WO2010097904A1 - 圧電振動子の製造方法、発振器、電子機器および電波時計 - Google Patents

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piezoelectric
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陽一 船曳
理志 沼田
一義 須釜
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セイコーインスツル株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to a method of manufacturing a surface mount type (SMD) piezoelectric vibrator in which a piezoelectric vibrating piece is sealed in a cavity formed between two bonded substrates, an oscillator having a piezoelectric vibrator, an electronic It relates to equipment and radio clocks.
  • SMD surface mount type
  • a piezoelectric vibrator using crystal or the like is used as a timing source such as a time source or a control signal, a reference signal source, or the like in a mobile phone or a portable information terminal.
  • Various piezoelectric vibrators of this type are known, and one of them is a surface-mount type piezoelectric vibrator.
  • this type of piezoelectric vibrator a three-layer structure type in which a piezoelectric substrate on which a piezoelectric vibrating piece is formed is joined so as to be sandwiched from above and below by a base substrate and a lid substrate is known. In this case, the piezoelectric vibrator is housed in a cavity (sealed chamber) formed between the base substrate and the lid substrate.
  • a two-layer structure type has been developed instead of the three-layer structure type described above.
  • This type of piezoelectric vibrator has a two-layer structure in which a base substrate and a lid substrate are directly bonded, and a piezoelectric vibrating piece is accommodated in a cavity formed between the two substrates.
  • This two-layer structure type piezoelectric vibrator is excellent in that it can be made thinner than the three-layer structure, and is preferably used.
  • a piezoelectric vibrating piece and an external electrode formed on the base substrate are made conductive by using a conductive member formed so as to penetrate the base substrate. Piezoelectric vibrators are known (see, for example, Patent Document 1 and Patent Document 2).
  • the piezoelectric vibrator 200 includes a base substrate 201 and a lid substrate 202 that are anodically bonded to each other via a bonding film 207, and a cavity C formed between the substrates 201 and 202. And a piezoelectric vibrating piece 203 sealed inside.
  • the piezoelectric vibrating piece 203 is, for example, a tuning fork type vibrating piece, and is mounted on the upper surface of the base substrate 201 in the cavity C via the conductive adhesive E.
  • the base substrate 201 and the lid substrate 202 are insulating substrates made of, for example, ceramic or glass.
  • a through hole 204 penetrating the substrate 201 is formed in the base substrate 201 of both the substrates 201 and 202.
  • a conductive member 205 is embedded in the through hole 204 so as to close the through hole 204.
  • the conductive member 205 is electrically connected to the external electrode 206 formed on the lower surface of the base substrate 201 and is electrically connected to the piezoelectric vibrating piece 203 mounted in the cavity C.
  • the conductive member 205 closes the through hole 204 to maintain airtightness in the cavity C, and electrically connects the piezoelectric vibrating piece 203 and the external electrode 206. It plays a big role. In particular, if the close contact with the through hole 204 is insufficient, the airtightness in the cavity C may be impaired, and if the contact with the conductive adhesive E or the external electrode 206 is insufficient, This causes a malfunction of the piezoelectric vibrating piece 203. Therefore, in order to eliminate such inconvenience, it is necessary to form the conductive member 205 in a state where the through hole 204 is completely closed while firmly attached to the inner surface of the through hole 204 and there is no dent on the surface. There is.
  • Patent Document 1 and Patent Document 2 describe that the conductive member 205 is formed of a conductive paste (Ag paste, Au-Sn paste, etc.), how to actually form the conductive member 205, etc. No specific manufacturing method is described.
  • a conductive paste it needs to be baked and cured. That is, after the conductive paste is embedded in the through hole 204, it is necessary to perform baking and cure.
  • organic matter contained in the conductive paste disappears due to evaporation, and thus the volume after firing usually decreases compared to before firing (for example, when an Ag paste is used as the conductive paste) The volume is reduced by about 20%).
  • the conductive member 205 is formed using the conductive paste, there is a possibility that a dent will be generated on the surface or, if it is severe, the through hole may open at the center. As a result, there is a possibility that the airtightness in the cavity C is impaired or the electrical conductivity between the piezoelectric vibrating piece 203 and the external electrode 206 is impaired.
  • FIG. 26A first, metal pins 212 are arranged in through holes 211 formed in the base substrate 201.
  • a fill squeegee 214 inclined at an attack angle ⁇ ° (for example, 15 °) with respect to the surface of the base substrate 201 is brought into contact with the surface of the base substrate 201, and then unidirectional.
  • the paste-like glass frit 215 on the base substrate 201 is filled into the through hole 211 (set process).
  • a scribe squeegee 216 inclined at an attack angle ⁇ ° (for example, 85 °) larger than the attack angle ⁇ ° with respect to the surface of the base substrate 201 is moved in a direction opposite to the moving direction of the fill squeegee 214, Excess glass frit 215 on the base substrate 201 is removed (glass frit removing step). As described above, the glass frit 215 is filled in the gap between the through hole 211 and the pin 212 and then baked to form the through electrode, so that the volume reduction becomes only the glass frit 215 portion. The through electrode can be formed efficiently.
  • the glass flid 215 is not filled on the back side of the pin 212 with respect to the moving direction of the fill squeegee 214, and the depression D is formed. (See FIG. 26C).
  • the scribe squeegee 216 moves in a direction opposite to the moving direction of the fill squeegee 214 while scraping off the glass fridge 215 remaining on the base substrate 201.
  • the attack angle ⁇ is large, the glass fridge 215 is recessed D. As a result, as shown in FIG.
  • the dent D remains in the glass lid 215 in the through hole 211.
  • cracks are likely to occur, and airtightness in the cavity C may be impaired, or electrical conductivity between the piezoelectric vibrating piece 203 and the external electrode 206 may be impaired.
  • the present invention has been made in view of the above circumstances, and a method for manufacturing a piezoelectric vibrator, an oscillator, and an electronic device that can ensure airtightness in the cavity and stable electrical continuity between the piezoelectric vibrating piece and the external electrode.
  • the purpose is to provide a radio clock.
  • the present invention proposes the following means. That is, the method for manufacturing a piezoelectric vibrator according to the present invention is a method for manufacturing a piezoelectric vibrator in which a piezoelectric vibrating piece is sealed in a cavity formed between a base substrate and a lid substrate joined to each other.
  • the first squeegee is used to fill the through hole with the glass frit from one side, and the second squeegee is moved from the opposite side in the direction opposite to the moving direction of the first squeegee.
  • the attack angle of the first squeegee and the second squeegee is set in a range of 5 ° to 45 °.
  • the first squeegee and the second squeegee are in contact with the second surface inclined at the attack angle, and the second surface. And a flank that gradually inclines upward from the contact point with the attack surface toward the rear in the moving direction of the first squeegee and the second squeegee. If the glass frit is filled with the first squeegee and the second squeegee having such a shape, the glass frit can be reliably filled in the through hole, and the flank is formed, so that the first squeegee is formed. And the resistance at the time of a movement of a 2nd squeegee can be reduced, and a filling operation
  • the oscillator according to the present invention is characterized in that the piezoelectric vibrator manufactured by any one of the methods described above is electrically connected to an integrated circuit as an oscillator. According to the oscillator having such a feature, since the electrode is formed by reliably filling the glass frit in the through hole, airtightness in the cavity and electrical connection between the piezoelectric vibrating piece and the external electrode can be ensured. Is possible.
  • the electronic apparatus is characterized in that the piezoelectric vibrator manufactured by any one of the above-described methods is electrically connected to the time measuring unit. According to the electronic device having such a feature, since the electrode is formed by reliably filling the glass frit in the through hole, airtightness in the cavity and electrical continuity between the piezoelectric vibrating piece and the external electrode are ensured. It becomes possible.
  • the radio-controlled timepiece according to the present invention is characterized in that the piezoelectric element manufactured by any one of the methods described above is electrically connected to the filter unit. According to the radio timepiece having such a feature, since the electrode is formed by reliably filling the glass frit in the through hole, airtightness in the cavity and electrical connection between the piezoelectric vibrating piece and the external electrode are ensured. It becomes possible.
  • the glass frit is filled in the through hole in two stages using the first squeegee and the second squeegee so that the airtightness in the cavity and the piezoelectric vibrating piece and the external electrode are filled. Can be stably ensured.
  • FIG. 1 is an external perspective view showing an embodiment of a piezoelectric vibrator according to the present invention.
  • FIG. 2 is an internal configuration diagram of the piezoelectric vibrator shown in FIG. 1 and is a view of the piezoelectric vibrating piece viewed from above with the lid substrate removed.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view of the piezoelectric vibrator taken along line AA shown in FIG.
  • FIG. 4 is an exploded perspective view of the piezoelectric vibrator shown in FIG.
  • FIG. 5 is a top view of the piezoelectric vibrating piece constituting the piezoelectric vibrator shown in FIG. 6 is a bottom view of the piezoelectric vibrating piece shown in FIG. 7 is a cross-sectional view taken along the line BB shown in FIG. FIG.
  • FIG. 8 is a perspective view of a cylindrical body constituting the through electrode shown in FIG.
  • FIG. 9 is a flowchart showing a flow of manufacturing the piezoelectric vibrator shown in FIG.
  • FIG. 10 is a diagram showing a step in manufacturing the piezoelectric vibrator according to the flowchart shown in FIG. 9, and shows a state in which a plurality of recesses are formed on the lid substrate wafer that is the base of the lid substrate. It is.
  • FIG. 11 is a diagram showing one process when manufacturing a piezoelectric vibrator according to the flowchart shown in FIG. 9, and shows a state in which a pair of through holes are formed in a base substrate wafer which is a base substrate.
  • FIG. FIG. 12 is a view of the state shown in FIG.
  • FIG. 13 is a perspective view of a housing used when manufacturing the piezoelectric vibrator according to the flowchart shown in FIG. 9.
  • FIG. 14 is a diagram showing a step in manufacturing the piezoelectric vibrator according to the flowchart shown in FIG. 9, and is a diagram showing a step of placing a housing in the through hole and filling a glass frit. is there.
  • FIG. 15 is a plan view showing a state after the glass frit is filled in the through hole with the first squeegee.
  • FIG. 16 is a diagram showing a step in manufacturing the piezoelectric vibrator according to the flowchart shown in FIG.
  • FIG. 17 is a diagram illustrating a process for manufacturing the piezoelectric vibrator according to the flowchart illustrated in FIG. 9, and illustrates a state in which the base portion of the housing is polished after the state illustrated in FIG. 18. is there.
  • FIG. 18 is a diagram illustrating a process for manufacturing a piezoelectric vibrator according to the flowchart illustrated in FIG. 9. After the state illustrated in FIG. 19, the bonding film and the routing electrode are provided on the upper surface of the base substrate wafer. It is a figure which shows the state which patterned.
  • FIG. 19 is an overall view of the base substrate wafer in the state shown in FIG. FIG.
  • FIG. 20 is a diagram showing one process when the piezoelectric vibrator is manufactured according to the flowchart shown in FIG. 9, and the base substrate wafer, the lid substrate wafer, It is a disassembled perspective view of the wafer body by which anodic bonding was carried out.
  • FIG. 21 is a block diagram showing an embodiment of the oscillator according to the present invention.
  • FIG. 22 is a configuration diagram showing an embodiment of an electronic apparatus according to the invention.
  • FIG. 23 is a block diagram showing an embodiment of a radio timepiece according to the present invention.
  • FIG. 24 is a diagram showing the internal configuration of a conventional piezoelectric vibrator, and is a view of the piezoelectric vibrating piece viewed from above with the lid substrate removed.
  • FIG. 24 is a cross-sectional view of the piezoelectric vibrator shown in FIG.
  • FIG. 26 is a diagram illustrating a process for manufacturing a conventional piezoelectric vibrator, in which a housing is disposed in a through hole, a glass frit is filled with a fill squeegee, and an excess glass frit is formed with a scribe squeegee. It is a figure which shows the process of removing.
  • Piezoelectric vibrator 2 Base substrate 3 Lid board 3a Recess for cavity 4 Piezoelectric vibrating piece 7 Core material 6 cylinder 6a glass frit 6c Center hole of cylinder 30, 31 Through hole (through hole) 32, 33 Through electrode 36, 37 Leading electrode 38,39 External electrode 40 Base substrate wafer 50 Lid substrate wafer 70 First squeegee 70a Attack surface 70b Flank 71 Second squeegee 71a Attack surface 71b Flank 100 Oscillator 101 Integrated Circuit of Oscillator 110 Portable information devices (electronic devices) 113 Timekeeping section of electronic equipment 130 radio clock 131 Radio clock filter B Bump C cavity D hollow ⁇ 1 , ⁇ 2 attack angle ⁇ 1 , ⁇ 2 clearance angle
  • the piezoelectric vibrator 1 of the present embodiment is formed in a box shape in which a base substrate 2 and a lid substrate 3 are laminated in two layers. This is a surface-mount type piezoelectric vibrator in which the resonator element 4 is housed.
  • the excitation electrode 15, the extraction electrodes 19 and 20, the mount electrodes 16 and 17, and the weight metal film 21, which will be described later, are omitted for easy understanding of the drawing.
  • the piezoelectric vibrating piece 4 is a tuning fork type vibrating piece formed from a piezoelectric material such as quartz crystal, lithium tantalate or lithium niobate, and when a predetermined voltage is applied. It vibrates.
  • the piezoelectric vibrating reed 4 includes a pair of vibrating arm portions 10 and 11 arranged in parallel, a base portion 12 that integrally fixes the base end sides of the pair of vibrating arm portions 10 and 11, and a pair of vibrating arm portions. 10 and 11, an excitation electrode 15 including a first excitation electrode 13 and a second excitation electrode 14 that vibrate the pair of vibrating arm portions 10 and 11, a first excitation electrode 13, and Mount electrodes 16 and 17 are electrically connected to the second excitation electrode 14.
