WO2012039218A1 - 塗布方法、有機エレクトロニクス素子の製造方法 - Google Patents

塗布方法、有機エレクトロニクス素子の製造方法 Download PDF

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WO2012039218A1
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coating
substrate
belt
electrode
film
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PCT/JP2011/068748
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川邉 茂寿
慎一 藏方
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コニカミノルタホールディングス株式会社
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D1/00Processes for applying liquids or other fluent materials
    • B05D1/26Processes for applying liquids or other fluent materials performed by applying the liquid or other fluent material from an outlet device in contact with, or almost in contact with, the surface
    • B05D1/265Extrusion coatings
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05CAPPARATUS FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05C5/00Apparatus in which liquid or other fluent material is projected, poured or allowed to flow on to the surface of the work
    • B05C5/02Apparatus in which liquid or other fluent material is projected, poured or allowed to flow on to the surface of the work the liquid or other fluent material being discharged through an outlet orifice by pressure, e.g. from an outlet device in contact or almost in contact, with the work
    • B05C5/0254Coating heads with slot-shaped outlet

Definitions

  • the present invention relates to a coating method and a method for manufacturing an organic electronic element by this coating method. More specifically, when coating is performed with a coating apparatus on a belt-like substrate that is continuously transported while being held by a back roll, the adhesion between the back roll and the support is stabilized, thereby applying the coating.
  • the present invention relates to a coating method capable of uniformly coating the thickness of a film and a method for manufacturing an organic electronics element by this coating method.
  • a so-called pre-weighing type in which the coating liquid is applied to the belt-shaped substrate by discharging the coating liquid in an amount that forms a necessary coating liquid film as a coating method for coating the belt-shaped substrate that runs continuously from the past.
  • a pre-weighing type coating apparatus used for the coating method is known.
  • As a pre-weighing type coating method an extrusion coating method using a slit type die coater, a slide coating method using a slit type die coater, a curtain coating method, a coating method using an inkjet head, and the like are known.
  • the extrusion coating method using a slit type die coater has higher coating accuracy, higher quality, higher speed, thin film, suitability for multilayer coating, etc.
  • organic electroluminescence elements hereinafter also referred to as organic EL elements
  • organic thin film transistor elements organic solar cell elements (hereinafter organic) It is also referred to as a PV element) and is used for manufacturing devices including various organic electronic elements such as organic photoelectric conversion elements.
  • Organic electronics devices are devices that perform electrical operations using organic compounds, and are expected to exhibit features such as energy saving, low cost, and flexibility, and are attracting attention as a technology that replaces conventional inorganic semiconductors based on silicone. Has been. These organic electronics elements are elements that emit light, generate electric power, charge, or control current and voltage by passing a current through an electrode through a very thin film of an organic compound.
  • the organic EL element is a base material in a state where a light emitting layer or the like (organic layer) made of a thin film of an organic compound is sandwiched between thin film electrodes made of a first electrode (anode or cathode) and a second electrode (anode or cathode).
  • the device is configured as described above and emits light when a current is supplied between a first electrode (anode or cathode) and a second electrode (anode or cathode). Therefore, when an organic EL element is used as a light source, it is easy to reduce the size and weight, and the illuminating device has a faster response speed of light emission than a fluorescent lamp, and the light quantity immediately after lighting is relatively stable.
  • the stability of the bead, the physical properties of the coating liquid, the drying conditions, and the vibration during the application of the back roll are conventionally used. Investigations have been made in terms of suppression, substrate shaking, substrate flatness, and the like.
  • a porous back roll having pores of 50 ⁇ m to 200 ⁇ m is used, and the belt-shaped substrate is adhered to the back roll by adhering the belt-shaped substrate to the back roll
  • a coating method is known that prevents the material from shaking and keeps the coating film thickness uniform with high accuracy (see, for example, Patent Document 1).
  • non-contact method for example, in order to avoid contact between the transport roll and the coating surface when transporting a belt-shaped substrate having a coating surface, air is supplied to the transport roll from a hole or slit provided on the surface of the transport roll. Air blown to the coating surface side of the belt-shaped substrate, balancing the transport tension and air blowing force, air floating system to lift and transport the belt-shaped substrate, and stepped rolls with both ends raised There is a stepped roll method in which only the both end portions outside the width wider than the application width of the belt-like substrate are brought into contact with the both end portions of the stepped roll and conveyed.
  • the organic compound used in the organic electronics element is generally formed on a first electrode having a pattern formed on a substrate, and the first electrode having this pattern is formed of a material different from that of the substrate. If the heat treatment such as drying is performed after cleaning the base material or applying the organic compound, the surface of the base material becomes uneven and uniform. It was found that it was difficult to obtain a satisfactory film thickness.
  • Patent Document 1 a method for preventing the band-shaped substrate from shaking by adsorbing the band-shaped substrate to the back roll is described. Since the surrounding gas is also sucked from the surface of the roll opposite to the slit type die coater where the belt-shaped substrate is not wound, the pressure inside the back roll can adsorb the belt-shaped substrate to the surface of the back roll. It is difficult to sufficiently prevent the band-shaped substrate from shaking, and the unevenness generated on the surface of the band-shaped substrate cannot be corrected. It has been found that it has the following drawbacks.
  • the belt-like substrate When the belt-like substrate is brought into close contact with the back roll, the belt-like substrate enters into the holes of 50 ⁇ m to 200 ⁇ m provided on the surface of the back roll, and the surface of the belt-like substrate becomes concave, resulting in poor flatness. As a result, a uniform film thickness cannot be obtained.
  • the back surface of the support is in non-contact with the back roll of the 50 ⁇ m to 200 ⁇ m pores provided on the surface of the back roll.
  • a difference occurs in heat transfer on the back surface, a difference occurs in the drying speed, and drying unevenness occurs. As a result, a uniform film thickness cannot be obtained.
  • the belt-like substrate having a film patterned on the surface is conveyed at a low tension of 100 N / m width or less, and a coating liquid is applied onto the belt-like substrate using a slit type die coater.
  • Development of a coating method capable of obtaining a stable and uniform film thickness even when a thin film is formed, and a method for producing an organic electronic element using this coating method are desired.
  • the present invention has been made in view of the above situation, and an object of the present invention is to provide a belt-like base material having a film patterned with a material different from the base material on the surface and having a width of 5 N / m or more and 100 N / m or less.
  • a coating method that provides a stable and uniform film thickness even when a thin film is formed by transporting at low tension and applying a coating liquid onto a strip-shaped substrate using a slit die coater, and this coating It is to provide a method of manufacturing an organic electronic device using the method.
  • the belt-like substrate having a film patterned with a material different from that of the belt-like substrate on the surface of the belt-like substrate, held on a back roll and continuously conveyed at a conveyance tension of 5 N / m width to 100 N / m width
  • the back roll has a porous surface having pores having an average equivalent diameter of 0.1 ⁇ m to 25.0 ⁇ m.
  • adsorbing means for adsorbing the belt-like substrate to the surface of the back roll.
  • the adsorbing means holds the belt-like substrate on the surface of the back roll while adsorbing and holding the belt-like substrate on the surface of the belt-like substrate.
  • the coating method characterized by applying to the surface.
  • the wet film thickness of the coating film formed by applying on the strip-shaped substrate by the slit die coater is 0.1 ⁇ m to 10.0 ⁇ m, according to any one of the above 1 to 3, Application method.
  • An organic material having a structure in which a first electrode and a second electrode are provided on a substrate, and at least one organic functional layer is laminated between the first electrode and the second electrode.
  • the said organic functional layer is formed with the coating method of any one of said 1-6, The manufacturing method of the organic electronic device characterized by the above-mentioned.
  • a belt-like substrate on which a patterned film is formed is conveyed with a low tension of 5 N / m width or more and 100 N / m width or less, and a coating solution is applied onto the belt-like substrate using a slit die coater. Even if it applied and formed the thin film coating film, the coating method which can obtain the stable uniform film thickness, and the manufacturing method of the organic electronics element using this coating method were able to be provided.
  • Fig. 1 shows the application of coating liquid using a slit-type die coater on a band-shaped substrate formed on a surface that is held by a back roll and is continuously conveyed on a surface that is patterned with a material different from that of the substrate. It is the schematic of the process of forming a coating film.
  • reference numeral 1 denotes a thin film in which a coating liquid is applied onto a strip-shaped substrate 2 (hereinafter also simply referred to as a strip-shaped substrate) having a film 2a (see FIG. 2) patterned with a material different from that of the substrate.
  • a formation process is shown.
  • the thin film forming step 1 includes a supply step 1a for the strip-shaped substrate 2, a coating step 1b, a drying step 1c, and a recovery step 1d.
  • the supply step 1a uses a feeding device (not shown), feeds the belt-like substrate 2 from a roll-like belt-like substrate mounted on the feeding device (not shown), and supplies the belt-like substrate 2 to the coating step 1b.
  • the strip-shaped substrate 2 has a film 2a (see FIG. 2) patterned with a material different from that of the substrate formed on the substrate 2b (see FIG. 2). Further, it is desirable that at least the surface (surface) on the side on which the organic electronic element is formed is cleaned in the cleaning step (not shown) before the coating step 1b.
  • the coating process 1b uses a slit-type die coater 1b1 and a back roll 1b2 for holding the belt-like substrate 2.
  • the coating liquid is held on the back roll 1b2 by the slit-type die coater 1b1 and continuously conveyed (in the figure). Is applied to the belt-like substrate 2 formed in the direction of the arrow) to form a wet coating film.
  • the drying step 1c uses a drying device 1c1, and heats and drys the belt-like substrate 2 on which the wet coating film applied in the applying step 1b is formed to form a dry film.
  • drying apparatus 1c1 For example, a heater heating system, a heating air system, etc. are mentioned, It is possible to select suitably as needed.
  • a winding device (not shown) is used, and the belt-like substrate 2 on which the film is formed is collected in the form of a winding roll around the winding core.
  • the belt-like substrate 2 on which the film is formed is collected in the form of a winding roll around the winding core.
  • FIG. 2 is a partially enlarged schematic view of the belt-like substrate shown in FIG.
  • FIG. 2A is a partially enlarged schematic plan view of the surface of the belt-like substrate shown in FIG.
  • FIG. 2B is a schematic cross-sectional view along AA ′ in FIG.
  • 2 indicates a belt-like substrate.
  • the strip-shaped substrate 2 has a film 2a patterned with a material different from that of the substrate 2b formed on the substrate 2b.
  • 2c shows the surface of the base material 2b where the film 2a is not formed.
  • H indicates the thickness of the film 2a.
  • the thickness H is preferably 50 nm to 250 nm in consideration of the transparency of the film and the conductivity of the film.
  • the pattern shape of the patterned film is not particularly limited and can be appropriately selected as necessary.
  • the film 2a is made of a material different from that of the substrate 2b.
  • Examples of the substance forming the film 2a include a conductive substance.
  • Examples of the patterned film include the first electrode or the second electrode in the case of an organic electronics element.
  • An example of the substrate 2b is a resin film.
  • the belt-like substrate 2 has a film patterned with a material different from that of the substrate 2b, and has the following problems. 1.
  • the flatness of the belt-like base material 2 is such that the base material 2b and the film 2a are made of a material by performing heat treatment such as drying after cleaning before forming the film or after forming the film, and drying after coating.
  • the base material 2b cannot be uniformly contracted due to the degree of contraction between the place where the film 2a is present and the place (2c) where the film 2a is not present, and the surface of the base material becomes uneven. 2. Furthermore, in order to prevent dust from adhering to the surface (surface) of the band-shaped substrate 2 on which the organic electronic element is to be formed and to prevent scratches, the coated surface is often transported in a non-contact manner and is 5 N / m width or more. , Since it is transported with a low tension of 100 N / m width or less, it is difficult to maintain flatness. 3. Since the sheet is transported in a state where no tension is applied, it is difficult to stably hold the belt-like substrate 2 on the back roll and to correct and flatten the unevenness of the surface, and a uniform film thickness cannot be obtained.
  • a thin film may be formed by a method such as vapor deposition or sputtering of an electrode material, and a pattern having a desired shape may be formed by a photolithography method, or pattern accuracy is not much required. If not (about 100 ⁇ m or more), a pattern may be formed through a mask having a desired shape at the time of vapor deposition or sputtering of the electrode material. Or when using the substance which can be apply
  • a belt-like substrate 2 having a film 2a patterned with a material different from that of the substrate 2b is used on the substrate 2b and is held on the back roll in the coating step 1b.
  • the present invention relates to a coating method for applying a stable and uniform film thickness using a slit-type die coater on the belt-like substrate 2 that is continuously conveyed, and a method for manufacturing an organic electronic device by this coating method. .
  • FIG. 3 is an enlarged schematic view of the back roll shown in FIG.
  • FIG. 3A is an enlarged schematic perspective view of the back roll shown in FIG.
  • FIG. 3B is a schematic cross-sectional view along the line BB ′ shown in FIG.
  • 1b2 indicates a back roll.
  • 1b21 indicates a disk-shaped side plate
  • 1b22 indicates a disk-shaped side plate opposite to the disk-shaped side plate 1b21.
  • 1b23 indicates the surface of the back roll.
  • the surface 1b23 is formed from a side plate 1b21 and a porous substrate 1b23a sandwiched between the side plates 1b22.
  • the back roll 1b2 has a cylindrical structure having two side plates 1b21, a side plate 1b22, a side plate 1b21, and a porous substrate 1b23a sandwiched between the side plates 1b22.
  • 1b24 shows the inside of the back roll 1b2.
  • Reference numeral 1b27 denotes a suction pipe for reducing the pressure inside, and is connected to a vacuum pump (not shown) which is a suction means.
  • the location and method of arranging the suction pipe 1b27 are not particularly limited as long as the method does not affect the rotation of the back roll 1b2.
  • porous substrate 1b23a examples include sintered alloys and ceramics. Among these, a porous ceramic is a preferable porous substrate.
  • the portion formed of the porous substrate 1b23a is preferably smaller than the width of the belt-like substrate 2 and larger than the coating width. However, when the average value of the equivalent diameters of the pores is 5 ⁇ m or less, the entire width of the back roll 1b2 May be selected as appropriate.
  • the average value of the equivalent diameters of the pores is 0.1 ⁇ m to 25 ⁇ m.
  • the equivalent diameter is represented by the following formula 1.
  • the strip-shaped substrate adsorbed on the pores is sucked into the pores to be in a concave state, the flatness of the strip-shaped substrate is deteriorated, and the coating film thickness becomes unstable, which is not preferable.
  • the suction resistance is reduced, and suction from the surface of the back roll opposite to the slit-type die coater on the side where the belt-like substrate is not wound increases, so the adsorption pressure is weakened, and the unevenness of the belt-like substrate is reduced. This is not preferable because the coating film thickness becomes unstable due to insufficient correction.
  • the average value of the equivalent diameters of the pores exceeds 25 ⁇ m, there is a difference in the back surface heat transfer between the pore portion where the back surface of the belt-shaped substrate is not in contact with the back roll and the portion other than the contacting pores.
  • a coating liquid using a fast drying solvent is used and the coating film is a thin film, drying unevenness occurs. As a result, a uniform film thickness cannot be obtained.
  • the suction resistance is reduced, and suction from the back roll surface on the opposite side of the slit type die coater, on which the belt-like substrate is not wound, increases, so that the adsorption pressure is weakened and the flatness of the belt-like substrate is reduced.
  • the coating film thickness becomes unstable due to insufficient correction.
  • the back surface of the belt-shaped substrate is not in contact with the back roll and the other portions than the pores are in contact with each other. A difference occurs in heat and a difference in drying speed, but when the average value of the equivalent diameters of the pores exceeds 25 ⁇ m, the difference becomes large and drying unevenness occurs. As a result, a uniform film thickness cannot be obtained.
  • the average value of the equivalent diameters of the pores was magnified about 1000 times with a scanning confocal laser microscope LEXT-OLS3000 manufactured by Olympus Corporation, and the pore area and circumference of 50 pores were randomly scanned.
  • the average value of the equivalent diameters of 50 pores calculated by using the software attached to the focus laser microscope LEXT-OLS3000 and calculated as equivalent diameter 4 ⁇ area / perimeter was used.
  • the degree of vacuum inside the back roll 1b2 is preferably -96 kPa to -10 kPa in consideration of the retention of the belt-like substrate on the surface of the back roll, the flatness of the belt-like substrate, and the like.
  • the degree of vacuum indicates a value measured by a differential pressure gauge AP-41 manufactured by Keyence Corporation.
  • the back roll 1b2 it is possible to use a commercially available roll.
  • a suction roll manufactured by Nanotem Co., Ltd. a porous ceramic roll type vacuum chuck manufactured by Nippon Tungsten Co., Ltd., or a porous ceramic manufactured by Nippon Sheet Glass Co., Ltd.
  • a cylindrical molded product, a cylindrically molded porous metal manufactured by Taisei Kogyo Co., Ltd., or the like is possible to use a commercially available roll.
  • a suction roll manufactured by Nanotem Co., Ltd. a porous ceramic roll type vacuum chuck manufactured by Nippon Tungsten Co., Ltd., or a porous ceramic manufactured by Nippon Sheet Glass Co., Ltd.
  • a cylindrical molded product a cylindrically molded porous metal manufactured by Taisei Kogyo Co., Ltd., or the like.
  • a porous roll produced by sintering particles as a material is indefinite because the gaps between the particles become pores, but the cylindrical plate has round, triangular, elliptical, rectangular, etc. holes. It may be a product obtained by processing a large number of.
  • FIG. 4 is a schematic enlarged view of a portion indicated by X in FIG.
  • FIG. 4A is a schematic enlarged perspective view of a portion indicated by X in FIG.
  • FIG. 4B is a schematic plan view of FIG.
  • 1b12 indicates a supply pipe for supplying the coating liquid to the slit type die coater 1b1.
  • the tension when the belt-like substrate 2 is conveyed around the back roll 1b2 is 5 N / m width to 100 N / m width.
  • the width is less than 5 N / m, the conveyance is generally unstable, and meandering and speed fluctuation are generated.
  • the width exceeds 100 N / m, if the air levitation method is used, levitation is difficult, and the coated surface comes into contact with the surface of the conveyance roll, making contactless conveyance impossible. In such a case, the central portion is not preferable because it is deformed or broken.
  • the tension indicates a value measured with a tension meter LX-015TD manufactured by Mitsubishi Electric Corporation. In the present invention, the tension means the tension in the transport direction of the belt-shaped substrate.
  • FIG. 3 shows a wet coating applied on the strip-shaped substrate 2 held by the back roll 1b2 by the slit die coater 1b1.
  • belt-shaped base material 2 means the surface 2c (refer FIG.2 (b)) of the base material 2b on which the film
  • Other symbols are the same as those in FIG.
  • the film thickness of the wet coating film is from 0 nm because the film thickness after drying per organic layer of the organic electronics element is from several nm to several tens nm, and the solid content concentration of the coating solution is often several%. 1 ⁇ m to 10 ⁇ m is preferable.
  • the wet film thickness indicates the theoretical film thickness calculated by the following equation.
  • wet film thickness coating liquid supply flow rate / (coating width x coating speed)
  • various organic EL elements, organic thin film transistor elements, organic solar cell elements (hereinafter also referred to as organic PV elements), and organic photoelectric conversion elements are used. It can be used for the production of organic functional layers such as organic electronics elements.
  • the following effects can be given by the coating method of the present invention. 1. Using a band-shaped substrate having a film patterned with a material different from the substrate on the substrate, and performing heat treatment before coating, unevenness occurs due to the difference in shrinkage between the pattern part and the non-pattern part. Even if the belt-like base material with deteriorated flatness is transported at a tension of 5 N / m to 100 N / m, it is possible to correct the unevenness with the back roll and flatten it, and to form a stable film thickness. became. 2. By reducing the average value of the equivalent diameters of the porous pores from 0.1 ⁇ m to 25 ⁇ m from the conventional value, the belt-like base material does not enter the pores and the solvent-based coating solution is quickly dried. Even if it is applied as a thin film, it can be applied on the back roll without causing unevenness in drying due to the difference in heat conduction between the porous pores and the portions other than the pores.
