WO2005106964A1 - 受光素子、受光素子の製造方法、光ヘッド装置、及び光情報処理装置 - Google Patents

受光素子、受光素子の製造方法、光ヘッド装置、及び光情報処理装置 Download PDF

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WO2005106964A1
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semiconductor chip
light receiving
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light
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PCT/JP2005/007621
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Inventor
Tomotada Kamei
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Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
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Definitions

  • Light receiving element method of manufacturing light receiving element, optical head device, and optical information processing apparatus
  • the present invention is an optical medium or magneto-optical medium that is applicable to an optical information processing apparatus for recording, reproducing or erasing information on an optical medium or magneto-optical medium, such as an optical disc or an optical card, for example.
  • the present invention relates to a light receiving element used in, for example, an optical head device that receives reflected light of the light source and converts it into an electric signal, and a method of manufacturing the same.
  • Optical memory technology using an optical disk having a pit-like pattern as a high-density, large-capacity storage medium is expanding its applications, such as digital audio disks, video disks, document file disks, and data files.
  • information is recorded and reproduced with high accuracy and reliability on an optical disc through a light beam collected by a minute. This recording and reproducing operation depends on the optical system at once.
  • optical head which is a main part of the optical system, are convergence to form a diffraction-limited minute spot with light from a light source, focus control and tracking control of the optical system, and pit signal detection. It is divided roughly. These functions are realized by the combination of various optical systems and photoelectric conversion detection methods according to the purpose and application.
  • One of the basic elements of an optical system is a light receiving element, which includes a reflected light blue signal and a light component necessary for focus control and tracking control in a recording medium. To receive light, perform photoelectric conversion, and extract signals necessary for recording and reproduction.
  • a light receiving element is also used when receiving a part of light emitted from the light source to control the output of the light source.
  • a light receiving element for an optical head is photoelectrically converted by a semiconductor, and has a structure in which a light receiving area and an attached circuit as necessary are formed on a semiconductor chip. Furthermore, the semiconductor chip is sealed and shielded from the outside in order to protect it from deterioration by the contact of external force and moisture in the air. Also, for the input and output of electric signals of the semiconductor chip, it is soldered to a flexible printing circuit (hereinafter referred to as FPC) as a substrate like other electric parts on the optical head.
  • FPC flexible printing circuit
  • FIG. 12 is a cross-sectional view showing a light receiving element according to a conventional embodiment.
  • the semiconductor chip 51 is fixed on the lead frame 54.
  • the lead frame 54 is made of metal and fixed in position by soldering to an FPC or the like (not shown) as a whole, and serves as terminals for input and output of electric signals and electric power.
  • a bonding wire 55 is provided between the electrode on the semiconductor chip 51 and the lead frame 54 to electrically connect the semiconductor chip 51 to the lead frame 54.
  • the semiconductor chip 51 may be broken or deteriorated by moisture in the air or contact from the outside at the time of standing a, so it is necessary to seal the semiconductor chip 51 in order to shield it from the outside.
  • the semiconductor chip 51, the lead frame 54 and the bonding wire 55 are injected into a mold in which the force is preset, molded and sealed.
  • the translucent resin 52 has the required transmittance for the wavelength of light used for the light flux 56, and it is necessary to use a good molded resin.
  • the light transmitting resin 52 needs to give priority to light transmitting property and formability, and it is impossible to give priority to selection of a material which is resistant to heat.
  • the aluminum film 57 is deposited to reflect the heat rays, thereby reducing the heat absorbed by the light receiving element at the time of the reflow and enabling the reflow soldering (for example, in the case of
  • a light beam 56 including a signal component reflected from an optical disk (not shown) passes through the light transmitting resin 52, reaches the photoelectric conversion area on the semiconductor chip 51, is photoelectrically converted, and passes through the bonding wire 55. Frame 54 force is also extracted as the required signal.
  • the photoelectric conversion region on the semiconductor chip 51 is configured in various shapes as needed, and is not shown! In combination with the profile of the luminous flux 56 produced by the optical system, the desired signal is produced be able to.
  • the area 61 of the translucent resin 52 through which the light flux 56 passes is a flat surface so as not to adversely affect the profile of the light flux 56.
  • the light receiving element has a configuration in which the semiconductor chip 51 is disposed so that the light beam 136 to the semiconductor chip 51 is incident on the opening of the package 132 using the package 132 integrated with the lead frame 54. Further, a flat glass plate 133 is disposed so as to seal the opening of the package 132, and the edge of the package 132 and the flat glass plate 138 are fixed by an adhesive 131.
  • the semiconductor chip 51 is sealed in an internal space 137 formed by the glass flat plate 133 and the package 132, and air and moisture from the outside are shut off.
  • the light path of the light beam 136 is not affected since the glass plate 138 is not altered or deformed by light.
  • the light receiving element when mounting the light receiving element on the substrate, in order to suppress the temperature rise of the entire light receiving element, the light receiving is performed after the reflow soldering of components other than the light receiving element to be mounted on the substrate is completed. It is necessary to solder only the element while heating only the lead using a soldering iron. Therefore, in the manufacture of the optical head, the mounting process must be separated between the light receiving element and the other components, and the complexity of such a process hinders the low cost of the optical head.
  • the present invention solves the above problems and can be mounted on a substrate only by reflow soldering, and is a low cost, highly reliable mountable light receiving element, and
  • An object of the present invention is to provide a cost optical head device and an optical information processing apparatus.
  • a semiconductor chip for converting incident light into an electrical signal
  • a metal frame serving as a terminal for holding the semiconductor chip and electrically connecting to the semiconductor chip
  • a package having an opening provided to receive the semiconductor chip and integrated with the metal frame;
  • the space including the semiconductor chip is sealed by fixing the translucent flat plate and the package with an adhesive.
  • the pressure in the space is a light receiving element whose pressure is reduced to less than 1 atm at normal temperature.
  • the pressure of the space is substantially less than or equal to 0.5 atm at normal temperature. It is a light receiving element according to claim 1.
  • a semiconductor chip for converting incident light into an electrical signal
  • a metal frame serving as a terminal for holding the semiconductor chip and electrically connecting to the semiconductor chip
  • a package having an opening provided to receive the semiconductor chip and integrated with the metal frame;
  • the space including the semiconductor chip is sealed by fixing the translucent flat plate and the package with an adhesive.
  • a part of the wall of the package is a light receiving element having a flexible structure.
  • the flexible structure is formed by replacing the part of the wall of the package with a member having a material different from the material of the package. It is a light receiving element according to item 3.
  • the flexible structure is formed by making the portion of the wall of the package thinner than the other portion of the package. It is a light receiving element as described.
  • a sixth aspect of the present invention is the light receiving element according to claim 3 or 4, wherein the flexible structure has plasticity.
  • a semiconductor chip for converting incident light into an electrical signal
  • a metal frame serving as a terminal for holding the semiconductor chip and electrically connecting to the semiconductor chip
  • a package having an opening provided to receive the semiconductor chip and integrated with the metal frame;
  • a space including the semiconductor chip is formed by fixing the translucent flat plate and the package with an adhesive.
  • the package has a valve that opens and closes according to a predetermined temperature, connects the space and the outside in an open state, and isolates the space and the outside in a closed state.
  • the valve is a light receiving element which is in the open state at a temperature higher than the predetermined temperature and in the closed state at a temperature lower than the predetermined temperature.
  • the eighth invention of the present invention is the light receiving element according to claim 7, wherein the predetermined temperature is substantially 150 to 200 ° C.
  • a ninth aspect of the present invention is a semiconductor chip for converting incident light into an electrical signal
  • a metal frame serving as a terminal for holding the semiconductor chip and electrically connecting to the semiconductor chip
  • a package having a first opening and a second opening which is provided to receive the semiconductor chip and which is integrated with the metal frame;
  • a translucent flat plate provided on a side through which light incident on the semiconductor chip passes while sealing the first opening of the package.
  • a space including the semiconductor chip is formed to communicate with the outside only through the second opening. is there.
  • the second opening is provided at a position sealed by the substrate when the light receiving element is mounted on the substrate.
