WO2014041602A1 - 部品内蔵基板の製造方法及びこれを用いた部品内蔵基板 - Google Patents

部品内蔵基板の製造方法及びこれを用いた部品内蔵基板 Download PDF

Info

Publication number
WO2014041602A1
WO2014041602A1 PCT/JP2012/073205 JP2012073205W WO2014041602A1 WO 2014041602 A1 WO2014041602 A1 WO 2014041602A1 JP 2012073205 W JP2012073205 W JP 2012073205W WO 2014041602 A1 WO2014041602 A1 WO 2014041602A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
component
adhesive
adhesive body
adhesive layer
manufacturing
Prior art date
Application number
PCT/JP2012/073205
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
松本 徹
小笠原 勝
光昭 戸田
Original Assignee
株式会社メイコー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社メイコー filed Critical 株式会社メイコー
Priority to JP2014535252A priority Critical patent/JP6073339B2/ja
Priority to US14/423,990 priority patent/US9355990B2/en
Priority to PCT/JP2012/073205 priority patent/WO2014041602A1/ja
Priority to EP12884539.3A priority patent/EP2897446B1/en
Priority to TW102122096A priority patent/TW201412218A/zh
Publication of WO2014041602A1 publication Critical patent/WO2014041602A1/ja

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/18Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/71Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
    • H01L21/768Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
    • H01L21/76801Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing
    • H01L21/76802Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing by forming openings in dielectrics
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/71Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
    • H01L21/768Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
    • H01L21/76838Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the conductors
    • H01L21/76877Filling of holes, grooves or trenches, e.g. vias, with conductive material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/52Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
    • H01L23/522Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames including external interconnections consisting of a multilayer structure of conductive and insulating layers inseparably formed on the semiconductor body
    • H01L23/5226Via connections in a multilevel interconnection structure
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/18Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • H05K1/182Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with components mounted in the printed circuit board, e.g. insert mounted components [IMC]
    • H05K1/185Components encapsulated in the insulating substrate of the printed circuit or incorporated in internal layers of a multilayer circuit
    • H05K1/188Components encapsulated in the insulating substrate of the printed circuit or incorporated in internal layers of a multilayer circuit manufactured by mounting on or attaching to a structure having a conductive layer, e.g. a metal foil, such that the terminals of the component are connected to or adjacent to the conductive layer before embedding, and by using the conductive layer, which is patterned after embedding, at least partially for connecting the component
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49822Multilayer substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49827Via connections through the substrates, e.g. pins going through the substrate, coaxial cables
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/50Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor for integrated circuit devices, e.g. power bus, number of leads
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/52Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
    • H01L23/538Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames the interconnection structure between a plurality of semiconductor chips being formed on, or in, insulating substrates
    • H01L23/5389Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames the interconnection structure between a plurality of semiconductor chips being formed on, or in, insulating substrates the chips being integrally enclosed by the interconnect and support structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1204Optical Diode
    • H01L2924/12042LASER
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10613Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
    • H05K2201/10621Components characterised by their electrical contacts
    • H05K2201/10636Leadless chip, e.g. chip capacitor or resistor
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/01Tools for processing; Objects used during processing
    • H05K2203/0147Carriers and holders
    • H05K2203/0152Temporary metallic carrier, e.g. for transferring material
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/303Surface mounted components, e.g. affixing before soldering, aligning means, spacing means
    • H05K3/305Affixing by adhesive
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Definitions

