WO2007026428A1 - 圧電共振子 - Google Patents

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WO2007026428A1
WO2007026428A1 PCT/JP2005/015932 JP2005015932W WO2007026428A1 WO 2007026428 A1 WO2007026428 A1 WO 2007026428A1 JP 2005015932 W JP2005015932 W JP 2005015932W WO 2007026428 A1 WO2007026428 A1 WO 2007026428A1
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WO
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substrate
piezoelectric
sealing substrate
piezoelectric resonator
sealing
Prior art date
Application number
PCT/JP2005/015932
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English (en)
French (fr)
Inventor
Junji Furue
Masato Murahashi
Yuuji Hata
Original Assignee
Kyocera Corporation
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Publication date
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Priority to PCT/JP2005/015932 priority patent/WO2007026428A1/ja
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/15Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material
    • H03H9/17Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator
    • H03H9/177Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator of the energy-trap type
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/05Holders; Supports
    • H03H9/0538Constructional combinations of supports or holders with electromechanical or other electronic elements
    • H03H9/0547Constructional combinations of supports or holders with electromechanical or other electronic elements consisting of a vertical arrangement
    • H03H9/0561Constructional combinations of supports or holders with electromechanical or other electronic elements consisting of a vertical arrangement consisting of a multilayered structure

Definitions

  • the present invention relates to a piezoelectric resonator used in an oscillation circuit, a filter circuit, or the like.
  • a built-in capacitor type piezoelectric resonator shown in FIG. 8 is known (see, for example, Patent Document 1 below).
  • the capacitive built-in type piezoelectric resonator shown in FIG. 8 is provided with vibration electrodes 102 on both main surfaces of the piezoelectric substrate 101, and through a frame body 104 made of a pair of resin materials so as to surround each vibration electrode 102.
  • the piezoelectric substrate 101 has a structure in which a pair of sealing substrates 103 are joined.
  • the piezoelectric substrate 101 is made of a piezoelectric ceramic material, and constitutes a piezoelectric resonant element by providing a vibrating electrode 102 on both main surfaces. Further, the sealing substrate 103 also has a ceramic material force, and an electrostatic capacity is formed by electrodes provided on the upper and lower surfaces thereof. Specifically, between the external terminal electrode 109 and the internal electrode 106 provided on the outer surface of the sealing substrate 103, the external terminal electrode 109 and the external terminal electrode 107 extend to the main surface of the sealing substrate 103. Capacitance is generated via the sealing substrate 103 between the external terminal electrode 109 and the external terminal electrode 108 and the extended portion of the external terminal electrode 108 to the main surface of the sealing substrate 103. .
  • a frame body 104 made of uncured resin is applied on the upper and lower surfaces of the piezoelectric substrate 101 so as to surround the vibration region of the vibration electrode 102, and then the frame The sealing substrate 103 is placed on the body 104, and after the force is applied, the frame body 104 is cured.
  • the height of the vibration space 105 is set to the thickness of the frame body 104 to reduce the thickness.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Laid-Open No. 3-247010
  • the frame 104 cannot be made thinner than necessary.
  • the pair of sealing substrates 103 are made of a ceramic material cover. There is a problem that cracks are likely to occur on the sealing substrate 103 when mounting the substrate. In particular, as the thickness of the sealing substrate 103 is reduced, the above problems are more likely to occur. It was a big hindrance.
  • the present invention has been devised in view of the above problems, and a main object thereof is to provide a piezoelectric resonator suitable for thickness reduction.
  • a piezoelectric resonator of the present invention includes a piezoelectric substrate having first and second main surfaces, and a first substrate formed on the first main surface of the piezoelectric substrate.
  • the first vibration space is formed on the first main surface side of the vibration electrode, the second vibration electrode formed on the second main surface of the piezoelectric substrate, and the first main surface side of the piezoelectric substrate.
  • a first sealing substrate joined to the piezoelectric substrate via a frame, and a second vibration space formed so that a second vibration space is formed on the second main surface side of the piezoelectric substrate.
  • a second sealing substrate bonded to the piezoelectric substrate, wherein the first sealing substrate comprises a ceramic material force, and the second sealing substrate is a resin. It is characterized by material strength.
  • the piezoelectric resonator of the present invention is characterized in that the second sealing substrate contains glass fiber!
  • the piezoelectric resonator of the present invention is characterized in that the second frame body is made of a resin material similar to the resin material forming the second sealing substrate. .
  • the ceramic material forming the first sealing substrate has a relative dielectric constant of 200 to 5000, and an external surface for forming a capacitor is formed on the outer surface of the first sealing substrate.
  • a terminal electrode is provided.
  • the piezoelectric resonator of the present invention is characterized in that a resin layer is interposed between the first sealing substrate and the first frame. It is.
  • the resin layer is made of a resin material that forms the second sealing substrate, and the thickness of the second sealing substrate and the thickness of the resin layer are It is characterized by being approximately equal.
  • the piezoelectric resonator according to the present invention is characterized in that the second sealing substrate side is a mounting surface.
  • the second sealing substrate is formed of a resin material, cracks are not generated when the thickness is reduced as compared with the sealing substrate having a ceramic material force. Since generation of the piezoelectric resonator can be effectively prevented, a piezoelectric resonator having excellent mechanical strength and suitable for thinning can be obtained.
  • glass fiber is contained in the second sealing substrate. Since the glass material does not have fluidity up to a relatively high temperature of several hundred degrees, no deformation occurs at the glass transition temperature of the resin material. Therefore, when glass fiber is contained in the second sealing substrate, the glass fiber serves as a hard skeleton, and thermal deformation of the second sealing substrate can be suppressed. As described above, since the thermal deformation of the second sealing substrate can be suppressed, the contact between the second sealing substrate and the piezoelectric substrate can be effectively prevented.
  • the second frame body is formed of a resin material similar to the resin material forming the second sealing substrate.
  • the adhesiveness between the second sealing substrate and the second frame body is improved, and the bonding strength between them can be improved.
  • the ceramic material forming the first sealing substrate has a relative dielectric constant of 200 to 5000, and a capacitance is formed on the outer surface of the first sealing substrate. It is preferable to provide an external terminal electrode for formation.
  • a ferroelectric ceramic material as the material of the first sealing substrate, a relatively large capacitance can be easily formed.
  • a ceramic material as the material of the first sealing substrate, it is possible to improve the strength against external stress or the like and reduce the stress applied to the piezoelectric substrate. As a result, even when stress due to an external force impact or the like is applied to the piezoelectric resonator, the piezoelectric substrate is effectively prevented from being damaged, and the piezoelectric resonator can be excellent in reliability.
  • a resin layer may be interposed between the first sealing substrate and the first frame.
  • the first sealing substrate and the first frame body are firmly bonded by the resin layer, and the mechanical strength of the piezoelectric resonator can be improved.
  • the resin layer is formed of a resin material that forms the second sealing substrate, and the thickness of the second sealing substrate, the thickness of the resin layer, Are preferably substantially equal.
  • the degree of absorption of external stress is approximated between the resin layer and the second sealing substrate, so that the stress applied to the upper and lower surfaces of the piezoelectric substrate becomes substantially uniform.
  • unnecessary distortion of the piezoelectric substrate can be suppressed, and the electrical characteristics of the piezoelectric resonator can be maintained in a good state.
  • the second sealing substrate side may be a mounting surface.
  • it is mounted on the external wiring board on the second sealing board side, which is softer and easier to deform than the sealing board made of ceramic material.
  • the stress generated by the difference in thermal expansion coefficient and elastic modulus with the wiring board is absorbed by the deformation of the second sealing board, and the generation of cracks in the vicinity of the mounting surface can be effectively suppressed.
  • FIG. 1 is a perspective view schematically showing an example of a piezoelectric resonator of the present invention.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA ′ of FIG.
  • FIG. 3 is an exploded perspective view schematically showing a piezoelectric resonator of the present invention.
  • FIG. 4 is a diagram showing an equivalent circuit of the piezoelectric resonator of the present invention.
  • FIG. 5 is an exploded perspective view schematically showing a piezoelectric resonator according to another embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is an external perspective view schematically showing a modification of the piezoelectric resonator of the present invention.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view taken along line BB ′ of FIG.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view schematically showing a conventional piezoelectric resonator.
