WO2010007958A1 - 被覆部材 - Google Patents

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路 陳
護 木幡
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Definitions

  • the present invention relates to a covering member in which a surface of a base material such as a sintered alloy, a ceramic, a cBN sintered body, or a diamond sintered body is coated.
  • Patent Document 1 As a conventional technique for coating, there is a hard coating for cutting tools made of (Ti, Al, Cr) (C, N) (for example, see Patent Document 1). In addition, as a film having excellent oxidation resistance, there is an Al—Cr—N-based film (see, for example, Non-Patent Document 1). However, due to changes in the work material, cutting conditions, etc., there has been a problem that a long tool life cannot be obtained with a cutting tool coated with these films.
  • the present invention has been made in view of such circumstances, and it is an object of the present invention to provide a covering member that realizes a long life in cutting processing with severe processing conditions such as high-speed processing, high-feed processing, and processing of difficult-to-cut materials. To do.
  • a cutting tool composed of a covering member in which a hard film made of a cubic metal compound such as (TiAl) N, (TiCr) N, (CrAl) N, and (TiAlCr) N is coated on the surface of a substrate.
  • a hard film made of a cubic metal compound such as (TiAl) N, (TiCr) N, (CrAl) N, and (TiAlCr) N is coated on the surface of a substrate.
  • the inventors of the present invention have been working on improving the performance of a covering member in which the surface of a base material is coated with (TiAl) N, (TiCr) N, (CrAl) N, (TiAlCr) N, or the like.
  • a hard film having such an orientation is subjected to a preliminary discharge step in which impurities that inhibit the alignment of the hard film are removed from the substrate by performing arc discharge with a substrate DC bias voltage of a remarkably high voltage, and then a DC bias voltage is applied.
  • a primary discharge process in which arc discharge is performed while gradually decreasing to a predetermined voltage to cause nucleation of the hard film, and finally a secondary discharge in which arc discharge is performed at a predetermined DC bias voltage to form a hard film. It can be formed by a process.
  • a hard film that is preferable for a cutting tool can be formed by performing preliminary discharge and then forming a hard film at a higher voltage than the conventional DC bias voltage.
  • the covering member of the present invention is a covering member in which the surface of the substrate is coated with a coating, wherein at least one layer of the coating is a hard film made of a cubic metal compound, and the positive electrode point relating to the (111) plane of the hard film.
  • the X-ray intensity distribution of the ⁇ axis in the figure shows the highest intensity in the range of ⁇ angle of 75 to 90 degrees
  • the X-ray intensity distribution of the ⁇ axis of the positive diagram for the (220) plane of the hard film has an ⁇ angle of 75 to 90 degrees. It is the covering member which shows the maximum strength in the range.
  • the present inventors investigated the angular distribution of the inclination of the (111) plane of the cubic crystal constituting the hard film and the angular distribution of the inclination of the (220) plane constituting the hard film by measuring the positive pole figure, and put them in a specific range. By controlling, it was possible to improve the wear resistance as compared with the conventional hard film.
  • the X-ray intensity distribution of the ⁇ axis of the positive map related to the (111) plane of the hard film was within the range of ⁇ angle of 75 to 90 degrees.
  • the X-ray intensity distribution on the ⁇ axis of the positive dot diagram relating to the (220) plane shows the highest intensity in the range of ⁇ angle of 75 to 90 degrees among the cubic crystals constituting the hard film.
  • the (111) plane and the (220) plane are both parallel to the surface of the covering member.
  • Abrasion resistance should be improved as compared with a covering member that exhibits the highest strength in the range of the ⁇ -axis X-ray intensity distribution of the positive pole figure relating to the (111) plane or (220) plane of the hard film with an ⁇ angle of less than 75 degrees. I was able to. Although the reason for this is not clear, in the hard film of the present invention, the (111) face and the (220) face facing in parallel to the surface of the covering member occupy the surface of the hard film. ) Plane and (220) plane can be formed, so it can be considered that the wear resistance of the hard film is improved.
  • the X-ray intensity distribution on the ⁇ axis of the positive dot diagram regarding the (111) plane and the (220) plane of the hard film of the present invention can be measured by the Schulz reflection method.
