WO2016067377A1 - 放熱構造 - Google Patents

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heat
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heat dissipation
connector
semiconductor module
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康亮 池田
雄司 森永
理 松嵜
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新電元工業株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to a heat dissipation structure.
  • a heat dissipation structure using a heat sink is known as a heat dissipation structure for a heat generating component such as an electronic component (see Patent Document 1).
  • a heat sink including a base portion and a plurality of heat dissipating fins standing on the first surface of the base portion is used. All the heat generating components to be cooled are arranged on the second surface opposite to the first surface of the base portion. The heat of the heat generating component is transmitted to the heat radiating fin via the base portion, and is radiated to the outside from the heat radiating fin.
  • An object of one embodiment of the present invention is to provide a heat dissipation structure that can obtain high heat dissipation while reducing electrical resistance.
  • a heat dissipation structure includes a heat sink having a base portion and a plurality of heat dissipating fins erected on the first surface of the base portion, and on the first surface side of the base portion.
  • a first heat-generating component that is in contact with at least one of the plurality of heat dissipating fins, and is joined to a second surface opposite to the first surface of the base portion;
  • a circuit board electrically connected to the one heat generating component; a second heat generating component provided on the circuit board and having a smaller heat generation amount than the first heat generating component; the first heat generating component;
  • a connector for electrically connecting a second heat-generating component, and the connector includes a first insertion port into which a first connection terminal on the first heat-generating component side is inserted, and the first A second insertion port into which the second connection terminal on the second heat generating component side is inserted; A.
  • the first heat generating component can be disposed on the first surface side of the base portion and brought into contact with the heat radiating fins to efficiently dissipate heat.
  • a heat dissipation structure with high heat dissipation can be obtained while reducing electrical resistance.
  • FIG. 1 It is sectional drawing which shows an example of the thermal radiation structure which concerns on embodiment of this invention. It is the top view which looked at the thermal radiation structure shown in FIG. 1 from the 1st surface side. It is sectional drawing which expands and shows the semiconductor module shown in FIG. It is a cross-sectional schematic diagram of the semiconductor module provided with mold resin. It is a cross-sectional schematic diagram of a semiconductor module provided with an insulating film. It is sectional drawing which shows an example of the connection structure of a connector. It is sectional drawing which shows the other example of the connection structure of a connector. It is the perspective view which looked at the heat sink in which the some connector was provided previously from the 2nd surface side.
  • the thermal radiation structure 1 which is one Embodiment of this invention is demonstrated.
  • the heat dissipation structure 1 includes a heat sink 2, a plurality of semiconductor modules (first heat generating components) 3, a circuit board 4, and a plurality of electronic components (second heat generating components) 5.
  • the heat generated by the semiconductor module 3 and the electronic component 5 is radiated by the heat sink 2.
  • the heat sink 2 is made of a material having high thermal conductivity such as Cu or Al.
  • the heat sink 2 has a base portion 6 and a plurality of heat radiation fins 7A and 7B.
  • the base part 6 is formed in a rectangular flat plate shape.
  • Each of the heat radiating fins 7A and 7B is formed in a rectangular flat plate shape, and is erected vertically with respect to the first surface 6a of the base portion 6.
  • the plurality of radiating fins 7A and 7B are located between the both ends of the base portion 6 in the longitudinal direction (left-right direction in FIG. 2) and the both ends thereof, and are arranged side by side with a space therebetween. ing.
  • Each of the radiating fins 7A and 7B is erected between both end portions of the base portion 6 in the short direction (vertical direction in FIG. 2).
  • two heat radiation fins 7A are disposed at positions along both longitudinal ends of the base portion 6, and two heat radiation fins 7B are provided between the two heat radiation fins 7A.
  • the semiconductor module 3 is arrange
  • Insertion grooves 8 are provided in the heat radiation fins 7B.
  • the insertion groove 8 holds the semiconductor module 3 so that the semiconductor module 3 can be inserted from an insertion port 8a provided on the front end side of the heat radiation fin 7B.
  • the insertion groove 8 is cut out at a depth sufficient to insert the semiconductor module 3 perpendicularly to the first surface 6a with a certain width from the front end side of the radiating fin 7B.
  • the radiating fin 7B is divided into two fin portions 7a and 7b by the insertion groove 8.
  • the heat radiating fin 7B is provided with a lid member 9 (not shown in FIG. 2) that closes the insertion port 8a.
  • the lid member 9 is attached so as to close the insertion port 8 a in a state where the semiconductor module 3 is inserted into the insertion groove 8.
  • the attachment structure of the cover material 9 it is not necessarily limited to such a structure, It shall be set as the structure where the cover material 9 was attached so that the radiation fin 7B might be inserted
  • the semiconductor module 3 includes a first substrate 10, a first semiconductor element 11, a connector 12, a second semiconductor element 13, and a second substrate 14. , And are laminated in order.
