WO2013129557A1 - 化合物半導体太陽電池及び化合物半導体太陽電池の光吸収層の製造方法 - Google Patents

化合物半導体太陽電池及び化合物半導体太陽電池の光吸収層の製造方法 Download PDF

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康弘 會田
田中 大介
雅人 栗原
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Definitions

  • the present invention relates to a compound semiconductor solar cell and a method for producing a light absorption layer of the compound semiconductor solar cell.
  • Non-Patent Document 1 Non-Patent Document 1
  • Cu (at%) / IIIb group (at%) ⁇ 1.0 is referred to as a Cu-poor composition
  • Cu (at%) / IIIb group (at%)> 1.0 is referred to as a Cu-rich composition.
  • a general solar cell using a Cu-containing chalcopyrite p-type light absorption layer is used with the light absorption layer adjusted to a Cu-poor composition.
  • Cu x VIb is a highly conductive material, and if this heterogeneous phase is present in the light absorption layer, the back electrode layer and the buffer layer or window layer are short-circuited, and the solar cell characteristics are greatly deteriorated. For this reason, a chalcopyrite p-type semiconductor film having a Cu-rich composition has not been generally used as a light absorption layer.
  • Non-patent Document 2 a report that a chalcopyrite p-type semiconductor film having a Cu-rich composition has a smaller defect density than a film having a Cu-poor composition.
  • a p-type semiconductor film having a low defect density is used for the light absorption layer of a solar cell, it is considered that high conversion efficiency can be obtained because the transport characteristics of photogenerated carriers are high.
  • the chalcopyrite p-type semiconductor film having the Cu-rich composition has Cu x VIb which is a different phase at the same time, thereby making use of the good carrier transport characteristics of the original Cu-rich composition film. I can't.
  • Non-patent Document 3 a p-type semiconductor film having a different phase is immersed in a potassium cyanide (KCN) aqueous solution to selectively remove only the different phase (hereinafter, this process is referred to as KCN etching).
  • KCN potassium cyanide
  • the solar cell using the KCN-etched light absorption layer that is, the light absorption layer from which the conductive Cu x VIb which is a different phase is removed, is improved in characteristics as compared with that before the etching, but the original Cu-rich The sufficient conversion efficiency expected from the good carrier transport property of the composition film is not obtained.
  • an object of the present invention is to provide a compound semiconductor solar cell with high photoelectric conversion efficiency.
  • a compound semiconductor solar battery is a compound semiconductor solar battery comprising a back electrode layer, a light absorption layer, and a transparent electrode layer,
  • the light absorption layer is a p-type semiconductor layer having an element selected from Cu, Ga, and a VIb group element.
  • the half-value width of the emission spectrum includes a peak of 1 meV or more and 15 meV or less, and The ratio of particles having a particle size of 2 ⁇ m or more and 8 ⁇ m or less on the surface of the light absorption layer to the surface of the light absorption layer is 90% or more.
  • the compound semiconductor solar battery of the present invention it is possible to obtain higher photoelectric conversion efficiency than the conventional compound semiconductor solar battery.
  • a light absorption layer having excellent carrier transport characteristics can be obtained by having a p-type semiconductor layer having a half-value width of emission peak of 1 meV or more and 15 meV or less.
  • the photoluminescence spectrum and cathodoluminescence spectrum strongly depend on the energy level of the semiconductor material. Therefore, when a p-type semiconductor film that can observe photoluminescence and cathodoluminescence with a narrow half-value width is used for the light absorption layer, light absorption It is assumed that the fluctuation of the energy level in the layer is small, so that the carrier recombination probability decreases.
  • the proportion of the particles having a particle diameter of 2 ⁇ m or more and 8 ⁇ m or less on the surface of the light absorption layer is 90% or more, thereby reducing the recombination of photogenerated carriers at the grain boundary. It is assumed that high photoelectric conversion efficiency can be obtained.
  • the particle size when the particle size is 2 ⁇ m or more, the grain boundary can be reduced, the amount of heterogeneous phase present along the grain boundary can be reduced, and the shunt resistance can be increased. Moreover, when the particle size is 8 ⁇ m or less, it is considered that an appropriate amount of the grain boundary amount can be ensured and deterioration of carrier transport characteristics can be prevented.
  • the light absorption layer is preferably a p-type semiconductor layer further containing In.
  • the band gap energy of the light absorption layer can be changed between 1.0 eV and 2.5 eV.
  • the spectral sensitivity characteristic of the p-type semiconductor layer can be appropriately adjusted to the spectrum of the incident light source such as sunlight.
  • the cross-sectional structure of the light absorption layer it is preferable that a portion having a columnar shape in which only a single particle exists in the film thickness direction is included, and the ratio of the cross-sectional area of the portion to the cross-sectional area of the entire film is 90% or more. Thereby, it is possible to prevent deterioration of carrier transport characteristics due to an excessive amount of grain boundary in the film thickness direction and to obtain higher photoelectric conversion efficiency.
  • the composition ratio of Cu and the group IIIb element contained in the light absorption layer is 0.99 or more and 1.01 or less.
  • membrane excellent in the carrier transport characteristic can be obtained, and higher conversion efficiency can be obtained.
  • the amount of Cu x VIb which is a different phase is an amount that does not affect the shunt resistance of the solar cell, higher conversion efficiency can be obtained.
  • the carrier density of the light absorption layer is more preferably 1 ⁇ 10 16 cm ⁇ 3 or more and 5 ⁇ 10 16 cm ⁇ 3 or less.
  • the diffusion potential is increased, and as a result, a high open-circuit voltage can be obtained and higher conversion efficiency can be obtained.
  • the width of the depletion layer can be set to an appropriate width, a decrease in short-circuit current can be prevented, and higher conversion efficiency can be obtained.
  • a compound semiconductor solar cell with high conversion efficiency can be provided.
  • FIG. 10 is a cross-sectional SEM image of a light absorption layer used in the solar cell of Example 21.
  • FIG. 1 shows a compound semiconductor solar cell 2 according to this embodiment.
  • the compound semiconductor solar battery 2 includes a substrate 6, a back electrode layer 8 provided on the substrate 6, a light absorption layer 10 as a p-type semiconductor layer formed on the back electrode layer 8, and the light absorption layer 10.
  • the compound semiconductor solar battery may be referred to as a solar battery.
  • a glass substrate such as soda lime glass (blue plate glass), white glass (white plate glass), or non-alkali glass is used.
  • metal foils such as stainless steel, aluminum, and titanium, and a metal plate.
  • plastic films such as a PET film, a PEN film, and a polyimide film.
  • the back electrode layer 8 is made of a metal such as Mo, W, Ti, Cr, Nb, V, or Mn.
  • the light absorption layer 10 is a p-type compound semiconductor layer containing Cu, Ga, and at least one element selected from Group VIb elements. In may be added to the Ga position.
  • the photoluminescence spectrum or cathodoluminescence spectrum of the light absorption layer 10 includes an emission peak whose half-value width of the emission peak is 1 meV or more and 15 meV or less. This emission spectrum is observed at a low temperature of 10K (Kelvin) or less.
  • the carrier transport property of the p-type light absorption layer is deteriorated and high conversion efficiency tends not to be obtained.
  • the proportion of particles having a particle diameter of 2 ⁇ m or more and 8 ⁇ m or less in the surface of the light absorption layer 10 (hereinafter referred to as “particle shape parameter A”) is 90% or more. is there.
  • particle shape parameter A is 90% or more, recombination of photogenerated carriers at the grain boundary is reduced, and high conversion efficiency is obtained.
  • the particle size is 2 ⁇ m or more, the grain boundary is reduced, and the residual amount of Cu x VIb, which is a heterogeneous phase present along the grain boundary, is reduced, thereby increasing the shunt resistance and obtaining high conversion efficiency.
  • the surface is a surface of the light absorption layer 10 opposite to the surface in contact with the back electrode layer 8, that is, a side on which light is incident on the light absorption layer 10.
  • the surface on the side in contact with the buffer layer 14 corresponds.
  • the cross-sectional structure of the light-absorbing layer 10 includes a column-shaped portion in which only a single particle exists in the film thickness direction, and the cross-sectional area of the portion accounts for the ratio of the cross-sectional area of the entire film (hereinafter, “particle shape parameter B”) Is preferably 90% or more.
  • particle shape parameter B the ratio of the cross-sectional area of the entire film
  • the cross-sectional area is a surface obtained by mechanically cutting the light absorption layer 10 and then polishing and flattening, or a surface in which the cross section of the light absorption layer 10 is exposed in the film thickness direction by processing using FIB (Focused Ion Beam). Area.
  • FIG. 2 shows a schematic diagram of the particle shape (particle shape parameter B) of the light absorption layer cross section.
  • FIG. 2 is a cross section of the light absorption layer 10 exposed by flat processing.
  • 202 represents a columnar portion where only a single particle exists in the film thickness direction
  • 203 represents a portion where a plurality of particles exist in the film thickness direction.
  • the particle shape parameter B is calculated by the equation (1).
  • Particle shape parameter B 202 area / (202 area + 203 area) ⁇ 100 ... (1)
  • the composition ratio (Cu / IIIb group composition ratio) between Cu and the group IIIb element in the light absorption layer 10 is preferably 0.99 or more and 1.01 or less. If the Cu / IIIb group composition ratio is smaller than 1.01, the amount of deposited conductive Cu x VIb, which is a different phase, is not an amount that affects the shunt resistance of the solar cell, and the conversion efficiency tends to increase. If it is larger than 0.99, the fluctuation of the energy level described above becomes small, and high conversion efficiency tends to be obtained.