  • FIG. 5 is a schematic view of an organic electronic device manufactured using the coating method of the present invention.
  • FIG. 5A is a schematic perspective view of the organic electronics element of the present invention.
  • FIG. 5B is a schematic cross-sectional view along CC ′ in FIG.
  • FIG. 5C is a schematic cross-sectional view along the line DD ′ in FIG.
  • the organic electronics element 4 includes a first electrode (anode) 402, a functional layer 403, a second electrode (cathode) 404, and a sealing member 406 fixed via an adhesive layer 405 sequentially on the base material 401.
  • the sealing structure is tightly sealed.
  • 402 a indicates an extraction electrode of the first electrode (anode) 402
  • 404 a indicates an extraction electrode of the second electrode (cathode) 404.
  • a gas barrier film (not shown) may be provided between the first electrode (anode) 402 and the substrate 401.
  • the thickness of the sealing member 406 is preferably 5 ⁇ m to 500 ⁇ m in consideration of productivity associated with the occurrence of claw breakage, flexibility of the organic electronics element itself, and the like.
  • the thickness of the adhesive layer 405 is preferably 10 ⁇ m to 50 ⁇ m in consideration of adhesiveness, moisture resistance and the like.
  • Examples of the functional layer include a configuration in which a hole transport layer / organic layer (light-emitting layer or photoelectric conversion layer) / electron transport layer are sequentially stacked on the first electrode.
  • a plurality of organic electronics elements shown in this figure into a large organic electronics element.
  • a plurality of stacked bodies each including a first electrode having an extraction electrode formed on a substrate and a functional layer formed on the first electrode are arranged, and a second electrode common to all the stacked bodies is stacked. It is also possible to provide an organic electronic element by being tightly sealed with an adhesive layer 405 and a sealing member 406 as shown in FIG.
  • organic electronics element 4 In the organic electronics element 4 shown in the figure, light is emitted from the base material when direct current is supplied from the extraction electrode 402a and the extraction electrode 404a as an organic EL element.
  • organic PV element In the organic PV element, a direct electromotive force is generated by irradiating light from the base material, and power is extracted from the extraction electrode 402a and the extraction electrode 404a.
  • the layer structure of the organic EL element is an example of a lamination method.
  • the typical layer structure of the organic EL element is as described in (1) to (5) below. The structure shown is mentioned.
  • the light emitting layer is not particularly limited in its configuration as long as the light emitting material included satisfies the above requirements. Further, there may be a plurality of layers having the same emission spectrum and emission maximum wavelength. It is preferable to have a non-light emitting intermediate layer between each light emitting layer.
  • the total film thickness of the light emitting layer is preferably in the range of 1 nm to 100 nm, and more preferably 30 nm or less because a lower driving voltage can be obtained.
  • the sum total of the film thickness of the light emitting layer said here is a film thickness also including this intermediate
  • each light emitting layer is preferably adjusted in the range of 1 nm to 50 nm, more preferably in the range of 1 nm to 20 nm. There is no particular limitation on the relationship between the film thicknesses of the blue, green and red light emitting layers.
  • the light emitting layer contains at least two kinds of light emitting materials having different emission colors, and a single layer or a light emitting layer unit composed of a plurality of light emitting layers may be formed.
  • a light emitting material or a host compound can be formed by a known thinning method such as a vacuum deposition method, a spin coating method, a casting method, an LB method, or an ink jet method.
  • the layer structure of the organic photoelectric conversion element is an example of the lamination method, but the layer structure of the organic photoelectric conversion element (organic thin film solar cell)
  • Typical layer configurations include the following configurations (I) to (IV). The following structure is mentioned as a typical layer structure of a functional layer.
  • the organic photoelectric conversion device can increase the efficiency of extracting holes and electrons to the anode / cathode by sandwiching the photoelectric conversion layer between the hole transport layer and the electron transport layer. It is preferable to have the configuration. Also, the photoelectric conversion layer itself has a configuration in which the photoelectric conversion layer is sandwiched between layers made of a p-type semiconductor material and a single n-type semiconductor material in order to improve the rectification of holes and electrons (selection of carrier extraction) (p- It may also be referred to as an “in structure”. Moreover, in order to improve the utilization efficiency of sunlight, the structure which absorbs sunlight of a different wavelength with each photoelectric converting layer may be sufficient. The thickness of the photoelectric conversion layer is preferably adjusted in the range of 50 nm to 400 nm, more preferably in the range of 80 nm to 300 nm.
  • a p-type semiconductor material and an n-type semiconductor material are formed by a known thinning method such as a vacuum deposition method, a spin coating method, a casting method, an LB method, or an ink jet method. I can do it.
  • FIG. 6 is a schematic view of a manufacturing process for manufacturing an organic EL element used for illumination among the organic electronic elements using the coating method shown in FIGS. 1 to 4.
  • 5 indicates the manufacturing process of the organic EL element.
  • the manufacturing process 5 includes a first supply process 501, a hole injection layer formation process 502, a hole transport layer formation process 503, a light emitting layer formation process 504, an electron transport layer formation process 505, and a first recovery process 506.
  • the first supply process 501 uses a feeding device (not shown) for the strip-shaped substrate 6 wound up in a roll shape and an accumulator 501a.
  • the belt-like substrate 6 is fed out.
  • the accumulator 501a is provided for speed adjustment with the next hole injection layer forming step 502.
  • the band-shaped substrate 6 has the same configuration as that of the band-shaped substrate 2 shown in FIG. 3, and a first electrode (indium tin oxide (ITO)) is used as a patterned film 2a (see FIG. 2) ( Anode) (not shown) is formed.
  • An alignment mark (not shown) indicating the position of the first electrode (anode) is preferably provided.
  • the thickness of the first electrode (anode) was 120 nm. The thickness indicates a value measured by a spectroscopic ellipsometer Auto SE manufactured by Horiba, Ltd.
  • the hole injection layer forming step 502 includes a coating step 502a and a drying step 502b, and uses an accumulator 502c and an antistatic means 502d.
  • a first electrode (not shown) is formed except for a first electrode extraction electrode portion (not shown) of the belt-like substrate 6 on which a patterned first electrode (not shown) is formed.
  • a hole injection layer forming coating solution is applied onto the substrate, a hole injection layer is formed through a drying step 502b, and is conveyed to the next hole transport layer forming step 503.
  • the accumulator 502c is provided for speed adjustment with the hole transport layer forming step 503 in the next step.
  • the coating process 502a has the same configuration as the coating process 1b shown in FIG. 1, and is applied by a pre-weighing type coating method, and uses a pre-metering type coating apparatus.
  • the pre-weighing type coating method include an extrusion coating method using a slit type die coater, a slide coating method using a slit type die coater, a curtain coating method, and a coating method using an inkjet head. Use of these pre-weighing type coating devices can be appropriately selected according to the material of the hole injection layer.
  • This figure uses a slit-type die coater 502a1 and a back roll 502a2 holding the belt-like substrate 6 as a pre-weighing type coating device.
  • the back roll 502a2 has the same configuration as the back roll 1b2 shown in FIG.
  • the coating solution for forming the hole injection layer by the slit type die coater 502a1 is applied to the entire surface of the belt-like substrate 6.
  • an unnecessary portion of the coating film is removed in the removing process (not shown) after the coating is completed.
  • the removal method is not particularly limited, and examples thereof include a wiping method using a solvent used in the coating solution.
  • Unnecessary portions include an external extraction electrode (not shown) for the first electrode, an external extraction electrode (not shown) for the second electrode (not shown), and an adjacent first electrode (not shown). There is an interval.
  • the drying step 502b uses a drying device 502b1 and a heat treatment device 502b2.
  • drying apparatus 502b1 For example, a heating system, a heating air system, etc. are mentioned, It is possible to select suitably as needed.
  • the heat treatment apparatus 502b2 heats a coating film for hole injection layer formation (not shown) from the back surface side of the belt-like substrate 6 by the back surface heat transfer method.
  • the hole injection layer is configured in consideration of improvement of the smoothness of the hole injection layer, removal of residual solvent, hardening of the hole injection layer, and the like. It is preferable to perform the backside heat transfer system heat treatment at a temperature that is ⁇ 30 ° C. to + 30 ° C. relative to the glass transition temperature of the resin that does not exceed the decomposition temperature of the organic compound that constitutes the hole injection layer. .
  • antistatic means 502d it is preferable to dispose antistatic means 502d as necessary between the drying step 502b and the hole transport layer forming step 503.
  • the antistatic means 502d has a non-contact type antistatic device 502d1 and a contact type antistatic device 502d2.
  • Examples of the non-contact type antistatic device 502d1 include a non-contact type ionizer.
  • the type of ionizer is not particularly limited, and the ion generation method may be either an AC method or a DC method.
  • An AC type, a double DC type, a pulsed AC type, and a soft X-ray type can be used, but the AC type is particularly preferable from the viewpoint of precise static elimination.
  • Air or N 2 is used as the injection gas required when using the AC type, but it is preferable to use N 2 with sufficiently high purity. Also, it is selected from a blower type or a gun type from the viewpoint of performing inline.
  • a static eliminating roll or a conductive brush connected to the ground is used as the contact-type antistatic device 502d2.
  • the static elimination roll as the static eliminator is grounded and removes the surface charge by rotatingly contacting the neutralized surface.
  • Such static elimination rolls include rolls made of elastic plastic or rubber mixed with conductive materials such as carbon black, metal powder, and metal fibers in addition to rolls made of metal such as aluminum, copper, nickel, and stainless steel. used.
  • an elastic material is preferable in order to improve contact with the belt-like substrate 6.
  • the conductive brush connected to the earth include a neutralizing bar or a neutralizing yarn structure having a brush member made of conductive fibers arranged in a line or a linear metal brush.
  • the neutralization bar is not particularly limited, but a corona discharge type is preferably used.
  • a corona discharge type is preferably used.
  • SJ-B manufactured by Keyence Corporation is used.
  • static elimination yarn usually a flexible yarn is preferably used.
  • 12/300 ⁇ 3 manufactured by Naslon can be cited as an example.
  • the non-contact type antistatic device 502d1 is used on the hole injection layer surface side formed on the belt-like substrate 6, and the contact type antistatic device 502d2 is used on the back surface side of the belt-like substrate 6.
  • the thickness of the hole injection layer is preferably 0.1 nm to 100 nm, more preferably 5 nm to 70 nm, and most preferably 10 nm to 50 nm.
  • the thickness indicates a value measured with a spectroscopic ellipsometer Auto SE manufactured by Horiba, Ltd.
  • the hole transport layer forming step 503 has a coating step 503a and a drying step 503b, and uses an accumulator 503c.
  • the hole transport layer forming coating solution is applied to the entire upper surface of the belt-like substrate 6 on which the hole injection layer is formed.
  • a hole transport layer is formed through a drying step 503b and conveyed to the next light emitting layer forming step 504.
  • the accumulator 503c is provided for speed adjustment with the light emitting layer forming step 504 of the next step.
  • the coating process 503a has the same configuration as the coating process 1b shown in FIG. 1, and is applied by the same pre-metering-type coating method as the coating process 502a of the hole injection layer forming process 502.
  • the same slit-type die coater 503a1 as that in the coating step 502a and a back roll 503a2 for holding the belt-like substrate 6 are used.
  • the hole transport layer forming coating solution by the slit type die coater 503a1 is applied to the entire surface including the hole injection layer formed on the belt-like substrate 6.
  • the coating solution for forming the hole transport layer applied on the entire surface of the belt-like substrate 6 is removed in a removing step (not shown) after the coating is completed.
  • the removal method and unnecessary portions are the same as those in the hole injection layer.
  • the drying step 503b uses a drying device 503b1 and a heat treatment device 503b2.
  • the drying device 503b1 and the heat treatment device 503b2 are the same as the drying device 502b1 and the heat treatment device 502b2 used in the drying step 502b of the hole injection layer forming step 502, and thus description thereof is omitted.
  • antistatic means 503d between the drying step 503b and the light emitting layer forming step 504 as necessary. Since the antistatic means 503d is the same as the antistatic means 502d used in the hole injection layer forming step 502, description thereof is omitted.
  • the thickness of the hole transport layer is preferably from 0.1 nm to 100 nm, more preferably from 5 nm to 70 nm, and most preferably from 10 nm to 50 nm.
  • the thickness indicates a value measured with a spectroscopic ellipsometer Auto SE manufactured by Horiba, Ltd.
  • the light emitting layer forming step 504 includes a coating step 504a and a drying step 504b, and uses an accumulator 504c.
  • the accumulator 504c is disposed for speed adjustment with the electron transport layer forming step 505 in the next step.
  • a light emitting layer forming coating solution is applied to the entire upper surface of the belt-like substrate 6 on which the hole transport layer is formed.
  • a light emitting layer is formed through a drying step 504b and conveyed to an electron transport layer forming step 505 as a next step.
  • the accumulator 504c is disposed for speed adjustment with the electron transport layer forming step 505 in the next step.
  • the coating process 504a has the same configuration as the coating process 1b shown in FIG. 1, and is applied by the same pre-metering-type coating method as the coating process 502a of the hole injection layer forming process 502.
  • the same slit-type die coater 504a1 as the coating step 502a and the back roll 504a2 that holds the belt-like substrate 6 are used.
  • the hole transport layer forming coating solution by the slit type die coater 504a1 is applied to the entire surface including the hole transport layer formed on the belt-like substrate 6.
  • the coating solution for forming the hole transport layer applied on the entire surface of the belt-like substrate 6 is removed in the removing step (not shown) after the coating is completed.
  • the removal method and unnecessary portions are the same as those in the hole injection layer.
  • the drying step 504b uses a drying device 504b1 and a heat treatment device 504b2. Since the drying device 504b1 and the heat treatment device 504b2 are the same as the drying device 502b1 and the heat treatment device 502b2 used in the drying step 502b of the hole injection layer forming step 502, description thereof is omitted.
  • antistatic means 504d it is preferable to dispose antistatic means 504d as necessary between the drying step 504b and the electron transport layer forming step 505. Since the antistatic means 504d is the same as the antistatic means 502d used in the hole injection layer forming step 502, description thereof is omitted.
  • the light emitting layer (not shown) is a multilayer, it is necessary to arrange an application process and a drying process according to the number of layers.
  • a white element can be manufactured by forming a light emitting layer in multiple layers.
  • the light emitting layer refers to a blue light emitting layer, a green light emitting layer, and a red light emitting layer.
  • the lamination order in the case of laminating
  • blue light emitting layer / green light emitting layer / red light emitting layer / blue light emitting layer blue light emitting layer / green light emitting layer / red light emitting layer / blue light emitting from the order close to the anode.
  • the total thickness of the light emitting layer is not particularly limited, but is usually selected in the range of 2 nm to 5 ⁇ m, preferably 2 nm to 200 nm in consideration of the film uniformity, the voltage required for light emission, and the like. Further, it is preferably in the range of 10 nm to 100 nm. A film thickness of 100 nm or less is preferable because it has the effect of improving the stability of the emission color with respect to the driving current as well as the voltage surface.
  • the thickness of each light emitting layer is preferably selected in the range of 2 nm to 100 nm, and more preferably in the range of 2 nm to 20 nm. Although there is no restriction
  • the electron transport layer forming step 505 has a coating step 505a and a drying step 505b, and uses an accumulator 505c.
  • the accumulator 505c is provided for speed adjustment with the first recovery step 506 of the next step.
  • the electron transport layer forming coating solution is applied to the entire upper surface of the belt-like substrate 6 on which the light emitting layer is formed. Thereafter, an electron transport layer is formed through a drying step 505b, and is transported to the first recovery step 506 of the next step and once recovered.
  • the application process 505a has the same configuration as the application process 1b shown in FIG. 1, and is applied by the same pre-metering-type application method as the application process 502a of the hole injection layer forming process 502.
  • the same slit-type die coater 505a1 as that in the coating step 502a and a back roll 505a2 for holding the belt-like substrate 2 are used.
  • the coating liquid for forming an electron transport layer by the slit type die coater 505a1 is applied to the entire surface including the light emitting layer formed on the belt-like substrate 6.
  • the unnecessary coating film is removed in the removing step (not shown) after the coating of the electron transport layer forming coating solution applied on the entire surface of the belt-like substrate 6 is completed.
  • the removal method and unnecessary portions are the same as those in the hole injection layer.
  • the drying step 505b uses a drying device 505b1 and a heat treatment device 505b2.
  • the drying device 505b1 and the heat treatment device 505b2 are the same as the drying device 502b1 and the heat treatment device 502b2 used in the drying step 502b of the hole injection layer forming step 502, and thus description thereof is omitted.
  • antistatic means 505d between the drying step 505b and the first recovery step 506 as necessary. Since the antistatic means 505d is the same as the antistatic means 502d used in the hole injection layer forming step 502, description thereof is omitted.
  • the second supply step 507 uses a feeding device (not shown) of the belt-like substrate 6 formed up to the electron transport layer and wound up in a roll shape, and an accumulator 507a, and a second electrode formation step 508 of the next step.
  • the belt-like substrate 6 having the electron transport layer formed thereon is fed out.
  • the accumulator 507a is provided for speed adjustment with the second electrode forming step 508 of the next step.
  • the preferred film thickness range of the electron transport layer is preferably from 0.1 nm to 100 nm, more preferably from 5 nm to 80 nm, and most preferably from 10 nm to 60 nm.
  • 2nd electrode formation process 508 has the vapor deposition apparatus 508a and the accumulator 508c which have the evaporation source container 508b.
  • the accumulator 508c is provided for speed adjustment with the second recovery step 509 of the next step.
  • an alignment mark (not shown) attached to the belt-like substrate 6 on which the electron transport layer supplied from the second supply step 507 is formed is read with a detection device (not shown).
  • a second electrode (cathode) (not shown) is formed on the already formed electron injection layer (not shown) at a position determined by the vapor deposition device 508a in accordance with information from the detection device (not shown).
  • the sheet resistance as the second electrode (cathode) is preferably several hundred ⁇ / ⁇ or less, and the film thickness is usually selected in the range of 10 nm to 5 ⁇ m, preferably 50 nm to 200 nm.
  • a belt-like substrate 6 is formed in which the structure of the substrate / first electrode (anode) / hole injection layer / hole transport layer / light emitting layer / electron injection layer / second electrode (cathode) is formed. .
  • the method for forming the second electrode (cathode) is not particularly limited.
  • a plasma CVD method, a laser CVD method, a thermal CVD method, a coating method, or the like can be used.
  • the film thickness of the second electrode is usually 10 nm to 5 ⁇ m, preferably 50 nm to 200 nm.
  • the third supply step 510 uses a feeding device (not shown), and continuously feeds the belt-like substrate 6 on which the second electrode (cathode) is formed in the adhesive coating step 511 of the next step. It has become.
  • the sealing member bonding step 511 uses an adhesive application device 511a and a sealing member bonding device 511b. An adhesive is applied onto the second electrode by the adhesive application device 511a, and the sealing member 511c is bonded.
  • the cutting step 512 uses a cutting device 512a to detect an alignment mark attached to the belt-like substrate 6 on which the second electrode (cathode) sent from the sealing member bonding step 511 is formed. Individual organic EL elements are manufactured by detecting and cutting in the figure.
  • the belt-shaped substrate is transported in a non-contact manner using the air floating roll on the coating surface side, and the transport tension is determined to lift the belt-shaped substrate on the air floating roll.
  • the width was set to 5 N / m to 100 N / m.
  • each coating process 502a, coating process 503a, coating process 504a, and coating process 505a are full-coated slit type die coaters.
  • an organic compound layer is pattern-coated on the first electrode (anode) in accordance with the pattern of the first electrode (anode) formed by patterning with a material different from that of the substrate. Therefore, for example, it is possible to use various coating apparatuses used for an inkjet method, a flexographic printing method, an offset printing method, a gravure printing method, a screen printing method, a spray coating method using a mask, and the like.
  • This figure shows the case where the hole injection layer formation process is divided into the electron transport layer formation process and the second electrode formation process, but the process from the hole injection transport layer formation process to the second electrode formation process is continued. Is also possible.