  • FIG. 1 is an external perspective view schematically showing an example of the piezoelectric resonator of the present invention
  • FIG. 2 is a sectional view taken along line AA ′
  • FIG. 3 is an exploded perspective view.
  • the piezoelectric resonator 1 shown in the figure is mainly formed of one piezoelectric substrate 21 and two sealing substrates 31 and 41. More specifically, the first sealing is performed via the first frame 51a so that the first vibration space 61a is formed on the first main surface 10 side of the piezoelectric substrate 21 as shown in FIG.
  • the substrate 31 is bonded to the piezoelectric substrate 21 and the second sealing is performed via the second frame 51b so that the second vibration space 61b is formed on the second main surface 11 side of the piezoelectric substrate 21. It has a structure in which the substrate 41 is bonded to the piezoelectric substrate 21.
  • the piezoelectric substrate 21 is made of a piezoelectric ceramic material such as lead zirconate titanate (PZT) or lead titanate (PT), or a piezoelectric single crystal material such as quartz (SiO 2) or lithium niobate (LiNbO).
  • PZT lead zirconate titanate
  • PT lead titanate
  • SiO 2 quartz
  • LiNbO lithium niobate
  • a method in which a binder is added to the raw material powder and pressed, or the raw material powder is dried after being mixed with water and a dispersing agent using a ball mill, and the binder, solvent After forming a substrate by adding a plasticizer or the like to a sheet by a method such as molding by the doctor blade method and firing at a peak temperature of 1100 to 1400 ° C for several tens of minutes to several hours, for example, 60 to 150 in the thickness direction
  • the desired piezoelectric properties are imparted by applying a voltage of 3 to 15 kV / mm at a temperature of ° C and applying a polarization treatment.
  • the piezoelectric substrate 21 is made of a piezoelectric single crystal material
  • desired piezoelectric characteristics can be obtained by cutting an ingot (base material) of the piezoelectric single crystal material to be the piezoelectric substrate 21 in a predetermined crystal direction.
  • a piezoelectric substrate 21 having the same can be obtained.
  • First and second vibrating electrodes 22a and 22b are formed on both main surfaces of the piezoelectric substrate 21. More specifically, the first vibration electrode 22a is formed on the first main surface 10 of the piezoelectric substrate 21, and the second vibration electrode 22b is formed on the second main surface 11 of the piezoelectric substrate 21. ing. The first vibrating electrode 22a and the second vibrating electrode 22b are arranged substantially parallel to each other with the piezoelectric substrate 21 in between. The piezoelectric substrate 21, the first vibrating electrode 22a, and the second vibrating electrode 22b Thus, the piezoelectric resonant element 20 that resonates at a specific frequency is configured.
  • the first and second vibrating electrodes 22a and 22b are made of a highly conductive metal such as gold, silver, copper, chromium, nickel, tin, lead, aluminum, and PVD methods such as vacuum deposition. It is formed by coating and baking by sputtering method or thick film printing method. In addition, the ceramic material and adhesion may be preliminarily deposited on the piezoelectric substrate 21 with a metal such as chromium (Cr), and the metal may be deposited thereon.
  • a highly conductive metal such as gold, silver, copper, chromium, nickel, tin, lead, aluminum, and PVD methods such as vacuum deposition. It is formed by coating and baking by sputtering method or thick film printing method.
  • the ceramic material and adhesion may be preliminarily deposited on the piezoelectric substrate 21 with a metal such as chromium (Cr), and the metal may be deposited thereon.
  • the first and second vibrating electrodes 22a and 22b are processed into a predetermined shape such as a circular shape or a quadrangular shape.
  • the diameter is, for example, 50 / zm or more and the longitudinal length of the piezoelectric substrate
  • the length in the vertical and horizontal directions is set to, for example, 50 / ⁇ ⁇ to 2 ⁇ .
  • the thickness of the first and second vibrating electrodes 22a and 22b is set to 0.5 m to 30 m, for example.
  • the size, arrangement, thickness, and the like of each vibration electrode 22a, 22b are appropriately determined according to desired electrical characteristics such as resonance characteristics and resonance frequency.
  • the first vibrating electrode 22a is formed in the central region of the first main surface 10 of the piezoelectric substrate 21, and the central region force is also directed toward the left side surface 12 of the piezoelectric substrate 21. Pulled out The piezoelectric substrate 21 is connected to a lead-out portion 23 a formed along the edge formed by the left side surface 12 and the first main surface 10.
  • the lead portion 23 a is exposed on the front side surface 14 of the piezoelectric substrate 21 and the side surface 15 opposite to the front side surface 14. As shown in FIG. 1, the exposed portion of the lead portion 23a is connected to the external connection electrode 71a.
  • the second vibrating electrode 22b of the piezoelectric substrate 21 is overlapped with the first vibrating electrode 22a and the piezoelectric substrate 21 so as to overlap each other in the direction of the main surfaces 10, 11 of the piezoelectric substrate 21.
  • the lead portion 23b is exposed on the front side surface 14 and the side surface 15 opposite to the front side surface 14 of the piezoelectric substrate 21. As shown in FIG. 1, the exposed portion of the lead portion 23b is connected to the external connection electrode 71b.
  • first and second vibrating electrodes 22a and 22b may be divided electrodes in which a plurality of electrodes are formed on both main surfaces 10 and 11 of the piezoelectric substrate 21.
  • the first sealing substrate 31 is bonded to the first main surface 10 side of the piezoelectric substrate 21 via the first frame 51a so that the first vibration space 61a is formed. Yes.
  • the second sealing substrate 41 is joined via the second frame 51b so that the second vibration space 61b is formed. ing.
  • the first sealing substrate 31 forms a vibrating space 61a together with the first frame 51a, and has a function of protecting the piezoelectric substrate 21 from external force.
  • the strong first sealing substrate 31 consists of ferroelectric ceramic materials such as lead zirconate titanate (PZT), lead titanate (PT), and barium titanate (BT). Is substantially the same as the vertical and horizontal length of the piezoelectric substrate 21 and is a substrate having a rectangular parallelepiped force with a thickness of several tens of m to lmm.
  • This first sealing substrate 31 is a method in which a binder is added to the raw material powder and pressed, or the raw material powder is dried using a ball mill with water and a dispersing agent and then dried to remove the binder, solvent, plasticizer, etc. In addition, it is formed by creating a sheet by a method such as molding by the doctor blade method and firing the sheet at a peak temperature of 1100 to 1400 ° C for several tens of minutes to several hours.
  • the capacitor element 30 having a sufficiently large capacitance can be configured.
  • the relative dielectric constant of the first sealing substrate 31 is preferably 200 to 5000.
  • the strength against external stress or the like can be improved and the stress applied to the piezoelectric substrate 21 can be reduced. Thereby, even if stress due to external impact or the like is applied to the piezoelectric resonator 1, damage to the piezoelectric substrate 21 is effectively prevented, and a piezoelectric resonator having excellent reliability can be obtained.
  • Internal electrodes 32a and 32b are formed on the upper surface of the first sealing substrate 31, and external terminal electrodes 33a, 33b and 33c are formed on the lower surface of the first sealing substrate 31, respectively.
  • the internal electrodes 32a, 32b and the external terminal electrodes 33a, 33b, 33c together with the first sealing substrate 31 constitute a capacitor element 30.
  • a capacitance cl is formed between the external terminal electrodes 33a and 33c
  • a capacitance c2 is formed between the external terminal electrodes 33b and 33c (FIG. 4).
  • the internal electrodes 32a, 32b and the external terminal electrodes 33a, 33b, 33c are formed by the same material and method as the vibrating electrode 22.
  • the external terminal electrodes 33a, 33b, and 33c are further used for mechanical and electrical connection with an external mounting board on which the piezoelectric resonator 1 is mounted, and Ni-Sn plating is applied to the surface! / RU
  • the second sealing substrate 41 forms a second vibration space 61b together with the second frame body 51b, and has a function of protecting the vibration region on the upper surface side of the piezoelectric substrate 21.
  • the vertical and horizontal lengths of the second sealing substrate 41 are substantially the same as the vertical and horizontal lengths of the piezoelectric substrate 21, and the thickness is several tens of ⁇ m to several mm, depending on the material.
  • the material for the second sealing substrate 41 engineering plastics such as polybutylene terephthalate (PBT) and liquid crystal polymer, and heat-resistant resin such as polyimide resin and epoxy resin can be used.
  • PBT polybutylene terephthalate
  • heat-resistant resin such as polyimide resin and epoxy resin
  • the second sealing substrate 41 can be made thinner than a sealing substrate having a ceramic material strength. As compared with a sealing substrate made of a ceramic material, it is possible to effectively prevent cracks from occurring when the thickness is reduced, so that it has excellent mechanical strength and is suitable for thickness reduction.
  • the piezoelectric resonator 1 can be obtained.
  • the second sealing substrate 41 preferably contains glass fibers. By using a resin material containing glass fiber, thermal deformation of the sealing substrate 41 can be suppressed, and the vibration spaces 61a and 61b can be easily formed.
  • the second sealing substrate 41 was a ceramic substrate similar to the first sealing substrate 31, its thickness was limited to 150 m due to strength problems such as structural defects in the ceramic.
  • the stop substrate 41 By forming the stop substrate 41 from a resin material containing glass fiber, the thickness could be reduced to 28 m, and the piezoelectric resonator 1 could be reduced by that much.
  • the resin material for forming the second sealing substrate 41 is preferably an epoxy resin or a polyimide resin.