  • the present invention relates to a method for manufacturing a component-embedded substrate and a component-embedded substrate using the same.
  • a component-embedded substrate there are various methods for manufacturing a component-embedded substrate (see, for example, Patent Document 1).
  • an adhesive layer is formed on a copper foil by a dispenser or a printing method, a component to be incorporated is mounted thereon, the adhesive layer is cured, and the component is fixed.
  • the component is embedded in the insulating material, and a via that reaches the terminal of the component from the outside is formed by laser processing.
  • the via is plated to form a conductive via so as to be electrically connected to the terminal.
  • voids may be generated inside the adhesive layer. This void may expand in the subsequent reflow process, cause peeling, or cause a short circuit. In particular, when a part has an uneven shape on the surface in contact with the adhesive layer, the occurrence of voids becomes significant. When such voids are generated, there is a concern about the influence on the formation property of conductive vias, connection reliability, or insulation. In particular, in the case of a substrate incorporating an active component having a plurality of electrodes, it is often impossible to remove the void even if a void deaeration process is performed. In many cases, a wiring pattern is formed on the surface of the substrate corresponding to the position between the electrodes. When voids are generated between the electrodes, there is a problem that a short circuit or a migration occurs between the electrodes and the wiring pattern.
  • the present invention has been made in consideration of the above prior art, and an object of the present invention is to provide a method for manufacturing a component-embedded substrate that can ensure insulation even when voids occur, and a component-embedded substrate using the same. .
  • an adhesive layer forming step of forming an adhesive layer made of an insulating material on a metal layer formed on a support plate, and a component on which an electrical or electronic component is mounted on the adhesive layer In the method of manufacturing a component-embedded substrate including a mounting step, the component is formed of a component main body and a terminal protruding from the component main body, and the adhesive layer is bonded to the metal layer. And a second adhesive bonded to the terminal, wherein the first adhesive is formed substantially along the outer edge of the component in a plan view, and the second adhesive is formed on the terminal in a plan view.
  • a method of manufacturing a component-embedded board characterized by .
  • the second adhesive body is applied and formed smaller than the outer edge of the terminal in a plan view.
  • the method for manufacturing a component-embedded substrate according to the present invention is performed after the component mounting step, and is a laminate in which an insulating material to be an insulating layer is stacked on the component and the component is embedded in the insulating material.
  • a step of forming a via that passes through the metal layer and the adhesive layer to reach the terminal, a plating step of depositing plating on the surface of the via, and the metal layer And a pattern forming step of forming a conductor pattern including
  • the present invention also provides a component-embedded substrate, wherein the first adhesive is interposed between the conductor pattern and the component, using the component-embedded substrate manufacturing method.
  • voids are generated in the second adhesive body.
  • the first adhesive body made of an insulating material is interposed between the conductor pattern and the second adhesive body.
  • a distance is generated between the conductor pattern and the second adhesive body by the thickness of the adhesive body.
  • sufficient insulation characteristics and insulation deterioration characteristics are obtained between the conductor pattern and the second adhesive body.
  • the first adhesive body is formed substantially along the outer edge of the component in plan view, it is possible to reliably prevent the influence of voids generated in the second adhesive body.
  • the first adhesive body is cured in advance in the adhesive layer forming step, it is possible to prevent the first adhesive body from proceeding to the next process while voids are generated, and the insulating effect of the first adhesive body can be reduced. You can definitely get it.
  • the second adhesive is applied in a plan view that is equal to or smaller than the outer edge of the terminal, components can be mounted with a small amount of the second adhesive, so that voids are less likely to occur and short-circuiting or migration This problem can be further reduced.
  • an adhesive layer forming step is performed as shown in FIGS.
  • a substrate in which a metal layer 12 is formed on a support plate 11 is prepared.
  • the support plate 11 has a degree of rigidity required for process conditions.
  • the support plate 11 is formed of a rigid SUS (stainless steel) plate or aluminum plate as a support device.