  • a semiconductor chip that converts incident light into an electric signal
  • a metal frame that holds the semiconductor chip and serves as a terminal for electrically connecting to the semiconductor chip.
  • a package which is provided to house the semiconductor chip and has an opening formed integrally with the metal frame, and the side which seals the opening of the package and through which light incident on the semiconductor chip passes
  • a method of manufacturing a light receiving element comprising: a light transmitting flat plate provided in
  • the twelfth invention of the present invention is a fixing method of a light receiving element for fixing the light receiving element according to the ninth aspect on a substrate,
  • a thirteenth invention of the present invention is an optical head device comprising the light receiving element according to any one of claims 1, 3, 7 or 9.
  • a fourteenth aspect of the present invention is an optical information processing apparatus comprising the optical head apparatus according to claim 13.
  • a low cost optical head device can be provided.
  • optical head device of the present invention a low cost optical information processing apparatus can be provided.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view of a light receiving element in the first embodiment.
  • the basic configuration is the same as that of the conventional example shown in FIG. That is, 1 is a semiconductor chip.
  • 2 is a package
  • 3 is a flat glass plate
  • 4 is a lead frame
  • 5 is a bonding wire.
  • 6 is a luminous flux.
  • Reference numeral 7 is a space surrounded by the package 2 and the flat glass plate 3.
  • 8 is an adhesive for bonding the flat glass plate 3 and the package 2 together.
  • the semiconductor chip 1 has a photoelectric conversion region for receiving light and generating a current, and a circuit for converting the current into a desired electric signal as necessary.
  • the lead frame 4 is a terminal for fixing the light receiving element to a not-shown FPC or the like by soldering and for inputting / outputting an electric signal to / from the semiconductor chip 1.
  • the semiconductor chip 1 and the lead frame 4 are electrically connected by the bonding wire 5, and the electric signal obtained by photoelectric conversion in the semiconductor chip 1 and the power supplied to the semiconductor chip 1 are transmitted. Flow.
  • the package 2 is integrally formed including the lead frame 4. Since the package 2 does not need to transmit light, the material can be selected and used in preference to formability and heat resistance.
  • the semiconductor chip 1 is disposed inside the package 2 so that the photoelectric conversion region faces the opening.
  • the opening of the package 2 is sealed with a flat glass plate 3 so as not to block the light incident on the semiconductor chip 1.
  • the edge portion of the flat glass plate 3 and the end face of the package 2 are fixed by the adhesive 8 to form an internal space 7 which is shielded from external creases.
  • a desired profile is given to the light flux 6 by an optical system (not shown), and a desired electrical signal can be obtained in relation to the shape of the photoelectric conversion region on the semiconductor chip 1.
  • the semiconductor chip 1 corresponds to the semiconductor chip of the present invention
  • the read frame 4 corresponds to the metal frame of the present invention
  • the package 2 corresponds to the package of the present invention
  • the flat plate 3 corresponds to the translucent flat plate of the present invention
  • the adhesive 8 corresponds to the adhesive of the present invention
  • the inner space 7 corresponds to the space including the semiconductor chip of the present invention.
  • the light receiving element according to the present embodiment is characterized in that the pressure in the internal space 7 is maintained to be lower than 1 atm at room temperature.
  • the pressure in the internal space 7 is maintained to be lower than 1 atm at room temperature.
  • the process may basically be carried out by the same process as in the conventional example, but the step of fixing the package 2 and the flat glass plate 3 with the adhesive 8 Use a house or the like under a reduced pressure environment at normal temperature. That is, the light receiving element after completion
  • the pressure in the internal space 7 of is substantially the same as the pressure in the reduced pressure environment at the time of production.
  • the degree of pressure reduction in the internal space 7 is set as follows. That is, since the temperature at the time of reflow soldering is generally at most 600 K, assuming that the room temperature is approximately 300 K, the volume of the internal space 7 is constant, so the reduced pressure environment at the time of manufacturing is set at 0.5 atmosphere or less. According to Boyle's Charles law, even if the temperature reaches the maximum temperature during reflow, no force is generated to press the glass flat plate 3 inwards even if it reaches the maximum temperature during reflow, and the strength of the adhesive 8 is weak. Even if the glass flat plate 3 does not come off, soldering by reflow becomes possible
  • the inner space 7 is affected by the pressure from the outside due to the light receiving element after completion, and the flat glass plate 3 is directed to the inner space 7. It may bend and affect the light path, which may lead to damage.
  • the flat glass 3 the package against the pressure
  • the flat glass 3 may be used. It is desirable to increase the mechanical strength of 2nd grade.
  • the contact portion 103a in contact with the glass flat plate 3 of the package 2 is extended toward the inside of the opening.
  • the force 104 which rotates around the action center 103 as a fulcrum, acts to release the fixing by the adhesive 8 but to try to break it.
  • the adhesive 8 will not be released by the internal pressure.
  • the center of action 103 is the end of the abutment portion 103a which extends inside the opening.
  • the application position of the adhesive 8 may be the same as in the case of FIG. 1, and the application area of the force contact portion 103a may be larger.
  • the flat glass plate 3 and the package 2 may be fixed from the outside.
  • a holding frame 320 is provided, whereby the side wall of the package 2 is provided. And fix the periphery of the flat glass plate 3.
  • the holding frame 320 is fixed to the package 2 by an adhesive 310 applied to the side wall of the package 2.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view showing a light receiving element in the second embodiment. The same symbols are given to components having the same functions as those in FIG. 1 in FIG.
  • 9 is a flexible structure, and a part of the bottom wall of the package 2 of the first embodiment is replaced with a resilient plate-like material different from the material of the package 2. It is. The periphery of the flexible structure 9 is fixed to the cage / cage 2.
  • the pressure in the internal space 7 is substantially equal to 1 atm, that is, the same as the outside pressure at normal temperature.
  • the second embodiment of the present invention having such a configuration, when the completed light receiving element is mounted on the FPC by means of reflow soldering, the temperature of the external atmosphere rises due to the heat of the reflow, and accordingly As the air in the internal space 7 expands and the internal pressure rises, as shown in FIG. 5, the flexible structure 9 deforms outward according to the internal pressure. As a result, the volume of the internal space 7 is increased, and an increase in internal pressure can be suppressed, so that the flat glass plate 3 can be prevented from coming off or being damaged, and reflow can be performed simultaneously with other electrical components. Thus, it becomes possible to solder at low cost.
  • the flexible structure 9 needs to use a material that can withstand the temperature at the time of mounting of the light receiving element, and as a material different from the material of the package 2, a perfluoro fluorine rubber can be mentioned as an example. . It has a heat resistance temperature of about 300 ° C. (about 573 K), and can withstand reflow, in which the heat resistance temperature is higher than other general heat-resistant rubbers (fluorine rubber, silicone rubber) and the like. In addition, there is almost no irreversible deformation within a few hours (the time for reflow soldering is The shape of the flexible structure 9 after mounting can be restored to a flat plate shape as shown in FIG.
  • FIG. 6 (a) Another example of the flexible structure is shown in FIG. 6 (a).
  • the flexible structure 69 is formed by forming a part of the bottom wall of the package 2 thinner than the other walls. With such a configuration, the flexible structure 69 is curved when the light receiving element is reflowed, and the same effect as that of the example of FIG. 5 can be obtained.
  • the thickness of the flexible structure 69 depends on the area of the flexible structure 69. When the dimension of the force package 2 is about 10 mm square, the average thickness of the side wall, the bottom wall, etc. is about 1 mm. Because of this, it is desirable that the thickness of the flexible structure 69 be about 5 ⁇ m. When the deformation amount is 5 ⁇ m or more, it is a force that is considered to affect the optical accuracy of the package 2. Therefore, the thickness of the flexible structure 69 is generally preferably about 1 Z400 or less than the thickness of the other part of the package 2.
  • the contraction of the flexible structure 69 is equal to the bottom surface of the package 2 as it is substantially circular. It is desirable because it is worthwhile.
  • This shape is the same as in the flexible structure 9 shown in FIG. However, it may be elliptical or rectangular depending on the conditions at the time of manufacture.
