WO2012172907A1 - 細隙灯顕微鏡 - Google Patents

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WO2012172907A1
WO2012172907A1 PCT/JP2012/062464 JP2012062464W WO2012172907A1 WO 2012172907 A1 WO2012172907 A1 WO 2012172907A1 JP 2012062464 W JP2012062464 W JP 2012062464W WO 2012172907 A1 WO2012172907 A1 WO 2012172907A1
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WO
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observation
setting state
illumination
unit
slit
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Application number
PCT/JP2012/062464
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
卓巳 内山
Original Assignee
株式会社トプコン
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by 株式会社トプコン filed Critical 株式会社トプコン
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Priority to US14/122,877 priority patent/US9364146B2/en
Publication of WO2012172907A1 publication Critical patent/WO2012172907A1/ja

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    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
    • A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
    • A61B3/13—Ophthalmic microscopes
    • A61B3/135—Slit-lamp microscopes

Definitions

  • This invention relates to a slit lamp microscope.
  • the slit lamp microscope is an ophthalmologic apparatus for illuminating a subject's eye with slit light and magnifying and observing this irradiation field (see, for example, Patent Document 1).
  • observation includes at least one of observation with the naked eye and photographing with an image sensor.
  • the slit lamp microscope is used for observing various parts of the eye to be examined. Observation sites include the entire anterior segment, cornea, sclera, iris, lens, conjunctiva, chamber, corner, vitreous, and retina.
  • the diffuse illumination method is an observation method performed by illuminating the eye to be examined with diffused light obtained using a diffuser lens or a diffuser plate.
  • the direct illumination method is an observation method performed by irradiating an eye to be examined without diffusing light from a light source.
  • the background illumination method is an observation technique performed by irradiating illumination light in the vicinity of an observation site and illuminating the observation site with the reflected light.
  • Fluorescence staining photography is an observation technique performed by staining an eye to be examined with a fluorescent contrast agent (fluorescein) and illuminating illumination light through a blue filter.
  • the tangential illumination method is an observation method performed by irradiating illumination light from the side to an observation site.
  • the transillumination method is an observation method in which slit light is irradiated from the edge of the pupil so that reflection from the fundus is maximized.
  • Photographing with a corner mirror is an observation method performed by illuminating a corner by placing a corner mirror on the cornea of the eye to be examined.
  • Shooting with an auxiliary lens is an observation technique performed by illuminating the fundus using a trihedral mirror, an aspheric lens, or the like. In the inspection using the slit lamp microscope, an observation site and an observation technique are arbitrarily combined and applied.
  • the optical system settings such as irradiation angle, illumination light quantity, observation magnification, slit width, filter, exposure (light receiving sensitivity, shutter speed, aperture value, etc.) are selected according to the selection of the observation site and observation method. ) Etc. need to be switched appropriately.
  • the present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a slit lamp microscope capable of appropriately and easily setting an optical system.
  • a slit lamp microscope includes a light source that outputs illumination light, a slit forming portion that forms a slit whose slit width can be changed, and an optical path of the illumination light.
  • a diffusing member that is detachable with respect to the optical path, and a filter that is detachable with respect to the optical path, irradiates the eye with the illumination light that has passed through the slit, and the illumination light
  • An illumination system capable of changing the amount of light and the irradiation angle; a background illumination system that irradiates background illumination light to a region around the illumination light irradiation field; and a variable magnification optical system for changing the observation magnification.
  • a storage unit that stores in advance correspondence information in which reference setting conditions are respectively associated with an angle value, presence / absence of irradiation of the background illumination light, presence / absence of the diffusion member in the optical path, and presence / absence of the filter in the optical path
  • a designation unit that designates a part of the eye to be examined, a search unit that retrieves the reference setting condition corresponding to the designated part from the correspondence information, a value of the observation magnification, a value of the slit width, The current setting state is acquired for each of the value of the amount of illumination light, the value of the irradiation angle, the presence / absence of irradiation of the background illumination light, the presence / absence of the diffusion member
  • a control unit for displaying the information based on the display unit is a slit lamp microscope comprising: a.
  • the invention according to claim 2 includes a light source that outputs illumination light and a slit forming unit that forms a slit whose slit width can be changed, and irradiates the eye to be examined with the illumination light that has passed through the slit.
  • an illumination system capable of changing the light amount and the irradiation angle of the illumination light, and a variable magnification optical system for changing the observation magnification, and the reflected light of the illumination light from the eye to be examined is respectively applied to the imaging device and the eyepiece
  • a storage unit that stores in advance correspondence information in which a reference setting condition of the illumination system and / or the observation system is associated with each of a plurality of parts of the eye to be examined;
  • a designation unit for designating a part of the eye to be examined, a search unit for retrieving the reference setting condition corresponding to the designated part from the correspondence information, and a current setting state of the illumination system and / or the observation system.
  • the invention according to claim 3 is the slit lamp microscope according to claim 1 or 2, wherein the control unit is configured to use the specified current setting state as information based on the specifying result. Is displayed in a manner different from the current setting state that matches the reference setting condition.
  • the invention according to claim 4 is the slit lamp microscope according to claim 1 or 2, wherein the control unit is configured to perform the illumination system and / or the based on the retrieved reference setting condition. The observation system is controlled to change the specified current setting state.
  • the invention according to claim 5 is the slit lamp microscope according to claim 4, further comprising a moving mechanism for moving the illumination system and the observation system in the left-right direction, wherein the acquisition unit Acquiring the positions of the illumination system and the observation system in a direction as the current setting state, and the control unit changes the specified current setting state based on the acquired position.
  • the invention according to claim 6 is the slit lamp microscope according to claim 4, wherein the control unit gives an instruction to change the specified current setting state together with information based on the specification result. An operation key for inputting is displayed on the display unit, and the current setting state is changed in response to the operation key being operated.
  • the invention described in claim 6 can be applied to the invention described in claim 5.
  • the invention described in claim 7 is the slit lamp microscope according to claim 1 or 2, wherein the correspondence information includes at least one observation method for each of the plurality of parts.
  • the reference setting conditions are associated with each other, and the control unit displays information based on the identification result for each of the observation methods associated with the designated region.
  • the invention according to claim 8 is the slit lamp microscope according to claim 2, wherein the correspondence information includes a value of the observation magnification and a slit width for each of the plurality of parts.
  • the reference setting condition is associated with at least one of a value, a value of the amount of illumination light, and a value of the irradiation angle
  • the acquisition unit includes the value of the observation magnification, the slit width
  • the present setting state is acquired for each of a value, a value of the amount of illumination light, and a value of the irradiation angle.
  • the invention according to claim 9 is the slit lamp microscope according to claim 8, wherein the illumination system is a diffusion that allows the illumination light to be inserted into and removed from the optical path of the illumination light.
  • the correspondence information is associated with the reference setting condition for the presence or absence of the diffusing member in the optical path for each of the plurality of parts, and the acquisition unit is configured to perform the diffusion in the optical path.
  • the present setting state about the presence or absence of a member is acquired.
  • the invention according to claim 10 is the slit lamp microscope according to claim 8, further comprising a background illumination system that irradiates background illumination light to a peripheral region of the illumination light irradiation field, and the correspondence information.
  • the acquisition unit is configured to determine whether the background illumination light is present or not.
  • the setting state is acquired. Further, the invention described in claim 10 can be applied to the invention described in claim 9.
  • the invention described in claim 11 is the slit lamp microscope according to claim 8, wherein the illumination system includes a filter that can be inserted into and removed from the optical path, and the correspondence information includes:
  • the reference setting condition for the presence or absence of the filter in the optical path is associated with each of a plurality of parts, and the acquisition unit acquires the current setting state for the presence or absence of the filter in the optical path. It is characterized by that. Further, the invention described in claim 11 can be applied to the invention described in claim 9 or 10.
  • the invention according to claim 12 is the slit lamp microscope according to claim 1 or claim 8, wherein the illumination system includes an illumination diaphragm whose aperture value can be changed, and the correspondence information includes The reference setting condition for the aperture value is associated with each of the plurality of parts, and the acquisition unit acquires the current setting state for the aperture value.
  • the invention described in claim 12 can be applied to the invention described in any one of claims 9-11.
  • the invention described in claim 13 is the slit lamp microscope according to claim 1 or claim 8, wherein the correspondence information includes the light receiving sensitivity of the imaging device for each of the plurality of parts.
  • the reference setting conditions are associated with each other, and the acquisition unit acquires the current setting state of the light receiving sensitivity.
  • the invention described in claim 13 can be applied to the invention described in any one of claims 9-12.
  • the invention according to claim 14 is the slit lamp microscope according to claim 1 or claim 8, wherein the correspondence information includes the charge accumulation of the imaging device for each of the plurality of parts.
  • the reference setting condition for time is associated, and the acquisition unit acquires the current setting state for the charge accumulation time.
  • the invention described in claim 14 can be applied to the invention described in any one of claims 9-13.
  • the invention according to claim 15 is the slit lamp microscope according to claim 1 or claim 8, wherein the optical axis of the observation system is deflectable, and the correspondence information includes the plurality of the correspondence information.
  • the reference setting condition for the direction of the optical axis is associated with each part, and the acquisition unit acquires the current setting state for the direction of the optical axis.
  • the invention described in claim 15 can be applied to the invention described in any one of claims 9-14.
  • the apparatus optical system can be set appropriately and easily.
  • the direction from the lens (objective lens) located closest to the subject in the apparatus optical system to the subject is defined as the front direction, and the opposite direction is defined as the rear direction.
  • the horizontal direction orthogonal to the front direction is the left-right direction.
  • the direction orthogonal to both the front-rear direction and the left-right direction is defined as the up-down direction.
  • a computer 100 is connected to the slit lamp microscope 1.
  • the computer 100 performs various control processes and arithmetic processes.
  • a configuration in which the same computer is mounted on the microscope main body can be applied.
  • the slit lamp microscope 1 is placed on a table 2.
  • the computer 100 may be installed on another table or in another place.
  • the base 4 is configured to be movable in the horizontal direction via the moving mechanism unit 3. The base 4 is moved by tilting the operation handle 5.
  • a support portion 15 that supports the observation system 6 and the illumination system 8 is provided on the upper surface of the base 4.
  • a support arm 16 that supports the observation system 6 is attached to the support unit 15 so as to be rotatable in the left-right direction.
  • a support arm 17 that supports the illumination system 8 is attached to an upper portion of the support arm 16 so as to be rotatable in the left-right direction.
  • the support arms 16 and 17 are independently coaxially rotatable.
  • the optical axis of the observation system 6 can be deflected by rotating the support arm 16 (that is, the observation direction can be changed).
  • the optical axis of the illumination system 8 can be deflected by rotating the support arm 17 (that is, the illumination direction can be changed).
  • the support arms 16 and 17 may be configured to be rotated by an electric mechanism, or may be configured to be manually rotated.
  • an actuator that generates a driving force for rotating the support arm 16 (or the support arm 17), and a transmission mechanism that transmits the driving force and rotates the support arm 16 (or the support arm 17).
  • the actuator is constituted by, for example, a stepping motor (pulse motor).
  • the transmission mechanism is constituted by, for example, a combination of gears, a rack and pinion, or the like.
  • the illumination system 8 may be configured to swing in the vertical direction. That is, you may be comprised so that the elevation angle and depression angle of illumination light can be changed.
  • the mechanism for rotating the illumination system 8 is electrically or manually driven, similar to that of the observation system 6. The same applies to the observation system 6.
  • the observation system 6 has a pair of left and right optical systems that guide reflected light of illumination light from the eye E.
  • This optical system is housed in the barrel main body 9.
  • the end of the lens barrel body 9 is an eyepiece 9a. The examiner looks at the eye E with the naked eye by looking into the eyepiece 9a.
  • the reflected light of the illumination light includes various kinds of light passing through the eye E such as scattered light, for example, and these various kinds of light are referred to as “reflected light”.
  • a light source background light source 70 shown in FIG. 2 that outputs background light is provided at a peripheral position of the observation system 6.
  • a chin rest 10 is disposed at a position facing the lens barrel body 9.
  • the chin rest 10 is provided with a chin rest 10a and a forehead rest 10b for stably arranging the face of the subject.
  • An observation magnification operation knob 11 for changing the observation magnification is disposed on the side surface of the lens barrel body 9.
  • the observation magnification can be changed by an electric mechanism.
  • an imaging device 13 for photographing the eye E is connected to the barrel main body 9.
  • the imaging device 13 includes an imaging element.
  • the imaging element is a photoelectric conversion element that detects light and outputs an electrical signal (image signal).
  • the image signal is input to the computer 100.
  • a CCD (Charge Coupled Device) image sensor or a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) image sensor is used as the imaging element.
  • a mirror 12 that reflects the illumination light beam output from the illumination system 8 toward the eye E is disposed below the illumination system 8.
  • the diffusion plate 60 shown in FIG. The diffusion plate 60 uniformly irradiates the eye E with the illumination light by diffusing the illumination light.
  • the diffusing plate 60 may be an optical member having only a diffusing function, or may be an optical member having a diffusing mechanism and a lens function.
  • the diffusion plate 60 is an example of a “diffusion member”.
  • the configuration of the optical system of the slit lamp microscope 1 will be described with reference to FIG.
  • the slit lamp microscope 1 has an observation system 6 and an illumination system 8.
  • the observation system 6 includes a pair of left and right optical systems.
  • the left and right optical systems have substantially the same configuration.
  • the examiner can observe the eye E with binoculars using the left and right optical systems.
  • Reference numeral O ⁇ b> 1 is an optical axis (observation optical axis) of the observation system 6.
  • the change in the observation direction with respect to the eye E described above corresponds to changing the angle (observation angle) of the observation optical axis O1 with respect to a predetermined reference position.
  • Each of the left and right optical systems of the observation system 6 includes an objective lens 31, a variable magnification optical system 32, a diaphragm 33, a relay lens 35, a prism 36, and an eyepiece lens 37.
  • the beam splitter 34 is provided in only one or both of the left and right optical systems.
  • the eyepiece lens 37 is provided in the eyepiece 9a.
  • a symbol P indicates an imaging position of light guided to the eyepiece lens 37.
  • Reference sign Ec represents the cornea of the eye E
  • reference sign Ep represents the iris
  • reference sign Er represents the fundus.
  • Reference Eo indicates the examiner's eye.
  • the variable power optical system 32 includes a plurality of (for example, two) variable power lenses 32a and 32b.
  • the variable power lenses 32a and 32b are movable along the observation optical axis O1. Thereby, the magnification (field angle) of the naked eye observation image of the eye E and the captured image can be changed.
