WO2013027354A1 - 接合体、パワー半導体装置及びそれらの製造方法 - Google Patents

接合体、パワー半導体装置及びそれらの製造方法 Download PDF

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bonding
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metal
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南尾　匡紀
笹岡　達雄
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パナソニック株式会社
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    • H01L2924/181—Encapsulation

Definitions

  • the present invention relates to a technique for joining members to be joined.
  • the present invention relates to a junction, a power semiconductor device, and a method of manufacturing the same.
  • the plate 2a in which the plating layer 8a was formed in the surface and the back, and the plate 2b in which the plating layer 8b was formed in the surface and the back are piled up.
  • the plating layers 8a and 8b are made of nickel (Ni)
  • the plates 2a and 2b are made of copper (Cu).
  • the contact surfaces of the die 6a are brought into contact with the plate 2a via the plating layer 8a, and pressure is applied in the direction of arrow A.
  • the contact surfaces of the die 6b are brought into contact with the plate 2b via the plating layer 8b, and pressure is applied in the direction of arrow B.
  • the plated layers 8a and 8b pressed against each other can not follow the plastic flow of the plates 2a and 2b, and reach the breaking point and are divided.
  • the pressure contact portion 5 constituted by a new surface is formed in the area of the plate bodies 2a and 2b where the plating layers 8a and 8b are divided.
  • the oxide film moves following the division of the plating layers 8a and 8b, and each plate 2a , 2b exposed the new surface.
  • the plating layers 8a and 8b having a ductility smaller than that of the plates 2a and 2b are provided on the plates 2a and 2b without removing the oxide film formed on the plates 2a and 2b, which are the objects to be pressed.
  • the plates 2a and 2b can be joined together.
  • Patent Document 2 there is a technique in which an oxide film removing solution is replaced with an oxidation inhibitor and bonding is performed (for example, see Patent Document 2).
  • Patent Document 2 when joining metals which at least one side consists of copper, the joining surface of copper is made to contact with an oxide film removal liquid, the oxide film of this joining surface is removed, and an oxide film removal liquid is carried out to a joining surface of copper.
  • the metal bonding surfaces of the metals to be bonded are brought into contact with each other while being attached, and heating / pressure is applied to replace the oxide film removing solution with an oxidation inhibitor for bonding.
  • the present invention solves these problems, and an object of the present invention is to perform electrically stable bonding by mechanical pressure welding between metals.
  • a method of manufacturing a joined body according to the present invention after a solution containing an oxide film removing agent is disposed on a joined portion forming region of a first joined member made of metal, A second member to be joined made of metal is placed on the member to be joined, and a load is applied to the joint formation region of the first member to be joined, whereby the first member to be joined and the second member to be joined Are joined to produce a joined body.
  • the joined body according to the present invention is characterized in that a corrosion prevention film is formed on the joining portion of the first and second members to be joined made of metal.
  • electrically stable bonding can be performed by mechanical pressure welding between metals.
  • FIG. 1 is a flow chart showing a metal-to-metal bonding method according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2A to FIG. 2C are sectional views in order of process showing the method of bonding between metals according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a plan view of FIG. 2 (c).
  • FIGS. 4 (a) to 4 (c) are views showing scanning electron micrographs of cross sections of a joined body by the method of bonding between metals according to an embodiment of the present invention.
  • 5 (a) to 5 (c) are sectional views in order of process showing the method of bonding between metals according to a second modification of the embodiment of the present invention.
  • FIG. 1 is a flow chart showing a metal-to-metal bonding method according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2A to FIG. 2C are sectional views in order of process showing the method of bonding between metals according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a plan view of FIG.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view showing a power module using a metal-to-metal bonding method according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 7A is an enlarged cross-sectional view showing a region including the joint of FIG.
  • FIG. 7 (b) is an enlarged plan view showing a region including a junction.
  • 8 (a) to 8 (c) are cross-sectional views in the order of steps showing a method of cold pressure welding of a metal according to the conventional example.
  • FIG. 1 A bonded structure and a method of manufacturing the same according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the flowchart of FIG. 1, FIG. 2 (a) to FIG. 2 (c) and FIG.
  • An oxide film is formed on the surface of each of the first metal plate 101 and the second metal plate 102 used in the present embodiment.
  • first step it is an example of a solution on a joint formation region of a first metal plate (first joint member) 101 which is an example of a joint member.
  • the aqueous solution 103 is dropped and disposed (step S01 in FIG. 1).
  • the aqueous solution 103 contains an oxide film removing agent, an antioxidant (rust inhibitor) and a rheology control (viscosity suppressing) agent, and a liquid other than these components is water (H 2 O).
  • the oxide film of the first metal plate 101 is removed to expose a new surface (Step S02 in FIG. 1).
  • the bonding portion formation region is a region defined to form the bonding portion 110 between the first metal plate 101 and the second metal plate 102 shown in FIG. 2C.
  • the size of the junction formation region is obtained from the junction area between metals which is previously calculated from experimental data in the past and the like.
  • potassium hydroxide (KOH) having a concentration (% by mass) of 2% or less was used as the oxide film removing agent.
  • the antioxidant the concentration (wt%) was used 2% diethylethanolamine ((HOCH 2 CH 2) 2 NH).
  • PPG polypropylene glycol having a concentration (% by mass) of 2% or less was used as a rheology control agent.
  • lithium hydroxide LiOH
  • sodium hydroxide NaOH
  • formic acid HCOOH
  • acetic acid CH 3 COOH
  • dicyclohexylamine can be used instead of diethylethanolamine as the antioxidant.
  • polyethylene glycol PEG can be used in place of polypropylene glycol.
  • the aqueous solution 103 may contain only the oxide film removing agent. Therefore, when the purpose is only to be electrically stable at the time of bonding, an antioxidant and a rheology control agent may be added as appropriate.
  • the aqueous solution 103 contains an antioxidant in addition to the oxide film remover.
  • the antioxidant adheres to the new surface exposed by the oxide film removing agent spreading to the area around the bonding portion, and the oxidation of the exposed new surface To prevent.
  • the rheology control agent is used to control the viscosity of the aqueous solution 103 and to suppress the spread of the aqueous solution 103.
  • an antioxidant is included in addition to the oxide film removing agent, it is necessary to add a rheology control agent to suppress the spread of the aqueous solution 103.