  • the first and second substrates 10 and 14 are ceramic substrates, and ceramic plates (insulating plates) 15 and 16, and Cu layers (conductive layers) 17 provided on both surfaces of the ceramic plates 15 and 16, 18. Further, the Cu layers 17 and 18 on the side of the first substrate 10 and the second substrate 14 facing each other form circuit patterns 17 a and 18 a of the semiconductor module 3.
  • the first and second substrates 10 and 14 are not limited to ceramic substrates but may be aluminum substrates, for example.
  • the aluminum substrate has a structure in which a Cu layer is provided on both surfaces of an aluminum plate via an insulating layer.
  • the first and second semiconductor elements 11 and 13 are power devices such as power diodes and power transistors that generate a relatively large amount of heat during operation.
  • the first semiconductor element 11 and the second semiconductor element 13 are respectively mounted on the mutually opposing surface sides of the first substrate 10 and the second substrate 14, so that the circuit patterns 17 a and 18 a Electrically connected.
  • the connector 12 is made of a conductive material such as Cu, for example.
  • the connector 12 has a first connection part 12a, a second connection part 12b, and a connecting part 12c.
  • the 1st connection part 12a is a part which electrically connects the 1st semiconductor element 11 and the 2nd semiconductor element 13, and the 2nd connection part 12b is electrically connected with one circuit pattern 17a.
  • the connecting portion 12c is a portion that connects the first connecting portion 12a and the second connecting portion 12b.
  • the first connection portion 12a is formed in a columnar shape with a thickness sufficient to maintain the distance between the first substrate 10 and the second substrate 14. Both end portions of the first connection portion 12a are joined to the first semiconductor element 11 and the second semiconductor element 13 through a conductive adhesive (not shown) such as solder.
  • the second connecting portion 12b is formed in a plate shape and joined to one circuit pattern 17a via a conductive adhesive (not shown) such as solder.
  • the connecting portion 12c is formed in a long plate shape with a length sufficient to connect the first connecting portion 12a and the second connecting portion 12b.
  • One end side of the connecting portion 12c is integrally connected to the side surface of the first connecting portion 12a.
  • the other end side of the connecting portion 12c is bent toward the second connecting portion 12b and connected integrally with the second connecting portion 12b.
  • a spacer 19 is disposed between the first substrate 10 and the second substrate 14.
  • the spacer 19 holds the distance between the first substrate 10 and the second substrate 14 together with the first connection portion 12a.
  • the spacer 19 is disposed as a circuit component of the semiconductor module 3 in a state of being sandwiched between the circuit patterns 17a and 18a. Examples of the circuit component include a wiring part, a resistor, and a capacitor.
  • the circuit board 4 and the plurality of electronic components 5 shown in FIGS. 1 and 2 constitute a control unit 30 that controls the driving of the semiconductor module 3.
  • the circuit board 4 is joined to the second surface 6b opposite to the first surface 6a of the heat sink 2 (base portion 6).
  • the plurality of electronic components 5 are mounted on the circuit board 4.
  • Each electronic component 5 is a heat generating component that generates less heat than each semiconductor module 3.
  • the connector 20 includes first insertion ports 22a and 22b into which the first connection terminals 21a and 21b on the semiconductor module 3 side are inserted, and a second insertion into which the second connection terminal 23 on the electronic component 5 side is inserted. And a mouth 24.
  • the first connection terminals 21a and 21b on the semiconductor module 3 side are connected to the circuit patterns 17a and 18a, respectively.
  • the heat sink 2 is provided with an insertion hole 25 for holding the connector 20 so that the connector 20 can be inserted.
  • the heat sink 2 is provided with first through holes 26a and 26b that allow the first connection terminals 21a and 21b on the semiconductor module 3 side to pass therethrough.
  • the first through holes 26 a and 26 b are formed from the bottom surface of the insertion groove 8 toward the insertion hole 25.
  • the heat sink 2 and the circuit board 4 are provided with a second through hole 27 through which the second connection terminal 23 on the electronic component 5 side passes.
  • the second through hole 27 is formed from the surface on which the electronic component 5 of the circuit board 4 is mounted toward the insertion hole 25.
  • the first connection terminals 21 a and 21 b and the second connection terminal 23 are electrically insulated from the first through holes 26 a and 26 b and the second through hole 27.
  • the semiconductor module 3 is in contact with the heat dissipation fins 7 ⁇ / b> B in a state where the semiconductor module 3 is inserted into the insertion groove 8.
  • the heat generated by the semiconductor module 3 is transmitted from the first and second substrates 10 and 14 in contact with the inner wall surface of the insertion groove 8, that is, the fin portions 7a and 7b, to the radiation fins 7B, and is radiated to the outside.
