WO2009154074A1 - レーザ加工装置 - Google Patents

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正美 鈴木
伸一 中芝
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    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing

Definitions

  • the present invention relates to a laser processing apparatus that performs processing by irradiating a workpiece with laser light.
  • Laser processing apparatuses that perform processing by shaping laser light emitted from a laser oscillator into a required projection shape via masking means and irradiating a workpiece are known (for example, refer to the following patent document). This type of laser processing apparatus is used, for example, for correcting a color filter of a liquid crystal or a defective pixel on a substrate.
  • a laser beam emitted from a laser oscillator is directly applied to a masking means to shape a projection shape, and then optically reduced and projected onto a workpiece.
  • the output of the laser beam emitted from the laser oscillator that is, the luminance distribution is non-uniform, close to the Gaussian distribution, and therefore the non-uniform distribution of the original laser beam output remains in the shaped laser beam that has passed through the masking means.
  • a problem of processing quality for example, a problem that a defective pixel of a liquid crystal cannot be removed properly occurs.
  • the present invention made in view of the above is intended to improve the processing quality by uniformizing the output distribution of the laser light irradiated to the workpiece with a simple and inexpensive configuration.
  • the laser processing apparatus which comprises the masking means which shapes for the shape for this was comprised. If it is such, the output distribution of the laser beam irradiated to a to-be-processed object through a masking means will be equalize
  • the output distribution of the laser light immediately after passing through the homogenizing means is substantially uniform, but the output distribution is biased while gradually expanding as it propagates through the space. If an image forming optical system for forming an image of the laser beam at the exit end of the uniformizing means is interposed, and a masking means is arranged in the vicinity of the position where the image of the laser light is formed by the image forming optical system, the uniform is achieved.
  • the output distribution of the laser light immediately after passing through the converting means can be reliably reproduced on the masking means, the quality of the laser light irradiated to the workpiece can be secured, and the processing quality can be further improved.
  • the uniformizing means examples include an optical fiber, a kaleidoscope, a diffractive optical element, a homogenizer, and the like.
  • an optical fiber it is not only cheaper than the case where another optical fiber is used, but also the degree of freedom in designing a laser processing apparatus is increased.
  • the relative positions of the masking means and the workpiece to the laser oscillator can be freely set.
  • the present invention it is possible to improve the processing quality by making the output distribution of the laser beam irradiated to the workpiece uniform with a simple and inexpensive configuration.
  • the laser processing apparatus of this embodiment is a laser repair apparatus that corrects or removes a color filter of a liquid crystal or a defective pixel on a substrate. Typically, the bright spot of the liquid crystal is corrected.
  • the laser processing apparatus includes a laser oscillator 1, a uniformizing means 2 that substantially uniformizes the output distribution of the laser light L emitted from the laser oscillator 1, and a uniformizing means 2.
  • An image forming optical system 3 for forming an image of the laser beam L whose output distribution is substantially uniformed, and a laser beam shaping device arranged near the position where the image of the laser beam L is formed by the image forming optical system 3.
  • the main components are the masking means 4 and the objective optical system 5 that reduces the laser light L shaped through the masking means 4 and projects it onto the workpiece 7.
  • the uniformizing means 2 uses an optical fiber.
  • a condensing lens 6 is usually provided between the laser oscillator 1 and the incident end of the optical fiber 2.
  • the laser light L incident on the optical fiber 2 from the incident end propagates while being repeatedly reflected inside, and the output distribution is averaged.
  • the laser light L whose luminance is uniformly dispersed along the shape of the exit end face is output.
  • the imaging optical system 3 uses an imaging lens.
  • the imaging lens 3 enlarges and forms an image of the laser light L with a uniform output distribution at the output end of the optical fiber 2.
  • the masking means 4 uses one or a plurality of variable slits 41 and 42 whose opening width can be changed.
  • the variable slits 41 and 42 cut off the edge of the laser light L emitted from the optical fiber 2.
