WO2016031127A1 - バイアス発生回路、電圧発生回路、通信機器、および、レーダ機器 - Google Patents
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Links
- 238000004891 communication Methods 0.000 title claims description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims abstract description 25
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 24
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 24
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 6
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 4
- 101100242307 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) SWH1 gene Proteins 0.000 description 3
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 101150110971 CIN7 gene Proteins 0.000 description 1
- 206010065929 Cardiovascular insufficiency Diseases 0.000 description 1
- 102100028918 Catenin alpha-3 Human genes 0.000 description 1
- 101100286980 Daucus carota INV2 gene Proteins 0.000 description 1
- 101000916179 Homo sapiens Catenin alpha-3 Proteins 0.000 description 1
- 101150110298 INV1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100094106 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) RSC8 gene Proteins 0.000 description 1
- 108010020053 Staphylococcus warneri lipase 2 Proteins 0.000 description 1
- 101100397044 Xenopus laevis invs-a gene Proteins 0.000 description 1
- 101100397045 Xenopus laevis invs-b gene Proteins 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is dc
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
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- G05—CONTROLLING; REGULATING
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- G05F1/10—Regulating voltage or current
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is dc
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/205—Substrate bias-voltage generators
Definitions
- This disclosure relates to a technique for generating a low-noise bias voltage and bias current.
- Flicker noise is noise generated when carriers are randomly captured or released by lattice defects at the interface due to the structure in which current flows through the interface between the silicon and the oxide film. Flicker noise is generated in various circuits including a transistor as a constituent element.
- flicker noise of a bias circuit which is a basic element of an analog circuit
- a bias voltage or a bias current is supplied from the bias circuit. All circuits are affected. For this reason, low noise in the bias circuit is extremely important.
- flicker noise can be suppressed by increasing the transistor size.
- increasing the transistor size leads to an increase in chip area, that is, an increase in cost.
- the input-side transistor constituting the current mirror often generates a large amount of flicker noise.
- the size of the transistor is increased, the mirror ratio of the current mirror cannot be increased, and the output-side transistor has a predetermined value. Since the drain current required for flowing the current increases, the power consumption is significantly increased.
- Patent Document 1 proposes a circuit configuration of a bias voltage generation circuit capable of generating a low-noise bias voltage with a relatively small area.
- the bias generator controls the bias voltage by changing the resistance value of the variable resistor
- the impedance changes with the control of the bias voltage. For this reason, fluctuations in the power supply voltage and voltage errors due to this tend to occur.
- the CMOS transistor itself constituting the switch since a steady current flows through the switch for controlling the resistance value of the variable resistance portion when conducting, the CMOS transistor itself constituting the switch generates flicker noise.
- the present disclosure provides a bias generation circuit that can set a desired bias voltage and bias current with a simple configuration without requiring a digital control circuit for executing a predetermined flow.
- One aspect of the present disclosure is a bias generation circuit, a voltage generation circuit that gradually increases or decreases an output voltage according to the number of clocks of a given clock signal, a reference voltage, A comparator for comparing the output voltage of the voltage generation circuit, a clock generation circuit for generating a clock signal, and an output of the comparator as a control signal, and output from the clock generation circuit in response to the control signal A clock gating circuit for controlling whether or not to apply a clock signal to the voltage generation circuit, and an output voltage of the voltage generation circuit is output as a bias voltage.
- the voltage generation circuit gradually increases or decreases the output voltage according to the number of clocks of the given clock signal.
- the clock gating circuit receives, as a control signal, the output of a comparator that compares the reference voltage with the output voltage of the voltage generation circuit, and controls whether or not the clock signal is supplied to the voltage generation circuit by this control signal. For example, when the voltage generation circuit gradually increases the output voltage, the clock gating circuit causes the clock signal to be output when the output of the comparator indicates that the output voltage of the voltage generation circuit has exceeded the reference voltage. Stop output. Thereby, the output voltage of the voltage generation circuit, that is, the bias voltage is set to a value near the reference voltage. Therefore, a desired bias voltage can be obtained by a voltage generation circuit that gradually increases or decreases the output voltage according to the number of clocks and a simple configuration that controls the supply of the clock signal to the voltage generation circuit based on the reference voltage. Can be set.
- a bias generation circuit that gradually increases or decreases an output voltage according to the number of clocks of a given clock signal, and a reference current.
- a clock gating circuit that receives a drain voltage as a control signal and controls whether or not to apply the clock signal output from the clock generation circuit to the voltage generation circuit according to the control signal, and an output of the voltage generation circuit
- a third transistor that is supplied with a voltage to the gate and outputs a bias current from the drain.
- the voltage generation circuit gradually increases or decreases the output voltage according to the number of clocks of the given clock signal.
- the clock gating circuit the output voltage of the voltage generation circuit is applied to the gate, the reference current is input to the drain of the second transistor, and the control signal is received as a control signal. Control whether to give.
- the clock gating circuit stops outputting the clock signal when the drain current of the second transistor increases and the drain voltage decreases.
- the drain current of the third transistor to which the output voltage of the voltage generation circuit is applied to the gate that is, the bias current is set to a value in the vicinity of the reference current. Therefore, a desired bias current can be obtained by a voltage generation circuit that gradually increases or decreases the output voltage according to the number of clocks and a simple configuration that controls the supply of the clock signal to the voltage generation circuit based on the reference current. Can be set.
- the voltage generation circuit is electrically connected to an output terminal from which the output voltage is output, a resistor array in which a plurality of resistors are connected in series, and a predetermined voltage is applied to both ends.
- Non-conduction can be switched, a plurality of switches each having one end connected to the resistance end of the resistor string and the other end connected to the output terminal, and the clock signal, and the number of clocks of the clock signal Accordingly, a switch selection unit that selects and conducts any one of the plurality of switches may be provided.
- the voltage generation circuit includes a resistor string to which a predetermined voltage is applied to both ends, and a plurality of switches each having one end connected to the resistor end of the resistor string and the other end connected to the output terminal. Therefore, it is possible to suppress the fluctuation of the power supply voltage and the occurrence of voltage error due to this, and the occurrence of flicker noise can be suppressed.
- the voltage generation circuit includes a digital-analog converter that converts a digital signal into an analog signal, and a counter that counts the number of clocks of the clock signal, and the output of the counter is the digital signal It may be input to the analog converter, and the output of the digital-analog converter may be output as the output voltage.
- the voltage generation circuit is realized by a configuration including a counter that counts the number of clocks and a digital-analog converter that receives the output of the counter, so that the circuit scale can be greatly reduced.
- a digital control circuit for executing a predetermined flow is not required, and a desired bias voltage and bias current can be set with a simple configuration.
- FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of a bias generation circuit according to a first embodiment; A graph showing an operation simulation result of the bias generation circuit of FIG. A circuit diagram showing composition of a bias generating circuit concerning the 1st modification of a 1st embodiment. A circuit diagram showing composition of a bias generating circuit concerning the 2nd modification of a 1st embodiment.
- (A), (b) is a conceptual diagram which shows the example of resistance value setting in the voltage generation circuit shown in FIG. (A)
- (b) is a graph which shows the change of the output voltage of the voltage generation circuit shown in FIG.
- FIG. 9 is a graph showing an operation simulation result of the bias generation circuit of FIG.
- connection or the term “given” or “input” of a signal used in the description of each embodiment includes not only direct connection and signal propagation but also an element (capacitance element). , Transistors, logic gates, circuits, etc.) and indirect connections and signal propagation.
- FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of a bias generation circuit according to the first embodiment.
- the bias generation circuit according to the present embodiment includes a clock generation circuit that generates a clock signal, a comparator 2 that compares two input voltages, an AND as a clock gating circuit that passes or stops the clock signal according to a control signal. It has a gate 3 and a voltage generation circuit 4 that increases or decreases the output voltage according to the input clock.
- the comparator 2 receives the reference voltage Vref at the non-inverting input terminal and the voltage Vout output from the voltage generation circuit 4 at the inverting input terminal. That is, the comparator 2 compares the reference voltage Vref with the output voltage Vout of the voltage generation circuit 4.
- the AND gate 3 is supplied with the clock signal output from the clock generation circuit 1 at one input terminal and the output signal of the comparator 2 at the other input terminal.
- the output of the AND gate 3 is given to the clock input terminal 15 of the voltage generation circuit 4 as the clock signal CLKin. That is, the AND gate 3 receives the output of the comparator 2 as a control signal, and controls whether or not to apply the clock signal output from the clock generation circuit 1 to the voltage generation circuit 4 according to the control signal.
- the output voltage Vout of the voltage generation circuit 4 is output as the bias voltage Vbias.
- the voltage generation circuit 4 receives a resistor string 11 composed of a plurality of resistors R1 to Rn + 1 connected in series, a switch group 12 composed of a plurality of switches SW1 to SWn that can be switched between conduction and non-conduction, and a clock signal CLKin. And a shift register 13 as a switch selection unit for selecting a switch to be conducted among the plurality of switches SW1 to SWn.
- One end of each switch SW1 to SWn of the switch group 12 is connected to the resistance terminals VR1 to VRn in the resistor string 11, and the other end is connected to the output terminal 14.
- the shift register 13 includes a plurality of flip-flops FF1 to FFn + 1.
- a symbol beginning with V represents a resistor end, that is, both terminals of each resistor constituting the resistor string, and represents a voltage value at the resistor end.
- the resistor string 11 is connected between the high potential side power supply VDD and the low potential side power supply VSS, and a predetermined voltage is applied to both ends.
- the output voltage range of the voltage generation circuit 4 can be easily varied by appropriately setting the resistance values of the resistors R1, Rn + 1 at both ends and the sum of the resistance values of the resistors R2 to Rn other than both ends. . Further, the resolution of the output voltage can be easily set by changing the number of resistors other than both ends.
- a reset signal Reset for determining an initial state, which is input from the reset signal terminal 16, is given to the reset terminal (set to LOW at RET and set to High at SET).
- the output signals of the flip-flops FF1 to FFn control ON / OFF of the corresponding switches SW1 to SWn.
- the voltage at the resistance end of the resistor string 11 to which the conductive switch in the switch group 12 is connected is output from the output terminal 14 as the output voltage Vout.
- the voltage generation circuit 4 is configured to gradually increase the output voltage Vout according to the number of clocks of the applied clock signal CLKin.
- the output of the flip-flop FF1 is set to High and the outputs of the other flip-flops FF2 to Fn + 1 are set to Low in the shift register 13, so that the switch SW1 is turned on in the switch group 12.
- the lowest voltage VR1 is output as the output voltage Vout.
- the initial value VR1 is set to a voltage (VR1 ⁇ Vref) that is sufficiently lower than the target reference voltage Vref.
- the output of the comparator 2 becomes High, and the AND gate 3 allows the clock signal output from the clock generation circuit 1 to pass through.
- the High output is sequentially shifted in the shift register 13 of the voltage generation circuit 4, and the output voltage Vout is output in the order of VR1.fwdarw.VR2.fwdarw.VR3.
- the output of the comparator 2 When the output voltage Vout of the voltage generation circuit 4 becomes larger than the reference voltage Vref, the output of the comparator 2 is inverted to Low and the AND gate 3 stops the output of the clock signal, so that the output voltage of the voltage generation circuit 4 The rise of Vout stops. That is, the output voltage Vout of the voltage generation circuit 4 is set to a voltage that is near the reference voltage Vref and higher than the reference voltage Vref.
- FIG. 2 shows the actual simulation results.
- the initial value voltage of the voltage generation circuit 4 is 0 V, and the target reference voltage Vref is 400 mV.
- the output voltage Vout of the voltage generation circuit 4 set at this time is 402.6 mV, and is set to a voltage close to and higher than the reference voltage 400 mV (1 LSB in the simulation is about 5 mV).
- a digital control circuit for executing a predetermined flow is not necessary for determining a bias voltage, and a desired bias voltage can be obtained only by applying a clock signal to a very simple configuration. Generated automatically. Further, the resistance value of the resistor string 11 connected between the power source and the ground is always constant, and operates as a constant current circuit, so that a power source voltage fluctuation and a voltage error resulting therefrom do not occur.
- the switches SW1 to SWn in the voltage generation circuit 4 are used for taking out the voltage at the resistance end of the resistor string 11 to the output terminal 14, no steady current flows. For this reason, it becomes possible to suppress the influence of flicker noise caused by the switch transistor. (When flicker noise in MOS transistors flows through the interface between silicon and oxide film, carriers are randomly captured or released by lattice defects. (If the current does not flow, the effect of flicker noise is zero).
- the voltage generation circuit 4 is configured such that the output voltage increases according to the input clock, but is not limited to this configuration, and the output voltage decreases according to the input clock. Even if configured as described above, the same effect can be obtained.
- the connection relationship between the switch group 12 and the shift register 13 is changed so that the voltage at the resistance end of the resistor string 11 can be output in descending order.
- the voltage generation circuit 4 gradually decreases the output voltage Vout according to the number of clocks of the applied clock signal CLKin.
- the reference voltage Vref may be applied to the inverting input terminal, and the output voltage Vout of the voltage generation circuit 4 may be applied to the non-inverting input terminal.
- the output voltage Vout of the voltage generation circuit 4 is in the vicinity of the reference voltage Vref. In addition, the voltage is set lower than the reference voltage Vref.
- the switch selection unit is configured by the shift register.
- the present invention is not limited to this.
- the switch selection unit may be configured by a counter.
- FIG. 3 is a circuit diagram showing a configuration of a bias generation circuit according to a first modification of the first embodiment.
- the configuration of the voltage generation circuit is different from that of FIG.
- the voltage generation circuit 4 shown in FIG. 1 in order to take out the voltage at the resistance end in the resistor string 11, almost the same number of flip-flops as the switches are required, and if a fine resolution is required, the circuit area is increased. Therefore, in the first modification, the voltage generation circuit 4A has a configuration capable of reducing the number of flip-flops.
- the resistors 21a of the resistor array 21 are arranged in a zigzag while sequentially changing the direction in the X-axis direction (the horizontal direction in the drawing).
- One end of each of the plurality of switches SW11 to SWn8 is connected to the resistance ends VR11 to VRn8 in the resistor array 21, and the other end is connected to the output terminal 14.