  • the carrier density of the light absorption layer 10 is preferably 1 ⁇ 10 16 cm ⁇ 3 or more and 5 ⁇ 10 16 cm ⁇ 3 or less.
  • the carrier density of the light absorption layer 10 is preferably 1 ⁇ 10 16 cm ⁇ 3 or more and 5 ⁇ 10 16 cm ⁇ 3 or less.
  • the diffusion potential increases, and as a result, a high open-circuit voltage can be obtained and conversion efficiency tends to be higher.
  • the width of the depletion layer can be set to an appropriate width, a decrease in short-circuit current can be prevented, and conversion efficiency tends to increase.
  • the film thickness of the light absorption layer 10 is preferably between 1 ⁇ m and 5 ⁇ m.
  • the thickness is 1 ⁇ m or more, incident light can be effectively absorbed, and conversion efficiency tends to increase.
  • the adhesiveness of the light absorption layer 10 and another layer increases, film peeling does not occur easily, and the yield at the time of manufacture can be improved.
  • the series resistance can be reduced, and the conversion efficiency tends to increase.
  • the buffer layer 14 is made of a material such as CdS, ZnS, ZnSe, InS, InSe, ZnSSe, Zn (S, OH), ZnSO, ZnSeO, or ZnSSeO.
  • the thickness of the buffer layer 14 is preferably in the range of 0.01 ⁇ m to 0.1 ⁇ m. By setting it as 0.01 micrometer or more, the shunt resistance of the compound semiconductor solar cell 2 can be raised, and there exists a tendency for conversion efficiency to become high. By setting the thickness to 0.1 ⁇ m or less, loss of light absorption in the buffer layer 14 can be suppressed, and conversion efficiency tends to increase.
  • the buffer layer 14 is not necessarily provided, but the conversion efficiency tends to be obtained when it is provided.
  • the semi-insulating layer 16 i-ZnO (undoped ZnO), ZnMgO, or the like is used.
  • the thickness of the semi-insulating layer 16 is preferably in the range of 0.01 ⁇ m to 0.1 ⁇ m. By setting it as 0.01 micrometer or more, the shunt resistance of a solar cell can be raised and there exists a tendency for conversion efficiency to become high. When the thickness is 0.1 ⁇ m or less, an increase in the series resistance of the solar cell can be suppressed, and the conversion efficiency tends to increase.
  • the semi-insulating layer 16 is not necessarily provided, but the conversion efficiency tends to be obtained when it is provided.
  • a transparent conductive film such as ZnO, ITO, SnO 2, or ZnInO to which a group IIIb element such as Al, B, or Ga is added is used.
  • materials such as Al, Cu, Au, Ag, C, Pt, and Ni are used for current collection.
  • the back electrode layer 8 is formed on the substrate 6 by, for example, a sputtering method, an electron beam evaporation method, a printing method, or the like.
  • the back electrode layer 8 having a low resistance When formed by sputtering, the back electrode layer 8 having a low resistance can be uniformly formed in a relatively large area, and in-plane variation in solar cell characteristics can be reduced and high conversion efficiency tends to be obtained. .
  • the light absorption layer 10 is formed after the back electrode layer 8 is formed.
  • a two-stage vapor deposition method including a step of simultaneous vacuum vapor deposition of a group IIIb element and a group of VIb elements containing Ga and a step of simultaneous vacuum vapor deposition of a group element of Cu and VIb is used.
  • the order of the two steps can start from either. Further, the above steps may be repeated as long as they are two or more stages.
  • the multi-stage vapor deposition method local excessive precipitation of Cu x VIb, which is a different phase, can be suppressed, and Cu x VIb can be deposited relatively uniformly on the surface of the light absorption layer 10. Thereby, it becomes easy to control a particle size to the said range, and there exists a tendency for high conversion efficiency to be obtained.
  • an alloy or sintered body target made of a group IIIb element and a VIb group element containing Ga and an alloy or sintered body target made of a Cu and VIb group element are sputtered in sequence.
  • the two precursor layers obtained by heat treatment are heat-treated in a mixed gas in which H 2 Se or H 2 S is added to Ar (“two-layer sputtering + selenization heat treatment” or “two-layer sputtering + sulfurization heat treatment)”
  • a Cu metal target may be used instead of an alloy or sintered body target made of Cu and VIb group elements, and the formation of the two precursor layers is not limited to the sputtering method.
  • the total number of each precursor layer may be more than two layers. Thereby, local excessive precipitation of Cu x VIb, which is a different phase, can be suppressed, Cu x VIb can be deposited relatively uniformly on the surface of the light absorption layer 10, and the particle size can be easily controlled within the above range. High conversion efficiency can be obtained.
  • the Cu / IIIb group composition ratio immediately after the formation of the light absorption layer 10 reaches a range of 1.05 to 1.80.
  • high conversion efficiency tends to be obtained.
  • the Cu / IIIb group composition ratio is larger than 1.05, the film has a relatively large carrier transport property, and the conversion efficiency tends to be relatively large.
  • the Cu / IIIb group composition ratio smaller than 1.80, it is possible to suppress the precipitation of the conductive Cu x VIb on the grain boundary in the film, and it is possible to mainly deposit on the film surface. Thereby, Cu x VIb can be easily removed in a later step, the shunt resistance of the compound semiconductor solar cell 2 can be increased, and conversion efficiency tends to increase.
  • the method for removing the Cu x VIb compound which is a different phase include an etching treatment by immersion in an aqueous potassium cyanide solution (KCN etching), a method by electrochemical etching or a heat treatment in a forming gas atmosphere, and the like.
  • KCN etching aqueous potassium cyanide solution
  • a method of forming a Cu-IIIb group-VIb group compound by reacting and consuming with an excess of Cu x VIb compound by co-depositing IIIb group and VIb group may be used.
  • the conductive Cu x VIb compound can be removed from the light absorption layer 10, and conversion efficiency tends to increase.
  • a chemical solution deposition method (Chemical Bath Deposition: CBD method), a vacuum deposition method, a sputtering method, a chemical vapor deposition method (Chemical Vapor Deposition: CVD method), or the like is used.
  • CBD method Chemical Bath Deposition: CBD method
  • a vacuum deposition method a vacuum deposition method
  • a sputtering method a chemical vapor deposition method
  • CVD method chemical Vapor Deposition: CVD method
  • the semi-insulating layer 16 is formed by a sputtering method, a chemical vapor deposition method (CVD method), or the like.
  • the window layer 18 is formed by a sputtering method, a chemical vapor deposition method (CVD method), or the like.
  • the upper electrode 20 is formed by a sputtering method, a vacuum evaporation method, a printing method, or the like.
  • the current collection efficiency is calculated from the area of the opening and the resistivity of the window layer 18 and formed into an appropriate shape pattern.
  • the compound semiconductor solar cell 2 of this embodiment is formed by the above procedure.
  • a film-like back electrode layer composed of Mo alone was formed on the soda lime glass 6 by a DC sputtering method.
  • the film thickness of the back electrode layer was 1 ⁇ m.
  • substrate means a film formation target or a measurement target in each step.
  • the light absorption layer was formed using a Physical Vapor deposition (physical vapor deposition, hereinafter referred to as PVD) apparatus.
  • PVD Physical vapor deposition
  • the film composition was adjusted by measuring the relationship between the flux ratio of each raw material element and the composition contained in the obtained film in advance. The flux of each element was appropriately changed by adjusting the temperature of each K cell.
  • Example 1 The formation of the light absorption layer in Example 1 was performed by a two-stage vapor deposition method. The procedure of the two-stage vapor deposition method will be described below.
  • the substrate was placed in the chamber of the PVD apparatus, and the inside of the chamber was evacuated.
  • the ultimate pressure in the vacuum apparatus was 1.0 ⁇ 10 ⁇ 8 torr.
  • the shutter of each K cell of In, Ga, and Se was opened, and In, Ga, and Se were deposited on the substrate.
  • the In and Ga fluxes were adjusted in advance before the film formation so that the Ga / (In + Ga) ratio of the film composition after the film formation was approximately 0.5.
  • the shutters of the In and Ga K cells were closed. Se continued to supply.
  • the substrate was heated to 540 ° C. and the temperature was stabilized, and then the Cu K cell shutter was opened to deposit Cu and Se.
  • the power for heating the substrate was kept constant, and the temperature value was not fed back with respect to the power.
  • the surface temperature of the substrate is monitored by a radiation thermometer, and the temperature rise of the substrate stops, 3 minutes after the start of the temperature decrease (hereinafter, from when the temperature decrease starts until the Cu K cell is closed)
  • the time was referred to as “second stage Cu holding time”), and the shutter of the Cu K cell was closed to complete the deposition of Cu.
  • the substrate was cooled to 200 ° C., and then the shutter of the Se K cell was closed to complete the formation of the light absorption layer.
  • the substrate was immersed in a potassium cyanide aqueous solution (10 wt%) for 3 minutes (KCN etching) to remove Cu x Se, which is a different phase contained in the light absorption layer.
  • the surface was observed to determine the particle size and distribution of the surface of the light absorption layer.
  • the surface of the light absorption layer is photographed at 16 locations within the substrate surface (see FIG. 3) under the condition of an image magnification of 5000 times, and the SEM image is subjected to image analysis using ImageJ (National Institute of Health), which is free software.
  • ImageJ National Institute of Health
  • the cross-sectional structure of the light absorption layer processed by FIB was observed, and the particle size in the film thickness direction was evaluated.
  • a cross-section of the light absorption layer was photographed at the same 16 locations (see FIG. 3) as the surface observation under the condition of an image magnification of 10000 times, and the SEM image was subjected to image analysis to obtain a single columnar particle in the film thickness direction.
