入力される直流電流が、磁気抵抗効果素子1aおよび磁気抵抗効果素子1bの中を磁化固定層2から磁化自由層4の方向に流れるように配置されている。
磁気抵抗効果素子1aの磁化自由層4が接続されている下部電極6aと、磁気抵抗効果素子1bの磁化固定層2が接続されている上部電極5bとが電気的に接続されており、磁気抵抗効果素子1a、1b同士は直列接続されている。
磁場印加機構12は、磁気抵抗効果素子1a、1bの近傍に配設され、磁気抵抗効果素子1a、1bに同時に同一の磁場を印加する。また、磁場印加機構12は、磁気抵抗効果素子1a、1bに印加する磁場を変化させることで、磁気抵抗効果素子1a、1bの磁化自由層4における有効磁場を変化させて磁気抵抗効果素子1a、1bのスピントルク共鳴周波数を変化可能となっている。
磁気抵抗効果素子1a、1bの膜構成は第1の実施形態の磁気抵抗効果素子1aと同じである。図10は、磁気抵抗効果デバイス103の上面図である。図10に示すように、磁気抵抗効果素子1a、1bの平面視形状の短辺方向であるY方向の寸法Y0は同じであるが、磁気抵抗効果素子1aの平面視形状の長辺方向であるX方向の寸法Xaと磁気抵抗効果素子1bの平面視形状の長辺方向であるX方向の寸法Xbは異なっており、Xa<Xbであることから、磁気抵抗効果素子1aの平面視形状のアスペクト比(Xa/Y0)より、磁気抵抗効果素子1bの平面視形状のアスペクト比(Xb/Y0)は大きい。同一の磁場および同一の電流密度の直流電流が磁気抵抗効果素子に印加された状態で考えると、磁気抵抗効果素子の平面視形状のアスペクト比が大きくなるに従って磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数は高くなるため、磁気抵抗効果素子1bのスピントルク共鳴周波数fbは磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数faよりも高くなる。このように、複数の磁気抵抗効果素子の平面視形状のアスペクト比を互いに異ならせることで、膜構成が互いに同じであってもスピントルク共鳴周波数を互いに異ならせることができるため、同一の成膜プロセスでスピントルク共鳴周波数が互いに異なる複数の磁気抵抗効果素子を作製することが可能となる。即ち、複数の磁気抵抗効果素子の膜構成を同じにすることができるため、複数の磁気抵抗効果素子を構成する層を一括で成膜形成することができる。さらに、磁気抵抗効果デバイス103では、磁気抵抗効果素子1a、1b同士は直列接続されており、直流電流の流れる方向に垂直な断面の面積は、磁気抵抗効果素子1aの方が磁気抵抗効果素子1bよりも小さいので、印加される直流電流の電流密度は、磁気抵抗効果素子1aの方が磁気抵抗効果素子1bよりも大きくなる。したがって、印加される直流電流の電流密度が大きくなるに従って、磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数が低くなる場合、または、印加される直流電流の電流密度の違いが磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数に与える影響よりも、磁気抵抗効果素子の平面視形状のアスペクト比の違いが磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数に与える影響の方が大きい場合には、平面視形状のアスペクト比が、磁気抵抗効果素子1aと磁気抵抗効果素子1bとで異なることにより、fa<fbとなる。
スピントルク共鳴現象により、第1のポート9aから入力された高周波信号の高周波成分の中で磁気抵抗効果素子1aまたは磁気抵抗効果素子1bのスピントルク共鳴周波数と一致する、もしくは磁気抵抗効果素子1aまたは磁気抵抗効果素子1bのスピントルク共鳴周波数の近傍の周波数成分は、合成インピーダンスが高インピーダンス状態の、直列接続された磁気抵抗効果素子1aおよび磁気抵抗効果素子1bに遮断され、第2のポート9bに出力されにくくなる。つまり、磁気抵抗効果デバイス103は、磁気抵抗効果素子1aまたは磁気抵抗効果素子1bのスピントルク共鳴周波数の近傍の周波数が遮断帯域の高周波フィルタの機能を有することが出来る。
図11に、磁気抵抗効果デバイス103に入力される高周波信号の周波数と減衰量との関係を示したグラフを示す。図11の縦軸は減衰量、横軸は周波数を表している。図11に示されるように、磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数faの近傍の周波数(図11に示す遮断周波数帯域400a)の一部と、磁気抵抗効果素子1bのスピントルク共鳴周波数fbの近傍の周波数(図11に示す遮断周波数帯域400b)の一部が重なるように磁気抵抗効果素子1a、1bの平面視形状のアスペクト比を異ならせると、磁気抵抗効果デバイス103は、図11に示されるように、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100よりも広帯域の遮断周波数帯域(図11に示す遮断周波数帯域400)を持つことができる。
