WO2009113657A1 - 発振器 - Google Patents

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WO2009113657A1
WO2009113657A1 PCT/JP2009/054868 JP2009054868W WO2009113657A1 WO 2009113657 A1 WO2009113657 A1 WO 2009113657A1 JP 2009054868 W JP2009054868 W JP 2009054868W WO 2009113657 A1 WO2009113657 A1 WO 2009113657A1
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voltage
mos transistor
load circuit
circuit
oscillator
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PCT/JP2009/054868
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English (en)
French (fr)
Inventor
佐藤　健一
智晃 山本
Original Assignee
旭化成エレクトロニクス株式会社
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Publication date
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    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
    • H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
    • H03B5/30—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator
    • H03B5/32—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator being a piezoelectric resonator
    • H03B5/36—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element being electromechanical resonator being a piezoelectric resonator active element in amplifier being semiconductor device
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/003—Changing the DC level

Definitions

  • the present invention relates to an oscillator, and more particularly to an oscillator including an oscillation circuit for oscillating a vibrator.
  • FIG. 16 is a diagram showing a configuration of a general crystal oscillator.
  • the crystal oscillator is composed of a crystal resonator SS and an oscillation circuit section CC for oscillating the crystal resonator SS.
  • the oscillation circuit section CC includes an amplifier A and a resistor R connected in parallel to the crystal resonator SS, a load capacitive element Ca (capacitance value C Ca ) connected between the input side of the amplifier A and the ground, and an amplifier.
  • the resistor R is also referred to as a feedback resistor, and is used to determine the DC operating point of input and output.
  • the oscillation frequency can be controlled.
  • the amplification factor of the amplifier A is gm
  • the crystal voltage amplitude of the crystal resonator SS is Vxtal.
  • the configuration of FIG. 16 is represented by an equivalent circuit as shown in FIG.
  • the crystal resonator side SSS includes a crystal series equivalent capacitance component C1 (capacitance value C C1 ), a crystal series equivalent resistance component R1 (resistance value R R1 ), and a crystal series equivalent inductive component L1 (reactance value L L1 ).
  • the oscillation circuit unit side CCS has a configuration in which a resistance component Rn (resistance value R Rn ) and a capacitance component CL (capacitance value C CL ) are connected in series.
  • the resistance component Rn is a negative resistance component having a negative value
  • a known LC oscillator is configured by canceling the resistance value R R1 of the resistance component R1 with the resistance value R Rn of the negative resistance component Rn. Can do.
  • the capacitance component CL is an oscillator equivalent capacitance component of an equivalent circuit.
  • Capacitance value C Ca capacitance value C CL and the load capacitive element Ca of the capacitive component CL the relationship between the capacitance value C Cb of the load capacitive element Cb is defined in Equation (1).
  • C CL (C Ca ⁇ C Cb ) / (C Ca + C Cb ) (1) According to Equation (1), when the capacitance value C Ca of the load capacitive element Ca is small and the capacitance value C Cb of the load capacitive element Cb is small, the capacitance value C CL of the oscillator equivalent capacitance component CL is small.
  • the excitation level P of the crystal resonator is as shown in Equation (2).
  • P R R1 ⁇ (C CL + C C0 ) 2 ⁇ (2 ⁇ f) 2 ⁇ Vxtal 2 [W] (2)
  • the excitation level P is proportional to the square of the frequency f. For this reason, when a high-frequency band crystal resonator is used, the excitation level P becomes a large value.
  • the resistance value R Rn of the negative resistance Rn indicating the allowance for oscillation of the circuit is as shown in Expression (3).
  • R Rn ⁇ gm / ⁇ C Ca ⁇ C Cb ⁇ (2 ⁇ f) 2 ⁇ (3)
  • the resistance value R Rn of the negative resistance component Rn is inversely proportional to the square of the frequency, and the absolute value decreases as the frequency f increases. Therefore, in a normal design, the amplification factor gm is increased in order to increase the negative resistance.
  • the crystal voltage amplitude Vxtal usually increases to the power supply level, so that the excitation level P of the crystal resonator increases.
  • problems such as a shortened life of the crystal unit occur.
  • the voltage controlled crystal oscillator is configured as shown in FIG. 18, for example.
  • both the load capacitive element Ca and the load capacitive element Cb are variable capacitive elements. If the capacitance of the variable capacitance element is controlled by the control voltage, a known voltage controlled oscillator can be configured. That is, the capacity is increased when the frequency is decreased, and the capacity is decreased when the frequency is increased.
  • parasitic capacitance is added in parallel to each of the load capacitive element Ca and the load capacitive element Cb (broken line portion in the figure).
  • a capacitance component CL is an oscillator equivalent capacitance component of an equivalent circuit.
  • the relationship between the capacitance value C CL of the oscillator equivalent capacitance component and the oscillation frequency f is expressed by Equation (4).
  • f 1 / 2 ⁇ ⁇ L L1 ⁇ C C1 ⁇ (C C0 + C CL ) / (C C0 + C C1 + C CL ) ⁇ 1/2 (4)
  • the equation (5) is obtained.
  • FIG. 20 is a diagram showing a change in the amount fL in which the oscillation frequency f with respect to the capacitance value C CL of the oscillator equivalent capacitance component CL is expressed as a ratio.
  • the capacity value C CL when the value other than the variable capacity of the oscillator equivalent capacity component CL is small, the capacity value C CL is also small according to the equation (1), so the frequency variable range becomes ⁇ fL1 in the figure, and the value When is large, the capacitance value C CL is also large according to the equation (1), so that the frequency variable range is ⁇ fL2 in FIG.
  • variable width [Delta] C CL of the capacitance value C CL of the oscillator equivalent capacitive component CL are equal, smaller value of capacitance than the variable capacitance, variable frequency range becomes large. For this reason, if the value of the capacity other than the variable capacity is large, it is difficult to widen the frequency variable range.
  • the amplification factor gm is usually increased in order to increase the resistance value R Rn of the negative resistance component of the circuit. Then, the size of the amplifier must be increased, and the parasitic capacitance increases, so that it is difficult to take a wide frequency variable range.
  • a configuration for solving the problem of the excitation level P of the crystal resonator and the frequency variable range at a high frequency as described above is disclosed (for example, see Japanese Patent Laid-Open No. 2001-308641). This configuration will be described with reference to FIG.
  • This figure is an example of a general method for suppressing the crystal voltage amplitude Vxtal.
  • the diode D1 is connected to suppress the crystal voltage amplitude Vxtal.
  • the anode of the diode D1 is connected to the output terminal, and the cathode of the diode D1 is connected to the ground.
  • the crystal voltage amplitude Vxtal is determined by the forward voltage drop of the diode D1 connected as a clamp diode, the crystal voltage amplitude Vxtal can be reduced.
  • the forward voltage drop of the diode D1 is Vf
  • equation (7) is obtained.
  • Vxtal (1 / ⁇ 2) ⁇ Vf (7)
  • the excitation level P of the crystal resonator can be reduced.
  • the forward drop voltage Vf of the diode D1 is, for example, 0.8 [V].
  • the excitation level P of the crystal resonator can be expressed by the above equation (2).
  • the configuration of FIG. 21 has a problem that the junction capacitance C D1 of the diode (broken line portion in the figure) is connected in parallel to the load capacitance Cb, and the load capacitance increases accordingly. . That is, even if the excitation level P of the crystal resonator can be improved in terms of amplitude, the excitation level P of the crystal resonator is deteriorated by the increase in the load equivalent of the oscillator equivalent capacitance component CL due to the increase in load capacitance. Therefore, there is a problem that the effect on the excitation level P is low.
  • the present invention has been made to solve the above-described problems of the prior art, and an object of the present invention is to satisfy the requirement of the excitation level of the crystal resonator in an oscillator using a high-frequency crystal resonator, and to adjust the frequency variable range. It is an object of the present invention to provide an oscillator that can widen the frequency.
  • An oscillator according to the present invention is an oscillator having an oscillation circuit for oscillating a vibrator, and includes a load circuit that is inductive and simultaneously limits an oscillation amplitude as a load of the vibrator. . According to such a configuration, it is possible to satisfy the excitation level requirement of the vibrator and widen the frequency variable range.
  • the load circuit may include at least one active element. Even when at least one active element is included, the requirement of the excitation level of the vibrator can be satisfied and the frequency variable range can be widened.
  • the active element is a transistor.
  • the oscillation amplitude is limited by the threshold voltage of the transistor.
  • the reactance component of the output impedance of the load circuit is positive. According to such a configuration, it is possible to satisfy the requirement of the excitation level of the crystal resonator and widen the frequency variable range.
  • the load circuit is connected to at least one terminal of the vibrator. If a load circuit is connected to at least one terminal of the vibrator, the voltage change can be regulated and the excitation level requirement of the crystal vibrator can be satisfied.
  • the load circuit is connected in parallel to the vibrator. Even when a load circuit is connected in parallel with the vibrator, the voltage change is regulated to satisfy the excitation level requirement of the crystal vibrator.
