WO2013187186A1 - 電子部品及びその製造方法 - Google Patents

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WO2013187186A1
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和渡 小川
加藤 功
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株式会社 村田製作所
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Definitions

  • the present invention relates to an electronic component and a manufacturing method thereof, and more particularly, to an electronic component in which a component is mounted on a substrate and a manufacturing method thereof.
  • the multilayer capacitor 102 is mounted on the interposer substrate 120.
  • the interposer substrate 120 has a function of absorbing vibration generated in the multilayer capacitor 102 due to application of an alternating voltage and reducing vibration transmitted to the circuit board on which the capacitor 101 with the interposer is mounted.
  • an electronic component having components mounted on the substrate can be efficiently manufactured.
  • the collective board is cut along the individual board area, and an individual board on which the parts are mounted, that is, an electronic component is taken out.
  • a multilayer capacitor is mounted on an individual substrate region of an aggregate substrate for an interposer substrate, then the aggregate substrate is cut by dicing, and an individual substrate on which the multilayer capacitor is mounted, that is, a capacitor with an interposer is taken out.
  • the cut surface of the mounted multilayer capacitor and the collective substrate that is, the side surface of the individual substrate is taken into consideration when dicing positional accuracy (variation in cutting position) It is necessary to provide an interval with a certain margin between them.
  • the mounting area of the capacitor 101 with the interposer is minimized. Can do.
  • the interval provided between the side surface of the substrate and the component is determined by the positional accuracy of dicing, and is therefore constant regardless of the size of the component to be mounted.
  • An object of the present invention is to provide an electronic component that can be further reduced in size and a manufacturing method thereof.
  • the present invention provides an electronic component configured as follows.
  • the electronic component includes (a) a substrate having a pair of main surfaces facing each other and a side surface connecting the main surfaces, and (b) a component mounted on the main surface of the substrate.
  • the side surface of the substrate includes (i) a first side surface formed before mounting the component and (ii) a second side surface formed after mounting the component. When viewed from the normal direction of the main surface of the substrate, the distance between the first side surface and the component is different from the distance between the second side surface and the component.
  • the second side surface and the component are considered in consideration of the positional accuracy of the second side surface, that is, the variation in the position at which the second side surface is formed. It is necessary to provide an interval with a certain margin between them.
  • the interval between the first side surface and the component does not need to be the same as the interval between the second side surface and the component, it can be appropriately selected so that the electronic component can be reduced in size.
  • the electronic component on which the component is mounted on the substrate can be miniaturized.
  • the component when viewed from the normal direction of the main surface of the substrate, the component is disposed inside the substrate, and a distance between the first side surface and the component is the second It is smaller than the distance between the side surface and the part.
  • the electronic parts can be miniaturized.
  • the component when viewed from the normal direction of the main surface of the substrate, the component protrudes beyond the first side surface beyond the first side surface.
  • the electronic component can be reduced in size by reducing the size of the substrate in the direction in which the component protrudes outside the substrate beyond the first side surface.
  • the main surface of the substrate has a rectangular shape.
  • the side surfaces of the substrate include (i) a pair of first side surfaces facing each other and (ii) a pair of second side surfaces facing each other. When viewed from the normal direction of the main surface of the substrate, the component protrudes beyond the pair of first side surfaces on both sides of the substrate.
  • the size of the electronic component in the direction in which the pair of first side surfaces oppose each other can be made extremely small by making the substrate smaller than the component.
  • the substrate when viewed from the normal direction of the main surface of the substrate, the substrate is formed with a recess recessed from the pair of the second side surfaces, and overlaps a space formed by the recess.
  • the parts are arranged.
  • the electronic component can be reduced in size by reducing the pair of second side surfaces as much as possible in a direction in which the pair of second side surfaces face each other with respect to the substrate having the recesses formed on the pair of second side surfaces.
  • the present invention provides an electronic component manufacturing method configured as follows in order to solve the above-described problems.
  • a method for manufacturing an electronic component includes: (a) a substrate preparation step of preparing an aggregate substrate having a pair of main surfaces facing each other and including individual substrate regions that are divided into individual substrates; and (b) the assembly A component mounting step of mounting a component on the individual substrate region of the substrate; and (c) forming the dividing substrate along a boundary line of the individual substrate region on the collective substrate, thereby separating the individual substrate from the aggregate substrate.
  • the electronic component manufacturing method is a method of manufacturing an electronic component in which the component is mounted on the divided individual substrate. Prior to the component mounting step, the substrate dividing step is started before the component mounting step by forming the dividing groove on the collective substrate along at least one side of the individual substrate region.
  • the interval between the already formed dividing groove and the component can be narrowed, so that the electronic component can be miniaturized.
  • the dividing groove may or may not penetrate between the main surfaces of the collective substrate.
  • the individual substrates can be divided by applying a force along the dividing grooves, for example.
  • the collective substrate includes (a) a first region including the individual substrate region, (b) a second region including another individual substrate region, and (c) the first region and the second region. And a third region disposed between the two.
  • the dividing groove formed along the boundary line of the individual substrate region in the first region and the dividing groove formed along the boundary line of the individual substrate region in the second region are the third groove. It is discontinuous in the area.
  • the dividing grooves penetrating between the main surfaces of the collective substrate are arranged along all the boundary lines of the individual substrate regions.
  • the board dividing step is completed before the component mounting step by dividing the individual substrate in a temporarily fixed state from the collective substrate.
  • the component mounting step the component is mounted on the individual substrate in a temporarily fixed state.
  • the substrate dividing process is completed before the component mounting process, the number of processes is the same as that of a general manufacturing method in which components are mounted on an aggregate board and then individual boards are divided from the aggregate board.
  • the electronic component having the component mounted on the substrate can be further downsized.
  • Example 2 It is a top view of an electronic component.
  • Example 1 It is a top view which shows the manufacturing process of an electronic component.
  • Example 1 It is a top view which shows the manufacturing process of an electronic component.
  • Example 1 It is a top view which shows the manufacturing process of an electronic component.
  • Example 2 It is a top view which shows the manufacturing process of an electronic component.
