WO2008015842A1 - Procédé permettant de produire un moule - Google Patents

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WO2008015842A1
WO2008015842A1 PCT/JP2007/061760 JP2007061760W WO2008015842A1 WO 2008015842 A1 WO2008015842 A1 WO 2008015842A1 JP 2007061760 W JP2007061760 W JP 2007061760W WO 2008015842 A1 WO2008015842 A1 WO 2008015842A1
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mold
group
pattern
fluoropolymer
polymer
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PCT/JP2007/061760
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English (en)
French (fr)
Inventor
Yasuhide Kawaguchi
Akihiko Asakawa
Fumiko Nonaka
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Asahi Glass Company, Limited
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Publication date
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    • B29K2027/00—Use of polyvinylhalogenides or derivatives thereof as moulding material
    • B29K2027/12—Use of polyvinylhalogenides or derivatives thereof as moulding material containing fluorine

Definitions

  • the present invention relates to a mold manufacturing method.
  • a method for forming a fine pattern light is applied to a photocurable resin while a mold having a pattern obtained by inverting a desired fine pattern is pressed against a film made of a liquid photocurable resin.
  • a method of forming a desired fine pattern by irradiating and curing a photocurable resin is known as a V-like nanoimprint method (see Patent Documents 1 to 3).
  • Patent Document 4 a method has been proposed in which a fine pattern is continuously formed using a cylindrical mold in which a film containing a fluoropolymer or the like having a pattern formed on a surface is wound around a cylinder.
  • Patent Document 1 Special Table 2005-515617
  • Patent Document 2 JP 2005-288803 A
  • Patent Document 3 International Publication No. 2003Z084727 Pamphlet
  • Patent Document 4 Japanese Patent Laid-Open No. 2006-037057
  • Patent Document 5 US Patent Application Publication No. 2006Z0021533
  • the present invention provides a method capable of producing a cylindrical or columnar mold without a seam in a pattern layer containing a fluoropolymer.
  • the present invention has the following gist.
  • the mold precursor is rotated with the outer peripheral surface of the mold precursor pressed against the surface of the heated original mold having a reversal pattern corresponding to the pattern of the pattern layer, and the reversal pattern of the original mold Transferring a film to a film containing a fluoropolymer to form a pattern layer;
  • a method for producing a mold comprising:
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of a mold obtained by the production method of the present invention.
  • FIG. 2 is an enlarged view showing a layer structure of the mold in FIG.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view showing an example of a mold precursor obtained in the middle of mold production.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view showing one step in the method for producing a mold of the present invention.
  • FIG. 5 is an enlarged view showing a state where a mold precursor is pressed against an original mold.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view showing an example of a fine pattern forming method.
  • FIG. 7 is a front view showing an original mold used in Examples.
  • Support substrate 52 Film made of photo-curing resin
  • the compound represented by the formula (1) is referred to as a compound (1).
  • a (meth) atallyloyl group means an attalyloyl group and Z or a methacryloyl group
  • (meth) acrylate means acrylate and z or metatalylate
  • (meth) acrylic acid means acrylic Means acid and Z or methacrylic acid.
  • FIG. 1 is a sectional view showing an example of a mold obtained by the production method of the present invention
  • FIG. 2 is an enlarged view showing a layer structure.
  • the mold 10 has a cylindrical base 12 and a pattern layer 16 containing a fluorine-containing polymer and having a pattern 14 formed on the surface thereof.
  • the mold 10 may have an antistatic layer 18 provided between the base 12 and the pattern layer 16 as shown in FIGS. 1 and 2; the base 12 and the antistatic layer. 1 may have a first primer layer 20 provided between them; and may have a second primer layer 22 provided between the antistatic layer 18 and the pattern layer 16. Yo ...
  • the shape of the substrate is cylindrical or columnar.
  • Examples of the base material include the following materials.
  • Glass quartz glass, borosilicate glass, etc.
  • Carbon compound silicon carbide, black glassy carbon compound, graphite.
  • Metal Nickel, copper, etc.
  • Cellulose material paper, etc.
  • Polyester polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate, etc .;
  • polybulal alcohol acrylic resin, polyamide, polyimide, cellophane, polycarbonate, soft chloride resin, hard chloride resin, fluorine resin Fats, silicone fat, etc.
  • the material of the base material is preferably glass, fluorine resin, PET, silicone resin, attali, which is preferably 65% or more when the transmittance of ultraviolet light at a wavelength of around 365 nm is 100 ⁇ m. Lubricating oil and the like. When a base material that is opaque to ultraviolet rays is used, the support substrate on the side to be processed to be described later is limited to a material that is transparent to ultraviolet rays.
  • glass As the material for the substrate, glass, PET, acrylic resin, and polyimide are particularly preferable because of good adhesion to other layers.
  • the thickness of the substrate is preferably 20 to 5000 111, more preferably 100 to 1000 111.
  • the substrate a substrate that has been subjected to surface treatment such as plasma treatment, corona discharge, ultraviolet irradiation, vacuum ultraviolet irradiation, electron beam irradiation, ultraviolet ozone treatment, or ion irradiation may be used.
  • surface treatment such as plasma treatment, corona discharge, ultraviolet irradiation, vacuum ultraviolet irradiation, electron beam irradiation, ultraviolet ozone treatment, or ion irradiation may be used.
  • the first primer layer can be omitted.
  • the convex portions in the concavo-convex structure are long ridges extending on the surface of the pattern layer, or protrusions scattered on the surface of the pattern layer.
  • the concave portions in the concavo-convex structure are long grooves extending on the surface of the pattern layer or holes scattered on the surface of the pattern layer.
  • Examples of the shape of the ridge or groove include a straight line, a curved line, a bent shape, and the like.
  • a plurality of ridges or grooves may be present in parallel to form a stripe.
  • Examples of the cross-sectional shape of the ridge or groove in the direction perpendicular to the longitudinal direction include a rectangle, a trapezoid, a triangle, and a semicircle.
  • Examples of the shape of the protrusion or hole include a triangular prism, a quadrangular prism, a hexagonal prism, a cylinder, a triangular pyramid, a quadrangular pyramid, a hexagonal pyramid, a conical hemisphere, and a polyhedron.
  • the average width of the ridges or grooves is preferably from lnm to 500 ⁇ m, more preferably from 10 nm to 300 ⁇ m, 50 ⁇ ! ⁇ 400nm force feature is preferred.
  • the width of the ridge means the length of the base in the cross section in the direction perpendicular to the longitudinal direction.
  • the width of the groove means the length of the upper side in the cross section in the direction orthogonal to the longitudinal direction.
  • the average width of protrusions or holes is preferably lnm to 500 m, more preferably 10 nm to 300 m, and 50 ⁇ ! ⁇ 400 nm is particularly preferred.
  • the width of the protrusion is the length when the bottom is elongated. It means the length of the base in the cross section perpendicular to the direction, otherwise it means the maximum length of the bottom of the protrusion.
  • the width of the hole means the length of the upper side in the cross section perpendicular to the longitudinal direction when the opening is elongated, and means the maximum length at the opening of the hole otherwise.
  • the height of the convex portion is preferably 10 nm to 300 m force S, preferably lnm to 500 m on average, and most preferably 50 nm to 400 nm, particularly preferably 10 ⁇ to 10 / ⁇ .
  • the depth of the recess is preferably 10 nm to 300 m force S, preferably lnm to 500 m on average, and most preferably 50 nm to 400 nm, particularly preferably 10 ⁇ to 10 / ⁇ .
  • the distance between adjacent convex portions is preferably lnm to 500m on average, and 10nm to 300m force is particularly preferable.
  • the distance between adjacent convex portions means the distance from the end of the bottom of the cross section of the convex portion to the start of the bottom of the cross section of the adjacent convex portion.
  • the distance between adjacent concave portions means the distance from the end of the upper side of the cross section of the concave portion to the start end of the upper side of the cross section of the adjacent concave portion.
  • the minimum dimension of the convex portion is preferably 1 nm to 500 m or less, particularly preferably 50 nm to 500 nm.
  • the minimum dimension means the minimum dimension among the width, length, and height of the convex portion.
  • the minimum dimension of the recess is preferably 1 nm to 500 m or less, particularly preferably 50 nm to 500 nm.
  • the minimum dimension means the minimum dimension among the width, length and depth of the recess.
  • the thickness of the non-turn layer is preferably more than the height of the highest convex part.
  • the pattern layer is a layer containing a fluoropolymer.
  • a water contact angle of a film containing 35% by mass or more of fluorine in 100% by mass of a fluorine-containing resin and having a fluorine-containing polymer force is 80 because of excellent releasability.
  • Polymers that are above are preferred.
  • the contact angle of water is measured using a contact angle meter for a coating film that also has a fluoropolymer power.
  • fluorine-containing polymer examples include the following polymers.
  • Tetrafluoroethylene Z perfluoro (alkyl butyl ether) copolymer Tetrafluoroethylene Z ethylene copolymer
  • Tetrafluoroethylene Z-hexafluoropropylene copolymer Vinylidene fluoride ztetrafluoroethylene zhexafluoropropylene copolymer, fluorine-containing cyclic polymer,
  • Fluorinated polyether polymer etc.
  • fluorine-containing polymer a fluorine-containing cyclic polymer or a fluorine-containing polyether-based polymer is preferable because it has excellent transmittance and durability with respect to light having a wavelength of 200 to 500 nm. Is more preferable.
  • the fluorine-containing cyclic polymer is a fluorine-containing polymer having a fluorine-containing aliphatic ring structure in the main chain, and at least one of carbon atoms constituting the ring of the fluorine-containing aliphatic ring is the fluorine-containing polymer. It is a polymer that is a carbon atom constituting the main chain. The carbon atom of the main chain is derived from two carbon atoms of the polymerizable double bond of the cyclic monomer constituting the fluorine-containing polymer, or a gen-based single atom having two polymerizable double bonds.
  • a fluorinated polymer obtained by cyclopolymerizing a monomer it is derived from 4 carbon atoms of 2 polymerizable double bonds.
  • the atoms constituting the fluorinated aliphatic ring may contain oxygen atoms, nitrogen atoms, etc. in addition to carbon atoms.
  • the fluorine-containing aliphatic ring is preferably a fluorine-containing aliphatic ring having 1 to 2 oxygen atoms.
  • the number of atoms constituting the fluorinated aliphatic ring is preferably 4 to 7.
  • a buyl group, a allyl group, and a (meth) taroloyl group are preferable.
  • Examples of the fluorinated cyclic polymer include a homopolymer or copolymer of a cyclic monomer, a homopolymer or copolymer obtained by cyclopolymerizing a gen-based monomer, and the like.
  • the cyclic monomer is a monomer having a polymerizable double bond between carbon atoms constituting the fluorine-containing aliphatic ring, or a carbon atom constituting the fluorine-containing aliphatic ring and a fluorine atom outside the fluorine-containing aliphatic ring. It is a monomer having a polymerizable double bond with a carbon atom.
  • the gen-based monomer is a monomer having two polymerizable double bonds.
  • the cyclic monomer and the gen-based monomer are monomers having fluorine atoms, and are bonded to carbon atoms with respect to the total number of hydrogen atoms bonded to carbon atoms and fluorine atoms bonded to carbon atoms.
  • a monomer having a ratio of the number of fluorine atoms of 80% or more is preferable, and a perfluoromonomer having the ratio S of 100% is more preferable.
  • the cyclic monomer and the gen-based monomer are 1 to 4 fluorine atoms of the perfluoromonomer. It may be a perhalopolyfluoro monomer in which one piece is replaced by chlorine. Perfluoromonomers or perhalopolyfluoromonomers are also preferred as monomers to be copolymerized with cyclic or gen-based monomers! /.
  • the compound (1) or the compound (2) is preferable.
  • X 11 , X 12 , R 11 and R 12 are each independently a fluorine atom, a perfluoroalkyl group having 1 to 4 carbon atoms or a perfluoroalkoxy group having 1 to 4 carbon atoms. Indicates a group.
  • the X 1 1, fluorine atom is preferable.
  • X 21 and X 22 each independently represent a fluorine atom or a C 1-7 perfluoroalkyl group.
  • X 21 and X 22 are preferably a fluorine atom or a trifluoromethyl group.
  • compound (1) include compounds (11) to (13).
  • compound (2) include compounds (2-1) to (2-2).
  • the compound (3) is preferred.
  • Q shows the C1-C3 perfluoro alkylene group which may have an etheric oxygen atom.