- the shift registers constituting the switch selection unit are separately arranged for the X-axis direction and the Y-axis direction (vertical direction in the drawing).
- the first shift register 22 for the X-axis direction as the first selection unit is composed of flip-flops FF1 to FF8, and the output of the flip-flop FF8 is connected to the input of the flip-flop FF1, and has a ring configuration as a whole. ing.
- the second shift register 23 for the Y-axis direction as the second selection unit is configured by flip-flops FF10 to FFn0.
- the first shift register 22 operates in response to the clock signal CLKin and outputs a plurality of first switch selection signals.
- the second shift register 23 operates in response to one of the output signals of the first shift register 22 (the output of the flip-flop FF1 in FIG. 3), and outputs a plurality of second switch selection signals.
- an AND circuit 24 which is an example of a plurality of logic circuits, is provided for each of the plurality of switches SW11 to SWn8.
- the AND circuit 24 receives as input one of the first switch selection signals output from the first shift register 22 and one of the second switch selection signals output from the second shift register 23.
- a signal for controlling conduction / non-conduction of the switch is output.
- any one of the plurality of first switch selection signals becomes High as a predetermined first logical value
- any one of the plurality of second switch selection signals has a predetermined second logical value. It becomes high as.
- the first shift register 22 shifts the first switch selection signal having High at the rising edge of the clock signal CLKin.
- the second shift register 23 shifts the second switch selection signal that becomes High at the rising edge of the output signal of the first shift register 22.
- the AND circuit 24 in which both of the supplied first and second switch selection signals are High outputs High as a signal, thereby turning on the corresponding switch.
- the operation of the voltage generation circuit 4A shown in FIG. 3 will be described.
- the outputs of the flip-flop FF1 in the first shift register 22 and the flip-flop FF10 in the second shift register 23 become High, and the outputs of the other flip-flops FF2 to FF8 and F20 to Fn0. Are all set to Low. Therefore, the switch SW11 controlled by the flip-flops FF1 and FF10 is turned on, and the terminal voltage VR11 is output as the output voltage Vout.
- the clock signal CLKin is inputted, the High output is shifted in the order of FF1 ⁇ FF2 ⁇ FF3...
- the voltage at the resistance end in the resistor array 21 is sequentially output from the low side to the high side.
- the shift registers are arranged separately for the X-axis direction and the Y-axis direction, so that the number of flip-flops can be greatly reduced.
- the number of flip-flops required is 8 ⁇ n, but in the present modification, it is (8 + n). Therefore, according to the present modification, it is possible to easily obtain the same effect as that of the first embodiment while greatly reducing the circuit scale of the voltage generation circuit 4A.
- any one of the plurality of first switch selection signals may be Low as a predetermined first logical value.
- any one of the plurality of second switch selection signals may be Low as a predetermined second logical value.
- a logic circuit corresponding to the logic of the first and second switch selection signals may be provided for each of the plurality of switches. For example, if any one of the plurality of first switch selection signals and the plurality of second switch selection signals is Low, an OR circuit may be provided instead of the AND circuit 24. That is, a logical sum circuit in which both of the supplied first and second switch selection signals are Low outputs Low as a signal, thereby turning on the corresponding switch.
- the first shift register 22 may shift the first switch selection signal having a predetermined logical value at the falling edge of the clock signal CLKin, and the second shift register 23 may output the first shift register 22. At the falling edge of the signal, the second switch selection signal having a predetermined logical value may be shifted.
- FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration of a bias generation circuit according to a second modification of the first embodiment.
- the configuration of the voltage generation circuit is different from those of FIGS.
- the voltage generation circuit 4A shown in FIG. 3 in order to take out the voltage from the resistor string 21, the same number of switches and logic gates as the resistance ends from which the voltage is taken out are required.
- the voltage generation circuit 4B The number of switches and logic gates can be greatly reduced.
- the voltage generation circuit 4B includes a first resistor group 31 in which a plurality of resistors R1 to R8 are connected in series, a first switch group 32 including a plurality of switches SW1 to SW8 capable of switching between conduction / non-conduction, A first shift register 33 as a first switch selection unit for selecting and conducting switches belonging to the first switch group 32, a second resistor row 34 in which a plurality of resistors Rc1 to Rc5 are connected in series, A second switch group 35 composed of a plurality of switchable switches SWH1 to SWH6, a third switch group 36 composed of a plurality of switches SWL1 to SWL6 capable of switching on / off, and switches belonging to the second switch group 35 A second shift register as a second switch selection unit that selects and conducts, and selects and conducts switches belonging to the third switch group 36. It is equipped with a motor 37.
- Each of the switches SW1 to SW8 of the first switch group 32 is connected to the resistance end in the first resistor row 31, and the other end is connected to the output terminal 14.
- One end of each switch SWH 1 to SWH 6 of the second switch group 35 is connected to the resistance end of the second resistance row 34, and the other end is connected to one end of the first resistance row 31.
- Each of the switches SWL1 to SWL6 of the third switch group 36 has one end connected to the resistance end of the second resistance row 34 and the other end connected to the other end of the first resistance row 31.
- the first shift register 33 includes flip-flops FF1 to FF8, has a ring configuration in which the output of the flip-flop FF8 is connected to the input of the flip-flop FF1, receives the clock signal CLKin, and the number of clocks of the clock signal CLKin. Accordingly, any one of the switches SW1 to SW8 belonging to the first switch group 32 is selected and made conductive. That is, the first shift register 33 controls the switches SW1 to SW8 so that the voltage at the resistance end in the first resistor row 31 is output in the order of VR1 ⁇ VR2 ⁇ ... ⁇ VR8 ⁇ VR1.
- the second shift register 37 includes flip-flops FF10 to FF40, receives any one of the output signals of the first shift register 33 (the output of the flip-flop FF1 in FIG. 4), and according to this output signal, Any one of the switches SWH1 to SWH6 belonging to the second switch group 35 and any one of the switches SWL1 to SWL6 belonging to the third switch group 36 are selected and brought into conduction. That is, in the second shift register 37, both ends of the first resistor row 31 are connected to the resistor ends in the second resistor row 34, in the order of (Vc1, Vc3) ⁇ (Vc2, Vc4) ⁇ (Vc3, Vc5) ⁇ . The switches SWL1 to SWL6 and the switches SWH1 to SWH6 are controlled so as to be connected.
- the number of resistors in the first resistor row 31 and the second resistor row 34 is not limited to that shown in FIG.
- the resistance values of the resistors R1 to R8 and Rc1 to Rc5 constituting the first and second resistor rows 31 and 34 are set as follows.
- the switch SW1 becomes High at the next clock, and the High output is shifted from the flip-flop FF10 to the flip-flop FF20 in the second shift register 37.
- the switches SWL2 and SWH4 are turned on, and both ends of the first resistor string 31 are connected to the resistor terminal Vc2 and the resistor terminal Vc4 in the second resistor string 34, respectively.
- the resistance terminals Vc1 and Vc6 Is divided into four equal parts by four resistors having the same resistance value of 4Ra.
- the voltages VR1 to VR8 equally divided by the first resistor string 31 from the voltage range divided into four are the number of clocks of the clock signal CLKin from the voltage generation circuit 4B. Are output in order from the lowest.
- the voltage generation circuit 4B in FIG. 4 can gradually increase the output voltage according to the number of clocks of the given clock signal, similarly to the voltage generation circuits 4 and 4A in FIG. 1 and FIG. it can.
- this modification not only the flip-flops but also the number of switches and logic gates can be greatly reduced.
- the impedance between the resistance terminals Vc1 and Vc6 is always constant (in the case of FIG. 4, 16Ra), no steady power supply voltage fluctuation occurs, and no voltage error due to the fluctuation occurs.
- the output voltage range can be freely set, and high resolution can be easily achieved by optimizing the output range. Can do.
- this modification only two switches through which current flows during operation (switches that connect both ends of the first resistor row 31 to the second resistor row 34), and thus the influence of flicker noise caused by the switch transistor is minimized. be able to.
- the connection relationship between the first resistor string 31 and the second resistor string 34 is switched, and when the voltage range output from the first resistor string 31 transitions, the voltage ranges before and after the transition overlap. Become. Therefore, an increase in error due to resistance variation can be suppressed.
- FIGS. 5 is a diagram conceptually showing an example of resistance value setting in the voltage generation circuit 4B shown in FIG. 4, and FIG. 6 is a graph showing a change in the output voltage of the voltage generation circuit 4B.
- the total resistance value of the first resistor row 31 is 2R
- the resistance value of each resistor in the second resistor row 34 is R.
- the voltage ranges Va1 to Va5 corresponding to the first resistor string 31 are obtained by dividing the entire voltage range evenly (divided into five in FIG. 5).
- the output voltage of the voltage generation circuit 4B monotonously increases according to the number of clocks.
- column 31 is set larger than 2R.
- the first resistor row 31 has The corresponding voltage ranges Vb1 to Vb5 are slightly wider than the voltage ranges Va to Va5 in FIG. 5A, and adjacent voltage ranges overlap each other.
- the output voltage of the voltage generation circuit 4B gradually increases according to the number of clocks as a whole, but when viewed microscopically, the output voltage decreases. The part to do appears.
- the output voltage of the voltage generation circuit increases monotonously or decreases monotonously with a predetermined amount of change according to the number of clocks.
- the amount of change may rise or fall from a predetermined value due to variations in resistance value.
- Such an error becomes large when the connection relationship between the first resistor row 31 and the second resistor row 34 is switched.
- the sum of the resistance values of the first resistor string 31 is smaller than two resistors of the second resistor string 34, a gap is formed in the adjacent voltage range corresponding to the first resistor string 31, and the output voltage is set finely. Therefore, the output voltage setting accuracy may be reduced.
- by setting the resistance value in advance so that the adjacent voltage ranges overlap each other as shown in FIG. 5B even if the resistance value varies, there is a gap between the adjacent voltage ranges. It is possible to prevent a decrease in output voltage setting accuracy.
- the voltage generation circuit gradually increases or decreases the output voltage in accordance with the number of clocks. For example, as shown in FIG. 6B, in the relationship between the number of clocks and the output voltage.
- the increase / decrease direction of the output voltage may have a portion that is reverse to the direction of gradually increasing or gradually decreasing. That is, the voltage generation circuit gradually increases the output voltage according to the number of clocks, and has a portion in which the output voltage decreases as the number of clocks increases in the relationship between the number of clocks and the output voltage. There may be.
- the voltage generation circuit gradually decreases the output voltage according to the number of clocks, and has a portion in which the output voltage increases as the number of clocks increases in the relationship between the number of clocks and the output voltage. There may be.
- FIG. 7 is a circuit diagram showing a configuration of a bias generation circuit according to a third modification of the first embodiment. Also in the configuration of FIG. 7, as in the configuration of FIG. 4, the voltage generation circuit 4C has a configuration that can greatly reduce the number of switches and logic gates.
- the voltage generation circuit 4C includes a first resistor row 31 in which a plurality of resistors R1 to R8 are connected in series, and a plurality of switches capable of switching between conduction / non-conduction, similar to the voltage generation circuit 4B in FIG.
- a first switch group 32 composed of SW1 to SW8 and a first shift register 33 as a first switch selection unit for selecting and conducting switches belonging to the first switch group 32 are provided.
- a second resistor string 41 in which a plurality of resistors Rc1 to Rc4 are connected in series
- a third resistor string 42 in which a plurality of resistors Rc5 to Rc8 are connected in series
- a plurality of switches SW11 that can be switched between conduction / non-conduction.
- a second switch group 43 comprising SW15, a third switch group 44 comprising a plurality of switches SW16 to SW20 capable of switching between conduction / non-conduction, and a switch belonging to the second switch group 43 to be made conductive,
- a second shift register 45 is provided for selecting and conducting switches belonging to the third switch group 44.
- One end of the second resistor row 41 is connected to one end of the first resistor row 31, and one end of the third resistor row 42 is connected to the other end of the first resistor row 31.
- each of the switches SW1 to SW8 of the first switch group 32 is connected to the resistance end in the first resistor row 31, and the other end is connected to the output terminal 14.
- One end of each of the switches SW11 to SW15 of the second switch group 43 is connected to a resistance end in the second resistor row 41, and the other end is connected to a terminal VL as a low potential supply terminal.
- One end of each switch SW16 to SW20 of the third switch group 44 is connected to a resistance end in the third resistor row 42, and the other end is connected to a terminal VH as a high potential supply terminal.
- the first shift register 33 includes flip-flops FF1 to FF8, has a ring configuration in which the output of the flip-flop FF8 is connected to the input of the flip-flop FF1, receives the clock signal CLKin, and the number of clocks of the clock signal CLKin. Accordingly, any one of the switches SW1 to SW8 belonging to the first switch group 32 is selected and made conductive. That is, the first shift register 33 controls the switches SW1 to SW8 so that the voltage at the resistance end in the first resistor row 31 is output in the order of VR1 ⁇ VR2 ⁇ ... ⁇ VR8 ⁇ VR1.
- the second shift register 45 includes flip-flops FF10 to FF50, receives any one of the output signals of the first shift register 33 (the output of the flip-flop FF1 in FIG. 7), and according to this output signal, Any one of the switches SW11 to SW15 belonging to the second switch group 43 and any one of the switches SW16 to SW20 belonging to the third switch group 44 are selected and brought into conduction.
- the connection between the resistance ends Vc1 to Vc5 in the second resistance row 41 and the terminal VL, and the connection between the resistance ends Vc6 to Vc10 in the third resistance row 42 and the terminal VH are (Vc1 , Vc6) ⁇ (Vc2, Vc7) ⁇ (Vc3, Vc8) ⁇ ... Are controlled in this order.
- the number of resistors in the first resistor row 31, the second resistor row 41, and the third resistor row 42 is not limited to that shown in FIG.
- the resistance values of the resistors R1 to R8 constituting the first resistor row 31 and the resistors Rc1 to Rc8 constituting the second resistor row 41 and the third resistor row 42 are set as follows.
- the reset signal Reset is input, since the output of the flip-flop FF10 becomes High, the switches SW11 and SW16 are turned ON, the resistance terminal Vc1 in the second resistance string 41 is connected to the terminal VL, and the third resistance string The resistance terminal Vc6 at 42 is connected to the terminal VH.