  • the piezoelectric vibrating reed 4 according to the present embodiment includes groove portions 18 formed along the longitudinal direction of the vibrating arm portions 10 and 11 on both main surfaces of the pair of vibrating arm portions 10 and 11. .
  • the groove portion 18 is formed from the proximal end side of the vibrating arm portions 10 and 11 to the vicinity of the middle.
  • the excitation electrode 15 including the first excitation electrode 13 and the second excitation electrode 14 is an electrode that vibrates the pair of vibrating arm portions 10 and 11 at a predetermined resonance frequency in a direction approaching or separating from each other. Patterned on the outer surfaces of the vibrating arm portions 10 and 11 while being electrically separated from each other.
  • the first excitation electrode 13 is mainly formed on the groove portion 18 of one vibration arm portion 10 and on both side surfaces of the other vibration arm portion 11, and the second excitation electrode 14 is formed on one side. Are formed mainly on both side surfaces of the vibrating arm portion 10 and on the groove portion 18 of the other vibrating arm portion 11.
  • first excitation electrode 13 and the second excitation electrode 14 are electrically connected to the mount electrodes 16 and 17 via the extraction electrodes 19 and 20, respectively, on both main surfaces of the base portion 12.
  • a voltage is applied to the piezoelectric vibrating reed 4 via the mount electrodes 16 and 17.
  • the excitation electrode 15, the mount electrodes 16 and 17, and the extraction electrodes 19 and 20 described above are made of a conductive film such as chromium (Cr), nickel (Ni), aluminum (Al), or titanium (Ti). It is formed.
  • a weight metal film 21 for adjusting (frequency adjustment) so as to vibrate its own vibration state within a predetermined frequency range is coated on the tips of the pair of vibrating arm portions 10 and 11.
  • the weight metal film 21 is divided into a coarse adjustment film 21a used when the frequency is roughly adjusted and a fine adjustment film 21b used when the frequency is finely adjusted.
  • the piezoelectric vibrating reed 4 configured as described above is bump-bonded to the upper surface of the base substrate 2 using bumps B such as gold as shown in FIGS. More specifically, a pair of mount electrodes 16 and 17 are bump-bonded on two bumps B formed on routing electrodes 36 and 37 (described later) patterned on the upper surface of the base substrate 2. ing. As a result, the piezoelectric vibrating reed 4 is supported in a state of floating from the upper surface of the base substrate 2, and the mount electrodes 16 and 17 and the routing electrodes 36 and 37 are electrically connected to each other.
  • the lid substrate 3 is a transparent insulating substrate made of a glass material, for example, soda-lime glass, and is formed in a plate shape as shown in FIGS.
  • a rectangular recess 3 a in which the piezoelectric vibrating reed 4 is accommodated is formed on the bonding surface side to which the base substrate 2 is bonded.
  • the recess 3 a is a cavity recess that serves as a cavity C that accommodates the piezoelectric vibrating reed 4 when the substrates 2 and 3 are overlapped.
  • the lid substrate 3 is anodically bonded to the base substrate 2 with the recess 3a facing the base substrate 2 side.
  • the base substrate 2 is a transparent insulating substrate made of a glass material, for example, soda lime glass, like the lid substrate 3, and has a size that can be superimposed on the lid substrate 3 as shown in FIGS. It is formed in a plate shape.
  • the base substrate 2 is formed with a pair of through holes (through holes) 30 and 31 penetrating the base substrate 2. At this time, the pair of through holes 30 and 31 are formed so as to be accommodated in the cavity C. More specifically, in the through holes 30 and 31 of the present embodiment, one through hole 30 is formed at a position corresponding to the base 12 side of the mounted piezoelectric vibrating reed 4, and the distal ends of the vibrating arm portions 10 and 11 are formed.
  • the other through hole 31 is formed at a position corresponding to.
  • a through hole having a tapered cross section whose diameter gradually decreases from the lower surface to the upper surface of the base substrate 2 will be described as an example.
  • the present invention is not limited to this, and the base substrate 2 is straightened.
  • a through hole that penetrates may be used. In any case, it only has to penetrate the base substrate 2.
  • a pair of through electrodes 32 and 33 formed so as to fill the through holes 30 and 31 are formed.
  • the through electrodes 32 and 33 are formed by the cylindrical body 6 and the core member 7 that are integrally fixed to the through holes 30 and 31 by firing. 31 are completely closed to maintain the airtightness in the cavity C, and the external electrodes 38 and 39, which will be described later, and the routing electrodes 36 and 37 are electrically connected.
  • the cylindrical body 6 is obtained by baking paste-like glass frit 6a.
  • the cylindrical body 6 is formed in a cylindrical shape having both ends flat and substantially the same thickness as the base substrate 2.
  • the core part 7 is distribute
  • the outer shape of the cylindrical body 6 is formed in a conical shape (tapered cross section) according to the shape of the through holes 30 and 31. As shown in FIG. 3, the cylindrical body 6 is fired in a state of being embedded in the through holes 30 and 31, and is firmly fixed to the through holes 30 and 31.
  • the core material portion 7 is a conductive core material formed in a cylindrical shape from a metal material, and is formed so that both ends are flat and substantially the same thickness as the thickness of the base substrate 2 in the same manner as the cylindrical body 6. ing. As shown in FIG. 3, when the through electrodes 32 and 33 are formed as finished products, the core material portion 7 is formed to have substantially the same thickness as the base substrate 2 as described above. However, in the manufacturing process, the length of the core member 7 is 0.02 mm shorter than the initial thickness of the base substrate 2 in the manufacturing process (later described in the description of the manufacturing method). Details.) The core portion 7 is located in the center hole 6 c of the cylindrical body 6 and is firmly fixed to the cylindrical body 6 by firing the cylindrical body 6. The through electrodes 32 and 33 are ensured to have electrical conductivity through the conductive core portion 7.
  • a conductive film for example, aluminum is used to form a bonding film 35 for anodic bonding
  • a pair of routing electrodes 36 and 37 are patterned.
  • the bonding film 35 is formed along the periphery of the base substrate 2 so as to surround the periphery of the recess 3 a formed in the lid substrate 3.
  • the pair of lead-out electrodes 36 and 37 electrically connect one of the through electrodes 32 and 33 to the one mount electrode 16 of the piezoelectric vibrating piece 4 and the other through electrode. 33 and the other mount electrode 17 of the piezoelectric vibrating reed 4 are patterned so as to be electrically connected.
  • the one lead-out electrode 36 is formed right above the one through electrode 32 so as to be positioned directly below the base 12 of the piezoelectric vibrating piece 4.
  • the other routing electrode 37 is routed from the position adjacent to the one routing electrode 36 along the vibrating arm portions 10 and 11 to the distal end side of the vibrating arm portions 10 and 11, and then the other through electrode 33. It is formed so that it may be located just above.
  • Bumps B are respectively formed on the pair of lead-out electrodes 36 and 37, and the piezoelectric vibrating reed 4 is mounted using the bumps B.
  • one mount electrode 16 of the piezoelectric vibrating reed 4 is electrically connected to one through electrode 32 through one routing electrode 36, and the other mount electrode 17 is passed through the other routing electrode 37 to the other penetration electrode.
  • the electrode 33 is electrically connected.
  • external electrodes 38 and 39 that are electrically connected to the pair of through electrodes 32 and 33 are formed on the lower surface of the base substrate 2. . That is, one external electrode 38 is electrically connected to the first excitation electrode 13 of the piezoelectric vibrating reed 4 via one through electrode 32 and one routing electrode 36. The other external electrode 39 is electrically connected to the second excitation electrode 14 of the piezoelectric vibrating reed 4 via the other through electrode 33 and the other routing electrode 37.
  • a predetermined drive voltage is applied to the external electrodes 38 and 39 formed on the base substrate 2.
  • a current can flow through the excitation electrode 15 including the first excitation electrode 13 and the second excitation electrode 14 of the piezoelectric vibrating reed 4, and is predetermined in a direction in which the pair of vibrating arm portions 10 and 11 are approached and separated.
  • Can be vibrated at a frequency of The vibration of the pair of vibrating arm portions 10 and 11 can be used as a time source, a control signal timing source, a reference signal source, and the like.
  • the piezoelectric vibrating reed manufacturing step is performed to manufacture the piezoelectric vibrating reed 4 shown in FIGS. 5 to 7 (S10). Specifically, a quartz Lambert rough is first sliced at a predetermined angle to obtain a wafer having a constant thickness. Subsequently, the wafer is lapped and roughly processed, and then the work-affected layer is removed by etching, and then mirror polishing such as polishing is performed to obtain a wafer having a predetermined thickness.
  • the wafer is patterned with the outer shape of the piezoelectric vibrating reed 4 by photolithography, and a metal film is formed and patterned to obtain the excitation electrode 15, Lead electrodes 19 and 20, mount electrodes 16 and 17, and weight metal film 21 are formed. Thereby, the some piezoelectric vibrating piece 4 is producible.
  • the resonance frequency is coarsely adjusted. This is done by irradiating the coarse adjustment film 21a of the weight metal film 21 with laser light to evaporate a part thereof and changing the weight. Note that fine adjustment for adjusting the resonance frequency with higher accuracy is performed after mounting. This will be described later.
  • a first wafer manufacturing process is performed in which a lid substrate wafer 50 to be the lid substrate 3 later is manufactured up to a state immediately before anodic bonding (S20).
  • a disk-shaped lid substrate wafer 50 is formed by removing the outermost work-affected layer by etching or the like ( S21).
  • a recess forming step is performed for forming a plurality of cavity recesses 3a in the matrix direction by etching or the like on the bonding surface of the lid substrate wafer 50 (S22). At this point, the first wafer manufacturing process is completed.
  • a second wafer manufacturing process is performed in which the base substrate wafer 40 to be the base substrate 2 is manufactured up to the state immediately before anodic bonding (S30).
  • a disk-shaped base substrate wafer 40 is formed by removing the outermost work-affected layer by etching or the like (S31).
  • a through electrode forming step for forming a plurality of pairs of through electrodes 32 and 33 on the base substrate wafer 40 is performed (S30A).
  • the through electrode forming step will be described in detail.
  • a through-hole forming step (S32) for forming a plurality of pairs of through-holes 30, 31 penetrating the base substrate wafer 40 is performed.
  • the dotted line M shown in FIG. 11 has shown the cutting line cut
  • this process for example, sandblasting is performed from the lower surface side of the base substrate wafer 40.
  • through holes 30 and 31 having a tapered section whose diameter gradually decreases from the lower surface to the upper surface of the base substrate wafer 40 can be formed.
  • a plurality of pairs of through holes 30 and 31 are formed so as to be accommodated in the recess 3a formed in the lid substrate wafer 50.
  • one through hole 30 is formed on the base 12 side of the piezoelectric vibrating reed 4 and the other through hole 31 is formed on the distal end side of the vibrating arm portions 10 and 11.
  • a setting process is performed in which the core portion 7 of the housing 9 is disposed in the plurality of through holes 30 and 31.
  • a conductive casing 9 having a length of 0.02 mm shorter than the length and a core portion 7 having a flat tip is used.
  • the core member 7 is inserted until the base portion 8 of the housing 9 comes into contact with the base substrate wafer 40.
  • the housing 9 it is necessary to arrange the housing 9 so that the axial direction of the core part 7 and the axial direction of the through holes 30 and 31 substantially coincide.
  • the shaft portion of the core portion 7 can be simply moved by pushing the base portion 8 until it contacts the base substrate wafer 40.
  • the direction and the axial direction of the through holes 30 and 31 can be made to substantially coincide. Thereby, workability
  • the opening on one side of the through holes 30 and 31 can be closed by bringing the base portion 8 into contact with the surface of the base substrate wafer 40, the paste-like glass frit 6a can be easily placed in the through holes 30 and 31. Can be filled. Further, since the base portion 8 is formed in a flat plate shape, even if the base substrate wafer 40 is placed on a flat surface such as a desk between the setting step and the subsequent baking step, the base portion 8 is rattled. There is no etc. and it is stable. Also in this respect, workability can be improved.
  • a first filling step of filling the through holes 30 and 31 with the paste-like glass frit 6a made of a glass material is performed (S34A).
  • glass frit 6 a is applied to the surface (second surface) of the base substrate wafer 40, and the first squeegee 70 is attached to the surface of the base substrate wafer 40.
  • the glass frit 6a is filled in the through holes 30 and 31 by being moved in contact with the through holes 30 and 31.
  • the first squeegee 70 has a rod-like or plate-like shape extending substantially in the vertical direction, and its lower end is inclined at a predetermined attack angle ⁇ 1 ° with respect to the surface of the base substrate wafer 40.
  • the attack surface 70a of the first squeegee 70 is directed forward in the moving direction and brought into contact with the surface of the base substrate wafer 40 to Move along.
  • the glass frit 6 a applied to the surface of the base substrate wafer 40 is filled in the through holes 30 and 31.
  • the glass frit 6a is not filled up to the upper opening of the through holes 30 and 31 in the portion on the back side of the core member 7 with respect to the moving direction of the first squeegee 70 in the through holes 30 and 31.
  • the hollow D may arise.
  • the second filling step (S34B) is performed by moving the second squeegee 71 in a direction opposite to the moving direction of the first squeegee 70 in a state where the second squeegee 71 is in contact with the surface of the base substrate wafer 40.
  • the second squeegee 71 has a rod-like or plate-like shape extending substantially in the vertical direction, and has a predetermined attack angle ⁇ with respect to the surface of the base substrate wafer 40 at the lower end.
  • the attack surface 71a of the second squeegee 71 is directed forward in the moving direction and brought into contact with the surface of the base substrate wafer 40. Move along the surface.
  • the moving direction of the second squeegee S34B is opposite to the moving direction of the first squeegee 70. Due to such movement of the second squeegee 71, as shown in FIG. 14C, the movement of the first squeegee 70 remains on the surface of the base substrate wafer 40 without being filled into the through holes 30 and 31.