  • the dropping amount of the aqueous solution 103 may be, for example, 0.15 ml / mm 2 or more and 1.5 ml / mm 2 or less.
  • the second metal plate 102 is brought into contact with the aqueous solution 103 dropped onto the first metal plate 101 (Step S04 in FIG. 1).
  • the oxide film of the second metal plate 102 is removed by the aqueous solution 103, and the new surface is exposed to the second metal plate 102 (step S05 in FIG. 1).
  • at least one of the metal punches 105a and 105b is heated in advance and predetermined from the vertical direction (the direction perpendicular to the main surface) with respect to the partial area of the first metal plate 101 and the second metal plate 102.
  • a preferable load as the predetermined load is 10 g / cm 2 or more and 500 g / cm 2 or less.
  • the value of a preferable load is a value which changes with the shape of the metal plates 101 and 102, a dimension, a use, etc., and is not restricted to said value.
  • the time for applying a load is preferably 80 seconds or less in consideration of productivity.
  • the heating to the heating temperature of metal punch 105a, 105b is beforehand performed before the load application by a built-in heater etc.
  • the heating temperature of the metal punches 105a and 105b is set to 80 ° C. or more and 200 ° C. or less in consideration of the influence of heat on the semiconductor elements and the like. Just do it.
  • the bonding of the metal plates 101 and 102 is made fast and reliable, and the water and the oxide film removing agent in the aqueous solution 103 are evaporated (see FIG. Step S07 of 1).
  • the concentrations of the oxide film removing agent and the antioxidant in the aqueous solution 103 become uniform.
  • the aqueous solution 103 can be agitated, and further, bonding can be performed rapidly and reliably.
  • the bonding portion 110 is formed in the region to which the load is applied by the first metal plate 101 and the second metal plate 102, The first metal plate 101 and the second metal plate 102 are joined, and a joined body composed of the first metal plate 101 and the second metal plate 102 is manufactured (Step S08 in FIG. 1).
  • the metal plates 101 and 102 around the joint portion 110 have a fillet shape.
  • the bonded body fills the gap between the metal plates 101 and 102 by forming a fillet shape on the metal plates 101 and 102 around the bonding portion 110, respectively. It is joined.
  • a corrosion prevention film including an antioxidant as a main component around the bonding portion 110 (the metal plate is made of iron In the case of (Fe), a rustproof organic film) 103A is formed (Step S09 in FIG. 1).
  • the corrosion prevention film 103A is a film formed after the water of the aqueous solution 103 and the oxide film remover evaporate.
  • the corrosion preventing film 103A is formed on the side surface of the fillet shape of the metal plates 101 and 102 formed around the bonding portion 110.
  • the distance between the first metal plate 101 and the second metal plate 102 during bonding is set to 0.5 ⁇ m or more and 100 ⁇ m or less.
  • the reason why the distance between the first metal plate 101 and the second metal plate 102 is 0.5 ⁇ m or more is because the aqueous solution 103 necessary for oxide film removal is present between the metal plates 101 and 102. is there.
  • the reason for setting the distance to 100 ⁇ m or less is that the aqueous solution 103 (after bonding) is applied to the surface of the fillet shape formed on the vertically upper metal plate (the second metal plate 102 in FIG. 2C).
  • the reason is that the corrosion prevention film 103A) is poured and present.
  • FIGS. 4 (a) to 4 (c) show scanning electron micrographs of the cross section of the joined body when copper (Cu) is used for the first metal plate 101 and the second metal plate 102, respectively.
  • the dropping amount of the aqueous solution 103 is 0.72 ml / mm 2 .
  • FIG. 4B is a partially enlarged cross-sectional view 500 times the area 111a (the central portion of the bonding portion 110) of FIG. 4A.
  • FIG. 4C is a partially enlarged sectional view of 500 times the region 111b (the outer peripheral portion of the bonding portion 110) of FIG. 4A and a partially enlarged sectional view of 2000 times. Note that FIG. 4C also includes a cross section other than the bonding portion 110, that is, a cross section of a region that is not bonded.
  • the composition of the first metal plate 101 and the composition of the second metal plate 102 can be other than copper (Cu) used in the present embodiment by appropriately changing the composition of the aqueous solution 103 and the bonding conditions. is there.
  • Cu copper
  • any one metal of copper (Cu), aluminum (Al), nickel (Ni) and iron (Fe) or an alloy containing it as a main component is used. Often used.
  • these metals or alloys may be the same or different.
  • it is necessary to use an aqueous solution 103 suitable for each kind of metal That is, when oxide films having different characteristics are formed on the surfaces of different metals, it is necessary to use an aqueous solution 103 suitable for both of them.
  • a plate-like metal (metal plate) is used as a member for metal bonding, but the present invention does not necessarily have to be a plate-like shape as long as it can be generally joined.
  • a bar bar (Bus Bar), which is a bar-like metal member used as a power supply line instead of an electric wire, has conventionally been mechanically and electrically joined by screwing. If this embodiment is used for a bus bar, for example, screwing becomes unnecessary, and a bonding process can be simplified, and the weight of an electric device using the bus bar can be reduced.
  • the present invention can also be applied to so-called grain boundary bonding in which grain boundaries are disposed at bonding surfaces for bonding.
  • first modification when the aqueous solution 103 does not contain an antioxidant, after the first metal plate 101 and the second metal plate 102 are joined to each other, an oxide film may be formed under specific conditions. In this manner, oxidation corrosion can be prevented by forming an oxide film instead of the above-described corrosion prevention film 103A formed on the new surface. Specifically, the bonded first metal plate 101 and the second metal plate 102 are exposed to an oxidizing atmosphere (for example, a heated oxygen (O 2 ) atmosphere), and the oxide film removing agent flowed out from the bonding portion 110 By forming an oxide film on the new surface, oxidation corrosion can be prevented instead of the above-described corrosion prevention film 103A.
  • an oxidizing atmosphere for example, a heated oxygen (O 2 ) atmosphere
  • the long-term reliability of the bonding body is securable without using an antioxidant as a 1st modification.
  • the oxide film is formed in a separate step, it is necessary to remove the influence of the oxide film removal by the oxide film remover contained in the aqueous solution 103.
  • heat treatment may be performed.