- the terminals VL and VH are equally divided into five by the first resistor string 31 and the resistors Rc5 to Rc8.
- the voltages VR1 to VR8 divided by eight by the first resistor string 31 are supplied from the voltage generation circuit 4C according to the number of clocks of the clock signal CLKin. Output sequentially from the lowest.
- the switch SW1 When the voltage VR8 is output, the switch SW1 is turned on at the next clock, and the High output is shifted from the flip-flop FF10 to the flip-flop FF20 in the second shift register 45. Thereby, the switches SW12 and SW17 are turned on, the resistance terminal Vc2 in the second resistance string 41 is connected to the terminal VL, and the resistance terminal Vc7 in the third resistance string 42 is connected to the terminal VH. Accordingly, the terminals VL and VH are divided into five equal parts by the resistor Rc1, the first resistor row 31, and the resistors Rc6 to Rc8.
- the voltages VR1 to VR8 equally divided by the first resistor string 31 are the number of clocks of the clock signal CLKin from the voltage generation circuit 4C. Are output sequentially from the lower one.
- the voltage generation circuit 4C in FIG. 7 can gradually increase the output voltage according to the number of clocks of the applied clock signal, similarly to the voltage generation circuits 4 and 4A in FIG. 1 and FIG. it can.
- the flip-flops not only the flip-flops but also the number of switches and logic gates can be greatly reduced.
- the output voltage range can be freely set by disposing appropriate resistors Rd and Rs between the high potential side power source Vdd and the terminal VH and between the low potential side power source Vss and the terminal VL. It is possible to achieve high resolution by optimizing the output range. Further, in the present modification, only two switches through which current flows during operation (a switch connecting the second resistor string 41 and the terminal VL and a switch connecting the third resistor string 42 and the terminal VH) are used. Can minimize the effect of flicker noise.
- the total sum of the resistance values of the first resistor row 31 is larger than the resistance value 8Ra of each resistor of the second resistor row 41 and the third resistor row 42.
- the connection relationship between the first resistor string 31 and the second resistor string 41 and the third resistor string 42 is switched, and when the voltage range output from the first resistor string 31 transitions, the voltage range before and after the transition is changed. Have overlap. Therefore, as described in the second modification, an increase in error due to resistance variation can be suppressed.
- the voltage generation circuits 4A, 4B, and 4C shown in the first to third modifications are configured so that the output voltage increases according to the number of clocks. However, as with the voltage generation circuit 4 in FIG. It is also possible to easily configure so that the output voltage decreases according to the number.
- the switch selection unit is configured by the shift register.
- the present invention is not limited to this.
- the switch selection unit may be configured by a counter.
- FIG. 8 is a circuit diagram showing a configuration of a bias generation circuit according to the second embodiment.
- the same reference numerals as those in FIG. The basic configuration and operation in the present embodiment are substantially the same as those described in the first embodiment. Here, differences from the first embodiment will be mainly described.
- D / A converter 17 that converts a digital signal into an analog signal
- counter 18 that counts the number of clocks of the clock signal CLKin.
- the output data of the counter 18 is input to the D / A converter 17, and the output of the D / A converter 17 is output as the output voltage Vout.
- the voltage generation circuit 5 can increase or decrease the output voltage Vout for each gradation of the D / A converter 17 according to the input clock. Further, the voltage generation circuit 5 can be realized with a smaller area as compared with the first embodiment. Although any type of D / A converter 17 can be used, it is desirable to use a D / A converter with as low noise as possible, such as R-2R type.
- the flip-flop 8 is arranged on the output side of the comparator 2, in other words, on the control signal input side of the clock gating circuit, and the output result of the comparator 2 is captured in synchronization with the clock signal. It is configured. This is to reduce errors due to glitches (spike-like noise generated when the output is switched), which is a particular problem when the D / A converter 17 is used in the voltage generation circuit 5. For example, the output of the voltage generation circuit 5 is changed at the falling edge of the clock, and the output result of the comparator 2 is taken into the flip-flop 8 at the rising edge after the half cycle.
- a low-pass filter 9 is provided in the path through which the output voltage Vout of the voltage generation circuit 5 is sent to the input terminal of the comparator 2. This low-pass filter 9 also reduces glitches themselves.
- a digital control circuit for executing a predetermined flow is not necessary for determining the bias voltage, and only a clock signal is given to a very simple configuration.
- a desired bias voltage is automatically generated.
- the voltage generation circuit 5 is realized by the configuration including the D / A converter 17 and the counter 18, the circuit scale can be greatly reduced as compared with the first embodiment. Furthermore, malfunction caused by glitches in the output voltage Vout of the voltage generation circuit 5 can be greatly suppressed.
- the flip-flop 8 and the low-pass filter 9 shown in the present embodiment may be added to the configuration of FIG. 1 and the like shown in the first embodiment. As a result, as in the present embodiment, it is possible to significantly suppress malfunctions caused by glitches in the output voltage Vout of the voltage generation circuit 4 and the like.
- FIG. 9 is a circuit diagram showing a configuration of a bias generation circuit according to the third embodiment.
- the bias generation circuit according to the present embodiment includes a clock generation circuit 1 that generates a clock signal, an AND gate 3 as a clock gating circuit that passes or stops the clock signal according to a control signal, and an output voltage according to an input clock.
- a voltage generation circuit 4 that increases or decreases, a first transistor M1 that generates a reference current Iref, a second transistor M2 that receives a reference current Iref input to the drain, and a third transistor M3 that outputs a bias current Ibias from the drain. .
- the AND gate 3 is supplied with the clock signal output from the clock generation circuit 1 at one input terminal and the drain voltage of the second transistor M2 at the other input terminal.
- the output of the AND gate 3 is given to the clock input terminal 15 of the voltage generation circuit 4 as the clock signal CLKin. That is, the AND gate 3 receives the drain voltage of the second transistor M2 as a control signal, and controls whether or not to apply the clock signal output from the clock generation circuit 1 to the voltage generation circuit 4 according to the control signal.
- the output voltage Vout of the voltage generation circuit 4 is given to the gates of the second transistor M2 and the third transistor M3.
- the configuration of the voltage generation circuit 4 is the same as that shown in FIG. 1, and detailed description thereof is omitted here. Note that the voltage generation circuits 4A, 4B, and 4C shown in the first to third modifications of the first embodiment may be applied to the configuration of FIG.
- the initial value VR1 of the voltage generation circuit 4 is set such that the drain current IM2 that can be passed by the second transistor M2 that receives this voltage at the gate is sufficiently smaller than the reference current Iref.
- the reset signal Reset is input, the output of the flip-flop FF1 is set to High, and the outputs of the other flip-flops FF2 to FFn + 1 are set to Low. Output as voltage Vout.
- Iref> IM2 as described above, the voltage of the input node P of the reference current Iref becomes High, and this voltage is applied to one input of the AND gate 3, so that the AND gate 3 generates the clock.
- the clock signal output from the circuit 1 is passed through.
- the output voltage Vout of the voltage generation circuit 4 sequentially rises, and when the drain current IM2 that can flow through the second transistor M2 becomes larger than the reference current Iref, the voltage at the node P is inverted to Low. Since the AND gate 3 stops the output of the clock signal, the output voltage Vout of the voltage generation circuit 4 stops increasing. As a result, the drain current IM2 of the second transistor M2 is set in the vicinity of the reference current Iref and larger than the reference current Iref.
- a current of ⁇ IM2 is output from the drain of the third transistor M3 as the bias current Ibias.
- Figure 10 shows the actual simulation results.
- the initial value voltage of the voltage generation circuit 4 is 0 V
- the target reference current Iref is 100 ⁇ A
- ⁇ is 1.
- the bias current Ibias output from the third transistor M3 gradually increases according to the number of clocks of the clock signal CLKin and exceeds the reference current of 100 ⁇ A
- the drain voltage of the second transistor M2 is Inverted to Low
- the clock signal output from the AND gate 3 is stopped
- the increase of the bias current Ibias is stopped.
- the bias current set at this time is 104.4 ⁇ A, which is set to a high current in the vicinity of the reference current of 100 ⁇ A.
- a digital control circuit for executing a predetermined flow is not necessary in determining the bias current, and a desired bias current can be obtained only by applying a clock signal to a very simple configuration. Generated automatically.
- the resistance value of the resistor string 11 connected between the power source and the ground is always constant, so that a power source voltage fluctuation and a voltage error resulting therefrom may occur. Absent. Further, since a steady current does not flow through the switch in the voltage generation circuit 4, it is possible to suppress the influence of flicker noise caused by the switch transistor.
- FIG. 11 is a circuit diagram showing a configuration of a bias generation circuit according to the fourth embodiment.
- the same reference numerals as those in FIGS. 8 and 9 are assigned to components common to those in FIGS. 8 and 9.
- the basic configuration and operation in the present embodiment are substantially the same as those described in the third embodiment. Here, differences from the third embodiment will be mainly described.
- a voltage generation circuit 5 shown in FIG. 11 has the same configuration as that of the voltage generation circuit 5 shown in FIG. 8, and a digital-analog converter (D / A converter) 17 that converts a digital signal into an analog signal, and a clock signal CLKin. And a counter 18 that counts the number of clocks.
- the output data of the counter 18 is input to the D / A converter 17, and the output of the D / A converter 17 is output as the output voltage Vout.
- the flip-flop 8 is arranged on the control signal input side of the clock gating circuit, as in the configuration of FIG. As a result, malfunction caused by glitches in the output voltage Vout is suppressed. Further, a low-pass filter 9 is provided in a path through which the output voltage Vout of the voltage generation circuit 5 is sent to the gate of the second transistor M2. This low-pass filter 9 also reduces glitches themselves.
- a PMOS cascode transistor M4 is arranged on the drain side of the PMOS first transistor M1 generating the reference current Iref.
- An NMOS cascode transistor M5 is disposed on the drain side of the NMOS second transistor M2.
- an amplifier circuit 10 is provided between the node P and the input terminal of the AND gate 3.
- This amplifier circuit 10 amplifies the voltage change at the node P, and the change becomes more steep, so that a more accurate bias current can be set.
- the amplifier circuit 10 is configured by the two-stage inverters INV1 and INV2.
- the present invention is not limited to this.
- a comparator in which a predetermined voltage is applied to one input terminal may be used. .
- a digital control circuit for executing a predetermined flow is not necessary in determining the bias current, and only a clock signal is given to a very simple configuration.
- a desired bias current is automatically generated.
- the voltage generation circuit 5 is realized by the configuration including the D / A converter 17 and the counter 18, the circuit scale can be greatly reduced as compared with the third embodiment. Furthermore, malfunction caused by glitches in the output voltage Vout of the voltage generation circuit 5 can be greatly suppressed.
- the flip-flop 8 and the low-pass filter 9 shown in the present embodiment may be added to the configuration of FIG. 9 shown in the third embodiment.
- the cascode transistors M4 and M5 and the amplifier circuit 10 shown in the present embodiment may be added to the configuration of FIG. 9 shown in the third embodiment.
- the change in the control signal input to the clock gating circuit can be made steeper, so that a more accurate bias current can be set.
- the clock gating circuit is configured by the AND gate 3.
- the present invention is not limited to this, and may be configured by, for example, an OR gate or an inverter circuit with a switch. It is.
- bias generation circuit shown in each of the above-described embodiments can be applied to, for example, communication equipment and radar equipment.
- the communication device or the radar device may be configured such that the bias voltage or the bias current is set by the bias generation circuit according to each embodiment when the device is activated or periodically.
- a bias generation circuit capable of setting a desired bias voltage and bias current can be realized with a simple configuration, the cost of a device that requires a low noise bias generation circuit, such as a communication device or a radar device, is achieved. Effective for down and low power consumption.