  • the shape of the flexible structure 9 is restored to a flat shape at normal temperature after mounting is completed, but the material of the flexible structure 9 is plasticity. It is also possible to use one which has the above-mentioned structure, that is, when it is expanded outward by the expansion of the internal space 7 at the time of mounting, it retains its expanded shape even at room temperature. The same applies to the material of the package 2 to be the flexible structure 69.
  • the flexible structure 9 and the flexible structure 69 correspond to the flexible structure of the present invention. Also, although the flexible structures 9 and 69 have been described as being disposed at the bottom of the package 2 as well, the flexible structure of the present invention is a place where the light flux 6 to the semiconductor chip 1 is not affected. You may provide in arbitrary places, such as a side wall of the package 2.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view showing a light receiving element in the third embodiment. Components in FIG. 7 having the same functions as those in FIG. 1 are assigned the same reference numerals and descriptions thereof will be omitted.
  • 10 is a valve.
  • an opening 710 is provided in part of the bottom wall of the package 2 of the first embodiment, and a valve 10 is provided at the bottom of the package 2 so as to seal the opening 710. It is done.
  • a packing 201 is provided around the opening 710.
  • the valve 10 is made of metal such as bimetal and opens and closes in accordance with the temperature of the atmosphere outside the light receiving element.
  • the pressure of the internal space 7 is substantially equal to 1 atm, that is, the same as the external pressure at normal temperature.
  • the valve 10 corresponds to the valve of the present invention.
  • the valve 10 has a flat plate shape at normal temperature, and the opening 710 is sealed by coming into close contact with the notch 201 to form the internal space. 7 is closed to isolate the outside from the outside, and when reflow is performed on the light receiving element, when the outside ambient temperature rises above the specified temperature, it opens in a curved open state as shown by the dotted line in the figure, and the inside Make space 7 communicate with the outside. Therefore, since the internal space 7 is maintained at the same pressure as the outside during reflow, there is no influence in the internal space 7 even when the external temperature reaches approximately 600 K.
  • the valve 10 returns to the flat shape again and seals the opening 710. Furthermore, since the pressure in the internal space 7 is further reduced as the temperature decreases, the pressure presses the valve 10 against the packing 201, and the opening 710 is covered with no gap by the valve 10, and the sealing performance can be maintained. Therefore, when the light receiving element is mounted on the FPC or the like, the internal space 7 is isolated from the outside, and air, moisture, and dust do not enter the semiconductor chip 1.
  • the predetermined temperature at which the valve 10 is opened and closed is set to be higher than the upper limit of the temperature at which the light receiving element is used or stored, and lower than the temperature of the reflow soldering.
  • the upper limit of the temperature used and stored is about 100 ° C.
  • the maximum temperature during reflow soldering is 240 ° C. or higher
  • the temperature for opening and closing the valve 10 should be 150 to 200 ° C. .
  • the temperature at which switching occurs may be higher, / J, or more.
  • valve 10 is described as using a metal that changes with temperature, such as a bimetal, it may be realized using a member such as a resin.
  • the present embodiment is not limited by the planar shapes of the opening 710 and the valve 10. As long as a close contact state between the valve 10 and the package 2 in the closed state is ensured, it may be rectangular, circular, or elliptical.
  • FIG. 8 (a) is a cross-sectional view showing a light receiving element in the fourth embodiment.
  • FIG. 8 differs in that an opening 810 is provided in a part of the bottom wall of the package 2 of the first embodiment.
  • the internal air pressure is equal to the outside air pressure. It is the same.
  • the internal space 7 is isolated from the outside when the opening 810 is in close contact with the substrate when mounted on a substrate such as an FPC. It has the feature of being
  • the completed light receiving element is mounted on the FPC 820 by reflow soldering along with other parts (not shown).
  • the bottom surface of the package 2 is fixed by an adhesive 830 and the opening 810 is sealed.
  • the sealing operation is performed in a reduced pressure environment at normal temperature using a reduced pressure chamber or the like. That is, the pressure of the internal space 7 of the light receiving element in the state where the light receiving element and the FPC 820 are bonded is substantially the same as the pressure of the reduced pressure environment at the time of manufacture.
  • the pressure of the internal space 7 of the light receiving element fixed on the FPC 820 is maintained so as to be lower than 1 atm at room temperature. Even if the internal pressure rises as air in the space 7 expands due to the heat of reflow when soldering to the frame 4, the load on the glass flat plate 3 is small and the glass flat plate 3 may come off or be damaged, or the adhesive 8 Since it is possible to prevent cracks from being generated at the same time, it becomes possible to mount the light receiving element by reflow simultaneously with other electric components to be mounted on the FPC. Component mounting is possible.
  • the conditions for depressurization may be the same as the conditions described in Embodiment 1.
  • fixing of the light receiving element and the FPC 820 under a reduced pressure environment may be performed simultaneously with the force reflow soldering described as being performed before the reflow soldering.
  • mounting of the light receiving element and other components and the FPC 820 is performed under a high temperature and reduced pressure environment.
  • the substrate is not limited to FPC, but may be another resin substrate.
  • the planar shape of the opening 810 is not limited to the force shown as a circle in FIG. 9 (a). It may be any of an ellipse, a rectangle, and the like.
  • the opening 810 corresponds to the second opening of the present invention, and the opening of the package 2 in which the flat glass plate 3 is disposed corresponds to the first opening of the present invention.
  • FIG. 10 is a block diagram showing an optical head device according to the fifth embodiment.
  • 21 is a semiconductor laser
  • 22 is a ray emitted from the semiconductor laser 21. It is the best.
  • Reference numeral 23 is a condenser lens
  • 24 is a raising mirror
  • 25 is an objective lens
  • 26 is an optical disk.
  • Reference numeral 27 denotes a beam splitter, which has the function of separating return light.
  • Reference numeral 28 denotes a light receiving element, and the light receiving element described in any one of the first to fourth embodiments of the present invention is used.
  • the laser beam 22 having a wavelength of 405 nm emitted from the semiconductor laser 1 becomes parallel light by the condensing lens 23, and the optical path is bent by the rising mirror 24 and enters the objective lens 25.
  • the light is focused on the optical disc 26 by the objective lens 25.
  • the light reflected by the optical disk 26 returns back to the objective lens 25, the raising mirror 24, and the condenser lens 23, is reflected by the beam splitter 27, is photoelectrically converted by the light receiving element 28, and is detected as an electric signal.
  • the electric signal photoelectrically converted and detected by the light receiving element 28 is used as an RF signal of a pit row on the optical disc or a servo signal for tracing a pit row.
  • the operation is basically the same during recording. Recording is performed on the optical disc 26 that emits a large amount of light from the semiconductor laser 21.
  • the present optical head device uses the light receiving element of the present invention, it is possible to use reflow when soldering other parts of the light receiving element 28, and it is possible to reduce the steps required for mounting the parts. Can provide an optical head device.
  • the light receiving element of the present invention is used for detection of an RF signal or a servo signal in the present embodiment, it may be used for detection of a monitor signal for output control of a light source.
  • FIG. 11 is a block diagram of an optical information processing apparatus in a sixth embodiment.
  • 31 is the optical head apparatus described in the fifth embodiment of the present invention
  • 26 is an optical disc
  • 32 is a motor, and supports and rotates the optical disc 26.
  • 33 is a circuit board
  • 34 is a power supply.
  • the optical disc 26 is rotated by the motor 32.
  • the optical head device 31 sends a signal corresponding to the positional relationship with the optical disc 26 to the circuit board 33.
  • the circuit board 33 calculates this signal, and the signal for moving the objective lens in the optical head device 31 or the optical head device 31 is moved.
  • Issue the The objective lens in the optical head unit 31 or the optical head unit 31 performs focus servo and tracking servo on the optical disc 26 by a drive mechanism (not shown), and reproduces information from the optical disc 26 or information on the optical disc 26.
  • Record or delete the Reference numeral 34 denotes a connection with a power supply or an external power supply, which supplies electricity to the circuit board 33, the optical head unit 31, the motor 32, and the objective lens drive unit. There is no problem if connection terminals to the power supply or external power supply are provided in each drive circuit.