  • the etheric oxygen atom in the perfluoroalkylene group may be present at both ends of the group. May be present between the carbon atoms of the group. From the viewpoint of cyclopolymerizability, it is preferably present at one end of the group.
  • a polymer having repeating units of the following formulas (3-1) to (3-3) is obtained by cyclopolymerization of the compound (3).
  • Examples of the gen-based monomer include the following compounds.
  • the fluorine-containing cyclic polymer preferably contains 20 mol% or more of repeating units having a fluorine-containing aliphatic ring structure, and contains 40 mol% or more. It is particularly preferable that only the repeating unit having a fluorine-containing aliphatic cyclic structure is more preferable.
  • the repeating unit having a fluorinated alicyclic structure is a repeating unit formed by polymerization of a cyclic monomer and a repeating unit formed by cyclopolymerization of a gen-based monomer. It is a repeat unit.
  • the fluorinated alkylene polymer is a fluorinated polymer obtained by polymerizing a compound having a polyfluoroalkylene chain and a polymerizable group.
  • polyfluoroalkylene chain a polyfluoroalkylene group having 2 to 24 carbon atoms is preferred.
  • the polyfluoroalkylene group may have a functional group which may contain a cycloalkylene group.
  • a buyl group an allyl group, a (meth) ataryloyl group, an epoxy group, a dioxetane group, a cyano group, an isocyanate group, or a hydrolyzable silyl group represented by the following formula (4) is preferable.
  • M 1 is a group that is converted into a hydroxyl group by a hydrolysis reaction.
  • the group include a halogen atom, an alkoxy group, and an acyloxy group.
  • a halogen atom a chlorine atom is preferable.
  • the alkoxy group is preferably a methoxy group or an ethoxy group, and more preferably a methoxy group.
  • M 1 is more preferably a methoxy group, preferably an alkoxy group.
  • M 2 is a monovalent hydrocarbon group.
  • examples of M 2 include an alkyl group, an alkyl group substituted with one or more aryl groups, an alkyl group, an alkyl group, a cycloalkyl group, an aryl group, etc., and an alkyl group or an alkyl group is I like it!
  • a is an integer of 1 to 3, and 3 is preferable.
  • b is 0 or an integer of 1 to 3, and 0 is preferable.
  • Examples of the compound having a polyfluoroalkylene chain and a polymerizable group include the following compounds.
  • CH C (CH) COOCH (CF) F
  • CH CHCOOCH CF CF H
  • Cy F represents perfluoro (1,4-cyclohexylene group).
  • the fluorine-containing polyether polymer is a fluorine-containing polymer obtained by polymerizing a compound having a perfluoro (polyoxyalkylene) chain and a polymerizable group (hereinafter, compound (f) and! ⁇ ⁇ ). .
  • Perfluoro (polyoxyalkylene) chains are (CFCFO) units, (CFCF (CF) O)
  • Perfluoro (oxyalkylene) unit power is also preferred (CFCFO) units, (C
  • F CF (CF) O) unit or (CF CF CF O) unit is more preferable.
  • the number of perfluoro (oxyalkylene) units contained in the compound (f) is preferably an integer of 2 to 200, more preferably an integer of 5 to 50, because the release property and hardness of the fluoropolymer are high. preferable.
  • the polymerizable group is preferably a bur group, a allyl group, a (meth) taroloyl group, an epoxy group, a dioxetane group, a cyano group, an isocyanate group, or a hydrolyzable silyl group represented by the above formula (4). More preferred are (meth) atalyloyl groups.
  • the number of polymerizable groups contained in the compound (f) is preferably an integer of 1 to 4 from the viewpoint of excellent polymerizability, and an integer of 2 to 4 is more preferable from the viewpoint of excellent hardness of the fluoropolymer. 3 Is particularly preferably 4. When using 2 or more types of compounds (f) together, the average number of polymerizable groups is preferably 1 to 3.
  • the compound (f) is more preferably a compound (fl) that is preferably the compounds (fl) to (f4).
  • yl, y2, y3 and y4 each independently represents an integer of 1 to: L00, preferably an integer of 5 to 50.
  • g2, g3 and g4 each independently represents an integer of 1 to L00.
  • al, a2, a3 and a4 each independently represents an integer of 1 to 4, and an integer of 2 to 4 is preferred, and 3 or 4 is particularly preferred.
  • Y 1 represents an al-valent linking group
  • Y 2 is showed a2 valent linking group
  • Y 3 represents an a3 valent linking group
  • Y 4 represents a a4 valent linking group.
  • al, a2, a3 and a4 have the same meaning as described above.
  • Examples of ⁇ to ⁇ 4 of the divalent linking group include —CF CF and the like.
  • Examples of the trivalent linking group ⁇ to ⁇ 4 include the following linking groups.
  • Z 3 and Z 4 each independently represent a group represented by the following formula (5), and W is preferred.
  • c and d each independently represent 0 or 1 to: an integer of LOO, and 0 is preferred.
  • W represents a group represented by the following formulas (5-1) to (5-5).
  • hl, h2, h3, h4 and h5 each independently represent 0 or an integer of 1 to 10.
  • QQ 2 , Q 3 and Q 4 each independently represents a single bond, COO or —NHCOO —.
  • Q 1 is a single bond
  • Q 2 is a single bond
  • Q 3 is a single bond
  • Q 4 is a single bond
  • Q 5 represents an etheric oxygen atom or COO.
  • fluorine-containing polymer it is bonded to carbon atoms relative to the total number of hydrogen atoms bonded to carbon atoms and fluorine atoms bonded to carbon atoms from the viewpoint of excellent releasability.
  • Amorphous or non-crystalline perfluoropolymer (F) is preferred because perfluoropolymer (F) having a ratio of the number of fluorine atoms of 100% is preferable for coating properties.
  • the perfluorinated polymer (F) can be produced, for example, by polymerizing the above-mentioned perfluoro monomer in the presence of a polymerization initiator.
  • the fluoropolymer may be a perfluoropolymer (F1) having a reactive functional group or the perfluoropolymer (F1) from the viewpoint of adhesion to other layers. Particularly preferred is a mixture of F1) and the perfluoropolymer (F2) described below.
  • the contact angle of water of the perfluoropolymer (F1) or the mixture is preferably 80 ° or more and less than 105 °.
  • Examples of the reactive functional group include a carboxy group, a sulfonic acid group, a group having an ester bond, a hydroxyl group, an amino group, a cyano group, and an isocyanate group, and a carboxy group is preferred.
  • a perfluoropolymer (F1) having a carboxy group the perfluoropolymer (F) having a functional group derived from a polymerization initiator or the like as a terminal group is heated in an oxygen atmosphere, and then immersed in water. It can be produced by converting the functional group into a carboxy group.
  • the fluorine-containing polymer is a fluorinated reactive functional group obtained by treating the perfluoropolymer (F1) with fluorine gas because of its excellent releasability.
  • Perfluoropolymer (F2) is particularly preferred.
  • the water contact angle of the perfluoropolymer (F2) is preferably 105 ° or more! /.
  • the antistatic layer is a layer containing a conductive compound. If the antistatic layer has excellent adhesion to the substrate or pattern layer! /, It can also serve as a primer layer.
  • the surface resistance of the conductive compound itself is preferably 10 8 ⁇ / mouth or less, more preferably 10 6 ⁇ / mouth or less.
  • the surface resistance of the antistatic layer is preferably 10 U QZ or less, more preferably 10 9 ⁇ 5 ⁇ or less.
  • the surface resistance of the pattern layer provided on the antistatic layer is preferably 10 16 ⁇ or less, more preferably 10 13 ⁇ or less.
  • Examples of the conductive compound include the following compounds.
  • Metal oxides Niobium-doped tin oxide, phosphorus-doped tin oxide, antimony-doped tin oxide (ATO), indium oxide, tin-doped indium oxide (ITO), zinc oxide, aluminum-doped acid oxide ⁇ Zinc, indium-doped acid ⁇ zinc, zinc antimonate, antimony pentoxide, etc.
  • Conductive polymer Aliphatic conjugated polyacetylene, aromatic conjugated poly (paraphenylene), heterocyclic conjugated polypyrrole, polythiophene, heteroatom-containing poly-line, mixed conjugated type Poly (Phen-Lambylene) etc.
  • Conductive carbon materials carbon powder (carbon nanotube, carbon black, ketchen black, acetylene black, etc.), carbon fiber (polyacrylonitrile carbon fiber, pitch carbon fiber, etc.), carbon of expanded graphite pulverized product Flakes etc.
  • Metal materials Powders of metals (aluminum, copper, gold, silver, nickel, chromium, iron, molybdenum, titanium, tungsten, tantalum, etc.) or alloys containing the metals, metal flakes, metal fibers (iron, copper, stainless steel) , Silver-plated copper, brass, etc.).
  • the conductive compound from the viewpoint of adhesion to other layers, from the viewpoint of the transmittance of ultraviolet light around 365 nm, which is preferable for metal oxides or conductive polymers, polythiophene or ITO is more preferred.
  • the content of doped heteroatom to the metal oxide 01 to 30 Monore 0/0 Power preferably 0.
  • the metal Sani ⁇ (100 mol%) good from 0.1 to 10 Monore 0/0 force Ms./ !.
  • the content of the conductive compound is more preferably 50 to LOO% by mass in the antistatic layer (100% by mass), from the viewpoint of antistatic property that 30 to LOO% by mass is preferable.
  • the thickness of an antistatic layer is 20 to: LOOOnm is preferred 30 to 300 nm is more preferred, and 40 to 200 mn force is particularly preferred! / ⁇ .
  • Examples of the material for the first primer layer include an adhesive, a silane coupling agent, and a resin material containing silicon atoms.
  • adhesive visible light curable resin, epoxy adhesive, acrylic adhesive or From the viewpoint of low curing shrinkage and high transparency that are preferred by urethane adhesives, an adhesive containing cyanoacrylate or epoxy resin is preferred.
  • silane coupling agent examples include the following silane coupling agents.
  • Silane coupling agents having amino groups 3-Aminopropyltriethoxysilane, 3-Aminopropylmethyljetoxysilane, N— (2 aminoethyl) 3 Aminopropyltrimethoxysilane, N— (2 aminoethyl) 3 Amaminopropylmethyldimethoxysilane and the like.
  • Silane coupling agent having an oxyl group 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane
  • Trichlorosilane silane coupling agent vinyltrichlorosilane and the like.
  • Silane coupling agents having other functional groups such as vinyl group, acryloyloxy group, methacryloyloxy group, epoxy group, styryl group, fluoroalkyl group, mercapto group, isocyanate group, ureido group).
  • silane coupling agent a silane coupling agent having an amino group, a silane coupling agent having an oxyl group, and a silane coupling agent of trichlorosilane are preferable.
  • the resin material containing a silicon atom include a modified acrylic silicone resin, a resin containing a silsesquioxane skeleton, and the like.
  • the thickness of the first primer layer is preferably 0.02 to 25 ⁇ m force, more preferably 0.03 to 15 ⁇ m force ⁇ .
  • Examples of the material for the second primer layer include a fluorine-containing polymer having a reactive functional group, a fluorine-containing cyclic polymer having a reactive functional group, and a fluorine-containing alkylene-based polymer having a reactive functional group.
  • a fluorine-containing polyether polymer having a polymer or a reactive functional group is preferred.
  • the perfluoropolymer (F1) having the above-mentioned reactive functional group is particularly preferred.
  • fluorine-containing polymer having a reactive functional group a fluorine-containing polymer having units derived from the compounds (6-1) to (6-2); the terminal group derived from the polymerization initiator was changed to a carboxy group.
  • examples thereof include fluorine-containing polymers.
  • the thickness of the second primer layer is preferably 0.03 to 5 ⁇ m, more preferably 0.01 to 1 ⁇ m.
  • the method for producing a mold of the present invention corresponds to a step of forming a film containing a fluoropolymer so as to cover the outer peripheral surface side of a cylindrical or columnar base material to obtain a mold precursor, and a pattern of a pattern layer.
  • the mold precursor is rotated while the outer periphery of the mold precursor is pressed against the surface of the heated original mold having the reversal pattern to be transferred, and the reversal pattern of the original mold is transferred to the film containing the fluoropolymer.
  • Examples of the method for producing the mold of the present invention include a method having the following steps (i) to (V).
  • a first primer layer is formed by applying a solution containing the material of the first primer layer to the outer peripheral surface of the substrate and drying the coating film.
  • Examples of the coating method include a casting method, a spin coating method, a spray coating method, a potting method, and a bar coating method.