  • the load circuit is An NPN bipolar transistor having an emitter connected to the terminal of the vibrator and a collector supplied with a first predetermined voltage; A resistance component having a second predetermined voltage supplied to one end and the other end connected to the base of the NPN bipolar transistor; A capacitive component provided between the emitter and base of the NPN bipolar transistor; It is characterized by having.
  • the load circuit is An NPN bipolar transistor having a collector connected to a terminal of the vibrator and a third predetermined voltage supplied to the emitter; A resistance component provided between the collector and base of the NPN bipolar transistor; A capacitive component provided between the emitter and base of the NPN bipolar transistor; It is characterized by having.
  • the load circuit is A PNP bipolar transistor having an emitter connected to the vibrator and a collector supplied with a first predetermined voltage; A resistance component having a second predetermined voltage supplied to one end and the other end connected to the base of the PNP bipolar transistor; A capacitive component provided between the emitter and base of the PNP bipolar transistor; You may have.
  • the load circuit is A PNP bipolar transistor having a collector connected to the vibrator and a third voltage supplied to the emitter; A resistance component provided between a collector and a base of the PNP bipolar transistor; A capacitive component provided between the emitter and base of the PNP bipolar transistor; You may have.
  • the load circuit is A MOS transistor having a drain connected to the vibrator and a fourth predetermined voltage supplied to the source; A resistance component provided between the drain and gate of the MOS transistor; A capacitive component provided between the source and gate of the MOS transistor; It is characterized by having.
  • the MOS transistor may be an N-type MOS transistor.
  • the MOS transistor may be a P-type MOS transistor.
  • the load circuit is A MOS transistor having a source connected to the vibrator and a drain supplied with a fifth predetermined voltage; A sixth predetermined voltage is supplied to one end, and the other end is connected to the gate of the MOS transistor; A capacitive component provided between the source and gate of the MOS transistor; It is characterized by having.
  • the MOS transistor may be an N-type MOS transistor.
  • the MOS transistor may be a P-type MOS transistor.
  • the present invention by providing a circuit having inductivity and limiting the oscillation amplitude as a load of the vibrator, the requirement of the excitation level of the crystal vibrator is satisfied, and the frequency variable range is increased. Can be wide.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of an oscillator according to an embodiment of the present invention.
  • the oscillator according to the present embodiment has a configuration in which a limiter circuit LM1 is connected as a load circuit of an oscillator including a crystal resonator SS and an oscillation circuit section CC for oscillating the crystal resonator SS.
  • the resonator is not limited to a crystal resonator, and may be a SAW resonator, a ceramic resonator, or the like.
  • the current resulting from oscillation passes through the limiter circuit LM1 from one terminal of the crystal resonator, and is again opposite to the crystal resonator via the voltage source (voltage value VH).
  • the limiter circuit LM1 is a load of the crystal resonator because it returns to one terminal on the side.
  • the limiter circuit LM1 includes an N-type MOS transistor 1, a resistance element Rx (resistance value R Rx ) connected between the gate terminal G and the drain terminal D, and the gate terminal G and the source terminal S.
  • the drain terminal D of the N-type MOS transistor 1 is connected to the output terminal of the amplifier A.
  • the drain terminal D of the N-type MOS transistor 1 is connected to the capacitor Cx (capacitance value C Cx ).
  • a voltage source having a voltage value VH is connected to the source terminal S of the N-type MOS transistor 1.
  • the voltage Vb at the output terminal of the amplifier A is clipped when the limiter circuit LM1 exceeds the threshold voltage value of the gate voltage of the N-type MOS transistor 1. That is, as shown in FIG. 2, the voltage Vb is clipped at a voltage value obtained by adding the threshold voltage value VT of the N-type MOS transistor 1 to the voltage value VH of the voltage source.
  • the crystal voltage amplitude Vxtal is given by equation (8).
  • Vxtal (1 / ⁇ 2) ⁇ (VT + VH) (8) Therefore, the crystal voltage amplitude Vxtal can be adjusted by adjusting the voltage value VH of the voltage source. That is, if the voltage value VH supplied to the source terminal S of the N-type MOS transistor 1 is adjusted, the crystal voltage amplitude Vxtal can be suppressed.
  • the limiter circuit LM1 in FIG. 1 can be expressed as an inductance Lx.
  • the value L Lx of the inductance Lx is given by assuming that the amplification factor of the N-type MOS transistor 1 is gmx.
  • L Lx (gmx ⁇ R Rx ⁇ 1) ⁇ C Cx / ⁇ gmx 2 + (2 ⁇ f) 2 ⁇ C Cx 2 ⁇ (9) It is.
  • a parallel circuit of the value L Lx of the inductance Lx and the capacitance value C Cb of the load capacitive element Cb is defined as a capacitance Cb ′.
  • the reactance 2 ⁇ fL Lx value which is the product of the inductance L Lx and the angular frequency 2 ⁇ f
  • the inductance Lx appears to be equivalent to a coil. That is, the reactance of the limiter circuit LM1 is inductive.
  • Equation (9) the condition for making the reactance of the limiter circuit LM1 inductive is R RX > (1 / gmx).
  • the equivalent circuit portion (the broken line portion in FIG. 3) of the load capacitance element Cb and the limiter circuit LM1 is modified as shown in FIG. That is, in the circuit configuration of FIG. 4A corresponding to the broken line portion in FIG. 3, the load capacitive element Cb and the load capacitive element C Lx (capacitance value is ⁇ 1 / L Lx ( It can be replaced with a parallel circuit with 2 ⁇ f) 2 ). Further, the circuit of FIG. 5B can be modified as shown in FIG. In FIG.
  • the capacitance value of the oscillator equivalent capacitance component CL ′ is expressed as shown in FIG.
  • the excitation level P of the crystal resonator is as shown in Expression (12).
  • P R R1 ⁇ (C CL ′ + C C0 ) 2 ⁇ (2 ⁇ f) 2 ⁇ Vxtal ′ 2 [W] (12) Therefore, according to the circuit configuration of FIG.
  • FIG. 6 is a diagram showing a change in the amount fL representing the oscillation frequency f with respect to the capacitance value C CL ′ of the oscillator equivalent capacitance component CL ′.
  • the oscillator equivalent capacitance component changes in the range 6A in the figure, and the frequency variable range becomes the range of ⁇ fL1.
  • the capacitance value C CL ′ of the oscillator equivalent capacitance component CL ′ changes in the range 6B in FIG.
  • the frequency variable range is ⁇ fL2 It becomes a range, even in the same 'variable width [Delta] C CL' of the capacitance value C CL, wider than the range of DerutafL1. Therefore, the frequency variable range can be expanded by adding the limiter circuit LM1. Therefore, according to the present embodiment, in the oscillator using the high-frequency crystal resonator SS, the requirement for the excitation level of the crystal resonator can be satisfied and the frequency variable range can be widened.
  • FIG. 7 is a circuit diagram showing a configuration of an oscillator according to the second embodiment of the present invention.
  • the first embodiment described above has a configuration in which an upper limiter circuit (that is, a circuit that regulates the upper limit of the voltage change at the output terminal when connected to the output terminal of the amplifier A) is added.
  • the embodiment employs a configuration in which a downward limiter circuit (that is, a circuit that regulates the lower limit of the voltage change at the output terminal when connected to the output terminal of the amplifier A) is further employed.
  • an upper limiter circuit LM1 and a lower limiter circuit LM2 are connected as a load of the oscillator.
  • the limiter circuit LM2 of this example includes an N-type MOS transistor 2, a capacitive element Cx2 connected between the gate terminal G and the source terminal S, and a resistive element Rx2 connected to the gate terminal G.
  • the source terminal S of the N-type MOS transistor 2 is connected to the output terminal of the amplifier A.
  • a voltage source having a voltage value VL is connected to the other end of the resistance element Rx2 connected to the gate terminal G of the N-type MOS transistor 2.
  • the limiter circuits in both the upper and lower directions are connected, the amplitude of the voltage Vb on the output side of the amplifier exceeds the threshold value of the gate voltage of the N-type MOS transistors 1 and 2 by the limiter circuits LM1 and LM2. Voltage clipped. That is, as shown in FIG. 8, the upper limit of the voltage Vb is clipped by a voltage value obtained by adding the threshold voltage value VT of the N-type MOS transistor 1 to the voltage value VH of the voltage source. The lower limit is clipped by a voltage value obtained by subtracting the threshold voltage value VT of the MOS transistor 2.
  • the crystal voltage amplitude Vxtal is as shown in Equation (13).
  • Vxtal (1 / ⁇ 2) ⁇ ⁇ (VH + VT) ⁇ (VL ⁇ VT) ⁇ (13)
  • the voltage value VL and the voltage value VH can be arbitrarily set, and the latter may be zero volts. Therefore, by adjusting the voltage value VH supplied to the source terminal S of the N-type MOS transistor 1 and the voltage value VL supplied to the gate terminal G of the N-type MOS transistor 2 via the resistance element Rx2, the crystal voltage amplitude Further reduction of Vxtal becomes possible.
  • the limiter circuits LM1 and LM2 are both configured using N-type MOS transistors, which are active elements, but can also be configured using P-type MOS transistors. That is, FIG. 9A shows a downward limiter circuit LM2 configured using a P-type MOS transistor, and FIG. 9B shows an upward limiter circuit LM1 configured using a P-type MOS transistor. If these are connected to the output terminal of the oscillator, the lower limit and upper limit of the voltage amplitude of the crystal resonator can be suppressed.
  • a limiter circuit may be configured using a bipolar transistor which is another active element.
  • FIG. 4C shows an upper limiter circuit LM1 configured using an NPN bipolar transistor