  • the heating temperature may be 100 ° C., and the heating time may be approximately one hour.
  • each of the surfaces of the first metal plate 101 and the second metal plate 102 on which the bonding portion 110 is to be formed encloses the region on which the bonding portion is to be formed.
  • a groove (concave portion) 106 which is an example of the solution outflow prevention means, is formed.
  • the formation position of the groove portion 106 is, for example, a position where the pressing surface has a diameter of 1.2 times or more and twice or less of the pressing diameter of the circular metal punches 105a and 105b.
  • the formation position of the groove portion 106 is a position where the periphery of the junction formation region is about 1.25 times the area of the junction formation region.
  • the formation position of the groove portion 106 is an area which spreads when the aqueous solution 103 to be dropped to remove the oxide film in the bonding portion forming region is dropped by a sufficient amount.
  • positioning of the groove part 106 will not be specifically limited if it is cyclic
  • the grooves 106 may be arranged in a circular shape.
  • each groove portion 106 is set to one half or less of the thickness of each of the metal plates 101 and 102.
  • the reason why the depth of the groove portion 106 is not more than half each of the thickness of the metal plates 101 and 102 is that the depth of the groove portion 106 is more than half the thickness of the metal plates 101 and 102 And the strength of the metal plates 101 and 102 can not be maintained.
  • the groove portion 106 can be formed, for example, by etching using an acidic solution. Subsequently, the aqueous solution 103 is dropped onto the bonding portion forming region of the first metal plate 101 (step S01 in FIG. 1).
  • the second metal plate 102 is placed on and brought into contact with the first metal plate 101 onto which the aqueous solution 103 has been dropped (Step S04 in FIG. 1).
  • the aqueous solution 103 flows into the groove portion 106, it is difficult to spread between the contact interface of the first metal plate 101 and the second metal plate 102. Therefore, when the metal plates 101 and 102 are used as a component of a semiconductor device, it is possible to prevent the aqueous solution 103 from infiltrating the functional elements and the like constituting the semiconductor device and adversely affecting the functional elements and the like. .
  • a predetermined load is applied to the partial region of the first metal plate 101 and the second metal plate 102 from the vertical direction (direction perpendicular to the main surface) using the metal punches 105a and 105b, As shown in FIG. 5C, the bonding portion 110 is formed on the first metal plate 101 and the second metal plate 102.
  • the groove (recess) 106 for preventing the spread of the aqueous solution 103 is formed around the joint formation region of the metal plates 101 and 102 as an example of the solution outflow preventing means. 106 may be formed on any one of the metal plates 101 and 102. By forming the groove portion 106 only at least in the first metal plate 101 disposed vertically below, the spread of the aqueous solution 103 can be substantially prevented.
  • a projection portion surrounding the periphery of the joint portion formation region and projecting from the joint surface A convex portion may be provided. Even in this case, since the aqueous solution 103 is blocked by the projection, unnecessary spread of the aqueous solution 103 can be prevented.
  • a projection part can be formed, for example using a press method.
  • a power module (power semiconductor device) incorporated inside an inverter control device is taken as an example, and FIG. 6, FIG. This will be described with reference to 7 (b).
  • the power module includes the first lead frame 201 for holding the power element T1 on the first die pad portion, and the control element A second lead frame 202 for holding T2 on the second die pad portion, a heat sink 203 fixed to the lower surface of the first lead frame 201 with an insulating sheet 211 interposed, and an outer package 204 made of a sealing resin material. And consists of
  • the exterior body 204 covers one end of the first lead frame 201 including the power element T1 and one end of the second lead frame 202 including the control element T2, and exposes the lower surface of the heat sink 203. It is formed as.
  • At least a part of the first die pad portion and the second die pad portion overlap with each other in plan view in order to miniaturize the power module. Furthermore, at least a part of the power element T1 and the control element T2 are arranged to overlap each other in plan view.
  • one of the plurality of leads is used as the power element relay lead 201b.
  • one of the leads is used as the control element relay lead 202b.
  • the end portions of the power element relay lead 201b and the control element relay lead 202b are bonded to each other according to the present invention.
  • the power module is manufactured by joining with (alloy layer) 212 to form a joined body.
  • the first lead frame 201 is made of, for example, a highly conductive metal such as copper (Cu).
  • an insulated gate bipolar transistor (IGBT) or a metal oxide film field effect transistor (power MOSFET) can be used as the power element T1.
  • IGBT insulated gate bipolar transistor
  • power MOSFET metal oxide film field effect transistor
  • the power element T 1 is fixed to the upper surface of the first die pad portion of the first lead frame 201 by the brazing material 206.
  • a bonding pad (not shown) in the power element T1 and a plurality of leads of the first lead frame 201 are electrically connected by a wire 207 made of, for example, aluminum (Al).
  • the heat sink 203 For example, copper (Cu) or aluminum (Al) can be used as the heat sink 203.
  • the insulating sheet 211 provided between the heat sink 203 and the die pad portion is made of an insulating material having thermal conductivity.
  • the second lead frame 202 is made of, for example, copper (Cu) or 42 alloy (Fe-42% Ni) or the like.
  • the control element T2 is a semiconductor chip that controls the power element T1, and includes, for example, a drive circuit, an overcurrent prevention circuit, and the like.
  • the control element T 2 is fixed to the upper surface of the second die pad portion of the second lead frame 202 by, for example, a silver (Ag) paste material 209.
  • the bonding pad (not shown) of the control element T2 and the leads of the second lead frame 202 are electrically connected to each other by a wire 210 made of gold (Au).
  • the first lead frame 201 is provided with the power element relay lead 201b
  • the second lead frame 202 is provided with the control element relay lead 202b
  • the power element relay lead 201b and control are provided.
  • the element relay lead 202b is manufactured by being bonded to each other by the bonding portion 212 using the metal-metal bonding method according to the present invention.
  • metal bonding is performed using an aqueous solution containing an oxide film remover, an antioxidant, a rheology control agent, and the like for bonding the relay lead 201b for power element and the relay lead 202b for control element. It is connected electrically and manufactured by doing. At this time, a rustproof organic film 203A is formed around the bonding portion 212.
  • copper (Cu) is used for the first lead frame 201 and the second lead frame 202
  • an alloy to which silicon (Si) or the like is added can be used.