さらに、磁気抵抗効果素子1a、1bに印加される直流電流、あるいは磁場印加機構12から磁気抵抗効果素子1a、1bに印加される磁場強度を変化させることでその帯域を任意に変更することが可能となる。このことにより、磁気抵抗効果デバイス103は、遮断周波数の帯域を任意に変更することが出来る周波数可変フィルタとして機能することが可能となる。
このように、磁気抵抗効果デバイス103は、スピントルク共鳴周波数が互いに異なる複数の磁気抵抗効果素子1a、1b同士が直列接続されているので、各磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数と同じ複数の周波数の近傍におけるインピーダンスを増加させることが出来るため、ある幅を持った遮断周波数帯域400を設けることができる。さらに、磁気抵抗効果素子に印加される直流電流、あるいは磁場を変化させることで、その遮断周波数帯域の位置を変更することが可能となる。つまり、磁気抵抗効果デバイス103は、遮断周波数帯域の位置を変更することが出来る周波数可変フィルタとして機能することが可能となる。
さらに、磁気抵抗効果デバイス103は、複数の磁気抵抗効果素子1aおよび1bの平面視形状のアスペクト比が互いに異なるため、同一プロセスでスピントルク共鳴周波数が互いに異なる複数の磁気抵抗効果素子1a、1bを作製することが可能となる。つまり、磁気抵抗効果デバイス103は、複数の磁気抵抗効果素子1a、1bの膜構成を同じにすることができるため、複数の磁気抵抗効果素子1a、1bを構成する層を一括で成膜形成することができ、製造コストを抑えることが可能となる。
また、第4の実施形態の磁気抵抗効果デバイス103では、スピントルク共鳴周波数が互いに異なる2つの磁気抵抗効果素子1a、1bが直列に接続されているが、スピントルク共鳴周波数が互いに異なる3つ以上の磁気抵抗効果素子が直列に接続されていてもよい。この場合、遮断周波数帯域の幅をさらに広げることが可能となる。
また、第4の実施形態の磁気抵抗効果デバイス103では、2つの磁気抵抗効果素子1a、1bの膜構成は互いに同じであるが、複数の磁気抵抗効果素子は、膜構成が互いに異なっていてもよい。この場合、複数の磁気抵抗効果素子の平面視形状のアスペクト比を互いに同じにしつつ膜構成を互いに異ならせて、複数の磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数を互いに異ならせるようにしても良い。
また、第4の実施形態の磁気抵抗効果デバイス103では、磁場印加機構12が磁気抵抗効果素子1a、1bに同時に同一の磁場を印加しているが、第3の実施形態と同様に、各磁気抵抗効果素子に個別に磁場を印加するための磁場印加機構が備えられていても良い。
(第5の実施形態)
図12は、本発明の第5の実施形態に係る磁気抵抗効果デバイス104の断面模式図である。磁気抵抗効果デバイス104において、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と異なる点について主に説明し、共通する事項は適宜説明を省略する。第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と共通している要素は同じ符号を用いており、共通している要素の説明は省略する。磁気抵抗効果デバイス104は、磁化固定層2、スペーサ層3および磁化自由層4を有する2つの磁気抵抗効果素子1a、上部電極5a、5b、下部電極6a、6b、第1のポート9a、第2のポート9b、信号線路7、インダクタ10、直流電流入力端子11および2つの周波数設定機構としての磁場印加機構12を有している。また、2つの磁気抵抗効果素子1aはその構成が互いに同じであり、上部電極5aおよび下部電極6aは一方の磁気抵抗効果素子1aを挟むように配置され、上部電極5bおよび下部電極6bは他方の磁気抵抗効果素子1aを挟むように配置されている。2つの磁気抵抗効果素子1a同士は直列接続されており、第1のポート9a、磁気抵抗効果素子1aおよび第2のポート9bが信号線路7を介してこの順に直列接続されている。各々の磁場印加機構12は、2つの磁気抵抗効果素子1aの各々に個別の磁場を印加する。このように、磁気抵抗効果デバイス104は、2つの磁気抵抗効果素子1aの各々のスピントルク共鳴周波数を個別に設定可能な様に2つの磁場印加機構12を備えている。