  • the optical information processing apparatus of this embodiment uses the optical head apparatus of the present invention, and in this optical head apparatus, the light receiving element is mounted by soldering by reflow simultaneously with other parts. As a result, the manufacturing process is simplified, and a low cost optical information processing apparatus can be provided.
  • the light transmitting flat plate of the present invention is a material which is not deteriorated by the light of the force light beam 6 which is implemented by the glass flat plate 3. You may use.
  • the present invention can be applied to a light receiving element that enables soldering by reflow in a hollow package, and further, using this light receiving element, an optical medium or magneto-optical medium such as an optical disk or an optical card.
  • the present invention can be applied to an optical information processing apparatus that records, reproduces or erases information on the top.
  • FIG. 1 A sectional view showing a light receiving element in accordance with a first exemplary embodiment of the present invention
  • FIG. 2 A cross-sectional view showing another configuration example of the light receiving element in Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 3 A sectional view showing another configuration example of the light receiving element in the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 A sectional view showing a light receiving element in Embodiment 2 of the present invention
  • FIG. 5 A cross-sectional view for illustrating the function of the light receiving element in Embodiment 2 of the present invention
  • FIG. 6 (a) A sectional view showing another configuration example of the light receiving element in the second embodiment of the present invention (b) Bottom surface schematically showing another configuration example of the light receiving element in the second embodiment of the present invention Figure
  • FIG. 7 A sectional view showing a light receiving element in Embodiment 3 of the present invention 8) (a) A sectional view showing a light receiving element in the fourth embodiment of the present invention (b) A sectional view for explaining the function of the light receiving element in the fourth embodiment of the present invention
  • FIG. 11 A block diagram showing an optical information processing apparatus in a sixth embodiment of the present invention.
  • FIG. 12 Cross section of a conventional light receiving element
  • FIG. 13 Cross section of a conventional light receiving element

Abstract

 中空の受光素子をリフローにより半田付けしようとすると、温度上昇により内部の圧力が上がり、封止しているガラスが外れてしまい、他の部品と同時に部品実装ができない。  入射する光を電気信号に変換する半導体チップ1と、半導体チップ1を保持するとともに半導体チップ1と電気的に接続するための端子となるリードフレーム4と、半導体チップ1を収納するように設けられ、リードフレーム4と一体になった、開口を有するパッケージ2と、パッケージ2の開口を封止するとともに、半導体チップ1へ入射する光が通過する側に設けられたガラス平板3とを備え、ガラス平板3とパッケージ2が接着剤8で固定されることで、半導体チップ1を含む内部空間7が密閉されており、内部空間7内の気圧は、常温で1気圧よりも減圧されている、受光素子。                                                                                 

Description

明 細 書
受光素子、受光素子の製造方法、光ヘッド装置、及び光情報処理装置 技術分野
[0001] 本発明は、例えば、光ディスクあるいは光カードなど、光媒体もしくは光磁気媒体上 に情報の記録 ·再生あるいは消去を行う光情報処理装置に応用可能である光媒体も しくは光磁気媒体力 の反射光を受光し電気信号に変換する光ヘッド装置に例えば 用いられる、受光素子及びその製造方法に関する。
背景技術
[0002] 高密度'大容量の記憶媒体として、ピット状パターンを有する光ディスクを用いる光 メモリ技術は、ディジタルオーディオディスク、ビデオディスク、文書ファイルディスク、 さらにはデータファイルなどその応用が拡大しつつある。この光メモリ技術では、情報 は微小に集光された光ビームを介して光ディスクへ高い精度と信頼性をもって記録 再生される。この記録再生動作は、ひとえにその光学系に依存している。
[0003] その光学系の主要部である光ヘッドの基本的な機能は、光源からの光で回折限界 の微小スポットを形成する収束、前記光学系の焦点制御とトラッキング制御及びピット 信号の検出、に大別される。これらの機能は、その目的と用途に応じて各種の光学 系と光電変換検出方式の組み合わせによって実現されている。
[0004] 光学系の基本をなす要素の 1つとして受光素子があげられるが、これは、記録媒体 で反射レ f青報信号および焦点制御とトラッキング制御に必要な信号成分を含んでい る光を、受光し光電変換をおこない、記録再生に必要な信号を取り出すためのもの である。
[0005] また、光源から出射される光の一部を受光して光源の出力を制御する場合にも受 光素子が用いられる。
[0006] 光ヘッド用の受光素子は一般に半導体によって光電変換しており、半導体チップ 上に受光領域と必要に応じて付属する回路とが作り込まれた構造となっている。さら に外部力 の接触や空気中の水分による劣化力 保護するために半導体チップは 封止され外部と遮断されて!ヽる。 [0007] また、半導体チップの電気信号の入出力のために光ヘッド上の他の電気部品と同 様に基板としてのフレキシブルプリンティングサーキット(以下 FPCと省略)に半田付 けされている。
