WO2016159239A1 - 吸着装置及び真空処理装置 - Google Patents

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main body
electrodes
suction
conductive film
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前平　謙
不破　耕
智洋 早坂
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株式会社アルバック
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Definitions

  • the present invention relates to an adsorption device that adsorbs and holds a substrate in a vacuum, and more particularly, to a technology of an adsorption device that adsorbs and holds a substrate having an insulating film on the back surface and an insulating substrate.
  • electrostatic adsorption devices have been widely used in sputtering devices and the like in order to precisely control the temperature of a substrate.
  • an adsorption device that adsorbs and holds an insulating substrate by a gradient force is widely used.
  • a method of increasing the adsorption voltage to increase the adsorption force is used.
  • the adsorption force is increased in order to reduce the thermal resistance at the contact portion (interface) between the substrate and the adsorption surface.
  • the adhesion (contact area) at the contact portion is increased.
  • the surface of the substrate or the suction surface of the suction device is polished. As a result, dust due to wear increases, so that it is necessary to reduce the suction force at the contact portion.
  • a technique for reducing the residual adsorption force after completion of the adsorption has conventionally been performed by a relative decrease in the in-plane adsorption force, such as simply reducing the adsorption area or reducing the applied voltage.
  • a relative decrease in the in-plane adsorption force such as simply reducing the adsorption area or reducing the applied voltage.
  • the heat transfer capability between the substrate and the adsorption device is reduced, the original adsorption capability cannot be exhibited to the maximum extent.
  • the back surface of the substrate or the surface of the suction device may be peeled off due to the suction force at the contact portion with the substrate, reducing the suction force at the contact portion and reducing wear and peeling along with the uniformity of the suction force. It was desired.
  • the present invention has been made to solve the above-described problems of the prior art, and the object of the present invention is to reduce the adsorption force on the surface in contact with the object to be adsorbed to reduce the dust during adsorption and separation of the object to be adsorbed.
  • the present invention is to provide a technique capable of controlling the generation of such a phenomenon and controlling the suction force of the suction device to be uniform as a whole and to partially reduce the suction force.
  • the other object of this invention is to provide the technique which can reduce the thermal resistance between an adsorption
  • the present invention which has been made to solve the above-mentioned problems, has a main body having a pair of suction electrodes of a plurality of opposite polarities for sucking and holding an object to be sucked in a dielectric, and And an adsorption device having a plurality of conductive films arranged on the adsorption side portion of the main body so as to straddle the anode and cathode of the plurality of pairs of adsorption electrodes.
  • the plurality of conductive films are arranged so that the areas shielding the electric field generated by the pair of adsorption electrodes are equal to each other with respect to the anode and the cathode of the pair of adsorption electrodes It is also effective.
  • the said main-body part has a convex contact support part which is provided in the surface of the adsorption
  • the present invention is also effective when the contact support portion is integrally formed of the same material as the main body portion. In this invention, it has a sheet
  • the present invention includes a vacuum chamber and any one of the above-described adsorption devices provided in the vacuum chamber, and performs a predetermined process on an adsorption target object adsorbed and held by the adsorption device. It is the vacuum processing apparatus comprised.
  • a main body having a plurality of opposite polarity adsorption electrodes for adsorbing and holding an object to be adsorbed in a dielectric, Since the portion has a plurality of conductive films arranged so as to straddle the anode and cathode of a plurality of pairs of adsorption electrodes, the electric field generated between the anode and cathode of the plurality of pairs of adsorption electrodes has a plurality of conductivity.
  • Each film is shielded in the region of the film, and each conductive film itself does not generate a potential to be charged, so that no adsorption force is generated in each of the plurality of conductive films on the adsorption side of the main body.
  • the present invention it is possible to suppress the occurrence of separation of the adsorption object and the surface of the adsorption device due to friction or the like at the contact portion with the adsorption object, thereby preventing the generation of dust.
  • the life of the adsorption device itself can be extended.
  • the suction force of the suction device can be controlled to be uniform in each region, and the distribution state of the suction force within the suction surface can be controlled and adjusted.
  • the adsorption force by the pair of adsorption electrodes is controlled to be reduced. Accordingly, it is possible to avoid and prevent the occurrence of a short circuit between each pair of adsorption electrodes.
  • the suction force when the plurality of conductive films are arranged so that the areas shielding the electric field generated by the pair of adsorption electrodes are equal for the anodes and cathodes of the plurality of pairs of adsorption electrodes, respectively. Further, it is possible to control the suction force to be more uniform in the region where the plurality of pairs of suction electrodes are arranged in the main body of the suction device. Furthermore, by arranging the area on the adsorption electrode of the plurality of conductive films straddling the anode and the cathode of the plurality of pairs of adsorption electrodes with a distribution on the surface of the main body, the adsorption force and as a result The resulting residual adsorption force can also be controlled.
  • the main body portion has a convex contact support portion that is provided on the surface of the adsorption side and supports the object to be adsorbed, and straddles both the anode and the cathode of the adsorption electrode of the main body portion described above.
  • the conductive film is disposed only in the region of the contact support portion, it is possible to prevent the suction force from being generated in the contact support portion. Frictional resistance due to heat, etc.
  • the thermal resistance between the adsorption device and the object to be adsorbed can be reduced by using a heat conducting means such as.
  • the contact support portion is integrally formed of the same material as the main body portion, the manufacturing process can be simplified, and when the contact support portion is manufactured by bonding because it is by integral molding. In comparison, mechanical strength such as rigidity can be increased.
  • the contact support part has a sheet with a conductive film in which a conductive film is provided inside an insulating sheet, the sheet with a conductive film is disposed on the surface of the main body, and further, the anode and the cathode of the adsorption electrode of the main body
  • the contact support part is formed so as to straddle both of them and is configured to be detachable with respect to the main body part, it is possible to easily replace the conductive film, thereby maintaining maintenance. It is possible to provide a versatile adsorption device that is easy and can handle various adsorption objects.
  • any one of the above suction devices provided in the vacuum chamber, and a vacuum processing device configured to perform a predetermined process on an object to be sucked and held by the suction device Accordingly, it is possible to provide a vacuum processing apparatus capable of high-quality vacuum processing.