  • the magnification is changed by operating the observation magnification operation knob 11. Moreover, you may comprise so that a magnification may be electrically changed using a switch etc. which are not illustrated.
  • the beam splitter 34 divides the light traveling along the observation optical axis O1 into two.
  • the light transmitted through the beam splitter 34 is guided to the examiner's eye Eo via the relay lens 35, the prism 36 and the eyepiece lens 37.
  • the prism 36 includes two optical elements 36a and 36b, and translates the traveling direction of light upward.
  • the light reflected by the beam splitter 34 is guided to the imaging element 43 of the imaging device 13 through the relay lens 41 and the mirror 42.
  • the image sensor 43 detects the reflected light and generates an image signal.
  • the illumination system 8 includes a light source 51, a relay lens 52, an illumination diaphragm 56, a condenser lens 53, a slit forming unit 54, a filter 57, a condenser lens 55, and a diffusion plate 60.
  • a symbol O2 indicates the optical axis of the illumination system 8 (illumination optical axis).
  • the change of the illumination direction with respect to the eye E described above corresponds to changing the angle (illumination angle) of the illumination optical axis O2 with respect to a predetermined reference position.
  • the illumination angle corresponds to an “irradiation angle”.
  • the light source 51 outputs illumination light.
  • a plurality of light sources may be provided in the illumination system 8.
  • a light source halogen lamp, LED, etc.
  • a light source xenon lamp, LED, etc.
  • a light source for corneal observation and a light source for fundus observation may be provided separately.
  • the slit forming unit 54 forms a slit for generating slit light (slit light).
  • the slit forming part 54 has a pair of slit blades.
  • the slit width is changed by changing the interval between the slit blades.
  • the slit width when the interval between the slit blades is maximized may be equal to or greater than the beam diameter of the illumination light.
  • the illumination light in this case may also be referred to as slit light for convenience.
  • the illumination stop 56 shields the peripheral edge of the illumination light and transmits only the central portion.
  • the size of the translucent part of the illumination diaphragm 56 may be configured to be changeable (that is, the aperture value may be configured to be changed).
  • the illumination stop 56 has effects such as reducing the reflection of illumination light by the cornea Ec and the crystalline lens, and adjusting the brightness of the illumination light.
  • the filter 57 is generally an optical element having an action of removing or weakening a specific component of illumination light.
  • the filter 57 is, for example, a blue filter (a filter that particularly transmits a wavelength component corresponding to blue) used in fluorescence observation of the eye E.
  • the filter 57 can be inserted into and removed from the optical path of the illumination light.
  • the diffusion plate 60 diffuses the illumination light as described above.
  • the diffusion plate 60 can be inserted into and removed from the optical path of the illumination light.
  • Control system configuration A control system of the slit lamp microscope 1 will be described with reference to FIG.
  • the control system of the slit lamp microscope 1 is configured around the control unit 101. Note that FIG. 3 shows only components that are particularly focused on in this embodiment, and other components are omitted.
  • the control unit 101 controls each unit of the slit lamp microscope 1.
  • the control unit 101 controls the observation system 6 and the illumination system 8.
  • Control of the observation system 6 includes control of the diaphragm 33 and control of the image sensor 43.
  • Control of the image sensor 43 includes control of charge accumulation time, control of light receiving sensitivity, control of frame rate, and the like.
  • the control unit 101 controls the zoom mechanism 132 to change the magnification by the zoom optical system 32.
  • the control unit 101 controls the observation system rotation mechanism 106 to rotate the observation system 6 in the left-right direction around the support arm 16. Note that the observation system rotation mechanism 106 may be configured to rotate the observation system 6 in the vertical direction under the control of the control unit 101.
  • Each of the zooming mechanism and the observation system rotating mechanism 106 includes an actuator and a transmission mechanism.
  • Control of the illumination system 8 includes control of the light source 51 and control of the slit forming unit 54.
  • the control unit 101 controls the aperture driving mechanism 156 to change the aperture value of the illumination aperture 56.
  • the control unit 101 controls the filter driving mechanism 157 to insert / remove the filter 57 with respect to the optical path.
  • the control unit 101 controls the diffusion plate driving mechanism 160 to insert / remove the diffusion plate 60 with respect to the optical path.
  • the control unit 101 controls the illumination system rotation mechanism 108 to rotate the illumination system 8 in the left-right direction around the support arm 17 as an axis.
  • the illumination system rotation mechanism 108 may be configured to move the illumination system 8 in the vertical direction under the control of the control unit 101.
  • Each of the slit forming unit 54, the diaphragm driving mechanism 156, the filter driving mechanism 157, the diffusion plate driving mechanism 160, and the illumination system rotating mechanism 108 includes an actuator and a transmission mechanism.
  • the control unit 101 controls the moving mechanism unit 3 to move the observation system 6 and the illumination system 8 in the left-right direction.
  • the moving mechanism unit 3 is an example of a “moving mechanism”.
  • the control unit 101 controls the background light source 70 to output background light.
  • the control unit 101 performs a process of reading data stored in the storage unit 102 and a process of writing data to the storage unit 102.
  • the control unit 101 includes a microprocessor, a RAM, a ROM, a hard disk drive, and the like.
  • This hard disk drive stores a control program in advance. The operation of the control unit 101 is realized by the cooperation of this control program and the hardware.
  • the control unit 101 is disposed in the apparatus main body (for example, in the base 4) of the slit lamp microscope 1 or the computer 100.
  • the storage unit 102 stores various data and computer programs.
  • the storage unit 102 includes a storage device such as a RAM, a ROM, and a hard disk drive.
  • the storage unit 102 stores reference setting condition information 110.
  • the reference setting conditions of the observation system 6 and the illumination system 8 are associated with each of a plurality of parts of the eye to be examined.
  • the reference setting condition is an optical system setting condition when observing a certain part of the eye to be examined.
  • the reference setting condition is included in the observation system 6 and the illumination system 8 applied when observing a certain part of the eye to be examined.
  • the operation state of the member to be used is shown.
  • the reference setting condition information 110 is an example of “correspondence information”.
  • the reference setting condition information 110 is stored in the storage unit 102 before inspection.
  • the reference setting condition information 110 may be default information stored at the time of shipment or delivery of the device, or may be created for each user. Further, the user or the like can change the reference setting condition information 110 as appropriate.
  • FIG. 1 An example of the standard setting condition information 110 is shown in FIG.
  • items “part”, “observation method”, “magnification”, “slit width”, “light quantity”, “illumination angle”, “background illumination”, “diffuser plate” are included.
  • a “filter” is provided.
  • “anterior segment”, “conjunctiva”, “cornea”, “iris”, “crystal”, “corner”, “vitreous” and “retina” Is listed.
  • observation method “diffuse illumination”, magnification “16”, slit width “fully open”, light quantity “3-4”, illumination angle “10-30 °”, background illumination “ “No”, diffusion plate “present”, and filter “none” are associated with each other.
  • the amount of light is expressed in five levels (1 to 5: the larger the number, the larger the amount of light).
  • the illumination angle is expressed as an angle in the left-right direction of the illumination optical axis O2 with respect to a vertical plane (a plane extending in the vertical direction and the front-rear direction) including the photographing optical axis O1. Note that the direction of the illumination angle with respect to the vertical plane (whether the angle is to the left or to the right) depends on whether the eye E is the left eye or the right eye, so the reference setting condition This is not taken into account in the information 110.
  • the other part columns are the same as the anterior segment.
  • Two or more observation methods are associated with the cornea column and the lens column.
  • a reference setting condition such as a magnification is associated with each combination of the region and the observation method.
  • the item of the diffuser in the iris column is “present / absent”, which means that the diffuser 60 is used for wide-area observation and not used otherwise.
  • Whether or not the observation range is a wide area is determined according to the observation magnification, for example. Specifically, wide-area observation is performed when the observation magnification is equal to or smaller than a predetermined threshold value, and narrow-area observation is performed otherwise.
  • the display unit 103 displays various information under the control of the control unit 101.
  • the display unit 103 includes an arbitrary display device such as a flat panel display such as an LCD or a CRT display.
  • the display unit 103 may be provided in the apparatus main body of the slit lamp microscope 1 or may be provided in the computer 100.
  • the operation unit 104 includes an operation device and an input device.
  • the operation unit 104 includes buttons and switches (for example, the operation handle 5) provided on the apparatus main body, a mouse of the computer 100, a keyboard, and the like. It is also possible to use any operation device or input device such as a trackball, a dedicated operation panel, a switch, a button, or a dial.
  • the display unit 103 and the operation unit 104 are shown separately, but they can also be configured integrally.
  • a touch panel LCD can be used.
  • the data processing unit 120 performs various data processing.
  • the data processing unit 120 includes a search unit 121, a setting state acquisition unit 122, and a setting state identification unit 123.
  • the search unit 121 searches the reference setting condition information 110 for a reference setting condition corresponding to the part of the eye E to be examined designated by the user. For example, when “cornea” is designated by the user, four sets of reference setting conditions corresponding to the cornea are retrieved from the reference setting condition information 110.
  • the setting state acquisition unit 122 acquires the current setting state of the illumination system 8 and the observation system 6.
  • the setting state specifying unit 123 is an example of an “acquisition unit”.
  • the control unit 101 grasps and stores the control content for each unit. Therefore, the setting state acquisition unit 122 acquires the current setting state of each unit from the control unit 101.
  • the control items that the setting state acquisition unit 122 inquires of the control unit 101 include items included in the reference setting condition information 110 (in this embodiment, a magnification value, a slit width value, a light amount value, an illumination angle value, Whether or not the background illumination is used (and the amount of light), whether or not the diffusion plate 50 is used, and whether or not the filter 57 is used is sufficient.
  • the setting state acquisition unit 122 Another example of the setting state acquisition unit 122 will be described.
  • all of the current setting states are acquired from the control unit 101.
  • This configuration is particularly effective when the setting state is changed manually.
  • a sensor potentiometer or the like
  • the current magnification value can be obtained based on the output.
  • Appropriate sensors are also used for the slit width value, light quantity value, illumination angle value, whether or not background illumination is used, whether or not the diffusion plate 60 is used, and whether or not the filter 57 is used. Etc.) can be obtained.
  • the setting state specifying unit 123 specifies a current setting state acquired by the setting state acquisition unit 122 that is different from the reference setting condition searched by the search unit 121.
  • the setting state specifying unit 123 is an example of a “specifying unit”.
  • the setting state specifying unit 123 executes one of the following two processes: .
  • the setting state specifying unit 123 executes the process for the reference setting conditions of the plurality of observation techniques searched by the search unit 121.
  • the setting state specifying unit 123 executes the process only for the designated observation technique after the observation technique is designated.
  • the search unit 121 sets four criteria setting conditions in which the item “region” is “cornea”, that is, the item “observation technique” is “diffuse illumination”, “direct illumination” ”,“ Background illumination ”, and“ fluorescence staining ”, four sets of reference setting conditions are obtained as search results.
  • the setting state acquisition unit 122 displays the current setting state for each of the items “magnification”, “slit width”, “light quantity”, “illumination angle”, “background illumination”, “diffuser plate”, and “filter”. get.
  • the setting state specifying unit 123 acquires the value (including the state) recorded in each item and the item for each of the four sets of reference setting conditions searched. The current setting state is compared, and it is determined whether or not both match. When the former indicates a range (for example, the amount of light “3-4”), it is determined whether the latter is included in the former. Thereby, the setting state specifying unit 123 specifies, in each set of reference setting conditions, a value in which the value recorded in the reference setting condition information 110 for each item is different from the current setting state.
  • the user designates a desired observation method using the operation unit 104. It is also possible to specify an observation method from the electronic medical record of the subject and designate it. It is also possible to specify an observation method based on the current setting state acquired by the setting state acquisition unit 122 and to specify the observation method (for example, an observation method that most closely matches the current setting state). Can be configured to select). When a plurality of inspections are performed in a predetermined order, an observation method corresponding to the next inspection can be specified and specified based on this order.
  • the setting state specifying unit 123 acquires the value (including the state) recorded in each item and the item for the reference setting condition of each item corresponding to the designated observation method.
  • the current setting state is compared, and it is determined whether or not both match.
  • a value in which the value recorded in the reference setting condition information 110 is different from the current setting state is specified.
  • Step 1 The examiner designates an observation target portion of the eye E to be examined. This operation is performed, for example, by selecting a desired one from the list of observation target parts presented on the display screen using the operation unit 104.
  • Step 2 The search unit 121 searches the reference setting condition information 110 for a reference setting condition corresponding to the observation target region specified in step 1.
  • the setting state acquisition unit 122 includes an observation magnification value, a slit width value, an illumination light amount value, an illumination light irradiation angle value, background illumination light irradiation presence / absence, a diffusion plate 60 presence / absence in the illumination light path, and The current setting state is acquired for each of the presence or absence of the filter 57 in the illumination optical path.
  • Step 4 The setting state specifying unit 123 specifies a current setting state acquired in step 3 that is different from the reference setting condition searched in step 2.
  • Step 5 The control unit 101 causes the display unit 103 to display information based on the identification result in step 4.
  • This display information presents, for example, the current setting state specified in step 4 in a mode different from the current setting state that matches the reference setting condition.
  • FIG. 6 shows a display example when the cornea is designated as the observation target site.
  • the control unit 101 causes the display unit 103 to display a setting operation screen 170 shown in FIG.
  • the setting operation screen 170 includes an observation target part display unit 171, a setting content display unit 172, and a setting change button 173.
  • the observation target part specified in step 1 is displayed.
  • the character string “cornea” is displayed.
  • the setting content display unit 172 information based on the specific result in step 4 is displayed.
  • those determined to be different from the current setting state in step 4 are displayed. That is, only the reference setting conditions that are different from the current setting state are displayed, and the reference setting conditions that match the current setting state are not displayed.
  • the setting content display unit 172 also displays the current setting state.
  • the examiner can designate a desired one of the observation methods presented in the setting content display unit 172 using the operation unit 104.
  • This operation is, for example, a click operation with a mouse.
  • the control unit 101 deletes the display of information regarding the observation method that has not been designated. Thereby, only the information about the designated observation method is displayed. It is also possible to configure so that the information about the designated observation technique is presented in a mode (color, shaded, frame, etc.) different from the other information. In addition, it is desirable to configure so that another observation method can be designated again even after the observation method is once designated.
  • One example is a pull-down menu.
  • a configuration in which a desired setting can be input by operating the operation unit 104 is possible.
  • This input operation can be performed using, for example, a keyboard.
  • a software key for inputting information may be displayed on the display unit 103, and the input operation may be performed by operating the software unit using the operation unit 103 (such as a mouse).
  • the display area of each reference setting condition may be configured as a pull-down menu.