[0008] 高信頼性をもって情報の記録再生を行うために、当然ながら受光素子についても 信頼性の高いものが要求される。
[0009] 一方で市場の拡大に伴い価格の低廉化も要求され、光ヘッド装置に搭載する際に も低コスト〖こ行えることが要求される。そのため、受光素子を FPCに半田付けする際 にも、抵抗、コンデンサー、 ICなどの他の一般の電気部品と同時にリフロー半田付け できることが必要となる。
[0010] この受光素子の従来の一実施の形態について図 12を用いて説明する。
[0011] 図 12は従来の一実施の形態による受光素子を示す断面図である。
[0012] 半導体チップ 51はリードフレーム 54上に固定されている。リードフレーム 54は金属 で構成され、受光素子全体を図示しない FPC等へ半田付けにより位置の固定を行う とともに、電気信号および電力の入出力用の端子となっている。 55はボンディングヮ ィヤーで半導体チップ 51上の電極とリードフレーム 54との間に配線され半導体チッ プ 51とリードフレーム 54の間を電気的に接続する。
[0013] 半導体チップ 51は空気中の水分や^ a立時の外部からの接触によって破壊や変質 をする可能性があるため、外部と遮断するために封止する必要がある。
[0014] そこで透光性榭脂 52を溶けた状態で半導体チップ 51、リードフレーム 54およびボ ンデイングワイヤー 55があら力じめセットされた金型に射出し、成形され封止する。
[0015] そのため、透光性榭脂 52は光束 56に使用される光の波長に対して必要な透過率 を備えていると共に、成形製の良い榭脂を使用する必要がある。
[0016] この透光性榭脂 52は透光性及び成形性を優先する必要があり、熱に対して強い物 を優先して選択できない。
[0017] そのため、リフロー半田をしょうとすると、その時の熱で溶けたり変質したりする。
[0018] それを防ぐために、アルミ膜 57を蒸着し、熱線を反射するようにすることでリフロー 時に受光素子が吸収する熱を減らし、リフロー半田を可能としている(例えば実開平
1 140836号公報参照)。 [0019] 但し、この場合リード部や雰囲気力もの熱は防ぐことができない。
[0020] また、図示しない光ディスクから反射してきた信号成分を含む光束 56は透光性榭 脂 52を通って半導体チップ 51上の光電変換領域に到達し光電変換され、ボンディ ングワイヤー 55を通しリードフレーム 54力も所要の信号として取り出される。
[0021] 半導体チップ 51上の光電変換領域は必要に応じて様々な形状で構成されており、 図示しな!、光学系によって作り出される光束 56のプロファイルとの組み合わせで、所 望の信号を作り出すことができる。
[0022] そのため、透光性榭脂 52のうち光束 56の通過する領域 61は光束 56のプロフアイ ルに悪影響を与えな 、ように平面となって 、る。
[0023] 但し、上記の構成では、透過性榭脂 52の表面のうち光があたる領域 61が空気に触 れているため、高いエネルギーの光、特に波長 420nm以下の青色光などが当たつ た場合、透光性榭脂 52とその付近の空気中の酸素が反応して、光が当たる部分の 透光性榭脂 52が分解、昇華し、透光性榭脂の表面の形状が変形するので、その部 分を通過する光束 56の光路に影響が出て、正しいプロファイルのまま光電変換領域 に到達することができなくなってしまう。
[0024] そうすると所望の信号が得られなくなり、記録再生時のサーボ特性を悪化させる。ま た、再生信号の品質を悪化させてしまう。
[0025] そこで、半導体チップ 51は光が当たっても変質しない材料で封止する必要がある。
そのような対策がなされた構成を図 13に示す。受光素子は、リードフレーム 54と一体 化したパッケージ 132を用い、パッケージ 132の開口部分に半導体チップ 51への光 束 136が入射するように半導体チップ 51を配置した構成を有する。さらにパッケージ 132の開口部分を封止するようにガラス平板 133が配置され、ノ ッケージ 132の縁部 とガラス平板 138とは接着剤 131で固定される。
[0026] 本構成において、半導体チップ 51は、ガラス平板 133とパッケージ 132とが形成す る内部空間 137に密閉され、外部からの空気、水分は遮断される。ガラス平板 138は 光によって変質、変形しないので、光束 136の光路は影響を受けない。
発明の開示
発明が解決しょうとする課題 [0027] し力しながら、上記の構成では以下のような問題があった。すなわち、受光素子は 密閉された内部空間 137ができている力 内部空間内は空気等の気体が封入されて いる。このとき、受光素子をリフロー半田付けによって図示しない基板に実装しようと すると、リフロー時の熱によって内部空間の気体が膨張しその圧力によってガラス平 板 133の内部力も押されて外れる、もしくは接着剤 131の近傍にクラックが生じてしま い、受光素子の信頼性を損ねてしまう。
[0028] そのため、受光素子を基板に実装にする場合は、受光素子全体の温度上昇を抑え るため、基板に実装すべき受光素子以外の他の部品のリフロー半田付けが終わった 後で、受光素子のみを、はんだごてを用いてリード部のみを加熱しながら半田付けす る必要がある。したがって、光ヘッドの製造においては、受光素子とその他の部品と で実装工程を分けねばならず、このような工程の複雑ィ匕は光ヘッドの低コストィ匕の妨 げとなる。
[0029] 本発明は、上記の問題点を解決するもので、リフローによる半田付けのみで基板に 実装することが可能であって、低コストで信頼性の高い、実装可能な受光素子、及び 低コストな光ヘッド装置及び光情報処理装置を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段
[0030] 上記の目的を達成するために、第 1の本発明は、入射する光を電気信号に変換す る半導体チップと、
前記半導体チップを保持するとともに前記半導体チップと電気的に接続するため の端子となる金属フレームと、
前記半導体チップを収納するように設けられ、前記金属フレームと一体になつた、 開口を有するパッケージと、
前記パッケージの前記開口を封止するとともに、前記半導体チップへ入射する光が 通過する側に設けられた透光性平板とを備え、
前記透光性平板と前記パッケージが接着剤で固定されることで、前記半導体チッ プを含む空間が密閉されており、
前記空間内の気圧は、常温で 1気圧よりも減圧されている、受光素子である。
[0031] また、第 2の本発明は、前記空間の気圧は、常温で実質上 0. 5気圧以下である、 請求項 1記載の受光素子である。
[0032] また、第 3の本発明は、入射する光を電気信号に変換する半導体チップと、
前記半導体チップを保持するとともに前記半導体チップと電気的に接続するため の端子となる金属フレームと、
前記半導体チップを収納するように設けられ、前記金属フレームと一体になつた、 開口を有するパッケージと、
前記パッケージの前記開口を封止するとともに、前記半導体チップへ入射する光が 通過する側に設けられた透光性平板とを備え、
前記透光性平板と前記パッケージが接着剤で固定されることで、前記半導体チッ プを含む空間が密閉されており、
前記パッケージの壁の一部は柔構造を有する、受光素子である。
[0033] また、第 4の本発明は、前記柔構造は、前記パッケージの壁の前記一部が前記パッ ケージの材質とは異なる材質の部材により置き換えられていることにより形成されてい る、請求項 3に記載の受光素子である。
[0034] また、第 5の本発明は、前記柔構造は、前記パッケージの壁の前記一部が前記パッ ケージの他の部分よりも厚みが薄くなることにより形成されている、請求項 3に記載の 受光素子である。
[0035] また、第 6の本発明は、前記柔構造は可塑性を有する、請求項 3または 4に記載の 受光素子である。
[0036] また、第 7の本発明は、入射する光を電気信号に変換する半導体チップと、
前記半導体チップを保持するとともに前記半導体チップと電気的に接続するため の端子となる金属フレームと、
前記半導体チップを収納するように設けられ、前記金属フレームと一体になつた、 開口を有するパッケージと、
前記パッケージの前記開口を封止するとともに、前記半導体チップへ入射する光が 通過する側に設けられた透光性平板とを備え、
前記透光性平板と前記パッケージが接着剤で固定されることで、前記半導体チッ プを含む空間が形成されており、 前記パッケージは、所定の温度に応じて開閉し、開状態で前記空間と外部とを連 通させ、閉状態で前記空間と外部とを隔絶する弁を有し、
前記弁は、前記所定の温度以上の温度で前記開状態となり、前記所定の温度より 低い温度で前記閉状態となる、受光素子である。
[0037] また、第 8の本発明は、前記所定の温度は実質上 150〜200°Cである、請求項 7に 記載の受光素子である。
[0038] また、第 9の本発明は、入射する光を電気信号に変換する半導体チップと、
前記半導体チップを保持するとともに前記半導体チップと電気的に接続するため の端子となる金属フレームと、