  • Schulz's reflection method uses an equiangular reflection optical system in which the incident angle and the reflection angle are each ⁇ , with 2 ⁇ as the diffraction angle, and ⁇ rotation around the A axis in the sample surface.
  • the intensity distribution of diffraction lines is measured by changing the direction of the sample with respect to the incident X-ray by ⁇ rotation around the sample surface normal (B axis), that is, in-sample rotation.
  • the ⁇ angle is defined as 90 degrees.
  • the ⁇ angle is 90 degrees, it becomes the center point on the positive dot diagram as shown in FIG.
  • the following measurement conditions and measurement methods are used for the (111) plane and the (220) plane of the hard film. It is possible to measure the X-ray intensity distribution on the ⁇ axis of the positive dot diagram.
  • the ⁇ angle indicating the maximum intensity can also be read from the contour lines of the positive map for the (111) plane and the (220) plane, but the X-ray intensity of the ⁇ axis of the positive map for the (111) plane and the (220) plane. From the distribution, the ⁇ angle indicating the maximum intensity can be easily obtained.
  • the base material of the covering member of the present invention include sintered alloys, ceramics, cBN sintered bodies, diamond sintered bodies, and the like.
  • sintered alloys are preferable because they are excellent in fracture resistance and wear resistance, and among them, cermets and cemented carbides are more preferable, and cemented carbides are particularly preferable.
  • the coating of the present invention comprises a periodic table 4a, 5a, 6a group metal element and Al, Y, Mn, Cu, Ni, Co, B, Si, S, Ge, Ga metal, and alloys and carbides of these metals.
  • a film composed of at least one selected from nitrides, oxides and their mutual solid solutions, including TiC, TiCN, TiN, (TiAl) N, (CrAl) N, and Al 2 O 3 Can do.
  • At least one layer of the coating is a hard film made of a cubic metal compound of these metals.
  • the average film thickness of the coating of the present invention is preferably in the range of 0.1 to 15 ⁇ m, more preferably in the range of 0.5 to 10 ⁇ m, and particularly preferably in the range of 0.5 to 8 ⁇ m.
  • the average film thickness in the present invention refers to the average value of the film thickness measured on the photograph by taking three photographs of the cross-section of the coating member coated on the surface of the substrate with an optical microscope or a scanning electron microscope. Say.
  • the hard film of the present invention is made of a cubic metal compound of the above metal.
  • at least one metal element M selected from Al, Si, Ti, Zr, Hf, V, Nb, Ta, Cr, Mo, and W, and C, N, and O were selected.
  • a metal compound comprising at least one element X is preferable because it has high hardness and excellent wear resistance.
  • TiN, TiC, TiCN, TiCNO, etc. can be mentioned.
  • the metal element M is two or more selected from Al, Si, Ti, Zr, Hf, V, Nb, Ta, Cr, Mo, and W because of excellent wear resistance. .
  • the X-ray intensity distribution of the ⁇ axis in the positive diagram relating to the (111) plane shows the highest intensity in the range of ⁇ angle of 75 to 90 degrees
  • the ⁇ axis in the positive diagram relating to the (220) plane shows the highest intensity in the range of ⁇ angle of 75 to 90 degrees.
  • the hard film of the present invention may be either a single layer film composed of one layer or a multilayer film composed of two or more layers.
  • the hard film of the present invention is more preferably an alternate laminated film in which two or more thin films having different thicknesses of 1 to 100 nm are alternately laminated because oxidation resistance and wear resistance are improved.
  • composition of the coating of the present invention can be measured using an elemental analyzer such as a secondary ion mass spectrometer (SIMS), an energy dispersive element analyzer (EDS), or a glow discharge analyzer (GDS).
  • an elemental analyzer such as a secondary ion mass spectrometer (SIMS), an energy dispersive element analyzer (EDS), or a glow discharge analyzer (GDS).
  • the coating film of the present invention has a columnar crystal structure grown in a direction perpendicular to the surface of the substrate (a columnar crystal structure in which the longitudinal direction is perpendicular to the surface of the substrate), it has a high hardness. It is more preferable because it exhibits excellent wear resistance and excellent adhesion to the substrate.
  • the hard film of the present invention includes (1) a step of charging a substrate into a coating apparatus and heating the substrate temperature to 400 to 650 ° C. with a heater, (2) a preliminary discharge step for removing impurities, (3 It is formed through a primary discharge step for generating nuclei of the hard film and a secondary discharge step for growing the hard film.