  • observation target part can be changed on the setting operation screen 170.
  • observation target region display unit 171 can be a pull-down menu.
  • control unit 101 updates the display content of the setting content display unit 172 by executing the above process again.
  • the setting change button 173 is an example of an operation key for inputting an instruction to change the current setting state specified in step 4.
  • the examiner designates a desired observation method. Furthermore, the examiner changes the presented reference setting conditions as needed.
  • Step 6 After the above operation, the examiner operates the setting operation button 173 by the operation unit 104 (for example, performs a click operation with a mouse).
  • Step 7 Upon receiving this operation, the control unit 101 controls each part of the apparatus based on the reference setting condition (or the changed setting condition if changed), thereby changing the setting state of each part of the apparatus and changing the reference setting. Match the conditions.
  • the control unit 101 controls the zoom mechanism 132 to change the magnification from “25 times” to “16 times”. Then, the illumination light quantity is changed from “1” to “3”, for example, by controlling the light source 51.
  • the automatic setting of the illumination light amount it is desirable to select the lowest light amount value in the range shown in the reference setting condition in order to reduce the possibility that the subject feels dazzling.
  • Step 8 After the above preparation, the examiner operates the operation unit 104 to start observation (including imaging) of the eye E.
  • the moving mechanism unit 3 moves the apparatus optical system in the left-right direction.
  • the apparatus optical system is moved to the right side, and when it is the right eye, the apparatus optical system is moved to the left side. Therefore, it is possible to determine whether the eye E is the left eye or the right eye based on the setting state of the movement mechanism unit 3.
  • control unit 101 controls the movement mechanism unit 3
  • the control unit 101 can recognize the current setting state of the movement mechanism unit 3.
  • a sensor position sensor or the like that detects the current setting state of the moving mechanism unit 3 is used.
  • the retrieval unit 121 retrieves the reference setting condition corresponding to the designated region (S2).
  • the setting state acquisition unit 122 acquires the current setting state of each part of the device (S3). At this time, information corresponding to the current setting state of the moving mechanism unit 3, that is, the current position of the apparatus optical system in the left-right direction is acquired. As an example of this information, there is the position in the left-right direction of the rotation axis (support arms 16, 17) of the observation system 6 and the illumination system 8.
  • the setting state specifying unit 123 specifies a current setting state different from the reference setting condition (S4).
  • the control unit 101 displays information (for example, the setting operation screen 170) based on the specific result in S4 on the display unit 103 (S5).
  • the control unit 101 changes the setting state of each part of the apparatus (S7).
  • the control unit 101 sets the illumination angle in a target setting state according to whether the eye E is the left eye or the right eye, that is, whether the apparatus optical system is on the right side or the left side. Change gradually.
  • the control unit 101 observes the current setting state of the moving mechanism unit 3, the current direction of the observation optical axis O1, the current illumination angle, and the illumination angle indicated in the reference setting condition. By gradually increasing the illumination angle with respect to the optical axis O1, the illumination angle indicated in the reference setting condition is realized.
  • the illumination angle is first adjusted to (in the vicinity of) the observation optical axis O1 and then gradually changed to the target angle. It is possible to configure so that At the stage of adjusting the illumination angle to the observation optical axis O1, the light source 51 may be turned on or off.
  • the current setting state of the illumination diaphragm 56 can be acquired based on the control content of the diaphragm drive mechanism 156 by the control unit 101.
  • a sensor for detecting information corresponding to the aperture value is provided.
  • a position sensor for example, a potentiometer for detecting the rotation state of the knob
  • the retrieval unit 121 retrieves the reference setting condition corresponding to the designated region (S2).
  • the reference setting condition information 110 includes a reference setting condition for the aperture value of the illumination stop 56, this is also searched.
  • This aperture value is related to the amount of illumination light. That is, when the amount of light is large (small), the aperture value is also large (small).
  • the reference setting condition information 110 may be a record of one light quantity value and one aperture value, or may be a record in which a light quantity value range and an aperture value range are associated with each other. .
  • the setting state acquisition unit 122 acquires the current setting state of each part of the device (S3). At this time, information corresponding to the current setting state of the illumination aperture 56, that is, the current aperture value of the illumination aperture 56 is acquired.
  • the setting state specifying unit 123 specifies a current setting state different from the reference setting condition (S4).
  • S4 a comparison process between the reference setting condition and the current aperture value is executed.
  • the control unit 101 displays information (for example, the setting operation screen 170) based on the specific result in S4 on the display unit 103 (S5).
  • the control unit 101 changes the setting state of each part of the apparatus (S7). At this time, the control unit 101 changes the aperture value of the illumination aperture 56.
  • the aperture value is gradually decreased from a state where the aperture value is large (including a state where the illumination aperture 56 is closed) in a state where the light quantity is constant.
  • control may be performed so that the light amount is gradually increased from a state in which the light amount is small (including a state in which the light is extinguished) with a constant aperture value. It is also possible to control the amount of light irradiated to the eye E (that is, the amount of illumination light passing through the illumination aperture 56) to be gradually increased by synchronously controlling the amount of light and the aperture value.
  • the image sensor 43 is controlled by the control unit 101. Therefore, the control unit 101 recognizes the current setting state of the light receiving sensitivity of the image sensor 43. When the user manually sets the light receiving sensitivity of the image sensor 43, a signal indicating the setting state can be transmitted from the image sensor 43 to the control unit 101.
  • the retrieval unit 121 retrieves the reference setting condition corresponding to the designated region (S2).
  • the reference setting condition information 110 includes the reference setting condition of the light receiving sensitivity of the image sensor 43, this is also searched.
  • This light receiving sensitivity is related to the amount of illumination light. That is, the maximum value of the amount of illumination light irradiated to the eye to be examined is determined from the viewpoint of safety, and the light receiving sensitivity is set based on this maximum amount of light. In order to reduce noise, it is desirable to use a light receiving sensitivity as low as possible.
  • the light receiving sensitivity reference setting condition recorded in the reference setting condition information 110 is determined in consideration of these conditions.
  • the reference setting condition information 110 may be a record of one value of light quantity and one value of light reception sensitivity, or may be a record of associating a range of light quantity values with a range of light reception sensitivity values. .
  • the setting state acquisition unit 122 acquires the current setting state of each part of the device (S3). At this time, the current setting state of the light receiving sensitivity of the image sensor 43 is acquired.
  • the setting state specifying unit 123 specifies a current setting state different from the reference setting condition (S4). If the reference setting condition for the light receiving sensitivity of the image sensor 43 is retrieved in S2, a comparison process between the reference setting condition and the current light receiving sensitivity is executed. On the other hand, when the reference setting condition of the light receiving sensitivity of the image sensor 43 is not searched in S2, it is not necessary to perform a comparison process regarding the light receiving sensitivity.
  • the control unit 101 displays information (for example, the setting operation screen 170) based on the specific result in S4 on the display unit 103 (S5).
  • the control unit 101 changes the setting state of each part of the apparatus (S7). At this time, the control unit 101 changes the light receiving sensitivity of the image sensor 43.
  • the image sensor 43 is controlled by the control unit 101. Therefore, the control unit 101 recognizes the current setting state of the charge accumulation time of the image sensor 43. When the user manually sets the charge accumulation time of the image sensor 43, a signal indicating the setting state can be transmitted from the image sensor 43 to the control unit 101.
  • the retrieval unit 121 retrieves the reference setting condition corresponding to the designated region (S2).
  • the reference setting condition information 110 includes a reference setting condition for the charge accumulation time of the image sensor 43, this is also searched.
  • This charge accumulation time is related to the amount of illumination light, the emission time of illumination light (during shooting with flash light), light reception sensitivity, and the like. That is, the charge accumulation time is a factor that determines exposure together with these conditions.
  • the reference setting condition of the charge accumulation time recorded in the reference setting condition information 110 is determined in consideration of these conditions.
  • the setting state acquisition unit 122 acquires the current setting state of each part of the device (S3). At this time, the current setting state of the charge accumulation time of the image sensor 43 is acquired.
  • the setting state specifying unit 123 specifies a current setting state different from the reference setting condition (S4). If a reference setting condition for the charge accumulation time of the image sensor 43 is retrieved in S2, a comparison process between the reference setting condition and the current charge accumulation time is executed. On the other hand, when the reference setting condition for the charge accumulation time of the image sensor 43 is not retrieved in S2, it is not necessary to perform a comparison process regarding the charge accumulation time.
  • the control unit 101 displays information (for example, the setting operation screen 170) based on the specific result in S4 on the display unit 103 (S5).
  • the control unit 101 changes the setting state of each part of the apparatus (S7). At this time, the control unit 101 changes the charge accumulation time of the image sensor 43.
  • the direction of the observation optical axis O1 is changed by the control unit 101 controlling the observation system rotation mechanism 106. Therefore, the control unit 101 recognizes the current setting state of the direction of the observation optical axis O1. When the user manually sets the direction of the observation optical axis O1, the setting state is detected by a sensor.
  • the retrieval unit 121 retrieves the reference setting condition corresponding to the designated region (S2).
  • the reference setting condition information 110 includes a reference setting condition in the direction of the observation optical axis O1, this is also searched.
  • the setting state acquisition unit 122 acquires the current setting state of each part of the device (S3). At this time, the current setting state in the direction of the observation optical axis O1 is acquired.
  • the setting state specifying unit 123 specifies a current setting state different from the reference setting condition (S4).
  • a reference setting condition for the direction of the observation optical axis O1 is retrieved in S2
  • a comparison process between the reference setting condition and the current direction of the observation optical axis O1 is executed.
  • the reference setting condition for the direction of the observation optical axis O1 is not retrieved in S2, it is not necessary to perform a comparison process regarding the direction of the observation optical axis O1.
  • the control unit 101 displays information (for example, the setting operation screen 170) based on the specific result in S4 on the display unit 103 (S5).
  • the control unit 101 changes the setting state of each part of the apparatus (S7). At this time, the control unit 101 changes the direction of the observation optical axis O1.
  • the slit lamp microscope 1 includes an illumination system 8, an observation system 6, a display unit 103, a storage unit 102, an operation unit 104, a data processing unit 120, and a control unit 101.
  • the illumination system 8 includes a light source 51 that outputs illumination light, and a slit forming unit 54 that forms a slit whose slit width can be changed.
  • the illumination system 8 irradiates the eye E with illumination light that has passed through the slit. Furthermore, the illumination system 8 can change the light quantity and irradiation angle of illumination light.
  • the observation system 6 includes a variable magnification optical system 32 for changing the observation magnification, and guides the reflected light of the illumination light from the eye E to the imaging device 43 and the eyepiece lens 37, respectively.
  • the storage unit 102 stores reference setting condition information 110 in advance.
  • the reference setting conditions of the illumination system 8 and the observation system 6 are associated with each of a plurality of parts of the eye E.
  • the reference setting condition may be only related to the illumination system 8, may be related only to the observation system 6, or may be related to both.
  • the operation unit 104 is an example of a “designation unit” for designating a part of the eye E to be examined.
  • the data processing unit 120 includes a search unit 121, a setting state acquisition unit 122, and a setting state identification unit 123.
  • the search unit 121 searches the reference setting condition information 110 for a reference setting condition corresponding to the part specified by the operation unit 104.
  • the setting state acquisition unit 122 acquires the current setting state of the illumination system 8 and the observation system 8.
  • the setting state specifying unit 123 specifies a current setting state acquired by the setting state acquisition unit 122 that is different from the reference setting condition searched by the search unit 121.
  • the control unit 101 causes the display unit 103 to display information based on the identification result.
  • the apparatus optical system can be set appropriately and easily.
  • control unit 101 is configured to display the specified current setting state as information based on the specification result by the setting state specifying unit 123 in a mode different from the current setting state that matches the reference setting condition. Has been.
  • control unit 101 controls the illumination system 8 and the observation system 6 based on the reference setting condition searched by the search unit 121 so as to change the current setting state specified by the setting state specifying unit 123. It is configured.
  • the setting state of each part of the apparatus can be automatically changed. Therefore, it is possible to facilitate the setting of the apparatus optical system. In addition, setting errors can be prevented.
  • the slit lamp microscope 1 includes a moving mechanism unit 3 that moves the illumination system 8 and the observation system 6 in the left-right direction. Furthermore, the setting state acquisition unit 122 acquires the positions of the illumination system 8 and the observation system 6 in the left-right direction as the current setting state of the apparatus optical system. And the control part 101 changes the present setting state specified by the setting state acquisition part 122 based on this acquired position.
  • control unit 101 causes the display unit 103 to display a setting change button 173 for inputting an instruction to change the specified current setting state, along with information based on the specifying result by the setting state specifying unit 123. Further, the control unit 101 changes the specified current setting state in response to the operation of the setting change button 173.
  • the user can instruct to change the setting state of each part of the apparatus to the reference setting condition after confirming the displayed reference setting condition. Further, it is possible to instruct change of the setting state after arbitrarily changing the displayed reference setting condition. Therefore, it is possible to easily and reliably realize the setting state desired by the user.
  • a reference setting condition for at least one observation technique is associated with each of a plurality of parts of the eye E.
  • the control part 101 displays the information based on the specific result by the setting state specific
  • the change process is executed in response to an instruction to change the setting state by the user.
  • the present invention is not limited to this.
  • Modification 3 A modification regarding the control of the observation magnification will be described. There is a limit to the amount of illumination light that can be applied to the eye E. In addition, it is desirable to perform an examination so that the subject does not feel excessive glare. In view of these circumstances, the following control can be performed.
  • the apparatus optical system When changing the setting to the target magnification, first set to a lower magnification (a lower magnification than the setting objective) where the amount of light may be small. At this time, a value less than the setting purpose is set for the light amount. Then, while observing the eye E with this low magnification, the apparatus optical system is positioned and focused with respect to the observation target region. After the completion of this work, observation is performed by changing both the magnification and the light amount to the set target values corresponding to a predetermined trigger. Prior to this observation, it is possible to precisely position and focus the apparatus optical system with respect to the site to be observed. Examples of the trigger include input of an instruction using the operation unit 104, detection of completion of alignment and completion of focus, and the like.
  • Modification 4 A modification regarding the control of the slit width will be described. As described in the modification example 3, it is desirable to suppress the illumination light amount for the eye E as much as possible. In consideration of this, when changing the slit width, it is possible to gradually change from a small slit width (including a closed state) to a setting target slit width. At this time, the amount of illumination light can be gradually reduced as the slit width increases. In other words, since the brightness of the illumination field is affected by the illumination light quantity and the slit width, the illumination field can be kept at an appropriate brightness by performing the interlock control between the slit width and the illumination light quantity as described above. Furthermore, the brightness of the illumination field can be kept almost constant. Similar interlocking control can be performed when the user finely adjusts the slit width.