  • an epoxy resin or a polyimide resin For example, when 30 to 80% glass fiber is contained in a polyimide-based resin sheet or an epoxy-based resin sheet, 180 ° C to 200 ° C while applying a pressure of 0.2 MPa to 5 MPa in a vacuum of lOOPa or less
  • the second sealing substrate 41 formed by holding and curing at a temperature of 40 ° C. for 90 minutes is sandwiched between the piezoelectric substrate 21 and the second frame body 51b is heated to heat the frame body 51b. By curing, the piezoelectric substrate 21 can be satisfactorily bonded by heat bonding.
  • the degree of deformation (deflection) due to heating at the time of joining is determined as a polyimide resin containing no glass fiber.
  • the second sealing substrate 41 made of grease it was possible to keep it to about 40%.
  • the second sealing substrate 41 is bonded to the piezoelectric substrate 21 by heat bonding via the second frame 51b. It is possible to effectively prevent the sealing substrate 41 from falling into the piezoelectric substrate 21 side and coming into contact with the second vibrating electrode 22b. As a result, the thickness of the second frame 51b can be made thinner, and as a result, the thickness of the entire piezoelectric resonator can be made thinner.
  • the piezoelectric substrate 21 may be bonded by heat bonding.
  • the first sealing substrate 31 and the second sealing substrate 41 described above are bonded to the piezoelectric substrate 21 and the first and second vibration spaces 61a and 61b are formed to form the first.
  • the frame 51a and the second frame 51b will be described.
  • the first and second frames 51a and 51b are made of epoxy resin, etc.
  • the first and second sealing substrates 31 and 41 are bonded to the piezoelectric substrate 21 by heat bonding. Since the epoxy resin after curing has a dense three-dimensional network structure, it has excellent airtightness, and the vibration spaces 61a and 6 lb can be hermetically sealed over a long period of time.
  • the first and second frames 51a and 51b may contain a filler having a ceramic strength such as silicon oxide.
  • a filler having a ceramic strength such as silicon oxide.
  • the viscosity and thermal expansion coefficient of the first and second frames 51a and 5 lb can be adjusted.
  • the distance from the stop substrate 41 can be adjusted.
  • the distance between the vibration electrodes 22a and 22b and the sealing substrates 31 and 41 is preferably set to be 5 m to 100 m, and more preferably 20 ⁇ m to 60 ⁇ m.
  • the spacing force between the vibrating electrodes 22a and 22b and the sealing substrates 31 and 41 is less than 20 ⁇ m, when unnecessary external force is applied to the piezoelectric resonator 1, the sealing substrates 31 and 41 sag and the vibrating electrodes 22a, The contact with 22b is facilitated, and the risk of damping the vibration of the piezoelectric resonant element 20 is increased.
  • the distance between the vibrating electrodes 22a and 22b and the sealing substrates 31 and 41 exceeds 60 m, the thickness of the piezoelectric resonator 1 becomes unnecessarily thick! Tend to be.
  • the second frame 51b is preferably formed of a resin material similar to that of the second sealing substrate 41.
  • the adhesion between the second sealing substrate 41 and the second frame body 51b is improved. It is possible to improve the joint strength between the two. More specifically, it is preferable that the second sealing substrate 41 and the second frame 51b are formed of epoxy resin or polyimide resin.
  • the steps for applying the frame bodies 51a and 51b can be unified, thereby reducing the number of steps and improving productivity. be able to.
  • the vibrating spaces 61a and 6 lb are formed in a vacuum and the vibrating electrodes 22a and 22b can be sealed in a vacuum, the oxidative corrosion of the vibrating electrodes 22a and 22b is prevented, and more reliable. An excellent piezoelectric resonator 1 can be obtained.
  • the first vibrating electrode 22a, the internal electrode 32a, and the external terminal The external connection electrode 71a that electrically connects the electrode 33a, the external connection electrode 71b that electrically connects the second vibration electrode 22b, the internal electrode 32b, and the external terminal electrode 33b, and the external terminal electrode 33c
  • the external connection electrode 71c is formed.
  • a capacitance cl is formed between the external terminal electrodes 33a and 33c, and a capacitance c2 is formed between the external terminal electrodes 33b and 33c.
  • the first vibration electrode 22a, the internal electrode 32a, and the external terminal electrode 33a are connected by the external connection electrode 71a
  • the second vibration electrode 22b, the internal electrode 32b, and the external terminal electrode 33b are connected by the external connection electrode 71b.
  • the piezoelectric resonator element 20 and the capacitor element 30 are electrically connected, and the equivalent circuit shown in FIG. 4 is formed. Yes.
  • These external connection electrodes 71a, 71b, 71c are made of a highly conductive metal such as gold, silver, copper, chromium, nickel, tin, lead, aluminum, PVD method such as vacuum deposition, etc. It can be deposited by sputtering, or it can be formed by applying conductive epoxy resin by thick film printing, etc., and curing at 80 ° C to 250 ° C. If desired, Ni— Sn, etc. are applied.
  • the first sealing substrate 31 having ceramic force is connected and fixed to the external mounting substrate, so that mounting strength is ensured and impact and vibration after mounting are secured. Sufficient reliability is ensured even for movement.
  • the capacitance cl is formed between the external terminal electrodes 33a and 33c of the sealing substrate 31, and the capacitance c2 is formed between the external terminal electrodes 33b and 33c.
  • the two capacitances used in the oscillation circuit and the like are formed between the piezoelectric substrate 21 and the external mounting substrate, and the external terminal electrodes 33a, 33b, As a result of being connected to 33c, stable oscillation can be realized without generating unnecessary stray capacitance.
  • FIG. 5 is an exploded perspective view schematically showing a piezoelectric resonator according to another embodiment of the present invention.
  • the feature of this embodiment is that a resin layer 81 is inserted between the first frame 51a and the first sealing substrate 31.
  • the thickness of the first frame 51a is thin, the piezoelectric substrate 21 and the first frame 51a If the flatness of the surface of the sealing substrate 31 is insufficient, it is difficult to compensate for this with the thickness of the first frame body 51, and the adhesive strength between the piezoelectric substrate 21 and the first sealing substrate 31 decreases.
  • the above problem occurs when the resin layer 81 that is easily deformed and has an appropriate thickness is inserted between the first frame 51a and the first sealing substrate 31. Can be effectively prevented.
  • the resin layer 81 has a flat plate shape, and the vertical and horizontal lengths are substantially the same as the vertical and horizontal lengths of the piezoelectric substrate 21 and the first sealing substrate 31.
  • the thickness of the resin layer 81 is several tens of meters to several millimeters although it varies depending on the material.
  • a heat-resistant resin such as polyimide-based resin or epoxy-based resin can be used.
  • the resin layer 81 preferably contains glass fibers. By using a glass fiber-containing polyimide-based resin or epoxy-based resin, thermal deformation can be suppressed and vibration spaces 61a and 61b can be easily formed.
  • the glass fiber content is 30-80. % Polyimide resin sheet or epoxy resin sheet is preferably used.
  • the resin layer 81 is formed of the same resin material as the second sealing substrate 41, and the thickness of the second sealing substrate 41 and the thickness of the resin layer 81 are substantially equal. It is preferable to keep it. As a result, the degree of absorption of external stress is approximated between the resin layer 81 and the second sealing substrate 41, so that the stress applied to the upper and lower surfaces of the piezoelectric substrate 21 is substantially uniform. As a result, unnecessary distortion of the piezoelectric substrate 21 can be suppressed, and the electrical characteristics of the piezoelectric resonator 1 can be maintained in a good state.
  • the frame bodies 51a and 5 lb are formed by thermosetting resin such as epoxy resin, and this is applied by thick film printing.
  • a polyimide resin containing glass fibers or an epoxy resin may be used.
  • Good bonding can be achieved by curing by holding at a temperature of 180 ° C to 200 ° C for 40 minutes to 90 minutes while maintaining a pressure of 0.2 MPa to 5 MPa.
  • the second frame body 51b and the sealing substrate 41 are made of the same type of resin material, the familiarity between the two becomes better and the bonding strength can be improved.
  • FIGS. 6 and 7 the force that is connected and fixed to the external mounting substrate on the first sealing substrate 31 side, which is a ceramic force, is shown in FIGS. 6 and 7.
  • the second sealing substrate 41 side made of a resin material cover may be connected to and fixed to the mounting substrate.
  • FIG. 6 is an external perspective view showing a modification of the piezoelectric resonator of the present invention
  • FIG. 7 is a cross-sectional view taken along the line BB ′.
  • the second external terminal electrodes 91a, 91b used for fixing the connection to an external mounting substrate on the lower surface of the second sealing substrate 41, 91c is formed.
  • the second external terminal electrode 91a is connected to the vibration electrode 22a, the internal electrode 32a, and the external terminal electrode 33a by the external connection electrode 71a
  • the second external terminal electrode 9lb is connected to the vibration electrode 22b by the external connection electrode 71b.
  • the external connection electrode 91c is connected to the external terminal electrode 33c by the external connection electrode 71c.
  • the second external terminal electrodes 91a, 91b, 91c are formed by the same material and forming method as the external terminal electrodes 31a, 31b, 31c.
  • the second sealing substrate 41 side made of a soft and easily deformable resin material is used as a mounting surface for mounting on an external mounting substrate.
  • the stress generated by the difference in thermal expansion coefficient and elastic modulus with the mounting board during mounting can be absorbed by the deformation of the second sealing board 41, effectively suppressing the occurrence of cracks in the vicinity of the mounting surface. .