  • Example 2 It is a top view which shows the manufacturing process of an electronic component.
  • Example 2 It is a top view which shows the manufacturing process of an electronic component.
  • Example 2 It is a principal part top view which shows the manufacturing process of an electronic component.
  • Example 3 It is (a) top view of an electronic component, (b) sectional drawing. (Example 3) It is a top view of an electronic component.
  • Example 4 It is a top view of an electronic component. (Conventional example)
  • Example 1 An electronic component 20 of Example 1 will be described with reference to FIGS.
  • FIG. 1 is a plan view of the electronic component 20. As shown in FIG. 1, the electronic component 20 has components 16 a, 16 b, and 17 mounted on a substrate 12.
  • the substrate 12 has a pair of rectangular main surfaces 12a and 12b facing each other and side surfaces 12p to 12s connecting the main surfaces 12a and 12b.
  • a printed substrate using paper phenol or glass epoxy resin, a flexible substrate using polyimide, liquid crystal polymer, polyester, or the like, or a ceramic substrate can be used.
  • the components 16a, 16b, and 17 to be mounted are chip capacitors such as multilayer ceramic capacitors, chip resistors, chip coils, chip vibrators, chip protection elements, and filter chip components 16a and 16b, and ICs for wireless LAN modules. Chip 17.
  • the chip components 16a and 16b are soldered to terminal electrodes (not shown) formed on one main surface 12a of the substrate 12, and the IC chip 17 is flip-chip mounted. In FIG. 1, illustration of solder is omitted.
  • a connection electrode (not shown) for mounting the electronic component 20 is formed on the other main surface 12 b of the substrate 12.
  • the components 16a, 16b, and 17 are arranged at intervals D1 to D4.
  • FIGS. 2 to 4 are plan views schematically showing the manufacturing process of the electronic component 20.
  • the collective substrate 10 is prepared and temporarily fixed.
  • the collective substrate 10 has a pair of main surfaces 10a and 10b facing each other.
  • One main surface 10 b of the collective substrate 10 is temporarily fixed to the flat surface 32 a of the jig 32 using the adhesive tape 30.
  • the collective substrate 10 may be temporarily fixed by an appropriate method.
  • the collective substrate 10 may be temporarily fixed using an adhesive, or may be temporarily fixed by vacuum suction by providing an opening in the flat surface 32a of the jig 32.
  • 11y are formed in a lattice shape, and the collective substrate 10 is divided into individual substrates 12. That is, the collective substrate 10 includes an individual substrate region which is a portion to be the individual substrate 12, and a cutting margin left for forming the dividing grooves 11x and 11y along the boundary line of the individual substrate region. .
  • the divided individual substrates 12 are temporarily fixed to the base 32.
  • components 16 a, 16 b and 17 are mounted on the main surface 12 a of the temporarily fixed individual substrate 12. Specifically, the chip components 16a and 16b are reflow soldered, and the bumped IC chip 17 is flip-chip mounted. In FIG. 4, illustration of solder is omitted.
  • the components 16a, 16b, and 17 are mounted on the individual substrate 12, since the dividing grooves 11x and 11y are already formed, the components are mounted on the collective substrate and then separated from the collective substrate.
  • a substrate is divided, as shown in FIG. 1, between the parts 16a, 16b, and 17 and the side surfaces 12p to 12s of the individual substrate 12 formed by the dividing grooves 11x and 11y.
  • the intervals D1 to D4 can be reduced. That is, the substrate 12 can be made smaller than in the case of a general manufacturing method, and the electronic component 20 can be downsized.
  • the substrate dividing process is completed, so that the misaligned components 16a, 16b, and 17, particularly an expensive IC chip. 17 is not cut.
  • the substrate dividing step of forming the dividing grooves 11x and 11y on the collective substrate 10 and dividing the individual substrate 12 from the collective substrate 10 ends before the component mounting step of mounting the components 16a, 16b, and 17, the collective substrate
  • the number of steps is the same as that of a general manufacturing method in which components are mounted on the substrate and then the individual substrates are divided from the collective substrate, and the time and labor of the general manufacturing method are the same.
  • Example 2 A method for manufacturing the electronic component 20 of Example 2 will be described with reference to FIGS. 1 and 5 to 8.
  • Example 2 the electronic component 20 having the same configuration as that of Example 1 shown in FIG. 1 is manufactured by a manufacturing method different from that of Example 1 as shown in FIGS. 5 to 8 are plan views schematically showing the manufacturing process of the electronic component 20.
  • a collective substrate 10s is prepared and temporarily fixed.
  • the collective substrate 10s has a pair of main surfaces 10a and 10b facing each other.
  • One main surface 10 b of the collective substrate 10 s is temporarily fixed to the flat surface 32 a of the jig 32 using the adhesive tape 30.
  • the collective substrate 10s may be temporarily fixed by an appropriate method.
  • the collective substrate 10s may be temporarily fixed using an adhesive, or may be temporarily fixed by vacuum suction by providing an opening in the flat surface 32a of the jig 32.
  • the components 16a, 16b, and 17 are mounted in the individual substrate region (portion to be the individual substrate 12) of the collective substrate 10s. Specifically, the chip components 16a and 16b are reflow soldered, and the bumped IC chip 17 is flip-chip mounted. In FIG. 7, illustration of solder is omitted.
  • the components 16a, 16b, and 17 can be mounted on the basis of the division grooves 11p, that is, portions corresponding to the first side surfaces 12q and 12s of the substrate 12.
  • Substrate dividing step (part 2) Next, as shown in FIG. 8, the other one of the two-way divided grooves 11p and 11q for dividing the individual substrate 12 into a lattice shape by dicing or laser processing on the temporarily fixed collective substrate 10s.
  • a dividing groove 11q (vertical direction in the figure) is formed.
  • the dividing groove 11q is formed so as to penetrate between the main surfaces 10a and 10b of the collective substrate 10s. Thereby, the individual substrate 12 can be divided from the collective substrate 10s.
  • illustration of solder is omitted.
  • Temporary fixed release If necessary, a resin mold is formed or a case is attached while temporarily fixed. When the temporary fixing of the individual substrates 12 is released, the electronic component 20 can be taken out.