  • the heat generated by the plurality of electronic components 5 is transferred from the circuit board 4 to the heat radiation fins 7A and 7B via the base portion 6, and is radiated to the outside.
  • the heat generated by the semiconductor module 3 is directly transmitted to the heat radiating fins 7 ⁇ / b> B without passing through the base portion 6, so that the heat transmission path is shortened and the heat dissipation performance of the semiconductor module 3 is improved.
  • the semiconductor module 3 is disposed on the second surface 6b of the base portion 6 as in the related art by disposing the semiconductor module 3 in contact with the heat dissipation fins 7B. Compared with the case where it does, it is possible to obtain high heat dissipation.
  • the semiconductor module 3 is arranged on the second surface 6b of the base portion 6 as in the prior art by arranging the semiconductor module 3 in a state inserted into the insertion groove 8. Compared to, it is possible to reduce the size. Furthermore, by bringing the first and second substrates 10 and 14 of the semiconductor module 3 into contact with the fin portions 7a and 7b, it is possible to efficiently dissipate heat from the semiconductor module 3.
  • the semiconductor module 3 disposed on the first surface 6a side of the base portion 6 and the electronic component 5 disposed on the second surface 6b side of the base portion 6 are connectors. 20 is electrically connected. Thereby, since the semiconductor module 3 and the electronic component 5 can be connected with a short distance, it is possible to reduce electrical resistance and power loss.
  • an insulating film 29 that covers the mutually opposing surfaces of the first substrate 10 and the second substrate 14 is provided instead of the mold resin 28.
  • an insulating material having high thermal conductivity such as ceramic is used.
  • the heat dissipation structure 1 of the present embodiment it is possible to ensure insulation and protect particles by inserting the semiconductor module 3 provided with such an insulating film 29 into the insertion groove 8. Furthermore, when the insulating film 29 is provided, not only the heat dissipation from the semiconductor module 3 is improved by reducing the thickness of the insulating film 29, but also the generation of cracks due to the difference in linear expansion coefficient can be suppressed. Moreover, since the process for sealing with the mold resin 28 can be omitted, the manufacturing process can be simplified.
  • this invention is not necessarily limited to the thing of the said embodiment, A various change can be added in the range which does not deviate from the meaning of this invention.
  • the connection structure of the connector 20 that connects the semiconductor module 3 and the electronic component 5 described above can be changed.
  • connection structure of the connector 31 shown in FIG. 5A is provided with an insertion groove 32 for holding the connector 31 from the second surface 6b side of the base portion 6 in place of the insertion hole 25. It is a configuration.
  • a through hole 33 is provided between the bottom surface of the insertion groove 32 and the bottom surface of the insertion groove 8.
  • the connector 31 includes a first insertion port 35 into which the first connection terminal 34 on the semiconductor module 3 side is inserted, and a second insertion port 37 into which a plurality of second connection terminals 36 on the electronic component 5 side are inserted. And a protrusion 38 fitted into the through-hole 33.
  • the circuit board 4 is provided with a through hole 39 through which the plurality of second connection terminals 36 penetrate.
  • connection structure of the connector 40 shown in FIG. 5B has an insertion groove 41 that holds the connector 40 and the semiconductor module 3 so that they can be inserted from the first surface 6 a side of the base portion 6 instead of the insertion hole 25.
  • the insertion groove 41 is provided with a through hole 42.
  • the connector 40 includes a first insertion port 44 into which the first connection terminal 43 on the semiconductor module 3 side is inserted, a second insertion port 46 into which the second connection terminal 45 on the electronic component 5 side is inserted, And a projection 47 fitted into the through hole 42.
  • connection structure of the connector 31 shown in FIG. 5A or the connection structure of the connector 40 shown in FIG. 5B can be adopted.
  • each connector 50 has a first insertion port 52 on the first surface 6 a of the base portion 6 and a second insertion port 53 on the second surface 6 b of the base portion 6.
  • the connection terminal of the semiconductor module 3 inserted between them can be inserted into the first insertion port 52, and the connection terminal of the electronic component 5 can be inserted into the second insertion port 53.
  • the arrangement and number of the plurality of connectors 50 can be arbitrarily changed. Further, the connector 50 may be slidably attached to the heat sink 51. In the case of this configuration, the position of the connector 50 can be moved.
  • the semiconductor module 3 may be configured to be in contact with at least one of the plurality of heat radiation fins 7A and 7B. Therefore, for example, as shown in FIG. 7A, the semiconductor module 3 is sandwiched between adjacent radiating fins 7, or the semiconductor module 3 is in contact with one side surface of the radiating fin 7 as shown in FIG. 7B. It is also possible. Further, the semiconductor module 3 is not limited to the configuration in which the semiconductor module 3 is disposed so as to be opposed to each other with the heat radiation fins 7 interposed therebetween, but may be configured to be shifted in arrangement with the heat radiation fins 7 interposed therebetween as illustrated in FIG. 7C. is there.