インダクタ10は、直列に接続された2つの磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7(2つの磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7または2つの磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7の一方)に接続され、さらに基準電位端子20を介してグラウンド8に接続可能になっている。直流電流入力端子11は、直列接続された2つの磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7(2つの磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7または2つの磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7の他方)に接続されている。つまり、直流電流入力端子11は、直列接続された2つの磁気抵抗効果素子1aを挟んでインダクタ10とは反対側の信号線路7に接続されている。磁気抵抗効果デバイス104は、グラウンド8に接続された時に、2つの磁気抵抗効果素子1a、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路を形成可能になっている。より具体的には、磁気抵抗効果デバイス104は、インダクタ10が基準電位端子20を介してグラウンド8に接続され、直流電流入力端子11に、グラウンド8に接続された直流電流源13が接続されることにより、直列接続された2つの磁気抵抗効果素子1a、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路が形成可能になっており、直流電流入力端子11から入力された直流電流はこの閉回路を流れ、2つの磁気抵抗効果素子1aに直流電流が印加される。
図12は、本発明の第5の実施形態に係る磁気抵抗効果デバイス104の断面模式図である。磁気抵抗効果デバイス104において、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と異なる点について主に説明し、共通する事項は適宜説明を省略する。第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100と共通している要素は同じ符号を用いており、共通している要素の説明は省略する。磁気抵抗効果デバイス104は、磁化固定層2、スペーサ層3および磁化自由層4を有する2つの磁気抵抗効果素子1a、上部電極5a、5b、下部電極6a、6b、第1のポート9a、第2のポート9b、信号線路7、インダクタ10、直流電流入力端子11および2つの周波数設定機構としての磁場印加機構12を有している。また、2つの磁気抵抗効果素子1aはその構成が互いに同じであり、上部電極5aおよび下部電極6aは一方の磁気抵抗効果素子1aを挟むように配置され、上部電極5bおよび下部電極6bは他方の磁気抵抗効果素子1aを挟むように配置されている。2つの磁気抵抗効果素子1a同士は直列接続されており、第1のポート9a、磁気抵抗効果素子1aおよび第2のポート9bが信号線路7を介してこの順に直列接続されている。各々の磁場印加機構12は、2つの磁気抵抗効果素子1aの各々に個別の磁場を印加する。このように、磁気抵抗効果デバイス104は、2つの磁気抵抗効果素子1aの各々のスピントルク共鳴周波数を個別に設定可能な様に2つの磁場印加機構12を備えている。インダクタ10は、直列に接続された2つの磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7(2つの磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7または2つの磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7の一方)に接続され、さらに基準電位端子20を介してグラウンド8に接続可能になっている。直流電流入力端子11は、直列接続された2つの磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7(2つの磁気抵抗効果素子1aと第1のポート9aとの間の信号線路7または2つの磁気抵抗効果素子1aと第2のポート9bとの間の信号線路7の他方)に接続されている。つまり、直流電流入力端子11は、直列接続された2つの磁気抵抗効果素子1aを挟んでインダクタ10とは反対側の信号線路7に接続されている。磁気抵抗効果デバイス104は、グラウンド8に接続された時に、2つの磁気抵抗効果素子1a、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路を形成可能になっている。より具体的には、磁気抵抗効果デバイス104は、インダクタ10が基準電位端子20を介してグラウンド8に接続され、直流電流入力端子11に、グラウンド8に接続された直流電流源13が接続されることにより、直列接続された2つの磁気抵抗効果素子1a、信号線路7、インダクタ10、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路が形成可能になっており、直流電流入力端子11から入力された直流電流はこの閉回路を流れ、2つの磁気抵抗効果素子1aに直流電流が印加される。