  • the schematic block diagram of the sputtering device which is one Embodiment of the vacuum processing apparatus which concerns on this invention (A): Schematic configuration diagram showing a cross section of a full-surface adsorption type adsorption apparatus (b): Equivalent circuit diagram showing the principle of substrate adsorption (A) (b): schematically shows a configuration example of an adsorption device according to the present invention, FIG. 3 (a) is a sectional configuration diagram, and FIG. 3 (b) is a plan configuration diagram.
  • Cross-sectional configuration diagram schematically showing another configuration example of the adsorption device according to the present invention (A) (b): Cross-sectional configuration diagram schematically showing another configuration example of the adsorption device according to the present invention (A) (b): Cross-sectional configuration diagram schematically showing another configuration example of the adsorption device according to the present invention
  • FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a sputtering apparatus which is an embodiment of a vacuum processing apparatus according to the present invention.
  • reference numeral 2 denotes a vacuum chamber of the sputtering apparatus 1 of the present embodiment.
  • the vacuum chamber 2 is connected to a vacuum exhaust system (not shown) and is configured to introduce a sputtering gas.
  • a target 3 that is a film forming source is disposed in the upper part of the vacuum chamber 2.
  • the target 3 is connected to a sputtering power source 4 so that a negative bias voltage is applied.
  • the positive side of the sputtering power source 4 is grounded together with the vacuum chamber 2.
  • an adsorption device 5 for adsorbing and holding the substrate (adsorption object) 10 is provided.
  • This adsorption device 5 is of a bipolar type, and a plurality (two in this embodiment) of a pair of adsorption electrodes 11 and 12 are provided in a main body portion 50 made of a dielectric material such as various ceramics. Electric power is supplied to the adsorption electrodes 11 and 12 from an adsorption power source 20 provided outside the vacuum chamber 2 via current introduction terminals 13 and 14, respectively. Note that ammeters 21 and 22 capable of measuring minute currents are connected between the current introduction terminals 13 and 14 and the suction power source 20.
  • an elevating mechanism 15 is provided for placing the substrate 10 on the suction device 5 or detaching it from the suction device 5.
  • a computer 23 for controlling the entire apparatus is provided outside the vacuum chamber 2, and the computer 23 includes a drive unit 16 that drives the lifting mechanism 15, ammeters 21 and 22, an adsorption power source 20, and the like. Connected to the sputter power supply 4.
  • the computer 23 includes an A / D conversion board and the like, and is connected to a means (not shown) for recording current, such as a pen recorder.
  • FIG. 2A is a schematic configuration diagram showing a cross section of a full surface adsorption type adsorption apparatus.
  • the suction device by applying a predetermined voltage V between the suction power source 120 and the substrate 110 to the suction electrode 111 provided in the suction device 105 made of a dielectric, the suction device. As a result, the suction surface 150 and the back surface 110a of the suction device 105 are restrained by the Coulomb force, and the substrate 110 is held on the suction surface 150. Is done.
  • the Johnson Rabeck force is relatively larger than the Coulomb force.
  • the Coulomb force and the Johnson Rahbek force depend on the volume resistivity of the dielectric, and the Johnson Rabeck force is dominant in the low resistivity (1 ⁇ 10 12 ⁇ ⁇ cm or less) range. It is also known that the Coulomb force becomes dominant in the range of 1 ⁇ 10 13 ⁇ ⁇ cm or more.
  • FIG. 3 (a) and 3 (b) schematically show a configuration example of the adsorption device according to the present invention
  • FIG. 3 (a) is a sectional configuration diagram
  • FIG. 3 (b) is a plan configuration diagram. .
  • the adsorption device 5 of this configuration example is of a bipolar type, and a pair of adsorption electrodes 11 (anodes 11a) are disposed inside a body portion 50 made of a dielectric material, for example, a rectangular plate. , Cathode 11b) and a pair of adsorption electrodes 12 (anode 12a, cathode 12b).
  • the pair of suction electrodes 11 and 12 are connected to suction power sources 20A and 20B and 20C and 20D having different polarities, respectively.
  • These adsorption power supplies 20A, 20B and 20C, 20D are configured to be independently controllable.
  • the pair of adsorption electrodes 11 (anode 11a and cathode 11b) and the pair of adsorption electrodes 12 (anode 12a and cathode 12b) are equivalent in size.
  • the adsorption device 5 includes an anode 11 a and a cathode 11 b of the pair of adsorption electrodes 11, and an anode 12 a of the pair of adsorption electrodes 12 on the adsorption side portion of the main body 50 with respect to the pair of adsorption electrodes 11 and 12.
  • a conductive film 51 disposed so as to straddle the cathode 12b.
  • each conductive film 51 is formed in a rectangular shape, and the periphery thereof is covered with an insulating protection part 52 to form a block-shaped conductive film unit 53a (see FIG. 3A). ).
  • a plurality of conductive film units 53 a are provided, and a plurality of conductive film units 53 a are arranged on the surface 50 a of the main body 50 in the longitudinal direction with respect to the pair of adsorption electrodes 11, 12.
  • the contact support portion 53 is provided.
  • substrate 10 is arrange
  • the conductive film 51 is a pair of adsorption electrodes from the viewpoint of generating an electric field without bias between the opposite polarity electrodes of the pair of adsorption electrodes 11 and 12.
  • 11 anode 11a and cathode 11b, and anode 12a and cathode 12b of the pair of adsorption electrodes 12 are arranged so that the areas shielding the electric field generated by the pair of adsorption electrodes 11 and 12 are equal. It is preferable.
  • the conductive film 51 overlaps the anode 11a and the cathode 11b of the pair of adsorption electrodes 11 and the anode 12a and the cathode 12b of the pair of adsorption electrodes 12 at the same distance and in the adsorption direction. It is preferable to arrange and arrange so that the areas have the same size.
  • the above-described insulating protection part 52 does not have to be provided, it is preferably provided from the viewpoint of preventing metal contamination on the substrate 10 to be adsorbed and protecting the conductive film 51.
  • the conductive film 51 is made of a high melting point metal such as titanium (Ti), tantalum (Ta), niobium (Nb), titanium nitride (TiN), tantalum nitride (TaN), or a metal nitride. Can be used.
  • a high melting point metal such as titanium (Ti), tantalum (Ta), niobium (Nb), titanium nitride (TiN), tantalum nitride (TaN), or a metal nitride.