  • the dividing grooves 11p and 11q can be formed so as not to penetrate between the main surfaces 10a and 10b of the collective substrate 10s. In this case, for example, by applying a force along the dividing grooves 11p and 11q, the individual substrate 12 can be divided and the electronic component 20 can be taken out.
  • the electronic component 20 shown in FIG. 1 can be manufactured by the above manufacturing method.
  • the pair of side surfaces 12q and 12s facing each other are the first side surfaces formed before the component mounting step
  • the other pair of opposing side surfaces 12p and 12r are second side surfaces formed after the component mounting process.
  • the positional accuracy of the second side surfaces 12p and 12r that is, the variation in the positions at which the second side surfaces 12p and 12r are formed.
  • the distances D2 and D4 between the first side faces 12q and 12s and the parts 16a and 17 need to be the same as the distances D1 and D3 between the second side faces 12p and 12r and the parts 16, 17, and 18. Therefore, the electronic component 20 can be appropriately selected so that the size can be reduced. That is, the distances D2 and D4 between the first side faces 12q and 12s and the parts 16a and 17 are different from the distances D1 and D3 between the second side faces 12p and 12r and the parts 16a, 16b, and 17, respectively.
  • the electronic component 20 in which the components 16a, 16b, and 17 are mounted on the substrate 12 can be reduced in size.
  • the distances D2 and D4 between the first side surfaces 12q and 12s and the parts 16a and 17 are determined from the distances D1 and D4 between the second side surfaces 12p and 12r and the parts 16a, 16b, and 17, respectively.
  • the side surfaces 12q and 12s along the long side of the rectangular main surface 12a are the first side surfaces formed before component mounting, and the side surfaces 12p and 12r along the short side of the rectangular main surface 12a are the components.
  • the side surfaces 12q and 12s along the long side are the second side surfaces formed after component mounting, and the side surfaces 12p and 12r along the short side are before the component mounting.
  • the individual substrate 12 can be made smaller than the case where the first side surface is formed, and the electronic component 20 can be made smaller.
  • Example 3 The electronic component 21 of Example 3 will be described with reference to FIGS.
  • FIG. 10A is a plan view of the electronic component 21.
  • FIG. 10B is a cross-sectional view taken along line XX in FIG.
  • the electronic component 21 is a capacitor with an interposer in which the multilayer capacitor 18 is mounted on the interposer substrate 13.
  • the multilayer capacitor 18 has electrodes 18p and 18q formed on both ends of a rectangular main body 18s, and is mounted using a bonding material 19 such as solder or conductive paste.
  • the interposer substrate 13 has a pair of main surfaces 13m and 13n facing each other in a substantially rectangular shape, and side surfaces 13p to 13s connecting the main surfaces 13m and 13n. Side surfaces 13q and 13s along the long sides of the main surfaces 13m and 13n are first side surfaces formed before the multilayer capacitor 18 is mounted.
  • the side surfaces 13p and 13r along the short sides of the main surfaces 13m and 13n are second side surfaces formed after the multilayer capacitor 18 is mounted.
  • terminal electrodes 14 are formed which are recessed from the pair of second side surfaces 13 p and 13 r and continue from one main surface 13 m to the other main surface 13 n.
  • a half crack cylindrical through-hole space 15 is formed along the peripheral surface 14s. That is, the interposer substrate 13 is formed with a recess that is recessed from the pair of second side surfaces 13p and 13r when viewed from the normal direction of the main surfaces 13m and 13n by the inner peripheral surface 14s of the terminal electrode 14. That is, the through hole space 15 is formed by the inner peripheral surface of the terminal electrode 14.
  • the electronic component 21 is manufactured by the same manufacturing method as in Example 2 as follows.
  • Substrate preparation step First, a collective substrate is prepared and temporarily fixed.
  • one-way divided grooves 10u and 10v are formed in the aggregate substrate 10t.
  • portions 14x and 15x that become the terminal electrode 14 and the through-hole space 15 are formed in advance on the collective substrate 10t.
  • a through hole is formed in the collective substrate 10t, and a conductive paste is applied to the inner peripheral surface of the through hole and in the vicinity thereof by a method such as screen printing, whereby the terminal electrode 14 and the portion 14x that becomes the through hole space 15 are formed.
  • 15x are formed in advance.
  • the dividing grooves 11u and 11v are formed intermittently.
  • the third region 10k is disposed between the first region 10i including the individual substrate region and the second region 10j including the other individual substrate regions.
  • the first dividing groove 11u is formed in one direction along the boundary line of the individual substrate area of the first area 10i
  • the second dividing groove 11v is formed along the boundary line of the individual substrate area of the second area 10j. Form in the direction.
  • No division groove is formed in the third region 10k disposed between the first region 10i and the second region 10j. As a result, the first dividing groove 11u and the second dividing groove 11v are discontinuous in the third region 10k.
  • the direction of the first dividing groove 11u formed along the individual substrate region of the first region 10i and the direction of the second dividing groove 11v formed along the individual substrate region of the second region 10j may be the same direction. If this is the case, the operation of forming the dividing groove is simplified, which is preferable. However, the dividing grooves formed in the first region 10i and the second region 10j before mounting the multilayer capacitor 18 may be formed so that the directions are different from each other. Moreover, the 1st area
  • the multilayer capacitor 18 is mounted on the collective substrate 10t. At this time, if the multilayer capacitor 18 is mounted on the basis of the division grooves 11u and 11v, the shift of the center of gravity of the electronic component 21 can be suppressed.
  • Substrate dividing step (part 2) Next, another unidirectional dividing groove different from the dividing grooves 11u and 11v is formed on the collective substrate 10t, and the individual substrates are divided from the collective substrate 10t. At this time, the division grooves are formed so as to pass through the centers of the portions 14x and 15x that become the terminal electrode 14 and the through-hole space 15.
  • the distance A between the first side surfaces 13q and 13s of the interposer substrate 13 and the multilayer capacitor 18 is set to the second side surfaces 13p and 13r of the interposer substrate 13.