  • the ratio (particle shape parameter B) of the cross-sectional area occupied by only the columnar-shaped portion was obtained, and the average value of the analysis results of each measurement location was calculated. The result was 84.5%.
  • the respective composition amounts of Cu, In, Ga, and Se were measured with an energy dispersive X-ray spectroscopy (EDX) attached to the same apparatus.
  • EDX energy dispersive X-ray spectroscopy
  • a CdS film was formed on the light absorption layer as a buffer layer having a thickness of 50 nm by a chemical solution deposition (CBD) method.
  • CBD chemical solution deposition
  • an i-ZnO layer (semi-insulating layer) having a thickness of 50 nm was formed on the buffer layer. Subsequently, a ZnO layer (window layer) to which Al having a thickness of 0.5 ⁇ m was added was formed on the i-ZnO layer in the same chamber.
  • the i-ZnO layer (semi-insulating layer) and the ZnO layer to which Al was added were formed by RF sputtering.
  • photoluminescence measurement of the light absorption layer was performed.
  • An Ar ion laser having a wavelength of 514.5 nm was used as an excitation light source used for measurement, and the substrate was cooled to 10 K (Kelvin) by a cryostat during measurement.
  • the excitation light intensity was changed from 1 mW / cm 2 to 100 mW / cm 2 and the dependence of the photoluminescence intensity on the excitation light intensity was measured.
  • the half width of the emission peak with the narrowest half width was 9 meV.
  • the substrate was cut, and cathodoluminescence measurement of the light absorption layer was performed from the fracture surface.
  • the measurement was performed at 10 K (Kelvin) as in the case of photoluminescence.
  • the half-value width of light emission with the narrowest half-value width was 9 meV.
  • an upper electrode composed of Ni having a thickness of 50 nm and Al having a thickness of 1 ⁇ m thereon was formed on the ZnO layer to which Al was added.
  • the upper electrode was formed by DC sputtering. Thereby, the compound semiconductor solar battery of Example 1 was obtained.
  • Examples 2 to 5 The solar cells of Examples 2 to 5 were obtained in the same manner as in Example 1 except that the second-stage Cu holding time was set to the time shown in Table 1 in the formation of the light absorption layer.
  • the film composition was adjusted by measuring the relationship between the flux ratio of each raw material element and the composition contained in the obtained film in advance.
  • the flux ratio of each element was appropriately changed by adjusting the temperature of each K cell.
  • the flux of each element was set so that the Cu / (In + Ga) composition ratio immediately after film formation was 1.05 and the Ga / (In + Ga) composition ratio was 0.50.
  • the flux of each element was set so that the Cu / (In + Ga) composition ratio immediately after film formation was 1.35 and the Ga / (In + Ga) composition ratio was 0.50.
  • the substrate was placed in the chamber of the PVD apparatus, and the inside of the chamber was evacuated.
  • the ultimate pressure in the vacuum apparatus was 1.0 ⁇ 10 ⁇ 8 torr.
  • the shutter of each K cell of Cu, In, Ga, and Se was opened, and Cu, In, Ga, and Se were deposited on the substrate.
  • the shutters of the Cu, In, and Ga K cells were closed.
  • the substrate was cooled to 200 ° C., and then the shutter of the Se K cell was closed to complete the formation of the light absorption layer.
  • Table 1 shows the solar cell production conditions and various measurement results of Examples 2 to 5 and Comparative Examples 1 and 2.
  • Example 6 In the solar cells of Examples 6 to 8, in the formation of the light absorption layer, the Ga / (In + Ga) ratio after the film formation is adjusted in advance so that the Ga / (In + Ga) ratio is approximately 0.51, and the second-stage Cu is retained. It was produced in the same manner as in Example 1 except that the time was set to the time shown in Table 2.
  • Comparative Examples 6 and 7 The solar cells of Comparative Examples 6 and 7 were produced in the same manner as in Example 1 except that the light absorption layer was formed by a three-stage vapor deposition method and the heterophasic removal treatment was not performed. The three-stage vapor deposition method will be described below.
  • the flux ratio of Ga and In was adjusted in advance so that the Ga / (In + Ga) ratio in the film composition after film formation was 0.51.
  • the substrate was heated to 350 ° C., the shutter of each K cell of In, Ga, and Se was opened, and In, Ga, and Se were deposited on the substrate.
  • the shutters of the In and Ga K cells were closed, and the deposition of In and Ga was completed. Se continued to supply.
  • the shutter of the Cu K cell was opened, and Cu was deposited on the substrate together with Se.
  • the electric power for heating the substrate was made constant, and the temperature value was not fed back with respect to the electric power.
  • the surface temperature of the substrate is monitored by a radiation thermometer, and in the case of Comparative Example 6, after confirming that the temperature increase of the substrate has stopped and the temperature starts to decrease, the comparative example is In the case of 7, the Cu K cell shutter was closed after 10 minutes to complete the Cu deposition. Se continued to supply.
  • the shutters of the K cells of In and Ga were opened again, and In, Ga and Se were deposited on the substrate in the same way as in the first stage.
  • Comparative Example 6 15 minutes after the start of the third stage of vapor deposition, and in the case of Comparative Example 7, after 20 minutes, the shutters of the K cells of In and Ga were closed to complete the third stage of vapor deposition. did. Thereafter, the substrate was cooled to 200 degrees, and then the shutter of the Se K cell was closed to complete the formation of the light absorption layer.
  • Table 2 shows the solar cell production conditions and various measurement results of Examples 6 to 8 and Comparative Examples 3 to 7.
  • Table 3 shows the solar cell production conditions and measurement results of Comparative Example 8 and Examples 9 to 18.
  • Example 19 to 23 In the solar cells of Examples 19 to 23, the flux ratio of Ga and In was adjusted in advance so that the Ga / (In + Ga) ratio immediately after the formation of the light absorption layer became the value shown in Table 4, and the foreign phase removal treatment was performed in Table 4. This was prepared in the same manner as in Example 1 except that the method shown in FIG.
  • FIG. 4 and 5 show the SEM surface image and SEM cross-sectional image of the light absorption layer 10 of Example 21 used for the calculation of the particle shape parameter A and the particle shape parameter B.
  • FIG. 4 and 5 show the SEM surface image and SEM cross-sectional image of the light absorption layer 10 of Example 21 used for the calculation of the particle shape parameter A and the particle shape parameter B.
  • Table 4 shows the production conditions of the solar cells of Examples 19 to 23 and the results of various measurements.
  • Example 24 Using sulfur as the VIb group element, the Ga / In flux ratio was adjusted in advance so that the Ga / (In + Ga) ratio immediately after the formation of the semiconductor layer was the value shown in Table 5, and the second stage Cu retention time was set in Table 5.
  • the solar cell of Example 24 was obtained in the same manner as in Example 1 except that the time shown in FIG.
  • Comparative Example 9 The light absorption layer was formed by a one-step vapor deposition method. Comparative example except that sulfur was used as the VIb group element and the flux ratio of each element was adjusted in advance so that the Cu / (In + Ga) and Ga / (In + Ga) ratio immediately after the formation of the semiconductor layer became the values shown in Table 5. The solar cell of Comparative Example 9 was obtained.
  • Table 5 shows the solar cell production conditions and various measurement results of Example 24 and Comparative Example 9.
  • the substrate on which the back electrode layer was formed was placed in a DC sputtering apparatus, and a precursor layer was formed by a DC sputtering method. Thereafter, the substrate was placed in an annealing furnace, and heat treatment was performed to form a light absorption layer. Details of the light absorption layer formation by the sputtering process and subsequent heat treatment will be described below.
  • a target composed of a Cu—Ga alloy (Cu 50 at%, Ga 50 at%) and a target composed of In metal are sputtered simultaneously in the chamber.
  • a precursor layer composed of one In alloy layer was formed on the substrate. Further, in the sputtering process, the substrate temperature was set to 200 ° C., and the flow rate of Ar gas was set so that the atmospheric pressure in the chamber was 1 Pa.
  • the substrate temperature is set to 550 ° C., and the precursor layer is heated in a mixed atmosphere of Ar and H 2 Se for 1 hour, whereby the precursor layer is selenized, and the thickness is increased.
  • a light absorption layer having a thickness of 2 ⁇ m was formed.
  • the KCN etching for the time shown in Table 6 was performed as the foreign phase removal treatment performed after the film formation.
  • Example 25 The light absorbing layer was formed by sputtering and subsequent heat treatment. Details are shown below.
  • the substrate on which the back electrode layer was formed was placed in a sputtering apparatus, and a precursor layer was formed by a sputtering method. Thereafter, the substrate was placed in an annealing furnace, and heat treatment was performed to form a light absorption layer. Details of the formation of the light absorption layer by the sputtering method and the subsequent heat treatment will be described below.
  • the substrate temperature is set to 550 ° C., and the precursor layer is heated in a mixed atmosphere of Ar and H 2 Se for 1 hour, whereby the precursor layer is selenized, and the thickness is increased.
  • a light absorption layer having a thickness of 2 ⁇ m was formed.
  • Table 6 shows the solar cell production conditions and various measurement results of Example 25 and Comparative Example 10.
  • Proportion of particles having a full width at half maximum of the photoluminescence spectrum or cathodoluminescence spectrum of 1 meV or more and 15 meV or less and having a particle size of 2 ⁇ m or more and 8 ⁇ m or less on the surface of the light absorption layer particle shape parameter A
  • the half width of the photoluminescence spectrum or cathodoluminescence spectrum is 1 meV or more and 15 meV or less, but the particle shape parameter A is It was confirmed that the solar cells of Comparative Examples 1 and 2 having a light absorption layer of less than 90% had a lower conversion efficiency than Examples 1-5. This tendency was also confirmed from Example 25 and Comparative Example 10 in which the light absorption layer was formed by sputtering and heat treatment. Further, when compared with Cu (In, Ga) S 2 , the same was confirmed from Example 24 and Comparative Example 9.
