WO2018012314A1 - 固体撮像素子および製造方法、並びに電子機器 - Google Patents
固体撮像素子および製造方法、並びに電子機器 Download PDFInfo
- Publication number
- WO2018012314A1 WO2018012314A1 PCT/JP2017/024102 JP2017024102W WO2018012314A1 WO 2018012314 A1 WO2018012314 A1 WO 2018012314A1 JP 2017024102 W JP2017024102 W JP 2017024102W WO 2018012314 A1 WO2018012314 A1 WO 2018012314A1
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- convex
- imaging region
- light
- imaging
- solid
- Prior art date
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 138
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 13
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 24
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 20
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 4
- 230000001788 irregular Effects 0.000 abstract description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract description 3
- 239000005416 organic matter Substances 0.000 abstract 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 24
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 24
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 20
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 5
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 4
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 4
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- QNRATNLHPGXHMA-XZHTYLCXSA-N (r)-(6-ethoxyquinolin-4-yl)-[(2s,4s,5r)-5-ethyl-1-azabicyclo[2.2.2]octan-2-yl]methanol;hydrochloride Chemical compound Cl.C([C@H]([C@H](C1)CC)C2)CN1[C@@H]2[C@H](O)C1=CC=NC2=CC=C(OCC)C=C21 QNRATNLHPGXHMA-XZHTYLCXSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000003796 beauty Effects 0.000 description 1
- 210000004204 blood vessel Anatomy 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- CJNBYAVZURUTKZ-UHFFFAOYSA-N hafnium(iv) oxide Chemical compound O=[Hf]=O CJNBYAVZURUTKZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000036541 health Effects 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- CNQCVBJFEGMYDW-UHFFFAOYSA-N lawrencium atom Chemical compound [Lr] CNQCVBJFEGMYDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 239000011146 organic particle Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 210000004761 scalp Anatomy 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B3/00—Simple or compound lenses
- G02B3/0006—Arrays
- G02B3/0037—Arrays characterized by the distribution or form of lenses
- G02B3/0056—Arrays characterized by the distribution or form of lenses arranged along two different directions in a plane, e.g. honeycomb arrangement of lenses
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/14625—Optical elements or arrangements associated with the device
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B3/00—Simple or compound lenses
- G02B3/0006—Arrays
- G02B3/0012—Arrays characterised by the manufacturing method
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/02—Diffusing elements; Afocal elements
- G02B5/0205—Diffusing elements; Afocal elements characterised by the diffusing properties
- G02B5/021—Diffusing elements; Afocal elements characterised by the diffusing properties the diffusion taking place at the element's surface, e.g. by means of surface roughening or microprismatic structures
- G02B5/0215—Diffusing elements; Afocal elements characterised by the diffusing properties the diffusion taking place at the element's surface, e.g. by means of surface roughening or microprismatic structures the surface having a regular structure
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/02—Diffusing elements; Afocal elements
- G02B5/0205—Diffusing elements; Afocal elements characterised by the diffusing properties
- G02B5/021—Diffusing elements; Afocal elements characterised by the diffusing properties the diffusion taking place at the element's surface, e.g. by means of surface roughening or microprismatic structures
- G02B5/0231—Diffusing elements; Afocal elements characterised by the diffusing properties the diffusion taking place at the element's surface, e.g. by means of surface roughening or microprismatic structures the surface having microprismatic or micropyramidal shape
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/02—Diffusing elements; Afocal elements
- G02B5/0268—Diffusing elements; Afocal elements characterized by the fabrication or manufacturing method
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/14603—Special geometry or disposition of pixel-elements, address-lines or gate-electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/14636—Interconnect structures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14683—Processes or apparatus peculiar to the manufacture or treatment of these devices or parts thereof
- H01L27/14685—Process for coatings or optical elements
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/04042—Bonding areas specifically adapted for wire connectors, e.g. wirebond pads
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
Definitions
- the present disclosure relates to a solid-state imaging device, a manufacturing method, and an electronic device, and more particularly, to a solid-state imaging device, a manufacturing method, and an electronic device that can suppress irregular reflection of light in a solid-state imaging device package.
- CMOS Complementary Metal Oxide Semiconductor
- CMOS Complementary Metal Oxide Semiconductor
- a metal pad used for connection between the solid-state imaging device and the outside is arranged at a deep position of the solid-state imaging device.
- the applicant of the present application has proposed a back-illuminated solid-state imaging device capable of manufacturing high-precision optical components and the like by suppressing the influence of a step due to an electrode extraction opening formed during the manufacturing process. (For example, refer to Patent Document 1).
- a solid-state imaging device includes a plurality of pixels arranged in a plane, an imaging region that receives incident light to perform imaging, and is provided outside the imaging region for connection to the outside.
- a plurality of convex shapes that are periodically formed and formed on a countersink surface that is a surface facing at least the light incident surface side at a position lower than a region including an organic substance provided in a region or a peripheral region of the imaging region A part.
- the manufacturing method includes a plurality of pixels arranged in a plane, an imaging region that receives incident light to perform imaging, and is provided outside the imaging region and is used for connection to the outside.
- a connecting portion an opening opening from the light incident surface side where light enters the imaging region to the connecting portion, and a surface other than the connecting portion inside the opening, the imaging region Or a plurality of convex-shaped portions that are periodically formed and formed on a countersink surface that is a surface facing the light incident surface side at a position lower than a layer containing an organic substance provided in a peripheral region of the imaging region
- a solid-state imaging device manufacturing method comprising: collecting light for each of the pixels provided in the imaging region at a position higher than the surface on which the convex portion is formed when the opening is dug. Forming a shining lens Etching by performing for the lens layer to form the convex portion by transferring the shape of the lens.
- An electronic device includes a plurality of pixels arranged in a plane, an imaging region that receives incident light to perform imaging, and is provided outside the imaging region and is used for connection to the outside And at least the light incident at a position lower than the imaging region or a layer containing an organic substance provided in a peripheral region of the imaging region on a surface other than the connection portion inside the opening.
- a solid-state imaging device having a plurality of convex-shaped portions that are formed on a countersink surface that is a surface facing the surface side and is periodically arranged.
- a plurality of pixels are arranged in a plane, provided outside an imaging region that receives incident light to perform imaging, and a connection unit that is used for connection to the outside is provided.
- an opening is formed that opens from the light incident surface side where light enters the imaging region to the connecting portion.
- a seat that is a surface other than the connection portion inside the opening and is a surface that faces at least the light incident surface side at a position lower than the imaging region or a layer containing an organic substance provided in the peripheral region of the imaging region.
- a plurality of convex portions that are periodically arranged are formed on the feeding surface.
- positioning of the convex-shaped part formed in the vertical direction at the zigzag elongate is shown.
- positioning of the convex-shaped part formed in the vertical direction at the corrugated shape is shown. It is a block diagram showing an example of composition of an embodiment of an imaging device to which this art is applied. It is a figure which shows the usage example which uses an image sensor.
- the laminated structure film 33 is configured by laminating a plurality of films such as an inorganic film formed with an inorganic material and an organic film formed with an organic material.
- the laminated structure of the laminated structure film 33 will be described with reference to FIG.
- FIG. 2 shows a pad opening 34 as viewed from the upper surface side.
- a plurality of convex portions 41 are periodically arranged on the flat surface 40 on the countersink surface 39. Is done.
- the light beam represented by the white arrow is When the light is reflected from the surface of the convex portion 41, the light is scattered. Thereby, the reflectance of the light reflected by the countersink surface 39 can be suppressed.
- the convex portions 41 are arranged on the countersink surface 39 so as to have a two-dimensional periodicity at a pitch of about 2 to 5 ⁇ m.
- the convex portion 41 is a convex shape having a height of at least 50 nm and is formed so that the surface shape thereof is a spherical surface or an aspherical curved surface.
- the convex portion is formed such that the area of the region where the plurality of convex portions 41 are formed is larger than the area of the flat surface 40 provided between the convex portions 41. 41 is formed.
- the difference in the etching rate of the material by anisotropic dry etching or the like is used to make the lens 42 of the inner lens layer 33-3 at a position higher than the countersink surface 39. Processing is performed so that the shape is transferred to the insulating film 33-2.
- the shallow digging portion 35 is dug so that the convex portion 41 is formed in the insulating film 33-2.
- the seat of the shallow digging portion 35 can be obtained by using the lens 42 of the inner lens layer 33-3 which has been conventionally formed without adding a process only for forming the convex portion 41.
- a convex portion 41 can be formed on the feeding surface 39.
- the organic film 33-5 is removed from the pad opening 34, but in other regions, for example, in the image pickup region 21, the organic film 33-5 remains. It has become. That is, the imaging device 12 is configured such that the organic film 33-5 exists at a position higher than the countersink surface 39 of the shallow digging portion 35 of the pad opening 34. Further, the organic film 33-5 may employ a configuration in which predetermined particles are included in an organic material, for example, in addition to a configuration formed of only an organic material.
- the plurality of convex portions 41 are arranged on the countersink surface 39 so as to be periodic at uniform intervals in the X direction and the Y direction. ing.
- the periodicity in the X direction and the Y direction of the arrangement of the plurality of convex portions 41 is gradually broken, that is, the plurality of convex portions 41 are arranged in the X direction and the Y direction.
- An arrangement example may be employed that is arranged on the countersink surface 39 so as to have a non-uniform spacing for each predetermined column and predetermined row in the direction.
- the plurality of convex-shaped portions 41 are set so that the intervals are widened every two columns as they progress in the X direction and every two rows as they progress in the Y direction.
- An example of arrangement on the surface 39 is shown.
- the convex portion 41 is arranged so as to intentionally break the periodicity in the X direction and the Y direction of the arrangement of the plurality of convex portions 41.