Landscapes

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  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)

Abstract

 圧電基板の両主面に一対の振動電極を形成し、一方の振動電極上に、枠体を介して、セラミック材料からなり静電容量を形成する封止基板を接合し、他方の振動電極上に、枠体を介して、樹脂材料からなる封止基板を接合してなり、薄型・小型で信頼性に優れた容量内蔵型圧電共振子である。                                                                               

Description

明 細 書
圧電共振子
技術分野
[0001] 本発明は、発振回路やフィルタ回路などに用いられる圧電共振子に関する。
背景技術
[0002] 従来の圧電共振子としては、例えば、図 8に示す容量内蔵型圧電共振子が知られ ている(例えば、下記特許文献 1参照)。図 8に示す容量内蔵型圧電共振子は、圧電 基板 101の両主面に振動電極 102を設け、各振動電極 102を取り囲むように一対の 榭脂材カゝらなる枠体 104を介して、圧電基板 101に一対の封止基板 103を接合した 構造を有している。
[0003] 圧電基板 101は、圧電体セラミック材料から成り、両主面に振動電極 102を設ける ことにより圧電共振素子を構成するものである。また、封止基板 103はセラミック材料 力も成り、その上下面に設けた電極により静電容量を形成するようになっている。具 体的には、封止基板 103の外表面に設けられた外部端子電極 109と内部電極 106 との間、外部端子電極 109と外部端子電極 107の封止基板 103の主面への延出部 との間、外部端子電極 109と外部端子電極 108の封止基板 103の主面への延出部 との間などに封止基板 103を介して静電容量が発生するようになっている。
[0004] このような容量内蔵型圧電共振子は、未硬化の榭脂から成る枠体 104を、圧電基 板 101の上下面に振動電極 102の振動領域を取り囲むように塗布し、その後、枠体 104上に封止基板 103を載置し、し力る後、枠体 104を硬化させることにより製作さ れる。この容量内蔵型圧電共振子では、振動空間 105の高さを枠体 104の厚みとす ることで薄型化を図って 、る。
特許文献 1:特開平 3 - 247010号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0005] し力しながら、枠体 104を薄くするほど振動電極 102と封止基板 103との間隔が狭 まることになるため、封止基板 103ゃ圧電基板 101などのわずかな変形によって、振 動電極 102と封止基板 103とが接触しやすくなつてしまう。したがって、枠体 104は、 必要以上に薄くすることができない。
[0006] そこで、圧電共振子の更なる薄型化を実現するためには、封止基板 103の厚みを 薄くする方法が考えられる。し力しながら、従来の容量内蔵型圧電共振子では、一対 の封止基板 103がセラミック材料カゝら成っているため、平板状の封止基板 103を形成 する際や容量内蔵型圧電共振子を実装する際などに、封止基板 103にヮレゃクラッ クが生じやすいという問題があった。特に、封止基板 103の厚みを薄くするほど、上 記問題が発生しやすくなるため、歩留まり良く薄い封止基板 103を生産するのには 限界があり、容量内蔵型圧電共振子の薄型化の大きな妨げとなっていた。
[0007] 本発明は、上記課題に鑑み案出されたものであり、その主たる目的は、薄型化に適 した圧電共振子を提供することにある。
[0008] 上記の目的を達成するための、本発明の圧電共振子は、第 1、第 2の主面を有する 圧電基板と、前記圧電基板の第 1の主面に形成される第 1の振動電極と、前記圧電 基板の第 2の主面に形成される第 2の振動電極と、前記圧電基板の第 1の主面側に 第 1の振動空間が形成されるように、第 1の枠体を介して前記圧電基板と接合される 第 1の封止基板と、前記圧電基板の第 2の主面側に第 2の振動空間が形成されるよう に、第 2の枠体を介して前記圧電基板と接合される第 2の封止基板と、を備えた圧電 共振子であって、前記第 1の封止基板がセラミック材料力 成り、前記第 2の封止基 板が榭脂材料力 成ることを特徴とするものである。
[0009] また、本発明の圧電共振子は、前記第 2の封止基板が、ガラス繊維を含有して!/、る ことを特徴とするものである。
また、本発明の圧電共振子は、前記第 2の枠体が、前記第 2の封止基板を形成す る榭脂材料と同系の榭脂材料カゝら成ることを特徴とするものである。
また、本発明の圧電共振子は、前記第 1の封止基板を形成するセラミック材料の比 誘電率が 200〜 5000であり、前記第 1の封止基板の外表面には容量形成用の外部 端子電極が設けられて 、ることを特徴とするものである。
[0010] また、本発明の圧電共振子は、前記第 1の封止基板と前記第 1の枠体との間に榭 脂層が介在されていることを特徴とすることを特徴とするものである。 また、本発明の圧電共振子は、前記榭脂層が前記第 2の封止基板を形成する榭脂 材料から成り、且つ前記第 2の封止基板の厚みと前記榭脂層の厚みとが略等しいこ とを特徴とするものである。
また、本発明の圧電共振子は、前記第 2の封止基板側が、実装面とされていること を特徴とするものである。
発明の効果
[0011] 本発明の圧電共振子によれば、第 2の封止基板を榭脂材料で形成したことにより、 セラミック材料力 なる封止基板に比べて、薄型化した際にヮレゃクラックが発生する のを有効に防止することができるため、機械的強度に優れ、且つ薄型化に適した圧 電共振子とすることができる。
[0012] また、本発明の圧電共振子においては、第 2の封止基板にガラス繊維を含有させ ておくことが好ましい。ガラス材料は、数百度の比較的高い温度まで流動性を有しな いため、榭脂材料のガラス転移温度では変形を発生しない。したがって、第 2の封止 基板にガラス繊維を含有させておくことにより、ガラス繊維が硬い骨格の役割となって 第 2の封止基板の熱変形を抑制することが可能となる。このように、第 2の封止基板の 熱変形を抑制できるため、第 2の封止基板と圧電基板との接触を有効に防止できる。
[0013] また、本発明の圧電共振子においては、前記第 2の枠体を、前記第 2の封止基板を 形成する榭脂材料と同系の榭脂材料によって形成することが好ましい。この場合、前 記第 2の封止基板と前記第 2の枠体との接着性がよくなり、両者の接合強度を向上さ せることが可能となる。
[0014] また、本発明の圧電共振子においては、前記第 1の封止基板を形成するセラミック 材料の比誘電率が 200〜5000であり、前記第 1の封止基板の外表面には容量形成 用の外部端子電極を設けておくことが好ましい。このように、第 1の封止基板の材料と して強誘電体セラミック材料を用いることにより、比較的大きな静電容量を容易に形 成することができる。また、第 1の封止基板の材料としてセラミック材料を用いることに より、外部からの応力等に対する強度を向上させて圧電基板に加わる応力を低減す ることができる。これにより、外部力 の衝撃等による応力が圧電共振子に加わっても 、圧電基板の破損が有効に防止され、信頼性に優れた圧電共振子とすることもでき る。
[0015] また、本発明の圧電共振子においては、前記第 1の封止基板と前記第 1の枠体との 間に榭脂層を介在させてもよい。この場合、前記第 1の封止基板と前記第 1の枠体と が榭脂層により強固に接着されることになり、圧電共振子の機械的強度を向上させる ことができる。