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Abstract
簡易な構成で、所望のバイアス電圧等を設定可能なバイアス発生回路を提供する。電圧発生回路(4)は、与えられたクロック信号(CLKin)のクロック数に応じて、出力電圧(Vout)を徐々に増加または減少させる。クロックゲーティング回路(3)は、基準電圧(Vref)と電圧発生回路4の出力電圧(Vout)とを比較する比較器(2)の出力を制御信号として受け、この制御信号によってクロック信号を電圧発生回路(4)に与えるか否かを制御する。これにより、電圧発生回路(4)の出力電圧すなわちバイアス電圧(Vbias)が、基準電圧(Vref)近傍の値に設定される。
Description
本開示は、低ノイズのバイアス電圧及びバイアス電流を生成する技術に関する。
例えば無線通信用機器に用いられる送受信回路には、優れた感度特性を実現するために、厳しい低ノイズ特性が求められる。しかしながら、CMOSトランジスタで構成された回路においては、いわゆるフリッカーノイズが発生し、これが低ノイズ化に向けた大きな障害となっている。フリッカーノイズは、電流がシリコンと酸化膜との界面を流れる構造上、キャリアが界面の格子欠陥にランダムに捕獲又は開放されることによって発生するノイズである。フリッカーノイズは、トランジスタを構成要素として含む様々な回路で発生するが、特にアナログ回路の基本要素であるバイアス回路のフリッカーノイズが大きい場合、そのバイアス回路からバイアス電圧やバイアス電流の供給を受けている全ての回路が影響を受ける。このため、バイアス回路の低ノイズ化は極めて重要である。
一方、フリッカーノイズは、トランジスタサイズを大きくすることによって抑えることができる。ところが、トランジスタサイズを大きくすることは、チップ面積の増大につながり、すなわち、コスト増の要因になる。また、例えばカレントミラーを構成する入力側のトランジスタは、しばしばフリッカーノイズの大きな発生源となるが、そのトランジスタのサイズを大きくすると、カレントミラーのミラー比を大きくとれなくなり、出力側のトランジスタに所定の電流を流すために必要なドレイン電流が大きくなるため、消費電力の大幅な増大を招くことになる。
特許文献1には、比較的小さな面積で、低ノイズのバイアス電圧を発生させることが可能なバイアス電圧生成回路の回路構成が提案されている。
しかしながら、特許文献1のバイアス生成回路では、バイアス電圧を決定するために、所定のフローを実行するためのデジタル制御回路を実装する必要があり、このことが設計工数やチップ面積の増大に繋がる。
また、バイアス生成部は可変抵抗部の抵抗値を変えることによってバイアス電圧を制御しているので、バイアス電圧の制御に伴ってインピーダンスが変化する。このため、電源電圧変動や、これに起因する電圧誤差が発生しやすい。また、抵抗分圧によって電源-グランド間の所定の電圧範囲を出力範囲に設定し、高分解能化を図ることが困難である。
さらに、可変抵抗部の抵抗値を制御するためのスイッチには導通時に定常電流が流れるため、このスイッチを構成するCMOSトランジスタ自体がフリッカーノイズを発生してしまう。
かかる点に鑑み、本開示は、所定のフローを実行するためのデジタル制御回路を必要とせず、簡易な構成で、所望のバイアス電圧やバイアス電流を設定可能なバイアス発生回路を提供する。
本開示の一態様は、バイアス発生回路であって、与えられたクロック信号のクロック数に応じて、出力電圧を徐々に増加させる、または、徐々に減少させる電圧発生回路と、基準電圧と、前記電圧発生回路の出力電圧とを比較する比較器と、クロック信号を生成するクロック発生回路と、前記比較器の出力を制御信号として受け、この制御信号に応じて、前記クロック発生回路から出力されたクロック信号を前記電圧発生回路に与えるか否かを制御するクロックゲーティング回路とを備え、前記電圧発生回路の出力電圧が、バイアス電圧として出力されるものである。
この態様によると、電圧発生回路は、与えられたクロック信号のクロック数に応じて、出力電圧を徐々に増加、または、減少させる。クロックゲーティング回路は、基準電圧と電圧発生回路の出力電圧とを比較する比較器の出力を制御信号として受け、この制御信号によって、クロック信号を電圧発生回路に与えるか否かを制御する。例えば、電圧発生回路が出力電圧を徐々に増加させるものであるとき、クロックゲーティング回路は、比較器の出力が、電圧発生回路の出力電圧が基準電圧を上回ったことを示すとき、クロック信号の出力を停止する。これにより、電圧発生回路の出力電圧、すなわち、バイアス電圧が基準電圧近傍の値に設定される。したがって、クロック数に応じて出力電圧を徐々に増加、または減少させる電圧発生回路と、電圧発生回路へのクロック信号の供給を基準電圧に基づいて制御する簡易な構成とによって、所望のバイアス電圧を設定することができる。
また、本開示の他の態様は、バイアス発生回路であって、与えられたクロック信号のクロック数に応じて、出力電圧を徐々に増加させる、または、徐々に減少させる電圧発生回路と、基準電流を生成する第1トランジスタと、前記電圧発生回路の出力電圧がゲートに与えられ、前記基準電流がドレインに入力される第2トランジスタと、クロック信号を生成するクロック発生回路と、前記第2トランジスタのドレイン電圧を制御信号として受け、この制御信号に応じて、前記クロック発生回路から出力されたクロック信号を前記電圧発生回路に与えるか否かを制御するクロックゲーティング回路と、前記電圧発生回路の出力電圧がゲートに与えられ、ドレインからバイアス電流を出力する第3トランジスタとを備えたものである。
この態様によると、電圧発生回路は、与えられたクロック信号のクロック数に応じて、出力電圧を徐々に増加、または、減少させる。クロックゲーティング回路は、電圧発生回路の出力電圧がゲートに与えられ、基準電流がドレインに入力される第2トランジスタのドレイン電圧を制御信号として受け、この制御信号によって、クロック信号を電圧発生回路に与えるか否かを制御する。例えば、電圧発生回路が出力電圧を徐々に増加させるものであるとき、クロックゲーティング回路は、第2トランジスタのドレイン電流が増加してドレイン電圧が低下したとき、クロック信号の出力を停止する。これにより、電圧発生回路の出力電圧がゲートに与えられる第3トランジスタのドレイン電流、すなわち、バイアス電流が、基準電流近傍の値に設定される。したがって、クロック数に応じて出力電圧を徐々に増加、または、減少させる電圧発生回路と、電圧発生回路へのクロック信号の供給を基準電流に基づいて制御する簡易な構成とによって、所望のバイアス電流を設定することができる。
そして、上述の各態様において、前記電圧発生回路は、前記出力電圧が出力される出力端子と、複数の抵抗が直列に接続されており、両端に所定の電圧が印加される抵抗列と、導通/非導通が切替可能であり、一端が前記抵抗列における抵抗端にそれぞれ接続され、他端が前記出力端子に接続された複数のスイッチと、前記クロック信号を受け、前記クロック信号のクロック数に応じて、前記複数のスイッチの中のいずれか1つを選択して導通させるスイッチ選択部とを備えたものとすればよい。
これにより、電圧発生回路が、両端に所定の電圧が印加される抵抗列と、一端が抵抗列における抵抗端にそれぞれ接続され、他端が出力端子に接続された複数のスイッチとを備えた構成によって実現されるので、電源電圧変動やこれに起因する電圧誤差の発生を抑えることができ、また、フリッカーノイズの発生を抑えることができる。
また、上述の各態様において、前記電圧発生回路は、デジタル信号をアナログ信号に変換するデジタル-アナログ変換器と、前記クロック信号のクロック数をカウントするカウンタとを備え、前記カウンタの出力が前記デジタル-アナログ変換器に入力され、前記デジタル-アナログ変換器の出力が、前記出力電圧として出力されるものとすればよい。
これにより、電圧発生回路が、クロック数をカウントするカウンタと、カウンタの出力を入力とするデジタル-アナログ変換器とを備えた構成によって実現されるので、回路規模を大幅に削減することが可能になる。
本開示によれば、所定のフローを実行するためのデジタル制御回路を必要とせず、簡易な構成によって、所望のバイアス電圧やバイアス電流を設定することができる。
以下、本開示の各実施形態について、図面を参照しながら説明する。なお、各実施形態の説明において使用される「接続」、又は、信号が「与えられる」、「入力される」等の文言は、直接的な接続や信号の伝播だけではなく、素子(容量素子、トランジスタ、論理ゲート、回路等など)を介した間接的な接続や信号の伝播をも含む。
<第1実施形態>
図1は第1実施形態に係るバイアス発生回路の構成を示す回路図である。本実施形態に係るバイアス発生回路は、クロック信号を生成するクロック発生回路1、2つの入力電圧を比較する比較器2、制御信号に応じてクロック信号を通過又は停止させるクロックゲーティング回路としてのANDゲート3、および、入力クロックに応じて出力電圧を増加又は減少させる電圧発生回路4を有する。
図1は第1実施形態に係るバイアス発生回路の構成を示す回路図である。本実施形態に係るバイアス発生回路は、クロック信号を生成するクロック発生回路1、2つの入力電圧を比較する比較器2、制御信号に応じてクロック信号を通過又は停止させるクロックゲーティング回路としてのANDゲート3、および、入力クロックに応じて出力電圧を増加又は減少させる電圧発生回路4を有する。
具体的には、比較器2は、非反転入力端子に基準電圧Vrefが入力されると共に、反転入力端子に電圧発生回路4から出力される電圧Voutが与えられる。すなわち、比較器2は、基準電圧Vrefと電圧発生回路4の出力電圧Voutとを比較する。ANDゲート3は、一方の入力端子にクロック発生回路1から出力されたクロック信号が与えられ、他方の入力端子に比較器2の出力信号が与えられている。そしてANDゲート3の出力は、電圧発生回路4のクロック入力端子15にクロック信号CLKinとして与えられる。すなわち、ANDゲート3は、比較器2の出力を制御信号として受け、この制御信号に応じて、クロック発生回路1から出力されたクロック信号を電圧発生回路4に与えるか否かを制御する。電圧発生回路4の出力電圧Voutは、バイアス電圧Vbiasとして出力される。
電圧発生回路4は、直列に接続された複数の抵抗R1~Rn+1からなる抵抗列11と、導通/非導通が切替可能である複数のスイッチSW1~SWnからなるスイッチ群12と、クロック信号CLKinを受け、複数のスイッチSW1~SWnのうち導通させるスイッチを選択するためのスイッチ選択部としてのシフトレジスタ13とを有する。スイッチ群12の各スイッチSW1~SWnは、一端が抵抗列11における抵抗端VR1~VRnにそれぞれ接続され、他端が出力端子14に接続されている。シフトレジスタ13は、複数のフリップフロップFF1~FFn+1によって構成されている。
なお、本明細書では、抵抗列において、Vで始まる符号は、抵抗端すなわち抵抗列を構成する各抵抗の両端子を表し、また、当該抵抗端における電圧値を表すものとする。
抵抗列11は、高電位側電源VDDと低電位側電源VSSとの間に接続されており、両端に所定の電圧が印加される。抵抗列11において、両端の抵抗R1,Rn+1の抵抗値と、両端以外の抵抗R2~Rnの抵抗値の総和とを適切に設定することにより、電圧発生回路4の出力電圧範囲を容易に可変できる。また、両端以外の抵抗の個数を変えることにより、出力電圧の分解能も容易に設定することが可能である。シフトレジスタ13を構成するフリップフロップFF1~FFn+1は、リセット信号端子16から入力される、初期状態を決めるためのリセット信号Resetが、リセット端子に与えられる(RETでLowに、SETでHighに設定されるとする)。また、各フリップフロップFF1~FFnの出力信号は、対応するスイッチSW1~SWnのON,OFFを制御する。スイッチ群12において導通したスイッチが接続されている抵抗列11の抵抗端の電圧が、出力電圧Voutとして、出力端子14から出力される。
なお、本実施形態では、電圧発生回路4は、与えられたクロック信号CLKinのクロック数に応じて、出力電圧Voutを徐々に増加させるように構成されている。
次に、図1に示すバイアス発生回路の動作について説明する。まず、リセット信号Resetが入力されると、シフトレジスタ13において、フリップフロップFF1の出力がHigh、その他のフリップフロップFF2~Fn+1の出力はLowにセットされるので、スイッチ群12においてスイッチSW1が導通し、最も低い電圧VR1が出力電圧Voutとして出力される。ここで、この初期値VR1は、ターゲットとなる基準電圧Vrefよりも十分低い電圧(VR1<Vref)に設定されている。このため、比較器2の出力はHighとなり、ANDゲート3はクロック発生回路1から出力されたクロック信号をスルーさせる。このクロック信号に応じて電圧発生回路4のシフトレジスタ13においてHigh出力が順次シフトしていき、それに応じて出力電圧VoutがVR1⇒VR2⇒VR3…の順で出力され、徐々に上昇して行く。
そして、電圧発生回路4の出力電圧Voutが基準電圧Vrefよりも大きくなると、比較器2の出力がLowに反転し、ANDゲート3がクロック信号の出力を停止させるため、電圧発生回路4の出力電圧Voutの上昇が止まる。すなわち、電圧発生回路4の出力電圧Voutは、基準電圧Vrefの近傍で、かつ、基準電圧Vrefよりも高い電圧に設定される。
図2に実際のシミュレーション結果を示す。電圧発生回路4の初期値電圧は0V、ターゲットとなる基準電圧Vrefは400mVとしている。図2から分かるように、クロック信号CLKinのクロック数に応じて電圧発生回路4の出力電圧Vout(=バイアス電圧Vbias)は0Vから徐々に上昇し、基準電圧400mVを越えた時点で比較器出力がLowに反転し、ANDゲート3からのクロック信号出力が停止して、電圧発生回路4の出力電圧の上昇が止まっている。このとき設定された電圧発生回路4の出力電圧Voutは402.6mVであり、基準電圧400mVの近傍かつ高い電圧に設定されている(シミュレーションにおける1LSBは、約5mVである)。
以上述べたように本実施形態によると、バイアス電圧を決定するにあたって所定のフローを実行するためのデジタル制御回路が不要であり、非常に簡易な構成にクロック信号を与えるだけで所望のバイアス電圧が自動的に生成される。また、電源-グランド間に接続された抵抗列11の抵抗値は常に一定であり、定電流回路として動作するため、電源電圧変動やそれに起因する電圧誤差は発生しない。
さらに、電圧発生回路4におけるスイッチSW1~SWnは、抵抗列11の抵抗端の電圧を出力端子14に取り出すために用いられるため、定常電流が流れない。このため、スイッチトランジスタによるフリッカーノイズの影響を抑えることが可能となる(MOSトランジスタにおけるフリッカーノイズは、電流がシリコンと酸化膜との界面を流れる際、キャリアが格子欠陥にランダムに捕獲されたり開放されたりすることで発生する電流の時間的なゆらぎに起因するため、電流が流れない場合、フリッカーノイズの影響はゼロとなる)。