- the plurality of convex-shaped portions 41 are provided with a countersink surface 39 so that columns where the convex-shaped portions 41 are not arranged are provided for each row.
- positioned is shown.
- 10C shows an arrangement example in which a plurality of convex-shaped portions 41 are arranged on the countersink surface 39 so that portions where the convex-shaped portions 41 are not arranged alternately appear for each row and one column. It is shown.
- 16A shows an arrangement example in which the plurality of convex-shaped portions 41C are arranged on the countersink surface 39 so as to be periodic at uniform intervals in the X direction and the Y direction.
- a plurality of convex portions 41C are arranged on the countersink surface 39 so that the intervals become wider for each row as they progress in the X direction, and become periodic at uniform intervals in the Y direction.
- An arrangement example is shown.
- FIG. 16C a plurality of convex-shaped portions 41C are arranged on the countersink surface 39 so that the intervals become wider for each column as it advances in the X direction and for each row as it advances in the Y direction.
- An arrangement example is shown.
- FIG. 18A shows an arrangement example in which the plurality of convex portions 41C are arranged on the countersink surface 39 so as to be periodic at uniform intervals in the X direction and the Y direction.
- FIG. 18B a plurality of convex-shaped portions 41C are arranged on the countersink surface 39 so that the interval increases in every two columns as it advances in the X direction, and the interval increases in every row as it advances in the Y direction.
- positioned is shown.
- a plurality of convex-shaped portions 41C are arranged on the countersink surface 39 so that the interval increases in every column as it advances in the X direction, and the interval increases in every 2 rows as it advances in the Y direction.
- positioned is shown.
- a plurality of convex portions 41F having a substantially semicircular cross-sectional shape are formed to be elongated concentrically with the center of the countersink surface 39 as the center point, and are continuously concentrically. Arrangement examples arranged in a row may be adopted.
- positioned in the center of concentric form can be made into the shape (B of FIG. 21) that the center becomes concave, or the shape (C of FIG. 21) that the center becomes convex. .
- a plurality of convex portions 41F having a substantially semicircular cross-sectional shape are formed to be elongated so as to extend concentrically with the center of the countersink surface 39 as the center point, and are continuously concentrically.
- An arrangement example in which the width of the convex portion 41F becomes wider toward the outside may be adopted.
- positioned at the center of concentric form can be made into the shape (B of FIG. 22) that the center becomes concave, or the shape (C of FIG. 22) that the center becomes convex. .
- a plurality of convex-shaped portions 41F having a substantially semicircular cross-sectional shape are formed so as to extend concentrically with the center of one side of the countersink surface 39 as a center point, and are concentrically formed.
- An arrangement example may be employed in which the widths of the convex-shaped portions 41F are alternately increased and the width of one convex-shaped portion 41F increases toward the outside while being alternately arranged.
- positioned in the center of concentric form can be made into the shape (B of FIG. 23) that the center becomes concave, or the shape (C of FIG. 23) that the center becomes convex. .
- FIG. 24 shows an example of the arrangement of the convex portions 41F that are elongated in a concentric manner when the countersink surface 39 is viewed in a plan view.
- FIG. 24A the planar structure of the countersink surface 39 is shown.
- FIG. 24B shows a first example of a sectional structure of the countersink surface 39 along the broken line shown in FIG. 24A.
- FIG. 24C shows the first example of the cross-sectional structure.
- a second example of the cross-sectional structure of the counterbore surface 39 along the broken line is shown.
- a plurality of convex portions 41F having a substantially semicircular cross-sectional shape are formed so as to extend concentrically with the center of the countersink surface 39 as the center point, and are continuous in a concentric manner.
- An arrangement example may be employed in which the width of one convex shape portion 41F becomes wider toward the outside, while the width of the convex shape portion 41F is alternately different, and the width is increased.
- positioned in the center of concentric form can be made into the shape (B of FIG. 24) that the center becomes concave, or the shape (C of FIG. 24) that the center becomes convex. .
- an arrangement example may be adopted in which a plurality of convex-shaped portions 41H having a substantially semicircular cross-sectional shape are formed in a zigzag shape in the vertical direction and arranged in a continuous manner.
- positioned at one side of the countersink surface 39 is the shape (B of FIG. 27) where the center of the side becomes concave, or the center of the side becomes convex. It can be a shape (C in FIG. 27).
- FIG. 28 shows an example of the arrangement of convex portions 41J that are elongated in a wave shape in the vertical direction when the countersink surface 39 is viewed in a plan view.
- FIG. 28A the planar structure of the countersink surface 39 is shown.
- FIG. 28B shows a first example of a sectional structure of the countersink surface 39 along the broken line shown in FIG. 28A.
- an arrangement example may be adopted in which a plurality of convex-shaped portions 41J having a substantially semicircular cross-sectional shape are formed in a wave shape in the vertical direction and are continuously arranged.
- the reflectance of light reflected by the countersink surface 39 can be suppressed by appropriately using the convex portions 41 having various shapes as shown in FIGS.
- the imaging element 12 as described above is applied to various electronic devices such as an imaging system such as a digital still camera and a digital video camera, a mobile phone having an imaging function, or other devices having an imaging function. can do.
- an imaging system such as a digital still camera and a digital video camera
- a mobile phone having an imaging function or other devices having an imaging function. can do.
- FIG. 29 is a block diagram illustrating a configuration example of an imaging device mounted on an electronic device.
- the imaging apparatus 101 includes an optical system 102, an imaging element 103, a signal processing circuit 104, a monitor 105, and a memory 106, and can capture still images and moving images.
- the optical system 102 includes one or more lenses, guides image light (incident light) from a subject to the image sensor 103, and forms an image on a light receiving surface (sensor unit) of the image sensor 103.
- the signal processing circuit 104 performs various signal processing on the pixel signal output from the image sensor 103.
- An image (image data) obtained by performing signal processing by the signal processing circuit 104 is supplied to the monitor 105 and displayed, or supplied to the memory 106 and stored (recorded).
- FIG. 30 is a diagram illustrating a usage example in which the above-described image sensor is used.
- the image sensor described above can be used in various cases for sensing light such as visible light, infrared light, ultraviolet light, and X-ray as follows.
- Devices for taking images for viewing such as digital cameras and mobile devices with camera functions
- Devices used for traffic such as in-vehicle sensors that capture the back, surroundings, and interiors of vehicles, surveillance cameras that monitor traveling vehicles and roads, and ranging sensors that measure distances between vehicles, etc.
- Equipment used for home appliances such as TVs, refrigerators, air conditioners, etc. to take pictures and operate the equipment according to the gestures ⁇ Endoscopes, equipment that performs blood vessel photography by receiving infrared light, etc.
- Equipment used for medical and health care ⁇ Security equipment such as security surveillance cameras and personal authentication cameras ⁇ Skin measuring instrument for photographing skin and scalp photography Such as a microscope to do beauty Equipment used for sports-Equipment used for sports such as action cameras and wearable cameras for sports applications-Used for agriculture such as cameras for monitoring the condition of fields and crops apparatus
- this technique can also take the following structures.
- a solid-state imaging device comprising: a plurality of convex-shaped portions that are formed on a countersink surface and are periodically arranged.
- the opening includes a shallow digging portion having a shape in which the entire region serving as the opening is dug shallowly, and a deep digging portion having a shape in which a region corresponding to the connection portion is dug deeply in a part of the shallow digging portion. And formed by The solid-state imaging device according to (1), wherein the convex portion is formed on the countersink surface that is a surface of the shallow digging portion. (3) Between the first film and the semiconductor substrate, between the first film in which the convex portion is formed in the shallow digging portion and the semiconductor substrate in which a photodiode is formed in the pixel in the imaging region.
- An imaging region in which a plurality of pixels are arranged in a plane and receives incident light to perform imaging A connection portion provided outside the imaging region and used for connection to the outside; An opening that opens from the light incident surface side on which light is incident on the imaging region to the connecting portion; A surface other than the connection part inside the opening, the surface facing at least the light incident surface at a position lower than the imaging region or a layer containing an organic substance provided in a peripheral region of the imaging region;
- a method for manufacturing a solid-state imaging device comprising: When digging the opening, etching is performed on a lens layer in which a lens for condensing light is formed for each of the pixels provided in the imaging region that is higher than the surface on which the convex portion is formed.
- the convex shape portion is formed by transferring the shape of the lens.