  • Modification 5 The modification regarding control of the diffusion plate 60 is demonstrated.
  • the illumination light applied to the eye E is not slit light. Therefore, when the diffusing plate 60 is used, control can be performed so that slit light is not used (that is, the slit is fully opened). Conversely, when slit light is used, control can be performed so that the diffusing plate 60 is retracted from the optical path.
  • Modification 6 A modification regarding control of the filter 57 will be described. Generally, when the filter 57 is disposed in the optical path, the amount of illumination light applied to the eye E is reduced. Therefore, when the filter 57 is disposed in the optical path, interlocking control can be performed so as to increase the amount of illumination light. Conversely, when the filter 57 is retracted from the optical path, interlocking control can be performed so as to reduce the amount of illumination light.
  • the amount of change in the amount of illumination light when the filters are arranged in the optical path can be preset based on the light transmittance of each filter. It is also possible to detect the change in the amount of light when the filter is arranged in the optical path with a photodetector or the like and change the amount of illumination light based on the detection result.
  • the reference setting condition information 110 may be information (default) stored in advance in the apparatus, or other than the default, such as for each medical institution, for each examiner, for each subject, for each subject eye. It may be.
  • reference setting condition information 110 it is also possible to store a plurality of reference setting condition information 110 and selectively use them. For example, when the reference setting condition information 110 is stored for each examiner, that is, when the examiner ID and the reference setting condition information 110 are stored in association with each other, the examiner inputs his / her ID to the apparatus.
  • the control unit 101 retrieves the reference setting condition information 110 associated with the input examiner ID from the storage unit 102, and provides the subsequent processing.
  • the reference setting condition information 110 is selectively applied for each eye E, the reference setting condition information 110 is stored in association with the patient ID and the left and right eye information.
  • the patient ID is obtained by, for example, input from the operation unit 104 or automatic acquisition from an electronic medical record.
  • the left and right eye information is obtained by input from the operation unit 104, automatic acquisition from the electronic medical record, automatic acquisition of the position of the moving mechanism unit 3, and the like.
  • the control unit 101 can change the display mode of the display content related to the setting that has been changed.
  • the display content related to the light amount (the reference setting condition of the light amount shown in the setting content display unit 172) is changed when the light amount setting change is completed.
  • slit width slit width standard setting condition
  • the illumination angle illumination angle standard setting condition
  • auxiliary lenses are used for inspection with a slit lamp microscope.
  • a corner mirror is brought into contact with the cornea for observation of a corner angle
  • a trihedral mirror is brought into contact with the observation of the retina.
  • a pre-lens that is disposed in a non-contact manner on the eye E may be used for observation of the retina.
  • the front lens is disposed between the eye E and the mirror 12.
  • the control unit 101 can specify the observation target site and / or the observation technique according to the input content. It is also possible to detect whether an auxiliary lens is being used. This detection process can be performed by a sensor that detects the (position) of the auxiliary lens, an image process that detects a change in the image when the auxiliary lens is disposed in the optical path, or the like.

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Abstract

光学系の設定を適切かつ容易に行うことが可能な細隙灯顕微鏡を提供する。細隙灯顕微鏡１の記憶部１０２には、被検眼Ｅの複数の部位のそれぞれに対して、照明系８や観察系６の基準設定条件が対応付けられた基準設定条件情報１１０があらかじめ記憶されている。検索部１２１は、操作部１０４により指定された部位に対応する基準設定条件を基準設定条件情報１１０から検索する。設定状態取得部１２２は、照明系８や観察系８の現在の設定状態を取得する。設定状態特定部１２３は、設定状態取得部１２２により取得された現在の設定状態のうち、検索部１２１により検索された基準設定条件と異なるものを特定する。制御部１０１は、この特定結果に基づく情報を表示部１０３に表示させる。

Description

細隙灯顕微鏡
　この発明は細隙灯顕微鏡に関する。
　細隙灯顕微鏡は、被検眼をスリット光で照明し、この照射野を拡大観察するための眼科装置である（たとえば特許文献１を参照）。なお、「観察」には、肉眼での観察と撮像素子による撮影の少なくとも一方が含まれるものとする。
　細隙灯顕微鏡は、被検眼の様々な部位の観察に用いられる。観察部位としては、前眼部全体、角膜、強膜、虹彩、水晶体、結膜、眼房、隅角、硝子体、網膜などがある。
　また、細隙灯顕微鏡を用いた観察手法には様々なものがある。一例として、拡散照明法、直接照明法、背景照明法、蛍光染色撮影、接線照明法、徹照法、隅角鏡による撮影、補助レンズによる撮影、などがある。拡散照明法は、拡散レンズや拡散板を用いて得られる拡散光で被検眼を照明して行う観察手法である。直接照明法は、光源からの光を拡散等させずに被検眼に照射して行う観察手法である。背景照明法は、観察部位の近傍に照明光を照射し、その反射光で観察部位を照明して行う観察手法である。蛍光染色撮影は、蛍光造影剤（フルオレセイン）で被検眼を染色し、ブルーフィルタを介して照明光を照明して行う観察手法である。接線照明法は、観察部位に対して側方から照明光を照射して行う観察手法である。徹照法は、瞳孔の縁からスリット光を照射し、眼底からの反射が最大になるようにして行う観察手法である。隅角鏡による撮影は、被検眼の角膜上に隅角鏡を配置することで隅角を照明して行う観察法である。補助レンズによる撮影は、三面鏡や非球面レンズ等を用いることで眼底を照明して行う観察手法である。なお、細隙灯顕微鏡による検査では、観察部位と観察手法が任意に組み合わされて適用される。
特開２００９－１７８４５９号公報
　細隙灯顕微鏡による検査では、観察部位や観察手法の選択に応じて、光学系の設定、たとえば照射角度、照明光量、観察倍率、スリット幅、フィルタ、露出（受光感度、シャッタスピード、絞り値等）など、を適切に切り替える必要がある。
　このような光学系の設定が適切に行われないと好適な画像が得られず、撮り直しの必要が生じたり、検査時間が長引いたりするなど、検者にとっても被検者にとっても負担が増すこととなる。
　また、観察部位や観察手法の多用な組み合わせに応じて光学系の設定を適切に行うことは困難であり、観察部位や観察手法を変更する度に設定の切り替えを行うことは煩雑である。特に、検者が細隙灯顕微鏡を用いた検査に熟練していない場合、このような問題は顕著となる。
　この発明は、上記の問題を解決するためになされたものであり、その目的は、光学系の設定を適切かつ容易に行うことが可能な細隙灯顕微鏡を提供することにある。
　上記目的を達成するために、請求項１に記載の細隙灯顕微鏡は、照明光を出力する光源と、スリット幅の変更が可能なスリットを形成するスリット形成部と、前記照明光の光路に対して挿脱可能とされ前記照明光を拡散する拡散部材と、前記光路に対して挿脱可能なフィルタとを含み、前記スリットを通過した前記照明光を被検眼に照射し、かつ前記照明光の光量及び照射角度を変更可能な照明系と、前記照明光の照射野の周囲領域に背景照明光を照射する背景照明系と、観察倍率を変更するための変倍光学系を含み、前記被検眼による前記照明光の反射光を撮像素子及び接眼レンズのそれぞれに導く観察系と、表示部と、前記被検眼の複数の部位のそれぞれに対し、前記観察倍率の値、前記スリット幅の値、前記照明光の光量の値、前記照射角度の値、前記背景照明光の照射の有無、前記光路における前記拡散部材の有無、及び前記光路における前記フィルタの有無のそれぞれについての基準設定条件が対応付けられた対応情報をあらかじめ記憶する記憶部と、前記被検眼の部位を指定する指定部と、前記指定された部位に対応する前記基準設定条件を前記対応情報から検索する検索部と、前記観察倍率の値、前記スリット幅の値、前記照明光の光量の値、前記照射角度の値、前記背景照明光の照射の有無、前記光路における前記拡散部材の有無、及び前記光路における前記フィルタの有無のそれぞれについて、現在の設定状態を取得する取得部と、前記取得された現在の設定状態のうち、前記検索された基準設定条件と異なるものを特定する特定部と、前記特定部による特定結果に基づく情報を前記表示部に表示させる制御部と、を備えることを特徴とする細隙灯顕微鏡である。
　また、請求項２に記載の発明は、照明光を出力する光源と、スリット幅が変更可能なスリットを形成するスリット形成部とを含み、前記スリットを通過した前記照明光を被検眼に照射し、かつ前記照明光の光量及び照射角度を変更可能な照明系と、観察倍率を変更するための変倍光学系を含み、前記被検眼による前記照明光の反射光を撮像素子及び接眼レンズのそれぞれに導く観察系と、表示部と、前記被検眼の複数の部位のそれぞれに対して前記照明系及び／又は前記観察系の基準設定条件が対応付けられた対応情報をあらかじめ記憶する記憶部と、前記被検眼の部位を指定する指定部と、前記指定された部位に対応する前記基準設定条件を前記対応情報から検索する検索部と、前記照明系及び／又は前記観察系の現在の設定状態を取得する取得部と、前記取得された現在の設定状態のうち、前記検索された基準設定条件と異なるものを特定する特定部と、前記特定部による特定結果に基づく情報を前記表示部に表示させる制御部と、を備えることを特徴とする細隙灯顕微鏡である。
　また、請求項３に記載の発明は、請求項１又は請求項２に記載の細隙灯顕微鏡であって、前記制御部は、前記特定結果に基づく情報として、前記特定された現在の設定状態を、当該基準設定条件と一致する現在の設定状態と異なる態様で表示させることを特徴とする。