  • the organic photoelectric conversion element which has the structure of a base material / 1st electrode / hole transport layer / photoelectric conversion layer / electron injection layer / second electrode, for example
  • the coating method shown in FIGS. 1 to 4 can also be used to form a hole transport layer and a photoelectric conversion layer which are organic functional layers.
  • the electron injection layer is formed by a vapor deposition method, it is preferable to form the photoelectric conversion layer, and after winding and storing it, the electron injection layer and the second electrode are formed by the vapor deposition method.
  • a hole-injecting layer, a hole-transporting layer, a light-emitting layer, and a belt-shaped substrate having a first electrode formed by patterning with a material different from the substrate by a low-tension transport method Even if the functional layer of the electron transport layer is formed, each layer can be stably formed, and an organic EL device having stable performance can be manufactured.
  • Organic light-emitting materials contained in the light-emitting layer include aromatic heterocyclic compounds such as carbazole, carboline, diazacarbazole, triarylamine derivatives, stilbene derivatives, polyarylenes, aromatic condensed polycyclic compounds, aromatic heterocondensed compounds. Examples thereof include a ring compound, a metal complex compound, and the like, and a single oligo body or a composite oligo body thereof.
  • the present invention is not limited to this, and widely known materials can be used.
  • the light emitting layer may preferably contain about 0.1% by mass to 20% by mass of a dopant in the light emitting material.
  • the dopant include known fluorescent dyes such as perylene derivatives and pyrene derivatives.
  • a phosphorescent type light emitting layer for example, tris (2-phenylpyridine) iridium, bis (2-phenylpyridine) (acetylacetonate).
  • a complex compound such as an orthometalated iridium complex represented by iridium, bis (2,4-difluorophenylpyridine) (picolinato) iridium, and the like is similarly contained in an amount of about 0.1 to 20% by mass.
  • the phosphorescent light emitting method is a preferred embodiment in the present invention in which uneven light emission hardly occurs due to a light emitting region inside the light emitting layer.
  • the thickness of the light emitting layer is preferably in the range of 1 nm to several hundred nm.
  • P-type semiconductor material for organic PV elements examples include various condensed polycyclic aromatic low molecular compounds and conjugated polymers / oligomers.
  • condensed polycyclic aromatic low-molecular compound examples include pentacene and derivatives thereof, porphyrin and phthalocyanine, copper phthalocyanine and derivatives thereof.
  • conjugated polymer examples include polythiophene such as poly-3-hexylthiophene (P3HT) and oligomers thereof, polythiophene-thienothiophene copolymer, polythiophene-diketopyrrolopyrrole copolymer, polythiophene-thiazolothiazole copolymer, Nature Mat. vol.
  • polypyrrole and its oligomer polyaniline, polyphenylene and its oligomer, polyphenylene vinylene and its oligomer, polythienylene vinylene and its oligomer, polyacetylene, polydiacetylene, Examples thereof include polymer materials such as ⁇ -conjugated polymers such as polysilane and polygermane.
  • the n-type semiconductor material used for the photoelectric conversion layer is not particularly limited.
  • fullerene, octaazaporphyrin, and other p-type semiconductor perfluoro compounds perfluoropentacene, perfluorophthalocyanine, etc.
  • aromatic carboxylic acid anhydrides such as naphthalenetetracarboxylic acid anhydride, naphthalenetetracarboxylic acid diimide, perylenetetracarboxylic acid anhydride, and perylenetetracarboxylic acid diimide, and polymer compounds containing an imidized product thereof as a skeleton. .
  • Hol injection / transport layer, electron block layer Materials used for the hole injection layer, hole transport layer, and electron blocking layer include phthalocyanine derivatives, heterocyclic azoles, aromatic tertiary amines, polyvinyl carbazole, polyethylene dioxythiophene / polystyrene sulfonic acid (PEDOT: PSS). ) And the like are used for the light emitting layer, for example, carbazole such as 4,4′-dicarbazolylbiphenyl, 1,3-dicarbazolylbenzene, etc.
  • azacarbazoles low-molecular luminescent materials typified by pyrene-based luminescent materials such as 1,3,5-tripyrenylbenzene, polyphenylene vinylenes, polyfluorenes, polyvinyl carbazoles, etc. And polymer light emitting materials.
  • Electrode injection / transport layer hole blocking layer
  • Various n-type materials can be used as the electron injection / transport layer material.
  • materials that can be preferably used for the organic electronic device of the present invention include metal complex compounds such as 8-hydroxyquinolinate lithium and bis (8-hydroxyquinolinato) zinc, or the following nitrogen-containing five-membered rings There are derivatives. That is, oxazole, thiazole, oxadiazole, thiadiazole or triazole derivatives are preferred.
  • fullerenes carbon nanotubes, p-type semiconductor perfluoro compounds (perfluoropentacene, perfluorophthalocyanine, etc.), and n-type inorganic oxides such as titanium oxide, zinc oxide, gallium oxide, etc. It is also preferable in the present invention to use.
  • an electron injection layer and an electron transport layer may be laminated according to the purpose, and an optimum material may be selected in terms of electron transport properties and bonding to an electrode.
  • a material that has a function of blocking electrons as reverse carriers and improves the selectivity of charges may be selected.
  • the electron injection layer has a structure in which halides containing ions such as lithium, potassium, sodium, and cesium, for example, lithium fluoride, potassium fluoride, and the like are stacked to improve the bonding with the electrode. Particularly preferred in the invention.
  • a method of forming a vapor deposition film after performing the wiping patterning described above is particularly preferable in the present invention.
  • solvent used for coating liquid for organic functional layer formation Each organic material has solubility characteristics (solubility parameters, ionization potential, polarity), and there are limitations on the solvents that can be dissolved. In this case, since the solubility is different, the concentration cannot be generally determined. However, the type of the solvent used in the present invention is suitable for the above conditions depending on the organic material to be deposited.
  • halogenated hydrocarbon solvents such as dichloromethane, dichloroethane, chloroform, carbon tetrachloride, tetrachloroethane, trichloroethane, chlorobenzene, dichlorobenzene, chlorotoluene, dibutyl ether, tetrahydrofuran, Ether solvents such as dioxane and anisole, methanol, alcohol solvents such as ethanol, isopropanol, butanol, cyclohexanol, 2-methoxyethanol, ethylene glycol, glycerin, benzene, toluene, xylene, ethylbenzene, etc.
  • halogenated hydrocarbon solvents such as dichloromethane, dichloroethane, chloroform, carbon tetrachloride, tetrachloroethane, trichloroethane, chlorobenzene, dichlorobenzen
  • Aromatic hydrocarbon solvents such as hexane, octane, decane and tetralin, ester solvents such as ethyl acetate, butyl acetate and amyl acetate, N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, N- Amide solvents such as methylpyrrolidone, ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexanone and isophorone, amine solvents such as pyridine, quinoline and aniline, nitrile solvents such as acetonitrile and valeronitrile, sulfur such as thiophene and carbon disulfide And system solvents.
  • the solvent which can be used is not restricted to these, You may mix and use 2 or more types of these as a solvent.
  • the good solvent for the material used in the organic electronics panel include, for example, aromatic solvents, halogen solvents, ether solvents, and preferably aromatic solvents, ether solvents. It is.
  • the poor solvent include alcohol solvents, ketone solvents, paraffin solvents, and the like. Among them, alcohol solvents and paraffin solvents are used.
  • a configuration in which the material of the organic material layer is insolubilized by positively crosslinking for example, a polymer having a polymerizable group such as a vinyl group or a cross-linking group and forming a polymer or a cross-linked structure having the above structural units by heating or light irradiation can be used. As a result, dissolution of the film due to the multilayer, disturbance of the interface, and the like can be suppressed.
  • the first electrode is not particularly limited to a cathode and an anode, and can be selected depending on the element structure, but preferably a transparent electrode is used as the anode.
  • a transparent electrode is used as the anode.
  • a material having a work function larger (deep) than 4 eV is suitable as a material, for example, a transparent conductive metal oxide such as indium tin oxide (ITO), SnO 2 , or ZnO, or a metal such as gold, silver, or platinum.
  • ITO indium tin oxide
  • SnO 2 SnO 2
  • ZnO zinc oxide
  • Thin films, metal nanowires, carbon nanotubes, and the like can be used.
  • the second electrode is not particularly limited to a cathode and an anode, and can be selected depending on the element configuration, but preferably a transparent electrode is used as the anode.
  • Specific examples of such electrode materials include sodium, sodium-potassium alloy, magnesium, lithium, magnesium / copper mixture, magnesium / silver mixture, magnesium / aluminum mixture, magnesium / indium mixture, aluminum / aluminum oxide (Al 2 O 3 ) Mixtures, indium, lithium / aluminum mixtures, rare earth metals and the like.
  • these metals and the second metal which is a stable metal having a larger (deep) work function value than this
  • Mixtures such as magnesium / silver mixtures, magnesium / aluminum mixtures, magnesium / indium mixtures, aluminum / aluminum oxide (Al 2 O 3 ) mixtures, lithium / aluminum mixtures, aluminum alone and the like are suitable.
  • the second electrode can be produced by forming a thin film of these electrode materials by a method such as vapor deposition or sputtering.
  • a highly reflective metal material for example, in an organic EL element, a part of the emitted light can be reflected and taken out to the outside, and the organic PV element passes through a photoelectric conversion layer.
  • the effect of increasing the optical path length can be obtained by reflecting the reflected light and returning it to the photoelectric conversion layer again, and in any case, improvement of the external quantum efficiency can be expected.
  • a metal for example, gold, silver, copper, platinum, rhodium, ruthenium, aluminum, magnesium, indium, etc.
  • a nanoparticle, nanowire, or nanostructure made of carbon may be a metal (for example, gold, silver, copper, platinum, rhodium, ruthenium, aluminum, magnesium, indium, etc.) or a nanoparticle, nanowire, or nanostructure made of carbon.
  • a highly dispersible paste is preferable because a transparent and highly conductive counter electrode can be formed by a coating method or a printing method.
  • the counter electrode side is made light transmissive
  • a conductive material suitable for the counter electrode such as aluminum and aluminum alloy
  • silver and silver compound is formed with a thin film thickness of about 1 nm to 20 nm, and then the above-mentioned
  • a film of the conductive light-transmitting material mentioned in the description of the transparent electrode a light-transmitting electrode can be obtained.
  • the base material is preferably a member capable of transmitting emitted light or light for generating electromotive force, that is, a member transparent to the wavelength of these lights.
  • Preferred examples of the substrate that can be used in the present invention include a glass substrate and a resin substrate, but it is desirable to use a transparent resin film from the viewpoint of lightness and flexibility.
  • the transparent resin film is not particularly limited, and the material, shape, structure, thickness and the like can be appropriately selected from known ones.
  • polyester resins such as polyethylene terephthalate (PET) and polyethylene naphthalate (PEN) modified polyester, polyethylene (PE) resin film, polypropylene (PP) resin film, polystyrene resin film, polyolefin resins such as cyclic olefin resin Film, vinyl resin film such as polyvinyl chloride, polyvinylidene chloride, polyether ether ketone (PEEK) resin film, polysulfone (PSF) resin film, polyether sulfone (PES) resin film, polycarbonate (PC) resin film, A polyamide resin film, a polyimide resin film, an acrylic resin film, a triacetyl cellulose (TAC) resin film, and the like can be given.
  • PET polyethylene terephthalate
  • PEN polyethylene naphthalate
  • PEN polyethylene naphthalate
  • the resin film transmittance of 80% or more in ⁇ 800 nm can be preferably applied to a transparent resin film according to the present invention.
  • a transparent resin film according to the present invention is preferably a biaxially stretched polyethylene terephthalate film, a biaxially stretched polyethylene naphthalate film, a polyethersulfone film, or a polycarbonate film, and biaxially stretched. More preferred are polyethylene terephthalate films and biaxially stretched polyethylene naphthalate films.
  • the transparent substrate used in the present invention can be subjected to a surface treatment or an easy adhesion layer in order to ensure the wettability and adhesion of the coating solution.
  • a surface treatment or an easily bonding layer can be used about a surface treatment or an easily bonding layer.
  • the surface treatment includes surface activation treatment such as corona discharge treatment, flame treatment, ultraviolet treatment, high frequency treatment, glow discharge treatment, active plasma treatment, and laser treatment.
  • the easy-adhesion layer include polyester, polyamide, polyurethane, vinyl copolymer, butadiene copolymer, acrylic copolymer, vinylidene copolymer, and epoxy copolymer.
  • a barrier coat layer may be formed in advance on the transparent substrate, or a hard coat layer is formed in advance on the side where the transparent conductive layer is formed or on the opposite side. May be.
  • the entire organic electronics element including the base material may be laminated and sealed with two base materials with a barrier, and preferably a structure in which a moisture getter or the like is enclosed. It doesn't matter.
  • Example 1 (Preparation of a strip-shaped substrate having a patterned film) ITO (indium tin oxide) with a thickness of 120 nm on a polyethylene terephthalate film (film made by Teijin DuPont, hereinafter abbreviated as PET) having a thickness of 100 ⁇ m, a width of 500 mm, and a length of 500 m under a vacuum environment condition of 5 ⁇ 10 ⁇ 1 Pa.
  • ITO indium tin oxide
  • PET polyethylene terephthalate film having a thickness of 100 ⁇ m, a width of 500 mm, and a length of 500 m under a vacuum environment condition of 5 ⁇ 10 ⁇ 1 Pa.
  • a commercially available dye, C.I. I. A coating solution in which 1.5 parts by mass of Acid Red 249 was dissolved was prepared, and the amount of polyvinyl butyrate (PVB) added was adjusted so that the viscosity was 1.0 mP ⁇ s to prepare a coating solution.
  • the viscosity of the coating solution is a value measured at a temperature of 25 ° C. using an E-type viscometer VISCONIC ED type manufactured by Toki Sangyo Co., Ltd.
  • Back roll width 400mm
  • Back roll diameter 250mm
  • Porous surface thickness 10mm
  • the average value of the equivalent diameters of the pores on the surface was magnified about 1000 times with a scanning confocal laser microscope LEXT-OLS3000 manufactured by Olympus Corporation, and the pore area and circumference were scanned randomly for 50 pores.
  • Porous ceramic back roll was produced by the following method.
  • 80% by mass of coarse alumina powder having a purity of 99.5% and an average particle size of 3 ⁇ m as starting materials, 20% by mass of fine alumina powder having a purity of 99.9% and an average particle size of 0.5 ⁇ m, and an organic binder for molding As an example, 3% by mass of polyethylene glycol having a molecular weight of about 20,000 was introduced into a ball mill in an external fraction, and mixed for 40 hours in a wet manner using alumina balls. After mixing, the mixture was granulated with a spray dryer to obtain granulated powder. Next, the granulated powder was molded by pressurizing at 100 MPa with a mold to obtain a cylindrical green body. This green body is put into an atmospheric furnace, sintered at 1600 ° C. in the air atmosphere, and the surface of the obtained sintered body is ground by a cylindrical grinder equipped with a # 1000 grindstone and back-rolled. Was made.
  • the average value of the equivalent diameters of the pores on the surface was adjusted by changing the particle diameter and mass% of the coarse alumina powder as the material.
  • the back roll No. prepared in the step of forming the coating film shown in FIG. 1-1 to 1-7 and the prepared slit type die coater were used, the transport tension was changed as shown in Table 2, the degree of vacuum inside the back roll was set to -50 kPa, and the prepared coating solution was prepared.
  • the coating was applied at a coating speed of 10 m / min and a wet film thickness of 5 ⁇ m, and subsequently dried at 110 ° C. in the drying step to obtain a sample No. 101 to 113.
  • the degree of vacuum indicates a value measured with a pressure sensor AP-V80 manufactured by Keyence Corporation.
  • the conveyance tension is a value measured with a tension meter LX-015TD manufactured by Mitsubishi Electric Corporation.
  • the wet film thickness means a theoretical film thickness calculated by the following equation.
  • wet film thickness coating liquid supply flow rate / (coating width x coating speed) The coating speed was measured with a laser Doppler speed meter LV203 manufactured by Mitsubishi Electric Corporation.
  • Film thickness stability (variation) ((maximum transmission density-minimum transmission density) / average transmission density) x 100 Evaluation rank ⁇ : Variation is less than 1.0 ⁇ : Variation is 1.0 or more and less than 3.0 ⁇ : Variation is 3.0 or more, less than 5.0 ⁇ : Variation is 5.0 or more
  • a belt-like substrate having a patterned film is conveyed at a tension of 5 N / m width to 100 N / m width, and a back roll having an average equivalent pore diameter of 0.1 ⁇ m to 25 ⁇ m is used.
  • Sample No. 2 was prepared by forming a coating film by a method of adsorbing and fixing to the surface of the back roll with a vacuum degree of ⁇ 50 kPa, and applying a coating solution onto the belt-like substrate. Nos. 102 to 106 and 109 to 112 showed excellent film thickness stability.
  • a belt-like base material having a film patterned on the surface of the back roll with a tension of less than 5 N / m for conveying the belt-like base material.
  • Sample No. prepared by adsorbing and fixing and forming a coating film by a method of applying a coating solution on a belt-like substrate. 101 showed the result that film thickness stability is inferior.
  • Sample No. 2 was prepared by forming a coating film by a method of fixing and applying the coating liquid on the belt-like substrate. No. 108 showed a result of poor film thickness stability.
  • a back roll in which the average value of the equivalent diameter of the pores exceeds 25 ⁇ m is used, and a film that is patterned on the surface of the back roll within the scope of the present invention is used to convey the belt-like substrate.
  • Sample No. 2 was prepared by adsorbing and fixing the belt-like substrate having the coating film and forming a coating film by applying the coating liquid on the belt-like substrate. No. 113 showed a result of poor film thickness stability.
  • Example 2 Sample No. produced in Example 1 was changed except that the wet film thickness was changed as shown in Table 3.
  • the coating solution was applied under the same conditions as in No. 110 to form a coating film. 201 to 207.
  • the wet film thickness was changed by changing the coating solution supply flow rate.
  • the wet film thickness is the theoretical film thickness obtained by the same calculation as in Example 1.
  • the wet film was in the range of 0.1 ⁇ m to 10.0 ⁇ m, thereby exhibiting excellent performance in film thickness stability.
  • the effectiveness of the present invention was confirmed.
  • Example 3 Sample No. produced in Example 1 was changed except that the degree of vacuum inside the back roll was changed as shown in Table 4. The coating solution was applied under the same conditions as in No. 110 to form a coating film. 301 to 307. The degree of vacuum indicates a value measured by the same method as in Example 1.
  • Sample No. produced by adsorbing and holding a belt-like substrate on the surface of the back roll with a vacuum degree of the back roll of -96 kPa to -10 kPa. It was confirmed that 302 to 306 showed excellent performance in film thickness stability. The effectiveness of the present invention was confirmed.
  • Example 4 ⁇ Production of organic EL element> A strip-shaped organic EL device (substrate / first electrode (anode) / hole injection layer / hole transport layer / light emitting layer / electron transport layer / second electrode (cathode) / sealing material) shown in FIG. After producing by the method shown below at a process, it cut and it was set as the individual organic EL element.
  • the hole injection layer, hole transport layer, light emitting layer, and electron transport layer were formed by coating with a slit die coater, and the first electrode (anode) and the second electrode (cathode) were formed by vapor deposition. .
  • first electrode-formed belt-like substrate ITO (indium tin oxide) with a thickness of 120 nm in a vacuum environment of 5 ⁇ 10 ⁇ 1 Pa on a polyethylene terephthalate film (Teijin-DuPont film, hereinafter abbreviated as PET) having a thickness of 100 ⁇ m, a width of 200 mm, and a length of 500 m.
  • PET polyethylene terephthalate film
  • first electrodes having take-out electrodes are continuously formed in 12 rows at regular intervals, wound up and stored, and a first electrode formed belt-like shape
  • a flexible substrate was used.
  • the alignment mark was provided in the same position of the surface in which a 1st electrode is formed, and the opposite surface.
  • the prepared PET on which the first electrode is formed is subjected to a charge removal treatment, and then the entire upper surface of the PET held on the backup roll formed of porous ceramic (however, at both ends of the PET)
  • the positive electrode around the first electrode formed by forming the extraction electrode portion of each first electrode and each pattern is applied.