  • the metal layer 12 is a layer in which a copper foil having a predetermined thickness is attached or a copper plating foil is deposited.
  • the metal layer 12 is formed by attaching a copper foil if the support plate 11 is an aluminum plate.
  • the 1st adhesive body 10a is apply
  • the second adhesive body 10b is also applied by a dispenser, printing, or the like.
  • An adhesive layer 10 is formed by the first adhesive body 10a and the second adhesive body 10b.
  • the process of forming the adhesive layer 10 made of an insulating material on the metal layer 12 formed on the support plate 11 is the adhesive layer forming process.
  • This component mounting step is a step of mounting the electronic or electrical component 3 on the adhesive layer 10.
  • the mounted component 3 includes an active component and a passive component.
  • the component 3 has a component main body 3a and a terminal 3b protruding from the component main body 3a.
  • FIG. 4 shows passive components.
  • the adhesive body 10b spreads with the installation of the component 3, and is bonded to the component main body 3a as well as the terminal 3b. That is, in the component mounting process, the component 3 is mounted with the terminal 3b aligned with the position of the second adhesive body 10b.
  • the laminating step is for laminating an insulating material to be the insulating layer 2 on the component 3 and embedding the component 3 in the insulating material.
  • This step is performed by laying up an insulating material such as a prepreg on the side opposite to the side on which the metal layer 12 is disposed with respect to the component 3 and pressing it while heating under vacuum.
  • This press is performed using, for example, a vacuum press machine. Note that it is preferable to use an insulating material having a thermal expansion coefficient close to that of the component 3.
  • a via formation process is performed.
  • the support plate 11 is removed.
  • the metal layer 12 is exposed on one surface of the insulating layer 2.
  • another metal layer is formed on the other surface of the insulating layer 2.
  • drilling is performed using a laser or the like to form the via 13.
  • the via 13 is formed so as to reach the terminal 3 b from the metal layer 12 through the adhesive layer 10.
  • through conduction holes or other conduction vias may be formed at this point in order to obtain electrical connection between each layer or front and back.
  • a desmear process is performed to remove the resin remaining during the via formation.
  • a plating process (conducting process) is performed, and plating is deposited in the via 13 to form the conductive via 7. This plating process is performed in the plating process.
  • the conductor pattern 6 is formed on both surfaces of the insulating layer 2 using etching or the like.
  • the component-embedded substrate 1 obtained through such a process includes an insulating layer 2, a component 3, a conductor pattern 6, an adhesive layer 10, and a conductive via 7.
  • the insulating layer 2 is obtained by curing the above-described insulating material (such as a prepreg), and the component 3 is connected to the conductor pattern 6 via the adhesive layer 10.
  • the conductor pattern 6 is formed on the surface of the insulating layer 2.
  • the first adhesive body 10a made of an insulating material is interposed between the conductor pattern 6 and the second adhesive body 10b.
  • a distance is generated between the conductor pattern 6 and the second adhesive body 10b by the thickness of the adhesive body 10a.
  • the insulation property is secured in the first adhesive body 10a, so the terminal 3b (electrode) And a short circuit or migration between the wiring pattern 6 and the wiring pattern 6 can be prevented.
  • the first adhesive body 10a preferably has a thickness of about 30 ⁇ m.
  • the first adhesive body 10a is formed substantially along the outer edge of the component 3 in plan view, the influence of the void 14 generated in the second adhesive body 10b can be reliably prevented. That is, no matter where the void 14 is generated on the lower side of the component 3, the entire lower side of the component 3 can be covered with the first adhesive body 10a. The insulating property of 3b is maintained.
  • the first adhesive body 10a is cured in advance in the adhesive layer forming step, it is possible to prevent the first adhesive body 10a from proceeding to the next process while voids are generated, and the insulating property of the first adhesive body 10a can be prevented. The effect of can be obtained reliably.
  • the application of the second adhesive body 10b may be within the outer edge of the terminal 3b in a plan view, but if it is smaller than the outer edge, the component can be mounted with a small amount of the second adhesive body 10b. 14 is less likely to occur, and the problem of short circuit and migration can be further reduced.
  • the second adhesive body 10 b is ⁇ 150 ⁇ m, and if the terminal is ⁇ 400 ⁇ m, the second adhesive body 10 b is ⁇ 350 ⁇ m. If the active component is a square terminal and one side is 200 ⁇ m, the second adhesive body 10b is also square and one side is 150 ⁇ m.
  • the thickness of the second adhesive body 10b is 20 ⁇ m to 40 ⁇ m.