  • drying method examples include a heat drying method, a warm air drying method, a vacuum drying method, and a method of drying by leaving in an air stream.
  • An antistatic agent is applied to the surface of the first primer layer, and the antistatic layer is formed by drying the coating film.
  • Examples of the coating method include the same methods as in step (i).
  • drying method examples include the same methods as in step (i).
  • the curable resin is cured by heating or irradiation with ultraviolet rays after the coating film is dried.
  • ultraviolet irradiation ultra-high pressure mercury lamps, high-pressure mercury lamps, low-pressure mercury lamps, carbon arcs, xenon arcs, metal nitride lamps, etc. are used.
  • a laminating method, a casting method, or the like may be used instead of the coating method.
  • Examples of the antistatic agent include those containing a conductive compound, a dispersant and a solvent.
  • a commercially available antistatic agent may be used as the antistatic agent.
  • examples of commercially available antistatic agents include Cossol manufactured by Inscontech, MU-003 manufactured by Muromachi Technos.
  • Examples of the conductive compound include the above-mentioned compounds.
  • the concentration of the conductive compound is preferably 0.4 to 5% by mass from the viewpoint of dispersibility and antistatic property, preferably 0.1 to 10% by mass of the antistatic agent (100% by mass).
  • a dispersant having a eron group is preferable.
  • the terionic group include a group having an acidic proton such as a carboxy group, a sulfonic acid group (sulfo group), a phosphoric acid group (phosphono group), a sulfonamide group, or a salt thereof.
  • Group, Carboxylic acid groups and phosphoric acid groups, which are preferably phosphoric acid groups or salts thereof, are particularly preferred.
  • the average number of key-on groups contained in the dispersant is 1 or more per molecule, and an average of 2 or more per molecule is preferred because the dispersibility of the conductive compound is further improved. An average of 5 or more is more preferable, and an average of 10 or more is particularly preferable.
  • Examples of the dispersant having a ionic group include phosphanol (PE-510, PE-610, LB-400, EC-6103, RE-410, etc.) manufactured by Toho Chemical Industry Co., Ltd. Disperbyk (—110, —111, —116, —140, —161, —162, —163, —164, —164, —170, —171, etc.), Alonix M5300, manufactured by Toagosei Co., Ltd. KAYAMER (PM-21, PM-2, etc.) manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.
  • the dispersant preferably further has a crosslinkable or polymerizable functional group.
  • the crosslinkable or polymerizable functional group include an ethylenically unsaturated group capable of undergoing a crosslinking reaction or a polymerization reaction by a radical (eg, an allyloyl group, a methacryloyl group, an aryl group, a styryl group, or a buroxy group), a cation.
  • Examples thereof include a polymerizable group (epoxy group, oxatanyl group, buoxy group, etc.), a polycondensation reactive group (hydrolyzable silyl group, N-methylol group, etc.), and an ethylenically unsaturated group is preferred.
  • a polymerizable group epoxy group, oxatanyl group, buoxy group, etc.
  • a polycondensation reactive group hydrolyzable silyl group, N-methylol group, etc.
  • an ethylenically unsaturated group is preferred.
  • an oligomer or a polymer having a terionic group and a crosslinkable or polymerizable functional group and having the crosslinkable or polymerizable functional group in the side chain is particularly preferable.
  • the mass average molecular weight (Mw) of the oligomer or polymer is preferably 1000 or more, more preferably from 2000 to 100,000 force S, more preferably from 5000 to 200,000 force S, more preferably from 1000 to 100,000 force! / ⁇ .
  • the addition amount of the dispersant is preferably 1 to 50 parts by mass, more preferably 5 to 30 parts by mass, and particularly preferably 5 to 20 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the conductive compound.
  • One dispersant may be used alone, or two or more dispersants may be used in combination.
  • the solvent is preferably a liquid having a boiling point of 60 to 170 ° C.
  • Solvents include ethanol, isopropanol, toluene, xylene, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, butanol, ethanol, isopropanol, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, or Of these, a mixed solvent of at least one kind and water is particularly preferable.
  • the antistatic agent may further contain a binder from the viewpoint of adhesion to the substrate and mechanical strength.
  • a binder examples include non-curable thermoplastic resins; curable resins such as thermosetting resins and photocurable resins, and photocurable resins are particularly preferred from the viewpoint of adhesion. Good.
  • the soft temperature or glass transition point of the noinder is preferably 50 ° C or higher, more preferably 70 ° C or higher, and particularly preferably 100 ° C or higher.
  • photocurable resin one containing a polyfunctional monomer having two or more photopolymerizable groups in one molecule is preferred, and having three or more photopolymerizable groups in one molecule. Those containing polyfunctional monomers are more preferred.
  • Examples of the photopolymerizable group include a polymerizable group such as an epoxy group, a (meth) atallyloyl group, a bur group, a styryl group, an aryl group, and the like, and a (meth) atalyloyl group is preferred.
  • a polymerizable group such as an epoxy group, a (meth) atallyloyl group, a bur group, a styryl group, an aryl group, and the like, and a (meth) atalyloyl group is preferred.
  • Examples of the photocurable resin include the following monomers.
  • Pentaerythritol di (meth) acrylate Pentaerythritol di (meth) acrylate.
  • the photocurable resin preferably contains a photopolymerization initiator.
  • the photopolymerization initiator is particularly preferably a photoradical polymerization initiator, which is preferably a photoradical polymerization initiator or a photopower thione polymerization initiator.
  • the antistatic agent is prepared by dispersing a conductive compound in a solvent in the presence of a dispersant.
  • disperser When dispersing the conductive compound in the solvent, it is preferable to use a disperser.
  • dispersing machines include sand grinder mills (bead mills with pins), dyno mills, high speed impeller mills, Eiger mills, pebble mills, roller mills, attritors, colloid mills, sand grinder mills, dyno mills, etc.
  • the media disperser is particularly preferred.
  • a preliminary dispersion treatment Prior to dispersing the conductive compound in the solvent, a preliminary dispersion treatment may be performed.
  • the disperser used for the preliminary dispersion treatment include a ball mill, a three-roll mill, a kneader, and an etastruder.
  • a second primer layer is formed by applying a solution obtained by dissolving a fluoropolymer having a reactive functional group in a solvent to the surface of the antistatic layer and drying the coating film.
  • the solvent examples include fluorine-containing solvents such as perfluorotributylamine, pentafluorobenzene, hexafluorometaxylene, and hydrated fluoroether.
  • Examples of the coating method include the same methods as in step (i).
  • drying method examples include the same method as in step (i).
  • the drying temperature is preferably 40 to 200 ° C.
  • a film 32 containing a fluoropolymer is formed on the surface of the second primer layer 22 by applying a solution obtained by dissolving the fluoropolymer in a solvent and drying the coating film.
  • a mold precursor 30 is obtained.
  • Examples of the solvent include the solvents exemplified in the step (iii).
  • Examples of the coating method include the same methods as in step (i).
  • drying method examples include the same method as in step (i).
  • the drying temperature is the same temperature as in step (iii).
  • a photocurable or thermosetting fluoromonomer may be used instead of a solution in which a fluoropolymer is dissolved in a solvent.
  • the surface of the film 32 containing the fluoropolymer is subjected to plasma treatment, corona discharge, ultraviolet irradiation, vacuum ultraviolet irradiation, electron beam irradiation, ultraviolet ozone.
  • plasma treatment corona discharge, ultraviolet irradiation, vacuum ultraviolet irradiation, electron beam irradiation, ultraviolet ozone.
  • Surface treatment such as treatment or ion irradiation may be performed.
  • the mold precursor 30 is rotated in a state where the outer peripheral surface of the mold precursor 30 is pressed against the surface of the heated original mold 40, and as shown in FIG.
  • the inversion pattern 42 is transferred to the film 32 containing the fluoropolymer to form the pattern layer 16 to obtain the mold 10 as shown in FIGS.
  • Examples of the material of the original mold 40 include silicon, glass, metal, and resin.
  • Methods for forming the reversal pattern 42 on the original mold 40 include photolithography, electron beam lithography, X-ray lithography, cutting, laser beam processing, ultrasonic processing, self-organization method using anodic acid, etc. Is mentioned.
  • the pressing pressure (gauge pressure) when the original mold 40 is pressed against the film 32 containing the fluoropolymer is preferably 0 to: LOMPa or less.
  • Examples of the method for forming a fine pattern using the mold obtained by the production method of the present invention include the following methods.
  • a film 52 made of a liquid photocurable resin formed on a belt-like support substrate 50 moving in a fixed direction and a cylindrical or columnar mold 10 are connected to the support substrate 50.
  • the mold 10 is continuously contacted while rotating the mold 10 in synchronization with the moving speed of the mold 10 and the pattern layer 16 of the mold 10 is pressed against the film 52 made of photocurable resin, or the mold 10 is photocurable.
  • the photocurable resin is irradiated with light from the light source 70 to cure the photocurable resin and reverse the pattern (not shown) of the pattern layer 16 (not shown).
  • Abbreviation ).
  • Examples of the method (b) include the following methods.
  • a liquid photocurable resin is supplied to the surface of the pattern layer of the cylindrical or columnar mold, and the moving speed of the support substrate is changed between the belt-shaped support substrate that moves in a certain direction and the cylindrical or columnar mold.
  • the cylindrical or columnar mold is rotated continuously in synchronization with the photocurable resin, and the photocurable resin is transferred to the support substrate at the same time as or after the transfer.
  • a method of forming a desired fine pattern by irradiating the light and curing the photocurable resin.
  • the photocurable resin is cured by irradiating the mold side force photocurable resin with light.
  • the photocurable resin may be irradiated with light from the support substrate side. Further, curing by heating may be used in combination.
  • a high pressure mercury lamp or the like is used as a light source for light irradiation.
  • As the light ultraviolet rays or visible rays are used.
  • Examples of the shape of the support substrate include films or sheets, plates, cylinders, columns, and the like.
  • Examples of the material for the supporting substrate include resin, glass, metal, and cellulose material.
  • Examples of the photocurable resin include known photocurable resins that can be cured by visible light or ultraviolet light.
  • Examples of articles on which a fine pattern is formed using the mold of the present invention include the following articles.
  • Optical element Micro lens array, optical waveguide, optical switching, Fresnel zone plate, wire grid, wavelength filter, polarizing plate, noinary element, blazed element, photo-titanium crystal, antireflection film, antireflection film, etc. .
  • Chips Biochips, TAS (Micro—Total Analysis Systems) chips, microreactor chips, etc.
  • Recording media optical disc, etc.
  • Energy-related Fuel cells, 3D batteries, capacitors, Peltier devices, solar cells, etc.
  • Semiconductor-related MEMS (Micro-Electoro-Mechanical-System), semiconductor devices, etc.
  • Catalyst carrier for example: Catalyst carrier, filter, sensor member, super water-repellent material, etc.
  • the reverse pattern of the original mold is used as the fluorine-containing film. Since the pattern layer is formed by transferring to the film containing the coalescence, a cylindrical or columnar mold having no seam can be manufactured on the pattern layer containing the fluoropolymer. Also, if an antistatic layer is formed on the substrate before forming the film containing the fluoropolymer (the layer that will later become the pattern layer), foreign matter such as dust adheres to the film containing the fluoropolymer. Without this, defects derived from foreign matter will not occur in the pattern layer.
  • the surface resistance was measured at an applied voltage of 1000 V using a surface resistance meter (Neillesta MCP-HTP16, manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.).
  • the contact angle of water was measured using a contact angle meter (CA-X150, manufactured by Kyowa Interface Science Co., Ltd.) by applying approximately 20 L of water droplets.
  • polymer A which is a perfluoropolymer (F) was obtained.
  • the intrinsic viscosity [ ⁇ ] of the polymer A was 0.34 dLZg in perfluoro (2-butyltetrahydrofuran) at 30 ° C.
  • Polymer A was heated in a hot air circulation oven at 300 ° C for 1 hour in an air atmosphere, and then immersed in ultrapure water at 110 ° C for 1 week to remove the functional group at the molecular end. After the treatment, the polymer was dried in a vacuum dryer at 100 ° C. for 24 hours to obtain a polymer A1 as a perfluoropolymer (F1). A peak attributed to the carboxy group was confirmed in the IR ⁇ vector of the polymer A1. The light transmittance at a wavelength of 400 to 2000 nm was 95% or more at a thickness of 100 ⁇ m. The fluorine content of the polymer A1 was 67% by mass in the polymer A1 (100% by mass). The water contact angle of the film made of the polymer A1 was 101 °.