  • the glass frit 6 a is removed from the surface and filled in the through holes 30, 31, specifically, the depressions D in the through holes 30, 31.
  • the first squeegee 70 or the second squeegee 71 passes through the upper portions of the through holes 30 and 31, the first squeegee 70 and the second squeegee 71 do not come into contact with the tip of the core portion 7, It can control that core material part 7 inclines.
  • the attack angles ⁇ 1 and ⁇ 2 of the first squeegee 70 and the second squeegee 71 are set in the range of 5 ° to 45 °.
  • the attack angles ⁇ 1 and ⁇ 2 exceed 45 °, the performance of removing the glass frit 6a from the surface of the base substrate wafer 40 is improved, but the performance of filling the glass frit 6a into the through holes 30 and 31 is lowered. It is not preferable.
  • the attack angles ⁇ 1 and ⁇ 2 are less than 5 °, the resistance when the first squeegee 70 and the second squeegee 71 are moved increases, and the first filling step S34A and the second filling step S34B are smoothly performed.
  • the attack angles ⁇ 1 and ⁇ 2 are set in the range of 5 ° to 45 °, the first negative squeegee 70 and the first squeegee 70 and the second squeegee 70 can be obtained while efficiently filling the glass negative lot 6a into the through holes 30 and 31.
  • the resistance during the movement of the two squeegees 71 can be kept low, and the filling action can be performed smoothly and easily.
  • first squeegee 70 and the second squeegee 71 are provided with relief surfaces 70b and 71b having predetermined relief angles ⁇ 1 and ⁇ 2 , the first squeegee 70 and the second squeegee 71 are moved during the movement. The resistance can be further reduced and the filling operation can be performed more smoothly.
  • the attack angles ⁇ 1 and ⁇ 2 are preferably set to 15 ° and the clearance angles ⁇ 1 and ⁇ 2 are set to 65 °. In this case, the movement of the first squeegee 70 and the second squeegee 71 is performed.
  • the glass frit 6a can be efficiently filled in the through holes 30 and 31 while reducing the resistance most.
  • the first squeegee 70 and the second squeegee 71 may have the attack angles ⁇ 1 and ⁇ 2 and the relief angles ⁇ 1 and ⁇ 2 set to the same value or different values, respectively. . When these same values are used, the first squeegee 70 and the second squeegee 71 can be configured with the same squeegee, which is preferable from the viewpoint of cost.
  • the inside of the through holes 30, 31 is completely filled with the glass frit 6a.
  • the glass frit 6a on the surface of the base substrate wafer 40 is not completely removed and remains slightly. In this respect, since the glass frit 6a on the surface is removed by the polishing step after firing, it is not necessary to perform a separate step of removing the glass frit 6a after the first filling step (S34A) and the second filling step (S34B). .
  • a firing step of firing the embedded filler at a predetermined temperature is performed (S35).
  • the through holes 30 and 31, the glass frit 6 a embedded in the through holes 30 and 31, and the housing 9 disposed in the glass frit 6 a are fixed to each other.
  • the base portion 8 is fired together, so that the axial direction of the core material portion 7 and the axial directions of the through holes 30 and 31 are substantially matched, and both are fixed integrally. Can do.
  • the glass frit 6a is baked, it is solidified as the cylindrical body 6.
  • a polishing step is performed to polish and remove the base portion 8 of the casing 9 after firing (S35).
  • the base part 8 which played the role which positioned the cylinder 6 and the core material part 7 can be removed, and only the core material part 7 can be left inside the cylinder 6.
  • the back surface of the base substrate wafer 40 (the surface on which the base portion 8 of the housing 9 is not disposed) is polished so as to become a flat surface. And it grind
  • FIG. 17 it is possible to obtain a plurality of pairs of through electrodes 32 and 33 in which the cylindrical body 6 and the core member 7 are integrally fixed.
  • the through electrode 32 is formed of the cylindrical body 6 made of a glass material and the conductive core material portion 7 without using a paste for the conductive portion. , 33 are formed. If a paste is used for the conductive part, the organic matter contained in the paste evaporates during firing, so the volume of the paste is significantly reduced compared to before firing. Therefore, if only the paste is embedded in the through holes 30 and 31, a large dent will be formed on the surface of the paste after firing. However, in this embodiment, since the metal core part 7 is used for the conductive part, the volume reduction of the conductive part can be eliminated.
  • the surface of the base substrate wafer 40 and both ends of the cylindrical body 6 and the core member 7 are substantially flush with each other. That is, the surface of the base substrate wafer 40 and the surfaces of the through electrodes 32 and 33 can be substantially flush with each other.
  • the through electrode forming process is completed.
  • a conductive material is patterned on the upper surface of the base substrate wafer 40, and as shown in FIGS. 18 and 19, a bonding film forming step for forming the bonding film 35 is performed (S37), and each pair of penetrations is performed.
  • the dotted line M shown in FIG. 18, FIG. 28 has shown the cutting line cut
  • the through electrodes 32 and 33 are substantially flush with the upper surface of the base substrate wafer 40 as described above. Therefore, the routing electrodes 36 and 37 patterned on the upper surface of the base substrate wafer 40 are in close contact with the through electrodes 32 and 33 without generating a gap or the like therebetween. As a result, it is possible to ensure the electrical conductivity between the one routing electrode 36 and the one through electrode 32 and the electrical conductivity between the other routing electrode 37 and the other through electrode 33. At this point, the second wafer manufacturing process is completed.
  • the order of steps in which the routing electrode formation step (S38) is performed after the bonding film formation step (S37) is reversed.
  • the bonding film formation is performed after the routing electrode formation step (S38).
  • the step (S37) may be performed, or both steps may be performed simultaneously. Regardless of the order of steps, the same effects can be obtained. Therefore, the process order may be changed as necessary.
  • a mounting step is performed in which the produced plurality of piezoelectric vibrating reeds 4 are joined to the upper surface of the base substrate wafer 40 via the routing electrodes 36 and 37, respectively (S40).
  • bumps B such as gold are formed on the pair of lead-out electrodes 36 and 37, respectively.
  • the piezoelectric vibrating piece 4 is pressed against the bump B while heating the bump B to a predetermined temperature.
  • the piezoelectric vibrating reed 4 is mechanically supported by the bumps B, and the mount electrodes 16 and 17 and the routing electrodes 36 and 37 are electrically connected.
  • the pair of excitation electrodes 15 of the piezoelectric vibrating reed 4 are in a state of being electrically connected to the pair of through electrodes 32 and 33, respectively.
  • the piezoelectric vibrating reed 4 is bump-bonded, it is supported in a state where it floats from the upper surface of the base substrate wafer 40.
  • an overlaying process for overlaying the lid substrate wafer 50 on the base substrate wafer 40 is performed (S50). Specifically, both wafers 40 and 50 are aligned at the correct positions while using a reference mark (not shown) as an index. As a result, the mounted piezoelectric vibrating reed 4 is housed in a cavity C surrounded by the recess 3 a formed in the base substrate wafer 40 and the wafers 40 and 50.
  • the superposed two wafers 40 and 50 are put in an anodic bonding apparatus (not shown), and a predetermined voltage is applied in a predetermined temperature atmosphere to perform the anodic bonding (S60). Specifically, a predetermined voltage is applied between the bonding film 35 and the lid substrate wafer 50. As a result, an electrochemical reaction occurs at the interface between the bonding film 35 and the lid substrate wafer 50, and the two are firmly bonded and anodically bonded. Thereby, the piezoelectric vibrating reed 4 can be sealed in the cavity C, and the wafer body 60 shown in FIG. 20 in which the base substrate wafer 40 and the lid substrate wafer 50 are bonded can be obtained. In FIG.
  • the wafer body 60 in order to make the drawing easier to see, a state in which the wafer body 60 is disassembled is illustrated, and the bonding film 35 is not illustrated from the base substrate wafer 40.
  • the dotted line M shown in FIG. 20 has shown the cutting line cut
  • the through holes 30 and 31 formed in the base substrate wafer 40 are completely closed by the through electrodes 32 and 33, so that the airtightness in the cavity C is reduced. Will not be damaged through.
  • the cylindrical body 6 and the core member 7 are fixed to each other by firing, and are firmly fixed to the through holes 30 and 31, so that the airtightness in the cavity C is reliably maintained. can do.
  • a conductive material is patterned on the lower surface of the base substrate wafer 40 to form a pair of external electrodes 38 and 39 electrically connected to the pair of through electrodes 32 and 33, respectively.
  • a plurality of external electrode forming steps are formed (S70).
  • the piezoelectric vibrating reed 4 sealed in the cavity C can be operated using the external electrodes 38 and 39.
  • the through electrodes 32 and 33 are substantially flush with the lower surface of the base substrate wafer 40 as in the formation of the lead-out electrodes 36 and 37.
  • the external electrodes 38 and 39 are in close contact with the through electrodes 32 and 33 without generating a gap or the like therebetween. Thereby, the continuity between the external electrodes 38 and 39 and the through electrodes 32 and 33 can be ensured.
  • a fine adjustment step of finely adjusting the frequency of each piezoelectric vibrator 1 sealed in the cavity C to be within a predetermined range is performed (S80). More specifically, a voltage is applied to the pair of external electrodes 38 and 39 formed on the lower surface of the base substrate wafer 40 to vibrate the piezoelectric vibrating reed 4. Then, laser light is irradiated from the outside through the lid substrate wafer 50 while measuring the frequency, and the fine adjustment film 21b of the weight metal film 21 is evaporated. Thereby, since the weight of the tip end side of the pair of vibrating arm portions 10 and 11 changes, the frequency of the piezoelectric vibrating piece 4 can be finely adjusted so as to be within a predetermined range of the nominal frequency.
  • a cutting process is performed to cut the bonded wafer body 60 along the cutting line M shown in FIG.
  • the piezoelectric vibration piece 4 is sealed in the cavity C formed between the base substrate 2 and the lid substrate 3 that are anodically bonded to each other, and the two-layer structure surface mount type piezoelectric vibration shown in FIG.
  • a plurality of children 1 can be manufactured at a time.
  • the order of processes in which the fine adjustment process (S80) is performed may be used.
  • fine adjustment step (S80) fine adjustment can be performed in the state of the wafer body 60, so that the plurality of piezoelectric vibrators 1 can be finely adjusted more efficiently. Therefore, it is preferable because throughput can be improved.
  • an internal electrical characteristic inspection is performed (S100). That is, the resonance frequency, resonance resistance value, drive level characteristic (excitation power dependency of the resonance frequency and resonance resistance value) and the like of the piezoelectric vibrating piece 4 are measured and checked. In addition, the insulation resistance characteristics and the like are also checked. Finally, an appearance inspection of the piezoelectric vibrator 1 is performed to finally check dimensions, quality, and the like. This completes the manufacture of the piezoelectric vibrator 1.
  • the piezoelectric vibrator 1 of the present embodiment has no dents on the surface, and the through electrodes 32 and 33 can be formed in a substantially flush state with respect to the base substrate 2. 36 and 37 and the external electrodes 38 and 39 can be securely adhered. As a result, stable continuity between the piezoelectric vibrating reed 4 and the external electrodes 38 and 39 can be ensured, and the reliability of the operation performance can be improved to achieve high performance. And since the penetration electrodes 32 and 33 are comprised using the electroconductive core part 7, the very stable electroconductivity can be obtained.
  • the quality in the cavity C can be reliably maintained, the quality can be improved also in this respect.
  • the cylindrical body 6 of the present embodiment is formed by mixing glass beads with glass beads, deformation and volume reduction are unlikely to occur at the subsequent firing stage. Therefore, high quality through electrodes 32 and 33 can be formed, and the airtightness in the cavity C can be further ensured. Therefore, the quality of the piezoelectric vibrator 1 can be improved. Further, according to the manufacturing method of the present embodiment, a plurality of the piezoelectric vibrators 1 can be manufactured at a time, so that the cost can be reduced.
  • the glass frit 6 a is filled in the through holes 30 and 31 with the first squeegee 70, and then the second squeegee 71 is moved to the second squeegee 71. Since the glass frit 6a is filled in the through hole by moving the squeegee 70 in the direction opposite to the moving direction of the squeegee 70, the glass frit 6a is reliably filled in the through holes 30 and 31, and the depression The occurrence of D can be prevented.
  • the oscillator 100 is configured such that the piezoelectric vibrator 1 is an oscillator electrically connected to the integrated circuit 101.
  • the oscillator 100 includes a substrate 103 on which an electronic component 102 such as a capacitor is mounted. On the substrate 103, the integrated circuit 101 for the oscillator is mounted, and the piezoelectric vibrator 1 is mounted in the vicinity of the integrated circuit 101.
  • the electronic component 102, the integrated circuit 101, and the piezoelectric vibrator 1 are electrically connected by a wiring pattern (not shown). Each component is molded with a resin (not shown).
  • the piezoelectric vibrating piece 4 in the piezoelectric vibrator 1 vibrates. This vibration is converted into an electric signal by the piezoelectric characteristics of the piezoelectric vibrating piece 4 and input to the integrated circuit 101 as an electric signal.
  • the input electrical signal is subjected to various processes by the integrated circuit 101 and is output as a frequency signal.
  • the piezoelectric vibrator 1 functions as an oscillator.
  • an RTC real-time clock
  • a function for controlling the time, providing a time, a calendar, and the like can be added.
  • the airtightness in the cavity C is sure, the electrical continuity between the piezoelectric vibrating reed 4 and the external electrodes 38 and 39 is stably secured, and the operation reliability is ensured. Since the improved high-quality piezoelectric vibrator 1 is provided, the oscillator 100 itself is similarly stably secured, and the operation reliability can be improved and the quality can be improved. In addition to this, it is possible to obtain a highly accurate frequency signal that is stable over a long period of time.
  • the portable information device 110 having the above-described piezoelectric vibrator 1 will be described as an example of the electronic device.