  • FIG. 4D shows a lower limiter circuit LM2 configured using an NPN bipolar transistor. If these are connected to the output terminal of the oscillator, the upper limit and the lower limit of the voltage amplitude of the crystal resonator can be suppressed.
  • FIG. 4E shows a lower limiter circuit LM2 configured using a PNP bipolar transistor
  • FIG. 5F shows an upper limiter circuit LM1 configured using a PNP bipolar transistor. If these are connected to the output terminal of the oscillator, the lower limit and upper limit of the voltage amplitude of the crystal resonator can be suppressed.
  • the upper limiter circuit LM1 and the lower limiter circuit LM2 are added.
  • the lower limiter circuit LM2 is added.
  • a configuration in which only the circuit LM2 is provided may be employed. At this time, the crystal voltage amplitude Vxtal is as shown in Expression (14).
  • Vxtal (1 / ⁇ 2) ⁇ (VL ⁇ VT) (14)
  • the voltage value VL can be set arbitrarily. Therefore, the crystal voltage amplitude Vxtal can be further reduced by adjusting the voltage value VL supplied to the gate terminal G of the N-type MOS transistor 2 via the resistance element Rx2.
  • the base of the NPN bipolar transistor is connected to a voltage source (voltage value VH) via a resistance element Rx, and the collector is connected to a positive power source.
  • a voltage source voltage value VH
  • the base of the PNP-type bipolar transistor is connected to the voltage source (voltage value VH) via the resistance element Rx, and the collector is grounded. However, instead of grounding the collector, the voltage source You may connect to (voltage value VH).
  • the gate of the P-type MOS transistor is connected to the voltage source (voltage value VH) via the resistance element Rx, and the drain is grounded. However, instead of grounding the drain, the voltage source You may connect to (voltage value VH).
  • FIG. 4B the gate of the P-type MOS transistor is connected to the voltage source (voltage value VH) via the resistance element Rx, and the drain is grounded. However, instead of grounding the drain, the voltage source You may connect to (voltage value VH).
  • the gate of the N-type MOS transistor 2 of the limiter circuit LM2 is connected to the voltage source (voltage value VL) via the resistance element Rx2, and the drain is connected to the positive power supply. Instead of connecting to a power supply, it may be connected to a voltage source (voltage value VL).
  • the limiter circuit can be arranged between the terminals of the crystal resonator.
  • a differential limiter circuit L3 may be connected between the terminals of the crystal resonator SS.
  • the potential of the drain terminal of the N-type MOS transistor 1 needs to be DC biased by the current source Is so as to be higher than the source terminal.
  • the relationship between the oscillating voltages Va and Vb is such that the voltage Vb decreases when the voltage Va increases, and conversely the operation that the voltage Vb increases when Va decreases.
  • a differential limiter circuit L4 as shown in FIG. 11A may be provided as a downward limiter circuit.
  • the relationship between the oscillating voltages Va and Vb is such that the voltage Vb decreases when the voltage Va increases, and conversely the voltage Vb increases when the Va decreases. The operation is repeated.
  • the voltage Va rises and the voltage Vb is going to fall, if the voltage Va ⁇ Vb exceeds the threshold voltage value VT of the N-type MOS transistor, a current flows through the transistor, so the voltage Vb ⁇ Va is equal to the threshold voltage value VT. Therefore, the crystal voltage amplitude Vxtal can be reduced as compared with the case where the limiter circuit LM4 is not provided.
  • two differential limiter circuits L3 and L4 may be provided as shown in FIG. In this case, however, it is necessary to provide a DC cut capacitor Ccut.
  • the amplitude of the voltage Vb on the output side of the amplifier exceeds the threshold value of the gate voltage of the N-type MOS transistor 1 by the differential limiter circuits LM3 and LM4. Voltage clipped. That is, when the voltage Vb ⁇ Va exceeds the threshold voltage value VT of the N-type MOS transistor of the limiter circuit LM3, a current flows through the N-type MOS transistor, and the voltage is clipped at the threshold voltage value VT. If the voltage Va-Vb exceeds the threshold voltage value VT of the N-type MOS transistor of the limiter circuit LM4, a current flows through the N-type MOS transistor, and the voltage is clipped at the threshold voltage value VT.
  • the crystal voltage amplitude Vxtal can be further reduced as compared with the cases of FIGS. 10 and 11A.
  • the crystal voltage amplitude Vxtal is as shown in Expression (15).
  • Vxtal (1 / ⁇ 2) ⁇ 2VT (15)
  • the limiter circuit is configured by using the N-type MOS transistor 1.
  • the P-type MOS is used.
  • the limiter circuit may be configured using a transistor, an NPN bipolar transistor, or a PNP bipolar transistor.
  • a limiter circuit is configured using a bipolar transistor, a resistance element Rx is connected between the base terminal and the collector terminal, and a capacitive element Cx is connected between the base terminal and the emitter terminal.
  • the limiter circuit described above may be provided at any position. That is, as shown in FIG. 13, the crystal voltage amplitude Vxtal is suppressed regardless of the position on the input side of the amplifier A and the position on the output side of the amplifier A.
  • “upper” indicates a limiter circuit for the upper limit of the voltage
  • “lower” indicates a limiter circuit for the lower limit of the voltage.
  • the limiter circuit LM5 for the upper limit of the voltage on the input side of the amplifier A When the limiter circuit LM5 for the upper limit of the voltage on the input side of the amplifier A is provided, the lower limit of the voltage on the output side of the amplifier A is normally suppressed. Further, when the limiter circuit LM6 for the lower limit of the voltage on the input side of the amplifier A is provided, the upper limit of the voltage on the output side of the amplifier A is normally suppressed. Therefore, as shown in FIG. 14A, a configuration is adopted in which a limiter circuit LM5 for the upper limit of the voltage on the input side of the amplifier A and a limiter circuit LM1 for the upper limit of the voltage on the output side of the amplifier A are provided. Also good. Further, as shown in FIG. 6B, a configuration is adopted in which a limiter circuit LM6 for the lower limit of the voltage on the input side of the amplifier A and a limiter circuit LM2 for the lower limit of the voltage on the output side of the amplifier A are employed. Also
  • a limiter circuit may be added at a position parallel to the crystal unit SS. That is, a differential limiter circuit LM3 similar to that shown in FIG. 10 may be added as shown in FIG. 15A, or a differential limiter circuit LM4 similar to that shown in FIG. 11A may be added as shown in FIG. May be added. Further, as shown in FIG. 11C, the same differential limiter circuits LM3 and LM4 as in FIG. 11B may be added.
  • the connection directions of the differential limiter circuits LM3 and LM4 are the same as those in FIGS. 10, 11A, and 11B.
  • the limiter circuit for the upper limit and the lower limit of the voltage is a combination of limiter circuits including NPN type bipolar transistors (FIGS. 9D and 9C), or both of the limiter circuits including PNP type bipolar transistors are used.
  • the combination (FIG. 9 (f), FIG. 9 (e)) is preferable in that the number of steps can be reduced.
  • the resistance element and the capacitance element are provided as the resistance component and the capacitance component.
  • a parasitic resistance or a parasitic capacitance may be used. Even when the resistance component and the capacitance component are realized by the parasitic resistance and the parasitic capacitance without providing the resistance element and the capacitance element, the requirement of the excitation level of the crystal resonator can be satisfied and the frequency variable range can be widened.
  • the oscillation circuit unit for oscillating the crystal resonator and the limiter circuit described above may be integrated together or may be integrated on the same substrate. Further, a crystal resonator may be added and integrated as a unit, or may be integrated on the same substrate.
  • the present invention can be used for an oscillator including an oscillation circuit for oscillating a vibrator.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of an oscillator according to a first embodiment of the present invention. It is a figure which shows the change of the voltage of the output terminal in FIG. It is a figure which shows the equivalent circuit of the structure of FIG. It is a figure which shows the equivalent circuit of the broken-line part in FIG. It is a figure which shows the equivalent circuit of the structure of FIG. It is a figure which shows the frequency variable range in the structure of FIG. It is a circuit diagram which shows the structure of the oscillator by the 2nd Embodiment of this invention. It is a figure which shows the change of the voltage of the output terminal in FIG.
  • FIG. 4D is a diagram showing a limiter circuit configured using an NPN bipolar transistor
  • FIG. 4E is a diagram illustrating a limiter circuit configured using a PNP bipolar transistor
  • FIG. 2F is a diagram showing a limiter circuit configured using PNP-type bipolar transistors. It is a figure which shows the structural example of the oscillator which has arrange
  • FIG. 4 is a diagram showing a configuration example of an oscillator in which another differential limiter circuit is arranged, in which (a) is a P-type MOS transistor, (b) is an NPN-type bipolar transistor, (c) is a PNP-type bipolar transistor, It is a figure which shows the structural example of the limiter circuit which attacked using each. It is a figure which shows the example of arrangement
  • (A) is a diagram showing a configuration provided with a limiter circuit for the upper limit of the voltage on the input side of the amplifier and a limiter circuit for the upper limit of the voltage on the output side; It is a figure which shows the structure which provided the limiter circuit and the limiter circuit about the minimum of the voltage of the output side.
  • (A) is a diagram showing a configuration example in which a differential limiter circuit is added
  • (b) is a diagram showing a configuration example in which another differential limiter circuit is added
  • (c) is a configuration in which two differential limiter circuits are added.