  • the hole injection layer was removed by wiping with pure water as a solvent. Thereafter, drying and heat treatment were subsequently performed.
  • a non-contact type antistatic device was used on the first electrode formation side, and a contact type antistatic device was used on the back side.
  • a non-contact type antistatic device a flexible AC ionizing bar MODEL4100V manufactured by Hugle Electronics Co., Ltd. was used.
  • the contact type antistatic device was a conductive guide roll ME-102 manufactured by Miyako Roller Kogyo Co., Ltd.
  • the coating conditions were as follows: the coating solution for forming the hole injection layer was coated at a coating speed of 5 m / min, the coating width was 180 mm, the wet film thickness was 2 ⁇ m, the coating temperature of the coating solution for forming the hole injection layer was 25 ° C., and the dew point temperature ⁇ It was carried out under an atmospheric pressure of N 2 gas environment of 20 ° C. or less and with a cleanliness class 5 or less (JIS B 9920). The coating speed was measured with a laser Doppler speedometer LV203 manufactured by Mitsubishi Electric Corporation.
  • PET transport tension 50 N / m width Average value of equivalent diameter of back roll pores: 1.0 ⁇ m The degree of vacuum inside the back roll: -50 kPa The conveyance tension is a value measured with a tension meter LX-015TD manufactured by Mitsubishi Electric Corporation.
  • the average value of the equivalent diameters of the pores on the surface is magnified about 1000 times with a scanning confocal laser microscope LEXT-OLS3000 manufactured by Olympus Corporation, and the pore area and circumference are scanned randomly for 50 pores.
  • the average value of the equivalent diameters of 50 pores calculated as equivalent diameter 4 ⁇ area / perimeter was measured using the software attached to the mold confocal laser microscope LEXT-OLS3000.
  • the degree of vacuum indicates a value measured with a pressure sensor AP-V80 manufactured by Keyence Corporation.
  • the wet film thickness means a theoretical film thickness calculated by the following equation.
  • Drying and heat treatment conditions for the coating film for forming the hole injection layer were as follows: from the slit nozzle type outlet of the drying device to the film forming surface, height of 100 mm, outlet air velocity of 1 m / s, and width After the residual solvent was removed at a wind speed distribution of 5% and a temperature of 120 ° C., a back surface heat transfer system heat treatment was subsequently carried out at a temperature of 150 ° C. by a heat treatment apparatus to form a hole injection layer.
  • the viscosity of the coating liquid for forming a hole transport layer was 0.7 mPa ⁇ s.
  • the viscosity is a value measured at 20 ° C. using a digital viscometer LVDV-I manufactured by Brookfield.
  • the coating conditions were as follows: hole transport layer forming coating solution, coating speed 5 m / min, coating width 180 mm, wet film thickness 2 ⁇ m, hole transport layer forming coating solution temperature 25 ° C., dew point temperature ⁇ It was carried out under an atmospheric pressure of N 2 gas environment of 20 ° C. or less and with a cleanliness class 5 or less (JIS B 9920). The coating speed was measured by the same measurement method as that for the hole injection layer.
  • PET transport tension 50 N / m width
  • Average value of equivalent diameter of back roll pores 1.0 ⁇ m
  • the degree of vacuum inside the back roll -50 kPa
  • the transport tension, the average value of the equivalent diameters of the pores, and the degree of vacuum are values measured by the same method as when the hole injection layer forming coating solution is applied.
  • Drying and Heating treatment conditions for the hole transport layer forming coating are as follows. After applying the hole transport layer forming coating solution and passing through the preliminary drying step, using a drying apparatus at a temperature of 120 ° C. After removing the residual solvent, the back surface heat transfer type heat treatment was subsequently carried out at a temperature of 150 ° C. by a heat treatment apparatus to form a hole transport layer.
  • a non-contact type antistatic device was used on the light emitting layer side, and a contact type antistatic device was used on the back side.
  • the same non-contact type antistatic device and tactile type antistatic device as those used for forming the hole injection layer were used.
  • the coating conditions were as follows: the light emitting layer forming coating solution was applied at a coating speed of 5 m / min, the coating width was 180 mm, the wet film thickness was 2 ⁇ m, the temperature at the time of coating the light emitting layer forming coating solution was 25 ° C., and the dew point temperature was ⁇ 20 ° C. or lower.
  • the test was performed under atmospheric pressure in a N 2 gas environment and with a cleanliness class of 5 or less (JIS B 9920). The coating speed was measured by the same measurement method as that for the hole injection layer.
  • the degree of vacuum inside the back roll -50 kPa
  • the transport tension, the average value of the equivalent diameters of the pores, and the degree of vacuum are values measured by the same method as when the hole injection layer forming coating solution is applied.
  • Drying and heat treatment conditions for the coating film for forming the light emitting layer include applying a coating liquid for forming the light emitting layer, and then using a drying device.
  • the drying condition is a slit nozzle type outlet of the drying device. After removing the solvent at a height of 100 mm toward the film-forming surface, an outlet air velocity of 1 m / s, a wide wind velocity distribution of 5%, and a temperature of 120 ° C., a heat treatment is then performed at 150 ° C. using a heat treatment device. To form a light emitting layer.
  • a 1-butanol solution containing 0.5% by mass of the electron transport material 1 was prepared as a coating liquid for forming an electron transport layer.
  • Each PET No. in which up to the prepared light emitting layer is formed is provided.
  • the prepared slit-type die coater is used on the entire upper surface of the light-emitting layer (excluding 10 mm at both ends of PET), and the prepared electron transport layer forming coating is applied.
  • the extraction electrode forming portion of the first electrode and the electron transport layer around each patterned first electrode were wiped away using 1-butanol as a solvent. .
  • drying and heat treatment were continued in the drying section under the conditions shown below, and a PET having a patterned electron transport layer was produced. From 4-1 to 4-13, they were temporarily wound up and stored.
  • Charge removal treatment For the charge removal treatment, a non-contact type antistatic device was used on the electron transport layer side, and a contact type antistatic device was used on the back side. The same non-contact type antistatic device and tactile type antistatic device as those used for forming the hole injection layer were used.
  • the coating conditions were as follows: a coating solution for forming an electron transport layer, a coating speed of 5 m / min, a coating width of 180 mm, a wet film thickness of 2 ⁇ m, a temperature during coating of the coating solution for forming an electron transport layer was 25 ° C., and a dew point temperature of ⁇ 20. It was carried out under an atmospheric pressure of N 2 gas environment of not more than 0 ° C. and with a cleanliness class of 5 or less (JIS B 9920). The coating speed was measured by the same measurement method as that for the hole injection layer. The transport tension, the average value of the equivalent diameters of the back roll pores, and the degree of vacuum inside the back roll were the same as those for the application of the hole injection layer.
  • Drying and heat treatment conditions for the coating film for forming the electron transport layer are as follows. After the coating liquid for forming the electron transport layer is applied, a drying apparatus is used. After removing the solvent from the outlet to the film formation surface at a height of 100 mm, outflow air velocity of 1 m / s, wide air velocity distribution of 5%, and a temperature of 120 ° C, the backside heat transfer method at a temperature of 150 ° C by a heat treatment device. The electron transport layer was formed by performing the heat treatment.
  • each PET No. in which up to the electron transport layer was formed was used. 4-1 to 4-13 are detected, and the size of the first electrode and the size of the second electrode take-out electrode are formed on the electron transport layer formed according to the position of the alignment mark.
  • Aluminum was used as the second electrode forming material under a vacuum of 5 ⁇ 10 ⁇ 4 Pa, a mask pattern was formed by vapor deposition, and a second electrode having a thickness of 100 nm was laminated.
  • an alignment mark attached to the PET is detected, and an ultraviolet curable liquid adhesive is formed around the light emitting region and the light emitting region except for the end portions of the first electrode and the second electrode extraction electrode according to the position of the alignment mark.
  • epoxy resin system epoxy resin system
  • the belt-like sheet sealing member shown below is stacked on the adhesive coating surface by a roll laminator method, and after pressure-bonding with a pressure of 0.1 MPa in an atmospheric pressure environment, a high-pressure mercury lamp with a wavelength of 365 nm is Irradiation intensity of 20 mW / cm 2 and distance of 15 mm were applied for 1 minute to be fixed and bonded, and a plurality of organic EL panels were continuously connected.
  • a two-layer belt-like sheet sealing member using a PET film (manufactured by Teijin DuPont) as the sealing member and using an inorganic film (SiN) as a barrier layer was prepared.
  • the thickness of PET was 100 ⁇ m
  • the thickness of the barrier layer was 200 nm.
  • the barrier layer of the PET film was formed by a sputtering method.