  • the distance B between the multilayer capacitor 18 and the electronic component 21 can be reduced.
  • Example 4 The electronic component 21a of Example 4 will be described with reference to FIG.
  • the electronic component 21a has substantially the same configuration as the electronic component 21 of the third embodiment, and is manufactured in the same process sequence as the electronic component 21 of the third embodiment. Below, it demonstrates centering around difference with Example 3, and the same code
  • FIG. 1 is a diagrammatic representation of Example 1 of Example 2.
  • FIG. 11 is a plan view of the electronic component 21a. As shown in FIG. 11, the multilayer capacitor 18 protrudes on both sides of the interposer substrate 13a beyond the pair of first side surfaces 13q and 13s of the interposer substrate 13a.
  • the dimension of the interposer substrate 13a can be made smaller than that of the multilayer capacitor 18 in the direction in which the pair of first side surfaces 13q and 13s oppose each other (vertical direction in the figure).
  • the dimension of the electronic component 21a in the direction in which 13q and 13s face each other can be made as small as possible.
  • the electrodes 18p and 18q at both ends of the multilayer capacitor 18 are the inner peripheral surfaces of the terminal electrodes 14 of the interposer substrate 13a. It is arranged so as to overlap the through-hole space 15 formed by 14s.
  • the multilayer capacitor 18 protrudes on both sides of the interposer substrate 13a.
  • the multilayer capacitor 18 may protrude only on one side. Even in that case, the dimension of the interposer substrate 13a can be reduced on the side where the multilayer capacitor 18 protrudes, and the electronic component 21a can be downsized.

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Abstract

 より小型化できる電子部品及びその製造方法を提供する。 電子部品20は、(a)互いに対向する一対の主面12a,12bと、主面12a,12b間を接続する側面12p~12sとを有する基板12と、(b)基板12の主面12aに実装された部品16a,16b,17とを備える。基板の側面12p~12sは、(i)部品16a,16b,17の実装前に形成された第1の側面12q,12sと、(ii)部品16a,16b,17の実装後に形成された第2の側面12p,12rとを含む。基板12の主面12aの法線方向から見たとき、第1の側面12q,12sと部品16a,17との間隔D2,D4と、第2の側面12p,12rと部品16a,16b,17との間隔D1,D3とが異なる。

Description

電子部品及びその製造方法
 本発明は、電子部品及びその製造方法に関し、詳しくは、基板に部品が実装された電子部品及びその製造方法に関する。
 従来、基板に部品が実装された電子部品について、種々提案されている。
 例えば図12の平面図に示すインターポーザ付きコンデンサ101は、インターポーザ基板120に、積層コンデンサ102が実装されている。インターポーザ基板120は、交流電圧の印加により積層コンデンサ102に生じた振動を吸収し、インターポーザ付きコンデンサ101が実装された回路基板等に伝わる振動を減らす機能を有している。
特開2004-134430号公報
 複数の個基板に分割される部分である個基板領域を含む集合基板を用いると、基板に部品が実装された電子部品を効率よく製造することができる。一般的には、集合基板の各個基板領域に部品を実装した後、集合基板を個基板領域に沿って切断して、部品が実装された個基板、すなわち電子部品を取り出す。
 例えば、インターポーザ基板用の集合基板の個基板領域に積層コンデンサを実装し、次いで、ダイシングにより集合基板を切断して、積層コンデンサが実装された個基板、すなわちインターポーザ付きコンデンサを取り出す。積層コンデンサを集合基板に半田等により実装した後、ダイシングで分割する場合、ダイシングの位置精度(切断位置のばらつき)を考慮すると、実装された積層コンデンサと集合基板の切断面、すなわち個基板の側面との間には、ある程度の余裕を見込んだ間隔を設けておく必要がある。
 図12に示されているように、積層コンデンサ102とインターポーザ基板の側面との間の間隔が、積層コンデンサ102の全周において略同じであるとき、インターポーザ付きコンデンサ101の実装面積を最小にすることができる。