  • the portable information device 110 according to the present embodiment is represented by, for example, a mobile phone, and is a development and improvement of a wrist watch in the related art. The appearance is similar to that of a wristwatch, and a liquid crystal display is arranged in a portion corresponding to a dial so that the current time and the like can be displayed on this screen.
  • the portable information device 110 includes the piezoelectric vibrator 1 and a power supply unit 111 for supplying power.
  • the power supply unit 111 is made of, for example, a lithium secondary battery.
  • the power supply unit 111 includes a control unit 112 that performs various controls, a clock unit 113 that counts time, a communication unit 114 that communicates with the outside, a display unit 115 that displays various types of information, A voltage detection unit 116 that detects the voltage of the functional unit is connected in parallel.
  • the power unit 111 supplies power to each functional unit.
  • the control unit 112 controls each function unit to control operation of the entire system such as transmission and reception of voice data, measurement and display of the current time, and the like.
  • the control unit 112 includes a ROM in which a program is written in advance, a CPU that reads and executes the program written in the ROM, and a RAM that is used as a work area of the CPU.
  • the clock unit 113 includes an integrated circuit including an oscillation circuit, a register circuit, a counter circuit, an interface circuit, and the like, and the piezoelectric vibrator 1.
  • the piezoelectric vibrator 1 When a voltage is applied to the piezoelectric vibrator 1, the piezoelectric vibrating reed 4 vibrates, and the vibration is converted into an electric signal by the piezoelectric characteristics of the crystal and is input to the oscillation circuit as an electric signal.
  • the output of the oscillation circuit is binarized and counted by a register circuit and a counter circuit. Then, signals are transmitted to and received from the control unit 112 via the interface circuit, and the current time, current date, calendar information, or the like is displayed on the display unit 115.
  • the communication unit 114 has functions similar to those of a conventional mobile phone, and includes a radio unit 117, a voice processing unit 118, a switching unit 119, an amplification unit 120, a voice input / output unit 121, a telephone number input unit 122, and a ring tone generation unit. 123 and a call control memory unit 124.
  • the wireless unit 117 exchanges various data such as audio data with the base station via the antenna 125.
  • the audio processing unit 118 encodes and decodes the audio signal input from the radio unit 117 or the amplification unit 120.
  • the amplifying unit 120 amplifies the signal input from the audio processing unit 118 or the audio input / output unit 121 to a predetermined level.
  • the voice input / output unit 121 includes a speaker, a microphone, and the like, and amplifies a ringtone and a received voice or collects a voice.
  • the ring tone generator 123 generates a ring tone in response to a call from the base station.
  • the switching unit 119 switches the amplifying unit 120 connected to the voice processing unit 118 to the ringing tone generating unit 123 only when an incoming call is received, so that the ringing tone generated in the ringing tone generating unit 123 is transmitted via the amplifying unit 120.
  • the call control memory unit 124 stores a program related to incoming / outgoing call control of communication.
  • the telephone number input unit 122 includes, for example, a number key from 0 to 9 and other keys. By pressing these number keys and the like, a telephone number of a call destination is input.
  • the voltage detection unit 116 detects the voltage drop and notifies the control unit 112 of the voltage drop.
  • the predetermined voltage value at this time is a value set in advance as a minimum voltage necessary for stably operating the communication unit 114, and is, for example, about 3V.
  • the control unit 112 prohibits the operations of the radio unit 117, the voice processing unit 118, the switching unit 119, and the ring tone generation unit 123. In particular, it is essential to stop the operation of the wireless unit 117 with high power consumption. Further, the display unit 115 displays that the communication unit 114 has become unusable due to insufficient battery power.
  • the operation of the communication unit 114 can be prohibited by the voltage detection unit 116 and the control unit 112, and that effect can be displayed on the display unit 115.
  • This display may be a text message, but as a more intuitive display, a x (X) mark may be attached to the telephone icon displayed at the top of the display surface of the display unit 115.
  • the function of the communication part 114 can be stopped more reliably by providing the power supply cutoff part 126 that can selectively cut off the power of the part related to the function of the communication part 114.
  • the airtightness in the cavity C is reliable, the electrical continuity between the piezoelectric vibrating reed 4 and the external electrodes 38 and 39 is stably ensured, and the operation is reliable. Since the high-quality piezoelectric vibrator 1 with improved performance is provided, the continuity of the portable information device itself can be ensured in the same manner, and the operation reliability can be improved and the quality can be improved. In addition to this, it is possible to display highly accurate clock information that is stable over a long period of time.
  • the radio-controlled timepiece 130 includes the piezoelectric vibrator 1 electrically connected to the filter unit 131.
  • the radio-controlled timepiece 130 receives a standard radio wave including timepiece information and is accurate. It is a clock with a function of automatically correcting and displaying the correct time.
  • transmitting stations transmitting stations that transmit standard radio waves in Fukushima Prefecture (40 kHz) and Saga Prefecture (60 kHz), each transmitting standard radio waves.
  • Long waves such as 40 kHz or 60 kHz have the property of propagating the surface of the earth and the property of propagating while reflecting the ionosphere and the surface of the earth, so the propagation range is wide, and the above two transmitting stations cover all of Japan. is doing.
  • the antenna 132 receives a long standard wave of 40 kHz or 60 kHz.
  • the long-wave standard radio wave is obtained by subjecting time information called a time code to AM modulation on a 40 kHz or 60 kHz carrier wave.
  • the received long standard wave is amplified by the amplifier 133 and filtered and tuned by the filter unit 131 having the plurality of piezoelectric vibrators 1.
  • the piezoelectric vibrator 1 according to this embodiment includes crystal vibrator portions 138 and 139 having resonance frequencies of 40 kHz and 60 kHz that are the same as the carrier frequency.
  • the filtered signal having a predetermined frequency is detected and demodulated by the detection and rectification circuit 134. Subsequently, the time code is taken out via the waveform shaping circuit 135 and counted by the CPU 136.
  • the CPU 136 reads information such as the current year, accumulated date, day of the week, and time. The read information is reflected in the RTC 137, and accurate time information is displayed. Since the carrier wave is 40 kHz or 60 kHz, the crystal vibrator units 138 and 139 are preferably vibrators having the tuning fork type structure described above.
  • the frequency of the long standard radio wave is different overseas.
  • a standard radio wave of 77.5 KHz is used. Accordingly, when the radio timepiece 130 that can be used overseas is incorporated in a portable device, the piezoelectric vibrator 1 having a frequency different from that in Japan is required.