  • the preliminary discharge process after Ar gas bombardment of the base material surface, the DC bias voltage of the base material: ⁇ 600 to ⁇ 1000 V, arc discharge by increasing the pressure in the coating apparatus so that the plasma collision mean free path becomes small Current: Discharge at a predetermined voltage and current of 100 to 150 A for 1 to 5 minutes to remove impurities that hinder the orientation of the hard film from the substrate.
  • the DC bias voltage of the substrate is changed from a predetermined voltage of ⁇ 600 to ⁇ 1000 V to a predetermined voltage of ⁇ 80 to ⁇ 180 V while maintaining the discharge current, the substrate temperature, and the pressure in the apparatus after the preliminary discharge.
  • Arc discharge is performed while gradually lowering for 1 to 5 minutes. At this time, nucleation of the hard film occurs.
  • the substrate is discharged at a DC bias voltage of ⁇ 80 to ⁇ 180 V while maintaining the discharge current, the substrate temperature, and the pressure in the apparatus during the primary discharge. A hard film is formed.
  • an arc ion plating apparatus (hereinafter referred to as AIP apparatus) can be used, but other apparatuses such as a sputtering apparatus can also be used.
  • AIP apparatus the base material is loaded into the apparatus, the base material temperature is heated to 400 to 650 ° C. with a heater, and Ar gas bombardment is performed on the base material.
  • Ar, N 2 , O 2 or a mixed gas thereof is introduced into the AIP apparatus so that the pressure in the apparatus is 3 to 6 Pa. Discharge, primary discharge, and secondary discharge are performed.
  • the hard film of the present invention has excellent adhesion to the substrate and excellent wear resistance.
  • the covering member of the present invention is excellent in wear resistance, chipping resistance and oxidation resistance. When the covering member of the present invention is used as a cutting tool, an effect that the tool life is extended is obtained. In particular, it is highly effective in cutting with severe processing conditions such as high-speed machining, high-feed machining, machining of hard work materials, and difficult-to-cut materials.
  • a chip made of cemented carbide equivalent to K20 having a shape of SDKN1203AETN was prepared as a base material.
  • a target having a component ratio of the metal elements and additive elements shown in Tables 1 and 2 is installed in the AIP apparatus as a target of the AIP apparatus.
  • a heater by heating the substrate temperature to 600 ° C., after Ar gas bombardment to the substrate, while introducing a mixed gas of Ar and N 2 in the AIP system pressure was adjusted to 4 to 5 Pa, and a preliminary discharge was performed for 2 to 3 minutes with a DC bias voltage of the substrate of ⁇ 600 to ⁇ 800 V and an arc discharge current of 100 A.
  • the DC bias voltage of the substrate was gradually adjusted from ⁇ 600 to ⁇ 800 V to ⁇ 80 to ⁇ 120 V over 2 minutes while maintaining the arc discharge current, the substrate temperature, and the pressure. Subsequently, a single layer film was discharged for 100 to 140 minutes under the conditions of DC bias voltage of the base material: ⁇ 80 to ⁇ 120 V and arc discharge current: 100 A, and a hard film having a total film thickness of 3 ⁇ m was alternately laminated. In this case, each layer was discharged for 1 to 1.5 minutes to coat 150 or 100 layers of a hard film having a thickness of 10 or 15 nm.
  • a target having a component ratio of the metal elements and additive elements shown in Tables 3 and 4 was installed in the AIP device, and the base material was inserted into the AIP device in the same manner as the invention product, and the substrate was then heated by a heater.
  • the material temperature is heated to 600 ° C., and Ar gas bombardment is performed on the base material in the same manner as the invention product.
  • a mixed gas of Ar and N 2 is introduced into the AIP apparatus, the pressure is adjusted to 2 Pa, and preliminary discharge is performed. Without doing so, the hard film was coated under the conditions of DC bias voltage of the substrate: ⁇ 40 to ⁇ 80 V and arc discharge current: 100 A.
  • the arc discharge time was the same as that of the invention, but in the comparative product, after the Ar gas bombardment, the preliminary discharge was not performed and the DC bias voltage of the base material was set to the normal -40 to -60 V to cover the hard film did.