  • Ti titanium
  • Ta tantalum
  • Nb niobium
  • TiN titanium nitride
  • TaN tantalum nitride
  • aN tantalum nitride
  • the material of the conductive film 51 has a melting point equal to or higher than the sintering temperature of the main body 50 and a volume resistivity of 1 ⁇ . It is preferable to use a material of 10 10 ⁇ ⁇ cm or less.
  • the conductive film 51 can be formed by a film formation process such as PVD, CVD, or vapor deposition. Moreover, a commercially available sheet-like thing can also be used.
  • the anode 11a and the cathode 11b of the pair of adsorption electrodes 11 are disposed on the adsorption side portion of the main body 50 with respect to the two pairs of adsorption electrodes 11 and 12.
  • the plurality of conductive films 51 are disposed so as to straddle the anode 12a and the cathode 12b of the pair of adsorption electrodes 12, the anode 11a and the cathode 11b of the pair of adsorption electrodes 11 and the pair of The electric field generated between the anode 12a and the cathode 12b of the adsorption electrode 12 is shielded in the region of the conductive film 51, and the conductive film 51 itself does not generate a potential. No adsorption force is generated in the portions of the plurality of conductive films 51 on the adsorption side of 50.
  • the suction force of the suction device 5 can be controlled to be uniform, and the distribution state of the suction force within the suction surface can be controlled and adjusted. While the conveyance error of the board
  • the conductive film 51 is generated by the pair of adsorption electrodes 11 and 12 for the anode 11 a and the cathode 11 b of the pair of adsorption electrodes 11 and the anode 12 a and the cathode 12 b of the pair of adsorption electrodes 12. Since the areas for shielding the electric field are arranged to be equal to each other, the suction force is controlled to be uniform in the region where the pair of suction electrodes 11 and 12 are disposed in the main body 50 of the suction device 5. be able to.
  • the conductive film 51 is disposed only in the contact support portion 53 that supports the substrate 10 of the main body portion 50, so that no adsorption force is generated in the contact support portion 53.
  • This can reduce the frictional resistance caused by heat or the like at the contact portion between the main body 50 and the substrate 10, and further increase the adsorption force at the non-contact portion between the main body 50 and the substrate 10.
  • the thermal resistance between the entire adsorption device 5 and the substrate 10 can be lowered by using heat conduction means such as gas assist without reducing the adsorption force of the entire adsorption device 5.
  • FIG. 4 is a cross-sectional configuration diagram schematically showing another configuration example of the adsorption device according to the present invention.
  • the same reference numerals are given to portions corresponding to the above configuration example, and detailed description thereof will be omitted.
  • the suction device 5 ⁇ / b> A of this configuration example has a convex shape by a convex portion 50 b that is integrally formed of the same material as the main body portion 50 on the surface 50 a of the main body portion 50 of the suction device 5 described above.
  • a plurality of contact support portions 53 are provided, and the conductive film 51 described above is provided in the contact support portions 53.
  • the tops of the contact support portions 53 of the main body 50 are formed flat and have the same height with respect to the surface 50 a of the main body 50. Further, each conductive film 51 is disposed so as to straddle the anode 11a and the cathode 11b of the pair of adsorption electrodes 11 and the anode 12a and the cathode 12b of the pair of adsorption electrodes 12. And the board
  • the conductive film 51 is disposed only in the contact support portion 53 of the main body portion 50, it is possible to prevent an adsorption force from being generated in the contact support portion 53.
  • Friction resistance caused by heat or the like at the contact portion between the main body portion 50 and the substrate 10 can be lowered, and furthermore, the suction force is increased at the non-contact portion between the main body portion 50 and the substrate 10, so
  • the heat resistance between the entire adsorbing device 5A and the substrate 10 can be lowered by using a heat conduction means such as gas assist without reducing the adsorbing power. Since other configurations and operational effects are the same as those in the above-described configuration example, detailed description thereof will be omitted.
  • FIGS. 5A and 5B are cross-sectional configuration diagrams schematically showing another configuration example of the adsorption device according to the present invention.
  • the same reference numerals are given to portions corresponding to the above configuration example, and detailed description thereof will be omitted.
  • the adsorption device 5B of this configuration example corresponds to the size and shape of the conductive film 51 described above on the surface 50a of the main body 50 of the adsorption device 5 described above.
  • a plurality of recesses 50c having a size and a shape are formed.
  • the recesses 50c of the main body 50 are provided so as to straddle the anode 11a and the cathode 11b of the pair of adsorption electrodes 11 and the anode 12a and the cathode 12b of the pair of adsorption electrodes 12.
  • each conductive film 51 when the conductive film 51 is disposed in each recess 50c of the main body 50, each conductive film 51 has the anode 11a and the cathode 11b of the pair of adsorption electrodes 11, and the pair of The adsorption electrode 12 straddles the anode 12a and the cathode 12b.
  • the surface of the conductive film 51 is covered with, for example, a sheet-like protective film 58. It is preferable to cover and thereby provide the contact support portion 53 on the surface 50 a of the main body portion 50.
  • the conductive film 51 is disposed in the recess 50c provided in the surface 50a of the main body 50 of the adsorption device 5B. Simplification of the process can be achieved.
  • the conductive film 51 is disposed only below the protective film 58 provided on the main body 50, that is, in the region of the contact support portion 53. Therefore, it is possible to reduce the frictional resistance caused by heat or the like at the contact portion between the main body portion 50 and the substrate 10, and further, the non-contact portion between the main body portion 50 and the substrate 10 is attracted.
  • heat conduction means such as gas assist without reducing the adsorption force of the entire adsorption device 5B. Since other configurations and operational effects are the same as those in the above-described configuration example, detailed description thereof will be omitted.
  • 6 (a) and 6 (b) are cross-sectional configuration diagrams schematically showing another configuration example of the adsorption device according to the present invention.
  • the same reference numerals are given to portions corresponding to the above configuration example, and detailed description thereof will be omitted.
  • the suction device 5C of this configuration example includes an insulating sheet 55 (having the above-described conductive film 51 on the surface 50a of the main body 50 of the suction device 5 described above. Hereinafter referred to as “sheet with conductive film”).
  • the conductive film 51 is provided with the conductive film 51 described above on a sheet base material 56 made of resin, for example, and the conductive film 51 is covered with a protective sheet 57 made of resin, for example.
  • seat 55 with an electroconductive film is provided with the some electroconductive film 51 on the sheet
  • the contact support portion 53 is formed.