- 11 solid-state imaging device package 12 imaging devices, 13 interposer substrate, 14 frames, 15 protective glass, 16 pixels, 17 photodiodes, 18 filters, 19 on-chip lenses, 21 imaging areas, 22 metal pads, 23 metal pads, 24 bonding Wire, 25 wire bonding balls, 31 wiring layer, 32 semiconductor substrate, 33 laminated structure film, 34 pad opening, 35 shallow digging part, 36 deep digging part, 39 counterboring surface, 40 flat surface, 41 convex shape part, 42 lens
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
本開示は、固体撮像素子パッケージ内での光の乱反射を抑制することができるようにする固体撮像素子および製造方法、並びに電子機器に関する。 固体撮像素子は、複数の画素が平面的に配置され、入射する光を受光して撮像を行う撮像領域よりも外側に外部との接続に利用される接続部が設けられており、撮像領域に対して光が入射する光入射面側から接続部まで開口する開口部が形成される。そして、開口部の内部における接続部以外の表面であって、撮像領域、または、その撮像領域の周辺領域に設けられる有機物を含む層よりも低い位置において少なくとも光入射面側を向く表面となる座繰り表面に、周期的に配置される複数の凸形状部が形成される。本技術は、例えば、裏面照射型または積層型のCMOSイメージセンサに適用できる。
Description
本開示は、固体撮像素子および製造方法、並びに電子機器に関し、特に、固体撮像素子パッケージ内での光の乱反射を抑制することができるようにした固体撮像素子および製造方法、並びに電子機器に関する。
従来、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサなどの固体撮像素子は、例えば、高機能化などに伴って、高背化することがある。これにより、固体撮像素子と外部との接続に利用される金属パッドが、固体撮像素子の深い位置に配置される構造になってしまう。
そのため、金属パッドが開口するように形成される開口部に、金属パッドに接続されるボンディングワイヤの先端部分に設けられるワイヤボンディングボールが入り込んでしまうことがある。その場合、金属パッドとワイヤボンディングボールとの接合強度を測定するシェア試験を行うためには、ワイヤボンディングボールの直径を縮小したり、シェアツールが入るように開口部を拡げたりする必要があった。
また、本願出願人は、製造工程中に形成する電極取り出し用の開口による段差の影響を抑制することで、精度の高い光学部品等を製造することができる裏面照射型の固体撮像装置を提案している(例えば、特許文献1参照)。
ところで、上述したように、シェアツールが入るように開口部を拡げた構成では、その開口部内の表面で反射した光がボンディングワイヤで2次反射するなど、光の乱反射が発生することが懸念される。そして、その光が画素に入射すると画質が低下することになる。
本開示は、このような状況に鑑みてなされたものであり、固体撮像素子パッケージ内での光の乱反射を抑制することができるようにするものである。
本開示の一側面の固体撮像素子は、複数の画素が平面的に配置され、入射する光を受光して撮像を行う撮像領域と、前記撮像領域よりも外側に設けられ、外部との接続に利用される接続部と、前記撮像領域に対して光が入射する光入射面側から前記接続部まで開口する開口部と、前記開口部の内部における前記接続部以外の表面であって、前記撮像領域、または、その撮像領域の周辺領域に設けられる有機物を含む層よりも低い位置において少なくとも前記光入射面側を向く表面となる座繰り表面に形成され、周期的に配置される複数の凸形状部とを備える。
本開示の一側面の製造方法は、複数の画素が平面的に配置され、入射する光を受光して撮像を行う撮像領域と、前記撮像領域よりも外側に設けられ、外部との接続に利用される接続部と、前記撮像領域に対して光が入射する光入射面側から前記接続部まで開口する開口部と、前記開口部の内部における前記接続部以外の表面であって、前記撮像領域、または、その撮像領域の周辺領域に設けられる有機物を含む層よりも低い位置において少なくとも前記光入射面側を向く表面となる座繰り表面に形成され、周期的に配置される複数の凸形状部とを備える固体撮像素子の製造方法であって、前記開口部を掘り込む際に、前記凸形状部が形成される表面よりも高い位置となる前記撮像領域に設けられる前記画素ごとに光を集光するレンズが形成されるレンズ層に対するエッチングを行うことで、前記レンズの形状を転写することにより前記凸形状部を形成する。
本開示の一側面の電子機器は、複数の画素が平面的に配置され、入射する光を受光して撮像を行う撮像領域と、前記撮像領域よりも外側に設けられ、外部との接続に利用される接続部と、前記開口部の内部における前記接続部以外の表面であって、前記撮像領域、または、その撮像領域の周辺領域に設けられる有機物を含む層よりも低い位置において少なくとも前記光入射面側を向く表面となる座繰り表面に形成され、周期的に配置される複数の凸形状部とを有する固体撮像素子を備える。
本開示の一側面においては、複数の画素が平面的に配置され、入射する光を受光して撮像を行う撮像領域よりも外側に設けられ、外部との接続に利用される接続部が設けられており、撮像領域に対して光が入射する光入射面側から接続部まで開口する開口部が形成される。そして、開口部の内部における接続部以外の表面であって、撮像領域、または、その撮像領域の周辺領域に設けられる有機物を含む層よりも低い位置において少なくとも光入射面側を向く表面となる座繰り表面に、周期的に配置される複数の凸形状部が形成される。
本開示の一側面によれば、固体撮像素子パッケージ内での光の乱反射を抑制することができる。
以下、本技術を適用した具体的な実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。
図1は、本技術を適用した固体撮像素子パッケージの一実施の形態の断面的な構成例を示す図である。
図1に示すように、固体撮像素子パッケージ11は、撮像素子12が載置されたインターポーザ基板13の外周を囲うような形状のフレーム14に保護ガラス15が固定されることによって、撮像素子12が封止される構造となっている。例えば、撮像素子12およびフレーム14は、接着剤によりインターポーザ基板13に固着されるとともに、保護ガラス15は、接着剤によりフレーム14に固着される。また、保護ガラス15の上側に、フレアを防止するための板を配置する構成としてもよい。
撮像素子12には、図示しない光学系を介して集光される光を受光する複数の画素16が平面的に配置された撮像領域21が設けられており、撮像領域21に入射する光を受光して撮像が行われる。また、撮像領域21では、画素16ごとに、光電変換を行うフォトダイオード17、所定の波長域の光を透過するフィルタ18(有機物を含む層)、光を集光するオンチップレンズ19などが積層されて構成される。なお、撮像素子12としては、半導体基板の裏面側から光を照射する裏面照射型のCMOSイメージセンサや、画素16が形成される半導体基板と回路が形成される半導体基板とが積層された積層型のCMOSイメージセンサなどが用いられる。
また、撮像素子12では、撮像領域21よりも外側の縁部分に、撮像領域21に設けられる画素16に電気的に接続される複数の金属パッド22が設けられており、金属パッド22は、撮像素子12の外部との接続に利用される。一方、インターポーザ基板13には、撮像素子12に設けられる複数の金属パッド22それぞれに対応するように、複数の金属パッド23が設けられている。そして、金属パッド22および金属パッド23がボンディングワイヤ24により接続されることで、撮像素子12からインターポーザ基板13を介して画素信号を外部に出力することができる。
例えば、金属パッド22とボンディングワイヤ24との接合には、ボンディングワイヤ24の先端を放電して金属を溶融させることによりボールを形成し、そのボールを利用する接合方法を用いることができる。これにより、金属パッド22とボンディングワイヤ24との接続部分には、ワイヤボンディングボール25が形成され、その接合面積を広くすることにより接合強度を高めることができる。
ところで、近年、多機能化によって撮像素子12の高背化が求められることがある。具体例を挙げると、被写体に対するピントずれを検知する位相差画素を撮像素子12に埋め込む、いわゆる、像面位相差技術が製品化されている。そして、像面位相差によるオートフォーカス精度を向上させるためにはフォトダイオード17の表面よりも高い位置にオンチップレンズ19の焦点を合わせることが必要となり、集光構造全体の高背化が求められる。このため、撮像素子12の光入射面側から金属パッド22を開口するためのパッド開口部が深く形成される傾向がある。
次に、図2には、撮像素子12に形成されるパッド開口部の近傍が拡大されて示されている。なお、図2では、金属パッド22にボンディングワイヤ24が接続される前の状態が示されている。
図2に示すように、撮像素子12は、配線層31、半導体基板32、および積層構造膜33が積層されて構成される。
配線層31には、画素16に接続される複数の配線(図示せず)と、それらの配線に接続される金属パッド22が形成される。例えば、配線層31は、配線どうしが、無機系の材料により構成される無機膜によって絶縁されるように構成されている。
半導体基板32は、例えば、単結晶のシリコンが薄くスライスされたウェハであり、半導体基板32には、図1の撮像領域21の画素16ごとに設けられるフォトダイオード17が形成される。
積層構造膜33は、無機系の材料が成膜された無機膜や、有機系の材料が成膜された有機膜などの複数の膜が積層されて構成される。なお、積層構造膜33の積層構造については、図3を参照して説明する。
そして、撮像素子12では、図1のボンディングワイヤ24を金属パッド22に接続するために、光入射面側から金属パッド22まで開口するように、積層構造膜33、半導体基板32、および配線層31を掘り込むことによって、パッド開口部34が形成される。
パッド開口部34は、パッド開口部34となる全体の領域を浅く掘り込んだ形状の浅掘り部35と、浅掘り部35の一部において金属パッド22に対応する領域を深く掘り込んだ形状の深掘り部36とにより形成される。このような形状のパッド開口部34は、金属パッド22とワイヤボンディングボール25との接合強度を測定するシェア試験を行うためのシェアツールを浅掘り部35に入り込ませることができる。即ち、金属パッド22に対応する領域を深く掘り込んだ場合には、シェア試験を行うのが困難だったのに対し、浅掘り部35を設けることによって、シェア試験を容易に行うことができる。
例えば、パッド開口部34における浅掘り部35の深さを、深掘り部36の内部にワイヤボンディングボール25が形成されたときに、ワイヤボンディングボール25の高さの少なくとも1/4が深掘り部36から突出するように設定することで、シェアツールによりワイヤボンディングボール25を把持してシェア試験を行うことができる。
そして、撮像素子12では、浅掘り部35の上側を向く面には、平坦となるように形成される平坦面40から突出するように丸みを持たせたレンズ形状の凸形状部41が形成される。このように、浅掘り部35において平坦面40および凸形状部41からなる面は、ボンディングワイヤ24がボンディングされる金属パッド22から、受光面側の最高表面までの中間における高さに位置し、ある程度の大きさの面積を有しており、以下適宜、この面を座繰り表面39と称する。なお、座繰り表面39の幅は、ワイヤボンディングの際にシェアツールが浅掘り部35に入り込ませることを考慮して10μm以上に設定することが好ましいが、これに限られずに座繰り表面39の幅を設定してもよい。