　また、請求項４に記載の発明は、請求項１又は請求項２に記載の細隙灯顕微鏡であって、前記制御部は、前記検索された基準設定条件に基づき前記照明系及び／又は前記観察系を制御して、前記特定された現在の設定状態を変更することを特徴とする。
　また、請求項５に記載の発明は、請求項４に記載の細隙灯顕微鏡であって、前記照明系及び前記観察系を左右方向に移動させる移動機構を備え、前記取得部は、前記左右方向における前記照明系及び前記観察系の位置を前記現在の設定状態として取得し、前記制御部は、前記取得された位置に基づいて、前記特定された現在の設定状態の変更を行う、ことを特徴とする。
　また、請求項６に記載の発明は、請求項４に記載の細隙灯顕微鏡であって、前記制御部は、前記特定結果に基づく情報とともに、前記特定された現在の設定状態の変更指示を入力するための操作キーを前記表示部に表示させ、かつ、前記操作キーが操作されたことに対応して当該現在の設定状態の変更を行う、ことを特徴とする。また、請求項６に記載の発明を請求項５に記載の発明に適用することも可能である。
　また、請求項７に記載の発明は、請求項１又は請求項２に記載の細隙灯顕微鏡であって、前記対応情報には、前記複数の部位のそれぞれに対し、少なくとも１つの観察手法についての前記基準設定条件が対応付けられており、前記制御部は、前記指定された部位に対応付けられた観察手法のそれぞれについて、前記特定結果に基づく情報を表示させる、ことを特徴とする。
　また、請求項８に記載の発明は、請求項２に記載の細隙灯顕微鏡であって、前記対応情報には、前記複数の部位のそれぞれに対し、前記観察倍率の値、前記スリット幅の値、前記照明光の光量の値、及び前記照射角度の値のうちの少なくとも１つについての前記基準設定条件が対応付けられており、前記取得部は、前記観察倍率の値、前記スリット幅の値、前記照明光の光量の値、及び前記照射角度の値のそれぞれについて、前記現在の設定状態を取得する、ことを特徴とする。
　また、請求項９に記載の発明は、請求項８に記載の細隙灯顕微鏡であって、前記照明系は、前記照明光の光路に対して挿脱可能とされ前記照明光を拡散する拡散部材を含み、前記対応情報には、前記複数の部位のそれぞれに対し、前記光路における前記拡散部材の有無についての前記基準設定条件が対応付けられており、前記取得部は、前記光路における前記拡散部材の有無についての前記現在の設定状態を取得する、ことを特徴とする。
　また、請求項１０に記載の発明は、請求項８に記載の細隙灯顕微鏡であって、前記照明光の照射野の周囲領域に背景照明光を照射する背景照明系を備え、前記対応情報には、前記複数の部位のそれぞれに対し、前記背景照明光の照射の有無についての前記基準設定条件が対応付けられており、前記取得部は、前記背景照明光の照射の有無についての前記現在の設定状態を取得する、ことを特徴とする。また、請求項１０に記載の発明を請求項９に記載の発明に適用することも可能である。
　また、請求項１１に記載の発明は、請求項８に記載の細隙灯顕微鏡であって、前記照明系は、前記光路に対して挿脱可能なフィルタを含み、前記対応情報には、前記複数の部位のそれぞれに対し、前記光路における前記フィルタの有無についての前記基準設定条件が対応付けられており、前記取得部は、前記光路における前記フィルタの有無についての前記現在の設定状態を取得する、ことを特徴とする。また、請求項１１に記載の発明を請求項９又は１０に記載の発明に適用することも可能である。
　また、請求項１２に記載の発明は、請求項１又は請求項８に記載の細隙灯顕微鏡であって、前記照明系は、絞り値を変更可能な照明絞りを含み、前記対応情報には、前記複数の部位のそれぞれに対し、前記絞り値についての前記基準設定条件が対応付けられており、前記取得部は、前記絞り値についての前記現在の設定状態を取得する、ことを特徴とする。また、請求項１２に記載の発明を請求項９～１１のいずれか一項に記載の発明に適用することも可能である。
　また、請求項１３に記載の発明は、請求項１又は請求項８に記載の細隙灯顕微鏡であって、前記対応情報には、前記複数の部位のそれぞれに対し、前記撮像素子の受光感度についての前記基準設定条件が対応付けられており、前記取得部は、前記受光感度についての前記現在の設定状態を取得する、ことを特徴とする。また、請求項１３に記載の発明を請求項９～１２のいずれか一項に記載の発明に適用することも可能である。
　また、請求項１４に記載の発明は、請求項１又は請求項８に記載の細隙灯顕微鏡であって、前記対応情報には、前記複数の部位のそれぞれに対し、前記撮像素子の電荷蓄積時間についての前記基準設定条件が対応付けられており、前記取得部は、前記電荷蓄積時間についての前記現在の設定状態を取得する、ことを特徴とする。また、請求項１４に記載の発明を請求項９～１３のいずれか一項に記載の発明に適用することも可能である。
　また、請求項１５に記載の発明は、請求項１又は請求項８に記載の細隙灯顕微鏡であって、前記観察系の光軸は偏向可能とされ、前記対応情報には、前記複数の部位のそれぞれに対し、前記光軸の向きについての前記基準設定条件が対応付けられており、前記取得部は、前記光軸の向きについての前記現在の設定状態を取得する、ことを特徴とする。また、請求項１５に記載の発明を請求項９～１４のいずれか一項に記載の発明に適用することも可能である。
　この発明に係る細隙灯顕微鏡によれば、指定された被検眼の部位に対応する基準設定条件に対して、どの装置部位の現在の設定状態が異なっているか特定し、これを表示できる。したがって、装置光学系の設定を適切かつ容易に行うことが可能である。
この発明に係る細隙灯顕微鏡の実施形態の外観構成の一例を表す概略側面図である。 この発明に係る細隙灯顕微鏡の実施形態の光学系の構成の一例を表す概略側面図である。 この発明に係る細隙灯顕微鏡の実施形態の制御系の構成の一例を表す概略ブロック図である。 この発明に係る細隙灯顕微鏡の実施形態の基準設定条件情報の一例を表す概略図である。 この発明に係る細隙灯顕微鏡の実施形態の動作の一例を表すフローチャートである。 この発明に係る細隙灯顕微鏡の実施形態における情報の表示態様の一例を表す概略図である。
　この発明に係る細隙灯顕微鏡の実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。
　まず方向を定義しておく。装置光学系において最も被検者側に位置するレンズ（対物レンズ）から被検者に向かう方向を前方向とし、その逆方向を後方向とする。また、前方向に直交する水平方向を左右方向とする。更に、前後方向と左右方向の双方に直交する方向を上下方向とする。
［外観構成］
　この実施形態に係る細隙灯顕微鏡の外観構成について、図１を参照しながら説明する。細隙灯顕微鏡１には、コンピュータ１００が接続されている。コンピュータ１００は、各種の制御処理や演算処理を行う。なお、顕微鏡本体（光学系等を格納する筐体）とは別にコンピュータ１００を設ける代わりに、顕微鏡本体に同様のコンピュータを搭載した構成を適用することも可能である。
　細隙灯顕微鏡１はテーブル２上に載置される。なお、コンピュータ１００は他のテーブル上又はその他の場所に設置されていてもよい。基台４は、移動機構部３を介して水平方向に移動可能に構成されている。基台４は、操作ハンドル５を傾倒操作することにより移動される。
　基台４の上面には、観察系６及び照明系８を支持する支持部１５が設けられている。支持部１５には、観察系６を支持する支持アーム１６が左右方向に回動可能に取り付けられている。支持アーム１６の上部には、照明系８を支持する支持アーム１７が左右方向に回動可能に取り付けられている。支持アーム１６、１７は、それぞれ独立に同軸で回動可能とされている。支持アーム１６を回動させることにより観察系６の光軸を偏向することができる（つまり観察方向を変更することができる）。また、支持アーム１７を回動させることにより照明系８の光軸を偏向することができる（つまり照明方向を変更することができる）。
　各支持アーム１６、１７は、電気的な機構によって回動されるように構成されていてもよいし、手動で回動されるように構成されていてもよい。前者の場合、支持アーム１６（又は支持アーム１７）を回動させるための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達して支持アーム１６（又は支持アーム１７）を回動させる伝達機構とが設けられる。アクチュエータは、たとえばステッピングモータ（パルスモータ）により構成される。伝達機構は、たとえば歯車の組み合わせやラック・アンド・ピニオンなどによって構成される。
　照明系８は上下方向にも振れるように構成されていてもよい。つまり、照明光の仰角や俯角を変更できるように構成されていてもよい。照明系８を回動させる機構は、観察系６のそれと同様に、電気的に又は手動で駆動される。観察系６についても同様である。
　観察系６は、被検眼Ｅによる照明光の反射光を案内する左右一対の光学系を有する。この光学系は鏡筒本体９内に収納されている。鏡筒本体９の終端は接眼部９ａである。検者は接眼部９ａをのぞき込むことで被検眼Ｅを肉眼で観察する。
　なお、照明光の反射光には、たとえば散乱光のように被検眼Ｅを経由した各種の光が含まれるが、これら各種の光を含めて「反射光」と呼ぶことにする。また、観察系６の周辺位置には、背景光を出力する光源（図２に示す背景光源７０）が設けられている。
　鏡筒本体９に対峙する位置には顎受け台１０が配置されている。顎受け台１０には、被検者の顔を安定配置させるための顎受部１０ａと額当て１０ｂが設けられている。
　鏡筒本体９の側面には、観察倍率を変更するための観察倍率操作ノブ１１が配置されている。観察倍率は、電気的な機構によって変更することもできる。更に、鏡筒本体９には、被検眼Ｅを撮影するための撮像装置１３が接続されている。撮像装置１３は撮像素子を含んで構成されている。撮像素子は、光を検出して電気信号（画像信号）を出力する光電変換素子である。画像信号はコンピュータ１００に入力される。撮像素子としては、たとえばＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ　Ｃｏｕｐｌｅｄ　Ｄｅｖｉｃｅ）イメージセンサや、ＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ　Ｍｅｔａｌ　Ｏｘｉｄｅ　Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）イメージセンサが用いられる。照明系８の下方位置には、照明系８から出力される照明光束を被検眼Ｅに向けて反射するミラー１２が配置されている。
　また、図１では省略されているが、ミラー１２の前方位置には、図２に示す拡散板６０が挿脱される。拡散板６０は、照明光を拡散することにより被検眼Ｅに対して照明光を一様に照射させる。拡散板６０は拡散機能のみを有する光学部材であってもよいし、拡散機構とレンズ機能とを有する光学部材であってもよい。拡散板６０は「拡散部材」の一例である。
［光学系の構成］
　細隙灯顕微鏡１の光学系の構成について、図２を参照しながら説明する。細隙灯顕微鏡１は観察系６と照明系８を有する。
〔観察系〕
　観察系６は左右一対の光学系を備えている。左右の光学系は、ほぼ同様の構成を有する。検者は、この左右の光学系により被検眼Ｅを双眼で観察することができる。なお、図２には、観察系６の左右の光学系の一方のみが示されている。符号Ｏ１は観察系６の光軸（観察光軸）である。前述した被検眼Ｅに対する観察方向の変更は、観察光軸Ｏ１の所定の基準位置に対する角度（観察角度）を変更することに相当する。
　観察系６の左右の各光学系は、対物レンズ３１、変倍光学系３２、絞り３３、リレーレンズ３５、プリズム３６及び接眼レンズ３７を有する。ビームスプリッタ３４は、左右の光学系の一方のみに又は双方に設けられる。接眼レンズ３７は接眼部９ａ内に設けられている。符号Ｐは、接眼レンズ３７に導かれる光の結像位置を示している。符号Ｅｃは被検眼Ｅの角膜を、符号Ｅｐは虹彩を、符号Ｅｒは眼底をそれぞれ示している。符号Ｅｏは検者眼を示している。
　変倍光学系３２は、複数（たとえば２枚）の変倍レンズ３２ａ、３２ｂを含んで構成される。各変倍レンズ３２ａ、３２ｂは観察光軸Ｏ１に沿って移動可能とされている。それにより、被検眼Ｅの肉眼観察像や撮影画像の倍率（画角）を変更できる。倍率の変更は、観察倍率操作ノブ１１を操作することにより行われる。また、図示しないスイッチ等を用いて電動で倍率を変更するように構成してもよい。
　ビームスプリッタ３４は、観察光軸Ｏ１に沿って進む光を二分割する。ビームスプリッタ３４を透過した光は、リレーレンズ３５、プリズム３６及び接眼レンズ３７を介して検者眼Ｅｏに導かれる。プリズム３６は、２つの光学素子３６ａ、３６ｂを含み、光の進行方向を上方に平行移動させる。
　他方、ビームスプリッタ３４により反射された光は、リレーレンズ４１及びミラー４２を介して、撮像装置１３の撮像素子４３に導かれる。撮像素子４３は、この反射光を検出して画像信号を生成する。
〔照明系〕
　照明系８は、光源５１、リレーレンズ５２、照明絞り５６、集光レンズ５３、スリット形成部５４、フィルタ５７、集光レンズ５５及び拡散板６０を有する。符号Ｏ２は、照明系８の光軸（照明光軸）を示す。前述した被検眼Ｅに対する照明方向の変更は、照明光軸Ｏ２の所定の基準位置に対する角度（照明角度）を変更することに相当する。照明角度は「照射角度」に相当する。
　光源５１は照明光を出力する。なお、照明系８に複数の光源を設けてもよい。たとえば、定常光を出力する光源（ハロゲンランプ、ＬＥＤ等）と、フラッシュ光を出力する光源（キセノンランプ、ＬＥＤ等）の双方を光源５１として設けることができる。また、角膜観察用の光源と眼底観察用の光源とを別々に設けてもよい。
　スリット形成部５４は、スリット光（細隙光）を生成するためのスリットを形成する。スリット形成部５４は、一対のスリット刃を有する。これらスリット刃の間隔を変更することによりスリット幅が変更される。スリット刃の間隔を最大にしたときのスリット幅は、照明光のビーム径以上であってもよい。この場合の照明光についても便宜上スリット光と呼ぶことがある。
　照明絞り５６は、照明光の周縁部を遮蔽し、中央部分のみを透過させる。照明絞り５６の透光部のサイズは変更可能に構成されていてもよい（つまり絞り値を変更できるように構成されていてもよい）。照明絞り５６には、角膜Ｅｃや水晶体による照明光の反射を低減させたり、照明光の明るさを調整したりといった作用がある。
　フィルタ５７は、一般に、照明光の特定の成分を除去又は弱める作用を持つ光学素子である。フィルタ５７は、たとえば、被検眼Ｅの蛍光観察において用いられるブルーフィルタ（青色に対応する波長成分を特に透過させるフィルタ）である。フィルタ５７は、照明光の光路に対して挿脱可能とされている。
　拡散板６０は、前述のように照明光を拡散する。拡散板６０は、照明光の光路に対して挿脱可能とされている。
［制御系の構成］
　細隙灯顕微鏡１の制御系について、図３を参照しながら説明する。細隙灯顕微鏡１の制御系は、制御部１０１を中心に構成されている。なお、図３には、この実施形態で特に注目する構成部位のみが記載されており、それ以外の構成部位は省略されている。
〔制御部〕
　制御部１０１は、細隙灯顕微鏡１の各部を制御する。たとえば、制御部１０１は、観察系６の制御や照明系８の制御などを行う。
　観察系６の制御としては、絞り３３の制御、撮像素子４３の制御などがある。撮像素子４３の制御には、電荷蓄積時間の制御、受光感度の制御、フレームレートの制御などがある。制御部１０１は、変倍機構１３２を制御して、変倍光学系３２による倍率を変更する。制御部１０１は、観察系回動機構１０６を制御し、支持アーム１６を軸として観察系６を左右方向に回動させる。なお、観察系回動機構１０６は、制御部１０１の制御を受けて観察系６を上下方向に回動させるように構成されていてもよい。変倍機構、及び観察系回動機構１０６は、それぞれ、アクチュエータと伝達機構とを含んで構成される。
