WO2007136054A1 - 無アルカリガラスおよび無アルカリガラス基板並びにその製造方法 - Google Patents

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WO2007136054A1
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PCT/JP2007/060418
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Shinkichi Miwa
Tomoki Yanase
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Nippon Electric Glass Co., Ltd.
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Definitions

  • Alkali-free glass, alkali-free glass substrate and method for producing the same are Alkali-free glass, alkali-free glass substrate and method for producing the same
  • the present invention relates to a non-alkali glass and a non-alkali glass substrate suitable for a cover glass of a substrate such as a liquid crystal display and an organic EL display and a solid-state imaging device such as a CMOS.
  • Glass substrates are widely used for displays such as liquid crystal displays and organic EL displays, hard disks, filters, sensors, substrates, and cover glasses for solid-state imaging devices such as CMOS.
  • liquid crystal displays and organic EL displays are mainly active matrix displays in which pixels are driven by active elements represented by thin film transistors (hereinafter referred to as TFTs).
  • TFTs thin film transistors
  • color display and video display for notebook PCs, LCD monitors, mobile phones and digital camera displays.
  • a micron-order high-definition electronic circuit such as a TFT element or a signal line is formed on the surface of a glass substrate using a thin film.
  • the glass substrate for the applications as described above is required to have the following various properties (see Patent Document 1 if necessary).
  • Patent Document 1 JP 2000-302475 A
  • those that are regarded as problems as environmentally hazardous substances include the power of heavy metals such as Pb, Cd, and Cr, As, and Sb.
  • As and Sb are components used as glass refining agents (foam removers, antifoaming agents) and are suitable for glass that requires high-temperature melting, such as alkali-free glass systems. Its use is not preferred. In particular, As is highly toxic and its use tends to be severely restricted.
  • Ba which is an alkaline earth metal component, is desirably reduced in use or not contained at all because the compound as a raw material is an environmentally hazardous chemical.
  • the present invention satisfies various properties required for glass for liquid crystal displays and the like, and in particular, satisfies properties such as meltability and devitrification resistance, and is harmful to the environment.
  • the technical issue is to design a glass composition with reduced or substantially no components to obtain an environmentally friendly glass substrate.
  • the inventors of the present invention expressed the glass composition in terms of weight% in terms of the following oxides: SiO 50-70%, AlO 10-20%, BO 8-12%, MgO 0 ⁇ 3%, CaO 4 ⁇ 1
  • substantially does not contain alkali metal oxide means that it does not contain any component other than the amount of raw material isotropic as an impurity component. Oxides (Li 0, Na
  • “2 2 3 substantially free” means that it is not contained as an impurity component other than the amount mixed from the raw materials, etc., and the content of As O in the glass composition is 0.1% by weight or less (
  • It is preferably 50ppm or less.
  • the alkali-free glass of the present invention strictly regulates the glass composition within the above component range, and can be suitably used for a glass substrate for a liquid crystal display or an organic EL display. That is, the alkali-free glass of the present invention strictly satisfies the required characteristics (1) to (7) because the glass composition is strictly regulated within the above range. In particular, since the alkali-free glass of the present invention is excellent in meltability and devitrification resistance, the productivity of the glass substrate can be dramatically increased.
  • the alkali-free glass of the present invention contains substantially no alkali metal oxide.
  • an alkali metal oxide is contained in a glass substrate used in an active matrix type liquid crystal display or organic EL display, alkali components diffuse into the TFT element formed on the surface of the glass substrate, resulting in abnormal performance. There is a risk. Since the alkali-free glass of the present invention does not substantially contain an alkali metal oxide, the alkali component diffuses into the TFT element, and its performance is not impaired.
  • BaO is a component that improves the chemical resistance and devitrification resistance of glass, but since it is an environmentally hazardous chemical, its content is preferably limited from the environmental point of view.
  • the alkali-free glass of the present invention strictly regulates the BaO content, and specifically restricts the BaO content to 1% by weight or less, so that it is an environmentally friendly glass.
  • the alkali-free glass of the present invention can be a glass that does not substantially contain BaO, The influence on the border can be further reduced.
  • BaO is a component that increases the density, but the alkali-free glass of the present invention is advantageous from the viewpoint of reducing the glass density because the BaO content is strictly limited.
  • the alkali-free glass of the present invention does not use As O as a clarifier, so that it is possible to avoid as much as possible the situation of polluting the environment.
  • the alkali-free glass of the present invention has a glass composition in terms of the following oxide equivalent weight%: SiO 50 to 70%, Al 2 O 10 to 20%, BO 8 to 12%, MgO 0 ⁇ 3%
  • substantially free of Sbo means a raw material as an impurity component.
  • the alkali-free glass of the present invention has a glass composition in terms of the following oxide equivalent weight%: SiO 50-70%, AlO 10-20%, BO 8-12%, MgO 0 ⁇ 3%
  • the alkali-free glass of the present invention has a glass composition expressed in terms of weight% in terms of the following oxides: SiO 55 to 65%, Al 2 O 12 to 20%, BO 8 to 12%, MgO 0 ⁇ 2% , CaO 5-12%, SrO 1-10%, ZnO 0-5%, RO 5-20% and substantially free of alkali metal oxides, BaO and As O
  • RO in the present invention refers to the total amount of MgO, CaO, SrO, and ZnO (MgO + CaO + SrO + ZnO).
  • substantially free of BaO as used in the present invention means that it is not contained in any amount other than the amount of raw material isotropic mixing as an impurity component, and the content of BaO is 0 in the glass composition. Refers to the case of 1% by weight or less.
  • the alkali-free glass of the present invention has a glass composition represented by the following oxide% by weight: SiO 55 to 65%, Al 2 O 12 to 20%, BO 8 to 12%, MgO 0 ⁇ 2%
  • the alkali-free glass of the present invention has, as a glass composition, expressed by weight% in terms of the following oxides: SiO 55 to 65%, Al 2 O 12 to 20%, BO 8 to: L 1%, MgO 0-1%
  • the alkali-free glass of the present invention has a glass composition expressed in terms of weight% in terms of the following oxides: SiO 55 to 65%, Al 2 O 13 to 17%, BO 8.5 to 10.5. % (However, 10
  • the alkali-free glass substrate of the present invention is characterized by being constituted by the alkali-free glass described above.
  • the alkali-free glass substrate of the present invention is characterized in that the average surface roughness (Ra) is 20 A or less.
  • average surface roughness (Ra) refers to a value measured by a method based on SEMI D7-94 “Measurement method of surface roughness of FPD glass substrate”.
  • the alkali-free glass substrate of the present invention is characterized in that the undulation is 0.1 ⁇ m or less.
  • “swell” means JIS B-06 using a stylus type surface profile measuring device. This is the measured value of WCA (filtered center line waviness) described in Fig. 10. This measurement is based on the method according to SEMI ST D D15-1296 “Measurement method of surface waviness of FPD glass substrate”. The cut-off was measured at a length of 0.8 to 8 mm and a length of 300 mm in the direction perpendicular to the drawing direction of the glass substrate.
  • the alkali-free glass substrate of the present invention is characterized in that the difference in plate thickness between the maximum plate thickness and the minimum plate thickness is 20 m or less.
  • the “thickness difference between the maximum plate thickness and the minimum plate thickness” is determined by scanning the laser from one side of the glass substrate from the plate thickness direction using a laser-type thickness measuring device. The value obtained by subtracting the value of the minimum plate thickness after measuring the maximum and minimum plate thicknesses.
  • the alkali-free glass substrate of the present invention is characterized in that an error with respect to a target plate thickness is 10 m or less.
  • the “error with respect to the target plate thickness” refers to the larger value of the absolute values obtained by subtracting the maximum plate thickness or the minimum plate thickness obtained by the above method from the target plate thickness.
  • the alkali-free glass substrate of the present invention is characterized by being used for a display.
  • the alkali-free glass substrate of the present invention is characterized by being used for a liquid crystal display or an organic EL display.
  • the alkali-free glass substrate of the present invention is characterized by being used for a liquid crystal display for a flat TV.
  • the method for producing an alkali-free glass substrate of the present invention is characterized by the fact that the forming method is an overflow-down, low method (referred to as a fusion method).
  • SiO is a component that forms a network of glass, and its content is preferably 50 to 70%.
  • the SiO content is less than 50%, chemical resistance,
  • the acid resistance is poor and it is difficult to reduce the density.
  • the content of SiO is 70% If it is more, the high-temperature viscosity will increase, the meltability will be poor, and the cristobalite will be easily devitrified, and the defect of the devitrified foreign matter will easily occur in the glass.
  • Al 2 O has an effect of increasing the strain point of glass and improves the Young's modulus of glass.
  • the strain point tends to decrease. Also, if the Al O content is more than 20%,
  • BHF resistance The acidity (hereinafter referred to as “BHF resistance”) is poor, and the glass surface tends to become cloudy, and the glass is more susceptible to devitrification of SiO-Al O—RO system such as ananosite.
  • B 2 O is a component that acts as a flux, lowers the viscosity of the glass, and improves the meltability of the glass.
  • the content is 8 to 12%, preferably 8 to 11%, more preferably 8.5 to 11%, still more preferably 8.5 to 10.5% (however, 10.5% is not included) Particularly preferably, it is 9 to 10.5% (however, 10.5% is not included). If the B 2 O content is less than 8%,
  • devitrification resistance is also reduced. If the content of B 2 O is more than 12%, the strain point may decrease or the heat resistance may decrease.
  • BaO is a component that improves the chemical resistance of glass and the devitrification resistance of glass.
  • its content is preferably limited from the environmental viewpoint.
  • the BaO content is 0 to 1%, preferably 0 to 0.6%, more preferably 0 to 0.5% (provided that 0.5% is not included), and more preferably 0 to 0.5%. It is necessary to limit it to the range of 0.2%, and it is particularly preferable to use a glass that does not substantially contain BaO in consideration of the environment. If the content of BaO is more than 1%, the load on the environment will increase and it will be difficult to reduce the density.
  • SrO is a component that improves the chemical resistance of glass and improves the devitrification of glass.
  • SrO reduces the viscosity at high temperature, but has a small effect of improving the meltability in the entire alkaline earth metal oxide.
  • its content is 0-10%, preferably 1 -10%, more preferably 3-10%, still more preferably 3-8%, particularly preferably 3-7%. If the SrO content is more than 10%, the density and thermal expansion coefficient may increase excessively.
  • MgO is a component that lowers the high-temperature viscosity of glass and improves the meltability of glass, and is the component that has the effect of reducing the density most among alkaline earth metal oxides.
  • MgO reacts with BHF to form a product, which may adhere to elements on the surface of the glass substrate or adhere to the glass substrate and cause the glass substrate to become cloudy. Therefore, it is preferable to limit the content of MgO. Specifically, the content is 0 to 3%, preferably 0 to 2%, more preferably 0 to 1.9%, and still more preferably.
  • ⁇ substantially free of MgO '' as used in the present invention means that it does not contain other than the amount of raw material isotropic as an impurity component, and the MgO content in the glass composition is 0. It refers to the case of 1% or less.
  • CaO has the effect of lowering the high-temperature viscosity of the glass, improving the meltability of the glass, and improving the devitrification resistance of the glass, and is an essential component in the alkali-free glass of the present invention.
  • CaO is the component that most improves the Young's modulus of glass and suppresses the increase in glass density among divalent alkaline earth metal oxides, and is suitable for glass substrates used in liquid crystal displays. It is a component that can impart various characteristics.
  • MgO has the same effect as CaO, but its devitrification resistance deteriorates, and it can be contained in small amounts and cannot be added. Considering the above, it is important to make the CaO content relatively high in the alkali-free glass of the present invention.
  • the CaO content is 4 to 15%, preferably 5 to 12%, more preferably 6 to 11%, still more preferably 6.5 to 9%, particularly preferably. 7-9%. If the CaO content is less than that, the above effects may not be fully enjoyed. If the CaO content is more than 15%, the BHF resistance is impaired, and the surface of the glass substrate is easily eroded. There is a risk of adhering to the surface of the substrate and making the glass cloudy.
  • ZnO is a component that improves the BHF resistance of the glass and improves the meltability of the glass, but if it is incorporated in an amount of more than 5%, the glass tends to devitrify. Further, when ZnO is contained in an amount of more than 5%, the strain point is lowered, so that it is difficult to obtain desired heat resistance. Furthermore, although ZnO does not have a significant impact on the environment, it may be handled as a substance that complies with environmentally hazardous chemicals, so it is desirable to keep the content as low as possible. Specifically, the content of ZnO is preferably 5% or less, more preferably 2% or less, more preferably 1% or less, and even more preferably 0.5% or less. Not contained in.
  • substantially does not contain ZnO means that it does not contain the raw material isotropic force as an impurity component other than the amount mixed in, and the ZnO content is 0.1% in the glass composition. Indicates the following cases.
  • the devitrification temperature of the glass is effectively lowered, that is, it becomes difficult for crystal foreign matter to be generated in the glass.
  • the effect which improves the moldability of this is acquired.
  • the total amount of these components is preferably 5 to 20%. 8 to 15% is more preferable, and 10 to 15% is more preferable.
  • ZrO is a component that improves the chemical resistance of glass, particularly acid resistance.
  • the content of ZrO is preferably 0-5%, more preferably 0-1% 0
  • a ZrO introduction source a raw material mainly composed of ZrO is used.
  • TiO improves the chemical resistance of glass, especially acid resistance, and lowers the viscosity at high temperature to melt it.
  • TiO has an effect of preventing coloring against ultraviolet rays.
  • the glass is colored and the transmittance of the glass substrate is low.
  • the TiO content should be small. Specifically, 0 to 3% is preferred, and 0 to 1% is more preferred.
  • the alkali-free glass of the present invention can contain up to 5% of other components as long as the characteristic characteristics of the present invention are not impaired. For example, 5% or less of Y 2 O, Nb 2 O, WO, etc.
  • the alkali-free glass of the present invention is characterized by containing substantially no alkali metal oxide. If an alkali metal oxide is contained in a glass substrate used for active matrix liquid crystal displays and organic EL displays, alkali components may diffuse into the TFT elements formed on the surface of the glass substrate, impairing its performance. There is. Therefore, an alkali-free glass substrate that does not substantially contain an alkali metal oxide is used for the glass substrate used in these applications.