  • each sample was cut, and the cross section of the mirror surface obtained by mirror finishing the cross section was observed with a three-field optical microscope, and the average value was measured. .
  • the cross-sectional photograph was taken using the transmission electron microscope or the FE scanning electron microscope, and the average value of the film thickness was made into the film thickness of a thin film.
  • the hardness of the hard film was measured using a micro Vickers hardness meter manufactured by Matsuzawa Seiki Co., Ltd. under measurement conditions of an applied load of 25 gf and a holding time of 15 seconds. These results are shown in Table 5.
  • the work material steel NAK80 for plastic mold made by Daido Special Steel Co., Ltd., cutting speed: 150 m / min, cutting depth: 2.
  • a dry milling test was performed under the conditions of 0 mm, feed: 0.15 mm / tooth.
  • the inventive products 1 to 6 are not damaged even when the cutting length is 6 m, the flank wear amount VB is 0.17 mm or less, and have excellent wear resistance and fracture resistance. Have. On the other hand, the comparative product has a flank wear amount VB of 0.24 mm or more at a cutting length of 6 m. Moreover, the comparative product 6 had a defect at the cutting length of 6 m.

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Abstract

 高速度加工、高送り加工、被削材の高硬度化、難削材切削などの厳しい切削加工条件において長寿命を実現できる切削工具用の被覆部材の提供を目的とする。基材の表面に被膜を被覆した被覆部材において、被膜の少なくとも1層は、Al、Si、Ti、Zr、Hf、V、Nb、Ta、Cr、Mo、Wの中から選ばれた少なくとも1種の金属元素MとC、N、Oの中から選ばれた少なくとも1種の元素Xとからなる立方晶の金属化合物の硬質膜であり、硬質膜の(111)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布はα角75~90度の範囲に最高強度を示し、硬質膜の(220)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布はα角75~90度の範囲に最高強度を示す被覆部材である。

Description

被覆部材
 本発明は、焼結合金、セラミックス、cBN焼結体、ダイヤモンド焼結体などの基材の表面に被膜を被覆した被覆部材に関する。特に、チップ、ドリル、エンドミルに代表される切削工具、各種の耐摩耗工具、各種の耐摩耗部品に好適な被覆部材に関する。
 焼結合金、セラミックス、cBN焼結体、ダイヤモンド焼結体などの基材の表面にTiC、TiCN、TiN、(Ti,Al)N、CrNなどの被膜を被覆した被覆部材は、基材の高強度、高靱性と、被膜の優れた耐摩耗性、耐酸化性、潤滑性、耐溶着性などを兼備しているため、切削工具、耐摩耗工具、耐摩耗部品として多用されている。
 被膜の従来技術としては、(Ti,Al,Cr)(C,N)からなる切削工具用硬質皮膜がある(例えば、特許文献1参照。)。また、耐酸化性に優れた皮膜として、Al-Cr-N系皮膜がある(例えば、非特許文献1参照。)。しかしながら、被削材、切削条件などの変化から、これらの皮膜を被覆した切削工具では、長寿命が得られないという問題があった。