  • each electroconductive film 51 is the anode 11a and the cathode 11b of a pair of adsorption electrode 11, and the anode of a pair of adsorption electrode 12 It arrange
  • the sheet 55 with the conductive film of this configuration example is configured to be detachable so as to be adhered to the surface 50 a of the main body 50 by an adhesive and to be peeled from the surface 50 a of the main body 50.
  • the conductive film 51 can be easily replaced because the sheet 55 with the conductive film is detachable from the surface 50a of the main body 50. Therefore, it is possible to provide a versatile adsorption device that is easy to maintain and can handle various objects to be adsorbed.
  • the contact support portion 53 It is possible to prevent the generation of an adsorption force, thereby reducing the frictional resistance caused by heat at the contact portion between the main body portion 50 and the substrate 10, and further, the non-contact between the main body portion 50 and the substrate 10.
  • the thermal resistance between the entire adsorption apparatus 5C and the substrate 10 is reduced by using heat conduction means such as gas assist without reducing the adsorption power of the entire adsorption apparatus 5C. Can do. Since other configurations and operational effects are the same as those in the above-described configuration example, detailed description thereof will be omitted.
  • the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various changes can be made.
  • the shape and number of the adsorption electrodes 11 and 12, the conductive film 51, and the contact support portion 53 described in the above embodiment are merely examples, and various modifications can be made as long as they do not exceed the scope of the present invention.
  • the present invention can be applied not only to sputtering apparatuses but also to various vacuum processing apparatuses such as vapor deposition apparatuses and etching apparatuses.

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Abstract

　本発明は、吸着対象物と接触する面における吸着力を低減させて吸着対象物の吸着及び剥離時のダストの発生を抑制するとともに、吸着装置の吸着力を均一となるように制御可能な技術を提供するものである。本発明の吸着装置は、誘電体中に基板１０を吸着保持するための逆極性の一対の吸着電極１１、１２を有する本体部５０と、一対の吸着電極１１、１２に対して本体部５０の吸着側の部分に、一対の吸着電極１１の陽極１１ａと陰極１１ｂ、並びに、一対の吸着電極１２の陽極１２ａと陰極１２ｂを跨ぐようにそれぞれ配置された導電性膜５１とを有する。

Description

吸着装置及び真空処理装置
　本発明は、真空中で基板を吸着保持する吸着装置に関し、特に、裏面に絶縁性の膜を有する基板ならびに絶縁性の基板を吸着保持する吸着装置の技術に関する。
　従来より、スパッタリング装置などでは基板の温度制御を精密に行うために静電吸着装置が広く用いられている。真空中でガラス等の絶縁性基板上に成膜等の処理を行う装置においては、グラディエント力によって絶縁性基板を吸着保持する吸着装置が広く用いられている。また裏面に絶縁性の膜を有する基板を静電吸着する場合には、吸着電圧を高くして吸着力を強くする方法などが取られている。
　従来、この種の吸着装置では、その吸着面における接触により基板裏面あるいは吸着装置の吸着面の材料の剥離が発生し、ダストの発生によるプロセス不良が生じていた。
　このため、製造工程における歩留まりの低下といったような装置の信頼性を低くする要因となっていた。
　また、従来技術においては、基板と吸着面との接触部分（界面）における熱抵抗を下げるために吸着力を増大することが行われているが、その場合、接触部分での密着性(接触面積)を確保するため、基板表面あるいは吸着装置の吸着面が研磨されており、その結果、摩耗によるダストが増大するため、接触部分における吸着力を低下させることが必要となっていた。