  • the water vapor transmission rate measured by the MOCON method mainly in accordance with the JIS K-7129B method (1992) was 0.01 g / m 2 ⁇ day.
  • the oxygen permeability measured mainly by the MOCON method by a method based on JIS K7126B method (1987) was 0.1 ml / m 2 ⁇ day ⁇ MPa.
  • Brightness variation (%) ((highest brightness-lowest brightness) / average brightness) x 100 Evaluation rank of luminance variation ⁇ : Less than 5% ⁇ : 5% or more, less than 10% ⁇ : 10% or more, less than 20% ⁇ : 20% or more
  • a back roll having an average value of equivalent diameters of pores within the range of the present invention of 0.1 ⁇ m to 25 ⁇ m is used, and the tension for conveying the belt-like substrate is set to 5 N / m width to 100 N / m width, and the surface of the back roll Sample No. 1 was prepared by adsorbing and fixing PET having a patterned first electrode on the PET and forming a coating film on the PET by the coating method of the present invention. From 402 to 406 and from 409 to 412 showed excellent brightness variations, it was confirmed that the film thickness of the organic layer was constant.
  • a patterned first electrode is formed on the surface of the back roll.
  • Sample No. 1 was prepared by adsorbing and fixing PET having the coating film and forming a coating film on the PET by the coating method of the present invention.
  • No. 401 showed a result of inferior luminance variation, so it was confirmed that the film thickness of the organic layer was unstable.
  • a patterned first electrode is formed on the surface of the back roll.
  • Sample No. 1 was prepared by adsorbing and fixing PET having the coating film and forming a coating film on the PET by the coating method of the present invention.
  • No. 407 shows a result of inferior luminance variation.

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Abstract

 表面にパターン化された膜が形成されている帯状基材を低張力で搬送し、スリット型ダイコーターを使用し塗布液を帯状基材の上に塗布し、薄膜の塗膜を形成しても、安定した均一の膜厚が得られる塗布方法、及びこの塗布方法を使用した有機エレクトロニクス素子の製造方法を提供するために、帯状基材表面に前記帯状基材と異なる材質でパターン化した膜を有し、バックロールに保持するとともに搬送張力が5N/m幅から100N/m幅で連続的に搬送される前記帯状基材の上に、スリット型ダイコーターを使用し、塗布液を塗布する塗布方法において、前記バックロールは、相当直径の平均値が0.1μmから25.0μmの細孔を有する多孔質の表面と、前記基材をバックロール表面へ吸着させる吸着手段とを有し、前記吸着手段により、前記帯状基材を前記バックロールの表面に吸着保持しながら、前記塗布液を前記帯状基材の上に塗布することを特徴とする塗布方法。

Description

塗布方法、有機エレクトロニクス素子の製造方法
 本発明は、塗布方法及びこの塗布方法による有機エレクトロニクス素子の製造方法に関する。更に詳しくは、バックロールで保持された状態で連続的に搬送される帯状基材上に、塗布装置で塗布を行う場合に、バックロールと支持体との密着性を安定化することによって、塗膜の厚さを均一に塗布出来る塗布方法及びこの塗布方法による有機エレクトロニクス素子の製造方法に関する。
 従来より連続走行する帯状基材に塗布液を塗布する塗布方法として、必要な塗布液膜を形成する量だけ塗布液を吐出させて帯状基材上に塗布液を塗布する、所謂、前計量型塗布方法に使用する前計量型の塗布装置が知られている。前計量型の塗布方法としては、スリット型ダイコーターを用いたエクストルージョン塗布方法、スリット型ダイコーターを用いたスライド塗布方法、カーテン塗布方法、インクジェットヘッドを用いた塗布方法等が知られている。前計量型塗布方法の中でもスリット型ダイコーターを用いたエクストルージョン塗布方法は、他の方式の塗布方法と比較して、塗布精度の高さ、高品位性、高速、薄膜、多層塗布適性等の対応が可能であることから、例えば、光学用フィルム、インクジェット記録用紙、熱現像記録材料、有機エレクトロルミネッセンス素子(以下、有機EL素子とも言う)、有機薄膜トランジスター素子、有機太陽電池素子(以下、有機PV素子とも言う)、有機光電変換素子を初めとした、様々な有機エレクトロニクス素子を含むディバイス等の製造に使用されている。
 有機エレクトロニクス素子は、有機化合物を用いて電気的な動作を行う素子であり、省エネルギー、低価格、柔軟性といった特長を発揮出来ると期待され、従来のシリコーンを主体とした無機半導体に替わる技術として注目されている。これらの有機エレクトロニクス素子は、有機化合物の非常に薄い膜に電極を介して電流を流すことで、発光したり、発電したり、帯電したり、電流や電圧を制御したりする素子である。
 有機EL素子は、有機化合物の薄膜からなる発光層等(有機層)が、第1電極(陽極又は陰極)と第2電極(陽極又は陰極)からなる薄膜の電極で挟持された状態で基材上に構成されており、第1電極(陽極又は陰極)と第2電極(陽極又は陰極)間に電流を供給すると発光する素子である。従って、有機EL素子を光源として利用すると、小型化、軽量化が容易である上、蛍光灯に比べ発光の応答速度が速く、点灯直後の光量も比較的安定した照明装置となる。近年、ディスプレー及び照明分野等において使用され始めており、一般にはガラス基板上への蒸着方式による製膜で製造されているが、生産性の向上や製造コスト低減のため、フィルム等の可撓性の帯状基材上への塗布方式での製造が望まれている。
 さらに従来より、フィルム等の可撓性の帯状基材上へ塗布する際の膜厚の均一化に対しては、ビードの安定性、塗布液の物性、乾燥条件、バックロールの塗布時の振動抑制、基材の揺れ、基材の平面性等の面から検討がなされてきた。
 例えば、バックロールに保持された帯状基材の揺れを防止する方法として、50μmから200μmの細孔を有する多孔質のバックロールを使用し、帯状基材をバックロール上に密着させることで帯状基材の揺れを防止して塗布膜厚を高精度に均一に保つ塗布方法が知られている(例えば、特許文献1参照。)。
特開2000-225368号公報
 有機エレクトロニクス素子の場合、帯状基材の有機エレクトロニクス素子を形成する側の面(表面)へのゴミの付着、スリキズの発生は、ほんのわずかでも素子性能へ影響が大きいため、これらの防止が不可欠である。そのため塗布面を非接触方式で搬送することが多く、且つ低張力で搬送するため、帯状基材がバックロール上で揺れやすい。
 尚、非接触方式としては例えば、塗布面を有する帯状基材を搬送する時に搬送ロールと塗布面との接触を避けるため、搬送ロールにエアーを供給して搬送ロール表面に設けた穴あるいはスリットから帯状基材の塗布面側にエアーを吹き付けて、搬送張力とエアーの吹き付け力とのバランスを取って、帯状基材を浮上させて搬送するエアー浮上方式や、両端部を高くした段付きロールを使用し、帯状基材の塗布幅よりも幅手外側の両端部のみを段付ロールの両端部に接触させて搬送する段付ロール方式等がある。
 また、有機エレクトロニクス素子に用いる有機化合物は、一般に基材上に形成されたパターンを有する第1電極の上に形成されるが、このパターンを有する第1電極が前記基材と異なる材質で形成されている場合、基材部分とパターン部分との熱収縮の度合いが異なるため、基材クリーニング後や有機化合物塗布後に乾燥等の熱処理が行われると、基材表面が凹凸状となってしまい、均一な膜厚を得ることが困難であることがわかった。
 特許文献1に記載の方法では、帯状基材をバックロールへ吸着させて帯状基材の揺れを防止する方法が記載されているが、バックロールの基材が接触している面のみならずバックロールのスリット型ダイコーターとは反対側の、帯状基材が巻付いていない面からも周辺の気体を吸引してしまうため、バックロール内部の圧力が帯状基材をバックロールの表面に吸着できる圧力にまで下がらず帯状基材の吸着力が弱く帯状基材の揺れを十分に防止することが困難であり、且つ、帯状基材表面に生じた前記凹凸を矯正することが出来ず、更に、次の欠点を有していることが判った。
 1.帯状基材をバックロール上に密着させる時、バックロールの表面に設けられた50μmから200μmの孔に帯状基材が入りこんでしまい、帯状基材の表面が凹状となり、平面性が悪くなる。この結果、均一な膜厚が得られなくなる。
 2.速乾性の溶媒を用いた塗布液を使用し、塗膜が薄膜の場合、バックロールの表面に設けられた50μmから200μmの細孔部分は支持体裏面がバックロールと非接触となり、細孔以外の部分は接触することで、裏面伝熱に差が生じて乾燥速度に差が生じ、乾燥ムラが発生する。この結果、均一な膜厚が得られなくなる。
 この様な状況から、表面にパターン化された膜を有する帯状基材を100N/m幅以下の低張力で搬送し、スリット型ダイコーターを使用し塗布液を帯状基材の上に塗布し、薄膜の塗膜を形成しても、安定した均一の膜厚が得られる塗布方法、及びこの塗布方法を使用した有機エレクトロニクス素子の製造方法の開発が望まれている。
 本発明は上記状況に鑑みなされたものであり、その目的は表面に基材と異なる材質でパターン化された膜が形成されている帯状基材を5N/m幅以上、100N/m幅以下の低張力で搬送し、スリット型ダイコーターを使用し塗布液を帯状基材の上に塗布し、薄膜の塗膜を形成しても、安定した均一の膜厚が得られる塗布方法、及びこの塗布方法を使用した有機エレクトロニクス素子の製造方法を提供することである。
 本発明の上記目的は、下記の構成により達成される。
 1.帯状基材の表面に前記帯状基材と異なる材質でパターン化した膜を有し、バックロールに保持するとともに搬送張力が5N/m幅から100N/m幅で連続的に搬送される前記帯状基材の上に、スリット型ダイコーターを使用し、塗布液を塗布する塗布方法において、前記バックロールは、相当直径の平均値が0.1μmから25.0μmの細孔を有する多孔質の表面と、前記帯状基材をバックロール表面へ吸着させる吸着手段とを有し、前記吸着手段により、前記帯状基材を前記バックロールの表面に吸着保持しながら、前記塗布液を前記帯状基材の上に塗布することを特徴とする塗布方法。
 2.前記帯状基材が樹脂フィルムで、前記パターン化した膜が導電性物質から形成されていることを特徴とする前記1に記載の塗布方法。
 3.前記吸着は、前記バックロールの内部を-96kPaから-10kPaの真空度にし、バックロールの表面の気体を吸引することで行うことを特徴とする前記1又は2に記載の塗布方法。
 4.前記スリット型ダイコーターにより前記帯状基材の上に塗布し形成する塗膜のウェット膜厚が0.1μmから10.0μmであることを特徴とする前記1から3の何れか1項に記載の塗布方法。
 5.前記バックロールは、多孔質セラミックで作られていることを特徴とする前記1から4の何れか1項に記載の塗布方法。
 6.前記帯状基材の塗布される面が非接触方式で搬送されることを特徴とする前記1から5の何れか1項に記載の塗布方法。
 7.基材の上に、第1の電極と第2の電極を有し、前記第1の電極と、前記第2の電極との間に、少なくとも1層の有機機能層を積層した構成を有する有機エレクトロニクス素子の製造方法において、前記有機機能層を前記1から6の何れか1項に記載の塗布方法により形成することを特徴とする有機エレクトロニクス素子の製造方法。
 表面にパターン化された膜が形成されている帯状基材を5N/m幅以上、100N/m幅以下の低張力で搬送し、スリット型ダイコーターを使用し塗布液を帯状基材の上に塗布し、薄膜の塗膜を形成しても、安定した均一の膜厚が得られる塗布方法、及びこの塗布方法を使用した有機エレクトロニクス素子の製造方法を提供することが出来た。
帯状基材表面に帯状基材と異なる材質でパターン化した膜を有し、バックロールに保持され、連続的に搬送される帯状基材の上に、スリット型ダイコーターを使用し、塗布液を塗布する塗布方法で塗膜を形成する工程の概略図である。 図1に示す帯状基材の部分拡大模式図である。 図1に示すバックロールの拡大概略図である。 図1のXで示される部分の概略拡大図である。 本発明の有機エレクトロニクス素子の概略図である。 図1から図4に示す塗布方法を使用して有機エレクトロニクス素子の内、照明用に使用する有機EL素子を製造する製造工程の概略図である。
 以下、本発明を実施する形態を図1から図6を参照しながら説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
 図1はバックロールに保持され、連続的に搬送される表面に基材と異なる材質でパターン化した膜が形成された帯状基材の上に、スリット型ダイコーターを使用し、塗布液を塗布し塗膜を形成する工程の概略図である。
 図中、1は塗布液を基材と異なる材質でパターン化した膜2a(図2参照)を有する帯状基材2(以下、単に帯状基材とも言う)の上に塗布し薄膜を形成する薄膜形成工程を示す。薄膜形成工程1は、帯状基材2の供給工程1aと、塗布工程1bと、乾燥工程1cと、回収工程1dとを有している。
 供給工程1aは繰り出し装置(不図示)を使用しており、繰り出し装置(不図示)に装着されたロール状の帯状基材から帯状基材2を繰り出し、塗布工程1bに帯状基材2を供給する。帯状基材2は基材2b(図2参照)の上に形成された基材と異なる材質でパターン化した膜2a(図2参照)を有している。又、帯状基材2は塗布工程1bの前に、洗浄工程(不図示)にて少なくとも有機エレクトロニクス素子を形成する側の面(表面)を洗浄しておくことが望ましい。
 塗布工程1bはスリット型ダイコーター1b1と、帯状基材2を保持するバックロール1b2とを使用しており、スリット型ダイコーター1b1により塗布液をバックロール1b2に保持され連続的に搬送(図中の矢印方向)される帯状基材2に塗布し、ウェット塗膜が形成される。
 乾燥工程1cは、乾燥装置1c1を使用しており、塗布工程1bで塗布されたウェット塗膜が形成されている帯状基材2を加熱乾燥し乾燥膜を形成する。乾燥装置1c1としては特に限定はなく、例えばヒーター加熱方式、加熱風方式等が挙げられ必要に応じて適宜選択することが可能となっている。
 回収工程1dは、巻取り装置(不図示)を使用しており、膜が形成された帯状基材2を巻芯に巻取りロール状で回収する。回収する際、フィルムの幅方向の端部にエンボスという凹凸部を設けたり、あるいは基材の幅方向の端部にエッヂテープという帯状のフィルムを挿入することによって、巻き取った場合の隣接するフィルムをお互いに接触させない方法が好ましい。
 図2は図1に示す帯状基材の部分拡大模式図である。図2(a)は図1に示す帯状基材の表面の部分拡大模式平面図である。図2(b)は図2(a)のA-A′に沿った概略断面図である。
 図中、2は帯状基材を示す。帯状基材2は基材2bの上に形成された基材2bと異なる材質でパターン化した膜2aを有している。2cは膜2aが形成されていないは基材2bの表面を示す。Hは膜2aの厚さを示す。厚さHは、膜の透明性、膜の導電性等を考慮し、50nmから250nmが好ましい。
 パターン化した膜のパターン形状は特に限定はなく必要に応じて適宜選択することが可能である。膜2aは基材2bと異なる材質から構成されている。膜2aを形成している物質としては、例えば導電性物質が挙げられる。パターン化した膜の例として有機エレクトロニクス素子の場合の第1電極又は第2電極が挙げられる。基材2bとしては樹脂フィルムが挙げられる。この様に帯状基材2は、基材2bと異なる材質でパターン化した膜を有しており、次の問題を有している。
1.帯状基材2の平面性は、膜を形成する前又は膜を形成した後のクリーニングした後の乾燥、塗布した後の乾燥等の熱処理が行われることで、基材2bと膜2aとが材質が異なる材料であるため、基材2bが膜2aのある場所と無い場所(2c)とで収縮度合いが異なって均一に収縮することが出来ず、基材の表面が凹凸状となってしまう。
2.更に、帯状基材2の有機エレクトロニクス素子を形成する側の面(表面)へのゴミの付着防止、スリキズ防止するため、この塗布面を非接触方式で搬送することが多く、5N/m幅以上、100N/m幅以下の低張力で搬送するため平面性の維持が困難となる。
3.張力を掛けられない状態で搬送するため、バックロール上での帯状基材2の安定した保持及び前記表面の凹凸を矯正して平坦化することが困難となり、均一な膜厚が得られなくなる。
 パターン化した膜のパターン化の方法としては、電極物質を蒸着やスパッタリング等の方法により薄膜を形成させ、フォトリソグラフィー法で所望の形状のパターンを形成してもよく、或いはパターン精度をあまり必要としない場合は(100μm以上程度)、上記電極物質の蒸着やスパッタリング時に所望の形状のマスクを介してパターンを形成してもよい。或いは、有機導電性化合物の様に塗布可能な物質を用いる場合には、印刷方式、コーティング方式等湿式製膜法を用いることも可能である。
 本発明は、図1、図2に示す様に基材2bの上に基材2bと異なる材質でパターン化した膜2aを有する帯状基材2を使用し、塗布工程1bで、バックロールに保持され、連続的に搬送される帯状基材2の上に、スリット型ダイコーターを使用し、安定した均一の膜厚を塗布する塗布方法及びこの塗布方法による有機エレクトロニクス素子の製造方法に関するものである。
 図3は、図1に示すバックロールの拡大概略図である。図3(a)は、図1に示すバックロールの拡大概略斜視図である。図3(b)は、図3(a)に示すB-B′に沿った概略断面図である。
 図中、1b2はバックロールを示す。1b21は円盤状の側板を示し、1b22は円盤状の側板1b21の反対側の円盤状の側板を示す。1b23はバックロールの表面を示す。表面1b23は側板1b21と、側板1b22に挟持された多孔質基材1b23aから形成されている。バックロール1b2は2枚の側板1b21と、側板1b22と、側板1b21と、側板1b22に挟持された多孔質基材1b23aとを有する円筒状の構造となっている。1b24はバックロール1b2の内部を示す。
 1b25は側板1b21に配設された軸を示し、1b26は側板1b22に配設された軸を示す。1b27は内部を減圧にするための吸引管を示し吸着手段である真空ポンプ(不図示)に繋がっている。吸引管1b27の配設する箇所及び方法はバックロール1b2の回転に影響を与えない方法であれば特に限定はない。
 多孔質基材1b23aとしては、焼結合金、セラミック等が挙げられる。これらの中で好ましい多孔質基材として多孔質セラミックが挙げられる。多孔質基材1b23aで形成されている部分は、帯状基材2の幅より小さく、塗布幅より大きいことが望ましいが、細孔の相当直径の平均値が5μm以下の場合はバックロール1b2の全幅であってもよく、適宜選択することが可能である。
 細孔の相当直径の平均値が0.1μmから25μmである。相当直径とは、下記式1で表される。
 式1 相当直径=4×面積/周長
 0.1μm未満の場合は、吸引抵抗が大きくなって吸引圧力が不足し、帯状基材の凹凸の矯正の不足に伴い塗布膜厚が安定しなくなるため好ましくない。又、吸引圧力の不足で搬送中に帯状基材のズレが発生し塗布膜厚が安定しなくなるため好ましくない。
 25μmを超える場合、細孔部分に吸着された帯状基材が細孔中に吸引され凹状態となり、帯状基材の平面性が悪くなり、塗布膜厚が安定しなくなるため好ましくない。又、吸引抵抗が小さくなって、バックロールのスリット型ダイコーターとは反対側の帯状基材が巻付いていな側の面からの吸引が多くなるため、吸着圧力が弱まり、帯状基材の凹凸の矯正の不足に伴い塗布膜厚が安定しなくなるため好ましくない。更に、細孔の相当直径の平均値が25μmを超える場合は、帯状基材の裏面がバックロールと非接触となる細孔部分と、接触する細孔以外の部分とで、裏面伝熱に差が生じて乾燥速度に差が生じ、速乾性の溶媒を用いた塗布液を使用し塗膜が薄膜の場合、乾燥ムラが発生する。この結果、均一な膜厚が得られなくなる。又、吸引抵抗が小さくなって、スリット型ダイコーターとは反対側の、帯状基材が巻付いていないバックロール表面からの吸引が多くなるため、吸着圧力が弱まり、帯状基材の平面性の矯正の不足に伴い塗布膜厚が安定しなくなるため好ましくない。更に、速乾性の溶媒を用いた塗布液を使用し塗膜が薄膜の場合、細孔部分は帯状基材の裏面がバックロールと非接触となり細孔以外の部分は接触することで、裏面伝熱に差が生じて乾燥速度に差が生じるが、細孔の相当直径の平均値が25μmを超える場合はその差が大きくなって乾燥ムラが発生する。この結果、均一な膜厚が得られなくなる。
 細孔の相当直径の平均値は、オリンパス(株)製 走査型共焦点レーザー顕微鏡LEXT-OLS3000で1000倍程度に拡大撮影し、ランダムに50ケの細孔について孔面積と周長を走査型共焦点レーザー顕微鏡LEXT-OLS3000に付属のソフトを用いて測定し、相当直径=4×面積/周長、として計算した50ケの細孔の相当直径の平均値を用いた。
 又、塗布する時、バックロール1b2の内部の真空度は、バックロールの表面への帯状基材の保持性、帯状基材の平面性等を考慮し、-96kPaから-10kPaが好ましい。真空度は、(株)キーエンス製 差圧計 AP-41で測定した値を示す。