  • an antistatic agent for coating by diluting an antistatic agent (CO-SOL F-205, manufactured by TA Chemical Co., Ltd.) 5 times with a mixed solvent of water Z isopropanol (1Z7 mass ratio).
  • the antistatic agent is applied to the outer peripheral surface of an acrylic resin pipe (thickness: 1.8 mm, diameter: 30 mm, length: 150 mm) by spray coating for 1 minute while rotating the pipe at a speed of 120 rpm. And drying with a dryer to form an antistatic layer.
  • the surface resistance of the antistatic layer is 10 9 ⁇ / mouth.
  • Polymer A1 is dissolved in perfluorotributylamine to prepare a 1% by mass solution of polymer A1, and this solution is added to a polytetrafluoroethylene (PTFE) membrane film having a pore size of 0.2 m. Filter with a filter. The solution is applied to the surface of the antistatic layer by spray coating for 1 minute while rotating the pipe at a speed of 120 rpm, and dried with a drier to form a second primer layer.
  • PTFE polytetrafluoroethylene
  • the polymer A2 is dissolved in perfluorotributylamine to prepare a 5 mass% solution of the polymer A2, and the solution is filtered through a PTFE membrane filter having a pore diameter of 0.2 m.
  • the solution is applied to the surface of the second primer layer by spray coating for 2 minutes while rotating the pipe at a speed of 120 rpm, and dried with a dryer.
  • the surface of the membrane made of polymer A2 stops flowing, put Neuve in a dryer and dry at 140 ° C for 2 hours to obtain a cylindrical mold precursor.
  • the total thickness of the antistatic layer, the second primer layer and the polymer A2 film is about 1 m.
  • the mold precursor is pressed at a rotational speed of lr pm with the outer periphery of the mold precursor pressed against the surface of the original mold at a pressure of about l.OMPa. Then, a pattern in which the ridges of the original mold are inverted is formed on the film made of the mold precursor polymer A2 to obtain a cylindrical mold Ml having a seamless pattern layer.
  • the surface resistance of the pattern layer is 10 13 ⁇ well.
  • the photocurable resin is supplied to the easy-adhesion surface of a PET film (Toyobo Co., Ltd., A4100, thickness 100 / zm) having a length of 25 cm and a width of 12 cm using a die coater. A film consisting of is formed.
  • a PET film Toyobo Co., Ltd., A4100, thickness 100 / zm
  • the chamber While rotating the mold Ml at the rotation speed of lrpm, the chamber is placed in the film made of photocurable resin. Under pressure, at a pressure of about 0. IMPa, the UV light from the light source (illuminance at a wavelength of 365 nm: 252 mWZcm 2 ) was applied to the photocurable resin from the PET film side to apply the photocurable resin. A fine pattern is formed on the PET film by curing and inverting the pattern of the pattern layer.
  • the mold obtained by the production method of the present invention is useful as a mold used in the nanoimprint method. It can also be used as a mold used for molding a photocurable resin, a mold used for printing such as screen printing and gravure printing, and a 2P molding method.

Landscapes

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Description

モールドの製造方法
技術分野
[0001] 本発明は、モールドの製造方法に関する。
背景技術
[0002] 微細パターンを形成する方法としては、液状の光硬化性榭脂からなる膜に、所望の 微細パターンを反転したパターンを有するモールドを押しあてた状態で、光硬化性 榭脂に光を照射し、光硬化性榭脂を硬化させ、所望の微細パターンを形成する方法 、 Vヽゎゆるナノインプリント法が知られて 、る（特許文献 1〜3参照)。
最近では、表面にパターンが形成された、含フッ素重合体等を含むフィルムをシリ ンダに巻き付けた円筒状モールドを用いて微細パターンを連続的に形成する方法が 提案されて ヽる (特許文献 4、 5)。
[0003] しかし、前記円筒状モールドにおいては、巻き付けられたフィルムの始端と終端との 間に、継ぎ目が生じてしまう。そのため、（i)継ぎ目部分およびその前後にパターンを 形成できず、継ぎ目部分およびその前後を微細パターンの形成に利用されないため 、微細パターンの形成効率が低下する問題および (ii)微細パターンとともに継ぎ目に 由来する凹凸が形成される問題が生ずる。
特許文献 1：特表 2005— 515617号公報
特許文献 2：特開 2005 - 288803号公報
特許文献 3：国際公開第 2003Z084727号パンフレット
特許文献 4：特開 2006— 037057号公報
特許文献 5 :米国特許出願公開第 2006Z0021533号明細書
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0004] 本発明は、含フッ素重合体を含むパターン層に継ぎ目のな 、円筒状または円柱状 のモールドを製造できる方法を提供する。
課題を解決するための手段 本発明は、以下の要旨を有する。
(1)円筒状または円柱状の基材と、含フッ素重合体を含み、表面にパターンが形成 されたパターン層とを有するモールドを製造する方法であって、
円筒状または円柱状の基材の外周面側を覆うように含フッ素重合体を含む膜を形 成し、モールド前駆体を得る工程と、
前記パターン層のパターンに対応する反転パターンを有する、加熱されたオリジナ ルモールドの表面に前記モールド前駆体の外周面を押しあてた状態で、前記モール ド前駆体を回転させ、前記オリジナルモールドの反転パターンを含フッ素重合体を含 む膜に転写してパターン層を形成する工程と
を有する、モールドの製造方法。
(2)前記含フッ素重合体を含む膜を形成する前に、前記基材の外周面側を覆うよう に帯電防止層を形成する工程を有する、上記（1)に記載のモールドの製造方法。
(3)前記帯電防止層を形成する前に、前記基材の外周面側を覆うように第 1のプライ マー層を形成する工程を有する、上記（2)に記載のモールドの製造方法。
(4)前記帯電防止層を覆うように第 2のプライマー層を形成する工程を有する、上記（ 2)または（3)に記載のモールドの製造方法。
(5)前記含フッ素重合体が、含フッ素環状重合体または含フッ素ポリエーテル系重 合体である、上記（1)〜 (4)の 、ずれかに記載のモールドの製造方法。
(6)前記含フッ素重合体が、主鎖に含フッ素脂肪族環構造を有する、上記 (5)に記 載のモールドの製造方法。
(7)前記含フッ素重合体が、炭素原子に結合した水素原子および炭素原子に結合し たフッ素原子の合計数に対する炭素原子に結合したフッ素原子の数の割合が 100 %である、ペルフルォロ重合体である、上記（1)〜（6)のいずれかに記載のモールド の製造方法。
(8)含フッ素重合体を溶剤に溶解した溶液を塗布し、塗膜を乾燥することによって含 フッ素重合体を含む膜を形成する、上記（1)〜（7)の 、ずれかに記載のモールドの 製造方法。
(9)上記（1)〜（8)の 、ずれかに記載のモールドの製造方法によって製造されたモ 一ノレド。
(10)支持基板上に形成された液状の光硬化性榭脂からなる膜に、請求項 9に記載 のモールドのパターン層を押しあてた状態で、光硬化性榭脂に光を照射し、光硬化 性榭脂を硬化させ、所望の微細パターンを形成する方法。
発明の効果
[0006] 本発明のモールドの製造方法によれば、含フッ素重合体を含むパターン層に継ぎ 目のない円筒状または円柱状のモールドを製造できる。
図面の簡単な説明
[0007] [図 1]本発明の製造方法で得られるモールドの一例を示す断面図である。
[図 2]図 1のモールドの層構造を示す拡大図である。
[図 3]モールドの製造の途中で得られるモールド前駆体の一例を示す断面図である。
[図 4]本発明のモールドの製造方法における一工程を示す断面図である。
[図 5]オリジナルモールドにモールド前駆体を押しあてた状態を示す拡大図である。
[図 6]微細パターンの形成方法の一例を示す断面図である。
[図 7]実施例で用いるオリジナルモールドを示す正面図である。
符号の説明
[0008] 10 モールド
12 基材
14 パターン
16 パターン層
18 帯電防止層
20 第 1のプライマー層
22 第 2のプライマー層
30 モールド前駆体
32 含フッ素重合体を含む膜
40 オリジナノレモーノレド
42 反転パターン
50 支持基板 52 光硬化性榭脂からなる膜
70 光源
発明を実施するための最良の形態
[0009] 本明細書においては、式（1)で表される化合物をィ匕合物（1)と記す。他の式で表さ れる化合物も同様に記す。
本明細書においては、（メタ）アタリロイル基は、アタリロイル基および Zまたはメタク リロイル基を意味し、（メタ)アタリレートは、アタリレートおよび zまたはメタタリレートを 意味し、（メタ）アクリル酸は、アクリル酸および Zまたはメタクリル酸を意味する。