  • a first variable slit 41 and a second variable slit 42 intersecting the optical axis are provided as the masking means 4.
  • the first variable slit 41 and the second variable slit 42 have a pair of slit plates 411, 412, 421, and 422 that can face each other and change the separation distance.
  • the slit formed by the first variable slit 41 and the slit formed by the second variable slit 42 intersect each other, and the overlapping portion of both slits forms a mask pattern through which the laser light L passes.
  • This mask pattern has a substantially rectangular shape when viewed from the optical axis direction, and its dimensions are variable.
  • the variable slits 41 and 42 are positioned so that the mask pattern exists on the surface where the imaging lens 3 connects the image of the emission end face of the optical fiber 2.
  • the distance between the imaging lens 3 and the variable slits 41 and 42 is allowed to be expanded and contracted within a range where the output distribution of the laser light L cut out by the mask pattern is uniform enough to achieve the required processing quality. It is.
  • the objective optical system 5 includes a collimation lens 51 that converts the laser light L that has passed through the variable slits 41 and 42 into parallel light, and an objective lens 52 that condenses the laser light L that has become parallel light to irradiate the workpiece 7. And using.
  • the details of the objective optical system 5 are arbitrary.
  • the laser light L emitted from the laser oscillator 1 originally has a non-uniform output distribution close to a Gaussian distribution. However, the laser light L is incident on the optical fiber 2 and propagates through the optical fiber 2, thereby outputting the output of the optical fiber 2. A uniform output distribution can be obtained at the edges.
  • the laser light L is shaped into a square shape by the first variable slit 41 and the second variable slit 42, and is reduced and projected onto the workpiece 7 through the objective optical system 5, thereby making the original laser light L non-uniform.
  • suitable laser processing that eliminates the influence of the above.
  • an image of the laser beam L having an ideal output distribution on the emission end face of the optical fiber 2 is formed in the vicinity of the mask pattern formed by the variable slits 41 and 42.
  • the laser beam L having an ideal output distribution can be reproduced in the vicinity of the mask pattern regardless of the optical path between the output end of the optical fiber 2 and the variable slits 41 and 42.
  • a required projection shape corresponding to the mask pattern is cut out from the imaged laser light L and irradiated onto the workpiece 7. Therefore, the quality and reliability of laser processing can be greatly improved.
  • An imaging optical system 3 for forming an image of the laser beam L at the exit end of the uniformizing unit 2 is interposed, and a masking unit 4 is provided in the vicinity of a position where the image of the laser beam L is formed by the imaging optical system 3. Therefore, the output distribution of the laser light L immediately after passing through the homogenizing means 2 can be reliably reproduced on the masking means 4, ensuring the quality of the laser light L irradiated to the workpiece 7, and further improving the processing quality. Further improvement is possible.
  • the laser processing apparatus is not only relatively inexpensive, but also allows the relative positions of the masking means 4 and the workpiece 7 to the laser oscillator 1 to be set freely. The degree of design freedom increases.
  • the masking means 4 uses variable slits 41 and 42 whose opening width can be changed, the slit width is changed according to the processing purpose, and the projection shape of the laser light L onto the workpiece 7 is adjusted. It becomes possible.
  • the laser processing apparatus of this embodiment is extremely useful as a laser repair apparatus for performing correction processing of liquid crystal pixels.
  • the present invention is not limited to the embodiment described in detail above.
  • between the laser oscillator 1 and the entrance end of the optical fiber 2, between the exit end of the optical fiber 2 and the imaging lens 3, between the imaging lens 3 and the variable slits 41 and 42, and between the objective optical system 5 It is not obstructed to interpose a mirror, a lens, etc., not shown, in various places such as the middle.
  • an optical fiber is used as the uniformizing means 2, but a kaleidoscope, a diffractive optical element, a homogenizer, or the like can also be employed in addition to this.
  • variable slits 41 and 42 are used as the masking means 4, but an aperture mechanism other than the variable slits 41 and 42 may be adopted.
  • the present invention can be used, for example, as a laser repair device for correcting or removing a color filter of a liquid crystal or a defective pixel on a substrate.

