TW202009081A - 鐳射加工裝置 - Google Patents

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Abstract

一種鐳射加工裝置，包括：鐳射源放射鐳射；縫隙，使鐳射通過，並調整鐳射的大小形狀；第一鏡筒透鏡，將通過縫隙的鐳射的集束度以第一倍率一次性地調整；物鏡系，接收通過所述第一鏡筒透鏡的光，將集束度進行二次性調整，向加工物件物照射，使得加工物件的影像光通過，調整所述影像光的集束度；照明光源，放射通過所述物鏡系照射所述加工對象物的照明光；第二鏡筒透鏡，使得通過所述物鏡系的影像光通過，能夠將集束度以不同於所述第一倍率的第二倍率進行調整；拍攝裝置，接收通過所述第二鏡筒透鏡的影像光，獲取加工物件物影像。

Description

鐳射加工裝置
本發明涉及鐳射加工裝置，更詳細地，涉及一種照射雷射光束而進行修補在半導體或平板顯示器上形成的錯誤等加工的鐳射加工裝置。
鐳射加工裝置的代表性的示例為鐳射修復裝置。該裝置是將以集束的狀態維持直行性的鐳射向在基板上形成的電路異常部位等特定部位照射，而能夠執行修復短路等電路的錯誤等功能。
一般而言，作為從鐳射修復裝置的鐳射照射部照射的平行光的鐳射通過縫隙後經過鏡筒透鏡和物鏡，而使得鐳射向接近點的一處、焦點位置集束或集光，起到通過熱作用將相應位置的物質加熱、揮發等作用。
圖1為概念性地示出以往的鐳射修復裝置的最簡單形態的一構成例的示意。
從鐳射源10出發的鐳射通過縫隙20、第一光束分離器91、鏡筒透鏡40、第二光束分離器81、第三光束分離器51、物鏡60到達加工對象物即基板70的加工區域。
此時，縫隙是包括廣義的光罩的概念，作用是決定通過該縫隙到達基板加工區域的鐳射的大小和形狀。鏡筒透鏡40和物鏡60一同發揮作用，使得鐳射以所需的集束度到達基板70的加工區域，而進行基板加工。
影像光源53向第3光束分離器51照射光，使得從此反射的光通過物鏡60照射基板的加工區域。從加工區域反射、散射的光是影像光，攜帶加工區域的影像資訊逆向通過物鏡60，並逆向通過第三光束分離器51、第二光束分離器81、鏡筒透鏡40後，從第一光束分離器91反射向拍攝裝置93投射，而使得拍攝裝置能夠獲得關於加工區域的影像。
從而，在此類構成中，鏡筒透鏡40與物鏡60一同構成基板加工用鐳射到達至基板的路徑及基板加工區域的影像資訊向拍攝裝置傳送的路徑，並且，起到決定鐳射的集束度的作用和通過無限光學系統物鏡的影像光的成像及數次補正等作用。
並且，影像光的一部分從第二光束分離器81反射後向其側方的自動焦點感測器83投射，為了通過拍攝裝置93正確地確認在加工物件物的基板70的相應區域加工的圖案的加工過程和結果等，焦點感測器83根據確認通過鐳射在基板70的上面進行加工的圖案的物鏡60的各個倍率自動地對齊物鏡60的焦點。
但，上述的以往的構成，發生對於鐳射自身的變 化的對應或加工用鐳射的集束的尺寸的界限，而難以執行對於變化的必要對應，並且，不易對於從拍攝裝置獲取的圖像的必要的變化要求或圖像改善要求進行適當的措施。
即，以往的鐳射修復裝置等比較單純地以相同的條件進行作業的情況較多，從而，在鏡筒透鏡40與物鏡60之間設置第二光束分離器81，分離影像光的一部分並將其發送至自動焦點感測器83，由此，容易調整物鏡60進行影像光狀態的檢查及調整，但，最近的鐳射修復裝置或其他鐳射加工裝置相比以往需要精密度較高的微細加工的情況較多，有時還需要對於大面積物件物的更快的加工。並且，任何情況下都為了準確地監測作業結果，需要拍攝裝置準確地掌握對於物件物加工狀態的影像光，因此，需要開發能夠同時此類各種需求的構成的鐳射修復裝置。