 しかしながら、基板の側面と部品との間に設ける間隔は、ダイシングの位置精度によって決まるため、実装する部品の大きさにかかわらず一定である。実装する部品を小型化するだけでは、基板に部品が実装された電子部品の小型化に限界がある。
 本発明は、より小型化できる電子部品及びその製造方法を提供することを目的としている。
 本発明は、上記課題を解決するために、以下のように構成した電子部品を提供する。
 電子部品は、(a)互いに対向する一対の主面と、前記主面間を接続する側面とを有する基板と、(b)前記基板の前記主面に実装された部品とを備える。前記基板の前記側面は、(i)前記部品の実装前に形成された第1の側面と、(ii)前記部品の実装後に形成された第2の側面とを含む。前記基板の前記主面の法線方向から見たとき、前記第1の側面と前記部品との間隔と、前記第2の側面と前記部品との間隔とが異なる。
 上記構成によれば、部品実装後に第2の側面を形成するとき、第2の側面の位置精度、すなわち第2の側面が形成される位置のばらつきを考慮して、第2の側面と部品との間には、ある程度の余裕を見込んだ間隔を設けておく必要がある。
 一方、部品実装前に形成された第1の側面と部品との間には、そのような余裕を見込んだ間隔を設ける必要はない。第1の側面と部品との間隔は、第2の側面と部品との間隔と同じにする必要はないので、電子部品を小型化できるように適宜に選択できる。
 つまり、第1の側面と部品との間の間隔を、第2の側面と部品との間隔と異ならせることによって、基板に部品が実装されている電子部品を小型化できる。
 好ましい一態様において、前記基板の前記主面の法線方向から見たとき、前記基板の内側に前記部品が配置され、かつ、前記第1の側面と前記部品との間隔が、前記第2の側面と前記部品との間隔より小さい。
 このように部品を第1の側面にできるだけ近づけて配置することにより、電子部品を小型化できる。
 好ましい他の態様において、前記基板の前記主面の法線方向から見たとき、前記部品が、前記第1の側面を越えて前記基板の外側にはみ出ている。
 部品が第1の側面を越えて基板の外側にはみ出ている方向について、基板の寸法を小さくして、電子部品を小型化できる。
 好ましくは、前記基板の前記主面は、矩形形状を有する。前記基板の前記側面は、(i)互いに対向する一対の前記第1の側面と、(ii)互いに対向する一対の前記第2の側面とを含む。前記基板の前記主面の法線方向から見たとき、前記部品が、一対の前記第1の側面を越えて前記基板の両側にはみ出ている。
 一対の第1の側面が互いに対向する方向について、部品よりも基板を小さくすることによって、一対の第1の側面が互いに対向する方向の電子部品の寸法を極限まで小さくすることができる。
 好ましくは、前記基板の前記主面の法線方向から見たとき、前記基板には一対の前記第2の側面から後退した凹部が形成され、かつ、前記凹部により形成される空間に重なるように前記部品が配置されている。
 一対の第2の側面に凹部が形成された基板について、一対の第2の側面が互いに対向する方向にできるだけ小さくして、電子部品を小型化できる。
 また、本発明は、上記課題を解決するために、以下のように構成した電子部品の製造方法を提供する。
 電子部品の製造方法は、(a)互いに対向する一対の主面を有し、個基板に分割される部分である個基板領域を含む集合基板を準備する基板準備工程と、(b)前記集合基板の前記個基板領域に部品を実装する部品実装工程と、(c)前記集合基板に、前記個基板領域の境界線に沿って分割溝を形成することにより、前記集合基板から前記個基板を分割する基板分割工程とを備える。電子部品の製造方法は、分割された前記個基板に前記部品が実装されている電子部品を製造する方法である。前記部品実装工程の前に、前記集合基板に、前記個基板領域の少なくとも1辺に沿って前記分割溝を形成することにより、前記基板分割工程を、前記部品実装工程の前に開始する。
 上記方法によれば、部品実装工程おいて部品を実装するとき、すでに形成されている分割溝と部品との間隔は狭くすることができるため、電子部品を小型化することができる。
 すなわち、部品実装後に側面を形成するとき、側面と部品との間には、ある程度の余裕を見込んだ間隔を設けておく必要がある。例えば側面を形成するときにダイシングブレードが部品に干渉するなどの悪影響が及ばないようにしたり、側面が形成される位置の精度(ばらつき)を考慮したりする必要があるからである。一方、部品実装前に形成された側面と部品との間の間隔については、そのような余裕を見込む必要はないからである。
 なお、分割溝は、集合基板の主面間を貫通しても、貫通しなくてもよい。分割溝が集合基板の主面間を貫通しない場合は、例えば分割溝に沿って力を加えることによって、個基板を分割することができる。
 好ましくは、前記集合基板は、(a)前記個基板領域を含む第1領域と、(b)他の前記個基板領域を含む第2領域と、(c)前記第1領域と前記第2領域の間に配置された第3領域とを含む。前記第1領域の前記個基板領域の境界線に沿って形成された前記分割溝と、前記第2領域の前記個基板領域の境界線に沿って形成された前記分割溝とが、前記第3領域において不連続である。
 分割溝を断続的に形成することによって、分割溝を連続的に形成する場合よりも、集合基板の強度の低下を抑制できる。すなわち、第1領域と第2領域とに別々の分割溝を形成することによって、第3領域にも分割溝を形成して第1領域から第3領域を経て第2領域まで連続する共通の分割溝を形成する場合よりも、集合基板の強度の低下を抑制することができる。
 好ましくは、前記部品実装工程の前に、前記集合基板が仮固定された状態で、前記集合基板の前記主面間を貫通する前記分割溝を、前記個基板領域のすべての前記境界線に沿って形成して、前記集合基板から、仮固定された状態の前記個基板を分割することにより、前記基板分割工程を前記部品実装工程の前に終了する。前記部品実装工程において、仮固定された状態の前記個基板に前記部品を実装する。
 基板分割工程は、部品実装工程の前に終了するため、集合基板に部品を実装し、次いで集合基板から個基板を分割する一般的な製造方法と、工程数は同じである。
 本発明によれば、基板の側面と部品との間隔をより小さくすることができるので、基板に部品が実装された電子部品をより小型化できる。
電子部品の平面図である。(実施例1、2) 電子部品の製造工程を示す平面図である。(実施例1) 電子部品の製造工程を示す平面図である。(実施例1) 電子部品の製造工程を示す平面図である。(実施例1) 電子部品の製造工程を示す平面図である。(実施例2) 電子部品の製造工程を示す平面図である。(実施例2) 電子部品の製造工程を示す平面図である。(実施例2) 電子部品の製造工程を示す平面図である。(実施例2) 電子部品の製造工程を示す要部平面図である。(実施例3、4) 電子部品の(a)平面図、(b)断面図である。(実施例3) 電子部品の平面図である。(実施例4) 電子部品の平面図である。(従来例)