  • the airtightness in the cavity C is reliable, the electrical connection between the piezoelectric vibrating reed 4 and the external electrodes 38 and 39 is stably ensured, and the operation reliability is ensured. Since the high-quality piezoelectric vibrator 1 with improved quality is provided, the radio-controlled timepiece itself can be stably secured in the same manner, and the operation reliability can be improved and the quality can be improved. In addition to this, it is possible to count time stably and with high accuracy over a long period of time.
  • the through holes 30 and 31 are formed in a conical shape having a tapered cross section, but may be a straight cylindrical shape instead of a tapered cross section.
  • the shape of the core part 7 was formed in the column shape was demonstrated, you may make it a prism. Even in this case, the same effects can be obtained.
  • the base substrate wafer 40 base substrate wafer 40
  • the cylindrical body 6 and the core member 7 are thermally expanded in the same manner. Therefore, due to the difference in thermal expansion coefficient, excessive pressure is applied to the base substrate wafer 40 and the cylindrical body 6 to generate cracks, etc., or between the cylindrical body 6 and the through holes 30 and 31, or the cylindrical body. There is no gap between 6 and the core member 7. Therefore, a higher quality through electrode can be formed, and as a result, the piezoelectric vibrator 1 can be further improved in quality.
  • the grooved piezoelectric vibrating piece 4 in which the groove portions 18 are formed on both surfaces of the vibrating arm portions 10 and 11 has been described as an example.
  • the piezoelectric vibrating piece may be used.
  • the tuning fork type piezoelectric vibrating piece 4 has been described as an example.
  • the tuning fork type is not limited to the tuning fork type.
  • it may be a thickness sliding vibration piece.
  • the base substrate 2 and the lid substrate 3 are anodically bonded via the bonding film 35.
  • the present invention is not limited to anodic bonding.
  • anodic bonding is preferable because both substrates 2 and 3 can be firmly bonded.
  • the piezoelectric vibrating reed 4 is bump-bonded, but is not limited to bump bonding.
  • the piezoelectric vibrating reed 4 may be joined with a conductive adhesive.
  • the piezoelectric vibrating reed 4 can be lifted from the upper surface of the base substrate 2, and a minimum vibration gap necessary for vibration can be secured naturally. Therefore, it is preferable to perform bump bonding.
  • the method for manufacturing a piezoelectric vibrator according to the present invention can be applied to a surface mount type (SMD) piezoelectric vibrator in which a piezoelectric vibrating piece is sealed in a cavity formed between two bonded substrates.
  • SMD surface mount type

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Abstract

本発明の圧電振動子の製造方法は、平板状の土台部と、土台部の表面に直交する方向に沿って延在する芯材部と、を有する導電性の鋲体の芯材部をベース基板の貫通孔内に挿入し、ベース基板の第1面に鋲体の土台部を当接させる工程と、ベース基板の第2面にペースト状のガラスフリットを塗布し、該第2面にアタック角度をもって当接する第1スキージを一方向に移動させてガラスフリットを貫通孔内に充填する工程と、第2面にアタック角度をもって当接する第2スキージを、一方向の逆方向に移動させて、第2面上に余分に塗布されたガラスフリットを貫通孔内に充填する工程とを有する。

Description

圧電振動子の製造方法、発振器、電子機器および電波時計
 本発明は、接合された2枚の基板の間に形成されたキャビティ内に圧電振動片が封止された表面実装型(SMD)の圧電振動子の製造方法、圧電振動子を有する発振器、電子機器および電波時計に関するものである。
 近年、携帯電話や携帯情報端末には、時刻源や制御信号などのタイミング源、リファレンス信号源などとして水晶などを利用した圧電振動子が用いられている。この種の圧電振動子は、様々なものが知られているが、その一つとして、表面実装型の圧電振動子が知られている。この種の圧電振動子としては、一般的に圧電振動片が形成された圧電基板をベース基板とリッド基板とで上下から挟み込むように接合した3層構造タイプのものが知られている。この場合、圧電振動子はベース基板とリッド基板との間に形成されたキャビティ(密閉室)内に収納されている。また、近年では、上述した3層構造タイプのものではなく、2層構造タイプのものも開発されている。
 このタイプの圧電振動子は、ベース基板とリッド基板とが直接接合されることで2層構造になっており、両基板の間に形成されたキャビティ内に圧電振動片が収納されている。
 この2層構造タイプの圧電振動子は、3層構造のものに比べて薄型化を図ることができるなどの点において優れており、好適に使用されている。このような2層構造タイプの圧電振動子の一つとして、ベース基板を貫通するように形成された導電部材を利用して、圧電振動片とベース基板に形成された外部電極とを導通させた圧電振動子が知られている(例えば、特許文献1および特許文献2参照)。
 この圧電振動子200は、図24、図25に示すように、接合膜207を介して互いに陽極接合されたベース基板201およびリッド基板202と、両基板201、202の間に形成されたキャビティC内に封止された圧電振動片203と、を備えている。圧電振動片203は、例えば音叉型の振動片であって、キャビティC内においてベース基板201の上面に導電性接着剤Eを介してマウントされている。
 ベース基板201およびリッド基板202は、例えばセラミックやガラスなどからなる絶縁基板である。両基板201、202のうちベース基板201には、該基板201を貫通するスルーホール204が形成されている。そして、このスルーホール204内には、該スルーホール204を塞ぐように導電部材205が埋め込まれている。この導電部材205は、ベース基板201の下面に形成された外部電極206に電気的に接続されているとともに、キャビティC内にマウントされている圧電振動片203に電気的に接続されている。
特開2001-267190号公報 特開2007-328941号公報
 ところで、上述した2層構造タイプの圧電振動子において、導電部材205は、スルーホール204を塞いでキャビティC内の気密を維持するとともに、圧電振動片203と外部電極206とを導通させるという2つの大きな役割を担っている。特に、スルーホール204との密着が不十分であると、キャビティC内の気密が損なわれてしまう虞があり、また、導電性接着剤Eあるいは外部電極206との接触が不十分であると、圧電振動片203の作動不良を招いてしまう。したがって、このような不具合を無くすためにも、スルーホール204の内面に強固に密着した状態で該スルーホール204を完全に塞ぎ、しかも、表面に凹みなどがない状態で導電部材205を形成する必要がある。
 しかしながら、特許文献1および特許文献2には、導電部材205を導電ペースト(AgペーストやAu-Snペーストなど)にて形成する点は記載されているものの、実際にどのように形成するかなどの具体的な製造方法については何ら記載されていない。
 一般的に導電ペーストを使用する場合には、焼成して硬化させる必要がある。つまり、スルーホール204内に導電ペーストを埋め込んだ後、焼成を行って硬化させる必要がある。ところが、焼成を行うと、導電ペーストに含まれる有機物が蒸発により消失してしまうため、通常、焼成後の体積が焼成前に比べて減少してしまう(例えば、導電ペーストとしてAgペーストを用いた場合には、体積が略20%程度減少してしまう)。そのため、導電ペーストを利用して導電部材205を形成したとしても、表面に凹みが発生してしまったり、ひどい場合には貫通孔が中心に開いてしまったりする虞がある。
 その結果、キャビティC内の気密が損なわれたり、圧電振動片203と外部電極206との導通性が損なわれたりする可能性があった。
 上述の不具合を解消するために、以下のような貫通電極の形成方法が提案されている。即ち、図26(a)に示すように、まずベース基板201に形成されたスルーホール211に金属製のピン212を配置する。次に、図26(b)に示すように、ベース基板201表面に対してアタック角度γ°(例えば15°)で傾斜するフィルスキージ214を該ベース基板201表面に当接させて、その後一方向に移動させることでベース基板201上のペースト状のガラスフリッド215をスルーホール211内に充填する(セット工程)。次に、ベース基板201表面に対して上記アタック角度γ°よりも大きいアタック角度δ°(例えば85°)で傾斜するスクライブスキージ216を、上記フィルスキージ214の移動方向の逆方向に移動させて、ベース基板201上の余分なガラスフリッド215を除去する(ガラスフリット除去工程)。このように、スルーホール211とピン212との隙間にガラスフリッド215を充填した後、焼成して貫通電極を形成することで、体積減少がガラスフリット215の部分のみになるため、その後の研磨工程の時間を削減することができ、効率的に貫通電極を形成することができる。
 しかしながら、上述のように、フィルスキージ214及びスクライブスキージ216を用いてガラスフリット215の充填を行なった場合、フィルスキージ214の移動方向に対するピン212の背面側にガラスフリッド215が充填されず窪みDが生じてしまう(図26(C)参照)。この際、フィルスキージ214の移動方向の逆方向に向かって、スクライブスキージ216がベース基板201上に残存したガラスフリッド215を掻き取りながら移動するものの、アタック角度δが大きいためガラスフリッド215を窪みDに導入するには至らず、結果として、図26(d)に示すように、スルーホール211内のガラスフリッド215に窪みDが残存してしまう。このような窪みDが形成されるとクラックが生じやすくなり、キャビティC内の気密が損なわれたり、圧電振動片203と外部電極206との導通性が損なわれたりする可能性があった。
 本発明は上述の事情に鑑みてなされたものであり、キャビティ内の気密性や圧電振動片と外部電極との安定した導通性を確保することができる圧電振動子の製造方法、発振器、電子機器、電波時計を提供することを目的とする。
 上記課題に鑑みて、本発明は以下の手段を提案している。
 即ち、本発明に係る圧電振動子の製造方法は、互いに接合されたベース基板とリッド基板との間に形成されたキャビティ内に圧電振動片が封止された圧電振動子の製造方法において、平板状の土台部と、該土台部の表面に直交する方向に沿って延在する芯材部と、を有する導電性の鋲体の前記芯材部を前記ベース基板の貫通孔内に挿入し、前記ベース基板の第1面に鋲体の土台部を当接させる工程と、前記ベース基板の第2面にペースト状のガラスフリットを塗布し、該第2面にアタック角度をもって当接する第1スキージを、前記貫通孔の一側から一方向に向かって前記第2面に沿って移動させて前記ガラスフリットを前記貫通孔内に充填する工程と、前記第2面にアタック角度をもって当接する第2スキージを、前記一側の前記貫通孔を介した反対側から前記一方向の逆方向に向かって前記第2面に沿って移動させて、前記第2面上に余分に塗布された前記ガラスフリットを前記貫通孔内に充填する工程と、前記ガラスフリットを焼成して硬化させる工程と、を有することを特徴としている。
 このような特徴の圧電振動子の製造方法によれば、第1スキージでもって一側から貫通孔にガラスフリットを充填し、さらに第2スキージを反対側から第1スキージの移動方向の逆方向に移動させてガラスフリットを貫通孔に充填するといった二段階での充填作業を行うことによって、貫通孔内がガラスフリットで満たされるように確実に充填することができる。
 また、本発明に係る圧電振動子の製造方法は、前記第1スキージ及び前記第2スキージの前記アタック角度が5°~45°の範囲内に設定されていることを特徴としている。
 このようなアタック角度でベース基板の第2面に当接する第1スキージ及び第2スキージを移動させることにより、貫通孔内にガラスフリットをより確実に充填することができる。
 さらに、本発明に係る圧電振動子の製造方法は、前記第1スキージ及び前記第2スキージが、前記第2面に対して前記アタック角度で傾斜して当接するアタック面と、前記第2面と前記アタック面との当接箇所から前記第1スキージ及び前記第2スキージの各移動方向の後方に向かうに従って上方に向かって漸次傾斜する逃げ面と、を有することを特徴としている。
 このような形状の第1スキージ及び第2スキージによってガラスフリットの充填作業を行えば、貫通孔内にガラスフリットを確実に充填することができるとともに、逃げ面が形成されていることから第1スキージ及び第2スキージの移動の際の抵抗を低減させて、充填作業を円滑に行うことができる。
 本発明に係る発振器は、上述したいずれかの方法で製造された圧電振動子が、発振子として集積回路に電気的に接続されていることを特徴としている。
 このような特徴の発振器によれば、貫通孔内にガラスフリットを確実に充填して電極を形成しているため、キャビティ内の気密性や圧電振動片と外部電極との導通性を確保することが可能となる。
 本発明に係る電子機器は、上述したいずれかの方法で製造された圧電振動子が、計時部に電気的に接続されていることを特徴としている。
 このような特徴の電子機器によれば、貫通孔内にガラスフリットを確実に充填して電極を形成しているため、キャビティ内の気密性や圧電振動片と外部電極との導通性を確保することが可能となる。
 本発明に係る電波時計は、上述したいずれかの方法で製造された圧電素子が、フィルタ部に電気的に接続されていることを特徴としている。
 このような特徴の電波時計によれば、貫通孔内にガラスフリットを確実に充填して電極を形成しているため、キャビティ内の気密性や圧電振動片と外部電極との導通性を確保することが可能となる。
 本発明に係る圧電振動子の製造方法によれば、第1スキージ及び第2スキージを用いて二段階で貫通孔にガラスフリットを充填することで、キャビティ内の気密性や圧電振動片と外部電極との導通性を安定的に確保することができる。