[0010] <モールド >
図 1は、本発明の製造方法によって得られるモールドの一例を示す断面図であり、 図 2は層構造を示す拡大図である。モールド 10は、円筒状の基材 12と、含フッ素重 合体を含み、表面にパターン 14が形成されたパターン層 16とを有する。
[0011] モールド 10は、図 1および図 2に示すように、基材 12とパターン層 16との間に設け られた帯電防止層 18を有していてもよく；基材 12と帯電防止層 18との間に設けられ た第 1のプライマー層 20を有していてもよく；帯電防止層 18とパターン層 16との間に 設けられた第 2のプライマー層 22を有して 、てもよ 、。
[0012] (基材）
基材の形状は、円筒状または円柱状である。
基材の材料としては、以下の材料が挙げられる。
ガラス:石英ガラス、ホウケィ酸ガラス等。
炭素化合物:炭化珪素、黒色ガラス状炭素化合物、黒鉛。
金属:ニッケル、銅等。
セルロース素材:紙等。
榭脂：ポリエステル（ポリエチレンテレフタレート（PET)、ポリエチレンナフタレート等 。；)、ポリビュルアルコール、アクリル榭脂、ポリアミド、ポリイミド、セロファン、ポリカー ボネート、軟質塩化ビュル榭脂、硬質塩化ビュル榭脂、フッ素榭脂、シリコーン榭脂 等。
ゴム：フッ素ゴム等 [0013] 基材の材料としては、波長 365nm付近の紫外線の透過率が厚さ 100 μ mのときに 65%以上である材料が好ましぐガラス、フッ素榭脂、 PET、シリコーン榭脂、アタリ ル榭脂等が挙げられる。紫外線に対して不透明な基材を用いた場合、後述の被カロ 工側の支持基板が、紫外線に対して透明な材料に限定されてしまう。
基材の材料としては、他の層との密着性が良好な点から、ガラス、 PET、アクリル榭 脂、ポリイミドが特に好ましい。
基材の厚さは、 20〜5000 111カ 子ましく、 100〜1000 111カ¾り好ましぃ。
[0014] 基材として、あらカゝじめプラズマ処理、コロナ放電、紫外線照射、真空紫外線照射、 電子線照射、紫外線オゾン処理、イオン照射等の表面処理を施された基材を用いて もよい。該基材を用いることにより、第 1のプライマー層を省略できる。
[0015] (パターン層）
ノターンとしては、凹凸構造力もなる微細パターンが好まし 、。
凹凸構造における凸部は、パターン層の表面に延在する長尺の凸条、またはバタ ーン層の表面に点在する突起である。
凹凸構造における凹部は、パターン層の表面に延在する長尺の溝、またはパター ン層の表面に点在する孔である。
凸条または溝の形状としては、直線、曲線、折れ曲がり形状等が挙げられる。凸条 または溝は、複数が平行に存在して縞状をなして 、てもよ 、。
凸条または溝の、長手方向に直交する方向の断面形状としては、長方形、台形、 三角形、半円形等が挙げられる。
突起または孔の形状としては、三角柱、四角柱、六角柱、円柱、三角錐、四角錐、 六角錐、円錐半球、多面体等が挙げられる。
[0016] 凸条または溝の幅は、平均で lnm〜500 μ mが好ましぐ 10nm〜300 μ mがより 好ましぐ 50ηπ！〜 400nm力特〖こ好ましい。凸条の幅とは、長手方向に直交する方 向の断面における底辺の長さを意味する。溝の幅とは、長手方向に直交する方向の 断面における上辺の長さを意味する。
突起または孔の幅は、平均で lnm〜500 mが好ましぐ 10nm〜300 m力より 好ましぐ 50ηπ！〜 400nmが特に好ましい。突起の幅とは、底面が細長い場合、長手 方向に直交する方向の断面における底辺の長さを意味し、そうでない場合、突起の 底面における最大長さを意味する。孔の幅とは、開口部が細長い場合、長手方向に 直交する方向の断面における上辺の長さを意味し、そうでない場合、孔の開口部に おける最大長さを意味する。
凸部の高さは、平均で lnm〜500 mが好ましぐ 10nm〜300 m力 Sより好ましく 、 10ηπι〜10 /ζ πιが特に好ましぐ 50nm〜400nmが最も好ましい。
凹部の深さは、平均で lnm〜500 mが好ましぐ 10nm〜300 m力 Sより好ましく 、 10ηπι〜10 /ζ πιが特に好ましぐ 50nm〜400nmが最も好ましい。
[0017] 凹凸構造が密集している領域において、隣接する凸部 (または凹部）間の距離は、 平均で lnm〜500 mが好ましぐ 10nm〜300 m力特に好ましい。隣接する凸 部間の距離とは、凸部の断面の底辺の終端から、隣接する凸部の断面の底辺の始 端までの距離を意味する。隣接する凹部間の距離とは、凹部の断面の上辺の終端か ら、隣接する凹部の断面の上辺の始端までの距離を意味する。
凸部の最小寸法は、 lnm〜500 m以下が好ましぐ 50nm〜500nmが特に好ま しい。最小寸法とは、凸部の幅、長さおよび高さのうち最小の寸法を意味する。
凹部の最小寸法は、 lnm〜500 m以下が好ましぐ 50nm〜500nmが特に好ま しい。最小寸法とは、凹部の幅、長さおよび深さのうち最小の寸法を意味する。
ノターン層の厚さは、最も高 ヽ凸部の高さ以上が好ま 、。
[0018] パターン層は、含フッ素重合体を含む層である。
含フッ素重合体としては、離型性に優れる点から、含フッ素榭脂 100質量％中にフ ッ素を 35質量％以上含有し、かつ含フッ素重合体力もなる膜の水の接触角が 80°以 上である重合体が好ま 、。
水の接触角は、含フッ素重合体力もなる塗膜について接触角計を用いて測定する
[0019] 含フッ素重合体としては、以下の重合体が挙げられる。
テトラフルォロエチレン Zペルフルォロ（アルキルビュルエーテル）系共重合体、 テトラフルォロエチレン Zエチレン系共重合体、
テトラフルォロエチレン Zへキサフルォロプロピレン系共重合体、 フッ化ビ-リデン zテトラフルォロエチレン zへキサフルォロプロピレン系共重合体 、 含フッ素環状重合体、
含フッ素アルキレン系重合体、
含フッ素ポリエーテル系重合体等。
[0020] 含フッ素重合体としては、含フッ素環状重合体または含フッ素ポリエーテル系重合 体が好ましぐ波長 200〜500nmの光に対する透過率および耐久性に優れる点か ら、含フッ素環状重合体がより好ましい。
[0021] 含フッ素環状重合体は、主鎖に含フッ素脂肪族環構造を有する含フッ素重合体で あり、含フッ素脂肪族環の環を構成する炭素原子の 1個以上が該含フッ素重合体の 主鎖を構成する炭素原子である重合体である。主鎖の炭素原子は、該含フッ素重合 体を構成する環状単量体の重合性二重結合の 2個の炭素原子に由来する、または、 2個の重合性二重結合を有するジェン系単量体を環化重合させて得た含フッ素重合 体の場合は 2個の重合性二重結合の 4個の炭素原子に由来する。含フッ素脂肪族 環の環を構成する原子として、炭素原子以外に酸素原子、窒素原子等を含んでもよ い。含フッ素脂肪族環としては、 1〜2個の酸素原子を有する含フッ素脂肪族環が好 ましい。含フッ素脂肪族環を構成する原子の数は、 4〜7個が好ましい。
重合性二重結合としては、ビュル基、ァリル基、（メタ)アタリロイル基、が好ましい。
[0022] 含フッ素環状重合体としては、環状単量体の単独重合体または共重合体、ジェン 系単量体を環化重合させて得た単独重合体または共重合体等が挙げられる。
環状単量体は、含フッ素脂肪族環を構成する炭素原子間に重合性二重結合を有 する単量体、または、含フッ素脂肪族環を構成する炭素原子と含フッ素脂肪族環外 の炭素原子との間に重合性二重結合を有する単量体である。
ジェン系単量体は、 2個の重合性二重結合を有する単量体である。
[0023] 環状単量体およびジェン系単量体は、フッ素原子を有する単量体であり、炭素原 子に結合した水素原子および炭素原子に結合したフッ素原子の合計数に対する炭 素原子に結合したフッ素原子の数の割合が 80%以上の単量体が好ましぐ該割合 力 S 100%であるペルフルォロ単量体がより好ましい。
[0024] 環状単量体およびジェン系単量体は、ペルフルォロ単量体のフッ素原子の 1〜4 個が塩素により置換されたペルハロポリフルォロ単量体であってもよい。 環状単量体またはジェン系単量体と共重合させる単量体もペルフルォロ単量体ま たはペルハロポリフルォロ単量体が好まし！/、。
[0025] 環状単量体としては、化合物（1)または化合物（2)が好まし 、。
[0026] [化 1]
Figure imgf000010_0001
[0027] ただし、 X11、 X12、 R11および R12は、それぞれ独立に、フッ素原子、炭素数が 1〜4の ペルフルォロアルキル基または炭素数 1〜4のペルフルォロアルコキシ基を示す。 X1 1としては、フッ素原子が好ましい。 X12としてはフッ素原子、トリフルォロメチル基、また は炭素数 1〜4のペルフルォロアルコキシ基が好ましい。
X21および X22は、それぞれ独立に、フッ素原子または炭素数 1〜7のペルフルォロ アルキル基を示す。 X21および X22としては、フッ素原子またはトリフルォロメチル基が 好ましい。
[0028] 化合物（1)の具体例としては、化合物（1 1)〜（1 3)が挙げられる。
[0029] [化 2]
Figure imgf000010_0002
(1-1) (1-2) (1-3)
[0030] 化合物（2)の具体例としては、化合物（2— 1)〜（2— 2)が挙げられる。
[0031] [化 3] CF3
Fゥ C-CF2 '2C— CF
I \ I \
0 0 n ノ 0
\
II
CF2
(2-1)
へ (
[0032] 環状単量体と共重合させる単量体としては、 CF =CF 、 CF =CFC1、 CF =CF
2 2 2 2
OCF等が挙げられる。
3
[0033] ジェン系単量体としては、化合物（3)が好まし 、。
CF =CF-Q-CF=CF · ' · (3)。
2 2
ただし、 Qは、エーテル性酸素原子を有していてもよい炭素数 1〜3のペルフルォロ アルキレン基を示す。エーテル性酸素原子を有するペルフルォロアルキレン基であ る場合、該ペルフルォロアルキレン基におけるエーテル性酸素原子は、該基の一方 の末端に存在していてもよぐ該基の両末端に存在していてもよぐ該基の炭素原子 間に存在していてもよい。環化重合性の点から、該基の一方の末端に存在している ことが好ましい。
[0034] 化合物（3)の環化重合により、下式（3— 1)〜（3— 3)の繰り返し単位を有する重合 体が得られる。
[0035] [化 4]
Figure imgf000012_0001
[0036] ジェン系単量体としては、下記の化合物が挙げられる。
CF CFOCF CF = CF
CF :CFOCF (CF ) CF = CF
CF =CFOCF CF CF = CF、
2 2 2 2
CF =CFOCF CF (CF ) CF = CF、
2 2 3 2
CF =CFOCF (CF ) CF CF = CF、
2 3 2 2
CF =CFOCF OCF = CF、
2 2 2
CF =CFOC (CF ) OCF = CF、
2 3 2 2
CF =CFCF CF = CF、
2 2 2
CF =CFCF CF CF = CF。
2 2 2 2
[0037] ジェン系単量体と共重合させる単量体としては、 CF =CF、 CF =CFC1、 CF =
2 2 2 2
CFOCF等が挙げられる。
3
[0038] 含フッ素環状重合体は、全繰り返し単位（100モル％)のうち、含フッ素脂肪族環構 造を有する繰り返し単位を 20モル％以上含むことが好ましぐ 40モル％以上含むこ とがより好ましぐ含フッ素脂肪族環状構造を有する繰り返し単位のみ力もなることが 特に好ましい。含フッ素脂肪族環構造を有する繰り返し単位は、環状単量体の重合 により形成された繰り返し単位およびジェン系単量体の環化重合により形成された繰 り返し単位である。
[0039] 含フッ素アルキレン系重合体は、ポリフルォロアルキレン鎖および重合性基を有す る化合物を重合させて得た含フッ素重合体である。
ポリフルォロアルキレン鎖としては、炭素数 2〜24のポリフルォロアルキレン基が好 ましい。該ポリフルォロアルキレン基はシクロアルキレン基を含んでいてもよぐ官能 基を有していてもよい。
重合性基としては、ビュル基、ァリル基、（メタ)アタリロイル基、エポキシ基、ジォキ セタン基、シァノ基、イソシァネート基または下式 (4)で表される加水分解性シリル基 が好ましい。
[0040] — (CH ) Si(M1) (M2) · · · (4) 0
2 a 3-b b
ただし、 M1は、加水分解反応により水酸基に変換される基である。該基としては、 ハロゲン原子、アルコキシ基、ァシロキシ基等が挙げられる。ハロゲン原子としては、 塩素原子が好ましい。アルコキシ基としては、メトキシ基またはエトキシ基が好ましぐ メトキシ基がより好ましい。 M1としては、アルコキシ基が好ましぐメトキシ基がより好ま しい。