　他方、吸着装置全体としては基板との熱抵抗を下げる必要があり、接触部分では吸着力を低下させながら、非接触部分では吸着力を上げて、ガスによるアシスト等の熱伝導により熱抵抗を下げる手法が必要となっていた。
　さらに吸着終了後における残留吸着力の低減技術は、従来、単純に吸着面積を小さくすること、あるいは印加電圧を低減させるといったような、面内吸着力の相対的な低下により行われていた。
　しかし、このような方法では、基板と吸着装置との間の熱伝達能力が低下するため、本来の吸着能力を最大限発揮することができていなかった。
　また、装置のスループット時間短縮等から残留吸着残存による搬送エラー、あるいは基板ごとの歩留まりといった問題が生じ、吸着装置の均一な吸着力制御が望まれていた。
　さらには、基板との接触部分での吸着力により、基板裏面あるいは吸着装置表面の剥離が発生し、吸着力の均一性とともに、接触部分での吸着力を低減し摩耗、剥離を抑制することが望まれていた。
　その一方で、吸着力を均一にしようとすると、複数の吸着電極のうち一部の吸着電極間においてショートが発生する場合があり、このような事態を回避するため、一部の吸着電極における吸着力を低減可能にすることも望まれていた。
特許第４３４２６９１号
　本発明は、上記従来技術の課題を解決するためになされたもので、その目的とするところは、吸着対象物と接触する面における吸着力を低減させて吸着対象物の吸着及び剥離時のダストの発生を抑制するとともに、吸着装置の吸着力を全体として均一となるように、また部分的に吸着力を低減するように制御可能な技術を提供することにある。
　また、本発明の他の目的は、吸着装置全体として吸着装置と吸着対象物との間の熱抵抗を下げることができる技術を提供することにある。
　上記課題を解決するためになされた本発明は、誘電体中に吸着対象物を吸着保持するための複数の逆極性の一対の吸着電極を有する本体部と、前記複数の一対の吸着電極に対して前記本体部の吸着側の部分に、前記複数の一対の吸着電極の陽極と陰極を跨ぐように配置された複数の導電性膜とを有する吸着装置である。
　本発明では、前記複数の導電性膜が、前記複数の一対の吸着電極の陽極と陰極について、当該一対の吸着電極によって発生する電界を遮蔽する面積がそれぞれ均等になるように配置されている場合にも効果的である。
　本発明では、前記本体部が、その吸着側の表面に設けられ前記吸着対象物と接触して支持する凸状の接触支持部を有し、前記導電性膜が、当該接触支持部の領域にのみ配置されている場合にも効果的である。
　本発明では、前記接触支持部が、前記本体部と同一の材料で一体的に形成されている場合にも効果的である。
　本発明では、前記導電性膜を絶縁性のシート内部に設けた導電性膜付きシートを有し、当該導電性膜付きシートは、前記本体部の表面に配置した場合に前記接触支持部を有するように形成され、かつ、前記本体部に対して着脱自在に構成されている場合にも効果的である。
　一方、本発明は、真空槽と、前記真空槽内に設けられた上記いずれかの吸着装置とを有し、前記吸着装置によって吸着保持された吸着対象物に対して所定の処理を行うように構成されている真空処理装置である。
　本発明の吸着装置では、誘電体中に吸着対象物を吸着保持するための複数の逆極性の一対の吸着電極を有する本体部と、複数の一対の吸着電極に対して本体部の吸着側の部分に、複数の一対の吸着電極の陽極と陰極を跨ぐように配置された複数の導電性膜とを有することから、複数の一対の吸着電極の陽極と陰極間において生ずる電界が複数の導電性膜の領域においてそれぞれ遮蔽されるとともに、各導電性膜自体が電位を帯びる状況を発生させない状態になり、これにより本体部の吸着側の複数の導電性膜の部分においてそれぞれ吸着力が発生しなくなる。
　その結果、本発明によれば、吸着対象物との接触部分において摩擦等に起因する吸着対象物及び吸着装置表面の剥離の発生を抑制することができ、その結果、ダストの発生を防止するとともに、吸着装置自体の寿命を伸ばすことができる。
　また、本発明によれば、吸着装置の吸着力を各領域において均一となるように制御することができるし、また吸着面内での吸着力の分布状態を制御して調整することもできるので、吸着対象物の搬送エラーを防止することができるとともに、歩留まりの低下を回避することができる。
　さらに、本発明によれば、複数の一対の吸着電極のうち一部の一対の吸着電極間にショートが発生した場合であっても、その一対の吸着電極による吸着力を低減させるように制御することによって、各一対の吸着電極間におけるショートの発生を回避及び防止することができる。
　本発明において、複数の導電性膜が、複数の一対の吸着電極の陽極と陰極について、当該一対の吸着電極によって発生する電界を遮蔽する面積がそれぞれ均等になるように配置されている場合には、吸着装置の本体部における複数の一対の吸着電極を配置した領域においてより吸着力が均一となるように制御することができる。さらには、複数の一対の吸着電極の陽極と陰極とに跨がる複数の導電性膜の吸着電極上の面積を、本体部表面に分布をもたせて配置することで、吸着力とその結果として生じる残留吸着力を制御することもできる。
　本発明において、本体部が、その吸着側の表面に設けられ吸着対象物と接触して支持する凸状の接触支持部を有し、上述した本体部の吸着電極の陽極と陰極の両者に跨がる導電性膜が、接触支持部の領域にのみ配置されている場合には、接触支持部において吸着力を発生させないようにすることができるので、本体部と吸着対象物との接触部分における熱などに起因する摩擦抵抗を下げることができ、さらに、本体部と吸着対象物との非接触部分では吸着力を上げることにより、吸着装置全体としての吸着力を低下させることなく、ガスによるアシスト等の熱伝導手段を用いることにより、吸着装置と吸着対象物との間の熱抵抗を下げることができる。
　この場合、接触支持部が、本体部と同一の材料で一体的に形成されていれば、製造工程の簡素化を図ることができるとともに、一体成型によるものであるため貼り合せによって製造する場合に比べて剛性など機械的強度を高くすることができる。
　さらにまた、導電性膜を絶縁性のシート内部に設けた導電性膜付きシートを有し、当該導電性膜付きシートが、本体部の表面に配置され、さらに本体部の吸着電極の陽極と陰極の両者に跨がるように接触支持部が形成され、かつ、本体部に対して着脱自在に構成されている場合には、導電性膜の交換を容易に行うことができ、これによりメンテナンスが容易で、かつ、種々の吸着対象物に対応可能な汎用性の広い吸着装置を提供することができる。
　加えて、真空槽内に設けられた上記いずれかの吸着装置とを有し、この吸着装置によって吸着保持された吸着対象物に対して所定の処理を行うように構成されている真空処理装置によれば、高品位の真空処理が可能な真空処理装置を提供することができる。