Abstract

レーザ発振器１から発せられたレーザ光Ｌの出力分布を略均一化する均一化手段２と、前記均一化手段２により出力分布が略均一化したレーザ光Ｌの像を結像させる結像光学系３と、前記結像光学系３によりレーザ光Ｌの像が結像する位置の近傍に配置されそのレーザ光Ｌをカットオフして被加工物７に照射するための形状に整形するマスキング手段４とを具備するレーザ加工装置を構成した。レーザ発振器１が発するレーザ光Ｌの出力分布は本来ガウシアン分布に近いが、一旦均一化手段２で均一化してからマスキング手段４を通すので被加工物７に照射されるレーザ光Ｌの出力分布に元のレーザ光Ｌの不均一さが混入しない。結果、加工品位の向上が実現する。

Description

レーザ加工装置
　本発明は、レーザ光を被加工物に照射して加工を行うレーザ加工装置に関する。
　レーザ発振器から発せられたレーザ光をマスキング手段を介して所要の投影形状に整形し、被加工物に照射して加工を行うレーザ加工装置が既知である（例えば、下記特許文献を参照）。この種のレーザ加工装置は例えば、液晶のカラーフィルタや基板上の欠陥画素の修正等に用いられる。
特開２００８－０７３７１８号
　従来のレーザ加工装置では、レーザ発振器から発せられたレーザ光を直接的にマスキング手段に照射して投影形状を整形した上、被加工物に対して光学的に縮小投影していた。　　　
　しかしながら、レーザ発振器が発するレーザ光の出力即ち輝度の分布はガウシアン分布に近く不均一であり、故にマスキング手段を経た整形レーザ光にも元のレーザ光の出力分布の不均一さが残ってしまう。このようなレーザ光を被加工物に照射すると、加工品位の問題、例えば液晶の欠陥画素を適切に除去できない等の問題が発生する。
　以上に鑑みてなされた本発明は、簡単かつ安価な構成で、被加工物に照射するレーザ光の出力分布を均一化して加工品位の向上を図ることを所期の目的とする。
　本発明では、レーザ発振器から発せられたレーザ光の出力分布を略均一化する均一化手段と、前記均一化手段により出力分布が略均一化したレーザ光をカットオフして被加工物に照射するための形状に整形するマスキング手段とを具備するレーザ加工装置を構成した。このようなものであれば、マスキング手段を経て被加工物に照射されるレーザ光の出力分布が均一化し、加工品位の向上が図られる。
　均一化手段を経た直後のレーザ光の出力分布は略均一であるが、空間中を伝搬するにつれて徐々に拡がりながら出力分布にも偏りが現れる。前記均一化手段の出射端におけるレーザ光の像を結像させる結像光学系を介在させ、前記結像光学系によりレーザ光の像が結像する位置の近傍にマスキング手段を配置すれば、均一化手段を経た直後のレーザ光の出力分布をマスキング手段上に確実に再現でき、被加工物に照射されるレーザ光の質を担保し、加工品位をより一層向上させることが可能になる。
　前記均一化手段の例としては、光ファイバ、カレイドスコープ、回折光学素子、ホモジナイザ等を挙げることができる。その中で、光ファイバを用いることとすれば、他のものを用いる場合と比較して安価であるだけでなく、レーザ加工装置の設計の自由度も増す。具体的には、レーザ発振器に対するマスキング手段や被加工物等の相対位置を自由に設定できるようになる。
　本発明によれば、簡単かつ安価な構成で、被加工物に照射するレーザ光の出力分布を均一化して加工品位の向上を図り得る。
本発明の実施形態に係るレーザ加工装置を模式的に示す構成図。 同レーザ装置における可変スリットを示す斜視図。 本発明の実施形態の変形例に係るレーザ加工装置を模式的に示す構成図。
　以下、本発明の実施の形態を、図面を参照して説明する。本実施形態のレーザ加工装置は、液晶のカラーフィルタや基板上の欠陥画素を修正したり除去したりするレーザリペア装置である。典型的には、液晶の輝点を修正加工するものである。