  • a solar cell in which the half width of the photoluminescence spectrum or cathodoluminescence spectrum is 1 meV or more and 15 meV or less and the particle shape parameter A is 90% or more, it includes a columnar shape portion in which only a single particle exists in the film thickness direction,
  • the solar cells of Examples 9 to 14 in which the ratio of the cross-sectional area of the portion to the cross-sectional area of the entire film (particle shape parameter B) is 90% or more are the same as in Examples 15 to It was confirmed that the conversion efficiency was higher than that of 18 solar cells.
  • the conversion efficiencies of the solar cells of Examples 21 and 22 including the light absorption layer having a Cu / (In + Ga) ratio of 0.99 or more and 1.01 or less have the same composition and requirements as those of Examples 21 and 22, and Cu It was confirmed that the / (In + Ga) ratio was larger than the conversion efficiency of the solar cells of Examples 19, 20, and 23, which were outside the range of 0.99 or more and 1.01 or less, respectively.
  • Cu (In, Ga) Se 2 formed by subjecting a two-layer precursor formed by sputtering to a selenization heat treatment, and its half-value width is 1 meV or more and 15 meV or less in the photoluminescence spectrum or cathodoluminescence spectrum.
  • the conversion efficiency of the solar cell of Example 25 having a light absorption layer having a particle shape parameter A of 90% or more is obtained by subjecting a single layer precursor formed by sputtering to a selenization heat treatment.
  • the comparative example 10 is provided with a light absorption layer having a particle shape parameter A of less than 90%. It is confirmed that it is larger than the conversion efficiency of solar cells. .
  • SYMBOLS 2 Solar cell which concerns on one Embodiment of this invention, 6 ... Soda lime glass, 8 ... Back electrode layer, 10 ... Light absorption layer, 14 ... Buffer layer, 16 ... Semi-insulating layer, 18 ... window layer (transparent conductive layer), 20 ... upper electrode, 24 ... cross-sectional SEM observation location in solar cell, 202 ... only single particles exist in the film thickness direction Column-shaped portion, 203... Where a plurality of particles exist in the film thickness direction

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Abstract

【課題】 従来のカルコパイライト型p型光吸収層を用いる太陽電池に比べ、変換効率を増加させることができる太陽電池を提供すること。 【解決手段】 本発明に係る太陽電池の光吸収層は、Cuと、Gaと、VIb族元素から選ばれる元素とを有するp型半導体層であり、光吸収層から得られるフォトルミネセンススペクトルまたはカソードルミネセンススペクトルにおいて、その半値幅が1meV以上15meV以下の発光ピークを含み、光吸収層の表面において粒径が2μm以上8μm以内である粒子が、膜全体の表面積に占める割合が90%以上である。

Description

化合物半導体太陽電池及び化合物半導体太陽電池の光吸収層の製造方法
 本発明は、化合物半導体太陽電池及び化合物半導体太陽電池の光吸収層の製造方法に関する。
 近年、バルク結晶シリコン太陽電池に替わって、薄膜半導体層を光吸収層として用いる化合物半導体太陽電池の開発が進んでいる。なかでも、Cu、Ag又はAu等の周期表Ib族から選ばれる元素と、In、Ga又はAl等の周期表IIIb族から選ばれる元素と、O、S、Se又はTe等の周期表VIb族から選ばれる元素とを含む化合物半導体層を吸収層とする薄膜太陽電池は、高いエネルギー変換効率を示し、光劣化の影響も少ないことから、次世代の太陽電池として期待されている。とくに三段階法と呼ばれる蒸着法を用いることで高い変換効率が得られるとされている。(非特許文献1)
Prog.Photovolt:Res.Appl.(2008),16:235-239 Wide-Gap Chalcopyrites (Springer Series in MATERIALS SCIENCE)p.146 Applied Physics Letters 63 (24)(1993)p.3294
 CuをIb族として用いるカルコパイライト型p型半導体におけるCuおよびIIIb族元素の化学量論組成比はそれぞれ、Cu(at%)/IIIb族(at%)=1.0である。以下、Cu(at%)/IIIb族(at%)<1.0をCu-poor組成、Cu(at%)/IIIb族(at%)>1.0をCu-rich組成と呼ぶ。
一般的なCu含有カルコパイライト型p型光吸収層を用いた太陽電池は、光吸収層がCu-poor組成に調整されて用いられる。これは、光吸収層のCu/IIIb元素比が化学量論組成比を超えてCu-rich組成になると、異相であるCuとVIb族元素間の化合物(CuVIb)が析出するためである。CuVIbは導電性の高い材料であり、光吸収層中にこの異相が存在すると裏面電極層とバッファ層または窓層とが短絡してしまい、太陽電池特性が大きく劣化してしまう。そのため、これまでCu-rich組成のカルコパイライト型p型半導体膜は光吸収層として一般的には用いられてこなかった。
 一方、Cu-rich組成をもつカルコパイライト型p型半導体膜はCu-poor組成の膜に比べ、欠陥密度が小さいという報告がある(非特許文献2)。欠陥密度が小さいp型半導体膜を太陽電池の光吸収層に用いた場合、光生成キャリアの輸送特性が高いため、高い変換効率が得られると考えられる。しかし、上述のとおり、Cu-rich組成を持つカルコパイライト型p型半導体膜は、異相であるCuVIbを同時に持ち、これにより本来のCu-rich組成膜がもつ良好なキャリア輸送特性を活かすことができない。
 この問題を解決するために、異相であるCuVIbを選択的に除去することが試みられている(非特許文献3)。異相を有するp型半導体膜をシアン化カリウム(KCN)水溶液に浸漬して選択的に異相のみを除去する技術である(以下、本処理をKCNエッチングと呼ぶ)。しかし、このKCNエッチングされた光吸収層、すなわち異相である導電性CuVIbを除去した光吸収層を用いた太陽電池は、エッチング前に比べると特性は改善されるものの、本来のCu-rich組成膜がもつ良好なキャリア輸送特性から期待される十分な変換効率は得られていない。
 そこで、本発明では、光電変換効率の高い化合物半導体太陽電池を提供することを目的とする。
 上記目的を達成するために、本発明に係る化合物半導体太陽電池は、裏面電極層と、光吸収層と、透明電極層と、を備える化合物半導体太陽電池であって、
光吸収層は、Cuと、Gaと、VIb族元素から選ばれる元素とを有するp型半導体層であり、
光吸収層に対するフォトルミネセンススペクトル測定またはカソードルミネセンススペクトル測定において、発光スペクトルの半値幅が1meV以上15meV以下のピークを含み、かつ、
前記光吸収層の表面において、粒径が2μm以上8μm以下である粒子が、前記光吸収層の表面に占める割合が90%以上であることを特徴とする。
 本発明の化合物半導体太陽電池によれば、従来の化合物半導体太陽電池より高い光電変換効率を得ることができる。
 フォトルミネッセンススペクトル測定またはカソードルミネセンススペクトル測定において、発光ピークの半値幅が1meV以上15meV以下のp型半導体層を有することでキャリア輸送特性に優れた光吸収層を得ることができる。フォトルミネッセンススペクトル、カソードルミネッセンススペクトルは、半導体材料のエネルギー準位の状態に強く依存するため、半値幅の狭いフォトルミネッセンス、カソードルミネッセンスを観測できるp型半導体膜を光吸収層に用いた場合、光吸収層中のエネルギー準位のゆらぎが小さいため、キャリア再結合確率が減ることによると推察される。それに加えて、光吸収層の表面における粒径が2μm以上8μm以内である粒子が、表面に占める割合が90%以上であることで粒界における光生成キャリアの再結合を低減し、従来よりも高い光電変換効率を得られると推察される。