特開2003-71610号公報 井手幸夫、稲田和典、中村崇、高武勝彦、「耐高温酸化特性に優れたAl-Cr-N系皮膜の開発」、「まてりあ」第40巻第9号、2001年、p.815-816
 近年、切削加工において高速度加工、高送り加工などの過酷な切削条件や被削材の高硬度化など厳しい加工条件が増えており、被覆工具にはさらなる長寿命化が求められる傾向がある。このため、従来の被覆工具ではこれらの厳しい加工要求に応えられなくなってきた。本発明はこのような事情を鑑みてなされたものであり、高速度加工、高送り加工、難削材の加工など加工条件が厳しい切削加工において、長寿命を実現する被覆部材の提供を目的とする。
 従来の切削加工において、基材の表面に(TiAl)N、(TiCr)N、(CrAl)N、(TiAlCr)Nなど立方晶の金属化合物からなる硬質膜を被覆した被覆部材からなる切削工具が用いられてきた。本発明者らは、基材の表面に(TiAl)N、(TiCr)N、(CrAl)N、(TiAlCr)Nなどを被覆した被覆部材の性能向上に取り組んできた。その結果、硬質膜の(111)面と(220)面についてX線回折の正極点図測定を行ったとき、硬質膜の(111)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布はα角75~90度の範囲に最高強度を示し、(220)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布はα角75~90度の範囲に最高強度を示すと、耐摩耗性が向上し、切削工具として使用すると長寿命になるという知見が得られた。このような配向性を備えた硬質膜は、著しく高電圧の基材直流バイアス電圧でアーク放電を行って硬質膜の配向を阻害する不純物を基材から除去する予備放電工程、次いで直流バイアス電圧を所定の電圧まで徐々に下げながらアーク放電を行って硬質膜の核発生を生じせしめる第一次放電工程、最後に所定の直流バイアス電圧でアーク放電を行って硬質膜を成膜する第二次放電工程、によって形成できる。特に、予備放電を行い、その上で、従来の直流バイアス電圧よりも高電圧で硬質膜を形成することが、切削工具にとって好ましい硬質膜を形成できる要件である。
 すなわち、本発明の被覆部材は、基材の表面に被膜を被覆した被覆部材において、被膜の少なくとも1層は立方晶の金属化合物からなる硬質膜であり、硬質膜の(111)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布はα角75~90度の範囲に最高強度を示し、硬質膜の(220)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布はα角75~90度の範囲に最高強度を示す被覆部材である。
 本発明者らは、正極点図測定により硬質膜を構成している立方晶の(111)面の傾きの角度分布と(220)面の傾きの角度分布とを調べ、それらを特定の範囲に制御することによって、従来の硬質膜よりも耐摩耗性を向上させることができた。
 本発明の硬質膜にX線回折の正極点図測定を行ったとき、硬質膜の(111)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布がα角75~90度の範囲に最高強度を示し、(220)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布がα角75~90度の範囲に最高強度を示すことは、硬質膜を構成している立方晶の結晶の中で、(111)面と(220)面が被覆部材表面に対して共に平行に向いている結晶が多いことを示している。硬質膜の(111)面または(220)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布がα角75度未満の範囲に最高強度を示す被覆部材に比較して耐摩耗性を向上させることができた。その理由については明らかでないが、本発明の硬質膜は、被覆部材の表面に対して平行に向いている(111)面と(220)面が硬質膜の表面を多く占め、硬質膜に(111)面と(220)面との緻密な混合相を形成できるので、硬質膜の耐摩耗性を向上させる、と考えることができる。
 本発明の硬質膜の(111)面および(220)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布は、Schulzの反射法により測定することができる。Schulzの反射法は、図1に示すように2θを回折角として入射角と反射角がそれぞれθである等角度反射の光学系を使用し、試料面内のA軸を中心とするα回転と、試料面法線(B軸)を中心とするβ回転すなわち試料面内回転により、入射X線に対する試料の方向を変えて回折線の強度分布を測定する方法である。B軸が入射線と回折線とで決まる平面上にあるとき、α角を90度と定義する。α角が90度のときは、図2に示すように正極点図上で中心の点になる。具体的な測定方法として、例えば株式会社リガク製X線回折装置RINT-TTRIIIの正極点測定プログラムを使用し、下記の測定条件および測定手法により、硬質膜の(111)面および(220)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布を測定することができる。