為解決上述問題，本發明的目的為提供一種能夠解決上述的以往的鐳射加工裝置的問題點的調整結構的鐳射加工裝置。
本發明目的為提供一種具有分別調整通過鏡筒透鏡的雷射光束狀態和影像光狀態，而能夠根據情況靈活地優化符合鐳射加工裝置要求的業務的構成的鐳射加工裝置。
為了實現上述目的，根據本發明的一側面的鐳射加工裝置，包括：鐳射源，放射鐳射；縫隙，使得鐳射通過， 並調整鐳射的大小和形狀；第一鏡筒透鏡，將通過縫隙的鐳射的集束度以第一倍率一次性地調整；物鏡系，接收通過第一鏡筒透鏡的光並使其通過，將集束度進行二次性調整，向加工物件物照射，並使得加工物件物的影像光通過，調整影像光的集束度；照明光源，放射通過物鏡系照射所述加工對象物的照明光；第二鏡筒透鏡，使得通過物鏡系的影像光通過，能夠將集束度以不同於所述第一倍率的第二倍率進行調整；拍攝裝置，接收通過第二鏡筒透鏡的影像光，獲取加工物件物影像。
本發明可包括：影像焦點感測器，在第二鏡筒透鏡與物鏡系之間的路徑獲得影像光的一部分，檢測影像光的狀態，發出信號以便在裝置內的光學要素進行調整，而使得在拍攝裝置形成較好的影像。
本發明可包括：雷射光束狀態感測器，在第一鏡筒透鏡與物鏡系之間的路徑獲得雷射光束的一部分，檢測雷射光束的位置、形狀、大小等狀態，並發出信號而在鐳射加工裝置內的光學要素進行調整，以便向所述加工物件物的準確位置照射正確的形狀和大小的雷射光束。
10,110‧‧‧鐳射光源
20,120‧‧‧縫隙
120a‧‧‧縫隙照明
40‧‧‧鏡筒透鏡
51,81,91,127,151,281‧‧‧光束分離器
53,153‧‧‧照明光源
60,160‧‧‧物鏡(物鏡系)
70,170‧‧‧加工對象物
83‧‧‧自動焦點感測器
93,193‧‧‧拍攝裝置
195‧‧‧偏振濾色鏡
197‧‧‧濾光器
125‧‧‧反射鏡
140‧‧‧第一鏡筒透鏡
183‧‧‧雷射光束狀態感測器
240‧‧‧第二鏡筒透鏡
283‧‧‧影像焦點感測器
圖1為表示以往的鐳射修復裝置的一例的示意圖；圖2為根據本發明的一實施例的鐳射修復裝置的示意圖；圖3為表示本發明的另一實施例的鐳射修復裝置的示意圖 圖；圖4為示例本發明的實施例的鐳射修復裝置的鐳射加工形狀和比較例的鐳射加工形狀的示意圖。
本說明書和權利要求書中使用的術語或詞語不能以通常性或詞典性的意義限定解釋，要立足于發明人為了通過最佳的方法說明其自身的方法而可適當地定義術語的概念的原則，以符合本發明的技術思想的意義和概念解釋。
從而，在本說明書中記載的實施例和附圖中圖示的構成只是本發明的最優選的一實施例，並非代表本發明的所有技術思想，應當理解本申請可存在能夠代替其的各種均等物和變形例。
以下參照附圖更詳細地說明具體實施例。
圖2為表示根據本發明的一實施例的鐳射修復裝置的示意圖。
該實施例的鐳射修復裝置，包括：鐳射源110，放射鐳射；縫隙120，使得鐳射通過，並調整鐳射的大小和形狀；第一鏡筒透鏡140，將通過縫隙的鐳射的集束度以第一倍率一次性地調整；物鏡系160，接收通過第一鏡筒透鏡的光並使其通過，將集束度進行二次性調整，向加工物件物照射，並使得加工物件物的影像光向逆方向通過，而調整影像光的集束度；照明光源153，放射通過物鏡系照射加工對象物的照明光； 第二鏡筒透鏡240，使得通過物鏡系的影像光通過，能夠將集束度以不同於所述第一倍率的第二倍率進行調整；拍攝裝置193，接收通過第二鏡筒透鏡的影像光，獲取加工物件物影像。