前記半導体チップを収納するように設けられ、前記金属フレームと一体になつた、 第 1の開口及び第 2の開口を有するノ ッケージと、
前記パッケージの前記第 1の開口を封止するとともに、前記半導体チップへ入射す る光が通過する側に設けられた透光性平板とを備え、
前記透光性平板と前記パッケージが接着剤で固定されることで、前記半導体チッ プを含む空間が、前記第 2の開口を介してのみ前記外部と連通するように形成される 、受光素子である。
[0039] また、第 10の本発明は、前記第 2の開口は、前記受光素子が基板上に実装される とき、その基板によって封止される位置に設けられており、
前記基板の封止により、前記パッケージおよび前記透光性平板により形成される前 記空間を外部から隔絶する、請求項 9に記載の受光素子である。
[0040] また、第 11の本発明は、入射する光を電気信号に変換する半導体チップと、前記 半導体チップを保持するとともに前記半導体チップと電気的に接続するための端子 となる金属フレームと、前記半導体チップを収納するように設けられ、前記金属フレー ムと一体になつた、開口を有するパッケージと、前記パッケージの前記開口を封止す るとともに、前記半導体チップへ入射する光が通過する側に設けられた透光性平板 とを備えた受光素子の製造方法であって、
前記透光性平板と前記パッケージを接着剤で固定することにより、前記半導体チッ プを含む空間を密閉する工程を有し、 前記密閉の工程を、常温で 1気圧よりも減圧された気圧下で行う、受光素子の製造 方法である。
[0041] また、第 12の本発明は、請求項 9に記載の受光素子を、基板上に固定する受光素 子の固定方法であって、
前記受光素子の前記第 2の開口を、前記基板に密着させることにより、前記パッケ ージおよび前記透光性平板により形成される空間を外部から隔絶する工程を備え、 前記密着の工程を、常温で 1気圧よりも減圧された気圧下で行う、受光素子の固定 方法である。
[0042] また、第 13の本発明は、請求項 1、 3, 7又は 9のいずれかに記載の受光素子を備 えた、光ヘッド装置である。
[0043] また、第 14の本発明は、請求項 13に記載の光ヘッド装置を備えた、光情報処理装 置である。
[0044] 以上のように本発明によれば、リフロー半田付けのみで基板に実装することが可能 な信頼性の高い受光素子及びその製造方法を提供することができる。
[0045] また、本発明の受光素子を用いることにより、低コストな光ヘッド装置を提供すること ができる。
[0046] また、本発明の光ヘッド装置を用いることにより、低コストな光情報処理装置を提供 することができる。
発明を実施するための最良の形態
[0047] (実施の形態 1)
以下、本発明の実施の形態について、図 1を用いて説明する。
[0048] 図 1は実施の形態 1における受光素子の断面図である。
[0049] 図 1において、基本的な構成は図 13に示す従来例と同様である。すなわち、 1は半 導体チップである。 2はパッケージ、 3はガラス平板、 4はリードフレーム、 5はボンディ ングワイヤーである。 6は光束である。 7はパッケージ 2とガラス平板 3に囲まれた空間 である。 8はガラス平板 3とパッケージ 2を接着して 、る接着剤である。
[0050] 半導体チップ 1は、光を受けて電流を発生する光電変換領域と、必要に応じてその 電流を所望の電気信号に変換する回路が作りこまれている。 [0051] リードフレーム 4は受光素子を図示しない FPC等に半田付けにより固定されるととも に、半導体チップ 1への電気信号の入出力を行うための端子になっている。
[0052] 半導体チップ 1とリードフレーム 4の間はボンディングワイヤー 5によって電気的に接 続されており、半導体チップ 1で光電変換によって得られた電気信号や、半導体チッ プ 1に供給される電力が流れる。
[0053] ノ ッケージ 2はリードフレーム 4を含んで一体的に成形されている。パッケージ 2は 光を通す必要はな 、ため、その材料は成形性や耐熱性を優先して選んで用いること ができる。
[0054] 半導体チップ 1はパッケージ 2の内部に、光電変換領域が開口部に対向するように 配置される。ノ ッケージ 2の開口は半導体チップ 1に入射する光を妨げないようガラス 平板 3で封止される。ガラス平板 3の縁部とパッケージ 2の端面とが接着剤 8によって 固定されて、外部カゝら遮断された内部空間 7が形成される。
[0055] 光束 6には図示しない光学系によって所望のプロファイルが与えられており、半導 体チップ 1上の光電変換領域の形状との関係で所望の電気信号が得られる。
[0056] なお、上記の構成において、半導体チップ 1は本発明の半導体チップに相当し、リ ードフレーム 4は本発明の金属フレームに相当し、パッケージ 2は本発明のパッケ一 ジに相当し、ガラス平板 3は本発明の透光性平板に相当し、接着剤 8は本発明の接 着剤に相当し、内部空間 7は、本発明の、半導体チップを含む空間に相当する。
[0057] 本実施の形態による受光素子は、内部空間 7の気圧を室温で 1気圧より低くなるよう に保持したことを特徴とする。内部空間 7内をあら力じめ減圧しておくことで、リフロー 半田による FPCへの半田付け時にリフローの熱により空間 7の空気が膨張しようとし て内圧が上昇しても、ガラス平板 3への負荷は小さくて済み、ガラス平板 3が外れたり 破損したり、接着剤 8にクラック等が生ずることを防ぐことができるので、受光素子を F PCに実装する他の電気部品と同時にリフローにより実装することが可能となるので、 製造工程を削減して、低コストに半田付けが可能となる。
[0058] このような受光素子を作成するには、基本的には従来例と同様のプロセスにより行 つてよいが、ノ ッケージ 2とガラス平板 3とを接着剤 8により固定させる工程を、減圧部 屋等を用いて常温時の減圧環境下で行うようにする。すなわち、完成後の受光素子 の内部空間 7の気圧は、製造時の減圧環境の気圧と実質上同一ということになる。
[0059] 内部空間 7の減圧の程度を、以下のように設定することが望ま 、。すなわち、リフ ロー半田付け時の温度は一般に最高 600K位であるから、室温を概ね 300Kと想定 すれば、内部空間 7の体積は一定であるので、製造時の減圧環境を 0. 5気圧以下 にしておけば、ボイル'シャルルの法則から、リフロー時の最高温度になった時でも 1 気圧を超えることはなぐガラス平板 3を内側力 押すような力は発生せず、接着剤 8 の強度が弱くてもガラス平板 3が外れたりせず、リフローによる半田付けが可能となる
[0060] ところで、減圧の程度を必要以上に大きくすると、完成後の受光素子にぉ 、て、内 部空間 7が外部からの圧力の影響を受けて、ガラス平板 3が内部空間 7に向けて湾 曲して光路に影響を与えたり、ひいては破損する恐れがある。
[0061] このような不具合に対しては、減圧の程度を上記 0. 5気圧より弱めるようにしてもよ いが、発明の効果を得るためには、圧力に対してガラス平板 3、 ノ ッケージ 2等の機 械的強度を高めることが望ましい。例えば、図 2に示すように、ノ ッケージ 2のガラス平 板 3と当接する当接部分 103aを、開口の内側向かって延ばした構成とする。このとき 、ガラス平板 3が内圧によって引かれる力 102の作用する中心を 101とし、また接着 剤 8により固定されている力 104の作用する中心を 105とすると、作用中心 101に作 用する力 102により作用中心 103を支点として回転するような力 104は、接着剤 8に よる固定を引きはがそうとする様に作用するが、
(数 1)
(作用中心 101—作用中心 103間の距離) X力 102く(作用中心 103—作用中心 1 05間の距離) X力 104
の関係となるように作用中心 103の位置を選んでおけば、内圧によって接着剤 8が 外れることはない。図 2に示すように、作用中心 103は、開口の内側に延びた当接部 分 103aの端部となる。なお、図においては、接着剤 8の塗布位置は図 1の場合と同 様とした力 当接部分 103aに向力つてより大きな塗布面積をとるようにしてもよい。
[0062] また、図 3に示すように、ガラス平板 3とパッケージ 2を外部から固定するような構成と してもよい。図 3の構成例の場合、保持枠 320を設け、これによりパッケージ 2の側壁 およびガラス平板 3の周囲を固定する。保持枠 320はパッケージ 2の側壁に塗布され た接着剤 310によってパッケージ 2に固定されている。
[0063] このような構成とすることにより、内圧によるガラス平板 3の内側への湾曲等を抑制 することができる。また、内部空間 7内の減圧が、所期の目的よりも不十分であった場 合、リフロー時に内部空間 7内の気体の膨張が生ずるが、ガラス平板 3の周囲を保持 枠 320により押さえ込んでいることで、ガラス平板 3の、ノ ッケージ 2からの剥離を防止 することができる。
[0064] (実施の形態 2)
以下、本発明の実施の形態 2について、図 4を用いて説明する。