Abstract

支持板(11)上に形成された金属層(12)に絶縁材料からなる接着層(10)を形成する接着層形成工程と、前記接着層(10)に電気又は電子的な部品(3)を搭載する部品搭載工程とを含む部品内蔵基板の製造方法において、前記部品(3)は部品本体(3a)と該部品本体(3a)から突出している端子(3b)とで形成されていて、前記接着層(10)は前記金属層(12)と接着される第1の接着体(10a)、及び前記部品(3)と接着される第2の接着体(10b)からなり、前記第1の接着体(10a)は平面視で前記部品(3)の外縁に略沿って形成され、前記第2の接着体(10b)は平面視で前記端子(3b)の外縁と同等あるいは外縁より小さい範囲に形成され、前記接着層形成工程にて、前記第1の接着体(10a)を硬化させた後、前記第2の接着体(10b)を前記第1の接着体(10a)上に形成する。

Description

部品内蔵基板の製造方法及びこれを用いた部品内蔵基板
 本発明は、部品内蔵基板の製造方法及びこれを用いた部品内蔵基板に関する。
 部品内蔵基板の製造方法としては、種々の方法がある(例えば特許文献1参照)。この方法は、銅箔上へディスペンサー又は印刷工法により接着層を形成し、その上に内蔵すべき部品を搭載し、接着層を硬化して部品を固定するものである。そして、積層プレスにより、部品を絶縁材内に埋め込み、外側から部品の端子に到達するようなビアをレーザ加工により形成する。そして、このビアにめっき加工を施して導通ビアとし、端子との電気的接続を図っている。
 しかしながら、上述のような方法を用いると、接着層内部にボイド(空洞)が発生することがある。このボイドは、その後のリフロー工程で膨張したり、あるいは剥離の原因となったり、あるいはショートの原因となったりする。特に、部品が接着層と接する面に凹凸形状がある場合、ボイドの発生が顕著となる。このようなボイドが発生することにより、導通ビアの形成性や接続信頼性、あるいは絶縁性への影響が懸念されている。特に、複数の電極を有する能動部品を内蔵する基板の場合、ボイドの脱気工程を行ってもボイドを除去できないことが多い。電極間の位置に相当する基板表面には配線パターンが形成されることが多く、このような電極間にボイドが発生すると電極と配線パターンとの間でショートやマイグレーションを発生させるという問題もある。
特開2010-27917号公報
 本発明は、上記従来技術を考慮したものであり、ボイドが発生しても絶縁性を確保することができる部品内蔵基板の製造方法及びこれを用いた部品内蔵基板を提供することを目的とする。
 前記目的を達成するため、本発明では、支持板上に形成された金属層に絶縁材料からなる接着層を形成する接着層形成工程と、前記接着層に電気又は電子的な部品を搭載する部品搭載工程とを含む部品内蔵基板の製造方法において、前記部品は部品本体と該部品本体から突出している端子とで形成されていて、前記接着層は前記金属層と接着される第1の接着体、及び前記端子と接着される第2の接着体からなり、前記第1の接着体は平面視で前記部品の外縁に略沿って形成され、前記第2の接着体は平面視で前記端子の外縁と同様あるいは外縁より小さい範囲に形成され、前記接着層形成工程にて、前記第1の接着体を硬化させた後、前記第2の接着体を前記第1の接着体上に形成することを特徴とする部品内蔵基板の製造方法を提供する。
 好ましくは、前記接着層形成工程にて、前記第2の接着体は平面視で前記端子の外縁より小さく塗布形成される。
 好ましくは、本発明の部品内蔵基板の製造方法は、前記部品搭載工程の後に行われ、前記部品に対して絶縁層となるべき絶縁材を積層して前記絶縁材内に前記部品を埋設する積層工程と、前記支持板を除去し、前記金属層及び前記接着層を貫通し前記端子まで到達するビアを形成するビア形成工程と、前記ビアの表面にめっきを析出させるめっき工程と、前記金属層を含む導体パターンを形成するパターン形成工程とをさらに備えている。