M2は、 1価炭化水素基である。 M2としては、アルキル基、 1以上のァリール基で置 換されたアルキル基、ァルケ-ル基、アルキ-ル基、シクロアルキル基、ァリール基 等が挙げられ、アルキル基またはァルケ-ル基が好まし!/、。
aは、 1〜3の整数であり、 3が好ましい。
bは、 0または 1〜3の整数であり、 0が好ましい。
[0041] ポリフルォロアルキレン鎖および重合性基を有する化合物としては、下記の化合物 が挙げられる。
CH =CHCOOCH CH (CF ) F、
2 2 2 2 8
CH =CHCOOCH CH (CF ) F、
2 2 2 2 6
CH =C (CH ) COOCH CH (CF ) F、
2 3 2 2 2 8
CH =C (CH ) COOCH CH (CF ) F、
2 3 2 2 2 6
CH =CHCOOCH (CF ) F、
2 2 2 6
CH =C (CH ) COOCH (CF ) F、 CH =CHCOOCH CF CF H、
2 2 2 2
CH =CHCOOCH (CF CF ) H、
2 2 2 2 2
CH =C(CH )COOCH (CF CF )H、
2 3 2 2 2
CH =C(CH )COOCH (CF CF ) H、
2 3 2 2 2 2
CH =CFCOOCH CH(OH)CH (CF ) CF(CF )、
2 2 2 2 6 3 2
CH =CFCOOCH CH(OH)CH (CF ) CF(CF )、
2 2 2 2 6 3 2
CH =CHCOOCH CH (CF CF ) CH CH COCOCH = CH、
2 2 2 2 2 3 2 2 2
CH =C(CH )COOCH CH (CF CF ) CH CH COCOC(CH ) =CH、
2 3 2 2 2 2 3 2 2 3 2
CH =CHCOOCH CyFCH OCOCH = CH、
2 2 2 2
CH =C(CH )COOCH CyFCH OCOC(CH ) =CH。
2 3 2 2 3 2
ただし、 CyFは、ペルフルォロ（1, 4ーシクロへキシレン基）を示す。
[0042] 含フッ素ポリエーテル系重合体は、ペルフルォロ（ポリオキシアルキレン）鎖および 重合性基を有する化合物（以下、化合物 (f)と!ヽぅ）を重合させて得た含フッ素重合 体である。
ペルフルォロ（ポリオキシアルキレン）鎖は、（CFCFO)単位、（CFCF(CF)O)
2 2 2 3 単位、 (CF CF CF O)単位および（CF O)単位からなる群から選ばれる 1種以上の
2 2 2 2
ペルフルォロ（ォキシアルキレン）単位力もなることが好ましぐ（CFCFO)単位、 (C
2 2
F CF(CF)O)単位または（CF CF CF O)単位からなることがより好ましぐ含フッ
2 3 2 2 2
素重合体の物性 (耐熱性、耐酸性等。）が優れる点から、 (CF CF O)単位カゝらなるこ
2 2
とが特に好ましい。
化合物 (f)に含まれるペルフルォロ (ォキシアルキレン)単位の数は、含フッ素重合 体の離型性および硬度が高い点から、 2〜200の整数が好ましぐ 5〜50の整数がよ り好ましい。
[0043] 重合性基としては、ビュル基、ァリル基、（メタ)アタリロイル基、エポキシ基、ジォキ セタン基、シァノ基、イソシァネート基または上記式 (4)で表される加水分解性シリル 基が好ましく、（メタ)アタリロイル基がより好ま 、。
化合物 (f)に含まれる重合性基の数は、重合性に優れる点から、 1〜4の整数が好 ましぐ含フッ素重合体の硬度等に優れる点から、 2〜4の整数がより好ましぐ 3また は 4が特に好ましい。化合物 (f)の 2種以上を併用する場合、重合性基の平均数は 1 〜 3が好ましい。
[0044] 化合物 (f)としては、化合物 (fl)〜 (f4)が好ましぐ化合物 (fl)がより好ましい。
(Z'-CH CF 0(CF CF O) ) Y1 ·'·(ί1)、
2 2 2 2 yl al
(Z2-CH CF 0(CF CF O) · (CF O) ) Y2 · · · (f 2)、
2 2 2 2 y2 2 g2 a2
(Z3-CH CF 0(CF(CF )CF O) · (CF O) ) Y3 · · · (f 3)、
2 2 3 2 y3 2 g3 a3
(Z4— CHCFO(CFCFCFO) · (CF O) ) Y4 ·'·(ί4)。
2 2 2 2 2 y4 2 g4 a4
[0045] ただし、「 ·」の表記は、 2つの単位の並び方が限定されな ヽことを意味する。
yl、 y2、 y3および y4は、それぞれ独立に、 1〜： L00の整数を示し、 5〜50の整数 が好ましい。
g2、 g3および g4は、それぞれ独立に、 1〜： L00の整数を示す。
al、 a2、 a3および a4は、それぞれ独立に、 1〜4の整数を示し、 2〜4の整数が好ま しぐ 3または 4が特に好ましい。
Y1は、 al価連結基を示し、 Y2は、 a2価連結基を示し、 Y3は、 a3価連結基を示し、 Y 4は、 a4価連結基を示す。 al、 a2、 a3および a4は、前記と同じ意味を示す。
2価連結基の ^〜Υ4としては、—CF CF一等が挙げられる。
2 2
3価連結基の ^〜Υ4としては、下記の連結基等が挙げられる。
[0046] [化 5]
Figure imgf000015_0001
[0047] 4価連結基の ^〜γ4としては、下記の連結基等が挙げられる。
[0048] [化 6]
Figure imgf000016_0001
[0049] Z3および Z4は、それぞれ独立に、下式（5)で表される基を示し、 Wが好まし
W- (OCH CH ) - (OCH CH(OW)CH ) … ）。
2 2 c 2 2 d
ただし、 cおよび dは、それぞれ独立に、 0または 1〜： LOOの整数を示し、 0が好まし い。
[0050] Wは、下式（5— 1)〜（5— 5)で表される基を示す。
CH =CHCOO(CH) -Q1- ·'·(5— 1)、
2 hi
CH = CFCOO (CH ) Q: •(5-2),
2 2 h2
CH =C(CH )COO(CH ) -Q、3: ·'·(5 - 3)、
2 3 2 h3
CH =C(CF )COO(CH ) -Q4 •••(5— 4)。
[0051] [化 7]
H2C、― CH(CH2)h5— Q5— (5.5)
0
[0052] ただし、 hl、 h2、 h3、 h4および h5は、それぞれ独立に、 0または 1〜10の整数を 示す。
Q Q2、 Q3および Q4は、それぞれ独立に、単結合、 COO 、または— NHCOO —を示す。 hiが 0の場合、 Q1は単結合であり、 h2が 0の場合、 Q2は単結合であり、 h 3が 0の場合の Q3は単結合であり、 h4が 0の場合の Q4は単結合である。 Q5は、エー テル性酸素原子または COO を示す。
[0053] また、含フッ素重合体としては、離型性に優れる点から、炭素原子に結合した水素 原子および炭素原子に結合したフッ素原子の合計数に対する炭素原子に結合した フッ素原子の数の割合が 100%である、ペルフルォロ重合体 (F)が好ましぐ塗布性 に優れる点から、無定形または非結晶性のペルフルォロ重合体 (F)が好ましい。ぺ ルフルォ口重合体 (F)は、たとえば、重合開始剤の存在下に前述のペルフルォロ単 量体を重合することにより製造できる。
[0054] 第 2のプライマー層を設けない場合、含フッ素重合体としては、他の層との密着性 の点から、反応性官能基を有するペルフルォロ重合体 (F1)、または該ペルフルォロ 重合体 (F1)と後述のペルフルォロ重合体 (F2)との混合物が特に好ま 、。
該ペルフルォロ重合体 (F1)または混合物の水の接触角は、 80°以上 105°未満が 好ましい。
[0055] 反応性官能基としては、カルボキシ基、スルホン酸基、エステル結合を有する基、 水酸基、アミノ基、シァノ基、イソシァネート基等が挙げられ、カルボキシ基が好ましい 。たとえば、カルボキシ基を有するペルフルォロ重合体 (F1)の場合、重合開始剤等 に由来する官能基を末端基として有するペルフルォロ重合体 (F)を酸素雰囲気下で 加熱し、ついで水中に浸漬して、前記官能基をカルボキシ基に変換することにより製 造できる。
[0056] 第 2のプライマー層を設ける場合、含フッ素重合体としては、離型性に優れる点から 、ペルフルォロ重合体 (F1)をフッ素ガスで処理して得られる、反応性官能基をフッ素 化したペルフルォロ重合体 (F2)が特に好まし 、。
該ペルフルォロ重合体 (F2)の水の接触角は、 105°以上が好まし!/、。
[0057] (帯電防止層）
帯電防止層は、導電性化合物を含む層である。帯電防止層が基材またはパターン 層との密着性に優れて!/、る場合は、プライマー層を兼ねてもょ 、。
導電性化合物自体の表面抵抗は、 108Ω /口以下が好ましぐ 106Ω /口以下がよ り望ましい。
帯電防止層の表面抵抗は、 10U QZ口以下が好ましぐ 109·5ΩΖ口以下がより好 ましい。
帯電防止層上に設けられたパターン層の表面抵抗は、 1016ΩΖ口以下が好ましく 、 1013ΩΖ口以下がより好ましい。 [0058] 導電性ィ匕合物としては、以下の化合物が挙げられる。
金属酸化物：ニオブをドープした酸化スズ、リンをドープした酸化スズ、アンチモンを ドープした酸化スズ (ATO)、酸化インジウム、スズをドープした酸化インジウム（ITO )、酸化亜鉛、アルミニウムをドープした酸ィ匕亜鉛、インジウムをドープした酸ィ匕亜鉛、 アンチモン酸亜鉛、五酸化アンチモン等。
導電性ポリマー:脂肪族共役系のポリアセチレン、芳香族共役系のポリ（パラフエ二 レン）、複素環式共役系のポリピロール、ポリチォフェン、含へテロ原子共役系のポリ ァ-リン、混合型共役系のポリ（フエ-レンビ-レン）等。
導電性炭素材料:カーボン粉末 (カーボンナノチューブ、カーボンブラック、ケッチェ ンブラック、アセチレンブラック等。）、炭素繊維 (ポリアクリロニトリル系炭素繊維、ピッ チ系炭素繊維等。）、膨張ィ匕黒鉛粉砕品のカーボンフレーク等。
金属材料:金属（アルミニウム、銅、金、銀、ニッケル、クロム、鉄、モリブデン、チタン 、タングステン、タンタル等。）または該金属を含有する合金の粉末、金属フレーク、 金属繊維 (鉄、銅、ステンレス、銀メツキ銅、黄銅等。）等。
[0059] 導電性ィ匕合物としては、他の層との密着性の点から、金属酸化物または導電性ポリ マーが好ましぐ波長 365nm付近の紫外線の透過率の点から、ポリチォフェンまた は ITOがより好ましい。
金属酸化物にドープされた異種原子の含有率は、金属酸ィ匕物（100モル％)のうち 0. 01〜30モノレ0 /0力好ましく、 0. 1〜10モノレ0 /0力より好まし!/ヽ。
導電性化合物の含有率は、帯電防止層（100質量％)のうち、 30〜： LOO質量％が 好ましぐ帯電防止性の点から、 50〜： LOO質量％がより好ましい。
帯電防止層の厚さは、用途により適宜決定すればよい。たとえば、透明性の高い帯 電防止層を形成する場合、厚さは 20〜： LOOOnmが好ましぐ 30〜300nmがより好ま しく、 40〜200mn力特に好まし!/ヽ。
[0060] (第 1のプライマー層）
第 1のプライマー層の材料としては、接着剤、シランカップリング剤、珪素原子を含 む榭脂材料等が挙げられる。
接着剤としては、可視光硬化性榭脂、エポキシ系接着剤、アクリル系接着剤または ウレタン系接着剤が好ましぐ低硬化収縮性および高透明性の点から、シァノアクリ ル酸エステルまたはエポキシ榭脂を含む接着剤が好ましい。
[0061] シランカップリング剤としては、以下のシランカップリング剤が挙げられる。
アミノ基を有するシランカップリング剤： 3—ァミノプロピルトリエトキシシラン、 3—アミ ノプロピルメチルジェトキシシラン、 N— (2 アミノエチル） 3 ァミノプロピルトリメト キシシラン、 N— (2 アミノエチル） 3 ァミノプロピルメチルジメトキシシラン等。 ォキシラ-ル基を有するシランカップリング剤： 3—グリシドキシプロピルトリメトキシシ トリクロロシランのシランカップリング剤：ビニルトリクロロシラン等。
他の官能基 (ビニル基、アタリロイルォキシ基、メタクリロイルォキシ基、エポキシ基、 スチリル基、フルォロアルキル基、メルカプト基、イソシァネート基、ウレイド基等。 )を有するシランカップリング剤等。
[0062] シランカップリング剤としては、アミノ基を有するシランカップリング剤、ォキシラ-ル 基を有するシランカップリング剤、トリクロロシランのシランカップリング剤が好まし 、。 珪素原子を含む榭脂材料としては、変性アクリルシリコーン榭脂、シルセスキォキサ ン骨格を含む榭脂等が挙げられる。
第 1のプライマー層の厚さは、 0. 02〜25 μ m力好ましく、 0. 03〜15 μ m力 ^より好 ましい。
[0063] (第 2のプライマー層）