[0065] 図 4は実施の形態 2における受光素子を示す断面図である。図 2において図 1と同 じ機能を有する構成部材については同じ記号を付与して説明を省略する。
[0066] 図 2において 9は柔構造部であり、実施の形態 1のパッケージ 2の底面の壁の一部 を、ノ ッケージ 2の材料とは異なる、弾力を持った板状素材により置き換えたものであ る。なお、柔構造部 9の周辺はノ¾ /ケージ 2に固定されている。
また、従来例と同様、内部空間 7の気圧は、常温で実質上 1気圧、すなわち外気圧と 同一である。
[0067] このような構成を有する本発明の実施の形態 2によれば、完成後の受光素子をリフ ロー半田により FPCへ実装すると、リフローの熱により外部雰囲気の温度が上昇し、 これに応じて内部空間 7の空気が膨張して内圧が上昇するが、図 5に示すように、柔 構造部 9は、内圧に応じて外向きに変形する。これにより、内部空間 7の体積が増大 し、内圧の上昇を抑制することができるので、ガラス平板 3が外れたり破損したりする ことを防ぐことができ、他の電気部品と同時にリフローが可能となって、低コストに半田 付けが可能となる。
[0068] なお、柔構造部 9は受光素子の実装におけるリフロー時の温度に耐えうる素材を用 いる必要があり、ノ ッケージ 2の材料とは異なる材料として、パーフロロフッ素ゴムが 一例としてあげられる。これは耐熱温度約 300°C (約 573K)で、他の一般的な耐熱 ゴム (フッ素ゴム、シリコーンゴム)などに比べて耐熱温度が高ぐリフローにも耐えうる 。また、数時間内なら不可逆な変形もほとんど無いため(リフロー半田付けの時間は 数分以下)、実装後の柔構造部 9の形状は、再び図 4に示すような平板状に復元させ ることがでさる。
[0069] 次に、柔構造部の他の例を図 6 (a)に示す。柔構造部 69は、パッケージ 2の底面の 壁の一部を、他の壁よりも薄く作成することにより形成したものである。このような構成 にすると、受光素子のリフロー時に、柔構造部 69が湾曲し、図 5の例と同様の効果が 得られる。
[0070] 柔構造部 69の厚みは、柔構造部 69の面積にもよる力 ノ ッケージ 2の寸法を 10m m角程度とした場合、側面、底面等の壁の平均的な厚みは lmm程度であるので、柔 構造部 69の厚みは 5 μ m程度となるのが望ましい。変形量が 5 μ m以上となると、 ッケージ 2の光学的な精度に影響があると考えられる力 である。したがって、柔構造 部 69の厚みとしては、一般にパッケージ 2の他の部分の厚みよりも 1Z400程度以下 となるのが望ましい。
[0071] なお、柔構造部 69の平面形状としては、図 6 (b)の底面図に示すように、実質上円 形とすることが、柔構造部 69の収縮が均等にパッケージ 2の底面にカ卩えられるので、 望ましい。この形状は、図 5に示す柔構造部 9においても同様である。ただし、製造時 の条件から、楕円、矩形状となるようにしてもよい。
[0072] また、柔構造部 9としてパーフロロフッ素ゴムを用いた場合、実装完了後、常温時に は柔構造部 9の形状は平板状に復元するが、柔構造部 9の材質としては、可塑性を 有するもの、すなわちいったん実装時に内部空間 7の膨張により外側へ膨らんだ場 合、常温になってもその膨らんだ形状を保持するようなものを用いてもよい。これは柔 構造部 69となるパッケージ 2の材質においても同様である。
[0073] なお、柔構造部 9および柔構造部 69は、本発明の柔構造に相当する。また、柔構 造部 9及び 69は 、ずれもパッケージ 2の底面に配置されるとして説明したが、本発明 の柔構造は、半導体チップ 1への光束 6に影響を与えない場所であれば、パッケージ 2の側壁など、任意の箇所に設けてもよい。
[0074] (実施の形態 3)
以下、本発明の実施の形態 3について、図 7を用いて説明する。
[0075] 図 7は実施の形態 3における受光素子を示す断面図である。 [0076] 図 7において図 1と同じ機能を有する構成部材については同じ記号を付与して説明 を省略する。図 3において 10は弁である。本実施の形態は、実施の形態 1のパッケ一 ジ 2の底面の壁の一部に開口部 710を有し、この開口部 710を封止するように、弁 10 がパッケージ 2の底部に設けられている。開口部 710の周囲にはパッキン 201が設け られている。
[0077] 弁 10はバイメタルのような金属で構成され、受光素子の外部雰囲気の温度に応じ て開閉する。
[0078] また、従来例と同様、内部空間 7の気圧は、常温で実質上 1気圧、すなわち外気圧 と同一である。なお、弁 10は本発明の弁に相当する。
[0079] このような本発明の実施の形態 3によれば、常温下では弁 10は平板状の形状であ り、ノ ッキン 201と密着することで開口部 710を封止して、内部空間 7と外部とを隔絶 する閉状態となる一方、受光素子にリフローを行う場合は、外部の雰囲気温度が所 定の温度以上となると、図中点線部に示すように湾曲した開状態となり、内部空間 7と 外部とを連通させる。したがって、リフロー時には内部空間 7は外部と同一気圧に保 たれるため、外部の温度が 600K程度となっても、内部空間 7内には何の影響もない
[0080] 一方、リフローが完了すると、受光素子の外部雰囲気の温度は下がり出すが、所定 の温度より低くなると、弁 10は再び平板状の形状に復帰し、開口部 710を封止する。 さらに、温度が下がると内部空間 7の圧力はさらに低下するため、圧力によって弁 10 はパッキン 201に押しつけられ、開口部 710は弁 10により隙間無く被覆され、密閉性 を保持できる。したがって、受光素子が FPC等に実装された状態では、内部空間 7は 外部と隔絶されており、半導体チップ 1に空気や水分、埃が進入することはない。
[0081] なお、ここで弁 10の開閉する所定の温度は受光素子を使用する温度もしくは保存 する時の温度の上限より高くかつリフロー半田付けの温度より低い温度になるように 設定する。
[0082] 例えば受光素子の使用される装置について一般的な民生機器の場合、使用及び 保存される温度は約 100°Cが上限であり、またリフロー半田付け時の最高温度は 24 0°C以上くらいであるから、弁 10の開閉する温度を 150〜200°Cになるようにしておく 。ただし、リフロー及び使用時の温度によっては、開閉が生ずる温度はこれより大きく とっても、 /J、さくとつてもよい。
[0083] なお、上記の説明においては、弁 10としてはバイメタルのように温度によって変形 する金属を用いるとして説明を行ったが、榭脂等の部材を用いて実現してもよい。
[0084] また、図示は省略したが、開口部 710及び弁 10の平面形状によって本実施の形態 は限定されない。閉状態における弁 10とパッケージ 2との密着状態が確保されるよう であれば、矩形であっても、円、楕円状であってもよい。
[0085] (実施の形態 4)
以下、本発明の実施の形態 4について、図 8 (a) (b)を用いて説明する。
[0086] 図 8 (a)は実施の形態 4における受光素子を示す断面図である。
[0087] 図 8において図 1と同じ機能を有する構成部材については同じ記号を付与して説明 を省略する。本実施の形態は、実施の形態 1のパッケージ 2の底面の壁の一部に開 口部 810を有する点が異なる。
[0088] このような本発明の実施の形態 4の受光素子は、完成した段階で、内部空間 7は、 開口部 810のみによって外部と連通しているため、その内部気圧は、すなわち外気 圧と同一である。
[0089] このような本実施の形態の受光素子は、 FPCのような基板に実装するときに、開口 部 810を基板に向けて密着させた段階で、内部空間 7が外部から隔絶されるようにし た、という特徴を有する。
[0090] すなわち、図 8 (b)に示すように、完成した受光素子は、図示しない他の部品ととも に FPC820にリフロー半田付けにより実装される力 リフローの前に、 FPC820と受 光素子のパッケージ 2の底面とを接着剤 830によって固定し、開口部 810を封止する 。さらに、この封止の作業を実施の形態 1と同様、減圧部屋等を用いて常温時の減圧 環境下で行うようにする。すなわち、受光素子と FPC820とが接着された状態におけ る受光素子の内部空間 7の気圧は、製造時の減圧環境の気圧と実質上同一というこ とになる。
[0091] このようにすることで、 FPC820上に固定された受光素子の内部空間 7の気圧は、 室温で 1気圧より低くなるように保持されているので、リフロー半田による FPCへ金属 フレーム 4への半田付け時にリフローの熱により空間 7の空気が膨張しょうとして内圧 が上昇しても、ガラス平板 3への負荷は小さくて済み、ガラス平板 3が外れたり破損し たり、接着剤 8にクラック等が生ずることを防ぐことができるので、受光素子を FPCに 実装する他の電気部品と同時にリフローにより実装することが可能となるので、半田 ごてによる製造工程を削減して、低コストな部品実装が可能となる。なお、減圧の条 件は、実施の形態 1に記載した条件と同一としてよ 、。