なお、本実施形態において、電圧発生回路4は、入力クロックに応じて出力電圧が上昇するように構成されているが、この構成に限定されるものではなく、入力クロックに応じて出力電圧が下降するように構成しても同様の効果を得ることができる。この場合例えば、図1において、抵抗列11の抵抗端の電圧を高い順に出力できるように、スイッチ群12とシフトレジスタ13との接続関係を変更する。これにより、電圧発生回路4は、与えられたクロック信号CLKinのクロック数に応じて、出力電圧Voutを徐々に減少させる。そして比較器2について、基準電圧Vrefを反転入力端子に与え、電圧発生回路4の出力電圧Voutを非反転入力端子に与えるようにすればよい。このような構成において、電圧発生回路4の初期値VRnを基準電圧Vrefより十分高い電圧に設定しておけば(VRn>Vref)、電圧発生回路4の出力電圧Voutは基準電圧Vrefの近傍で、かつ、基準電圧Vrefよりも低い電圧に設定される。
なお、本実施形態では、シフトレジスタによってスイッチ選択部を構成するものとしたが、これに限られるものではなく、例えば、カウンタによってスイッチ選択部を構成するようにしてもよい。
(第1変形例)
図3は第1実施形態の第1変形例に係るバイアス発生回路の構成を示す回路図である。図3の構成では、電圧発生回路の構成が図1と異なっている。図1に示した電圧発生回路4では、抵抗列11における抵抗端の電圧を取り出すために、スイッチとほぼ同数のフリップフロップが必要となり、細かい分解能が必要な場合、回路面積の増大に繋がる。そこで、第1変形例では、電圧発生回路4Aは、フリップフロップの個数を削減することが可能な構成としている。
図3は第1実施形態の第1変形例に係るバイアス発生回路の構成を示す回路図である。図3の構成では、電圧発生回路の構成が図1と異なっている。図1に示した電圧発生回路4では、抵抗列11における抵抗端の電圧を取り出すために、スイッチとほぼ同数のフリップフロップが必要となり、細かい分解能が必要な場合、回路面積の増大に繋がる。そこで、第1変形例では、電圧発生回路4Aは、フリップフロップの個数を削減することが可能な構成としている。
図3において、電圧発生回路4Aでは、抵抗列21の抵抗21aが、X軸方向(図面横方向)に順次向きを変えながらジクザグに配置されている。複数のスイッチSW11~SWn8は、一端が抵抗列21における抵抗端VR11~VRn8にそれぞれ接続され、他端が出力端子14に接続されている。そして、スイッチ選択部を構成するシフトレジスタは、X軸方向用とY軸方向用(図面縦方向)に分かれて配置されている。第1選択部としてのX軸方向用の第1シフトレジスタ22は、フリップフロップFF1~FF8によって構成されており、フリップフロップFF8の出力がフリップフロップFF1の入力に接続され、全体でリング構成となっている。一方、第2選択部としてのY軸方向用の第2シフトレジスタ23は、フリップフロップFF10~FFn0によって構成されている。第1シフトレジスタ22はクロック信号CLKinを受けて動作し、複数の第1スイッチ選択信号を出力する。第2シフトレジスタ23は、第1シフトレジスタ22の出力信号の1つ(図3ではフリップフロップFF1の出力)を受けて動作し、複数の第2スイッチ選択信号を出力する。
さらに、複数の論理回路の一例である論理積回路24が、複数のスイッチSW11~SWn8に対応してそれぞれ設けられている。論理積回路24は、第1シフトレジスタ22から出力された第1スイッチ選択信号のいずれか1つと、第2シフトレジスタ23から出力された第2スイッチ選択信号のいずれか1つとを入力とし、当該スイッチの導通/非導通を制御する信号を出力する。
ここでは、複数の第1スイッチ選択信号は、いずれか1つが所定の第1論理値としてのHighになり、同様に、複数の第2スイッチ選択信号は、いずれか1つが所定の第2論理値としてのHighになるものとする。第1シフトレジスタ22は、クロック信号CLKinの立ち上がりにおいて、Highを持つ第1スイッチ選択信号をシフトさせる。第2シフトレジスタ23は、第1シフトレジスタ22の出力信号の立ち上がりにおいて、Highになる第2スイッチ選択信号をシフトさせる。そして、与えられる第1および第2スイッチ選択信号がともにHighである論理積回路24が、信号としてHighを出力することによって、対応するスイッチを導通状態にする。与えられる第1および第2スイッチ選択信号のうち少なくともいずれか一方がHighでない論理積回路24は、信号としてLowを出力することによって、対応するスイッチを非導通状態にする。
次に、図3に示す電圧発生回路4Aの動作について説明する。まず、リセット信号Resetが入力されると、第1シフトレジスタ22におけるフリップフロップFF1と第2シフトレジスタ23におけるフリップフロップFF10の出力がHighに、それ以外のフリップフロップFF2~FF8,F20~Fn0の出力は全てLowにセットされる。したがって、フリップフロップFF1,FF10によって制御されるスイッチSW11が導通し、端子電圧VR11が出力電圧Voutとして出力される。次に、クロック信号CLKinが入力されると、第1シフトレジスタ22においてHigh出力がFF1⇒FF2⇒FF3…の順序でシフトし、それに応じて端子電圧VR11⇒VR12⇒VR13…が順次出力され、出力電圧Voutが上昇して行く。そして、フリップフロップFF8の出力がHighになって端子電圧VR18が出力されると、次のクロックでフリップフロップFF1の出力がHighになるため、その立ち上がりで第2シフトレジスタ23のHigh出力がフリップフロップFF10からフリップフロップFF20にシフトする。これにより、フリップフロップFF1,FF20によって制御されるスイッチSW21がONとなり、端子電圧VR21が出力電圧Voutとして出力される。その後、クロックに応じてVR21⇒VR22⇒VR23…が順次出力され、端子電圧VR28に達すると次のクロックでフリップフロップFF30の出力がHighとなり、続いてVR31⇒VR32⇒VR33の順で出力されて行く。
このように、図1の電圧発生回路4と同様に、抵抗列21における抵抗端の電圧が低い側から高い側に向かって順次出力される。しかも本変形例では、シフトレジスタをX軸方向用とY軸方向用とに分けて配置しているので、フリップフロップの数を大幅に削減可能である。例えば、図3の電圧発生回路4Aを第1の実施形態のように構成した場合、必要とされるフリップフロップの数は8xn個であるが、本変形例では(8+n)個となる。したがって、本変形例によると、電圧発生回路4Aの回路規模を大幅に削減しながら、第1の実施形態と同様の効果を容易に得ることができる。
なお、複数の第1スイッチ選択信号は、いずれか1つが、所定の第1論理値としてLowになるものとしてもよい。また、複数の第2スイッチ選択信号は、いずれか1つが、所定の第2論理値としてLowになるものとしてもよい。そして、第1および第2スイッチ選択信号の論理に応じた論理回路を、複数のスイッチに対応してそれぞれ設ければよい。例えば、複数の第1スイッチ選択信号および複数の第2スイッチ選択信号が、両方とも、いずれか1つがLowになる場合は、論理積回路24の代わりに、論理和回路を設ければよい。すなわち、与えられる第1および第2スイッチ選択信号がともにLowである論理和回路が、信号としてLowを出力することによって、対応するスイッチを導通状態にする。
また、第1シフトレジスタ22は、クロック信号CLKinの立ち下がりにおいて、所定の論理値を持つ第1スイッチ選択信号をシフトさせてもよいし、第2シフトレジスタ23は、第1シフトレジスタ22の出力信号の立ち下がりにおいて、所定の論理値を持つ第2スイッチ選択信号をシフトさせてもよい。
(第2変形例)
図4は第1実施形態の第2変形例に係るバイアス発生回路の構成を示す回路図である。図4の構成では、電圧発生回路の構成が図1および図3と異なっている。図3に示した電圧発生回路4Aでは、抵抗列21から電圧を取り出すために、電圧を取り出す抵抗端と同数のスイッチおよび論理ゲートが必要となるが、第2変形例では、電圧発生回路4Bは、スイッチおよび論理ゲートの個数を大幅に削減することが可能な構成としている。
図4は第1実施形態の第2変形例に係るバイアス発生回路の構成を示す回路図である。図4の構成では、電圧発生回路の構成が図1および図3と異なっている。図3に示した電圧発生回路4Aでは、抵抗列21から電圧を取り出すために、電圧を取り出す抵抗端と同数のスイッチおよび論理ゲートが必要となるが、第2変形例では、電圧発生回路4Bは、スイッチおよび論理ゲートの個数を大幅に削減することが可能な構成としている。
図4において、電圧発生回路4Bは、複数の抵抗R1~R8が直列に接続された第1抵抗列31、導通/非導通が切替可能な複数のスイッチSW1~SW8からなる第1スイッチ群32、第1スイッチ群32に属するスイッチを選択して導通させる第1スイッチ選択部としての第1シフトレジスタ33、複数の抵抗Rc1~Rc5が直列に接続された第2抵抗列34、導通/非導通が切替可能な複数のスイッチSWH1~SWH6からなる第2スイッチ群35、導通/非導通が切替可能な複数のスイッチSWL1~SWL6からなる第3スイッチ群36、および、第2スイッチ群35に属するスイッチを選択して導通させるとともに、第3スイッチ群36に属するスイッチを選択して導通させる第2スイッチ選択部としての第2シフトレジスタ37を備えている。
第1スイッチ群32の各スイッチSW1~SW8は、一端が第1抵抗列31における抵抗端にそれぞれ接続され、他端が出力端子14に接続されている。第2スイッチ群35の各スイッチSWH1~SWH6は、一端が第2抵抗列34における抵抗端にそれぞれ接続され、他端が第1抵抗列31の一端に接続されている。第3スイッチ群36の各スイッチSWL1~SWL6は、一端が第2抵抗列34における抵抗端にそれぞれ接続され、他端が第1抵抗列31の他端に接続されている。
第1シフトレジスタ33は、フリップフロップFF1~FF8を備え、フリップフロップFF8の出力がフリップフロップFF1の入力に接続されるリング構成となっており、クロック信号CLKinを受け、このクロック信号CLKinのクロック数に応じて、第1スイッチ群32に属するスイッチSW1~SW8のいずれか1つを選択して導通させる。すなわち、第1シフトレジスタ33は、第1抵抗列31における抵抗端の電圧を低い方からVR1⇒VR2⇒…⇒VR8⇒VR1…の順番に出力するよう、スイッチSW1~SW8を制御する。一方、第2シフトレジスタ37は、フリップフロップFF10~FF40を備え、第1シフトレジスタ33の出力信号のいずれか1つ(図4ではフリップフロップFF1の出力)を受け、この出力信号に応じて、第2スイッチ群35に属するスイッチSWH1~SWH6のいずれか1つと、第3スイッチ群36に属するスイッチSWL1~SWL6のいずれか1つとを選択して導通させる。すなわち、第2シフトレジスタ37は、第1抵抗列31の両端を、第2抵抗列34における抵抗端に、(Vc1,Vc3)⇒(Vc2,Vc4)⇒(Vc3,Vc5)⇒…の順番に接続するよう、スイッチSWL1~SWL6及びスイッチSWH1~SWH6を制御する。なお、第1抵抗列31および第2抵抗列34における抵抗の個数は、図4に示したものに限定されるものではない。
次に、図4に示す電圧発生回路4Bの動作について説明する。ここで、第1及び第2抵抗列31,34を構成する抵抗R1~R8及びRc1~Rc5の抵抗値は、以下のように設定されているものとする。
R1=R2=R3=R4=R5=R6=R7=R8=Ra
Rc1=Rc2=Rc3=Rc4=Rc5=4Ra
すなわち、第1抵抗列31の抵抗値の総和は8Raである。まず、リセット信号Resetが入力されると、フリップフロップFF10の出力がHighとなるため、スイッチSWL1,SWH3がONとなり、第1抵抗列31の両端は、第2抵抗列34における抵抗端Vc1と抵抗端Vc3とにそれぞれ接続される。ここで、抵抗端Vc1,Vc3間の抵抗値は8Ra(=Rc1+Rc2)であり、第1抵抗列31の総抵抗値8Raと同じであるから、その合成抵抗値は8Ra/2=4Raとなる。この合成抵抗値は抵抗Rc3~Rc5と同じ抵抗値であるので、この結果、抵抗端Vc1,Vc6間の電圧が、抵抗値が同じ4Raである4個の抵抗により4等分される。この4等分された電圧範囲のうち最も低い電圧範囲Vc1~Vc3において、第1抵抗列31によって8等分された電圧VR1~VR8が、電圧発生回路4Bから、クロック信号CLKinのクロック数に従って、順次低い方から出力される。
Rc1=Rc2=Rc3=Rc4=Rc5=4Ra
すなわち、第1抵抗列31の抵抗値の総和は8Raである。まず、リセット信号Resetが入力されると、フリップフロップFF10の出力がHighとなるため、スイッチSWL1,SWH3がONとなり、第1抵抗列31の両端は、第2抵抗列34における抵抗端Vc1と抵抗端Vc3とにそれぞれ接続される。ここで、抵抗端Vc1,Vc3間の抵抗値は8Ra(=Rc1+Rc2)であり、第1抵抗列31の総抵抗値8Raと同じであるから、その合成抵抗値は8Ra/2=4Raとなる。この合成抵抗値は抵抗Rc3~Rc5と同じ抵抗値であるので、この結果、抵抗端Vc1,Vc6間の電圧が、抵抗値が同じ4Raである4個の抵抗により4等分される。この4等分された電圧範囲のうち最も低い電圧範囲Vc1~Vc3において、第1抵抗列31によって8等分された電圧VR1~VR8が、電圧発生回路4Bから、クロック信号CLKinのクロック数に従って、順次低い方から出力される。
そして、電圧VR8が出力されると、次のクロックでスイッチSW1がHighになると共に、第2シフトレジスタ37においてHigh出力がフリップフロップFF10からフリップフロップFF20にシフトする。これにより、スイッチSWL2,SWH4がONとなり、第1抵抗列31の両端は、第2抵抗列34における抵抗端Vc2と抵抗端Vc4とにそれぞれ接続される。上述したのと同様に、抵抗端Vc2,Vc4間の抵抗値は8Ra(=Rc2+Rc3)であり、第1抵抗列31との合成抵抗値は4Raとなるため、この結果、抵抗端Vc1,Vc6間の電圧が、抵抗値が同じ4Raである4個の抵抗により4等分される。この4等分された電圧範囲のうち2番目に低い電圧範囲Vc2~Vc4において、第1抵抗列31によって8等分された電圧VR1~VR8が、電圧発生回路4Bから、クロック信号CLKinのクロック数に従って順次低い方から出力される。
このように、図4の電圧発生回路4Bは、図1や図3の電圧発生回路4,4Aと同様に、与えられたクロック信号のクロック数に応じて、出力電圧を徐々に増加させることができる。しかも本変形例では、フリップフロップだけではなく、スイッチおよび論理ゲートの個数も大幅に削減可能である。
また、抵抗端Vc1,Vc6間のインピーダンスは常に一定であるため(図4の場合は16Ra)、定常的な電源電圧変動は生じず、それに起因する電圧誤差も発生しない。また、第2抵抗列34の両端に適切な抵抗Rd,Rsを配置することにより、出力電圧範囲を自由に設定することが可能であり、出力範囲の最適化による高分解能化も容易に行うことができる。さらに、本変形例では、動作時に電流が流れるスイッチは2個だけ(第1抵抗列31の両端を第2抵抗列34に接続するスイッチ)なので、スイッチトランジスタによるフリッカーノイズの影響を最小限に抑えることができる。
また、本変形例において、抵抗値の設定を例えば、