また、図2の上側には、上面側から見たパッド開口部34が示されており、図示するように、座繰り表面39では、複数の凸形状部41が平坦面40に周期的に配置される。このように、複数の凸形状部41が周期的に配置された座繰り表面39において、図2の下側に拡大して図示されているように、白抜きの矢印で表されている光線は、凸形状部41の表面で反射する際に散乱することになる。これにより、座繰り表面39で反射する光の反射率を抑制することができる。
ここで、凸形状部41は、座繰り表面39において約2~5μmのピッチで二次元的な周期性を有するように配置される。また、凸形状部41は、少なくとも50nm以上の高さを有するような凸形状であって、その表面形状が球面または非球面の曲面となるように形成される。このような曲面により凸形状部41を形成することによって、反射光による干渉効果が効率良く表れるため、座繰り表面39における光の正反射を良好に抑制することができる。
また、座繰り表面39において、複数の凸形状部41が形成される領域の面積が、それらの凸形状部41どうしの間に設けられる平坦面40の面積よりも大きくなるように、凸形状部41が形成される。
また、パッド開口部34は、深掘り部36の深さ、即ち、撮像素子12の表面から金属パッド22までの深さが、ワイヤボンディングボール25(図1)の高さの3/4よりも深くなるように形成される。また、座繰り表面39が、ワイヤボンディングボール25(図1)の高さの3/4以下となるように、撮像素子12の表面から掘り込まれた位置に設けられる。
次に、図3を参照して、パッド開口部34を掘り込む際に、浅掘り部35の座繰り表面39に凸形状部41を形成する製造方法について説明する。
例えば、図3の右側に示すように、浅掘り部35において積層構造膜33は、反射防止膜33-1および絶縁膜33-2が積層されて構成されており、絶縁膜33-2に凸形状部41が形成される。
反射防止膜33-1は、可視光(波長:400~700nm)に対して屈折率の高い半導体基板32における反射を防止するために、屈折率が、半導体基板32および絶縁膜33-2の中間の材料によって、半導体基板32および絶縁膜33-2の間に形成される。例えば、反射防止膜33-1は、窒化シリコン(SiN)や酸化ハフニウム(HfO2)、酸化アルミニウム(Al2O3)、酸化チタン(TiO2)、STO(Strontium Titan Oxide)などを用いることができる。また、反射防止膜33-1として、これらの膜を積層して用いてもよい。また、絶縁膜33-2は、半導体基板32の表面を絶縁するための絶縁性を有する材料、例えば、二酸化ケイ素(SiO2)などにより形成される。
このように、浅掘り部35では、凸形状部41が形成される絶縁膜33-2の下層に、絶縁膜33-2および半導体基板32の間の屈折率の平坦な反射防止膜33-1が設けられている。なお、図3の例では、半導体基板32および絶縁膜33-2の間に、1層の反射防止膜33-1だけが挟まれる構成が示されているが、半導体基板32および絶縁膜33-2の中間の屈折率を有する複数層の平坦な膜が挟まれる構成としてもよい。
また、図3の左側に示すように、パッド開口部34を形成する工程の前では、反射防止膜33-1に対して絶縁膜33-2となる層が平坦に積層され、さらに、インナーレンズ層33-3、平坦化膜33-4、および有機膜33-5が積層されている。
インナーレンズ層33-3は、絶縁膜33-2とは異なる材料、例えば、窒化シリコン(SiN)や酸窒化シリコン(SiON)、酸化金属を分散した有機膜などで形成され、その表面には、撮像素子12の撮像領域21の画素16ごとに光を集光する小型のレンズ42が形成される。レンズ42は、画素16ごとの集光性能を高めるために、少なくとも撮像領域21にのみ形成される構成としてもよいが、撮像素子12では、画素16が形成されない縁部分にも、撮像領域21と同様にレンズ42が形成される。
平坦化膜33-4は、インナーレンズ層33-3の表面を平坦にする。有機膜33-5は、撮像素子12の撮像領域21の画素16ごとに設けられるカラーフィルタ(図1のフィルタ18)や、画素16への光を遮光するブラックレジストなどを構成する。
そして、パッド開口部34を形成する工程において、異方性ドライエッチングなどにより材料のエッチングレートの差を利用して、座繰り表面39よりも高い位置となるインナーレンズ層33-3のレンズ42の形状が絶縁膜33-2に転写されるように加工を行う。絶縁膜33-2に凸形状部41が形成されるように、浅掘り部35が掘り込まれる。このような製造方法により、凸形状部41を形成するためだけの工程を追加することなく、従来から形成されているインナーレンズ層33-3のレンズ42を利用して、浅掘り部35の座繰り表面39に凸形状部41を形成することができる。
なお、撮像素子12は、パッド開口部34において有機膜33-5は除去されるが、それ以外の領域においては、例えば、撮像領域21においては、有機膜33-5が残ったままの構成となっている。即ち、撮像素子12は、パッド開口部34の浅掘り部35の座繰り表面39よりも高い位置に、有機膜33-5が存在する構成となっている。また、有機膜33-5は、有機系の材料のみで形成される構成の他、例えば、所定の粒子が有機系の材料の中に含まれる構成を採用しもよい。
また、撮像素子12は、撮像領域21の表面よりも低い位置に、例えば、図1のフィルタ18などを構成する有機膜33-5より低い位置に、平坦面40および凸形状部41からなる座繰り表面39が形成される。なお、撮像領域21に設けられるフィルタ18と同様に、撮像領域21の周辺となる周辺領域には、有機物の粒子が分散された層(図示せず)が設けられており、その層より低い位置に、座繰り表面39が形成される。
次に、図4には、座繰り表面39における反射率のデータを示す図である。
図4において、縦軸は反射率を示し、横軸は波長を示しており、例えば、パッド開口部34の浅掘り部35に対して光入射角度10°で、可視光(波長:400~700nm)が入射するときに、座繰り表面39における反射率が示されている。
図示するように、全ての波長域において、座繰り表面39における反射率が、目標値である反射率5%以下を達成することができる。即ち、座繰り表面39に周期的な配置で形成される複数の凸形状部41によって光が散乱されることによって、例えば座繰り表面39の全面が平坦とされる構成よりも、反射率を低減させることができる。
例えば、座繰り表面39の全面が平坦な構造であって、酸化膜や窒化膜など基本的に透明な屈折率の違う単純積層膜構造を形成した場合であっても、波長依存性で必ず反射率の高くなる波長が存在していた。これに対し、座繰り表面39に凸形状部41を形成することによって、反射率の高くなるような波長が表れることを回避することができる。
次に、図5を参照して、凸形状部41の断面形状の他の例について説明する。
例えば、凸形状部41は、レンズ形状の断面形状(図2参照)に限定されることなく、様々な断面形状を採用することができる。例えば、図5のAに示すように、矩形の断面形状の凸形状部41Aや、図5のBに示すように、角錐形または円錐形の断面形状の凸形状部41Bなどを、座繰り表面39に形成することができる。さらに、異なる断面形状が組み合わされて、例えば、レンズ形状の凸形状部41と、矩形の凸形状部41Aとが組み合わされて座繰り表面39に配置されるようにしてもよい。
次に、図6乃至図29を参照して、凸形状部41のバリエーションについて説明する。
図6には、座繰り表面39に配置される複数の凸形状部41の平面的な形状のバリエーションが示されている。
例えば、図6のAに示すように、平面的に見て円形の凸形状部41や、図6のBに示すように、平面的に見て三角形の凸形状部41C、図6のCに示すように、平面的に見て正方形の凸形状部41Dなどを用いることができる。または、凸形状部41の平面的な形状として、その他の多角形の形状を採用してもよい。
また、図6のAには、複数の凸形状部41が、X方向およびY方向に均一な間隔で周期的となるように、座繰り表面39に配置されている配置例が示されている。これに対し、複数の凸形状部41の配置の周期性を崩すような配置例を採用してもよい。
図7には、座繰り表面39に配置される複数の凸形状部41の配置例のバリエーションが示されている。
図7のAに示す配置例では、図6のAと同様に、複数の凸形状部41が、X方向およびY方向に均一な間隔で周期的となるように、座繰り表面39に配置されている。
これに対し、図7のBに示すように、複数の凸形状部41の配置のX方向の周期性を崩すように、即ち、複数の凸形状部41が、X方向に非均一な間隔となり、かつ、Y方向に均一な間隔で周期的となるように、座繰り表面39に配置される配置例を採用してもよい。具体的には、図7のBには、複数の凸形状部41が、X方向に進むに従い1列ごとに間隔が広くなり、Y方向に均一な間隔で周期的となるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。
また、図7のCに示すように、複数の凸形状部41の配置のX方向およびY方向の周期性を崩すように、即ち、複数の凸形状部41が、X方向およびY方向に非均一な間隔となるように、座繰り表面39に配置される配置例を採用してもよい。具体的には、図7のCには、複数の凸形状部41が、X方向に進むに従い1列ごとに、かつ、Y方向に進むに従い1行ごとに間隔が広くなるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。
なお、図7のBおよび図7のCに示す配置例以外にも、複数の凸形状部41が非均一な間隔で配置される配置例を採用することができる。
図8には、座繰り表面39に配置される複数の凸形状部41の配置例の他のバリエーションが示されている。
図8のAに示す配置例では、図7のAと同様に、複数の凸形状部41が、X方向およびY方向に均一な間隔で周期的となるように、座繰り表面39に配置されている。
これに対し、図8のBに示すように、複数の凸形状部41の配置のX方向の周期性を段階的に崩すように、即ち、複数の凸形状部41が、X方向に所定列ごとに非均一な間隔となり、かつ、Y方向に均一な間隔で周期的となるように、座繰り表面39に配置される配置例を採用してもよい。具体的には、図8のBには、複数の凸形状部41が、X方向に進むに従い2列ごとに間隔が広くなり、Y方向に均一な間隔で周期的となるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。
また、図8のCに示すように、複数の凸形状部41の配置のX方向およびY方向の周期性を段階的に崩すように、即ち、複数の凸形状部41が、X方向およびY方向に所定列および所定行ごとに非均一な間隔となるように、座繰り表面39に配置される配置例を採用してもよい。具体的には、図8のCには、複数の凸形状部41が、X方向に進むに従い2列ごとに、かつ、Y方向に進むに従い2行ごとに間隔が広くなるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。
なお、図7および図8に示したような配置例を組み合わせて用いてもよい。
図9には、座繰り表面39に配置される複数の凸形状部41の配置例の他のバリエーションが示されている。
図9のAに示す配置例では、図7のAと同様に、複数の凸形状部41が、X方向およびY方向に均一な間隔で周期的となるように、座繰り表面39に配置されている。
これに対し、図9のBに示すように、複数の凸形状部41の配置のX方向の周期性を段階的に崩し、かつ、Y方向の周期性も崩すように、即ち、複数の凸形状部41が、X方向に所定列ごとに非均一な間隔となり、かつ、Y方向に1行ごとに非均一な間隔となるように、座繰り表面39に配置される配置例を採用してもよい。具体的には、図9のBには、複数の凸形状部41が、X方向に進むに従い2列ごとに間隔が広くなり、Y方向に進むに従い1行ごとに間隔が広くなるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。