  • the bonded body, the power semiconductor device, and the manufacturing method thereof according to the present invention can electrically stably bond, for example, metals by mechanical pressure welding, and lead bars for semiconductor devices and bus bars for batteries It is effective in a wide range of fields such as

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Abstract

　まず、第１金属板（１０１）における接合部形成領域の上に、酸化膜除去剤を含む水溶液（１０３）を配する。続いて、水溶液（１０３）が配置された状態で、第１金属板（１０１）の上に、第２金属板（１０２）を載置する。その後、第１金属板（１０１）と第２金属板（１０２）との互いの接合部形成領域に、上下方向から荷重を印加することにより、第１金属板（１０１）と第２金属板（１０２）とを互いに接合して接合部（１１０）を形成して、接合体を製造する。

Description

接合体、パワー半導体装置及びそれらの製造方法
　本発明は、被接合部材同士を接合する技術に関する。本発明は、特に、接合体、パワー半導体装置及びそれらの製造方法に関する。
　従来、異種又は同種の金属同士を接合する接合方法の１つとして、被接合部材同士に荷重を印加して接合する冷間圧接方法がある（例えば、特許文献１を参照。）。
　以下、従来の冷間圧接方法について、図８（ａ）～図８（ｃ）を参照しながら説明する。
　まず、図８（ａ）に示すように、めっき層８ａが表面及び裏面に形成された板体２ａと、めっき層８ｂが表面及び裏面に形成された板体２ｂとを、重ねる。ここで、めっき層８ａ、８ｂは、ニッケル（Ｎｉ）で構成され、板体２ａ、２ｂは、銅（Ｃｕ）で構成されている。
　次に、図８（ｂ）及び図８（ｃ）に示すように、ダイス６ａの各当接面を、めっき層８ａを介して板体２ａに当接させ、矢印Ａの方向に加圧する。同様に、図８（ｂ）及び図８（ｃ）に示すように、ダイス６ｂの各当接面を、めっき層８ｂを介して板体２ｂに当接させ、矢印Ｂの方向に加圧する。このとき、ニッケルよりも銅の延性が大きいため、互いに圧接されためっき層８ａ、８ｂは、板体２ａ、２ｂの塑性流動に追従できずに、破断点に達して分断される。その結果、めっき層８ａ、８ｂが分断した板体２ａ、２ｂの領域に、新生面で構成された圧接部分５が形成される。ここで、めっき層８ａ、８ｂと板体２ａ、２ｂとの間に酸化膜が介在していても、該酸化膜は、めっき層８ａ、８ｂの分断に追従して移動し、各板体２ａ、２ｂには新生面が露出する。
　従って、被圧接物である板体２ａ、２ｂに形成される酸化膜を除去することなく、板体２ａ、２ｂよりも延性が小さいめっき層８ａ、８ｂを該板体２ａ、２ｂに設けておくことにより、板体２ａ、２ｂ同士を接合することができる。
　また、酸化膜除去液を酸化抑制剤に置換して接合する技術がある（例えば、特許文献２を参照。）。特許文献２では、少なくとも一方が銅からなる金属同士を接合するに際し、銅の接合面を酸化膜除去液に接触させて該接合面の酸化膜を除去し、銅の接合面に酸化膜除去液を付着させたまま、接合する金属の接合面を互いに接触させ、加熱・加圧して酸化膜除去液を酸化抑制剤に置換して接合している。
特公昭５９－０５２０３１号公報 特開２００６－３３４５６２号公報
　しかしながら、特許文献１の冷間圧接方法では、めっき層同士又は酸化膜同士の分断が不足する場合があり、接合部分の電気的な安定性が低くなる可能性があるという問題がある。
　また、特許文献２の接合方法では、酸化膜除去液を酸化抑制剤に置換する必要があり、置換のための条件が複雑になる可能性があるという問題がある。
　本発明は、これらの問題を解決し、金属同士の機械的な圧接により、電気的に安定した接合を行うことを目的とする。
　前記の目的を達成するため、本発明に係る接合体の製造方法は、金属からなる第１被接合部材の接合部形成領域の上に、酸化膜除去剤を含む溶液を配置した後、第１被接合部材の上に金属からなる第２被接合部材を載置し、第１被接合部材の接合部形成領域に、荷重を印加することにより、第１被接合部材と第２被接合部材とを接合して接合体を製造することを特徴とする。
　また、前記の目的を達成するため、本発明に係る接合体は、金属からなる第１被接合部材及び第２被接合部材の接合部に腐食防止膜が形成されたことを特徴とする。
　本発明に係る接合体、パワー半導体装置及びそれらの製造方法によると、金属同士の機械的な圧接により、電気的に安定した接合を行うことができる。
図１は、本発明の一実施形態に係る金属間接合方法を示すフローチャートである。 図２（ａ）～図２（ｃ）は、本発明の一実施形態に係る金属間接合方法を示す工程順の断面図である。 図３は、図２（ｃ）の平面図である。 図４（ａ）～図４（ｃ）は、本発明の一実施形態に係る金属間接合方法による接合体の断面の走査電子顕微鏡写真を示す図である。 図５（ａ）～図５（ｃ）は、本発明の一実施形態の第２変形例に係る金属間接合方法を示す工程順の断面図である。 図６は、本発明の一実施例に係る金属間接合方法を用いたパワーモジュールを示す断面図である。 図７（ａ）は、図６の接合部を含む領域を示す拡大断面図である。図７（ｂ）は接合部を含む領域を示す拡大平面図である。 図８（ａ）～図８（ｃ）は、従来例に係る金属の冷間圧接方法を示す工程順の断面図である。
　（一実施形態）
　本発明の一実施形態に係る接合体及びその製造方法について、図１のフローチャート、図２（ａ）～図２（ｃ）及び図３を参照しながら説明する。なお、本実施形態で用いる第１金属板１０１及び第２金属板１０２には、それぞれ、その表面に酸化膜が形成されている。