  • the first heat generating component of the present invention is not necessarily limited to the semiconductor module 3 described above, and it is possible to appropriately change the position, number, etc. of the arrangement.
  • the insertion groove 8 can be appropriately changed according to the size of the first heat generating component. Therefore, the plurality of radiating fins 7 may be provided with insertion grooves 8 having different depths and widths according to the size of each first heat-generating component.
  • the present invention is not limited to the configuration in which the lid member 9 that closes the insertion port of the insertion groove 8 described above is provided, and a difference that holds the semiconductor module 3 so as to be inserted like the insertion hole 25 described above. It is good also as a structure provided with the penetration hole.
  • a tapered portion 8b may be provided in the insertion port 8a.
  • the insertion groove 8 is not limited to the above-described shape having a certain width.
  • a shape in which the width gradually decreases toward the distal end portion in the depth direction (so-called wedge shape)
  • the semiconductor module 3 inserted into the insertion groove 8 does not easily come out by adopting a shape in which the width gradually decreases toward the center in the depth direction (so-called drum shape).
  • a structure is also possible.
  • the heat dissipation can be enhanced by the semiconductor module 3 being in close contact with the fin portions 7a and 7b during heat dissipation expansion.
  • second connection terminal 24 ... second insertion port 25 ... insertion hole 26a, 26b ... first through hole 27 ... second through hole 28 ... mold resin 29 ... insulating film 30 ... control unit 31 ... connector 32 Insertion groove 33 ... through hole 34 ... first connection terminal 35 ... first insertion port 36 ... second connection terminal 37 ... second insertion port 38 ... projection 39 ... through hole 40 ... connector 41 ... Insertion groove 42 ... through hole 43 ... first connection terminal 44 ... first insertion port 45 ... second connection terminal 46 ... second insertion port 47 ... projection 50 ... connector 51 ... heat sink 52 ... first First outlet 53 ... Second outlet

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Abstract