また本発明の圧電共振子においては、前記榭脂層を前記第 2の封止基板を形成 する榭脂材料で形成するとともに、前記第 2の封止基板の厚みと前記榭脂層の厚み とを略等しくなしておくことが好ましい。これによつて、榭脂層と第 2の封止基板とで、 外部からの応力の吸収度合いが近似するため、圧電基板の上下面に加わる応力が 略均一となる。その結果、圧電基板に不要な歪みが生じるのを抑え、圧電共振子の 電気的特性を良好な状態に維持することができる。
[0016] また、本発明の圧電共振子においては、前記第 2の封止基板側が、実装面とされ ていてもよい。この場合、セラミック材料カゝらなる封止基板に比べ、柔らかくて変形し やすい榭脂材料カゝらなる第 2の封止基板側で外部の配線基板に実装されることにな るので、実装時に配線基板との熱膨張係数や弾性率の違いによって発生する応力 を第 2の封止基板の変形によって吸収し、実装面付近のクラック等の発生を有効に 抑帘 Uすることができる。
図面の簡単な説明
[0017] [図 1]図 1は、本発明の圧電共振子の一例を模式的に示す斜視図である。
[図 2]図 2は、図 1の A— A'線断面図である。
[図 3]図 3は、本発明の圧電共振子を模式的に示す分解斜視図である。
[図 4]図 4は、本発明の圧電共振子の等価回路を示す図である。
[図 5]図 5は、本発明の別の形態の圧電共振子を模式的に示す分解斜視図である。
[図 6]図 6は、本発明の圧電共振子の変形例を模式的に示す外観斜視図である。
[図 7]図 7は、図 6の B— B'線断面図である。
[図 8]図 8は、従来の圧電共振子を模式的に示す断面図である。
符号の説明
[0018] 1 圧電共振子 21 圧電基板
22a 第 1の振動電極
22b 第 2の振動電極
31 第 1の封止基板
41 第 2の封止基板
32a, 32b 内部電極
33a, 33b、 33c 外部端子電極
51a 第 1の枠体
51b 第 2の枠体
61a 第 1の振動空間
61b 第 2の振動空間
71a, 71b、 71c 外部接続電極
81 榭脂層
発明の実施形態
[0019] 以下、本発明の圧電共振子を添付の図面に基づいて詳細に説明する。
図 1は、本発明の圧電共振子の一例を模式的に示す外観斜視図であり、図 2は、そ の A— A'線断面図であり、図 3は分解斜視図である。
なお、本実施形態においては、静電容量を内蔵したタイプの圧電共振子について 説明する。
[0020] 同図に示す圧電共振子 1は、 1枚の圧電基板 21と 2枚の封止基板 31、 41とから主 に形成されている。より具体的には、図 2に示す如ぐ圧電基板 21の第 1の主面 10側 に第 1の振動空間 61aが形成されるように第 1の枠体 51aを介して第 1の封止基板 31 を圧電基板 21に接合させるとともに、圧電基板 21の第 2の主面 11側に第 2の振動空 間 61bが形成されるように第 2の枠体 51bを介して第 2の封止基板 41を圧電基板 21 に接合させた構造を有して!/ヽる。
[0021] 圧電基板 21は、チタン酸ジルコン酸鉛 (PZT)やチタン酸鉛 (PT)等の圧電セラミツ ク材料や、水晶(SiO )やニオブ酸リチウム (LiNbO )等の圧電単結晶材料から成る
2 3
、縦 ·横の長さが数 mm X数 mm、厚みが数 10 m〜数 mmの四角形状の基板であ る。尚、圧電基板 21がセラミック材料カゝら成る場合は、原料粉末にバインダを加えて プレスする方法、或いは、原料粉末を水,分散剤とともにボールミルを用いて混合後 に乾燥し、バインダ、溶剤、可塑剤等を加えてドクターブレード法により成型する方法 などによってシートとし、 1100〜1400°Cのピーク温度で数 10分〜数時間焼成して 基板を形成した後、例えば、厚み方向に 60〜150°Cの温度にて 3〜15kV/mmの 電圧をかけて分極処理を施すことによって所望の圧電特性を付与する。また、圧電 基板 21が圧電単結晶材料から成る場合は、圧電基板 21となる圧電単結晶材料のィ ンゴット (母材)を所定の結晶方向となるように切断することにより、所望の圧電特性を 有する圧電基板 21を得ることができる。
[0022] このような圧電基板 21の両主面には第 1、第 2の振動電極 22a, 22bが被着 '形成 されている。より具体的には、圧電基板 21の第 1の主面 10に、第 1の振動電極 22a が形成され、圧電基板 21の第 2の主面 11には、第 2の振動電極 22bが形成されてい る。第 1の振動電極 22aと第 2の振動電極 22bとは、圧電基板 21を挟んで互いに略 平行に配置されており、これら圧電基板 21、第 1の振動電極 22a及び第 2の振動電 極 22bにより、特定の周波数で共振する圧電共振素子 20が構成されている。
[0023] 第 1、第 2の振動電極 22a, 22bは、金、銀、銅、クロム、ニッケル、錫、鉛、アルミ- ゥム等の良導電性の金属力 なり、真空蒸着などの PVD法やスパッタリング法、或い は厚膜印刷法による塗布及び焼き付けなどにより形成される。尚、圧電基板 21にセ ラミック材料と密着性のょ 、クロム (Cr)等の金属をあら力じめ被着させておき、その上 に上記金属を被着させてもよ ヽ。
[0024] 第 1、第 2の振動電極 22a、 22bは、円形状や四角形状など所定の形状に加工され 、円形状の場合、その直径は例えば 50 /z m以上で、かつ、圧電基板の縦'横のうち 短辺方向の長さ以下、四角形状の場合、縦 ·横方向の長さは例えば 50 /ζ πι〜2πιπι に設定される。また、第 1、第 2の振動電極 22a、 22bの厚みは、例えば 0. 5 m〜3 0 mに設定される。なお、各振動電極 22a、 22bの大きさや配置、厚みなどは、共 振特性や共振周波数等、所望の電気特性によって適宜決定される。
[0025] 第 1の振動電極 22aは、図 3に示すように、圧電基板 21の第 1の主面 10の中央領 域に形成され、中央領域力も圧電基板 21の左側側面 12に向力つて引き出された上 、圧電基板 21の左側の側面 12と第 1の主面 10とのなす端縁に沿うようにして形成さ れた引出部 23aと接続されている。
引出部 23aは圧電基板 21の手前側側面 14及び手前側側面 14と反対側の側面 1 5に露出されている。そして、図 1に示すように、引出部 23aの露出部分が外部接続 電極 71aに接続されるようになって 、る。
[0026] また、第 2の振動電極 22bは、第 1の振動電極 22aと圧電基板 21を介して、前記圧 電基板 21の主面 10、 11の方向において互いに重なるように、圧電基板 21の第 2の 主面 11の中央領域に形成され、中央領域から圧電基板 21の右側側面 13に向かつ て引き出された上、圧電基板 21の右側側面 13と第 2の主面 11とのなす端縁に沿うよ うにして形成された引出部 23bと接続されて 、る。
引出部 23bは圧電基板 21の手前側側面 14及び手前側側面 14と反対側の側面 1 5に露出されている。そして、図 1に示すように、引出部 23bの露出部分が外部接続 電極 71bに接続されるようになっている。
[0027] なお、第 1、第 2の振動電極 22a、 22bは、圧電基板 21の両主面 10、 11に複数の 電極が形成されて成る分割電極であってもよ 、。
そして、圧電基板 21の第 1の主面 10側には、第 1の振動空間 61aが形成されるよう にして、第 1の枠体 51aを介して第 1の封止基板 31が接合されている。一方、圧電基 板 21の第 2の主面 11側には、第 2の振動空間 61bが形成されるようにして、第 2の枠 体 51bを介して第 2の封止基板 41が接合されている。