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  • Nonlinear Science (AREA)
  • Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)

Abstract

　高周波の水晶振動子を使った発振器において、水晶振動子の励振レベルの要求を満足させ、周波数可変範囲を広くすることができる発振器を実現する。振動子ＳＳを発振させるための発振回路ＣＣを有する発振器に、振動子ＳＳの負荷として、誘導性を有し、かつ、発振振幅を制限する負荷回路であるリミッタ回路ＬＭ１を設ける。このような構成によれば、リミッタ回路ＬＭ１の作用により、水晶振動子の励振レベルの要求を満足させ、かつ、周波数可変範囲を広くすることができる。

Description

発振器
　本発明は発振器に関し、特に振動子を発振させるための発振回路を含む発振器に関する。
　近年、通信の高速化や端末の高速処理化が進み、基準となる発振器の高周波数化が要求されてきている。そして、高周波の水晶振動子を用いた電圧制御水晶発振器においては、水晶振動子の励振レベルを低く抑えることが強く要求されている。
　図１６は、一般的な水晶発振器の構成を示す図である。同図を参照すると、水晶発振器は、水晶振動子ＳＳと、それを発振させるための発振回路部ＣＣとから構成されている。発振回路部ＣＣは、水晶振動子ＳＳに並列に接続された増幅器Ａ及び抵抗Ｒと、増幅器Ａの入力側とグランドとの間に接続された負荷容量素子Ｃａ（容量値ＣCa）と、増幅器Ａの出力側とグランドとの間に接続された負荷容量素子Ｃｂ（容量値ＣCb）とを有している。抵抗Ｒは、帰還抵抗とも呼ばれ、入力と出力のＤＣ動作点を定めるためのものである。
　この構成において、負荷容量素子Ｃａおよび負荷容量素子Ｃｂが可変容量素子であれば、発振周波数を制御することができる。なお、ここでは、増幅器Ａの増幅率をｇｍ、水晶振動子ＳＳの水晶電圧振幅をＶxtalとする。
　図１６の構成を等価回路で表すと、図１７のようになる。同図において、水晶振動子側ＳＳＳは、水晶直列等価容量成分Ｃ１（容量値ＣC1）、水晶直列等価抵抗成分Ｒ１（抵抗値ＲR1）および水晶直列等価誘導性成分Ｌ１(リアクタンス値ＬL1)と、水晶端子間容量Ｃ０（容量値ＣC0）とが並列接続された構成である。一方、発振回路部側ＣＣＳは、抵抗成分Ｒｎ（抵抗値ＲRn）と容量成分ＣＬ（容量値ＣCL）とが直列接続された構成である。抵抗成分Ｒｎはマイナスの値となる負性抵抗成分であり、この負性抵抗成分Ｒｎの抵抗値ＲRnで抵抗成分Ｒ１の抵抗値ＲR1を打消すことにより、周知のＬＣ発振器を構成することができる。
　なお、容量成分ＣＬは、等価回路の発振器等価容量成分である。この容量成分ＣＬの容量値ＣCLと負荷容量素子Ｃａの容量値ＣCa、負荷容量素子Ｃｂの容量値ＣCbとの関係は、式（１）の通りである。
　ＣCL＝（ＣCa×ＣCb）／（ＣCa＋ＣCb）　…（１）
　式（１）によれば、負荷容量素子Ｃａの容量値ＣCaが小さく、かつ、負荷容量素子Ｃｂの容量値ＣCbが小さい場合、発振器等価容量成分ＣＬの容量値ＣCLが小さくなる。
　また、水晶振動子の励振レベルＰは、式（２）のようになる。
　Ｐ＝ＲR1×（ＣCL＋ＣC0）2×（２πｆ）2×Ｖxtal2[Ｗ]  …（２）
　式（２）によると、励振レベルＰは、周波数ｆの２乗に比例する。このため、高周波帯域の水晶振動子を用いた場合には、励振レベルＰが大きな値になってしまう。さらに、回路の発振の余裕を示す負性抵抗Ｒｎの抵抗値ＲRnは式（３）のようになる。
　ＲRn＝　－ｇｍ／｛ＣCa×ＣCb×（２πｆ）2｝　…（３）
　式（３）を参照すると、負性抵抗成分Ｒｎの抵抗値ＲRnは、周波数の２乗に反比例で、周波数ｆが高いほど絶対値が小さくなる。そこで、通常の設計では、負性抵抗を大きくするために増幅率ｇｍを大きくする。増幅率ｇｍを大きくすると、通常、水晶電圧振幅Ｖxtalの振幅が電源レベルまで大きくなってしまうため、水晶振動子の励振レベルＰは大きくなる。励振レベルＰが大きくなると、水晶振動子の寿命が短くなるなどの問題が生じる。
　さらに、電圧制御水晶発振器では、増幅率ｇｍを大きくすると、発振周波数の可変範囲を広くするのが難しい。以下、この点について説明する。
　電圧制御水晶発振器は、例えば、図１８のように構成される。同図においては、負荷容量素子Ｃａおよび負荷容量素子Ｃｂを共に可変容量素子とする。そして、制御電圧によって可変容量素子の容量を制御すれば、周知の電圧制御発振器を構成することができる。すなわち、周波数を下げる場合には容量を増加させ、周波数を上げる場合には容量を減少させる。なお、同図において、負荷容量素子Ｃａ、負荷容量素子Ｃｂには、それぞれ並列に、寄生容量が付加されている（同図中の破線部分）。
　図１８の構成の等価回路は、図１９のようになる。同図において、容量成分ＣＬは等価回路の発振器等価容量成分である。ここで、発振器等価容量成分の容量値ＣCLと発振周波数ｆとの関係は、式（４）のようになる。
　ｆ＝１／２π｛ＬL1×ＣC1×（ＣC0＋ＣCL）／（ＣC0＋ＣC1＋ＣCL）｝1/2…（４）
　わかりやすくする為、発振周波数ｆを比率で表した量をｆＬと表すと、式（５）のようになる。
　ｆＬ＝（ｆ－ｆｓ）／ｆｓ　…（５）
　ここで、式（５）において、周波数ｆｓは水晶振動子ＳＳの直列共振周波数であり、ｆｓ＝１／２π（ＬL1×ＣC1）1/2と表せる。
　式（５）に発振周波数ｆ、直列共振周波数ｆｓを代入し、近似すると、式（６）のようになる。
　ｆＬ　＝　〔１／２π｛ＬL1・ＣC1・（ＣC0＋ＣCL）／（ＣC0＋ＣC1＋ＣCL）｝1/2　－　１／２π（ＬL1・ＣC1）1/2〕／｛１／２π（ＬL1・ＣC1）｝
　　　　＝　　｛ＣC1／（ＣC0＋ＣCL）＋１｝1/2－１
　ここで、多くの場合、ＣC1＜＜（ＣC0＋ＣCL）であるため、
　　　≒１／２・｛ＣC1／（ＣC0＋ＣCL）｝　…（６）
　ここで、周波数可変範囲について、寄生容量などの可変容量以外の容量が大きいときと小さいときを比べてみる。
　図２０は発振器等価容量成分ＣＬの容量値ＣCLに対する発振周波数ｆを比率で表した量ｆＬの変化を示す図である。
　同図を参照すると、発振器等価容量成分ＣＬの可変容量以外の容量について、その値が小さい場合は式（１）により容量値ＣCLも小さいので周波数可変範囲が同図中のΔｆＬ１となり、その値が大きい場合は式（１）により容量値ＣCLも大きいので周波数可変範囲が同図中のΔｆＬ２、となる。つまり、発振器等価容量成分ＣＬの容量値ＣCLの可変幅ΔＣCLが同じであっても、可変容量以外の容量の値の小さい方が、周波数可変範囲が大となる。このため、可変容量以外の容量の値が大であると、周波数可変範囲を広くすることが難しい。
　ところが、高周波帯域では、回路の負性抵抗成分の抵抗値ＲRnを大きくするために、通常、増幅率ｇｍを大きくする。すると、増幅器のサイズを大きくしなければならず、寄生容量が大きくなるため、周波数可変範囲を広く取りにくくなる。
　上記のような高周波における、水晶振動子の励振レベルＰと周波数可変範囲の問題を解決するための構成が開示されている（例えば、特開２００１－３０８６４１号公報を参照。）。この構成について図２１を参照して説明する。
　同図は、水晶電圧振幅Ｖxtalを抑える一般的な方法の一例である。本例は、ダイオードＤ１を接続して水晶電圧振幅Ｖxtalを抑える構成である。同図の構成では、出力端にダイオードＤ１のアノードが接続され、グランドにダイオードＤ１のカソードが接続されている。
　同図の回路構成では、クランプダイオードとして接続されたダイオードＤ１の順方向降下電圧によって水晶電圧振幅Ｖxtalが決まるので、水晶電圧振幅Ｖxtalを低減させることができる。ここで、ダイオードＤ１の順方向降下電圧をＶｆとすると、式（７）のようになる。
　Ｖxtal＝（１／√２）×Ｖｆ　…（７）
　式（２）及び式（７）を参照すると、水晶振動子の励振レベルＰを低減させることができる。なお、ダイオードＤ１の順方向降下電圧Ｖｆは、例えば０．８[Ｖ]である。
　図２１の構成においても、水晶振動子の励振レベルＰは、上記式（２）で表すことができる。しかしながら、図２１の構成では、負荷容量Ｃｂに、ダイオードの接合容量ＣD1（同図中の破線部分）が並列接続されることになり、その分だけ負荷容量が増加してしまうという問題がある。すなわち、水晶振動子の励振レベルＰを振幅の面で改善させることができても、負荷容量の増加により回路の発振器等価容量成分ＣＬが大きくなる分、水晶振動子の励振レベルＰを悪化させてしまうので、励振レベルＰに対する効果が低いという問題がある。