　まず、第１工程として、図２（ａ）に示すように、被接合部材の一例である第１金属板（第１被接合部材）１０１の接合部形成領域の上に、溶液の一例である水溶液１０３を滴下して配置する（図１のステップＳ０１）。水溶液１０３には、酸化膜除去剤、酸化防止剤（防錆剤）及びレオロジーコントロール（粘性抑制）剤を含み、これらの成分以外が水（Ｈ２Ｏ）である液体を用いる。ここで、水溶液１０３を第１金属板１０１に滴下することで、第１金属板１０１の酸化膜が除去されて新生面が露出する（図１のステップＳ０２）。続いて、第１金属板１０１と接合するための第２金属板１０２を、第１金属板１０１の上方に配置して待機させる（図１のステップＳ０３）。接合部形成領域は、図２（ｃ）に示す第１金属板１０１と第２金属板１０２との接合部１１０を形成するために定義した領域である。接合部形成領域の大きさは、予め過去の実験データなどから算出された金属間の接合面積から求められる。
　ここで、酸化膜除去剤には、濃度（質量％）が２％以下の水酸化カリウム（ＫＯＨ）を用いた。また、酸化防止剤には、濃度（質量％）が２％以下のジエチルエタノールアミン（（ＨＯＣＨ２ＣＨ２）２ＮＨ）を用いた。また、レオロジーコントロール剤には、濃度（質量％）が２％以下のポリプロピレングリコール（ＰＰＧ）を用いた。
　なお、酸化膜除去剤は、水酸化カリウムに代えて、水酸化リチウム（ＬｉＯＨ）、水酸化ナトリウム（ＮａＯＨ）、ギ酸（ＨＣＯＯＨ）、又は酢酸（ＣＨ３ＣＯＯＨ）を用いることができる。また、酸化防止剤は、ジエチルエタノールアミンに代えて、ジシクロヘキシルアミンを用いることができる。また、レオロジーコントロール剤は、ポリプロピレングリコールに代えて、ポリエチレングリコール（ＰＥＧ）を用いることができる。
　本実施形態において、接合時に電気的に安定していることだけを目的とする場合、水溶液１０３は、酸化膜除去剤のみが含まれていれば良い。そのため、接合時に電気的に安定していることだけを目的とする場合は、酸化防止剤及びレオロジーコントロール剤は、適宜添加すればよい。
　だが、接合後の電気的な長期信頼性を目的とする場合、水溶液１０３は、酸化膜除去剤に加えて、酸化防止剤が含まれていることが望ましい。酸化防止剤は、金属板１０１、１０２同士が部分的に圧接される際に、酸化膜除去剤が接合部の周辺の領域に拡がることで露出した新生面上に固着して、露出した新生面の酸化を防止する。
　さらに、レオロジーコントロール剤は、水溶液１０３の粘性を制御し、水溶液１０３の拡がりを抑制するために使用している。本実施形態のように、酸化膜除去剤に加えて酸化防止剤が含まれている場合、レオロジーコントロール剤を加えて水溶液１０３の拡がりを抑制する必要がある。
　水溶液１０３の滴下量は、例えば、０．１５ｍｌ／ｍｍ２以上且つ１．５ｍｌ／ｍｍ２以下とすればよい。
　次に、第２工程として、図２（ｂ）に示すように、第１金属板１０１の上に滴下された水溶液１０３に、第２金属板１０２を接触させる（図１のステップＳ０４）。ここで、水溶液１０３に第２金属板１０２を接触させることで、第２金属板１０２の酸化膜が水溶液１０３により除去されて、第２金属板１０２に新生面が露出する（図１のステップＳ０５）。続いて、少なくとも一方が予め加熱された金属パンチ１０５ａ、１０５ｂを用いて、第１金属板１０１及び第２金属板１０２の一部の領域に対して上下方向（主面に垂直な方向）から所定の荷重を印加する（図１のステップＳ０６）。所定の荷重として好ましい荷重は、１０ｇ／ｃｍ２以上且つ５００ｇ／ｃｍ２以下である。なお、好ましい荷重の値は、金属板１０１、１０２の形状、寸法及び用途等によって変化する値であり、上記の値に限られない。
　ここで、例えば、金属板１０１、１０２がパワー半導体装置等の半導体装置の構成部材である場合、荷重を印加する時間は、生産性を考慮して、８０秒以内が良い。
　また、金属パンチ１０５ａ、１０５ｂの加熱温度までの加熱は、内蔵ヒータ等によって荷重の印加前に予め行っている。金属板１０１、１０２が半導体装置の構成部材である場合には、半導体素子等に対する熱の影響も考慮して、例えば、金属パンチ１０５ａ、１０５ｂの加熱温度を８０℃以上且つ２００℃以下に設定すればよい。このように、金属パンチ１０５ａ、１０５ｂを加熱温度まで加熱することで、金属板１０１、１０２の接合を高速且つ確実にすると共に、水溶液１０３中の水分及び酸化膜除去剤を蒸発させている（図１のステップＳ０７）。
　さらには、加熱と同時に又は単独で、金属パンチ１０５ａ、１０５ｂ若しくは金属板１０１、１０２の少なくとも１つに超音波を印加すると、水溶液１０３中の酸化膜除去剤及び酸化防止剤の濃度が均一となるように、水溶液１０３を攪拌させることができると共に、更に接合を高速且つ確実に行うことも可能である。
　次に、第３工程として、図２（ｃ）及び図３に示すように、第１金属板１０１及び第２金属板１０２で荷重が印加された領域に接合部１１０が形成されることで、第１金属板１０１と第２金属板１０２とを接合し、第１金属板１０１及び第２金属板１０２からなる接合体を製造する（図１のステップＳ０８）。一般的な金属プレスでの接合を行った場合、図２（ｃ）及び図３に示すように、接合部１１０の周囲の金属板１０１、１０２は、フィレット形状となる。接合体は、接合部１１０の周囲の金属板１０１、１０２に、図２（ｃ）及び図３に示すように、それぞれフィレット形状を形成することで、金属板１０１、１０２の間の隙間を埋めて、接合している。
　本実施形態では、前述の成分を有する水溶液１０３を用いると共に金属パンチ１０５ａ、１０５ｂを加熱することで、接合部１１０の周囲に、主な成分として酸化防止剤を含む腐食防止膜（金属板が鉄（Ｆｅ）の場合は防錆有機膜）１０３Ａを形成している（図１のステップＳ０９）。腐食防止膜１０３Ａは、水溶液１０３の水分及び酸化膜除去剤が蒸発した後に形成された膜である。この腐食防止膜１０３Ａは、接合部１１０の周囲に形成された金属板１０１、１０２のフィレット形状の側面に形成される。このように、腐食防止膜１０３Ａを形成することで、露出した新生面が酸化腐食して接合部１１０が劣化することを防ぐことが可能である。