　照明系８の制御としては、光源５１の制御、スリット形成部５４の制御などがある。制御部１０１は、絞り駆動機構１５６を制御して、照明絞り５６の絞り値を変更する。制御部１０１は、フィルタ駆動機構１５７を制御し、フィルタ５７を光路に対して挿脱させる。制御部１０１は、拡散板駆動機構１６０を制御して、拡散板６０を光路に対して挿脱させる。制御部１０１は、照明系回動機構１０８を制御し、支持アーム１７を軸として照明系８を左右方向に回動させる。照明系回動機構１０８は、制御部１０１の制御を受けて照明系８を上下方向に移動させるように構成されていてもよい。スリット形成部５４、絞り駆動機構１５６、フィルタ駆動機構１５７、拡散板駆動機構１６０、及び照明系回動機構１０８は、それぞれ、アクチュエータと伝達機構とを含んで構成される。
　制御部１０１は、移動機構部３を制御して、観察系６及び照明系８を左右方向に移動させる。移動機構部３は「移動機構」の一例である。
　制御部１０１は、背景光源７０を制御して背景光を出力させる。
　制御部１０１は、記憶部１０２に記憶されたデータの読み出し処理や、記憶部１０２に対するデータの書き込み処理を行う。
　制御部１０１は、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ等を含んで構成される。このハードディスクドライブには、制御プログラムが予め記憶されている。制御部１０１の動作は、この制御プログラムと上記ハードウェアとが協働することによって実現される。
　制御部１０１は、細隙灯顕微鏡１の装置本体（たとえば基台４内）やコンピュータ１００に配置される。
〔記憶部〕
　記憶部１０２は各種のデータやコンピュータプログラムを記憶する。記憶部１０２は、たとえばＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ等の記憶装置を含んで構成される。
　記憶部１０２には基準設定条件情報１１０が記憶されている。基準設定条件情報１１０は、被検眼の複数の部位のそれぞれに対して観察系６や照明系８の基準設定条件が対応付けている。基準設定条件とは、被検眼の或る部位を観察するときの光学系の設定条件、換言すると、被検眼の或る部位を観察するときに適用される、観察系６や照明系８に含まれる部材の動作状態を示す。基準設定条件情報１１０は「対応情報」の一例である。
　基準設定条件情報１１０は検査前に記憶部１０２に記憶される。なお、基準設定条件情報１１０は、たとえば装置の出荷時や納品時に記憶されたデフォルト情報であってもよいし、ユーザ毎に作成されたものであってもよい。また、ユーザ等は、基準設定条件情報１１０を適宜に変更することも可能である。
　基準設定条件情報１１０の一例を図４に示す。図４に示す基準設定条件情報１１０には、項目として「部位」、「観察手法」、「倍率」、「スリット幅」、「光量」、「照明角度」、「背景照明」、「拡散板」及び「フィルタ」が設けられている。部位の項目には、観察対象となる被検眼の部位として、「前眼部」、「結膜」、「角膜」、「虹彩」、「水晶体」、「隅角」、「硝子体」及び「網膜」が列挙されている。
　前眼部の欄には、基準設定条件として、観察手法「拡散照明」、倍率「１６」、スリット幅「全開」、光量「３～４」、照明角度「１０～３０°」、背景照明「無」、拡散板「有」、フィルタ「無」が対応付けられている。なお、光量は５段階（１～５：数字が大きい方が光量が大きい）で表現される。照明角度は、撮影光軸Ｏ１を含む鉛直面（上下方向及び前後方向に広がる平面）に対する、照明光軸Ｏ２の左右方向の角度として表現される。なお、当該鉛直面に対する照明角度の方向（左方への角度か、又は右方への角度か）は、被検眼Ｅが左眼であるか右眼であるかに依存するので、基準設定条件情報１１０においては考慮されていない。
　その他の部位の欄についても、前眼部の欄と同様である。なお、角膜の欄や水晶体の欄には２つ以上の観察手法が対応付けられている。そして、部位と観察手法との組み合わせのそれぞれに対して、倍率等の基準設定条件が対応付けられている。
　虹彩の欄の拡散板の項目は「有／無」となっているが、これは広域観察時には拡散板６０を用い、それ以外には用いないことを意味している。なお、観察範囲が広域か否かは、たとえば観察倍率に応じて決定される。具体的には、観察倍率が所定の閾値以下の場合には広域観察とされ、それ以外の場合には狭域観察とされる。
〔表示部〕
　表示部１０３は、制御部１０１の制御を受けて各種の情報を表示する。表示部１０３は、ＬＣＤ等のフラットパネルディスプレイ、ＣＲＴディスプレイなどの任意の表示デバイスを含んで構成される。表示部１０３は、細隙灯顕微鏡１の装置本体に設けられていてもよいし、コンピュータ１００に設けられていてもよい。
〔操作部〕
　操作部１０４は、操作デバイスや入力デバイスを含んで構成される。操作部１０４には、装置本体に設けられたボタンやスイッチ（たとえば操作ハンドル５等）や、コンピュータ１００のマウス、キーボードなどが含まれる。また、トラックボール、専用の操作パネル、スイッチ、ボタン、ダイアルなど、任意の操作デバイスや入力デバイスを用いることも可能である。
　図３では、表示部１０３と操作部１０４とを別々に表しているが、これらを一体的に構成することも可能である。その具体例として、タッチパネル式のＬＣＤを用いることができる。
〔データ処理部〕
　データ処理部１２０は各種のデータ処理を行う。データ処理部１２０には、検索部１２１と、設定状態取得部１２２と、設定状態特定部１２３とが設けられている。
（検索部）
　検索部１２１は、ユーザにより指定された被検眼Ｅの部位に対応する基準設定条件を、基準設定条件情報１１０から検索する。たとえばユーザにより「角膜」が指定された場合、基準設定条件情報１１０から角膜に対応する４組の基準設定条件が検索されることとなる。
（設定状態取得部）
　設定状態取得部１２２は、照明系８や観察系６の現在の設定状態を取得する。設定状態特定部１２３は「取得部」の一例である。
　この実施形態では、光学系の各部は制御部１０１により制御されるので、制御部１０１は各部に対する制御内容を把握し記憶している。したがって、設定状態取得部１２２は、各部の現在の設定状態を制御部１０１から取得する。なお、設定状態取得部１２２が制御部１０１に問い合わせる制御項目は、基準設定条件情報１１０に含まれる項目（この実施形態では、倍率の値、スリット幅の値、光量の値、照明角度の値、背景照明の使用の有無（及び光量）、拡散板５０の使用の有無、フィルタ５７の使用の有無）のみでよい。
　設定状態取得部１２２の他の例を説明する。上記の例では現在の設定状態の全てを制御部１０１から取得しているが、これらのうちの少なくとも１つをセンサによって検知することによって取得するように構成することが可能である。この構成は、設定状態を手動で変更する場合に特に有効である。たとえば、観察倍率操作ノブ１１を用いて手動で倍率を変更する場合、観察倍率操作ノブ１１の回転位置又は変倍レンズ３２ａ、３２ｂの位置を検出するセンサ（ポテンショメータ等）を設け、このセンサからの出力に基づいて現在の倍率の値を取得することができる。スリット幅の値、光量の値、照明角度の値、背景照明の使用の有無、拡散板６０の使用の有無、フィルタ５７の使用の有無についても、それぞれ適当なセンサ（ポテンショメータ、フォトダイオード、赤外線センサ等）を用いることによって取得することが可能である。
（設定状態特定部）
　設定状態特定部１２３は、設定状態取得部１２２により取得された現在の設定状態のうち、検索部１２１により検索された基準設定条件と異なるものを特定する。設定状態特定部１２３は「特定部」の一例である。
　なお、複数組の基準設定条件が検索された場合、つまりユーザが指定した観察対象部位に対応する観察手法が複数ある場合、たとえば次の２つの処理のいずれかを設定状態特定部１２３は実行する。第１の処理として、設定状態特定部１２３は、検索部１２１により検索された複数の観察手法の基準設定条件に対して、それぞれ当該処理を実行する。第２の処理として、設定状態特定部１２３は、観察手法の指定がなされた後に、この指定された観察手法に対してのみ当該処理を実行する。
　設定状態特定部１２３が実行する処理の例を説明する。観察対象部位として「角膜」が指定された場合、検索部１２１は、項目「部位」が「角膜」である４組の基準設定条件、つまり項目「観察手法」が「拡散照明」、「直接照明」、「背景照明」、「蛍光染色」に対応する４組の基準設定条件を検索結果として得る。また、設定状態取得部１２２は、項目「倍率」、「スリット幅」、「光量」、「照明角度」、「背景照明」、「拡散板」及び「フィルタ」のそれぞれについて、現在の設定状態を取得する。
　上記第１の処理が適用される場合、設定状態特定部１２３は、検索された４組の基準設定条件のそれぞれについて、各項目に記録された値（状態を含む）と、当該項目について取得された現在の設定状態とを比較し、双方が一致するか否か判断する。なお、前者が範囲を示す場合（たとえば光量「３～４」等）には、後者が前者に含まれるか否か判断する。それにより、設定状態特定部１２３は、各組の基準設定条件において、各項目について基準設定条件情報１１０に記録された値と現在の設定状態とが異なるものを特定する。
　上記第２の処理が適用される場合、ユーザは所望の観察手法を操作部１０４を用いて指定する。また、当該被検者の電子カルテから観察手法を特定し、これを指定するように構成することも可能である。また、設定状態取得部１２２により取得された現在の設定状態に基づいて観察手法を特定し、これを指定するように構成することも可能である（たとえば現在の設定状態に最も合致する観察手法を選択するように構成できる）。また、複数の検査を所定の順序で行う場合には、この順序に基づいて次の検査に対応する観察手法を特定して指定するように構成することが可能である。
　観察手法が指定されたら、設定状態特定部１２３は、この指定された観察手法に対応する各項目の基準設定条件について、各項目に記録された値（状態を含む）と、当該項目について取得された現在の設定状態とを比較し、双方が一致するか否か判断する。それにより、指定された観察手法の各項目について、基準設定条件情報１１０に記録された値と現在の設定状態とが異なるものが特定される。
［動作］
　細隙灯顕微鏡１の動作について説明する。
(第１の動作例)
　細隙灯顕微鏡１の第１の動作例を図５に示す。
（ステップ１）
　検者は、被検眼Ｅの観察対象部位を指定する。この操作は、たとえば、表示画面に呈示された観察対象部位のリストのうちから所望のものを、操作部１０４を用いて選択することにより行われる。
（ステップ２）
　検索部１２１は、ステップ１で指定された観察対象部位に対応する基準設定条件を、基準設定条件情報１１０から検索する。
（ステップ３）
　設定状態取得部１２２は、観察倍率の値、スリット幅の値、照明光の光量の値、照明光の照射角度の値、背景照明光の照射の有無、照明光路における拡散板６０の有無、及び照明光路におけるフィルタ５７の有無のそれぞれについて、現在の設定状態を取得する。
（ステップ４）
　設定状態特定部１２３は、ステップ３で取得された現在の設定状態のうち、ステップ２で検索された基準設定条件と異なるものを特定する。
（ステップ５）
　制御部１０１は、ステップ４での特定結果に基づく情報を表示部１０３に表示させる。この表示情報は、たとえば、ステップ４で特定された現在の設定状態を、基準設定条件と一致する現在の設定状態とは異なる態様で呈示するものである。観察対象部位として角膜が指定された場合における表示例を図６に示す。
　制御部１０１は、図６に示す設定操作画面１７０を表示部１０３に表示させる。設定操作画面１７０には、観察対象部位表示部１７１と、設定内容表示部１７２と、設定変更ボタン１７３とが設けられている。
　観察対象部位表示部１７１には、ステップ１で指定された観察対象部位が表示される。この例では文字列「角膜」が表示される。
　設定内容表示部１７２には、ステップ４での特定結果に基づく情報が表示される。この例では、角膜の４つの観察手法のそれぞれの基準設定条件のうち、ステップ４で現在の設定状態と異なると判断されたものが表示される。つまり、現在の設定状態と異なる基準設定条件のみが表示され、現在の設定状態と一致する基準設定条件は表示されない。また、設定内容表示部１７２には、現在の設定状態も表示されている。
　検者は、設定内容表示部１７２に呈示されている観察手法のうち所望のものを、操作部１０４を用いて指定できる。この操作はたとえばマウスによるクリック操作である。観察手法が指定されたことに対応する処理の例として、制御部１０１は、指定されなかった観察手法に関する情報の表示を消去する。それにより、指定された観察手法についての情報のみが表示される。また、指定された観察手法についての情報を、それ以外の情報とは異なる態様（色、網掛け、枠等）で呈示するように構成することも可能である。また、観察手法が一旦指定された後であっても、他の観察手法を改めて指定できるように構成することが望ましい。その一例としてプルダウンメニューがある。
　設定内容表示部１７２に表示された内容を変更できるように構成することが可能である。その一例として、操作部１０４を操作して所望の設定を入力できるように構成することが可能である。この入力操作は、たとえばキーボードを用いて行うことができる。また、情報入力用のソフトウェアキーを表示部１０３に表示させ、操作部１０３（マウス等）を用いてこれを操作することで当該入力操作を行うように構成してもよい。また、各基準設定条件の表示領域をプルダウンメニューとして構成してもよい。
　設定操作画面１７０において、観察対象部位の変更操作が行えると便利である。そのための構成例として、観察対象部位表示部１７１をプルダウンメニューとすることができる。新たな観察対象部位が指定されると、制御部１０１は、上記の処理を再度実行させて設定内容表示部１７２の表示内容を更新する。
　設定変更ボタン１７３は、ステップ４で特定された現在の設定状態の変更指示を入力するための操作キーの一例である。複数の観察手法が呈示された場合、検者は所望の観察手法を指定する。更に、検者は、必要に応じ、呈示された基準設定条件を適宜に変更する。
（ステップ６）
　上記操作の後、検者は、操作部１０４により設定操作ボタン１７３を操作する（たとえばマウスによるクリック操作を行う。
（ステップ７）
　この操作を受けた制御部１０１は、当該基準設定条件（変更された場合には変更後の設定条件）に基づいて装置各部を制御することにより、装置各部の設定状態を変更して当該基準設定条件に一致させる。
　具体例として、図６の設定操作画面１７０において「拡散照明」が選択された場合、制御部１０１は、変倍機構１３２を制御して倍率を「２５倍」から「１６倍」に変更するとともに、光源５１を制御して照明光量を「１」からたとえば「３」に変更する。なお、照明光量の自動設定においては、被検者が眩しさを感じるおそれを低減するために、基準設定条件に示す範囲のうち最低の光量値を選択することが望ましい。
（ステップ８）
　以上の準備の後、検者は、操作部１０４を操作して、被検眼Ｅの観察（撮影を含む）を開始する。
（第２の動作例）
　被検眼Ｅが左右いずれの眼であるかを考慮して実行される細隙灯顕微鏡１の動作について説明する。
　前述のように、移動機構部３は装置光学系を左右方向に移動させる。被検眼Ｅが左眼である場合には装置光学系は右側に、右眼である場合には左側にそれぞれ移動される。したがって、移動機構部３の設定状態に基づいて、被検眼Ｅが左眼であるか右眼であるか判別することが可能である。
　なお、制御部１０１が移動機構部３を制御する構成が適用される場合、制御部１０１は移動機構部３の現在の設定状態を認識可能である。一方、ユーザが手動で移動機構部３を動作させる構成が適用される場合には、移動機構部３の現在の設定状態を検出するセンサ（位置センサ等）が用いられる。