　また、図２０を参照すると、周波数可変範囲については、回路の発振器等価容量成分ＣＬの容量値ＣCLが増加してしまうため、広い可変範囲を得ることが難しくなる。
　本発明は上述した従来技術の問題点を解決するためになされたものであり、その目的は高周波の水晶振動子を使った発振器において、水晶振動子の励振レベルの要求を満足させ、周波数可変範囲を広くすることができる発振器を提供することである。
　本発明による発振器は、振動子を発振させるための発振回路を有する発振器であって、前記振動子の負荷として、誘導性であると同時に発振振幅を制限する負荷回路を備えたことを特徴とする。このような構成によれば、振動子の励振レベルの要求を満足させ、かつ、周波数可変範囲を広くすることができる。
　前記負荷回路は、少なくとも１つの能動素子を含んでいてもよい。少なくとも１つの能動素子を含んでいる場合でも、振動子の励振レベルの要求を満足させ、かつ、周波数可変範囲を広くすることができる。
　なお、例えば、前記能動素子はトランジスタである。また、前記発振振幅の制限は前記トランジスタの閾値電圧によって実現される。さらに、前記負荷回路の出力インピーダンスのリアクタンス成分が正である。このような構成によれば、水晶振動子の励振レベルの要求を満足させ、かつ、周波数可変範囲を広くすることができる。
　前記負荷回路は、前記振動子の少なくとも１つの端子に接続される。振動子の少なくとも１つの端子に負荷回路を接続すれば、電圧変化を規制することができ、水晶振動子の励振レベルの要求を満足させることができる。
　そして、前記負荷回路は、前記振動子に並列に接続される。振動子に並列に負荷回路を接続した場合でも電圧変化を規制することにより、水晶振動子の励振レベルの要求を満足させることができる。
　前記負荷回路は、
　エミッタが前記振動子の端子に接続され、コレクタに第１の所定電圧が供給されるＮＰＮバイポーラトランジスタと、
　第２の所定電圧が一端に供給され、他端が前記ＮＰＮバイポーラトランジスタのベースに接続された抵抗成分と、
　前記ＮＰＮバイポーラトランジスタのエミッタとベースとの間に設けられた容量成分と、
　を有することを特徴とする。この負荷回路を用いることにより、水晶振動子の励振レベルの要求を満足させ、かつ、周波数可変範囲を広くすることができる。
　前記負荷回路は、
　コレクタが前記振動子の端子に接続され、エミッタに第３の所定電圧が供給されるＮＰＮバイポーラトランジスタと、
　前記ＮＰＮバイポーラトランジスタのコレクタとベースとの間に設けられた抵抗成分と、
　前記ＮＰＮバイポーラトランジスタのエミッタとベースとの間に設けられた容量成分と、
　を有することを特徴とする。この負荷回路を用いることにより、水晶振動子の励振レベルの要求を満足させ、かつ、周波数可変範囲を広くすることができる。
　前記負荷回路は、
　エミッタが前記振動子に接続され、コレクタに第１の所定電圧が供給されるＰＮＰバイポーラトランジスタと、
　第２の所定電圧が一端に供給され、他端が前記ＰＮＰバイポーラトランジスタのベースに接続された抵抗成分と、
　前記ＰＮＰバイポーラトランジスタのエミッタとベースとの間に設けられた容量成分と、
　を有していてもよい。この負荷回路を用いることにより、水晶振動子の励振レベルの要求を満足させ、かつ、周波数可変範囲を広くすることができる。
　前記負荷回路は、
　コレクタが前記振動子に接続され、エミッタに第３の電圧が供給されるＰＮＰバイポーラトランジスタと、
　前記ＰＮＰバイポーラトランジスタのコレクタとベースとの間に設けられた抵抗成分と、
　前記ＰＮＰバイポーラトランジスタのエミッタとベースとの間に設けられた容量成分と、
　を有していてもよい。この負荷回路を用いることにより、水晶振動子の励振レベルの要求を満足させ、かつ、周波数可変範囲を広くすることができる。
　前記負荷回路は、
　ドレインが前記振動子に接続され、ソースに第４の所定電圧が供給されるＭＯＳトランジスタと、
　前記ＭＯＳトランジスタのドレインとゲートとの間に設けられた抵抗成分と、
　前記ＭＯＳトランジスタのソースとゲートとの間に設けられた容量成分と、
　を有することを特徴とする。前記ＭＯＳトランジスタは、Ｎ型ＭＯＳトランジスタであってもよい。また、前記ＭＯＳトランジスタは、Ｐ型ＭＯＳトランジスタであってもよい。この負荷回路を用いることにより、水晶振動子の励振レベルの要求を満足させ、かつ、周波数可変範囲を広くすることができる。
　前記負荷回路は、
　ソースが前記振動子に接続され、ドレインに第５の所定電圧が供給されるＭＯＳトランジスタと、
　第６の所定電圧が一端に供給され、他端が前記ＭＯＳトランジスタのゲートに接続された抵抗成分と、
　前記ＭＯＳトランジスタのソースとゲートとの間に設けられた容量成分と、
　を有することを特徴とする。前記ＭＯＳトランジスタは、Ｎ型ＭＯＳトランジスタであってもよい。また、前記ＭＯＳトランジスタは、Ｐ型ＭＯＳトランジスタであってもよい。この負荷回路を用いることにより、水晶振動子の励振レベルの要求を満足させ、かつ、周波数可変範囲を広くすることができる。
　前記負荷回路として、上述した負荷回路を２つ組み合わせて設けてもよい。２つの負荷回路を組み合わせて設けることにより、電圧変化の上限および下限を規制し、水晶振動子の励振レベルの要求を満足させることができる。
　本発明によれば、誘導性を有し、かつ、発振振幅を制限する回路を、振動子の負荷として、備えることにより、水晶振動子の励振レベルの要求を満足させ、かつ、周波数可変範囲を広くすることができる。
　以下、本発明の実施の形態を、図面を参照して説明する。なお、以下の説明において参照する各図では、他の図と同等部分は同一符号によって示されている。
（第１の実施形態）
　図１は、本発明の実施形態による発振器の構成を示す回路図である。同図において、本実施形態による発振器は、水晶振動子ＳＳおよびそれを発振させるための発振回路部ＣＣからなる発振器の負荷回路として、リミッタ回路ＬＭ１が接続された構成になっている。
　以下は、水晶振動子の場合について説明するが、振動子は水晶振動子に限らず、ＳＡＷ振動子、セラミック振動子などでもよい。
　ここで、図１におけるリミッタ回路ＬＭ１に着眼すると、水晶振動子の片方の端子から、発振に起因する電流がリミッタ回路ＬＭ１を通り、電圧源（電圧値ＶＨ）を介して再び水晶振動子の反対側の片方の端子に戻るかたちになっているので、リミッタ回路ＬＭ１は水晶振動子の負荷である。
　リミッタ回路ＬＭ１は、Ｎ型ＭＯＳトランジスタ１と、そのゲート端子Ｇとドレイン端子Ｄとの間に接続された抵抗素子Ｒｘ（抵抗値ＲRx）と、そのゲート端子Ｇとソース端子Ｓとの間に接続された容量素子Ｃｘ（容量値ＣCx）とから構成され、Ｎ型ＭＯＳトランジスタ１のドレイン端子Ｄが増幅器Ａの出力端子に接続されている。なお、Ｎ型ＭＯＳトランジスタ１のソース端子Ｓには、電圧値ＶHの電圧源が接続されている。
　ここで、増幅器Ａの出力端子の電圧Ｖｂは、リミッタ回路ＬＭ１によってＮ型ＭＯＳトランジスタ１のゲート電圧の閾値電圧値を越えたところで、電圧クリップされる。すなわち、図２のように、電圧Ｖｂは、電圧源の電圧値ＶHにＮ型ＭＯＳトランジスタ１の閾値電圧値ＶTを加えた電圧値で、クリップされる。
　ここで、増幅器の入力端子の電圧Vａは出力端子の電圧Ｖｂのおよそ逆位相で同じレベルの電圧になっているため、水晶電圧振幅Ｖxtalは、式（８）のようになる。
　Ｖxtal＝（１／√２）×（ＶT＋ＶH）　…（８）
　したがって、電圧源の電圧値ＶHを調整することによって、水晶電圧振幅Ｖxtalを調整することができる。つまり、Ｎ型ＭＯＳトランジスタ１のソース端子Ｓに供給される電圧値ＶHを調整すれば、水晶電圧振幅Ｖxtalを抑制することができる。
　一方、水晶振動子の励振レベルについて調べるため、図１の構成の等価回路を描くと、図３のようになる。同図において、図１中のリミッタ回路ＬＭ１の部分はインダクタンスＬｘとして表現することができる。このインダクタンスＬｘの値ＬLxは、Ｎ型ＭＯＳトランジスタ１の増幅率をｇｍｘとすると、
　ＬLx＝（ｇｍｘ・ＲRx－１）・ＣCx／｛ｇｍｘ2＋（２πｆ）2・ＣCx 2｝　…（９）
である。このインダクタンスＬｘの値ＬLxと負荷容量素子Ｃｂの容量値ＣCbとの並列回路を容量Ｃｂ'とする。