本発明により、電気抵抗を低減しながら、高い放熱性が得られる放熱構造が提供される。ベース部(6)と、ベース部(6)の第一の面(6a)に立設された複数の放熱フィン(7)と、を有するヒートシンク(2)と、ベース部(6)の第一の面(6a)側に設けられ、複数の放熱フィン(7)のうちの少なくとも1つの放熱フィン(7)と接する第一の発熱部品(3)と、ベース部(6)の第一の面(6a)とは反対側の第二の面(6b)に接合され、第一の発熱部品(3)と電気的に接続された回路基板(4)と、回路基板(4)上に設けられ、第一の発熱部品(3)よりも発熱量が小さい第二の発熱部品(5)と、第一の発熱部品(3)と第二の発熱部品(5)との間を電気的に接続するコネクタ(20)と、を備え、コネクタ(20)は、第一の発熱部品(3)側の第一の接続端子(21a,21b)が差し込まれる第一の差込口(22a,22b)と、第二の発熱部品(5)側の第二の接続端子(23)が差し込まれる第二の差込口(24)とを有する。

Description

放熱構造
 本発明は、放熱構造に関する。
 例えば、電子部品などの発熱部品の放熱構造として、ヒートシンクを用いた放熱構造が知られている(特許文献1を参照。)。特許文献1の放熱構造では、ベース部と、ベース部の第一の面に立設された複数の放熱フィンとを含むヒートシンクが用いられる。ベース部の第一の面とは反対側の第二の面には、冷却対象となる全ての発熱部品が配置される。発熱部品の熱は、ベース部を経由して放熱フィンに伝わり、放熱フィンから外部に放熱される。
特開2013-110181号公報
 上述したヒートシンクを用いた放熱構造においては、放熱性を高めるために放熱フィンを設けるなどの工夫がされているものの、放熱性の面で更なる改善の余地がある。例えば、パワーデバイスなどの発熱量が比較的大きい発熱部品を冷却する場合には、高い放熱性を有する放熱構造が必要となる。
 また、上述した特許文献1に記載の放熱構造では、複数の発熱部品と、これら複数の発熱部品を制御する複数の電子部品とがヒートシンクの同一面側に配置される。この場合、発熱部品と電子部品とを電気的に接続するための配線をヒートシンクの同一面側に配置する必要がある。しかしながら、この構成の場合、配線数の増加や配線の引き回しの複雑化によって電気抵抗が増加し、電力ロスが大きくなってしまう。
 本発明の一態様は、電気抵抗を低減しながら、高い放熱性が得られる放熱構造を提供することを目的とする。
 本発明の一態様に係る放熱構造は、ベース部と、前記ベース部の第一の面に立設された複数の放熱フィンと、を有するヒートシンクと、前記ベース部の前記第一の面側に設けられ、前記複数の放熱フィンのうちの少なくとも1つの前記放熱フィンと接する第一の発熱部品と、前記ベース部の前記第一の面とは反対側の第二の面に接合され、前記第一の発熱部品と電気的に接続された回路基板と、前記回路基板上に設けられ、前記第一の発熱部品よりも発熱量が小さい第二の発熱部品と、前記第一の発熱部品と前記第二の発熱部品との間を電気的に接続するコネクタと、を備え、前記コネクタは、前記第一の発熱部品側の第一の接続端子が差し込まれる第一の差込口と、前記第二の発熱部品側の第二の接続端子が差し込まれる第二の差込口とを有する。
 本発明の一態様によれば、第一の発熱部品をベース部の第一の面側に配置し、放熱フィンに接触させて効率よく放熱を行うことができ、この第一の発熱部品と、第二の面側に配置された第二の発熱部品とをコネクタを介して電気的に接続することで、電気抵抗を低減しながら、放熱性の高い放熱構造が得られる。
本発明の実施形態に係る放熱構造の一例を示す断面図である。 図1に示す放熱構造を第1の面側から見た平面図である。 図1示す半導体モジュールを拡大して示す断面図である。 モールド樹脂が設けられた半導体モジュールの断面模式図である。 絶縁膜が設けられた半導体モジュールの断面模式図である。 コネクタの接続構造の一例を示す断面図である。 コネクタの接続構造の他例を示す断面図である。 予め複数のコネクタが設けられたヒートシンクを第二の面側から見た斜視図である。 予め複数のコネクタが設けられたヒートシンクを第一の面側から見た平面図である。 半導体モジュールの配置例を示す平面図である。 半導体モジュールの配置例を示す平面図である。 半導体モジュールの配置例を示す平面図である。 差込溝の変形例を示す断面図である。 差込溝の変形例を示す断面図である。 差込溝の変形例を示す断面図である。
 以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
 なお、以下の説明では、各構成要素を見易くするため、図面において構成要素によって寸法の縮尺を異ならせて示すことがある。
 図1及び図2を参照して、本発明の一実施形態である放熱構造1について説明する。
 放熱構造1は、図1及び図2に示すように、ヒートシンク2と、複数の半導体モジュール(第一の発熱部品)3と、回路基板4と、複数の電子部品(第二の発熱部品)5とを備える半導体装置において、半導体モジュール3及び電子部品5が発する熱をヒートシンク2により放熱する構造である。
 具体的に、この放熱構造1において、ヒートシンク2は、例えばCuやAlなどの熱伝導性の高い材料からなる。ヒートシンク2は、ベース部6と、複数の放熱フィン7A,7Bとを有している。ベース部6は、矩形平板状に形成されている。各放熱フィン7A,7Bは、矩形平板状に形成されて、ベース部6の第一の面6aに対して垂直に立設されている。また、複数の放熱フィン7A,7Bは、ベース部6の長手方向(図2中における左右方向)の両端部及びその両端部の間に位置して、互いに間隔を空けた状態で並んで設けられている。また、各放熱フィン7A,7Bは、ベース部6の短手方向(図2中における上下方向)の両端部の間に亘って立設されている。