 バックロール1b2としては、市販のロールを使用することが可能であり、例えば株式会社ナノテム製サクションロール、日本タングステン株式会社製多孔質セラミックロールタイプ真空チャック、日本板硝子(株)製の多孔質セラミックを円筒成形したもの、太盛工業(株)の多孔質金属を円筒成形したもの等を使用することが可能である。
 バックロール1b2として、材料となる粒子を焼結して作製した多孔質ロールでは、粒子間の隙間が細孔となるため不定形となるが、円筒板に丸、三角、楕円、矩形等の孔を多数加工したものであってもよい。
 図4は、図1のXで示される部分の概略拡大図である。図4(a)は、図1のXで示される部分の概略拡大斜視図である。図4(b)は図4(a)の概略平面図である。
 図中、1b12は、スリット型ダイコーター1b1に塗布液を供給する供給管を示す。
 バックロール1b2に巻回し、帯状基材2を搬送する時の張力は、5N/m幅から100N/m幅である。5N/m幅未満の場合は、一般に搬送が不安定となり、蛇行や速度変動が発生するため好ましくない。100N/m幅を超える場合は、エアー浮上方式で搬送している場合は、浮上が困難となり塗布面が搬送ロール表面に接触して非接触搬送が出来なくなり、段付ロール方式で搬送している場合は、中央部が変形したり折れたりしてしまうため好ましくない。張力は、三菱電機(株)製 張力計 LX-015TDで測定した値を示す。尚、本発明で張力とは帯状基材の搬送方向の張力を言う。
 3はスリット型ダイコーター1b1により、バックロール1b2に保持された帯状基材2上に塗布されたウェット塗膜を示す。尚、帯状基材2上とは、膜2a上と膜2aが形成されていない基材2bの表面2c(図2(b)参照)を言う。他の符号は図3と同義である。
 ウェット塗膜の膜厚は、有機エレクトロニクス素子の有機層1層当たりの乾燥後膜厚が、数nmから数十nmで、塗布液の固形分濃度が数%であることが多いため、0.1μmから10μmが好ましい。
 ウェット膜厚は、下式で算出された理論膜厚を示す。
 ウェット膜厚=塗布液供給流量/(塗布幅×塗布速度)
 図1から図4に示す本発明の塗布方法を使用し、有機EL素子、有機薄膜トランジスター素子、有機太陽電池素子(以下、有機PV素子とも言う)、有機光電変換素子を初めとした、様々な有機エレクトロニクス素子等の有機機能層の製造に使用することが可能である。
 本発明の塗布方法により次の効果が挙げられる。
1.基材の上に基材と異なる材質でパターン化された膜を有する帯状基材を用い、塗布前に熱処理をすることでパターンの部分と非パターンの部分とで収縮量の差から凹凸が生じて平面性が悪化した帯状基材を張力5N/m幅から100N/m幅で搬送しても、バックロールで凹凸を矯正して平坦化することが可能となり安定した膜厚の形成が可能となった。
2.多孔質の細孔の相当直径の平均値を0.1μmから25μmと従来よりも小さくすることで、当該細孔自身に帯状基材が入り込んでしまうことがなく、且つ乾燥の速い溶剤系塗布液を薄膜で塗布しても、バックロール上で多孔質の細孔の部分と細孔以外の部分で熱伝道の違いから発生する乾燥ムラが発生することなく塗布することが可能となった。
 図5は本発明の塗布方法を使用して製造した有機エレクトロニクス素子の概略図である。図5(a)は本発明の有機エレクトロニクス素子の概略斜視図である。図5(b)は図1(a)のC-C′に沿った概略断面図である。図5(c)は図5(a)のD-D′に沿った概略断面図である。
 図中、4は有機エレクトロニクス素子を示す。有機エレクトロニクス素子4は、基材401上に順次、第1電極(陽極)402と、機能層403と、第2電極(陰極)404と接着剤層405を介して固定された封止部材406とにより密着封止された封止構造となっている。
 402aは第1電極(陽極)402の取り出し電極を示し、404aは第2電極(陰極)404の取り出し電極を示す。第1電極(陽極)402と基材401との間にガスバリア膜(不図示)を設けても構わない。
 封止部材406の厚さは、爪折れの発生に伴う生産性、有機エレクトロニクス素子自体の柔軟性等を考慮し、5μmから500μmが好ましい。
 接着剤層405の厚さは、接着性、防湿性等を考慮し、10μmから50μmが好ましい。
 機能層としては、例えば、第1電極の上に、正孔輸送層/有機層(発光層、若しくは光電変換層)/電子輸送層を順次積層した構成が挙げられる。
 尚、本図に示す、有機エレクトロニクス素子を複数並べて大型の有機エレクトロニクス素子とすることも可能である。又、基板上に形成された取り出し電極を有する第1電極と、第1電極上に形成された機能層までを形成した積層体を複数並べ、全ての積層体に共通な第2電極を積層体の上に設け、本図に示す様に接着剤層405と、封止部材406とにより密着封止し有機エレクトロニクス素子とすることも可能である。
 本図に示される有機エレクトロニクス素子4は、有機EL素子としては取り出し電極402aと取り出し電極404aとから直流が供給されることにより、基材から光が発せられる。又、有機PV素子では、基材から光が照射されることで直流の起電力が発生し、取り出し電極402aと取り出し電極404aとから電力が取り出される。次に、有機エレクトロニクス素子に付き説明する。
 本図に示す有機エレクトロニクス素子の内、有機EL素子の層構成は積層法による一例を示したものであるが、有機EL素子の代表的な層構成としては次の(1)から(5)に示す構成が挙げられる。
 (1)基材/第1電極(陽極)/有機層(発光層)/第2電極(陰極)/接着剤/封止部材
 (2)基材/第1電極(陽極)/有機層(発光層)/電子輸送層/第2電極(陰極)/接着剤/封止部材
 (3)基材/第1電極(陽極)/正孔輸送層/有機層(発光層)/正孔阻止層/電子輸送層/第2電極(陰極)/接着剤/封止部材
 (4)基材/第1電極(陽極)/正孔輸送層(正孔注入層)/有機層(発光層)/正孔阻止層/電子輸送層/陰極バッファー層(電子注入層)/第2電極(陰極)/接着剤/封止部材
 (5)基材/第1電極(陽極)/陽極バッファー層(正孔注入層)/正孔輸送層/有機層(発光層)/正孔阻止層/電子輸送層/陰極バッファー層(電子注入層)/第2電極(陰極)/接着剤/封止部材
 発光層は、電極又は電子輸送層、正孔輸送層から注入されてくる電子及び正孔が再結合して発光する層であり、発光する部分は発光層の層内であっても発光層と隣接層との界面であってもよい。前記発光層は、含まれる発光材料が前記要件を満たしていれば、その構成には特に制限はない。又、同一の発光スペクトルや発光極大波長を有する層が複数層あってもよい。各発光層間には非発光性の中間層を有していることが好ましい。
 発光層の膜厚の総和は1nmから100nmの範囲にあることが好ましく、更に好ましくは、より低い駆動電圧を得ることが出来ることから30nm以下である。尚、ここで言うところの発光層の膜厚の総和とは、発光層間に非発光性の中間層が存在する場合には、該中間層も含む膜厚である。
 個々の発光層の膜厚としては1nmから50nmの範囲に調整することが好ましく、更に好ましくは1nmから20nmの範囲に調整することである。青、緑、赤の各発光層の膜厚の関係については、特に制限はない。
 ここで、発光層は、少なくとも発光色の異なる2種以上の発光材料を含有していることが好ましく、単層でも複数の発光層からなる発光層ユニットを形成していてもよい。
 発光層の作製には、発光材料やホスト化合物を、例えば、真空蒸着法、スピンコート法、キャスト法、LB法、インクジェット法等の公知の薄膜化法により製膜して形成することが出来る。
 本図に示す有機エレクトロニクス素子の内、有機光電変換素子(有機薄膜太陽電池)の層構成は積層法による一例を示したものであるが、有機光電変換素子(有機薄膜太陽電池)の層構成の代表的な層構成としては次の(I)から(IV)に示す構成が挙げられる。機能層の代表的な層構成としては次の構成が挙げられる。
 (I)基材/第1電極(陽極)/正孔輸送層/電子ブロック層/光電変換層/正孔ブロック層/電子輸送層/第2電極(陰極)/接着剤/封止部材
 (II)基材/第1電極(陽極)/電子ブロック能を有する正孔輸送層/光電変換層/正孔ブロック能を有する電子輸送層/陰極バッファー層/第2電極(陰極)/接着剤/封止部材
 (III)基材/第1電極(陽極)/陽極バッファー層/正孔輸送層/電子ブロック層/光電変換層/正孔ブロック層/電子輸送層/第2電極(陰極)/接着剤/封止部材
 (IV)基材/第1電極(陽極)/陽極バッファー層/正孔輸送層/電子ブロック層/光電変換層/正孔ブロック層/電子輸送層/陰極バッファー層/第2電極(陰極)/接着剤/封止部材
 光電変換層(p型半導体とn型半導体が混合された層、バルクヘテロジャンクション層、i層とも言う)が少なくとも1層以上あり、光を照射すると電流を発生する層である。
 有機光電変換素子は有機EL素子と同様に、光電変換層を正孔輸送層、電子輸送層で挟み込むことで、正孔及び電子の陽極・陰極への取り出し効率を高めることが出来るため、それらを有する構成の方が好ましい。又、光電変換層自体も正孔と電子の整流性(キャリア取り出しの選択性)を高めるため、p型半導体材料とn型半導体材料単体からなる層で光電変換層を挟み込む様な構成(p-i-n構成とも言う)であってもよい。又、太陽光の利用効率を高めるため、異なる波長の太陽光をそれぞれの光電変換層で吸収する様な構成であってもよい。光電変換層の層厚としては50nmから400nmの範囲に調整することが好ましく、更に好ましくは80nmから300nmの範囲に調整することである。
 光電変換層の作製には、p型半導体材料とn型半導体材料を、例えば、真空蒸着法、スピンコート法、キャスト法、LB法、インクジェット法等の公知の薄膜化法により製膜して形成することが出来る。
 図6は図1から図4に示す塗布方法を使用して有機エレクトロニクス素子の内、照明用に使用する有機EL素子を製造する製造工程の概略図である。
 図中、5は有機EL素子の製造工程を示す。製造工程5は、第1供給工程501と、正孔注入層形成工程502と、正孔輸送層形成工程503と、発光層形成工程504と、電子輸送層形成工程505と、第1回収工程506と、第2供給工程507と、第2電極形成工程508と第2回収工程509と、第3供給工程510と、封止部材貼合工程511と、断裁工程512とを有している。
 第1供給工程501は、ロール状に巻取られた帯状基材6の繰り出し装置(不図示)とアキュームレータ501aとを使用しており、連続的に、次工程の正孔注入層形成工程502に帯状基材6を繰り出す様になっている。アキュームレータ501aは次工程の正孔注入層形成工程502との速度調整のために配設されている。帯状基材6は図3に示す帯状基材2の構成と同じ構成となっており、パターン化して形成された膜2a(図2参照)としてインジウムチンオキシド(ITO)を使用した第1電極(陽極)(不図示)が形成されている。尚、第1電極(陽極)の位置を示すアライメントマーク(不図示)を設けることが好ましい。第1電極(陽極)の厚さは120nmとした。厚さは、(株)堀場製作所製 分光エリプソメーターAuto SEにより測定した値を示す。
 正孔注入層形成工程502は、塗布工程502aと、乾燥工程502bとを有し、アキュームレータ502cと、帯電防止手段502dとを使用している。正孔注入層形成工程502では、パターン化して形成された第1電極(不図示)が形成された帯状基材6の第1電極取り出し電極部(不図示)を除き第1電極(不図示)の上に正孔注入層形成用塗布液が塗布され、乾燥工程502bを経て正孔注入層が形成され、次工程の正孔輸送層形成工程503に搬送される。アキュームレータ502cは次工程の正孔輸送層形成工程503との速度調整のために配設されている。
 塗布工程502aは、図1に示す塗布工程1bと同じ構成であり、前計量型塗布方法で塗布を行っており、前計量型の塗布装置を使用している。前計量型塗布方法としては、スリット型ダイコーターを用いたエクストルージョン塗布方法、スリット型ダイコーターを用いたスライド塗布方法、カーテン塗布方法、インクジェットヘッドを用いた塗布方法が挙げられる。これらの前計量型の塗布装置の使用は正孔注入層の材料に応じて適宜選択することが可能となっている。
 本図は前計量型の塗布装置としてスリット型ダイコーター502a1と帯状基材6を保持するバックロール502a2とを使用している。尚、バックロール502a2は図3に示すバックロール1b2と同じ構成となっている。
 スリット型ダイコーター502a1による正孔注入層形成用塗布液は、帯状基材6の上全面に塗布される。尚、塗布工程502aで帯状基材6の上に全面塗布された正孔注入層形成用塗布液は塗布終了後に不要とする部分の塗膜は除去工程(不図示)で除去される。除去の方法は特に限定はないが、例えば塗布液に使用した溶媒による払拭方式が挙げられる。不要部分としては、第1電極用外部取り出し用電極(不図示)の上、第2電極(不図示)用の外部取り出し用電極(不図示)の上及び隣接する第1電極(不図示)の間が挙げられる。
 乾燥工程502bは、乾燥装置502b1と加熱処理装置502b2とを使用している。乾燥装置502b1としては特に限定はなく、例えば加熱方式、加熱風方式等が挙げられ必要に応じて適宜選択することが可能となっている。
 加熱処理装置502b2は正孔注入層形成用塗膜(不図示)を帯状基材6の裏面側から裏面伝熱方式で加熱する様になっている。加熱処理装置502b2における正孔注入層(不図示)の加熱処理条件として、正孔注入層の平滑性向上、残留溶媒の除去、正孔注入層の硬化等を考慮し、正孔注入層を構成している樹脂のガラス転移温度に対して-30℃から+30℃、且つ、正孔注入層を構成している有機化合物の分解温度を超えない温度で裏面伝熱方式の熱処理を行うことが好ましい。
 乾燥工程502bと正孔輸送層形成工程503との間には必要に応じて帯電防止手段502dを配設することが好ましい。
 帯電防止手段502dは、非接触式帯電防止装置502d1と接触式帯電防止装置502d2とを有している。非接触式帯電防止装置502d1としては例えば、非接触式のイオナイザーが挙げられる。イオナイザーの種類については特に制限はなく、イオン発生方式はAC方式、DC方式どちらでも構わない。ACタイプ、ダブルDCタイプ、パルスACタイプ、軟X線タイプが用いることが出来るが、特に精密除電の観点から、ACタイプが好ましい。ACタイプの使用の際に必要となる噴射気体については、空気かNが用いられるが、十分に純度が高められたNで行うことが好ましい。又、インラインで行う観点よりブロワータイプ、若しくはガンタイプより選ばれる。
 接触式帯電防止装置502d2としては、除電ロール又はアース接続した導電性ブラシを用いて行われる。除電器としての除電ロールは、接地されており、除電された表面に回転自在に接触して表面電荷を除去する。この様な除電ロールとしては、アルミニウム、銅、ニッケル、ステンレス等の金属製ロールの他に、カーボンブラック、金属粉、金属繊維等の導電性材料を混合した弾性のあるプラスチックやゴム製のロールが使用される。特に、帯状基材6との接触をよくするため、弾性のあるものが好ましい。アース接続した導電性ブラシとは、一般には、線状に配列した導電性繊維からなるブラシ部材や線状金属製のブラシを有する除電バー又は除電糸構造のものを挙げることが出来る。除電バーについては、特に限定はないが、コロナ放電式のものが好ましく用いられ、例えば、キーエンス社製のSJ-Bが用いられる。除電糸についても、特に限定はないが、通常フレキシブルな糸状のものが好ましく用いられ、例えば、ナスロン社製の12/300×3をその一例として挙げることが出来る。
 非接触式帯電防止装置502d1は帯状基材6の上に形成されている正孔注入層面側に使用し、接触式帯電防止装置502d2は帯状基材6の裏面側に使用することが好ましい。
 正孔注入層の厚さは、0.1nmから100nmが好ましく、5nmから70nmがより好ましく、10nmから50nmが最も好ましい。厚さは、(株)堀場製作所製 分光エリプソメーターAuto SEで測定した値を示す。
 正孔輸送層形成工程503は、塗布工程503aと、乾燥工程503bとを有し、アキュームレータ503cを使用している。正孔輸送層形成工程503では、正孔注入層までが形成された帯状基材6の上全面に正孔輸送層形成用塗布液が塗布される。
 この後、乾燥工程503bを経て正孔輸送層が形成され、次工程の発光層形成工程504に搬送される。アキュームレータ503cは次工程の発光層形成工程504との速度調整のために配設されている。
 塗布工程503aは、図1に示す塗布工程1bと同じ構成であり、正孔注入層形成工程502の塗布工程502aと同じ前計量型塗布方法で塗布を行っており、前計量型の塗布装置として塗布工程502aと同じスリット型ダイコーター503a1と帯状基材6を保持するバックロール503a2とを使用している。スリット型ダイコーター503a1による正孔輸送層形成用塗布液は、帯状基材6の上に形成された正孔注入層の上を含め全面に塗布される。尚、塗布工程503aで帯状基材6の上に全面塗布された正孔輸送層形成用塗布液は塗布終了後に不要とする部分の塗膜は除去工程(不図示)で除去される。除去の方法及び不要とする部分は正孔注入層の場合と同じである。
 乾燥工程503bは、乾燥装置503b1と加熱処理装置503b2とを使用している。乾燥装置503b1、加熱処理装置503b2は、正孔注入層形成工程502の乾燥工程502bで使用している乾燥装置502b1と加熱処理装置502b2と同じであるため説明は省略する。
 乾燥工程503bと発光層形成工程504との間には必要に応じて帯電防止手段503dを配設することが好ましい。帯電防止手段503dとしては、正孔注入層形成工程502で用いた帯電防止手段502dと同じであるため説明は省略する。
 正孔輸送層の厚さは、0.1nmから100nmが好ましく、5nmから70nmがより好ましく、10nmから50nmが最も好ましい。厚さは、(株)堀場製作所製 分光エリプソメーターAuto SEで測定した値を示す。
 発光層形成工程504は、塗布工程504aと、乾燥工程504bとを有し、アキュームレータ504cを使用している。アキュームレータ504cは次工程の電子輸送層形成工程505との速度調整のために配設されている。発光層形成工程504では、正孔輸送層までが形成された帯状基材6の上全面に発光層形成用塗布液が塗布される。
 この後、乾燥工程504bを経て発光層が形成され、次工程の電子輸送層形成工程505に搬送される。アキュームレータ504cは次工程の電子輸送層形成工程505との速度調整のために配設されている。
 塗布工程504aは、図1に示す塗布工程1bと同じ構成であり、正孔注入層形成工程502の塗布工程502aと同じ前計量型塗布方法で塗布を行っており、前計量型の塗布装置として塗布工程502aと同じスリット型ダイコーター504a1と帯状基材6を保持するバックロール504a2とを使用している。スリット型ダイコーター504a1による正孔輸送層形成用塗布液は、帯状基材6の上に形成された正孔輸送層の上を含め全面に塗布される。尚、塗布工程504aで帯状基材6の上に全面塗布された正孔輸送層形成用塗布液は塗布終了後に不要とする部分の塗膜は除去工程(不図示)で除去される。除去の方法及び不要とする部分は正孔注入層の場合と同じである。
 乾燥工程504bは、乾燥装置504b1と加熱処理装置504b2とを使用している。乾燥装置504b1、加熱処理装置504b2は、正孔注入層形成工程502の乾燥工程502bで使用している乾燥装置502b1と加熱処理装置502b2と同じであるため説明は省略する。
 乾燥工程504bと電子輸送層形成工程505との間には必要に応じて帯電防止手段504dを配設することが好ましい。帯電防止手段504dとしては、正孔注入層形成工程502で用いた帯電防止手段502dと同じであるため説明は省略する。
 発光層(不図示)が多層の場合は、積層する数に合わせて塗布工程、乾燥工程を配設する必要がある。例えば、発光層を多層にすることで白色素子の作製が可能である。本発明において、発光層とは青色発光層、緑色発光層、赤色発光層を指す。発光層を積層する場合の積層順としては、特に制限はなく、又各発光層間に非発光性の中間層を有していてもよい。又、発光層を4層以上設ける場合には、陽極に近い順から、例えば青色発光層/緑色発光層/赤色発光層/青色発光層、青色発光層/緑色発光層/赤色発光層/青色発光層/緑色発光層、青色発光層/緑色発光層/赤色発光層/青色発光層/緑色発光層/赤色発光層の様に青色発光層、緑色発光層、赤色発光層を順に積層することが、輝度安定性を高める上で好ましい。
 発光層の膜厚の総和は特に制限はないが、膜の均質性、発光に必要な電圧等を考慮し、通常2nmから5μm、好ましくは2nmから200nmの範囲で選ばれる。更に10nmから100nmの範囲にあるのが好ましい。膜厚を100nm以下にすると電圧面のみならず、駆動電流に対する発光色の安定性が向上する効果があり好ましい。個々の発光層の膜厚は、好ましくは2nmから100nmの範囲で選ばれ、2nmから20nmの範囲にあるのが更に好ましい。青、緑、赤の各発光層の膜厚の関係については、特に制限はないが、3発光層中、青発光層(複数層ある場合はその総和)が最も厚いことが好ましい。
 電子輸送層形成工程505は、塗布工程505aと、乾燥工程505bとを有し、アキュームレータ505cを使用している。アキュームレータ505cは次工程の第1回収工程506との速度調整のために配設されている。電子輸送層形成工程505では、発光層までが形成された帯状基材6の上全面に電子輸送層形成用塗布液が塗布される。この後、乾燥工程505bを経て電子輸送層が形成され、次工程の第1回収工程506に搬送され一旦回収される。
 塗布工程505aは、図1に示す塗布工程1bと同じ構成であり、正孔注入層形成工程502の塗布工程502aと同じ前計量型塗布方法で塗布を行っており、前計量型の塗布装置として塗布工程502aと同じスリット型ダイコーター505a1と帯状基材2を保持するバックロール505a2とを使用している。スリット型ダイコーター505a1による電子輸送層形成用塗布液は、帯状基材6の上に形成された発光層の上を含め全面に塗布される。尚、塗布工程505aで帯状基材6の上に全面塗布された電子輸送層形成用塗布液は塗布終了後に不要とする部分の塗膜は除去工程(不図示)で除去される。除去の方法及び不要とする部分は正孔注入層の場合と同じである。
 乾燥工程505bは、乾燥装置505b1と加熱処理装置505b2とを使用している。乾燥装置505b1、加熱処理装置505b2は、正孔注入層形成工程502の乾燥工程502bで使用している乾燥装置502b1と加熱処理装置502b2と同じであるため説明は省略する。
 乾燥工程505bと第1回収工程506との間には必要に応じて帯電防止手段505dを配設することが好ましい。帯電防止手段505dとしては、正孔注入層形成工程502で用いた帯電防止手段502dと同じであるため説明は省略する。
 第2供給工程507は、電子輸送層迄が形成されロール状に巻取られた帯状基材6の繰り出し装置(不図示)とアキュームレータ507aとを使用ており、次工程の第2電極形成工程508に電子輸送層迄が形成された帯状基材6を繰り出す様になっている。アキュームレータ507aは次工程の第2電極形成工程508との速度調整のために配設されている。
 電子輸送層の好ましい膜厚範囲としては、0.1nmから100nmが好ましく、5nmから80nmがより好ましく、10nmから60nmが最も好ましい。
 第2電極形成工程508は、蒸発源容器508bを有する蒸着装置508aとアキュームレータ508cとを有している。アキュームレータ508cは次工程の第2回収工程509との速度調整のために配設されている。