　なお、本実施形態では、接合時の第１金属板１０１と第２金属板１０２との間隔を、０．５μｍ以上且つ１００μｍ以下としている。
　ここで、第１金属板１０１と第２金属板１０２との間隔を０．５μｍ以上としている理由は、金属板１０１、１０２の間に酸化膜除去に必要なだけの水溶液１０３を存在させるためである。
　また、間隔を１００μｍ以下としている理由は、鉛直上側の金属板（図２（ｃ）では第２金属板１０２）に形成されるフィレット形状の表面に、毛細管現象を利用して水溶液１０３（接合後は、腐食防止膜１０３Ａ）を流し込んで存在させるためである。
　図４（ａ）～図４（ｃ）に、第１金属板１０１及び第２金属板１０２に、それぞれ銅（Ｃｕ）を用いた場合の接合体の断面の走査電子顕微鏡写真を示す。ここでは、水溶液１０３の滴下量を０．７２ｍｌ／ｍｍ２としている。
　図４（ｂ）は、図４（ａ）の領域１１１ａ（接合部１１０の中央部分）の５００倍の部分拡大断面図である。図４（ｃ）は、図４（ａ）の領域１１１ｂ（接合部１１０の外周部分）の５００倍の部分拡大断面図及び２０００倍の部分拡大断面図である。なお、図４（ｃ）には、接合部１１０以外の断面、すなわち、接合していない領域の断面も含まれている。
　図４（ｂ）の部分拡大断面図からは、金属板１０１、１０２の接合部１１０が確実に形成されていることが分かる。
　また、図４（ｃ）の部分拡大断面図からは、金属板１０１、１０２の接合部１１０の周囲の部分では、部分的に接合しており、金属板１０１、１０２の間に空隙が存在していることが分かる。
　なお、第１金属板１０１の組成及び第２金属板１０２の組成は、水溶液１０３の組成及び接合条件を適宜変更することで、本実施形態で用いた銅（Ｃｕ）以外とすることも可能である。半導体装置を構成する部材である場合には、例えば、銅（Ｃｕ）、アルミニウム（Ａｌ）、ニッケル（Ｎｉ）及び鉄（Ｆｅ）のうちのいずれか１つの金属又はそれを主成分とする合金を用いることが多い。
　また、金属板１０１、１０２において、これらの金属又は合金は、同種でもよく、異種でもよい。但し、金属板１０１、１０２を異種とした場合は、それぞれの金属の種類に適した水溶液１０３を用いる必要がある。すなわち、異種の金属の表面のそれぞれに、異なる特性の酸化膜が形成されている場合は、それら両方に適した水溶液１０３を用いる必要がある。
　また、本実施形態においては、金属接合を行う部材として板状の金属（金属板）を用いたが、本発明は、必ずしも板状である必要はなく、一般に接合可能な形状であればよい。
　このように、本実施形態によると、加熱した金型パンチと酸化膜除去剤等を含む水溶液とを用いることにより、簡便で且つ電気的に安定した金属接合を行い、接合体を製造することができる。
　なお、電線に代わって電源供給ラインとして用いられる、棒状の金属部材であるバスバー（Ｂｕｓ　Ｂａｒ）は、従来、ねじ止めにより機械的及び電気的な接合が行われている。本実施形態を、例えばバスバーに用いれば、ねじ止めが不要となり、接合工程が簡略化できると共に、バスバーを用いる電気機器の重量を軽減することも可能となる。
　また、本発明は、接合面に粒界を配して接合する、いわゆる粒界接合にも適用することができる。
　（一実施形態の第１変形例）
　第１変形例として、水溶液１０３が酸化防止剤を含まない場合に、第１金属板１０１と第２金属板１０２とを互いに接合した後に、特定の条件下で酸化膜を形成しても良い。このようにして、前述の新生面に形成される腐食防止膜１０３Ａに代えて、酸化膜を形成することで、酸化腐食を防止できる。具体的には、接合した第１金属板１０１と第２金属板１０２とを酸化性雰囲気（例えば、加熱した酸素（Ｏ２）雰囲気）にさらして、接合部１１０から流出した酸化膜除去剤による新生面に酸化膜を形成することで、前述の腐食防止膜１０３Ａに代えて酸化腐食を防止することができる。
　このように、接合部１１０の周囲の領域を酸化膜により安定化させることで、腐食防止膜１０３Ａと同様に、接合体の長期信頼性を確保することができる。すなわち、第１変形例として、酸化防止剤を用いることなく接合体の長期信頼性を確保することができる。
　但し、本第１変形例の場合、別工程にて酸化膜を形成するため、水溶液１０３に含まれる酸化膜除去剤による酸化膜除去の影響を取り除く必要がある。酸化膜除去剤による酸化膜除去の影響を取り除くためには、例えば、熱処理を行えば良い。
　なお、酸化工程は、例えば加熱温度を１００℃とし、加熱時間を１時間程度とすればよい。
　（一実施形態の第２変形例）
　以下、本発明の一実施形態の第２変形例について図５（ａ）～図５（ｃ）を参照しながら説明する。
　図５（ａ）に示すように、本第２変形例では、第１金属板１０１及び第２金属板１０２の接合部１１０を形成する面に、接合部を形成する領域を囲むように、それぞれ溶液流出防止手段の一例である溝部（凹部）１０６を形成している。溝部１０６の形成位置は、例えば、押圧面が円形状の金属パンチ１０５ａ、１０５ｂの押圧径の１．２倍以上且つ２倍以下の径となる位置とする。又は、溝部１０６の形成位置は、接合部形成領域の周囲を、該接合部形成領域の面積の約１．２５倍の面積となる位置とする。すなわち、溝部１０６の形成位置は、接合部形成領域の酸化膜を除去するのに滴下される水溶液１０３が、充分な量だけ滴下された場合に拡がる面積である。なお、溝部１０６の配置の形状（平面形状）は、欠けた部分がない環状であれば、特に限定されない。例えば、金属パンチ１０５ａ、１０５ｂの押圧面の形状が円形状である場合には、溝部１０６を円形状に配置すればよい。