在此，鐳射源110是包括所有對於鐳射振盪器和快門等鐳射放射所需的部件要素的概念，在此使用能夠調整鐳射輸出功率的鐳射光源。
縫隙120是包括形成使得鐳射通過的縫隙而決定鐳射的大小的部分和以非透明層覆蓋整體，並以特定的形狀去除非透明層而形成圖案的加工用圖案掩膜的概念，由此，能夠限定通過的鐳射的大小和形狀，並根據需要交替更換大小和圖案。在縫隙120的光路徑上的前端可形成有向縫隙120提供照明的縫隙照明120a。
在此，通過縫隙的雷射光束向反射鏡125反射，而更換路徑向第一鏡筒透鏡140投射。第一鏡筒透鏡140為非通常使用的一倍率(1X)的透鏡，其為二倍率(2X)的透鏡，利用具有該倍率的透鏡可提高鐳射的集束度。
如上述地通過第一鏡筒透鏡的雷射光束在物鏡系中使用相同的倍率的物鏡時，整體性圖案或形狀相同，但，在加工物件物表面橫豎大小縮小為一半，而整體上尺寸變小，能源密度或光強度則增大4倍。從而，能夠更容易地使用於微細圖案的精密加工。
通過第一鏡筒透鏡的雷射光束在此從光束分離 器127反射並通過物鏡系160的選擇的一個物鏡，再次被集束，而向加工對象物表面的既定位置照射。
並且，從照明光源153發出照明光，通過Koehler光學系(Koehler optics)，從光束分離器151反射，透過光束分離器127，通過物鏡系160向加工對象物170照射，並在鐳射照射的加工物件區域反射散射，而形成具有關於加工區域的圖案圖像、加工狀態的影像資訊的影像光。
該影像光由逆方向通過物鏡系160並集束，通過光束分離器127,151向第二鏡筒透鏡240。
第二鏡筒透鏡使得投射的影像光通過，並以不同於第一鏡筒透鏡的一倍倍率再次將影像光集束，向拍攝裝置193投射。由此，拍攝裝置能夠獲取焦點準確適宜的影像。在第二鏡筒透鏡與拍攝裝置之間可設置濾光器197或偏振濾色鏡195，而在光量過多時，減少光量，或以適合於拍攝裝置的波長範圍的影像進行限制。
上述實施例中將鐳射通過的第一鏡筒透鏡的倍率設定為相比影像光通過的第二鏡筒透鏡倍率更高，而不更換通過第二鏡筒透鏡的影像光的大小或觀察物件區域(FOV)而保持，並減少修復用鐳射的大小，在近來的集成度較高的微細圖案的問題區域進行精密的修復加工，而獲得能夠準確地去除在圖案製造工藝中發生的錯誤圖案，並提高修復成功率等效果。
並且，此時，向加工物件物照射的鐳射的光強度 或能源密度可過高，因此，如上述地，調整鐳射光源的輸出功率，防止基板損傷，還可減少因鐳射的路徑上的光學要素被鐳射受到損傷、熱化程度，並且，如果是維持鐳射光源的輸出功率的狀態，將鐳射加工相應圖案並通過的掃描速度增加，而防止基板的損傷，提高利用鐳射加工速度，從而，提高設備效率。
並且，增加第一鏡筒透鏡的倍率能夠賦予與其組合的物鏡系的物鏡倍率以低倍率進行組合使用的可能性，作為通常物鏡使用低倍率透鏡時，相比使用高倍率透鏡能夠增加一次性處理的物件區域，並能夠縮短處理整體基板的加工時間。
圖3為表示本發明的另一實施例的示意圖；圖4為示例根據本發明的實施例的鐳射修復裝置的鐳射加工形狀和比較例的鐳射加工形狀的示意圖。
本實施例中，整體性構成方面與圖2的實施例相同，但，與圖2的實施例比較時，在第二鏡筒透鏡240與物鏡系160之間的路徑設置發送信號的影像焦點感測器283，從而，通過光束分離器281獲得影像光的一部分，檢測影像光的狀態，能夠在裝置內的光學要素進行調整，而使得在拍攝裝置形成較好的影像。