 粒径が2μm以上であることで、粒界を減らし、粒界に沿って存在する異相の量を低減し、シャント抵抗を高めることができると考えられる。また、粒径が8μm以下であることで、粒界量の適正量を担保することができ、キャリア輸送特性の劣化を防止することができるものと考えられる。
 光吸収層は、さらにInを有するp型半導体層であることが好ましい。InとGaの比率を調整することにより光吸収層のバンドギャップエネルギーを1.0eVから2.5eVの間で変化させることができる。これにより、p型半導体層の分光感度特性を、太陽光をはじめとする入射光源のスペクトルに適宜調整することができるようになる。
 光吸収層の断面構造において、膜厚方向に単一の粒子のみ存在する柱状形状の部分を含み、その部分の断面積は膜全体の断面積に占める割合が90%以上であることが好ましい。これにより、膜厚方向の粒界量の過多によるキャリア輸送特性の劣化を防ぎ、より高い光電変換効率を得ることができる。
 光吸収層に含まれるCuとIIIb族元素の組成比が0.99以上1.01以下であることがさらに好ましい。0.99以上とすることで、キャリア輸送特性の優れた膜を得ることができ、より高い変換効率を得ることができる。1.01以下とすることで、異相であるCuVIbの量が太陽電池のシャント抵抗に影響を与えない量となるため、より高い変換効率を得ることができる。
 光吸収層のキャリア密度が1×1016cm-3以上 5×1016cm-3以下であることがさらに好ましい。1×1016cm-3cm以上とすることで、拡散電位が大きくなり、その結果高い開放電圧が得ることができ、より高い変換効率を得ることができる。5×1016cm-3cm以下とすることで、空乏層幅を適正な幅とすることができ、短絡電流の低下を防止でき、より高い変換効率を得ることができる。
 
 本発明によれば、変換効率の高い化合物半導体太陽電池を提供することができる。
本発明の一実施形態に係る太陽電池の概略断面図である。 光吸収層の断面における粒子形状(粒子形状パラメータB)の概略図である。 粒径分布を算出するための10cm×10cm基板上のSEM像撮影箇所である。 実施例21の太陽電池に用いた光吸収層の表面SEM像である。 実施例21の太陽電池に用いた光吸収層の断面SEM像である。
 以下、図面を参照しながら、本発明の好適な一実施形態について詳細に説明する。なお、図面において、同一又は同等の要素については同一の符号を付す。また、上下左右の位置関係は図面に示す通りである。また、説明が重複する場合にはその説明を省略する。
(化合物半導体太陽電池)
 図1に本実施形態に係る化合物半導体太陽電池2を示す。
 化合物半導体太陽電池2は、基板6と、基板6上に設けられた裏面電極層8と、裏面電極層8上に形成されたp型半導体層として光吸収層10と、光吸収層10上に形成されたバッファ層14と、バッファ層14上に形成された半絶縁層16と、半絶縁層16上に形成された窓層18(透明導電層)と、窓層18上に形成された上部電極20(取り出し電極)と、を備える薄膜型太陽電池である。以下、化合物半導体太陽電池について、太陽電池ということがある。
 基板6には、ソーダライムガラス(青板ガラス)、ホワイトガラス(白板ガラス)、無アルカリガラスなどのガラス基板が用いられる。また、ステンレス、アルミニウム、チタン等の金属箔、金属板を用いてもよい。またPETフィルム、PENフィルム、ポリイミドフィルム等のプラスチックフィルムを用いてもよい。
 裏面電極層8には、Mo、W、Ti、Cr、Nb、V,Mn等の金属が用いられる。
 裏面電極層8にMoを用いると、裏面電極層8と他層との反応を抑えることができ、変換効率の劣化を防止することができる。さらに、Moのシート抵抗値が列挙した他の金属よりも比較的低いため、太陽電池の直列抵抗を下げることができ、良好な変換効率が得られる傾向にある。
 光吸収層10は、Cuと、Gaと、VIb族元素から選ばれる少なくとも1種の元素と、を含むp型化合物半導体層である。Gaの位置にInを加えてもよい。
 光吸収層10のフォトルミネッセンススペクトルまたはカソードルミネッセンススペクトルはその発光ピークの半値幅が1meV以上15meV以下の発光ピークを含む。この発光スペクトルは10K(ケルビン)以下の低温で観測されるものである。
 光吸収層10から得られるフォトルミネッセンススペクトルまたはカソードルミネセンススペクトルの半値幅が15meVより大きい場合、p型光吸収層のキャリア輸送特性は劣化し、高い変換効率が得られない傾向にある。
 光吸収層10から得られるフォトルミネッセンススペクトルまたはカソードルミネセンススペクトルの半値幅が1meVより小さい場合、ノイズとの識別ができず、その検出は困難な傾向にある。
 光吸収層10の表面において、光吸収層10の粒径が2μm以上8μm以内である粒子が、光吸収層の表面に占める割合(以下、「粒子形状パラメータA」という。)は90%以上である。粒子形状パラメータAが90%以上であると、粒界における光生成キャリアの再結合を低減し、高い変換効率が得られる。粒径が2μm以上であると、粒界が減り、粒界に沿って存在する異相であるCuVIbの残留量が低減することにより、シャント抵抗を高まり、高い変換効率が得られる。粒径が8μm以下であると、膜中応力が緩和されやすく、膜の剥がれが起こりにくくなるとともに、良好なキャリア輸送特性が得られる適正な粒界量を確保できる。
 ここで表面とは、光吸収層10において裏面電極層8と接する面と反対側の面、すなわち、光吸収層10に光が入射する側である。図1では、バッファ層14と接している側の面が該当する。
 光吸収層10の断面構造において、膜厚方向に単一の粒子のみ存在する柱状形状の部分を含み、その部分の断面積は膜全体の断面積に占める割合(以下、「粒子形状パラメータB」という。)が90%以上であることが好ましい。これにより、膜厚方向の粒界量が少なくなり、良好なキャリア輸送特性が得られる傾向があり、それに伴い高い変換効率が得られる。
 ここで、断面積とは、光吸収層10を機械的に切断した後研磨し平坦加工した面、またはFIB(Focused Ion Beam)による加工により光吸収層10の断面を膜厚方向に露出した面の面積である。
 図2に光吸収層断面の粒子形状(粒子形状パラメータB)の概略図を示す。図2は平坦加工により露出した光吸収層10の断面である。202は膜厚方向に単一の粒子のみ存在する柱状形状の部分、203は膜厚方向に複数の粒子が存在する部分を示す。粒子形状パラメータBは式(1)により算出される。
  粒子形状パラメータB=202の面積/(202の面積+203の面積)×100
                          ・・・(1)
 光吸収層10におけるCuとIIIb族元素の組成比(Cu/IIIb族組成比)は0.99以上1.01以下であることが好ましい。Cu/IIIb族組成比が1.01より小さいと、異相である導電性CuVIbの析出量が太陽電池のシャント抵抗に影響を与える量ではなくなり、変換効率が高くなる傾向がある。0.99より大きいと、先述のエネルギー準位のゆらぎが小さくなり、高い変換効率が得られる傾向がある。
 光吸収層10に対するフォトルミネッセンス測定において励起光依存性を測定したときに励起光強度Iex とフォトルミネッセンス強度IPLの関係を式(2)
PL∝Iex  ・・・(2)
で表したとき1<k<2であることが好ましい。これにより高い変換効率が得られる傾向がある。
 光吸収層10のキャリア密度は1×1016cm-3以上 5×1016cm-3以下であることが好ましい。1×1016cm-3以上とすることで、拡散電位が大きくなり、その結果高い開放電圧が得ることができ、より変換効率が高くなる傾向がある。5×1016cm-3cm以下とすることで、空乏層幅を適正な幅とすることができ、短絡電流の低下を防止でき、変換効率が高くなる傾向がある。
 光吸収層10の膜厚は1μmから5μmの間にすることが好ましい。1μm以上にすることで、入射光を効果的に吸収することができるようになり、変換効率が高くなる傾向がある。5μm以下とすることで、光吸収層10と他の層との密着性が高まり、膜剥がれが起こりにくくなり、製造時の歩留りを向上することができる。また、直列抵抗を小さくすることができ、変換効率が高まる傾向がある。
 バッファ層14にはCdS、ZnS、ZnSe、InS、InSe、ZnSSe、Zn(S、OH)、ZnSO、ZnSeO、ZnSSeOなどの材料が用いられる。
 バッファ層14の厚みは0.01μm以上0.1μm以下の範囲にすることが好ましい。0.01μm以上とすることで、化合物半導体太陽電池2のシャント抵抗を高めることができ、変換効率が高くなる傾向がある。0.1μm以下とすることで、バッファ層14における光吸収の損失を抑えることができ、変換効率が高くなる傾向がある。
 バッファ層14は必ずしも備える必要はないが、備えた方が高い変換効率が得られる傾向がある。
 半絶縁層16にはi-ZnO(アンドープZnO)、ZnMgOなどが用いられる。
半絶縁層16の厚みは0.01μm以上0.1μm以下の範囲にすることが好ましい。0.01μm以上とすることで、太陽電池のシャント抵抗を高めることができ変換効率が高くなる傾向がある。0.1μm以下とすることで太陽電池の直列抵抗の増加を抑えることができ、変換効率が高くなる傾向がある。
 半絶縁層16は必ずしも備える必要はないが、備えた方が高い変換効率が得られる傾向がある。
 窓層18には、Al、B、Ga等のIIIb族元素を添加したZnO、ITO、SnO2、ZnInOなどの透明導電膜が用いられる。
 上部電極20には、Al、Cu、Au、Ag、C、Pt、Niなどの材料が電流収集用に用いられる。
 上部電極20は必ずしも備える必要はないが、備えた方が高い変換効率が得られる傾向がある。
(化合物半導体太陽電池の製造方法)
 本実施形態では、基板6の上に例えば、スパッタリング法、電子ビーム蒸着法、印刷法などの方法により裏面電極層8を形成する。
 スパッタリング法により形成すると、比較的大面積に均一に低抵抗の裏面電極層8を形成することができ、太陽電池特性の面内ばらつきを小さくすることができるとともに高い変換効率を得られる傾向がある。
光吸収層10の形成は、裏面電極層8の形成後に行う。
 光吸収層10の形成方法として、Gaを含むIIIb族元素とVIb族元素の同時真空蒸着のステップ、およびCuとVIb族元素の同時真空蒸着のステップからなる二段階蒸着法が用いられる。二つのステップの順番はどちらから始めてもよい。また、二段階以上であれば、前記ステップを繰り返してもよい。多段階蒸着法を用いることで、異相であるCuVIbの局所的な過剰析出を抑え、光吸収層10表面に比較的均一にCuVIbを析出させることができる。これにより、粒径を前記の範囲に制御しやすくなり、高い変換効率が得られる傾向がある。