本発明に係る真空処理装置の一実施の形態であるスパッタリング装置の概略構成図 （ａ）：全面吸着型の吸着装置の断面を示す概略構成図（ｂ）：基板吸着の原理を示す等価回路図 （ａ）（ｂ）：本発明に係る吸着装置の構成例を模式的に示すもので、図３（ａ）は、断面構成図、図３（ｂ）は、平面構成図 本発明に係る吸着装置の他の構成例を模式的に示す断面構成図 （ａ）（ｂ）：本発明に係る吸着装置の他の構成例を模式的に示す断面構成図 （ａ）（ｂ）：本発明に係る吸着装置の他の構成例を模式的に示す断面構成図
　以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
　図１は、本発明に係る真空処理装置の一実施の形態であるスパッタリング装置の概略構成図である。
　図１において、符号２は本実施の形態のスパッタリング装置１の真空槽を示すもので、この真空槽２は、図示しない真空排気系に接続され、スパッタガスを導入するように構成されている。
　真空槽２内の上部には、成膜源であるターゲット３が配置されている。
　このターゲット３は、スパッタ電源４に接続され、負のバイアス電圧が印加されるようになっている。なお、スパッタ電源４のプラス側は真空槽２とともにアースされている。
　真空槽２内には、基板（吸着対象物）１０を吸着保持するための吸着装置５が設けられている。
　この吸着装置５は双極型のもので、種々のセラミックス等の誘電体からなる本体部５０中に複数（本実施の形態では二つ）の一対の吸着電極１１、１２が設けられており、これら吸着電極１１、１２に、真空槽２の外側に設けた吸着電源２０から電流導入端子１３、１４を介してそれぞれ電力を供給するように構成されている。
　なお、各電流導入端子１３、１４と吸着電源２０との間には、微小な電流を測定可能な電流計２１、２２が接続されている。
　一方、真空槽２の底部には、基板１０を吸着装置５上に載せ又は吸着装置５から離脱させるための昇降機構１５が設けられている。
　また、真空槽２の外部には、装置全体を制御するためのコンピュータ２３が設けられ、このコンピュータ２３は、上述した昇降機構１５を駆動する駆動部１６、電流計２１、２２、吸着電源２０及びスパッタ電源４に接続されている。
　なお、このコンピュータ２３はＡ／Ｄ変換ボード等を備え、また例えばペンレコーダ等の電流を記録するための手段（図示せず）に接続されている。
　以下、本発明の原理について説明する。
　図２（ａ）は、全面吸着型の吸着装置の断面を示す概略構成図である。
　図２（ａ）に示すように、誘電体からなる吸着装置１０５内に設けられた吸着電極１１１に対し、吸着電源１２０から基板１１０との間に所定の電圧Ｖを印加することにより、吸着装置１０５の吸着面１５０と基板１１０の裏面１１０ａにおいて逆極性の電荷が発生し、その結果、吸着装置１０５の吸着面１５０と裏面１１０ａとがクーロン力によって拘束され、基板１１０が吸着面１５０上に保持される。
　ここで、基板吸着の原理を示す等価回路図を図２（ｂ）に示す。
　吸着力Ｆを算出するには、まず、クーロン力Ｆｃについて考える。この場合、吸着装置１０５の誘電体層の誘電率ε、印加電圧Ｖ、誘電体層の距離ｄ、基板１１０及び吸着装置１０５の帯電部分の面積Ｓとすると、次式が成り立つ。
　　　　　　      Ｆｃ＝１／２・ε・Ｓ（Ｖ／ｄ）2
　実際の吸着装置では、誘電体を容量としたクーロン力Ｆｃと、基板と吸着電極間の微少域にわずかの電流が流れることにより生じるジョンソンラーベック力Ｆｊｒが積算される。その結果、吸着装置と基板間に働く吸着力Ｆは、次式で表される。
　　　　　　　　　Ｆ＝Ｆｃ＋Ｆｊｒ
　一般に、クーロン力よりジョンソンラーベック力の方が相対的に大きいことが知られている。
　また、クーロン力とジョンソンラーベック力は、誘電体の体積抵抗率に依存し、低抵抗率（１×１０12Ω・ｃｍ以下）の範囲でジョンソンラーベック力が支配的となり、高抵抗率（１×１０13Ω・ｃｍ以上）の範囲ではクーロン力が支配的となることも知られている。
　ところで、基板と吸着装置の界面において吸着力を制御する方法として、吸着面に薄膜導電体を形成し、基板と吸着装置間における誘電分極現象を遮断することは可能である。
　ただし、上述したジョンソンラーベック力を利用する吸着装置の場合において、基板が酸化膜等の時など、誘電体をわずかに流れる電流により、薄膜導電体自体に電荷が移行し、基板吸着面の酸化膜を誘電体として、チャック力が発生し、結果として吸着力が低下しない場合も発生する。
　本発明は、かかる知見に基づいてなされたものである。
　図３（ａ）（ｂ）は、本発明に係る吸着装置の構成例を模式的に示すもので、図３（ａ）は、断面構成図、図３（ｂ）は、平面構成図である。
　図３（ａ）に示すように、本構成例の吸着装置５は、双極型のものであり、誘電体からなる例えば矩形プレート状の本体部５０の内部に、一対の吸着電極１１（陽極１１ａ，陰極１１ｂ）と、一対の吸着電極１２（陽極１２ａ，陰極１２ｂ）が設けられて構成されている。
　ここで、一対の吸着電極１１、１２は、極性の異なる吸着電源２０Ａ，２０Ｂ及び２０Ｃ，２０Ｄにそれぞれ接続されている。これら吸着電源２０Ａ，２０Ｂ及び２０Ｃ，２０Ｄは、それぞれ独立して制御できるように構成されている。
　図３（ｂ）に示すように、本構成例の場合、これら一対の吸着電極１１（陽極１１ａ，陰極１１ｂ）、並びに、一対の吸着電極１２（陽極１２ａ，陰極１２ｂ）は、それぞれ同等の大きさの長方形形状に形成され、それぞれ所定の間隔をおいて並べて配置されている。
　ここで、吸着装置５は、一対の吸着電極１１、１２に対して本体部５０の吸着側の部分に、一対の吸着電極１１の陽極１１ａと陰極１１ｂ、並びに、一対の吸着電極１２の陽極１２ａと陰極１２ｂを跨ぐように配置された導電性膜５１を有している。
　本構成例では、各導電性膜５１は矩形形状に形成され、その周囲が絶縁性の保護部５２によって覆われてブロック状の導電性膜ユニット５３ａが構成されている（図３（ａ）参照）。
　導電性膜ユニット５３ａは複数個設けられ、本体部５０の表面５０ａに、一対の吸着電極１１、１２に対してその長手方向にそれぞれ複数個配置され、これにより本体部５０の表面５０ａに凸状の接触支持部５３が設けられている。
　そして、これら本体部５０の接触支持部５３上に基板１０が配置されるようになっている。すなわち、本構成例では、基板１０は、接触支持部５３の頂部に接触して支持される。
　また、本発明の場合、特に限定されることはないが、一対の吸着電極１１、１２の逆極性の電極間において偏りなく電界を発生させる観点からは、導電性膜５１が、一対の吸着電極１１の陽極１１ａと陰極１１ｂ、並びに、一対の吸着電極１２の陽極１２ａと陰極１２ｂについて、当該一対の吸着電極１１、１２によって発生する電界を遮蔽する面積がそれぞれ均等になるように配置されていることが好ましい。具体的には、一対の吸着電極１１の陽極１１ａと陰極１１ｂ、並びに、一対の吸着電極１２の陽極１２ａと陰極１２ｂに対し、導電性膜５１を、同等の距離で、かつ、吸着方向に関して重なる面積が同等の大きさとなるように配置構成することが好ましい。