 また、本発明では、上記部品内蔵基板の製造方法を用い、前記導体パターンと前記部品との間に前記第1の接着体が介されていることを特徴とする部品内蔵基板も提供する。
 好ましくは、前記第2の接着体内にボイドが発生している。
 本発明によれば、基板表面に導体パターンが形成されると、この導体パターンと第2の接着体との間に絶縁材料からなる第1の接着体が介されることになるので、第1の接着体の厚み分だけ導体パターンと第2の接着体との間には距離が生じる。これにより、導体パターンと第2の接着体との間には十分な絶縁特性及び絶縁劣化特性が得られる。すなわち、第2の接着体にボイドが発生したとしても、第1の接着体にて絶縁性は確保されているので、電極と配線パターンとの間でショートやマイグレーションが発生することを防止できる。第1の接着体は、平面視で部品の外縁に略沿って形成されるので、第2の接着体に発生したボイドの影響を確実に防ぐことができる。また、接着層形成工程で、第1の接着体は予め硬化させるので、第1の接着体にボイドが発生したまま次工程に進むことを防止でき、第1の接着体による絶縁性の効果を確実に得ることができる。
 また、第2の接着体を平面視で端子の外縁と同等或いは外縁より小さく塗布すれば、少量の第2の接着体で部品搭載を行うことができるので、ボイドが発生しにくく、ショートやマイグレーションの問題もさらに低減できる。
本発明に係る部品内蔵基板の製造方法を順番に説明するための概略図である。 本発明に係る部品内蔵基板の製造方法を順番に説明するための概略図である。 本発明に係る部品内蔵基板の製造方法を順番に説明するための概略図である。 本発明に係る部品内蔵基板の製造方法を順番に説明するための概略図である。 本発明に係る部品内蔵基板の概略図である。 受動部品を搭載したときの概略平面図である。 能動部品を搭載したときの概略平面図である。 部品搭載工程にてボイドが発生した状態を示す概略図である。
 本発明に係る部品内蔵基板の製造方法は、まず、図1から図3に示すように、接着層形成工程を行う。この工程は、まず、図1に示すように、例えば支持板11上に金属層12が形成されたものを用意する。なお、支持板11は、プロセス条件にて必要とされる程度の剛性を有する。支持板11は、支持機材として剛性のあるSUS(ステンレス)板又はアルミ板等で形成されている。金属層12は例えば支持板11がSUS板であれば所定厚さの銅箔を貼り付けたもの或いは銅めっき箔を析出させたものである。あるいは金属層12は支持板11がアルミ板であれば銅箔を貼り付けたものである。
 そして、図2に示すように、金属層12上に第1の接着体10aを例えばディスペンサーや印刷等で塗布する。すなわち、第1の接着体10aは金属層12と接着される。そして、第1の接着体10aを硬化させた後、図3に示すように、第1の接着体10a上に第2の接着体10bを塗布する。この第2の接着体10bも、ディスペンサーや印刷等で塗布される。この第1の接着体10aと第2の接着体10bとで接着層10が形成される。このように、支持板11上に形成された金属層12に絶縁材料からなる接着層10を形成する工程が接着層形成工程である。
 そして、図4に示すように、部品搭載工程を行う。この部品搭載工程は、接着層10に電子又は電気的な部品3を搭載する工程である。搭載される部品3には能動部品や受動部品も含まれる。部品3は部品本体3aとこの部品本体3aから突出する端子3bを有している。なお、図4では受動部品を示している。接着体10bは部品3の設置とともに拡がり端子3bだけでなく部品本体3aと接着される。すなわち、部品搭載工程では、端子3bを第2の接着体10bの位置に合わせて部品3が搭載される。