[0092] なお、上記の説明においては、減圧環境下における受光素子と FPC820との固定 は、リフロー半田付けの前に行うものとして説明を行った力 リフロー半田付けと同時 に行ってもよい。この場合、高温かつ減圧された環境下で、受光素子及び他の部品 と、 FPC820との実装が行われることになる。
[0093] ところで、本実施の形態の受光素子は、 FPC等に固定されるまでは、開口部 810を 介して半導体チップ 1を含む内部構造が外部に露出しているため、水分や埃が内部 に進入してしまう恐れがあるため、図 9 (a)に示すような仰向け状態で保存することは 望ましくなぐ図 9 (b)に示すように開口部 810を含む底面で載置されるようにする。ま た、図 9 (c)に示すように、粘着材が塗布された粘着面 910を有する粘着シート 900 を用意して、受光素子の底面を粘着面 901と密着させるようにして保管しておくことが 望ましい。この場合、粘着面 901に複数の受光素子を配置して、出荷に必要な個数 だけを粘着シート 900ごと切り出すようにすれば、基板への固定直前まで、受光素子 の内部に水分等が進入するような事態を防ぐことが可能となる。また、基板としては F PCに限らず、他の榭脂製の基板でもよい。
[0094] なお、開口部 810の平面形状は図 9 (a)には円形として示した力 形状によって限 定されない。楕円、矩形等のいずれであってもよい。
[0095] なお、開口部 810は本発明の第 2の開口に相当し、ガラス平板 3が配置されたパッ ケージ 2の開口は、本発明の第 1の開口に相当する。
[0096] (実施の形態 5)
以下、本発明の実施の形態 5について、図 10を用いて説明する。
[0097] 図 10は実施の形態 5における光ヘッド装置を示す構成図である。
[0098] 図 10において 21は半導体レーザー、 22は半導体レーザー 21から出射されたレー ザ一光である。 23は集光レンズ、 24は立ち上げミラー、 25は対物レンズ、 26は光デ イスクである。 27はビームスプリツターであり、復路光を分離する作用を有する。 28は 受光素子であり、本発明の実施の形態 1から 4のいずれかで説明した受光素子が使 用されている。
[0099] 再生時には半導体レーザー 1から出射した波長 405nmのレーザー光 22が集光レ ンズ 23により平行光となり、立ち上げミラー 24により光路を折り曲げられ、対物レンズ 25に入射する。対物レンズ 25により光ディスク 26に集光される。光ディスク 26により 反射された光は対物レンズ 25、立ち上げミラー 24、集光レンズ 23を逆に戻り、ビーム スプリツター 27で反射されて受光素子 28によって光電変換されて電気信号として検 出される。受光素子 28により光電変換され検出された電気信号は光ディスク上のピッ ト列の RF信号や、ピット列のトレースを行うためのサーボ信号として用いられる。
[0100] 記録時においても動作は基本的に同じである力 半導体レーザー 21から出射する 光量が大きぐ光ディスク 26に記録が行われる。
[0101] 本光ヘッド装置は本発明の受光素子を用いているので、受光素子 28他の部品の 半田付け時にリフローを用いることができ、部品の実装に要する工程を削減できるの で、低コストな光ヘッド装置を提供できる。
[0102] なお、本実施の形態では本発明の受光素子を RF信号やサーボ信号の検出用に 用いているが、光源の出力制御のためのモニター信号検出用として用いても構わな い。
[0103] (実施の形態 6)
以下、本発明の実施の形態 6について、図 11を用いて説明する。
[0104] 図 11は実施の形態 6における光情報処理装置の構成図である。
[0105] 図 11において、 31は本発明の実施の形態 5で説明した光ヘッド装置であり、 26は 光ディスク、 32はモーターであり、光ディスク 26を支持し、回転させる。 33は回路基 板であり、 34は電源装置である。
[0106] 光ディスク 26はモーター 32によって回転される。光ヘッド装置 31は、光ディスク 26 との位置関係に対応する信号を回路基板 33へ送る。回路基板 33はこの信号を演算 して、光ヘッド装置 31もしくは光ヘッド装置 31内の対物レンズを微動させるための信 号を出力する。光ヘッド装置 31もしくは光ヘッド装置 31内の対物レンズは、図示しな い駆動機構によって、光ディスク 26に対してフォーカスサーボとトラッキングサーボを 行い、光ディスク 26から情報の再生、または光ディスク 26に対して情報の記録もしく は消去を行う。 34は電源または外部電源との接続部であり、ここから回路基板 33,光 ヘッド装置 31、モーター 32及び対物レンズ駆動装置へ電気を供給する。なお、電源 もしくは外部電源との接続端子は各駆動回路にそれぞれ設けられていても何ら問題 ない。
[0107] 本実施の形態の光情報処理装置は本発明の光ヘッド装置を用いており、この光へ ッド装置においては、受光素子が他の部品と同時にリフローによる半田付けによって 実装されるようにしたことにより、製造工程が簡略ィ匕されたため、低コストな光情報処 理装置を提供できる。
[0108] なお、上記の各実施の形態において、本発明の透光性平板はガラス平板 3によつ て実施するものとした力 光束 6の光によって変質しない材料であれば、他のものを 用いてもよい。
産業上の利用可能性
[0109] 本発明は、中空パッケージでのリフローによる半田付けを可能とする受光素子に適 用が可能であり、更には、この受光素子を用いて光ディスクあるいは光カードなど、光 媒体もしくは光磁気媒体上に情報の記録 ·再生あるいは消去を行う光情報処理装置 に適用が可能である。
図面の簡単な説明
[0110] [図 1]本発明の実施の形態 1における受光素子を示す断面図
[図 2]本発明の実施の形態 1における受光素子の他の構成例を示す断面図
[図 3]本発明の実施の形態 1における受光素子の他の構成例を示す断面図
[図 4]本発明の実施の形態 2における受光素子を示す断面図
[図 5]本発明の実施の形態 2における受光素子の作用を説明するための断面図
[図 6] (a)本発明の実施の形態 2における受光素子の他の構成例を示す断面図 (b) 本発明の実施の形態 2における受光素子の他の構成例を模式的に示す底面図
[図 7]本発明の実施の形態 3における受光素子を示す断面図 圆 8] (a)本発明の実施の形態 4における受光素子を示す断面図 (b)本発明の実施 の形態 4における受光素子の作用を説明するための断面図
圆 9] (a)本発明の実施の形態 4における受光素子を示す斜視図 (b)本発明の実施 の形態 4における受光素子を示す斜視図(c)本発明の実施の形態 4における受光素 子の保存状態を説明するための斜視図
圆 10]本発明の実施の形態 5における光ヘッド装置を示す構成図
[図 11]本発明の実施の形態 6における光情報処理装置を示す構成図
[図 12]従来の受光素子の断面図
[図 13]従来の受光素子の断面図
符号の説明
1 半導体チップ
2 ノ ッケージ
3 ガラス平板
4 リードフレーム
5 ボンディングヮ
6 光束
7 内部空間
8 接着剤

Claims

請求の範囲
[1] 入射する光を電気信号に変換する半導体チップと、
前記半導体チップを保持するとともに前記半導体チップと電気的に接続するため の端子となる金属フレームと、
前記半導体チップを収納するように設けられ、前記金属フレームと一体になつた、 開口を有するパッケージと、
前記パッケージの前記開口を封止するとともに、前記半導体チップへ入射する光が 通過する側に設けられた透光性平板とを備え、
前記透光性平板と前記パッケージが接着剤で固定されることで、前記半導体チッ プを含む空間が密閉されており、
前記空間内の気圧は、常温で 1気圧よりも減圧されている、受光素子。
[2] 前記空間の気圧は、常温で実質上 0. 5気圧以下である、請求の範囲第 1項に記載 の受光素子。
[3] 入射する光を電気信号に変換する半導体チップと、前記半導体チップを保持すると ともに前記半導体チップと電気的に接続するための端子となる金属フレームと、前記 半導体チップを収納するように設けられ、前記金属フレームと一体になつた、開口を 有するノ ッケージと、前記パッケージの前記開口を封止するとともに、前記半導体チ ップへ入射する光が通過する側に設けられた透光性平板とを備えた受光素子の製 造方法であって、
前記透光性平板と前記パッケージを接着剤で固定することにより、前記半導体チッ プを含む空間を密閉する工程を有し、
前記密閉の工程を、常温で 1気圧よりも減圧された気圧下で行う、受光素子の製造 方法。
[4] 請求の範囲第 1項又は第 2項のいずれかに記載の受光素子を備えた、光ヘッド装置 [5] 請求の範囲第 4項に記載の光ヘッド装置を備えた、光情報処理装置。
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