[0028] 第 1の封止基板 31は、第 1の枠体 51aとともに振動空間 61aを形成し、外力から圧 電基板 21を保護する機能を有している。力かる第 1の封止基板 31は、チタン酸ジル コン酸鉛 (PZT)やチタン酸鉛 (PT)、チタン酸バリウム (BT)などの強誘電体セラミツ ク材料力 成り、縦'横の長さが、圧電基板 21の縦'横の長さと略同一であり、厚みが 数 10 m〜 lmmの直方体力もなる基板である。この第 1の封止基板 31は、原料粉 末にバインダを加えてプレスする方法、或いは、原料粉末を水,分散剤とともにボー ルミルを用いて混合後に乾燥し、バインダ、溶剤、可塑剤等を加えてドクターブレード 法により成型する方法などによってシートを作成し、そのシートを 1100〜1400°Cの ピーク温度で数 10分〜数時間焼成することにより形成される。ここで、第 1の封止基 板 31の材料をチタン酸ジルコン酸鉛 (PZT)やチタン酸鉛 (PT)、チタン酸バリウム( BT)などの強誘電体セラミック材料とすることで、第 1の封止基板 31の比誘電率を大 きくできるため、充分な大きさの静電容量を有するコンデンサ素子 30を構成できる。 尚、第 1の封止基板 31の比誘電率としては 200〜5000とすることが望ましい。
[0029] また、第 1の封止基板 31の材料としてセラミック材料を用いることにより、外部からの 応力等に対する強度を向上させて圧電基板 21に加わる応力を低減することができる 。これにより、外部からの衝撃等による応力が圧電共振子 1に加わっても、圧電基板 2 1の破損が有効に防止され、信頼性に優れた圧電共振子とすることができる。
[0030] 第 1の封止基板 31の上面には内部電極 32a、 32bが、第 1の封止基板 31の下面に は外部端子電極 33a、 33b、 33cが、それぞれ形成されている。内部電極 32a、 32b 及び外部端子電極 33a、 33b、 33cは、第 1の封止基板 31とともに、コンデンサ素子 30を構成している。具体的には、外部端子電極 33aと 33cとの間に静電容量 clが、 外部端子電極 33bと 33cとの間に静電容量 c2がそれぞれ形成されている(図 4)。
[0031] かかる内部電極 32a、 32b及び外部端子電極 33a、 33b、 33cは、振動電極 22と同 様の材料及び方法で形成される。外部端子電極 33a、 33b、 33cは、更に圧電共振 子 1が搭載される外部の実装基板との機械的接続及び電気的接続に利用され、その 表面には Ni— Snメツキが施されて!/、る。
[0032] 一方、第 2の封止基板 41は、第 2の枠体 51bとともに第 2の振動空間 61bを形成し、 圧電基板 21の上面側の振動領域を保護する機能を有している。
第 2の封止基板 41の縦'横の長さは圧電基板 21の縦'横の長さと略同一であり、厚 みは材料により異なるが数 10 μ m〜数 mmである。このような第 2の封止基板 41の材 料としてはポリブチレンテレフタレート(PBT)、液晶ポリマー等のエンジニアリングプ ラスチックや、ポリイミド系榭脂、エポキシ系榭脂等の耐熱性榭脂が使用できる。 第 2の封止基板 41を榭脂材料で形成したことにより、第 2の封止基板 41をセラミック 材料力もなる封止基板よりもさらに薄型化することができる。し力も、セラミック材料か らなる封止基板に比べて、薄型化した際にヮレゃクラックが発生するのを有効に防止 することができるため、機械的強度に優れ、且つ薄型化に適した圧電共振子 1とする ことができる。 [0033] 第 2の封止基板 41には、ガラス繊維を含有させておくことが好ま 、。ガラス繊維を 含有させた榭脂材料を用いることにより、封止基板 41の熱変形を抑制し、容易に振 動空間 61a、 61bを形成することができる。
第 2の封止基板 41を第 1の封止基板 31と同様のセラミック基板としていたときには、 セラミックの構造欠陥等の強度的問題によって、その厚みは 150 mが限界であった 力 第 2の封止基板 41をガラス繊維を含有した榭脂材料により形成することによって 、その厚みを 28 mまで薄型化することができ、その分だけ圧電共振子 1を薄型化 することができた。
[0034] また第 2の封止基板 41を形成する榭脂材料としては、エポキシ系榭脂又はポリイミ ド系榭脂が好ましい。ポリイミド系榭脂シートまたはエポキシ系榭脂シートに、例えば 、 30〜80%のガラス繊維を含有させた場合、 lOOPa以下の真空中にて 0. 2MPa〜 5MPaの圧力を加えながら 180°C〜200°Cの温度で 40分〜 90分保持して硬化させ て形成した第 2の封止基板 41は、圧電基板 21との間に第 2の枠体 51bを挟んでカロ 熱して枠体 51bを硬化させることで、加熱接着により圧電基板 21と良好に接合するこ とができる。発明者の実験によれば、ガラス繊維の含有量が 32%のポリイミド系榭脂 を使用した場合、前記接合時における、加熱による変形 (たわみ)の大きさを、ガラス 繊維を含有しないポリイミド系榭脂から成る第 2の封止基板 41と比し、約 40%に抑え ることがでさた。
[0035] このように第 2の封止基板 41の変形を抑えることにより、第 2の封止基板 41を圧電 基板 21に第 2の枠体 51bを介して加熱接着により接合する際、第 2の封止基板 41が 圧電基板 21側に倒れ込んで第 2の振動電極 22bに接触するのを有効に防止できる 。これによつて、第 2の枠体 51bの厚みをより薄くすることができ、結果として圧電共振 子全体の厚みをより薄くすることができる。なお、硬化前の榭脂シートを第 2の枠体 51 b上に積層して両者を同時に硬化させることで第 2の封止基板 41を形成するとともに 、第 2の枠体 51bを介して、加熱接着によって圧電基板 21と接合してもよい。
[0036] 次に上述した第 1の封止基板 31、第 2の封止基板 41を圧電基板 21に接合するとと もに第 1、第 2の振動空間 61a、 61bを形成するための第 1の枠体 51a及び第 2の枠 体 51bについて説明する。かかる第 1、第 2の枠体 51a、 51bは、エポキシ系榭脂等 の熱硬化性榭脂など力もなり、例えば、厚膜印刷により塗布し、その上に第 1、第 2の 封止基板 31、 41を重ねて 80°C〜200°Cで乾燥硬化することによって形成されるとと もに、加熱接着により、第 1、第 2の封止基板 31、 41を圧電基板 21に接合する。硬化 後のエポキシ系榭脂は緻密な 3次元網目構造を有していることから気密性に優れて おり、振動空間 61a、 6 lbを長期にわたって気密に密閉することができる。
[0037] また、第 1、第 2の枠体 51a、 51bには、酸ィ匕珪素等のセラミックス力も成るフィラーを 含有させてもよい。これにより、第 1、第 2の枠体 51a、 5 lbの粘度や熱膨張係数を調 節することができる。この第 1、第 2の枠体 51の高さを調整することにより、第 1の振動 電極 22aと第 1の封止基板 31との間隔、あるいは、第 2の振動電極 22bと第 2の封止 基板 41との間隔を調整することができる。振動電極 22a、 22bと封止基板 31、 41との 間隔は、 5 m〜100 mとなるように設定するのが好ましぐさらに好ましくは、 20 μ m〜60 μ mである。振動電極 22a、 22bと封止基板 31、 41との間隔力 ^20 μ m未満と なると、圧電共振子 1に不要な外力が加わった際に封止基板 31、 41が橈んで振動 電極 22a、 22bと接触しやすくなり、圧電共振素子 20の振動をダンピングする危険性 が高くなる。一方、振動電極 22a、 22bと封止基板 31、 41との間隔が 60 mを超え ると圧電共振子 1の厚みが不要に厚いものとなってしま!/、、薄型化することが困難と なる傾向がある。