一方の磁気抵抗効果素子1aの磁化自由層4が接続されている下部電極6aと、他方の磁気抵抗効果素子1aの磁化固定層2が接続されている上部電極5bとが電気的に接続されており、2つの磁気抵抗効果素子1a同士は直列接続されている。
磁気抵抗効果デバイス104では、各々の磁場印加機構12から各々の磁気抵抗効果素子1aに個別に磁場が印加された状態で、2つの磁気抵抗効果素子1aに信号線路7を介して高周波信号が入力される。例えば、一方の磁気抵抗効果素子1aに印加する磁場強度を他方の磁気抵抗効果素子1aに印加する磁場強度よりも小さくする。この場合、2つの磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数は互いに異なる状態になる。
スピントルク共鳴現象により、第1のポート9aから入力された高周波信号の高周波成分の中で2つの磁気抵抗効果素子1aのいずれかのスピントルク共鳴周波数と一致する、もしくは2つの磁気抵抗効果素子1aのいずれかのスピントルク共鳴周波数の近傍の周波数成分は、合成インピーダンスが高インピーダンス状態の、直列接続された2つの磁気抵抗効果素子1aに遮断され、第2のポート9bに出力されにくくなる。つまり、磁気抵抗効果デバイス104は、2つの磁気抵抗効果素子1aのいずれかのスピントルク共鳴周波数の近傍の周波数が遮断帯域の高周波フィルタの機能を有することが出来る。
図13に、磁気抵抗効果デバイス104に入力される高周波信号の周波数と減衰量との関係を示したグラフを示す。この図の縦軸は減衰量、横軸は周波数を表している。例えば図13に示すように、一方の磁気抵抗効果素子1aに印加する磁場を他方の磁気抵抗効果素子1aに印加する磁場強度よりも小さくした場合の、一方の磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数をf1、他方の磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数をf2とすると、f1<f2となる。したがって、図13に示されるように、一方の磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数f1の近傍の周波数(図13に示す遮断周波数帯域500a)の一部と、他方の磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数f2の近傍の周波数(図13に示す遮断周波数帯域500b)の一部が重なるように各々の磁場印加機構12が各々の磁気抵抗効果素子1aに印加する磁場強度を調整することによって、磁気抵抗効果デバイス104は、図13に示されるように、第1の実施形態の磁気抵抗効果デバイス100よりも広帯域の遮断周波数帯域(図13に示す遮断周波数帯域500)を持つことができる。
さらに、各々の磁気抵抗効果素子1aに印加される直流電流、あるいは各々の磁場印加機構12から各々の磁気抵抗効果素子1aに印加される磁場強度を変化させることでその帯域を任意に変更することが可能となる。このことにより、磁気抵抗効果デバイス104は、遮断周波数の帯域を任意に変更することが出来る周波数可変フィルタとして機能することが可能となる。
このように、磁気抵抗効果デバイス104は、複数の磁気抵抗効果素子1aの各々のスピントルク共鳴周波数を個別に設定可能な様に周波数設定機構としての磁場印加機構12を複数有しているため、各磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数を個別に制御することが可能となる。さらに、複数の磁気抵抗効果素子1aが直列接続されているので、各磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数と同じ複数の周波数の近傍におけるインピーダンスを増加させることが出来るため、ある幅を持った遮断周波数帯域500を設けることができる。さらに、各磁気抵抗効果素子1aに印加される直流電流、あるいは磁場を変化させることで、その帯域を任意に変更することが可能となる。このことにより、磁気抵抗効果デバイス104は、遮断周波数の帯域を任意に変更することが出来る、周波数可変フィルタとして機能することが可能となる。