  • Lucari glass is substantially free of environmental viewpoint power AsO. Furthermore, the present invention
  • the alkali glass is preferably substantially free of Sb 2 O as a fining agent.
  • halogens such as F and C1 are added as a flux for glass, but the volatiles generated during glass melting are toxic, so it is preferable to reduce the amount used, but it does not contain substantially. It is preferable.
  • substantially free of halogens such as F and C1 means that the component is not contained in amounts other than the amount of raw material isotropic as an impurity component. This refers to the case where halogen such as C1 is 0.05% or less.
  • the alkali-free glass of the present invention preferably uses SnO as a fining agent.
  • the content is preferably 0 to 1%, more preferably 0.01 to 0.5% force S, and more preferably 0.05 to 0.3%.
  • SnO generates a large number of clarified gases due to changes in the valence of Sn ions that occur at high temperatures.
  • an alkali-free glass system has a higher melting point than an alkali-containing glass, and therefore can be suitably used as a fining agent.
  • SnO content is
  • the content of S ⁇ is preferably 0.3% or less.
  • a genus powder or the like can be used as a fining agent.
  • CeO, Fe O, etc. are also used as fining agents
  • the glass may be colored, and its content is preferably 0.1% or less.
  • composition range it is naturally possible to select a preferable glass composition range by arbitrarily combining the preferable content ranges of the respective components. Among them, more preferable glass as an alkali-free glass
  • the composition range is expressed in terms of weight% in terms of the following oxides: SiO 55 to 65%, AlO 12 to 20%, BO 8 to 12%, MgO 0 to 2%,
  • An example is potash glass.
  • composition range of the alkali-free glass SiO 55 to 65%, AlO 12 to 20%, B2O 8 to 12%, MgO 0 to 2%, CaO5 in terms of weight% in terms of the following oxides
  • Alkali-free glass characterized by containing ⁇ 12%, SrO 1-10%, ⁇ 0-5%, RO 5-20%, and substantially free of alkali metal oxides, BaO and AsO
  • alkali-free glasses characterized by containing 0 to 5% ZnO, 7 to 20% RO, and substantially free of alkali metal oxides, BaO, As 2 O and Sb 2 O.
  • non-alkali glasses characterized by not containing 2 3 and Sbo. None of these
  • Alkali glass has excellent meltability and devitrification resistance, so that it can not only significantly increase the productivity of glass substrates, but also has a high viscosity during glass molding. Suitable for the Undrow method.
  • a particularly preferable composition range of the alkali-free glass is SiO 55 to 65%, Al 2 O 13 to 17%, BO 8.5 to 10.5% (however, 10. 5% included
  • This alkali-free glass is substantially free of BaO, As O and Sb O.
  • this alkali-free glass contains substantially BaO, As O and Sb O.
  • the glass substrate In order to stably form a glass substrate by forming it into a thin plate, it is required that the glass has excellent devitrification resistance.
  • the most representative method for forming glass substrates used in liquid crystal displays and organic EL displays is the overflow downdraw method. Using the overflow down draw method, large area and thin wall thickness without polishing the surface
  • a glass substrate having a very smooth surface can be formed, it is most suitable as a method for forming a glass substrate for an active matrix type liquid crystal display.
  • the float method is well known as a process for forming window glass, but when this method is used to form a thin glass substrate, streaky irregularities parallel to the glass drawing direction are generated. The streaks on the glass substrate may seriously affect the image quality of the display, such as display distortion due to image distortion or changes in the thickness of the liquid crystal layer between the glass substrates.
  • a treatment for removing irregularities is required through a polishing process.
  • the polishing process contributes to the cost increase, and the fine scratching force on the surface of the glass substrate generated by the polishing Electronic circuit formed on the glass substrate in the manufacturing process of the active matrix type liquid crystal display There is a risk of causing disconnection.
  • the devitrification resistance of glass is an important characteristic.
  • devitrification means that crystalline foreign substances are deposited inside or on the surface of the glass in the process of forming the glass by cooling the glass raw material that has become melted at a high temperature. This Such a crystalline foreign substance blocks light and thus becomes a fatal defect for a glass substrate for display.
  • the overflow downdraw method has a lower temperature during glass forming than the float method even when the same glass composition is used. Therefore, in order to apply the overflow down draw method, it is indispensable to design a glass composition in which devitrification occurs in the glass or immediately has good devitrification resistance.
  • the liquid phase viscosity of the glass is preferably 10 5 2 dPa 's or more 10 5 5 dPa' s or more 10 5 8 dPa's or more is more preferable.
  • the liquidus temperature 1200 ° C. or lower is preferable, 1150 ° C. or lower is more preferable, and 1100 ° C. or lower is more preferable, and less than 1100 ° C. is particularly preferable. If the liquidus viscosity of the glass is less than 10 5 ⁇ 2 dPa 's, the overflow down-draw method cannot be used, and unreasonable restrictions are imposed on the glass forming method.
  • liquid phase viscosity refers to a value obtained by measuring the viscosity of glass at the liquid phase temperature by a well-known platinum ball pulling method.
  • the “liquid phase temperature” is determined by crushing glass, passing through a standard sieve 30 mesh (aperture 500 ⁇ m), and putting the glass powder remaining in 50 mesh (aperture 300 ⁇ m) into a platinum boat. The maximum temperature at which devitrification (crystal foreign matter) was observed in the glass after being held in a temperature gradient furnace for 24 hours was measured.
  • the alkali-free glass of the present invention contains 0 to 0.3% of SnO in terms of the following oxides, and
  • the liquid phase temperature of the gas is preferably 1150 ° C or lower, more preferably 1100 ° C or lower. If there are internal defects such as bubbles in the glass, light transmission is hindered, which is a fatal defect for display glass substrates. In general, as the glass substrate becomes larger, the probability of bubbles remaining increases, the probability of defects due to bubbles increases, and the productivity of the glass substrate decreases. Therefore, a technique for reducing bubbles in the glass is important. There are two methods for reducing bubbles contained in glass: a method using a clarifier and a method for reducing the high temperature viscosity. In the former method, As O
  • the liquidus temperature of the glass obtained is preferably 1150 ° C or lower, more preferably 1100 ° C or lower.
  • it is effective to reduce the manufacturing cost of glass substrates by extending the life of the melting furnace and reducing the frequency of repairs.
  • Zr-based crystalline foreign matter tends to occur. This may become an internal defect of the glass substrate. Therefore, if the glass is not easily devitrified against ZrO, it can be used as a refractory for the melting furnace.
  • the alkali-free glass of the present invention even when 0.5% of ZrO is added to the glass composition, Since the liquidus temperature can be set to 1150 ° C or lower, the above effects can be fully enjoyed. On the other hand, when 0.5% of ZrO is added to the glass composition, the liquid phase of the resulting glass
  • ZrO is added to the glass composition in an amount equivalent to 0.5%.
  • the glass sample is melted and molded, and then the obtained glass sample is pulverized. After passing through 30 mesh of standard sieve, the glass powder remaining on 50 mesh is put into a platinum boat and the temperature gradient is adjusted. Refers to the temperature at which crystals precipitate after being held in the furnace for 1 week.
  • the thermal expansion coefficient is preferably 30 to 50 ⁇ 10 _7 Z ° C, more preferably 35 to 45 ⁇ 10 _7 / ° C.
  • the coefficient of thermal expansion of an alkali-free glass substrate is consistent with the coefficient of thermal expansion of a-Si or p-Si deposited on a glass substrate, specifically 35 X 10 _7 Z ° C or less has been considered desirable.
  • glass substrates for liquid crystal displays and organic EL displays have SiNx with a lower thermal expansion coefficient than that with only a-Si or pSi film on the surface, and Cr, Ta, A1, etc. with higher thermal expansion coefficients.
  • Metal wiring and ITO are deposited.
  • the thermal expansion coefficient of the alkali-free glass is not necessarily low. That is, there is an appropriate range for the coefficient of thermal expansion of non-alkali glass. Specifically, the coefficient of thermal expansion is preferably 30 to 50 X 10 _7 Z ° C. 34-45 X 10 _7 Z ° C is more preferred. Preferred is 35 to 45 X 10 _7 Z ° C, more preferred is 36 to 40 X 10 "V ° C. When the coefficient of thermal expansion of the alkali-free glass is within this range, the heat with various films is preferred.
  • the thermal shock resistance can be improved just by matching the expansion coefficient, but if the thermal expansion coefficient falls outside this range, the thermal expansion coefficient cannot be matched with various films, and the thermal shock resistance can be reduced.
  • the “thermal expansion coefficient in the temperature range of 30 to 380 ° C.” in the present invention is the average thermal expansion coefficient in the range of 30 to 380 ° C. with a dilatometer based on JIS R3102. Refers to the measured value.
  • the alkali free glass of the present invention density, 2. 54gZcm 3 or less preferably fixture 2. 50 gZcm 3 or less, more preferably tool 2. 50gZcm 3 below further preferred instrument 2. 47gZcm 3 or less Particularly preferred.
  • Liquid crystal displays and organic EL displays need to be thinner and lighter.
  • the glass substrate used in these applications is mainly required to use a thin glass substrate having a thickness of 0.4 to 0.7 mm.
  • low-density glass is also required to reduce the weight of the panel. . The smaller the density of the glass substrate, the lighter the glass becomes and it is suitable for monolithic equipment.
  • the density should be designed to be 2.40 gZcm 3 or more (preferably 2.44 gZcm 3 or more, 2.45 gZcm 3 or more).
  • density refers to a value measured by a well-known Archimedes method based on JIS Z8807.
  • the strain point is preferably 620 ° C or more, more preferably 630 ° C or more, more preferably 635 ° C or more, and particularly preferably 650 ° C or more.
  • a transparent conductive film, insulating film, semiconductor film, metal film, etc. are formed on the glass substrate, and various circuits and patterns are formed by the photolithography etching process.
  • the glass substrate is subjected to various heat treatments and chemical treatments.
  • an insulating film or a transparent conductive film is formed on a glass substrate, and a large number of amorphous silicon or polycrystalline silicon TFTs are formed on the glass substrate through a photolithography etching process. It is formed.
  • the glass substrate is subjected to heat treatment at 300 to 600 ° C. This heat treatment may cause the glass substrate to undergo a dimensional change of several ppm (several / zm relative to the length of the glass substrate lm: this dimensional change is generally referred to as heat shrinkage). If the thermal shrinkage of the glass substrate is large, the TFT pattern will be displaced, and it will not be possible to accurately form an element in which multiple thin films are stacked.
  • the strain point In order to suppress thermal shrinkage, it is effective to increase the heat resistance of the glass, specifically to increase the strain point. However, if the strain point is raised too much, the temperature at the time of melting and forming the glass substrate rises, increasing the load on the glass production equipment, which may increase the cost. Therefore, if other characteristics are taken into account, the strain point should be designed to be 680 ° C or lower, especially 670 ° C or lower. [0056]
  • the alkali-free glass system does not contain an alkali metal oxide that is highly effective as a flux component, and therefore requires advanced melting techniques.
  • Methods for melting an alkali-free glass system include a melting facility such as raising the temperature of the melting furnace, a method for optimizing melting conditions, a method for lowering the glass melting point, and facilitating melting of the glass. . And have you the latter method, as an indicator of meltability, 'there is a temperature in the s, the high temperature viscosity of 10 2 ⁇ 5 dPa' high temperature viscosity 10 2 ⁇ 5 dPa lower temperatures in s, ⁇ shielding glass I'm going to be.
  • the temperature at a high temperature viscosity of 10 25 dPa's is preferably 1600 ° C or less, more preferably 1580 ° C or less, and more preferably 1560 ° C or less. More preferably, it is 1550 ° C or less, more preferably 1540 ° C or less.
  • the temperature at high temperature viscosity of 10 2 ⁇ 5 dPa 's is higher than 1600 ° C, it is necessary to keep the melting furnace at a high temperature in order to melt the glass homogeneously.
  • temperature at a high temperature viscosity of 10 2 ⁇ 5 dPa's refers to a value measured by a well-known platinum ball pulling method.
  • the erosion amount is preferably 1. OmgZcm 2 or less, more preferably 0.6 mgZcm 2 or less.
  • the alkali-free glass of the present invention 20 ° when immersed for 30 minutes in 63BHF solution and C, its erosion amount is 1. 2mgZcm 2 or less preferably instrument 0. 9mgZcm 2 or less being more preferred.
  • a transparent conductive film, an insulating film, a semiconductor film, a metal film, etc. are formed on the surface of the glass substrate for liquid crystal display, and various circuits and patterns are formed by photolithography etching.
  • the glass substrate is subjected to various heat treatments and chemical treatments.
  • a series of processes including a film formation process ⁇ resist pattern formation ⁇ etching process ⁇ resist stripping process is repeated.
  • etching using plasma using gases such as CF, SF, and HC1.
  • a small amount of erosion of chemicals into glass is very important from the viewpoint of preventing chemical contamination and reaction product clogging of the filter during the process.
  • the chemical resistance of glass it is important not to cause a change in appearance, which is just a small amount of erosion.
  • the appearance of glass does not change due to chemical treatment, such as white turbidity or roughness! This is an indispensable characteristic for glass substrates for displays such as active matrix liquid crystal displays where light transmittance is important.
  • the evaluation results of the amount of erosion and the appearance change do not necessarily agree in particular with respect to BHF resistance.For example, even glass that shows the same amount of erosion may cause an appearance change after chemical treatment, There is a case.
  • the erosion amount is 1.2 mgZcm 2 or less and immersed in a 63B HF solution at 20 ° C for 30 minutes. Even so, it is possible to eliminate the cloudiness and roughness by visual observation of the surface, so that the above problems can be solved reliably.
  • the alkali-free glass of the present invention has a Vickers hardness of preferably 560 or more, more preferably 570 or more, and further preferably 580 or more. If the Vickers hardness is less than 560, the glass substrate may be scratched or the electronic circuit formed on the glass substrate may be broken due to the scratch.
  • the “Vickers hardness” as used in the present invention refers to a value measured by a method based on JIS Z2244-1992.
  • the alkali-free glass of the present invention preferably has a specific Young's modulus (Young's modulus divided by density) of 27 GPa Zg 'cm— 3 or more, preferably 28 GPaZg'cm_ 3 or more. 29GPa / g- cm " 3 The above is more preferable 29.5 GPaZg′cm_d or more is particularly preferable. If the specific Young's modulus is set to 27 G PaZg'cm- 3 or more, even a large and thin glass substrate can be suppressed to a deflection amount that does not cause a problem.
  • Youngng's modulus refers to a value measured by the resonance method based on JIS R1602.
  • the alkali-free glass of the present invention has a temperature at 10 4 dPa's of T (° C) and a soft spot of T (° C).
  • T-T is preferably small, preferably T-T.
  • 3 4 3 is set to 330 ° C or lower, more preferably 325 ° C or lower, and still more preferably 320 ° C or lower,
  • the temperature is regulated to ⁇ 330 ° C, the viscosity rises quickly during cooling, and it can be quickly formed into a glass substrate shape. That is, if T-T is set to 330 ° C or less, a thin glass substrate can be flattened.
  • a substantially alkali metal oxide, Sb 2 O 3 In addition, it contains no O and As 58
  • the substrate area is 0.1 lm 2 or more (specifically, a size of 320 mm X 420 mm or more), particularly 0.5 m 2 or more (specifically, a size of 630 mm X 830 mm or more), 1. Om 2 or more (Specifically, a size of 950 mm X 1150 mm or more), 2.3 m 2 or more (specifically, a size of 1400 mm XI 700 mm or more), 3.5 m 2 or more (specifically, 175 0 mm X 2050 mm or more) ), 4.8m 2 or more (specifically, a size of 2100mm x 2300mm or more).
  • the alkali-free glass substrate of the present invention it is possible to form a thin glass substrate with high accuracy in view of the ability to impart low density and high specific Young's modulus characteristics. If the thickness is 0.8 mm or less (preferably 0.7 mm or less, more preferably 0.5 mm or less, and even more preferably 0.4 mm or less), the advantages of the present invention (especially light weight effect) can be effectively enjoyed. can do. Further, the alkali-free glass substrate of the present invention can reduce the amount of deflection of the glass substrate as compared with the conventional glass substrate even if the thickness of the glass substrate is reduced. This makes it easier to prevent damage during loading and unloading.
  • the alkali-free glass substrate of the present invention is preferably used for a liquid crystal display for a flat TV.
  • the screen size of liquid crystal displays for flat televisions has been increasing, and the alkali-free glass substrate of the present invention is excellent in productivity. Can be easily achieved.
  • the alkali-free glass substrate of the present invention can be formed by the overflow down-draw method, a glass substrate having a good surface quality can be efficiently produced, and the image quality of a liquid crystal display for a flat TV is not impaired. . Therefore, the alkali-free glass substrate of the present invention is suitable for this application.
  • the alkali-free glass substrate of the present invention preferably has an unpolished surface.
  • the theoretical strength of glass is inherently very high. In many cases, fracture occurs even at a stress much lower than the theoretical force. This is also a force that a small defect called Griffith flow is generated on the surface of the glass substrate in a post-molding process such as a polishing process. Therefore, if the surface of the glass substrate is unpolished, the mechanical strength of the original glass substrate is unlikely to be impaired, and the glass substrate is difficult to break. Further, if the surface of the glass substrate is unpolished, the polishing process can be omitted in the glass substrate manufacturing process, so that the manufacturing cost of the glass substrate can be reduced.
  • the glass substrate of the present invention if both surfaces of the glass substrate are not polished, the glass substrate is further hardly broken. Further, in the alkali-free glass substrate of the present invention, a chamfering process or the like may be applied to the cut surface of the glass substrate in order to prevent a situation from being broken from the cut surface of the glass substrate.
  • the average surface roughness (Ra) of the glass substrate is preferably 10 A or less, more preferably 7 A or less, and even more preferably 4 A or less. 2A or less is most preferable. If the average surface roughness (Ra) is greater than 10A, it will be difficult to accurately pattern the electrodes in the liquid crystal display manufacturing process, resulting in an increased probability that the circuit electrodes will be disconnected and short-circuited. It becomes difficult to ensure the reliability of liquid crystal displays.
  • the difference between the maximum thickness and the minimum thickness of the glass substrate is preferably 20 ⁇ m or less, more preferably 10 ⁇ m or less. If the difference between the maximum thickness and the minimum thickness of the glass substrate is greater than 20 m, it is difficult to accurately pattern the electrodes, resulting in an increased probability that the circuit electrodes will be disconnected and short-circuited. It becomes difficult to ensure the reliability of rays and the like.
  • the waviness of the glass substrate is preferably 0.1 m or less, more preferably 0.05 ⁇ m or less, force S, and less than 0.03 ⁇ m force S, and still more preferably 0. 01 m
  • force S force S
  • 0.03 ⁇ m force S force S
  • 0. 01 m force S
  • the error with respect to the target plate thickness is preferably 10 m or less, more preferably 5 m or less. If the error with respect to the target thickness of the glass substrate is larger than 10 m, the patterning accuracy of the electrodes and the like is lowered, and it becomes difficult to stably manufacture a high-quality liquid crystal display or the like under predetermined conditions.
  • a glass raw material prepared to have a desired glass composition was charged into a continuous melting furnace, the glass raw material was heated and melted, defoamed, and then supplied to a molding apparatus.
  • the molten glass can be formed from a plate by forming the molten glass into a plate shape and gradually cooling it.
  • the surface to be the surface of the glass substrate does not come into contact with the bowl-shaped refractory and is formed in a free surface state, so that the surface quality is excellent without polishing. It is also the force which can shape
  • the overflow down draw method the molten glass overflows from both sides of the heat-resistant bowl-shaped structure, and the overflowed molten glass is stretched and formed downward while joining at the lower end of the bowl-like structure. It is a method of manufacturing.
  • the structure and material of the bowl-shaped structure are not particularly limited as long as the dimensions and surface accuracy of the glass substrate can be set to a desired state and a quality that can be used for a glass substrate for display can be realized. Further, any method may be used to apply a force to the glass substrate in order to perform downward stretching. For example, a method may be adopted in which a heat-resistant roll having a sufficiently large width is rotated and stretched in contact with the glass substrate, or a plurality of pairs of heat-resistant rolls can be used for the glass substrate. You may employ
  • the alkali-free glass of the present invention is excellent in devitrification resistance and has a viscosity characteristic suitable for molding. Therefore, molding by the overflow down draw method can be performed with high accuracy.
  • Tables 1 to 16 show examples of the present invention (Sample Nos. 1 to 79).
  • Table 17 shows comparative examples of the present invention (Sample Nos. 80 and 81).
  • Each glass sample was prepared as follows. A batch prepared by mixing the raw materials at a specified ratio was put into a platinum crucible, melted at 1600 ° C for 24 hours, and then poured onto a force-bon plate to form a plate. Using this glass sample, various properties such as density, strain point, and high temperature viscosity were measured.
  • the density was measured by a well-known Archimedes method based on JIS Z8807.
  • the strain point, annealing point, and soft saddle point were measured based on JIS R3103.
  • the coefficient of thermal expansion was measured based on JIS R3102 by measuring the average coefficient of thermal expansion in the temperature range of 30 to 380 ° C with a dilatometer.
  • the liquid phase temperature was obtained by crushing each glass sample, passing through a standard sieve 30 mesh (aperture 500 ⁇ m), and putting the glass powder remaining in 50 mesh (aperture 300 m) into a platinum boat, followed by a temperature gradient. After holding in the furnace for 24 hours, measure the maximum temperature at which devitrification (crystal foreign matter) was observed in the glass. It was.
  • the liquid phase viscosity is a value obtained by measuring the viscosity of the glass at the liquid phase temperature by a well-known platinum ball pulling method.
  • the liquidus temperature when SnO is added (SnO devitrification resistance in the table) is the batch used as a raw material.
  • the glass sample is then crushed, and then the glass sample is crushed, passed through a standard sieve 30 mesh (500 m), and the glass powder remaining on 50 mesh (300 m) is placed in a platinum boat and placed in a temperature gradient furnace for 1 week. The temperature at which the crystals were deposited was measured. Next, “ ⁇ ” indicates that devitrification was not observed at 1150 ° C, and “X” indicates devitrification was observed at 1150 ° C. In parallel with this evaluation, the clarity of the glass was evaluated. When SnO was added to 0.3%, the glass
  • the bubble was not recognized as having a bubble defect.
  • ZrO is added in an amount corresponding to 0.5% in the glass composition, and gas is added under the same conditions as above.
  • the glass was melted and molded, and then the glass sample was crushed, passed through a standard sieve 30 mesh (500 m), and the glass powder remaining on 50 mesh (300 m) was placed in a platinum boat and placed in a temperature gradient furnace 1 Holding for a week, the temperature at which crystals were deposited was measured. Next, “ ⁇ ” indicates that devitrification was not observed at 1150 ° C, and “X” indicates devitrification was observed at 1150 ° C.
  • the Young's modulus was measured by a resonance method based on JIS R1602. Specific Young's modulus was calculated by dividing Young's modulus by density.
  • the Vickers hardness was measured by a method based on JIS Z2244-1992.
  • AZAS amount of erosion
  • Each glass sample of the examples of the present invention has a density of 2.41 to 2.53 gZcm 3 , a coefficient of thermal expansion of 36 to 43 X 10 _7 / ° C, a strain point, a force S643 to 675 ° C, and gradually.
  • the amount of erosion when immersed in a 10% HC1 aqueous solution with a Vickers hardness of 590 to 610 and 80 ° C for 24 hours is eroded when immersed in a 63BHF solution at 20 to 20 ° C for 0.4 to 0.6 mgZcm 2
  • the amount was 0.6 to 0.8 mgZcm 2 , and no change in appearance was observed in the force.
  • Sn devitrification resistance and Zr devitrification resistance were also good.
  • each glass sample according to the example of the present invention does not contain an environmentally hazardous chemical substance, or the content thereof is small, and thus can be said to be a glass in which environmental considerations have been made.
  • the density is 2.54 gZcm 3 or less
  • the glass substrate can be reduced in weight, and the thermal expansion coefficient is in the range of 35 to 45 X 10 _7 Z ° C. Since the consistency is good and the strain point is 640 ° C or higher, the glass is unlikely to thermally shrink during the heat treatment process in the display manufacturing process.
  • the liquidus temperature is 1200 ° C or less and the liquidus viscosity is 10 5 ' 2 dPa • s or more, it has excellent devitrification resistance and excellent glass moldability. Since the temperature at a high temperature viscosity of 10 2 5 dPa's is 1580 ° C or less, the glass has excellent melting and forming properties, and also has excellent chemical resistance, especially BHF resistance and acid resistance.
  • the glass sample No. 80 of the comparative example of the present invention was inferior in devitrification resistance and chemical resistance. Further, since glass sample No. 81 of the comparative example of the present invention contains 2.5% of BaO, there is a concern about the influence on the environment.
  • Example Sample No. 44 was melted in a test melting furnace and formed into a glass substrate by the overflow down draw method to produce a glass substrate for display having a substrate size of 900 mm XI 100 mm and a thickness of 0.5 mm.
  • the warp of this glass substrate is 0.05% or less
  • the waviness (WCA) is 0. or less
  • the surface roughness (Ra) is 50 A or less (cut off c: 9 m)
  • the surface quality is excellent. It was suitable as a glass substrate for LCD.
  • the tension roller speed, cooling roller speed, heating device temperature distribution, molten glass temperature, glass flow rate, plate drawing speed, stirring stirrer rotation speed, etc. are adjusted appropriately.
  • the surface quality of the glass substrate was adjusted. “Warpage” is measured by placing a glass substrate on an optical surface plate and using a clearance gauge described in JIS B-7524. “Waviness” is a value obtained by measuring WCA (filtered centerline undulation) described in J IS B-0606 using a stylus type surface profile measuring device.
  • This measurement is based on SEMI STD D15-1296 Measured by the method in accordance with ⁇ Measurement method of surface waviness of FPD glass substrate '', cut-off at the time of measurement was 0.8 to 8 mm, measured at a length of 300 mm in the direction perpendicular to the drawing direction of the glass substrate Is.
  • Average surface roughness (Ra) is a value measured by a method based on S EMI D7-94 “Measurement method of surface roughness of FPD glass substrate”.
  • the alkali-free glass of the present invention may be a glass having a small content of an environmental load chemical substance and substantially free of an environmental load chemical substance. Therefore, the alkali-free glass of the present invention is an environment-friendly glass, and can be easily used as a next-generation glass substrate because it can easily recycle glass raw materials and is less likely to cause environmental pollution. can do.
  • the alkali-free glass of the present invention is suitable as a display substrate such as a liquid crystal display and an organic EL display, a cover glass such as a solid-state imaging device such as a CMOS, a filter, and a substrate such as a sensor.
  • a display substrate such as a liquid crystal display and an organic EL display
  • a cover glass such as a solid-state imaging device such as a CMOS, a filter, and a substrate such as a sensor.

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Abstract

 本発明は、液晶ディスプレイ用ガラス等に要求される種々の特性を充足した上で、特に、溶融性および耐失透性等の特性を充足した上で、環境に有害な成分を低減した、或いは実質的に含有しないガラス組成を設計し、環境に配慮したガラス基板を得ることを技術的課題とする。本発明の無アルカリガラスは、ガラス組成として、下記酸化物換算の重量%表示で、SiO2 50~70%、Al2O3 10~20%、B2O3 8~12%、MgO 0~3%、CaO 4~15%、SrO 0~10%、BaO 0~1%、ZnO 0~5%を含有し、且つ実質的にアルカリ金属酸化物およびAs2O3を含有しないことを特徴とする。

Description

無アルカリガラスおよび無アルカリガラス基板並びにその製造方法 技術分野
[0001] 本発明は、液晶ディスプレイ、有機 ELディスプレイ等の基板および CMOS等の固 体撮像素子等のカバーガラスに好適な無アルカリガラスおよび無アルカリガラス基板 に関するものである。
背景技術
[0002] 液晶ディスプレイ、有機 ELディスプレイ等のディスプレイ、ハードディスク、フィルタ 一、センサー等の基板および CMOS等の固体撮像素子等のカバーガラスにガラス 基板が広く使用されている。特に、液晶ディスプレイや有機 ELディスプレイは、薄膜ト ランジスタ (以下、 TFTと称する)に代表されるアクティブ素子で画素が駆動されるよう なアクティブマトリックス型ディスプレイが主流となっており、これらは液晶テレビ、ノー トパソコン、液晶モニター、携帯電話およびデジタルカメラのディスプレイ等のカラー 表示、動画表示のディスプレイに広く用いられている。このようなアクティブマトリックス 型ディスプレイは、ガラス基板の表面に TFT素子や信号線等のミクロンオーダーの高 精細な電子回路が薄膜を用いて形成されて 、る。
[0003] 以上のような用途のガラス基板には、以下に示す種々の特性が要求される(要すれ ば、特許文献 1参照)。
(1)ガラス中にアルカリ金属酸化物が含有されて!ヽると、熱処理中にアルカリイオン が成膜された半導体物質中に拡散し、膜特性の劣化を招くため、実質的にアルカリ 金属酸化物を含有しな!ヽこと。
(2)フォトエッチング工程において使用される種々の酸、アルカリ等の薬品によって 劣化しな!、ような耐薬品性を有すること。
(3)成膜、ァニール等の工程における熱処理によって、熱収縮しないこと。そのため 高い歪点を有すること。
(4)ディスプレイの軽量ィ匕を達成するために、密度が小さ!/、こと。
(5)周辺部材の熱膨張係数と整合が取れて!/、ること。 [0004] また、溶融性、成形性を考慮して、この種のガラス基板には、以下のような特性も要 求される。
(6)ガラス中にガラス基板として好ましくな 、溶融欠陥が発生しな 、よう、溶融性に優 れていること。特に泡欠陥が存在しないこと。
(7)ガラス中に溶融、成形中に発生する異物が存在しないように、耐失透性に優れて いること。
特許文献 1:特開 2000— 302475号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0005] 欧州における Rohs指令の発効等に見られるように、近年、工業製品に対する環境 的配慮の要求が高まっている。特に、環境負荷化学物質は、製品中の含有量に厳し い規制を設ける力、或いは製品によっては全く含まないことが求められている。デイス プレイ用ガラス基板であっても、その対象の例外ではなぐガラス基板中の環境負荷 化学物質の含有量をできるだけ減らす、或 、は全く使用しな 、ようにすることが求め られている。
[0006] ガラス組成に含まれる成分のうち、環境負荷ィ匕学物質として問題視されるのは、 Pb 、 Cd、 Crなどの重金属類のほ力、 As、 Sb等が挙げられる。 As、 Sbは、ガラスの清澄 剤(泡切れ剤、消泡剤)として用いられる成分であり、無アルカリのガラス系等の高温 溶融を必要とするガラスに好適であるが、環境的な側面から、その使用は好ましくな い。特に、 Asは、毒性が高いため、その使用は厳しく制限される傾向にある。
[0007] さらに、アルカリ土類金属成分である Baは、その原料である化合物が環境負荷ィ匕 学物質であることから、その使用量を低減する、或いは全く含有しないことが望ましい
[0008] したがって、本発明は、液晶ディスプレイ用ガラス等に要求される種々の特性を充 足した上で、特に、溶融性および耐失透性等の特性を充足した上で、環境に有害な 成分を低減した、或いは実質的に含有しないガラス組成を設計し、環境に配慮した ガラス基板を得ることを技術的課題とする。
課題を解決するための手段 [0009] 本発明者らは、鋭意努力の結果、下記酸ィ匕物換算の重量%表示でガラス組成を Si O 50〜70%、 Al O 10〜20%、 B O 8〜12%、 MgO 0〜3%、 CaO 4〜1
2 2 3 2 3
5%、 SrO 0〜10%、 BaO 0〜1%、 ZnO 0〜5%の範囲に規制し、且つ実質的 にアルカリ金属酸ィ匕物および As Oを含有しないことで、上記課題を解決できること
2 3
を見出し、本発明として提案するものである。なお、本発明でいう「アルカリ金属酸ィ匕 物を実質的に含有しない」とは、不純物成分として原料等力も混入してくる量以外に 含まないという意味であり、ガラス組成内において、アルカリ金属酸化物(Li 0、 Na
2 2
0、 K O)の含有量が 0. 1重量%以下の場合を指す。また、本発明でいう「As Oを
2 2 3 実質的に含有しない」とは、不純物成分として原料等から混入してくる量以外に含ま ないという意味であり、ガラス組成内において、 As Oの含有量が 0. 1重量%以下(
2 3
望ましくは 50ppm以下)の場合を指す。
[0010] 本発明の無アルカリガラスは、ガラス組成を上記成分範囲に厳格に規制しており、 液晶ディスプレイや有機 ELディスプレイ用ガラス基板に好適に使用することができる 。すなわち、本発明の無アルカリガラスは、ガラス組成を上記範囲に厳格に規制して いるため、上記要求特性(1)〜(7)を満足することが可能となる。特に、本発明の無 アルカリガラスは、溶融性および耐失透性に優れているため、ガラス基板の生産性を 飛躍的に高めることができる。
[0011] 本発明の無アルカリガラスは、アルカリ金属酸化物を実質的に含有しない。ァクティ ブマトリックス型液晶ディスプレイ、有機 ELディスプレイに用いられるガラス基板中に アルカリ金属酸化物を含有させると、ガラス基板の表面に形成された TFT素子にァ ルカリ成分が拡散し、その性能に異常が発生するおそれがある。本発明の無アルカリ ガラスは、アルカリ金属酸ィ匕物を実質的に含有しないため、 TFT素子にアルカリ成分 が拡散し、その性能が損なわれることはない。
[0012] BaOは、ガラスの耐薬品性、耐失透性を改善する成分であるが、環境負荷化学物 質であるため、環境的観点から、その含有量を制限することが望ましい。本発明の無 アルカリガラスは、 BaOの含有量を厳しく規制しており、具体的には BaOの含有量を 1重量%以下に制限しているので、環境的配慮したガラスとなっている。また、本発明 の無アルカリガラスは、 BaOを実質的に含有しないガラスとすることもできるため、環 境に及ぼす影響を更に軽減することもできる。なお、 BaOは、密度を上昇させる成分 であるが、本発明の無アルカリガラスは、 BaOの含有量を厳しく制限しているため、ガ ラスの低密度化の観点からも有利である。
[0013] 泡のな 、ガラスを得るためには、ガラス化反応時力 均質ィ匕溶融時にかけての温度 域で清澄ガスを発生する清澄剤を選択することが重要である。つまり、ガラスの清澄 は、ガラス化反応時に発生するガスを清澄ガスによってガラス融液から追い出し、さら に均質ィ匕溶融時に再び発生させた清澄ガスによって残った微小な泡を大きくして浮 上させて除去する。ところで、液晶ディスプレイ用ガラス基板に使用されるような無ァ ルカリガラスは、ガラス融液の粘度が高ぐアルカリ成分を含有するガラスに比べてよ り高温で溶融が行われる。従来まで、清澄剤には幅広ぃ温度域(1200〜1600で程 度)で清澄ガスを発生させる As Oが広く使用されてきた。しかしながら、 As Oは、
2 3 2 3 毒性が非常に強ぐガラスの製造工程や廃ガラスの処理時等に環境を汚染する可能 性があり、その使用が制限されつつある。その点、本発明の無アルカリガラスは、清 澄剤として As Oを使用しないため、環境を汚染する事態を可及的に回避することが
2 3
できる。
[0014] 第二に、本発明の無アルカリガラスは、ガラス組成として、下記酸化物換算の重量 %表示で、 SiO 50〜70%、 Al O 10〜20%、 B O 8〜12%、 MgO 0〜3%
2 2 3 2 3
、CaO 4〜15%、SrO 0〜10%、 BaO 0〜1%、 ZnO 0〜5%を含有し、且つ 実質的にアルカリ金属酸化物、 As Oおよび Sb Oを含有しないことに特徴付けられ
2 3 2 3
る。なお、本発明でいう「Sb oを実質的に含有しない」とは、不純物成分として原料
2 3
等より混入してくる量以外に含まないという意味であり、ガラス組成内において、 Sb
2
Oの含有量が 0. 05重量%以下の場合を指す。
3
[0015] 第三に、本発明の無アルカリガラスは、ガラス組成として、下記酸化物換算の重量 %表示で、 SiO 50〜70%、 Al O 10〜20%、 B O 8〜12%、 MgO 0〜3%
2 2 3 2 3
、 CaO 4〜15%、 SrO 0〜10%、 BaO 0〜0. 2%、 ZnO 0〜5%を含有し、且 つ実質的にアルカリ金属酸ィ匕物および As Oを含有しないことに特徴付けられる。
2 3
[0016] 第四に、本発明の無アルカリガラスは、ガラス組成として、下記酸化物換算の重量 %表示で、 SiO 55〜65%、 Al O 12〜20%、 B O 8〜12%、 MgO 0〜2% 、CaO 5〜12%、SrO 1〜10%、 ZnO 0〜5%、 RO 5〜20%を含有し、且つ 実質的にアルカリ金属酸化物、 BaOおよび As Oを含有しないことに特徴付けられ
2 3
る。ここで、本発明でいう「RO」は、 MgO、 CaO、 SrO、 ZnOの合量(MgO + CaO + SrO+ZnO)を指す。なお、本発明でいう「BaOを実質的に含有しない」とは、不純 物成分として原料等力 混入してくる量以外に含まないという意味であり、ガラス組成 内において、 BaOの含有量が 0. 1重量%以下の場合を指す。
[0017] 第五に、本発明の無アルカリガラスは、ガラス組成として、下記酸化物換算の重量 %表示で、 SiO 55〜65%、 Al O 12〜20%、 B O 8〜12%、 MgO 0〜2%
2 2 3 2 3
、CaO 5〜12%、SrO 1〜10%、 ZnO 0〜5%、 RO 5〜20%を含有し、且つ 実質的にアルカリ金属酸化物、 BaOおよび As Oを含有しないことに特徴付けられ
2 3
る。
[0018] 第六に、本発明の無アルカリガラスは、ガラス組成として、下記酸化物換算の重量 %表示で、 SiO 55〜65%、 Al O 12〜20%、 B O 8〜: L l%、 MgO 0〜1%
2 2 3 2 3
、CaO 6〜: L l%、SrO 3〜10%、 ZnO 0〜5%、 RO 7〜20%を含有し、且つ 実質的にアルカリ金属酸化物、 BaO、 As Oおよび Sb Oを含有しないことに特徴
2 3 2 3
付けられる。
[0019] 第七に、本発明の無アルカリガラスは、ガラス組成として、下記酸化物換算の重量 %表示で、 SiO 55〜65%、 Al O 13〜17%、 B O 8. 5~10. 5% (但し、 10
2 2 3 2 3
. 50/0【¾きまな!/、)、 MgO 0〜0. 50/o (f旦し、 0. 50/0【¾きまな!/ヽ)、 CaO 6. 5〜11 %、SrO 3〜7%、ZnO 0〜1%、RO 7〜20%を含有し、且つ実質的にアルカリ 金属酸化物、 BaO、 As Oおよび Sb Oを含有しないことに特徴付けられる。
2 3 2 3
[0020] 第八に、本発明の無アルカリガラス基板は、上記に記載の無アルカリガラスによつ て構成されることに特徴付けられる。
[0021] 第九に、本発明の無アルカリガラス基板は、平均表面粗さ (Ra)が 20A以下である ことに特徴付けられる。ここで、「平均表面粗さ(Ra)」は、 SEMI D7— 94「FPDガラ ス基板の表面粗さの測定方法」に準拠した方法により測定した値を指す。
[0022] 第十に、本発明の無アルカリガラス基板は、うねりが 0. 1 μ m以下であることに特徴 付けられる。ここで、「うねり」は、触針式の表面形状測定装置を用いて、 JIS B— 06 10に記載の WCA (ろ波中心線うねり)を測定した値であり、この測定は、 SEMI ST D D15- 1296「FPDガラス基板の表面うねりの測定方法」に準拠した方法で測定 し、測定時のカットオフは 0. 8〜8mm、ガラス基板の引き出し方向に対して垂直な方 向に 300mmの長さで測定したものである。
[0023] 第十一に、本発明の無アルカリガラス基板は、最大板厚と最小板厚の板厚差が 20 m以下であることに特徴付けられる。ここで、「最大板厚と最小板厚の板厚差」は、 レーザー式厚み測定装置を用いて、ガラス基板の任意の一辺に板厚方向からレー ザ一を走査することにより、ガラス基板の最大板厚と最小板厚を測定した上で、最大 板厚の値力 最小板厚の値を減じた値を指す。
[0024] 第十二に、本発明の無アルカリガラス基板は、 目標板厚に対する誤差が 10 m以 下であることに特徴付けられる。ここで、「目標板厚に対する誤差」は、 目標板厚から 上記方法で得られる最大板厚または最小板厚の値を減じた値の絶対値のうち、大き な方の値を指す。
[0025] 第十三に、本発明の無アルカリガラス基板は、ディスプレイに使用することに特徴付 けられる。
[0026] 第十四に、本発明の無アルカリガラス基板は、液晶ディスプレイまたは有機 ELディ スプレイに使用することに特徴付けられる。
[0027] 第十五に、本発明の無アルカリガラス基板は、フラットテレビ用液晶ディスプレイに 使用することに特徴付けられる。
[0028] 第十六に、本発明の無アルカリガラス基板の製造方法は、成形方法がオーバーフ ローダウンド、ロー法 (fusion法とち称される)であること〖こ特徴付けられる。
発明を実施するための最良の形態
[0029] 以下に、上記のように組成範囲を限定した理由を詳述する。なお、以下の%表示は
、特に限定がある場合を除き、重量%表示を指す。
[0030] SiOは、ガラスのネットワークを形成する成分であり、その含有量は 50〜70%、好
2
ましくは 55〜68%、より好ましくは 55〜65%、更に好ましくは 57. 5〜61. 5%、特 に好ましくは 58〜61. 5%である。 SiOの含有量が 50%より少ないと、耐薬品性、特
2
に耐酸性が悪ィ匕するとともに、低密度化を図り難くなる。また、 SiOの含有量が 70% より多いと、高温粘度が上昇し、溶融性が悪ィ匕するとともに、クリストバライトの失透が 出やすくなり、ガラス中に失透異物の欠陥が生じやすくなる。
[0031] Al Oは、ガラスの歪点を高める効果があるとともに、ガラスのヤング率を向上させる
2 3
成分であり、その含有量は 10〜20%、好ましくは 12〜18%、より好ましくは 13〜17 %、更に好ましくは 14. 5〜17%である。 Al Oの含有量が 10%より少ないと、失透
2 3
温度が上昇し、ガラス中にクリストバライトの失透異物が生じやすくなることに加えて、 歪点が低下しやすくなる。また、 Al Oの含有量が 20%より多いと、耐バッファードフ
2 3
ッ酸性 (以下、耐 BHF性と称する)が悪ィ匕し、ガラス表面に白濁が生じやすくなるとと もに、ガラス中にァノーサイト等の SiO -Al O—RO系の失透が生じやすくなり好ま
2 2 3
しくない。
[0032] B Oは、融剤として働き、ガラスの粘性を下げ、ガラスの溶融性を改善する成分で
2 3
あり、その含有量は 8〜12%、好ましくは 8〜11%、より好ましくは 8. 5〜11%、更に 好ましくは 8. 5〜10. 5% (但し、 10. 5%は含まない)、特に好ましくは 9〜10. 5% ( 但し、 10. 5%は含まない)である。 B Oの含有量が 8%より少ないと、融剤としての
2 3
働きが充分に発揮されず、耐 BHF性が悪ィ匕することに加えて、耐失透性も低下する 。 B Oの含有量が 12%より多いと、歪点が低下したり、耐熱性が低下したりすること
2 3
に加えて、耐酸性が悪ィ匕する傾向がある。
[0033] BaOは、ガラスの耐薬品性、ガラスの耐失透性を改善する成分であるが、環境負荷 化学物質であるため、環境的観点から、その含有量を制限することが望ましい。具体 的には、 BaOの含有量を 0〜1%、好ましくは 0〜0. 6%、より好ましくは 0〜0. 5% ( 但し、 0. 5%は含まない)、更に好ましくは 0〜0. 2%の範囲に制限する必要があり、 環境的配慮から、実質的に BaOを含有しないガラスとするのが特に好ましい。 BaO の含有量が 1%より多いと、環境に及ぼす負荷が大きくなるとともに、低密度化を図り 難くなる。
[0034] SrOは、ガラスの耐薬品性を向上させるとともに、ガラスの失透性を改善する成分で ある。一方、 SrOは、高温粘度も低下させるものの、アルカリ土類金属酸化物全体の 中では溶融性を改善する効果が小さい。また、 SrOは、多く含有させると、密度、熱 膨張係数が上昇する傾向がある。したがって、その含有量は 0〜10%、好ましくは 1 〜10%、より好ましくは 3〜10%、更に好ましくは 3〜8%、特に好ましくは 3〜7%で ある。 SrOの含有量が 10%より多いと、密度、熱膨張係数が上昇し過ぎるおそれが ある。
[0035] MgOは、ガラスの高温粘性を下げ、ガラスの溶融性を改善する成分であるとともに 、アルカリ土類金属酸ィ匕物の中では最も密度を下げる効果がある成分である。しかし 、 MgOは、多く含有させると、失透温度が上昇し、成形性が悪化する。しかも、 MgO は、 BHFと反応して生成物を形成し、ガラス基板の表面の素子上に固着したり、ガラ ス基板に付着してガラス基板を白濁させるおそれがある。したがって、 MgOは、その 含有量を制限するのが好ましぐ具体的には、その含有量は 0〜3%、好ましくは 0〜 2%、より好ましくは 0〜1. 9%、更に好ましくは 0〜1%、更に好ましくは 0〜0. 5%、 特に好ましくは 0〜0. 5% (但し、 0. 5%は含まない)、最も好ましくは実質的に含有 しない。 MgOの含有量が 3%より多いと、ガラスの耐失透性が悪化し、オーバーフロ 一ダウンドロー法を採用し難くなることに加えて、耐 BHF性が悪ィ匕するおそれがある 。なお、本発明でいう「MgOを実質的に含有しない」とは、不純物成分として原料等 力も混入してくる量以外に含まないという意味であり、ガラス組成内において、 MgO の含有量が 0. 1%以下の場合を指す。
[0036] CaOは、ガラスの高温粘性を下げ、ガラスの溶融性を改善するとともに、ガラスの耐 失透性を改善する効果を有し、本発明の無アルカリガラスにおいて、必須の成分で ある。また、 CaOは、二価のアルカリ土類金属酸ィ匕物の中で最もガラスのヤング率を 向上させ、且つガラスの密度の上昇を抑制する成分であり、液晶ディスプレイに使用 するガラス基板に好適な特性を付与することができる成分である。 MgOも CaOと同 様の効果を有するが、耐失透性が悪化しやすぐ少量しカゝ含有できない。以上のこと を勘案すると、本発明の無アルカリガラスでは、 CaOの含有量を比較的高くすること が重要となる。したがって、本発明の無アルカリガラスにおいて、 CaOの含有量は 4 〜15%であり、好ましくは 5〜12%、より好ましくは 6〜11%、更に好ましくは 6. 5〜 9%、特に好ましくは 7〜9%である。 CaOの含有量力 より少ないと、上記効果を 十分に享受できないおそれがある。 CaOの含有量が 15%より多いと、耐 BHF性が損 なわれ、ガラス基板の表面が侵食されやすくなることに加えて、反応生成物がガラス 基板の表面に付着し、ガラスを白濁させるおそれがある。
[0037] ZnOは、ガラスの耐 BHF性を改善するととともに、ガラスの溶融性を改善する成分 であるが、 5%より多く含有させると、ガラスが失透しやすくなる。また、 ZnOを 5%より 多く含有させると、歪点が低下するため所望の耐熱性が得られ難くなる。さらに、 Zn Oは、環境に及ぼす影響は大きくないものの、環境負荷化学物質に準じた物質とし て扱われる場合があるため、含有量はできるだけ低くすることが望ましい。具体的に は、 ZnOの含有量は、 5%以下が好ましぐ 2%以下がより好ましぐ 1%以下が更に 好ましぐ 0. 5%以下が特に好ましぐ理想的には実質的に含有しない。ここで、「Zn Oを実質的に含有しない」とは、不純物成分として原料等力も混入してくる量以外に 含まないという意味であり、ガラス組成内において、 ZnOの含有量が 0. 1%以下の場 合を指す。
[0038] アルカリ土類金属酸ィ匕物は、混合して含有させることにより、ガラスの失透温度を効 果的に下げ、すなわちガラス中に結晶異物が生じにくくなり、ガラスの溶融性、ガラス の成形性を改善する効果が得られる。し力しながら、これらの成分を多く含有させると 、ガラスの密度が上昇して、ガラス基板の軽量ィ匕を図り難くなるため、これらの合量は 、 5〜20%とするのが好ましぐ 8〜15%とするのがより好ましぐ 10〜15%とするの が更に好ましい。ただし、既述の理由により、 BaOおよび MgOは、実質的に含有しな いことが望ましい。
[0039] ZrOは、ガラスの耐薬品性、特に耐酸性を改善する成分であるが、 ZrOの含有量
2 2 力 %より多いと、失透温度が上昇し、ジルコンの失透異物が出やすくなるため好まし くない。したがって、 ZrOの含有量は、 0〜5%が好ましぐ 0〜1%がより好ましぐ 0
2
. 01〜0. 5%が更に好ましい。なお、 ZrO導入源として ZrOを主成分とする原料を
2 2
用いても良いが、ガラス溶融炉を構成する耐火物等からの溶出等を利用して、含有さ せても差し支えない。
[0040] TiOは、ガラスの耐薬品性、特に耐酸性を改善し、且つ高温粘性を下げて溶融性
2
を向上させる成分である。また、 TiOは、紫外線に対する着色を防止する効果がある
2
。しかし、 TiOの含有量が 3%より多いと、ガラスが着色し、ガラス基板の透過率が低
2
下するため、ディスプレイ用途に使用し難くなる。よって、 TiOの含有量は、少量とす るのが好ましぐ具体的には 0〜3%が好ましぐ 0〜1%がより好ましい。
[0041] 本発明の無アルカリガラスは、本発明の特徴となる特性が損なわれない範囲で他 の成分を 5%まで含有させることができる。例えば、 Y O、 Nb O、 WOなどを 5%以
2 3 2 5 3 内で含有することができる。なお、これらの成分は耐失透性の向上やヤング率の向上 に効果がある成分である。
[0042] 本発明の無アルカリガラスは、アルカリ金属酸化物を実質的に含有しないことを特 徴としている。アクティブマトリックス型液晶ディスプレイ、有機 ELディスプレイに用い られるガラス基板中にアルカリ金属酸ィ匕物を含有させると、ガラス基板の表面に形成 された TFT素子にアルカリ成分が拡散し、その性能が損なわれるおそれがある。そこ で、これらの用途に用いられるガラス基板には、アルカリ金属酸化物を実質的に含ま な 、無アルカリガラス基板が用いられる。
[0043] 既述の通り、ガラスの清澄剤として、 As Oが広く使用されてきたが、本発明の無ァ
2 3
ルカリガラスは、環境的観点力 As Oを実質的に含有しない。さらに、本発明の無
2 3
アルカリガラスは、清澄剤として、好ましくは Sb Oも実質的に含有しない。 Sb oは
2 3 2 3
、 As Oに比べ、その毒性は低いが、環境負荷ィ匕学物質であるため、環境的観点か
2 3
ら使用を制限するのが好ましい。さらに、 F、 C1等のハロゲンは、ガラスの融剤として 添加されるが、ガラス溶融時に発生する揮発物に毒性があることから、その使用量を 低減するのが好ましぐ実質的に含有しないことが好ましい。ここで、「F、 C1等のハロ ゲンを実質的に含有しない」とは、不純物成分として原料等力も混入してくる量以外 に含まないという意味であり、ガラス糸且成内において、 F、 C1等のハロゲンが 0. 05% 以下の場合を指す。
[0044] 本発明の無アルカリガラスは、清澄剤として、 SnOを使用するのが好ましぐその
2
含有量は 0〜1%が好ましぐ 0. 01-0. 5%力 Sより好ましく、 0. 05〜0. 3%が更に 好ましい。 SnOは、高温域で起こる Snイオンの価数変化により多数の清澄ガスを発
2
生させることができ、一般的に、無アルカリのガラス系は、融点がアルカリ含有ガラス よりも高いため、清澄剤として好適に使用することができる。一方、 SnOの含有量が
2
1%より多いと、ガラスの耐失透性が低下するおそれがある。なお、 SnO導入源とし
2 て SnOを主成分とする原料を用いても良いが、ガラス溶融炉に設置される電極等か らの溶出等を利用して、含有させても差し支えない。また、後述の通り、 SnOの含有
2 量が多いと、ガラスの耐失透性が悪ィ匕するため、ガラスの耐失透性を考慮すれば、 S ηθの含有量は、 0. 3%以下とするのが好ましい。
2
[0045] 本発明の特徴となるガラス特性が損なわれない限り、 SO 或いは C、Al、Siの金
3
属粉末等を清澄剤として用いることができる。 CeO、 Fe O等も清澄剤として使用す
2 2 3
ることができるが、ガラスが着色するおそれがあり、その含有量は 0. 1%以下とするの が好ましい。
[0046] 上記ガラス組成範囲において、各成分の好ましい含有範囲を任意に組み合わせて 、好ましいガラス組成範囲を選択することは当然に可能である力 その中にあって、 無アルカリガラスとして、より好ましいガラス組成範囲は、下記酸化物換算の重量% 表示で、 SiO 55〜65%、 Al O 12〜20%、 B O 8〜12%、 MgO 0〜2%、
2 2 3 2 3
CaO 5〜12%、SrO 1〜10%、 ZnO 0〜5%、 RO 5〜20%を含有し、且つ実 質的にアルカリ金属酸化物、 BaOおよび As Oを含有しないことを特徴とする無アル
2 3
カリガラスが挙げられる。
[0047] 無アルカリガラスの更に好ましい組成範囲として、下記酸化物換算の重量%表示で 、 SiO 55〜65%、 Al O 12〜20%、 B O 8〜12%、 MgO 0〜2%、 CaO 5
2 2 3 2 3
〜12%、SrO 1〜10%、ΖηΟ 0〜5%、 RO 5〜20%を含有し、且つ実質的にァ ルカリ金属酸化物、 BaOおよび As Oを含有しないことを特徴とする無アルカリガラ
2 3
スが挙げられる。また、下記酸化物換算の重量%表示で、 SiO 55-65%, Al O
2 2 3
12〜20%、B O 8〜: L l%、MgO 0〜1%、 CaO 6〜: L l%、 SrO 3〜10%、
2 3
ZnO 0〜5%、RO 7〜20%を含有し、且つ実質的にアルカリ金属酸化物、 BaO、 As Oおよび Sb Oを含有しないことを特徴とする無アルカリガラスも好適である。さ
2 3 2 3
らに、下記酸化物換算の重量%表示で、 SiO 57. 5〜61. 5%、 Al O 14. 5〜1
2 2 3
7%、 B O 8. 5〜11%、 MgO 0〜0. 5%、 BaO 0〜0. 6%、 CaO 6〜9%、 S
2 3
rO 3〜7%、 ZnO 0〜1%を含有し、且つ実質的にアルカリ金属酸化物、 As Oお
2 3 よび Sb oを含有しないことを特徴とする無アルカリガラスも好適である。これらの無
2 3
アルカリガラスは、溶融性および耐失透性が優れているため、ガラス基板の生産性を 顕著に高めることができるだけでなぐガラス成形時の粘度が高いオーバーフローダ ゥンドロー法に好適である。
[0048] 無アルカリガラスの特に好ましい組成範囲として、下記酸化物換算の重量%表示で 、 SiO 55〜65%、 Al O 13〜17%、 B O 8. 5~10. 5% (但し、 10. 5%は含
2 2 3 2 3
まな ヽ;)、 MgO 0〜0. 50/0 ({&し、0. 50/0【¾きまな ヽ)、0&0 6. 5~11%, SrO 3 〜7%、ZnO 0〜1%、RO 7〜20%を含有し、且つ実質的にアルカリ金属酸化物 、 BaO、 As Oおよび Sb Oを含有しないことを特徴とする無アルカリガラスが挙げら
2 3 2 3
れる。この無アルカリガラスは、実質的に BaO、 As Oおよび Sb Oを含有しないた
2 3 2 3
め、環境に及ぼす影響を極めて低減でき、環境に配慮した次世代のガラス基板とし て好適である。また、この無アルカリガラスは、実質的に BaO、 As Oおよび Sb Oを
2 3 2 3 含有しな 、ため、ガラス基板のリサイクルを容易に図ることができる。
[0049] 薄 、板状に成形し、ガラス基板を安定して製造するためには、ガラスの耐失透性が 優れていることが要求される。また、液晶ディスプレイや有機 ELディスプレイに用いる ガラス基板の最も代表的な成形方法は、オーバーフローダウンドロー法である。ォー バーフローダウンドロー法を用いれば、表面を研磨しなくても、大面積で肉厚の薄い
、表面が非常に平滑なガラス基板を成形できるため、アクティブマトリックス型液晶デ イスプレイ用ガラス基板の成形方法として最も適している。一方、フロート法は、窓板 ガラスの成形工程として周知であるが、この方法は薄いガラス基板を成形する際に、 ガラスの引き出し方向に平行なスジ状の凹凸が発生する。ガラス基板上のスジは、画 像のゆがみやガラス基板間の液晶層の厚み変化による表示ムラ等のディスプレイの 映像品位に重大な影響を与えるおそれがある。このような事情から、フロート法で成 形したガラス基板をアクティブマトリックス型液晶ディスプレイ用ガラス基板として使用 する場合には、研磨工程を経て、凹凸を除去するための処理が必要となる。しかしな がら、研磨工程は、コストアップの一因になるとともに、研磨によって発生するガラス基 板の表面の微細なキズ力 アクティブマトリックス型液晶ディスプレイの製造工程でガ ラス基板上に形成される電子回路の断線を惹起するおそれがある。
[0050] オーバーフローダウンドロー法を採用するためには、ガラスの耐失透性が重要な特 性となる。ここで、失透とは、高温で融液状になったガラス原料を冷却してガラスを成 形する工程において、ガラスの内部や表面に結晶質の異物が析出することをいう。こ のような結晶質の異物は、光を遮断するため、ディスプレイ用ガラス基板としては致命 的な欠陥となる。また、オーバーフローダウンドロー法は、同じガラス組成を用いた場 合であっても、フロート法に比べてガラス成形時の温度が低い。よって、オーバーフロ 一ダウンドロー法を適用するためには、ガラス中に失透が生じやすぐ耐失透性が良 好なガラス組成を設計することが不可欠となる。具体的には、ガラスが成形される温 度を勘案して、ガラスの液相粘度は、 105 2dPa' s以上が好ましぐ 105 5dPa' s以上 力 り好ましぐ 105 8dPa' s以上が更に好ましい。また、液相温度でいえば、 1200°C 以下が好ましぐ 1150°C以下がより好ましぐ 1100°C以下が更に好ましぐ 1100°C 未満が特に好ましい。ガラスの液相粘度が 105· 2dPa' s未満であると、オーバーフロ 一ダウンドロー法を採用することができず、ガラスの成形方法に不当な制約が課され
、ガラス基板の表面品位を確保することが困難となる。同様にして、ガラスの液相温 度が 1200°Cより高いと、オーバーフローダウンドロー法を採用することができず、ガラ スの成形方法に不当な制約が課され、ガラス基板の表面品位を確保することが困難 となる。ここで、本発明でいう「液相粘度」は、液相温度におけるガラスの粘度を周知 の白金球引き上げ法で測定した値を指す。また、「液相温度」は、ガラスを粉砕し、標 準篩 30メッシュ(目開き 500 μ m)を通過し、 50メッシュ(目開き 300 μ m)に残るガラ ス粉末を白金ボートに入れ、温度勾配炉中に 24時間保持した後、ガラス中に失透( 結晶異物)が認められた最高温度を測定したものである。
本発明の無アルカリガラスは、下記酸化物換算で、 SnOを 0〜0. 3%含有し、且
2
つガラス組成として、 SnOが 0. 3%となるまで、 SnOを添カ卩したとき、得られるガラ
2 2
スの液相温度は 1150°C以下であることが好ましぐ 1100°C以下であることがより好ま しい。ガラス中に泡等の内部欠陥があれば、光の透過を妨げるため、ディスプレイ用 ガラス基板としては致命的な欠陥不良となる。一般的に、ガラス基板が大型化するに つれて、泡が残存する確率が高くなり、泡により欠陥不良となる確率が高くなり、ガラ ス基板の生産性が低下する。よって、ガラスの中の泡を低減する技術が重要となる。 ガラス中に含まれる泡を低減する方法には、清澄剤を使用する方法と、高温粘度を 低くする方法がある。前者の方法において、無アルカリガラスの清澄剤として、 As O
2 3 が最も効果的であるが、既述の通り、 As Oは環境負荷ィ匕学物質であることから、そ の使用を低減する必要がある。そこで、環境的観点から、 As Oの代替清澄剤として
2 3
SnOの導入が検討されている力 SnOは結晶性異物(失透)の原因になりやすぐ
2 2
これがガラス基板の内部欠陥となるおそれがある。したがって、 SnOに対して失透が
2
生じにくいガラスであれば、清澄剤として SnOを導入したとしても、それに起因する
2
失透が生じ難いため、ガラス基板の製造効率の向上および環境的配慮の両立を図 ることができ、非常に有効であると考えられる。その上、ガラス基板の製造工程では、 Sn電極がガラス中に溶出する事態もある程度想定されるため、 SnOに対して失透
2
が生じにくいガラスは、更に有利となる。その点、本発明の無アルカリガラスによれば 、ガラス組成中の SnOの含有量が 0. 3%に上昇しても、得られるガラスの液相温度
2
を 1150°C以下とすることができるため、上記効果を最大限に享受することができる。 一方、ガラス組成中の SnOの含有量が 0. 3%となった場合、得られるガラスの液相
2
温度が 1150°Cより高ければ、上記効果を享受し難くなる。ここで、「SnOが 0. 3%と
2 なるまで、 SnOを添加したとき、得られるガラスの液相温度」は、原料となるバッチに
2
、ガラス糸且成において SnOが 0· 3%となるまで SnOを添加(ガラス糸且成として、合計
2 2
100%となる)した上でガラスを溶融、成形し、その後、得られたガラス試料を粉砕し、 標準篩 30メッシュ(500 μ m)を通過し、 50メッシュ(300 μ m)に残るガラス粉末を白 金ボートに入れ、温度勾配炉中に 1週間保持した後、結晶が析出する温度を指す。 本発明の無アルカリガラスにおいて、ガラス糸且成中に ZrOを 0. 5%添カ卩したとき、
2
得られるガラスの液相温度は 1150°C以下であることが好ましぐ 1100°C以下である ことがより好ましい。泡 ·異物等の内部欠陥を低減する以外にガラス基板の製造コスト を低下させる方策として、溶融窯の寿命を長くし、窯の修理頻度を少なくすることが効 果的である。そのための手段として、溶融ガラスに浸食されにくい Zr系耐火物を使用 することが好ましいが、 Zr系耐火物の使用個所を増やす程、 Zr系の結晶性異物 (失 透)が発生しやすくなり、これがガラス基板の内部欠陥となるおそれがある。したがつ て、 ZrOに対して失透が生じにくいガラスであれば、溶融窯の耐火物として、 Zr系耐
2
火物を使用したとしても、このことに起因する失透が生じ難いため、ガラス基板の製造 コストを低下させることができ、非常に有効であると考えられる。その点、本発明の無 アルカリガラスによれば、ガラス組成中に ZrOを 0. 5%添カロしても、得られるガラスの 液相温度を 1150°C以下とすることができるため、上記効果を最大限に享受すること ができる。一方、ガラス組成中に ZrOを 0. 5%添加したとき、得られるガラスの液相
2
温度が 1150°Cより高ければ、上記効果を享受し難くなる。ここで、「ガラス組成中に Z rOを 0. 5%添加したとき、得られるガラスの液相温度」は、原料となるバッチに、ガラ
2
ス組成に ZrOを 0. 5%に相当する量添加 (ガラス組成として、見掛け上、合計 100.
2
5%となる)した上でガラスを溶融、成形し、その後、得られたガラス試料を粉砕し、標 準篩 30メッシュを通過し、 50メッシュに残るガラス粉末を白金ボートに入れ、温度勾 配炉中に 1週間保持した後、結晶が析出する温度を指す。
[0053] 本発明の無アルカリガラスにおいて、熱膨張係数は 30〜50 X 10_7Z°Cが好ましく 、 35〜45 X 10_7/°Cがより好ましい。従来、無アルカリガラス基板の熱膨張係数は 、ガラス基板上に成膜される a— Si、或いは p— Siの熱膨張係数と整合しているのが 望ましいとされ、具体的には 35 X 10_7Z°C以下が望ましいとされてきた。しかし、液 晶ディスプレイや有機 ELディスプレイ用ガラス基板は、その表面に a— Si、或いは p Si膜だけでなぐより熱膨張係数が低い SiNxや、より熱膨張係数が高い Cr、 Ta、 A1等の金属配線および ITO等が成膜される。これらの部材との熱膨張係数を整合さ せる観点から、無アルカリガラスの熱膨張係数は、必ずしも低膨張であれば良いとい うわけではないことが判明した。すなわち、無アルカリガラスの熱膨張係数には適正 な範囲があり、具体的には、熱膨張係数は 30〜50 X 10_7Z°Cが好ましぐ 34-45 X 10_7Z°Cがより好ましぐ 35〜45 X 10_7Z°Cが更に好ましぐ 36~40 X 10"V °Cが特に好ましい。無アルカリガラスの熱膨張係数がこの範囲内であると、各種膜と の熱膨張係数が整合するだけでなぐ耐熱衝撃性を向上させることができる。しかし、 熱膨張係数がこの範囲カゝら外れると、各種膜と熱膨張係数の整合が取れず、且つ耐 熱衝撃性が悪化するおそれが生じる。なお、本発明でいう「30〜380°Cの温度範囲 における熱膨張係数」は、 JIS R3102に基づき、ディラトメーターで 30〜380°Cにお ける平均熱膨張係数を測定した値を指す。
[0054] 本発明の無アルカリガラスにおいて、密度は、 2. 54gZcm3以下が好ましぐ 2. 50 gZcm3以下がより好ましぐ 2. 50gZcm3未満が更に好ましぐ 2. 47gZcm3以下 が特に好ましい。液晶ディスプレイや有機 ELディスプレイには、薄型化、軽量化の要 求があり、同様にガラス基板にも軽量化、薄型化の要求がある。このため、これらの用 途のガラス基板は、主に 0. 4〜0. 7mm厚の薄いガラス基板が用いられる力 更に パネルの軽量ィ匕を図るために低密度のガラスも要求されて 、る。ガラス基板の密度 は、小さければ小さいほど、ガラスが軽量になり、モノィル機器用途に好適となるが、 密度を過度に小さくすると、溶融性ゃ耐失透性が悪化し、大面積で泡、ブッ等が存 在しない無欠陥のガラス基板を得ることが困難になり、フラットテレビ等のガラス基板 を安定して製造する見地力も望ましくない。したがって、他の特性を考慮すれば、密 度は、 2. 40gZcm3以上(望ましくは 2. 44gZcm3以上、 2. 45gZcm3以上)に設 計するのが目安になる。ここで、本発明において、「密度」は、 JIS Z8807に基づく、 周知のアルキメデス法で測定した値を指す。
本発明の無アルカリガラスにおいて、歪点は 620°C以上が好ましぐ 630°C以上が より好ましぐ 635°C以上が更に好ましぐ 650°C以上が特に好ましい。 TFTおよび配 線等の電子回路を形成する工程で、ガラス基板には透明導電膜、絶縁膜、半導体膜 および金属膜等が成膜され、更にフォトリソグラフィーエッチング工程によって種々の 回路、パターンが形成される。これらの成膜およびフォトリソグラフィーエッチング工程 において、ガラス基板は、種々の熱処理、薬品処理を受ける。例えば、アクティブマト リックス型液晶ディスプレイでは、ガラス基板上に絶縁膜や透明導電膜を成膜し、更 にアモルファスシリコンや多結晶シリコンの TFTが、フォトリソグラフィーエッチングェ 程を経て、ガラス基板上に多数形成される。これらの工程でガラス基板は 300〜600 °Cの熱処理を受ける。この熱処理によりガラス基板が数 ppm程度の寸法変化 (ガラス 基板 lmの長さ寸法に対して数/ z m :—般的に、この寸法変化は熱収縮と呼ばれて いる)を起こすことがある。ガラス基板の熱収縮が大きいと、 TFTのパターンにズレが 発生し、多層の薄膜が積層された素子を正確に形成することができなくなる。熱収縮 を小さく抑えるためには、ガラスの耐熱性を上げること、具体的には歪点を上げること が効果的である。しかし、歪点を上げ過ぎると、ガラス基板の溶融、成形時の温度が 上昇してしまい、ガラス製造設備の負荷が大きくなり、コストアップの要因となり得る。 したがって、他の特性を考慮すれば、歪点は、 680°C以下、特に 670°C以下に設計 するのが目安になる。 [0056] 無アルカリのガラス系では、融剤成分として効果が高いアルカリ金属酸化物を含ん でいないため、高度な溶融技術が必要とされる。無アルカリのガラス系を溶融する方 法には、溶融窯の温度を上昇させる等の溶融設備'溶融条件を最適化する方法ゃガ ラスの融点を下げて、ガラスを溶かしやすくする方法が挙げられる。後者の方法にお いて、ガラスの溶融性の指標として、高温粘度 102· 5 dPa' sにおける温度があり、高 温粘度 102· 5 dPa' sにおける温度が低いほど、ガラスを溶力しゃすくなる。本発明の 無アルカリガラスにおいて、高温粘度 102 5dPa' sにおける温度は、 1600°C以下とす るのが好ましぐ 1580°C以下とするのがより好ましぐ 1560°C以下とするのがより好ま しぐ 1550°C以下とするのが更に好ましぐ 1540°C以下とするのが特に好ましい。高 温粘度 102· 5dPa' sにおける温度が 1600°Cより高いと、ガラスを均質に溶融するため に溶融窯を高温に保持する必要があり、これに付随してアルミナやジルコユア等の溶 融窯に使用される耐火物が侵食されやすくなり、結果として、溶融窯のライフサイクル が短くなり、ガラス基板の製造コストの高騰を招くおそれが生じる。また、ガラスを低温 で溶融することができれば、それだけガラスの溶融に要するエネルギーコストを抑制 することができ、環境に及ぼす負荷を低減することができる。なお、本発明でいう「高 温粘度 102· 5dPa' sにおける温度」は、周知の白金球引き上げ法によって測定した値 を指す。
[0057] 本発明の無アルカリガラスは、 80°Cの 10%HC1水溶液に 24時間浸漬したとき、そ の侵食量が 1. OmgZcm2以下が好ましぐ 0. 6mgZcm2以下がより好ましい。また、 本発明の無アルカリガラスは、 20°Cの 63BHF溶液に 30分間浸漬したとき、その侵 食量が 1. 2mgZcm2以下が好ましぐ 0. 9mgZcm2以下がより好ましい。さらに、本 発明の無アルカリガラスは、 20°Cの 63BHF溶液に 30分間浸漬したとき、目視による 表面観察で白濁、荒れが認められないことが好ましい。液晶ディスプレイ用ガラス基 板の表面には、透明導電膜、絶縁膜、半導体膜、金属膜等が成膜され、しかもフォト リソグラフィーエッチングによって種々の回路やパターンが形成される。また、これらの 成膜、フォトリソグラフィーエッチング工程において、ガラス基板には、種々の熱処理 や薬品処理が施される。一般的に、 TFTアレイプロセスでは、成膜工程→レジストパ ターン形成→エッチング工程→レジスト剥離工程の一連のプロセスが繰り返される。 その際、エッチング液として、硫酸、塩酸、アルカリ溶液、フッ酸、 BHF等の種々の薬 液処理を受けることに加えて、 CF、 S F、 HC1等のガスを用いたプラズマによるエツ
4 2 6
チング工程を通る。これらの薬液は、低コストィ匕を考慮して、使い捨てではなぐ循環 の液系フローとなっている。ガラスの耐薬品性が乏しいと、エッチングの際、薬液とガ ラス基板との反応生成物が、循環の液系フローのフィルターを詰まらせたり、不均質 エッチングによってガラス表面に白濁が生じ、或いはエッチング液の成分が変化する ことによって、エッチングレートが不安定になる等の様々な問題を引き起こす可能性 がある。特に、 BHFに代表されるフッ酸系の薬液は、ガラス基板を強く侵食するため 、上記のような問題が発生しやすぐガラス基板は耐 BHF性に優れていることが要求 されている。すなわち、ガラスの薬液に対する侵食量が小さいことは、薬液の汚染や 反応生成物による工程中のフィルタの詰まりを防止する観点から非常に重要である。 また、ガラスの耐薬品性に関して、侵食量が小さいだけでなぐ外観変化を引き起こ さないことが重要である。薬液処理によってガラスの外観が白濁や荒れ等の変化を 起こさな!/、ことは、光の透過率が重要なアクティブマトリックス型液晶ディスプレイ等の ディスプレイ用ガラス基板として不可欠な特性である。この侵食量と外観変化の評価 結果は、特に耐 BHF性について必ずしも一致せず、例えば同じ侵食量を示すガラス であっても、その組成によって薬品処理後に外観変化を引き起こしたり、引き起こさな 力つたりする場合がある。その点、本発明の無アルカリガラスによれば、 20°Cの 63B HF溶液に 30分間浸漬しても、その侵食量が 1. 2mgZcm2以下、且つ 20°Cの 63B HF溶液に 30分間浸漬しても、 目視による表面観察で白濁、荒れが認められないも のとすることができるため、上記問題点を確実に解消することができる。
[0058] 本発明の無アルカリガラスは、ビッカース硬度が 560以上が好ましぐ 570以上がよ り好ましぐ 580以上が更に好ましい。ビッカース硬度が 560未満であると、ガラス基 板に傷が付きやすぐこの傷が原因でガラス基板上に形成した電子回路の断線を引 き起こすおそれがある。なお、本発明でいう「ビッカース硬度」は、 JIS Z2244- 199 2に準拠した方法で測定した値を指す。
[0059] 本発明の無アルカリガラスは、比ヤング率 (ヤング率を密度で割った値)が 27GPa Zg ' cm—3以上が好ましぐ 28GPaZg'cm_3以上がより好ましぐ 29GPa/g-cm"3 以上が更に好ましぐ 29. 5GPaZg'cm_d以上が特に好ましい。比ヤング率を 27G PaZg'cm—3以上とすれば、大型で薄板のガラス基板であっても問題が生じない程 度のたわみ量に抑えることができる。ここで、「ヤング率」は、 JIS R1602に基づく、 共振法で測定した値を指す。
[0060] 本発明の無アルカリガラスは、 104dPa' sにおける温度を T (°C)、軟ィ匕点を T (°C)
3 4 としたときに、 T— T≤330°Cの関係を満たすことが好ましい。ガラス基板の厚み、
3 4
板幅方向の反りやうねりの形状は、溶融ガラスの温度が成形温度から軟化点に達す るまでにほぼ決定される。そのため、 T— Tを小さぐ具体的には、好ましくは T— T
3 4 3 を 330°C以下、より好ましくは 325°C以下、更に好ましくは 320°C以下にすれば、ガ
4
ラス基板の厚み、板幅方向の反りやうねりの形状を制御しやすくなる。また、 T T
3 4
≤330°Cに規制すれば、冷却時に粘性が早く上昇し、ガラス基板形状に素早く成形 することができる。すなわち、 T -Tを 330°C以下にすれば、薄板のガラス基板を平
3 4
坦に成形しやすくなる。また、 T T
3 4を 330°C以下にすれば、大型のガラス基板を平 坦に成形しやすくなる。さらに、ダウンドロー成形の場合、徐冷に供される炉内距離 には、設備設計上の制限があり、それに伴いガラス基板の徐冷時間も制限を受け、 例えば成形温度から室温まで数分で冷却しなければならない。よって、上記粘度特 性は、非常に有利である。一方、 T— Tが 330°Cより高いと、ガラス基板の厚み、板
3 4
幅方向の反りやうねりの形状を制御し難くなる。なお、 τ
3は、成形温度に相当してい る。
[0061] 上記ガラス組成範囲にぉ ヽて、好ま 、清澄剤および好ま 、特性を任意に組み 合わせて、好ましいガラス組成範囲を限定することは当然に可能である力 その中に あって、無アルカリガラスとして、実質的にアルカリ金属酸化物、 Sb Oおよび As O
2 3 2 3 を含有せず、下記酸化物換算の重量%表示で、 SiO 50〜70%、 Al O 10〜20
2 2 3
%、 B O 8〜12%、 MgO 0〜3%、 CaO 4〜15%、 SrO 0〜10%、 BaO 0〜
2 3
1%、 RO 8〜15%、 SnO 0. 05〜1%を基本組成として含有し、且つ歪点が 630
2
°C以上、密度が 2. 50g/cm3未満、液相粘度が 105 2dPa' s以上、 102 5dPa' sにお ける温度が 1550°C以下の特性を有する無アルカリガラスが好適である。
[0062] 無アルカリガラスの更に好ましい態様として、実質的にアルカリ金属酸化物、 Sb O および As Oを含有せず、下記酸化物換算の重量%表示で、 SiO 58
2 〜68%、 A1
2 3
O 14〜18%、B O 9〜12%、MgO 0〜1. 9%
2 3 2 3 、 CaO 4〜12%、 SrO 1〜
8%、BaO 0〜1%、RO 10〜15%を基本組成として含有し、且つ歪点が 630°C 以上、密度が 2. 50g/cm3未満、液相温度が 1100°C以下、液相粘度が 105· 5dPa- s以上、 102 5dPa' sにおける温度が 1550°C以下、比ヤング率が 29. 5GPa/g-cm _3以上の特性を有する無アルカリガラスが好適である。
[0063] 液晶ディスプレイ等では、大きなガラス基板 (マザ一ガラスと称される)から何枚もの ディスプレイを作製する所謂多面取りが行われており、多面取りを行うと、ディスプレイ の製造コストを低減できることから、近年、要求されるガラス基板の面積は次第に大き くなつている。一方、ガラス基板の面積が大きくなると、ガラス基板中に失透物が現れ る確率が高くなり、ガラス基板の良品率が急激に低下する。したがって、耐失透性が 良好な本発明の無アルカリガラス基板によれば、大型の基板を作製する上で大きな メリットがある。例えば、基板面積が 0. lm2以上(具体的には、 320mm X 420mm以 上のサイズ)、特に 0. 5m2以上(具体的には、 630mm X 830mm以上のサイズ)、 1 . Om2以上(具体的には、 950mmX 1150mm以上のサイズ)、更には 2. 3m2以上( 具体的には、 1400mm X I 700mm以上のサイズ)、 3. 5m2以上(具体的には、 175 0mm X 2050mm以上のサイズ)、 4. 8m2以上(具体的には、 2100mm X 2300m m以上のサイズ)と大型化するほど有利になる。また、本発明の無アルカリガラス基板 によれば、低密度、高比ヤング率の特性を付与することができる点にカ卩えて、薄板の ガラス基板を精度良く成形することが可能であり、肉厚を 0. 8mm以下 (好ましくは 0. 7mm以下、より好ましくは 0. 5mm以下、更に好ましくは 0. 4mm以下)にすれば、本 発明の利点 (特に軽量ィ匕効果)を効果的に享受することができる。また、本発明の無 アルカリガラス基板は、ガラス基板の板厚を薄くしても、従来のガラス基板に比べて、 ガラス基板のたわみ量を小さくすることができるため、ガラス基板をカセットの棚へ出 し入れする際の破損等を防止しやすくなる。
[0064] 本発明の無アルカリガラス基板は、フラットテレビ用液晶ディスプレイに使用すること が好ましい。近年、フラットテレビ用液晶ディスプレイの画面サイズは、大型化する傾 向があり、本発明の無アルカリガラス基板は、生産性に優れるため、基板面積の大型 化を容易に図ることができる。さらに、本発明の無アルカリガラス基板は、オーバーフ ローダウンドロー法で成形することができるため、表面品位が良好なガラス基板を効 率よく製造でき、フラットテレビ用液晶ディスプレイの映像品位を損なうことがない。し たがって、本発明の無アルカリガラス基板は、本用途に好適である。
[0065] 本発明の無アルカリガラス基板は、未研磨の表面を有することが好ま 、。ガラスの 理論強度は本来非常に高いのである力 理論強度よりも遥かに低い応力でも破壊に 至ることが多い。これは、ガラス基板の表面にグリフィスフローと呼ばれる小さな欠陥 が成形後の工程、例えば研磨工程等で生じる力もである。よって、ガラス基板の表面 を未研磨とすれば、本来のガラス基板の機械的強度が損なわれにくくなり、ガラス基 板が破壊し難くなる。また、ガラス基板の表面を未研磨とすれば、ガラス基板の製造 工程で研磨工程を省略できるため、ガラス基板の製造コストを下げることができる。本 発明の無アルカリガラス基板において、ガラス基板の両面全体を未研磨とすれば、ガ ラス基板が更に破壊し難くなる。また、本発明の無アルカリガラス基板において、ガラ ス基板の切断面から破壊に至る事態を防止するため、ガラス基板の切断面に面取り 加工等を施してもよい。
[0066] 本発明の無アルカリガラス基板にぉ 、て、ガラス基板の平均表面粗さ (Ra)は、 10 A以下であることが好ましぐ 7A以下がより好ましぐ 4A以下が更に好ましぐ 2A以 下が最も好ましい。平均表面粗さ (Ra)が 10Aより大きいと、液晶ディスプレイの製造 工程において、電極等の正確なパターユングを行うことが困難となり、その結果、回 路電極が断線、ショートする確率が上昇し、液晶ディスプレイ等の信頼性を担保し難 くなる。
[0067] 本発明の無アルカリガラス基板において、ガラス基板の最大板厚と最小板厚の差 は 20 μ m以下であることが好ましぐ 10 μ m以下がより好ましい。ガラス基板の最大 板厚と最小板厚の差が 20 mより大きいと、電極等の正確なパターユングを行うこと が困難となり、その結果、回路電極が断線、ショートする確率が上昇し、液晶ディスプ レイ等の信頼性を担保し難くなる。
[0068] 本発明の無アルカリガラス基板において、ガラス基板のうねりは、 0. 1 m以下が 好ましく、 0. 05 μ m以下力 Sより好ましく、 0. 03 μ m未満力 S更に好ましく、 0. 01 m 以下が最も好ましい。さらに、理想的には、実質的にうねりが存在しないことが望まし い。うねり力 . l /z mより大きいと、電極等の正確なパターユングを行うことが困難とな り、その結果、回路電極が断線、ショートする確率が上昇し、液晶ディスプレイ等の信 頼性を担保し難くなる。
[0069] 本発明の無アルカリガラス基板において、 目標板厚に対する誤差は 10 m以下が 好ましぐ 5 m以下がより好ましい。ガラス基板の目標板厚に対する誤差が 10 m より大きいと、電極等のパターニング精度が低下し、所定の条件で高品質の液晶ディ スプレイ等を安定して製造することが困難となる。
[0070] 本発明の無アルカリガラス基板は、所望のガラス組成となるように調合したガラス原 料を連続溶融炉に投入し、ガラス原料を加熱溶融し、脱泡した後、成形装置に供給 した上で溶融ガラスを板状に成形し、徐冷すること〖こより製造することができる。
[0071] 表面品位が良好なガラス基板を製造する観点から、オーバーフローダウンドロー法 で板状に成形することが好ましい。その理由は、オーバーフローダウンドロー法の場 合、ガラス基板の表面となるべき面は樋状耐火物に接触せず、自由表面の状態で成 形されることにより、無研磨で表面品位が良好なガラス基板を成形できる力もである。 ここで、オーバーフローダウンドロー法は、溶融ガラスを耐熱性の樋状構造物の両側 から溢れさせて、溢れた溶融ガラスを樋状構造物の下端で合流させながら、下方に 延伸成形してガラス基板を製造する方法である。樋状構造物の構造や材質は、ガラ ス基板の寸法や表面精度を所望の状態とし、ディスプレイ用ガラス基板に使用できる 品位を実現できるものであれば、特に限定されない。また、下方への延伸成形を行う ためにガラス基板に対してどのような方法で力を印加するものであってもよい。例え ば、充分に大き 、幅を有する耐熱性ロールをガラス基板に接触させた状態で回転さ せて延伸する方法を採用してもよいし、複数の対になった耐熱性ロールをガラス基板 の端面近傍のみに接触させて延伸する方法を採用してもよい。本発明の無アルカリ ガラスは、耐失透性が優れるとともに、成形に適した粘度特性を有しているため、ォ 一バーフローダウンドロー法による成形を精度よく実行することができる。 実施例
[0072] 以下、本発明を実施例に基づいて詳細に説明する。 [0073] 表 1〜16は、本発明の実施例(試料 No. 1〜79)を示している。表 17は、本発明の 比較例(試料 No. 80、 81)を示している。
[0074] [表 1]
Figure imgf000024_0001
[0075] [表 2]
Figure imgf000025_0001
]
Figure imgf000026_0001
]
Figure imgf000027_0001
]
Figure imgf000028_0001
]
Figure imgf000029_0001
]
Figure imgf000030_0001
]
Figure imgf000031_0001
]
Figure imgf000032_0001
0]
Figure imgf000032_0002
[0084] [表 11]
Figure imgf000033_0001
[0085] [表 12]
Figure imgf000033_0002
[0086] [表 13]
Figure imgf000034_0001
[0087] [表 14]
Figure imgf000034_0002
[0088] [表 15]
Figure imgf000035_0001
6]
Figure imgf000036_0001
Figure imgf000037_0001
[0091] 各ガラス試料は、次のように作製した。定められた割合に原料を調合したバッチを 白金坩堝に入れ、 1600°Cで 24時間溶融し、その後力-ボン板上に流し出し、板状 に成形した。このガラス試料を用いて密度、歪点、高温粘度等の各種特性を測定し た。
[0092] 密度は、 JIS Z8807に基づく、周知のアルキメデス法で測定した。歪点、徐冷点お よび軟ィ匕点は、 JIS R3103に基づいて測定した。
[0093] 熱膨張係数は、 JIS R3102に基づいて、ディラトメーターで 30〜380°Cの温度範 囲における平均熱膨張係数を測定した。
[0094] 高温粘度 104' °ボイズにおける温度および高温粘度 102' 5ボイズにおける温度は、 既知の白金球引き上げ法を用いて測定した。
[0095] 液相温度は、各ガラス試料を粉砕し、標準篩 30メッシュ(目開き 500 μ m)を通過し 、 50メッシュ(目開き 300 m)に残るガラス粉末を白金ボートに入れ、温度勾配炉中 に 24時間保持した後、ガラス中に失透 (結晶異物)が認められた最高温度を測定し た。液相粘度は、液相温度におけるガラスの粘度を周知の白金球引き上げ法で測定 した値を示した。
[0096] SnOを添カ卩したときの液相温度(表中では耐 SnO失透性)は、原料となるバッチ
2 2
に、ガラス組成において SnOが 0. 3%となるまで添加し、上記と同様の条件でガラ
2
スを溶融 '成形し、その後、ガラス試料を粉砕し、標準篩 30メッシュ(500 m)を通過 し、 50メッシュ(300 m)に残るガラス粉末を白金ボートに入れ、温度勾配炉中に 1 週間保持して、結晶の析出する温度を測定した。次いで、 1150°Cで失透が認められ ないものを「〇」、 1150°Cで失透が認められたものを「X」とした。なお、本評価と並行 して、ガラスの清澄性を評価したところ、 SnOを 0. 3%となるまで添加したとき、ガラ
2
スに泡欠陥は認められな力つた。
[0097] ZrOを添加したときの液相温度 (表中では耐 ZrO失透性)は、原料となるバッチに
2 2
、 ZrOをガラス組成において 0. 5%に相当する量を添カ卩し、上記と同様の条件でガ
2
ラスを溶融 '成形し、その後、ガラス試料を粉砕し、標準篩 30メッシュ(500 m)を通 過し、 50メッシュ(300 m)に残るガラス粉末を白金ボートに入れ、温度勾配炉中に 1週間保持して、結晶の析出する温度を測定した。次いで、 1150°Cで失透が認めら れないものを「〇」、 1150°Cで失透が認められたものを「 X」とした。
[0098] ヤング率は、 JIS R1602に基づぐ共振法で測定した。比ヤング率は、ヤング率を 密度で割ることにより、算出した。
[0099] ビッカース硬度は、 JIS Z2244— 1992に準拠した方法により測定した。
[0100] 耐薬品性は、各ガラス試料を 25 X 30 X 1mmに加工し、両面を光学研磨して、次 の手順で測定した。各ガラス試料の重量 Wをあら力じめ測定しておき、所定の濃度 に調合した薬液中で、所定の温度で所定の時間浸漬した後に各ガラス試料の重量 Wを再度測定した。重量減少量(AW=W -W )を測定前の各ガラス試料の表面
2 1 2
積 Sで除して侵食量(AWZS)を求めた。さらに、各ガラス試料について、薬液処理 後のガラス表面の白濁を観察した。ガラス表面が白濁したり、クラックが入っているも のを「X」、弱い白濁、荒れが見られるものを「△」、全く変化の無いものを「〇」とした。 薬液および処理条件に関し、耐酸性は、 10%塩酸水溶液を用いて、 80°C、 24時間 処理で評価した。耐 BHF性は、 63BHF溶液(HF: 6%、 NH F: 30%)を用いて、 2 0°C、 30分処理で評価した。
[0101] 本発明の実施例の各ガラス試料は、密度が 2. 41〜2. 53gZcm3、熱膨張係数が 36〜43 X 10_7/°C、歪点、力 S643〜675°C、徐冷点、力 S696〜728°C、軟ィ匕点、力 909 〜963°C、高温粘度 104 dPa' sにおける温度が 1215〜1292°C高温粘度 102· 5dP a' sにおける温度が 1475〜1573°C、液相温度が 1063〜1125°C、液相粘度が 105 · 2〜106· 'dPa- s,ヤング率が 70〜75GPa、比ヤング率が 29〜31GPaZg'cm_3で あった。また、ビッカース硬度が 590〜610、 80°Cの 10%HC1水溶液に 24時間浸漬 したときの侵食量が 0. 4〜0. 6mgZcm2、 20°Cの 63BHF溶液に 30分間浸漬した ときの侵食量が 0. 6〜0. 8mgZcm2であり、し力も外観変化が認められなかった。さ らに、耐 Sn失透性、耐 Zr失透性も良好であった。
[0102] したがって、本発明の実施例に係る各ガラス試料は、環境負荷化学物質を含有せ ず、或いはその含有量が少ないため、環境的配慮がなされたガラスといえる。その上 、密度が 2. 54gZcm3以下であり、ガラス基板の軽量ィ匕を図ることができ、熱膨張係 数が 35〜45 X 10_7Z°Cの範囲内にあるため、各種薄膜との整合性が良好であり、 歪点が 640°C以上であるため、ディスプレイ製造工程における熱処理工程でガラス が熱収縮し難い。更に、液相温度が 1200°C以下であり、且つ液相粘度が 105' 2dPa •s以上であることから、耐失透性が優れているとともに、ガラスの成形性が優れており 、し力も高温粘度 102 5dPa' sにおける温度が 1580°C以下であるので、ガラスの溶 融、成形性に優れており、更には、耐薬品性、特に耐 BHF性、耐酸性に優れていた
[0103] 本発明の比較例のガラス試料 No. 80は、耐失透性および耐薬品性が劣っていた 。また、本発明の比較例のガラス試料 No. 81は、 BaOを 2. 5%含有しているため、 環境に及ぼす影響が懸念される。
[0104] さらに、実施例試料 No. 44のガラスを試験溶融炉で溶融し、オーバーフローダウン ドロー法でガラス基板に成形し、 900mm X I 100mmの基板サイズ、厚み 0. 5mm のディスプレイ用ガラス基板を作製したところ、このガラス基板の反りは 0. 05%以下 、うねり(WCA)は 0. 以下、表面粗さ(Ra)は 50 A以下(カットオフえ c : 9 m) であり、表面品位に優れ、 LCD用ガラス基板として適したものであった。なお、ォー バーフローダウンドロー法による成形に際し、引っ張りローラーの速度、冷却ローラー の速度、加熱装置の温度分布、溶融ガラスの温度、ガラスの流量、板引き速度、攪拌 スターラーの回転数等を適宜調整することで、ガラス基板の表面品位を調節した。ま た、「反り」は、ガラス基板を光学定盤上に置き、 JIS B— 7524に記載のすきまゲー ジを用いて測定したものである。「うねり」は、触針式の表面形状測定装置を用いて、 J IS B— 0610に記載の WCA (ろ波中心線うねり)を測定した値であり、この測定は、 SEMI STD D15— 1296「FPDガラス基板の表面うねりの測定方法」に準拠した 方法で測定し、測定時のカットオフは 0. 8〜8mm、ガラス基板の引き出し方向に対 して垂直な方向に 300mmの長さで測定したものである。「平均表面粗さ(Ra)」は、 S EMI D7- 94「FPDガラス基板の表面粗さの測定方法」に準拠した方法により測定 した値である。
産業上の利用可能性
[0105] 本発明の無アルカリガラスは、環境負荷化学物質の含有量が少量であり、し力も環 境負荷ィ匕学物質を実質的に含有しないガラスとすることもできる。したがって、本発明 の無アルカリガラスは、環境に配慮したガラスであり、ガラス原料のリサイクルを容易 に図ることができるとともに、環境汚染を招くおそれも少ないため、次世代のガラス基 板として好適に使用することができる。
[0106] したがって、本発明の無アルカリガラスは、液晶ディスプレイ、有機 ELディスプレイ 等のディスプレイ基板、 CMOS等の固体撮像素子等のカバーガラスおよびフィルタ 一、センサ等の基板として、好適である。

Claims

請求の範囲
ガラス組成として、下記酸化物換算の重量%表示で、 SiO 50〜70%、 Al O 1
2 2 3
0〜20%、B O 8〜12%、MgO 0〜3%、 CaO 4〜15%、 SrO 0〜10%、 Ba
2 3
Ο 0〜1%、ΖηΟ 0〜5%を含有し、且つ実質的にアルカリ金属酸化物および As
2
Oを含有しないことを特徴とする無アルカリガラス。
3
ガラス組成として、下記酸化物換算の重量%表示で、 SiO 50〜70%、 Al O 1
2 2 3
0〜20%、B O 8〜12%、MgO 0〜3%、 CaO 4〜15%、 SrO 0〜10%、 Ba
2 3
Ο 0〜1%、ΖηΟ 0〜5%を含有し、且つ実質的にアルカリ金属酸化物、 As Oお
2 3 よび Sb oを含有しないことを特徴とする無アルカリガラス。
2 3
ガラス組成として、下記酸化物換算の重量%表示で、 SiO 50〜70%、 Al O 1
2 2 3
0〜20%、 B O 8〜12%、 MgO 0〜3%、 CaO 4〜15%、 SrO 0〜10%、 Ba
2 3
O 0〜0. 2%、 ZnO 0〜5%を含有し、且つ実質的にアルカリ金属酸化物および A s Oを含有しないことを特徴とする無アルカリガラス。
2 3
ガラス組成として、下記酸化物換算の重量%表示で、 SiO 55-65%, Al O 1
2 2 3
2〜20%、 B O 8〜12%、 MgO 0〜2%、 CaO 5〜12%、 SrO 1〜10%、 Zn
2 3
O 0〜5%、 RO 5〜20%を含有し、且つ実質的にアルカリ金属酸化物、 BaOおよ び As Oを含有しないことを特徴とする無アルカリガラス。
2 3
ガラス組成として、下記酸化物換算の重量%表示で、 SiO 55-65%, Al O 1
2 2 3
2〜20%、 B O 8〜12%、 MgO 0〜2%、 CaO 5〜12%、 SrO 1〜10%、 Zn
2 3
O 0〜5%、 RO 5〜20%を含有し、且つ実質的にアルカリ金属酸化物、 BaOおよ び As Oを含有しないことを特徴とする無アルカリガラス。
2 3
ガラス組成として、下記酸化物換算の重量%表示で、 SiO 55-65%, Al O 1
2 2 3
2〜20%、B O 8〜: L l%、MgO 0〜1%、 CaO 6〜: L l%、 SrO 3〜10%、 Zn
2 3
O 0〜5%、RO 7〜20%を含有し、且つ実質的にアルカリ金属酸化物、 BaO、 As Oおよび Sb oを含有しないことを特徴とする無アルカリガラス。
2 3 2 3
ガラス組成として、下記酸化物換算の重量%表示で、 SiO 55-65%, Al O 1
2 2 3
3〜170/0、 Β Ο 8. 5〜10. 50/0 (但し、 10. 50/οίま含まな!/ヽ)、 MgO 0〜0. 5% (
2 3
但し、 0. 50/oiま含まな!/、)、 CaO 6. 5〜11. 50/0、 SrO 3〜70/0、 ZnO 0〜10/0、 R O 7〜20%を含有し、且つ実質的にアルカリ金属酸化物、 BaO、 As Oおよび Sb
2 3 2 oを含有しないことを特徴とする無アルカリガラス。
3
[8] 請求項 1〜7のいずれかに記載の無アルカリガラスによって構成されることを特徴と する無アルカリガラス基板。
[9] 平均表面粗さ (Ra)が 20A以下であることを特徴とする請求項 8に記載の無アル力 リガラス基板。
[10] うねりが 0. 1 m以下であることを特徴とする請求項 8または 9に記載の無アルカリ ガラス基板。
[11] 最大板厚と最小板厚の板厚差が 20 μ m以下であることを特徴とする請求項 8〜: L0 の!、ずれかに記載の無アルカリガラス基板。
[12] 目標板厚に対する誤差が 10 m以下であることを特徴とする請求項 8〜11のいず れかに記載の無アルカリガラス基板。
[13] ディスプレイに使用することを特徴とする請求項 8〜12のいずれかに記載の無アル カリガラス基板。
[14] 液晶ディスプレイまたは有機 ELディスプレイに使用することを特徴とする請求項 8
〜 13のいずれかに記載の無アルカリガラス基板。
[15] フラットテレビ用液晶ディスプレイに使用することを特徴とする請求項 8〜14のいず れかに記載の無アルカリガラス基板。
[16] 請求項 8〜 15のいずれかに記載の無アルカリガラス基板の製造方法であって、成 形方法がオーバーフローダウンドロー法であることを特徴とする無アルカリガラス基板 の製造方法。
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