　図１に示すように、本実施形態のレーザ加工装置は、レーザ発振器１と、レーザ発振器１から発せられたレーザ光Ｌの出力分布を略均一化する均一化手段２と、均一化手段２を経て出力分布が略均一化したレーザ光Ｌの像を結像させる結像光学系３と、結像光学系３によりレーザ光Ｌの像が結像する位置の近傍に配置したレーザ光整形用のマスキング手段４と、マスキング手段４を介して整形されたレーザ光Ｌを縮小し被加工物７に投影する対物光学系５とを主たる構成要素とする。
　本実施形態において、均一化手段２は光ファイバを用いてなる。レーザ発振器１と光ファイバ２の入射端との間には、通常、集光レンズ６を設ける。入射端から光ファイバ２に入射したレーザ光Ｌは、内部で反射を繰り返しつつ伝搬し、出力分布が平均化する。光ファイバ２の出射端では、出射端面の形状に沿って輝度が均一に分散したレーザ光Ｌが出力される。
　結像光学系３は、結像レンズを用いてなる。結像レンズ３は、光ファイバ２の出射端における、出力分布が均一化したレーザ光Ｌの像を拡大して結像する。
　マスキング手段４は、開口幅を変更可能な一または複数の可変スリット４１、４２を用いてなる。可変スリット４１、４２は、光ファイバ２から出射したレーザ光Ｌの縁をカットオフする。本実施形態では、マスキング手段４として、光軸に対して交差した第一可変スリット４１及び第二可変スリット４２を設けている。図２に示すように、第一可変スリット４１、第二可変スリット４２はそれぞれ、対向して離間距離を変化させることのできる一対のスリット板４１１、４１２、４２１、４２２を有している。第一可変スリット４１が開成するスリットと第二可変スリット４２が開成するスリットとは互いに交差しており、両スリットの重なり合う部分がレーザ光Ｌを通過させるマスクパターンとなる。このマスクパターンは、光軸方向から見て略方形状をなし、その寸法は可変である。望ましくは、結像レンズ３が光ファイバ２の出射端面の像を結ぶ面上にマスクパターンが存在しているように可変スリット４１、４２を位置づける。但し、マスクパターンで切り出したレーザ光Ｌの出力分布が要求される加工品位を実現できる程度に均一である範囲内において、結像レンズ３と可変スリット４１、４２との距離を伸縮させることが許される。
　対物光学系５は、可変スリット４１、４２を通過したレーザ光Ｌを平行光にするコリメーションレンズ５１と、平行光となったレーザ光Ｌを被加工物７に照射するべく集光する対物レンズ５２とを用いてなる。尤も、対物光学系５の詳細は任意である。
　レーザ発振器１が発するレーザ光Ｌは元来ガウシアン分布に近い不均一な出力分布を持つが、レーザ光Ｌを光ファイバ２に入射させ、光ファイバ２内を伝搬させることにより、光ファイバ２の出力端では均一な出力分布を得ることができる。このレーザ光Ｌを第一可変スリット４１及び第二可変スリット４２で方形状に整形し、対物光学系５を介して被加工物７に縮小投影することで、元のレーザ光Ｌの不均一さの影響を排した、好適なレーザ加工を実施することができる。
　さらに、本実施形態では、光ファイバ２の出射端面における理想的な出力分布を持つレーザ光Ｌの像を、可変スリット４１、４２が形成するマスクパターン近傍に結像させる。これにより、光ファイバ２の出力端と可変スリット４１、４２との間の光路によらず、理想的な出力分布のレーザ光Ｌをマスクパターン近傍に再現できる。そして、その結像したレーザ光Ｌからマスクパターンに対応した所要の投影形状を切り出して、被加工物７に照射する。従って、レーザ加工の品位、信頼性を大きく向上させることができる。