[0038] 第 2の枠体 51bは、第 2の封止基板 41と同系の榭脂材料により形成することが好ま しい。第 2の枠体 51bを第 2の封止基板 41と同系の榭脂材料により形成することによ り、第 2の封止基板 41と第 2の枠体 51bとの接着性がよくなり、両者の接合強度を向 上させることが可能となる。より具体的には、第 2の封止基板 41と第 2の枠体 51bとを 、エポキシ系榭脂またはポリイミド系榭脂により形成することが好ましい。
[0039] 尚、第 1、第 2の枠体 51a、 5 lbが同一材料力も成る場合は、それぞれの枠体 51a、 51bを塗布する工程を統一できるので工数が削減でき、生産性向上に供することが できる。また、各振動空間 61a、 6 lbの形成を真空中で行ない、振動電極 22a、 22b を真空封入してもよぐその場合は、振動電極 22a、 22bの酸化腐食が防止され、より 信頼性の優れた圧電共振子 1とすることができる。
[0040] そして、圧電共振子 1の側面には、第 1の振動電極 22aと内部電極 32aと外部端子 電極 33aとを電気的に接続する外部接続電極 71a、第 2の振動電極 22bと内部電極 32bと外部端子電極 33bとを電気的に接続する外部接続電極 71b、及び、外部端子 電極 33cと接続される外部接続電極 71cが形成されている。
[0041] そして、外部端子電極 33aと 33cとの間に静電容量 clが、外部端子電極 33bと 33c との間に静電容量 c2がそれぞれ形成されている。また、第 1の振動電極 22aと内部 電極 32aと外部端子電極 33aとが外部接続電極 71aによって接続され、第 2の振動 電極 22bと内部電極 32bと外部端子電極 33bとが外部接続電極 71bによって接続さ れ、更に、外部端子電極 33cが外部接続電極 71cに接続されることによって、圧電共 振素子 20とコンデンサ素子 30とが電気的に接続されて、図 4に示す等価回路が構 成されている。
[0042] これらの外部接続電極 71a、 71b、 71cは、金、銀、銅、クロム、ニッケル、錫、鉛、ァ ルミ-ゥム等の良導電性の金属を、真空蒸着などの PVD法やスパッタリング法で被 着させるか、或いは、導電性エポキシ系榭脂を厚膜印刷などによって塗布し、 80°C 〜250°Cで硬化させて形成させて形成し、所望により、その表面に Ni— Snなどのメッ キが施される。
[0043] 上述した実施形態においては、セラミック力もなる第 1の封止基板 31側で外部の実 装基板に接続 ·固定されることになるため、実装強度が確保され、実装後の衝撃や振 動に対しても充分な信頼性が確保される。
また更に、上述した実施形態においては、封止基板 31の外部端子電極 33aと 33c との間に静電容量 clを、外部端子電極 33bと 33cとの間に静電容量 c2をそれぞれ 形成している。これにより、発振回路などで使用される 2つの静電容量は圧電基板 21 と外部の実装基板との間に形成されることになり、余分な配線を介することなく外部端 子電極 33a、 33b、 33cに接続される結果、不要な浮遊容量の発生がなく安定した発 振を実現できる。
[0044] 図 5は本発明の別の実施形態に係る圧電共振子を模式的に示す分解斜視図であ る。
本実施形態の特徴は、第 1の枠体 51aと第 1の封止基板 31との間に榭脂層 81が挿 入されていることである。第 1の枠体 51aの厚みが薄い場合、圧電基板 21及び第 1の 封止基板 31の表面の平坦度が不足すると、それを第 1の枠体 51の厚みで補うことが 困難となり、圧電基板 21と第 1の封止基板 31との接着強度が低下する問題が発生 する場合があるが、変形し易く適度な厚みを有する榭脂層 81を第 1の枠体 51aと第 1 の封止基板 31との間に挿入することによって、前記の問題が発生するのを有効に防 止することができる。
[0045] 榭脂層 81は平板形状であり、縦'横の長さは圧電基板 21及び第 1の封止基板 31 の縦'横の長さと略同一である。また、榭脂層 81の厚みは材料により異なるが数 10 m〜数 mmである。材料としては第 2の封止基板 41と同様に、ポリイミド系榭脂ゃェポ キシ系榭脂等の耐熱性榭脂が使用できる。この榭脂層 81には、ガラス繊維を含有さ せておくことが好ま 、。ガラス繊維を含有したポリイミド系榭脂やエポキシ系榭脂を 用いることによって熱変形を抑制し、容易に振動空間 61a、 61bを形成することがで き、例えば、ガラス繊維の含有量が 30〜80%のポリイミド系榭脂シートやエポキシ系 榭脂シートなどが好適に使用される。
[0046] ここで、榭脂層 81を第 2の封止基板 41と同一の榭脂材料で形成するとともに、第 2 の封止基板 41の厚みと榭脂層 81の厚みとを略等しくしておくことが好ましい。これに よって、榭脂層 81と第 2の封止基板 41とで、外部からの応力の吸収度合いが近似す るため、圧電基板 21の上下面に加わる応力が略均一となる。その結果、圧電基板 2 1に不要な歪みが生じるのを抑え、圧電共振子 1の電気的特性を良好な状態に維持 することができる。
[0047] 尚、本発明は上述の実施例に限定されるものではなぐ本発明の要旨を逸脱しな い範囲において種々の変更,改良が可能である。
例えば、上述した実施例においては、枠体 51a、 5 lbをエポキシ系榭脂等の熱硬 化性榭脂により形成し、これを厚膜印刷により塗布するようにしたが、第 1の封止基板 41や榭脂層 81と同様に、ガラス繊維を含有したポリイミド系榭脂やエポキシ系榭脂 などとしても良い。その場合は、ガラス繊維を含有した榭脂シートの中央部に振動空 間 61a、 61bを確保するための開口を形成したものを使用して加熱圧着すれば良ぐ 例えば、 lOOPa以下の真空中にて 0. 2MPa〜5MPaの圧力をカ卩えながら 180°C〜 200°Cの温度で 40分〜 90分保持して硬化させると良好に接合できる。 ここで、第 2の枠体 51bと封止基板 41とを同系の榭脂材料とすることにより、両者の なじみが良くなり接合強度を向上させることが可能となる。
[0048] また、上述した実施形態の圧電共振子においては、セラミック力 なる第 1の封止基 板 31側にて外部の実装基板に接続 ·固定されるようにした力 図 6及び図 7に示すよ うに、榭脂材料カゝらなる第 2の封止基板 41側を実装基板に接続'固定される実装面 としても構わない。なお、図 6は、本発明の圧電共振子の変形例を示す外観斜視図 であり、図 7はその B— B'線断面図である。
[0049] 図 6、図 7に示す圧電共振子 1においては、第 2の封止基板 41の下面に、外部の実 装基板への接続'固定に使用する第 2外部端子電極 91a、 91b、 91cを形成している 。そして、第 2外部端子電極 91aは外部接続電極 71aによって振動電極 22aと内部 電極 32aと外部端子電極 33aとに接続され、また、第 2外部端子電極 9 lbは外部接 続電極 71bによって振動電極 22bと内部電極 32bと外部端子電極 33bとに接続され 、更に、外部接続電極 91cは外部接続電極 71cによって外部端子電極 33cと接続さ れている。
尚、第 2外部端子電極 91a、 91b、 91cは、外部端子電極 31a、 31b、 31cと同様の 材料及び形成法にて形成される。
[0050] 図 6、図 7に示す圧電共振子 1においては、柔らかくて変形しやすい榭脂材料から なる第 2の封止基板 41側を外部の実装基板へ実装する実装面とすることによって、 実装時に実装基板との熱膨張係数や弾性率の違いによって発生する応力を第 2の 封止基板 41の変形によって吸収し、実装面付近のクラック等の発生を有効に抑制す ることがでさる。