第 2のプライマー層の材料としては、反応性官能基を有する含フッ素重合体等が挙 げられ、反応性官能基を有する含フッ素環状重合体、反応性官能基を有する含フッ 素アルキレン系重合体、または反応性官能基を有する含フッ素ポリエーテル系重合 体が好ましい。また、該含フッ素重合体としては、上述の反応性官能基を有するペル フルォロ重合体 (F1)が特に好ま U、。
反応性官能基を有する含フッ素重合体としては、化合物（6— 1)〜（6— 2)に由来 する単位を有する含フッ素重合体；重合開始剤に由来する末端基をカルボキシ基に 変えた含フッ素重合体等が挙げられる。
CH =CHCOOCH CH (OH) CH (CF ) CF (CH ) …（6— 1)、 CF =CFCF C (CF ) (OH) CH CH = CH · · · (6— 2)。
2 2 3 2 2
第 2のプライマー層の厚さは、 0. 03〜5 μ mが好ましぐ 0. 06〜1 μ mがより好まし い。
[0064] <モールドの製造方法 >
本発明のモールドの製造方法は、円筒状または円柱状の基材の外周面側を覆うよ うに含フッ素重合体を含む膜を形成し、モールド前駆体を得る工程と、パターン層の パターンに対応する反転パターンを有する、加熱されたオリジナルモールドの表面に モールド前駆体の外周面を押しあてた状態で、モールド前駆体を回転させ、オリジナ ルモールドの反転パターンを含フッ素重合体を含む膜に転写してパターン層を形成 する工程と
を有する方法である。
[0065] 本発明のモールドの製造方法としては、たとえば、下記 (i)〜 (V)工程を有する方法 が挙げられる。
(i)必要に応じて、基材の外周面を覆うように第 1のプライマー層を形成する工程。
(ii)必要に応じて、基材の外周面または第 1のプライマー層の表面 (すなわち基材 の外周面側)を覆うように帯電防止層を形成する工程。
(iii)必要に応じて、帯電防止層の表面を覆うように第 2のプライマー層を形成するェ 程。
(iv)基材の外周面、または帯電防止層の表面、または第 2のプライマー層の表面（ すなわち基材の外周面側）を覆うように含フッ素重合体を含む膜を形成し、モールド 前駆体を得る工程。
(V)加熱されたオリジナルモールドの表面にモールド前駆体の外周面を押しあてた 状態で、円筒または円柱の中心軸線を回転軸としてモールド前駆体を回転させ、オリ ジナルモールドの反転パターンを含フッ素重合体を含む膜に転写してパターン層を 形成する工程。
[0066] 以下、第 1のプライマー層、帯電防止層および第 2のプライマー層を設ける場合に ついて説明する。
。工程： 基材の外周面に、第 1のプライマー層の材料を含む溶液を塗布し、塗膜を乾燥する ことによって第 1のプライマー層を形成する。
塗布方法としては、キャスト法、スピンコート法、スプレーコート法、ポッティング法、 バーコート法等が挙げられる。
乾燥方法としては、加熱乾燥法、温風乾燥法、真空乾燥法、気流下に放置して乾 燥させる方法等が挙げられる。
[0067] (ii)工程：
第 1のプライマー層の表面に帯電防止剤を塗布し、塗膜を乾燥することによって帯 電防止層を形成する。
塗布方法としては、 (i)工程と同様の方法が挙げられる。
乾燥方法としては、 (i)工程と同様の方法が挙げられる。
帯電防止剤が硬化性榭脂を含有する場合、塗膜を乾燥した後に、加熱または紫外 線照射により硬化性榭脂を硬化させる。紫外線照射には、超高圧水銀灯、高圧水銀 灯、低圧水銀灯、カーボンアーク、キセノンアーク、メタルノヽライドランプ等が用いられ る。
帯電防止層を形成する方法としては、塗布法の代わりにラミネート法、キャスト法等 を用いてもよい。
[0068] 帯電防止剤としては、導電性化合物、分散剤および溶剤を含有するものが挙げら れる。
帯電防止剤としては、市販の帯電防止剤を用いてもよい。市販の帯電防止剤として は、インスコン 'テック社製のコ-ソル、ムロマチテクノス社の MU— 003等が挙げられ る。
[0069] 導電性ィ匕合物としては、上述の化合物が挙げられる。導電性化合物の濃度は、帯 電防止剤（100質量％)のうち、 0. 1〜10質量％が好ましぐ分散性および帯電防止 性の点から、 0. 4〜5質量％が好ましい。
[0070] 分散剤としては、ァ-オン性基を有する分散剤が好ましい。ァ-オン性基としては、 カルボキシ基、スルホン酸基 (スルホ基）、リン酸基 (ホスホノ基）、スルホンアミド基等 の酸性プロトンを有する基、またはその塩が挙げられ、カルボキシ基、スルホン酸基、 リン酸基またはその塩が好ましぐカルボキシ基、リン酸基が特に好ましい。分散剤に 含有されるァ-オン性基の数は、 1分子当たり平均 1個以上であり、導電性化合物の 分散性がさらに改良される点から、 1分子当たり平均 2個以上が好ましぐ平均 5個以 上がより好ましぐ平均 10個以上が特に好ましい。 1分子に含まれるァ-オン性基の 種類は、 2種以上であってもよい。
[0071] ァ-オン性基を有する分散剤としては、東邦化学工業社製のホスファノール (PE— 510、 PE— 610、 LB— 400、 EC— 6103、 RE— 410等。）、ビックケミ一 ·ジヤノ ン 社製の Disperbyk (— 110、—111、—116、—140、—161、—162、—163、—1 64、—164、—170、—171等。）、東亞合成社製のァロニックス M5300等、日本ィ匕 薬社製の KAYAMER (PM— 21、 PM— 2等。）等が挙げられる。
[0072] 分散剤は、さらに架橋性または重合性の官能基を有することが好ま 、。架橋性ま たは重合性の官能基としては、ラジカルによる架橋反応または重合反応が可能なェ チレン性不飽和基 (アタリロイル基、メタクリロイル基、ァリル基、スチリル基、ビュルォ キシ基等。）、カチオン重合性基 (エポキシ基、ォキサタニル基、ビュルォキシ基等。） 、重縮合反応性基 (加水分解性シリル基、 N—メチロール基等。）等が挙げられ、ェ チレン性不飽和基が好ま 、。
[0073] 分散剤としては、ァ-オン性基と、架橋性または重合性の官能基とを有し、かつ該 架橋性または重合性の官能基を側鎖に有するオリゴマーまたはポリマーが特に好ま しい。該オリゴマーまたはポリマーの質量平均分子量 (Mw)は、 1000以上が好ましく 、 2000〜1000000力 Sより好まし <、 5000〜200000力 Sさらに好まし <、 10000〜10 0000力特に好まし!/ヽ。
分散剤の添加量は、導電性化合物 100質量部に対して、 1〜50質量部が好ましく 、 5〜30質量部がより好ましぐ 5〜20質量部が特に好ましい。
分散剤は、 1種を単独で用いてもよぐ 2種以上を併用してもよい。
[0074] 溶剤としては、沸点が 60〜170°Cの液体が好ましい。
溶剤としては、エタノール、イソプロパノール、トルエン、キシレン、メチルェチルケト ン、メチルイソブチルケトン、シクロへキサノン、ブタノールが好ましぐエタノール、イソ プロパノール、メチルェチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロへキサノン、または これらのうち少なくとも 1種と水との混合溶剤が特に好ましい。
[0075] 帯電防止剤は、基材との密着性および機械的強度の点から、さらにバインダーを含 有してもよい。バインダーとしては、非硬化系の熱可塑性榭脂;熱硬化性榭脂、光硬 化性榭脂等の硬化性榭脂等が挙げられ、密着性の点から、光硬化性榭脂が特に好 ましい。
ノインダ一の軟ィ匕温度またはガラス転移点は、 50°C以上が好ましぐ 70°C以上が より好ましぐ 100°C以上が特に好ましい。
[0076] 光硬化性榭脂としては、 1分子中に光重合性基を 2個以上有する多官能単量体を 含有するものが好ましぐ 1分子中に光重合性基を 3個以上有する多官能単量体を 含有するものがより好まし 、。
光重合性基としては、エポキシ基、（メタ)アタリロイル基、ビュル基、スチリル基、ァリ ル基等の重合性基等が挙げられ、（メタ)アタリロイル基が好まし 、。
[0077] 光硬化性榭脂としては、以下の単量体が挙げられる。
ネオペンチルグリコールアタリレート、 1, 6—へキサンジオール (メタ）アタリレート、 プロピレングリコールジ (メタ）アタリレート等。
トリエチレングリコールジ (メタ）アタリレート、ジプロピレングリコールジ (メタ）アタリレ ート、ポリエチレングリコールジ (メタ）アタリレート、ポリプロピレングリコールジ (メタ）ァ タリレート等。
ペンタエリスリトールジ (メタ）アタリレート等。
2, 2—ビス {4— (アタリロキシ 'ジエトキシ）フエ-ル}プロパン等。
[0078] トリメチロールプロパントリ（メタ）アタリレート、トリメチロールェタントリ（メタ）アタリレー ト、 1, 2, 4—シクロへキサンテトラ (メタ）アタリレート、ペンタグリセロールトリアタリレー ト、ペンタエリスリトールテトラ (メタ）アタリレート、ペンタエリスリトールトリ（メタ）アタリレ ート、ジペンタエリスリトールトリアタリレート、ジペンタエリスリトールペンタアタリレート、 ジペンタエリスリトールテトラ (メタ）アタリレート、ジペンタエリスリトールへキサ（メタ）ァ タリレート、トリペンタエリスリトールトリアタリレート、トリペンタエリスリトールへキサトリア タリレート等。
[0079] 多官能単量体は、 1種を単独で用いてもよぐ 2種以上を併用してもよい。 光硬化性榭脂は、光重合開始剤を含有することが好ましい。光重合開始剤としては 、光ラジカル重合開始剤または光力チオン重合開始剤が好ましぐ光ラジカル重合開 始剤が特に好ましい。
[0080] 帯電防止剤は、分散剤の存在下で、導電性化合物を溶剤に分散することにより調 製される。
導電性化合物を溶剤に分散する際には、分散機を用いることが好ましい。分散機と しては、サンドグラインダーミル (ピン付きビーズミル等。）、ダイノミル、高速インペラ一 ミル、アイガーミル、ぺッブルミル、ローラーミル、アトライター、コロイドミル等が挙げら れ、サンドグラインダーミル、ダイノミル等のメディア分散機が特に好ましい。
導電性化合物を溶剤に分散する前には、予備分散処理を施してもよい。予備分散 処理に用いる分散機としては、ボールミル、三本ロールミル、ニーダー、エタストルー ダ一等が挙げられる。
[0081] (iii)工程：
帯電防止層の表面に、反応性官能基を有する含フッ素重合体を溶剤に溶解した溶 液を塗布し、塗膜を乾燥することによって第 2のプライマー層を形成する。
溶剤としては、ペルフルォロトリブチルァミン、ペンタフルォロベンゼン、へキサフル ォロメタキシレン、ハイド口フルォロエーテル等の含フッ素溶剤が挙げられる。
塗布方法としては、 (i)工程と同様の方法が挙げられる。
乾燥方法としては、（i)工程と同様の方法が挙げられる。乾燥温度は、 40〜200°C が好ましい。
[0082] (iv)工程：
図 3に示すように、第 2のプライマー層 22表面に、含フッ素重合体を溶剤に溶解し た溶液を塗布し、塗膜を乾燥することによって含フッ素重合体を含む膜 32を形成し、 モールド前駆体 30を得る。
溶剤としては、（iii)工程にて例示した溶剤等が挙げられる。
塗布方法としては、 (i)工程と同様の方法が挙げられる。
乾燥方法としては、（i)工程と同様の方法が挙げられる。乾燥温度は、（iii)工程と同 様の温度である。 含フッ素重合体を溶剤に溶解した溶液の代わりに、光硬化性または熱硬化性の含 フッ素単量体を用いてもょ 、。
含フッ素重合体を含む膜 32の離型性を制御するために、含フッ素重合体を含む膜 32の表面に、プラズマ処理、コロナ放電、紫外線照射、真空紫外線照射、電子線照 射、紫外線オゾン処理、イオン照射等の表面処理を施してもよい。
[0083] (V)工程：
図 4に示すように、加熱されたオリジナルモールド 40の表面にモールド前駆体 30の 外周面を押しあてた状態で、モールド前駆体 30を回転させ、図 5に示すように、オリ ジナルモールド 40の反転パターン 42を含フッ素重合体を含む膜 32に転写してパタ ーン層 16を形成し、図 1および図 2に示すような、モールド 10を得る。
[0084] オリジナルモールド 40の材質としては、シリコン、ガラス、金属、榭脂等が挙げられ る。
オリジナルモールド 40に反転パターン 42を形成する方法としては、フォトリソグラフ ィー、電子線リソグラフィー、 X線リソグラフィー、切削加工、レーザービーム加工、超 音波加工、陽極酸ィ匕などによる自己組織ィ匕方法等が挙げられる。
[0085] オリジナルモールド 40を、含フッ素重合体を含む膜 32に押しあてる際のプレス圧 力（ゲージ圧）は、 0〜： LOMPa以下が好ましい。
オリジナルモールド 40の温度は、含フッ素重合体の種類に応じて適宜決定すれば よい。
[0086] <微細パターンの形成方法 >
本発明の製造方法で得られたモールドを用いた微細パターンの形成方法としては 、たとえば、以下の方法が挙げられる。