 第2電極形成工程508では第2供給工程507から供給されてくる電子輸送層迄が形成された帯状基材6に付けられているアライメントマーク(不図示)を検出装置(不図示)で読み取り、検出装置(不図示)の情報に従って蒸着装置508aで決められた位置に、第2電極(陰極)(不図示)を、既に形成されている電子注入層(不図示)の上にマスクパターン成膜する。第2電極(陰極)としてのシート抵抗は数百Ω/□以下が好ましく、膜厚は通常10nmから5μm、好ましくは50nmから200nmの範囲で選ばれる。この段階で、基材/第1電極(陽極)/正孔注入層/正孔輸送層/発光層/電子注入層/第2電極(陰極)の構成までが形成された帯状基材6が出来上がる。
 第2電極(陰極)の形成方法については、特に限定はなく、例えばスパッタリング法、反応性スパッタリング法、分子線エピタキシー法、クラスターイオンビーム法、イオンプレーティング法、プラズマ重合法、大気圧プラズマ重合法、プラズマCVD法、レーザーCVD法、熱CVD法、コーティング法などを用いることが出来る。
 第2電極の膜厚は通常10nmから5μm、好ましくは50nmから200nmの範囲が好ましい。
 第3供給工程510は、繰り出し装置(不図示)を使用しており、連続的に次工程の接着剤塗布工程511に第2電極(陰極)迄が形成された帯状基材6を繰り出す様になっている。
 封止部材貼合工程511は接着剤塗布装置511aと、封止部材貼合装置511bを使用している。接着剤塗布装置511aで第2電極の上に接着剤が塗布され、封止部材511cが貼合される。
 断裁工程512は断裁装置512aを使用して、封止部材貼合工程511から送られてくる第2電極(陰極)迄が形成された帯状基材6に付いているアライメントマークを検出装置(不図示)で検出し、断裁することで個別の有機EL素子が製造される。
 尚、本図に示される製造工程での帯状基材の搬送は、塗布面側をエアー浮上式ロールを用いて非接触で行い、搬送張力はエアー浮上式ロール上での帯状基材の浮上を維持するために5N/m幅から100N/m幅とした。
 本図は照明用に使用する有機EL素子を製造しているため各塗布工程502a、塗布工程503a、塗布工程504a、塗布工程505aには全面塗工タイプのスリット型ダイコーターとなっているが、有機EL素子がフルカラー方式の場合は、基材と異なる材質でパターン化されて形成されている第1電極(陽極)のパターンに合わせて第1電極(陽極)上に有機化合物層をパターン塗布するため、例えば、インクジェット方式、フレキソ印刷方式、オフセット印刷方式、グラビア印刷方式、スクリーン印刷方式、マスクを用いたスプレー塗布方式等に使用する各種塗布装置を使用することが可能である。
 本図は、正孔注入層形成工程から電子輸送層形成工程と、第2電極形成工程とに分割した場合を示したが正孔注入輸送層形成工程から第2電極形成工程までを連続することも可能である。
 尚、本図で示す有機EL素子を製造する製造工程で、例えば、基材/第1電極/正孔輸送層/光電変換層/電子注入層/第2電極の構成を有する有機光電変換素子を製造する場合、有機機能層である正孔輸送層、光電変換層の形成にも図1から図4に示す塗布方法を使用することが可能である。但し、電子注入層を蒸着方式で形成する場合は、光電変換層を形成した後一旦巻取り保管した後、電子注入層、第2電極を蒸着方式で形成することが好ましい。
 本発明の塗布方法で、基材と異なる材質でパターン化して形成された第1電極を有する帯状基材を、低張力で搬送する塗布方式で正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子輸送層の機能層を形成しても、各層が安定して形成することが出来、安定した性能を有する有機EL素子の製造が可能となった。
 次に本発明の塗布方法を使用した有機エレクトロニクス素子の製造方法に係わる有機エレクトロニクス素子の内、有機EL素子及び有機PV素子に使用する材料に付き説明する。
 (発光層)
 発光層中に含有される有機発光材料としては、カルバゾール、カルボリン、ジアザカルバゾール等の芳香族複素環化合物、トリアリールアミン誘導体、スチルベン誘導体、ポリアリーレン、芳香族縮合多環化合物、芳香族複素縮合環化合物、金属錯体化合物等及びこれらの単独オリゴ体或いは複合オリゴ体等が挙げられるが、本発明においてはこれに限られるものではなく、広く公知の材料を用いることが出来る。
 又、発光層中(成膜材料)には、好ましくは0.1質量%から20質量%程度のドーパントが発光材料中に含まれてもよい。ドーパントとしては、ペリレン誘導体、ピレン誘導体等公知の蛍光色素等、又、リン光発光タイプの発光層の場合、例えば、トリス(2-フェニルピリジン)イリジウム、ビス(2-フェニルピリジン)(アセチルアセトナート)イリジウム、ビス(2,4-ジフルオロフェニルピリジン)(ピコリナート)イリジウム、等に代表されるオルトメタル化イリジウム錯体等の錯体化合物が同様に0.1質量%から20質量%程度含有される。
 リン光発光方式は、発光層内部に発光領域を持つためか、比較的発光ムラが起こりづらく本発明において好ましい態様である。発光層の膜厚は、1nmから数百nmの範囲が好ましい。
 (有機PV素子のp型半導体材料)
 光電変換層(バルクヘテロジャンクション層)に用いられるp型半導体材料としては、種々の縮合多環芳香族低分子化合物や共役系ポリマー・オリゴマーが挙げられる。
 縮合多環芳香族低分子化合物としては、例えば、ペンタセンやその誘導体、ポルフィリンやフタロシアニン、銅フタロシアニンやこれらの誘導体などが挙げられる。
 共役系ポリマーとしては、例えば、ポリ3-ヘキシルチオフェン(P3HT)等のポリチオフェン及びそのオリゴマー、ポリチオフェン-チエノチオフェン共重合体、ポリチオフェン-ジケトピロロピロール共重合体、ポリチオフェン-チアゾロチアゾール共重合体,Nature Mat.vol.6(2007),p497に記載のPCPDTBT等の様なポリチオフェン共重合体、ポリピロール及びそのオリゴマー、ポリアニリン、ポリフェニレン及びそのオリゴマー、ポリフェニレンビニレン及びそのオリゴマー、ポリチエニレンビニレン及びそのオリゴマー、ポリアセチレン、ポリジアセチレン、ポリシラン、ポリゲルマン等のσ共役系ポリマー、等のポリマー材料が挙げられる。
 (有機PV素子のn型半導体材料)
 光電変換層(バルクヘテロジャンクション層)に用いられるn型半導体材料としては、特に限定されないが、例えば、フラーレン、オクタアザポルフィリン等、p型半導体のパーフルオロ体(パーフルオロペンタセンやパーフルオロフタロシアニン等)、ナフタレンテトラカルボン酸無水物、ナフタレンテトラカルボン酸ジイミド、ペリレンテトラカルボン酸無水物、ペリレンテトラカルボン酸ジイミド等の芳香族カルボン酸無水物やそのイミド化物を骨格として含む高分子化合物等を挙げることが出来る。
 有機ELパネル及び有機PVパネルの構成に使用する共通材料に付き説明する。
 (正孔注入・輸送層、電子ブロック層)
 正孔注入層、正孔輸送層、電子ブロック層に用いられる材料としては、フタロシアニン誘導体、ヘテロ環アゾール類、芳香族三級アミン類、ポリビニルカルバゾール、ポリエチレンジオキシチオフェン/ポリスチレンスルホン酸(PEDOT:PSS)などに代表される導電性高分子等の高分子材料が、又、発光層に用いられる、例えば、4,4′-ジカルバゾリルビフェニル、1,3-ジカルバゾリルベンゼン等のカルバゾール系発光材料、(ジ)アザカルバゾール類、1,3,5-トリピレニルベンゼンなどのピレン系発光材料に代表される低分子発光材料、ポリフェニレンビニレン類、ポリフルオレン類、ポリビニルカルバゾール類などに代表される高分子発光材料などが挙げられる。
 (電子注入・輸送層、正孔ブロック層)
 電子注入・輸送層材料としては、種々のn型材料を用いることが出来る。本発明の有機エレクトロニクス素子に好ましく用いることが出来る材料の例としては、8-ヒドロキシキノリナートリチウム、ビス(8-ヒドロキシキノリナート)亜鉛等の金属錯体化合物若しくは以下に挙げられる含窒素五員環誘導体がある。即ち、オキサゾール、チアゾール、オキサジアゾール、チアジアゾール若しくはトリアゾール誘導体が好ましい。具体的には、2,5-ビス(1-フェニル)-1,3,4-オキサゾール、2,5-ビス(1-フェニル)-1,3,4-チアゾール、2,5-ビス(1-フェニル)-1,3,4-オキサジアゾール、2-(4′-tert-ブチルフェニル)-5-(4″-ビフェニル)1,3,4-オキサジアゾール、2,5-ビス(1-ナフチル)-1,3,4-オキサジアゾール、1,4-ビス[2-(5-フェニルオキサジアゾリル)]ベンゼン、1,4-ビス[2-(5-フェニルオキサジアゾリル)-4-tert-ブチルベンゼン]、2-(4′-tert-ブチルフェニル)-5-(4″-ビフェニル)-1,3,4-チアジアゾール、2,5-ビス(1-ナフチル)-1,3,4-チアジアゾール、1,4-ビス[2-(5-フェニルチアジアゾリル)]ベンゼン、2-(4′-tert-ブチルフェニル)-5-(4″-ビフェニル)-1,3,4-トリアゾール、2,5-ビス(1-ナフチル)-1,3,4-トリアゾール、1,4-ビス[2-(5-フェニルトリアゾリル)]ベンゼン等が挙げられる。
 更に上述の化合物以外にも、フラーレン類、カーボンナノチューブ類、p型半導体のパーフルオロ体(パーフルオロペンタセンやパーフルオロフタロシアニン等)、及び酸化チタン、酸化亜鉛、酸化ガリウム等のn型無機酸化物などを用いることも本発明において好ましい。
 本発明においては、目的に応じて、電子注入層と電子輸送層を積層形成してもよく、電子の輸送性と電極との接合において最適な材料を選択すればよい。
 又、本発明においては、逆のキャリアである電子をブロックする機能を有し、電荷の選択性を向上させる様な材料を選択してもよい。
 電子注入層(バッファー層)においては、リチウム、カリウム、ナトリウム、セシウム等のイオンを含むハロゲン化物、例えば、フッ化リチウムや、フッ化カリウム等を積層させ、電極との接合を向上させる構成が本発明において特に好ましい。
 これら無機材料からなる電子注入材料を用いる場合は、主にシャドウマスクを通した蒸着法によりパターニング製膜することが好ましいが、溶液として製膜出来る場合は、生産性の点で塗布製膜することがより好ましい。
 蒸着法の場合は、前述した拭き取りパターニングを行った後に蒸着製膜する製法が本発明において特に好ましい。
 (有機機能層形成用塗布液に使用する溶媒)
 各有機材料には溶解特性(溶解パラメータやイオン化ポテンシャル、極性)がそれぞれにあり、溶解出来る溶媒には限定がある。又その際には溶解度もそれぞれ違うため、一概に濃度も決めることが出来ないが、本発明において用いられる溶媒の種類は、成膜しようとする有機材料に応じて、前記の条件に適ったものを、公知の溶媒から選択すればよく、例えば、ジクロロメタン、ジクロロエタン、クロロホルム、四塩化炭素、テトラクロロエタン、トリクロロエタン、クロロベンゼン、ジクロロベンゼン、クロロトルエン等のハロゲン系炭化水素系溶媒や、ジブチルエーテル、テトラヒドロフラン、ジオキサン、アニソールなどのエーテル系溶媒、メタノールや、エタノール、イソプロパノール、ブタノール、シクロヘキサノール,2-メトキシエタノール、エチレングリコール、グリセリン等のアルコール系溶媒、ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベンゼン等の芳香族炭化水素系溶媒、ヘキサン、オクタン、デカン、テトラリン等のパラフィン系溶媒、酢酸エチル、酢酸ブチル、酢酸アミルなどのエステル系溶媒、N,N-ジメチルホルムアミド、N,N-ジメチルアセトアミド、N-メチルピロリドン等のアミド系溶媒、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、イソホロン等のケトン系溶媒、ピリジン、キノリン、アニリン等のアミン系溶媒、アセトニトリル、バレロニトリル等のニトリル系溶媒、チオフェン、二硫化炭素などの硫黄系溶媒が挙げられる。尚、使用可能な溶媒は、これらに限るものではなく、これらを2種以上混合して溶媒として用いてもよい。
 これらの内、好ましい例としては、有機エレクトロニクスパネルに用いられる材料の良溶媒としては、例えば芳香族系溶媒、ハロゲン系溶媒、エーテル系溶媒などであり、好ましくは、芳香族系溶媒、エーテル系溶媒である。又、貧溶媒としては、アルコール系溶媒、ケトン系溶媒、パラフィン系溶媒などが挙げられ、中でもアルコール系溶媒、パラフィン系溶媒である。
 尚、これらの有機物層を塗布等によって積層する場合、下層に当たる層を溶解しない様、材料や、溶媒を選択することが必要である。
 又、そのため、これら有機物層の材料を積極的に架橋させるなどして不溶化させる構成も好ましく用いることが出来る。例えばビニル基の様な重合性基或いは架橋基を持ち、加熱或いは光照射等によって、前記の構造単位をそれぞれ有する重合体・若しくは架橋構造を形成するものを用いることが出来る。これにより重層による膜の溶解、界面の乱れ等を抑えることが出来る。
 (第1電極)
 第1電極は、陰極、陽極は特に限定せず、素子構成により選択することが出来るが、好ましくは透明電極を陽極として用いることである。例えば、陽極として用いる場合、好ましくは380nmから800nmの光を透過する電極である。材料としては、4eVより大きな(深い)仕事関数を持つものが適しており、例えば、インジウムチンオキシド(ITO)、SnO、ZnO等の透明導電性金属酸化物、金、銀、白金等の金属薄膜、金属ナノワイヤー、カーボンナノチューブ等を用いることが出来る。
 (第2電極)
 第2電極は陰極、陽極は特に限定せず、素子構成により選択することが出来るが、好ましくは透明電極を陽極として用いることである。例えば、陰極として用いる場合、好ましくは仕事関数が4eV以下(浅い)の金属、合金、電気伝導性化合物及びこれらの混合物を電極物質とするものが用いられる。この様な電極物質の具体例としては、ナトリウム、ナトリウム-カリウム合金、マグネシウム、リチウム、マグネシウム/銅混合物、マグネシウム/銀混合物、マグネシウム/アルミニウム混合物、マグネシウム/インジウム混合物、アルミニウム/酸化アルミニウム(Al)混合物、インジウム、リチウム/アルミニウム混合物、希土類金属等が挙げられる。これらの中で、有機機能層との電気的な接合、及び酸化等に対する耐久性の点から、これら金属とこれより仕事関数の値が大きく(深く)安定な金属である第二の金属との混合物、例えば、マグネシウム/銀混合物、マグネシウム/アルミニウム混合物、マグネシウム/インジウム混合物、アルミニウム/酸化アルミニウム(Al)混合物、リチウム/アルミニウム混合物、アルミニウム単独等が好適である。
 第2電極はこれらの電極物質を蒸着やスパッタリング等の方法により薄膜を形成させることにより、作製することが出来る。
 第2電極として反射率の高い金属材料を用いれば、例えば有機EL素子において、発光した光の一部を反射して外部に取り出すことが出来、又、有機PV素子においては、光電変換層を通過した光を反射し、再度、光電変換層に戻すことで光路長を稼ぐ効果が得られ、何れにおいても外部量子効率の向上が期待出来る。
 更に、金属(例えば金、銀、銅、白金、ロジウム、ルテニウム、アルミニウム、マグネシウム、インジウム等)、又は炭素からなるナノ粒子、ナノワイヤー、ナノ構造体であってもよく、ナノ粒子やナノワイヤーの高分散性なペーストであれば、透明で導電性の高い対電極を塗布法や印刷法により形成出来好ましい。
 又、対電極側を光透過性とする場合は、例えば、アルミニウム及びアルミニウム合金、銀及び銀化合物等の対電極に適した導電性材料を薄く1nmから20nm程度の膜厚で作製した後、上記透明電極の説明で挙げた導電性光透過性材料の膜を設けることで、光透過性の電極とすることも出来る。
 (基材)
 基材としては、発光した光、若しくは起電力を発生させるための光を透過させることが可能な、即ちこれら光の波長に対して透明な部材であることが好ましい。本発明で用いることが出来る基材の例としては、ガラス基板や樹脂基材等が好適に挙げられるが、軽量性と柔軟性の観点から透明樹脂フィルムを用いることが望ましい。
 透明樹脂フィルムには特に制限がなく、その材料、形状、構造、厚み等については公知のものの中から適宜選択することが出来る。例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)変性ポリエステル等のポリエステル系樹脂フィルム、ポリエチレン(PE)樹脂フィルム、ポリプロピレン(PP)樹脂フィルム、ポリスチレン樹脂フィルム、環状オレフィン系樹脂等のポリオレフィン類樹脂フィルム、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン等のビニル系樹脂フィルム、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)樹脂フィルム、ポリサルホン(PSF)樹脂フィルム、ポリエーテルサルホン(PES)樹脂フィルム、ポリカーボネート(PC)樹脂フィルム、ポリアミド樹脂フィルム、ポリイミド樹脂フィルム、アクリル樹脂フィルム、トリアセチルセルロース(TAC)樹脂フィルム等を挙げることが出来るが、可視域の波長(380~800nm)における透過率が80%以上である樹脂フィルムであれば、本発明に係る透明樹脂フィルムに好ましく適用することが出来る。中でも透明性、耐熱性、取り扱いやすさ、強度及びコストの点から、二軸延伸ポリエチレンテレフタレートフィルム、二軸延伸ポリエチレンナフタレートフィルム、ポリエーテルサルホンフィルム、ポリカーボネートフィルムであることが好ましく、二軸延伸ポリエチレンテレフタレートフィルム、二軸延伸ポリエチレンナフタレートフィルムであることがより好ましい。
 本発明に用いられる透明基材には、塗布液の濡れ性や接着性を確保するために、表面処理を施すことや易接着層を設けることが出来る。表面処理や易接着層については従来公知の技術を使用出来る。例えば、表面処理としては、コロナ放電処理、火炎処理、紫外線処理、高周波処理、グロー放電処理、活性プラズマ処理、レーザー処理等の表面活性化処理を挙げることが出来る。又、易接着層としては、ポリエステル、ポリアミド、ポリウレタン、ビニル系共重合体、ブタジエン系共重合体、アクリル系共重合体、ビニリデン系共重合体、エポキシ系共重合体等を挙げることが出来る。
 又、酸素及び水蒸気の透過を抑制する目的で、透明基材にはバリアコート層が予め形成されていてもよいし、透明導電層を製膜する側、又は反対側にハードコート層が予め形成されていてもよい。
 (封止)
 作製した有機光電変換素子が大気中の酸素、水分等で劣化しない様に、有機EL素子や有機PV素子では、公知の手法によって封止することが好ましい。例えば、薄膜のアルミニウム、酸化ケイ素、酸化アルミニウム等のガスバリア層が形成されたプラスチックフィルムと有機エレクトロニクス素子の上を接着剤やUV硬化・熱硬化樹脂等で封止接着し貼合する手法、ガスバリア性の高い有機高分子材料(ポリビニルアルコール等)をスピンコートする方法、ガスバリア性の高い無機薄膜(酸化ケイ素、酸化アルミニウム等)又は有機膜(パリレン等)を真空下や大気下でスパッタ法やCVD法などで堆積する方法、及びこれらを複合的に積層する方法等を挙げることが出来る。
 更に本発明においては、素子寿命向上の観点から、基材を含む有機エレクトロニクス素子全体を2枚のバリア付き基材でラミネート封止した構成でもよく、好ましくは、水分ゲッター等を同封した構成であっても構わない。
 以下、実施例を挙げて本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されない。尚、実施例において「部」或いは「%」の表示を用いるが、特に断りがない限り「質量部」或いは「質量%」を表す。
 実施例1
 (パターン化した膜を有する帯状基材の準備)
 厚さ100μm、幅500mm、長さ500mのポリエチレンテレフタレートフィルム(帝人・デュポン社製フィルム、以下、PETと略記する)に5×10-1Paの真空環境条件で厚さ120nmのITO(インジウムチンオキシド)をスパッタリング法により、マスクパターン成膜を行い、20mm×20mmの大きさの膜を5mm間隔で幅手方向に12列、長手方向に20mm×20mmの大きさの膜を5mm間隔で幅手方向に形成した各列に沿って連続的に形成し、洗浄、100℃にて乾燥後、一旦巻取り保管し膜形成済み帯状基材とした。
 (塗布液の準備)
 アセトン100質量部に市販の染料、C.I.アシッドレッド249を1.5質量部、溶解した塗布液を調製し、粘度1.0mP・sになる様にポリビニルブチレート(PVB)の添加量を調整し塗布液を準備した。塗布液の粘度は東機産業株式会社製の、E型粘度計 VISCONIC ED型を使用し、温度25℃で測定した値を示す。
 (スリット型ダイコーターの準備)
以下に示すスリット型ダイコーターを準備した。
 スリット型ダイコーターの幅             400mm
 スリット間隙O                    20μm
 塗布幅                       300mm
 (バックロールの準備)
 表1に示す様に表面の細孔の相当直径の平均値を変えた多孔質セラミックの表面のバックロールを準備しNo.1-1から1-7とした。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 バックロールの幅:400mm
 バックロールの直径:250mm
 多孔質の表面の厚さ:10mm
 表面の細孔の相当直径の平均値は、オリンパス(株)製 走査型共焦点レーザー顕微鏡LEXT-OLS3000で1000倍程度に拡大撮影し、ランダムに50ケの細孔について孔面積と周長を走査型共焦点レーザー顕微鏡LEXT-OLS3000に付属のソフトを用いて測定し、相当直径=4×面積/周長、として計算した50ケの細孔の相当直径の平均値を用いた。
 多孔質セラミックのバックロールは次の方法で作製した。
 出発原料として純度99.5%で平均粒子径が3μmの粗粒アルミナ粉末80質量%と、純度99.9%で平均粒子径が0.5μmの微粒アルミナ粉末20質量%と成型用の有機バインダーとして分子量が約2万のポリエチレングリコールを外部分率で3質量%をボールミルに投入し、アルミナボールを用いて湿式にて40時間混合した。混合後にスプレードライヤにて造粒を行い造粒粉を得た。次に、造粒粉末を金型にて100MPa加圧して成型し、円筒形状のグリーン体を得た。このグリーン体を大気雰囲気炉に投入し、大気雰囲気下1600℃で焼結を行い、得られた焼結体の表面を#1000番の砥石を装着した円筒研削盤にて研削加工してバックロールを作製した。
 表面の細孔の相当直径の平均値は、材料となる粗粒アルミナ粉末の粒子径及び質量%を変えて調整した。
 (塗布)
 図1に示す塗膜を形成する工程で準備したバックロールNo.1-1から1-7と、準備したスリット型ダイコーターを使用し、表2に示す様に搬送張力を変化し、バックロールの内部の真空度を-50kPaとし、準備した塗布液を準備した帯状基材の上に、塗布速度10m/min、ウェット膜厚5μmで塗布し、引き続き乾燥工程において110℃で乾燥させて試料No.101から113した。
 真空度は(株)キーエンス製の圧力センサーAP-V80で測定した値を示す。搬送張力は三菱電機(株)製 張力計 LX-015TDで測定した値を示す。