　以下、第１動作例のフローチャート（図５）を参照しつつ、被検眼Ｅが左眼であるか右眼であるかに応じて照明角度を制御する動作例について説明する。なお、照明角度以外の制御対象についても、同様の制御を適宜に行うことが可能である。
　検者により被検眼Ｅの観察対象部位が指定されると（Ｓ１）、検索部１２１は、この指定部位に対応する基準設定条件を検索する（Ｓ２）。
　設定状態取得部１２２は、装置各部の現在の設定状態を取得する（Ｓ３）。このとき、移動機構部３の現在の設定状態、つまり左右方向における装置光学系の現在位置に相当する情報が取得される。この情報の例として、観察系６及び照明系８の回動軸（支持アーム１６、１７）の左右方向における位置がある。
　続いて、設定状態特定部１２３は、基準設定条件と異なる現在の設定状態を特定する（Ｓ４）。ここで、移動機構部３の現在の設定状態について基準設定条件との比較処理を行う必要は特にない。制御部１０１は、Ｓ４での特定結果に基づく情報（たとえば設定操作画面１７０）を表示部１０３に表示させる（Ｓ５）。
　設定状態の変更指示を検者が入力すると（Ｓ６）、制御部１０１は、装置各部の設定状態を変更する（Ｓ７）。
　Ｓ７で照明角度の変更がなされる場合、Ｓ３で取得された移動機構部３の現在の設定状態が考慮される。その一例として、制御部１０１は、被検眼Ｅが左眼であるか右眼であるか、つまり装置光学系が右側にあるか左側にあるか、に対応して、照明角度を目的の設定状態まで徐々に変更していく。
　このとき、観察光軸Ｏ１に対する照明光軸Ｏ２の角度が増加する方向に照明角度を変更することが望ましい。そのためには、Ｓ３において観察系回動機構１０６の現在の設定状態を取得し、観察光軸Ｏ１の現在の方向を認識しておく。そして、Ｓ７において、制御部１０１は、移動機構部３の現在の設定状態と、観察光軸Ｏ１の現在の方向と、現在の照明角度と、基準設定条件に示す照明角度とに基づいて、観察光軸Ｏ１に対して照明角度を徐々に大きくしていくことにより、基準設定条件に示す照明角度を実現する。
　なお、観察光軸Ｏ１に対する現在の照明角度が基準設定条件に示す角度よりも大きい場合の動作例として、まず照明角度を観察光軸Ｏ１（の近傍）に合わせ、それから徐々に目的の角度まで変更していくように構成することが可能である。照明角度を観察光軸Ｏ１に合わせる段階において、光源５１は点灯されていてもよいし消灯されていてもよい。
（第３の動作例）
　照明絞り５６の設定状態の変更を行う場合における細隙灯顕微鏡１の動作について説明する。
　照明絞り５６の現在の設定状態は、制御部１０１による絞り駆動機構１５６の制御内容に基づいて取得できる。一方、照明絞り５６の絞り値を手動で変更する場合などには、この絞り値に相当する情報を検出するセンサが設けられる。このセンサとしては、この絞り値を変更するための操作内容を検出する位置センサ（たとえばノブの回転状態を検出するポテンショメータ）を用いることができる。また、照明絞り５６を通過した照明光のビーム径を検出することにより絞り値を求めるように構成することも可能である。
　以下、第１動作例のフローチャート（図５）を参照しつつ、照明絞り５６の絞り値を制御する動作例について説明する。
　検者により被検眼Ｅの観察対象部位が指定されると（Ｓ１）、検索部１２１は、この指定部位に対応する基準設定条件を検索する（Ｓ２）。ここで、基準設定条件情報１１０に照明絞り５６の絞り値の基準設定条件が含まれている場合には、これも検索される。なお、この絞り値は照明光の光量と関係している。つまり、光量が大きい（小さい）場合には絞り値も大きい（小さい）。基準設定条件情報１１０は、光量の１つの値と絞り値の１つの値とを記録したものでもよいし、光量の値の範囲と絞り値の値の範囲とを対応付けて記録したものでもよい。
　設定状態取得部１２２は、装置各部の現在の設定状態を取得する（Ｓ３）。このとき、照明絞り５６の現在の設定状態、つまり照明絞り５６の現在の絞り値に相当する情報が取得される。
　続いて、設定状態特定部１２３は、基準設定条件と異なる現在の設定状態を特定する（Ｓ４）。なお、Ｓ２で照明絞り５６の絞り値の基準設定条件が検索された場合には、この基準設定条件と現在の絞り値との比較処理が実行される。一方、Ｓ２で照明絞り５６の絞り値の基準設定条件が検索されなかった場合には、絞り値に関する比較処理を行う必要はない。制御部１０１は、Ｓ４での特定結果に基づく情報（たとえば設定操作画面１７０）を表示部１０３に表示させる（Ｓ５）。
　設定状態の変更指示を検者が入力すると（Ｓ６）、制御部１０１は、装置各部の設定状態を変更する（Ｓ７）。このとき、制御部１０１は、照明絞り５６の絞り値の変更を行う。この制御は、たとえば、光量を一定とした状態で、絞り値が大きい状態（照明絞り５６が閉じた状態を含む）から、徐々に絞り値を減少させていくものとされる。また、絞り値を一定とした状態で、光量が小さい状態（消灯された状態を含む）から、徐々に光量を増大させていくように制御してもよい。また、光量と絞り値とを同期制御して、被検眼Ｅに照射される光量（つまり照明絞り５６を通過する照明光の光量）が徐々に大きくなるように制御することも可能である。
（第４の動作例）
　撮像素子４３の受光感度の設定状態の変更を行う場合における細隙灯顕微鏡１の動作について説明する。
　撮像素子４３は制御部１０１により制御される。よって、制御部１０１は、撮像素子４３の受光感度の現在の設定状態を認識している。なお、撮像素子４３の受光感度をユーザが手動で設定する場合には、その設定状態を示す信号を撮像素子４３から制御部１０１に送信するように構成することができる。
　以下、第１動作例のフローチャート（図５）を参照しつつ、撮像素子４３の受光感度を制御する動作例について説明する。
　検者により被検眼Ｅの観察対象部位が指定されると（Ｓ１）、検索部１２１は、この指定部位に対応する基準設定条件を検索する（Ｓ２）。ここで、基準設定条件情報１１０に撮像素子４３の受光感度の基準設定条件が含まれている場合には、これも検索される。なお、この受光感度は照明光の光量と関係している。つまり、安全性の見地から被検眼に照射される照明光の光量の最大値が定められており、受光感度はこの最大光量に基づいて設定される。また、ノイズの低減を図るために、出来るだけ低い受光感度が用いられることが望ましい。基準設定条件情報１１０に記録される受光感度の基準設定条件は、これら条件を考慮して決定されたものである。基準設定条件情報１１０は、光量の１つの値と受光感度の１つの値とを記録したものでもよいし、光量の値の範囲と受光感度の値の範囲とを対応付けて記録したものでもよい。
　設定状態取得部１２２は、装置各部の現在の設定状態を取得する（Ｓ３）。このとき、撮像素子４３の受光感度の現在の設定状態が取得される。
　続いて、設定状態特定部１２３は、基準設定条件と異なる現在の設定状態を特定する（Ｓ４）。なお、Ｓ２で撮像素子４３の受光感度の基準設定条件が検索された場合には、この基準設定条件と現在の受光感度との比較処理が実行される。一方、Ｓ２で撮像素子４３の受光感度の基準設定条件が検索されなかった場合には、受光感度に関する比較処理を行う必要はない。制御部１０１は、Ｓ４での特定結果に基づく情報（たとえば設定操作画面１７０）を表示部１０３に表示させる（Ｓ５）。
　設定状態の変更指示を検者が入力すると（Ｓ６）、制御部１０１は、装置各部の設定状態を変更する（Ｓ７）。このとき、制御部１０１は、撮像素子４３の受光感度の変更を行う。
（第５の動作例）
　撮像素子４３の電荷蓄積時間の設定状態の変更を行う場合における細隙灯顕微鏡１の動作について説明する。
　撮像素子４３は制御部１０１により制御される。よって、制御部１０１は、撮像素子４３の電荷蓄積時間の現在の設定状態を認識している。なお、撮像素子４３の電荷蓄積時間をユーザが手動で設定する場合には、その設定状態を示す信号を撮像素子４３から制御部１０１に送信するように構成することができる。
　以下、第１動作例のフローチャート（図５）を参照しつつ、撮像素子４３の電荷蓄積時間を制御する動作例について説明する。
　検者により被検眼Ｅの観察対象部位が指定されると（Ｓ１）、検索部１２１は、この指定部位に対応する基準設定条件を検索する（Ｓ２）。ここで、基準設定条件情報１１０に撮像素子４３の電荷蓄積時間の基準設定条件が含まれている場合には、これも検索される。なお、この電荷蓄積時間は、照明光の光量、照明光の発光時間（フラッシュ光での撮影時）、受光感度などと関係している。つまり、電荷蓄積時間は、これら条件とともに露出を決定するファクタである。基準設定条件情報１１０に記録される電荷蓄積時間の基準設定条件は、これら条件を考慮して決定されたものである。
　設定状態取得部１２２は、装置各部の現在の設定状態を取得する（Ｓ３）。このとき、撮像素子４３の電荷蓄積時間の現在の設定状態が取得される。
　続いて、設定状態特定部１２３は、基準設定条件と異なる現在の設定状態を特定する（Ｓ４）。なお、Ｓ２で撮像素子４３の電荷蓄積時間の基準設定条件が検索された場合には、この基準設定条件と現在の電荷蓄積時間との比較処理が実行される。一方、Ｓ２で撮像素子４３の電荷蓄積時間の基準設定条件が検索されなかった場合には、電荷蓄積時間に関する比較処理を行う必要はない。制御部１０１は、Ｓ４での特定結果に基づく情報（たとえば設定操作画面１７０）を表示部１０３に表示させる（Ｓ５）。
　設定状態の変更指示を検者が入力すると（Ｓ６）、制御部１０１は、装置各部の設定状態を変更する（Ｓ７）。このとき、制御部１０１は、撮像素子４３の電荷蓄積時間の変更を行う。
　なお、電荷蓄積時間を制御する電子シャッタに代えて、撮像素子４３に導かれる光路に機械式のシャッタを配置する場合についても、上記と同様の処理を実行することが可能である。
（第６の動作例）
　観察光軸Ｏ１の方向の設定状態を用いて実行される細隙灯顕微鏡１の動作について説明する。なお、観察光軸Ｏ１の方向を変更するように構成してもよいし、他の構成部位の制御のためにその設定状態を利用するものであってもよい。後者の例として、上記の第２の動作例がある。
　観察光軸Ｏ１の方向は、制御部１０１が観察系回動機構１０６を制御することにより変更される。よって、制御部１０１は、観察光軸Ｏ１の方向の現在の設定状態を認識している。なお、観察光軸Ｏ１の方向をユーザが手動で設定する場合には、その設定状態をセンサで検知する。
　以下、第１動作例のフローチャート（図５）を参照しつつ、観察光軸Ｏ１の方向を制御する動作例について説明する。
　検者により被検眼Ｅの観察対象部位が指定されると（Ｓ１）、検索部１２１は、この指定部位に対応する基準設定条件を検索する（Ｓ２）。ここで、基準設定条件情報１１０に観察光軸Ｏ１の方向の基準設定条件が含まれている場合には、これも検索される。
　設定状態取得部１２２は、装置各部の現在の設定状態を取得する（Ｓ３）。このとき、観察光軸Ｏ１の方向の現在の設定状態が取得される。
　続いて、設定状態特定部１２３は、基準設定条件と異なる現在の設定状態を特定する（Ｓ４）。なお、Ｓ２で観察光軸Ｏ１の方向の基準設定条件が検索された場合には、この基準設定条件と観察光軸Ｏ１の現在の方向との比較処理が実行される。一方、Ｓ２で観察光軸Ｏ１の方向の基準設定条件が検索されなかった場合には、観察光軸Ｏ１の方向に関する比較処理を行う必要はない。制御部１０１は、Ｓ４での特定結果に基づく情報（たとえば設定操作画面１７０）を表示部１０３に表示させる（Ｓ５）。
　設定状態の変更指示を検者が入力すると（Ｓ６）、制御部１０１は、装置各部の設定状態を変更する（Ｓ７）。このとき、制御部１０１は、観察光軸Ｏ１の方向の変更を行う。
［効果］
　細隙灯顕微鏡１の効果について説明する。
　細隙灯顕微鏡１は、照明系８と、観察系６と、表示部１０３と、記憶部１０２と、操作部１０４と、データ処理部１２０と、制御部１０１とを備える。照明系８は、照明光を出力する光源５１と、スリット幅が変更可能なスリットを形成するスリット形成部５４とを含む。照明系８は、スリットを通過した照明光を被検眼Ｅに照射する。更に、照明系８は、照明光の光量及び照射角度を変更可能である。観察系６は、観察倍率を変更するための変倍光学系３２を含み、被検眼Ｅによる照明光の反射光を撮像素子４３及び接眼レンズ３７のそれぞれに導く。記憶部１０２は、基準設定条件情報１１０をあらかじめ記憶している。基準設定条件情報１１０には、被検眼Ｅの複数の部位のそれぞれに対して、照明系８や観察系６の基準設定条件が対応付けられている。なお、基準設定条件は、照明系８に関するものだけでもよいし、観察系６に関するものだけでもよいし、双方に関するものを含んでいてもよい。操作部１０４は、被検眼Ｅの部位を指定するための「指定部」の一例である。データ処理部１２０は、検索部１２１と、設定状態取得部１２２と、設定状態特定部１２３とを備えている。検索部１２１は、操作部１０４により指定された部位に対応する基準設定条件を基準設定条件情報１１０から検索する。設定状態取得部１２２は、照明系８や観察系８の現在の設定状態を取得する。設定状態特定部１２３は、設定状態取得部１２２により取得された現在の設定状態のうち、検索部１２１により検索された基準設定条件と異なるものを特定する。制御部１０１は、この特定結果に基づく情報を表示部１０３に表示させる。
　このような細隙灯顕微鏡１によれば、指定された部位に対応する基準設定条件（当該部位の観察において推奨される装置各部の設定状態を示す）に対して、どの装置部位の現在の設定状態が異なっているか特定し、これを表示できる。したがって、装置光学系の設定を適切かつ容易に行うことが可能である。
　また、制御部１０１は、設定状態特定部１２３による特定結果に基づく情報として、この特定された現在の設定状態を、当該基準設定条件と一致する現在の設定状態と異なる態様で表示させるように構成されている。
　それにより、推奨される基準設定条件と異なる設定状態になっている装置部位を容易に把握できる。また、図６の基準設定条件情報１１０のように、このような基準設定条件自体を呈示することにより、これをユーザに知らせることができる。
　また、制御部１０１は、検索部１２１により検索された基準設定条件に基づき照明系８や観察系６を制御することで、設定状態特定部１２３により特定された現在の設定状態を変更するように構成されている。
　このような構成によれば、装置各部の設定状態を自動で変更することができる。したがって、装置光学系の設定の容易化を促進することが可能である。また、設定ミスの防止を図ることもできる。
　また、細隙灯顕微鏡１は、照明系８及び観察系６を左右方向に移動させる移動機構部３を備える。更に、設定状態取得部１２２は、装置光学系の現在の設定状態として、左右方向における照明系８及び観察系６の位置を取得する。そして、制御部１０１は、この取得された位置に基づいて、設定状態取得部１２２により特定された現在の設定状態の変更を行うようになっている。
　このような構成によれば、被検眼Ｅが左眼であるか右眼であるかに応じて、好適に制御を行うことが可能である。
　また、制御部１０１は、設定状態特定部１２３による特定結果に基づく情報とともに、特定された現在の設定状態の変更指示を入力するための設定変更ボタン１７３を表示部１０３に表示させる。更に、制御部１０１は、設定変更ボタン１７３が操作されたことに対応して、特定された現在の設定状態の変更を行うようになっている。
　このような構成によれば、ユーザは、表示された基準設定条件を確認した後に、装置各部の設定状態を基準設定条件に変更するよう指示することが可能である。また、表示された基準設定条件を任意に変更した後に、設定状態の変更を指示することが可能である。したがって、ユーザが所望する設定状態を容易に、また確実に実現することが可能となる。
　また、基準設定条件情報１１０には、被検眼Ｅの複数の部位のそれぞれに対し、少なくとも１つの観察手法についての基準設定条件が対応付けられている。そして、制御部１０１は、ユーザにより指定された部位に対応付けられた観察手法のそれぞれについて、設定状態特定部１２３による特定結果に基づく情報を表示させるようになっている。