 そして、積層工程、ビア形成工程、めっき工程、パターン形成工程が行われる。これらの工程は図5にてまとめて説明する。積層工程は、部品3に対して絶縁層2となるべき絶縁材を積層して絶縁材内に部品3を埋設するためのものである。この工程は、部品3に対して金属層12が配された側とは反対側にプリプレグ等の絶縁材をレイアップし、これを真空下で加熱しながらプレスして行う。このプレスは、例えば真空加圧式のプレス機を用いて行われる。なお、絶縁材は、熱膨張係数が部品3に近いものを使用すれば好ましい。
 この後、ビア形成工程を行う。この工程は、まず支持板11を除去する。これにより、絶縁層2の一方の面には金属層12が露出される。なお、絶縁層2の他方の面には別の金属層が形成されている。そして、レーザ等を用いて孔あけを行い、ビア13を形成する。具体的には、ビア13は金属層12から接着層10を通って端子3bまで到達するように形成される。また、構造に応じて、各層間又は表裏の電気的な接続を得るため貫通導通孔または他の導通ビアをこの時点で形成してもよい。ビア形成後、デスミア処理が施され、ビア形成の際に残留している樹脂が除去される。この後、めっき処理(導通処理)を施し、ビア13内にめっきを析出し導通ビア7を形成する。このめっき処理を行うのがめっき工程である。
 そして、パターン形成工程を行う。この工程は、エッチング等を用いて絶縁層2の両面に導体パターン6を形成するものである。このような工程を経て得られた部品内蔵基板1は、図5に示すように、絶縁層2と部品3と、導体パターン6と、接着層10と、導通ビア7とを備えている。絶縁層2は上述した絶縁材(プリプレグ等)が硬化したものであり、部品3は接着層10を介して導体パターン6と接続されている。導体パターン6は絶縁層2の表面に形成されている。
 以上により、基板表面に導体パターン6が形成されると、この導体パターン6と第2の接着体10bとの間に絶縁材料からなる第1の接着体10aが介されることになるので、第1の接着体10aの厚み分だけ導体パターン6と第2の接着体10bとの間には距離が生じる。これにより、導体パターン6と第2の接着体10bとの間には十分な絶縁特性及び絶縁劣化特性が得られる。すなわち、上述した部品搭載工程で図8のように第2の接着体10bにボイド14が発生したとしても、第1の接着体10aにて絶縁性は確保されているので、端子3b(電極)と配線パターン6との間でショートやマイグレーションが発生することを防止できる。第1の接着体10aによる絶縁特性を確実に確保するため、第1の接着体10aは30μm程度の厚みを有していることが好ましい。
 また、第1の接着体10aは、平面視で部品3の外縁に略沿って形成されるので、第2の接着体10bに発生したボイド14の影響を確実に防ぐことができる。すなわち、部品3の下側にてどのような位置にボイド14が発生したとしても、部品3の下側全体を第1の接着体10aでカバーできていることになるので、導体パターン6と端子3bの絶縁性は保たれる。
 また、接着層形成工程で、第1の接着体10aは予め硬化させるので、第1の接着体10aにボイドが発生したまま次工程に進むことを防止でき、第1の接着体10aによる絶縁性の効果を確実に得ることができる。
 また、第2の接着体10bの塗布は平面視で端子3bの外縁以内であればよいが、外縁より小さくすれば、少量の第2の接着体10bで部品搭載を行うことができるので、ボイド14が発生しにくく、ショートやマイグレーションの問題もさらに低減できる。最適な塗布寸法としては、端子がΦ200μmであれば第2の接着体10bはΦ150μmであり、端子がΦ400μmであれば第2の接着体10bはΦ350μmである。能動部品で端子が四角形の場合、1辺が200μmであれば第2の接着体10bも四角形で1辺が150μmである。なお、第2の接着体10bの厚みは20μm~40μmである。
1 部品内蔵基板
2 絶縁層
3 電気又は電子的な部品
3a 部品本体
3b 端子
6 導体パターン
7 導通ビア
10 接着層
10a 第1の接着体
10b 第2の接着体
11 支持板
12 金属層
13 ビア
14 ボイド