　なお、上述した絶縁性の保護部５２は設けなくてもよいが、吸着すべき基板１０への金属汚染の防止、導電性膜５１の保護の観点からは設けることが好ましい。
　本発明の場合、導電性膜５１の材料としては、チタン（Ｔｉ）、タンタル（Ｔａ）、ニオブ（Ｎｂ）、窒化チタン（ＴｉＮ）、窒化タンタル（ＴａＮ）等の高融点の金属や金属窒化物を用いることができる。それ以外にも、いわゆる金属であれば問題ないが、金属に限らず１×１０3Ω・ｃｍ以下の抵抗率をもつ材料であれば、本発明に用いることができる。
　本発明の場合、特に限定されることはないが、本体部５０が焼結体であって、導電性膜５１を本体部５０と共に焼成させる場合には、製造工程において溶融せず、かつ、一対の吸着電極１１、１２によって発生する電界を確実に中和する観点からは、導電性膜５１の材料として、本体部５０の焼結温度以上の融点のもので、かつ、体積抵抗率が１×１０10Ω・ｃｍ以下の材料を用いることが好ましい。
　なお、導電性膜５１は、例えばＰＶＤ、ＣＶＤ、蒸着等の成膜プロセスによって作成することができる。また、市販のシート状のものを用いることもできる。
　以上述べたように本構成例の吸着装置５によれば、二つの一対の吸着電極１１、１２に対して本体部５０の吸着側の部分に、一対の吸着電極１１の陽極１１ａと陰極１１ｂ、並びに、一対の吸着電極１２の陽極１２ａと陰極１２ｂを跨ぐように配置された複数の導電性膜５１を有していることから、一対の吸着電極１１の陽極１１ａと陰極１１ｂ、並びに、一対の吸着電極１２の陽極１２ａと陰極１２ｂの間において生ずる電界が導電性膜５１の領域においてそれぞれ遮蔽されるとともに、各導電性膜５１自体が電位を帯びる状況を発生させない状態になり、これにより本体部５０の吸着側の複数の導電性膜５１の部分においてそれぞれ吸着力が発生しなくなる。
　その結果、本構成例によれば、基板１０との接触部分において摩擦等に起因する基板１０並びに吸着装置５の本体部５０の表面５０ａの剥離の発生を抑制することができ、その結果、ダストの発生を防止するとともに、吸着装置５自体の寿命を伸ばすことができる。
　また、本構成例によれば、吸着装置５の吸着力を均一となるように制御することができるし、また吸着面内での吸着力の分布状態を制御して調整することもできるので、基板１０の搬送エラーを防止することができるとともに、歩留まりの低下を回避することができる。
　さらに、本構成例によれば、二つの一対の吸着電極１１、１２のうちの一部にショートが発生した場合であっても、一対の吸着電極１１又は１２による吸着力を低減させるように制御することによって、一対の吸着電極１１又は１２間におけるショートの発生を回避及び防止することができる。
　特に本構成例では、導電性膜５１が、一対の吸着電極１１の陽極１１ａと陰極１１ｂ、並びに、一対の吸着電極１２の陽極１２ａと陰極１２ｂについて、当該一対の吸着電極１１、１２によって発生する電界を遮蔽する面積がそれぞれ均等になるように配置されていることから、吸着装置５の本体部５０における一対の吸着電極１１、１２を配置した領域においてそれぞれ吸着力が均一となるように制御することができる。
　さらに、本構成例においては、本体部５０の基板１０を支持する接触支持部５３内にのみ導電性膜５１を配置するようにしたことから、接触支持部５３において吸着力を発生させないようにすることができ、これにより本体部５０と基板１０との接触部分における熱などに起因する摩擦抵抗を下げることができ、さらに、本体部５０と基板１０との非接触部分では吸着力を上げることにより、吸着装置５全体としての吸着力を低下させることなく、ガスによるアシスト等の熱伝導手段を用いて吸着装置５全体と基板１０との間の熱抵抗を下げることができる。
　図４は、本発明に係る吸着装置の他の構成例を模式的に示す断面構成図である。以下、上記構成例と対応する部分については同一の符合を付しその詳細な説明を省略する。
　図４に示すように、本構成例の吸着装置５Ａは、上述した吸着装置５の本体部５０の表面５０ａに、本体部５０と同一の材料で一体的に形成された凸部５０ｂによって凸状の接触支持部５３が複数設けられ、これら接触支持部５３内に上述した導電性膜５１が設けられている。
　ここで、本体部５０の接触支持部５３は、その頂部が平坦に形成されるとともに、本体部５０の表面５０ａに対してそれぞれ同等の高さを有している。
　また、各導電性膜５１は、一対の吸着電極１１の陽極１１ａと陰極１１ｂ、並びに、一対の吸着電極１２の陽極１２ａと陰極１２ｂを跨ぐように配置されている。
　そして、これら本体部５０の接触支持部５３上に基板１０が配置されるようになっている。すなわち、基板１０は、本体部５０の凸状の接触支持部５３の頂部に接触して支持される。
　このような構成を有する本構成例によれば、上述した効果に加え、吸着装置５の本体部５０の表面５０ａに、本体部５０と同一の材料で一体的に形成された凸状の接触支持部５３が複数設けられ、これら接触支持部５３内に上述した導電性膜５１が設けられていることから、製造工程の簡素化を図ることができる。また本構成例は一体成型によるものであるため貼り合せによって製造する場合に比べて剛性など機械的強度を高くすることができる。
　さらに、本構成例においては、本体部５０の接触支持部５３内にのみ導電性膜５１を配置するようにしたことから、接触支持部５３において吸着力を発生させないようにすることができるので、本体部５０と基板１０との接触部分における熱などに起因する摩擦抵抗を下げることができ、さらに、本体部５０と基板１０との非接触部分では吸着力を上げることにより、吸着装置５Ａ全体としての吸着力を低下させることなく、ガスによるアシスト等の熱伝導手段を用いて吸着装置５Ａ全体と基板１０との間の熱抵抗を下げることができる。
　その他の構成及び作用効果については上述した構成例と同一であるのでその詳細な説明は省略する。
　図５（ａ）（ｂ）は、本発明に係る吸着装置の他の構成例を模式的に示す断面構成図である。以下、上記構成例と対応する部分については同一の符合を付しその詳細な説明を省略する。
　図５（ａ）（ｂ）に示すように、本構成例の吸着装置５Ｂは、上述した吸着装置５の本体部５０の表面５０ａに、上述した導電性膜５１の大きさ及び形状に対応する大きさ及び形状を有する複数の凹部５０ｃが形成されている。
　これら本体部５０の凹部５０ｃは、一対の吸着電極１１の陽極１１ａと陰極１１ｂ、並びに、一対の吸着電極１２の陽極１２ａと陰極１２ｂを跨ぐように設けられている。