 尚、ウェット膜厚とは、下式で算出される理論膜厚を言う。
 ウェット膜厚=塗布液供給流量/(塗布幅×塗布速度)
 又、塗布速度は、三菱電機(株)製 レーザドップラ速度計LV203で測定した。
 評価
 作製した各試料No.101から113につき、長さ方向において先端から5mと、後端から5mとの箇所から試料を抜き取り、塗布幅方向の膜厚安定性を以下に示す測定方法により測定し、以下に示す評価ランクに従って評価した結果を表2に示す。
 膜厚安定性の測定方法
 膜の透過濃度と膜厚との関係が直線関係にあることから、コニカミノルタ製デンシトメーターPDM-7を使用し、基材上の幅手方向に基材と異なる材質で12列にパターン化された膜1個ずつ、合計の12個の膜2a(図2(a)参照)部分について塗布幅方向に2mm間隔で透過濃度を測定し、透過濃度のバラツキを膜厚安定性として、次の式より計算で求めた。
  膜厚安定性(バラツキ)=((最高透過濃度-最小透過濃度)/平均透過濃度)×100
 評価ランク
 ◎:バラツキが1.0未満
 ○:バラツキが1.0以上、3.0未満
 △:バラツキが3.0以上、5.0未満
 ×:バラツキが5.0以上
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
 パターン化した膜を有する帯状基材を張力5N/m幅から100N/m幅で搬送し、細孔の相当直径の平均値が0.1μmから25μmのバックロールを使用し、バックロールの内部の真空度を-50kPaとしてバックロールの表面に吸着固定し、帯状基材の上に塗布液を塗布する方法で塗膜を形成し作製した試料No.102から106、109から112は、膜厚安定性が優れた結果を示した。
 細孔の相当直径の平均値が本発明の範囲内のバックロールを使用し、帯状基材を搬送する張力が5N/m幅未満でバックロールの表面にパターン化した膜を有する帯状基材を吸着固定し、帯状基材の上に塗布液を塗布する方法で塗膜を形成し作製した試料No.101は、膜厚安定性が劣る結果を示した。
 細孔の相当直径の平均値が本発明の範囲内のバックロールを使用し、帯状基材を搬送する張力が100N/m幅を超えてバックロールの表面にパターン化した膜を有する帯状基材を吸着固定し、帯状基材の上に塗布液を塗布する方法で塗膜を形成し作製した試料No.107は、膜厚安定性が劣る結果を示した。
 細孔の相当直径の平均値が0.1μm未満のバックロールを使用し、帯状基材を搬送する張力が本発明の範囲内でバックロールの表面にパターン化した膜を有する帯状基材を吸着固定し、帯状基材の上に塗布液を塗布する方法で塗膜を形成し作製した試料No.108は、膜厚安定性が劣る結果を示した。
 本発明の範囲内で、細孔の相当直径の平均値が25μmを超えたバックロールを使用し、帯状基材を搬送する張力が本発明の範囲内でバックロールの表面にパターン化した膜を有する帯状基材を吸着固定し、帯状基材の上に塗布液を塗布する方法で塗膜を形成し作製した試料No.113は、膜厚安定性が劣る結果を示した。
 本発明の有効性を確認した。
 実施例2
 塗布する時、ウェット膜厚を表3に示す様に変えた他は、実施例1で作製した試料No.110と全て同じ条件で塗布液を塗布し塗膜を形成し試料No.201から207とした。尚、ウェット膜厚の変更は塗布液供給流量を変えることで調整した。ウェット膜厚は実施例1と同じ方法の計算で求めた理論膜厚を示す。
 評価
 作製した各試料No.201から207につき、長さ方向において先端から5mと、後端から5mとから試料を抜き取り、膜厚安定性を実施例1と同じ方法で測定し、実施例1と同じ評価ランクで評価した結果を表3に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000003
 塗布液を塗布する時、ウェット膜を0.1μmから10.0μmの範囲とすることで、膜厚安定性に優れた性能を示すことが確認された。本発明の有効性が確認された。
 実施例3
 塗布する時、バックロールの内部の真空度を表4に示す様に変えた他は、実施例1で作製した試料No.110と全て同じ条件で塗布液を塗布し塗膜を形成し試料No.301から307とした。真空度は実施例1と同じ方法で測定した値を示す。
 評価
 作製した各試料No.301から307につき、長さ方向において先端から5mと、後端から5mとの箇所から試料を抜き取り、膜厚安定性を実施例1と同じ方法で測定し、実施例1と同じ評価ランクで評価した結果を表4に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000004
 バックロールの真空度を-96kPaから-10kPaでバックロールの表面に帯状基材を吸着保持して作製した試料No.302から306は膜厚安定性に優れた性能を示すことが確認された。本発明の有効性が確認された。
 実施例4
 〈有機EL素子の作製〉
 帯状の有機EL素子(基材/第1電極(陽極)/正孔注入層/正孔輸送層/発光層/電子輸送層/第2電極(陰極)/封止材)を図6に示す製造工程で、以下に示す方法で作製した後、断裁し個別の有機EL素子とした。尚、正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子輸送層はスリット型ダイコーターで塗布形成し、第1電極(陽極)、第2電極(陰極)は蒸着方式で成膜し形成した。
 〈第1電極形成済み帯状基材の準備〉
 厚さ100μm、幅200mm、長さ500mのポリエチレンテレフタレートフィルム(帝人・デュポン社製フィルム、以下、PETと略記する)に5×10-1Paの真空環境条件で厚さ120nmのITO(インジウムチンオキシド)をスパッタリング法により、マスクパターン成膜を行い、取り出し電極を有する12mm×5mmの大きさの第1電極を一定間隔で12列連続的に形成し、一旦巻取り保管し第1電極形成済み帯状可撓性基材とした。
 尚、帯状可撓性基材には、予め第1電極を形成する位置を示すためにアライメントマークを第1電極が形成される面及び反対の面の同じ位置に設けた。
 (正孔注入層形成用塗布液の調製)
 ポリエチレンジオキシチオフェン・ポリスチレンスルホネート(PEDOT/PSS、Bayer社製 Bytron P AI 4083)を40質量%に対し、純水30質量%、イソプロパノール30質量%で希釈し正孔注入層形成用塗布液を調製した。
 (正孔注入層の形成)
 スリット型ダイコーターを使用し、準備された第1電極が形成されたPETを帯電除去処理した後、多孔質セラミックで形成されたバックアップロールに保持されたPETの上全面(但し、PETの両端の10mmは除く)に、準備した正孔注入層形成用塗布液を以下に示す条件で塗布した後、第1電極の取り出し電極形成部分及び各パターン化して形成されている第1電極の周囲の正孔注入層を溶媒として純水を使用し払拭し除去した。この後、引き続き乾燥・加熱処理を行った。
 (帯電除去処理)
 帯電除去処理は第1電極形成側を非接触式帯電防止装置を、裏面側を接触式帯電防止装置を使用した。非接触式帯電防止装置はヒューグルエレクトロニクス(株)製フレキシブルAC式イオナイズィングバーMODEL4100Vを使用し行った。接触式帯電防止装置は都ローラー工業(株)製導電性ガイドロールME-102を使用し行った。
 (正孔注入層形成用塗布液の塗布条件)
 塗布条件としては、正孔注入層形成用塗布液を塗布速度5m/min、塗布幅180mm、ウェット膜厚は2μm、正孔注入層形成用塗布液の塗布時の温度は25℃、露点温度-20℃以下のNガス環境の大気圧下で、且つ清浄度クラス5以下(JIS B 9920)で行った。塗布速度は、三菱電機(株)製 レーザドップラ速度計LV203で測定した。
 PETの搬送張力:50N/m幅
 バックロールの細孔の相当直径の平均値:1.0μm
 バックロールの内部の真空度:-50kPa
 搬送張力は、三菱電機(株)製 張力計 LX-015TDで測定した値を示す。
 表面の細孔の相当直径の平均値は、オリンパス(株)製 走査型共焦点レーザー顕微鏡LEXT-OLS3000で1000倍程度に拡大撮影し、ランダムに50ケの細孔について孔面積と周長を走査型共焦点レーザー顕微鏡LEXT-OLS3000に付属のソフトを用いて測定し、相当直径=4×面積/周長、として計算した50ケの細孔の相当直径の平均値を用いた。
 真空度は、(株)キーエンス製の圧力センサーAP-V80で測定した値を示す。
 尚、ウェット膜厚とは、下式で算出される理論膜厚を言う。
 ウェット膜厚=塗布液供給流量/(塗布幅×塗布速度)
 乾燥及び加熱処理条件
 正孔注入層形成用塗膜の乾燥及び加熱処理条件としては、乾燥装置のスリットノズル形式の流出口から成膜面に向け高さ100mm、流出風速1m/s、幅手の風速分布5%、温度120℃で残留溶媒を除去した後、引き続き、加熱処理装置により温度150℃で裏面伝熱方式の熱処理を行い、正孔注入層を形成した。
 (正孔輸送層形成用塗布液の調製)
 ポリエチレンジオキシチオフェン・ポリスチレンスルホネート(PEDOT/PSS、Bayer社製 Bytron P AI 4083)を純水で65%、メタノール5%で希釈した溶液を正孔輸送層形成用塗布液として調製した。正孔輸送層形成用塗布液の粘度は0.7mPa・sであった。粘度はブルックフィールド社製 デジタル粘度計 LVDV-Iを使用し、20℃で測定した値を示す。
 (正孔輸送層の形成)
 準備したスリット型ダイコーターを使用し、正孔注入層迄が形成されたPETを帯電除去処理した後、バックアップロールに保持されたPETの上全面(但し、両端の10mmは除く)に、準備した正孔輸送層形成用塗布液を以下に示す条件で塗布した後、第1電極の取り出し電極形成部分及び各パターン化して形成されている第1電極の周囲の正孔輸送層を溶媒として純水を使用し払拭し除去した。この後、引き続き乾燥・加熱処理を行った。
 (帯電除去処理)
 帯電除去処理は正孔注入層を形成する時と同じ方法で行った。
 (正孔輸送層形成用塗布液の塗布条件)
 塗布条件としては、正孔輸送層形成用塗布液を塗布速度5m/min、塗布幅180mm、ウェット膜厚は2μm、正孔輸送層形成用塗布液の塗布時の温度は25℃、露点温度-20℃以下のNガス環境の大気圧下で、且つ清浄度クラス5以下(JIS B 9920)で行った。尚、塗布速度は、正孔注入層の塗布速度と同じ測定方法で行った。
 PETの搬送張力:50N/m幅
 バックロールの細孔の相当直径の平均値:1.0μm
 バックロールの内部の真空度:-50kPa
 搬送張力、細孔の相当直径の平均値、真空度は、正孔注入層形成用塗布液を塗布する時と同じ方法で測定した値を示す。
 乾燥及び加熱処理条件
 正孔輸送層形成用塗膜の乾燥及び加熱処理条件としては、正孔輸送層形成用塗布液を塗布し予備乾燥工程を通過した後、乾燥装置を使用し温度120℃で残留溶媒を除去した後、引き続き、加熱処理装置により温度150℃で裏面伝熱方式の熱処理を行い、正孔輸送層を形成した。
 (発光層形成用塗布液の調製)
 ジカルバゾール誘導体(CBP)          1.00質量%
 イリジウム錯体(Ir(ppy))         0.05質量%
 トルエン                    98.95質量%
 発光層形成用塗布液の粘度は0.59mPa・sであった。粘度はブルックフィールド社 デジタル粘度計 LVDV-Iを使用し、20℃で測定した値を示す。
 (発光層の形成)
 準備された正孔輸送層までが形成されたPETを帯電除去処理した後、正孔輸送層の上全面(但し、PETの両端の10mmは除く)に、スリット型ダイコーターと、表5に示す様に細孔の相当直径の平均値を変えたバックロール使用し、帯状基材の搬送する張力を変え、発光層形成用塗布液を以下に示す条件で塗布した後、第1電極の取り出し電極形成部分及び各パターン化して形成されている第1電極の周囲の発光層を溶媒としてトルエンを使用し払拭し除去した。この後、引き続き乾燥・加熱処理を行い発光層までを形成したPETを作製しNo4-aから4-mとし、引き続き電子輸送層形成工程に搬送した。
 帯電除去処理は発光層側を非接触式帯電防止装置を、裏面側を接触式帯電防止装置を使用した。非接触式帯電防止装置及び触式帯電防止装置は正孔注入層を形成する時と同じものを使用した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000005
 (発光層形成用塗布液の塗布条件)
 塗布条件としては、発光層形成用塗布液を塗布速度5m/min、塗布幅180mm、ウェット膜厚は2μm、発光層形成用塗布液の塗布時の温度は25℃、露点温度-20℃以下のNガス環境の大気圧下で、且つ、清浄度クラス5以下(JIS B 9920)で行った。尚、塗布速度は、正孔注入層の塗布速度と同じ測定方法で行った。
 バックロールの内部の真空度:-50kPa
 搬送張力、細孔の相当直径の平均値、真空度は、正孔注入層形成用塗布液を塗布する時と同じ方法で測定した値を示す。
 乾燥及び加熱処理条件
 発光層形成用塗膜の乾燥及び加熱処理条件としては、発光層形成用塗布液を塗布した後、乾燥装置を使用し、乾燥条件は、乾燥装置のスリットノズル形式の流出口から成膜面に向け高さ100mm、流出風速1m/s、幅手の風速分布5%、温度120℃で溶媒を除去した後、引き続き、加熱処理装置により温度150℃で裏面伝熱方式の熱処理を行い、発光層を形成した。
 (電子輸送層形成用塗布液の調製)
 電子輸送層形成用塗布液として、0.5質量%の電子輸送材料1を含有する1-ブタノール溶液を調製した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000006
 (電子輸送層の形成)
 準備された発光層までが形成された各PETNo.4-aから4-mを帯電除去処理した後、発光層の上全面(但し、PETの両端の10mmは除く)に、準備したスリット型ダイコーターを使用し、準備した電子輸送層形成用塗布液を以下に示す条件で塗布した後、第1電極の取り出し電極形成部分及び各パターン化して形成されている第1電極の周囲の電子輸送層を溶媒として1-ブタノールを使用し払拭し除去した。この後、引き続き乾燥部で以下に示す条件により乾燥・加熱処理を行い、パターン化した電子輸送層までを形成したPETを作製しNo.4-1から4-13とし、一旦巻取り保管した。
 (帯電除去処理)
 帯電除去処理は電子輸送層側を非接触式帯電防止装置を、裏面側を接触式帯電防止装置を使用した。非接触式帯電防止装置及び触式帯電防止装置は正孔注入層を形成する時と同じものを使用した。
 (電子輸送層形成用塗布液の塗布条件)
 塗布条件としては、電子輸送層形成用塗布液を、塗布速度5m/min、塗布幅180mm、ウェット膜厚は2μm、電子輸送層形成用塗布液の塗布時の温度は25℃、露点温度-20℃以下のNガス環境の大気圧下で、且つ、清浄度クラス5以下(JIS B 9920)で行った。尚、塗布速度は、正孔注入層の塗布速度と同じ測定方法で行った。又、搬送張力、バックロールの細孔の相当直径の平均値、バックロールの内部の真空度は正孔注入層の塗布と同じ条件で行った。
 乾燥及び加熱処理条件
 電子輸送層形成用塗膜の乾燥及び加熱処理条件としては、電子輸送層形成用塗布液を塗布した後、乾燥装置を使用し、乾燥条件は、乾燥装置のスリットノズル形式の流出口から成膜面に向け高さ100mm、流出風速1m/s、幅手の風速分布5%、温度120℃で溶媒を除去した後、引き続き、加熱処理装置により温度150℃で裏面伝熱方式の熱処理を行い、電子輸送層を形成した。
 (第2電極の形成)
 引き続き、電子輸送層までが形成された各PETNo.4-1から4-13に付けられたアライメントマークを検出し、アライメントマークの位置に従って形成された電子輸送層の上に第1電極の大きさ及び第2電極用取り出し電極を形成する大きさで、5×10-4Paの真空下にて第2電極形成材料としてアルミニウムを使用し、蒸着法にてマスクパターン成膜し、厚さ100nmの第2電極を積層した。
 この後、PETに付けられたアライメントマークを検出し、アライメントマークの位置に従って第1電極及び第2電極用取り出し電極の端部を除いて発光領域及び発光領域の周辺に紫外線硬化型の液状接着剤(エポキシ樹脂系)を使用し、厚さ30μmで塗設した。
 この後、以下に示す帯状シート封止部材を接着剤塗設面にロールラミネータ法により積重し、大気圧環境化にて押圧0.1MPaでロール圧着した後、波長365nmの高圧水銀ランプを、照射強度20mW/cm、距離15mmで1分間照射し固着させ貼合し、複数の有機ELパネルが連続的に繋がった状態とした。
 (封止部材の準備)
 封止部材として、PETフィルム(帝人・デュポン社製)を使用し、無機膜(SiN)をバリア層に使用した2層構成の帯状シート封止部材を準備した。PETの厚さ100μm、バリア層の厚さ200nmとした。尚、PETフィルムのバリア層の成膜はスパッタリング法により実施した。JIS K-7129B法(1992年)に準拠した方法で主としてMOCON法により測定した水蒸気透過度は0.01g/m・dayであった。JIS K7126B法(1987年)に準拠した方法で主としてMOCON法により測定した酸素透過度は0.1ml/m・day・MPaであった。
 (断裁)
 準備した複数の有機EL素子が連続的に繋がった状態のものを個別の有機ELパネルの大きさにPETに付けられたアライメントマークを検出し、アライメントマークの位置に従って断裁し個別の有機EL素子を作製し試料No.401から413とした。
 評価
 作製した各試料No.401から413に付けられたアライメントマークを検出し、アライメントマークの位置に従って断裁し、長さ方向において先端から5mと、後端から5mとの箇所から作製した各試料を抜き取り、有機層の膜厚のバラツキが輝度に支配的に影響することから輝度バラツキを以下に示す試験方法により試験し、以下に示す評価ランクに従って評価した結果を表6に示す。
 輝度バラツキ(%)の測定方法
 定電圧電源を用いて、有機EL素子に25A/mの直流定電流を流し、サンプルの発光部10箇所の輝度をコニカミノルタセンシング株式会社製分光放射輝度計CS1000を用いて2度視野角正面輝度を発光輝度として測定し、以下の式から計算で求めた。
 輝度バラツキ(%)=((最高輝度-最低輝度)/平均輝度)×100
 輝度バラツキの評価ランク
 ◎:5%未満
 ○:5%以上、10%未満
 △:10%以上、20%未満
 ×:20%以上
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000007
 本発明の範囲内の細孔の相当直径の平均値が0.1μmから25μmのバックロールを使用し、帯状基材を搬送する張力を5N/m幅から100N/m幅とし、バックロールの表面にパターン化した第1電極を有するPETを吸着固定し、PETの上に本発明の塗布方法で塗膜を形成し作製した試料No.402から406、409から412は輝度バラツキが優れた結果を示したことから有機層の膜厚が一定であることが確認された。
 帯状基材を搬送する張力を5N/m幅未満で、本発明の範囲内の細孔の相当直径の平均値が1μmのバックロールを使用し、バックロールの表面にパターン化した第1電極を有するPETを吸着固定し、PETの上に本発明の塗布方法で塗膜を形成し作製した試料No.401は、輝度バラツキが劣る結果を示したことから有機層の膜厚が不安定であることが確認された。
 帯状基材を搬送する張力が110N/m幅を超え、本発明の範囲内の細孔の相当直径の平均値が1μmのバックロールを使用し、バックロールの表面にパターン化した第1電極を有するPETを吸着固定し、PETの上に本発明の塗布方法で塗膜を形成し作製した試料No.407は、輝度バラツキが劣る結果を示した。
 細孔の相当直径の平均値が0.1μm未満のバックロールを使用し、本発明の範囲内の帯状基材を搬送する張力で、バックロールの表面にパターン化した膜を有する帯状基材を吸着固定し、帯状基材の上に塗布液を塗布する方法で塗膜を形成し作製した試料No.408は、輝度バランスが劣る結果を示したことから有機層の膜厚が不安定であることが確認された。
 細孔の相当直径の平均値が25μmを超えるバックロールを使用し、本発明の範囲内の帯状基材を搬送する張力で、バックロールの表面にパターン化した膜を有する帯状基材を吸着固定し、帯状基材の上に塗布液を塗布する方法で塗膜を形成し作製した試料No.413は、輝度バランスが劣る結果を示したことから有機層の膜厚が不安定であることが確認された。
 本発明の有効性が確認された。
 1 薄膜形成工程
 1a 供給工程
 1b、502a、503a、504a、505a 塗布工程
 1b1、502a1、503a1、504a1、505a1 スリット型ダイコーター
 1b2、502a2、503a2、504a2、505a2 バックロール
 1b23 表面
 1b23a 多孔質基材
 1b24 内部
 1b27 吸引管
 1c、502b、503b、504b、505b 乾燥工程
 1d 回収工程
 2、6 帯状基材
 2a 膜
 2b、401 基材
 2c 表面
 4 有機エレクトロニクス素子
 402 第1電極(陽極)
 403 機能層
 404 第2電極(陰極)
 405 接着剤層
 406 封止部材
 5 有機EL素子の製造工程
 502 正孔注入層形成工程
 503 正孔輸送層形成工程
 504 発光層形成工程
 505 電子輸送層形成工程
 508 第2電極形成工程
 511 封止部材貼合工程
 512 断裁工程

Claims (7)

  1.  帯状基材の表面に前記帯状基材と異なる材質でパターン化した膜を有し、バックロールに保持するとともに搬送張力が5N/m幅から100N/m幅で連続的に搬送される前記帯状基材の上に、スリット型ダイコーターを使用し、塗布液を塗布する塗布方法において、
     前記バックロールは、相当直径の平均値が0.1μmから25.0μmの細孔を有する多孔質の表面と、前記帯状基材をバックロール表面へ吸着させる吸着手段とを有し、
     前記吸着手段により、前記帯状基材を前記バックロールの表面に吸着保持しながら、
     前記塗布液を前記帯状基材の上に塗布することを特徴とする塗布方法。
  2.  前記帯状基材が樹脂フィルムで、前記パターン化した膜が導電性物質から形成されていることを特徴とする請求項1に記載の塗布方法。
  3.  前記吸着は、前記バックロールの内部を-96kPaから-10kPaの真空度にし、バックロールの表面の気体を吸引することで行うことを特徴とする請求項1又は2に記載の塗布方法。
  4.  前記スリット型ダイコーターにより前記帯状基材の上に塗布し形成する塗膜のウェット膜厚が0.1μmから10.0μmであることを特徴とする請求項1から3の何れか1項に記載の塗布方法。
  5.  前記バックロールは、多孔質セラミックで作られていることを特徴とする請求項1から4の何れか1項に記載の塗布方法。
  6.  前記帯状基材の塗布される面が非接触方式で搬送されることを特徴とする請求項1から5の何れか1項に記載の塗布方法。
  7.  基材の上に、第1の電極と第2の電極を有し、前記第1の電極と、前記第2の電極との間に、少なくとも1層の有機機能層を積層した構成を有する有機エレクトロニクス素子の製造方法において、前記有機機能層を請求項1から6の何れか1項に記載の塗布方法により形成することを特徴とする有機エレクトロニクス素子の製造方法。
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