また、第5の実施形態の磁気抵抗効果デバイス104では、2つの磁気抵抗効果素子1a同士が直列に接続されており、各磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数を個別に設定可能な様に2つの周波数設定機構(磁場印加機構12)が備えられているが、3つ以上の磁気抵抗効果素子1aが直列に接続されており、各磁気抵抗効果素子1aのスピントルク共鳴周波数を個別に設定可能な様に3つ以上の周波数設定機構(磁場印加機構12)が備えられていてもよい。この場合、遮断周波数帯域の幅をさらに広げることが可能となる。
また、第5の実施形態の磁気抵抗効果デバイス104では、2つの磁気抵抗効果素子1aの構成が互いに同じであるが、複数の磁気抵抗効果素子は、構成が互いに異なっていてもよい。
以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、上記で説明した実施形態以外にも変更することが可能である。例えば、第1〜第5の実施形態では、インダクタ10が、磁気抵抗効果素子1a(1b)と第2のポート9bとの間の信号線路7に接続され、直流電流入力端子11が磁気抵抗効果素子1a(1b)と第1のポート9aとの間の信号線路7に接続されている例で説明したが、インダクタ10が、磁気抵抗効果素子1a(1b)と第1のポート9aとの間の信号線路7に接続され、直流電流入力端子11が磁気抵抗効果素子1a(1b)と第2のポート9bとの間の信号線路7に接続されるようにしてもよい。
また、第1〜第5の実施形態では、インダクタ10を用いた例で説明したが、インダクタ10にかえて、抵抗素子を用いても良い。この場合、抵抗素子は、信号線路7とグラウンド8との間に接続され、抵抗成分により電流の高周波成分をカットする機能を有する。この抵抗素子は、チップ抵抗またはパターン線路による抵抗のどちらでもよい。この抵抗素子の抵抗値は、信号線路7の特性インピーダンス以上であることが好ましい。例えば、信号線路7の特性インピーダンスが50Ωの場合、抵抗素子の抵抗値が50Ωの時は45%の高周波電力を抵抗素子によりカットし、抵抗素子の抵抗値が500Ωの時は90%の高周波電力を抵抗素子によりカットすることが可能となる。この抵抗素子により、磁気抵抗効果素子1a(1b)を通過する高周波信号の特性を劣化させることなく、磁気抵抗効果素子1a(1b)、信号線路7、抵抗素子、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路に、直流電流入力端子11から印加された直流電流を流すことができる。
インダクタ10にかえて抵抗素子を用いる場合は、直流電流入力端子11(または抵抗素子)の信号線路7への接続部と第1のポート9aとの間の信号線路7に、直流信号をカットするためのコンデンサを直列に接続すること、および、抵抗素子(または直流電流入力端子11)の信号線路7への接続部と第2のポート9bとの間の信号線路7に、直流信号をカットするためのコンデンサを直列に接続することが、磁気抵抗効果素子1a(1b)、信号線路7、抵抗素子、グラウンド8および直流電流入力端子11を含む閉回路に、直流電流入力端子11から印加された直流電流を効率的に流すことができる点で好ましい。
また、第1〜第5の実施形態では、磁気抵抗効果デバイス100(101、102、103、104)が周波数設定機構(有効磁場設定機構)として磁場印加機構12を有する例で説明しているが、周波数設定機構(有効磁場設定機構)は、以下に示すような他の例でも良い。例えば、磁気抵抗効果素子に電場を印加し、その電場を変化させることにより、磁化自由層における異方性磁場Hkを変化させて磁化自由層における有効磁場を変化させ、磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数を変化させることができる。この場合、磁気抵抗効果素子に電場を印加する機構が、周波数設定機構(有効磁場設定機構)となる。また、磁化自由層の近傍に圧電体を設け、その圧電体に電場を印加して圧電体を変形させ、磁化自由層を歪ませることにより、磁化自由層における異方性磁場Hkを変化させて磁化自由層における有効磁場を変化させ、磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数を変化させることができる。この場合、圧電体に電場を印加する機構および圧電体が、周波数設定機構(有効磁場設定機構)となる。また、電気磁気効果を有する反強磁性体またはフェリ磁性体である制御膜を磁化自由層に磁気的に結合するように設け、制御膜に磁場および電場を印加し、制御膜に印加する磁場および電場の少なくとも一方を変化させることにより、磁化自由層における交換結合磁場HEXを変化させて磁化自由層における有効磁場を変化させ、磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数を変化させることができる。この場合、制御膜に磁場を印加する機構、制御膜に電場を印加する機構および制御膜が、周波数設定機構(有効磁場設定機構)となる。