　ここで、インダクタンスＬLxと角周波数２πｆとの積であるリアクタンス２πｆＬLx値が正であるとき、インダクタンスＬｘはコイルと等価に見える。すなわち、リミッタ回路ＬＭ１がもつリアクタンスが誘導性となる。式（９）において、リミッタ回路ＬＭ１がもつリアクタンスを誘導性にするための条件は、ＲRX＞（１／ｇｍｘ）である。
　さらに、本回路の等価容量について調べるため、負荷容量素子Ｃｂ及びリミッタ回路ＬＭ１の等価回路部分（図３中の破線部分）を変形すると、図４のようになる。すなわち、図３中の破線部分に相当する図４（ａ）の回路構成は、同図（ｂ）のように、負荷容量素子Ｃｂと負荷容量素子ＣLx（容量値は－１／ＬLx（２πｆ）2）との並列回路に置き換えることができる。さらに、同図（ｂ）の回路は、同図（ｃ）のように変形することができる。
　なお、同図（ｃ）において、負荷容量素子Ｃｂ'の容量値ＣCb'は、
　ＣCb'＝ＣCb－｛１／ＬLx（２πｆ）2｝　…（１０）
である。つまり、負荷容量素子Ｃｂに対して並列にインダクタンスＬｘが挿入された形となるため、実質的に、負荷容量素子Ｃｂの容量値ＣCbよりも少ない値の容量値ＣCb'に見えることになる。
　これを踏まえて発振器等価容量成分ＣＬ'の容量値をあらわすと、図５のようになる。同図において、発振器等価容量成分ＣＬ'の容量値ＣCL'は、
　ＣCL'＝（ＣCa×ＣCb'）／（ＣCa＋ＣCb'）   …（１１）
である。このため、小さな容量値の発振器等価容量成分ＣＬ'を得ることができる。
　また、水晶振動子の励振レベルＰは、式（１２）のようになる。
　Ｐ＝ＲR1×（ＣCL'＋ＣC0）2×（２πｆ）2×Ｖxtal'2[Ｗ]  …（１２）
　よって、図１の回路構成によれば、水晶電圧振幅Ｖxtalの抑制と、発振器等価容量成分ＣＬの低減とを行うことができるため、励振レベルＰを抑制することができる。
　さらに、発振器等価容量成分ＣＬが低減されるため、周波数可変範囲は、図６のようになる。
　図６は発振器等価容量成分ＣＬ'の容量値ＣCL'に対する発振周波数ｆを比率で表した量ｆＬの変化を示す図である。
　同図を参照すると、リミッタ回路が付加されていない場合の回路構成においては、同図中の範囲６Ａで発振器等価容量成分が変化し、周波数可変範囲はΔｆＬ１の範囲となる。一方、図１のようにリミッタ回路ＬＭ１が付加されている場合の回路構成においては、同図中の範囲６Ｂで発振器等価容量成分ＣＬ'の容量値ＣCL'が変化し、周波数可変範囲はΔｆＬ２の範囲となり、容量値ＣCL'の可変幅ΔＣCL'が同じであっても、ΔｆＬ１の範囲よりも広くなる。したがって、リミッタ回路ＬＭ１が付加されることにより、周波数可変範囲を広げることができる。
　よって、本実施形態によれば、高周波の水晶発振子ＳＳを使った発振器において、水晶振動子の励振レベルの要求を満足させ、周波数可変範囲を広くすることができる。
（第２の実施形態）
　図７は、本発明の第２の実施形態による発振器の構成を示す回路図である。上述した第１の実施形態は上方向のリミッタ回路（つまり、増幅器Ａの出力端子に接続した時に、その出力端子における電圧変化の上限を規制する回路）を付加した構成であるのに対し、本実施形態では下方向のリミッタ回路（つまり、増幅器Ａの出力端子に接続した時に、その出力端子における電圧変化の下限を規制する回路）を更に付加した構成を採用している。
　すなわち、同図において、上方向のリミッタ回路ＬＭ１、および、下方向のリミッタ回路ＬＭ２が発振器の負荷として接続されている。本例のリミッタ回路ＬＭ２は、Ｎ型ＭＯＳトランジスタ２と、そのゲート端子Ｇとソース端子Ｓとの間に接続された容量素子Ｃｘ２と、そのゲート端子Ｇに接続された抵抗素子Ｒｘ２と、から構成され、Ｎ型ＭＯＳトランジスタ２のソース端子Ｓが増幅器Ａの出力端子に接続されている。そして、Ｎ型ＭＯＳトランジスタ２のゲート端子Ｇに接続された抵抗素子Ｒｘ２の他端には、電圧値ＶLの電圧源が接続されている。
　このように、上下両方向のリミッタ回路が接続されているため、増幅器の出力側の電圧Ｖｂの振幅は、リミッタ回路ＬＭ１およびＬＭ２によってＮ型ＭＯＳトランジスタ１及び２のゲート電圧の閾値を越えたところで、電圧クリップされる。すなわち、図８のように、電圧Ｖｂは、電圧源の電圧値ＶHにＮ型ＭＯＳトランジスタ１の閾値電圧値ＶTを加えた電圧値で上限がクリップされると共に、電圧源の電圧値ＶLからＮ型ＭＯＳトランジスタ２の閾値電圧値ＶTを減じた電圧値で下限がクリップされる。
　この場合、水晶電圧振幅Ｖxtalは式（１３）のようになる。
　Ｖxtal＝（１／√２）×｛（ＶH＋ＶT）－（ＶL－ＶT）｝　…（１３）
　ここで、電圧値ＶLおよび電圧値ＶHは任意に設定することができ、後者は零ボルトでもよい。よって、Ｎ型ＭＯＳトランジスタ１のソース端子Ｓに供給される電圧値ＶH、抵抗素子Ｒｘ２を介してＮ型ＭＯＳトランジスタ２のゲート端子Ｇに供給される電圧値ＶLを調節することにより、水晶電圧振幅Ｖxtalのさらなる低減が可能になる。
　ところで、図７において、リミッタ回路ＬＭ１、ＬＭ２は、共に、能動素子である、Ｎ型ＭＯＳトランジスタを用いて構成されているが、Ｐ型ＭＯＳトランジスタを用いて構成することもできる。すなわち、図９（ａ）はＰ型ＭＯＳトランジスタを用いて構成した下方向のリミッタ回路ＬＭ２であり、同図（ｂ）はＰ型ＭＯＳトランジスタを用いて構成した上方向のリミッタ回路ＬＭ１である。これらを、発振器の出力端に接続すれば、水晶振動子の電圧振幅の下限および上限を抑制することができる。
　また、他の能動素子である、バイポーラトランジスタを用いて、リミッタ回路を構成してもよい。同図（ｃ）はＮＰＮ型バイポーラトランジスタを用いて構成した上方向のリミッタ回路ＬＭ１であり、同図（ｄ）はＮＰＮ型バイポーラトランジスタを用いて構成した下方向のリミッタ回路ＬＭ２である。これらを、発振器の出力端に接続すれば、水晶振動子の電圧振幅の上限および下限を抑制することができる。
　同図（ｅ）はＰＮＰ型バイポーラトランジスタを用いて構成した下方向のリミッタ回路ＬＭ２であり、同図（ｆ）はＰＮＰ型バイポーラトランジスタを用いて構成した上方向のリミッタ回路ＬＭ１である。これらを、発振器の出力端に接続すれば、水晶振動子の電圧振幅の下限および上限を抑制することができる。
　尚、上述した第２の実施形態は上方向のリミッタ回路ＬＭ１、および、下方向のリミッタ回路ＬＭ２を付加した構成であるのに対し、電圧Ｖｂの下限のみをクリップする場合は、下方向のリミッタ回路ＬＭ２のみを設けた構成を採用してもよい。このとき、水晶電圧振幅Ｖxtalは、式（１４）のようになる。
　Ｖxtal＝（１／√２）×（ＶＬ－ＶT）　…（１４）
　ここで、電圧値ＶＬは任意に設定することができる。よって、抵抗素子Ｒｘ２を介してＮ型ＭＯＳトランジスタ２のゲート端子Ｇに供給される電圧値ＶLを調節することにより、水晶電圧振幅Ｖxtalのさらなる低減が可能になる。
　ここで、同図（ｄ）において、ＮＰＮ型バイポーラトランジスタのベースは抵抗素子Ｒｘを介して電圧源（電圧値ＶＨ）に接続され、コレクタは正電源に接続されているが、コレクタを正電源に接続する代わりに電圧源（電圧値ＶＨ）に接続してもよい。
　同様に、同図（ｆ）において、ＰＮＰ型バイポーラトランジスタのベースは抵抗素子Ｒｘを介して電圧源（電圧値ＶＨ）に接続され、コレクタは接地されているが、コレクタを接地する代わりに電圧源（電圧値ＶＨ）に接続してもよい。
　同様に、同図（ｂ）において、Ｐ型ＭＯＳトランジスタのゲートは抵抗素子Ｒｘを介して電圧源（電圧値ＶＨ）に接続され、ドレインは接地されているが、ドレインを接地する代わりに電圧源（電圧値ＶＨ）に接続してもよい。
　同様に、図７において、リミッタ回路ＬＭ２のＮ型ＭＯＳトランジスタ２のゲートは抵抗素子Ｒｘ２を介して電圧源（電圧値ＶＬ）に接続され、ドレインは正電源に接続されているが、ドレインを正電源に接続する代わりに電圧源（電圧値ＶＬ）に接続してもよい。
（第３の実施形態）
　ところで、リミッタ回路を水晶振動子の端子間に配置することもできる。例えば、図１０のように、上方向のリミッタ回路として、差動リミッタ回路Ｌ３を水晶振動子ＳＳの端子間に接続してもよい。ただし、Ｎ型ＭＯＳトランジスタ１のドレイン端子の電位は、電流源Ｉｓによってソース端子よりも高くなるように直流バイアスする必要がある。発振中の電圧ＶａおよびＶｂの関係は、電圧Ｖａが上昇しようとすると電圧Ｖｂが下降し、逆にＶａが下降しようとすると電圧Ｖｂが上昇しようとする動作を繰返すようになっている。電圧Ｖａが下降し、電圧Ｖｂが上昇しようとするときに、電圧Ｖｂ－ＶａがＮ型ＭＯＳトランジスタの閾値電圧値ＶTを超えると、トランジスタに電流が流れるため、電圧Ｖａ－Ｖｂは閾値電圧値ＶTなる電圧で制限されるので、リミッタ回路ＬＭ３が設けられていない場合に比べ、水晶電圧振幅Ｖxtalを小さくすることができる。