　また、各溝部１０６の深さは、各金属板１０１、１０２の厚さのそれぞれ２分の１以下とする。ここで、溝部１０６の深さを金属板１０１、１０２の厚さのそれぞれ２分の１以下とするのは、溝部１０６の深さが金属板１０１、１０２の厚さの２分の１を超えると、金属板１０１、１０２の強度を保てなくなるからである。
　なお、溝部１０６は、例えば、酸性溶液を用いたエッチングにより形成することができる。続いて、第１金属板１０１における接合部形成領域の上に、水溶液１０３を滴下する（図１のステップＳ０１）。
　次に、図５（ｂ）に示すように、水溶液１０３が滴下された第１金属板１０１の上に第２金属板１０２を載置して接触させる（図１のステップＳ０４）。このとき、水溶液１０３は溝部１０６に流れ込むため、第１金属板１０１及び第２金属板１０２の接触界面の間に拡がりにくくなる。従って、金属板１０１、１０２を半導体装置の構成部材に用いる場合には、半導体装置を構成する機能素子等に水溶液１０３が浸潤して、該機能素子等に悪影響を与えることを防止することができる。
　続いて、金属パンチ１０５ａ、１０５ｂを用いて、第１金属板１０１及び第２金属板１０２の一部の領域に対して上下方向（主面に垂直な方向）から所定の荷重を印加して、図５（ｃ）に示すように、第１金属板１０１及び第２金属板１０２に接合部１１０を形成する。
　なお、本第２変形例においては、溶液流出防止手段の一例として、金属板１０１、１０２の接合部形成領域の周囲に、水溶液１０３の拡がりを防止する溝部（凹部）１０６を形成したが、溝部１０６は、金属板１０１、１０２のいずれか一方に形成してもよい。少なくとも、鉛直下側に配置される第１金属板１０１にのみ溝部１０６を形成することで、水溶液１０３の拡がりを、ほぼ防止できる。
　また、溝部１０６に代えて、第１金属板１０１及び第２金属板１０２の少なくとも一方に、溶液流出防止手段の一例として、接合部形成領域の周囲を囲み、且つ接合面から突出する突起部（凸部）を設けてもよい。このようにしても、突起部により水溶液１０３が堰き止められるので、該水溶液１０３の不要な拡がりを防止することができる。
　なお、突起部は、例えば、プレス法を用いて形成することができる。
　以下、本発明に係る接合体及びその製造方法の一実施例として、例えばインバータ制御機器の内部に組み込まれるパワーモジュール（パワー半導体装置）を例に挙げて、図６、図７（ａ）及び図７（ｂ）を参照しながら説明する。
　図６、図７（ａ）及び図７（ｂ）に示すように、本実施例に係るパワーモジュールは、パワー素子Ｔ１を第１ダイパッド部の上に保持する第１リードフレーム２０１と、制御素子Ｔ２を第２ダイパッド部の上に保持する第２リードフレーム２０２と、第１リードフレーム２０１の下面に絶縁シート２１１を介在して固着された放熱板２０３と、封止樹脂材からなる外装体２０４とから構成されている。
　外装体２０４は、パワー素子Ｔ１を含む第１リードフレーム２０１の一方の端部と、制御素子Ｔ２を含む第２リードフレーム２０２の一方の端部とを覆うと共に、放熱板２０３の下面を露出するように形成されている。
　ここで、第１ダイパッド部の少なくとも一部と第２ダイパッド部とは、パワーモジュールの小型化を図るべく、平面視で互いに重なっている。さらに、パワー素子Ｔ１の少なくとも一部と制御素子Ｔ２とは、平面視で互いに重なるように配置されている。
　さらに、本実施例に係るパワーモジュールにおいては、第１リードフレーム２０１において、複数のリードのうちの１つをパワー素子用中継リード２０１ｂとしている。また、第２リードフレーム２０２においては、複数のリードのうちの１つを制御素子用中継リード２０２ｂとしている。
　接合部を含む領域２３０を拡大した図７（ａ）及び図７（ｂ）に示すように、パワー素子用中継リード２０１ｂ及び制御素子用中継リード２０２ｂの端部同士を、本発明に係る接合部（合金層）２１２により接合して、接合体を形成することで、パワーモジュールを製造している。
　以下、本実施例に係るパワーモジュールの詳細を説明する。
　第１リードフレーム２０１は、例えば銅（Ｃｕ）等の導電性が高い金属からなる。
　パワー素子Ｔ１は、例えば絶縁ゲート型バイポーラトランジスタ（ＩＧＢＴ）又は金属酸化膜型電界効果トランジスタ（パワーＭＯＳＦＥＴ）を用いることができる。
　パワー素子Ｔ１は、第１リードフレーム２０１の第１ダイパッド部の上面にろう材２０６により固着されている。パワー素子Ｔ１におけるボンディングパッド（図示せず）と第１リードフレーム２０１の複数のリードとは、例えばアルミニウム（Ａｌ）からなるワイヤ２０７により電気的に接続されている。
　放熱板２０３は、例えば銅（Ｃｕ）又はアルミニウム（Ａｌ）等を用いることができる。放熱板２０３とダイパッド部との間に設けられる絶縁シート２１１は、熱伝導性を有する絶縁性材料からなる。
　第２リードフレーム２０２は、例えば銅（Ｃｕ）又は４２アロイ（Ｆｅ－４２％Ｎｉ）等からなる。
　制御素子Ｔ２は、パワー素子Ｔ１を制御する半導体チップであり、例えば駆動回路及び過電流防止回路等を含む。制御素子Ｔ２は、第２リードフレーム２０２の第２ダイパッド部の上面に、例えば銀（Ａｇ）ペースト材２０９により固着されている。制御素子Ｔ２のボンディングパッド（図示せず）と第２リードフレーム２０２の複数のリードとは、金（Ａｕ）からなるワイヤ２１０によって互いに電気的に接続されている。
　上述したように、本実施例においては、第１リードフレーム２０１にパワー素子用中継リード２０１ｂを設けると共に、第２リードフレーム２０２に制御素子用中継リード２０２ｂを設け、パワー素子用中継リード２０１ｂと制御素子用中継リード２０２ｂとを、本発明に係る金属間接合方法を用いた接合部２１２によって互いに接合して製造している。
　このように、本実施例においては、パワー素子用中継リード２０１ｂと制御素子用中継リード２０２ｂとの接合に、酸化膜除去剤、酸化防止剤及びレオロジーコントロール剤等を含む水溶液を用いて金属接合を行うことにより、電気的に接続して製造している。このとき、接合部２１２の周囲には防錆有機膜２０３Ａが形成される。