図1は、本発明に係る圧電振動子の一実施形態を示す外観斜視図である。 図2は、図1に示す圧電振動子の内部構成図であって、リッド基板を取り外した状態で圧電振動片を上方から見た図である。 図3は、図2に示すA-A線に沿った圧電振動子の断面図である。 図4は、図1に示す圧電振動子の分解斜視図である。 図5は、図1に示す圧電振動子を構成する圧電振動片の上面図である。 図6は、図5に示す圧電振動片の下面図である。 図7は、図5に示す断面矢視B-B図である。 図8は、図3に示す貫通電極を構成する筒体の斜視図である。 図9は、図1に示す圧電振動子を製造する際の流れを示すフローチャートである。 図10は、図9に示すフローチャートに沿って圧電振動子を製造する際の一工程を示す図であって、リッド基板の元となるリッド基板用ウエハに複数の凹部を形成した状態を示す図である。 図11は、図9に示すフローチャートに沿って圧電振動子を製造する際の一工程を示す図であって、ベース基板の元となるベース基板用ウエハに一対のスルーホールを形成した状態を示す図である。 図12は、図11に示す状態をベース基板用ウエハの断面から見た図である。 図13は、図9に示すフローチャートに沿って圧電振動子を製造する際に利用する鋲体の斜視図である。 図14は、図9に示すフローチャートに沿って圧電振動子を製造する際の一工程を示す図であって、スルーホール内に鋲体を配置すると共に、ガラスフリットを充填する工程を示す図である。 図15は、スルーホール内に第1スキージでガラスフリットを充填した後の状態を示す平面図である。 図16は、図9に示すフローチャートに沿って圧電振動子を製造する際の一工程を示す図であって、図17に示す状態の後、ガラスフリットを焼成した状態を示す図である。 図17は、図9に示すフローチャートに沿って圧電振動子を製造する際の一工程を示す図であって、図18に示す状態の後、鋲体の土台部を研磨した状態を示す図である。 図18は、図9に示すフローチャートに沿って圧電振動子を製造する際の一工程を示す図であって、図19に示す状態の後、ベース基板用ウエハの上面に接合膜及び引き回し電極をパターニングした状態を示す図である。 図19は、図18に示す状態のベース基板用ウエハの全体図である。 図20は、図9に示すフローチャートに沿って圧電振動子を製造する際の一工程を示す図であって、圧電振動片をキャビティ内に収容した状態でベース基板用ウエハとリッド基板用ウエハとが陽極接合されたウエハ体の分解斜視図である。 図21は、本発明に係る発振器の一実施形態を示す構成図である。 図22は、本発明に係る電子機器の一実施形態を示す構成図である。 図23は、本発明に係る電波時計の一実施形態を示す構成図である。 図24は、従来の圧電振動子の内部構成図であって、リッド基板を取り外した状態で圧電振動片を上方から見た図である。 図24は、図24に示す圧電振動子の断面図である。 図26は、従来の圧電振動子を製造する際の一工程を示す図であって、スルーホール内に鋲体を配置すると共に、フィルスキージでガラスフリットを充填し、スクライブスキージで余分なガラスフリットを除去する工程を示す図である。
符号の説明
1   圧電振動子
2   ベース基板 
3   リッド基板 
3a  キャビティ用の凹部 
4   圧電振動片 
7   芯材 
6   筒体 
6a  ガラスフリット 
6c  筒体の中心孔 
30,31   スルーホール(貫通孔) 
32,33   貫通電極 
36,37   引き回し電極 
38,39   外部電極 
40  ベース基板用ウエハ 
50  リッド基板用ウエハ 
70  第1スキージ
70a  アタック面
70b  逃げ面
71   第2スキージ
71a  アタック面
71b  逃げ面
100   発振器 
101   発振器の集積回路 
110   携帯情報機器(電子機器) 
113   電子機器の計時部 
130   電波時計 
131   電波時計のフィルタ部 
B   バンプ 
C   キャビティ 
D   窪み
α,α  アタック角
β,β  逃げ角
 以下、本発明に係る実施形態を、図1から図20を参照して説明する。
 図1~図4に示すように、本実施形態の圧電振動子1は、ベース基板2とリッド基板3とで2層に積層された箱状に形成されており、内部のキャビティC内に圧電振動片4が収納された表面実装型の圧電振動子である。なお、図4においては、図面を見易くするために後述する励振電極15、引き出し電極19,20、マウント電極16,17及び重り金属膜21の図示を省略している。
 図5~図7に示すように、圧電振動片4は、水晶、タンタル酸リチウムやニオブ酸リチウム等の圧電材料から形成された音叉型の振動片であり、所定の電圧が印加されたときに振動するものである。
 この圧電振動片4は、平行に配置された一対の振動腕部10、11と、該一対の振動腕部10、11の基端側を一体的に固定する基部12と、一対の振動腕部10、11の外表面上に形成されて一対の振動腕部10、11を振動させる第1の励振電極13と第2の励振電極14とからなる励振電極15と、第1の励振電極13及び第2の励振電極14に電気的に接続されたマウント電極16,17とを有している。
 また、本実施形態の圧電振動片4は、一対の振動腕部10、11の両主面上に、該振動腕部10、11の長手方向に沿ってそれぞれ形成された溝部18を備えている。この溝部18は、振動腕部10、11の基端側から略中間付近まで形成されている。
 第1の励振電極13と第2の励振電極14とからなる励振電極15は、一対の振動腕部10、11を互いに接近又は離間する方向に所定の共振周波数で振動させる電極であり、一対の振動腕部10、11の外表面に、それぞれ電気的に切り離された状態でパターニングされて形成されている。具体的には、第1の励振電極13が、一方の振動腕部10の溝部18上と他方の振動腕部11の両側面上とに主に形成され、第2の励振電極14が、一方の振動腕部10の両側面上と他方の振動腕部11の溝部18上とに主に形成されている。
 また、第1の励振電極13及び第2の励振電極14は、基部12の両主面上において、それぞれ引き出し電極19,20を介してマウント電極16,17に電気的に接続されている。そして圧電振動片4は、このマウント電極16,17を介して電圧が印加されるようになっている。
 なお、上述した励振電極15、マウント電極16,17及び引き出し電極19,20は、例えば、クロム(Cr)、ニッケル(Ni)、アルミニウム(Al)やチタン(Ti)等の導電性膜の被膜により形成されたものである。
 また、一対の振動腕部10、11の先端には、自身の振動状態を所定の周波数の範囲内で振動するように調整(周波数調整)を行うための重り金属膜21が被膜されている。なお、この重り金属膜21は、周波数を粗く調整する際に使用される粗調膜21aと、微小に調整する際に使用される微調膜21bとに分かれている。これら粗調膜21a及び微調膜21bを利用して周波数調整を行うことで、一対の振動腕部10、11の周波数をデバイスの公称周波数の範囲内に収めることができる。
 このように構成された圧電振動片4は、図3、図4に示すように、金等のバンプBを利用して、ベース基板2の上面にバンプ接合されている。より具体的には、ベース基板2の上面にパターニングされた後述する引き回し電極36,37上に形成された2つのバンプB上に、一対のマウント電極16,17がそれぞれ接触した状態でバンプ接合されている。これにより、圧電振動片4は、ベース基板2の上面から浮いた状態で支持されると共に、マウント電極16,17と引き回し電極36,37とがそれぞれ電気的に接続された状態となっている。
 上記リッド基板3は、ガラス材料、例えばソーダ石灰ガラスからなる透明の絶縁基板であり、図1、図3及び図4に示すように、板状に形成されている。そして、ベース基板2が接合される接合面側には、圧電振動片4が収まる矩形状の凹部3aが形成されている。
この凹部3aは、両基板2、3が重ね合わされたときに、圧電振動片4を収容するキャビティCとなるキャビティ用の凹部である。そして、リッド基板3は、この凹部3aをベース基板2側に対向させた状態で該ベース基板2に対して陽極接合されている。
 上記ベース基板2は、リッド基板3と同様にガラス材料、例えばソーダ石灰ガラスからなる透明な絶縁基板であり、図1~図4に示すように、リッド基板3に対して重ね合わせ可能な大きさで板状に形成されている。
 このベース基板2には、該ベース基板2を貫通する一対のスルーホール(貫通孔)30,31が形成されている。この際、一対のスルーホール30,31は、キャビティC内に収まるように形成されている。より詳しく説明すると、本実施形態のスルーホール30,31は、マウントされた圧電振動片4の基部12側に対応した位置に一方のスルーホール30が形成され、振動腕部10、11の先端側に対応した位置に他方のスルーホール31が形成されている。また、本実施形態では、ベース基板2の下面から上面に向かって漸次径が縮径した断面テーパ状のスルーホールを例に挙げて説明するが、この場合に限られず、ベース基板2を真っ直ぐに貫通するスルーホールでも構わない。いずれにしても、ベース基板2を貫通していれば良い。
 そして、これら一対のスルーホール30,31には、該スルーホール30,31を埋めるように形成された一対の貫通電極32,33が形成されている。これら貫通電極32,33は、図3に示すように、焼成によってスルーホール30,31に対して一体的に固定された筒体6及び芯材部7によって形成されたものであり、スルーホール30,31を完全に塞いでキャビティC内の気密を維持しているとともに、後述する外部電極38,39と引き回し電極36,37とを導通させる役割を担っている。
 図8に示すように、上記筒体6は、ペースト状のガラスフリット6aが焼成されたものである。筒体6は、両端が平坦で且つベース基板2と略同じ厚みの円筒状に形成されている。そして、筒体6の中心には、芯材部7が筒体6を貫通するように配されている。また、本実施形態ではスルーホール30,31の形状に合わせて、筒体6の外形が円錐状(断面テーパ状)となるように形成されている。そして、この筒体6は、図3に示すように、スルーホール30,31内に埋め込まれた状態で焼成されており、該スルーホール30,31に対して強固に固着されている。
 上記芯材部7は、金属材料により円柱状に形成された導電性の芯材であり、筒体6と同様に両端が平坦で且つベース基板2の厚みと略同じ厚さとなるように形成されている。なお、図3に示すように、貫通電極32,33が完成品として形成された場合には、上述したように芯材部7は、ベース基板2の厚みと略同じ厚さとなるように形成されているが、製造過程では、芯材部7の長さは、製造過程の当初のベース基板2の厚さよりも0.02mmだけ短い長さのものを採用している(後に製造方法の説明で詳述する。)。そして、この芯材部7は、筒体6の中心孔6cに位置しており、筒体6の焼成によって該筒体6に対して強固に固着されている。
 なお、貫通電極32,33は、導電性の芯材部7を通して電気導通性が確保されている。
 ベース基板2の上面側(リッド基板3が接合される接合面側)には、図1~図4に示すように、導電性材料(例えば、アルミニウム)により、陽極接合用の接合膜35と、一対の引き回し電極36,37とがパターニングされている。このうち接合膜35は、リッド基板3に形成された凹部3aの周囲を囲むようにベース基板2の周縁に沿って形成されている。
 また、一対の引き回し電極36,37は、一対の貫通電極32,33のうち、一方の貫通電極32と圧電振動片4の一方のマウント電極16とを電気的に接続すると共に、他方の貫通電極33と圧電振動片4の他方のマウント電極17とを電気的に接続するようにパターニングされている。
 より詳しく説明すると、一方の引き回し電極36は、圧電振動片4の基部12の真下に位置するように一方の貫通電極32の真上に形成されている。また、他方の引き回し電極37は、一方の引き回し電極36に隣接した位置から、振動腕部10、11に沿って該振動腕部10、11の先端側に引き回しされた後、他方の貫通電極33の真上に位置するように形成されている。
 そして、これら一対の引き回し電極36,37上にそれぞれバンプBが形成されており、該バンプBを利用して圧電振動片4がマウントされている。これにより、圧電振動片4の一方のマウント電極16が、一方の引き回し電極36を介して一方の貫通電極32に導通し、他方のマウント電極17が、他方の引き回し電極37を介して他方の貫通電極33に導通するようになっている。
 また、ベース基板2の下面には、図1、図3及び図4に示すように、一対の貫通電極32,33に対してそれぞれ電気的に接続される外部電極38,39が形成されている。つまり、一方の外部電極38は、一方の貫通電極32及び一方の引き回し電極36を介して圧電振動片4の第1の励振電極13に電気的に接続されている。また、他方の外部電極39は、他方の貫通電極33及び他方の引き回し電極37を介して、圧電振動片4の第2の励振電極14に電気的に接続されている。
 このように構成された圧電振動子1を作動させる場合には、ベース基板2に形成された外部電極38,39に対して、所定の駆動電圧を印加する。これにより、圧電振動片4の第1の励振電極13及び第2の励振電極14からなる励振電極15に電流を流すことができ、一対の振動腕部10、11を接近・離間させる方向に所定の周波数で振動させることができる。そして、この一対の振動腕部10、11の振動を利用して、時刻源、制御信号のタイミング源やリファレンス信号源等として利用することができる。
 次に、上述した圧電振動子1を、図9に示すフローチャートを参照しながら、ベース基板用ウエハ40とリッド基板用ウエハ50とを利用して一度に複数製造する製造方法について以下に説明する。
 初めに、圧電振動片作製工程を行って図5~図7に示す圧電振動片4を作製する(S10)。具体的には、まず水晶のランバート原石を所定の角度でスライスして一定の厚みのウエハとする。続いて、このウエハをラッピングして粗加工した後、加工変質層をエッチングで取り除き、その後ポリッシュ等の鏡面研磨加工を行って、所定の厚みのウエハとする。続いて、ウエハに洗浄等の適切な処理を施した後、該ウエハをフォトリソグラフィ技術によって圧電振動片4の外形形状でパターニングすると共に、金属膜の成膜及びパターニングを行って、励振電極15、引き出し電極19,20、マウント電極16,17、重り金属膜21を形成する。これにより、複数の圧電振動片4を作製することができる。
 また、圧電振動片4を作製した後、共振周波数の粗調を行っておく。これは、重り金属膜21の粗調膜21aにレーザ光を照射して一部を蒸発させ、重量を変化させることで行う。なお、共振周波数をより高精度に調整する微調に関しては、マウント後に行う。これについては、後に説明する。
 次に、後にリッド基板3となるリッド基板用ウエハ50を、陽極接合を行う直前の状態まで作製する第1のウエハ作製工程を行う(S20)。まず、ソーダ石灰ガラスを所定の厚さまで研磨加工して洗浄した後に、図10に示すように、エッチング等により最表面の加工変質層を除去した円板状のリッド基板用ウエハ50を形成する(S21)。次いで、リッド基板用ウエハ50の接合面に、エッチング等により行列方向にキャビティ用の凹部3aを複数形成する凹部形成工程を行う(S22)。この時点で、第1のウエハ作製工程が終了する。
 次に、上記工程と同時或いは前後のタイミングで、後にベース基板2となるベース基板用ウエハ40を、陽極接合を行う直前の状態まで作製する第2のウエハ作製工程を行う(S30)。まず、ソーダ石灰ガラスを所定の厚さまで研磨加工して洗浄した後に、エッチング等により最表面の加工変質層を除去した円板状のベース基板用ウエハ40を形成する(S31)。次いで、ベース基板用ウエハ40に一対の貫通電極32,33を複数形成する貫通電極形成工程を行う(S30A)。ここで、この貫通電極形成工程について、詳細に説明する。
 まず、図11に示すように、ベース基板用ウエハ40を貫通する一対のスルーホール30,31を複数形成する貫通孔形成工程(S32)を行う。なお、図11に示す点線Mは、後に行う切断工程で切断する切断線を図示している。この工程を行う際、ベース基板用ウエハ40の下面側から、例えばサンドブラスト法で行う。これにより、図12に示すように、ベース基板用ウエハ40の下面から上面に向かって漸次径が縮径する断面テーパ状のスルーホール30,31を形成することができる。また、後に両ウエハ40、50を重ね合わせたときに、リッド基板用ウエハ50に形成された凹部3a内に収まるように一対のスルーホール30,31を複数形成する。しかも、一方のスルーホール30が圧電振動片4の基部12側に位置し、他方のスルーホール31が振動腕部10、11の先端側に位置するように形成する。
 続いて、これら複数のスルーホール30,31内に、鋲体9の芯材部7を配置するセット工程を行なう。この際、鋲体9として、図13に示すように、平板状の土台部8と、該土台部8上から該土台部8の表面に略直交する方向に沿ってベース基板用ウエハ40の厚さよりも例えば0.02mmだけ短い長さで形成されるとともに、先端が平坦に形成された芯材部7と、を有する導電性の鋲体9を用いる。
 このセット工程においては、図14(a)に示すように、鋲体9の土台部8がベース基板用ウエハ40に接触するまで、芯材部7を挿入する。ここで、芯材部7の軸方向とスルーホール30,31の軸方向とを略一致するように鋲体9を配置する必要がある。しかしながら、土台部8上に芯材部7が形成された鋲体9を利用するため、土台部8をベース基板用ウエハ40に接触させるまで押し込むだけの簡単な作業で、芯材部7の軸方向とスルーホール30,31の軸方向とを略一致させることができる。これにより、セット工程時における作業性を向上することができる。
 さらに、土台部8をベース基板用ウエハ40の表面に接触させることで、スルーホール30,31の片側開口を閉塞することができるため、ペースト状のガラスフリット6aを容易にスルーホール30,31内に充填させることができる。また、土台部8は、平板状に形成されているため、セット工程後、後に行う焼成工程までの間に、ベース基板用ウエハ40を机上等の平面上に載置したとしても、がたつき等がなく、安定する。この点においても、作業性の向上を図ることができる。