[測定条件]
(1)TTRIII水平ゴニオメータ
(2)極点用多目的試料台
(3)走査方法:同心円
(4)β走査範囲:0~360度/5度ピッチ
(5)βスキャンスピード:180度/min
(6)γ振幅:0mm
[測定手法(Schulzの反射法)]
(1) 固定角度:硬質膜の(111)面の回折角度を36.7度とし、硬質膜の(220)面の回折角度を62度とする。
(2)α走査範囲:20~90度(5度ステップ)
(3)ターゲット:Cu、電圧:50kV、電流:250mA
(4)発散スリット:1/4度
(5)散乱スリット:6mm
(6)発散縦制限スリット:5mm
 (111)面および(220)面に関する正極点図の等高線からも最高強度を示すα角を読みとることができるが、(111)面および(220)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布から、最高強度を示すα角を容易に求めることができる。
 本発明の被覆部材の基材として、具体的には焼結合金、セラミックス、cBN焼結体、ダイヤモンド焼結体などを挙げることができる。その中でも、焼結合金は耐欠損性と耐摩耗性に優れるため好ましく、その中でもサーメット、超硬合金がより好ましく、その中でも超硬合金が特に好ましい。
 本発明の被膜は、周期表4a、5a、6a族の金属元素およびAl、Y、Mn、Cu、Ni、Co、B、Si、S、Ge、Gaの金属、ならびにこれらの金属の合金、炭化物、窒化物、酸化物およびこれらの相互固溶体の中から選ばれた少なくとも1種からなる被膜であり、TiC、TiCN、TiN、(TiAl)N、(CrAl)N、Al23などを挙げることができる。被膜の少なくとも1層は、これらの金属の立方晶金属化合物からなる硬質膜である。本発明の被膜の平均膜厚は、0.1~15μmの範囲が好ましく、0.5~10μmの範囲がより好ましく、0.5~8μmの範囲が特に好ましい。被膜の平均膜厚が0.1μm以上であると耐摩耗性、耐酸化性が向上し、15μm以下であると耐欠損性が低下することがない。なお、本発明における被膜の平均膜厚とは、基材表面に被膜を被覆した被覆部材の断面を光学顕微鏡または走査電子顕微鏡で3箇所写真撮影し、写真上で測定した膜厚の平均値をいう。
 本発明の硬質膜は、上記金属の立方晶金属化合物からなる。その中でも、Al、Si、Ti、Zr、Hf、V、Nb、Ta、Cr、Mo、Wの中から選ばれた少なくとも1種の金属元素Mと、C、N、Oの中から選ばれた少なくとも1種の元素Xとからなる金属化合物であると、硬さが高く耐摩耗性に優れるので好ましい。具体的には、TiN、TiC、TiCN、TiCNOなどを挙げることができる。その中でも、金属元素Mが、Al、Si、Ti、Zr、Hf、V、Nb、Ta、Cr、Mo、Wの中から選ばれた2種以上であると、耐摩耗性に優れるのでより好ましい。具体的には、(TiAl)N、(TiCr)N、(TiCrAl)N、(CrAl)N、(TiAlSi)N、(TiSi)Nなどを挙げることができる。また本発明の硬質膜は、(111)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布はα角75~90度の範囲に最高強度を示し、(220)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布はα角75~90度の範囲に最高強度を示す。
 本発明の硬質膜は、1層からなる単層膜、または、2層以上からなる多層膜のいずれであってもよい。その中でも、本発明の硬質膜は、組成の異なる厚さ1~100nmの薄膜を交互に2層以上積層した交互積層膜であると、耐酸化性、耐摩耗性が向上するため、より好ましい。
 本発明の被膜の組成に関しては、二次イオン質量分析装置(SIMS)、エネルギー分散元素分析装置(EDS)、グロー放電型分析装置(GDS)などの元素分析装置を使って測定することができる。
 本発明の被膜は、基材の表面に対して垂直な方向に成長した柱状晶組織(長手方向が基材の表面に対して垂直な方向に向いている柱状晶組織)であると、高硬度で優れた耐摩耗性を発揮すると共に、基材との密着性が優れるので、より好ましい。