　また、下方向のリミッタ回路として、図１１（ａ）のような差動リミッタ回路Ｌ４を設けてもよい。同図（ａ）の回路構成においても、発振中の電圧ＶａおよびＶｂの関係は、電圧Ｖａが上昇しようとすると電圧Ｖｂが下降し、逆にＶａが下降しようとすると電圧Ｖｂが上昇しようとする動作を繰返すようになっている。電圧Ｖａが上昇し、電圧Ｖｂが下降しようとするときに、電圧Ｖａ－ＶｂがＮ型ＭＯＳトランジスタの閾値電圧値ＶTを超えると、トランジスタに電流が流れるため、電圧Ｖｂ－Ｖａは閾値電圧値ＶTなる電圧で制限されるので、リミッタ回路ＬＭ４が設けられていない場合に比べ、水晶電圧振幅Ｖxtalを小さくすることができる。
　さらに、同図（ｂ）のように、２つの差動リミッタ回路Ｌ３、Ｌ４を設けてもよい。ただし、その場合には、直流カット用のキャパシターＣｃｕｔを設ける必要がある。
　このように、上下両方向のリミッタ回路が接続されているため、増幅器の出力側の電圧Ｖｂの振幅は、差動リミッタ回路ＬＭ３およびＬＭ４によってＮ型ＭＯＳトランジスタ１のゲート電圧の閾値を越えたところで、電圧クリップされる。すなわち、電圧Ｖｂ－Ｖａがリミッタ回路ＬＭ３のＮ型ＭＯＳトランジスタの閾値電圧値ＶTを超えようとすると、Ｎ型ＭＯＳトランジスタに電流が流れ、閾値電圧値ＶTで電圧がクリップされる。また、電圧Ｖａ－Ｖｂがリミッタ回路ＬＭ４のＮ型ＭＯＳトランジスタの閾値電圧値ＶTを超えようとすると、Ｎ型ＭＯＳトランジスタに電流が流れ、閾値電圧値ＶTで電圧がクリップされる。したがって、図１０および図１１（ａ）の場合よりも、水晶電圧振幅Ｖxtalの更なる低減が可能である。
　この場合、水晶電圧振幅Ｖxtalは式（１５）のようになる。
　Ｖxtal＝（１／√２）×２ＶT  …（１５）
　尚、図１０、および、図１１（ａ）（ｂ）において、Ｎ型ＭＯＳトランジスタ１を用いてリミッタ回路を構成したが、図１２（ａ）（ｂ）（ｃ）のように、Ｐ型ＭＯＳトランジスタ、ＮＰＮ型バイポーラトランジスタ、または、ＰＮＰ型バイポーラトランジスタを用いて、リミッタ回路を構成してもよい。バイポーラトランジスタを用いてリミッタ回路を構成した場合は、そのベース端子とコレクタ端子との間に抵抗素子Ｒｘを接続し、そのベース端子とエミッタ端子との間に容量素子Ｃｘを接続する。
（リミッタ回路の配置）
　ところで、以上説明したリミッタ回路は、どの位置に設けてもよい。すなわち、図１３のように増幅器Ａの入力側の位置、増幅器Ａの出力側の位置、のどこに配置した場合でも、水晶電圧振幅Ｖxtalを抑制する効果が生じる。同図において、「上」は電圧の上限についてのリミッタ回路を示し、「下」は電圧の下限についてのリミッタ回路を示している。
　増幅器Ａの入力側の電圧の上限についてのリミッタ回路ＬＭ５を備えると、通常、増幅器Ａの出力側の電圧の下限も抑制される。また、増幅器Ａの入力側の電圧の下限についてのリミッタ回路ＬＭ６を備えると、通常、増幅器Ａの出力側の電圧の上限も抑制される。
　したがって、図１４（ａ）のように、増幅器Ａの入力側の電圧の上限についてのリミッタ回路ＬＭ５と、増幅器Ａの出力側の電圧の上限についてのリミッタ回路ＬＭ１とを設けた構成を採用してもよい。
　また、同図（ｂ）のように、増幅器Ａの入力側の電圧の下限についてのリミッタ回路ＬＭ６と、増幅器Ａの出力側の電圧の下限についてのリミッタ回路ＬＭ２とを設けた構成を採用してもよい。
　さらに、水晶振動子ＳＳと並列の位置にリミッタ回路を追加してもよい。すなわち、図１５（ａ）のように図１０と同様の差動リミッタ回路ＬＭ３を追加してもよいし、同図（ｂ）のように図１１（ａ）と同様の差動リミッタ回路ＬＭ４を追加してもよい。また、同図（ｃ）のように、図１１（ｂ）と同様の差動リミッタ回路ＬＭ３およびＬＭ４を追加してもよい。ここで、差動リミッタ回路ＬＭ３およびＬＭ４の接続の向きは、図１０、図１１（ａ）、図１１（ｂ）と同様である。
　尚、複数のリミッタ回路を設けた構成を採用する場合であって、ＣＭＯＳプロセスでバイポーラトランジスタを製造するときは、同種のバイポーラトランジスタのみを製造する方が工程数が少なくてすむという点で好ましい。すなわち、電圧の上限及び下限についてのリミッタ回路を共にＮＰＮ型バイポーラトランジスタを含むリミッタ回路の組合せ（図９（ｄ）、図９（ｃ））とするか、共にＰＮＰ型バイポーラトランジスタを含むリミッタ回路の組合せ（図９（ｆ）、図９（ｅ））とするのが、工程数が少なくてすむという点で好ましい。
　また、上述した実施形態では、抵抗成分、容量成分として抵抗素子、容量素子を設けたが、寄生抵抗、寄生容量であっても良い。抵抗素子、容量素子を設けずに寄生抵抗、寄生容量によって抵抗成分、容量成分を実現した場合でも、水晶振動子の励振レベルの要求を満足させ、かつ、周波数可変範囲を広くすることができる。
　また、水晶振動子を発振させるための発振回路部と上述したリミッタ回路とを一体に集積化しても良く、同一基板上に集積化しても良い。さらに、水晶振動子も加えて一体に集積化しても良く、同一基板上に集積化しても良い。
（まとめ）
　以上説明したように、本発明によれば、誘導性を有し、かつ、発振振幅を制限する回路を、振動子の負荷として、備えることにより、水晶振動子の励振レベルの要求を満足させ、かつ、周波数可変範囲を広くすることができる
　本発明は、振動子を発振させるための発振回路を含む発振器に利用することができる。
本発明の第１の実施形態による発振器の構成を示す回路図である。 図１中の出力端子の電圧の変化を示す図である。 図１の構成の等価回路を示す図である。 図３中の破線部分の等価回路を示す図である。 図３の構成の等価回路を示す図である。 図１の構成のおける周波数可変範囲を示す図である。 本発明の第２の実施形態による発振器の構成を示す回路図である。 図７中の出力端子の電圧の変化を示す図である。 （ａ）はＰ型ＭＯＳトランジスタを用いて構成したリミッタ回路を示す図、同図（ｂ）はＰ型ＭＯＳトランジスタを用いて構成したリミッタ回路を示す図、同図（ｃ）はＮＰＮ型バイポーラトランジスタを用いて構成したリミッタ回路を示す図、同図（ｄ）はＮＰＮ型バイポーラトランジスタを用いて構成したリミッタ回路を示す図、同図（ｅ）はＰＮＰ型バイポーラトランジスタを用いて構成したリミッタ回路を示す図、同図（ｆ）はＰＮＰ型バイポーラトランジスタを用いて構成したリミッタ回路を示す図である。 差動リミッタ回路を配置した発振器の構成例を示す図である。 （ａ）は別の差動リミッタ回路を配置した発振器の構成例を示す図、（ｂ）は２つの差動リミッタ回路を配置した発振器の構成例を示す図である。 は別の差動リミッタ回路を配置した発振器の構成例を示す図であり、（ａ）はＰ型ＭＯＳトランジスタを、（ｂ）はＮＰＮ型バイポーラトランジスタを、（ｃ）はＰＮＰ型バイポーラトランジスタを、それぞれ用いて攻勢したリミッタ回路の構成例を示す図である。 リミッタ回路の配置の例を示す図である。 （ａ）は増幅器の入力側の電圧の上限についてのリミッタ回路と出力側の電圧の上限についてのリミッタ回路とを設けた構成を示す図、（ｂ）は増幅器の入力側の電圧の下限についてのリミッタ回路と出力側の電圧の下限についてのリミッタ回路とを設けた構成を示す図である。 （ａ）は差動リミッタ回路を追加した構成例を示す図、（ｂ）は他の差動リミッタ回路を追加した構成例を示す図、（ｃ）は２つの差動リミッタ回路を追加した構成例を示す図である。 一般的な水晶発振器の構成例を示す図である。 図１６の構成の等価回路を示す図である。 周波数制御水晶発振器の構成例を示す図である。 図１８の構成の等価回路を示す図である。 発振器等価容量に対する発振周波数の変化を示す図である。 水晶電圧振幅を抑える一般的な方法の一例を示す図である。
符号の説明
１、２　Ｎ型ＭＯＳトランジスタ
Ａ　増幅器
Ｃａ、Ｃｂ　負荷容量素子
ＣＣ　発振回路部
Ｃｃｕｔ　キャパシター
ＣＬ　発振器等価容量成分
Ｃｘ、Ｃｘ２　容量素子
Ｄ１　ダイオード
Ｉｓ　電流源
ＬＭ１、ＬＭ２、ＬＭ５、ＬＭ６　リミッタ回路
ＬＭ３、ＬＭ４　差動リミッタ回路
Ｒｘ、Ｒｘ２　抵抗素子
ＳＳ　水晶振動子