並且，在本實施例中，在第一鏡筒透鏡140與物鏡系160之間的路徑，設置發送信號的雷射光束狀態感測器183，其通過光束分離器181獲得雷射光束的一部分，而檢測雷射光束的位置、形狀、大小等狀態，並為了向加工物件物 170的正確位置照射準確的形狀、大小的雷射光束，而在裝置內的光學要素進行調整。
此時，裝置內的光學要素可為上面實施例中言及的第一、第二鏡筒透鏡、物鏡系，也可為未言及的在光路徑上附加的要素。也可為能夠調整光路徑位置或光軸的可移動地位於光路徑上的單純的傾斜的玻璃板。
從而，在該實施例中，除了如同上述的實施例為了分別調整鐳射和影像光而分別設置第一鏡筒透鏡和與其不同的倍率運行的第二鏡筒透鏡，並任意地選擇組合使用與其鏡筒透鏡組合的物鏡系的物鏡倍率之外，使得上述的調整通過影像焦點感測器283或雷射光束狀態感測器183準確地掌握鐳射的路徑位置、形狀、大小的狀態及有關影像光的焦點狀態，將第一鏡筒透鏡及第二鏡筒透鏡的倍率比調整和物鏡系的適宜物鏡及倍率選擇更加優化運行。
根據上述的實施例，本發明的鐳射修復裝置如圖4所示，鐳射加工形狀(b)形成相比比較例的鐳射加工形狀(a)被縮小的鐳射加工尺寸，而能夠容易地進行微細加工。其說明在顯示裝置的圖元中未發生圖像或色彩的變化的狀態下，能夠進行微細加工。並且，能夠使用較低的加工能源，將光學部件的損傷最小化的狀態進行鐳射加工。並且，使用低倍率加工透鏡，而具有能夠減少大面積板加工的加工時間的優點。
在以上的本發明的實施例中以鐳射修復裝置為 主進行了說明，但，除了鐳射修復裝置之外，利用鐳射的位置準確度和熱加工調節便利性的其他鐳射加工裝置也可以相同的原理和方式適用本發明。
並且，本發明在物件側面，均可適用於以往使用鐳射加工裝置的半導體工藝、液晶顯示器(LCD)製造工藝、有機發光裝置(OLED)製造工藝中，圖元電路的錯誤修訂或相應圖元的去除。
以上通過限定的實施例說明了本發明，但，其只是為了有助於理解本發明而示例性地說明，本說明並非限定於以上特定的實施例。即，本發明的技術領域的普通技術人員能夠基於本發明進行各種變更或實施應用例，並且，此類變形例或應用例均屬於參附的權利要求範圍。
本發明的有益效果在於：
根據本發明，區分雷射光束和影像光的路徑，將雷射光束通過的鏡筒透鏡和影像光通過的鏡筒透鏡以第一鏡筒透鏡和第二鏡筒透鏡不同地設置，同時將其鏡筒透鏡的倍率或集束度不同地調整，而能夠使得雷射光束和影像光分別形成最佳化。
並且，在第一鏡筒透鏡與物鏡之間設置檢測鐳射狀態的感測器，在第二鏡筒透鏡與物鏡之間設置檢測影像光狀態的感測器，從而，能夠更精密地分別優化調整鐳射和影像光。
綜上所述，乃僅記載本發明為呈現解決問題所採 用的技術手段之實施方式或實施例而已，並非用來限定本發明專利實施之範圍。即凡與本發明專利申請範圍文義相符，或依本發明專利範圍所做的均等變化與修飾，皆為本發明專利範圍所涵蓋。
110‧‧‧鐳射光源
120‧‧‧縫隙
120a‧‧‧縫隙照明
40‧‧‧鏡筒透鏡
127,151‧‧‧光束分離器
153‧‧‧照明光源
160‧‧‧物鏡(物鏡系)
170‧‧‧加工對象物
193‧‧‧拍攝裝置
195‧‧‧偏振濾色鏡
197‧‧‧濾光器
125‧‧‧反射鏡
140‧‧‧第一鏡筒透鏡
183‧‧‧雷射光束狀態感測器
240‧‧‧第二鏡筒透鏡