 本発明の硬質膜は、(1)被覆装置内に基材を装入し、ヒーターにより基材温度を400~650℃まで加熱する工程、(2)不純物除去のための予備放電工程、(3)硬質膜の核発生のための第一次放電工程、(4)硬質膜成長のための第二次放電工程、を順次経て形成される。予備放電工程は、基材表面をArガスボンバード後に、プラズマの衝突平均自由行程が小さくなるように、被覆装置内の圧力を高めにして基材の直流バイアス電圧:-600~-1000V、アーク放電電流:100~150Aの所定電圧、電流で1~5分間放電行い、硬質膜の配向に阻害になる不純物を基材から取り除く。予備放電のときには、硬質膜はほとんど形成されない。第一次放電は、予備放電後、放電電流、基材温度、装置内の圧力を維持しながら、基材の直流バイアス電圧を-600~-1000Vの所定電圧から-80~-180Vの所定電圧に1~5分間かけて徐々に下げながらアーク放電を行う。このとき硬質膜の核発生が起きる。第二次放電は、第一次放電時の放電電流、基材温度、装置内の圧力を維持しながら、基材の直流バイアス電圧:-80~-180Vで放電を行い、所望の膜厚の硬質膜を成膜する。
 さらに、本発明の硬質膜の製造には、例えばアークイオンプレーティング装置(以下、AIP装置という。)を使用することができるが、他の装置、例えば、スパッタリング装置を使用することもできる。AIP装置を使用する場合は、装置内に基材を装入し、ヒーターにより基材温度を400~650℃まで加熱し、基材に対して、Arガスボンバードする。次いで、Ar、N2、O2またはこれらの混合ガスをAIP装置に導入して、装置内の圧力を3~6Paとし、上記した基材の直流バイアス電圧、アーク電流等の条件下で、予備放電、第一次放電、第二次放電を行う。
 本発明の硬質膜は、基材との密着性に優れ、耐摩耗性に優れる。本発明の被覆部材は耐摩耗性、耐欠損性および耐酸化性に優れる。本発明の被覆部材を切削工具として用いると工具寿命が長くなるという効果が得られる。特に高速度加工、高送り加工、硬さの高い被削材の加工、難削材の加工などの加工条件が厳しい切削加工において効果が高い。
Schulzの反射法の光学系を示す模式図である。 α角とβ角の位置を示した正極点図である。 発明品1の硬質膜の(111)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布を示す図である。 発明品1の硬質膜の(220)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布を示す図である。 比較品1の硬質膜の(111)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布を示す図である。 比較品1の硬質膜の(220)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布を示す図である。
 基材として形状がSDKN1203AETNのK20相当超硬合金製チップを用意した。発明品については、AIP装置のターゲットとして、表1、2に示す金属元素および添加元素の成分比を持つターゲットをAIP装置内に設置する。AIP装置内に基材を装入し、ヒーターにより基材温度を600℃まで加熱し、基材に対してArガスボンバードした後、AIP装置内にArとN2の混合ガスを導入して圧力を4~5Paに調整して基材の直流バイアス電圧:-600~-800Vでアーク放電電流:100Aによる予備放電を2~3分間行った。予備放電を終了した後、アーク放電電流と基材温度と圧力とを維持したまま、2分間かけて徐々に基材の直流バイアス電圧を-600~-800Vから-80~-120Vに調整した。引き続き、基材の直流バイアス電圧:-80~-120V、アーク放電電流:100Aという条件で、単層膜の場合は100~140分間放電を行い、総膜厚3μmの硬質膜を、交互積層膜の場合は、各層1~1.5分間の放電を行い、膜厚10または15nmの硬質膜を150または100層、被覆した。
 比較品については、表3、4に示す金属元素および添加元素の成分比を持つターゲットをAIP装置内に設置し、発明品と同じように基材をAIP装置内に装入し、ヒーターにより基材温度を600℃まで加熱し、発明品と同様に基材に対してArガスボンバードした後、AIP装置内にArとN2の混合ガスを導入して圧力を2Paに調整し、予備放電をせず、基材の直流バイアス電圧:-40~-80V、アーク放電電流:100Aという条件で硬質膜を被覆した。アーク放電時間は発明品と同じであったが、比較品では、Arガスボンバードの後、予備放電を行わず、基材の直流バイアス電圧を通常の-40~-60Vにして、硬質膜を被覆した。
 基材の表面に被覆された硬質膜の総膜厚については、各試料を切断して、断面を鏡面仕上げし得られた鏡面の断面を3視野光学顕微鏡で観察してその平均値を測定した。交互積層膜の薄膜の各膜厚については、透過型電子顕微鏡やFE型走査電子顕微鏡を用いて、断面写真を3視野撮り、その膜厚の平均値を薄膜の膜厚とした。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000003
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000004