Claims (20)

  1. 　振動子を発振させるための発振回路を有する発振器であって、前記振動子の負荷として、誘導性であると同時に発振振幅を制限する負荷回路を備えたことを特徴とする発振器。
  2. 　前記負荷回路は、少なくとも１つの能動素子を含むことを特徴とする請求項１に記載の発振器。
  3. 　前記能動素子はトランジスタであることを特徴とする請求項２に記載の発振器。
  4. 　前記発振振幅の制限は前記トランジスタの閾値電圧によって実現されることを特徴とする請求項３に記載の発振器。
  5. 　前記負荷回路の出力インピーダンスのリアクタンス成分が正であることを特徴とする請求項１に記載の発振器。
  6. 　前記負荷回路は、前記振動子の少なくとも１つの端子に接続されることを特徴とする請求項１に記載の発振器。
  7. 　前記負荷回路は、前記振動子に並列に接続されることを特徴とする請求項１に記載の発振器。
  8. 　前記負荷回路は、
    　エミッタが前記振動子の端子に接続され、コレクタに第１の所定電圧が供給されるＮＰＮバイポーラトランジスタと、
    　第２の所定電圧が一端に供給され、他端が前記ＮＰＮバイポーラトランジスタのベースに接続された抵抗成分と、
    　前記ＮＰＮバイポーラトランジスタのエミッタとベースとの間に設けられた容量成分と、
    　を有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の発振器。
  9. 　前記負荷回路は、
    　コレクタが前記振動子の端子に接続され、エミッタに第３の所定電圧が供給されるＮＰＮバイポーラトランジスタと、
    　前記ＮＰＮバイポーラトランジスタのコレクタとベースとの間に設けられた抵抗成分と、
    　前記ＮＰＮバイポーラトランジスタのエミッタとベースとの間に設けられた容量成分と、
    　を有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の発振器。
  10. 　前記負荷回路は、
    　エミッタが前記振動子に接続され、コレクタに第１の所定電圧が供給されるＰＮＰバイポーラトランジスタと、
    　第２の所定電圧が一端に供給され、他端が前記ＰＮＰバイポーラトランジスタのベースに接続された抵抗成分と、
    　前記ＰＮＰバイポーラトランジスタのエミッタとベースとの間に設けられた容量成分と、
    　を有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の発振器。
  11. 　前記負荷回路は、
    　コレクタが前記振動子に接続され、エミッタに第３の電圧が供給されるＰＮＰバイポーラトランジスタと、
    　前記ＰＮＰバイポーラトランジスタのコレクタとベースとの間に設けられた抵抗成分と、
    　前記ＰＮＰバイポーラトランジスタのエミッタとベースとの間に設けられた容量成分と、
    　を有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の発振器。
  12. 　前記負荷回路は、
    　ドレインが前記振動子に接続され、ソースに第４の所定電圧が供給されるＭＯＳトランジスタと、
    　前記ＭＯＳトランジスタのドレインとゲートとの間に設けられた抵抗成分と、
    　前記ＭＯＳトランジスタのソースとゲートとの間に設けられた容量成分と、
    　を有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の発振器。
  13. 　前記ＭＯＳトランジスタは、Ｎ型ＭＯＳトランジスタであることを特徴とする請求項１２に記載の発振器。
  14. 　前記ＭＯＳトランジスタは、Ｐ型ＭＯＳトランジスタであることを特徴とする請求項１２に記載の発振器。
  15. 　前記負荷回路は、
    　ソースが前記振動子に接続され、ドレインに第５の所定電圧が供給されるＭＯＳトランジスタと、
    　第６の所定電圧が一端に供給され、他端が前記ＭＯＳトランジスタのゲートに接続された抵抗成分と、
    　前記ＭＯＳトランジスタのソースとゲートとの間に設けられた容量成分と、
    　を有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の発振器。
  16. 　前記ＭＯＳトランジスタは、Ｎ型ＭＯＳトランジスタであることを特徴とする請求項１５に記載の発振器。
  17. 　前記ＭＯＳトランジスタは、Ｐ型ＭＯＳトランジスタであることを特徴とする請求項１５に記載の発振器。
  18. 　前記負荷回路として、請求項９の負荷回路および請求項１０の負荷回路および請求項１３および請求項１７のうちの少なくとも１つと、請求項８の負荷回路および請求項１１の負荷回路および請求項１４および請求項１６の負荷回路のうちの少なくとも１つとを備えたことを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の発振器。
  19. 　前記負荷回路として、請求項８の負荷回路と請求項９の負荷回路とを備えたことを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の発振器。
  20. 　前記負荷回路として、請求項１０の負荷回路と請求項１１の負荷回路とを備えたことを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の発振器。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8629730B2 (en) 2009-12-22 2014-01-14 Asahi Kasei Microdevices Corporation Oscillator

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9024710B2 (en) * 2012-07-27 2015-05-05 Lsi Corporation Low-voltage active inductor
US8854147B2 (en) * 2012-10-12 2014-10-07 Google Inc. Crystal oscillator with electrostatic discharge (ESD) compliant drive level limiter
CN106374870B (zh) * 2016-08-31 2019-03-05 兆讯恒达微电子技术(北京)有限公司 晶体振荡器
US10574181B2 (en) * 2018-05-17 2020-02-25 Microsoft Technology Licensing, Llc Circuit with shunt path
US10951166B1 (en) 2020-01-10 2021-03-16 Dialog Semiconductor B.V. Crystal oscillator with fast start-up
US10965250B1 (en) * 2020-01-10 2021-03-30 Dialog Semiconductor B.V. Switched capacitor crystal oscillator

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0353706A (ja) * 1989-07-21 1991-03-07 Nec Corp 発振回路
JPH053418A (ja) * 1991-06-25 1993-01-08 Mitsubishi Electric Corp 移相器
JP2000216633A (ja) * 1999-01-21 2000-08-04 Toyo Commun Equip Co Ltd 電圧制御型水晶発振器
JP2001308641A (ja) 2000-04-21 2001-11-02 Toyo Commun Equip Co Ltd 圧電発振器
JP2005136961A (ja) * 2003-09-17 2005-05-26 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 水晶発振回路

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3025476A (en) * 1958-06-02 1962-03-13 Gen Electric Crystal controlled high frequency transistor oscillator
JPS5513590A (en) * 1978-07-14 1980-01-30 Sanyo Electric Co Ltd Crystal oscillator circuit
JPS5564406A (en) * 1978-11-07 1980-05-15 Sanyo Electric Co Ltd Crystal oscillation circuit
JPS5781707A (en) 1980-11-10 1982-05-21 Nec Corp Piezoelectric oscillator
JPS6229304A (ja) * 1985-07-31 1987-02-07 Nec Corp 水晶発振回路
JPH04267607A (ja) * 1991-02-21 1992-09-24 Nippon Steel Corp 発振用駆動回路
JPH0846427A (ja) * 1994-07-29 1996-02-16 Kyocera Corp 電圧制御型水晶発振器
US6025765A (en) * 1998-04-08 2000-02-15 Nortel Networks Corporation Gyrator with loop amplifiers connected to inductive elements
JP2001016039A (ja) * 1999-06-30 2001-01-19 Kinseki Ltd 可変周波数発振回路
US6836189B2 (en) * 2001-01-31 2004-12-28 Bentley N. Scott RF choke bias scheme for load pulled oscillators
JP2003037479A (ja) * 2001-07-24 2003-02-07 Japan Science & Technology Corp アクティブインダクタ回路及びｌｃ発振回路
JP2005051350A (ja) 2003-07-30 2005-02-24 Seiko Epson Corp 逓倍発振回路及びこれを使用した無線通信装置
US6956442B2 (en) * 2003-09-11 2005-10-18 Xilinx, Inc. Ring oscillator with peaking stages
US7504899B2 (en) * 2004-03-22 2009-03-17 Mobius Microsystems, Inc. Inductor and capacitor-based clock generator and timing/frequency reference

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0353706A (ja) * 1989-07-21 1991-03-07 Nec Corp 発振回路
JPH053418A (ja) * 1991-06-25 1993-01-08 Mitsubishi Electric Corp 移相器
JP2000216633A (ja) * 1999-01-21 2000-08-04 Toyo Commun Equip Co Ltd 電圧制御型水晶発振器
JP2001308641A (ja) 2000-04-21 2001-11-02 Toyo Commun Equip Co Ltd 圧電発振器
JP2005136961A (ja) * 2003-09-17 2005-05-26 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 水晶発振回路

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP2251973A4 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8629730B2 (en) 2009-12-22 2014-01-14 Asahi Kasei Microdevices Corporation Oscillator

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