　そして、このような構成により、導電性膜５１を本体部５０の各凹部５０ｃ内に配置した場合に、各導電性膜５１が、一対の吸着電極１１の陽極１１ａと陰極１１ｂ、並びに、一対の吸着電極１２の陽極１２ａと陰極１２ｂを跨ぐようになっている。
　また、本構成例では、導電性膜５１を本体部５０の各凹部５０ｃ内に配置した後に、図５（ｂ）に示すように、例えばシート状の保護膜５８によって導電性膜５１の表面を覆い、これにより本体部５０の表面５０ａに接触支持部５３を設けることが好ましい。
　このような構成を有する本構成例によれば、上述した効果に加え、吸着装置５Ｂの本体部５０の表面５０ａに設けた凹部５０ｃ内に導電性膜５１を配置するようにしたことから、製造工程の簡素化を図ることができる。
　さらに、本構成例においては、本体部５０上に設けた保護膜５８の下方即ち接触支持部５３の領域にのみ導電性膜５１を配置するようにしたことから、接触支持部５３において吸着力を発生させないようにすることができ、これにより本体部５０と基板１０との接触部分における熱などに起因する摩擦抵抗を下げることができ、さらに、本体部５０と基板１０との非接触部分では吸着力を上げることにより、吸着装置５Ｂ全体としての吸着力を低下させることなく、ガスによるアシスト等の熱伝導手段を用いて吸着装置５Ｂ全体と基板１０との間の熱抵抗を下げることができる。
　その他の構成及び作用効果については上述した構成例と同一であるのでその詳細な説明は省略する。
　図６（ａ）（ｂ）は、本発明に係る吸着装置の他の構成例を模式的に示す断面構成図である。以下、上記構成例と対応する部分については同一の符合を付しその詳細な説明を省略する。
　図６（ａ）（ｂ）に示すように、本構成例の吸着装置５Ｃは、上述した吸着装置５の本体部５０の表面５０ａに、上述した導電性膜５１を有する絶縁性のシート５５（以下「導電性膜付きシート」という。）が設けられているものである。
　この導電性膜付きシート５５は、例えば樹脂からなるシート基材５６上に上述した導電性膜５１が設けられ、さらに、例えば樹脂からなる保護シート５７によって導電性膜５１が覆われている。
　ここで、導電性膜付きシート５５は、本体部５０の表面５０ａと同等の大きさを有するシート基材５６上に複数の導電性膜５１が設けられ、これにより本体部５０の表面５０ａに配置した場合に上述した接触支持部５３となるように形成されている。
　また、導電性膜付きシート５５は、本体部５０の表面５０ａに配置した場合に、各導電性膜５１が、一対の吸着電極１１の陽極１１ａと陰極１１ｂ、並びに、一対の吸着電極１２の陽極１２ａと陰極１２ｂを跨ぐように配置されるようになっている。
　さらに、本構成例の導電性膜付きシート５５は、接着剤によって本体部５０の表面５０ａに対して接着され、かつ、本体部５０の表面５０ａから剥離できるように着脱自在に構成されている。
　このような構成を有する本構成例によれば、上述した効果に加え、本体部５０の表面５０ａに対して着脱自在の導電性膜付きシート５５を有することから、導電性膜５１の交換を容易に行うことができ、これによりメンテナンスが容易で、かつ、種々の吸着対象物に対応可能な汎用性の広い吸着装置を提供することができる。
　さらに、本構成例においては、本体部５０上に設けた導電性膜付きシート５５によって構成される接触支持部５３内にのみ導電性膜５１を配置するようにしたことから、接触支持部５３において吸着力を発生させないようにすることができ、これにより本体部５０と基板１０との接触部分における熱などに起因する摩擦抵抗を下げることができ、さらに、本体部５０と基板１０との非接触部分では吸着力を上げることにより、吸着装置５Ｃ全体としての吸着力を低下させることなく、ガスによるアシスト等の熱伝導手段を用いて吸着装置５Ｃ全体と基板１０との間の熱抵抗を下げることができる。
　その他の構成及び作用効果については上述した構成例と同一であるのでその詳細な説明は省略する。
　なお、本発明は上述した実施の形態に限られず、種々の変更を行うことができる。
　例えば、上記実施の形態に記載した吸着電極１１、１２、導電性膜５１、接触支持部５３の形状及び数は一例であり、本発明の範囲を超えない限り、種々の変更を行うことができる。
　さらに、本発明はスパッタリング装置のみならず、例えば蒸着装置やエッチング装置等の種々の真空処理装置に適用することができる。
　１…スパッタリング装置（真空処理装置）
　２…真空槽
　３…ターゲット
　４…スパッタ電源
　５…吸着装置
１０…基板（吸着対象物）
１１、１２…吸着電極
１１ａ、１２ａ…陽極
１１ｂ、１２ｂ…陰極
２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ、２０Ｄ…吸着電源
５０…本体部
５０ａ…表面
５１…導電性膜
５２…保護部
５３…接触支持部
 

Claims (6)

  1. 　誘電体中に吸着対象物を吸着保持するための複数の逆極性の一対の吸着電極を有する本体部と、
    　前記複数の一対の吸着電極に対して前記本体部の吸着側の部分に、前記複数の一対の吸着電極の陽極と陰極を跨ぐように配置された複数の導電性膜とを有する吸着装置。
  2. 　前記複数の導電性膜が、前記複数の一対の吸着電極の陽極と陰極について、当該一対の吸着電極によって発生する電界を遮蔽する面積がそれぞれ均等になるように配置されている請求項１記載の吸着装置。
  3. 　前記本体部が、その吸着側の表面に設けられ前記吸着対象物と接触して支持する凸状の接触支持部を有し、前記導電性膜が、当該接触支持部の領域にのみ配置されている請求項１又は２のいずれか１項記載の吸着装置。
  4. 　前記接触支持部が、前記本体部と同一の材料で一体的に形成されている請求項３記載の吸着装置。
  5. 　前記導電性膜を絶縁性のシート内部に設けた導電性膜付きシートを有し、当該導電性膜付きシートは、前記本体部の表面に配置した場合に前記接触支持部を有するように形成され、かつ、前記本体部に対して着脱自在に構成されている請求項３記載の吸着装置。
  6. 　真空槽と、
    　前記真空槽内に設けられた吸着装置とを備え、
    　前記吸着装置は、誘電体中に吸着対象物を吸着保持するための複数の逆極性の一対の吸着電極を有する本体部と、前記複数の一対の吸着電極に対して前記本体部の吸着側の部分に、前記複数の一対の吸着電極の陽極と陰極を跨ぐように配置された複数の導電性膜とを有し、
    　前記吸着装置によって吸着保持された吸着対象物に対して所定の処理を行うように構成されている真空処理装置。 
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