R1=R2=R3=R4=R5=R6=R7=R8 > Ra
Rc1=Rc2=Rc3=Rc4=Rc5=4Ra
というようにしてもよい。この場合、第1抵抗列31の抵抗値の総和が第2抵抗列34の抵抗2個分より大きくなるため、その合成抵抗は第2抵抗列34の各抵抗の抵抗値4Raより大きくなる。これにより、第1抵抗列31と第2抵抗列34との接続関係が切り替わり、第1抵抗列31から出力される電圧範囲が遷移する際に、遷移前後の電圧範囲がオーバーラップを持つようになる。したがって、抵抗ばらつきによる誤差の増大を抑圧することが可能となる。
R1=R2=R3=R4=R5=R6=R7=R8 > Ra
Rc1=Rc2=Rc3=Rc4=Rc5=4Ra
というようにしてもよい。この場合、第1抵抗列31の抵抗値の総和が第2抵抗列34の抵抗2個分より大きくなるため、その合成抵抗は第2抵抗列34の各抵抗の抵抗値4Raより大きくなる。これにより、第1抵抗列31と第2抵抗列34との接続関係が切り替わり、第1抵抗列31から出力される電圧範囲が遷移する際に、遷移前後の電圧範囲がオーバーラップを持つようになる。したがって、抵抗ばらつきによる誤差の増大を抑圧することが可能となる。
この点について、図5および図6を用いて説明する。図5は図4に示す電圧発生回路4Bにおける抵抗値設定の例を概念的に示す図、図6は電圧発生回路4Bの出力電圧の変化を示すグラフである。図5(a)では、第1抵抗列31の総抵抗値は2R、第2抵抗列34における各抵抗の抵抗値はRとしている。この場合には、第1抵抗列31の両端が第2抵抗列34における抵抗2個の両端に接続されたとき、その合成抵抗値はRとなる。このため、第1抵抗列31に対応する電圧範囲Va1~Va5は、電圧範囲全体を均等に分割(図5では5分割)したものになる。このとき、図6(a)に示すように、電圧発生回路4Bの出力電圧はクロック数に応じて単調に増加する。
一方、図5(b)では、第1抵抗列31の総抵抗値を2Rよりも大きく設定している。この場合には、第1抵抗列31の両端が第2抵抗列34における抵抗2個の両端に接続されたとき、その合成抵抗値はRよりも大きくなり、この結果、第1抵抗列31に対応する電圧範囲Vb1~Vb5は、図5(a)の電圧範囲Va~Va5よりも少し広がり、隣り合う電圧範囲が互いにオーバーラップする。このとき、図6(b)に示すように、電圧発生回路4Bの出力電圧は、全体としてはクロック数に応じて徐々に増加するものの、微視的に見た場合には、出力電圧が減少する部分が表れる。
電圧発生回路の出力電圧は、クロック数に応じて、所定の変化量で単調に増加する、または、単調に減少する、というのが理想的である。ところが、実際には、抵抗値のばらつきに起因して、その変化量が所定の値から上下することがある。このような誤差は、第1抵抗列31と第2抵抗列34との接続関係が切り替わる際に大きくなる。そして、第1抵抗列31の抵抗値の総和が第2抵抗列34の抵抗2個分より小さい場合、第1抵抗列31に対応する隣り合う電圧範囲に隙間ができ、出力電圧を細かく設定することができなくなるため、出力電圧の設定精度が低下する可能性がある。これに対して、図5(b)のように隣り合う電圧範囲を互いにオーバーラップさせるようにあらかじめ抵抗値を設定することによって、抵抗値がばらついた場合でも、隣り合う電圧範囲に隙間ができるのを防ぎ、出力電圧の設定精度の低下を未然に抑制することが可能になる。
なお、本開示では、電圧発生回路は、クロック数に応じて出力電圧を徐々に増加または減少させるものであるが、例えば図6(b)に示すように、クロック数と出力電圧との関係において、出力電圧の増減方向が、徐々に増加する、または、徐々に減少する方向と、逆になる部分を有していても、かまわないものとする。すなわち、電圧発生回路は、クロック数に応じて出力電圧を徐々に増加させるものであり、かつ、クロック数と出力電圧との関係において、クロック数の増加とともに出力電圧が減少する部分を有するものであってもよい。あるいは、電圧発生回路は、クロック数に応じて出力電圧を徐々に減少させるものであり、かつ、クロック数と出力電圧との関係において、クロック数の増加とともに出力電圧が増加する部分を有するものであってもよい。
(第3変形例)
図7は第1実施形態の第3変形例に係るバイアス発生回路の構成を示す回路図である。図7の構成でも、図4の構成と同様に、電圧発生回路4Cは、スイッチおよび論理ゲートの個数を大幅に削減可能な構成としている。
図7は第1実施形態の第3変形例に係るバイアス発生回路の構成を示す回路図である。図7の構成でも、図4の構成と同様に、電圧発生回路4Cは、スイッチおよび論理ゲートの個数を大幅に削減可能な構成としている。
図7において、電圧発生回路4Cは、図4の電圧発生回路4Bと同様に、複数の抵抗R1~R8が直列に接続された第1抵抗列31、導通/非導通が切替可能な複数のスイッチSW1~SW8からなる第1スイッチ群32、および、第1スイッチ群32に属するスイッチを選択して導通させる第1スイッチ選択部としての第1シフトレジスタ33を備えている。さらに、複数の抵抗Rc1~Rc4が直列に接続された第2抵抗列41、複数の抵抗Rc5~Rc8が直列に接続された第3抵抗列42、導通/非導通が切替可能な複数のスイッチSW11~SW15からなる第2スイッチ群43、導通/非導通が切替可能な複数のスイッチSW16~SW20からなる第3スイッチ群44、および、第2スイッチ群43に属するスイッチを選択して導通させるとともに、第3スイッチ群44に属するスイッチを選択して導通させる第2シフトレジスタ45を備えている。第2抵抗列41は、一端が第1抵抗列31の一端と接続されており、第3抵抗列42は、一端が第1抵抗列31の他端と接続されている。
第1スイッチ群32の各スイッチSW1~SW8は、一端が第1抵抗列31における抵抗端にそれぞれ接続され、他端が出力端子14に接続されている。第2スイッチ群43の各スイッチSW11~SW15は、一端が第2抵抗列41における抵抗端にそれぞれ接続され、他端が低電位供給端子としての端子VLに接続されている。第3スイッチ群44の各スイッチSW16~SW20は、一端が第3抵抗列42における抵抗端にそれぞれ接続され、他端が高電位供給端子としての端子VHに接続されている。
第1シフトレジスタ33は、フリップフロップFF1~FF8を備え、フリップフロップFF8の出力がフリップフロップFF1の入力に接続されるリング構成となっており、クロック信号CLKinを受け、このクロック信号CLKinのクロック数に応じて、第1スイッチ群32に属するスイッチSW1~SW8のいずれか1つを選択して導通させる。すなわち、第1シフトレジスタ33は、第1抵抗列31における抵抗端の電圧を低い方からVR1⇒VR2⇒…⇒VR8⇒VR1…の順番に出力するよう、スイッチSW1~SW8を制御する。一方、第2シフトレジスタ45は、フリップフロップFF10~FF50を備え、第1シフトレジスタ33の出力信号のいずれか1つ(図7ではフリップフロップFF1の出力)を受け、この出力信号に応じて、第2スイッチ群43に属するスイッチSW11~SW15のいずれか1つと、第3スイッチ群44に属するスイッチSW16~SW20のいずれか1つとを選択して導通させる。すなわち、第2シフトレジスタ45は、第2抵抗列41における抵抗端Vc1~Vc5と端子VLとの接続、および、第3抵抗列42における抵抗端Vc6~Vc10と端子VHとの接続が、(Vc1,Vc6)⇒(Vc2、Vc7)⇒(Vc3、Vc8)⇒…の順番に行われるよう、スイッチSW11~SW20を制御する。なお、第1抵抗列31、第2抵抗列41および第3抵抗列42における抵抗の個数は、図7に示したものに限定されるものではない。
次に、図7に示す電圧発生回路4Cの動作について説明する。ここで、第1抵抗列31を構成する抵抗R1~R8、並びに、第2抵抗列41および第3抵抗列42を構成する抵抗Rc1~Rc8の抵抗値は、以下のように設定されているものとする。
R1=R2=R3=R4=R5=R6=R7=R8=Ra
Rc1=Rc2=Rc3=Rc4=Rc5=Rc6=Rc7=Rc8=8Ra
すなわち、第1抵抗列31の抵抗値の総和は8Raであり、第2抵抗列41および第3抵抗列42の各抵抗の抵抗値に等しい。まず、リセット信号Resetが入力されると、フリップフロップFF10の出力がHighとなるため、スイッチSW11,SW16がONとなり、第2抵抗列41における抵抗端Vc1が端子VLに接続され、第3抵抗列42における抵抗端Vc6が端子VHに接続される。したがって、端子VL,VH間が、第1抵抗列31及び抵抗Rc5~Rc8によって5等分される。この5等分された電圧範囲のうち最も低い電圧範囲Vc1~Vc10において、第1抵抗列31によって8等分された電圧VR1~VR8が、電圧発生回路4Cから、クロック信号CLKinのクロック数に従って、順次低い方から出力される。
Rc1=Rc2=Rc3=Rc4=Rc5=Rc6=Rc7=Rc8=8Ra
すなわち、第1抵抗列31の抵抗値の総和は8Raであり、第2抵抗列41および第3抵抗列42の各抵抗の抵抗値に等しい。まず、リセット信号Resetが入力されると、フリップフロップFF10の出力がHighとなるため、スイッチSW11,SW16がONとなり、第2抵抗列41における抵抗端Vc1が端子VLに接続され、第3抵抗列42における抵抗端Vc6が端子VHに接続される。したがって、端子VL,VH間が、第1抵抗列31及び抵抗Rc5~Rc8によって5等分される。この5等分された電圧範囲のうち最も低い電圧範囲Vc1~Vc10において、第1抵抗列31によって8等分された電圧VR1~VR8が、電圧発生回路4Cから、クロック信号CLKinのクロック数に従って、順次低い方から出力される。
そして、電圧VR8が出力されると、次のクロックでスイッチSW1がONになるとともに、第2シフトレジスタ45においてHigh出力がフリップフロップFF10からフリップフロップFF20にシフトする。これにより、スイッチSW12,SW17がONとなり、第2抵抗列41における抵抗端Vc2が端子VLに接続され、第3抵抗列42における抵抗端Vc7が端子VHに接続される。したがって、端子VL,VH間が、今度は抵抗Rc1、第1抵抗列31及び抵抗Rc6~Rc8によって5等分される。この5等分された電圧範囲のうち2番目に低い電圧範囲Vc1~Vc10において、第1抵抗列31によって8等分された電圧VR1~VR8が、電圧発生回路4Cから、クロック信号CLKinのクロック数に従って、順次低い方から出力される。
このように、図7の電圧発生回路4Cは、図1や図3の電圧発生回路4,4Aと同様に、与えられたクロック信号のクロック数に応じて、出力電圧を徐々に増加させることができる。しかも本変形例では、フリップフロップだけではなく、スイッチおよび論理ゲートの個数も大幅に削減可能である。
また、端子VL,VH間のインピーダンスは常に一定であるため(図7の場合は40Ra)、定常的な電源電圧変動は生じず、それに起因する電圧誤差も発生しない。また、高電位側電源Vddと端子VHとの間、および、低電位側電源Vssと端子VLとの間に、適切な抵抗Rd,Rsを配置することにより、出力電圧範囲を自由に設定することが可能であり、出力範囲の最適化による高分解能化も容易に行うことができる。さらに、本変形例では、動作時に電流が流れるスイッチは2個だけ(第2抵抗列41と端子VLを接続するスイッチ、および、第3抵抗列42と端子VHを接続するスイッチ)なので、スイッチトランジスタによるフリッカーノイズの影響を最小限に抑えることができる。
また、本変形例において、抵抗列の設定を例えば、
R1=R2=R3=R4=R5=R6=R7=R8 > Ra
Rc1=Rc2=Rc3=Rc4=Rc5=Rc6=Rc7=Rc8=8Ra
というようにしてもよい。この場合、第1抵抗列31の抵抗値の総和が、第2抵抗列41および第3抵抗列42の各抵抗の抵抗値8Raより大きくなる。これにより、第1抵抗列31と第2抵抗列41および第3抵抗列42との接続関係が切り替わり、第1抵抗列31から出力される電圧範囲が遷移する際に、遷移前後の電圧範囲がオーバーラップを持つようになる。したがって、第2変形例で説明したとおり、抵抗ばらつきによる誤差の増大を抑圧することが可能となる。
R1=R2=R3=R4=R5=R6=R7=R8 > Ra
Rc1=Rc2=Rc3=Rc4=Rc5=Rc6=Rc7=Rc8=8Ra
というようにしてもよい。この場合、第1抵抗列31の抵抗値の総和が、第2抵抗列41および第3抵抗列42の各抵抗の抵抗値8Raより大きくなる。これにより、第1抵抗列31と第2抵抗列41および第3抵抗列42との接続関係が切り替わり、第1抵抗列31から出力される電圧範囲が遷移する際に、遷移前後の電圧範囲がオーバーラップを持つようになる。したがって、第2変形例で説明したとおり、抵抗ばらつきによる誤差の増大を抑圧することが可能となる。
なお、変形例1~3に示した電圧発生回路4A,4B,4Cは、クロック数に応じて出力電圧が上昇するように構成されているが、図1の電圧発生回路4と同様に、クロック数に応じて出力電圧が下降するように構成することも容易に可能である。
また、変形例1~3では、シフトレジスタによってスイッチ選択部を構成するものとしたが、これに限られるものではなく、例えば、カウンタによってスイッチ選択部を構成するようにしてもよい。
<第2実施形態>
図8は第2実施形態に係るバイアス発生回路の構成を示す回路図である。図8では、図1と共通の構成要素には図1と同一の符号を付している。本実施形態における基本的な構成と動作は、第1実施形態で説明した内容とほぼ同様である。ここでは、第1実施形態との相違点について主に説明する。
図8は第2実施形態に係るバイアス発生回路の構成を示す回路図である。図8では、図1と共通の構成要素には図1と同一の符号を付している。本実施形態における基本的な構成と動作は、第1実施形態で説明した内容とほぼ同様である。ここでは、第1実施形態との相違点について主に説明する。
図8に示す電圧発生回路5は、デジタル信号をアナログ信号に変換するデジタル-アナログ変換器(D/Aコンバータ)17と、クロック信号CLKinのクロック数をカウントするカウンタ18とを備えている。カウンタ18の出力データがD/Aコンバータ17に入力され、D/Aコンバータ17の出力が、出力電圧Voutとして出力される。
このような構成により、電圧発生回路5は、入力クロックに応じて、D/Aコンバータ17の1階調ずつ出力電圧Voutを増加または減少させることができる。また、第1実施形態と比べて、より小さな面積で電圧発生回路5を実現することが可能となる。なお、D/Aコンバータ17としてはどのような形式のものでも使用可能であるが、R-2R型等、なるべく低ノイズのD/Aコンバータを使用することが望ましい。
また図8の構成では、比較器2の出力側に、言い換えると、クロックゲーティング回路の制御信号入力側に、フリップフロップ8を配置し、クロック信号に同期して比較器2の出力結果を取り込む構成としている。これは、電圧発生回路5にD/Aコンバータ17を用いた場合に特に問題となるグリッチ(出力の切り替わり時に発生するスパイク状のノイズ)による誤差を低減するためである。例えば、クロックの立ち下がりエッジで電圧発生回路5の出力を変化させ、その半周期後の立ち上がりエッジで比較器2の出力結果をフリップフロップ8に取り込むようにする。これにより、電圧発生回路5の出力電圧Voutが変化する際に発生するグリッチに起因する誤動作を抑制することができる(グリッチによるノイズは、出力電圧Voutの切り替わり時から半周期後にはほぼ収束する)。また、図8の構成では、電圧発生回路5の出力電圧Voutが比較器2の入力端子に送られる経路に、低域通過フィルタ9が設けられている。この低域通過フィルタ9によって、グリッチ自体の低減も図っている。