また、図9のCに示すように、複数の凸形状部41の配置のX方向の周期性を崩し、かつ、Y方向の周期性を段階的に崩すように、即ち、複数の凸形状部41が、X方向に1列ごとに非均一な間隔となり、かつ、Y方向に所定行ごとに非均一な間隔となるように、座繰り表面39に配置される配置例を採用してもよい。具体的には、図9のCには、複数の凸形状部41が、X方向に進むに従い1列ごとに間隔が広くなり、Y方向に進むに従い2行ごとに間隔が広くなるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。
図10には、座繰り表面39に配置される複数の凸形状部41の配置例の他のバリエーションが示されている。
図10のAに示す配置例では、図7のAと同様に、複数の凸形状部41が、X方向およびY方向に均一な間隔で周期的となるように、座繰り表面39に配置されている。
これに対し、図10のBおよび図10のCに示すように、複数の凸形状部41の配置のX方向およびY方向の周期性を意図的に崩すように、例えば、凸形状部41が配置されない箇所が周期的に表れるように、座繰り表面39に配置される配置例を採用してもよい。具体的には、図10のBには、凸形状部41が配置されない箇所が1行ごとに表れる列が、1列ごとに設けられるように、複数の凸形状部41が、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。また、図10のCには、凸形状部41が配置されない箇所が1行および1列ごとに交互に表れるように、複数の凸形状部41が、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。
次に、図11および図12には、円形の凸形状部41と、正方形の凸形状部41Dとが組み合わされて配置される配置例のバリエーションが示されている。
例えば、図11のAに示すように、円形の凸形状部41と正方形の凸形状部41Dとが、X方向およびY方向に1つずつ交互に配置される配置例を採用してもよい。また、図11のBに示すように、円形の凸形状部41と正方形の凸形状部41DとがY方向に1つずつ交互に配置される列と、円形の凸形状部41だけが配置される列とが、X方向に1列ごとに交互に配置される配置例を採用してもよい。また、図11のCに示すように、円形の凸形状部41と正方形の凸形状部41DとがY方向に1つずつ交互に配置される1列と、円形の凸形状部41だけが配置される3列とのパターンが、X方向に繰り返し配置される配置例を採用してもよい。
図12のAには、図11のAと同様に、円形の凸形状部41と正方形の凸形状部41Dとが、X方向およびY方向に1つずつ交互に配置される配置例が示されている。
これに対し、図12のBに示すように、円形の凸形状部41と正方形の凸形状部41DとがY方向に1つずつ交互に配置される2列と、その2列に対して円形の凸形状部41と正方形の凸形状部41Dとが配置される行が異なる2列とのパターンが、X方向に繰り返し配置される配置例を採用してもよい。また、図12のCに示すように、円形の凸形状部41と正方形の凸形状部41DとがY方向に1つずつ交互に配置される4列と、その4列に対して円形の凸形状部41と正方形の凸形状部41Dとが配置される行が異なる4列とのパターンが、X方向に繰り返し配置される配置例を採用してもよい。
図13には、正方形の凸形状部41Dが、図7と同様に、周期性を崩すよう配置される配置例が示されている。
即ち、図13のAには、複数の凸形状部41Dが、X方向およびY方向に均一な間隔で周期的となるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。図13のBには、複数の凸形状部41Dが、X方向に進むに従い1列ごとに間隔が広くなり、Y方向に均一な間隔で周期的となるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。図13のCには、複数の凸形状部41Dが、X方向に進むに従い1列ごとに、かつ、Y方向に進むに従い1行ごとに間隔が広くなるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。
図14には、図8と同様に、正方形の凸形状部41Dが、周期性を段階的に崩すよう配置される配置例が示されている。
即ち、図14のAには、複数の凸形状部41Dが、X方向およびY方向に均一な間隔で周期的となるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。図14のBには、複数の凸形状部41Dが、X方向に進むに従い2列ごとに間隔が広くなり、Y方向に均一な間隔で周期的となるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。図14のCには、複数の凸形状部41Dが、X方向に進むに従い2列ごとに、かつ、Y方向に進むに従い2行ごとに間隔が広くなるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。
図15には、図9と同様に、図13および図14に示したような配置例が組み合わせて用いられた配置例が示されている。
即ち、図15のAには、複数の凸形状部41Dが、X方向およびY方向に均一な間隔で周期的となるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。図15のBには、複数の凸形状部41Dが、X方向に進むに従い2列ごとに間隔が広くなり、Y方向に進むに従い1行ごとに間隔が広くなるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。図15のCには、複数の凸形状部41Dが、X方向に進むに従い1列ごとに間隔が広くなり、Y方向に進むに従い2行ごとに間隔が広くなるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。
図16には、三角形の凸形状部41Cが、図7と同様に、周期性を崩すよう配置される配置例が示されている。
図16のAには、複数の凸形状部41Cが、X方向およびY方向に均一な間隔で周期的となるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。図16のBには、複数の凸形状部41Cが、X方向に進むに従い1列ごとに間隔が広くなり、Y方向に均一な間隔で周期的となるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。図16のCには、複数の凸形状部41Cが、X方向に進むに従い1列ごとに、かつ、Y方向に進むに従い1行ごとに間隔が広くなるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。
図17には、三角形の凸形状部41Cが、図8と同様に、周期性を段階的に崩すよう配置される配置例が示されている。
図17のAには、複数の凸形状部41Cが、X方向およびY方向に均一な間隔で周期的となるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。図17のBには、複数の凸形状部41Cが、X方向に進むに従い2列ごとに間隔が広くなり、Y方向に均一な間隔で周期的となるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。図17のCには、複数の凸形状部41Cが、X方向に進むに従い2列ごとに、かつ、Y方向に進むに従い2行ごとに間隔が広くなるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。
図18には、図9と同様に、図16および図17に示したような配置例が組み合わせて用いられた配置例が示されている。
図18のAには、複数の凸形状部41Cが、X方向およびY方向に均一な間隔で周期的となるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。図18のBには、複数の凸形状部41Cが、X方向に進むに従い2列ごとに間隔が広くなり、Y方向に進むに従い1行ごとに間隔が広くなるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。図18のCには、複数の凸形状部41Cが、X方向に進むに従い1列ごとに間隔が広くなり、Y方向に進むに従い2行ごとに間隔が広くなるように、座繰り表面39に配置される配置例が示されている。
ところで、凸形状部41として、例えば、座繰り表面39を平面的に見て、細長く延在するような形状を用いてもよい。
図19には、座繰り表面39を平面的に見て、直線的に細長く形成された凸形状部41Eの配置例が示されている。図19のAには、座繰り表面39の平面的な構造が示されており、図19のBには、図19のAに示す破線に沿った座繰り表面39の断面的な構造の一例が示されている。
図19に示すように、断面形状が略半円形(いわゆる蒲鉾型)の複数の凸形状部41Eが、縦方向に直線的に延在するように細長く形成され、横方向に連続的に並べられて配置される配置例を採用してもよい。
図20には、座繰り表面39を平面的に見て、同心円状に細長く形成された凸形状部41Fの配置例が示されている。図20のAには、座繰り表面39の平面的な構造が示されている。図20のBには、図20のAに示す破線に沿った座繰り表面39の断面的な構造の第1の例が示されており、図20のCには、図20のAに示す破線に沿った座繰り表面39の断面的な構造の第2の例が示されている。
図20に示すように、断面形状が略半円形の複数の凸形状部41Fが、座繰り表面39の一辺の中央を中心点として、同心円状に延在するように細長く形成され、同心円状に連続的に並べられて配置される配置例を採用してもよい。なお、同心円状の中央に配置される凸形状部41Fは、その中心が凹となる形状(図20のB)、または、その中心が凸となる形状(図20のC)とすることができる。
図21には、座繰り表面39を平面的に見て、同心円状に細長く形成された凸形状部41Fの配置例が示されている。図21のAには、座繰り表面39の平面的な構造が示されている。図21のBには、図21のAに示す破線に沿った座繰り表面39の断面的な構造の第1の例が示されており、図21のCには、図21のAに示す破線に沿った座繰り表面39の断面的な構造の第2の例が示されている。
図21に示すように、断面形状が略半円形の複数の凸形状部41Fが、座繰り表面39の中央を中心点として、同心円状に延在するように細長く形成され、同心円状に連続的に並べられて配置される配置例を採用してもよい。なお、同心円状の中央に配置される凸形状部41Fは、その中心が凹となる形状(図21のB)、または、その中心が凸となる形状(図21のC)とすることができる。
図22には、座繰り表面39を平面的に見て、同心円状に細長く形成された凸形状部41Fの配置例が示されている。図22のAには、座繰り表面39の平面的な構造が示されている。図22のBには、図22のAに示す破線に沿った座繰り表面39の断面的な構造の第1の例が示されており、図22のCには、図22のCに示す破線に沿った座繰り表面39の断面的な構造の第2の例が示されている。
図22に示すように、断面形状が略半円形の複数の凸形状部41Fが、座繰り表面39の中央を中心点として、同心円状に延在するように細長く形成され、同心円状に連続的に並べられて配置されるとともに、外側に向かうに従い凸形状部41Fの幅が広くなる配置例を採用してもよい。なお、同心円状の中央に配置される凸形状部41Fは、その中心が凹となる形状(図22のB)、または、その中心が凸となる形状(図22のC)とすることができる。
図23には、座繰り表面39を平面的に見て、同心円状に細長く形成された凸形状部41Fの配置例が示されている。図23のAには、座繰り表面39の平面的な構造が示されている。図23のBには、図23のAに示す破線に沿った座繰り表面39の断面的な構造の第1の例が示されており、図23のCには、図23のAに示す破線に沿った座繰り表面39の断面的な構造の第2の例が示されている。