(a)支持基板上に形成された液状の光硬化性榭脂からなる膜に、モールドのバタ 一ン層を押しあてた状態で、光硬化性榭脂に光を照射し、光硬化性榭脂を硬化させ 、所望の微細パターンを形成する方法。
(b)モールドのパターン層の表面に液状の光硬化性榭脂を供給し、該光硬化性榭 脂を支持基板上に転写すると同時に光硬化性榭脂に光を照射し、光硬化性榭脂を 硬化させ、所望の微細パターンを形成する方法。 [0087] (a)の方法としては、たとえば、以下の方法が挙げられる。
図 6に示すように、一定方向に移動する帯状の支持基板 50上に形成された液状の 光硬化性榭脂からなる膜 52と、円筒状または円柱状のモールド 10とを、支持基板 5 0の移動速度に同期させてモールド 10を回転させながら連続的に接触させ、光硬化 性榭脂からなる膜 52にモールド 10のパターン層 16を押しあてた状態で、またはモー ルド 10を光硬化性榭脂から分離した後に、光硬化性榭脂に光源 70からの光を照射 し、光硬化性榭脂を硬化させ、パターン層 16のパターン（図示略)を反転させた微細 ノ《ターン (図示略)を形成する方法。
[0088] (b)の方法としては、たとえば、以下の方法が挙げられる。
円筒状または円柱状のモールドのパターン層の表面に液状の光硬化性榭脂を供 給し、一定方向に移動する帯状の支持基板と円筒状または円柱状のモールドとを、 支持基板の移動速度に同期させて円筒状または円柱状のモールドを回転させなが ら連続的に接触させ、光硬化性榭脂を支持基板上に転写すると同時にまたは転写し た後に光硬化性榭脂に光源力ゝらの光を照射し、光硬化性榭脂を硬化させ、所望の 微細パターンを形成する方法。
[0089] 光硬化性榭脂の硬化は、モールドが透光材料からなる場合、モールド側力 光硬 化性榭脂に光を照射することによって行う。支持基板が透光材料からなる場合、支持 基板側から光硬化性榭脂に光を照射してもよい。また、加熱による硬化を併用しても よい。
光照射の光源としては、高圧水銀灯等が用いられる。光としては、紫外線または可 視光線が用いられる。
[0090] 支持基板の形状としては、フィルムまたはシート状、板状、円筒状、円柱状等が挙 げられる。
支持基板の材料としては、榭脂、ガラス、金属、セルロース素材等が挙げられる。 光硬化性榭脂としては、可視光線または紫外線によって硬化可能な、公知の光硬 化性榭脂が挙げられる。
[0091] 本発明のモールドを用いて微細パターンが形成される物品としては、以下の物品 が挙げられる。 光学素子：マイクロレンズアレイ、光導波路、光スイッチング、フレネルゾーンプレー ト、ワイヤーグリッド、波長フィルター、偏光板、ノイナリー素子、ブレーズ素子、フォト 二タス結晶、反射防止フィルム、反射防止構造を具備する部材等。
チップ類：バイオチップ、 ー TAS (Micro— Total Analysis Systems)用のチ ップ、マイクロリアクターチップ等。
記録メディア:光ディスク等。
ディスプレイ材料:リブ等。
エネルギー関連:燃料電池、三次元電池、キャパシタ、ペルチェ素子、太陽電池等 半導体関連： MEMS (Micro - Electoro - Mechanical - System)、半導体装 置等。
その他:触媒の担持体、フィルター、センサー部材、超撥水材料等。
[0092] 以上説明した本発明のモールドの製造方法によれば、基材の外周面側を覆うよう に含フッ素重合体を含む膜を形成した後、オリジナルモールドの反転パターンを含フ ッ素重合体を含む膜に転写してパターン層を形成しているため、含フッ素重合体を 含むパターン層に継ぎ目のない円筒状または円柱状のモールドを製造できる。 また、含フッ素重合体を含む膜 (後にパターン層となる層）を形成する前に、基材上 に帯電防止層を形成すれば、含フッ素重合体を含む膜に埃等の異物が付着するこ となく、異物に由来する欠陥がパターン層に生じることがな 、。
実施例
[0093] 以下、実施例により本発明をさらに詳しく説明するが、本発明はこれらの実施例に のみに限定されるものではない。
実施例において、表面抵抗は、表面抵抗計 (ノヽィレスタ MCP— HTP16、三菱ィ匕 学社製)を用いて、印加電圧 1000Vにて測定した。
水の接触角は、接触角計 (CA— X150型、協和界面科学社製)を用いて、約 20 Lの水滴を着滴させて測定した。
[0094] 〔合成例 1〕
ガラス製オートクレーブに、ジェン系単量体である CF =CFOCF CF CF = CFの 100g、連鎖移動剤であるメタノールの 0. 5gおよび重合開始剤である（（CH ) CHO
3 2
COO)の 0. 7gをカ卩え、懸濁重合法にて環化重合させて、含フッ素環状重合体であ
2
り、かつペルフルォロ重合体 (F)である、重合体 Aを得た。重合体 Aの固有粘度 [ η ] は、 30°Cのペルフルォロ（2—ブチルテトラヒドロフラン）中で 0. 34dLZgであった。
[0095] 重合体 Aを熱風循環式オーブン中で、大気雰囲気下にて 300°Cで 1時間加熱処理 した後、超純水中に 110°Cで 1週間浸漬して分子末端の官能基を処理した後、真空 乾燥機中で 100°Cにて 24時間乾燥させて、ペルフルォロ重合体 (F1)である重合体 A1を得た。重合体 A1の IR ^ベクトルにはカルボキシ基に帰属されるピークが確認さ れた。また、波長 400〜2000nmにおける光線透過率は、 100 μ mの厚さで 95%以 上であった。重合体 A1のフッ素含有率は、重合体 A1 (100質量％)中、 67質量％ であった。重合体 A1からなる膜の水の接触角は、 101°であった。
[0096] 〔合成例 2〕
1Lのステンレス製のオートクレーブに、重合体 A1の 5gを加え、オートクレーブ内を 3回窒素置換した後、 4KPaまで減圧した。その後、オートクレープ内に窒素で 14容 量％に希釈したフッ素ガスを lOlKPaまで導入し、 230°Cで 6時間フッ素化処理を行 い、ペルフルォロ重合体（F2)である重合体 A2の 5gを得た。重合体 A2の IR^ぺクト ルには、重合開始剤に由来する分子末端の炭化水素基、カルボキシ基等を示すピ ークは確認されな力つた。重合体 A2のフッ素含有率は、重合体 A2 (100質量％)中 、 68質量％であった。重合体 A2からなる膜の水の接触角は、 116°であった。
[0097] 〔実施例 1〕
帯電防止剤（ティーエーケミカル社製、コ-ソル F— 205)を、水 Zイソプロパノール (1Z7質量比)の混合溶剤にて 5倍に希釈し、塗布用の帯電防止剤を調製する。該 帯電防止剤を、アクリル榭脂製のパイプ (厚さ 1. 8mm、直径 30mm、長さ 150mm。 )の外周面に、パイプを 120rpmの速度で回転させながらスプレーコート法にて 1分 間塗布し、ドライヤーで乾燥させ、帯電防止層を形成する。帯電防止層の表面抵抗 は、 109 Ω /口である。
[0098] 重合体 A1をペルフルォロトリブチルァミンに溶解し、重合体 A1の 1質量％溶液を 調製し、該溶液を孔径 0. 2 mのポリテトラフルォロエチレン（PTFE)メンブレンフィ ルタにて濾過する。該溶液を帯電防止層の表面に、パイプを 120rpmの速度で回転 させながらスプレーコート法にて 1分間塗布し、ドライヤーで乾燥させ、第 2のプライマ 一層を形成する。
[0099] 重合体 A2をペルフルォロトリブチルァミンに溶解し、重合体 A2の 5質量％溶液を 調製し、該溶液を孔径 0. 2 mの PTFEメンブレンフィルタにて濾過する。該溶液を 第 2のプライマー層の表面に、パイプを 120rpmの速度で回転させながらスプレーコ ート法にて 2分間塗布し、ドライヤーで乾燥させる。重合体 A2からなる膜の表面が流 動しなくなったら、ノイブを乾燥機に入れ、 140°Cで 2時間乾燥させ、円筒状のモー ルド前駆体を得る。帯電防止層、第 2のプライマー層および重合体 A2からなる膜の 合計の厚さは、約 1 mほどである。
[0100] 5cm X 10cmのニッケル製のオリジナルモールドを用意する。該オリジナルモール ドの表面には、図 7に示すように、オリジナルモールド 40の長手方向に延びる複数の 凸条 (反転パターン 42)が平行に形成されている。凸条の幅 wは 100 /z mであり、隣 接する凸条間の距離 pは 50 mであり、凸条の高さは 50 mである。
該オリジナルモールドを 150°Cに加熱した後に、モールド前駆体の外周面をオリジ ナルモールドの表面に約 l.OMPaの圧力で押しあてた状態で、モールド前駆体を lr pmの回転速度でオリジナルモールドの長手方向に回転させ、モールド前駆体の重 合体 A2からなる膜に、オリジナルモールドの凸条が反転したパターンを形成し、継ぎ 目のないパターン層を有する円筒状のモールド Mlを得る。パターン層の表面抵抗 は、 1013ΩΖ口である。
[0101] 紫外光をカットしたクリーンルーム内にて、 6mLのバイャル容器に CF =CFCF C (
2 2
CF ) (OCH OCH ) CH CH = CHの 1. 31g、 CF =CFCF C (CF ) (OH) CH C
3 2 3 2 2 2 2 3 2
H = CHの 0. 14gおよび光ラジカル重合開始剤（チノく'スペシャルティ'ケミカルズ社
2
製、ィルガキュア 651)の 0. 06gを加えてよく混合し、光硬化性榭脂を調製する。
[0102] 該光硬化性榭脂を、長さ 25cm X幅 12cmの PETフィルム（東洋紡社製、 A4100、 厚さ 100 /z m)の易接着面にダイコーターにて供給し、光硬化性榭脂からなる膜を形 成する。
モールド Mlを lrpmの回転速度で回転させながら、光硬化性榭脂からなる膜に室 温下、約 0. IMPaの圧力で押しあてた状態で、 PETフィルム側から光硬化性榭脂に 光源からの紫外線 (波長 365nmにおける照度： 252mWZcm2。）を照射し、光硬化 性榭脂を硬化させ、パターン層のパターンを反転させた微細パターンを PETフィルム 上に形成する。
産業上の利用可能性
[0103] 本発明の製造方法で得られたモールドは、ナノインプリント法に用いられるモールド として有用である。また、光硬化性榭脂を成形加工する際に用いるモールド、スクリー ン印刷、グラビア印刷等の印刷に用いるモールド、 2P成形法のモールド等としても利 用できる。
[0104] なお、 2006年 8月 3曰に出願された曰本特許出願 2006— 211906号の明細書、特 許請求の範囲、図面、及び要約書の全内容をここに引用し、本発明の明細書の開示 として、取り入れるものである。

Claims

請求の範囲
[1] 円筒状または円柱状の基材と、含フッ素重合体を含み、表面にパターンが形成さ れたパターン層とを有するモールドを製造する方法であって、
円筒状または円柱状の基材の外周面側を覆うように含フッ素重合体を含む膜を形 成し、モールド前駆体を得る工程と、
前記パターン層のパターンに対応する反転パターンを有する、加熱されたオリジナ ルモールドの表面に前記モールド前駆体の外周面を押しあてた状態で、前記モール ド前駆体を回転させ、前記オリジナルモールドの反転パターンを含フッ素重合体を含 む膜に転写してパターン層を形成する工程と
を有する、モールドの製造方法。
[2] 前記含フッ素重合体を含む膜を形成する前に、前記基材の外周面側を覆うように 帯電防止層を形成する工程を有する、請求項 1に記載のモールドの製造方法。
[3] 前記帯電防止層を形成する前に、前記基材の外周面側を覆うように第 1のプライマ 一層を形成する工程を有する、請求項 2に記載のモールドの製造方法。
[4] 前記帯電防止層を覆うように第 2のプライマー層を形成する工程を有する、請求項
2または 3に記載のモールドの製造方法。
[5] 前記含フッ素重合体が、含フッ素環状重合体または含フッ素ポリエーテル系重合 体である、請求項 1〜4の！、ずれかに記載のモールドの製造方法。
[6] 前記含フッ素重合体が、主鎖に含フッ素脂肪族環構造を有する、請求項 5に記載 のモールドの製造方法。
[7] 前記含フッ素重合体が、炭素原子に結合した水素原子および炭素原子に結合した フッ素原子の合計数に対する炭素原子に結合したフッ素原子の数の割合が 100% である、ペルフルォロ重合体である、請求項 1〜6のいずれかに記載のモールドの製 造方法。
[8] 含フッ素重合体を溶剤に溶解した溶液を塗布し、塗膜を乾燥することによって含フ ッ素重合体を含む膜を形成する、請求項 1〜7の！、ずれかに記載のモールドの製造 方法。
[9] 請求項 1〜8のいずれかに記載のモールドの製造方法によって製造されたモール 支持基板上に形成された液状の光硬化性榭脂からなる膜に、請求項 9に記載のモ 一ルドのパターン層を押しあてた状態で、光硬化性榭脂に光を照射し、光硬化性榭 脂を硬化させ、所望の微細パターンを形成する方法。
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