 そして、ガラス材料からなるペースト状のガラスフリット6aをスルーホール30,31内に充填する第1充填工程を行う(S34A)。この第1充填工程においては、図14(b)に示すように、ベース基板用ウエハ40の表面(第2面)にガラスフリット6aを塗布し、第1スキージ70をベース基板用ウエハ40の表面に当接させた状態で移動させて、ガラスフリット6aをスルーホール30,31内に充填する
 上記第1スキージは70は、略上下方向に延びる棒状あるいは板状をなしており、その下部先端には、ベース基板用ウエハ40の表面に対して所定のアタック角度α°で傾斜して当接するアタック面70aと、該アタック面70aとベース基板用ウェーハ40の表面との当接箇所からベース基板用ウエハ40の表面に対して所定の逃げ角β°で傾斜して延びる逃げ面70bとを有している。
 そして、この第1充填工程S34Aにおいては、図14(b)に示すように第1スキージ70のアタック面70aを移動方向前方に向けるとともにベース基板用ウエハ40の表面に当接させて、該表面に沿って移動させる。これにより、図14(c)に示すように、ベース基板用ウエハ40の表面に塗布されたガラスフリット6aの大部分がスルーホール30,31内に充填される。なお、この際、スルーホール30,31内における第1スキージ70の移動方向に対する芯部材7の背面側の部分はガラスフリット6aがスルーホール30,31の開口上部まで満たされず、図14(c)及び図15に示すように、窪みDが生じることがある。このように、ガラスフリット6aに窪みDが形成された状態で焼成を行なうと、スルーホール30,31内に段差が形成され、キャビティC内の気密性や電極間の導通性が損なわれるといった不都合が生じる。この点、本実施形態においては、次に説明する第2充填工程(S34B)を行なうことにより上記不都合を解消している。
 この第2充填工程(S34B)は、第2スキージ71をベース基板用ウエハ40の表面に当接させた状態で上記第1スキージ70の移動方向の逆方向に移動させることにより行われる。
 第2スキージは71は、第1スキージ70と同様に、略上下方向に延びる棒状あるいは板状をなしており、その下部先端には、ベース基板用ウエハ40の表面に対して所定のアタック角度α°で傾斜して当接するアタック面71aと、該アタック面71aとベース基板用ウェーハ40の表面との当接箇所からベース基板用ウエハ40の表面に対して所定の逃げ角β°で傾斜して延びる逃げ面71bとを有している。
 そして、この第2充填工程(S34B)においては、図14(c)に示すように第2スキージ71のアタック面71aを移動方向前方に向けるとともにベース基板用ウエハ40の表面に当接させて、該表面に沿って移動させる。なお、この第2スキージS34Bの移動方向は第1スキージ70の移動方向に対して逆方向とされている。
 このような第2スキージ71の移動により、図14(c)に示すように、第1スキージ70の移動によってはスルーホール30,31内に充填されずにベース基板用ウエハ40の表面に残存したガラスフリット6aが、該表面上から除去されてスルーホール30,31内、具体的には、該スルーホール30,31内の上記窪みDに充填される。
 なお、本実施形態においては、鋲体9の芯材部7の長さをベース基板用ウエハ40の厚さよりも0.02mm短くしたため、第1充填工程(S34A)及び第2充填工程(S34B)で第1スキージが70又は第2スキージ71がスルーホール30,31の上部を通過する際に、これら第1スキージ70及び第2スキージ71と芯材部7の先端とが接触することがなくなり、芯材部7が傾いてしまうことを抑制することができる。
 このようにして、第1スキージ70及び第2スキージ71による二段階での充填作業が行われることによって、スルーホール30,31内の窪みDが埋められて、該スルーホール30,31がガラスフリット6aで満たされる。これにより、後述する焼成後にスルーホール30,31内に段差が形成されることはなく、キャビティC内の気密性や圧電振動片4と外部電極38,39との安定した導通性を確保することができる。
 ここで、第1スキージ70及び第2スキージ71のアタック角α,αは、5°~45°の範囲に設定されていることが好ましい。アタック角α,αが45°を超える場合、ベース基板用ウエハ40の表面からガラスフリット6aを除去する性能は向上するもののスルーホール30,31内にガラスフリット6aを充填する性能が低下し好ましくない。また、アタック角α,αが5°未満の場合、第1スキージ70及び第2スキージ71を移動させる際の抵抗が大きくなり、第1充填工程S34A及び第2充填工程S34Bを円滑に行うことができなくなってしまう。この点、アタック角α,αが5°~45°の範囲に設定されていることにより、スルーホール30,31内にガラス負ロット6aを効率よく充填しつつも第1スキージ70及び第2スキージ71の移動の際の抵抗を低く抑えることができ、円滑かつ容易に充填作用を行なうことができる。
 また、第1スキージ70及び第2スキージ71には所定の逃げ角β,βを有する逃げ面70b、71bが形成されているため、第1スキージ70及び第2スキージ71の移動の際の抵抗をより低減させて、充填作業を一層円滑に行うことができる。
 なお、アタック角α,αが15°に、、逃げ角β,βが65°に設定されていることが好ましく、この場合には、第1スキージ70及び第2スキージ71の移動抵抗を最も低減しながら、効率よくスルーホール30,31内にガラスフリット6aを充填することができる。
 また、第1スキージ70及び第2スキージ71はそれぞれアタック角α,α及び逃げ角β,βが同一の値に設定されていてもよいし、異なる値に設定されていてもよい。なお、これら同一の値をした場合には、第1スキージ70及び第2スキージ71を同一のスキージでもって構成することができ、コスト上の観点から好ましい。
 このように、第1充填工程(S34A)及び第2充填工程(S34B)での二段階での充填作業を終えた状態では、スルーホール30,31内がガラスフリット6aにより完全に満たされるものの、図14(d)に示すように、ベース基板用ウエハ40の表面上のガラスフリット6aは完全に除去されず僅かに残存することになる。この点、表面上のガラスフリット6aは焼成後の研磨工程によって除去されるため、第1充填工程(S34A)及び第2充填工程(S34B)後に別途ガラスフリット6aを除去する工程を行なう必要はない。
 続いて、埋め込んだ充填材を所定の温度で焼成する焼成工程を行う(S35)。これにより、スルーホール30,31と、該スルーホール30,31内に埋め込まれたガラスフリット6aと、ガラスフリット6a内に配置された鋲体9と、が互いに固着し合う。この焼成を行う際に、土台部8ごと焼成するため、芯材部7の軸方向とスルーホール30,31の軸方向とを略一致させた状態にしたまま、両者を一体的に固定することができる。ガラスフリット6aが焼成されると筒体6として固化する。
 次に、図16に示すように、焼成後に鋲体9の土台部8を研磨して除去する研磨工程を行う(S35)。これにより、筒体6及び芯材部7を位置決めさせる役割を果たしていた土台部8を除去することができ、芯材部7のみを筒体6の内部に取り残すことができる。
 また、同時にベース基板用ウエハ40の裏面(鋲体9の土台部8が配されていない側の面)を研磨して平坦面になるようにする。そして、芯材部7の先端が露出するまで研磨する。その結果、図17に示すように、筒体6と芯材部7とが一体的に固定された一対の貫通電極32,33を複数得ることができる。
 なお、貫通電極32,33を形成するにあたって、従来のものとは異なり、導電部にペーストを使用せずに、ガラス材料からなる筒体6と、導電性の芯材部7とで貫通電極32,33を形成している。仮に導電部にペーストを利用した場合には、焼成時にペースト内に含まれる有機物が蒸発してしまうため、ペーストの体積が焼成前に比べて顕著に減少してしまう。そのため、仮にペーストだけをスルーホール30,31内に埋め込んだ場合には、焼成後にペーストの表面に大きな凹みが生じてしまう。しかしながら、本実施形態では導電部に金属製の芯材部7を用いたため、導電部の体積減少を無くすことができる。
 上述したように、ベース基板用ウエハ40の表面と、筒体6および芯材部7の両端とは、略面一な状態となる。つまり、ベース基板用ウエハ40の表面と貫通電極32,33の表面とを、略面一な状態とすることができる。なお、研磨工程を行った時点で、貫通電極形成工程が終了する。
 次に、ベース基板用ウエハ40の上面に導電性材料をパターニングして、図18、図19に示すように、接合膜35を形成する接合膜形成工程を行う(S37)と共に、各一対の貫通電極32,33にそれぞれ電気的に接続された引き回し電極36,37を複数形成する引き回し電極形成工程を行う(S38)。なお、図18、図28に示す点線Mは、後に行う切断工程で切断する切断線を図示している。
 特に、貫通電極32,33は、上述したようにベース基板用ウエハ40の上面に対して略面一な状態となっている。そのため、ベース基板用ウエハ40の上面にパターニングされた引き回し電極36,37は、間に隙間等を発生させることなく貫通電極32,33に対して密着した状態で接する。これにより、一方の引き回し電極36と一方の貫通電極32との導通性、並びに、他方の引き回し電極37と他方の貫通電極33との導通性を確実なものにすることができる。この時点で第2のウエハ作製工程が終了する。
 ところで、図9では、接合膜形成工程(S37)の後に、引き回し電極形成工程(S38)を行う工程順序としているが、これとは逆に、引き回し電極形成工程(S38)の後に、接合膜形成工程(S37)を行っても構わないし、両工程を同時に行っても構わない。いずれの工程順序であっても、同一の作用効果を奏することができる。よって、必要に応じて適宜、工程順序を変更して構わない。
 次に、作製した複数の圧電振動片4を、それぞれ引き回し電極36,37を介してベース基板用ウエハ40の上面に接合するマウント工程を行う(S40)。まず、一対の引き回し電極36,37上にそれぞれ金等のバンプBを形成する。そして、圧電振動片4の基部12をバンプB上に載置した後、バンプBを所定温度に加熱しながら圧電振動片4をバンプBに押し付ける。これにより、圧電振動片4は、バンプBに機械的に支持されると共に、マウント電極16,17と引き回し電極36,37とが電気的に接続された状態となる。よって、この時点で圧電振動片4の一対の励振電極15は、一対の貫通電極32,33に対してそれぞれ導通した状態となる。
 特に、圧電振動片4は、バンプ接合されるため、ベース基板用ウエハ40の上面から浮いた状態で支持される。
 圧電振動片4のマウントが終了した後、ベース基板用ウエハ40に対してリッド基板用ウエハ50を重ね合わせる重ね合わせ工程を行う(S50)。具体的には、図示しない基準マーク等を指標としながら、両ウエハ40、50を正しい位置にアライメントする。これにより、マウントされた圧電振動片4が、ベース基板用ウエハ40に形成された凹部3aと両ウエハ40、50とで囲まれるキャビティC内に収容された状態となる。
 重ね合わせ工程後、重ね合わせた2枚のウエハ40、50を図示しない陽極接合装置に入れ、所定の温度雰囲気で所定の電圧を印加して陽極接合する接合工程を行う(S60)。具体的には、接合膜35とリッド基板用ウエハ50との間に所定の電圧を印加する。すると、接合膜35とリッド基板用ウエハ50との界面に電気化学的な反応が生じ、両者がそれぞれ強固に密着して陽極接合される。これにより、圧電振動片4をキャビティC内に封止することができ、ベース基板用ウエハ40とリッド基板用ウエハ50とが接合した図20に示すウエハ体60を得ることができる。なお、図20においては、図面を見易くするために、ウエハ体60を分解した状態を図示しており、ベース基板用ウエハ40から接合膜35の図示を省略している。なお、図20に示す点線Mは、後に行う切断工程で切断する切断線を図示している。
 ところで、陽極接合を行う際、ベース基板用ウエハ40に形成されたスルーホール30,31は、貫通電極32,33によって完全に塞がれているため、キャビティC内の気密がスルーホール30,31を通じて損なわれることがない。特に、焼成によって筒体6と芯材部7とが一定的に固定されていると共に、これらがスルーホール30,31に対して強固に固着されているため、キャビティC内の気密を確実に維持することができる。
 そして、上述した陽極接合が終了した後、ベース基板用ウエハ40の下面に導電性材料をパターニングして、一対の貫通電極32,33にそれぞれ電気的に接続された一対の外部電極38,39を複数形成する外部電極形成工程を行う(S70)。この工程により、外部電極38,39を利用してキャビティC内に封止された圧電振動片4を作動させることができる。
 特に、この工程を行う場合も引き回し電極36,37の形成時と同様に、ベース基板用ウエハ40の下面に対して貫通電極32,33が略面一な状態となっているため、パターニングされた外部電極38,39は、間に隙間等を発生させることなく貫通電極32,33に対して密着した状態で接する。これにより、外部電極38,39と貫通電極32,33との導通性を確実なものにすることができる。
 次に、ウエハ体60の状態で、キャビティC内に封止された個々の圧電振動子1の周波数を微調整して所定の範囲内に収める微調工程を行う(S80)。具体的に説明すると、ベース基板用ウエハ40の下面に形成された一対の外部電極38,39に電圧を印加して圧電振動片4を振動させる。そして、周波数を計測しながらリッド基板用ウエハ50を通して外部からレーザ光を照射し、重り金属膜21の微調膜21bを蒸発させる。これにより、一対の振動腕部10、11の先端側の重量が変化するため、圧電振動片4の周波数を、公称周波数の所定範囲内に収まるように微調整することができる。
 周波数の微調が終了後、接合されたウエハ体60を図22に示す切断線Mに沿って切断して小片化する切断工程を行う(S90)。その結果、互いに陽極接合されたベース基板2とリッド基板3との間に形成されたキャビティC内に圧電振動片4が封止された、図1に示す2層構造式表面実装型の圧電振動子1を一度に複数製造することができる。
 なお、切断工程(S90)を行って個々の圧電振動子1に小片化した後に、微調工程(S80)を行う工程順序でも構わない。但し、上述したように、微調工程(S80)を先に行うことで、ウエハ体60の状態で微調を行うことができるため、複数の圧電振動子1をより効率良く微調することができる。よって、スループットの向上化を図ることができるため好ましい。
 その後、内部の電気特性検査を行う(S100)。即ち、圧電振動片4の共振周波数、共振抵抗値、ドライブレベル特性(共振周波数及び共振抵抗値の励振電力依存性)等を測定してチェックする。また、絶縁抵抗特性等を併せてチェックする。そして、最後に圧電振動子1の外観検査を行って、寸法や品質等を最終的にチェックする。これをもって圧電振動子1の製造が終了する。
 特に、本実施形態の圧電振動子1は、表面に凹みがなく、ベース基板2に対して略面一な状態で貫通電極32,33を形成できるため、該貫通電極32,33を、引き回し電極36,37及び外部電極38,39に対して確実に密着させることができる。その結果、圧電振動片4と外部電極38,39との安定した導通性を確保することができ、作動性能の信頼性を向上して高性能化を図ることができる。しかも、導通性の芯材部7を利用して貫通電極32,33を構成しているため、非常に安定した導通性を得ることができる。
 また、キャビティC内の気密に関しても確実に維持することができるため、この点においても高品質化を図ることができる。特に、本実施形態の筒体6は、ガラスフリットにガラスビーズを混合したもので形成したため、その後の焼成時の段階で変形や体積減少等が生じ難い。そのため、高品質な貫通電極32,33を形成することができ、キャビティC内の気密をより確実にすることができる。よって、圧電振動子1の高品質化を図ることができる。
 また、本実施形態の製造方法によれば、上記圧電振動子1を一度に複数製造することができるため、低コスト化を図ることができる。
 さらに、本実施形態では、ベース基板用ウエハ40に貫通電極32,33を形成する際に、第1スキージ70でもって貫通孔30,31にガラスフリット6aを充填した後、第2スキージ71を第1スキージ70の移動方向の逆方向に移動させてガラスフリット6aを貫通孔に充填するといった二段階での充填作業を行うため、スルーホール30,31内にガラスフリット6aを確実に充填し、窪みDの発生を防止することができる。よって、焼成後にスルーホール30,31内にクラックの原因となる段差が形成されるのを回避することができるため、キャビティC内の気密性や圧電振動片4と外部電極38,39との安定した導通性を確保することが可能となる。
(発振器)
 次に、本発明に係る発振器の一実施形態について、図21を参照しながら説明する。
 本実施形態の発振器100は、図21に示すように、圧電振動子1を、集積回路101に電気的に接続された発振子として構成したものである。この発振器100は、コンデンサ等の電子部品102が実装された基板103を備えている。基板103には、発振器用の上記集積回路101が実装されており、この集積回路101の近傍に、圧電振動子1が実装されている。これら電子部品102、集積回路101及び圧電振動子1は、図示しない配線パターンによってそれぞれ電気的に接続されている。なお、各構成部品は、図示しない樹脂によりモールドされている。
 このように構成された発振器100において、圧電振動子1に電圧を印加すると、該圧電振動子1内の圧電振動片4が振動する。この振動は、圧電振動片4が有する圧電特性により電気信号に変換されて、集積回路101に電気信号として入力される。入力された電気信号は、集積回路101によって各種処理がなされ、周波数信号として出力される。これにより、圧電振動子1が発振子として機能する。
 また、集積回路101の構成を、例えば、RTC(リアルタイムクロック)モジュール等を要求に応じて選択的に設定することで、時計用単機能発振器等の他、当該機器や外部機器の動作日や時刻を制御したり、時刻やカレンダー等を提供したりする機能を付加することができる。