また、周波数設定機構が無くても(磁場印加機構12からの磁場が印加されなくても)、各磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数が所望の周波数である場合には、周波数設定機構(磁場印加機構12)は無くてもよい。
1a、1b 磁気抵抗効果素子
2 磁化固定層
3 スペーサ層
4 磁化自由層
5、5a、5b 上部電極
6、6a、6b 下部電極
7 信号線路
8 グラウンド
9a 第1のポート
9b 第2のポート
10 インダクタ
11 直流電流入力端子
12 磁場印加機構
13 直流電流源
20 基準電位端子
100、101、102、103、104 磁気抵抗効果デバイス
2 磁化固定層
3 スペーサ層
4 磁化自由層
5、5a、5b 上部電極
6、6a、6b 下部電極
7 信号線路
8 グラウンド
9a 第1のポート
9b 第2のポート
10 インダクタ
11 直流電流入力端子
12 磁場印加機構
13 直流電流源
20 基準電位端子
100、101、102、103、104 磁気抵抗効果デバイス
Claims (8)
- 磁化固定層、磁化自由層およびこれらの間に配置されたスペーサ層を有する磁気抵抗効果素子と、高周波信号が入力される第1のポートと、高周波信号が出力される第2のポートと、信号線路と、インダクタまたは抵抗素子と、直流電流入力端子とを有し、
前記第1のポート、前記磁気抵抗効果素子および前記第2のポートが前記信号線路を介してこの順に直列接続され、
前記インダクタまたは前記抵抗素子は、前記磁気抵抗効果素子と前記第1のポートとの間の前記信号線路または前記磁気抵抗効果素子と前記第2のポートとの間の前記信号線路の一方に接続され、さらにグラウンドに接続可能であり、
前記直流電流入力端子は、前記磁気抵抗効果素子と前記第1のポートとの間の前記信号線路または前記磁気抵抗効果素子と前記第2のポートとの間の前記信号線路の他方に接続され、
前記磁気抵抗効果素子、前記信号線路、前記インダクタ、前記グラウンドおよび前記直流電流入力端子を含む閉回路、または、前記磁気抵抗効果素子、前記信号線路、前記抵抗素子、前記グラウンドおよび前記直流電流入力端子を含む閉回路が形成可能であり、
前記磁気抵抗効果素子は、前記直流電流入力端子から入力される直流電流が、前記磁気抵抗効果素子の中を前記磁化固定層から前記磁化自由層の方向に流れるように配置されていることを特徴とする磁気抵抗効果デバイス。 - 前記磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数を設定可能な周波数設定機構を有することを特徴とする請求項1に記載の磁気抵抗効果デバイス。
- 前記周波数設定機構は、前記磁化自由層における有効磁場を設定可能な有効磁場設定機構であり、前記有効磁場を変化させて前記磁気抵抗効果素子のスピントルク共鳴周波数を変化可能であることを特徴とする請求項2に記載の磁気抵抗効果デバイス。
- スピントルク共鳴周波数が互いに異なる複数の前記磁気抵抗効果素子同士が並列接続されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の磁気抵抗効果デバイス。
- 複数の前記磁気抵抗効果素子同士が並列接続され、前記複数の磁気抵抗効果素子の各々のスピントルク共鳴周波数を個別に設定可能な様に前記周波数設定機構を複数有することを特徴とする請求項2または3に記載の磁気抵抗効果デバイス。
- スピントルク共鳴周波数が互いに異なる複数の前記磁気抵抗効果素子同士が直列接続されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の磁気抵抗効果デバイス。
- 複数の前記磁気抵抗効果素子同士が直列接続され、前記複数の磁気抵抗効果素子の各々のスピントルク共鳴周波数を個別に設定可能な様に前記周波数設定機構を複数有することを特徴とする請求項2または3に記載の磁気抵抗効果デバイス。
- スピントルク共鳴周波数が互いに異なる前記複数の磁気抵抗効果素子は、平面視形状のアスペクト比が互いに異なることを特徴とする請求項4または6に記載の磁気抵抗効果デバイス。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2020027050A (ja) * | 2018-08-13 | 2020-02-20 | 株式会社東芝 | センサ |
-
2017
- 2017-02-15 JP JP2017026216A patent/JP2017216670A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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