Claims

請求の範囲
[1] 第 1、第 2の主面を有する圧電基板と、
前記圧電基板の第 1の主面に形成される第 1の振動電極と、
前記圧電基板の第 2の主面に形成される第 2の振動電極と、
前記圧電基板の第 1の主面側に第 1の振動空間が形成されるように、第 1の枠体を 介して前記圧電基板と接合される第 1の封止基板と、
前記圧電基板の第 2の主面側に第 2の振動空間が形成されるように、第 2の枠体を 介して前記圧電基板と接合される第 2の封止基板と、
を備えた圧電共振子であって、
前記第 1の封止基板がセラミック材料から成り、前記第 2の封止基板が榭脂材料か ら成ることを特徴とする圧電共振子。
[2] 前記第 2の封止基板が、ガラス繊維を含有して 、ることを特徴とする請求項 1に記 載の圧電共振子。
[3] 前記第 2の枠体が、前記第 2の封止基板を形成する榭脂材料と同系の榭脂材料か ら成ることを特徴とする請求項 1に記載の圧電共振子。
[4] 前記第 1の封止基板を形成するセラミック材料の比誘電率が 200〜5000であり、 前記第 1の封止基板の外表面には容量形成用の外部端子電極が設けられているこ とを特徴とする請求項 1に記載の圧電共振子。
[5] 前記第 1の封止基板と前記第 1の枠体との間に榭脂層が介在されていることを特徴 とすることを特徴とする請求項 1に記載の圧電共振子。
[6] 前記榭脂層が前記第 2の封止基板を形成する榭脂材料から成り、且つ前記第 2の 封止基板の厚みと前記榭脂層の厚みとが略等しいことを特徴とする請求項 5に記載 の圧電共振子。
[7] 前記第 2の封止基板側が、実装面とされていることを特徴とする請求項 1に記載の 圧電共振子。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016132765A1 (ja) * 2015-02-18 2016-08-25 株式会社村田製作所 圧電振動デバイス及びその製造方法
US12126321B2 (en) 2019-02-28 2024-10-22 Daishinku Corporation Piezoelectric vibrating device

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8532724B2 (en) 2008-09-17 2013-09-10 Qualcomm Incorporated Transmitters for wireless power transmission
JP4988799B2 (ja) * 2009-09-16 2012-08-01 日本電波工業株式会社 圧電振動デバイス及び圧電振動デバイスの製造方法
US8847465B2 (en) * 2012-04-11 2014-09-30 Taitien Electronics Co., Ltd Piezoelectric resonator with built-in capacitor load and manufacturing method thereof
DE102016114566A1 (de) * 2015-08-10 2017-02-16 Bürkert Werke GmbH Folienwandler und Aktorstreifen für einen Folienwandler
TWI788669B (zh) * 2020-05-28 2023-01-01 台灣晶技股份有限公司 振子晶體的晶圓級封裝結構
CN113585113B (zh) * 2021-08-05 2022-11-18 山东省路桥集团有限公司 一种可发电的桥梁用快速安拆隔声屏障

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6425228U (ja) * 1987-08-03 1989-02-13
JPH05145366A (ja) * 1991-11-18 1993-06-11 Tdk Corp 圧電部品
JPH06140868A (ja) * 1992-10-28 1994-05-20 Murata Mfg Co Ltd チップ型圧電共振子
JPH0865085A (ja) * 1994-08-23 1996-03-08 Murata Mfg Co Ltd 容量内蔵型圧電部品
JP2001102892A (ja) * 1999-09-30 2001-04-13 Murata Mfg Co Ltd 圧電共振部品およびその製造方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03247010A (ja) 1990-02-23 1991-11-05 Murata Mfg Co Ltd 圧電共振子
JP3222220B2 (ja) * 1992-10-19 2001-10-22 株式会社村田製作所 チップ型圧電共振子の製造方法
JPH11150153A (ja) * 1997-11-18 1999-06-02 Murata Mfg Co Ltd 電子部品
JP2001060843A (ja) * 1999-08-23 2001-03-06 Murata Mfg Co Ltd チップ型圧電部品
DE10063265A1 (de) * 1999-12-20 2001-07-05 Murata Manufacturing Co Äußeres Überzugsubstrat für ein elektronisches Bauteil und ein piezoelektrisches Resonanzbauteil
JP3438689B2 (ja) * 1999-12-20 2003-08-18 株式会社村田製作所 圧電共振子及び圧電発振子
US7034441B2 (en) * 2002-11-13 2006-04-25 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd Surface mount crystal unit and surface mount crystal oscillator
US7282835B2 (en) * 2003-06-26 2007-10-16 Murata Manufacturing Co., Ltd. Surface acoustic wave element
KR20060115095A (ko) * 2005-05-04 2006-11-08 삼성전기주식회사 기밀특성이 우수한 표면탄성파 소자 패키지

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6425228U (ja) * 1987-08-03 1989-02-13
JPH05145366A (ja) * 1991-11-18 1993-06-11 Tdk Corp 圧電部品
JPH06140868A (ja) * 1992-10-28 1994-05-20 Murata Mfg Co Ltd チップ型圧電共振子
JPH0865085A (ja) * 1994-08-23 1996-03-08 Murata Mfg Co Ltd 容量内蔵型圧電部品
JP2001102892A (ja) * 1999-09-30 2001-04-13 Murata Mfg Co Ltd 圧電共振部品およびその製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016132765A1 (ja) * 2015-02-18 2016-08-25 株式会社村田製作所 圧電振動デバイス及びその製造方法
US12126321B2 (en) 2019-02-28 2024-10-22 Daishinku Corporation Piezoelectric vibrating device

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