 本実施形態では、複数の放熱フィン7A,7Bのうち、ベース部6の長手方向の両端部に沿った位置に2つの放熱フィン7Aと、これら2つの放熱フィン7Aの間に2つの放熱フィン7Bとがベース部6の長手方向に並んで設けられている。また、放熱フィン7Bは、半導体モジュール3を配置するため、放熱フィン7Aよりも高さ及び厚み方向の寸法が大きくなっている。なお、ヒートシンク2については、本実施形態のものに必ずしも限定されるものではなく、各放熱フィン7A,7Bの数や寸法等を適宜変更して実施することが可能である。
 放熱フィン7Bには、差込溝8が設けられている。差込溝8は、放熱フィン7Bの先端側に設けられた差込口8aから半導体モジュール3を差し込み可能に保持する。具体的に、この差込溝8は、放熱フィン7Bの先端側から一定の幅で第一の面6aに対して垂直に半導体モジュール3を差し込むのに十分な深さで切り欠かれている。放熱フィン7Bは、この差込溝8によって2つのフィン部7a,7bに分断されている。
 また、放熱フィン7Bには、差込口8aを塞ぐ蓋材9(図2において図示を省略する。)が設けられている。蓋材9は、差込溝8に半導体モジュール3が差し込まれた状態で、差込口8aを閉塞するように取り付けられている。なお、蓋材9の取付構造については、このような構造に必ずしも限定されるものではなく、放熱フィン7Bを差込溝8の幅方向から挟み込むように蓋材9が取り付けられた構造とすることが可能である。また、蓋材9については、省略することも可能である。
 半導体モジュール3は、図3に拡大して示すように、第一の基板10と、第一の半導体素子11と、接続子12と、第二の半導体素子13と、第二の基板14とを、順に積層することにより構成されている。
 このうち、第一及び第二の基板10,14は、セラミック基板であり、セラミック板(絶縁板)15,16と、セラミック板15,16の両面に設けられたCu層(導電層)17,18とを有している。また、第一の基板10と第二の基板14との互いに対向する面側のCu層17,18は、この半導体モジュール3の回路パターン17a,18aを形成している。なお、第一及び第二の基板10,14は、セラミック基板に限らず、例えばアルミニウム基板であってもよい。アルミニウム基板は、アルミニウム板の両面に絶縁層を介してCu層が設けられた構成である。
 第一及び第二の半導体素子11,13は、動作時の発熱量が比較的大きい、例えばパワーダイオードやパワートランジスタなどのパワーデバイスである。第一の半導体素子11と第二の半導体素子13とは、第一の基板10と第二の基板14との互いに対向する面側に各々実装されることによって、それぞれの回路パターン17a,18aと電気的に接続されている。
 接続子12は、例えばCuなどの導電性材料からなる。接続子12は、第一の接続部12aと、第二の接続部12bと、連結部12cとを有している。このうち、第一の接続部12aは、第一の半導体素子11と第二の半導体素子13とを電気的に接続する部分であり、第二の接続部12bは、一方の回路パターン17aと電気的に接続される部分であり、連結部12cは、第一の接続部12aと第二の接続部12bとを連結する部分である。
 第一の接続部12aは、第一の基板10と第二の基板14との間隔を保持するのに十分な厚みで柱状に形成されている。第一の接続部12aの両端部は、はんだ等の導電性接着剤(図示せず。)を介して第一の半導体素子11及び第二の半導体素子13と接合されている。第二の接続部12bは、板状に形成されて、はんだ等の導電性接着剤(図示せず。)を介して一方の回路パターン17aと接合されている。連結部12cは、第一の接続部12aと第二の接続部12bとを連結するのに十分な長さで長尺板状に形成されている。連結部12cの一端側は、第一の接続部12aの側面と一体に接続されている。連結部12cの他端側は、第二の接続部12b側に折り曲げられて第二の接続部12bと一体に接続されている。
 第一の基板10と第二の基板14との間には、スペーサ19が配置されている。スペーサ19は、第一の接続部12aと共に、第一の基板10と第二の基板14との間隔を保持している。また、スペーサ19は、この半導体モジュール3の回路部品として、回路パターン17a,18aの間に挟み込まれた状態で配置されている。回路部品としては、例えば、配線部、抵抗器、コンデンサなどが挙げられる。
 図1及び図2に示す回路基板4及び複数の電子部品5は、半導体モジュール3の駆動を制御する制御部30を構成している。このうち、回路基板4は、ヒートシンク2(ベース部6)の第一の面6aとは反対側の第二の面6bに接合されている。一方、複数の電子部品5は、回路基板4上に実装されている。各電子部品5は、各半導体モジュール3よりも発熱量が小さい発熱部品である。
 複数の電子部品5のうち一部の電子部品5と半導体モジュール3とは、コネクタ20を介して電気的に接続されている。コネクタ20は、半導体モジュール3側の第一の接続端子21a,21bが差し込まれる第一の差込口22a,22bと、電子部品5側の第二の接続端子23が差し込まれる第二の差込口24とを有している。半導体モジュール3側の第一の接続端子21a,21bは、図3において図示を省略するものの、回路パターン17a,18aと各々接続されている。