 以下、本発明の実施の形態について、図1~図11を参照しながら説明する。
 <実施例1> 実施例1の電子部品20について、図1~図4を参照しながら説明する。
 図1は、電子部品20の平面図である。図1に示すように、電子部品20は、基板12に部品16a,16b,17が実装されている。
 基板12は、矩形形状の互いに対向する一対の主面12a,12bと、主面12a,12b間を接続する側面12p~12sとを有している。基板12には、紙フェノールやガラスエポキシ樹脂などを用いたプリント基板や、ポリイミドや液晶ポリマーやポリエステルなどを用いたフレキシブル基板や、セラミック基板を使用することができる。
 実装される部品16a,16b,17は、積層セラミックコンデンサ等のチップコンデンサ、チップ抵抗、チップコイル、チップ振動子、チップ保護素子、フィルタなどのチップ部品16a,16bや、無線LANモジュール用などのICチップ17である。
 チップ部品16a,16bは、基板12の一方の主面12aに形成された端子電極(図示せず)にはんだ付けされ、ICチップ17はフリップチップ実装されている。なお、図1では、はんだの図示を省略している。基板12の他方の主面12bには、電子部品20を実装するための接続電極(図示せず)が形成されている。
 図1に示すように、基板12の主面12aの法線方向(図において紙面垂直方向)から見たとき、部品16a,16b,17は、基板12の内側に、基板12の側面12p~12sとの間に間隔D1~D4を設けて配置されている。
 次に、電子部品20の製造方法について、図2~図4を参照しながら説明する。図2~図4は、電子部品20の製造工程を模式的に示す平面図である。
 (1)基板準備工程
 まず、図2に示すように、集合基板10を準備して仮固定する。集合基板10は、互いに対向する一対の主面10a,10bを有する。集合基板10の一方の主面10bを、粘着テープ30を用いて冶具32の平面32aに仮固定する。集合基板10の仮固定は適宜な方法で行えばよく、例えば、接着剤を用いて仮固定したり、冶具32の平面32aに開口を設けて真空吸引により仮固定したりしても構わない。
 (2)基板分割工程
 次いで、図3に示すように、仮固定した集合基板10に、ダイシング加工やレーザー加工など適宜な工法で、集合基板10の主面10a,10b間を貫通する分割溝11x,11yを格子状に形成して、集合基板10を個基板12に分割する。すなわち、集合基板10は、個基板12になるべき部分である個基板領域と、個基板領域の境界線に沿って分割溝11x,11yを形成するために残された切り代とを含んでいる。分割された個基板12は、基台32に仮固定されたままである。
 (3)部品実装工程
 次いで、図4に示すように、仮固定された個基板12の主面12aに、部品16a,16b,17を実装する。具体的には、チップ部品16a,16bをリフローはんだ付けし、バンプ処理されたICチップ17をフリップチップ実装する。なお、図4では、はんだの図示を省略している。
 (4)仮固定解除
 必要に応じて、仮固定した状態のまま、樹脂モールドを形成したり、ケースを取り付けたりする。個基板12の仮固定を解除すると、電子部品20を取り出すことができる。
 以上に説明した製造方法では、個基板12に部品16a,16b,17を実装するときに、すでに分割溝11x,11yが形成されているため、集合基板に部品を実装し、次いで集合基板から個基板を分割する一般的な製造方法の場合よりも、図1に示すように、部品16a,16b,17と、分割溝11x,11yによって形成される個基板12の側面12p~12sとの間の間隔D1~D4を小さくすることができる。すなわち、一般的な製造方法の場合よりも基板12を小さくし、ひいては電子部品20を小型化することができる。
 また、部品実装工程において突発的に部品16a,16b,17の実装位置ずれが発生しても、基板分割工程は終了しているので、位置ずれした部品16a,16b,17、特に高価なICチップ17を切断することがない。
 集合基板10に分割溝11x,11yを形成して、集合基板10から個基板12を分割する基板分割工程は、部品16a,16b,17を実装する部品実装工程の前に終了するため、集合基板に部品を実装し、次いで集合基板から個基板を分割する一般的な製造方法と、工程数は同じであり、一般的な製造方法と手間は変わらない。
 <実施例2> 実施例2の電子部品20の製造方法について、図1、図5~図8を参照しながら説明する。
 実施例2では、図1に示した実施例1と同じ構成の電子部品20を、図5~図8に示すように、実施例1とは異なる製造方法で作製する。図5~図8は、電子部品20の製造工程を模式的に示す平面図である。
 (1)基板準備工程
 まず、図5に示すように、集合基板10sを準備して仮固定する。集合基板10sは、互いに対向する一対の主面10a,10bを有する。集合基板10sの一方の主面10bを、粘着テープ30を用いて冶具32の平面32aに仮固定する。集合基板10sの仮固定は適宜な方法で行えばよく、例えば、接着剤を用いて仮固定したり、冶具32の平面32aに開口を設けて真空吸引により仮固定したりしても構わない。
 (2)基板分割工程(その1)
 次いで、図6に示すように、仮固定した集合基板10sに、ダイシング加工やレーザー加工などにより、格子状に個基板12を分割するための二方向の分割溝11p,11q(11qは、図8参照)のうち、一方向(図において左右方向)の分割溝11pだけを形成する。分割溝11pは、集合基板10sの主面10a,10b間を貫通するように形成する。
 (3)部品実装工程
 次いで、図7に示すように、集合基板10sの個基板領域(個基板12になるべき部分)に、部品16a,16b,17を実装する。具板的には、チップ部品16a,16bをリフローはんだ付けし、バンプ処理されたICチップ17をフリップチップ実装する。なお、図7では、はんだの図示を省略している。部品16a,16b,17は、分割溝11p、すなわち基板12の第1の側面12q,12sに相当する部分を基準に実装することができる。
 (4)基板分割工程(その2)
 次いで、図8に示すように、仮固定した集合基板10sに、ダイシング加工やレーザー加工などにより、格子状に個基板12を分割するための二方向の分割溝11p,11qのうち他の一方向(図において上下方向)の分割溝11qを形成する。分割溝11qは、集合基板10sの主面10a,10b間を貫通するように形成する。これにより、集合基板10sから個基板12を分割することができる。なお、図8では、はんだの図示を省略している。
 (5)仮固定解除
 必要に応じて、仮固定した状態のまま、樹脂モールドを形成したり、ケースを取り付けたりする。個基板12の仮固定を解除すると、電子部品20を取り出すことができる。
 なお、分割溝11p,11qは、集合基板10sの主面10a,10b間を貫通していないように形成することも可能である。この場合には、例えば、分割溝11p,11qに沿って力を加えることにより個基板12を分割し、電子部品20を取り出すことができる。