　従って、中継リード２０１ｂ、２０２ｂの接合に、半田材又はろう材を用いることなく、機械的な圧接による接合により、長期にわたって安定な金属接合を得ることができる。
　なお、第１リードフレーム２０１及び第２リードフレーム２０２に銅（Ｃｕ）を用いる場合には、例えば、鉄（Ｆｅ）、ジルコニウム（Ｚｒ）、ニッケル（Ｎｉ）、錫（Ｓｎ）、燐（Ｐ）又はシリコン（Ｓｉ）等を添加した合金を用いることができる。
　本発明に係る接合体、パワー半導体装置及びそれらの製造方法は、例えば金属同士の機械的な圧接による接合を電気的に安定して行うことができ、半導体装置用のリードフレーム及び電池用のバスバー等の広範な分野に有効である。
　１０１　　第１金属板
　１０２　　第２金属板
　１０３　　水溶液
　１０３Ａ　腐食防止膜
　１０５ａ、１０５ｂ　　金属パンチ
　１０６　　溝部
　１１０　　接合部
　１１１ａ、１１１ｂ　　領域
　２０１　　第１リードフレーム
　２０１ｂ　パワー素子用中継リード
　２０２　　第２リードフレーム
　２０２ｂ　制御素子用中継リード
　２０３Ａ　防錆有機膜
　２０４　　外装体
　２０６　　ろう材
　２０７　　ワイヤ
　２０９　　銀ペースト材
　２１０　　ワイヤ
　２１１　　絶縁シート
　２１２　　接合部
　２３０　　接合部を含む領域
　Ｔ１　　　パワー素子
　Ｔ２　　　制御素子

Claims (20)

  1. 　金属からなる第１被接合部材の接合部形成領域の上に、酸化膜除去剤を含む溶液を配置した後、前記第１被接合部材の上に金属からなる第２被接合部材を載置し、
    　前記第１被接合部材の接合部形成領域に、荷重を印加することにより、前記第１被接合部材と前記第２被接合部材とを互いに接合して接合体を製造する、接合体の製造方法。
  2. 　請求項１において、
    　前記酸化膜除去剤は、水酸化カリウムであり、前記溶液における該水酸化カリウムの濃度は２％以下である、接合体の製造方法。
  3. 　請求項１又は２において、
    　前記溶液は、酸化防止剤を含む、接合体の製造方法。
  4. 　請求項３において、
    　前記酸化防止剤は、ジエチルエタノールアミンであり、前記溶液における該ジエチルエタノールアミンの濃度は２％以下である、接合体の製造方法。
  5. 　請求項３又は４において、
    　前記溶液は、レオロジーコントロール剤を含む、接合体の製造方法。
  6. 　請求項５において、
    　前記レオロジーコントロール剤は、ポリプロピレングリコール又はポリエチレングリコールであり、前記溶液における該ポリプロピレングリコール又はポリエチレングリコールの濃度は２％以下である、接合体の製造方法。
  7. 　請求項１又は２において、
    　前記第１被接合部材と前記第２被接合部材とを接合した後に、
    　接合した前記第１被接合部材と前記第２被接合部材との接合部を酸化性雰囲気にさらすことにより、前記接合部の周囲に酸化膜が形成された接合体を製造する、接合体の製造方法。
  8. 　請求項１～７のいずれか１項において、
    　少なくとも前記第１被接合部材に、前記接合部形成領域の周囲を囲む凹部又は凸部が形成されている、接合体の製造方法。
  9. 　請求項１～８のいずれか１項において、
    　前記第１被接合部材の前記接合部形成領域に荷重を印加する際に、前記第１被接合部材及び前記第２被接合部材の少なくとも一方を加熱する、接合体の製造方法。
  10. 　請求項１～９のいずれか１項において、
    　前記第１被接合部材の前記接合部形成領域に荷重を印加する際に、前記第１被接合部材及び前記第２被接合部材の少なくとも一方に超音波振動を印加する、接合体の製造方法。
  11. 　請求項１～１０のいずれか１項において、
    　前記第１被接合部材及び前記第２被接合部材は、銅、アルミニウム、ニッケル若しくは鉄からなる金属、又はこれらのうちの１つを主成分とする合金である、接合体の製造方法。
  12. 　請求項１～１１のいずれか１項に記載の接合体の製造方法を用いて接合体を製造した後、前記接合体を封止してパワー半導体装置を製造する、パワー半導体装置の製造方法。
  13. 　それぞれ金属からなる第１被接合部材及び第２被接合部材の接合部の周囲に腐食防止膜が形成された、接合体。
  14. 　請求項１３において、
    　前記腐食防止膜は、前記第１被接合部材又は前記第２被接合部材における前記接合部の周囲の新生面上に直接形成された、接合体。
  15. 　請求項１３又は１４において、
    　前記接合部の周囲において、前記第１被接合部材及び前記第２被接合部材のそれぞれにフィレット形状が形成され、前記フィレット形状の前記第１被接合部材及び前記第２被接合部材の表面に前記腐食防止膜が形成された、接合体。
  16. 　請求項１５において、
    　前記腐食防止膜は、ジエチルエタノールアミンにより構成された、接合体。
  17. 　請求項１３～１６のいずれか１項において、
    　前記接合部の周囲における前記第１被接合部材と前記第２被接合部材との間隔は、０．５μｍ以上且つ１００μｍ以下である、接合体。
  18. 　請求項１３～１７のいずれか１項において、
    　前記第１被接合部材及び前記第２被接合部材は、リードフレーム又はバスバーであり、
    　前記リードフレーム又はバスバーは、銅若しくは銅を主成分とする合金、又は鉄若しくは鉄を主成分とする合金である、接合体。
  19. 　請求項１３～１８のいずれか１項に記載の接合体を有する、パワー半導体装置。
  20. 　請求項１９において、
    　少なくとも前記第１被接合部材に、前記接合部の周囲を囲む凹部又は凸部が形成されている、パワー半導体装置。
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