　このような構成によれば、被検眼Ｅの部位だけでなく、様々な観察手法のそれぞれに応じて、装置光学系の設定を適切かつ容易に行うことが可能である。これは、医療現場における細隙灯顕微鏡１の使用形態を鑑みると非常に便利である。
［変形例］
　以上において説明した実施形態は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内における任意の変形を適宜に施すことが可能である。以下、このような変形の例をいくつか説明する。なお、以上の実施形態で説明した任意の構成や以下で説明する任意の構成を適宜に組み合わせて適用することが可能である。
〔変形例１〕
　上記の実施形態では、ユーザによる設定状態の変更指示を受けて当該変更処理を実行しているが、これに限定されるものではない。たとえば、設定状態特定部１２３による特定結果に基づく情報の表示とともに、基準設定条件への変更処理を行うように構成することが可能である。
〔変形例２〕
　図６に示す基準設定条件情報１１０のように現在の設定状態も表示させる場合において、設定状態を変更しなくてもよい場合（その設定状態が基準設定条件と異なる場合も含む）、その設定状態を指定してから設定状態の変更指示を行うように構成することができる。それにより、ユーザの要望に応じた設定状態での観察が可能となる。
〔変形例３〕
　観察倍率の制御に関する変形例を説明する。被検眼Ｅに照射できる照明光の光量には制限がある。また、被検者が余計な眩しさを感じないように検査を行うことが望ましい。これらの事情を鑑み、次のような制御を行うことができる。
　設定目的の倍率に設定を変更する場合、まず、光量が小さくてよい低い倍率（設定目的よりも低い倍率）に設定する。このとき、光量についても設定目的未満の値が設定される。そして、この低い倍率で被検眼Ｅを観察しつつ、観察対象部位に対する装置光学系の位置合わせとピント合わせとが実行される。この作業の終了後、所定のトリガに対応して、倍率及び光量の双方を設定目的の値に変更して観察を行う。なお、この観察の前に、観察対象部位に対する装置光学系の位置合わせとピント合わせを精密に行うことも可能である。また、上記トリガとしては、操作部１０４を用いた指示の入力や、位置合わせ完了やピント合わせ完了の検出などがある。
〔変形例４〕
　スリット幅の制御に関する変形例を説明する。変形例３でも説明したように、被検眼Ｅに対する照明光量は出来るだけ抑えることが望ましい。これを考慮し、スリット幅を変更するときに、スリット幅が小さい状態（スリットが閉じた状態を含む）から徐々に設定目的のスリット幅まで変更していくことが可能である。このとき、スリット幅の増大に応じて照明光量を徐々に小さくしていくことができる。すなわち、照明野の明るさは照明光量とスリット幅とに影響を受けるので、上記のようなスリット幅と照明光量との連動制御を行うことにより、照明野が適正な明るさに保つことができ、更には照明野の明るさをほぼ一定に保つことができる。スリット幅をユーザが微調整するときにも、同様の連動制御を行うことが可能である。
〔変形例５〕
　拡散板６０の制御に関する変形例を説明する。拡散板６０が光路に配置されている場合、被検眼Ｅに照射される照明光はスリット光ではない。したがって、拡散板６０が使用されるときにはスリット光を使用しないように（つまりスリットを全開にするように）制御を行うことができる。逆に、スリット光が使用されるときには拡散板６０を光路から待避させるように制御を行うことができる。
　また、スリット幅を検知するセンサが設けられている場合において、拡散板６０を使用するときにはスリット幅と照明光量との連動も不要であるから、このセンサを動作させる必要はない。
〔変形例６〕
　フィルタ５７の制御に関する変形例を説明する。一般にフィルタ５７が光路に配置されると、被検眼Ｅに照射される照明光の光量は小さくなる。よって、フィルタ５７が光路に配置されるときに、照明光量を増加させるように連動制御を行うことができる。逆に、フィルタ５７を光路から待避させるときに、照明光量を減少させるように連動制御を行うことができる。
　複数のフィルタが選択的に光路に配置させる場合、各フィルタの光透過率等に基づいて、そのフィルタが光路に配置される場合における照明光量の変更量をあらかじめ設定することができる。また、そのフィルタが光路に配置されたときの光量の変化をフォトディテクタ等により検出し、この検出結果に基づいて照明光量を変更するように構成することも可能である。
〔変形例７〕
　基準設定条件情報１１０の変形例を説明する。基準設定条件情報１１０は、装置にあらかじめ記憶されているもの（デフォルト）であってもよいし、たとえば医療機関ごと、検者ごと、被検者ごと、被検眼ごとのように、デフォルト以外のものであってもよい。
　また、複数の基準設定条件情報１１０を記憶しておき、これらを選択的に使用することも可能である。たとえば検者ごとに基準設定条件情報１１０が記憶されている場合、つまり検者ＩＤと基準設定条件情報１１０とが関連付けられて記憶されている場合、検者は自身のＩＤを装置に入力する。制御部１０１は、入力された検者ＩＤに関連付けられた基準設定条件情報１１０を記憶部１０２から検索し、以降の処理に供させる。また、被検眼Ｅごとに基準設定条件情報１１０を選択適用する場合には、基準設定条件情報１１０は患者ＩＤ及び左右眼情報に関連付けられて記憶されている。患者ＩＤは、たとえば操作部１０４からの入力や、電子カルテからの自動取得により得られる。左右眼情報は、操作部１０４からの入力、電子カルテからの自動取得、移動機構部３の位置の自動取得などにより得られる。
〔変形例８〕
　設定操作画面１７０の表示態様に関する変形例を説明する。装置各部の設定が変更されているときに、制御部１０１は、変更が完了した設定に関する表示内容の表示態様を変更することができる。たとえば図６に示す基準設定条件情報１１０において、光量とスリット幅と照明角度を変更する場合、光量の設定変更が完了したら光量に関する表示内容（設定内容表示部１７２に示す光量の基準設定条件）を削除し、スリット幅の設定変更が完了したらスリット幅に関する表示内容（スリット幅の基準設定条件）を削除し、照明角度の設定変更が完了したら照明角度に関する表示内容（照明角度の基準設定条件）を削除する。このような構成によれば、変更対象の設定状態のうち、どの設定状態の変更が終了したかを、また全ての設定状態の変更が終了したかを、容易に把握することができる。
〔変形例９〕
　細隙灯顕微鏡による検査では各種の補助レンズが使用される。たとえば隅角の観察では隅角鏡が、網膜の観察では三面鏡が、それぞれ角膜に当接される。また、網膜の観察において被検眼Ｅに非接触で配置される前置レンズが用いられることがある。前置レンズは被検眼Ｅとミラー１２との間に配置される。
　観察対象部位を指定するときに、又は観察対象部位の指定に代えて、補助レンズの使用の有無やその種類を入力する。制御部１０１は、この入力内容に応じて観察対象部位及び／又は観察手法を特定することができる。補助レンズが使用されているか否かを検知することも可能である。この検知処理は、補助レンズ（の位置）を検知するセンサや、補助レンズが光路に配置されたときの画像の変化を検知する画像処理などによって行うことができる。
１　細隙灯顕微鏡
３　移動機構部
６　観察系
８　照明系
３２　変倍光学系
４３　撮像素子
５１　光源
５４　スリット形成部
５６　照明絞り
５７　フィルタ
６０　拡散板
７０　背景光源
１００　コンピュータ
１０１　制御部
１０２　記憶部
１０３　表示部
１０４　操作部
１１０　基準設定条件情報
１２０　データ処理部
１２１　検索部
１２２　設定状態取得部
１２３　設定状態特定部
１３２　変倍機構
１５６　絞り駆動機構
１５７　フィルタ駆動機構
１６０　拡散板駆動機構
１７０　設定操作画面
１７１　観察対象部位表示部
１７２　設定内容表示部
１７３　設定変更ボタン
Ｏ１　観察光軸
Ｏ２　照明光軸
Ｅ　被検眼

Claims (15)

  1. 　照明光を出力する光源と、スリット幅の変更が可能なスリットを形成するスリット形成部と、前記照明光の光路に対して挿脱可能とされ前記照明光を拡散する拡散部材と、前記光路に対して挿脱可能なフィルタとを含み、前記スリットを通過した前記照明光を被検眼に照射し、かつ前記照明光の光量及び照射角度を変更可能な照明系と、
    　前記照明光の照射野の周囲領域に背景照明光を照射する背景照明系と、
    　観察倍率を変更するための変倍光学系を含み、前記被検眼による前記照明光の反射光を撮像素子及び接眼レンズのそれぞれに導く観察系と、
    　表示部と、
    　前記被検眼の複数の部位のそれぞれに対し、前記観察倍率の値、前記スリット幅の値、前記照明光の光量の値、前記照射角度の値、前記背景照明光の照射の有無、前記光路における前記拡散部材の有無、及び前記光路における前記フィルタの有無のそれぞれについての基準設定条件が対応付けられた対応情報をあらかじめ記憶する記憶部と、
    　前記被検眼の部位を指定する指定部と、
    　前記指定された部位に対応する前記基準設定条件を前記対応情報から検索する検索部と、
    　前記観察倍率の値、前記スリット幅の値、前記照明光の光量の値、前記照射角度の値、前記背景照明光の照射の有無、前記光路における前記拡散部材の有無、及び前記光路における前記フィルタの有無のそれぞれについて、現在の設定状態を取得する取得部と、
    　前記取得された現在の設定状態のうち、前記検索された基準設定条件と異なるものを特定する特定部と、
    　前記特定部による特定結果に基づく情報を前記表示部に表示させる制御部と、
    　を備えることを特徴とする細隙灯顕微鏡。
  2. 　照明光を出力する光源と、スリット幅が変更可能なスリットを形成するスリット形成部とを含み、前記スリットを通過した前記照明光を被検眼に照射し、かつ前記照明光の光量及び照射角度を変更可能な照明系と、
    　観察倍率を変更するための変倍光学系を含み、前記被検眼による前記照明光の反射光を撮像素子及び接眼レンズのそれぞれに導く観察系と、
    　表示部と、
    　前記被検眼の複数の部位のそれぞれに対して前記照明系及び／又は前記観察系の基準設定条件が対応付けられた対応情報をあらかじめ記憶する記憶部と、
    　前記被検眼の部位を指定する指定部と、
    　前記指定された部位に対応する前記基準設定条件を前記対応情報から検索する検索部と、
    　前記照明系及び／又は前記観察系の現在の設定状態を取得する取得部と、
    　前記取得された現在の設定状態のうち、前記検索された基準設定条件と異なるものを特定する特定部と、
    　前記特定部による特定結果に基づく情報を前記表示部に表示させる制御部と、
    　を備えることを特徴とする細隙灯顕微鏡。
  3. 　前記制御部は、前記特定結果に基づく情報として、前記特定された現在の設定状態を、当該基準設定条件と一致する現在の設定状態と異なる態様で表示させることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の細隙灯顕微鏡。
  4. 　前記制御部は、前記検索された基準設定条件に基づき前記照明系及び／又は前記観察系を制御して、前記特定された現在の設定状態を変更することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の細隙灯顕微鏡。
  5. 　前記照明系及び前記観察系を左右方向に移動させる移動機構を備え、
    　前記取得部は、前記左右方向における前記照明系及び前記観察系の位置を前記現在の設定状態として取得し、
    　前記制御部は、前記取得された位置に基づいて、前記特定された現在の設定状態の変更を行う、
    　ことを特徴とする請求項４に記載の細隙灯顕微鏡。
  6. 　前記制御部は、
    　前記特定結果に基づく情報とともに、前記特定された現在の設定状態の変更指示を入力するための操作キーを前記表示部に表示させ、かつ、
    　前記操作キーが操作されたことに対応して当該現在の設定状態の変更を行う、
    　ことを特徴とする請求項４に記載の細隙灯顕微鏡。
  7. 　前記対応情報には、前記複数の部位のそれぞれに対し、少なくとも１つの観察手法についての前記基準設定条件が対応付けられており、
    　前記制御部は、前記指定された部位に対応付けられた観察手法のそれぞれについて、前記特定結果に基づく情報を表示させる、
    　ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の細隙灯顕微鏡。
  8. 　前記対応情報には、前記複数の部位のそれぞれに対し、前記観察倍率の値、前記スリット幅の値、前記照明光の光量の値、及び前記照射角度の値のうちの少なくとも１つについての前記基準設定条件が対応付けられており、
    　前記取得部は、前記観察倍率の値、前記スリット幅の値、前記照明光の光量の値、及び前記照射角度の値のそれぞれについて、前記現在の設定状態を取得する、
    　ことを特徴とする請求項２に記載の細隙灯顕微鏡。
  9. 　前記照明系は、前記照明光の光路に対して挿脱可能とされ前記照明光を拡散する拡散部材を含み、
    　前記対応情報には、前記複数の部位のそれぞれに対し、前記光路における前記拡散部材の有無についての前記基準設定条件が対応付けられており、
    　前記取得部は、前記光路における前記拡散部材の有無についての前記現在の設定状態を取得する、
    　ことを特徴とする請求項８に記載の細隙灯顕微鏡。
  10. 　前記照明光の照射野の周囲領域に背景照明光を照射する背景照明系を備え、
    　前記対応情報には、前記複数の部位のそれぞれに対し、前記背景照明光の照射の有無についての前記基準設定条件が対応付けられており、
    　前記取得部は、前記背景照明光の照射の有無についての前記現在の設定状態を取得する、
    　ことを特徴とする請求項８に記載の細隙灯顕微鏡。
  11. 　前記照明系は、前記光路に対して挿脱可能なフィルタを含み、
    　前記対応情報には、前記複数の部位のそれぞれに対し、前記光路における前記フィルタの有無についての前記基準設定条件が対応付けられており、
    　前記取得部は、前記光路における前記フィルタの有無についての前記現在の設定状態を取得する、
    　ことを特徴とする請求項８に記載の細隙灯顕微鏡。
  12. 　前記照明系は、絞り値を変更可能な照明絞りを含み、
    　前記対応情報には、前記複数の部位のそれぞれに対し、前記絞り値についての前記基準設定条件が対応付けられており、
    　前記取得部は、前記絞り値についての前記現在の設定状態を取得する、
    　ことを特徴とする請求項１又は請求項８に記載の細隙灯顕微鏡。
  13. 　前記対応情報には、前記複数の部位のそれぞれに対し、前記撮像素子の受光感度についての前記基準設定条件が対応付けられており、
    　前記取得部は、前記受光感度についての前記現在の設定状態を取得する、
    　ことを特徴とする請求項１又は請求項８に記載の細隙灯顕微鏡。
  14. 　前記対応情報には、前記複数の部位のそれぞれに対し、前記撮像素子の電荷蓄積時間についての前記基準設定条件が対応付けられており、
    　前記取得部は、前記電荷蓄積時間についての前記現在の設定状態を取得する、
    　ことを特徴とする請求項１又は請求項８に記載の細隙灯顕微鏡。
  15. 　前記観察系の光軸は偏向可能とされ、
    　前記対応情報には、前記複数の部位のそれぞれに対し、前記光軸の向きについての前記基準設定条件が対応付けられており、
    　前記取得部は、前記光軸の向きについての前記現在の設定状態を取得する、
    　ことを特徴とする請求項１又は請求項８に記載の細隙灯顕微鏡。
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