 以上の製造方法によって、図1に示された電子部品20を製造することができる。この場合、電子部品20の矩形形状の基板12の4つの側面12p~12sのうち、互いに対向する一対の側面12q,12sは、部品実装工程の前に形成された第1の側面であり、互いに対向する他の一対の側面12p,12rは、部品実装工程の後に形成された第2の側面である。
 部品実装後に分割溝11qを形成するとき、すなわち第2の側面12p,12rを形成するとき、第2の側面12p,12rの位置精度、すなわち第2の側面12p,12rが形成される位置のばらつきを考慮して、第2の側面12p,12rと部品16a,16b,17との間には、ある程度の余裕を見込んだ間隔D1,D3を設けておく必要がある。例えば、分割溝を形成するダイシングブレードが部品と干渉しないようにするなどの必要があるからである。
 一方、部品実装時にすでに形成されている分割溝11p、すなわち第1の側面12q、12sと部品16a,17との間の間隔D2,D4については、そのような余裕を見込む必要はない。
 第1の側面12q,12sと部品16a,17との間の間隔D2,D4は、第2の側面12p,12rと部品16,17,18との間の間隔D1,D3と同じにする必要はないため、電子部品20を小型化できるように、適宜に選択できる。つまり、第1の側面12q,12sと部品16a,17との間の間隔D2,D4を、第2の側面12p,12rと部品16a,16b,17との間の間隔D1,D3と異ならせることによって、基板12に部品16a,16b,17が実装されている電子部品20を小型化できる。
 具体的には、第1の側面12q,12sと部品16a,17との間の間隔D2,D4を、第2の側面12p,12rと部品16a,16b,17との間の間隔D1,D4よりも小さくすることによって、電子部品20を小型化できる。例えば、D2<D1、かつD4<D3、かつD1=D3、かつD2=D4とする。
 実施例2のように、矩形の主面12aの長辺に沿う側面12q,12sを部品実装前に形成する第1の側面とし、矩形の主面12aの短辺に沿う側面12p,12rを部品実装後に形成する第2の側面とすると、これとは逆に、長辺に沿う側面12q,12sを部品実装後に形成する第2の側面とし、短辺に沿う側面12p,12rを部品実装前に形成する第1の側面とする場合よりも、個基板12を小さくすることができ、ひいては電子部品20を小さくすることができる。
 <実施例3> 実施例3の電子部品21について、図9及び図10を参照しながら説明する。
 図10(a)は、電子部品21の平面図である。図10(b)は、図10(a)の線X-Xに沿って切断した断面図である。
 図10に示すように、電子部品21は、積層コンデンサ18がインターポーザ基板13に実装されたインターポーザ付きコンデンサである。積層コンデンサ18は、矩形形状の本体18sの両端に、電極18p,18qが形成され、はんだや導電性ペーストなどの接合材19を用いて実装されている。インターポーザ基板13は、略矩形形状の互いに対向する一対の主面13m,13nと、主面13m,13n間を接続する側面13p~13sとを有する。主面13m,13nの長辺に沿う側面13q,13sは、積層コンデンサ18の実装前に形成された第1の側面である。主面13m,13nの短辺に沿う側面13p,13rは、積層コンデンサ18の実装後に形成された第2の側面である。
 インターポーザ基板13の長手方向の両端には、一対の第2の側面13p,13rから後退し、一方の主面13mから他方の主面13nまで連続する端子電極14が形成され、端子電極14の内周面14sに沿って、半割れ筒状のスルーホール空間15が形成されている。すなわち、インターポーザ基板13は、端子電極14の内周面14sによって、主面13m,13nの法線方向から見たとき一対の第2の側面13p,13rから後退している凹部が形成され、凹部、すなわち端子電極14の内周面によって、スルーホール空間15が形成されている。
 電子部品21は、以下のように、実施例2と同じ製造方法で作製する。
 (1)基板準備工程
 まず、集合基板を準備し、仮固定する。
 (2)基板準備工程(その1)
 次いで、図9の要部平面図に示すように、集合基板10tに一方向の分割溝10u,10vを形成する。なお、集合基板10tには、切断されると端子電極14及びスルーホール空間15になる部分14x,15xを、予め形成しておく。例えば、集合基板10tに貫通孔を形成し、貫通孔の内周面及びその近傍に、スクリーン印刷などの手法で導電性ペーストを塗布することにより、端子電極14及びスルーホール空間15になる部分14x,15xを予め形成しておく。
 分割溝11u,11vは、断続的に形成する。すなわち、集合基板10tは、個基板領域を含む第1領域10iと、他の個基板領域を含む第2領域10jとの間に、第3領域10kが配置されている。第1の分割溝11uは、第1領域10iの個基板領域の境界線に沿って一方向に形成し、第2の分割溝11vは第2領域10jの個基板領域の境界線に沿って一方向に形成する。第1領域10iと第2領域10jの間に配置された第3領域10kには、分割溝を形成しない。これによって、第1の分割溝11uと第2の分割溝11vとは、第3領域10kにおいて不連続となる。
 第1領域10iの個基板領域に沿って形成する第1の分割溝11uの方向と、第2領域10jの個基板領域に沿って形成する第2の分割溝11vの方向とが同じ方向であれば、分割溝を形成する作業が簡単になり、好ましい。もっとも、積層コンデンサ18を実装する前に第1領域10iと第2領域10jとに形成する分割溝は、それぞれ方向が互いに異なるように形成しても構わない。また、第1領域と第2領域は、少なくとも1つの個基板領域を含んでいればよい。
 集合基板に分割溝を断続的に形成することによって、分割溝を連続的に形成する場合よりも、集合基板の強度の低下を抑制できる。すなわち、第1領域10iと第2領域10jとに別々の分割溝11u,11vを形成することによって、第3領域10kにも分割溝を形成して第1領域10iから第3領域10kを経て第2領域10jまで連続する共通の分割溝を形成する場合よりも、集合基板10tの強度の低下を抑制できる。これにより、例えば、次の部品実装工程の直前や直後に集合基板10tの仮固定をやり直す場合に、集合基板10tの破損を抑制できる。
 (3)部品実装工程
 次いで、集合基板10tに積層コンデンサ18を実装する。このとき、分割溝11u,11vを基準に積層コンデンサ18を実装すると、電子部品21の重心位置のずれを抑制することできる。
 (4)基板分割工程(その2)
 次いで、集合基板10tに、分割溝11u,11vとは異なる他の一方向の分割溝を形成し、集合基板10tから個基板を分割する。このとき、端子電極14及びスルーホール空間15になる部分14x,15xの中心を通るように、分割溝を形成する。