283‧‧‧影像焦點感測器

Claims (3)

  1. 一種鐳射加工裝置，包括：一鐳射源，用以放射一鐳射；一縫隙，使該鐳射通過，並調整該鐳射的大小和形狀；一第一鏡筒透鏡，將通過該縫隙的該鐳射的集束度以一第一倍率一次性地調整；一物鏡系，接收通過該第一鏡筒透鏡的光並使其通過，將集束度進行二次性調整，向一加工物件物照射，並使得所述加工物件物的影像光通過，調整所述影像光的集束度；一照明光源，放射通過該物鏡系照射所述加工對象物的照明光；一第二鏡筒透鏡，使得通過該物鏡系的影像光通過，能夠將集束度以不同於所述第一倍率的第一倍率進行調整；一拍攝裝置，接收通過該第二鏡筒透鏡的影像光，獲取該加工物件物影像。
  2. 根據專利申請範圍第1項所述之鐳射加工裝置，其中更包括：一影像焦點感測器，在該第二鏡筒透鏡與該物鏡系之間的路徑獲得影像光的一部分，用以檢測影像光的狀態，發出信號以便在鐳射加工裝置內的光學要素進行調整，而使得在所述拍攝裝置形成較好的影像。
  3. 根據專利申請範圍第1項所述之鐳射加工裝置，其中更包括：一雷射光束狀態感測器，在該第一鏡筒透鏡與該物鏡 系之間的路徑獲得雷射光束的一部分，檢測雷射光束的位置、形狀、大小中的至少一個，並發出信號而在鐳射加工裝置內的光學要素進行調整，以便向所述加工物件物的準確位置和形狀照射雷射光束。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102420993B1 (ko) * 2020-06-30 2022-07-15 참엔지니어링(주) 리페어 장치

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4094731B2 (ja) * 1998-07-24 2008-06-04 浜松ホトニクス株式会社 液晶パネルの画素欠陥修正方法及び画素欠陥修正装置
JP2008119716A (ja) * 2006-11-10 2008-05-29 Marubun Corp レーザ加工装置およびレーザ加工装置における焦点維持方法
KR100981306B1 (ko) * 2008-12-02 2010-09-10 참엔지니어링(주) 편광을 이용한 액정표시패널의 리페어 방법
KR101129262B1 (ko) * 2010-04-21 2012-03-26 주식회사 코윈디에스티 레이저 리페어 장치의 광학계
KR20120055369A (ko) * 2010-11-23 2012-05-31 참엔지니어링(주) 액정표시패널을 리페어하는 방법 및 장치
KR101380148B1 (ko) 2012-08-31 2014-04-02 (주)뮤텍코리아 집광렌즈를 이용한 레이저가공 위치 조절 구조
KR101520416B1 (ko) * 2013-09-16 2015-05-15 한국기계연구원 레이저 측정 및 가공 장치, 및 이의 구동 방법
KR101582455B1 (ko) * 2014-04-18 2016-01-07 한국기계연구원 멀티 모달 레이저 가공 장치
KR101939876B1 (ko) * 2016-03-25 2019-01-17 주식회사 코윈디에스티 레이저 리페어 장치

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