 また、光吸収層10の別の形成方法として、Gaを含むIIIb族元素とVIb族元素からなる合金または焼結体ターゲットおよびCuとVIb族元素からなる合金または焼結体ターゲットをそれぞれ順にスパッタリングすることで得られる2層の前駆体層をArに、HSeまたはHSを加えた混合ガス中で熱処理する方法(「2層スパッタリング+セレン化熱処理」または「2層スパッタリング+硫化熱処理)という)を用いてもよい。CuとVIb族元素からなる合金または焼結体ターゲットの代わりにCuメタルターゲットを用いてもよい。また2層の前駆体層の形成はスパッタリング法に限らず、電析法、印刷法、真空蒸着法などを用いてもよい。また2層以上であれば各々の前駆体層の数の合計は2層より多くてもよい。これにより、異相であるCuVIbの局所的な過剰析出を抑え、光吸収層10表面に比較的均一にCuVIbを析出させることができ、粒径を前記の範囲に制御しやすくなり、高い変換効率が得られる。
 光吸収層10の成膜直後のCu/IIIb族組成比は1.05から1.80の範囲まで到達することが好ましい。これにより高い変換効率が得られる傾向がある。Cu/IIIb族組成比が1.05より大きいことで、キャリア輸送特性が比較的大きい膜となり、変換効率が比較的大きくなる傾向がある。Cu/IIIb族組成比を1.80より小さくすることで、導電性CuVIbの膜中粒界への析出を抑えることができ、膜表面に主に析出させることができる。これにより後の工程でCuVIbを除去しやすくすることができ、化合物半導体太陽電池2のシャント抵抗を高められ、変換効率が大きくなる傾向がある。
 光吸収層10の形成後、CuVIb化合物を除去することが好ましい。異相であるCuVIb化合物の除去方法としては、シアン化カリウム水溶液への浸漬によるエッチング処理(KCNエッチング)、または電気化学エッチングやフォーミングガス雰囲気下での熱処理による方法などが挙げられる。光吸収層10の形成後、IIIb族とVIb族の同時蒸着を行うことで過剰なCuVIb化合物と反応、消費させCu-IIIb族-VIb族化合物を形成する方法を用いても良い。これらの方法により導電性であるCuVIb化合物を光吸収層10から除去することができ、変換効率が大きくなる傾向がある。
 光吸収層10形成後、バッファ層14を形成する場合、化学溶液成長法(Chemical Bath Deposition:CBD法)、真空蒸着法、スパッタリング法、化学気相成長法(Chemical Vapor Deposition:CVD法)などにより形成する。
 半絶縁層16を設ける場合、スパッタリング法、化学気相成長法(Chemical Vapor Deposition:CVD法)などにより形成される。
 窓層18はスパッタリング法、化学気相成長法(Chemical Vapor Deposition:CVD法)などにより形成される。
 上部電極20はスパッタリング法、真空蒸着法、印刷法などにより形成される。開口部の面積と窓層18の抵抗率から電流収集効率を算出し、適切な形状パターンに形成する。
 以上の手順により本実施形態の化合物半導体太陽電池2を形成する。
 以下、実施例及び比較例に基づいて本発明をより具体的に説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
(実施例1)
 縦10cm×横10cm×厚さ1mmのソーダライムガラスを洗浄、乾燥した後、Mo単体から構成される膜状の裏面電極層をDCスパッタリング法によりソーダライムガラス6上に形成した。裏面電極層の膜厚は1μmとした。
 なお、「基板」とは、各工程における被成膜体または被測定物を意味する。
 光吸収層をPhysical Vapor deposition(物理蒸着、以下PVDと呼ぶ)装置を用い、形成した。なおp型光吸収層の成膜前に、あらかじめ各原料元素のフラックス比と得られる膜に含まれる組成の関係を測定しておくことで、膜組成の調整を行った。各元素のフラックスは各Kセルの温度を調整することにより適宜変更した。
 実施例1における光吸収層の形成は二段階蒸着法により行った。以下二段階蒸着法の手順について説明する。
 裏面電極層形成後、基板をPVD装置のチャンバー内に設置し、チャンバー内を脱気した。真空装置内の到達圧力は1.0×10-8torr とした。
 第一段階として、基板を350℃まで加熱し温度が安定した後に、In、Ga及びSeの各Kセルのシャッターを開き、In、Ga、及びSeを基板上に蒸着した。なお、成膜後の膜組成のGa/(In+Ga)比がおよそ0.5になるようあらかじめIn、Gaのフラックスを成膜前に調整した。この蒸着により基板上に約1.5μmの厚さの層が形成された時点で、In及びGaの各Kセルのシャッターを閉じた。Seは引き続き供給を続けた。その後第二段階として、基板を540℃まで加熱し温度が安定した後、CuのKセルのシャッターを開け、Cu、Seの蒸着を行った。なお第二段階では、基板を加熱するための電力を一定とし、電力に対する温度値のフィードバックは行わなかった。そして放射温度計により基板の表面温度をモニタし、基板の温度上昇が止まり、温度の低下が始まった時点から3分後(以下、温度の低下が始まった時点からCuのKセルを閉じるまでの時間を「第二段階Cu保持時間」という。)にCuのKセルのシャッターを閉じて、Cuの蒸着を終了した。この基板の表面温度をモニタする方法により、成膜中に膜組成がCu-richに転じたことを確認できる。その後基板を200℃まで冷却した後、SeのKセルのシャッターを閉じて、光吸収層の成膜を終了した。
 光吸収層の成膜後、走査型電子顕微鏡(Scanning Micro Electron Spectroscopy:SEM)装置に付属するエネルギー分散型X線分光装置 (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy:EDX)により膜中のCu、In、Ga、Seの各組成量を測定した。
 光吸収層の組成確認後、基板をシアン化カリウム水溶液(10wt%)に3分間浸漬(KCNエッチング)し、光吸収層に含まれる異相であるCuSeの除去を行った。
 異相除去処理後、膜のモフォロジーを確認するため、走査型電子顕微鏡(Scanning Micro Electron Spectroscopy:SEM)により評価を行った。表面からの測定により、粒径の確認を行う表面観察とともに、基板をFIBにより加工した後に断面構造の観察も行った。
 表面観察を行い、光吸収層の表面の粒径とその分布を求めた。光吸収層の表面を、画像倍率5000倍の条件で基板面内16か所(図3参照)により撮影し、そのSEM像をフリーソフトウエアであるImageJ(National Institute of Health製)により画像解析することで粒径分布を定量的に分析した。各測定箇所の粒径分布の平均値を算出した結果、粒径が2μm以上8μm以下である部分が全体の表面積に占める割合(粒子形状パラメータA)は93.6%であった。
 次に、FIBにより加工した光吸収層の断面構造を観察し、膜厚方向の粒径の評価を行った。光吸収層の断面を画像倍率10000倍の条件で表面観察と同一の16か所(図3参照)にて撮影し、そのSEM像を画像解析することで膜厚方向に単一の柱状の粒子のみ存在する柱状形状の部分が断面積に占める割合(粒子形状パラメータB)を求め、各測定箇所の解析結果の平均値を算出した。その結果は84.5%であった。
 また、同一装置内に付属するエネルギー分散型X線分光装置(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy:EDX)によりCu、In、Ga、Seの各組成量を測定した。異相除去後における光吸収層のCu/(In+Ga)組成比は1.01であり、異相が大幅に除去できたことが確認できた。
 光吸収層の組成およびモフォロジー評価後、50nmの厚さのバッファ層としてCdS膜を光吸収層上に化学溶液成長(Chemical Bath Deposition:CBD)法により形成した。
 バッファ層の形成後、50nmの厚さのi-ZnO層(半絶縁層)をバッファ層上に形成した。引き続き同一のチャンバー内において0.5μmの厚さのAlを添加したZnO層(窓層)をi-ZnO層上に形成した。i-ZnO層(半絶縁層)およびAlを添加したZnO層はRFスパッタリング法を用いて形成した。
 窓層形成後に、光吸収層のフォトルミネッセンス測定を行った。測定に用いる励起光源には514.5nmの波長を持つArイオンレーザを用いるとともに、測定時にはクライオスタッドにより基板を10K(ケルビン)まで冷却した。励起光強度を1mW/cmから100mW/cmまで変化させフォトルミネッセンス強度の励起光強度依存性の測定を行った。
 10mW/cm2 測定時に得られたフォトルミネッセンススペクトルにおいて最も半値幅が狭い発光ピークの半値幅は9meVであった。
 前記最も半値幅が狭い発光ピークのフォトルミネッセンス強度IPLと励起光強度Iex の関係を式(1)で表したとき、kの値は1.11であった。
 さらに、基板の一部を切断し、破断面から光吸収層のカソードルミネッセンス測定を行った。測定はフォトルミネッセンス同様10K(ケルビン)において行った。測定により得られたカソードルミネッセンススペクトルにおいて最も半値幅が狭い発光の半値幅は9meVであった。
 窓層形成後に50nmの厚さのNi、およびその上の1μmの厚さのAlから構成される上部電極を、Alを添加したZnO層上に形成した。上部電極は、DCスパッタリング法により形成した。これにより、実施例1の化合物半導体太陽電池を得た。
上部電極形成後に、容量電圧(C-V)測定を行った。測定は室温、印加電圧は-1Vから1Vまでとし、周波数は1MHzに設定した。測定で得られた値から1/C2-Vプロット(Mott-Schotkkyプロット)を作成し、光吸収層のキャリア密度を算出した。
 光吸収層に用いた材料、成膜法、第二段階Cu保持時間、成膜直後における光吸収層のCu/(In+Ga)組成比およびGa/(In+Ga)組成比、異相除去処理後の光吸収層のCu/(In+Ga)組成比、光吸収層のフォトルミネッセンススペクトルおよびカソードルミネッセンススペクトルにおける最も半値幅の狭い発光の半値幅の値(それぞれ、以下、「PL半値幅」及び「CL半値幅」という。)、およびフォトルミネッセンス強度の励起光強度依存性測定におけるkの値(k値)、異相除去処理方法、SEM像の観察から算出した粒子形状パラメータA、粒子形状パラメータBおよび光吸収層のキャリア密度を表1に示す。
(実施例2~5)
 光吸収層の形成において、第二段階Cu保持時間を表1に示した時間に設定した以外は、実施例1と同様に作製し、実施例2~5の太陽電池を得た。