 (5)仮固定解除
 個基板の仮固定を解除すると、電子部品21を取り出すことができる。
 以上の製造方法により、図10(a)に示すように、インターポーザ基板13の第1の側面13q,13sと積層コンデンサ18との間の間隔Aを、インターポーザ基板13の第2の側面13p,13rと積層コンデンサ18との間の間隔Bよりも小さくすることができ、電子部品21を小型化できる。
 <実施例4> 実施例4の電子部品21aについて、図11を参照しながら説明する。
 電子部品21aは、実施例3の電子部品21と略同様の構成であり、実施例3の電子部品21と同じ工程順序で作製される。以下では、実施例3との相違点を中心に説明し、実施例3と同じ構成部分には同じ符号を用いる。
 図11は、電子部品21aの平面図である。図11に示すように、積層コンデンサ18は、インターポーザ基板13aの一対の第1の側面13q,13sを越えてインターポーザ基板13aの両側に、はみ出ている。
 これによって、一対の第1の側面13q,13sが互いに対向する方向(図において上下方向)については、インターポーザ基板13aの寸法を積層コンデンサ18よりも小さくすることができるので、一対の第1の側面13q,13sが互いに対向する方向の電子部品21aの寸法を極限まで小さくすることができる。
 また、図11に示すように、インターポーザ基板13aの主面13m,13nの法線方向から見たとき、積層コンデンサ18の両端の電極18p,18qが、インターポーザ基板13aの端子電極14の内周面14sによって形成されるスルーホール空間15に重なるように配置されている。
 これによって、一対の第2の側面13p,13rが互いに対向する方向に、インターポーザ基板13aを小さくして、一対の第2の側面13p,13rが互いに対向する長手方向の電子部品21aの寸法を、実施例3よりも小さくすることができる。
 なお、図11では、積層コンデンサ18がインターポーザ基板13aの両側に、はみ出ているが、片側だけに、はみ出るようにしても構わない。その場合でも、積層コンデンサ18がはみ出ている側について、インターポーザ基板13aの寸法を小さくでき、ひいては電子部品21aを小型化できる。
 <まとめ> 以上の実施例1~4に示したように、集合基板に少なくとも一部の分割溝を形成した後、集合基板に部品を実装することによって、基板に部品が実装された電子部品をより小型化することができる。
 なお、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、種々変更を加えて実施することが可能である。
 10,10s,10t集合基板
 10a,10b 主面
 10i 第1領域
 10j 第2領域
 10k 第3領域
 11p,11q 分割溝
 11u,11v 分割溝
 11x,11y 分割溝
 12 個基板(基板)
 12a,12b 主面
 12p~12s 側面
 13 インターポーザ基板
 13m,13n 主面
 13p~13r 側面
 14 端子電極
 14s 内周面
 15 スルーホール空間
 16a,16b チップ部品(部品)
 17 ICチップ(部品)
 18 積層コンデンサ(部品)
 19 接合材
 20,21,21a 電子部品
 30 粘着テープ
 32 冶具
 32a 平面

Claims (8)

  1.  互いに対向する一対の主面と、前記主面間を接続する側面とを有する基板と、
     前記基板の前記主面に実装された部品と、
    を備え、
     前記基板の前記側面は、
     前記部品の実装前に形成された第1の側面と、
     前記部品の実装後に形成された第2の側面と、
    を含み、
     前記基板の前記主面の法線方向から見たとき、前記第1の側面と前記部品との間の間隔と、前記第2の側面と前記部品との間隔とが異なることを特徴とする、電子部品。
  2.  前記基板の前記主面の法線方向から見たとき、前記基板の内側に前記部品が配置され、かつ、前記第1の側面と前記部品との間隔が、前記第2の側面と前記部品との間隔より小さいことを特徴とする、請求項1に記載の電子部品。
  3.  前記基板の前記主面の法線方向から見たとき、前記部品が、前記第1の側面を越えて前記基板の外側にはみ出ていることを特徴とする、請求項1に記載の電子部品。
  4.  前記基板の前記主面は、矩形形状を有し、
     前記基板の前記側面は、
     互いに対向する一対の前記第1の側面と、
     互いに対向する一対の前記第2の側面と、
    を含み、
     前記基板の前記主面の法線方向から見たとき、前記部品が、一対の前記第1の側面を越えて前記基板の両側にはみ出ていることを特徴とする、請求項3に記載の電子部品。
  5.  前記基板の前記主面の法線方向から見たとき、前記基板には一対の前記第2の側面から後退した凹部が形成され、かつ、前記凹部により形成される空間に重なるように前記部品が配置されていることを特徴とする、請求項4に記載の電子部品。
  6.  互いに対向する一対の主面を有し、個基板に分割される部分である個基板領域を含む集合基板を準備する基板準備工程と、
     前記集合基板の前記個基板領域に部品を実装する部品実装工程と、
     前記集合基板に、前記個基板領域の境界線に沿って分割溝を形成することにより、前記集合基板から前記個基板を分割する基板分割工程と、
    を備え、
     分割された前記個基板に前記部品が実装されている電子部品を製造する方法において、
     前記部品実装工程の前に、前記集合基板に、前記個基板領域の少なくとも1辺に沿って前記分割溝を形成することにより、前記基板分割工程を、前記部品実装工程の前に開始することを特徴とする電子部品の製造方法。
  7.  前記集合基板は、
     前記個基板領域を含む第1領域と、
     他の前記個基板領域を含む第2領域と、
     前記第1領域と前記第2領域の間に配置された第3領域とを含み、
     前記第1領域の前記個基板領域の境界線に沿って形成された前記分割溝と、前記第2領域の前記個基板領域の境界線に沿って形成された前記分割溝とが、前記第3領域において不連続であることを特徴とする、請求項6に記載の電子部品の製造方法。
  8.  前記部品実装工程の前に、前記集合基板が仮固定された状態で、前記集合基板の前記主面間を貫通する前記分割溝を、前記個基板領域のすべての前記境界線に沿って形成して、前記集合基板から、仮固定された状態の前記個基板を分割することにより、前記基板分割工程を前記部品実装工程の前に終了し、
     前記部品実装工程において、仮固定された状態の前記個基板に前記部品を実装することを特徴とする、請求項6に記載の電子部品の製造方法。
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