 ヒートシンク2には、コネクタ20を差し込み可能に保持する差込孔25が設けられている。ヒートシンク2には、半導体モジュール3側の第一の接続端子21a,21bを貫通させる第一の貫通孔26a,26bが設けられている。第一の貫通孔26a,26bは、差込溝8の底面から差込孔25に向かって形成されている。ヒートシンク2及び回路基板4には、電子部品5側の第二の接続端子23を貫通させる第二の貫通孔27が設けられている。第二の貫通孔27は、回路基板4の電子部品5が実装される面から差込孔25に向かって形成されている。また、第一の接続端子21a,21b及び第二の接続端子23は、第一の貫通孔26a,26b及び第二の貫通孔27との間で電気的に絶縁されている。
 以上のような構成を有する放熱構造1では、半導体モジュール3が差込溝8に差し込まれた状態で放熱フィン7Bと接している。これにより、半導体モジュール3が発する熱は、差込溝8の内壁面、すなわちフィン部7a,7bと接する第一及び第二の基板10,14から放熱フィン7Bへと伝わり、外部に放熱されることになる。一方、複数の電子部品5が発する熱は、回路基板4からベース部6を経由して放熱フィン7A,7Bへと伝わり、外部に放熱されることになる。この場合、半導体モジュール3が発する熱は、ベース部6を経由することなく、放熱フィン7Bへと直接伝わるため、熱の伝達経路が短くなり、半導体モジュール3の放熱性が高まる。
 以上のように、本実施形態の放熱構造1では、半導体モジュール3を放熱フィン7Bに接した状態で配置することで、従来のように半導体モジュール3をベース部6の第二の面6bに配置する場合に比べて、高い放熱性を得ることが可能である。
 また、本実施形態の放熱構造1では、半導体モジュール3を差込溝8に差し込んだ状態で配置することで、従来のように半導体モジュール3をベース部6の第二の面6bに配置する場合に比べて、小型化が可能となる。さらに、半導体モジュール3の第一及び第二の基板10,14をフィン部7a,7bに接触させることで、半導体モジュール3からの放熱を効率よく行わせることが可能である。
 また、本実施形態の放熱構造1では、ベース部6の第一の面6a側に配置された半導体モジュール3と、ベース部6の第二の面6b側に配置された電子部品5とがコネクタ20を介して電気的に接続されている。これにより、半導体モジュール3と電子部品5との間を短い距離で接続できるため、電気抵抗を低減し、電力ロスを小さくすることが可能である。
 ところで、半導体モジュール3については、図4Aに模式的に示すように、絶縁性の確保及びパーティクルに対する保護のため、モールド樹脂28によって第一の基板10と第二の基板14との互いに対向する面側を封止することが行われる。しかしながら、このようなモールド樹脂28は、第一及び第二の半導体素子11,13や第一及び第二の基板10,14等との間で線膨張係数の差が大きいため、熱膨張時にクラック等が生じ易い。
 これに対して、本発明では、図4Bに模式的に示すように、モールド樹脂28の代わりに、第一の基板10と第二の基板14との互いに対向する面を覆う絶縁膜29を設けた構成とすることが可能である。絶縁膜29には、例えばセラミック等の高熱伝導性を有する絶縁材料が用いられる。
 本実施形態の放熱構造1では、このような絶縁膜29が設けられた半導体モジュール3を差込溝8に差し込むことによって、絶縁性の確保及びパーティクルに対する保護が可能となる。さらに、絶縁膜29を設けた場合は、絶縁膜29の薄膜化によって半導体モジュール3からの放熱性が高められるだけでなく、線膨張係数の差によるクラックの発生が抑制可能となる。また、モールド樹脂28で封止するための工程が省略できるため、製造工程の簡略化が図れる。
 なお、本発明は、上記実施形態のものに必ずしも限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
 本発明では、例えば図5A及び図5Bに示すように、上述した半導体モジュール3と電子部品5との間を接続するコネクタ20の接続構造を変更することも可能である。
 具体的に、図5Aに示すコネクタ31の接続構造は、上記差込孔25の代わりに、ベース部6の第二の面6b側からコネクタ31を差し込み可能に保持する差込溝32を設けた構成である。また、差込溝32の底面と差込溝8の底面との間には、貫通孔33が設けられている。コネクタ31は、半導体モジュール3側の第一の接続端子34が差し込まれる第一の差込口35と、電子部品5側の複数の第二の接続端子36が差し込まれる第二の差込口37と、貫通孔33に嵌合される突起部38とを有している。回路基板4には、複数の第二の接続端子36を貫通させる貫通孔39が設けられている。
 一方、図5Bに示すコネクタ40の接続構造は、上記差込孔25の代わりに、ベース部6の第一の面6a側からコネクタ40及び半導体モジュール3を差し込み可能に保持する差込溝41を設けた構成である。また、差込溝41には、貫通孔42が設けられている。コネクタ40は、半導体モジュール3側の第一の接続端子43が差し込まれる第一の差込口44と、電子部品5側の第二の接続端子45が差し込まれる第二の差込口46と、貫通孔42に嵌合される突起部47とを有している。
 以上のように、本発明では、図5Aに示すコネクタ31の接続構造や、図5Bに示すコネクタ40の接続構造を採用することも可能である。