(比較例1、2)
 光吸収層の形成を一段階真空蒸着法により成膜した以外は、実施例1と同様にして比較例1及び2の太陽電池を得た。以下、一段階真空蒸着法について説明する。
 成膜前に、あらかじめ各原料元素のフラックス比と得られる膜に含まれる組成の関係を測定しておくことで、膜組成の調整を行った。各元素のフラックス比は各Kセルの温度を調整することにより適宜変更した。比較例1の光吸収層形成工程においては成膜直後のCu/(In+Ga)組成比が1.05、Ga/(In+Ga)組成比が0.50となるように各元素のフラックスを設定した。比較例2の光吸収層形成工程においては成膜直後のCu/(In+Ga)組成比が1.35、Ga/(In+Ga)組成比が0.50となるように各元素のフラックスを設定した。
 基板をPVD装置のチャンバー内に設置し、チャンバー内を脱気した。真空装置内の到達圧力は1.0×10-8torrとした。
 その後、基板を540℃まで加熱し温度が安定した後に、Cu、In、Ga及びSeの各Kセルのシャッターを開き、Cu、In、Ga及びSeを基板上に蒸着させた。この蒸着により基板上に約2μmの厚さの層が形成された時点で、Cu、In、Gaの各Kセルのシャッターを閉じた。その後基板を200℃まで冷却した後、SeのKセルのシャッターを閉じて、光吸収層の成膜を終了した。
 実施例2~5、及び比較例1,2の太陽電池作製条件及び諸測定の結果を表1に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
(実施例6~8)
 実施例6~8の太陽電池は、光吸収層の形成を成膜後のGa/(In+Ga)比がおよそ0.51となるようあらかじめGaとInのフラックス比を調整し、第二段階Cu保持時間を表2の時間に設定したこと以外は、実施例1と同様に作製した。
(比較例3~5)
 比較例3~5の太陽電池は、成膜後の光吸収層のGa/(In+Ga)比が0.51となるようあらかじめGaとInのフラックス比を調整し、また、Cu-poor組成になるように第二段階Cu保持時間を調整し、異相除去処理を行わなかったこと以外は、実施例1と同様に作製した。
(比較例6、7)
 比較例6、7の太陽電池は、光吸収層の形成は三段階蒸着法により行い、異相除去処理を行わなかったこと以外は実施例1と同様に作製した。以下三段階蒸着法について説明する。
 成膜後の膜組成におけるGa/(In+Ga)比を0.51となるようあらかじめGaとInのフラックス比を調整した。
 第一段階では、基板を350℃まで加熱し、In、Ga及びSeの各Kセルのシャッターを開き、In、Ga及びSeを基板上に蒸着させた。この蒸着により基板上に約1μmの厚さの層が形成された時点で、In及びGaの各Kセルのシャッターを閉じ、In及びGaの蒸着を終了した。Seは引き続き供給を続けた。
 第二段階では、基板を540℃まで加熱した後に、CuのKセルのシャッターを開き、Seと共にCuを基板上に蒸着させた。なお第二段階及び後述する第三段階では、基板を加熱するための電力を一定とし、電力に対する温度値のフィードバックは行わなかった。また、第二段階では、放射温度計により基板の表面温度をモニタし、基板の温度上昇が止まり、温度の低下が始まったことが確認できてから比較例6の場合は5分後、比較例7の場合は10分後にCuのKセルのシャッターを閉じて、Cuの蒸着を終了した。Seは引き続き供給を続けた。
 第三段階では、再びIn及びGaの各Kセルのシャッターを開き、第一段階と同様に、In、Ga及びSeを基板上に蒸着させた。第三段階の蒸着を開始した時点から比較例6の場合は15分後、比較例7の場合は20分後に、In、Gaの各Kセルのシャッターを閉じて、第三段階の蒸着を終了した。その後基板を200度まで冷却した後、SeのKセルのシャッターを閉じて、光吸収層の成膜を終了した。
 実施例6~8、及び比較例3~7の太陽電池作製条件及び諸測定の結果を表2に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
(比較例8、実施例9~18)
 比較例8、実施例9~18の太陽電池は、光吸収層の成膜直後のGa/(In+Ga)比が表3に示す値になるようあらかじめGaとInのフラックス比を調整し、第二段階Cu保持時間を表3に示した時間に設定したこと以外は実施例1と同様に作製した。
 表3に比較例8及び実施例9~18の太陽電池作製条件及び諸測定の結果を示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000003
(実施例19~23)
 実施例19~23の太陽電池は、光吸収層の成膜直後のGa/(In+Ga)比が表4に示す値になるようあらかじめGaとInのフラックス比を調整し、異相除去処理を表4に示す方法で行ったこと以外は、実施例1と同様に作製した。
 図4および図5に粒子形状パラメータA、粒子形状パラメータBの算出に用いた実施例21の光吸収層10のSEM表面像およびSEM断面像を示す。
 表4に実施例19~23の太陽電池の作製条件及び諸測定の結果を示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000004
(実施例24)
 VIb族元素として硫黄を用い、半導体層の成膜直後のGa/(In+Ga)比が表5に示す値になるようあらかじめGaとInのフラックス比を調整し、第二段階Cu保持時間を表5に示す時間に設定したこと以外は実施例1と同様に作製し、実施例24の太陽電池を得た。
(比較例9)
 光吸収層の形成を一段階蒸着法により行った。VIb族元素として硫黄を用い、半導体層の成膜直後のCu/(In+Ga)とGa/(In+Ga)比が表5に示す値になるようあらかじめ各元素のフラックス比を調整したこと以外は比較例1と同様に作製し、比較例9の太陽電池を得た。
 実施例24及び比較例9の太陽電池作製条件及び諸測定の結果を表5に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000005
(比較例10)
 光吸収層をDCスパッタリング法およびそれに引き続く熱処理により形成した。以下に詳細を示す。
 裏面電極層が形成された基板をDCスパッタリング装置に設置し、DCスパッタリング法により前駆体層形成を行った。その後アニール炉に基板を設置し、加熱処理をすることにより光吸収層の形成を行った。以下スパッタリング工程およびそれに引き続く熱処理による光吸収層形成の詳細を説明する。
 スパッタリング工程において、Arガスをチャンバー内に供給し続けながら、チャンバー内でCu-Ga合金(Cu50at%、Ga50at%)から構成されるターゲットとInメタルから構成されるターゲットを同時にスパッタしCu-Ga-In合金層1層からなる前駆体層を基板上に形成した。また、スパッタリング工程では、基板温度を200℃とし、チャンバー内の気圧が1PaとなるようにArガスの流量を設定した。
 スパッタリング工程後の熱処理工程では、基板温度を550℃に設定し、ArとHSeの混合雰囲気中で前駆体層を1時間加熱することにより、前駆体層のセレン化を行い、厚さが2μmである光吸収層を形成した。
 成膜後に行う異相除去処理として、表6に示す時間のKCNエッチングを行った。
 以上の事項以外は実施例1と同様の方法により比較例10の太陽電池を作製した。
(実施例25)
 光吸収層をスパッタリング法およびそれに引き続く熱処理により形成した。以下に詳細を示す。
 裏面電極層が形成された基板をスパッタリング装置に設置し、スパッタリング法により前駆体層形成を行った。その後アニール炉に基板を設置し、加熱処理をすることにより光吸収層の形成を行った。以下スパッタリング法およびそれに引き続く熱処理による光吸収層形成の詳細を説明する。
 スパッタリング工程において、Arガスをチャンバー内に供給し続けながら、チャンバー内で、In-Ga-Se(In25at%、Ga25at%、Se50at%)から構成される合金ターゲットをスパッタした後、Cu2Seターゲットをスパッタした。このスパッタリング工程により、In-Ga-Se合金層、Cu2Se層が順に積層する前駆体層を得た。また、スパッタリング工程では、基板温度を200℃とし、チャンバー内の気圧が1PaとなるようにArガスの流量を設定した。
 スパッタリング工程後の熱処理工程では、基板温度を550℃に設定し、ArとHSeの混合雰囲気中で前駆体層を1時間加熱することにより、前駆体層のセレン化を行い、厚さが2μmである光吸収層を形成した。
 実施例25及び比較例10の太陽電池作製条件及び諸測定の結果を表6に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000006
(太陽電池特性の評価)
  実施例1~25、および比較例1~10の各太陽電池の特性をソーラーシミュレータ(AM1.5、100mW/cm)を用い評価した。結果を表7に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000007
 フォトルミネッセンススペクトルまたはカソードルミネセンススペクトルの半値幅が1meV以上15meV以下であり、光吸収層の表面において粒径が2μm以上8μm以内である粒子が、膜全体の表面積に占める割合(粒子形状パラメータA)が90%以上である光吸収層を備える実施例1~25の太陽電池は、比較例の太陽電池の変換効率よりも高いことが確認された。
 同一の光吸収層の材料で比較した場合、たとえばCu(In,Ga)Seで比較すると、フォトルミネッセンススペクトルまたはカソードルミネセンススペクトルの半値幅が1meV以上15meV以下であるものの、粒子形状パラメータAが90%未満である光吸収層を備える比較例1および2の太陽電池は、実施例1~5と比較して変換効率が低いことが確認された。この傾向は、スパッタリング法と熱処理により光吸収層を形成した実施例25及び比較例10からも確認された。
 また、Cu(In,Ga)Sで比較すると、実施例24及び比較例9からも同様のことが確認された。
 同一の光吸収層の材料で比較した場合、たとえばCu(In,Ga)Seで比較すると、フォトルミネッセンススペクトルまたはカソードルミネセンススペクトルの半値幅が15meVより大きく、粒子形状パラメータAが90%未満である光吸収層を備える比較例3~5は、実施例6~8の太陽電池よりも変換効率が低いことが確認された。
 また、同一の光吸収層の材料で比較した場合、たとえばCu(In,Ga)Seで比較すると、フォトルミネッセンススペクトルまたはカソードルミネセンススペクトルの半値幅が15meVより大きく、粒子形状パラメータAが90%以上である光吸収層を備える比較例6,7は、実施例6~8の太陽電池よりも変換効率が低いことが確認された。
 Gaを含まない比較例8の太陽電池は、Gaを含む実施例1~25の太陽電池よりも変換効率が低いことが確認された。