図23に示すように、断面形状が略半円形の複数の凸形状部41Fが、座繰り表面39の一辺の中央を中心点として、同心円状に延在するように細長く形成され、同心円状に連続的に並べられて配置されるとともに、交互に凸形状部41Fの幅が異なりつつ、外側に向かうに従い一方の凸形状部41Fの幅が広くなる配置例を採用してもよい。なお、同心円状の中央に配置される凸形状部41Fは、その中心が凹となる形状(図23のB)、または、その中心が凸となる形状(図23のC)とすることができる。
図24には、座繰り表面39を平面的に見て、同心円状に細長く形成された凸形状部41Fの配置例が示されている。図24のAには、座繰り表面39の平面的な構造が示されている。図24のBには、図24のAに示す破線に沿った座繰り表面39の断面的な構造の第1の例が示されており、図24のCには、図24のAに示す破線に沿った座繰り表面39の断面的な構造の第2の例が示されている。
図24に示すように、断面形状が略半円形の複数の凸形状部41Fが、座繰り表面39の中央を中心点として、同心円状に延在するように細長く形成され、同心円状に連続的に並べられて配置されるとともに、交互に凸形状部41Fの幅が異なりつつ、外側に向かうに従い一方の凸形状部41Fの幅が広くなる配置例を採用してもよい。なお、同心円状の中央に配置される凸形状部41Fは、その中心が凹となる形状(図24のB)、または、その中心が凸となる形状(図24のC)とすることができる。
図25には、座繰り表面39を平面的に見て、斜め方向に細長く形成された凸形状部41Gの配置例が示されている。図25のAには、座繰り表面39の平面的な構造が示されている。図25のBには、図25のAに示す破線に沿った座繰り表面39の断面的な構造の第1の例が示されており、図25のCには、図25のAに示す破線に沿った座繰り表面39の断面的な構造の第2の例が示されている。
図25に示すように、断面形状が略半円形の複数の凸形状部41Gが、座繰り表面39の中央を通る横軸を対称軸として、斜め方向に延在するように細長く横向きV字状に形成され、連続的に並べられて配置される配置例を採用してもよい。なお、座繰り表面39の一方の辺に配置される三角形状となる凸形状部41Gは、その辺の中心が凹となる形状(図25のB)、または、その辺の中心が凸となる形状(図25のC)とすることができる。
図26には、座繰り表面39を平面的に見て、斜め方向に細長く形成された凸形状部41Gの配置例が示されている。図26のAには、座繰り表面39の平面的な構造が示されている。図26のBには、図26のAに示す破線に沿った座繰り表面39の断面的な構造の第1の例が示されており、図26のCには、図26のAに示す破線に沿った座繰り表面39の断面的な構造の第2の例が示されている。
図26に示すように、断面形状が略半円形の複数の凸形状部41Gが、座繰り表面39の中央を通る縦軸および横軸を対称軸として、斜め方向に延在するように細長く菱形状に形成され、連続的に並べられて配置される配置例を採用してもよい。なお、座繰り表面39の中央に配置される矩形形状の凸形状部41Gは、その中心が凹となる形状(図26のB)、または、その中心が凸となる形状(図26のC)とすることができる。
図27には、座繰り表面39を平面的に見て、縦方向にジグザグ(Z字状に直線が何度も折れ曲がっている形態)に細長く形成された凸形状部41Hの配置例が示されている。図27のAには、座繰り表面39の平面的な構造が示されている。図27のBには、図27のAに示す破線に沿った座繰り表面39の断面的な構造の第1の例が示されており、図27のCには、図27のAに示す破線に沿った座繰り表面39の断面的な構造の第2の例が示されている。
図27に示すように、断面形状が略半円形の複数の凸形状部41Hが、縦方向にジグザグに細長く形成され、連続的に並べられて配置される配置例を採用してもよい。なお、座繰り表面39の一方の辺に配置される三角形状となる凸形状部41Hは、その辺の中心が凹となる形状(図27のB)、または、その辺の中心が凸となる形状(図27のC)とすることができる。
図28には、座繰り表面39を平面的に見て、縦方向に波型に細長く形成された凸形状部41Jの配置例が示されている。図28のAには、座繰り表面39の平面的な構造が示されている。図28のBには、図28のAに示す破線に沿った座繰り表面39の断面的な構造の第1の例が示されている。
図28に示すように、断面形状が略半円形の複数の凸形状部41Jが、縦方向に波型に細長く形成され、連続的に並べられて配置される配置例を採用してもよい。
以上のように、図6乃至図28に図示するような様々な形状の凸形状部41を適切に用いることにより、座繰り表面39で反射する光の反射率を抑制することができる。
なお、上述したような撮像素子12は、例えば、デジタルスチルカメラやデジタルビデオカメラなどの撮像システム、撮像機能を備えた携帯電話機、または、撮像機能を備えた他の機器といった各種の電子機器に適用することができる。
図29は、電子機器に搭載される撮像装置の構成例を示すブロック図である。
図29に示すように、撮像装置101は、光学系102、撮像素子103、信号処理回路104、モニタ105、およびメモリ106を備えて構成され、静止画像および動画像を撮像可能である。
光学系102は、1枚または複数枚のレンズを有して構成され、被写体からの像光(入射光)を撮像素子103に導き、撮像素子103の受光面(センサ部)に結像させる。
撮像素子103としては、上述した撮像素子12が適用される。撮像素子103には、光学系102を介して受光面に結像される像に応じて、一定期間、電子が蓄積される。そして、撮像素子103に蓄積された電子に応じた信号が信号処理回路104に供給される。
信号処理回路104は、撮像素子103から出力された画素信号に対して各種の信号処理を施す。信号処理回路104が信号処理を施すことにより得られた画像(画像データ)は、モニタ105に供給されて表示されたり、メモリ106に供給されて記憶(記録)されたりする。
このように構成されている撮像装置101では、上述した撮像素子12を適用することで、被写体への合焦精度を向上させることができ、確実にフォーカスの合った画像を撮像することができる。
図30は、上述のイメージセンサを使用する使用例を示す図である。
上述したイメージセンサは、例えば、以下のように、可視光や、赤外光、紫外光、X線等の光をセンシングする様々なケースに使用することができる。
・ディジタルカメラや、カメラ機能付きの携帯機器等の、鑑賞の用に供される画像を撮影する装置
・自動停止等の安全運転や、運転者の状態の認識等のために、自動車の前方や後方、周囲、車内等を撮影する車載用センサ、走行車両や道路を監視する監視カメラ、車両間等の測距を行う測距センサ等の、交通の用に供される装置
・ユーザのジェスチャを撮影して、そのジェスチャに従った機器操作を行うために、TVや、冷蔵庫、エアーコンディショナ等の家電に供される装置
・内視鏡や、赤外光の受光による血管撮影を行う装置等の、医療やヘルスケアの用に供される装置
・防犯用途の監視カメラや、人物認証用途のカメラ等の、セキュリティの用に供される装置
・肌を撮影する肌測定器や、頭皮を撮影するマイクロスコープ等の、美容の用に供される装置
・スポーツ用途等向けのアクションカメラやウェアラブルカメラ等の、スポーツの用に供される装置
・畑や作物の状態を監視するためのカメラ等の、農業の用に供される装置
・自動停止等の安全運転や、運転者の状態の認識等のために、自動車の前方や後方、周囲、車内等を撮影する車載用センサ、走行車両や道路を監視する監視カメラ、車両間等の測距を行う測距センサ等の、交通の用に供される装置
・ユーザのジェスチャを撮影して、そのジェスチャに従った機器操作を行うために、TVや、冷蔵庫、エアーコンディショナ等の家電に供される装置
・内視鏡や、赤外光の受光による血管撮影を行う装置等の、医療やヘルスケアの用に供される装置
・防犯用途の監視カメラや、人物認証用途のカメラ等の、セキュリティの用に供される装置
・肌を撮影する肌測定器や、頭皮を撮影するマイクロスコープ等の、美容の用に供される装置
・スポーツ用途等向けのアクションカメラやウェアラブルカメラ等の、スポーツの用に供される装置
・畑や作物の状態を監視するためのカメラ等の、農業の用に供される装置
なお、本技術は以下のような構成も取ることができる。
(1)
複数の画素が平面的に配置され、入射する光を受光して撮像を行う撮像領域と、
前記撮像領域よりも外側に設けられ、外部との接続に利用される接続部と、
前記撮像領域に対して光が入射する光入射面側から前記接続部まで開口する開口部と、
前記開口部の内部における前記接続部以外の表面であって、前記撮像領域、または、その撮像領域の周辺領域に設けられる有機物を含む層よりも低い位置において少なくとも前記光入射面側を向く表面となる座繰り表面に形成され、周期的に配置される複数の凸形状部と
を備える固体撮像素子。
(2)
前記開口部は、前記開口部となる全体の領域を浅く掘り込んだ形状の浅掘り部と、前記浅掘り部の一部において前記接続部に対応する領域を深く掘り込んだ形状の深掘り部とにより形成され、
前記凸形状部は、前記浅掘り部の表面となる前記座繰り表面に形成される
上記(1)に記載の固体撮像素子。
(3)
前記浅掘り部において前記凸形状部が形成される第1の膜と、前記撮像領域の前記画素においてフォトダイオードが形成される半導体基板との間に、前記第1の膜および前記半導体基板の間の屈折率の第2の膜が積層される
上記(1)または(2)に記載の固体撮像素子。
(4)
前記凸形状部は、前記撮像領域に設けられる有機膜よりも低い位置となる前記開口部の内部における前記座繰り表面に形成される
上記(1)から(3)までのいずれかに記載の固体撮像素子。
(5)
前記凸形状部は、その表面形状が球面または非球面の曲面となるように形成される
上記(1)から(4)までのいずれかに記載の固体撮像素子。
(6)
前記凸形状部が形成される前記座繰り表面よりも高い位置となる前記撮像領域に、前記画素ごとに光を集光するレンズが形成されるレンズ層が設けられる
上記(1)から(5)までのいずれかに記載の固体撮像素子。
(7)
複数の画素が平面的に配置され、入射する光を受光して撮像を行う撮像領域と、
前記撮像領域よりも外側に設けられ、外部との接続に利用される接続部と、
前記撮像領域に対して光が入射する光入射面側から前記接続部まで開口する開口部と、
前記開口部の内部における前記接続部以外の表面であって、前記撮像領域、または、その撮像領域の周辺領域に設けられる有機物を含む層よりも低い位置において少なくとも前記光入射面側を向く表面となる座繰り表面に形成され、周期的に配置される複数の凸形状部と
を備える固体撮像素子の製造方法であって、
前記開口部を掘り込む際に、前記凸形状部が形成される表面よりも高い位置となる前記撮像領域に設けられる前記画素ごとに光を集光するレンズが形成されるレンズ層に対するエッチングを行うことで、前記レンズの形状を転写することにより前記凸形状部を形成する
製造方法。
(8)
複数の画素が平面的に配置され、入射する光を受光して撮像を行う撮像領域と、
前記撮像領域よりも外側に設けられ、外部との接続に利用される接続部と、
前記撮像領域に対して光が入射する光入射面側から前記接続部まで開口する開口部と、
前記開口部の内部における前記接続部以外の表面であって、前記撮像領域、または、その撮像領域の周辺領域に設けられる有機物を含む層よりも低い位置において少なくとも前記光入射面側を向く表面となる座繰り表面に形成され、周期的に配置される複数の凸形状部と
を有する固体撮像素子を備える電子機器。
(1)
複数の画素が平面的に配置され、入射する光を受光して撮像を行う撮像領域と、
前記撮像領域よりも外側に設けられ、外部との接続に利用される接続部と、
前記撮像領域に対して光が入射する光入射面側から前記接続部まで開口する開口部と、
前記開口部の内部における前記接続部以外の表面であって、前記撮像領域、または、その撮像領域の周辺領域に設けられる有機物を含む層よりも低い位置において少なくとも前記光入射面側を向く表面となる座繰り表面に形成され、周期的に配置される複数の凸形状部と