　本実施形態によれば、レーザ発振器１から発せられたレーザ光Ｌの出力分布を略均一化する均一化手段２と、前記均一化手段２により出力分布が略均一化したレーザ光Ｌをカットオフして被加工物７に照射するための形状に整形するマスキング手段４とを具備するレーザ加工装置を構成したため、マスキング手段４を経て被加工物７に照射されるレーザ光Ｌの出力分布が均一化し、加工品位の向上が図られる。
　前記均一化手段２の出射端におけるレーザ光Ｌの像を結像させる結像光学系３を介在させ、前記結像光学系３によりレーザ光Ｌの像が結像する位置の近傍にマスキング手段４を配置したため、均一化手段２を経た直後のレーザ光Ｌの出力分布をマスキング手段４上に確実に再現でき、被加工物７に照射されるレーザ光Ｌの質を担保し、加工品位をより一層向上させることが可能になる。
　前記均一化手段２として、光ファイバを用いているため、比較的安価であるだけでなく、レーザ発振器１に対するマスキング手段４や被加工物７等の相対位置を自由に設定できる等、レーザ加工装置の設計の自由度も増す。
　前記マスキング手段４が開口幅を変更可能な可変スリット４１、４２を用いてなるものであるため、加工目的に応じてスリット幅を変更し、被加工物７に対するレーザ光Ｌの投影形状を調節することが可能になる。
　本実施形態のレーザ加工装置は、液晶画素の修正加工を行うためのレーザリペア装置として極めて有用である。
　なお、以上に詳述した実施形態に限られるものではない。例えば、レーザ発振器１と光ファイバ２の入射端との間、光ファイバ２の出射端と結像レンズ３との間、結像レンズ３と可変スリット４１、４２との間、対物光学系５の中間等の各所において、図示しなかったミラーやレンズ等を介在させることを妨げない。
　上記実施形態では、均一化手段２として光ファイバを用いていたが、これ以外にも、カレイドスコープ、回折光学素子、ホモジナイザ等を採用することが可能である。
　上記実施形態では、マスキング手段４として可変スリット４１、４２を用いていたが、可変スリット４１、４２以外のアパーチャ機構を採用しても構わない。
　また、図３に示すように、光ファイバ２の出射端とマスキング手段４との間に結像光学系３を介在させないレーザ加工装置を構成しても、本発明の所期の目的を達成し得る。
　その他各部の具体的構成は、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形が可能である。
　本発明は、例えば、液晶のカラーフィルタや基板上の欠陥画素を修正したり除去したりするレーザリペア装置として利用することができる。
　Ｌ…レーザ光
　１…レーザ発振器
　２…均一化手段
　３…結像光学系
　４…マスキング手段
　５…対物光学系
　７…被加工物

Claims (3)

  1.  レーザ光を被加工物に照射して加工を行うレーザ加工装置であって、
    レーザ発振器から発せられたレーザ光の出力分布を略均一化する均一化手段と、
    前記均一化手段により出力分布が略均一化したレーザ光の像を結像させる結像光学系と、前記結像光学系によりレーザ光の像が結像する位置の近傍に配置されそのレーザ光をカットオフして被加工物に照射するための形状に整形するマスキング手段とを具備するレーザ加工装置。
  2.  前記均一化手段は光ファイバを用いてなるものである請求項１記載のレーザ加工装置。
  3.  レーザ光を被加工物に照射して加工を行うレーザ加工装置であって、
    レーザ発振器から発せられたレーザ光を入射しその出力分布を略均一化して出射する光ファイバと、前記光ファイバから出射したレーザ光をカットオフして被加工物に照射するための形状に整形するマスキング手段と
    を具備するレーザ加工装置。
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