 上述したように、本実施形態の発振器100によれば、キャビティC内の気密が確実で、圧電振動片4と外部電極38,39との導通性が安定して確保され、作動の信頼性が向上した高品質な圧電振動子1を備えているため、発振器100自体も同様に導通性が安定して確保され、作動の信頼性を高めて高品質化を図ることができる。さらにこれに加え、長期にわたって安定した高精度な周波数信号を得ることができる。
(電子機器)
 次に、本発明に係る電子機器の一実施形態について、図22を参照して説明する。なお電子機器として、上述した圧電振動子1を有する携帯情報機器110を例にして説明する。
 始めに本実施形態の携帯情報機器110は、例えば、携帯電話に代表されるものであり、従来技術における腕時計を発展、改良したものである。外観は腕時計に類似し、文字盤に相当する部分に液晶ディスプレイを配し、この画面上に現在の時刻等を表示させることができるものである。また、通信機として利用する場合には、手首から外し、バンドの内側部分に内蔵されたスピーカ及びマイクロフォンによって、従来技術の携帯電話と同様の通信を行うことが可能である。しかしながら、従来の携帯電話と比較して、格段に小型化及び軽量化されている。
 次に、本実施形態の携帯情報機器110の構成について説明する。この携帯情報機器110は、図22に示すように、圧電振動子1と、電力を供給するための電源部111とを備えている。電源部111は、例えば、リチウム二次電池からなっている。この電源部111には、各種制御を行う制御部112と、時刻等のカウントを行う計時部113と、外部との通信を行う通信部114と、各種情報を表示する表示部115と、それぞれの機能部の電圧を検出する電圧検出部116とが並列に接続されている。そして、電源部111によって、各機能部に電力が供給されるようになっている。
 制御部112は、各機能部を制御して音声データの送信及び受信、現在時刻の計測や表示等、システム全体の動作制御を行う。また、制御部112は、予めプログラムが書き込まれたROMと、該ROMに書き込まれたプログラムを読み出して実行するCPUと、該CPUのワークエリアとして使用されるRAM等とを備えている。
 計時部113は、発振回路、レジスタ回路、カウンタ回路及びインターフェース回路等を内蔵する集積回路と、圧電振動子1とを備えている。圧電振動子1に電圧を印加すると圧電振動片4が振動し、該振動が水晶の有する圧電特性により電気信号に変換されて、発振回路に電気信号として入力される。発振回路の出力は二値化され、レジスタ回路とカウンタ回路とにより計数される。そして、インターフェース回路を介して、制御部112と信号の送受信が行われ、表示部115に、現在時刻や現在日付或いはカレンダー情報等が表示される。
 通信部114は、従来の携帯電話と同様の機能を有し、無線部117、音声処理部118、切替部119、増幅部120、音声入出力部121、電話番号入力部122、着信音発生部123及び呼制御メモリ部124を備えている。
 無線部117は、音声データ等の各種データを、アンテナ125を介して基地局と送受信のやりとりを行う。音声処理部118は、無線部117又は増幅部120から入力された音声信号を符号化及び複号化する。増幅部120は、音声処理部118又は音声入出力部121から入力された信号を、所定のレベルまで増幅する。音声入出力部121は、スピーカやマイクロフォン等からなり、着信音や受話音声を拡声したり、音声を集音したりする。
 また、着信音発生部123は、基地局からの呼び出しに応じて着信音を生成する。切替部119は、着信時に限って、音声処理部118に接続されている増幅部120を着信音発生部123に切り替えることによって、着信音発生部123において生成された着信音が増幅部120を介して音声入出力部121に出力される。
 なお、呼制御メモリ部124は、通信の発着呼制御に係るプログラムを格納する。また、電話番号入力部122は、例えば、0から9の番号キー及びその他のキーを備えており、これら番号キー等を押下することにより、通話先の電話番号等が入力される。
 電圧検出部116は、電源部111によって制御部112等の各機能部に対して加えられている電圧が、所定の値を下回った場合に、その電圧降下を検出して制御部112に通知する。このときの所定の電圧値は、通信部114を安定して動作させるために必要な最低限の電圧として予め設定されている値であり、例えば、3V程度となる。電圧検出部116から電圧降下の通知を受けた制御部112は、無線部117、音声処理部118、切替部119及び着信音発生部123の動作を禁止する。特に、消費電力の大きな無線部117の動作停止は、必須となる。更に、表示部115に、通信部114が電池残量の不足により使用不能になった旨が表示される。
 即ち、電圧検出部116と制御部112とによって、通信部114の動作を禁止し、その旨を表示部115に表示することができる。この表示は、文字メッセージであっても良いが、より直感的な表示として、表示部115の表示面の上部に表示された電話アイコンに、×(バツ)印を付けるようにしても良い。
 なお、通信部114の機能に係る部分の電源を、選択的に遮断することができる電源遮断部126を備えることで、通信部114の機能をより確実に停止することができる。
 上述したように、本実施形態の携帯情報機器110によれば、キャビティC内の気密が確実で、圧電振動片4と外部電極38,39との導通性が安定して確保され、作動の信頼性が向上した高品質な圧電振動子1を備えているため、携帯情報機器自体も同様に導通性が安定して確保され、作動の信頼性を高めて高品質化を図ることができる。さらにこれに加え、長期にわたって安定した高精度な時計情報を表示することができる。
(電波時計)
 次に、本発明に係る電波時計の一実施形態について、図23を参照して説明する。
 本実施形態の電波時計130は、図23に示すように、フィルタ部131に電気的に接続された圧電振動子1を備えたものであり、時計情報を含む標準の電波を受信して、正確な時刻に自動修正して表示する機能を備えた時計である。
 日本国内には、福島県(40kHz)と佐賀県(60kHz)とに、標準の電波を送信する送信所(送信局)があり、それぞれ標準電波を送信している。40kHz若しくは60kHzのような長波は、地表を伝播する性質と、電離層と地表とを反射しながら伝播する性質とを併せもつため、伝播範囲が広く、上述した2つの送信所で日本国内を全て網羅している。
 以下、電波時計130の機能的構成について詳細に説明する。
 アンテナ132は、40kHz若しくは60kHzの長波の標準電波を受信する。長波の標準電波は、タイムコードと呼ばれる時刻情報を、40kHz若しくは60kHzの搬送波にAM変調をかけたものである。受信された長波の標準電波は、アンプ133によって増幅され、複数の圧電振動子1を有するフィルタ部131によって濾波、同調される。
 本実施形態における圧電振動子1は、上記搬送周波数と同一の40kHz及び60kHzの共振周波数を有する水晶振動子部138、139をそれぞれ備えている。
 更に、濾波された所定周波数の信号は、検波、整流回路134により検波復調される。
続いて、波形整形回路135を介してタイムコードが取り出され、CPU136でカウントされる。CPU136では、現在の年、積算日、曜日、時刻等の情報を読み取る。読み取られた情報は、RTC137に反映され、正確な時刻情報が表示される。
 搬送波は、40kHz若しくは60kHzであるから、水晶振動子部138、139は、上述した音叉型の構造を持つ振動子が好適である。
 なお、上述の説明は、日本国内の例で示したが、長波の標準電波の周波数は、海外では異なっている。例えば、ドイツでは77.5KHzの標準電波が用いられている。従って、海外でも対応可能な電波時計130を携帯機器に組み込む場合には、さらに日本の場合とは異なる周波数の圧電振動子1を必要とする。
 上述したように、本実施形態の電波時計130によれば、キャビティC内の気密が確実で、圧電振動片4と外部電極38,39との導通性が安定して確保され、作動の信頼性が向上した高品質な圧電振動子1を備えているため、電波時計自体も同様に導通性が安定して確保され、作動の信頼性を高めて高品質化を図ることができる。さらにこれに加え、長期にわたって安定して高精度に時刻をカウントすることができる。
 なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
 例えば、上記実施形態では、スルーホール30,31の形状を断面テーパ状の円錐形状に形成したが、断面テーパ状ではなくストレート形状の円柱形状にしてもよい。
 また、芯材部7の形状を円柱状で形成した場合の説明をしたが、角柱にしてもよい。この場合であっても、やはり同様の作用効果を奏することができる。
 また、上記実施形態において、芯材部7として、熱膨張係数がベース基板2(ベース基板用ウエハ40)及び筒体6と略等しいものを用いることが好ましい。
 この場合には、焼成を行う際に、ベース基板用ウエハ40、筒体6及び芯材部7の3つが、それぞれ同じように熱膨張する。従って、熱膨張係数の違いによって、ベース基板用ウエハ40や筒体6に過度に圧力を作用させてクラック等を発生させたり、筒体6とスルーホール30,31との間、或いは、筒体6と芯材部7との間に隙間が開いてしまったりすることがない。そのため、より高品質な貫通電極を形成することができ、その結果、圧電振動子1のさらなる高品質化を図ることができる。
 また、上記実施形態では、圧電振動片4の一例として振動腕部10、11の両面に溝部18が形成された溝付きの圧電振動片4を例に挙げて説明したが、溝部18がないタイプの圧電振動片でも構わない。但し、溝部18を形成することで、一対の励振電極15に所定の電圧を印加させたときに、一対の励振電極15間における電界効率を上げることができるため、振動損失をより抑えて振動特性をさらに向上することができる。つまり、CI値(Crystal Impedance)をさらに低くすることができ、圧電振動片4のさらなる高性能化を図ることができる。この点において、溝部18を形成する方が好ましい。
 また、上記実施形態では、音叉型の圧電振動片4を例に挙げて説明したが、音叉型に限られるものではない。例えば、厚み滑り振動片としても構わない。
 また、上記実施形態では、ベース基板2とリッド基板3とを接合膜35を介して陽極接合したが、陽極接合に限定されるものではない。但し、陽極接合することで、両基板2、3を強固に接合できるため好ましい。
 また、上記実施形態では、圧電振動片4をバンプ接合したが、バンプ接合に限定されるものではない。例えば、導電性接着剤により圧電振動片4を接合しても構わない。但し、バンプ接合することで、圧電振動片4をベース基板2の上面から浮かすことができ、振動に必要な最低限の振動ギャップを自然と確保することができる。よって、バンプ接合することが好ましい。
 本発明に係る圧電振動子の製造方法は、接合された2枚の基板の間に形成されたキャビティ内に圧電振動片が封止された表面実装型(SMD)の圧電振動子に適用できる。
 

Claims (6)

  1.  互いに接合されたベース基板とリッド基板との間に形成されたキャビティ内に圧電振動片が封止された圧電振動子の製造方法において、
     平板状の土台部と、該土台部の表面に直交する方向に沿って延在する芯材部と、を有する導電性の鋲体の前記芯材部を前記ベース基板の貫通孔内に挿入し、前記ベース基板の第1面に鋲体の土台部を当接させる工程と、
     前記ベース基板の第2面にペースト状のガラスフリットを塗布し、該第2面にアタック角度をもって当接する第1スキージを、前記貫通孔の一側から一方向に向かって前記第2面に沿って移動させて前記ガラスフリットを前記貫通孔内に充填する工程と、
     前記第2面にアタック角度をもって当接する第2スキージを、前記一側の前記貫通孔を介した反対側から前記一方向の逆方向に向かって前記第2面に沿って移動させて、前記第2面上に余分に塗布された前記ガラスフリットを前記貫通孔内に充填する工程と、
     前記ガラスフリットを焼成して硬化させる工程と、を有することを特徴とする圧電振動子の製造方法。
  2.  請求項1に記載の圧電振動子の製造方法であって、
     前記第1スキージのアタック角度及び前記第2スキージのアタック角度が、5°~45°の範囲内に設定されていることを特徴とする圧電振動子の製造方法。
  3.  請求項1又は2のいずれか一項に記載の圧電振動子の製造方法であって、
     前記第1スキージ及び前記第2スキージが、
     前記第2面に対して所定のアタック角度で傾斜して当接するアタック面と、
     前記第2面と前記アタック面との当接箇所から前記第1スキージ及び前記第2スキージの各移動方向の後方に向かうに従って上方に向かって漸次傾斜する逃げ面と、を有することを特徴とする圧電振動子の製造方法。
  4.  請求項1から3のいずれかに一項に記載の方法で製造された圧電振動子が、発振子として集積回路に電気的に接続されていることを特徴とする発振器。
  5.  請求項1から3のいずれか一項に記載の方法で製造された圧電振動子が、計時部に電気的に接続されていることを特徴とする電子機器。
  6.  請求項1から3のいずれか一項に記載の方法で製造された圧電振動子が、フィルタ部に電気的に接続されていることを特徴とする電波時計。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20150129641A1 (en) * 2013-11-14 2015-05-14 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Screen printing machine, electronic component mounting system, and screen printing method

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014086522A (ja) * 2012-10-23 2014-05-12 Seiko Epson Corp 電子デバイスの製造方法、電子部品用容器の接合装置、電子機器、及び移動体機器
JP6365111B2 (ja) * 2013-11-12 2018-08-01 セイコーエプソン株式会社 配線基板の製造方法、配線基板、素子収納用パッケージ、電子デバイス、電子機器および移動体
JP6635605B2 (ja) * 2017-10-11 2020-01-29 国立研究開発法人理化学研究所 電流導入端子並びにそれを備えた圧力保持装置及びx線撮像装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003209198A (ja) * 2001-11-09 2003-07-25 Nippon Sheet Glass Co Ltd 電子部品パッケージ
JP2007235121A (ja) * 2006-02-06 2007-09-13 San Nopco Ltd 樹脂充填基板の製造方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0619211Y2 (ja) * 1987-12-09 1994-05-18 東洋通信機株式会社 表面実装用電子部品の電極構造
US4973564A (en) * 1989-09-05 1990-11-27 Corning Incorporated Bonding frits for ceramic composites
JPH0629767A (ja) * 1992-07-09 1994-02-04 Murata Mfg Co Ltd 圧電共振部品の製造方法
JPH0645022A (ja) * 1992-07-21 1994-02-18 Shinko Electric Ind Co Ltd 表面実装型気密封止端子
JP2002124845A (ja) * 2000-08-07 2002-04-26 Nippon Sheet Glass Co Ltd 水晶振動子パッケージ及びその製造方法
JP3702961B2 (ja) * 2002-10-04 2005-10-05 東洋通信機株式会社 表面実装型sawデバイスの製造方法
JP4010293B2 (ja) * 2003-10-21 2007-11-21 セイコーエプソン株式会社 金属パッケージの製造方法
JP3960320B2 (ja) * 2004-04-19 2007-08-15 松下電器産業株式会社 配線基板とそれを用いたバランと配線基板の製造方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003209198A (ja) * 2001-11-09 2003-07-25 Nippon Sheet Glass Co Ltd 電子部品パッケージ
JP2007235121A (ja) * 2006-02-06 2007-09-13 San Nopco Ltd 樹脂充填基板の製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20150129641A1 (en) * 2013-11-14 2015-05-14 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Screen printing machine, electronic component mounting system, and screen printing method
US9796035B2 (en) * 2013-11-14 2017-10-24 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Screen printing machine, electronic component mounting system, and screen printing method

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