を備える固体撮像素子。
(2)
前記開口部は、前記開口部となる全体の領域を浅く掘り込んだ形状の浅掘り部と、前記浅掘り部の一部において前記接続部に対応する領域を深く掘り込んだ形状の深掘り部とにより形成され、
前記凸形状部は、前記浅掘り部の表面となる前記座繰り表面に形成される
上記(1)に記載の固体撮像素子。
(3)
前記浅掘り部において前記凸形状部が形成される第1の膜と、前記撮像領域の前記画素においてフォトダイオードが形成される半導体基板との間に、前記第1の膜および前記半導体基板の間の屈折率の第2の膜が積層される
上記(1)または(2)に記載の固体撮像素子。
(4)
前記凸形状部は、前記撮像領域に設けられる有機膜よりも低い位置となる前記開口部の内部における前記座繰り表面に形成される
上記(1)から(3)までのいずれかに記載の固体撮像素子。
(5)
前記凸形状部は、その表面形状が球面または非球面の曲面となるように形成される
上記(1)から(4)までのいずれかに記載の固体撮像素子。
(6)
前記凸形状部が形成される前記座繰り表面よりも高い位置となる前記撮像領域に、前記画素ごとに光を集光するレンズが形成されるレンズ層が設けられる
上記(1)から(5)までのいずれかに記載の固体撮像素子。
(7)
複数の画素が平面的に配置され、入射する光を受光して撮像を行う撮像領域と、
前記撮像領域よりも外側に設けられ、外部との接続に利用される接続部と、
前記撮像領域に対して光が入射する光入射面側から前記接続部まで開口する開口部と、
前記開口部の内部における前記接続部以外の表面であって、前記撮像領域、または、その撮像領域の周辺領域に設けられる有機物を含む層よりも低い位置において少なくとも前記光入射面側を向く表面となる座繰り表面に形成され、周期的に配置される複数の凸形状部と
を備える固体撮像素子の製造方法であって、
前記開口部を掘り込む際に、前記凸形状部が形成される表面よりも高い位置となる前記撮像領域に設けられる前記画素ごとに光を集光するレンズが形成されるレンズ層に対するエッチングを行うことで、前記レンズの形状を転写することにより前記凸形状部を形成する
製造方法。
(8)
複数の画素が平面的に配置され、入射する光を受光して撮像を行う撮像領域と、
前記撮像領域よりも外側に設けられ、外部との接続に利用される接続部と、
前記撮像領域に対して光が入射する光入射面側から前記接続部まで開口する開口部と、
前記開口部の内部における前記接続部以外の表面であって、前記撮像領域、または、その撮像領域の周辺領域に設けられる有機物を含む層よりも低い位置において少なくとも前記光入射面側を向く表面となる座繰り表面に形成され、周期的に配置される複数の凸形状部と
を有する固体撮像素子を備える電子機器。
なお、本実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本開示の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
11 固体撮像素子パッケージ, 12 撮像素子, 13 インターポーザ基板, 14 フレーム, 15 保護ガラス, 16 画素, 17 フォトダイオード, 18 フィルタ, 19 オンチップレンズ, 21 撮像領域, 22 金属パッド, 23 金属パッド, 24 ボンディングワイヤ, 25 ワイヤボンディングボール, 31 配線層, 32 半導体基板, 33 積層構造膜, 34 パッド開口部, 35 浅掘り部, 36 深掘り部, 39 座繰り表面, 40 平坦面, 41 凸形状部, 42 レンズ
Claims (8)
- 複数の画素が平面的に配置され、入射する光を受光して撮像を行う撮像領域と、
前記撮像領域よりも外側に設けられ、外部との接続に利用される接続部と、
前記撮像領域に対して光が入射する光入射面側から前記接続部まで開口する開口部と、
前記開口部の内部における前記接続部以外の表面であって、前記撮像領域、または、その撮像領域の周辺領域に設けられる有機物を含む層よりも低い位置において少なくとも前記光入射面側を向く表面となる座繰り表面に形成され、周期的に配置される複数の凸形状部と
を備える固体撮像素子。 - 前記開口部は、前記開口部となる全体の領域を浅く掘り込んだ形状の浅掘り部と、前記浅掘り部の一部において前記接続部に対応する領域を深く掘り込んだ形状の深掘り部とにより形成され、
前記凸形状部は、前記浅掘り部の表面となる前記座繰り表面に形成される
請求項1に記載の固体撮像素子。 - 前記浅掘り部において前記凸形状部が形成される第1の膜と、前記撮像領域の前記画素においてフォトダイオードが形成される半導体基板との間に、前記第1の膜および前記半導体基板の間の屈折率の第2の膜が積層される
請求項2に記載の固体撮像素子。 - 前記凸形状部は、前記撮像領域に設けられる有機膜よりも低い位置となる前記開口部の内部における前記座繰り表面に形成される
請求項1に記載の固体撮像素子。 - 前記凸形状部は、その表面形状が球面または非球面の曲面となるように形成される
請求項1に記載の固体撮像素子。 - 前記凸形状部が形成される前記座繰り表面よりも高い位置となる前記撮像領域に、前記画素ごとに光を集光するレンズが形成されるレンズ層が設けられる
請求項1に記載の固体撮像素子。 - 複数の画素が平面的に配置され、入射する光を受光して撮像を行う撮像領域と、
前記撮像領域よりも外側に設けられ、外部との接続に利用される接続部と、
前記撮像領域に対して光が入射する光入射面側から前記接続部まで開口する開口部と、
前記開口部の内部における前記接続部以外の表面であって、前記撮像領域、または、その撮像領域の周辺領域に設けられる有機物を含む層よりも低い位置において少なくとも前記光入射面側を向く表面となる座繰り表面に形成され、周期的に配置される複数の凸形状部と
を備える固体撮像素子の製造方法であって、
前記開口部を掘り込む際に、前記凸形状部が形成される表面よりも高い位置となる前記撮像領域に設けられる前記画素ごとに光を集光するレンズが形成されるレンズ層に対するエッチングを行うことで、前記レンズの形状を転写することにより前記凸形状部を形成する
製造方法。 - 複数の画素が平面的に配置され、入射する光を受光して撮像を行う撮像領域と、
前記撮像領域よりも外側に設けられ、外部との接続に利用される接続部と、
前記撮像領域に対して光が入射する光入射面側から前記接続部まで開口する開口部と、
前記開口部の内部における前記接続部以外の表面であって、前記撮像領域、または、その撮像領域の周辺領域に設けられる有機物を含む層よりも低い位置において少なくとも前記光入射面側を向く表面となる座繰り表面に形成され、周期的に配置される複数の凸形状部と
を有する固体撮像素子を備える電子機器。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201780042207.7A CN109478555B (zh) | 2016-07-15 | 2017-06-30 | 固体摄像元件、制造方法以及电子装置 |
EP17827444.5A EP3486947A4 (en) | 2016-07-15 | 2017-06-30 | SEMICONDUCTOR IMAGING ELEMENT AND MANUFACTURING METHOD AND ELECTRONIC DEVICE |
US16/316,172 US11139329B2 (en) | 2016-07-15 | 2017-06-30 | Solid-state imaging element, manufacturing method, and electronic apparatus |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016-140380 | 2016-07-15 | ||
JP2016140380A JP2018011018A (ja) | 2016-07-15 | 2016-07-15 | 固体撮像素子および製造方法、並びに電子機器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
WO2018012314A1 true WO2018012314A1 (ja) | 2018-01-18 |
Family
ID=60952525
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/JP2017/024102 WO2018012314A1 (ja) | 2016-07-15 | 2017-06-30 | 固体撮像素子および製造方法、並びに電子機器 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11139329B2 (ja) |
EP (1) | EP3486947A4 (ja) |
JP (1) | JP2018011018A (ja) |
CN (1) | CN109478555B (ja) |
WO (1) | WO2018012314A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2023119939A1 (ja) * | 2021-12-22 | 2023-06-29 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 検出装置及び積層構造体 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019080017A (ja) | 2017-10-27 | 2019-05-23 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 撮像素子および撮像素子の製造方法、並びに、電子機器 |
WO2020090432A1 (ja) * | 2018-10-29 | 2020-05-07 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 撮像素子および撮像素子の製造方法 |
KR102593777B1 (ko) * | 2018-11-14 | 2023-10-26 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 이미지 센싱 장치 |
JP2021150473A (ja) * | 2020-03-19 | 2021-09-27 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 固体撮像装置及び電子機器 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005129952A (ja) * | 2003-10-24 | 2005-05-19 | Mangnachip Semiconductor Ltd | Cmosイメージセンサの製造方法 |
JP2009290229A (ja) * | 2009-08-28 | 2009-12-10 | Sony Corp | 裏面照射型固体撮像装置および裏面照射型固体撮像装置の製造方法 |
JP2010109137A (ja) * | 2008-10-30 | 2010-05-13 | Sony Corp | 半導体装置 |
US20120001286A1 (en) * | 2010-06-30 | 2012-01-05 | Junho Yoon | Image sensor and package including the image sensor |
JP2012084693A (ja) * | 2010-10-12 | 2012-04-26 | Sony Corp | 固体撮像装置、固体撮像装置の製造方法、及び電子機器 |
JP2014044989A (ja) * | 2012-08-24 | 2014-03-13 | Sony Corp | 半導体装置および電子機器 |