このように本実施形態によると、第1実施形態と同様に、バイアス電圧を決定するにあたって所定のフローを実行するためのデジタル制御回路が不要であり、非常に簡易な構成にクロック信号を与えるだけで所望のバイアス電圧が自動的に生成される。また、電圧発生回路5をD/Aコンバータ17およびカウンタ18を備えた構成によって実現しているので、第1実施形態と比べて回路規模を大幅に削減することが可能になる。さらに、電圧発生回路5の出力電圧Voutにおけるグリッチに起因する誤動作を大幅に抑制することができる。
なお、本実施形態で示したフリップフロップ8や低域通過フィルタ9を、第1実施形態で示した図1等の構成に追加してもよい。これにより、本実施形態と同様に、電圧発生回路4等の出力電圧Voutにおけるグリッチに起因する誤動作を大幅に抑制することができる。
<第3実施形態>
図9は第3実施形態に係るバイアス発生回路の構成を示す回路図である。本実施形態に係るバイアス発生回路は、クロック信号を生成するクロック発生回路1、制御信号に応じてクロック信号を通過又は停止させるクロックゲーティング回路としてのANDゲート3、入力クロックに応じて出力電圧を増加又は減少させる電圧発生回路4、基準電流Irefを生成する第1トランジスタM1、基準電流Irefがドレインに入力される第2トランジスタM2、および、ドレインからバイアス電流Ibiasを出力する第3トランジスタM3を有する。
図9は第3実施形態に係るバイアス発生回路の構成を示す回路図である。本実施形態に係るバイアス発生回路は、クロック信号を生成するクロック発生回路1、制御信号に応じてクロック信号を通過又は停止させるクロックゲーティング回路としてのANDゲート3、入力クロックに応じて出力電圧を増加又は減少させる電圧発生回路4、基準電流Irefを生成する第1トランジスタM1、基準電流Irefがドレインに入力される第2トランジスタM2、および、ドレインからバイアス電流Ibiasを出力する第3トランジスタM3を有する。
具体的には、ANDゲート3は、一方の入力端子にクロック発生回路1から出力されたクロック信号が与えられ、他方の入力端子に第2トランジスタM2のドレイン電圧が与えられている。そしてANDゲート3の出力は、電圧発生回路4のクロック入力端子15にクロック信号CLKinとして与えられる。すなわち、ANDゲート3は、第2トランジスタM2のドレイン電圧を制御信号として受け、この制御信号に応じて、クロック発生回路1から出力されたクロック信号を電圧発生回路4に与えるか否かを制御する。電圧発生回路4の出力電圧Voutは、第2トランジスタM2及び第3トランジスタM3のゲートに与えられている。
電圧発生回路4の構成は、図1に示したものと同様であり、ここでは、その詳細な説明は省略する。なお、第1実施形態の各変形例1~3に示した電圧発生回路4A,4B,4Cを図9の構成に適用してもかまわない。
次に、図9に示すバイアス発生回路の動作について説明する。電圧発生回路4の初期値VR1は、この電圧をゲートに受ける第2トランジスタM2が流すことができるドレイン電流IM2が、基準電流Irefよりも十分小さくなるように設定される。まず、リセット信号Resetが入力されると、フリップフロップFF1の出力がHigh、その他のフリップフロップFF2~FFn+1の出力はLowにセットされるので、スイッチ群12においてスイッチSW1が導通し、電圧VR1が出力電圧Voutとして出力される。このとき、上述したようにIref>IM2であるため、基準電流Irefの入力ノードPの電圧はHighとなり、この電圧がANDゲート3の一方の入力に与えられているので、ANDゲート3はクロック発生回路1から出力されたクロック信号をスルーさせる。このクロック信号に応じて電圧発生回路4の出力電圧Voutが順次上昇し、第2トランジスタM2が流すことができるドレイン電流IM2が基準電流Irefよりも大きくなると、ノードPの電圧がLowに反転する。そして、ANDゲート3がクロック信号の出力を停止させるため、電圧発生回路4の出力電圧Voutの上昇が止まる。これにより、第2トランジスタM2のドレイン電流IM2が、基準電流Irefの近傍で、かつ、基準電流Irefよりも大きい電流に設定される。
ここで、第2トランジスタM2と第3トランジスタM3のトランジスタサイズの比を、
W(M1)/L(M1): W(M2)/L(M2)=1:α
とすると、バイアス電流Ibiasとして、第3トランジスタM3のドレインからαIM2の電流が出力される。
W(M1)/L(M1): W(M2)/L(M2)=1:α
とすると、バイアス電流Ibiasとして、第3トランジスタM3のドレインからαIM2の電流が出力される。
図10に実際のシミュレーション結果を示す。電圧発生回路4の初期値電圧は0V、ターゲットとなる基準電流Irefは100μA、αは1としている。図10から分かるように、クロック信号CLKinのクロック数に応じて第3トランジスタM3から出力されるバイアス電流Ibiasが徐々に上昇し、基準電流100μAを越えた時点で、第2トランジスタM2のドレイン電圧がLowに反転し、ANDゲート3からクロック信号出力が停止して、バイアス電流Ibiasの上昇が止まっている。このとき設定されたバイアス電流は104.4μAであり、基準電流100μAの近傍かつ高い電流に設定されている。
以上述べたように本実施形態によると、バイアス電流を決定するにあたって所定のフローを実行するためのデジタル制御回路が不要であり、非常に簡易な構成にクロック信号を与えるだけで所望のバイアス電流が自動的に生成される。また、第1の実施形態における図1の構成と同様に、電源-グランド間に接続された抵抗列11の抵抗値は常に一定であるため、電源電圧変動やそれに起因する電圧誤差を生ずることがない。また、電圧発生回路4におけるスイッチには定常電流が流れないため、スイッチトランジスタによるフリッカーノイズの影響を抑えることが可能となる。
<第4の実施形態>
図11は第4の実施形態に係るバイアス発生回路の構成を示す回路図である。図11では、図8および図9と共通の構成要素には図8および図9と同一の符号を付している。本実施形態における基本的な構成と動作は、第3実施形態で説明した内容とほぼ同様である。ここでは、第3実施形態との相違点について主に説明する。
図11は第4の実施形態に係るバイアス発生回路の構成を示す回路図である。図11では、図8および図9と共通の構成要素には図8および図9と同一の符号を付している。本実施形態における基本的な構成と動作は、第3実施形態で説明した内容とほぼ同様である。ここでは、第3実施形態との相違点について主に説明する。
図11に示す電圧発生回路5は、図8に示す電圧発生回路5と同様の構成であり、デジタル信号をアナログ信号に変換するデジタル-アナログ変換器(D/Aコンバータ)17と、クロック信号CLKinのクロック数をカウントするカウンタ18とを備えている。カウンタ18の出力データがD/Aコンバータ17に入力され、D/Aコンバータ17の出力が、出力電圧Voutとして出力される。このような構成により、入力クロックに応じてD/Aコンバータ17の1階調ずつ出力電圧Voutが上昇又は下降する電圧発生回路5を、容易に、かつ、小面積で構成することができる。
また図11の構成では、図8の構成と同様に、クロックゲーティング回路の制御信号入力側に、フリップフロップ8を配置している。これにより、出力電圧Voutにおけるグリッチに起因する誤動作を抑制している。また、電圧発生回路5の出力電圧Voutが第2トランジスタM2のゲートに送られる経路に、低域通過フィルタ9が設けられている。この低域通過フィルタ9によって、グリッチ自体の低減も図っている。
さらに図11の構成では、基準電流Irefを生成しているPMOSの第1トランジスタM1のドレイン側に、PMOSのカスコードトランジスタM4が配置されている。また、NMOSの第2トランジスタM2のドレイン側に、NMOSのカスコードトランジスタM5が配置されている。これにより、基準電流Irefが入力されるノードPのインピーダンスがより高くなるため、ノードPの電圧がHighからLow(又はLowからHigh)に切り替わる時の立ち下がり(又は立ち上がり)が急峻となり、高精度なバイアス電流の設定が可能となる。なお、図11の構成では、NMOSのカスコードトランジスタM4とPMOSのカスコードトランジスタM5の両方が配置されているが、いずれか一方だけでも良い。
さらに、図11の構成では、ノードPとANDゲート3の入力端子との間に増幅回路10が設けられている。この増幅回路10によって、ノードPの電圧変化が増幅され、その変化が更に急峻となるため、より高精度なバイアス電流の設定が可能となっている。ここで、増幅回路10は2段のインバータINV1,INV2で構成されているが、これに限られるものではなく、例えば、一方の入力端子に所定の電圧が与えられた比較器を用いても良い。
このように本実施形態によると、第3実施形態と同様に、バイアス電流を決定するにあたって所定のフローを実行するためのデジタル制御回路が不要であり、非常に簡易な構成にクロック信号を与えるだけで所望のバイアス電流が自動的に生成される。また、電圧発生回路5をD/Aコンバータ17およびカウンタ18を備えた構成によって実現しているので、第3実施形態と比べて回路規模を大幅に削減することが可能になる。さらに、電圧発生回路5の出力電圧Voutにおけるグリッチに起因する誤動作を大幅に抑制することができる。
なお、本実施形態で示したフリップフロップ8や低域通過フィルタ9を、第3実施形態で示した図9の構成に追加してもよい。これにより、本実施形態と同様に、電圧発生回路4の出力電圧Voutにおけるグリッチに起因する誤動作を大幅に抑制することができる。また、本実施形態で示したカスコードトランジスタM4,M5や増幅回路10を、第3実施形態で示した図9の構成に追加してもよい。これにより、本実施形態と同様に、クロックゲーティング回路に入力される制御信号の変化をより急峻にすることができるので、より高精度なバイアス電流の設定が可能となる。
なお、上述の各実施形態では、クロックゲーティング回路をANDゲート3によって構成するものとしたが、これに限られるものではなく、例えば、ORゲート、または、スイッチ付きインバータ回路によって構成することも可能である。
なお、上述の各実施形態に示したバイアス発生回路は、例えば、通信機器や、レーダ機器に適用することができる。例えば、通信機器やレーダ機器において、機器の起動時に、または、定期的に、各実施形態に係るバイアス発生回路によって、バイアス電圧またはバイアス電流が設定されるように構成してもよい。
本開示では、簡易な構成によって所望のバイアス電圧やバイアス電流を設定可能なバイアス発生回路を実現できるので、例えば通信機器やレーダ機器など、低ノイズであるバイアス発生回路が必要とされる機器のコストダウンや低消費電力化に有効である。
1 クロック発生回路
2 比較器
3 ANDゲート(クロックゲーティング回路)
4,4A,4B,4C 電圧発生回路
5 電圧発生回路
8 フリップフロップ
9 低域通過フィルタ
10 増幅回路
11 抵抗列
12 スイッチ群
13 シフトレジスタ(スイッチ選択部)
14 出力端子
17 デジタル-アナログ変換器
18 カウンタ
21 抵抗列
22 第1シフトレジスタ(第1選択部)
23 第2シフトレジスタ(第2選択部)
24 論理積回路(論理回路)
31 第1抵抗列
32 第1スイッチ群
33 第1シフトレジスタ(第1スイッチ選択部)
34 第2抵抗列
35 第2スイッチ群
36 第3スイッチ群
37 第2シフトレジスタ(第2スイッチ選択部)
41 第2抵抗列
42 第3抵抗列
43 第2スイッチ群
44 第3スイッチ群
45 第2シフトレジスタ(第2スイッチ選択部)
CLKin クロック信号
Iref 基準電流
Ibias バイアス電流
M1 第1トランジスタ
M2 第2トランジスタ
M3 第3トランジスタ
M4,M5 カスコードトランジスタ
Vref 基準電圧
Vbias バイアス電圧
Vout 電圧発生回路の出力電圧
VH 高電位供給端子
VL 低電位供給端子
2 比較器
3 ANDゲート(クロックゲーティング回路)
4,4A,4B,4C 電圧発生回路
5 電圧発生回路
8 フリップフロップ
9 低域通過フィルタ
10 増幅回路
11 抵抗列
12 スイッチ群
13 シフトレジスタ(スイッチ選択部)
14 出力端子
17 デジタル-アナログ変換器
18 カウンタ
21 抵抗列
22 第1シフトレジスタ(第1選択部)
23 第2シフトレジスタ(第2選択部)
24 論理積回路(論理回路)
31 第1抵抗列
32 第1スイッチ群
33 第1シフトレジスタ(第1スイッチ選択部)
34 第2抵抗列
35 第2スイッチ群
36 第3スイッチ群
37 第2シフトレジスタ(第2スイッチ選択部)
41 第2抵抗列
42 第3抵抗列
43 第2スイッチ群
44 第3スイッチ群
45 第2シフトレジスタ(第2スイッチ選択部)
CLKin クロック信号
Iref 基準電流
Ibias バイアス電流
M1 第1トランジスタ
M2 第2トランジスタ
M3 第3トランジスタ
M4,M5 カスコードトランジスタ
Vref 基準電圧
Vbias バイアス電圧
Vout 電圧発生回路の出力電圧
VH 高電位供給端子
VL 低電位供給端子
Claims (20)
- 与えられたクロック信号のクロック数に応じて、出力電圧を徐々に増加させる、または、徐々に減少させる電圧発生回路と、
基準電圧と、前記電圧発生回路の出力電圧とを比較する比較器と、
クロック信号を生成するクロック発生回路と、
前記比較器の出力を制御信号として受け、この制御信号に応じて、前記クロック発生回路から出力されたクロック信号を前記電圧発生回路に与えるか否かを制御するクロックゲーティング回路とを備え、
前記電圧発生回路の出力電圧が、バイアス電圧として出力される
ことを特徴とするバイアス発生回路。 - 与えられたクロック信号のクロック数に応じて、出力電圧を徐々に増加させる、または、徐々に減少させる電圧発生回路と、
基準電流を生成する第1トランジスタと、
前記電圧発生回路の出力電圧がゲートに与えられ、前記基準電流がドレインに入力される第2トランジスタと、
クロック信号を生成するクロック発生回路と、
前記第2トランジスタのドレイン電圧を制御信号として受け、この制御信号に応じて、前記クロック発生回路から出力されたクロック信号を前記電圧発生回路に与えるか否かを制御するクロックゲーティング回路と、
前記電圧発生回路の出力電圧がゲートに与えられ、ドレインからバイアス電流を出力する第3トランジスタとを備えた
ことを特徴とするバイアス発生回路。 - 請求項1または2記載のバイアス発生回路において、
前記電圧発生回路は、
前記出力電圧が出力される出力端子と、
複数の抵抗が直列に接続されており、両端に所定の電圧が印加される抵抗列と、