 フォトルミネッセンススペクトルまたはカソードルミネッセンススペクトルの半値幅が1meV以上15meV以下であり、粒子形状パラメータAが90%以上である太陽電池において、膜厚方向に単一の粒子のみ存在する柱状形状の部分を含み、その部分の断面積が膜全体の断面積に占める割合(粒子形状パラメータB)が90%以上である実施例9~14の太陽電池は、結晶形状パラメータBが90%未満である実施例15~18の太陽電池よりも変換効率が高いことが確認された。
 Cu/(In+Ga)比が0.99以上1.01以下である光吸収層を備える実施例21、22の太陽電池の変換効率は、実施例21、22と同様の組成及び要件を備え、Cu/(In+Ga)比がそれぞれ0.99以上1.01以下の範囲外である実施例19、20、23の太陽電池の変換効率より大きいことが確認された。
 スパッタリング法により形成された2層の前駆体をセレン化熱処理することにより形成されたCu(In、Ga)Seであり、そのフォトルミネッセンススペクトルまたはカソードルミネセンススペクトルにおいて半値幅が1meV以上15meV以下であり、粒子形状パラメータAが90%以上である光吸収層を備える実施例25の太陽電池の変換効率は、スパッタリング法により形成された1層の前駆体をセレン化熱処理することにより形成されたCu(In、Ga)Seであり、そのフォトルミネッセンススペクトルまたはカソードルミネセンススペクトルの半値幅が1meV以上15meV以下であるが、粒子形状パラメータAが90%未満である光吸収層を備える比較例10の太陽電池の変換効率より大きいことが確認された。
 2・・・本発明の一実施形態に係る太陽電池、6・・・ソーダライムガラス、8・・・裏面電極層、10・・・光吸収層、14・・・バッファ層、16・・・半絶縁層、18・・・窓層(透明導電層)、20・・・上部電極、24・・・太陽電池における断面SEM観察箇所、202・・・膜厚方向に単一の粒子のみ存在する柱状形状の部分、203・・・膜厚方向に複数の粒子が存在する部分
 

Claims (9)

  1.  裏面電極層と、光吸収層と、透明電極層と、を備える化合物半導体太陽電池であって、
     前記光吸収層は、Cuと、Gaと、VIb族元素から選ばれる元素とを有するp型半導体層であり、
     前記光吸収層に対するフォトルミネセンススペクトル測定またはカソードルミネセンススペクトル測定において、発光スペクトルの半値幅が1meV以上15meV以下のピークを含み、
    かつ、
     前記光吸収層の表面において、粒径が2μm以上8μm以内である粒子が、前記光吸収層の表面に占める割合が90%以上であることを特徴とする化合物半導体太陽電池。
  2.  前記光吸収層は、さらにInを有するp型半導体層であることを特徴とする請求項1に記載の化合物半導体太陽電池。
  3.  前記光吸収層の断面構造において、膜厚方向に単一の粒子のみ存在する柱状形状の部分を含み、その部分の断面積は膜全体の断面積に占める割合が90%以上であることを特徴とする請求項1または2に記載の化合物半導体太陽電池。
  4.  前記光吸収層に含まれるCuとIIIb族元素の組成比が0.99以上1.01以下であることを特徴とする請求項1から3に記載の化合物半導体太陽電池。
  5. 前記光吸収層のフォトルミネッセンスの半値幅が、514.5nmの波長を持つArイオンレーザを励起光源とし、10K(ケルビン)の温度下で測定したフォトルミネッセンスの半値幅であることを特徴とする請求項1から4に記載の化合物半導体太陽電池。
  6.  前記光吸収層のキャリア密度が1×1016cm-3以上 5×1016cm-3以下であることを特徴とする請求項1から5に記載の化合物半導体太陽電池
  7.  少なくともGaを含むIIIb族元素とVIb族元素とを同時に真空蒸着する第1のステップと、
     CuとVIb族元素とを同時に真空蒸着する第2のステップと、
    を有することを特徴とする化合物半導体太陽電池の光吸収層の製造方法。
  8. 少なくともGaを含むIIIb族元素及びVIb族元素からなる合金又は焼結体ターゲットを用いてスパッタリングする第3のステップと、
    前記第3のステップに続いて、Cu及びVIb族元素からなる合金または焼結体ターゲットを用いてスパッタリングする第4のステップと、
    前記第3のステップと前記第4のステップで形成された前駆体層にArと、HSeまたはHSとの混合ガス中で熱処理する第5のステップと、
    を有することを特徴とする化合物半導体太陽電池の光吸収層の製造方法。
  9. 前記化合物半導体太陽電池の光吸収層の製造方法において、
    製膜直後のCu/IIIb族組成比が1.05から1.80であることを特徴とする
    請求項7または8に記載の化合物半導体太陽電池の光吸収層の製造方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016013670A1 (ja) * 2014-07-25 2016-01-28 凸版印刷株式会社 化合物薄膜太陽電池、化合物薄膜太陽電池の製造方法、および、光吸収層
KR20160137947A (ko) * 2013-12-23 2016-12-02 벵부 디자인 앤드 리서치 인스티튜트 포 글래스 인더스트리 박막 태양 전지를 위한 층 시스템
JP2018181936A (ja) * 2017-04-05 2018-11-15 ソーラーフロンティア株式会社 光電変換素子

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114566579A (zh) * 2016-07-05 2022-05-31 苏州乐琻半导体有限公司 半导体元件

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10513606A (ja) * 1993-04-12 1998-12-22 ミドウェスト リサーチ インスティチュート 太陽電池用の高効率Cu(In,Ga)(Se,S)2薄膜の製法
JP2000144377A (ja) * 1998-11-11 2000-05-26 Fujikura Ltd 化合物薄膜の製造方法
JP2002083824A (ja) * 2000-09-06 2002-03-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 化合物半導体薄膜ならびにその製造方法および製造装置
WO2011040272A1 (ja) * 2009-09-29 2011-04-07 京セラ株式会社 光電変換装置
JP2011077473A (ja) * 2009-10-02 2011-04-14 Meidensha Corp 製膜方法及び製膜装置
JP2011091132A (ja) * 2009-10-21 2011-05-06 Fujifilm Corp 光電変換半導体層とその製造方法、光電変換素子、及び太陽電池
WO2011108033A1 (ja) * 2010-03-05 2011-09-09 株式会社 東芝 化合物薄膜太陽電池及びその製造方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE50302591D1 (de) * 2003-12-22 2006-05-04 Scheuten Glasgroep Bv Verfahren zur Herstellung von Cu(In,Ga)Se2 einkristallinem Pulver und Monokornmembran-Solarzelle enthaltend dieses Pulver
US8802977B2 (en) * 2008-05-09 2014-08-12 International Business Machines Corporation Techniques for enhancing performance of photovoltaic devices

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10513606A (ja) * 1993-04-12 1998-12-22 ミドウェスト リサーチ インスティチュート 太陽電池用の高効率Cu(In,Ga)(Se,S)2薄膜の製法
JP2000144377A (ja) * 1998-11-11 2000-05-26 Fujikura Ltd 化合物薄膜の製造方法
JP2002083824A (ja) * 2000-09-06 2002-03-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 化合物半導体薄膜ならびにその製造方法および製造装置
WO2011040272A1 (ja) * 2009-09-29 2011-04-07 京セラ株式会社 光電変換装置
JP2011077473A (ja) * 2009-10-02 2011-04-14 Meidensha Corp 製膜方法及び製膜装置
JP2011091132A (ja) * 2009-10-21 2011-05-06 Fujifilm Corp 光電変換半導体層とその製造方法、光電変換素子、及び太陽電池
WO2011108033A1 (ja) * 2010-03-05 2011-09-09 株式会社 東芝 化合物薄膜太陽電池及びその製造方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160137947A (ko) * 2013-12-23 2016-12-02 벵부 디자인 앤드 리서치 인스티튜트 포 글래스 인더스트리 박막 태양 전지를 위한 층 시스템
JP2016541124A (ja) * 2013-12-23 2016-12-28 バンブ・デザイン・アンド・リサーチ・インスティテュート・フォー・グラス・インダストリー 薄膜太陽電池用層系
KR101882595B1 (ko) * 2013-12-23 2018-08-24 벵부 디자인 앤드 리서치 인스티튜트 포 글래스 인더스트리 박막 태양 전지를 위한 층 시스템
WO2016013670A1 (ja) * 2014-07-25 2016-01-28 凸版印刷株式会社 化合物薄膜太陽電池、化合物薄膜太陽電池の製造方法、および、光吸収層
JP2018181936A (ja) * 2017-04-05 2018-11-15 ソーラーフロンティア株式会社 光電変換素子
JP7049064B2 (ja) 2017-04-05 2022-04-06 出光興産株式会社 光電変換素子

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