JP2015029011A (ja) * | 2013-07-30 | 2015-02-12 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置およびその製造方法、並びに電子機器 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000233453A (ja) * | 1999-02-17 | 2000-08-29 | Toshiba Corp | 光学部品の製造装置と製造方法、およびそれによるホログラム素子と光学ヘッドおよび光ディスク装置 |
JP4612255B2 (ja) * | 2001-10-19 | 2011-01-12 | セイコーエプソン株式会社 | ヘッドユニットおよび電子機器、並びに液晶表示装置の製造方法、有機el装置の製造方法、電子放出装置の製造方法、pdp装置の製造方法、電気泳動表示装置の製造方法、カラーフィルタの製造方法、有機elの製造方法、スペーサ形成方法、金属配線形成方法、レンズ形成方法、レジスト形成方法および光拡散体形成方法 |
US7119319B2 (en) * | 2004-04-08 | 2006-10-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Solid-state image sensing element and its design support method, and image sensing device |
US20080246152A1 (en) * | 2007-04-04 | 2008-10-09 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Semiconductor device with bonding pad |
JP2009016574A (ja) * | 2007-07-04 | 2009-01-22 | Panasonic Corp | 固体撮像装置およびその製造方法 |
CN100527431C (zh) * | 2007-08-30 | 2009-08-12 | 北京航空航天大学 | 太阳敏感器光电探测组件装配结构及安装方法 |
JP4609497B2 (ja) * | 2008-01-21 | 2011-01-12 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置とその製造方法、及びカメラ |
JP5446484B2 (ja) * | 2008-07-10 | 2014-03-19 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置とその製造方法および撮像装置 |
JP5185019B2 (ja) * | 2008-08-25 | 2013-04-17 | パナソニック株式会社 | 半導体装置及びそれを用いた電子機器 |
JP4798232B2 (ja) * | 2009-02-10 | 2011-10-19 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置とその製造方法、及び電子機器 |
US8247852B2 (en) * | 2009-11-17 | 2012-08-21 | Omnivision Technologies, Inc. | Backside illuminated imaging sensor with reinforced pad structure |
JP5644341B2 (ja) * | 2010-10-04 | 2014-12-24 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子、および、その製造方法、電子機器 |
JP5759148B2 (ja) * | 2010-11-17 | 2015-08-05 | シャープ株式会社 | レンズの製造方法および固体撮像素子の製造方法 |
JP2012174799A (ja) * | 2011-02-18 | 2012-09-10 | Sony Corp | 固体撮像装置および製造方法 |
JP2012175078A (ja) * | 2011-02-24 | 2012-09-10 | Sony Corp | 固体撮像装置、および、その製造方法、電子機器、半導体装置 |
CN106449676A (zh) * | 2011-07-19 | 2017-02-22 | 索尼公司 | 半导体装置和电子设备 |
JP6178561B2 (ja) * | 2012-11-15 | 2017-08-09 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置の製造方法 |
KR20160013916A (ko) * | 2013-05-23 | 2016-02-05 | 가부시키가이샤 니콘 | 기판 유지 방법 및 장치, 그리고 노광 방법 및 장치 |
JP6120075B2 (ja) * | 2013-07-19 | 2017-04-26 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置および固体撮像装置の製造方法。 |
US9513411B2 (en) * | 2014-07-31 | 2016-12-06 | Visera Technologies Company Limited | Double-lens structures and fabrication methods thereof |
-
2016
- 2016-07-15 JP JP2016140380A patent/JP2018011018A/ja active Pending
-
2017
- 2017-06-30 US US16/316,172 patent/US11139329B2/en active Active
- 2017-06-30 EP EP17827444.5A patent/EP3486947A4/en active Pending
- 2017-06-30 WO PCT/JP2017/024102 patent/WO2018012314A1/ja unknown
- 2017-06-30 CN CN201780042207.7A patent/CN109478555B/zh active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005129952A (ja) * | 2003-10-24 | 2005-05-19 | Mangnachip Semiconductor Ltd | Cmosイメージセンサの製造方法 |
JP2010109137A (ja) * | 2008-10-30 | 2010-05-13 | Sony Corp | 半導体装置 |
JP2009290229A (ja) * | 2009-08-28 | 2009-12-10 | Sony Corp | 裏面照射型固体撮像装置および裏面照射型固体撮像装置の製造方法 |
US20120001286A1 (en) * | 2010-06-30 | 2012-01-05 | Junho Yoon | Image sensor and package including the image sensor |
JP2012084693A (ja) * | 2010-10-12 | 2012-04-26 | Sony Corp | 固体撮像装置、固体撮像装置の製造方法、及び電子機器 |
JP2014044989A (ja) * | 2012-08-24 | 2014-03-13 | Sony Corp | 半導体装置および電子機器 |
JP2015029011A (ja) * | 2013-07-30 | 2015-02-12 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置およびその製造方法、並びに電子機器 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
See also references of EP3486947A4 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2023119939A1 (ja) * | 2021-12-22 | 2023-06-29 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 検出装置及び積層構造体 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20210183934A1 (en) | 2021-06-17 |
EP3486947A4 (en) | 2019-06-26 |
CN109478555A (zh) | 2019-03-15 |
EP3486947A1 (en) | 2019-05-22 |
US11139329B2 (en) | 2021-10-05 |
JP2018011018A (ja) | 2018-01-18 |
CN109478555B (zh) | 2023-03-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2018012314A1 (ja) | 固体撮像素子および製造方法、並びに電子機器 | |
US11437423B2 (en) | Image sensor, manufacturing method, and electronic device | |
WO2017014072A1 (ja) | 半導体装置およびその製造方法、並びに電子機器 | |
KR102455438B1 (ko) | 촬상 소자, 제조 방법, 및 전자 기기 | |
WO2017022450A1 (ja) | ピンホールカメラ、電子機器、および製造方法 | |
WO2018047665A1 (ja) | 固体撮像装置およびその製造方法、並びに、電子機器 | |
WO2016208403A1 (ja) | イメージセンサ、および電子機器 | |
WO2017061296A1 (ja) | 固体撮像素子パッケージおよび製造方法、並びに電子機器 | |
US20210375971A1 (en) | Sensor device, production method therefor, and electronic equipment | |
JPWO2017061273A1 (ja) | 撮像装置、製造方法 | |
US11315966B2 (en) | Solid-state imaging element, manufacturing method, and electronic apparatus | |
CN111295762B (zh) | 固态摄像元件、制造方法和电子设备 | |
WO2017104439A1 (ja) | 固体撮像装置および固体撮像装置の製造方法、並びに電子機器 | |
WO2017119317A1 (ja) | 固体撮像素子および製造方法、並びに電子機器 | |
WO2017169753A1 (ja) | 回路基板、半導体装置、撮像装置、固体撮像素子、および固体撮像素子の製造方法、並びに電子機器 | |
US20240297192A1 (en) | Solid-state image capturing device and manufacturing method, as well as electronic device | |
TWI850257B (zh) | 感測器元件及製造方法以及電子機器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 17827444 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |
|
ENP | Entry into the national phase |
Ref document number: 2017827444 Country of ref document: EP Effective date: 20190215 |