導通/非導通が切替可能であり、一端が前記抵抗列における抵抗端にそれぞれ接続され、他端が前記出力端子に接続された複数のスイッチと、
前記クロック信号を受け、前記クロック信号のクロック数に応じて、前記複数のスイッチの中のいずれか1つを選択して導通させるスイッチ選択部とを備えたものである
ことを特徴とするバイアス発生回路。 - 請求項3記載のバイアス発生回路において、
前記スイッチ選択部は、
前記クロック信号を受け、いずれか1つが所定の第1論理値を持つ複数の第1スイッチ選択信号を出力するものであり、前記クロック信号の立ち上がりまたは立ち下がりにおいて、前記第1論理値を持つ前記第1スイッチ選択信号をシフトさせる第1選択部と、
前記複数の第1スイッチ選択信号のいずれか1つを受け、いずれか1つが所定の第2論理値を持つ複数の第2スイッチ選択信号を出力するものであり、当該第1スイッチ選択信号の立ち上がりまたは立ち下がりにおいて、前記第2論理値を持つ前記第2スイッチ選択信号をシフトさせる第2選択部と、
前記複数のスイッチに対応してそれぞれ設けられており、前記複数の第1スイッチ選択信号のいずれか1つと、前記複数の第2スイッチ選択信号のいずれか1つとを入力とし、当該スイッチの導通/非導通を制御する信号を出力する複数の論理回路とを備えたものである
ことを特徴とするバイアス発生回路。 - 請求項3記載のバイアス発生回路において、
前記スイッチ選択部は、シフトレジスタ、または、カウンタを備える
ことを特徴とするバイアス発生回路。 - 請求項1または2記載のバイアス発生回路において、
前記電圧発生回路は、クロック数に応じて出力電圧を徐々に増加させるものであり、かつ、クロック数と出力電圧との関係において、クロック数の増加とともに出力電圧が減少する部分を有する、または、クロック数に応じて出力電圧を徐々に減少させるものであり、かつ、クロック数と出力電圧との関係において、クロック数の増加とともに出力電圧が増加する部分を有する
ことを特徴とするバイアス発生回路。 - 請求項1または2記載のバイアス発生回路において、
前記電圧発生回路は、
デジタル信号をアナログ信号に変換するデジタル-アナログ変換器と、
前記クロック信号のクロック数をカウントするカウンタとを備え、
前記カウンタの出力が前記デジタル-アナログ変換器に入力され、前記デジタル-アナログ変換器の出力が、前記出力電圧として出力される
ことを特徴とするバイアス発生回路。 - 請求項7記載のバイアス発生回路において、
前記デジタル-アナログ変換器は、R-2R型のデジタル-アナログ変換器である
ことを特徴とするバイアス発生回路。 - 請求項1または2記載のバイアス発生回路において、
前記クロックゲーティング回路は、ANDゲート、ORゲート、または、スイッチ付きインバータ回路によって構成されている
ことを特徴とするバイアス発生回路。 - 請求項2記載のバイアス発生回路において、
前記第1トランジスタのドレイン、または、前記第2トランジスタのドレインに、カスコードトランジスタが設けられている
ことを特徴とするバイアス発生回路。 - 請求項2記載のバイアス発生回路において、
前記第2トランジスタのドレインと前記クロックゲーティング回路の入力との間に、増幅回路が設けられている
ことを特徴とするバイアス発生回路。 - 請求項1または2記載のバイアス発生回路において、
前記クロックゲーティング回路の制御信号入力側に、フリップフロップが設けられている
ことを特徴とするバイアス発生回路。 - 請求項1または2記載のバイアス発生回路において、
前記電圧発生回路の出力電圧が、前記比較器の入力端子、または、前記第2トランジスタのゲートに送られる経路に、低域通過フィルタが設けられている
ことを特徴とするバイアス発生回路。 - 請求項1または2記載のバイアス発生回路において、
前記電圧発生回路は、出力電圧の初期値を設定するためのリセット信号が与えられるリセット信号端子を有している
ことを特徴とするバイアス発生回路。 - 与えられたクロック信号のクロック数に応じて、出力電圧を徐々に増加させる、または、徐々に減少させる電圧発生回路であって、
前記出力電圧が出力される出力端子と、
複数の抵抗が直列に接続された第1抵抗列と、
導通/非導通が切替可能であり、一端が前記第1抵抗列における抵抗端にそれぞれ接続され、他端が前記出力端子に接続された複数のスイッチからなる第1スイッチ群と、
前記クロック信号を受け、前記クロック信号のクロック数に応じて、前記第1スイッチ群に属するスイッチのいずれか1つを選択して導通させる第1スイッチ選択部と、
複数の抵抗が直列に接続されており、両端に所定の電圧が印加される第2抵抗列と、
導通/非導通が切替可能であり、一端が前記第2抵抗列における抵抗端にそれぞれ接続され、他端が前記第1抵抗列の一端に接続された複数のスイッチからなる第2スイッチ群と、
導通/非導通が切替可能であり、一端が前記第2抵抗列における抵抗端にそれぞれ接続され、他端が前記第1抵抗列の他端に接続された複数のスイッチからなる第3スイッチ群と、
前記第1スイッチ選択部の出力信号のいずれか1つを受け、この出力信号に応じて、前記第2スイッチ群に属するスイッチのいずれか1つと、前記第3スイッチ群に属するスイッチのいずれか1つとを選択して導通させる第2スイッチ選択部とを備えた
ことを特徴とする電圧発生回路。 - 与えられたクロック信号のクロック数に応じて、出力電圧を徐々に増加させる、または、徐々に減少させる電圧発生回路であって、
前記出力電圧が出力される出力端子と、
複数の抵抗が直列に接続された第1抵抗列と、
導通/非導通が切替可能であり、一端が前記第1抵抗列における抵抗端にそれぞれ接続され、他端が前記出力端子に接続された複数のスイッチからなる第1スイッチ群と、
前記クロック信号を受け、前記クロック信号のクロック数に応じて、前記第1スイッチ群に属するスイッチのいずれか1つを選択して導通させる第1スイッチ選択部と、
複数の抵抗が直列に接続されており、一端が前記第1抵抗列の一端と接続された第2抵抗列と、
複数の抵抗が直列に接続されており、一端が前記第1抵抗列の他端と接続された第3抵抗列と、
導通/非導通が切替可能であり、一端が前記第2抵抗列における抵抗端にそれぞれ接続され、他端が低電位供給端子に接続された複数のスイッチからなる第2スイッチ群と、
導通/非導通が切替可能であり、一端が前記第3抵抗列における抵抗端にそれぞれ接続され、他端が高電位供給端子に接続された複数のスイッチからなる第3スイッチ群と、
前記第1スイッチ選択部の出力信号のいずれか1つを受け、この出力信号に応じて、前記第2スイッチ群に属するスイッチのいずれか1つと、前記第3スイッチ群に属するスイッチのいずれか1つとを選択して導通させる第2スイッチ選択部とを備えた
ことを特徴とする電圧発生回路。 - 請求項15または16記載の電圧発生回路において、
前記第1および第2スイッチ選択部は、シフトレジスタ、または、カウンタを備える
ことを特徴とする電圧発生回路。 - 請求項1または2記載のバイアス発生回路において、
前記電圧発生回路は、請求項15または16記載の電圧発生回路である
ことを特徴とするバイアス発生回路。 - 請求項1または2記載のバイアス発生回路を備え、
機器の起動時に、または、定期的に、前記バイアス発生回路によって、バイアス電圧またはバイアス電流が設定されるように構成される
ことを特徴とする通信機器。 - 請求項1または2記載のバイアス発生回路を備え、
機器の起動時に、または、定期的に、前記バイアス発生回路によって、バイアス電圧またはバイアス電流が設定されるように構成される
ことを特徴とするレーダ機器。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016544920A JP6646227B2 (ja) | 2014-08-28 | 2015-07-17 | バイアス発生回路、電圧発生回路、通信機器、および、レーダ機器 |
US15/443,284 US9996099B2 (en) | 2014-08-28 | 2017-02-27 | Bias generator circuit, voltage generator circuit, communications device, and radar device |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014173522 | 2014-08-28 | ||
JP2014-173522 | 2014-08-28 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
US15/443,284 Continuation US9996099B2 (en) | 2014-08-28 | 2017-02-27 | Bias generator circuit, voltage generator circuit, communications device, and radar device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
WO2016031127A1 true WO2016031127A1 (ja) | 2016-03-03 |
Family
ID=55399049
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/JP2015/003627 WO2016031127A1 (ja) | 2014-08-28 | 2015-07-17 | バイアス発生回路、電圧発生回路、通信機器、および、レーダ機器 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9996099B2 (ja) |
JP (1) | JP6646227B2 (ja) |
WO (1) | WO2016031127A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109947163B (zh) * | 2018-09-04 | 2020-08-07 | 合肥鑫晟光电科技有限公司 | 数字稳压器及其稳压方法 |
JP7534843B2 (ja) * | 2019-07-30 | 2024-08-15 | ミツミ電機株式会社 | 電源制御用半導体装置および出力電圧可変電源装置 |
TWI727673B (zh) * | 2020-02-25 | 2021-05-11 | 瑞昱半導體股份有限公司 | 偏壓電流產生電路 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0511872A (ja) * | 1991-07-05 | 1993-01-22 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 半導体装置 |
JPH09325822A (ja) * | 1996-06-07 | 1997-12-16 | Fujitsu Ltd | 多段階電圧発生回路 |
JP2008300766A (ja) * | 2007-06-04 | 2008-12-11 | Oki Electric Ind Co Ltd | トリミング電圧発生回路 |
JP2010219964A (ja) * | 2009-03-17 | 2010-09-30 | Toshiba Corp | バイアス生成回路及び電圧制御発振器 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3807381B2 (ja) * | 2003-03-05 | 2006-08-09 | セイコーエプソン株式会社 | A/d変換回路、温度センサ回路、集積回路、及び温度センサ回路の調整方法 |
US7642942B2 (en) * | 2008-05-21 | 2010-01-05 | Honeywell International Inc. | Systems and methods for synthesis of a signal |
KR101677729B1 (ko) * | 2010-02-19 | 2016-11-18 | 페어차일드코리아반도체 주식회사 | 스위치 제어 장치, 이를 포함하는 전력 공급 장치 및 스위치 제어방법 |
JP6088269B2 (ja) * | 2013-01-31 | 2017-03-01 | 新日本無線株式会社 | D/a変換器 |
-
2015
- 2015-07-17 WO PCT/JP2015/003627 patent/WO2016031127A1/ja active Application Filing
- 2015-07-17 JP JP2016544920A patent/JP6646227B2/ja active Active
-
2017
- 2017-02-27 US US15/443,284 patent/US9996099B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0511872A (ja) * | 1991-07-05 | 1993-01-22 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 半導体装置 |
JPH09325822A (ja) * | 1996-06-07 | 1997-12-16 | Fujitsu Ltd | 多段階電圧発生回路 |
JP2008300766A (ja) * | 2007-06-04 | 2008-12-11 | Oki Electric Ind Co Ltd | トリミング電圧発生回路 |
JP2010219964A (ja) * | 2009-03-17 | 2010-09-30 | Toshiba Corp | バイアス生成回路及び電圧制御発振器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6646227B2 (ja) | 2020-02-14 |
JPWO2016031127A1 (ja) | 2017-06-22 |
US9996099B2 (en) | 2018-06-12 |
US20170192447A1 (en) | 2017-07-06 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 15836828 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
ENP | Entry into the national phase |
Ref document number: 2016544920 Country of ref document: JP Kind code of ref document: A |
|
NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |
|
122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
Ref document number: 15836828 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |