WO2007074700A1 - 導電性接触子ホルダおよび導電性接触子ユニット - Google Patents

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holder
signal
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Hiroshi Nakayama
Mitsuhiro Nagaya
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NHK Spring Co Ltd
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    • G01R1/06716Elastic
    • G01R1/06722Spring-loaded

Definitions

  • the present invention at least accommodates a signal conductive contact that inputs and outputs a signal to a predetermined circuit structure, and a ground conductive contact that supplies a ground potential to the circuit structure.
  • the present invention relates to a conductive contact holder and a conductive contact unit.
  • a technique related to a conductive contact unit in which a plurality of conductive contacts are provided corresponding to external contact electrodes of a semiconductor integrated circuit is known.
  • the conductive contact unit is composed of a plurality of conductive contacts, a conductive contact holder in which an opening for receiving the conductive contacts is formed, and an inspection circuit electrically connected to the conductive contacts. (For example, see Patent Document 1).
  • the plurality of conductive contacts provided in the conductive contact unit are respectively a signal conductive contact for inputting / outputting an electric signal to / from a semiconductor integrated circuit to be inspected, and a semiconductor integrated circuit. It is roughly classified into a conductive contact for ground that supplies a ground potential and a conductive contact for power supply that supplies driving power to a semiconductor integrated circuit. Each of these conductive contacts realizes the above function by being electrically connected to a signal generation circuit or the like provided in the inspection circuit.
  • a holder substrate that accommodates and contacts a conductive contact is generally made of a conductive material and has a potential equal to the ground potential.
  • an insulating layer must be provided. This insulating layer is often formed by a coating.
  • the inner periphery of the opening into which the conductive contact for grounding is inserted is subjected to surface treatment such as gold plating in order to improve electrical contact and prevent wear. There is.
  • the insulating layer is first formed by coating, and then an opening for accommodating various conductive contacts is formed. Thereafter, surface treatment such as gold plating is performed.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-124552 (FIG. 1)
  • the present invention has been made in view of the above, and provides a conductive contact holder and a conductive contact unit that improve the corrosion resistance of an insulating layer and have excellent durability.
  • the porpose is to do.
  • the invention according to claim 1 is directed to a signal conductive contact for inputting / outputting a signal to / from the circuit structure, and to the circuit structure.
  • a holder board having a first opening and a second opening for accommodating the grounding conductive contact, and an insulating material, and is inserted into the first opening to hold the signal conductive contact And a first insulating member formed of an insulating material and covering at least one surface of the holder substrate.
  • the invention according to claim 2 is the invention according to claim 1, wherein the insulating coating is provided on one surface of the holder substrate, and the insulating coating of the holder substrate is formed.
  • the first holding member protrudes even with a small surface force.
  • the invention according to claim 3 is the invention according to claim 1, wherein the insulating coating is formed using a fluorine resin.
  • the invention of claim 4 is characterized in that, in the invention of claim 1, gold plating is applied to an inner peripheral surface of the second opening.
  • the invention according to claim 5 is the invention according to claim 1, wherein the holder substrate is formed of a conductive material and corresponds to the first opening and the second opening, respectively.
  • a first substrate having a fourth opening and a fifth opening, and a sixth opening and a seventh opening formed of a conductive material and corresponding to the first opening and the second opening, respectively.
  • the first holding member includes a first insulating pipe member inserted into the fourth opening and a second insulating pipe member inserted into the sixth opening.
  • the invention according to claim 6 is the invention according to claim 5, wherein the first insulating pipe member has a retaining flange at one end, and the retaining flange is connected to the first substrate and the first substrate.
  • the second insulating pipe member is inserted into the fourth opening so as to be positioned on the boundary side with the second substrate, and the second insulating pipe member has a retaining flange at one end, and the retaining flange is the first substrate.
  • the invention according to claim 7 is the invention according to claim 1, wherein the holder substrate houses a conductive contact for power supply for supplying power to the circuit structure. And a second holding member that has an opening, is formed of an insulating material, and is inserted into the third opening to hold the power supply conductive contact.
  • the invention according to claim 8 is provided with a small number of signal conductive contacts for inputting / outputting signals to / from the circuit structure and ground conductive contacts for supplying a ground potential to the circuit structure.
  • a conductive contact holder for receiving at least a first opening formed of a conductive material for receiving the signal conductive contact and a second opening for receiving the ground conductive contact And a first holding member formed of an insulating material and inserted into the first opening to hold the signal conductive contact, and at least one of the first holding members
  • the end portion is characterized in that the surface force of the holder substrate also protrudes.
  • the invention according to claim 9 is the invention according to claim 8, wherein the first holding member is disposed so as to face the surface on the side where the end portion does not protrude, and corresponds to the wiring pattern of the circuit structure. And a flat plate-like floating member having a plurality of holes.
  • the invention described in claim 10 is characterized in that, in the invention described in claim 8, gold plating is applied to an inner peripheral surface of the second opening.
  • the invention according to claim 11 is the invention according to claim 8, wherein the holder substrate is formed of a conductive material and corresponds to the first opening and the second opening, respectively.
  • a first substrate having a fourth opening and a fifth opening; and a sixth opening and a seventh opening formed of a conductive material and corresponding to the first opening and the second opening, respectively.
  • the first holding member includes a first insulating pipe member inserted into the fourth opening and a second insulating pipe member inserted into the sixth opening.
  • the invention of claim 12 is the invention of claim 11, wherein the first insulating pipe member has a retaining flange at one end, and the retaining flange is connected to the first substrate and the first substrate.
  • the second insulating pipe member has a retaining flange at one end, and the retaining flange is connected to the first substrate. It is inserted into the sixth opening so as to be positioned on the boundary side with the second substrate.
  • the invention of claim 13 is the invention of claim 8, wherein the holder substrate has a third opening for receiving a power supply conductive contact for supplying power to the circuit structure. And a second holding member that is formed of an insulating material and is inserted into the third opening to hold the conductive contact for power feeding.
  • the invention according to claim 14 is the conductive contact holder according to any one of claims 1 to 13, and the conductive contact holder, wherein the signal input / output is performed with respect to the circuit structure.
  • the signal conductive contact for inputting and outputting signals to and from the circuit structure is accommodated.
  • a holder substrate having a first opening to accommodate and a second opening for receiving a grounding conductive contact for supplying a ground potential to the circuit structure; and the signal conductor inserted into the first opening.
  • the first holding member that holds the conductive contact and the insulating film that is formed of an insulating material and covers at least one surface of the holder substrate.
  • FIG. 1 is a perspective view showing an overall configuration of a conductive contact unit according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic diagram showing a detailed structure of a conductive contact holder and a conductive contact constituting the conductive contact unit according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 3 is a schematic diagram showing a detailed structure of a conductive contact holder and a conductive contact constituting a conductive contact unit according to Embodiment 2 of the present invention.
  • Fig. 4 is a schematic diagram showing a conductive contact holder constituting the conductive contact unit according to Embodiment 2 of the present invention and a state at the time of inspection of the conductive contact.
  • FIG. 5 is a schematic diagram showing a detailed structure of a conductive contact holder and a conductive contact constituting a conductive contact unit according to Embodiment 3 of the present invention.
  • FIG. 6 is a schematic diagram showing a conductive contact holder constituting the conductive contact unit according to Embodiment 3 of the present invention and a state at the time of inspection of the conductive contact.
  • FIG. 7 is a schematic diagram showing a detailed structure of a conductive contact holder and a conductive contact constituting a conductive contact unit according to Embodiment 4 of the present invention.
  • Fig. 8 is a schematic diagram showing a conductive contact holder constituting the conductive contact unit according to Embodiment 4 of the present invention and a state during inspection of the conductive contact.
  • FIG. 1 is a perspective view showing a configuration of a conductive contact unit according to Embodiment 1 of the present invention.
  • the conductive contact unit 1 shown in FIG. 1 includes a circuit board 2 having a circuit for generating a signal to be supplied to the semiconductor integrated circuit 100, and the circuit board 2 and a predetermined opening (see FIG. 1 is provided with a conductive contact holder 3 provided with a conductive contact holder 3 and a conductive contact 4 accommodated in an opening of the conductive contact holder 3.
  • a holder member 5 for suppressing the displacement of the semiconductor integrated circuit 100 during use is arranged on the circuit board 2 and on the outer periphery of the conductive contact holder 3.
  • the circuit board 2 includes an inspection circuit for inspecting the electrical characteristics of the semiconductor integrated circuit 100 to be inspected.
  • the circuit board 2 also has an electrode (not shown in FIG. 1) for electrically connecting the built-in circuit to the conductive contact 4 on the contact surface with the conductive contact holder 3.
  • the configuration is as follows.
  • the conductive contact 4 electrically connects a circuit provided in the circuit board 2 and the semiconductor integrated circuit 100.
  • the conductive contact 4 is roughly divided into three patterns according to the type of signal supplied to the semiconductor integrated circuit. Specifically, the conductive contact 4 is used to input / output electric signals to / from the semiconductor integrated circuit 100.
  • the conductive contact for signal, the conductive contact for ground, and the conductive contact for power supply are collectively referred to as conductive contact 4, and when referring to each individual, Will be used.
  • FIG. 2 is a schematic diagram showing a detailed configuration of the conductive contact holder 3 and the conductive contact 4.
  • the conductive contact holder 3 shown in the figure is formed of a conductive material such as metal.
  • the holder substrate 11 and the fluorine coating 12 formed using a thin film of fluorine resin as an insulating coating covering the surface of the holder substrate 11 are accommodated, and the conductive contact 4 is accommodated.
  • the holder substrate 11 has a structure in which a plurality of substrates formed of a conductive material such as a conductive metal or a conductive resin are stacked. Specifically, the holder substrate 11 is formed by joining a first substrate 6 and a second substrate 7 each formed of a conductive material using a screw member (not shown), and the first substrate 6 And a first opening 8, a second opening 9, and a third opening 10 that penetrate through the second substrate 7.
  • fourth openings 21 a and 21 b are formed in regions corresponding to the formation regions of the first opening 8 and the third opening 10, respectively, and in the formation region of the second opening 9.
  • a fifth opening 22 is formed in the corresponding region.
  • the second substrate 7 has sixth openings 23a and 23b formed in regions corresponding to the formation regions of the first opening 8 and the third opening 10, respectively, and the second opening 9 is formed.
  • a seventh opening 24 is formed in a region corresponding to.
  • the first substrate 6 and the second substrate 7 include a fourth opening 21a and a sixth opening 23a, a fourth opening 21b and a sixth opening 23b, a fifth opening 22 and a seventh opening 24, Are fixed in contact with each other so as to communicate with each other coaxially, thereby forming the holder substrate 11.
  • the fluorine coating 12 as an insulating coating formed on the surface (upper surface and lower surface) of the holder substrate 11 is a signal electrode 2a provided on the circuit board 2 of the main body of the holder substrate 11 at the ground potential or a power supply. This is to prevent a short circuit caused by contact with the connecting electrode 2b or the connecting electrode 101 provided in the semiconductor integrated circuit 100.
  • the fluorine coating 12 having such a function is formed by coating such as calendering, extrusion, dipping, spraying, spreading, and electrodeposition.
  • the fluorine coating 12 may be formed using a chemical vapor deposition (CV D) method or the like.
  • the fluorine coating 12 is remarkably excellent in heat resistance, the maximum operating temperature is 260 ° C, and can sufficiently withstand the high temperature environment at the time of inspection. Further, the fluorine resin applied to the fluorine coating 12 has an edge proof strength of 19 MVZm, and has an insulating property that is not inferior to other insulating materials. In addition, fluorocarbon resin also has the advantage that even if the surface becomes dirty, it can be easily cleaned by simply wiping with a waste cloth.
  • the fluorine coating 12 is also excellent in durability. Conventional insulation core using epoxy resin In the case of one ting, the surface force of the holder substrate 11 may be peeled off by pulling or the like, but in the first embodiment, by forming the fluorine film 12 using fluorine resin, Due to its high flexibility and adhesion, there is no fear of peeling even if pulling occurs.
  • the first opening 8, the second opening 9, and the third opening 10 formed in the holder substrate 11 are signal conductive contacts 41 for inputting / outputting signals to / from the semiconductor integrated circuit 100.
  • a grounding contact 42 for supplying a ground potential and a power supply contact 43 for supplying power are accommodated.
  • These openings are each formed in a columnar shape so as to penetrate the holder substrate 11, and serve as positioning means and guide means for the conductive contact to be accommodated.
  • Each opening is drilled, etched, stamped, or processed using a laser, electron beam, ion beam, wire discharge, or the like, on the first substrate 6 and the second substrate 7, respectively. Formed by.
  • the thermal expansion coefficient of the holder substrate 11 is equal to the thermal expansion coefficient of silicon that is the base material of the semiconductor integrated circuit 100. It is possible to approximate. In other words, by forming the holder substrate 11 suitable for the thermal expansion coefficient of a predetermined circuit structure such as the semiconductor integrated circuit 100 using an appropriate metal material, the conductive contact that can be used stably regardless of temperature changes. The child holder 3 and the conductive contact unit 1 can be realized.
  • the holder substrate 11 also has a function of supplying a ground potential, it is preferable that the electrical contact resistance between the first substrate 6 and the second substrate 7 is as low as possible. For this reason, it is preferable to process the surface of the contact surface where the first substrate 6 and the second substrate 7 are in contact with each other, or to perform a surface treatment such as nickel plating + gold plating.
  • a hollow nove-like insulating member is inserted in the first opening 8 and the third opening 10 of the holder substrate 11. Specifically, the first insulating pipe member 13 is inserted into the fourth openings 21a and 21b, which are the openings on the first substrate 6 side of the first opening 8 and the third opening 10, and the first opening The second insulating pipe member 14 is inserted into the sixth openings 23a and 23b, which are the openings on the second substrate 7 side of the first opening 8 and the third opening 10.
  • a signal conductive contact 41 is accommodated in the hollow portions of the first insulating pipe member 13 and the second insulating pipe member 14 inserted into the first opening 8.
  • a power supply conductive contact 43 is accommodated in the hollow portions of the first insulating pipe member 13 and the second insulating pipe member 14 inserted into the third opening 10 (in this sense, the first The first insulating pipe member 13 and the second insulating pipe member 14 that are inserted into the first opening 8 are the first holding members in the claims, and the first insulating pipe member that is inserted into the third opening 10 The pipe member 13 and the second insulating pipe member 14 are the second holding members in the claims). This ensures electrical insulation between the signal conductive contact 41 and the power supply conductive contact 43 and the holder substrate 11.
  • a retaining flange 25 having an outer diameter larger than that of the other part is formed, and this retaining flange 25 serves as a boundary between the first substrate 6 and the second substrate 7. It is inserted into the first substrate 6 in a state of being located on the side.
  • a retaining flange 26 is formed at one end of the second insulating pipe member 14, and the retaining flange 26 is inserted into the second substrate 7 in a state where the retaining flange 26 is located on the boundary side between the first substrate 6 and the second substrate 7. Has been.
  • the hollow portions of the first insulating pipe member 13 and the second insulating pipe member 14 have a shape in which the inner diameter is narrowed at the end opposite to the end where the retaining flanges 25 and 26 are formed.
  • the signal conductive contact 41 and the power supply conductive contact 43 accommodated therein are fulfilled.
  • the first insulating pipe member 13 and the second insulating pipe member 14 are formed of an insulating material such as Teflon (registered trademark). Teflon (registered trademark) is easy to process and has a low relative dielectric constant ⁇ of 2.1, so that the same characteristic impedance can be achieved even when other materials are used.
  • Teflon registered trademark
  • relative dielectric constant
  • the outer diameter of the signal conductive contact 41 can be increased.
  • the electrical resistance of the signal conductive contact 41 can be reduced, and the attenuation of the transmission signal can be suppressed.
  • the first insulating pipe member 13 and the second insulating pipe member 14 have a smooth inner surface. Therefore, the sliding resistance associated with the expansion / contraction operation of the signal conductive contact 41 and the power supply conductive contact 43 can be reduced.
  • the signal conductive contact 41 includes a needle-like member 44 that is electrically connected to an electrode provided on the circuit board 2 and a needle-like member that is electrically connected to a connection electrode provided on the semiconductor integrated circuit 100 when used. 45, and between the needle-like member 44 and the needle-like member 45, electrically connect the needle-like members 44, 45, and extend and contract the signal conductive contact 41 in the major axis direction. Member 46.
  • the needle-like members 44 and 45 and the panel member 46 are accommodated in the first opening 8 so that their respective axes coincide with the axis of the first opening 8, and are configured to be movable in the direction of the forceful axis.
  • the needle-like member 44 is electrically connected to electrodes arranged on the surface of the circuit board 2. Specifically, the needle-like member 44 has a sharp end on the circuit board 2 side, and the sharp end contacts the electrode provided on the circuit board 2.
  • the needle-shaped member 44 can be moved in the axial direction by the expansion and contraction action of the panel member 46, contacts in an optimal state corresponding to the unevenness of the electrodes provided on the circuit board 2, and extends in the direction of the panel member 46. It is possible to make contact with the electrode with the contact resistance reduced by the pressing force of.
  • the needle-like member 44 has a flange portion 441, which protrudes in a direction perpendicular to the axis as shown in FIG.
  • the inner diameter of the first opening 8 is formed to be narrow in the vicinity of the lower surface of the holder substrate 11, so that the needle-like member 44 moves downward with the flange portion 441.
  • the second insulating pipe member 14 provided on the inner surface of the first opening 8 comes into contact, and the needle-like member 44 is prevented from coming off.
  • the acicular member 45 is electrically connected to a substantially spherical connection electrode (bump) 101 provided in the semiconductor integrated circuit 100 when the conductive contact unit 1 is used.
  • the needle-like member 45 has a configuration in contact with the connection electrode 101 at the end on the semiconductor integrated circuit 100 side.
  • the needle-like member 45 can be moved in the axial direction by the expansion and contraction action of the panel member 46 in the same manner as the needle-like member 44, and has a flange portion 451 protruding in the direction perpendicular to the axis to prevent the needle-like member 45 from coming off.
  • the signal conductive contact 41 electrically connects the electrode provided on the circuit board 2 and the connection electrode provided on the semiconductor integrated circuit 100.
  • the power supply conductive contact 43 has a function similar to that of the signal conductive contact 41, that is, the needle-like members 44 and 45, and the panel, although the functions fulfilled are different. Member 46 is provided. Therefore, a detailed description of the structure of the power supply conductive contact 43 is omitted.
  • the ends of the needle-like members 45 of the signal conductive contact 41 and the power supply conductive contact 43 are in contact with the connection electrode 101 of the semiconductor integrated circuit 100.
  • the tip of the needle-like member 44 of the signal conductive contact 41 abuts on the signal electrode 2a provided on the circuit board 2, and the tip of the needle-like member 44 of the power-feeding conductive contact 43 Is in contact with the feeding electrode 2b of the circuit board 2.
  • the grounding conductive contact 42 includes a needle-like member 47 that is electrically connected to an electrode provided on the circuit board 2, and a needle-like member 48 that is electrically connected to a connection electrode provided on the semiconductor integrated circuit 100 when in use.
  • a panel member that is provided between the needle-like member 47 and the needle-like member 48, electrically connects the needle-like members 47, 48, and extends and contracts the conductive contact 42 for ground in the major axis direction. 49.
  • the needle-like members 47 and 48 have a configuration in which flange portions 51 and 52 are formed, respectively, and the potential of the holder substrate 11 is grounded to 100 semiconductor integrated circuits via the flange portions 51 and 52. Supply as.
  • the end of the needle-like member 48 of the grounding conductive contact 42 abuts on the connection electrode 101 of the semiconductor integrated circuit 100.
  • the tip of the needle-like member 47 is in contact with the ground electrode 2G provided on the same surface as the signal electrode 2a and the power supply electrode 2b on the surface of the circuit board 2.
  • the inner periphery of the second opening 9 has wear resistance and is made conductive.
  • Surface treatment that can be enhanced may be applied.
  • An example of such a surface treatment is gold plating.
  • a fluorine coating 12 is formed on the surface of the holder substrate 11, all the openings are formed, and then the inner surface of the second opening 9 is plated with gold.
  • an insulating film such as an epoxy resin that has been used in the past is strongly alkaline. Or there was a problem of being corroded by a strong acid. When the insulating film was corroded in this way, it was dealt with by touching up (correcting) the film, but it was not possible to completely return to the state before gold plating.
  • an insulating film is formed using a fluorine resin having corrosion resistance that is extremely high against strong alkali or strong acid, the film does not corrode when gold plating is applied. No touch up is required. Therefore, the manufacturing cost of the holder substrate 11 can be reduced and the delivery time can be shortened.
  • the insulation coating has no unevenness and more reliable insulation performance can be obtained.
  • the contact area between the both becomes large.
  • the outer diameters of the flange portions 51 and 52 are increased as much as possible, and the flange portions 51 and 52 are accommodated to such an extent that the expansion and contraction operation of the grounding conductive contact 42 is not adversely affected.
  • the length in the contraction direction (vertical direction in Fig. 2) is increased.
  • the conductive contact 42 for grounding not only supplies the potential from the circuit board 2 to the semiconductor integrated circuit 100 via the ground electrode 2G, but also receives the potential from the holder substrate 11 to integrate the semiconductor. Supply ground potential to circuit 100.
  • the holder substrate 11 has no insulating layer formed on the inner surface of the second opening 9 that accommodates the conductive contact 42 for grounding, and the inner surface of the second opening 9 is The structure is such that the panel member 49 is in direct contact with the contracting operation of the grounding conductive contact 42.
  • the grounding conductive contact 42 and the holder substrate 11 made of a conductive material cover are electrically connected, and the potential supplied by the grounding conductive contact 42 and the potential of the holder substrate 11 are different from each other. Equal value.
  • the conductive contact unit 1 When assembling the conductive contact unit 1 having the above-described configuration, first, it is necessary to deal with openings such as the fourth openings 21a formed in the first substrate 6 and the second substrate 7, respectively. Insert the insulating pipe member. Thereafter, the first substrate 6 into which the first insulating pipe member 13 is inserted is disposed such that the semiconductor integrated circuit 100 side is vertically downward (that is, the contact surface with the second substrate 7 is vertically upward).
  • the conductive contact 4 is accommodated in the hollow portion of the first insulating pipe member 13. Further, the conductive contact 4 is inserted into the hollow portion of the second insulating pipe member 14 inserted into the second substrate 7 with respect to the first substrate 6 in a state where the conductive contact 4 is accommodated. As described above, the second substrate 7 is overlaid so as to cover the vertical upper force, and the first substrate 6 and the second substrate 7 are fixed to each other. Thereafter, the conductive contact unit 1 is completed by combining necessary members such as the circuit board 2 and the holder member 5.
  • the conductive contact unit 1 has a configuration with improved mass production assembly.
  • each insulating pipe member is prevented from coming off by the retaining flanges 25 and 26, each insulating pipe member is released by releasing the state in which the first board 6 and the second board 7 are fixed. It is easy to remove the corresponding opening force. Further, since it is easy to remove the conductive contact 4 by releasing the fixed state of the first substrate 6 and the second substrate 7, maintenance and the like can be performed easily.
  • the first opening accommodating the signal conductive contact for inputting / outputting a signal to / from the circuit structure and the circuit structure are provided with a key.
  • an insulating film (fluorine resin) that is formed of a conductive material and covers at least one surface of the holder substrate. It becomes possible to provide a conductive contact holder and a conductive contact unit.
  • the first embodiment of the present invention by providing an insulating film on the surface of the holder substrate, insulation between the electrode of the circuit substrate or the electrode of the semiconductor integrated circuit (inspection target) and the surface of the holder substrate It is possible to prevent the short circuit due to contact between the two.
  • FIG. 3 is a schematic diagram showing the configuration of the conductive contact holder according to Embodiment 2 of the present invention.
  • the configuration of the conductive contact unit excluding the detailed configuration of the conductive contact holder is the same as the configuration of the conductive contact unit 1 described above.
  • a conductive contact holder 31 shown in FIG. 3 accommodates the conductive contact 4, and includes a holder substrate 11 having a first substrate 6 and a second substrate 7, and a fourth substrate of the first substrate 6.
  • the first insulating pipe member 13 inserted into the openings 21a and 21b and the second insulating pipe member 15 inserted into the sixth openings 23a and 23b of the second substrate 7 are provided.
  • a fluorine film 12 as an insulating film is formed on the surface of the first substrate 6 among the surfaces of the holder substrate 11 as in the first embodiment.
  • a retaining flange 27 is formed at one end of the second insulating pipe member 15, and the retaining flange 27 is inserted into the second substrate 7 in a state of being located on the boundary side between the first substrate 6 and the second substrate 7. It has been done.
  • the length of the second insulating pipe member 15 in the longitudinal direction is such that it protrudes beyond the surface of the second substrate 7 (the bottom surface of the holder substrate 11 in FIG. 3) when inserted into the second substrate 7. .
  • the configuration of the conductive contact holder 31 other than the above is the same as the configuration of the conductive contact holder 3 described in the first embodiment, and the same configuration as the conductive contact holder 3 has. Are given the same reference numerals.
  • FIG. 4 is a diagram showing a state in which the semiconductor integrated circuit 100 is mounted on the conductive contact holder 31 having the above-described configuration for inspection, and the conductive contact 4 contacts the connection electrode 101. It is a schematic diagram showing a state at the time of the inspection.
  • the semiconductor integrated circuit 100 is inspected using the conductive contact holder 31, the end of the second insulating pipe member 15 is connected to the circuit board 2 when the semiconductor integrated circuit 100 is in contact with the conductive contact 4. It contacts the signal electrode 2a and the power supply electrode 2b. This prevents the surface of the second substrate 7 from coming into contact with the signal electrode 2a and the power feeding electrode 2b to cause a short circuit.
  • an effect of preventing the conductive contact holder 31 from being excessively pressed can be obtained.
  • no fluorine film is formed on the surface of the circuit board 2 side, that is, the surface of the second substrate 7 (the bottom surface of the holder substrate 11 in FIG. 4).
  • the film 12 may be formed.
  • signal input / output is performed with respect to the circuit structure.
  • a holder substrate having a first opening for receiving a signal conductive contact to be performed and a second opening for receiving a ground conductive contact for supplying ground potential to the circuit structure;
  • a first holding member that is inserted into the opening and holds the signal conductive contact;
  • an insulating film fluorine resin
  • an insulating coating is provided on one surface of the holder substrate, and the other surface force also causes the second insulative pipe member to protrude so that the electric power of the circuit board can be obtained. It is possible to ensure insulation between the electrode of the electrode and the semiconductor integrated circuit (inspection target) and the surface of the holder substrate, and to prevent short-circuiting due to contact between the two.
  • FIG. 5 is a schematic diagram showing the configuration of the conductive contact holder according to Embodiment 3 of the present invention.
  • the configuration of the conductive contact unit excluding the detailed configuration of the conductive contact holder is the same as the configuration of the conductive contact unit 1 described above.
  • the conductive contact holder 32 shown in FIG. 5 accommodates the conductive contact 4, the holder substrate 11 having the first substrate 6 and the second substrate 7, and the fourth of the first substrate 6.
  • a first insulating pipe member 16 inserted into the openings 21a and 21b and a second insulating pipe member 15 inserted into the sixth openings 23a and 23b of the second substrate 7 are provided.
  • a retaining flange 28 is formed at one end of the first insulating pipe member 16, and the retaining flange 28 is inserted into the first substrate 6 in a state of being located on the boundary side between the first substrate 6 and the second substrate 7. It has been done.
  • the length in the longitudinal direction of the first insulating pipe member 16 has a length that protrudes from the surface of the first substrate 6 (the upper surface side of the holder substrate 11 in FIG. 3) when inserted into the first substrate 6. .
  • no fluorine film is formed on the surface of the first substrate 6.
  • the configuration of the conductive contact holder 32 other than the above is the same as the configuration of the conductive contact holder 31 described in the second embodiment, and the same portion as the conductive contact holder 31 has. Are given the same reference numerals.
  • FIG. 6 shows that the semiconductor integrated circuit 100 is mounted on the conductive contact holder 32 having the above configuration.
  • FIG. 4 is a diagram showing a state in which an inspection is performed while wearing, and is a schematic diagram showing a state at the time of inspection in which the conductive contact 4 is in contact with the connection electrode 101.
  • the end of the first insulating pipe member 16 contacts the end of the connection electrode 101 of the semiconductor integrated circuit 100
  • the end of the second insulating pipe member 15 is the end of the circuit board 2. It contacts the signal electrode 2a and the power supply electrode 2b.
  • a fluorine film is formed on the surface of the holder substrate 11, but, as in the first embodiment, a thin film is formed on each surface of the first substrate 6 and the second substrate 7.
  • the fluorine coating 12 may be formed.
  • the first opening for accommodating the signal conductive contact for inputting / outputting a signal to / from the circuit structure and the circuit structure are provided with a key.
  • the third embodiment by causing the surface force of the holder substrate to protrude from the first and second insulating pipe members, the electrode of the circuit board and the electrode of the semiconductor integrated circuit (inspection target) It is possible to ensure insulation from the surface of the holder substrate and prevent short-circuiting due to contact between the two.
  • FIG. 7 is a schematic diagram showing a configuration of a conductive contact holder according to Embodiment 4 of the present invention.
  • the configuration of the conductive contact unit excluding the detailed configuration of the conductive contact holder is the same as the configuration of the conductive contact unit 1 described above.
  • the conductive contact holder 33 shown in FIG. 7 accommodates the conductive contact 4, and the first contact Holder substrate 11 having substrate 6 and second substrate 7, first insulating pipe member 13 inserted into fourth openings 21a and 21b of first substrate 6, and sixth opening of second substrate 7 A second insulating pipe member 15 inserted into 23a and 23b, and a flat plate-shaped floating member 17 interposed between the first substrate 6 and the semiconductor integrated circuit 100 and made of an insulating material cover are provided.
  • An elastic member such as a panel is interposed between the peripheral edge of the floating member 17 and the peripheral edge of the first substrate 6 (not shown), and when the semiconductor integrated circuit 100 is not mounted, The tining member 17 is in a state of floating from the first substrate 6 (see FIG. 7).
  • the floating member 17 has a plurality of hole portions 18 formed in conformity with the arrangement pattern of the connection electrodes 101 of the semiconductor integrated circuit 100.
  • the diameter of the hole 18 is large enough to allow insertion of the corresponding connecting electrode 101 and is smaller than the outer diameter of the first insulating pipe member 13.
  • the floating member 17 has a function of preliminarily positioning before the connection electrode 101 contacts the conductive contact 4. In this sense, as shown in FIG. 7, if the semiconductor integrated circuit 100 side is tapered, the connection electrode 101 and the floating member 17 come into contact with each other when the connection electrode 101 is positioned. It is possible to prevent the surface of the connection electrode 101 from being damaged.
  • the configuration of the conductive contact holder 33 other than the above is the same as the configuration of the conductive contact holder 32 described in the third embodiment, and the same portion as the conductive contact holder 32 has. Are given the same reference numerals.
  • FIG. 8 is a view showing a state in which the semiconductor integrated circuit 100 is mounted on the conductive contact holder 33 for inspection, and the floating member 17 pressed downward from the substrate of the semiconductor integrated circuit 100 is in a floating state. It shows a state where the conductive contact 4 is contacted with the connecting electrode 101 by descending against the elastic force of the elastic member interposed between the member 17 and the first substrate 6 and coming into contact with the surface of the first substrate 6. It is a schematic diagram. In the state shown in FIG. 8, the upper end portion of the needle-like member of the conductive contact 4 and the connection electrode 101 are in contact with each other while being held inside the hole portion 18 of the floating member 17.
  • the vicinity of the edge portion on the lower surface side of the hole 18 is in contact with the upper end portion of the first insulating pipe member 13. For this reason, the surface of the first substrate 6 does not come into contact with the connection electrode 101 to cause a short circuit.
  • the end portion of the second insulating pipe member 15 protruding from the surface of the second substrate 7 is The circuit board 2 is in contact with the signal electrode 2a and the power supply electrode 2b to prevent contact between the surface of the second substrate 7 and the signal electrode 2a and the power supply electrode 2b.
  • a fluorine film is formed on the surface of the holder substrate 11.
  • a thin film is formed on each surface of the first substrate 6 and the second substrate 7.
  • a fluorine film 12 may be formed.
  • the first opening accommodating the signal conductive contact for inputting / outputting a signal to / from the circuit structure and the circuit structure are provided with a key.
  • a holder substrate having a second opening for receiving a grounding conductive contact for supplying a source potential and an insulating material, and inserted into the first opening to hold the signal conductive contact A first holding member, and one end portion of the first holding member projects the surface force of the holder substrate, thereby improving the corrosion resistance of the insulating layer and improving the durability.
  • An excellent conductive contact holder and conductive contact unit can be provided.
  • the end portion of the first holding member protrudes, and is arranged to face the side surface, and has a plurality of holes according to the wiring pattern of the circuit structure.
  • Embodiments 1 to 4. The present invention should not be limited only by these four embodiments.
  • a form used for an integrated circuit such as a semiconductor chip is assumed.
  • the present invention is applied to an apparatus for detecting characteristics of a liquid crystal panel. It may be applied.
  • the configuration of the conductive contact is not limited to the above, it is possible to use a conductive contact having another configuration.
  • the input / output signal transmission method was not particularly specified. However, when high-frequency transmission is performed, single-ended transmission and transmission are performed. And can be applied to both cases of differential transmission. That is, the conductive contact unit according to the present invention is applicable regardless of the type of transmission method.
  • the insulating coating it is possible to apply an insulating material other than fluorine resin, and an insulating material having corrosion resistance to gold plating or the like as high as that of fluorine resin.
  • the present invention can include various embodiments and the like not described herein, and V, V, within the scope not departing from the technical idea specified by the claims. It is possible to make various design changes.
  • the conductive contact holder and the conductive contact unit according to the present invention are useful when performing an electrical characteristic test on a semiconductor integrated circuit.

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Abstract

 絶縁層の耐食性を向上させるとともに、耐久性にも優れた導電性接触子ホルダおよび導電性接触子ユニットを提供する。この目的のために、回路構造に対して信号の入出力を行う信号用導電性接触子を収容する第1開口部および前記回路構造に対してアース電位供給を行うアース用導電性接触子を収容する第2開口部を有するホルダ基板と、前記第1開口部に挿入されて前記信号用導電性接触子を保持する第1保持部材と、絶縁性材料によって形成され、前記ホルダ基板の少なくとも一方の表面を被覆する絶縁被膜と、を備える。

Description

明 細 書
導電性接触子ホルダおよび導電性接触子ユニット
技術分野
[0001] 本発明は、所定の回路構造に対して信号入出力を行う信号用導電性接触子と、そ の回路構造に対してアース電位供給を行うアース用導電性接触子とを少なくとも収 容する導電性接触子ホルダおよび導電性接触子ユニットに関するものである。
背景技術
[0002] 従来、半導体集積回路の電気特性検査に関する技術分野にお!、て、半導体集積 回路の外部接触用電極に対応して複数の導電性接触子を配設した導電性接触子 ユニットに関する技術が知られている。力かる導電性接触子ユニットは、複数の導電 性接触子と、導電性接触子を収容する開口部が形成された導電性接触子ホルダと、 導電性接触子と電気的に接続された検査回路とを備えた構成を有する (例えば、特 許文献 1参照)。
[0003] 導電性接触子ユニットに備わる複数の導電性接触子は、それぞれ検査対象である 半導体集積回路に対して電気信号の入出力を行う信号用導電性接触子と、半導体 集積回路に対してアース電位を供給するアース用導電性接触子と、半導体集積回 路に対して駆動電力を供給する電力供給用導電性接触子とに大別される。これらの 導電性接触子の各々は、検査回路内に備わる信号生成回路等と電気的に接続され ることによって上記の機能を実現して 、る。
[0004] 導電性接触子を収容して!/ヽるホルダ基板は、一般に導電性材料から成り、アース 電位に等しい電位を有する。このようなホルダ基板が、回路基板の電極や検査対象 の電極に接触するとショートしてしまうため、絶縁層を設けておく必要がある。この絶 縁層は、コーティングによって形成されることが多い。
[0005] これに対して、アース用導電性接触子が入る開口部の内周には、電気接触性を良 好にするためと摩耗防止のために、金メッキなどの表面処理が施されることがある。
[0006] このように、ホルダ基板に絶縁層を形成し、表面処理を行う場合には、まずコーティ ングによって絶縁層を形成した後、各種導電性接触子を収容する開口部を形成し、 その後で金メッキ等の表面処理を行う。
[0007] 特許文献 1 :特開 2002— 124552号公報 (第 1図)
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0008] 上記の如くホルダ基板に対して金メッキ等の表面処理を施す際には、ホルダ基板 を強アルカリまたは強酸に浸漬する力 従来の絶縁層はエポキシ榭脂等を用いてい るため、浸漬によって腐食されてしまうという問題があった。
[0009] 本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、絶縁層の耐食性を向上させるとと もに、耐久性にも優れた導電性接触子ホルダおよび導電性接触子ユニットを提供す ることを目的とする。
課題を解決するための手段
[0010] 上述した課題を解決し、目的を達成するために、請求項 1記載の発明は、回路構 造に対して信号の入出力を行う信号用導電性接触子と、前記回路構造に対してァー ス電位供給を行うアース用導電性接触子とを少なくとも収容する導電性接触子ホル ダであって、導電性材料によって形成され、前記信号用導電性接触子を収容する第
1開口部および前記アース用導電性接触子を収容する第 2開口部を有するホルダ基 板と、絶縁性材料によって形成され、前記第 1開口部に挿入されて前記信号用導電 性接触子を保持する第 1保持部材と、絶縁性材料によって形成され、前記ホルダ基 板の少なくとも一方の表面を被覆する絶縁被膜と、を備えたことを特徴とする。
[0011] 請求項 2記載の発明は、請求項 1記載の発明にお!/、て、前記絶縁被膜は前記ホル ダ基板の一方の表面に設けられ、前記ホルダ基板の前記絶縁被膜が形成されて ヽ ない表面力も前記第 1保持部材が突出していることを特徴とする。
[0012] 請求項 3記載の発明は、請求項 1記載の発明において、前記絶縁被膜はフッ素榭 脂を用いて形成されたことを特徴とする。
[0013] 請求項 4記載の発明は、請求項 1記載の発明において、前記第 2開口部の内周面 に金メッキが施されたことを特徴とする。
[0014] 請求項 5記載の発明は、請求項 1記載の発明において、前記ホルダ基板は、導電 性材料によって形成され、前記第 1開口部および前記第 2開口部にそれぞれ対応す る第 4開口部および第 5開口部を有する第 1基板と、導電性材料によって形成され、 前記第 1開口部および前記第 2開口部にそれぞれ対応する第 6開口部および第 7開 口部を有し、前記第 6開口部が前記第 4開口部と連通し、前記第 7開口部が前記第 5 開口部と連通するよう前記第 1基板に対して固定された第 2基板と、を備え、前記第 1 保持部材は、前記第 4開口部に挿入された第 1絶縁性パイプ部材と、前記第 6開口 部に挿入された第 2絶縁性パイプ部材とから成ることを特徴とする。
[0015] 請求項 6記載の発明は、請求項 5記載の発明において、前記第 1絶縁性パイプ部 材は、一方の端部に抜止フランジを有し、該抜止フランジが前記第 1基板と前記第 2 基板との境界側に位置するように前記第 4開口部に挿入され、前記第 2絶縁性パイ プ部材は、一方の端部に抜止フランジを有し、該抜止フランジが前記第 1基板と前記 第 2基板との境界側に位置するように前記第 6開口部に挿入されたことを特徴とする
[0016] 請求項 7記載の発明は、請求項 1記載の発明にお!/、て、前記ホルダ基板は、前記 回路構造に対して電力供給を行う給電用導電性接触子を収容する第 3開口部を有 し、絶縁性材料によって形成され、前記第 3開口部に挿入されて前記給電用導電性 接触子を保持する第 2保持部材をさらに備えたことを特徴とする。
[0017] 請求項 8記載の発明は、回路構造に対して信号の入出力を行う信号用導電性接触 子と、前記回路構造に対してアース電位供給を行うアース用導電性接触子とを少な くとも収容する導電性接触子ホルダであって、導電性材料によって形成され、前記信 号用導電性接触子を収容する第 1開口部および前記アース用導電性接触子を収容 する第 2開口部を有するホルダ基板と、絶縁性材料によって形成され、前記第 1開口 部に挿入されて前記信号用導電性接触子を保持する第 1保持部材と、を備え、前記 第 1保持部材の少なくとも一方の端部は、前記ホルダ基板の表面力も突出しているこ とを特徴とする。
[0018] 請求項 9記載の発明は、請求項 8記載の発明において、前記第 1保持部材の端部 が突出していない側の表面に対向して配置され、前記回路構造の配線パターンに応 じた複数の孔部を有する平板状のフローティング部材をさらに備えたことを特徴とす る。 [0019] 請求項 10記載の発明は、請求項 8記載の発明において、前記第 2開口部の内周 面に金メッキが施されたことを特徴とする。
[0020] 請求項 11記載の発明は、請求項 8記載の発明にお 、て、前記ホルダ基板は、導電 性材料によって形成され、前記第 1開口部および前記第 2開口部にそれぞれ対応す る第 4開口部および第 5開口部を有する第 1基板と、導電性材料によって形成され、 前記第 1開口部および前記第 2開口部にそれぞれ対応する第 6開口部および第 7開 口部を有し、前記第 6開口部が前記第 4開口部と連通し、前記第 7開口部が前記第 5 開口部と連通するよう前記第 1基板に対して固定された第 2基板と、を備え、前記第 1 保持部材は、前記第 4開口部に挿入された第 1絶縁性パイプ部材と、前記第 6開口 部に挿入された第 2絶縁性パイプ部材とから成ることを特徴とする。
[0021] 請求項 12記載の発明は、請求項 11記載の発明において、前記第 1絶縁性パイプ 部材は、一方の端部に抜止フランジを有し、該抜止フランジが前記第 1基板と前記第 2基板との境界側に位置するように前記第 4開口部に挿入され、前記第 2絶縁性パイ プ部材は、一方の端部に抜止フランジを有し、該抜止フランジが前記第 1基板と前記 第 2基板との境界側に位置するように前記第 6開口部に挿入されたことを特徴とする
[0022] 請求項 13記載の発明は、請求項 8記載の発明において、前記ホルダ基板は、前記 回路構造に対して電力供給を行う給電用導電性接触子を収容する第 3開口部を有 し、絶縁性材料によって形成され、前記第 3開口部に挿入されて前記給電用導電性 接触子を保持する第 2保持部材をさらに備えたことを特徴とする。
[0023] 請求項 14記載の発明は、請求項 1〜13のいずれか一項に記載の導電性接触子 ホルダと、前記導電性接触子ホルダに収容され、前記回路構造に対して信号の入出 力を行う信号用導電性接触子と、前記導電性接触子ホルダに収容され、前記回路 構造に対してアース電位供給を行うアース用導電性接触子と、少なくとも前記信号用 導電性接触子と電気的に接続され、前記回路構造に対して入力する信号を生成す る回路を有する回路基板と、を備えたことを特徴とする。
発明の効果
[0024] 本発明によれば、回路構造に対して信号の入出力を行う信号用導電性接触子を収 容する第 1開口部および前記回路構造に対してアース電位供給を行うアース用導電 性接触子を収容する第 2開口部を有するホルダ基板と、前記第 1開口部に挿入され て前記信号用導電性接触子を保持する第 1保持部材と、絶縁性材料によって形成さ れ、前記ホルダ基板の少なくとも一方の表面を被覆する絶縁被膜と、を備えたことに より、絶縁層の耐食性を向上させるとともに、耐久性にも優れた導電性接触子ホルダ および導電性接触子ユニットを提供することが可能となる。
図面の簡単な説明
[0025] [図 1]図 1は、本発明の実施の形態 1に係る導電性接触子ユニットの全体構成を示す 斜視図である。
[図 2]図 2は、本発明の実施の形態 1に係る導電性接触子ユニットを構成する導電性 接触子ホルダおよび導電性接触子の詳細な構造を示す模式図である。
[図 3]図 3は、本発明の実施の形態 2に係る導電性接触子ユニットを構成する導電性 接触子ホルダおよび導電性接触子の詳細な構造を示す模式図である。
[図 4]図 4は、本発明の実施の形態 2に係る導電性接触子ユニットを構成する導電性 接触子ホルダおよび導電性接触子の検査時の状態を示す模式図である。
[図 5]図 5は、本発明の実施の形態 3に係る導電性接触子ユニットを構成する導電性 接触子ホルダおよび導電性接触子の詳細な構造を示す模式図である。
[図 6]図 6は、本発明の実施の形態 3に係る導電性接触子ユニットを構成する導電性 接触子ホルダおよび導電性接触子の検査時の状態を示す模式図である。
[図 7]図 7は、本発明の実施の形態 4に係る導電性接触子ユニットを構成する導電性 接触子ホルダおよび導電性接触子の詳細な構造を示す模式図である。
[図 8]図 8は、本発明の実施の形態 4に係る導電性接触子ユニットを構成する導電性 接触子ホルダおよび導電性接触子の検査時の状態を示す模式図である。
符号の説明
[0026] 1 導電性接触子ユニット
2 回路基板
2a 信号用電極
2b 給電用電極 G アース電極
、 31、 32、 33 導電性接触子ホルダ 導電性接触子
ホルダ部材
第 1基板
第 2基板
第 1開口部
第 2開口部
0 第 3開口部
1 ホルダ基板
2 フッ素被膜 (絶縁被膜)
3、 16 第 1絶縁性パイプ部材 、 15 第 2絶縁性パイプ部材7 フローティング部材
8 孔部
1a、 21b 第 4開口部
2 第 5開口部
3a、 23b 第 6開口部
第 7開口部
、 26、 27、 28 抜止フランジ1 信号用導電性接触子
アース用導電性接触子 給電用導電性接触子
、 45、 47、 48 針状部材 、 49 バネ部材
、 52、 441、 451 フランジ部 0 半導体集積回路
1 接続用電極 発明を実施するための最良の形態
[0027] 以下、添付図面を参照して本発明を実施するための最良の形態 (以下、「実施の形 態」と称する)を説明する。なお、図面は模式的なものであり、各部分の厚みと幅との 関係、それぞれの部分の厚みの比率などは現実のものとは異なることに留意すべき であり、図面の相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれて いることは勿論である。
[0028] (実施の形態 1)
図 1は、本発明の実施の形態 1に係る導電性接触子ユニットの構成を示す斜視図 である。同図に示す導電性接触子ユニット 1は、半導体集積回路 100に供給する信 号の生成等を行う回路を備えた回路基板 2と、回路基板 2上に配置され、所定の開 口部(図 1では図示省略)を備えた導電性接触子ホルダ 3と、導電性接触子ホルダ 3 の開口部内に収容される導電性接触子 4とを備える。また、使用の際に半導体集積 回路 100の位置ずれが生じるのを抑制するためのホルダ部材 5が、回路基板 2上か つ導電性接触子ホルダ 3の外周に配置されて 、る。
[0029] 回路基板 2は、検査対象の半導体集積回路 100の電気的特性を検査するための 検査回路を備える。また、回路基板 2は、内蔵する回路を導電性接触子 4に対して電 気的に接続するための電極(図 1では図示省略)を、導電性接触子ホルダ 3との接触 面上に配置した構成を有する。
[0030] 導電性接触子 4は、回路基板 2内に備わる回路と半導体集積回路 100との間を電 気的に接続する。導電性接触子 4は、半導体集積回路に対して供給する信号の種 類等に応じて 3パターンに大別され、具体的には、半導体集積回路 100に対して電 気信号を入出力するための信号用導電性接触子と、半導体集積回路 100に対して アース電位を供給するアース用導電性接触子と、半導体集積回路 100に対して電力 を供給する給電用導電性接触子とを有する。なお、以下においては、信号用導電性 接触子、アース用導電性接触子および給電用導電性接触子を総称する際に導電性 接触子 4と称し、個々について言及する際には、それぞれの名称を用いることとする。
[0031] 図 2は、導電性接触子ホルダ 3および導電性接触子 4の詳細な構成を示す模式図 である。同図に示す導電性接触子ホルダ 3は、金属等の導電性材料によって形成さ れたホルダ基板 11と、ホルダ基板 11の表面を被覆する絶縁被膜として薄膜状のフッ 素榭脂を用いて形成されたフッ素被膜 12とを備え、導電性接触子 4を収容する。
[0032] ホルダ基板 11は、導電性金属または導電性榭脂などの導電性材料によって形成さ れた複数の基板を重ね合わせた構造を有する。具体的には、ホルダ基板 11は、そ れぞれ導電性材料によって形成された第 1基板 6および第 2基板 7がねじ部材(図示 せず)を用いて接合されて成り、第 1基板 6および第 2基板 7を貫通する第 1開口部 8 、第 2開口部 9および第 3開口部 10を有する。
[0033] 第 1基板 6には、第 1開口部 8および第 3開口部 10の形成領域にそれぞれ対応した 領域に第 4開口部 21aおよび 21bが形成され、第 2開口部 9の形成領域に対応した 領域に第 5開口部 22が形成される。また、第 2基板 7には、第 1開口部 8および第 3開 口部 10の形成領域に対応した領域に第 6開口部 23aおよび 23bがそれぞれ形成さ れ、第 2開口部 9の形成領域に対応した領域に第 7開口部 24が形成される。そして、 第 1基板 6と第 2基板 7とは、第 4開口部 21aと第 6開口部 23a、第 4開口部 21bと第 6 開口部 23bおよび第 5開口部 22と第 7開口部 24とがそれぞれ同軸状に連通するよう 互いに接触した状態で固定されることによってホルダ基板 11を形成して 、る。
[0034] ホルダ基板 11の表面(上面および下面)に形成された絶縁被膜としてのフッ素被膜 12は、アース電位にあるホルダ基板 11の本体力 回路基板 2に設けられた信号用電 極 2aや給電用電極 2b、または半導体集積回路 100に設けられた接続用電極 101と 接触してショートしてしまうのを未然に防止するためのものである。このような機能を有 するフッ素被膜 12は、カレンダー加工、押出し、浸漬、スプレー、スプレッド、電着な どのコーティングによって形成される。なお、フッ素被膜 12を、化学気相蒸着法 (CV D : Chemical Vapor Deposition)等を用いて形成してもよい。
[0035] フッ素被膜 12は、耐熱性に顕著に優れており、最高使用温度は 260°Cであり、検 查時の高温環境にも十分耐えることができる。また、フッ素被膜 12に適用されるフッ 素榭脂は、縁耐力が 19MVZmであり、他の絶縁性材料と比較しても劣らない程度 の絶縁性を有している。さらに、フッ素榭脂は、表面が汚れた場合もウェスで軽く拭う だけで簡単にクリーニングすることができるという利点も有している。
[0036] フッ素被膜 12は耐久性にも優れている。エポキシ榭脂などを用いた従来の絶縁コ 一ティングの場合、引つ搔きなどによってホルダ基板 11の表面力も剥がれてしまうこ とがあつたが、本実施の形態 1では、フッ素榭脂を用いてフッ素被膜 12を形成するこ とにより、その高い柔軟性および密着性によって引つ搔きなどが生じても剥がれる恐 れがない。
[0037] ホルダ基板 11に形成される第 1開口部 8、第 2開口部 9、および第 3開口部 10は、 半導体集積回路 100に対して信号の入出力を行う信号用導電性接触子 41、アース 電位供給を行うアース用導電性接触子 42、および電力供給を行う給電用導電性接 触子 43をそれぞれ収容する。これらの開口部は、それぞれ円柱状かつホルダ基板 1 1を貫通するよう形成されており、収容する導電性接触子の位置決め手段およびガイ ド手段としての機能を果たしている。各開口部は、それぞれ第 1基板 6および第 2基 板 7に対してドリル加工、エッチング、打抜き成形を行うか、あるいはレーザ、電子ビ ーム、イオンビーム、ワイヤ放電等を用いた加工を行うことによって形成される。
[0038] ホルダ基板 11をインバー材ゃコバール材 (登録商標)等の金属材料を用いて形成 した場合、ホルダ基板 11の熱膨張係数を半導体集積回路 100の母材であるシリコン の熱膨張係数と近似させることが可能である。すなわち、適切な金属材料を用いて半 導体集積回路 100等の所定回路構造の熱膨張係数に適合したホルダ基板 11を形 成することにより、温度変化にかかわらず安定して使用可能な導電性接触子ホルダ 3 および導電性接触子ユニット 1を実現することができる。
[0039] なお、ホルダ基板 11が後述するアース機能および電界遮蔽機能に関して効果を 奏する観点カゝらは、体積固有抵抗が 1〜100 Ω ' cmと低ぐ耐磨耗性を有した導 電性材料、例えば砲金やベリリウム銅などを用いることが好ま U、。
[0040] また、ホルダ基板 11は、アース電位を供給する機能も有することから、第 1基板 6と 第 2基板 7との間の電気的な接触抵抗がなるべく低いことが好ましい。このため、第 1 基板 6および第 2基板 7が互いに接触する接触面に関して、表面を平滑に加工したり 、ニッケルメツキ +金メッキ等の表面処理を行うことが好まし 、。
[0041] ホルダ基板 11の第 1開口部 8および第 3開口部 10には、中空ノイブ状の絶縁性部 材が挿入される。具体的には、第 1開口部 8および第 3開口部 10の第 1基板 6側の開 口部である第 4開口部 21aおよび 21bには第 1絶縁性パイプ部材 13が挿入され、第 1開口部 8および第 3開口部 10の第 2基板 7側の開口部である第 6開口部 23aおよび 23bには第 2絶縁性パイプ部材 14が挿入される。
[0042] 第 1開口部 8に挿入される第 1絶縁性パイプ部材 13および第 2絶縁性パイプ部材 1 4の中空部には、信号用導電性接触子 41が収容される。また、第 3開口部 10に挿入 される第 1絶縁性パイプ部材 13および第 2絶縁性パイプ部材 14の中空部には、給 電用導電性接触子 43が収容される(この意味で、第 1開口部 8に挿入される第 1絶縁 性パイプ部材 13および第 2絶縁性パイプ部材 14は、特許請求の範囲における第 1 保持部材であり、第 3開口部 10に挿入される第 1絶縁性パイプ部材 13および第 2絶 縁性パイプ部材 14は、特許請求の範囲における第 2保持部材である)。これにより、 信号用導電性接触子 41および給電用導電性接触子 43とホルダ基板 11との間の電 気的な絶縁性を確保して 、る。
[0043] 第 1絶縁性パイプ部材 13の一端には、他の部分よりも大きな外径を有する抜止フラ ンジ 25が形成され、この抜止フランジ 25が、第 1基板 6と第 2基板 7の境界側に位置 する状態で第 1基板 6に挿入されている。同様に、第 2絶縁性パイプ部材 14の一端 にも抜止フランジ 26が形成され、この抜止フランジ 26が第 1基板 6と第 2基板 7の境 界側に位置する状態で第 2基板 7に挿入されている。
[0044] 第 1絶縁性パイプ部材 13および第 2絶縁性パイプ部材 14の中空部は、抜止フラン ジ 25および 26が形成された端部と反対側の端部において、内径が狭められた形状 を有しており、収容された信号用導電性接触子 41および給電用導電性接触子 43の 抜止機能を果たしている。
[0045] 第 1絶縁性パイプ部材 13および第 2絶縁性パイプ部材 14は、テフロン (登録商標) 等の絶縁性材料によって形成される。テフロン (登録商標)は加工が容易であるととも に、比誘電率 ε が 2. 1という低い値を有するため、他の材料を使用した場合と比較 しても、同一の特性インピーダンスを実現する構成において、信号用導電性接触子 4 1の外径を大きくすることが可能である。このように、信号用導電性接触子 41の外径 を大きくすることによって信号用導電性接触子 41の電気抵抗を低減することができ、 伝送信号の減衰を抑制することが可能となる。
[0046] また、第 1絶縁性パイプ部材 13および第 2絶縁性パイプ部材 14は、内面を平滑面 によって形成することが可能であるため、信号用導電性接触子 41や給電用導電性 接触子 43の伸縮動作に伴う摺動抵抗を低減することもできる。
[0047] 次に、導電性接触子 4の構造について説明する。まず、信号用導電性接触子 41は 、回路基板 2に備わる電極と電気的に接続する針状部材 44と、使用時に半導体集 積回路 100に備わる接続用電極と電気的に接続する針状部材 45と、針状部材 44と 針状部材 45との間に設けられ、針状部材 44、 45間を電気的に接続すると共に、信 号用導電性接触子 41を長軸方向に伸縮させるパネ部材 46とを備える。針状部材 44 および 45、パネ部材 46は、それぞれの軸線が第 1開口部 8の軸線と一致するよう第 1 開口部 8に収容され、力かる軸線方向に移動可能な構成を有する。
[0048] 針状部材 44は、回路基板 2の表面上に配置される電極と電気的に接続する。具体 的には、針状部材 44は、回路基板 2側に先鋭端を有し、かかる先鋭端が回路基板 2 に備わる電極と接触する構成を有する。針状部材 44は、パネ部材 46の伸縮作用に よって軸線方向に移動が可能であり、回路基板 2に備わる電極の凹凸に対応して最 適な状態で接触すると共に、パネ部材 46による伸張方向の押圧力によって接触抵 抗を低減した状態で電極と接触することができる。
[0049] また、針状部材 44は、図 2にも示すように軸線と垂直な方向に突起したフランジ部 4 41を有する。上述したように、ホルダ基板 11の下側表面近傍において第 1開口部 8 の内径は狭まるように形成されて 、るため、針状部材 44が下側に移動するにしたが つてフランジ部 441と第 1開口部 8の内面に設けられた第 2絶縁性パイプ部材 14とが 当接し、針状部材 44が抜け止めされる。
[0050] 針状部材 45は、導電性接触子ユニット 1使用時に半導体集積回路 100に設けられ た略球状の接続用電極 (バンプ) 101に対して電気的に接続する。具体的には、針 状部材 45は、半導体集積回路 100側の端部において接続用電極 101と接触する構 成を有する。また、針状部材 45は、針状部材 44と同様にパネ部材 46の伸縮作用に よって軸線方向に移動可能であると共に、軸線と垂直な方向に突起したフランジ部 4 51を有することによって抜け止めされた構造を有する。以上の構成を有することで、 信号用導電性接触子 41は、回路基板 2に備わる電極と半導体集積回路 100に備わ る接続用電極との間を電気的に接続する。 [0051] ところで、給電用導電性接触子 43は、果たす機能は異なるものの具体的構造に関 しては信号用導電性接触子 41と同様の構造、すなわち針状部材 44および 45、なら びにパネ部材 46を備える。したがって、給電用導電性接触子 43の構造の詳細につ いての説明は省略する。
[0052] 信号用導電性接触子 41および給電用導電性接触子 43の各針状部材 45の端部 は、半導体集積回路 100の接続用電極 101に当接する。これに対して、信号用導電 性接触子 41の針状部材 44の先端は回路基板 2に設けられた信号用電極 2aに当接 し、給電用導電性接触子 43の針状部材 44の先端は回路基板 2の給電用電極 2b〖こ 当接する。
[0053] 次に、アース用導電性接触子 42について説明する。アース用導電性接触子 42は 、回路基板 2に備わる電極と電気的に接続する針状部材 47と、使用時に半導体集 積回路 100に備わる接続用電極と電気的に接続する針状部材 48と、針状部材 47と 針状部材 48との間に設けられ、針状部材 47、 48間を電気的に接続すると共に、ァ ース用導電性接触子 42を長軸方向に伸縮させるパネ部材 49とを備える。
[0054] 針状部材 47および 48は、それぞれフランジ部 51および 52が形成された構成を有 し、フランジ部 51および 52を介してホルダ基板 11の電位を半導体集積回路 100〖こ 対してアース電位として供給する。
[0055] アース用導電性接触子 42の針状部材 48の端部は、半導体集積回路 100の接続 用電極 101に当接する。これに対して、針状部材 47の先端は、回路基板 2の表面の うち信号用電極 2aおよび給電用電極 2bと同じ表面に設けられるアース電極 2Gに当 接する。
[0056] なお、アース用導電性接触子 42とホルダ基板 11との間の電気的な接触性を良好 にするため、第 2開口部 9の内周に、対磨耗性があって導電性を高めることが可能な 表面処理を施してもよい。このような表面処理として、例えば金メッキを挙げることがで きる。金メッキを施す場合には、ホルダ基板 11の表面にフッ素被膜 12を形成し、全て の開口部を形成した後、第 2開口部 9の内面に金メッキを施す。
[0057] 金メッキの工程では、ホルダ基板 11が強アルカリまたは強酸に浸漬されるため、従 来用いられていたエポキシ榭脂などの絶縁被膜では、この浸漬の際に強アルカリま たは強酸に腐食されてしまうという問題があった。このように絶縁被膜が腐食された場 合には、被膜をタッチアップ (修正)することで対応していたが、金メッキを施す前の状 態に完全に戻すことはできなかった。本実施の形態 1では、強アルカリまたは強酸に 対して極めて高!、耐食性を有するフッ素榭脂を用いて絶縁被膜を形成して ヽるため 、金メッキを施す際に腐食してしまうことがなぐ被膜のタッチアップが不要である。し たがって、ホルダ基板 11の製造コストを低減するとともに、納期を短縮することができ る。カロえて、絶縁コーティングのむらがなくなり、より確実な絶縁性能が得られる。
[0058] ところで、アース用導電性接触子 42とホルダ基板 11との間の接触抵抗を低減する 観点からは、両者の接触面積が大きくなることが好ましい。このため、本実施の形態 1 では、フランジ部 51および 52の外径を可能な限り大きくするとともに、アース用導電 性接触子 42の伸縮動作に悪影響を及ぼさない程度にフランジ部 51および 52の収 縮方向長さ(図 2における縦方向)を大きくすることとしている。力かる工夫を施すこと によって、アース用導電性接触子 42は、ホルダ基板 11からのアース電位を半導体 集積回路 100に対して高い効率で供給することが可能となり、半導体集積回路 100 のアース電位を安定ィ匕できる。
[0059] また、アース用導電性接触子 42の外表面上、例えばフランジ部 51および 52の外 周上に接点復活剤等の電気的な接触抵抗を低減する材料を塗布した状態で組み込 むことも有効である。これらの構成を採用することによって、半導体集積回路 100に 対して供給される信号が高周波化した場合であっても、信号伝送ロスが増大すること のない導電性接触子ユニット 1を実現することが可能である。
[0060] アース用導電性接触子 42は、アース電極 2Gを介して回路基板 2からの電位を半 導体集積回路 100に供給するのみならず、ホルダ基板 11からの電位をも受けて半 導体集積回路 100に対してアース電位を供給する。図 2にも示すように、ホルダ基板 11は、アース用導電性接触子 42を収容する第 2開口部 9の内面には絶縁層が形成 されておらず、第 2開口部 9の内面は、アース用導電性接触子 42の収縮動作に伴つ てたわんだパネ部材 49と直接接触する構成を有する。この結果、アース用導電性接 触子 42と導電性材料カゝら成るホルダ基板 11とは電気的に接続され、アース用導電 性接触子 42が供給する電位と、ホルダ基板 11の電位とは等 ヽ値となる。 [0061] 以上の構成を有する導電性接触子ユニット 1を組み立てる際には、まず、第 1基板 6 および第 2基板 7にそれぞれ形成された第 4開口部 21a等の開口部に対して、対応 する絶縁性パイプ部材を挿入する。この後、第 1絶縁性パイプ部材 13が挿入された 第 1基板 6を、半導体集積回路 100側が鉛直下側 (すなわち、第 2基板 7との接触面 が鉛直上側)となるように配置した状態で第 1絶縁性パイプ部材 13の中空部分に導 電性接触子 4を収容する。さらに、導電性接触子 4を収容した状態の第 1基板 6に対 して、導電性接触子 4が第 2基板 7に挿入された第 2絶縁性パイプ部材 14の中空部 分に挿入されるよう、鉛直上側力 覆い被せるように第 2基板 7を重ねあわせ、第 1基 板 6と第 2基板 7とを互いに固定する。その後、回路基板 2、ホルダ部材 5等の必要な 部材を組み合わせることによって導電性接触子ユニット 1が完成する。
[0062] このように、導電性接触子ユニット 1は、量産組み付け性が向上した構成を有する。
また、各絶縁性パイプ部材の抜け止めを抜止フランジ 25および 26によって行うことと しているため、第 1基板 6と第 2基板 7とを固定した状態を解除することによって各絶 縁性パイプ部材を対応する開口部力も取り外すことが容易である。さらに、第 1基板 6 と第 2基板 7とを固定した状態を解除することによって導電性接触子 4を取り外すこと も容易なため、メインテナンス等を簡便に行うことが可能となる。
[0063] 以上説明した本発明の実施の形態 1によれば、回路構造に対して信号の入出力を 行う信号用導電性接触子を収容する第 1開口部および前記回路構造に対してァー ス電位供給を行うアース用導電性接触子を収容する第 2開口部を有するホルダ基板 と、前記第 1開口部に挿入されて前記信号用導電性接触子を保持する第 1保持部材 と、絶縁性材料によって形成され、前記ホルダ基板の少なくとも一方の表面を被覆す る絶縁被膜 (フッ素榭脂)と、を備えたことにより、絶縁層の耐食性を向上させるととも に、耐久性にも優れた導電性接触子ホルダおよび導電性接触子ユニットを提供する ことが可能となる。
[0064] また、本発明の実施の形態 1によれば、ホルダ基板の表面に絶縁被膜を設けること により、回路基板の電極や半導体集積回路 (検査対象)の電極とホルダ基板の表面 との絶縁を確実にし、両者が接触してショートするのを防止することができる。
[0065] (実施の形態 2) 図 3は、本発明の実施の形態 2に係る導電性接触子ホルダの構成を示す模式図で ある。なお、導電性接触子ホルダの詳細な構成を除く導電性接触子ユニットの構成 は、上述した導電性接触子ユニット 1の構成と同じである。
[0066] 図 3に示す導電性接触子ホルダ 31は、導電性接触子 4を収容するものであり、第 1 基板 6および第 2基板 7を有するホルダ基板 11と、第 1基板 6の第 4開口部 21aおよ び 21bに挿入される第 1絶縁性パイプ部材 13と、第 2基板 7の第 6開口部 23aおよび 23bに挿入される第 2絶縁性パイプ部材 15とを備える。ホルダ基板 11の表面のうち 第 1基板 6の表面には、上述した実施の形態 1と同様に絶縁被膜としてのフッ素被膜 12が形成されている。
[0067] 第 2絶縁性パイプ部材 15の一端には抜止フランジ 27が形成され、この抜止フラン ジ 27が第 1基板 6と第 2基板 7の境界側に位置する状態で第 2基板 7に挿入されてい る。第 2絶縁性パイプ部材 15の長手方向の長さは、第 2基板 7に挿入したときに第 2 基板 7の表面(図 3のホルダ基板 11底面側)よりも突出する程度の長さを有する。
[0068] 上記以外の導電性接触子ホルダ 31の構成は、上記実施の形態 1で説明した導電 性接触子ホルダ 3の構成と同様であり、導電性接触子ホルダ 3が有するのと同じ部位 には同じ符号を付与してある。
[0069] 図 4は、以上の構成を有する導電性接触子ホルダ 31に半導体集積回路 100を装 着して検査を行う状態を示す図であり、導電性接触子 4が接続用電極 101に接触し た検査時の状態を示す模式図である。導電性接触子ホルダ 31を用いて半導体集積 回路 100の検査を行う場合、半導体集積回路 100が導電性接触子 4に接触した状 態では、第 2絶縁性パイプ部材 15の端部が回路基板 2の信号用電極 2aおよび給電 用電極 2bに当接する。これにより、第 2基板 7の表面が信号用電極 2aおよび給電用 電極 2bに接触してショートするのを防止している。また、導電性接触子ホルダ 31が過 度の押圧を受けるのを防止するという効果も得ることができる。
[0070] なお、図 3では回路基板 2側の表面すなわち第 2基板 7の表面(図 4におけるホルダ 基板 11の底面)にフッ素被膜が形成されていないが、第 2基板 7側の表面にフッ素被 膜 12を形成してもよい。
[0071] 以上説明した本発明の実施の形態 2によれば、回路構造に対して信号の入出力を 行う信号用導電性接触子を収容する第 1開口部および前記回路構造に対してァー ス電位供給を行うアース用導電性接触子を収容する第 2開口部を有するホルダ基板 と、前記第 1開口部に挿入されて前記信号用導電性接触子を保持する第 1保持部材 と、絶縁性材料によって形成され、前記ホルダ基板の少なくとも一方の表面を被覆す る絶縁被膜 (フッ素榭脂)と、を備えたことにより、上記実施の形態 1と同様に、絶縁層 の耐食性を向上させるとともに、耐久性にも優れた導電性接触子ホルダおよび導電 性接触子ユニットを提供することが可能となる。
[0072] また、本実施の形態 2によれば、ホルダ基板の一方の表面に絶縁被膜を設けるとと もに、他方の表面力も第 2絶縁性パイプ部材を突出させることにより、回路基板の電 極や半導体集積回路 (検査対象)の電極とホルダ基板の表面との絶縁を確実にし、 両者が接触してショートするのを防止することができる。
[0073] (実施の形態 3)
図 5は、本発明の実施の形態 3に係る導電性接触子ホルダの構成を示す模式図で ある。なお、導電性接触子ホルダの詳細な構成を除く導電性接触子ユニットの構成 は、上述した導電性接触子ユニット 1の構成と同じである。
[0074] 図 5に示す導電性接触子ホルダ 32は、導電性接触子 4を収容するものであり、第 1 基板 6および第 2基板 7を有するホルダ基板 11と、第 1基板 6の第 4開口部 21aおよ び 21bに挿入される第 1絶縁性パイプ部材 16と、第 2基板 7の第 6開口部 23aおよび 23bに挿入される第 2絶縁性パイプ部材 15とを備える。
[0075] 第 1絶縁性パイプ部材 16の一端には抜止フランジ 28が形成され、この抜止フラン ジ 28が第 1基板 6と第 2基板 7の境界側に位置する状態で第 1基板 6に挿入されてい る。第 1絶縁性パイプ部材 16の長手方向の長さは、第 1基板 6に挿入したときに第 1 基板 6の表面(図 3のホルダ基板 11上面側)よりも突出する程度の長さを有する。本 実施の形態 3では、第 1基板 6の表面に、フッ素被膜は形成されていない。
[0076] 上記以外の導電性接触子ホルダ 32の構成は、上記実施の形態 2で説明した導電 性接触子ホルダ 31の構成と同様であり、導電性接触子ホルダ 31が有するのと同じ 部位には同じ符号を付与してある。
[0077] 図 6は、以上の構成を有する導電性接触子ホルダ 32に半導体集積回路 100を装 着して検査を行う状態を示す図であり、導電性接触子 4が接続用電極 101に接触し た検査時の状態を示す模式図である。図 6に示す状態において、第 1絶縁性パイプ 部材 16の端部が半導体集積回路 100の接続用電極 101の端部に接触するとともに 、第 2絶縁性パイプ部材 15の端部が回路基板 2の信号用電極 2aおよび給電用電極 2bに当接する。これにより、第 1基板 6の表面が接続用電極 101に接触してショートし たり、第 2基板 7の表面が信号用電極 2aや給電用電極 2bに接触してショートするの を防止している。また、導電性接触子ホルダ 32が過度の押圧を受けるのを防止する t ヽぅ効果も得ることができる。
[0078] なお、図 5ではホルダ基板 11の表面にフッ素被膜が形成されて 、な 、が、上記実 施の形態 1と同様に、第 1基板 6および第 2基板 7の各表面に薄膜状のフッ素被膜 12 を形成してもよい。
[0079] 以上説明した本発明の実施の形態 3によれば、回路構造に対して信号の入出力を 行う信号用導電性接触子を収容する第 1開口部および前記回路構造に対してァー ス電位供給を行うアース用導電性接触子を収容する第 2開口部を有するホルダ基板 と、絶縁性材料によって形成され、前記第 1開口部に挿入されて前記信号用導電性 接触子を保持する第 1保持部材と、を備え、前記第 1保持部材の両端部が、前記ホ ルダ基板の表面力 突出している構成とすることにより、絶縁層の耐食性を向上させ るとともに、耐久性にも優れた導電性接触子ホルダおよび導電性接触子ユニットを提 供することが可能となる。
[0080] また、本実施の形態 3によれば、第 1および第 2絶縁性パイプ部材をホルダ基板の 表面力 突出させることにより、回路基板の電極や半導体集積回路 (検査対象)の電 極とホルダ基板の表面との絶縁を確実にし、両者が接触してショートするのを防止す ることがでさる。
[0081] (実施の形態 4)
図 7は、本発明の実施の形態 4に係る導電性接触子ホルダの構成を示す模式図で ある。なお、導電性接触子ホルダの詳細な構成を除く導電性接触子ユニットの構成 は、上述した導電性接触子ユニット 1の構成と同じである。
[0082] 図 7に示す導電性接触子ホルダ 33は、導電性接触子 4を収容するものであり、第 1 基板 6および第 2基板 7を有するホルダ基板 11と、第 1基板 6の第 4開口部 21aおよ び 21bに挿入される第 1絶縁性パイプ部材 13と、第 2基板 7の第 6開口部 23aおよび 23bに挿入される第 2絶縁性パイプ部材 15と、第 1基板 6と半導体集積回路 100との 間に介在し、絶縁性材料カゝら成る平板状のフローティング部材 17とを備える。フロー ティング部材 17の周縁部と第 1基板 6の周縁部との間には、パネ等の弾性部材が介 在しており(図示せず)、半導体集積回路 100が装着されていないとき、フローテイン グ部材 17は第 1基板 6から浮いた状態になっている(図 7を参照)。
[0083] フローティング部材 17は、半導体集積回路 100の接続用電極 101の配置パターン に適合して形成された複数の孔部 18を有する。孔部 18の径は、対応する接続用電 極 101が挿入可能な大きさを有するとともに、第 1絶縁性パイプ部材 13の外径よりも 小さい。力かるフローティング部材 17は、接続用電極 101が導電性接触子 4と接触 する前に、予めおおよその位置決めをする機能を有している。この意味で、図 7に示 すように、半導体集積回路 100側をテーパ形状としておけば、接続用電極 101の位 置決めを行う際に接続用電極 101とフローティング部材 17とが接触することによって 接続用電極 101の表面を傷つけてしまうのを防止することができる。
[0084] 上記以外の導電性接触子ホルダ 33の構成は、上記実施の形態 3で説明した導電 性接触子ホルダ 32の構成と同様であり、導電性接触子ホルダ 32が有するのと同じ 部位には同じ符号を付与してある。
[0085] 図 8は、導電性接触子ホルダ 33に半導体集積回路 100を装着して検査を行う状態 を示す図であり、半導体集積回路 100の基板から下方に押圧されたフローティング 部材 17が、フローティング部材 17と第 1基板 6との間に介在する弾性部材の弾性力 に逆らって下降して第 1基板 6の表面に接し、導電性接触子 4が接続用電極 101にコ ンタタトした状態を示す模式図である。図 8に示す状態において、導電性接触子 4の 針状部材の上端部と接続用電極 101はフローティング部材 17の孔部 18の内部に保 持された状態で接触している。孔部 18の下面側の縁端部近傍は第 1絶縁性パイプ 部材 13の上端部と接触している。このため、第 1基板 6の表面が接続用電極 101に 接触してショートすることがない。他方、第 2基板 7においては、上記実施の形態 2お よび 3と同様に、第 2基板 7の表面よりも突出した第 2絶縁性パイプ部材 15の端部が 回路基板 2の信号用電極 2aおよび給電用電極 2bに当接し、第 2基板 7の表面と信 号用電極 2aおよび給電用電極 2bとの接触をそれぞれ防止している。
[0086] なお、図 7では、ホルダ基板 11の表面にフッ素被膜が形成されて 、な 、が、上記実 施の形態 1と同様に、第 1基板 6および第 2基板 7の各表面に薄膜状のフッ素被膜 12 を形成してもよい。
[0087] 以上説明した本発明の実施の形態 4によれば、回路構造に対して信号の入出力を 行う信号用導電性接触子を収容する第 1開口部および前記回路構造に対してァー ス電位供給を行うアース用導電性接触子を収容する第 2開口部を有するホルダ基板 と、絶縁性材料によって形成され、前記第 1開口部に挿入されて前記信号用導電性 接触子を保持する第 1保持部材と、を備え、前記第 1保持部材の一方の端部が、前 記ホルダ基板の表面力も突出している構成とすることにより、絶縁層の耐食性を向上 させるとともに、耐久性にも優れた導電性接触子ホルダおよび導電性接触子ユニット を提供することが可能となる。
[0088] また、本実施の形態 4によれば、前記第 1保持部材の端部が突出して 、な 、側の 表面に対向して配置され、前記回路構造の配線パターンに応じた複数の孔部を有 する平板状のフローティング部材をさらに備えたことにより、回路基板の電極や半導 体集積回路 (検査対象)の電極とホルダ基板の表面との絶縁を確実にし、両者が接 触してショートするのを防止することができる。
[0089] (その他の実施の形態)
ここまで、本発明を実施するための最良の形態として、実施の形態 1〜4を詳述して きた力 本発明はそれら四つの実施の形態によってのみ限定されるべきものではな い。以上の説明では、半導体チップ等の集積回路に対して用いる形態を想定してい たが、力かる形態に限定して解釈する必要はなぐ例えば、液晶パネルの特性を検 出する装置に本発明を適用することとしても良い。さら〖こは、導電性接触子の構成に っ ヽても上述したものに限定されず、別の構成を有する導電性接触子を用いることが 可能である。
[0090] また、本発明に係る導電性接触子ユニットに関して、入出力信号の伝送方式につ いては特に明示しなかったが、高周波伝送を行う場合には、シングルエンド伝送およ び差動伝送のいずれの場合にも適用可能である。すなわち、本発明に係る導電性 接触子ユニットは、伝送方式の種類にかかわらず適用可能である。
[0091] さらに、絶縁被膜としてはフッ素榭脂以外の絶縁性材料であって、金メッキ等に対 する耐食性がフッ素榭脂と同程度に高い絶縁性材料を適用することが可能である。
[0092] このように、本発明は、ここでは記載していないさまざまな実施の形態等を含みうる ものであり、特許請求の範囲により特定される技術的思想を逸脱しない範囲内にお V、て種々の設計変更等を施すことが可能である。
産業上の利用可能性
[0093] 以上のように、本発明に係る導電性接触子ホルダおよび導電性接触子ユニットは、 半導体集積回路の電気特性検査を行う際に有用である。

Claims

請求の範囲
[1] 回路構造に対して信号の入出力を行う信号用導電性接触子と、前記回路構造に 対してアース電位供給を行うアース用導電性接触子とを少なくとも収容する導電性接 触子ホルダであって、
導電性材料によって形成され、前記信号用導電性接触子を収容する第 1開口部お よび前記アース用導電性接触子を収容する第 2開口部を有するホルダ基板と、 絶縁性材料によって形成され、前記第 1開口部に挿入されて前記信号用導電性接 触子を保持する第 1保持部材と、
絶縁性材料によって形成され、前記ホルダ基板の少なくとも一方の表面を被覆する 絶縁被膜と、
を備えたことを特徴とする導電性接触子ホルダ。
[2] 前記絶縁被膜は前記ホルダ基板の一方の表面に設けられ、前記ホルダ基板の前 記絶縁被膜が形成されていない表面力も前記第 1保持部材が突出していることを特 徴とする請求項 1記載の導電性接触子ホルダ。
[3] 前記絶縁被膜はフッ素榭脂を用いて形成されたことを特徴とする請求項 1記載の導 電性接触子ホルダ。
[4] 前記第 2開口部の内周面に金メッキが施されたことを特徴とする請求項 1記載の導 電性接触子ホルダ。
[5] 前記ホルダ基板は、
導電性材料によって形成され、前記第 1開口部および前記第 2開口部にそれぞれ 対応する第 4開口部および第 5開口部を有する第 1基板と、
導電性材料によって形成され、前記第 1開口部および前記第 2開口部にそれぞれ 対応する第 6開口部および第 7開口部を有し、前記第 6開口部が前記第 4開口部と 連通し、前記第 7開口部が前記第 5開口部と連通するよう前記第 1基板に対して固定 された第 2基板と、
を備え、
前記第 1保持部材は、前記第 4開口部に挿入された第 1絶縁性パイプ部材と、前記 第 6開口部に挿入された第 2絶縁性パイプ部材とから成ることを特徴とする請求項 1 記載の導電性接触子ホルダ。
[6] 前記第 1絶縁性パイプ部材は、一方の端部に抜止フランジを有し、該抜止フランジ が前記第 1基板と前記第 2基板との境界側に位置するように前記第 4開口部に挿入 され、
前記第 2絶縁性パイプ部材は、一方の端部に抜止フランジを有し、該抜止フランジ が前記第 1基板と前記第 2基板との境界側に位置するように前記第 6開口部に挿入 されたことを特徴とする請求項 5記載の導電性接触子ホルダ。
[7] 前記ホルダ基板は、前記回路構造に対して電力供給を行う給電用導電性接触子 を収容する第 3開口部を有し、
絶縁性材料によって形成され、前記第 3開口部に挿入されて前記給電用導電性接 触子を保持する第 2保持部材をさらに備えたことを特徴とする請求項 1記載の導電性 接触子ホルダ。
[8] 回路構造に対して信号の入出力を行う信号用導電性接触子と、前記回路構造に 対してアース電位供給を行うアース用導電性接触子とを少なくとも収容する導電性接 触子ホルダであって、
導電性材料によって形成され、前記信号用導電性接触子を収容する第 1開口部お よび前記アース用導電性接触子を収容する第 2開口部を有するホルダ基板と、 絶縁性材料によって形成され、前記第 1開口部に挿入されて前記信号用導電性接 触子を保持する第 1保持部材と、
を備え、
前記第 1保持部材の少なくとも一方の端部は、前記ホルダ基板の表面力 突出して
V、ることを特徴とする導電性接触子ホルダ。
[9] 前記第 1保持部材の端部が突出していない側の表面に対向して配置され、前記回 路構造の配線パターンに応じた複数の孔部を有する平板状のフローティング部材を さらに備えたことを特徴とする請求項 8記載の導電性接触子ホルダ。
[10] 前記第 2開口部の内周面に金メッキが施されたことを特徴とする請求項 8記載の導 電性接触子ホルダ。
[11] 前記ホルダ基板は、 導電性材料によって形成され、前記第 1開口部および前記第 2開口部にそれぞれ 対応する第 4開口部および第 5開口部を有する第 1基板と、
導電性材料によって形成され、前記第 1開口部および前記第 2開口部にそれぞれ 対応する第 6開口部および第 7開口部を有し、前記第 6開口部が前記第 4開口部と 連通し、前記第 7開口部が前記第 5開口部と連通するよう前記第 1基板に対して固定 された第 2基板と、
を備え、
前記第 1保持部材は、前記第 4開口部に挿入された第 1絶縁性パイプ部材と、前記 第 6開口部に挿入された第 2絶縁性パイプ部材とから成ることを特徴とする請求項 8 記載の導電性接触子ホルダ。
[12] 前記第 1絶縁性パイプ部材は、一方の端部に抜止フランジを有し、該抜止フランジ が前記第 1基板と前記第 2基板との境界側に位置するように前記第 4開口部に挿入 され、
前記第 2絶縁性パイプ部材は、一方の端部に抜止フランジを有し、該抜止フランジ が前記第 1基板と前記第 2基板との境界側に位置するように前記第 6開口部に挿入 されたことを特徴とする請求項 11記載の導電性接触子ホルダ。
[13] 前記ホルダ基板は、前記回路構造に対して電力供給を行う給電用導電性接触子 を収容する第 3開口部を有し、
絶縁性材料によって形成され、前記第 3開口部に挿入されて前記給電用導電性接 触子を保持する第 2保持部材をさらに備えたことを特徴とする請求項 8記載の導電性 接触子ホルダ。
[14] 請求項 1〜13のいずれか一項に記載の導電性接触子ホルダと、
前記導電性接触子ホルダに収容され、前記回路構造に対して信号の入出力を行う 信号用導電性接触子と、
前記導電性接触子ホルダに収容され、前記回路構造に対してアース電位供給を 行うアース用導電性接触子と、
少なくとも前記信号用導電性接触子と電気的に接続され、前記回路構造に対して 入力する信号を生成する回路を有する回路基板と、 を備えたことを特徴とする導電性接触子ユニット。
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