 また、本発明では、例えば図6A及び図6Bに示すように、予め複数のコネクタ50が設けられたヒートシンク51を用いることも可能である。各コネクタ50は、ベース部6の第一の面6aに第一の差込口52と、ベース部6の第二の面6bに第二の差込口53とを有し、放熱フィン7の間に差し込まれた半導体モジュール3の接続端子を第一の差込口52に差し込むと共に、電子部品5の接続端子を第二の差込口53に差し込むことが可能となっている。
 なお、複数のコネクタ50の配置や数等については、任意に変更することが可能である。また、コネクタ50をヒートシンク51に対してスライド可能に取り付けた構成とすることも可能である。この構成の場合、コネクタ50の位置を移動することが可能である。
 また、半導体モジュール3は、複数の放熱フィン7A,7Bのうちの少なくとも1つの放熱フィン7A(7B)と接する構成であればよい。したがって、例えば、図7Aに示すように、隣り合う放熱フィン7の間に半導体モジュール3が挟み込まれた構成や、図7Bに示すように、放熱フィン7の一側面に半導体モジュール3が接した構成とすることも可能である。また、半導体モジュール3は、上述した放熱フィン7を挟んで対向して配置された構成に限らず、図7Cに示すように、放熱フィン7を挟んで配置をずらした構成とすることも可能である。
 また、本発明の第一の発熱部品としては、上述した半導体モジュール3に必ずしも限定されるものではなく、その配置される位置や数等についても適宜変更を加えることが可能である。また、差込溝8についても、第一の発熱部品の大きさに合わせて適宜変更を加えることが可能である。したがって、複数の放熱フィン7には、個々の第一の発熱部品の大きさに合わせて深さや幅の異なる差込溝8が設けられていてもよい。
 また、本発明は、上述した差込溝8の差込口を塞ぐ蓋材9が設けられた構成に限らず、上述した差込孔25のように、半導体モジュール3を差し込み可能に保持する差込孔が設けられた構成としてもよい。
 また、本発明では、例えば図8Aに示すように、差込溝8に半導体モジュール3を差し込み易くするため、差込口8aにテーパー部8bを設けた構成としてもよい。また、差込溝8については、上述した一定の幅を有する形状に限らず、例えば図8Bに示すように、深さ方向の先端部に向かって漸次幅が狭くなる形状(いわゆる楔形状)や、図8Cに示すように、深さ方向の中央部に向かって漸次幅が狭くなる形状(いわゆる鼓形状)とすることで、この差込溝8に差し込まれた半導体モジュール3が容易に抜けない構造とすることも可能である。また、放熱膨張時に半導体モジュール3がフィン部7a,7bに密着することで、放熱性を高めることが可能である。
 1…放熱構造 2…ヒートシンク 3…半導体モジュール(第一の発熱部品) 4…回路基板 5…電子部品(第二の発熱部品) 6…ベース部 6a…第一の面 6b…第二の面 7…放熱フィン 8…差込溝 9…蓋材 10…第一の基板 11…第一の半導体素子 12…接続子 13…第二の半導体素子 14…第二の基板 15,16…セラミック板(絶縁板) 17,18…Cu層(導電層) 17a,18a…回路パターン 19…スペーサ 20…コネクタ 21a,21b…第一の接続端子 22a,22b…第一の差込口 23…第二の接続端子 24…第二の差込口 25…差込孔 26a,26b…第一の貫通孔 27…第二の貫通孔 28…モールド樹脂 29…絶縁膜 30…制御部 31…コネクタ 32…差込溝 33…貫通孔 34…第一の接続端子 35…第一の差込口 36…第二の接続端子 37…第二の差込口 38…突起部 39…貫通孔 40…コネクタ 41…差込溝 42…貫通孔 43…第一の接続端子 44…第一の差込口 45…第二の接続端子 46…第二の差込口 47…突起部 50…コネクタ 51…ヒートシンク 52…第一の差込口 53…第二の差込口

Claims (5)

  1.  ベース部と、前記ベース部の第一の面に立設された複数の放熱フィンと、を有するヒートシンクと、
     前記ベース部の前記第一の面側に設けられ、前記複数の放熱フィンのうちの少なくとも1つの前記放熱フィンと接する第一の発熱部品と、
     前記ベース部の前記第一の面とは反対側の第二の面に接合され、前記第一の発熱部品と電気的に接続された回路基板と、
     前記回路基板上に設けられ、前記第一の発熱部品よりも発熱量が小さい第二の発熱部品と、
     前記第一の発熱部品と前記第二の発熱部品との間を電気的に接続するコネクタと、を備え、
     前記コネクタは、前記第一の発熱部品側の第一の接続端子が差し込まれる第一の差込口と、前記第二の発熱部品側の第二の接続端子が差し込まれる第二の差込口とを有する
     放熱構造。
  2.  前記複数の放熱フィンのうちの少なくとも1つの前記放熱フィンの端面には、前記第一の発熱部品を差し込み可能な差込溝が設けられ、
     前記第一の発熱部品は、前記差込溝に差し込まれて前記放熱フィンと接している
     請求項1に記載の放熱構造。
  3.  前記放熱フィンの間に前記第一の発熱部品が挟み込まれている
     請求項1に記載の放熱構造。
  4.  前記第一の発熱部品は、第一の基板、第一の半導体素子、接続子、第二の半導体素子および第二の基板を順に積層することにより構成され、
     前記第一の基板および前記第二の基板が前記差込溝の内壁面と接している
     請求項2に記載の放熱構造。
  5.  前記第一の基板と前記第二の基板との互いに対向する面を覆う保護膜が設けられている
     請求項4に記載の放熱構造。
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