Claims (5)

  1.  支持板上に形成された金属層に絶縁材料からなる接着層を形成する接着層形成工程と、
     前記接着層に電気又は電子的な部品を搭載する部品搭載工程と
    を含む部品内蔵基板の製造方法において、
     前記部品は部品本体と該部品本体から突出している端子とで形成されていて、
     前記接着層は前記金属層と接着される第1の接着体、及び前記部品と接着される第2の接着体からなり、
     前記第1の接着体は平面視で前記部品の外縁に略沿って形成され、
     前記第2の接着体は平面視で前記端子の外縁と同等あるいは外縁より小さい範囲に塗布形成され、
     前記接着層形成工程にて、前記第1の接着体を硬化させた後、前記第2の接着体を前記第1の接着体上に形成することを特徴とする部品内蔵基板の製造方法。
  2.  前記接着層形成工程にて、前記第2の接着体は平面視で前記端子の外縁より小さく塗布形成されることを特徴とする請求項1に記載の部品内蔵基板の製造方法。
  3.  前記部品搭載工程の後に行われ、前記部品に対して絶縁層となるべき絶縁材を積層して前記絶縁材内に前記部品を埋設する積層工程と、
     前記支持板を除去し、前記金属層及び前記接着層を貫通し前記端子まで到達するビアを形成するビア形成工程と、
     前記ビアの表面にめっきを析出させるめっき工程と、
     前記金属層を含む導体パターンを形成するパターン形成工程と
    をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載の部品内蔵基板の製造方法。
  4.  前記導体パターンと前記部品との間に前記第1の接着体が介されていることを特徴とする請求項3に記載の部品内蔵基板の製造方法を用いた部品内蔵基板。
  5.  前記第2の接着体内にボイドが発生していることを特徴とする請求項4に記載の部品内蔵基板。
PCT/JP2012/073205 2012-09-11 2012-09-11 部品内蔵基板の製造方法及びこれを用いた部品内蔵基板 WO2014041602A1 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014535252A JP6073339B2 (ja) 2012-09-11 2012-09-11 部品内蔵基板の製造方法及びこれを用いた部品内蔵基板
US14/423,990 US9355990B2 (en) 2012-09-11 2012-09-11 Manufacturing method of device embedded substrate and device embedded substrate manufactured by this method
PCT/JP2012/073205 WO2014041602A1 (ja) 2012-09-11 2012-09-11 部品内蔵基板の製造方法及びこれを用いた部品内蔵基板
EP12884539.3A EP2897446B1 (en) 2012-09-11 2012-09-11 Method for manufacturing substrate with built-in component
TW102122096A TW201412218A (zh) 2012-09-11 2013-06-21 零件內藏基板的製造方法及用此的零件內藏基板

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2012/073205 WO2014041602A1 (ja) 2012-09-11 2012-09-11 部品内蔵基板の製造方法及びこれを用いた部品内蔵基板

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2014041602A1 true WO2014041602A1 (ja) 2014-03-20

Family

ID=50277760

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2012/073205 WO2014041602A1 (ja) 2012-09-11 2012-09-11 部品内蔵基板の製造方法及びこれを用いた部品内蔵基板

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9355990B2 (ja)
EP (1) EP2897446B1 (ja)
JP (1) JP6073339B2 (ja)
TW (1) TW201412218A (ja)
WO (1) WO2014041602A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2552377A (en) * 1945-02-08 1951-05-08 Bendix Aviat Corp Altimeter