 各試料の硬質膜について、株式会社リガク製X線回折装置RINT-TTRIIIを用いて、2θ/θスキャン法のX線回折測定を行ったところ、全試料の硬質膜は立方晶のNaCl型構造であることを確認した。また、発明品1~6は、硬質膜の(111)面、(200)面、(220)面のX線回折ピーク強度の中で、(111)面のX線回折ピーク強度が最も高かった。比較品1~6は、硬質膜の(111)面、(200)面、(220)面のX線回折ピーク強度の中で、(200)面のX線回折ピーク強度が最も高かった。
 さらに、株式会社リガク製X線回折装置RINT-TTRIIIを用いて、下記に示す測定条件により全試料の硬質膜の(111)面と(220)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布を測定した。
[測定条件]
(1)TTRIII水平ゴニオメータ
(2)極点用多目的試料台
(3)走査方法:同心円
(4)β走査範囲:0~360度/5度ピッチ
(5)βスキャンスピード:180度/min
(6)γ振幅:0mm
[測定手法(Schulzの反射法)]
(1)θ固定角度:硬質膜の(111)面の回折角度を36.7度とし、硬質膜の(220)面の回折角度を62度とする。
(2)α走査範囲:20~90度(5度ステップ)
(3)ターゲット:Cu、電圧:50kV、電流:250mA
(4)発散スリット:1/4度
(5)散乱スリット:6mm
(6)発散縦制限スリット:5mm
 また、硬質膜の硬さは、松沢精機株式会社製マイクロビッカース硬度計を用い、印加荷重25gf、保持時間15秒の測定条件で測定した。これらの結果は表5に示した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000005
 発明品1~6、比較品1~6の被覆超硬合金工具を用いて、被削材:大同特殊鋼(株)製プラスチック金型用鋼NAK80、切削速度:150m/min、切り込み:2.0mm、送り:0.15mm/toothの条件で乾式フライス試験を行った。工具寿命は、逃げ面摩耗量VB=0.3mmを目安とした。切削長6mまでに逃げ面摩耗量VB=0.3mmに達しない場合は、切削長6m時点の逃げ面摩耗量VBを測定した。これらの結果を表6に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000006
 表6に示されるように、発明品1~6は、切削長6mまでの切削加工でも欠損せず、逃げ面摩耗量VBが0.17mm以下であり、優れた耐摩耗性と耐欠損性を有する。一方、比較品は切削長6m時点の逃げ面摩耗量VBが0.24mm以上となっている。また、比較品6は切削長6m時点で欠損を生じていた。
1…発散スリット(DS)
2…試料中心
3…発散縦制限スリット(Schulzスリット)
4…受光スリット(RS)
5…散乱スリット(SS)
6…カウンター

Claims (7)

  1.  基材の表面に被膜を被覆した被覆部材において、被膜の少なくとも1層は立方晶の金属化合物からなる硬質膜であり、硬質膜の(111)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布はα角75~90度の範囲に最高強度を示し、硬質膜の(220)面に関する正極点図のα軸のX線強度分布はα角75~90度の範囲に最高強度を示す被覆部材。
  2.  硬質膜が、Al、Si、Ti、Zr、Hf、V、Nb、Ta、Cr、Mo、Wの中から選ばれた少なくとも1種の元素Mと、C、N、Oの中から選ばれた少なくとも1種の元素Xとからなる金属化合物である、請求項1に記載の被覆部材。
  3.  元素Mが、Al、Si、Ti、Zr、Hf、V、Nb、Ta、Cr、Mo、Wの中から選ばれた2種以上である、請求項2に記載の被覆部材。
  4.  被膜の平均膜厚が0.1~15μmである、請求項1~3のいずれか1項に記載の被覆部材。
  5.  硬質膜が、組成の異なる厚さ1~100nmの薄膜を交互に2層以上積層した交互積層膜からなる、請求項1~4のいずれか1項に記載の被覆部材。
  6.  請求項1~5のいずれか1項に記載の被覆部材からなる被覆切削工具。
  7.  基材の表面に少なくとも1層が立方晶の金属化合物からなる硬質膜を被覆した被覆部材の製造方法であって、
    (1)被覆装置内に基材を装入し、ヒーターにより基材温度を400~650℃まで加熱する工程、
    (2)基材表面にArガスボンバード後に、基材の直流バイアス電圧:-600~-1000V、アーク放電電流:100~150Aの所定電圧、電流で1~5分間放電行う予備放電工程、
    (3)アーク放電電流および基材温度を維持しながら、基材の直流バイアス電圧を-600~-1000Vの所定電圧から-80~-180Vの所定電圧に1~5分間かけて徐々に下げながらアーク放電する第一次放電工程、および
    (4)アーク放電電流および基材温度を維持しながら、基材バイアス電圧:-80~-180Vで、所定の時間アーク放電を行い、所望の膜厚の硬質膜を得る第二次放電工程、
    を順次行う、被覆部材の製造方法。
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