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008522397A (ja) * 2004-11-26 2008-06-26 イムベラ エレクトロニクス オサケユキチュア 電子モジュール及びその製造方法
JP2010027917A (ja) 2008-07-22 2010-02-04 Meiko:Kk 電気・電子部品内蔵回路基板とその製造方法
JP2010157739A (ja) * 2009-01-05 2010-07-15 Imbera Electronics Oy リジッド‐フレックス回路基板の製造方法及びリジッド‐フレックスエレクトロニクスモジュール
WO2012032654A1 (ja) * 2010-09-10 2012-03-15 株式会社メイコー 部品内蔵基板

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002190661A (ja) * 2000-10-10 2002-07-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品の実装体および実装体のリペアー方法
US8024858B2 (en) * 2008-02-14 2011-09-27 Ibiden Co., Ltd. Method of manufacturing printed wiring board with built-in electronic component
FI123205B (fi) * 2008-05-12 2012-12-31 Imbera Electronics Oy Piirimoduuli ja menetelmä piirimoduulin valmistamiseksi
US20100212946A1 (en) * 2009-02-20 2010-08-26 Ibiden Co., Ltd Wiring board and method for manufacturing the same
JPWO2011087119A1 (ja) * 2010-01-18 2013-05-20 ローム株式会社 半導体装置およびその製造方法
CN103650082B (zh) * 2011-07-11 2016-08-17 株式会社村田制作所 电子部件

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008522397A (ja) * 2004-11-26 2008-06-26 イムベラ エレクトロニクス オサケユキチュア 電子モジュール及びその製造方法
JP2010027917A (ja) 2008-07-22 2010-02-04 Meiko:Kk 電気・電子部品内蔵回路基板とその製造方法
JP2010157739A (ja) * 2009-01-05 2010-07-15 Imbera Electronics Oy リジッド‐フレックス回路基板の製造方法及びリジッド‐フレックスエレクトロニクスモジュール
WO2012032654A1 (ja) * 2010-09-10 2012-03-15 株式会社メイコー 部品内蔵基板

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP2897446A4

Also Published As

Publication number Publication date
EP2897446B1 (en) 2022-03-30
US20150243628A1 (en) 2015-08-27
JP6073339B2 (ja) 2017-02-01
US9355990B2 (en) 2016-05-31
JPWO2014041602A1 (ja) 2016-08-12
TW201412218A (zh) 2014-03-16
EP2897446A1 (en) 2015-07-22
EP2897446A4 (en) 2016-08-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI519223B (zh) 多層配線基板之製造方法
JP5027193B2 (ja) 配線板及びその製造方法
JP6084283B2 (ja) 部品内蔵基板及びその製造方法
JP2013211518A (ja) 多層配線基板およびその製造方法
JP2013183029A (ja) 電子部品内蔵配線板及びその製造方法
KR20150083424A (ko) 배선 기판의 제조 방법
JP5695205B2 (ja) 部品内蔵基板の製造方法及びこれを用いた部品内蔵基板
JP6073339B2 (ja) 部品内蔵基板の製造方法及びこれを用いた部品内蔵基板
JP5557320B2 (ja) 配線基板の製造方法
WO2019198241A1 (ja) 部品内蔵基板の製造方法及び部品内蔵基板
TW201427505A (zh) 具有內埋元件的電路板及其製作方法
KR20110130604A (ko) 복수의 소자가 내장된 집적 인쇄회로기판 및 그 제조 방법
WO2014041628A1 (ja) 部品内蔵基板及びその製造方法
WO2012164719A1 (ja) 部品内蔵基板及びその製造方法
JP2014192224A (ja) 配線基板の製造方法
WO2012164720A1 (ja) 部品内蔵基板及びその製造方法
JP5409519B2 (ja) 配線基板およびその製造方法
JP5409480B2 (ja) 配線基板の製造方法
JP6075789B2 (ja) 配線基板の製造方法
WO2014041697A1 (ja) 部品内蔵基板及びその製造方法
JP2007311466A (ja) 多層プリント配線基板及びその製造方法
WO2014041627A1 (ja) 部品内蔵基板の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 12884539

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2014535252

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 14423990

Country of ref document: US

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE